JPH01500255A - Inclined grinding control device - Google Patents
Inclined grinding control deviceInfo
- Publication number
- JPH01500255A JPH01500255A JP63502711A JP50271188A JPH01500255A JP H01500255 A JPH01500255 A JP H01500255A JP 63502711 A JP63502711 A JP 63502711A JP 50271188 A JP50271188 A JP 50271188A JP H01500255 A JPH01500255 A JP H01500255A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grinding
- shelf
- control
- track
- predetermined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/005—Control means for lapping machines or devices
- B24B37/013—Devices or means for detecting lapping completion
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/06—Work supports, e.g. adjustable steadies
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/02—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation according to the instantaneous size and required size of the workpiece acted upon, the measuring or gauging being continuous or intermittent
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/10—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation involving electrical means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
- H05K1/0268—Marks, test patterns or identification means for electrical inspection or testing
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/02—Details related to mechanical or acoustic processing, e.g. drilling, punching, cutting, using ultrasound
- H05K2203/025—Abrading, e.g. grinding or sand blasting
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/429—Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49004—Electrical device making including measuring or testing of device or component part
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。 (57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】 傾斜研削組立体 発明の分野 本発明は、物体の斜めの研削を行う組立体に関するものでアシ、さらに具体的に いえば、物体のらる頒域を選択された角度で、予め定めた研削深さまで正確に露 出する傾斜研削組立体に関するものである。[Detailed description of the invention] Inclined grinding assembly field of invention The present invention relates to an assembly for diagonally grinding an object, and more specifically to an assembly for grinding an object diagonally. In other words, the area where the object rests is precisely exposed at the selected angle to a predetermined grinding depth. The invention relates to an inclined grinding assembly.
関連のおる出願 本願は、ドーソン(Dawson)ほかの1985年9月5日出願の米国特許願 第772.269号「物体の自動研削を制御するための研削案内と方法」の一部 継続出願でおる。Related applications This application is a U.S. patent application filed September 5, 1985 by Dawson et al. Part of No. 772.269 "Grinding Guide and Method for Controlling Automatic Grinding of Objects" This is a continuation application.
発明の背景 現在は、研削操作は、被研削物体に研削材を当てるたびのタイミング間隔を確立 すること、および研削中に研削材が物体をす9へらず速度を人間が観察すること によって主に制御されている。もう一つの制御手順では、研削作業者が各研削操 作ごとに所望の研削深さに対応するレベルに機械的止め具を取付けることを試み ている。Background of the invention Currently, the grinding operation establishes a timing interval between each application of the abrasive to the object to be ground. human observation of the speed at which the abrasive material hits the object during grinding. is mainly controlled by. Another control procedure involves the grinder controlling each grinding operation. Attempt to install the mechanical stop at the level corresponding to the desired grinding depth for each operation. ing.
そのような被研削物体の一つは、印刷配線板用の切取り試片である。印刷配線板 がダイオード、拙技及びコンデンサなどの享成部品のための取付は面及び電気的 相互接続装置となる。はじめは、印刷配線板は、片@1に印刷されるだけであっ たが、今日では、大抵の配線板は、両面型または多層型になっている。One such object to be ground is a coupon for a printed wiring board. printed wiring board However, the mounting for components such as diodes, capacitors, etc. is surface and electrical. It becomes an interconnection device. Initially, printed wiring boards were printed only on one side. However, today, most wiring boards are double-sided or multilayered.
多層印刷配線板、すなわち、数層の基板に印刷された回路を有する配線板が1間 に均一で、信秒できる電気的接続部を必要とする。これらの重要な接続部は、普 通は、積重ねた基板層を貫通して孔全らけることによって作られた通しメッキ孔 (プレーテッドスルーホール)によって与えられる。すなわち、きりもみ孔を銅 でメッキし、次に、ノ・ンダあげして電気的相互接vct確立する。どの通しメ ッキ孔も予め定めた均一な厚さを保つ必要があり、メッキにおける気孔、われ目 、こぶおよびメッキ中のその他の欠陥が配線板全体を欠陥品にする。Multilayer printed wiring boards, i.e. wiring boards with circuits printed on several layers of substrates, are requires uniform and reliable electrical connections. These critical connections are Through-hole is a through-plated hole made by drilling the entire hole through the stacked board layers. (Plated through hole). In other words, the hole is cut with copper. and then soldering to establish electrical interconnection vct. Which through line? It is also necessary to maintain a predetermined uniform thickness for the plating holes. , bumps and other defects during plating make the entire board defective.
さらに印刷配線板の信頼性は、ハンダ層が銅層へ正しく付着しているかどうかに よって左右される。Furthermore, the reliability of printed wiring boards depends on whether the solder layer properly adheres to the copper layer. Therefore it depends.
ハンダの離れは、ある種の状況においては重大な問題であυ、特に128ジヤー ナル・オブ・エレクトロケミカル・ソサイアテイ、379〜383頁(1981 )のクマール、ケイおよびモスカリトロ。Solder separation is a serious problem in certain situations, especially with 128 Journal of Electrochemical Society, pp. 379-383 (1981 ) Kumar, Kay and Moscaritolo.
エイ著「印刷配線におけるノ・ンダ接着部のはがれの光学的およびオージェ微量 分析」において論じられているように、5 (11〜143.6℃(120〜1 30F)の温度で長期間使用する場合などに問題になる。Ei, “Optical and Auger traces of peeling of adhesives in printed wiring” 5 (11-143.6 °C (120-1 This becomes a problem when used for long periods at temperatures above 30F.
酸素粒子がハンダ層と銅層との界面に集積し、ついにはハンダ接着部のはがれを 生ずる。Oxygen particles accumulate at the interface between the solder layer and the copper layer, eventually causing the solder bond to peel off. arise.
多数の印刷配線板が、単一パネルの材料の上に形成されるのが普通である。検査 のために幸いなことには、メッキ欠陥は、普通には少しでも欠陥があるときは、 印刷配線板の通しメッキ孔または銅とハンダの界面の大部分に現れる。従って、 一つ以上の切取り試片が印刷されるべき各配線板ごとにパネル上に形成される。It is common for multiple printed wiring boards to be formed on a single panel of material. inspection Fortunately, plating defects are usually small defects, Appears in most of the through-plated holes of printed wiring boards or the interface between copper and solder. Therefore, One or more coupons are formed on the panel for each wiring board to be printed.
銅とハンダの界面を調べるために、各クーポンには、印刷配線板と同時にメッキ される一つ以上の細長いパッドがある。クーポンは個々の回路板に対する特定の 識別符号を貼シ付けられ、あとの横歪のためにははがされる。To examine the copper-solder interface, each coupon was plated at the same time as the printed wiring board. There are one or more elongated pads. Coupons are specific to individual circuit boards. An identification code is affixed to it and then removed for later lateral distortion.
