JPH02135872U - - Google Patents

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JPH02135872U
JPH02135872U JP4397789U JP4397789U JPH02135872U JP H02135872 U JPH02135872 U JP H02135872U JP 4397789 U JP4397789 U JP 4397789U JP 4397789 U JP4397789 U JP 4397789U JP H02135872 U JPH02135872 U JP H02135872U
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JP
Japan
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contact
light emitting
emitting diode
changeover switch
lead wire
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JP4397789U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図ないし第７図は第１考案の実施例を示す
ものであつて、第１図は検電導通テスターの回路
構成を示す図、第２図は検電導通テスターの一部
切欠平面図、第３図は各切換スイツチの接点組合
せ接続とテスター機能との関係を示す表である。
第４図は電圧検電を行う場合の回路構成図、第５
図はローインピーダンス導通テストを行なう場合
の回路構成図、第６図はハイインピーダンス導通
テストを行なう場合の回路構成図、第７図は電源
判別および直流電源極性判別を行なう場合の回路
構成図である。第８図は第２考案の実施例に係る
検電導通テスターの回路構成を示す図、第９図は
第３考案の実施例に係る検電導通テスターの回路
構成を示す図である。 図において、１は第１接触ピン、２は第１ホル
ダ、３は第１切換スイツチ、４はテスター用電源
、５は第１発光ダイオード、６は第２発光ダイオ
ード、７は第２接触ピン、８は第２ホルダ、９は
第２切換スイツチ、１０はブザー、１１はダーリ
ントントランジスタ、１２ないし１４はリード線
、１５は操作片、２０は操作片、Ｓｎは中央接点
、Ｓ１は第１接点、Ｓ２は第２接点、Ｓ３は第３
接点、Ｓ４は第４接点、Ｒ１ないしＲ４は抵抗器
、Ｂはベース、Ｃはコレクタ、Ｅはエミツタであ
る。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 第１接触ピン１を固定した第１ホルダ２に
    、その第１接触ピン１に中央接点Ｓｎを接続した
    第１切換スイツチ３とテスター用電源４と互いに
    異なる発光色の第１発光ダイオード５および第２
    発光ダイオード６とが設けられ、第２接触ピン７
    を固定した第２ホルダ８に、その第２接触ピン７
    に中央接点Ｓｎを接続した第２切換スイツチ９と
    ブザー１０とダーリントントランジスタ１１とが
    設けられ、前記第１切換スイツチ３の第１接点Ｓ
    １およびテスター用電源４のマイナス側は、一方
    のリード線１２の一端部に接続され、第１切換ス
    イツチ３の第２接点Ｓ２およびテスター用電源４
    のプラス側は、前記第１発光ダイオード５のアノ
    ード側および前記第２発光ダイオード６のカソー
    ド側に接続され、第１発光ダイオード５のカソー
    ド側および第２発光ダイオード６のアノード側は
    他方のリード線１３の一端部に接続され、前記第
    ２切換スイツチ９の第１接点Ｓ３は抵抗器を介し
    てダーリントントランジスタ１１のベースＢおよ
    びエミツタＥに接続されると共に、そのエミツタ
    Ｅが前記一方のリード線１２の他端部に接続され
    、前記第２切換スイツチ９の第２接点Ｓ４が抵抗
    器を介して前記他方のリード線１３の他端部に接
    続されると共に、ダーリントントランジスタ１１
    のコレクタＣがブザー１０を介して前記他方のリ
    ード線１３の他端部に接続されている検電導通テ
    スター。 (2) 第１接触ピン１を固定した第１ホルダ２に
    、その第１接触ピン１に中央接点Ｓｎを接続した
    第１切換スイツチ３が設けられ、第２接触ピン７
    を固定した第２ホルダ８に、その第２接触ピン７
    に中央接点Ｓｎを接続した第２切換スイツチ９が
    設けられ、何れか一方のホルダに、テスター用電
    源４と互に異なる発光色の第１発光ダイオード５
    および第２発光ダイオード６とブザー１０とダー
    リントントランジスタ１１とが設けられ、前記第
    １切換スイツチ３の第１接点Ｓ１が一方のリード
    線１２の一端部に接続されると共に、第１切換ス
    イツチ３の第２接点Ｓ２が他方のリード線１３の
    一端部に接続され、前記第２切換スイツチ９の第
    １接点Ｓ３は抵抗器を介してダーリントントラン
    ジスタ１１のベースＢおよびエミツタＥに接続さ
    れると共に、そのエミツタＥおよびテスター用電
    源４のマイナス側が前記一方のリード線１２の他
    端部に接続され、前記第２切換スイツチ９の第２
    接点Ｓ４が、抵抗器を介して第１発光ダイオード
    ５のアノード側および前記第２発光ダイオード６
    のカソード側に接続されると共に、ブザー１０の
    一方の端子に接続され、そのブザー１０の他方の
    端子はダーリントントランジスタ１１のコレクタ
    Ｃに接続され、第１発光ダイオード５のカソード
    側および第２発光ダイオード６のアノード側とテ
    スター用電源４のプラス側とは、前記他方のリー
    ド線１３の他端部に接続されている検電導通テス
    ター。 (3) 第１ホルダ２に固定された第１接触ピン１
    と第２ホルダ８に取付けられた第１切換スイツチ
    ３の中央接点Ｓｎとがリード線１４を介して接続
    され、前記第２ホルダ８に、第２接触ピン７が固
    定されると共にその第２接触ピン７に中央接点Ｓ
    ｎを接続した第２切換スイツチ９が取付けられ、
    前記第２ホルダ８にテスター用電源４と互いに異
    なる発光色の第１発光ダイオード５および第２発
    光ダイオード６とブザー１０とダーリントントラ
    ンジスタ１１とが設けられ、前記第２切換スイツ
    チ９の第１接点Ｓ３は抵抗器を介してダーリント
    ントランジスタ１１のベースＢおよびエミツタＥ
    に接続されると共に、そのエミツタＥおよびテス
    ター用電源４のマイナス側が第１切換スイツチ３
    の第１接点Ｓ１に接続され、前記第２切換スイツ
    チ９の第２接点Ｓ４が、抵抗器を介して第１発光
    ダイオード５のカソード側および前記第２発光ダ
    イオード６のアノード側に接続されると共に、ブ
    ザー１０の一方の端子に接続され、そのブザー１
    ０の他方の端子はダーリントントランジスタ１１
    のコレクタＣに接続され、第１発光ダイオード５
    のアノード側および第２発光ダイオード６のカソ
    ード側とテスター用電源４のプラス側とは、第１
    切換スイツチ３の第２接点Ｓ２に接続されている
    検電導通テスター。
JP4397789U 1989-04-17 1989-04-17 Pending JPH02135872U (ja)

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JP4397789U JPH02135872U (ja) 1989-04-17 1989-04-17

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JPH02135872U true JPH02135872U (ja) 1990-11-13

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0391977U (ja) * 1990-01-09 1991-09-19

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5554449A (en) * 1978-07-13 1980-04-21 Hideo Nagano Voltage detector of variable input resistance type

Patent Citations (1)

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