JPH0191978A - 溶接監視装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、抵抗溶接やパーカッション溶接等における溶
接の良否を監視する溶接監視装置の改良に関する。

（従来の技術） 従来、この種の装置としては、例えば特開昭６１−４９
７９３号公報に示すものが知られている。

この装置は、あらかじめ溶接電圧波形を読み取り、それ
をもとに、７．ｔｉ準波形を設定して許容範囲を決め、
溶接時における検出溶接電圧がその許容範囲に入ってい
るか否かによって溶接の良否判断を行うようにしたもの
である。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、従来装置では、溶接不良と判別されたときには
、その不良品が排除されるにすぎず２その不良原因や不
良内容を的確かつ迅速に知ることができないという欠点
がある。

そこで、本発明は、溶接が不良の場合に、その不良原因
や不良内容を的確かつ迅速に把握できるようにすること
を目的とする。

（問題点を解決するための手段） かかる目的を達成するために本発明は、以下のような構
成とした。

すなわち、本発明は、溶接波形を検出する溶接波形検出
手段Ａと、 その検出した溶接波形を所定の周期で標本化して各標本
値を求める標本値算出手段Ｂと、複数の正常な溶接波形
についてあらかじめ前記標本値算出手段Ｂで標本値を求
め、その求めた標本値に基いて上限値および下限値を設
定する上下限値設定手段Ｃと、 その求めた上限値および下限値を記憶する記憶手段りと
、 溶接時における前記溶接波形検出手段Ａの検出波形より
前記標本値算出手段Ｂが求めた標本値と、前記記憶手段
りから読み出した上限値および下限値とを時間軸で重な
らないように所定の順序で周期的に配列する出力信号配
列手段Ｅとからなる。

（作用） 本発明では、溶接波形の観測に先立って、複数の正常な
溶接波形についてあらかじめ標本値算出手段Ｂで標本値
を求め、その求めた標本値に基き、」二重限値設定手段
Ｃが５１測波形の許容範囲の上下限に対応する上限値お
よび下限値を設定する。この上限値および下限値は、記
ｔな手段りにあらかじめ記憶しておく。

そして、溶接波形の観測時には、出力信号配列手段Ｅは
、溶接波形検出手段Ａの検出波形から標本値算出手段Ｂ
が求めた標本値と、記憶手段りから読み出した上限値お
よび下限値とを時間軸で重ならないように所定の順序で
周期的に配列する。

従って、出力信号配列手段Ｅからの出力信号をオシロス
コープ等に供給すれば、観測波形を、その許容範囲の上
下限である上限値および下限値と同時に同一画面で観測
することができる。

（実施例） 第２図は本発明実施例のブロック図である。

図において、ｌはマイクロプロセッサ形態のＣＰＵ　（
中央処理装置）であり、例えば第３図および第４図に示
すようにあらかじめ定められた手順により各構成要素を
制御する。

２はメモリであり、ＣＰＵＩが各構成要素を制御するた
めの制御手順を記憶するリードｅオンリ・メモリ（ＲＯ
Ｍ）と、後述のように溶接波形にかかるデータなどを記
憶するランダム−アクセス・メモリ（ＲＡＭ）　とから
なる。

３は電気溶接の際に溶接装置で発生する溶接電流または
溶接電圧を検出する溶接波形検出器であり、この検出器
３で検出された電流または′重圧はサンプルホールダ４
に供給する。サンプルデータグ４は、ＣＰＵＩからの指
令による所定のサンプリング周期で標本化を行い、その
標本値をＡ／Ｄ変換器５に供給する。

６はＤ／Ａ変換器であり、後述のように処理された本発
明にかかるデジタルデータをオシロスコープ７で観測す
るためにＤ／Ａ変換する。また、オシロスコープ７には
、後述のようにプランキンクパルス発生回路からのブラ
ンキングパルスを供給する。

１０は電気溶接が後述のように不良であると判定された
ときに、その不良品を排除するための不良品排除用アク
チュエータであり、このアクチュエータ１０は駆動回路
９によって駆動する。

次に以上のように構成される実施例の動作例について第
３図および第４図等を参照して説明する。

木実流側では、溶接波形の観測に先立って第３図に示す
ような手順によりサンプルデータを収録および処理して
記憶する。

すなわち、溶接波形検出器３で正常な溶接波形を検出し
、その検出波形をサンプルホールダ４が例えば０．１ｇ
５ｅｃの周期で標゛水化するとともに、その標本値をＡ
／Ｄ変換器５でＡ／Ｄ変換してデジタル信号化する。こ
れらの各処理を例えば溶接波形の２４個について行う（
ステップＳｌ）。

次に、この２４個のサンプル波形から求めた各標本点に
おける２　４個の標本値の中から最大値と最小値とをそ
れぞれ選択するとともに、例えばこれら６値に±αの加
算を行う（ステップＳ２）。

これにより、例えば第５図に示すように観測波形の許容
範囲の上下限に対応する上限値ａと下限値すとが決まる
。

そして、その上限値ａに対応する各デジタルデータをメ
モリ２に記憶するとともに、下限値すに対応する各デジ
タルデータをメモリ２に記憶する（ステップＳ３．Ｓ４
）。

次に、溶接が開始されてその溶接波形を観測するときに
は、第４図に示すような処理を行う。

まず、溶接波形検出器３が観測波形を検出し、その検出
波形をサンプルホ・−ルダ４が例えば０．１ｇ５ｅｃの
周期で標本化し、その標本値をＡ／Ｄ変Ｊ９！器５でＡ
／Ｄ変換してメモリ２に記憶する（ステップ５ｉｉ）。