界面をよシ多く露出するためにわずかな角度をつけて切取り試片を研削すること が望ましい。露出界面の拡大は、層が非常に薄い、すなわち、銅層およびハンダ 層は普遍は、0.05〜αO75+w (2〜3ミル)であり、界面は、さらに 薄いので、特に重要である。現在は、一つ以上の切取#)試片が6度の傾斜ヲ有 するテフロン円筒に取付けられている。ボッティング型が切取シ試片および円筒 の上に載せられ、第1のポット成形表面を形成するためにボッティング材料を充 填される。この型を取除いて一部分ポット成形された切取り試片をテフロン円筒 から引上げてさかさ1にする。第2の型が切取り試片の露出面に載せられ、追加 のボッティング材料を加えて今度は切取り試片を切取り試片用の保持具として動 くポツティング材料の中に完全に埋めるようにする。Grind the specimen at a slight angle to expose more of the interface. is desirable. The enlargement of the exposed interface is due to the fact that the layers are very thin, i.e. the copper layer and the solder. The layer is generally 0.05 to αO75+w (2 to 3 mil), and the interface is further This is especially important since it is thin. Currently, one or more specimens have an inclination of 6 degrees. It is attached to a Teflon cylinder. The botting mold can be cut out from specimens and cylinders. and filled with botting material to form a first potting surface. filled. This mold was removed and the partially pot-molded specimen was placed in a Teflon cylinder. Pull it up and turn it upside down. A second mold is placed on the exposed surface of the coupon and added of botting material and now act as a holder for the coupon. Make sure to completely bury it in the potting material.
検査のために都合の悪いことには、研削は、精度を非常に要求されるので、現在 は、単調で退屈な、時間のかかる処理である。研削概械を人間が監視することに よって手動または半白1的に達成される少なくとも3または4の段階を含んでい る。研削機は、円板内にあってダイヤモンドなどの硬質化材料を含む多数の調節 自在な紛械的止め具を備えている一つ以上の保持具を受け入れる。Unfortunately, for inspection purposes, grinding is currently not possible as it requires very high accuracy. is a tedious, time-consuming process. Human monitoring of grinding machines thus including at least 3 or 4 steps achieved manually or semi-uniformly. Ru. The grinder has a number of adjustments located within the disc and containing a hardened material such as diamond. Accepts one or more retainers with flexible mechanical stops.
各保持具の第1のポット成形された表面は、数百rpmで回転する粗砥に押しつ けて数分間研削される。The first potted surface of each holder is pressed against a grit that rotates at several hundred rpm. and then ground for several minutes.
粗砥は、生仏に取替えられ、中砥が保持具に押しつけて迫力〔の時間保持具に押 しつけて回転される。半自動機械を用いるとき、作業者は、すべてのダイヤモン ド止め具が砥石に接触した後に切取り試片を生仏から取り外し1作業者は、次に 、ダイヤモンド止め具をつけ直す。次に、細粒砥が50ないし50秒の闇または すべてのダイヤモンド止め具が再び研削材に接触するまで切取り試片に押しあて られる。研削機については、ダイヤモンド止め具は、保持具と同じ高さに設定し 直される。再後に、銅−ハンダ界面が備よった位置で露出した切取り試片は、一 つ以上の研磨段階で処理される。The coarse whetstone is replaced with a raw stone, and the medium whetstone is pressed against the holder and pressed against the holder for a powerful time. Disciplined and rotated. When using semi-automatic machines, the operator must After the do stopper comes into contact with the grindstone, the worker removes the cut piece from the living Buddha and then , reattach the diamond stopper. Next, use a fine-grain abrasive for 50 to 50 seconds in the dark or Press against the specimen until all diamond stops touch the abrasive material again. It will be done. For grinding machines, the diamond stop should be set at the same height as the retainer. It will be fixed. After that, the exposed specimen at the location where the copper-solder interface was prepared was Processed in more than one polishing stage.
各配線板ごとに1つ以上の切取υ試片が研削するための全費用と労力は、年間に 生産される何百万という印り」配線板の数が絶えず増え続けていることを考える と重大な問題を揚起する。現在は、はとんどの切取り試片が1切取り試片当り1 5〜20ドルの費用で手動で研削されている。手動研削は、絶え間ない作業者の 注意と顕微fIlを用いた頻繁な検査とを必要とする。視覚検査は、その都度研 削作業を中断する。作業者によって信頼性は、非常に変化する。The total cost and labor for grinding one or more cutouts for each board is Considering that the number of "millions of marks" circuit boards produced is constantly increasing. and raises serious issues. Currently, most of the cutting specimens are 1 piece per cutting specimen. It is hand-ground at a cost of $5 to $20. Manual grinding requires constant worker Requires care and frequent inspection with microscopic fl. Visual inspection is carried out on a case-by-case basis. Suspend cutting work. Reliability varies greatly depending on the operator.
すなわち、研削し過ぎ及び研削不足が頻繁に生ずる。That is, over-grinding and under-grinding frequently occur.
切取り試片を破壊的に露出するので、研削し逢ぎの誤りが修復不能で、第2の切 取り試片が完全な再研削のために利用できなければ、整合した印刷配線板の価値 全完全になくす結果になる。研削不足は、検出されると、その切取シ試片全作業 者に戻すことによって矯正できるが、作業者は、その切取シ試片を取っ付は直し て、追加の予定していなかった研削作業を始めなければならない。Since the specimen is destructively exposed, grinding errors are irreparable and the second cut If coupons are not available for complete regrinding, the value of a matched printed wiring board This results in complete elimination. If insufficient grinding is detected, cut out the specimen and remove the entire work. It can be corrected by returning the cut specimen to the Therefore, additional unplanned grinding work had to be started.
半白WまたはN株援用研削もまた1作業者が細心の注意をする必要がある。徴椋 は1手作業の研削よシ信頼できるが、誤差を累積するいくつかの源があるので、 薄い界面を露出させるためには信碩できない。切取シ試片は、ポツティング材料 に対して間違った場所に取付けられる可能性があり、それが研削不足または研削 し過ぎをもたらす。さらに、保持具は、機械的止め具の設足に対して円板内で最 初に位置がずれる可能性があり、止め具自体は、長時間にわたって摩滅する可能 性がある。また、若干の保持具を相互に対して1枚の円板内で置き間違える可能 性がある。Half-white W or N stock assisted grinding also requires one operator to be very careful. collection Although hand grinding is more reliable, there are several sources of accumulating errors, so Unreliable for exposing thin interfaces. The cut-out specimen is a potting material. It may be installed in the wrong place against the bring about too much. Furthermore, the retainer is located at the lowest point within the disc relative to the mechanical stop foot. It can become misaligned initially, and the stop itself can wear out over time. There is sex. Also, it is possible to misplace some retainers relative to each other within a single disk. There is sex.
一つの装置が2枚の端子板を被研削基板上に付着させた短絡導体で相互接続する ことによって研削を自動化することを試みている。研削操作は、短絡導体を流れ る電流の量によって制御される。この技術は、しかし、比較的不正確で、最後の 手作業の仕上げに頼っている。One device interconnects two terminal boards with a shorting conductor attached to the substrate to be ground. We are trying to automate grinding by doing this. Grinding operation flows through the shorted conductor controlled by the amount of current drawn. This technique, however, is relatively inaccurate and last Relying on manual finishing.
従って、本発明の目的は、一つの物体の被研削面に対して斜めの平面に沿った研 削を正確に制御する傾斜研削組立体を提供することである。Therefore, an object of the present invention is to perform grinding along a plane oblique to the surface to be ground of an object. An object of the present invention is to provide an inclined grinding assembly that accurately controls cutting.
