JPH0170175U - - Google Patents

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JPH0170175U
JPH0170175U JP1987166045U JP16604587U JPH0170175U JP H0170175 U JPH0170175 U JP H0170175U JP 1987166045 U JP1987166045 U JP 1987166045U JP 16604587 U JP16604587 U JP 16604587U JP H0170175 U JPH0170175 U JP H0170175U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案によるIC試験用入出力回路
の一例を示すブロツク図、第2図は第1図の回路
において第3スイツチ31のみをオンとした時の
接続状態を示すブロツク図、第3図はデルタ変調
器を示すブロツク図、第4図は第3図の動作波形
図、第5図はこの考案の他の例を示すブロツク図
、第6図は従来のIC試験用入出力回路を示すブ
ロツク図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 入出力端子に一方の入力側が接続されたコンパ
    レータと、 そのコンパレータの他方の入力側に対し、基準
    レベルを与え又はその基準レベルを切離す第1ス
    イツチと、 2値信号が入力されるドライバと、 そのドライバの出力側と上記入出力端子との間
    に接続された第2スイツチと、 上記ドライバの出力を積分する積分器と、 その積分器の出力側と上記コンパレータの他方
    の入力側との間に接続された第3スイツチとを具
    備するIC試験用入出力回路。
JP16604587U 1987-10-28 1987-10-28 Ic試験用入出力回路 Expired - Lifetime JPH0650787Y2 (ja)

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JP16604587U JPH0650787Y2 (ja) 1987-10-28 1987-10-28 Ic試験用入出力回路

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JPH0170175U true JPH0170175U (ja) 1989-05-10
JPH0650787Y2 JPH0650787Y2 (ja) 1994-12-21

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001183431A (ja) * 1999-04-06 2001-07-06 Advantest Corp 試験装置および試験方法
JP2008525803A (ja) * 2004-12-23 2008-07-17 テラダイン・インコーポレーテッド 高電圧機能を備えたピンエレクトロニクス

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001183431A (ja) * 1999-04-06 2001-07-06 Advantest Corp 試験装置および試験方法
JP2008525803A (ja) * 2004-12-23 2008-07-17 テラダイン・インコーポレーテッド 高電圧機能を備えたピンエレクトロニクス
JP4698680B2 (ja) * 2004-12-23 2011-06-08 テラダイン・インコーポレーテッド 高電圧機能を備えたピンエレクトロニクス

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Publication number Publication date
JPH0650787Y2 (ja) 1994-12-21

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