JPH02152289A - 光増幅装置 - Google Patents
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- JPH02152289A JPH02152289A JP30633588A JP30633588A JPH02152289A JP H02152289 A JPH02152289 A JP H02152289A JP 30633588 A JP30633588 A JP 30633588A JP 30633588 A JP30633588 A JP 30633588A JP H02152289 A JPH02152289 A JP H02152289A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/50—Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
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- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/105—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length
- H01S3/1055—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length one of the reflectors being constituted by a diffraction grating
-
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- H01S5/06256—Controlling the frequency of the radiation with DBR-structure
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は光増幅装置に関し、特に光信号を直接、処理
する機能を備えた光増幅装置に関するものである。
する機能を備えた光増幅装置に関するものである。
[従来の技術]
光エレクトロニクスの分野においては、多くの場合、光
信号は、光を光ファイバに導入することによって遠方へ
信号伝達するための手段(光通信)、あるいは磁場や電
場、回転体等の中に光を通過させ、その変動を計測する
ことによって物理的な変化量等を測定するための手段(
光計測)に用いられる。このとき、光信号を伝達する上
で光フアイバ内での信号の減衰が問題となる。そのため
、従来から、光ファイバの途中に光増幅器を設け、強度
の減衰した信号を増幅することが行なわれてきた。この
ような従来から用いられてきた光増幅器は、いわゆる、
FP型と呼ばれる半導体レーザ素子と類似の構造を有し
、その光路は平行平板状の反射面で囲まれている。
信号は、光を光ファイバに導入することによって遠方へ
信号伝達するための手段(光通信)、あるいは磁場や電
場、回転体等の中に光を通過させ、その変動を計測する
ことによって物理的な変化量等を測定するための手段(
光計測)に用いられる。このとき、光信号を伝達する上
で光フアイバ内での信号の減衰が問題となる。そのため
、従来から、光ファイバの途中に光増幅器を設け、強度
の減衰した信号を増幅することが行なわれてきた。この
ような従来から用いられてきた光増幅器は、いわゆる、
FP型と呼ばれる半導体レーザ素子と類似の構造を有し
、その光路は平行平板状の反射面で囲まれている。
第6図は従来の光増幅器として用いられる光半導体素子
の光路に沿った軸上での断面を示す。この図を参照して
、従来型の光増幅器20は、InP、GaAs等からな
るP型クラッド層21と、N型クラッド層22と、それ
らの間に挾まれて形成されたInGaAsP、AfLG
aAs等からなる活性層23とから構成される。光路の
方向は矢印で示されている。光が入力および出力される
部分には反射防止膜30が形成されている。このような
構成を有する光半導体素子を用いて、光が矢印で示され
る方向に入力されるとともに、活性部電極26および共
通電極28を介して活性層23内に所定の電流が流され
る。そうすると、この光増幅器20に入射された光は増
幅されて出力される。
の光路に沿った軸上での断面を示す。この図を参照して
、従来型の光増幅器20は、InP、GaAs等からな
るP型クラッド層21と、N型クラッド層22と、それ
らの間に挾まれて形成されたInGaAsP、AfLG
aAs等からなる活性層23とから構成される。光路の
方向は矢印で示されている。光が入力および出力される
部分には反射防止膜30が形成されている。このような
構成を有する光半導体素子を用いて、光が矢印で示され
る方向に入力されるとともに、活性部電極26および共
通電極28を介して活性層23内に所定の電流が流され
る。そうすると、この光増幅器20に入射された光は増
幅されて出力される。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、第6図に示されるような従来の光増幅器
は、所望の波長を選択して増幅することは不可能であっ
た。この光増幅器によれば、出力光の波長は増幅器自体
の特性に支配されている。
は、所望の波長を選択して増幅することは不可能であっ
た。この光増幅器によれば、出力光の波長は増幅器自体
の特性に支配されている。
すなわち、光増幅器の増幅層(活性層)を形成している