本発明のそのほかの目的は、印刷配線板の切取シ試片を銅−ノ・ンダ界面を露出 させるように研削するための傾斜研削組立体を提供することである。Another object of the present invention is to cut out a specimen of a printed wiring board to expose the copper-no-da interface. An object of the present invention is to provide an inclined grinding assembly for grinding in a manner similar to that of the present invention.
本発明のそのほかの目的は、完全自動化研削に適応する傾斜研削組立体を提供す ることである。Another object of the invention is to provide an inclined grinding assembly adapted for fully automated grinding. Is Rukoto.
本発明のそのほかの目的は、切取シ試片の研削し過ぎまたは研削不足を防止する 上田ごのような傾斜研削組立体を提供することである。Another object of the present invention is to prevent over- or under-grinding of cut specimens. It is an object of the present invention to provide an inclined grinding assembly such as Uedago.
本発明は、印刷配線回路版のような物体のその表面に対しである角度をつけて行 う研削の真に有効な制御が研削案内を担持する使い捨て可能な制御板に対し、て 正確に位置決めされかつ斜めにされた棚に切取り試片を取付けることによって達 成でき、前記案内が制御板に取付けられており、二つの導電リードを相互接続す る制御トラックを有し、前記棚は、トラックのトギれが切取シ試片全前言ピ角度 で露出させるように切取シ試片の所望の所定の深さまで研削すると同時に起るよ うに位置決めされていることを実現することから生じている。The present invention provides a method for processing an object, such as a printed circuit board, at an angle to its surface. Truly effective control of grinding requires a disposable control plate that carries the grinding guide. achieved by mounting coupons on precisely positioned and beveled shelves. The guide is mounted on the control board and the two conductive leads are interconnected. The shelf has a control track that allows the track to be cut out at all pre-position angles. This occurs at the same time as the specimen is ground to the desired predetermined depth. It arises from the realization that it is positioned in the right direction.
本発明は、物体を予め定めた角度で予め足めた研削深さまで研削する研削組立体 金物徴とする。少なくとも2本の導電リードと導電リードを相互接続する導電性 制御トラックとを有する研削案内を担持する制御板と、前記物体を支える上面? 有する棚とがおる。棚は、前記予め定めた角度で斜めになった物体の研削面を確 立するように制御板に対して位置決めされる。棚はさらに、物体の前記予め定め た深さを制御トラックの後縁の一部分と位置が合うように位置決めされて、物体 が斜めの研削面に沿って前Be予め定めた研削深さまで研削されるときトラック がすっかり研削されるようにしている。The present invention is a grinding assembly for grinding an object at a predetermined angle to a predetermined grinding depth. It shall be a metal symbol. Conductive interconnecting conductive leads with at least two conductive leads a control plate carrying a grinding guide with a control track and a top surface supporting said object? There is a shelf to hold. The shelf ensures the grinding surface of the oblique object at the predetermined angle. It is positioned relative to the control board so that it is upright. The shelf further includes the predetermined location of the object. The depth of the object is positioned so that it is aligned with a portion of the trailing edge of the track. When the front track is ground along the diagonal grinding surface to a predetermined grinding depth is completely polished.
一つの実施例において、この研削組立体は、さらに、棚と制御板を相互に対して 位置決めする手段、例えば、制御板におって棚を制御板を合せるように棚に係合 するツーリングビン手段を受ける少なくとモ二ツノツーリングビン孔を備えてい る。ツーリングピン孔は、ツーリングビン手段を棚の上面に係合するように向き t足めるように位置決めしてもよい。In one embodiment, the grinding assembly further includes a shelf and a control plate relative to each other. means for positioning, e.g., means for engaging the shelf at the control plate such that the control plate aligns with the shelf; Includes at least one touring bin hole for receiving the touring bin means to Ru. The tooling pin holes are oriented to engage the tooling bin means on the top surface of the shelf. You may position it so that it can add t.
ツーリングビン手段は、容易に研削し尽される軟質金属で形成された金属ビンで あってもよい。代替案として、前記位置決めする手段は、棚を制御板に対して固 着するブラケット手段’klえている。このブラケット手段は、制(至)板に摺 動自在に係合する手段と棚を摺動自在に受けるクリップ手段を備えていてもよい 。Tooling bin means is a metal bin made of soft metal that is easily ground and exhausted. There may be. Alternatively, said means for positioning may secure the shelf relative to the control board. There are bracket means to attach it. This bracket means is slidable on the control plate. It may include means for movably engaging and clip means for slidably receiving the shelf. .
もう一つの実施例においては、制御トラックは。In another embodiment, the control track.
制御板を貫通する通しメッキ孔1mえ、研削組立体はさらに、物体を棚に取付け る手段を備えている。A 1m through-plated hole passes through the control board, and the grinding assembly also attaches objects to the shelf. have the means to do so.
この研削組立体は、ボッティング材料の甲でポット成形されてもよく、研削案内 はさらに導電リードを相互接続し、後縁の少なくとも一部分が他方の制御トラッ クの後縁に対して精密に位置決めされている第2の制御トラックを備えている。This grinding assembly may be potted with the upper of the botting material and the grinding guide further interconnects the conductive leads such that at least a portion of the trailing edge is connected to the control track of the other. and a second control track precisely positioned relative to the trailing edge of the track.
制御板は、多数の層をもっていてもよく、各制御トラックは、二つの層の異なる 層に配置されている。The control board may have multiple layers, each control track having two different layers. arranged in layers.
なおもう一つの実施例において、棚は、研削中物体を担持するカップの中に形成 される。棚は、物体を予め定めた角度で持ち上げる一つ以上の隆起部を備えてい てもよく、カップはさらに棚の上面に関して所定の深さを有し、制御板を受ける 長穴を備えていてもよい。被研削物体は、露出されるべきメッキ界面を有する印 刷配線板の切取り試片であってもよ(1゜ 好ましい発明の説明 その他の目的、特徴および利点は、好ましい実施例の以下の説明および添付図面 から見出されるであろう。図面において、 第1図は、従来の多層印刷配線板の分解軸側投影図、 第2図は、メッキ操作における可能性のある欠陥を例示する第1図の多重印刷配 線板における鉢出通しメッキ孔の断面図、 第3A図は、パネルに配置された従来の切取シ試片と配線板の略平面図、 第3B図は、第3A図の切取り試片の一つの拡大図、 第4図は、断面の試験孔の直径からの距離に対するメッキ厚さの測定中に起る誤 差の図、第5A図は、切取9試片に印刷されている新規なかたよった研削組立体 の平面図、 第5B図は、第5A図の制御トラックの一部分の拡大詳細図で、きりもみ孔によ って位置を合されたトラックの後縁を示す図、 第6図は、切取り試片取付は台に埋め込まれた第5A図の切取り試片の軸側投影 図、 第7図は、切取り試片の上にあり、き夛もみした通しメッキ孔を制御孔として用 いる新規な研削案内の平面図、 第8A図および第8B図は、連続した研削段階の後の第7図の切取り訃片の略断 面図、 第9図は、案内を連続して監視できるようにするために共辿通しメッキ孔によっ て相互接続された二つの新規な研削案内の軸側投影図、 第10A図は、露出されるべき錆−ハンダ界面を有する切取り試片を相持する不 発明による傾斜研削組立体の略分解軸測投影図。In yet another embodiment, a shelf is formed in the cup that supports the object during grinding. be done. The shelf has one or more ridges that raise the object at a predetermined angle. The cup may further have a predetermined depth with respect to the top surface of the shelf and receive the control plate. It may also have a long hole. The object to be ground is a mark with a plated interface to be exposed. It can also be a cut-out sample of a printed wiring board (1° Description of the preferred invention Other objects, features and advantages may be found in the following description of the preferred embodiment and in the accompanying drawings. will be found from. In the drawing, Figure 1 is an exploded axial projection view of a conventional multilayer printed wiring board. FIG. 2 shows the multiple printed arrangement of FIG. 1 illustrating possible defects in the plating operation. A cross-sectional view of a plated hole in a wire plate, FIG. 3A is a schematic plan view of a conventional cutout specimen and wiring board arranged on a panel; FIG. 3B is an enlarged view of one of the coupons in FIG. 3A; Figure 4 shows the errors that occur during measurement of plating thickness against the distance from the diameter of the test hole in the cross section. The difference diagram, Figure 5A, shows the new skewed grinding assembly printed on the cutout 9 specimen. plan view of FIG. 5B is an enlarged detail of a portion of the control track of FIG. A view showing the trailing edge of the track aligned with Figure 6 shows the axial side projection of the specimen shown in Figure 5A embedded in the stand with the specimen attached. figure, Figure 7 shows a through-plated hole on the cut-out specimen that is used as a control hole. Top view of the new grinding guide, Figures 8A and 8B are schematic cross-sections of the cut-out carcass of Figure 7 after successive grinding stages. side view, Figure 9 shows the use of common through plated holes to enable continuous monitoring of the guide. Axial projection of two new grinding guides interconnected with each other, FIG. 10A shows a specimen with a rust-solder interface to be exposed. 1 is a schematic exploded axonometric projection of an inclined grinding assembly according to the invention; FIG.
