JPH0155952B2 - - Google Patents

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JPH0155952B2
JPH0155952B2 JP54152389A JP15238979A JPH0155952B2 JP H0155952 B2 JPH0155952 B2 JP H0155952B2 JP 54152389 A JP54152389 A JP 54152389A JP 15238979 A JP15238979 A JP 15238979A JP H0155952 B2 JPH0155952 B2 JP H0155952B2
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JP
Japan
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inspected
bending
axis
shaft
manipulator
Prior art date
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Expired
Application number
JP54152389A
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English (en)
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JPS5676046A (en
Inventor
Tetsuo Kakiuchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5676046A publication Critical patent/JPS5676046A/ja
Publication of JPH0155952B2 publication Critical patent/JPH0155952B2/ja
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、多自由度のマニピユレータを用いて
球面部に検査具を倣わせる方法に関する。
<従来の技術> 圧力容器等の溶接構造物においては、溶接部に
各種溶接欠陥を発生するおそれがあり、また、溶
接熱による母材の変質や変形、収縮、残留応力の
発生及び溶接部内の化学成分と組織の変化がある
程度避けられないため、溶接部の健全性及び信頼
性を調べることは製品の保守上極めて重要であ
る。
従来、第3図に示すような円筒形ドラム10の
鏡板部11における溶接部15(図中波線で示
す)の超音波探傷は、検査員がその近くまで行つ
て手動で行なうという方法がとられていた。
しかしながら、この作業は非常に手間がかか
り、探傷速度が遅く、探傷もれを生じるおそれも
あり、経済性、信頼性に問題があつた。また、原
子圧力容器等の原子炉冷却材バウンダリ内の機器
等の検査については、放射線のため検査員が接近
して直接検査することはできないという問題もあ
つた。
そこで、主として原子炉圧力容器を対象として
多自由度のマニピユレータを用いて鏡板部内側の
水浸法による超音波探傷の自動化及び遠隔操作化
が検討されてきた。
<発明が解決しようとする課題> しかしながら、マニピユレータを採用するにあ
たつては、被検部が複雑な形状をもつため、マニ
ピユレータ先端の探触子板と被検部との平行度や
水距離が正確にでなかつたり、探触子板及びマニ
ピユレータが被検部表面に接触して破損してしま
うなどの事故を生じるおそれがあり、更に、同一
装置によつて種々の原子炉容器の探傷を行なうた
めの互換性を考慮する必要があるなど、解決しな
ければならない多くの問題があり、その装置の完
成が妨げられていた。
本発明は、上述のような事情にかんがみてなさ
れたもので、その目的とするところは、多自由度
のマニピユレータの先端に取付けられる検査具を
球面状の被検査面に所定の距離及び向きをもつて
正確に倣わせるようにして、つまり、検査具が被
検査面に対して所定の距離(水距離)離れ、かつ
検査具の軸心が被検部の接線に直角となる状態を
維持するようにして、作業の能率性、信頼性の向
上は勿論のこと、遠隔自動操作による被曝線量の
低減、作業の安全性を図ることができ、そのうえ
被検査物の互換性も得られる倣い方法を提供する
ことにある。
<課題を解決するための手段> かかる目的を達成するための本発明の構成は、
球面状の被検査面の中心線回りに旋回する旋回軸
に上下動可能に取付けられた上下移動軸に保持さ
れ、少なくとも二つの連ねられた傾動自在な屈曲
軸を有し、かつ先端側の屈曲軸に検査具が取付け
られた多自由度のマニピユレータにおける前記検
