JPH02105941A - Microprocessor for evaluation - Google Patents

Microprocessor for evaluation

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JPH02105941A
JPH02105941A JP63258431A JP25843188A JPH02105941A JP H02105941 A JPH02105941 A JP H02105941A JP 63258431 A JP63258431 A JP 63258431A JP 25843188 A JP25843188 A JP 25843188A JP H02105941 A JPH02105941 A JP H02105941A
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JP
Japan
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internal
control signal
buffer
microprocessor
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP63258431A
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Japanese (ja)
Inventor
Satoshi Ikei
池井 聡
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To obtain strict standards with small variance between an internal control signal and an external control signal by adding an internal buffer circuit which inputs an external hardware control signal to a buffer part and outputs an internal hardware control signal. CONSTITUTION:Two-phase reference clocks phi1 and phi2 for control which are generated by a clock generator 3 are inputted to the external buffer circuit 4 of the buffer part 6 and outputted as two-phase reference clocks CLK1 and CLK2 for in-circuit emulator design and also supplied to an instruction fetching unit 8 with an internal instruction queue through an internal buffer circuit 5. The strict specification of an operation display signal SB indicating the operation of an instruction queue obtained at an output terminal TB through an output buffer 11 is therefore calculated for the design clocks CLK1 and CLK2. Consequently, the strict specification is obtained between signals having mutual casual relation with a control signal for respective hardware control signals in the device which are sent out.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、評価用マイクロプロセッサに関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to an evaluation microprocessor.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

評価用マイクロプロセッサは、−i的に評価対象とする
マイクロプロセッサと全く同等の動作をし、その上、デ
バイス内部の各種制御信号及び動作ステータスをデバイ
ス外部に出力するデバッグ用機能を備えている。
The evaluation microprocessor operates in exactly the same way as the microprocessor to be evaluated, and is furthermore equipped with a debugging function for outputting various control signals and operation status inside the device to the outside of the device.

従って、この様な評価用マイクロプロセッサをターゲッ
ト・システム上で動作させ上記デバッグ機能を監視する
事により、デバイス内部の動作を掌握する事ができ、デ
バイスの実行動作過程等を容易に解析する事が可能とな
る。
Therefore, by operating such an evaluation microprocessor on a target system and monitoring the above debugging functions, it is possible to grasp the internal operation of the device and easily analyze the execution process of the device. It becomes possible.

この種の評価用マイクロプロセッサは、実際にはターゲ
ット・システムに直接組込まれて使用される訳ではなく
、通常インサーキット・エミュレータと呼ばれるマイク
ロプロセッサ開発支援装置において使用される。
This type of evaluation microprocessor is not actually used by being directly incorporated into a target system, but is usually used in a microprocessor development support device called an in-circuit emulator.

インサーキット・エミュレータは、基本的にはこの評価
用マイクロプロセッサの他にターゲット・システム上で
動作する評価用プログラムを記憶して評価用マイクロプ
ロセッサにより実行される事を可能とするプログラム記
憶装置と、あらかじめ指定した特定条件によりマイクロ
プロセッサの実行を停止するブレーク回路と、プロセッ
サの実行過程を記憶しておくトレース装置とを備えてい
る。
In addition to the evaluation microprocessor, an in-circuit emulator basically includes a program storage device that stores an evaluation program that runs on the target system and allows the evaluation program to be executed by the evaluation microprocessor. It is equipped with a break circuit that stops the execution of the microprocessor according to specific conditions specified in advance, and a trace device that stores the execution process of the processor.

つまり、評価用マイクロプロセッサは、インサーキット
・エミュレータ内で評価用プログラムの実行を行い、タ
ーゲット・システムとの直接のインタフェースは、プロ
ーブと呼ばれるケーブルを介して行われる。
That is, the evaluation microprocessor executes the evaluation program within an in-circuit emulator, and direct interface with the target system is performed via a cable called a probe.