第10B図は、第10A図に示された切取り試片の一つの断面図。FIG. 10B is a cross-sectional view of one of the coupons shown in FIG. 10A.
第11図は、第10A図の研削組立体の略立面図、第12図は、第10A図およ び第11図に示された制御板の内層の略立面図。11 is a schematic elevational view of the grinding assembly of FIG. 10A, and FIG. 12 is a schematic elevational view of the grinding assembly of FIG. 10A and FIG. FIG. 12 is a schematic elevational view of the inner layer of the control plate shown in FIGS.
第13図は、第10A図に示された棚を位置決めする二つのブラケットの略軸測 投影図、第14図は、より禎雑なブラケットの軸側投影図、第15図は、制御板 を取除いた本発明による代替の傾斜研削組立体の一部切シとった軸側投影図、第 16図は、第15図に示された棚およびみそを形成する工具。Figure 13 is a schematic axial measurement of the two brackets that position the shelf shown in Figure 10A. Projection view, Figure 14 is a shaft side projection view of a more complicated bracket, Figure 15 is a control board. FIG. 4 is a partially cutaway axial perspective view of an alternative inclined grinding assembly according to the present invention with the Figure 16 shows a tool for forming the shelf and miso shown in Figure 15.
第17図は、代替案の棚の構成の断面図である。FIG. 17 is a cross-sectional view of an alternative shelf configuration.
本発明は、被研削物体を予め定めた角度で予め定めた研削深さまで支える棚と各 々が1対の導電リードを相互接研する一つ以上の導電性制御トラックを有する研 削案内を担持する制御板とを有する傾斜研削組立体によって達成できる。棚は、 前記予め足めた角度で傾斜した研削表面を確立し、物体の所定の深さを制御トラ ックの後縁の一部分と位置が合うように制御板に対して位置決めされて、物体が 前記予め定めた深さまで研削されたときトラックが研削し尽されるようにしてい る。The present invention provides a rack for supporting an object to be ground at a predetermined angle to a predetermined grinding depth, Each conductive control track has one or more conductive control tracks that connect a pair of conductive leads to each other. This can be achieved by an inclined grinding assembly having a control plate carrying the cutting guide. The shelf is Establish an inclined grinding surface at a predetermined angle and control the predetermined depth of the object. The object is positioned relative to the control plate so that it is aligned with a portion of the trailing edge of the The track is ground out when the track is ground to the predetermined depth. Ru.
本発明による傾斜研削組立体を片面または両面配線板のための切取シ試片などの 物体に利用できるが、傾斜研削組立体は、第1図に示されたような多層配線板用 の切取シ試片の研削に特に有用であシ、その理由は、各多層板には非常に多くの 時間と金が注ぎ込まれるからである。多層印刷配線板10は、層12、ill、 16.1gおよび2oを含んでいる。配線板層12.16および2oは、回路を 形成するためにそれらの膚に銅被覆板をつけるように両面にメッキされる。各回 路は、絶縁層illと18によってそれぞれ互いに絶縁される。配線板層12. 16.2゜の上側に印刷された回路が実線で示され、これらの層の下側に印刷さ れた回路は、点線で表わされている。The inclined grinding assembly according to the present invention can be used for cutting coupons etc. for single-sided or double-sided wiring boards. Although it can be used for objects, the inclined grinding assembly is suitable for multilayer wiring boards such as the one shown in Figure 1. This is particularly useful for cutting and grinding specimens because each multilayer plate has a large number of This is because time and money are invested. Multilayer printed wiring board 10 includes layers 12, ill, Contains 16.1g and 2o. Wiring board layers 12.16 and 2o carry circuits. Both sides are plated to form copper-clad plates on their skin. each time The paths are insulated from each other by insulating layers ill and 18, respectively. Wiring board layer 12. The circuits printed on the top side of 16.2° are shown as solid lines, and the circuits printed on the bottom side of these layers are shown as solid lines. The circuits shown are indicated by dotted lines.
配線板層と絶縁Wjを組立てて互いに位置を合せた後に、配線板は、回路を完成 するように通しメッキ孔を確立するように選択的にメッキされ、仮想線で示され ている孔26.2gはtしメッキ孔によって与えられた電気的相互接続を表わし ている。f(Iえば。After assembling and aligning the wiring board layers and insulation Wj with each other, the wiring board completes the circuit. selectively plated to establish through-plated holes as shown in phantom lines. Hole 26.2g represents the electrical interconnection provided by the plated hole. ing. f(I)
取付は台30についている構成部品はそれらのそれぞ” )rtj K 97: 、孔110.1JI、112.113およヒ1111が孔26によって例示され ているように単一の通しメッキ孔としてメッキされるとき、その他の構成部品に 線52.31+、36および38によって相互接続される。The components attached to the stand 30 are installed separately. , holes 110.1JI, 112.113 and H 1111 are exemplified by hole 26. When plated as a single through-plated hole, as shown in Interconnected by lines 52.31+, 36 and 38.