結晶の利得帯域幅(50〜1100n程度)の範囲内の
波長であれば、いずれの波長の光でも増幅される。また
、出力光の強度は入力光の強度に比例しており、すなわ
ち、増幅度はほぼ線形であった。
結晶の利得帯域幅(50〜1100n程度)の範囲内の
波長であれば、いずれの波長の光でも増幅される。また
、出力光の強度は入力光の強度に比例しており、すなわ
ち、増幅度はほぼ線形であった。
そこで、この発明は、所望の波長のみを増幅することが
できる波長選択機能を備えた光増幅装置を提供すること
を目的とする。
できる波長選択機能を備えた光増幅装置を提供すること
を目的とする。
〔課題を解決するための手段]
この発明に従った光増幅装置は、光入力部分と、その光
入力部分から光を受入れる光半導体素子部分と、その光
半導体素子部分から発する光を出力させる光出力部分と
を備えている。光半導体素子部分は、PN接合を有し、
かつ、第1の分布ブラッグ反射部分と活性部分と第2の
分布ブラッグ反射部分とが光路に沿った方向に配された
分布ブラッグ反射型構造を有している。この分布ブラッ
グ反射型構造は、PN接合を介して活性部分に順方向通
電させるのみでは、レーザ光を自己発振しないように構
成されている。
入力部分から光を受入れる光半導体素子部分と、その光
半導体素子部分から発する光を出力させる光出力部分と
を備えている。光半導体素子部分は、PN接合を有し、
かつ、第1の分布ブラッグ反射部分と活性部分と第2の
分布ブラッグ反射部分とが光路に沿った方向に配された
分布ブラッグ反射型構造を有している。この分布ブラッ
グ反射型構造は、PN接合を介して活性部分に順方向通
電させるのみでは、レーザ光を自己発振しないように構
成されている。
好ましくは、この光増幅装置は、光路内に、ブラッグ反
射の反射波長を変更させるための通電領域をさらに備え
ている。また、第1および第2の分布ブラッグ反射部分
の光路に沿った方向の長さを短くすることによって、分
布ブラッグ反射型構造はレーザ光を自己発振しないよう
に構成されてもよい。さらに、活性部分が有する増幅度
を小さくすることによって、分布ブラッグ反射型構造は
レーザ光を自己発振しないように構成されてもよい。通
電領域は、PN接合を挾むように配された電極部分を含
むものであればよい。
射の反射波長を変更させるための通電領域をさらに備え
ている。また、第1および第2の分布ブラッグ反射部分
の光路に沿った方向の長さを短くすることによって、分
布ブラッグ反射型構造はレーザ光を自己発振しないよう
に構成されてもよい。さらに、活性部分が有する増幅度
を小さくすることによって、分布ブラッグ反射型構造は
レーザ光を自己発振しないように構成されてもよい。通
電領域は、PN接合を挾むように配された電極部分を含
むものであればよい。
[作用]
この発明においては、分布ブラッグ反射型構造は、活性
部分に順方向通電させるのみではレーザ光を自己発振し
ないように構成されている。そのため、活性部分に順方
向通電させるとともに、光をその光半導体素子部分に入
射させることによって初めて、ブラッグ反射により特定
波長のみが選択されて反射し、光が出力される。すなわ
ち、光が入射されることによって、その分布ブラッグ反
射型構造を満足するブラッグ波長のみが選択されて出力
される。
部分に順方向通電させるのみではレーザ光を自己発振し
ないように構成されている。そのため、活性部分に順方
向通電させるとともに、光をその光半導体素子部分に入
射させることによって初めて、ブラッグ反射により特定
波長のみが選択されて反射し、光が出力される。すなわ
ち、光が入射されることによって、その分布ブラッグ反
射型構造を満足するブラッグ波長のみが選択されて出力
される。
また、分布ブラッグ反射型構造に光が入射されると、成
る強度以上の入力光のみが増幅され得る。
る強度以上の入力光のみが増幅され得る。
それによって、入力光の強度分布に応じて光信号の波形
を修正することが可能になる。
を修正することが可能になる。
したがって、この発明によれば、波長選択機能と波形修
正機能とを備えた光増幅装置が提供され得る。
正機能とを備えた光増幅装置が提供され得る。
また、光路内にブラッグ反射の反射波長を変更させるた
めの通電領域を備えることによって、ブラッグ反射の反
射波長を変更することが可能になる。そのため、入力光
のうち、所望の波長のみが選択され得る。
めの通電領域を備えることによって、ブラッグ反射の反
射波長を変更することが可能になる。そのため、入力光
のうち、所望の波長のみが選択され得る。
[実施例]
以下、この発明の一実施例について図を用いて説明する
。
。
第1図はこの発明に従った分布ブラッグ反射器(Dis
tributed Bragg RefIecto
r:以下、DBRと略す。)を有する光半導体素子部分
(以下、DBR−AMPと略す。
tributed Bragg RefIecto
r:以下、DBRと略す。)を有する光半導体素子部分
(以下、DBR−AMPと略す。
)の光路に沿った軸上での概略断面を示す断面図である
。なお、構造が理解されやすくするため、第1図は模式
的に示されている。
。なお、構造が理解されやすくするため、第1図は模式
的に示されている。
第1図を参照して、−具体例を説明する。DBR−AM
Plooは、P型InP層1と、N型InP層2と、そ
れらの間に挾まれて形成された活性層3および導波層4
とから構成される。活性層3の両側に配された導波層4
は回折格子41を有ヂる。光路の方向は矢印で示されて
いる。具体的には、P型InP層1は厚さ約100μm
のP型InP基板とその上に形成された約3μmの厚み