実際には、ターゲット・システム上の本来評価対象とす
るマイクロプロセッサが組込まれる場所に、このプロー
ブを接続する。
In reality, this probe is connected to the location on the target system where the microprocessor to be evaluated is originally installed.

一方、評価用マイクロプロセッサは、評価用プログラム
の実行と同時にプロセッサ自体の実行過程を解析する為
に必要とされるデバイス内部の各種制御信号及び動作ス
テータスをインサーキット・エミュレータ内のトレース
装置に供給する。
On the other hand, the evaluation microprocessor supplies various internal device control signals and operation status necessary for analyzing the execution process of the processor itself to the tracing device in the in-circuit emulator at the same time as the evaluation program is executed. .

例えば、命令キューを持つプロセッサでは、プリフェッ
チされた命令が必ず実行されるとは限らない。
For example, in a processor with an instruction queue, prefetched instructions are not necessarily executed.

すなわち、分岐命令の実行1割込み処理の発生等により
、命令キューから実行ユニットに取込まれる前に捨てら
れてしまう場合がある。
That is, due to the occurrence of execution 1 interrupt processing of a branch instruction, etc., the instruction may be discarded before being fetched from the instruction queue to the execution unit.

つまり、インサーキット・エミュレータのトレース装置
で単に命令フェッチを行なうマイクロプロセッサのバス
の動作を監視しているだけでは、フェッチされた命令が
実際に実行されたか否かは判断できない。
In other words, simply monitoring the operation of the bus of the microprocessor that fetches instructions using the tracing device of the in-circuit emulator cannot determine whether or not the fetched instructions have actually been executed.

従って、デバイス内部の命令キューの動作自体をトレー
スする必要性が生じる訳である。
Therefore, it becomes necessary to trace the operation of the instruction queue inside the device itself.

この様にして、インサーキット・エミュレータでは、評
価用プロセッサを用いて評価用プログラムの実行を行い
、又、その時発生するバス・サイクル、デバイス内部の
制御信号及び動作ステータス等をトレースする事により
、ターゲット・システムの評価用プログラムやハードウ
ェアの妥当性を評価する事が出来る。
In this way, the in-circuit emulator uses the evaluation processor to execute the evaluation program, and traces the bus cycles that occur at that time, the control signals inside the device, the operation status, etc.・Be able to evaluate the validity of system evaluation programs and hardware.

さて、近年マイクロプロセッサの性能は飛躍的に向上し
ており、最先端のマイクロプロセッサでは、動作周波数
が20MHzに達するものまで出現している。
Now, the performance of microprocessors has improved dramatically in recent years, and some of the most advanced microprocessors have even reached an operating frequency of 20 MHz.

これは、1サイクルが50nsに相当し、このサイクル
単位で各種ハードウェアが機能する。
One cycle corresponds to 50 ns, and various hardware functions in units of this cycle.

しかも、通常デバイス内部のハードウェアは、2相信号
を基準クロックとして動作している為、デバイス内部の
制御信号は実際のプロセッサの動作周波数の2倍の周波
数で動作する。
Moreover, since the hardware inside the device normally operates using a two-phase signal as a reference clock, the control signal inside the device operates at twice the operating frequency of the actual processor.

これは、1サイクルが25nsに相当し、このサイクル
単位で内部の制御信号等が動作している。
One cycle corresponds to 25 ns, and internal control signals and the like operate in units of this cycle.

インサーキット・エミュレータでは、上述した高位マイ
クロプロセッサの出現と伴にこの様な高い動作周波数で
動作するデバイス内部の制御信号等を用いて、ハードウ
ェアの設計を行う必要性が生じてきた。
In in-circuit emulators, with the advent of the above-mentioned high-level microprocessors, it has become necessary to design hardware using control signals and the like inside devices that operate at such high operating frequencies.

ハードウェアの設計を行う場合、使用する信号の規格で
あるスペックの明示が必要不可欠である。
When designing hardware, it is essential to specify specifications, which are the standards of the signals to be used.