組立てられた多層配線板1oの辿しメッキ孔26(第1図)は、9作の敢終通し メッキ段階の間に住する可能な欠陥を例示するために第2図に断面で示されてお シ、これらの欠陥は、添付の切取シ試片にある試験孔を調べることによって発見 されると期待される。印刷配線板12.16および20は、それぞれ上僻および 下倶j1銅杖榎板3oと52.31iと56、および38と39をつけて示され ている。孔26のような通しメッキ孔がこれらの回路を電気的に接続しなければ 回路は、絶綜層11I、18によって内部的に離されている。各層が一つに組立 てられた後、追加のメッキ段階によって孔26を通して銅被覆板90をメッキす る。人工物91が適切な除かれなかったもので、銅被覆板36とメッキ90との 間の電気的接硬ヲ少なくする樹脂のよごれを表わす。積層物内のラッキング92 は、弱化構造および銅被覆回路間の短絡回路の生ずる可能性を示している。みぞ 93は、メッキ90にある髪の毛のように細いき裂である。The trace plating holes 26 (Fig. 1) of the assembled multilayer wiring board 1o are made through the nine holes. Shown in cross section in Figure 2 to illustrate possible defects that may exist during the plating step. These defects were discovered by examining the test holes in the attached cut-out specimen. It is expected that Printed wiring boards 12, 16 and 20 are respectively Shown with 3o and 52, 31i and 56, and 38 and 39 on the copper cane plate 3o and 52. ing. Through-plated holes such as hole 26 must electrically connect these circuits. The circuits are internally separated by interlayers 11I, 18. Each layer assembled together After the copper clad plate 90 is plated through the holes 26 by an additional plating step, Ru. Artifact 91 was not properly removed, and the connection between copper clad plate 36 and plating 90 was This represents contamination of the resin that reduces the electrical contact between the two. Racking within the laminate 92 indicates the potential for short circuits between weakened structures and copper-clad circuits. groove 93 is a hair-thin crack in the plating 90.
次にはんだメッキ91iが銅メッキ90の上にメッキされる。きず96は、不連 続メッキを示し、ボイド98は、銅メッキ90およびはんだメッキ94の両方を 貫虚するメッキ内のボイドを示している。みぞ9っは、銅メッキ90を貫】沖す る大きなき裂を表わしている。小瘤100のようなある稽の欠陥は、許容できる が、銅メッキ90は、許容できない小瘤102を作ることがある。また、メッキ ポケット104および円周方向のき9106.108も許容できない。Next, solder plating 91i is plated on copper plating 90. Flaw 96 is unbroken. The void 98 shows both the copper plating 90 and the solder plating 94. It shows the void in the plating that penetrates. Groove 9 penetrates copper plating 90 This indicates a large crack. Certain defects such as nodules 100 can be tolerated. However, copper plating 90 may create unacceptable nodules 102. Also, plating Pocket 104 and circumferential clearance 9106.108 are also unacceptable.
最後に、メッキ層そのものは、指定の濃さを持っている。寸法矢印110は、は んだメッキ94に望まれるメッキ厚さの範囲を表わし、それは、普通にはo、 OO25ないしα005(mである。寸法矢印112は、銅メッキ層90の許容 できる幅の範囲がo、OO25ないし0.005crILであることを表してい る。Finally, the plating layer itself has a specified density. The dimension arrow 110 is Represents the range of plating thickness desired for solder plating 94, which is typically o, OO25 to α005 (m. Dimensional arrow 112 indicates the tolerance of the copper plating layer 90. This indicates that the possible width range is o, OO25 to 0.005crIL. Ru.
通しメッキの品質を決めることが必要なことはただちに明らかである。また、ど の通しメッキ孔の個々の電気的試験も費用と時間がかかることも明らかである。It is immediately clear that it is necessary to determine the quality of through plating. Also, what It is also clear that individual electrical testing of through-plated holes is also expensive and time consuming.
さらに、破壊試験は、最もよく欠陥をあげき出すが、それでも印刷配線板自体に 行うことはできない。従って、多数の犠牲試験孔を備えている個別切取り試片が メッキの品質を確認する実際的熱槽を与える。Additionally, destructive testing, while most commonly revealing defects, still It cannot be done. Therefore, individual coupons with a large number of sacrificial test holes are Provides a practical heat bath to check the quality of plating.
普通は、多数の配線板が第3A図のパネル116のような単一のパネルに印刷さ れる。印刷配線板+48.50.52、および51Iは、パネルli6の上にそ れぞれの印刷配線板にごく近接して置かれた切取シ試片対56%5g、60およ び62を持っている。メッキの品質を試験するために、切取シ試片69の上の線 68が正しいメッキを確めるためにあとで応力を加えられる。印刷配線板118 にある孔611のような通しメッキ孔の品質を試験するために、切取り試片対5 6の切取シ試片66にある試験孔は、その後で断面で調べられる。Typically, multiple circuit boards are printed on a single panel, such as panel 116 in Figure 3A. It will be done. Printed wiring boards +48, 50, 52, and 51I are mounted on panel li6. A pair of cut-out specimens of 56% 5g, 60% and 60% were placed in close proximity to each printed wiring board. and 62. In order to test the quality of the plating, the line above the cutout specimen 69 is 68 is later stressed to ensure proper plating. Printed wiring board 118 To test the quality of through-plated holes such as hole 611 in The test hole in specimen 66 is then examined in cross section.
切取り試片66は、第3B図に非常に詳しく示されている。普通は、印刷配線板 ヰ8の上のドリルビットの始動および仕上げ加工の品質を監視するために試験孔 70および72は、孔614があけられる前にあけられ、試験孔71iおよび7 6は、あとでおけられる。試験孔?0,72.711および76は、孔61iと 同時にすつかυメッキされる。The coupon 66 is shown in greater detail in FIG. 3B. Usually printed wiring board Test holes to monitor the starting and finishing quality of the drill bit on the 70 and 72 are drilled before hole 614 is drilled, and test holes 71i and 7 6 can be put aside for later. Test hole? 0,72.711 and 76 are hole 61i At the same time, it is plated with Sutsuka.
また、切取シ試片を支持する支持具を形成するためにボッティング材料を電力p する前に−6切取り試片’kWの中で普通のやり方で位置合せするのに用いられ る位置合せ孔!!0.82も示されている。切取り試片66は、シャーまたはパ ンチを用いてパネルlI6から取除かれる。Additionally, the botting material was heated to form a support to support the cut-out specimen. The specimen is used to align in the conventional manner in the −6’kW before Alignment holes! ! 0.82 is also shown. The cutout specimen 66 is removed from panel II6 using a punch.
切取シ試片内の試験孔が断面で露出されると、露出の深さは、メッキ厚さの測定 に影響を与える。第4図は、銅メッキ113の厚さを断面の第3B図の通しメッ キ孔72の直径からの距離に対する測定の間に生じる誤差の図でおる。線111 1は、直径に対応する断面を表し、線116.118,120および122はl 径1111からの変位がだんだん大きくなっている露出の断面を表している。直 径1114からの変位に対するμm単位の測定誤差を孔72がI G milで メッキ113が1m11のとき、表1に示すO 表 1 25.0(LO) α65(0,0250)50.0(2,0) 156(α0 625)75.0(3,0) 150(α1000)100゜0(14,0) 14.58(0,1750)断面116は、線1111に対して25.0μm− 1m1l−変位している。銅メッキ90の内部の半径線1211と断面116と の間の長さの差は、0.63μm(0,025m11)である。断面122は、 線126によって表された真の厚さを11.511μm (0,1750m1l )だけ過大評価しており、それは17.5%の測定誤差でおる。Once the test hole in the cut specimen is exposed in cross section, the depth of exposure is the measurement of plating thickness. affect. Figure 4 shows the thickness of the copper plating 113 as shown in the cross section of Figure 3B. 7 is a diagram of the error that occurs during the measurement of the distance from the diameter of the hole 72. line 111 1 represents the cross section corresponding to the diameter, lines 116, 118, 120 and 122 are l It represents an exposed cross-section with increasingly larger displacements from the diameter 1111. straight The measurement error in μm for the displacement from the diameter 1114 is IG mil for the hole 72. When the plating 113 is 1 m11, O shown in Table 1 Table 1 25.0 (LO) α65 (0,0250) 50.0 (2,0) 156 (α0 625) 75.0 (3,0) 150 (α1000) 100゜0 (14,0) 14.58 (0,1750) cross section 116 is 25.0 μm- 1ml1l-displaced. Radius line 1211 and cross section 116 inside copper plating 90 The difference in length between them is 0.63 μm (0.025 m11). The cross section 122 is The true thickness represented by line 126 is 11.511μm (0.1750ml ), which results in a measurement error of 17.5%.
