JPH0170175U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0170175U JPH0170175U JP1987166045U JP16604587U JPH0170175U JP H0170175 U JPH0170175 U JP H0170175U JP 1987166045 U JP1987166045 U JP 1987166045U JP 16604587 U JP16604587 U JP 16604587U JP H0170175 U JPH0170175 U JP H0170175U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- output
- comparator
- driver
- integrator
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- Granted
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第1図はこの考案によるIC試験用入出力回路
の一例を示すブロツク図、第2図は第1図の回路
において第3スイツチ31のみをオンとした時の
接続状態を示すブロツク図、第3図はデルタ変調
器を示すブロツク図、第4図は第3図の動作波形
図、第5図はこの考案の他の例を示すブロツク図
、第6図は従来のIC試験用入出力回路を示すブ
ロツク図である。
の一例を示すブロツク図、第2図は第1図の回路
において第3スイツチ31のみをオンとした時の
接続状態を示すブロツク図、第3図はデルタ変調
器を示すブロツク図、第4図は第3図の動作波形
図、第5図はこの考案の他の例を示すブロツク図
、第6図は従来のIC試験用入出力回路を示すブ
ロツク図である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 入出力端子に一方の入力側が接続されたコンパ
レータと、 そのコンパレータの他方の入力側に対し、基準
レベルを与え又はその基準レベルを切離す第1ス
イツチと、 2値信号が入力されるドライバと、 そのドライバの出力側と上記入出力端子との間
に接続された第2スイツチと、 上記ドライバの出力を積分する積分器と、 その積分器の出力側と上記コンパレータの他方
の入力側との間に接続された第3スイツチとを具
備するIC試験用入出力回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16604587U JPH0650787Y2 (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | Ic試験用入出力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16604587U JPH0650787Y2 (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | Ic試験用入出力回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0170175U true JPH0170175U (ja) | 1989-05-10 |
JPH0650787Y2 JPH0650787Y2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=31453079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16604587U Expired - Lifetime JPH0650787Y2 (ja) | 1987-10-28 | 1987-10-28 | Ic試験用入出力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0650787Y2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001183431A (ja) * | 1999-04-06 | 2001-07-06 | Advantest Corp | 試験装置および試験方法 |
JP2008525803A (ja) * | 2004-12-23 | 2008-07-17 | テラダイン・インコーポレーテッド | 高電圧機能を備えたピンエレクトロニクス |
-
1987
- 1987-10-28 JP JP16604587U patent/JPH0650787Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001183431A (ja) * | 1999-04-06 | 2001-07-06 | Advantest Corp | 試験装置および試験方法 |
JP2008525803A (ja) * | 2004-12-23 | 2008-07-17 | テラダイン・インコーポレーテッド | 高電圧機能を備えたピンエレクトロニクス |
JP4698680B2 (ja) * | 2004-12-23 | 2011-06-08 | テラダイン・インコーポレーテッド | 高電圧機能を備えたピンエレクトロニクス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0650787Y2 (ja) | 1994-12-21 |
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