次に、このように求めたＩ［１１測波形にかかる各標本
点における各標本値が、第５図で示すように上限値ａと
下限値すとの間で形成される許容範囲にあるか否かを判
定する。許容範囲にないときには、不良品排除用アクチ
ュエータ１０を作動させてその不良品を排除する等、所
定の処理を行う（ステップ５１２）。

次に、上限値ａに対応するデジタルデータ、下限値すに
対応するデジタルデータ、および観測波形Ｃにかかる各
標本値に対応するデジタルデータを順次周期的に読み出
しくステップ３１３〜５１５）、　これらデータをＤ／
Ａ変換器６でＤ／Ａ変換してアナログ信号化する。この
ようにＤ／Ａ変換された波形は、第６図（Ａ）に示すよ
うに時間軸で重ならないように所定の順序で周期的に配
夕つされた波形となる。

そして、これら各デー・りを所定回数であるＸ回読み出
したときに（ステップＳＬ３〜５１８）、オシロスコー
プ７の表示画面には、第５図に示すように上限値ａ、下
限値ｂ、および観測波形Ｃの３つが同時に表示される、 なお、第６図（Ｂ）に示すように、観測波形Ｃにかかる
データの各出力時にブランキングパルス発生器８からブ
ランキングパルスを発生させ、このパルスをオシロスコ
ープ７のＺ軸に加えることにより観測波形にコントラス
トを与えるようにしたので、他の波形と識別しやすい。

以上説明した実施例は、第４図に示すように溶接波形の
観測時にデータをソフトウェア的に処理し、観測波形等
を同時に表示する場合について説明した。しかし、第４
図で示す制御手順を第７図または第８図に示すようにハ
ードウェアで構成することも可能であり、以下にこれら
の実施例について説明する。

第７図の実施例は、上限値ａに対応するデジタルデータ
を記憶する上限値メモリ１１と、下限値すに対応するデ
ジタルデータを記憶する下限値メモリ１２と、観測時に
観測波形を増幅およびＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器１３
とを有し、これらメモリ１１．１２およびＡ／Ｄ変換器
１３からのデジタルデータを、電子スイッチ１４で選択
出力してＤ／Ａ変換器１５に供給するように構成する。

また、スキャンニング発生器１６の出力をメモリ１１，
１２．Ａ／Ｄ変換器１３、および電子スイッチ１４にそ
れぞれ供給する。

このような構成の実施例では、溶接波形の観測に先立っ
て第３図に示す手順により求めたデータをメモリ１１．
１２にそれぞれ記憶する。そして、溶接波形の観測時に
は、メモリ１１．１２に格納されているデジタルデータ
および観測波形をＡ／Ｄ変換器１３でＡ／Ｄ変換したデ
ジタルデータを、電子スイッチ１４によって所定の周期
で順次選択し、これら各データをＤ／Ａ変換器１５でＤ
／Ａ変換すると、その出力は第９図に示すような波形と
なる。従って、第７図の実施例では、第５図で示すと同
様に３つの波形を同時に表示することが可能である。

次に、第８図に示寸他の実施例について説明すると、こ
の実施例は、観測時に観測波形をＡ／Ｄ変換器１３でＡ
／Ｄ変換していったん観測波形メモリ１９に記憶し、メ
モリ１１，１２．１９の各デジタルデータをＤ／Ａ変檜
器１７　、１．８　、２０でそれぞれＤ／Ａ変換してア
ナログ化し、これら各アナログ信号を電子スイ５ソチ１
４によって所定の周期で順次選択するようにしたもので
ある。

従って、この実施例によれば、電子スイッチ１４からの
出力波形は第９図に示すようになり、これは第７図にお
けるＤ／Ａ変換器１５の出力波形と同様となる。

（発明の効果） 以上のように本発明では、溶接波形の観測時に観測波形
にかかる標本値のデータ、およびその観測波形の許容範
囲を決定する」二重限データを、時間軸で重ならないよ
うに所定の順序で周期的に配列して出力信号を形成する
ようにしたので、この出力信号をオシロスコープに供給
すれば、観測波形を、上限値および下限値と同時に同一
画面で観測することができ、もって溶接不良時には、そ
の？ａｆｌ＋１波形の形状等によって不良原因や不良内
容を的確かつ迅速に把握することができ、作業性が向丘
する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の機能図、第２図は本発明実施例のブロ
ック図、第３図および第４図はそれぞれその制御ｆ順の
一例を示すフローチャート、第５図は本発明にがかる観
ａｔ１１波形等の表示例を示す図、第６図は第２図にお
ける各部の波形図、第７図および第８図はそれぞれ本発
明の他の実施例を示すブロック図、第９図は第７図の出
力波形を示す波形図である。 Ａは溶接波形検出手段、Ｂは標本値算出手段、Ｃは上下
限値設定手段、Ｄは記憶手段、Ｅは出力信り配列手段。 特許出願人　　湖北工業株式会社 代　　理　　人　　　牧　　哲理　（ほか２名）第３図 第６図 第４図 第７図 第９図 第８図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 溶接波形を検出する溶接波形検出手段と、 その検出した溶接波形を所定の周期で標本化して各標本
   値を求める標本値算出手段と、 複数の正常な溶接波形についてあらかじめ前記標本値算
   出手段で標本値を求め、その求めた標本値に基いて上限
   値および下限値を設定する上下限値設定手段と、 その求めた上限値および下限値を記憶する記憶手段と、 溶接時における前記溶接波形検出手段の検出波形より前
   記標本値算出手段が求めた標本値と、前記記憶手段から
   読み出した上限値および下限値とを時間軸で重ならない
   ように所定の順序で周期的に配列する出力信号配列手段
   とからなる溶接監視装置。