特に、デバイス内部の制御信号は、前述の2相基準クロ
ツクに同期して変化する為、上述した様な高周波数で機
能する信号系を扱う場合、この2相基準クロツクに対す
る厳密なスペックが以前にも増して、特に重要となって
きた。
In particular, since the control signals inside the device change in synchronization with the two-phase reference clock mentioned above, when dealing with signal systems that function at high frequencies as mentioned above, strict specifications for this two-phase reference clock have not been established before. has become increasingly important.

そこで−例として、従来の技術の中で、この2相基準ク
ロツクに対して、前述の命令キューの動作を示すデバイ
ス内部の動作表示信号のスペック算出例について説明す
る。
Therefore, as an example, an example of calculating specs of an operation display signal inside a device indicating the operation of the above-mentioned instruction queue with respect to this two-phase reference clock will be described as an example of the conventional technology.

第4図は従来の評価用マイクロプロセッサの第1の例の
ブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram of a first example of a conventional evaluation microprocessor.

外部のクロック・ジェネレータ2から評価用マイクロプ
ロセッサ1bに2相基準クロツクφ1及びφ2を入力す
る。
Two-phase reference clocks φ1 and φ2 are input from an external clock generator 2 to the evaluation microprocessor 1b.

この場合、出力端T、における命令キューの動作を示す
動作表示信号SBのスペックは、基準クロックφ1又は
φ2を基に算出する事が出来る。
In this case, the specifications of the operation display signal SB indicating the operation of the instruction queue at the output terminal T can be calculated based on the reference clock φ1 or φ2.

何故ならば、マイクロプロセッサ内のハードウェア部1
0は、この基準クロックに同期して動作しているからで
ある。
This is because the hardware section 1 in the microprocessor
0 because it operates in synchronization with this reference clock.

つまり、入力バッファ12を通ることによる基準クロッ
クφ1.φ2のデイレ−と、このデイレ−を考慮した基
準クロックにより生成される信号SQのデイレ−と、こ
の動作信号SQを外部に出力する為の出力バッファ11
によるデイレ−を単純に加算する事により、出力端Ta
における動作表示信号SRのスペックが得られる。
That is, the reference clock φ1. The delay of φ2, the delay of the signal SQ generated by the reference clock considering this delay, and the output buffer 11 for outputting this operation signal SQ to the outside.
By simply adding the delay due to the output terminal Ta
The spec of the operation display signal SR in is obtained.

従って、出力端TBでモニタされる内部制御信号のスペ
ックは、基準クロックφ1.φ2を基準としている為、
この制御信号を用いるインサーキット・エミュレータ−
のハードウェア部10も同様にこの基準クロックφ直、
φ2を基準として設計する事が出来る。
Therefore, the specifications of the internal control signal monitored at the output terminal TB are based on the reference clock φ1. Since it is based on φ2,
In-circuit emulator using this control signal
Similarly, the hardware section 10 of
It is possible to design based on φ2.

この様に、外部からマイクロプロセッサの基準クロック
を入力する方式は、比較的マルチチップ・マイクロプロ
セッサに多い。
As described above, the method of inputting the reference clock of a microprocessor from the outside is relatively common in multi-chip microprocessors.

一方、メモリ装置や割込みコントローラ、カウンタ・コ
ントローラー等の各種周辺ハードウェアを1チツプ上に
組込んだシングルチップ、マイクロプロセッサにおいて
は、多くの場合クロック・ジェネレータも同様にデバイ
ス内部に組込んだ方式となっている。
On the other hand, in single-chip microprocessors that incorporate various peripheral hardware such as memory devices, interrupt controllers, and counter controllers on a single chip, in many cases the clock generator is also incorporated inside the device. It has become.

又、マルチチップ・マイクロプロセッサの中でも、割込
みコントローラ等の周辺ハードウェアを1チツプ上に組
込んだ品種においても、この方式となっている場合が多
い。
Furthermore, among multi-chip microprocessors, this method is often used in products that incorporate peripheral hardware such as interrupt controllers on one chip.