を有するP型InPからなる。N型1nP層2は約2μ
mの厚みを有する。P型1nP層1とN型InP層2と
の間に挾まれた活性層3および導波層4の平均厚みは約
0.3μmである。導波層4に形成された回折格子41
の周期(ピッチ)は、0.24μmであり、各格子の深
さが約500Å以下(0,05μm以下)である。
Plooは、P型InP層1と、N型InP層2と、そ
れらの間に挾まれて形成された活性層3および導波層4
とから構成される。活性層3の両側に配された導波層4
は回折格子41を有ヂる。光路の方向は矢印で示されて
いる。具体的には、P型InP層1は厚さ約100μm
のP型InP基板とその上に形成された約3μmの厚み
を有するP型InPからなる。N型1nP層2は約2μ
mの厚みを有する。P型1nP層1とN型InP層2と
の間に挾まれた活性層3および導波層4の平均厚みは約
0.3μmである。導波層4に形成された回折格子41
の周期(ピッチ)は、0.24μmであり、各格子の深
さが約500Å以下(0,05μm以下)である。
導波層4のバンドギャップは0.97eVであり、波長
1.55μmの光に対しては透明である。
1.55μmの光に対しては透明である。
活性層3の部分は、図示されていないが、4層から構成
されている。具体的には、活性層3は、下から順に、厚
み0.1μmのInGaAsP層(バンドギャップ0,
80eV)と、厚み0.05μmのInGaAsP層(
バンドギャップ0゜97 e V)と、厚み0.05μ
mのInP層と、厚み0.1μmのInGaAsP層(
バンドギャップ0.97eV)との4層からなる。下か
ら第2層目のInGaAsP層は下層の活性部分の保護
のために形成されている。また、上部の2層は活性部分
の全体の屈折率を調整するために形成されている。この
ようにして構成される活性層3によれば、波長1.55
μmの光が増幅されることになる。
されている。具体的には、活性層3は、下から順に、厚
み0.1μmのInGaAsP層(バンドギャップ0,
80eV)と、厚み0.05μmのInGaAsP層(
バンドギャップ0゜97 e V)と、厚み0.05μ
mのInP層と、厚み0.1μmのInGaAsP層(
バンドギャップ0.97eV)との4層からなる。下か
ら第2層目のInGaAsP層は下層の活性部分の保護
のために形成されている。また、上部の2層は活性部分
の全体の屈折率を調整するために形成されている。この
ようにして構成される活性層3によれば、波長1.55
μmの光が増幅されることになる。
N型InP層2の上面には、PN接合に通電させるため
の電極部分が形成されている。この電極部分は、それぞ
れ、膜厚0.5μmの金−クロム合金層からなり、活性
部電極6と波長調整電極7a、7b、7cとから構成さ
れる。各電極は、N型1nP層2の上面に形成された膜
厚0.2μmの窒化シリコンからなる絶縁層9と、N型
1nP層2の上部分内に形成された幅約50μm1深さ
1.95μmの半絶縁化InP層5とによって電気的に
分離されている。また、P型InP層1の下面には、膜
厚0.5μmの金−亜鉛合金層からなる共通電極8が形
成されている。
の電極部分が形成されている。この電極部分は、それぞ
れ、膜厚0.5μmの金−クロム合金層からなり、活性
部電極6と波長調整電極7a、7b、7cとから構成さ
れる。各電極は、N型1nP層2の上面に形成された膜
厚0.2μmの窒化シリコンからなる絶縁層9と、N型
1nP層2の上部分内に形成された幅約50μm1深さ
1.95μmの半絶縁化InP層5とによって電気的に
分離されている。また、P型InP層1の下面には、膜
厚0.5μmの金−亜鉛合金層からなる共通電極8が形
成されている。
また、光が入力および出力される部分には、膜厚的0,
18μmの窒化シリコンからなる反射防止膜10が形成
されている。
18μmの窒化シリコンからなる反射防止膜10が形成
されている。
このような構造を有するDBR−AMPlooは、第1
のDBRIOIと、第2のDBH2と、それらの間に挾
まれた活性部103および位相調整部104とに区分さ
れる。各部分の光路方向に沿った長さは、第1および第
2のDBRIOI。
のDBRIOIと、第2のDBH2と、それらの間に挾
まれた活性部103および位相調整部104とに区分さ
れる。各部分の光路方向に沿った長さは、第1および第
2のDBRIOI。
102がり、、−L、 2−100μms活性部103
が300μm1位相調整部104が100μmである。
が300μm1位相調整部104が100μmである。
この実施例によれば、第1および第2のDBRIOI、
102の長さ(Llll、LR2)は、PN接合を介し
て活性層3に通電させるのみではレーザ光を自己発振し
ないように短くされている。それによって、第1および
第2のDBRlol、102の反射率は約3〜5%程度
に設定されている。さらに、反射防止膜10が施されて
いるので、その両側の端面の反射率は実質的にはOと考
えられる。
102の長さ(Llll、LR2)は、PN接合を介し
て活性層3に通電させるのみではレーザ光を自己発振し
ないように短くされている。それによって、第1および
第2のDBRlol、102の反射率は約3〜5%程度
に設定されている。さらに、反射防止膜10が施されて
いるので、その両側の端面の反射率は実質的にはOと考
えられる。
上記のように構成されるDBHの部分は、近似的に以下
の(1)式を満足する特定の波長だけを反射する反射器
と考えられる。
の(1)式を満足する特定の波長だけを反射する反射器
と考えられる。
2八−λB/η8q ・・・(1)ここで