査具を、被検査面に上下方向に沿つて定められた
複数の検査すべき位置ごとに全周に倣わせる方法
であつて、 検査すべき位置に応じて上下移動軸を移動し、 この検査すべき位置に対し検査具が一定距離離
れかつ平行に保たれるように、検査すべき位置に
基づいて前記屈曲軸の角度を制御し、 その状態でマニピユレータを前記旋回軸の回り
に旋回させて検査すべき位置を全周に亘つて検査
し、 以後前記上下移動軸を検査すべき位置ごとに対
応させてステツプ移動し、上記動作を繰り返すこ
とを特徴とする。
<実施例> 第1図には、第3図に示した円筒形ドラム10
の鏡板部11の溶接部15の超音波探傷に本発明
を適用する場合に用いる超音波探傷装置を示す。
この超音波探傷装置は5自由度のマニピユレー
タ12を主要部としてなつている。
8はドラム10の鏡板部11の中心(ドラム1
0の中心D)を中心に360゜旋回駆動可能に設置さ
れた旋回軸で、この旋回軸8に、上下方向に移動
可能に上下移動軸7が組み付けられ、この上下移
動軸7にマニピユレータ12が保持されている。
マニピユレータ12は、上下移動軸7に組み付
けられ、水平方向に移動可能な水平移動軸1と、
水平移動軸1に取付けられ、水平移動軸1の中心
軸回りに±200゜回転可能な回転軸2と、回転軸2
に連続して連ねられ、かつそれぞれ±100゜(第1
図において時計回り方向を正とする)屈曲動でき
る屈曲軸3,4,5とからなり、全部で5自由度
を有している。最先の屈曲軸5の先端には、検査
具として超音波探傷用の探触子板6が取付けられ
ている。
次に、上記のように構成された超音波探傷装置
による鏡板部溶接部15の超音波探傷手順即ち本
発明の一実施例方法について説明する。
被探傷面である鏡板部11の内面には、第4図
に示すように上下方向(上下移動軸7の移動方
向)に沿つて探傷すべき位置(以下、被検位置)
P1,P2…Poが予め定められる。したがつて、初
めの被検位置P1に対し探触子板6が一定距離離
れかつ平行(被検位置の接線に平行)となるよう
にし、その状態で、旋回軸8をスキヤン軸として
マニピユレータ12をドラム中心Dの回りに360゜
旋回させれば、被検位置P1の全周に亘つて探触
子板6が倣い移動し、全周に亘つての探傷がなさ
れることになる。次いで、初めの被検位置P1
ら次の被検位置P2への距離に応じて上下移動軸
7を上下方向にステツプ移動させ、被検位置P2
に対して同様にスキヤン操作を行ない、以後同様
に探触子板6をステツプ移動、スキヤン操作すれ
ば、所定の範囲(P1〜P2)の超音波探傷がなさ
れることになる。
しかしながら、探傷すべき面が湾曲しているこ
とから、上下移動軸7を上下方向に移動させただ
けでは、探触子板6を被検位置に対し一定距離離
して平行に保つことはできない。
そこで、被検位置即ち上下移動軸7の位置に応
じて、探触子板6の姿勢の補正を最先端の屈曲軸
5で行ない、その半径方向の位置補正を屈曲軸5
につながる屈曲軸4で行なうのである。つまり、
被検位置の位置信号に応じて、屈曲軸4,5の角
度を制御して、探触子板6が常に被検位置から一
定距離離れかつ平行となるようにするのである。
屈曲軸4,5の角度制御は次のようにしてなさ
れる。
第1図及びその座標系を表す第2図に示すよう
に、ドラム10の中心線Dをy軸とし、鏡板部1
1の球の中心を通りy軸に直角な軸をx軸として
座標系(原点O)を設定する。
そして、屈曲軸4と5の軸心線が交わる点(屈
曲中心点)の座標を(xe、ye)、屈曲軸3と4の
軸心線が交わる点(屈曲中心点)の座標を(xc
yc)とし、座標原点Oより屈曲軸5の屈曲中心点
までの距離をRe、屈曲軸4の長さをl4とすると、 xe 2+ye 2=Re 2 ……(1) (xe−xc2+(ye−yc2=l4 2 ……(2) となる。
ここで、被検位置のx、y座標を(e、h)と
して、被検位置と屈曲軸5の屈曲中心とのy軸方
向及びx軸方向の距離をe11、e21、屈曲軸5と4
の屈曲中心間のy軸方向及びx軸方向の距離を
e12、e22とし、鏡板部11の曲率半径をR、水平
移動軸7を不変としかつ回転軸2に対する屈曲軸
3の角度を90゜に固定した状態にある屈曲軸3の
回転中心とドラム10の中心線Dとのx軸方向の
距離をS(一定)、被検位置から探触子板6までの
距離(水距離)をwp(一定)、屈曲軸5の長さをl5
とすると、 e=√22 e11=(wp+l5)・h/R e21=√(p5211 2 e22=e−S−e21 e12=√4 222 2 xc=S yc=h−e11−e12 Re=R−wp−l5 となるから、(1)(2)式より xe=xc(Re 2+xc 2+yc 2−l4 2)±√4yc 2Re 2(xc 2+yc 2
)−yc 2(Re 2+xc 2+yc 2−l4 22/2(xc 2+yc 2) ye=±√e 2e 2 となるが、マニピユレータの構造より符号を選択