この様な、クロック・ジェネレータを内部に組込んだマ
イクロプロセッサでは、基準クロックの供給停止および
供給再開等のコントロールが可能となり、クロック停止
による極低消費電流で動作する待機モードを容易に実現
出来るという利点を持つ。
A microprocessor like this with a built-in clock generator can control the stopping and restarting of the supply of the reference clock, and can easily realize a standby mode that operates with extremely low current consumption by stopping the clock. have advantages.

又、外部にクロック・ジェネレータを必要としない為、
システムの部分点数の削減や価格低減も実現できる。
Also, since no external clock generator is required,
It is also possible to reduce the number of system parts and reduce the cost.

第5図は従来の評価用マイクロプロセッサの第2の例の
ブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram of a second example of a conventional evaluation microprocessor.

評価用マイクロプロセッサ1cの内部のクロック・ジェ
ネレータ3で生成されな2相基準クロックφl、φ2は
、デバイス内部のハードウェア部10の各ユニット7.
8及び9に供給される一方、外部用バッファ回路4を介
してインサーキット・エミュレータ設計用の基準クロッ
クCLK。
The two-phase reference clocks φl and φ2, which are not generated by the clock generator 3 inside the evaluation microprocessor 1c, are generated by each unit 7. of the hardware section 10 inside the device.
8 and 9, and a reference clock CLK for in-circuit emulator design via an external buffer circuit 4.

及びCLK2としてデバイス外部に出力する。and output to the outside of the device as CLK2.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した、従来の評価用マイクロプロセッサは、内部に
クロック・ジェネレータを持ったマイクロプロセッサを
評価する場合に、デバイス内部のハードウェア部に供給
される2相基準タロツクφ1.φ2と、デバイス外部に
出力されるインサーキット・エミュレータ設計用の2相
基準クロツクCL K r 、 CL K2との間に、
外部用バッファ回路のデイレ−分に相当する位相差が生
じる。
When evaluating a microprocessor having an internal clock generator, the conventional evaluation microprocessor described above uses two-phase reference clocks φ1 . Between φ2 and two-phase reference clocks CL K r and CL K2 for in-circuit emulator design that are output to the outside of the device,
A phase difference corresponding to the delay of the external buffer circuit occurs.

従来技術の例で述べた、命令キューの動作を示す動作表
示信号のSRのスペックは、2相基準クロックφ1.φ
2に対するスペックとして厳密に算出する事が出来る。
The specifications of the SR of the operation display signal indicating the operation of the instruction queue described in the example of the prior art are based on the two-phase reference clock φ1. φ
It can be calculated strictly as a specification for 2.

ところが、インサーキット・エミュレータ設計用の2相
基準クロックCLKl、CLK2に対しての上述の動作
表示信号S8のスペックは、外部用バッファ回路4のあ
るバラツキ幅を持ってデイレ−を考慮しなければならな
い為、スペックを算出する事が困難な上、基準クロック
φ1.φ2に対するスペックよりも冗長なスペックとな
らざるを得ないという問題点があった。
However, in the specifications of the above-mentioned operation display signal S8 for the two-phase reference clocks CLKl and CLK2 for in-circuit emulator design, it is necessary to consider the delay with a certain variation width of the external buffer circuit 4. Therefore, it is difficult to calculate the specifications, and the reference clock φ1. There was a problem that the specifications had to be more redundant than the specifications for φ2.

第6図は第5図の回路の動作を説明するための各部信号
のタイミング図である。
FIG. 6 is a timing diagram of signals of various parts for explaining the operation of the circuit of FIG. 5.