研削し過ぎおよび研削不足からくるこのような誤差を第5A図に示した新規の研 削案内130を用いて防止できる。研削案内150は、切取り試片132に取付 けられる。仮惣線で示されたツーリング孔13+1,136は研削案内150の 一部分ではなく。These errors caused by over-grinding and under-grinding can be corrected by the new grinding method shown in Figure 5A. This can be prevented using the cutting guide 130. The grinding guide 150 is attached to the cutting specimen 132 I get kicked. The tooling hole 13+1, 136 indicated by a temporary line is located on the grinding guide 150. Not just a part.
切取シ試片152の普通の取扱いおよび位置合せの間に用いられる。研削案内1 50は、導電リード15F!、11i0.142および1lj14を備えている 。It is used during normal handling and alignment of the coupon 152. Grinding guide 1 50 is conductive lead 15F! , 11i0.142 and 1lj14 .
導電リード138および1110は、導電性制御トラック1li6によって相互 接続され、導電リード1142および11411は、トラック1118によって 接続され、導電リード111Oおよび142は、トラック150によって接続さ れている。制御孔152.151iおよび156は、三つの研削段階、例えば、 粗、中間および精密研削の閣法々に破断されるトラックとしてトラック1146 ,111&および150を定める。Conductive leads 138 and 1110 are interconnected by conductive control tracks 1li6. The conductive leads 1142 and 11411 are connected by track 1118. conductive leads 111O and 142 are connected by track 150. It is. The control holes 152, 151i and 156 have three grinding stages, e.g. Track 1146 as coarse, intermediate and fine grinding machine-broken track , 111 & and 150.
制御孔は、きシもみ孔として示されているが、例えば、孔152によって取シ巻 かれたトラック材料をレーザエツチングまたは他の除去方法によって除去しても よい。Although the control holes are shown as drill holes, for example, the control holes may be surrounded by holes 152. Removal of scratched track material by laser etching or other removal methods good.
導電リード138.11+O%IIJ2および114+4は通しメッキ試験孔1 60.162.1611および166と関連したものとして示されている。切取 り試片152の表面168は、それらの試験孔を断面で露出させるために研削さ れているので、研削によって材料が制御孔152まですり滞らされるとき。Conductive lead 138.11+O%IIJ2 and 114+4 are through plating test hole 1 60.162.1611 and 166. Cut out The surface 168 of the sample 152 is ground to expose the test holes in cross section. When the grinding causes the material to stagnate up to the control hole 152.
破断がまずトラック1116で起る。トラック11↓0またはトラック150に 応答する別のリードに電力を与えることによって回路が形成され、リード138 で電流または電圧を検知する。その回路は、表面168がトラックを通って制御 孔1521で研削されるとき、中断される。それによって、予め定めた研削深さ がその制御トラックによって確立される。Breaking occurs first at track 1116. Track 11↓0 or track 150 A circuit is formed by powering another lead that responds, lead 138 to detect current or voltage. The circuit allows surface 168 to pass through the track and control When grinding at hole 1521, it is interrupted. Thereby, the predetermined grinding depth is established by its control track.
トラックlI46がとぎれたあとで、トラックIllがとぎれるまで、より小さ な研削利を研削表面168にあてる。最後に、細粒砥での研削がトラック150 を中断するまで続く。次すのトラックを監視するとき、次にのリードに電力を移 すのでなく、正の電力を単一のリードに保つことが望ましいとき、トラック14 0捷たは1112′Jk遡カリードとして指足でき、残シの5本のトラックをと ぎれたトラックを指示する電力の急降下を知るために監視できる。代りとして、 トラックがすっかり研削されるとき発生される誘導パルスを検知してもよい。After track II46 is interrupted, it becomes smaller until track Ill is interrupted. A suitable grinding force is applied to the grinding surface 168. Finally, grinding with a fine-grain abrasive is done using a track 150. continues until interrupted. Transfers power to the next lead when monitoring the next track. Track 14 when it is desired to keep positive power on a single lead instead of 0 or 1112' Jk can be traced back, and the remaining 5 tracks can be used. You can monitor it to know about sudden drops in power, which would indicate a broken truck. Instead, The induced pulses generated when the track is fully ground may be detected.
導電リード1110.1112および制御トラック150は、第5B図に拡大図 で示されている。制御孔156が試験孔162,1611の中心を通過する直径 170に関して示されている。寸法172は、制御孔156が少しだけ先行して いて研削操作を行う研削機が切取シ試片を砥石から引っ込めるのに十分な時間全 確実にとれるようにして、表面168の一部を@庭中にさらにすり1矩らせるよ うにしていることを示している。代表的な切取り試片研削操作の場合には、17 2に示された先行距離は、25,0ないし50.Oμ口(1ないし2 mil )である。第5A図の制御トラック15I4は、試験孔の直径に75.0μm (3mil )だけ先行し、粗制御トラック152は、150.0μm(6mi l)だけ先行する。Conductive leads 1110, 1112 and control tracks 150 are shown in an enlarged view in FIG. 5B. It is shown in Diameter where control hole 156 passes through the center of test holes 162, 1611 170. Dimension 172 indicates that control hole 156 is slightly ahead. The grinding machine, which performs the grinding operation with Make sure to remove part of the surface 168 and make another square in the garden. It shows that you are doing something. For a typical coupon grinding operation, 17 The leading distance shown in 2 is from 25,0 to 50,000. Oμ mouth (1 to 2 mil ). The control track 15I4 in FIG. 5A is 75.0 μm in diameter of the test hole. (3 mil), and the coarse control track 152 is 150.0 μm (6 mil) ahead. precede by l).
切取り試片152を研削する準備をするためには。To prepare the specimen 152 for grinding.
それは第6図の切取り試片取付は台1.711 i形成するように硬化するビュ ーラ(Buehler)社で販売しているエポークィック(Epo−Kwik) エポキシなどのボッティング材料の中に「ポット」される。切取り試片132 は、線176までポツティング材料によって囲まれている。研削中、切取り試片 132の表面168は、仮想線で示された表面168aまで研肖Uされる。It is shown in Figure 6 that the specimen is attached to the base 1.711. Epo-Kwik sold by Buehler “Potted” into a potting material such as epoxy. Cut sample 132 is surrounded by potting material up to line 176. Cutting specimen during grinding Surface 168 of 132 is polished to surface 168a shown in phantom.