して、 xe=xc(Re 2+xc 2+yc 2−l4 2)−√4yc 2Re 2(xc 2+yc 2
)−yc 2(Re 2+xc 2+yc 2−l4 22/2(xc 2+yc 2)……
(3) ye=√e 2e 2 ……(4) とする。
したがつて、屈曲軸4の角度(屈曲軸4の軸心
線と屈曲軸3の軸心線とのなす角度)をθ4、屈曲
軸5の角度(屈曲軸5の軸心と屈曲軸4の軸心と
のなす角度)をθ5とすれば、これらの角度は、上
記(3)(4)式から θ4=tan-1(xe−xc)/(ye−yc) ……(5) θ5=tan-1(xe/ye)−θ4 ……(6) となる。
よつて、上下移動軸7のステツプ移動により被
検位置が変わつたら、上記(5)(6)式に基づいてθ4
θ5を求めて屈曲軸4,5の角度を変えてやること
により、探触子板6を被検位置から一定距離wp
保つて平行に保持することができるのである。そ
して、この状態でマニピユレータ12をドラム中
心D回りに360゜旋回させれば、被検位置全周につ
いて、信頼性の高い超音波探傷がなされるのであ
る。
なお、上記実施例は、検査具として探触子板を
用いて、超音波探傷に適用したものであるが、本
発明は、検査具として他のものを用いることによ
り、他の検査にも同様に適用可能である。
<発明の効果> 本発明に係る球面部の倣い方法によれば、多自
由度のマニピユレータの先端に取付けられる検査
具を球面状の被検査面に所定の距離及び向きをも
つて正確に倣わせることができる。よつて、作業
性及び信頼性が向上し、また、遠隔操作できるこ
とから、作業の安全性を確保することもできる。
さらに、種々の被検査物への対応も可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による倣い方法の一実施例の説
明図、第2図はマニピユレータの座標系を示す説
明図、第3図は検査対象物の一例の概略図、第4
図は被検位置の説明図である。 図面中、1は水平移動軸、2は回転軸、3,
4,5は屈曲軸、6は探触子板、7は上下移動
軸、8は旋回軸、10はドラム、11は鏡板部、
12はマニピユレータ、15は溶接部(被検部)、
θ4は屈曲軸4の角度、θ5は屈曲軸5の角度であ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 球面状の被検査面の中心線回りに旋回する旋
    回軸に上下動可能に取付けられた上下移動軸に保
    持され、少なくとも二つの連ねられた傾動自在な
    屈曲軸を有し、かつ先端側の屈曲軸に検査具が取
    付けられた多自由度のマニピユレータにおける前
    記検査具を、被検査面に上下方向に沿つて定めら
    れた複数の検査すべき位置ごとに全周に倣わせる
    方法であつて、 検査すべき位置に応じて上下移動軸を移動し、 この検査すべき位置に対し検査具が一定距離離
    れかつ平行に保たれるように、検査すべき位置に
    基づいて前記屈曲軸の角度を制御し、 その状態でマニピユレータを前記旋回軸の回り
    に旋回させて検査すべき位置を全周に亘つて検査
    し、 以後前記上下移動軸を検査すべき位置ごとに対
    応させてステツプ移動し、上記動作を繰り返すこ
    とを特徴とする球面部の倣い方法。
JP15238979A 1979-11-27 1979-11-27 Profiling method of spherical surface Granted JPS5676046A (en)

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JP15238979A JPS5676046A (en) 1979-11-27 1979-11-27 Profiling method of spherical surface

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JPS5676046A JPS5676046A (en) 1981-06-23
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JP2007003400A (ja) * 2005-06-24 2007-01-11 Hitachi Ltd 制御棒貫通孔部材検査装置
KR100943073B1 (ko) 2008-05-28 2010-02-18 나우기연주식회사 초음파 자동 탐상기용 초음파 탐촉자 홀더

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JPS5676046A (en) 1981-06-23

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