、AはDBR部分の回折格子41のピッチ、λBは光の
波長、ηeQは等価屈折率である。
、AはDBR部分の回折格子41のピッチ、λBは光の
波長、ηeQは等価屈折率である。
この場合、DBR部分の長さは短いので、波長λBの光
に対する反射率も低く保たれている。したがって、通常
の使用状態では、すなわち、単にDBR−AMPの活性
部分に電流を流したとしてもレーザ光を自己発振するこ
とはない。なお、大電流の通電、あるいは著しく冷却さ
れた場合においては、自己発振する危険があるので注意
を要する。
に対する反射率も低く保たれている。したがって、通常
の使用状態では、すなわち、単にDBR−AMPの活性
部分に電流を流したとしてもレーザ光を自己発振するこ
とはない。なお、大電流の通電、あるいは著しく冷却さ
れた場合においては、自己発振する危険があるので注意
を要する。
一方、λB以外の波長を有する光は、回折格子にほとん
ど無関係に、DBR部分を透過する。したがって、この
場合、活性部分に電流を流すだけでは、DBR−AMP
の出力光はごく微弱な自然放出光である。その出力は約
−10〜−20dBm程度である。なお、この部分の詳
細については、文献「半導体レーザと光集積回路」:末
松安晴編二オーム社、昭和59年4月25日発行二31
3頁以降に示されている。厳密には、上記の記述は正確
ではないが、厳密な記述は極めて煩雑となるため゛省略
する。むしろ、本発明における物理的現象については、
上記の記述によって特に本質を損なうことはないと考え
られるので、以下、近似化した記述によって説明を行な
う。
ど無関係に、DBR部分を透過する。したがって、この
場合、活性部分に電流を流すだけでは、DBR−AMP
の出力光はごく微弱な自然放出光である。その出力は約
−10〜−20dBm程度である。なお、この部分の詳
細については、文献「半導体レーザと光集積回路」:末
松安晴編二オーム社、昭和59年4月25日発行二31
3頁以降に示されている。厳密には、上記の記述は正確
ではないが、厳密な記述は極めて煩雑となるため゛省略
する。むしろ、本発明における物理的現象については、
上記の記述によって特に本質を損なうことはないと考え
られるので、以下、近似化した記述によって説明を行な
う。
上記のように作用するDBR−AMPlooに人力光と
してλB以外の波長を有する光を入力すると、出力光は
上記の自然放出光と、活性層3によってわずかに増幅さ
れた光の和となる。一方、入力光がλBの波長に一致し
、しかも、その光強度が十分大きい場合には、外部から
の入力光によってレーザ発光が維持される状態となる。
してλB以外の波長を有する光を入力すると、出力光は
上記の自然放出光と、活性層3によってわずかに増幅さ
れた光の和となる。一方、入力光がλBの波長に一致し
、しかも、その光強度が十分大きい場合には、外部から
の入力光によってレーザ発光が維持される状態となる。
したがって、出力光の強度は、この状態では5〜10d
Bm以上となる。このとき良好な使用状態であれば、消
光比20〜30dBm程度を維持することが可能である
。また、入力光の波長がλBであれば、入力側のDBR
IOIにおいて一部の入力光が反射されるが、DBR部
分の全長は上記のように短くされているので、入力光は
活性層3に到達し得る。
Bm以上となる。このとき良好な使用状態であれば、消
光比20〜30dBm程度を維持することが可能である
。また、入力光の波長がλBであれば、入力側のDBR
IOIにおいて一部の入力光が反射されるが、DBR部
分の全長は上記のように短くされているので、入力光は
活性層3に到達し得る。
この場合、DBR−AMPのレーザ発振を持続させるた
めには、通常の光受信器で検出される光よりも大きな強
度を有する入力光が必要である。
めには、通常の光受信器で検出される光よりも大きな強
度を有する入力光が必要である。
そのため、DBR−AMPへ入力される前に、通常のF
P型光増幅器を用いて予め増幅された光がDBR−AM
Pに人力されてもよい。
P型光増幅器を用いて予め増幅された光がDBR−AM
Pに人力されてもよい。
このようにしてDBR−AMPに光が入力されると、そ
の出力光は、単一モード(単一波長)の光となり、成る
一定の入力光の強度レベルを越えた信号だけが増幅され
た出力信号を有する。
の出力光は、単一モード(単一波長)の光となり、成る
一定の入力光の強度レベルを越えた信号だけが増幅され
た出力信号を有する。
第2A図、第2B図は、それぞれDBR−AMPを用い
て増幅された、入力光と出力光の光学スペクトルを示す
模式化したグラフである。第3A図、第3B図は、それ
ぞれ、DBR−AMPを用いて増幅された、入力光と出
力光の時間変化を示すグラフである。以下、これらの図
を参照してDBR−AMPの特性について説明する。
て増幅された、入力光と出力光の光学スペクトルを示す
模式化したグラフである。第3A図、第3B図は、それ
ぞれ、DBR−AMPを用いて増幅された、入力光と出
力光の時間変化を示すグラフである。以下、これらの図
を参照してDBR−AMPの特性について説明する。
第2A図に示される入力光は、いわゆる、FP型レーザ
の多モードの光スペクトルを示している。
の多モードの光スペクトルを示している。
第2B図によれば、出力光においては、入力光のうちの
特定の波長(λB)のものが選択的に出力されている。
特定の波長(λB)のものが選択的に出力されている。
このようにして、DBR−AMPを介することにより、
所望の波長(λB)の光だけを取出すことができる。従
来のFP型レーザによれば、単一波長の光を放出させよ
