JPH02101257U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH02101257U JPH02101257U JP833489U JP833489U JPH02101257U JP H02101257 U JPH02101257 U JP H02101257U JP 833489 U JP833489 U JP 833489U JP 833489 U JP833489 U JP 833489U JP H02101257 U JPH02101257 U JP H02101257U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- solution
- ion
- reference electrode
- measuring device
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 2
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims 4
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
第１図は本実施例の構成を示す図である。
１……測定容器、２……試料、３，３′……バ
ルブ、４……吸引器、５……サンプリングノズル
、６……電極ブロツク、７……比較電極溶液、８
……比較電極、９……配管、１０……処理器。
ルブ、４……吸引器、５……サンプリングノズル
、６……電極ブロツク、７……比較電極溶液、８
……比較電極、９……配管、１０……処理器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 測定試料の注入あるいは吸引部イオン濃度を
測定するイオン電極、及び、該イオン電極と対に
用いる比較電極からなる電解質濃度測定装置にお
いて、該比較電極に用いる比較電極溶液として該
イオン電極の校正溶液を用いることを特徴とする
電解質濃度測定装置。 ２ 請求範囲第１項記載の電解質濃度測定装置に
おいて、該比較電極溶液を流路及びイオン電極の
洗浄溶液として用いることを特徴とする電解質濃
度測定装置。 ３ 請求範囲第１項記載の電解質濃度測定装置に
おいて、比較電極溶液を該イオン電極の校正溶液
として用いることを特徴とする電解質濃度測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP833489U JPH02101257U (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP833489U JPH02101257U (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02101257U true JPH02101257U (ja) | 1990-08-13 |
Family
ID=31214116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP833489U Pending JPH02101257U (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02101257U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017181242A (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および自動分析方法 |
-
1989
- 1989-01-30 JP JP833489U patent/JPH02101257U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017181242A (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および自動分析方法 |