すなわち、基準クロックφ1.φ2に対してのB点にお
ける動作表示信号SRのスペックは、各フェーズで発生
するデイレ−値の加算として40〜50nsが得られる
が、設計用クロックCLK1.CLK2に対しては、外
部バッファ回路4による20〜30nsのデイレ−が、
上述デイレ−分に対して相対的に負の方向に作用する為
、この分を減算すると10〜30nsの相対値となり、
バラツキが20nsと大きい。
That is, the reference clock φ1. The specification of the operation display signal SR at point B with respect to φ2 is 40 to 50 ns as the addition of delay values generated in each phase, but the design clock CLK1. For CLK2, a delay of 20 to 30 ns by the external buffer circuit 4 is
Since it acts in a negative direction relative to the delay component mentioned above, subtracting this component will result in a relative value of 10 to 30 ns,
The variation is as large as 20 ns.

又、−i的にデバイス外部用バッファ回路は、外部に接
続されるハードウェアをドライブする事を考慮して、容
量の大きいバッファが使用される為、このバッファによ
るデイレ−分は出力バッファ11によるデイレ−分より
も比較的大きなものになり、厳密なスペックの算出を妨
げる。
Also, in the device external buffer circuit, a large capacity buffer is used in consideration of driving externally connected hardware, so the delay due to this buffer is due to the output buffer 11. This is relatively larger than the delay amount, which prevents calculation of exact specifications.

これは、従来の技術で述べたような高周波数で動作する
高位マイクロプロセッサの評価用マイクロプロセッサを
用いてインサーキット・エミュレータを設計する場合、
ただで−さえ厳しい設計の冗長分に、更に制約を生じる
という問題が起こってきた。
This means that when designing an in-circuit emulator using a microprocessor for evaluation of a high-level microprocessor that operates at a high frequency as described in the conventional technology,
A problem has arisen in which the redundancy of the already strict design creates further constraints.

上述の問題点は、従来の例で述べた評価用マイクロプロ
セッサの、インサーキット・エミュレータ設計用2相基
準クロツクと、内部制御信号との関係に限らず、デバイ
ス外部に出力されるインサーキット・エミュレータ設計
用のデバイス内部のハードウェア制御信号と、実際にデ
バイス内部で扱われる信号との間に、デバイス外部に出
力する為のバッファ部に起因する位相差を生じる全ての
信号系についても同様の問題が起こってきている。
The above-mentioned problems are not limited to the relationship between the two-phase reference clock for in-circuit emulator design and internal control signals of the evaluation microprocessor mentioned in the conventional example, but also the relationship between the in-circuit emulator and the internal control signals output to the outside of the device. The same problem applies to all signal systems where there is a phase difference between the hardware control signal inside the device for design and the signal actually handled inside the device due to the buffer section for outputting to the outside of the device. is happening.

本発明の目的は内部用制御信号及び外部用制御信号の間
のバラツキが少なく厳密な規格が得られる評価用マイク
ロプロセッサを提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an evaluation microprocessor that can obtain strict specifications with less variation between internal control signals and external control signals.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の評価用マイクロプロセッサは、内部信号を入力
して外部用ハードウェア制御信号を出力する外部用バッ
ファ回路を有するバッファ部と、命令キューを有しかつ
内部用ハードウェア制御信号により制御されるインスト
ラクション・フェッチユニットとを有して前記命令キュ
ーの動作を示す動作表示信号を出力する評価用マイクロ
プロセッサにおいて、前記バッファ部に、前記外部用ハ
ードウェア制御信号を入力して前記内部用ハードウェア
制御信号を出力する内部用バッファ回路を付加して構成
されている。
The evaluation microprocessor of the present invention has a buffer section having an external buffer circuit that inputs internal signals and outputs an external hardware control signal, and an instruction queue, and is controlled by the internal hardware control signal. In the evaluation microprocessor, the evaluation microprocessor has an instruction fetch unit and outputs an operation display signal indicating the operation of the instruction queue, wherein the external hardware control signal is input to the buffer section to control the internal hardware. It is configured with an additional internal buffer circuit that outputs signals.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention.