うとしても、動作原理上、必ず、第2A図に示される多
モードのスペクトルを含む光になるのに対し、DBR−
AMPを用いれば、単一波長の光を放出させることがで
きる。また、入射光として、たとえば、DFBレーザ等
の単一モードレーザを複数個、使用して、波長を接近さ
せた複数本の波長を含む信号(波長多重信号)を1本の
光ファイバで伝送する方式を採用している場合には、そ
の入力光の中から特定の波長(λB)だけを選択的に増
幅させる波長選別器(すなわち、チャネル・セレクタ、
選局器)として、DBR−AMPを用いることができる
。
所望の波長(λB)の光だけを取出すことができる。従
来のFP型レーザによれば、単一波長の光を放出させよ
うとしても、動作原理上、必ず、第2A図に示される多
モードのスペクトルを含む光になるのに対し、DBR−
AMPを用いれば、単一波長の光を放出させることがで
きる。また、入射光として、たとえば、DFBレーザ等
の単一モードレーザを複数個、使用して、波長を接近さ
せた複数本の波長を含む信号(波長多重信号)を1本の
光ファイバで伝送する方式を採用している場合には、そ
の入力光の中から特定の波長(λB)だけを選択的に増
幅させる波長選別器(すなわち、チャネル・セレクタ、
選局器)として、DBR−AMPを用いることができる
。
具体的には、第1図を参照してその構造が説明されたD
BR−AMPlooの一実施例においては、以下のよう
に選択的に増幅され得る。第2A図において、入力光の
ピーク強度IFを0.7mW1波長λBを1.5500
μmとする。このとき、入力光の全強度は通常1.5m
W程度である。
BR−AMPlooの一実施例においては、以下のよう
に選択的に増幅され得る。第2A図において、入力光の
ピーク強度IFを0.7mW1波長λBを1.5500
μmとする。このとき、入力光の全強度は通常1.5m
W程度である。
このような入力光を、第1図に示された構造を有するD
BR−AMPlooによって増幅すると、出力光は第2
B図においてIOが3mW程度となる。なお、この場合
、活性層3に流される電流の値は70〜80mA程度で
ある。
BR−AMPlooによって増幅すると、出力光は第2
B図においてIOが3mW程度となる。なお、この場合
、活性層3に流される電流の値は70〜80mA程度で
ある。
さらに、光ファイバに入力される信号として多く使用さ
れるのは、第3B図に示すように、時間に対して方形波
となるような信号である。ところが、通常、このような
信号は、光フアイバ中において分散効果等の影響によっ
て第3A図に示すようになだらかな波形となり、その信
号判別が困難になる。そこで、DBR−AMPによれば
、上述したように、成る特定の入力信号強度以上になる
と出力光が発生し、入力信号の強度が小さい間はほとん
ど出力光が発生しない。したがって、第3A図に示され
る時間変化を有する入力光がDBR−AMPに入射され
ると、第3B図に示されるように、その出力光は方形波
を有するようになる。
れるのは、第3B図に示すように、時間に対して方形波
となるような信号である。ところが、通常、このような
信号は、光フアイバ中において分散効果等の影響によっ
て第3A図に示すようになだらかな波形となり、その信
号判別が困難になる。そこで、DBR−AMPによれば
、上述したように、成る特定の入力信号強度以上になる
と出力光が発生し、入力信号の強度が小さい間はほとん
ど出力光が発生しない。したがって、第3A図に示され
る時間変化を有する入力光がDBR−AMPに入射され
ると、第3B図に示されるように、その出力光は方形波
を有するようになる。
このように、DBR−AMPを用いると、なだらかな信
号波形を方形波状に復元することが可能になる。
号波形を方形波状に復元することが可能になる。
具体的には、第1図に示される構造を有するDBR−A
MPを用いると、以下のような波形復元機能が実現され
得る。第3A図において、入力光の全強度■1を1.5
mW、入力光の判別信号強度ICを0.5mW程度に設
定する。そうすると、第3B図において、入力光のうち
、判別信号強度ICを越える部分のみが増幅されて、出
力光の強度toが3mWとなるような方形波が得られる
。
MPを用いると、以下のような波形復元機能が実現され
得る。第3A図において、入力光の全強度■1を1.5
mW、入力光の判別信号強度ICを0.5mW程度に設
定する。そうすると、第3B図において、入力光のうち
、判別信号強度ICを越える部分のみが増幅されて、出
力光の強度toが3mWとなるような方形波が得られる
。
以上のように、この発明のDBR−AMPによれば、従
来、その実現が非常に困難であった波長選択機能と波形
復元機能とが実現され得る。
来、その実現が非常に困難であった波長選択機能と波形
復元機能とが実現され得る。
また、この発明のDBR−AMPによれば、第1図に示
されるように波長調整電極7a、7b。
されるように波長調整電極7a、7b。
7cに外部から電流を流すことにより、回折格子41の
ブラッグ反射波長λBを変更することができる。そのた
め、DBR−AMPを波長選択器として用いる場合には
、外部から注入される電流の大きさを適宜、調整するこ
とによって、所望の波長を選択することが可能になる。
ブラッグ反射波長λBを変更することができる。そのた
め、DBR−AMPを波長選択器として用いる場合には
、外部から注入される電流の大きさを適宜、調整するこ
とによって、所望の波長を選択することが可能になる。
具体的には、第1図を用いて説明されたDBR−AMP
100の一実施例において、選択波長の設定は以下の
ように行なわれる。