導電リード13g、1140.1112および1lillは、それらが切取り試 片132の表面からいくらか突出するように厚さがわずかに盛り上げて示されて いる。この突出は、研削機の縁端接続器との結合を容易にする。Conductive leads 13g, 1140.1112 and 1lill are The thickness is shown slightly raised so that it protrudes somewhat from the surface of piece 132. There is. This protrusion facilitates coupling with the edge connector of the grinding machine.
切取シ試片ごとの個々の研削制負lは、一時に単一の切取シ試片を研削すること によって最も正確に得られるが、二つ以上の切取り試片を仮想線で示された切取 シ試片178によって示されるように、同じ取付は台に取付けできる。追加切取 り試片は、ボッティングの間に、例えば、切取り試片132に対して位置を合さ れる。各非監貌切取り試片178の上部が上部ボッティング材料の限界176よ υ上に大きく伸びないことが望ましく、それによって監視される切取り試片15 2と研削機とを相互接続するのに物理的な妨害を生じないようにする。次に、切 取シ試片132は、研削中、取付は台1711におるすべての切取り試片の研削 を制御するために監視される。The individual grinding force for each cutout specimen is determined by grinding a single cutout specimen at a time. is most accurately obtained by The same attachment can be attached to a pedestal, as shown by specimen 178. additional cutting The coupon is aligned with the coupon 132 during botting, for example. It will be done. The top of each non-contoured coupon 178 is above the limit 176 of the top botting material. It is desirable that the specimen 15 should not extend significantly on υ and be monitored accordingly. 2 and the grinding machine without any physical obstruction. Then turn off The cutout specimen 132 is being ground, and all the cutout specimens on the mounting table 1711 are being ground. monitored to control.
第7図の研削案内180は、制御トラック孔18虱2014.206によって相 互接続されている切取り試片182の二つの異なる面上に取付けられる。制御ト ラック孔181i、2011.206は、試験孔208.186,188が形成 される同じ工程間にきりもみされてメッキをされる。制御トラック孔2011は 、上側導電リード210を仮想線で示された下仰1導電リード212と相互接続 する。同様に。The grinding guide 180 in FIG. Mounted on two different sides of interconnected coupons 182. control Rack holes 181i and 2011.206 are formed by test holes 208.186 and 188. During the same process, it is milled and plated. The control track hole 2011 is , interconnecting the upper conductive lead 210 with the lower conductive lead 212 shown in phantom. do. Similarly.
制御トラック孔206は、上側1導電リード2111を下漬11導電リード21 6と相互接続し、側修トラック184は、リード189をリード190と相互接 続する。The control track hole 206 connects the upper 1 conductive lead 2111 to the lower 11 conductive lead 21. 6 and the side repair track 184 interconnects the lead 189 with the lead 190. Continue.
この構成において、研削案内180は、四つの接点だけを有する線屑接続器とも 合し、四つの接点はすべて同じ平面上にある。この便利な構成(2、下11導電 リード190,216,212t−共通り−ド192および通しメッキ孔1つ4 を通して電力供給リード196へ接続することによって達成される。In this configuration, the grinding guide 180 can also be used as a waste wire connector with only four contacts. all four contact points are on the same plane. This convenient configuration (2, 11 conductive Leads 190, 216, 212t - common lead 192 and one through plated hole 4 This is accomplished by connecting to the power supply lead 196 through the power supply lead 196.
制御トラック孔13:I、2コヰ、296つ後縁は、鎖線21Bで示された試験 孔186,188,208の中心線に関して正確に位置決めされている。研削中 、各制御トラック孔181&、201i、206の後縁が次kにすっかり研削さ れるまで研削面220に砥石をあてる。例えば、制御トラック孔201iは。Control track hole 13: I, 2 cores, 296 trailing edge is the test indicated by the dashed line 21B Precisely positioned with respect to the centerline of holes 186, 188, 208. Grinding in progress , the trailing edge of each control track hole 181&, 201i, 206 is completely ground next k. Apply the whetstone to the grinding surface 220 until the grinding surface 220 is ground. For example, the control track hole 201i.
算8A図に示したようにすっかり研削されている。As shown in Figure 8A, it has been completely ground.
試験孔208は、一部分露出され、制御トラック孔206は、一部分研削して落 されている。しかし。Test hole 208 is partially exposed and control track hole 206 is partially ground down. has been done. but.
後縁207は、この段階では完全なままである。Trailing edge 207 remains intact at this stage.
制御トラック孔2011の後縁がすつかシ研削された後、細かい方の砥石が制御 トラック孔206の後縁207をすつかシ研削するまであてられる。この後縁の 削シ落しは、試験孔208の真の断面]径の露出と同時に生ずる。After the trailing edge of the control track hole 2011 is ground, the finer grinding wheel is used to control It is applied until the trailing edge 207 of the track hole 206 is completely ground. This trailing edge The chipping occurs simultaneously with the exposure of the true cross-sectional diameter of the test hole 208.
制御トラック孔1f!l!%204.206を、銅。Control track hole 1f! l! %204.206 of copper.
銅とはんだ、または他の導電材料で通しメッキすることができる。さらに、制御 トラックは、通しメッキ孔に限られない。例えば、制御トラックを確立するため に切取り試片に予めあけた孔に中実線または棒を貫通させることができる。Can be through-plated with copper and solder or other conductive materials. Additionally, control Tracks are not limited to through-plated holes. For example, to establish a control track A solid wire or rod can be passed through a pre-drilled hole in the coupon.
切取シ試片の厚さ全通して制御トラックを確立することには多数の禾I Aがち シ、特に露出されるべきものも切取少試片の厚さを通して伸びている場合にそう である。耐線叛切取り試片内の試、破孔2J出するため、Cは、試験孔に平行な 制御トラック孔の後縁の位置決めが試験孔全研削し過ぎないことを保証する。第 8B図に仮想線で示されているように、制御トラック孔206の後縁207は、 はんの部分的に穴がおいてもなお、研削操作を停止させることがある。従って、 砥石の平面が制御トラック孔206に平行でなくても、試験孔208は、研削し 過ぎまたは研削不足にならないであろう。Establishing a control track throughout the thickness of the specimen tends to have a number of drawbacks. This is especially true if what is to be exposed also extends through the thickness of the specimen. It is. In order to take out the test hole 2J in the wire resistance cutout specimen, C is parallel to the test hole. Positioning of the trailing edge of the control track hole ensures that the test hole is not over-ground. No. As shown in phantom in Figure 8B, the trailing edge 207 of the control track hole 206 is Even a partial hole in the solder may still cause the grinding operation to stop. Therefore, Even if the plane of the grinding wheel is not parallel to the control track hole 206, the test hole 208 will not grind. There will be no over- or under-grinding.
第9図の研削制御装置228は、研削案内130と180の組合せを表わしてい る。制御装置228は、通しメッキ孔25ヰによって接げされた研削案内230 ,252を備え、制衡装置22gは、標準の4ビン縁端接続器と結合するが、六 つの研削操作にわたって制御を行う。リード256は、研削案内2300念60 共通リードとして動き、リード238は、研削案内232のための共bリードと して動く。Grinding control device 228 in FIG. 9 represents a combination of grinding guides 130 and 180. Ru. The control device 228 controls the grinding guide 230 connected by the through-plated hole 25. , 252, and the damping device 22g mates with a standard 4-bin edge connector, but with a 6-bin edge connector. control over two grinding operations. Lead 256 is grinding guide 2300mm 60 Acting as a common lead, lead 238 serves as a co-b lead for grinding guide 232. and move.