評価用マイクロプロセッサ1は、クロック・ジェネレー
タ3の基準クロックφ1及びφ2の出力端と実行ユニッ
ト7、インストラクション・フェッチユニット8及びバ
スコントロールユニット9との共通入力端との間のバッ
ファ部6が、第5図のバッファ部6bと置換したことが
異る点以外は従来の評価用マイクロプロセッサ1cと同
一である。
The evaluation microprocessor 1 has a buffer unit 6 between the output terminal of the reference clocks φ1 and φ2 of the clock generator 3 and the common input terminal of the execution unit 7, the instruction fetch unit 8, and the bus control unit 9. The evaluation microprocessor 1c is the same as the conventional evaluation microprocessor 1c except that the buffer section 6b in FIG. 5 is replaced.

バッファ部6は、基準クロックφl及びΦ2を入力し設
計用クロックCLK、及びCL K 2を出力する従来
の出力用バッファ回路4に、設計用クロックCLK、及
びCLK2を入力してハードウェア部10に内部用制御
信号を提供する内部用バッファ回路5を付加して構成さ
れている。
The buffer unit 6 inputs the design clocks CLK and CLK2 to the conventional output buffer circuit 4 which inputs the reference clocks φl and Φ2 and outputs the design clocks CLK and CLK2, and outputs the design clocks CLK and CLK2 to the hardware unit 10. It is constructed by adding an internal buffer circuit 5 that provides an internal control signal.

第2図は第1図の回路の動作を説明するための各部信号
のタイミング図である。
FIG. 2 is a timing chart of signals of various parts for explaining the operation of the circuit of FIG. 1.

水晶発振子2は、バッファを介してクロック・ジェネレ
ータ3に発振クロックScを供給している。
The crystal oscillator 2 supplies an oscillation clock Sc to the clock generator 3 via a buffer.

クロック・ジェネレータ3により生成された制御用の2
相基準クロックφ1.φ2はバッファ部6の外部用バッ
ファ回路4に入力してインサーキット・エミュレータ設
計用の2相基準クロックCLK、及びCLK、として外
部に出力される一方、内部用バッファ回路5を介して内
部の命令キューを有するインストラクションフェッチユ
ニット8に供給される。
2 for control generated by clock generator 3
Phase reference clock φ1. φ2 is inputted to the external buffer circuit 4 of the buffer section 6 and outputted to the outside as a two-phase reference clock CLK and CLK for in-circuit emulator design, while it is outputted to the outside as an internal command via the internal buffer circuit 5. The instructions are supplied to an instruction fetch unit 8 having a queue.

従って、出力バッファ11を介して出力端T8て得られ
る命令キューの動作を示す動作表示信号SRの厳密なス
ペックは、設計用クロックCLK1及びCLK2に対し
て算出する事が可能である。
Therefore, the exact specifications of the operation display signal SR indicating the operation of the instruction queue obtained at the output terminal T8 via the output buffer 11 can be calculated for the design clocks CLK1 and CLK2.

つまり、内部用バッファ回路5による設計用クロックC
LK1.CLK2のデイレ−と、このデイレ−を考慮し
た基準クロックφl及びφ2により生成される命令キュ
ーの動作を示す動作信号Sqのデイレ−及び出力バッフ
ァ11によるデイレ−を考慮したスペックとなる。
In other words, the design clock C by the internal buffer circuit 5
LK1. The specifications take into account the delay of CLK2, the delay of the operation signal Sq indicating the operation of the instruction queue generated by the reference clocks φl and φ2 that take this delay into consideration, and the delay caused by the output buffer 11.

すなわち、出力端TBの動作表示信号SRは、設計用ク
ロックCL K lの立上時点t。に対して45〜55
ns程度のデイレ−となり、そのバラツキは1onsで
あるから従来の20nsの半分に低減されてインサーキ
ット・エミュレータの設計の冗長分の大幅な低減が可能
となる。
That is, the operation display signal SR at the output terminal TB is generated at the rising time t of the design clock CL K l. 45-55 against
Since the delay is about ns and the variation thereof is 1 ons, it is reduced to half of the conventional 20 ns, making it possible to significantly reduce redundancy in the design of the in-circuit emulator.