100の一実施例において、選択波長の設定は以下の
ように行なわれる。
まず、回折格子41のブラッグ反射波長λa=1.55
00μmとなるようにDBR−AMPが構成されている
場合、活性部電極6のみに所定の電流を流し、波長調整
電極7a、7b、7cのいずれの電極にも通電させない
ことによって、波長1.5500μmの光のみが選択さ
れ得る。
00μmとなるようにDBR−AMPが構成されている
場合、活性部電極6のみに所定の電流を流し、波長調整
電極7a、7b、7cのいずれの電極にも通電させない
ことによって、波長1.5500μmの光のみが選択さ
れ得る。
次に、回折格子41のブラッグ反射波長λBが1.55
00μmから20人以内でずれた構成を有するDBR−
AMPを用いて、1.5500μmの波長の光のみを選
択する場合、次のように外部注入電流値が設定される。
00μmから20人以内でずれた構成を有するDBR−
AMPを用いて、1.5500μmの波長の光のみを選
択する場合、次のように外部注入電流値が設定される。
今、λBの中心波長が1.5500μmより長いものと
する。この場合、IAのずれに対して3mAの割合で電
流を注入すればよい。たとえば、ブラッグ反射波長λB
−1,5504ttmであるDBR−AMPを用いる場
合、所望の選択波長1.5500μmに対して4人だけ
ずれているので、外部から注入される電流値の大きさは
12mAとなる。したがって、波長調整電極7a、7c
に12mAの電流を流し、波長調整電極7bには通電さ
せないことにより、1.5500μmの波長のみを選択
することが可能になる。
する。この場合、IAのずれに対して3mAの割合で電
流を注入すればよい。たとえば、ブラッグ反射波長λB
−1,5504ttmであるDBR−AMPを用いる場
合、所望の選択波長1.5500μmに対して4人だけ
ずれているので、外部から注入される電流値の大きさは
12mAとなる。したがって、波長調整電極7a、7c
に12mAの電流を流し、波長調整電極7bには通電さ
せないことにより、1.5500μmの波長のみを選択
することが可能になる。
さらに、選択波長と回折格子のブラッグ反射波長λBと
の間のずれが20Å以上である場合には、次のように外
部注入電流値の大きさが設定される。
の間のずれが20Å以上である場合には、次のように外
部注入電流値の大きさが設定される。
まず、波長調整電極7bに所定の電流を流すことによっ
て、波長のずれを20A以内に調整する。
て、波長のずれを20A以内に調整する。
これによって波長のずれが20A以内に調整されれば、
上記と同様に電流が外部から注入されることによって、
波長1.5500μmの光を選択することが可能になる
。
上記と同様に電流が外部から注入されることによって、
波長1.5500μmの光を選択することが可能になる
。
次に、第1図に示されるような構造のDBR−AMP
100の製造方法について説明する。第4A図−第4D
図はDBR−AMPlooの製造方法を工程順に示す概
略断面図、または斜視図である。
100の製造方法について説明する。第4A図−第4D
図はDBR−AMPlooの製造方法を工程順に示す概
略断面図、または斜視図である。
まず、第4A図を参照して、エピタキシャル結晶成長に
よって、P型InP層1と、N型1nP層2と、それら
の層の間に挾まれた活性層3および導波層4とを有する
構造が形成される。この製造工程は、通常のDBR型半
導体レーザとほぼ同一の工程によって行なわれる。この
工程は、上記において示した文献中においても記載され
ているので、その詳細については省略する。
よって、P型InP層1と、N型1nP層2と、それら
の層の間に挾まれた活性層3および導波層4とを有する
構造が形成される。この製造工程は、通常のDBR型半
導体レーザとほぼ同一の工程によって行なわれる。この
工程は、上記において示した文献中においても記載され
ているので、その詳細については省略する。
その後、第4B図に示すように、フォトリソグラフィ法
およびMOCVD法により、半絶縁化InP層5が所定
の間隔を隔てて形成される。このとき、半絶縁化は、M
OCVD法による結晶成長中において鉄をドープするこ
とによって行なわれる。鉄の原料としては、フェロセン
が使用される。
およびMOCVD法により、半絶縁化InP層5が所定
の間隔を隔てて形成される。このとき、半絶縁化は、M
OCVD法による結晶成長中において鉄をドープするこ
とによって行なわれる。鉄の原料としては、フェロセン
が使用される。
次に、第4C図に示すように、絶縁層9、活性部電極6
および波長調整電極7a、7b、7cが形成される。こ
のとき、DBR部分の光路方向の長さは、いずれも50
〜100μm程度とする。
および波長調整電極7a、7b、7cが形成される。こ
のとき、DBR部分の光路方向の長さは、いずれも50
〜100μm程度とする。
それぞれ、DBR部分の端面には、反射防止膜10が形
成されることによって、反射率が0.1%程度以下に設
定される。なお、DBR部分の長さは、回折格子と光の
結合係数によって変更され得る。結合係数にを大きくす
るほど、DBR部分の長さは短くされる必要がある。ま
た、DBR部分の反射率をたとえば、5%程度とすると
、活性部分に注入される電流値が80mA程度までの範
囲内で、DBR−AMPが自己発振しないように設定す
ることも可能となる。自己発振を抑える方法としては、
活性部分が有する増幅度を小さくすることによっても行
なわれ得る。具体的には、活性層の全長を短くしてもよ
い。但し、この場合、増幅度の減少度合に十分注意して
設計する必要がある。
成されることによって、反射率が0.1%程度以下に設
定される。なお、DBR部分の長さは、回折格子と光の
結合係数によって変更され得る。結合係数にを大きくす
るほど、DBR部分の長さは短くされる必要がある。ま
た、DBR部分の反射率をたとえば、5%程度とすると
、活性部分に注入される電流値が80mA程度までの範
囲内で、DBR−AMPが自己発振しないように設定す
ることも可能となる。自己発振を抑える方法としては、
活性部分が有する増幅度を小さくすることによっても行
なわれ得る。具体的には、活性層の全長を短くしてもよ
い。但し、この場合、増幅度の減少度合に十分注意して
設計する必要がある。
このようにして形成されたDBR−AMPのチップは、
その両側に光ファイバが接続され得るようにマウントさ
れる。このマウントされた状態は第4D図に示されてい
る。この図によれば、DBR−AMPlooの活性部電
極6には活性部り一ド60が配され、波長調整電極7a
、 7b、 7cにはそれぞれ、波長調整部リード
70a、70b。
その両側に光ファイバが接続され得るようにマウントさ
れる。このマウントされた状態は第4D図に示されてい
る。この図によれば、DBR−AMPlooの活性部電
極6には活性部り一ド60が配され、波長調整電極7a
、 7b、 7cにはそれぞれ、波長調整部リード
70a、70b。
70cが配置されている。光の入力側には、入力光を伝
達する光ファイバ200aと、その光ファイバを支持す
る光フアイバ用マウント201aが設けられている。入
力光は入力光用レンズ400aを介してDBR−AMP
looに入射される。
達する光ファイバ200aと、その光ファイバを支持す
る光フアイバ用マウント201aが設けられている。入
力光は入力光用レンズ400aを介してDBR−AMP
looに入射される。
DBR−AMPlooから発した出力光は出力光用レン
ズ400bを介して出力され、光ファイバ200bに伝
達される。光ファイバ200bは光フアイバ用マウント
201bによって支えられている。増幅器全体は増幅器
用マウント300によって支持されている。このように
して、光増幅装置として用いられるDBR−AMPlo
oが完成する。
ズ400bを介して出力され、光ファイバ200bに伝
達される。光ファイバ200bは光フアイバ用マウント
201bによって支えられている。増幅器全体は増幅器
用マウント300によって支持されている。このように
して、光増幅装置として用いられるDBR−AMPlo
oが完成する。
第5図はこの発明のDBR−AMPlooを光中継器1
000に用いた例を示す概略構成図であある。この図に
よれば、光ファイバ200aによって伝達された入力光
は入力光用レンズ400aを介して通常のFP型光増幅
器20に入射される。
000に用いた例を示す概略構成図であある。この図に
よれば、光ファイバ200aによって伝達された入力光
は入力光用レンズ400aを介して通常のFP型光増幅
器20に入射される。
この従来型の光増幅器20から出力された光は中間ルン
ズ400bを介してDBR−AMPlooに入射される
。DBR−AMPlooから発した出力光は出力用レン
ズ400cを介して光ファイバ200bに伝達される。
ズ400bを介してDBR−AMPlooに入射される
。DBR−AMPlooから発した出力光は出力用レン
ズ400cを介して光ファイバ200bに伝達される。
なお、従来型の光増幅器20およびDBR−AMPlo
oは、制御用電子回路500によって制御される。この
例によれば、入力信号は、従来型の光増幅器20を用い
て予備増幅された後、DBR−AMPlooに入力され
る。
oは、制御用電子回路500によって制御される。この
例によれば、入力信号は、従来型の光増幅器20を用い
て予備増幅された後、DBR−AMPlooに入力され
る。
[発明の効果]
以上のように、この発明によれば、従来、困難であった
光信号を直接処理する技術が実現され得る。すなわち、
この発明のDBR−AMPによれば、波長選択機能と波
形復元機能が光信号のままで処理される技術として実現
される。従来、光信号を一旦、光検出器を用いて電気信
号に変換した後、電気回路によって波形修正や選局が実
行され、必要な場合にはもう一度発光素子を介して光信
号に戻していた。
光信号を直接処理する技術が実現され得る。すなわち、
この発明のDBR−AMPによれば、波長選択機能と波
形復元機能が光信号のままで処理される技術として実現
される。従来、光信号を一旦、光検出器を用いて電気信
号に変換した後、電気回路によって波形修正や選局が実
行され、必要な場合にはもう一度発光素子を介して光信
号に戻していた。
このように、単純な増幅作用だけでなく、波長選択機能
および波形復元機能を備えているので、光信号の処理技
術が大幅に改良され得る。
および波形復元機能を備えているので、光信号の処理技
術が大幅に改良され得る。
さらに、光信号−電気信号−光信号と変換される必要が
ないので、中継器として使用される場合、中間に配置さ
れる電気回路が不要となる。そのため、光エレクトロニ
クス関係の製品の低価格化および信頼性の向上を図るこ
とができる。
ないので、中継器として使用される場合、中間に配置さ
れる電気回路が不要となる。そのため、光エレクトロニ
クス関係の製品の低価格化および信頼性の向上を図るこ
とができる。
第1図はこの発明に従った光増幅装置に用いられる光半
導体素子の光路方向に沿った断面を示す概略断面図であ
る。 第2A図および第2B図はこの発明の光増幅装置を用い
て増幅された、入力光と出力光の光学スペクトルをそれ