第3図は本発明の第2の実施例のブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of a second embodiment of the invention.

本実施例では、デバイス外部より入力されるデバイス内
部のハードウェア・リセット信号と、デバイス外部に出
力される同リセット信号との位相関係の補正に適用した
例である。
This embodiment is an example in which the present invention is applied to correcting the phase relationship between a hardware reset signal inside the device that is input from outside the device and the same reset signal that is output outside the device.

リセット信号SRは、デバイス外部の周辺ハードウェア
から出力されるデバイス内部のハードウェア部用の初期
化信号であり、デバイス内部のリセット制御回路13に
入力される。
The reset signal SR is an initialization signal for the hardware section inside the device that is output from peripheral hardware outside the device, and is input to the reset control circuit 13 inside the device.

リセット制御回路13では、入力されたリセット信号S
Rに対して、アナログ・デイレ−等を用いたノイズ除去
処理を行い、規定のスペックに適合した信号に対して有
効リセット信号SRRを出力する。
In the reset control circuit 13, the input reset signal S
Noise removal processing using an analog delay or the like is performed on R, and a valid reset signal SRR is output for a signal that conforms to specified specifications.

有効リセット信号SRRは、外部用バッファ回路4、を
介して外部のハードウェアの外部リセット用信号SRO
として出力する一方、内部用バッファ5、を介してデバ
イス内部の各ハードウェアに内部リセット信号SRIを
供給する。
The valid reset signal SRR is sent to an external reset signal SRO of external hardware via an external buffer circuit 4.
At the same time, an internal reset signal SRI is supplied to each hardware inside the device via the internal buffer 5.

従って、リセット用信号SROと、リセット信号SRI
と因果関係を持つ各種デバイス内部の制御信号間に厳密
なスペックを規定できる。
Therefore, the reset signal SRO and the reset signal SRI
Strict specifications can be defined between control signals inside various devices that have a causal relationship with

これは、例えば評価用マイクロプロセッサ自体が、2チ
ツプ以上のデバイスで構成される場合において特に重要
となる。
This is particularly important when, for example, the evaluation microprocessor itself is composed of two or more chips.

すなわち、最近のマイクロプロセッサ、特にシングルチ
ップ・マイクロプロセッサにおいては、マイクロプロセ
ッサに組込まれる周辺ハードウェアのバリエーションを
用意する事により、品種展開を行なう手法が主流となっ
てきている。
That is, in recent microprocessors, particularly single-chip microprocessors, a method of expanding the product lineup by providing variations in peripheral hardware built into the microprocessor has become mainstream.

この様な品種展開された各々のマイクロプロセッサに対
して、評価用マイクロプロセッサを1対1に対応して作
成する事は得策ではない。
It is not a good idea to create evaluation microprocessors in one-to-one correspondence for each of these types of microprocessors.

従って、通常、共通部分となるCPUコア部を1チツプ
とし、バリエーションの対象となる周辺ハードウェア部
を別チップとする。
Therefore, the CPU core section, which is a common part, is usually placed on one chip, and the peripheral hardware section, which is subject to variation, is placed on a separate chip.

つまり、周辺ハードウェア・チップを交換する事により
、品種展開された複数のマイクロプロセッサに対応する
In other words, by replacing the peripheral hardware chips, it can support multiple types of microprocessors.

上記リセット信号は、複数のデバイスに対して同時に有
効となる信号系であり、この信号系により各デバイス内
で生成される制御信号の相互間の厳密なスペックが必要
となる。
The above-mentioned reset signal is a signal system that is valid for a plurality of devices at the same time, and requires strict mutual specifications of control signals generated within each device by this signal system.