ぞれ示すグラフである。 第3A図および第3B図はこの発明の光増幅装置を用い
て増幅された、入力光と出力光の時間変化をそれぞれ示
すグラフである。 第4A図、第4B図、第4C図、第4D図は、この発明
の光増幅装置の製造方法を工程順に示す概略断面図、ま
たは概略斜視図である。 第5図はこの発明の光増幅装置を光中継器に用いた例を
示す概略構成図である。 第6図は従来の光増幅器の光路方向に沿った断面を示す
概略断面図である。 図において、1はP型InP層、2はN型In2層、3
は活性層、4は導波層、6は活性部電極、7a、7b、
7cは波長調整電極、8は共通電極、41は回折格子、
100はDBR−AMP、101は第1の分布ブラッグ
反射器、102は第2の分布ブラッグ反射器、103は
活性部、104は位相調整部、400aは入力用レンズ
、400bは出力用レンズである。 第2A図 第3A図 λB 埴朱(〜 時Pシq (をン
導体素子の光路方向に沿った断面を示す概略断面図であ
る。 第2A図および第2B図はこの発明の光増幅装置を用い
て増幅された、入力光と出力光の光学スペクトルをそれ
ぞれ示すグラフである。 第3A図および第3B図はこの発明の光増幅装置を用い
て増幅された、入力光と出力光の時間変化をそれぞれ示
すグラフである。 第4A図、第4B図、第4C図、第4D図は、この発明
の光増幅装置の製造方法を工程順に示す概略断面図、ま
たは概略斜視図である。 第5図はこの発明の光増幅装置を光中継器に用いた例を
示す概略構成図である。 第6図は従来の光増幅器の光路方向に沿った断面を示す
概略断面図である。 図において、1はP型InP層、2はN型In2層、3
は活性層、4は導波層、6は活性部電極、7a、7b、
7cは波長調整電極、8は共通電極、41は回折格子、
100はDBR−AMP、101は第1の分布ブラッグ
反射器、102は第2の分布ブラッグ反射器、103は
活性部、104は位相調整部、400aは入力用レンズ
、400bは出力用レンズである。 第2A図 第3A図 λB 埴朱(〜 時Pシq (をン
Claims (5)
- (1)光入力部分と、その光入力部分から光を受入れる
光半導体素子部分と、その光半導体素子部分から発する
光を出力させる光出力部分とを備えた光増幅装置であっ
て、 前記光半導体素子部分は、PN接合を有し、かつ、第1
の分布ブラッグ反射部分と活性部分と第2の分布ブラッ
グ反射部分とが光路に沿った方向に配された分布ブラッ
グ反射型構造を有しており、前記分布ブラッグ反射型構
造は、前記PN接合を介して前記活性部分に順方向通電
させるのみでは、レーザ光を自己発振しないように構成
されている、光増幅装置。 - (2)当該光増幅装置は、前記光路内に、ブラッグ反射
の反射波長を変更させるための通電領域をさらに備える
、請求項1に記載の光増幅装置。 - (3)前記第1および第2の分布ブラッグ反射部分の光
路に沿った方向の長さを短くすることによって、前記分
布ブラッグ反射型構造はレーザ光を自己発振しないよう
に構成されている、請求項1または2に記載の光増幅装
置。 - (4)前記活性部分が有する増幅度を小さくすることに
よって、前記分布ブラッグ反射型構造は、レーザ光を自
己発振しないように構成されている、請求項1または2
に記載の光増幅装置。 - (5)前記通電領域は、前記PN接合を挾むように配さ
れた電極部分を含む、請求項2ないし4のいずれかに記
載の光増幅装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30633588A JPH02152289A (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 光増幅装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30633588A JPH02152289A (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 光増幅装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02152289A true JPH02152289A (ja) | 1990-06-12 |
Family
ID=17955869
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30633588A Pending JPH02152289A (ja) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | 光増幅装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02152289A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0484923A2 (en) * | 1990-11-07 | 1992-05-13 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Semiconductor wavelength conversion device |
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1988
- 1988-12-02 JP JP30633588A patent/JPH02152289A/ja active Pending
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