この様に、本実施例で示したリセット信号に限らず、複
数のデバイス間を経由して機能する様な信号系について
は、その伝達デイレ−に起因してデバイス間の同期がと
れなくなるという危険性をもつ。
In this way, not only the reset signal shown in this example, but also signal systems that function via multiple devices are at risk of losing synchronization between devices due to the transmission delay. have sex.

従って、上記信号系の厳密なスペックを算出することが
必要不可欠であり、本実施例により効果が大きい。
Therefore, it is essential to calculate the exact specifications of the signal system, and this embodiment is highly effective.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した様に本発明による評価用マイクロプロセッ
サは、デバイス外部に出力されるデバイス内部のハード
ウェア制御信号と、実際のデバイス内部の各ハードウェ
アに供給される制御信号との間に位相差を生じないので
、外部に出力されるデバイス内部の各ハードウェア制御
信号に対して、前記信号と相互に因果関係を持つ信号間
に厳密なスペックを得る事が出来るという効果がある。
As explained above, the evaluation microprocessor according to the present invention creates a phase difference between the hardware control signal inside the device that is output to the outside of the device and the control signal that is supplied to each hardware inside the actual device. Since this does not occur, there is an effect that strict specifications can be obtained between each hardware control signal inside the device that is output to the outside and signals that have a causal relationship with each other.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例のブロック図、第2図は
第1図の回路の動作を説明するための各部信号のタイミ
ング図、第3図は本発明の第2の実施例のブロック図、
第4図及び第5図は従来の評価用マイクロプロセッサの
第1及び第2の例のブロック図、第6図は第5図の回路
の動作を説明するための各部信号のタイミング図である
。 1.11・・・評価用マイクロプロセッサ、3・・・タ
ロツク・ジェネレータ、4・・・外部用バッファ回路、
5・・・内部用バッファ回路、6,6a・・・バッファ
部、8・・・インストラクション・フェッチュニット、
9・・・バスコントロールユニット、CLKl、CLK
2・・・設計用クロック、Ss・・・命令キューの動作
表示信号、φl、φ2・・・基準クロック。
FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a timing diagram of signals of each part to explain the operation of the circuit of FIG. 1, and FIG. 3 is a block diagram of a second embodiment of the present invention. Block diagram of
FIGS. 4 and 5 are block diagrams of first and second examples of conventional evaluation microprocessors, and FIG. 6 is a timing diagram of signals of various parts for explaining the operation of the circuit shown in FIG. 5. 1.11...Evaluation microprocessor, 3...Tarlock generator, 4...External buffer circuit,
5... Internal buffer circuit, 6, 6a... Buffer section, 8... Instruction fetch unit,
9...Bus control unit, CLKl, CLK
2... Design clock, Ss... instruction queue operation display signal, φl, φ2... reference clock.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 内部信号を入力して外部用ハードウェア制御信号を出力
する外部用バッファ回路を有するバッファ部と、命令キ
ューを有しかつ内部用ハードウェア制御信号により制御
されるインストラクション・フェッチユニットとを有し
て前記命令キューの動作を示す動作表示信号を出力する
評価用マイクロプロセッサにおいて、前記バッファ部に
、前記外部用ハードウェア制御信号を入力して前記内部
用ハードウェア制御信号を出力する内部用バッファ回路
を付加したことを特徴とする評価用マイクロプロセッサ
It has a buffer section having an external buffer circuit that inputs an internal signal and outputs an external hardware control signal, and an instruction fetch unit that has an instruction queue and is controlled by the internal hardware control signal. In the evaluation microprocessor that outputs an operation display signal indicating the operation of the instruction queue, the buffer section includes an internal buffer circuit that inputs the external hardware control signal and outputs the internal hardware control signal. An evaluation microprocessor featuring additional features.
JP63258431A 1988-10-14 1988-10-14 Microprocessor for evaluation Pending JPH02105941A (en)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62152046A (en) * 1985-12-26 1987-07-07 Nec Corp Integrated circuit containing clock generating circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62152046A (en) * 1985-12-26 1987-07-07 Nec Corp Integrated circuit containing clock generating circuit

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