研削中、制御トラック21jO12142>よび244は、次々に削や落される 1、共通Q通しメッキ孔2311の後縁は、制御トラック2411の後、劣の研 削と同時ぜて削シ落される。それ、・でよって、研削案内230は、監視装置( 図示なし)からはずされ、その時点で監視装置は、研削案内232の監視?開始 する。次、・こ、制御トラック246.248および250が最後の三つの研削 操作を制御するために監視される。During grinding, control tracks 21jO12142> and 244 are ground or dropped one after another. 1. The trailing edge of the common Q through-plated hole 2311 is after the control track 2411, It will be removed at the same time as it is removed. Therefore, the grinding guide 230 has a monitoring device ( (not shown), at which point the monitoring device monitors the grinding guide 232? start do. Next, the control tracks 246, 248 and 250 are the last three grinders. Monitored to control operations.
本発明による第10A図の研削組立体260は、利運仮264におる研削案内2 62金利用して切取シ試片266.268の研削を制御する。切取り試片266 .268は、それぞれのバッド272.2711および276.278の銅−ハ ンダ界面が予め定め1角度で予め定めた研削深さまで完全に研削されるよう12 て研ε1」案内262に対して位置決めされている棚270に取付けられている 。一点鎖線323は、切取シ試片266.268の研削案内262との位置合せ を表している。The grinding assembly 260 of FIG. 62K gold is used to control the grinding of the specimens 266 and 268. Cut sample 266 .. 268 is copper-hard for each bud 272.2711 and 276.278. 12 so that the contact surface is completely ground at a predetermined angle to a predetermined grinding depth. attached to a shelf 270 positioned relative to the guide 262. . The one-dot chain line 323 indicates the alignment of the cutting specimen 266 and 268 with the grinding guide 262. represents.
切取り試片266と細長いバッド272の一部分が第10B図に断面で示されて いる。パッド272は、ハンダ層280.銅層282およびそれら01間の界面 2811を備えている。棚27o、D飢気位264;τ対する配向は、破線28 6によって表された傾斜研削表面と確立し、破線286は、パッド272の上面 2S8(て対して角度へをなし、この角度は界面をμ出するためtて6Vでらる のが好ましい。A portion of coupon 266 and elongated pad 272 are shown in cross-section in FIG. 10B. There is. Pad 272 is connected to solder layer 280 . Copper layers 282 and the interface between them 01 Equipped with 2811. Shelf 27o, D starvation level 264; orientation with respect to τ is the dashed line 28 6 and the dashed line 286 is the upper surface of the pad 272. 2S8 (forms an angle to is preferable.
研1:」1亡バッド2Tとおよび界面2g++の表面に対して傾けることは、界 面28Ilf天印290で表された距離にeって露出する。距離290:ま、界 面2g’aの%際の厚さより何倍も大きく、この9域の検査の精度を向上させる 。Ken 1: Tilting with respect to the surface of the 1 dead bad 2T and the interface 2g++ is The surface 28Ilf is exposed at a distance indicated by the heavenly mark 290. Distance 290: Well, world It is many times larger than the % thickness of surface 2g’a, improving the accuracy of inspection in these 9 areas. .
棚270(第10A図)は、制御板2611に受ける長穴292を定めている。Shelf 270 (FIG. 10A) defines a slot 292 that receives control plate 2611.
仮想線で示されたツーリングピン2911.29Gは1次に、それぞれツーリン グ孔298.500を貫違して切取シ試片266.268の上面に係合する。ツ ーリング孔291!f、300は、互いに角Aだけずれている。The tooling pins 2911.29G shown by imaginary lines are the primary tooling pins, respectively. 298.500 and engages the upper surface of the coupon 266.268. tsu -Ring hole 291! f, 300 are offset from each other by an angle A.
研削案内262は、粗、中および精密側(至)トラッ異なる層に配置されている 。柑密制御トラック304は、制御板2611の外側層306に示され、中およ び粗制御トラックはそれぞれ層308,310に配置されている。共通リード3 12および精密リード3111は、精密fIr!制御トラック504と直接に接 続するように層306に印刷さ几、中導電リード316と粗導電リード318の 下臀部分だけが層306に印刷されている。遇しメッキ孔520.322および 32+1は、それぞれ研削案内262の残りに至る共通導電リード512.中導 電リード)16および粗導電リード318全載せている。The grinding guides 262 are arranged in different layers for coarse, medium and fine side (to) tracks. . The tightness control track 304 is shown on the outer layer 306 of the control board 2611 and is The coarse and coarse control tracks are located in layers 308 and 310, respectively. common lead 3 12 and precision lead 3111 are precision fIr! Direct contact with control track 504 Printed on layer 306 so as to continue, medium conductive leads 316 and coarse conductive leads 318 Only the lower buttock area is printed on layer 306. facing plated holes 520, 322 and 32+1 are the common conductive leads 512 . to the rest of the grinding guide 262 , respectively. middle school conductive leads) 16 and rough conductive leads 318 are all mounted.
棚270が鎖線328に沿って横わるように組立てられると、研削組立体260 が第11図に示されるような外観になる。ツーリングピン291!、296(図 示なし)は、棚270′f:角fifAで付量を合せるためにツーリング孔29 1!、300全通してつけられる。ツーリングピン294.296は、プラスチ ックまたは銅のような容易に研削し尽される軟質金属で作られるのが好せしい。When shelf 270 is assembled to lie along dashed line 328, grinding assembly 260 will have an appearance as shown in FIG. Touring pin 291! , 296 (Fig. (not shown) is the shelf 270'f: tooling hole 29 in order to match the attachment amount at the corner fifA. 1! , 300 can be attached throughout. Touring pins 294 and 296 are plastic It is preferably made of a soft metal that is easily ground, such as steel or copper.
研削組立体260は、棚270がツーリングピン2911.296によって支え られるように研削組立体をポツティング型の中にさかさまに入れることによるな どでポット成形される。ポット成形後、研削組立体260は、矢印で示された方 向に研削される。粗制御トラックおよび中制御トラックのそれぞれの仮想線で示 された後縁332および331jは、除去されるべき材料のほとんどを研削し去 るように次々に研削し尽される。最終研削深さは、精密制御トラック501+の 後縁336によって制御される。Grinding assembly 260 is supported by shelf 270 by tooling pins 2911.296. By placing the grinding assembly upside down in the potting mold to The pot is formed in a pot. After pot forming, the grinding assembly 260 is moved in the direction indicated by the arrow. It is ground in the direction. The coarse control track and medium control track are indicated by phantom lines. The removed trailing edges 332 and 331j grind away most of the material to be removed. They are being ground one after another as if they were being crushed. The final grinding depth is the precision control track 501+. Controlled by trailing edge 336.
制御板264の内層308は、第12図に示されている。導電リード538.3 IIOは、共通通しメッキ孔520と中通しメッキ孔322との間を甲制御トラ ック31124で伸びている。代りの構成においては、後縁332.33I+、 336を棚270の上方で互いにずれている三つの通しメッキ孔によって確立で きる。The inner layer 308 of control plate 264 is shown in FIG. Conductive lead 538.3 IIO connects the common through plated hole 520 and the middle through plated hole 322 with the instep control track. It is extending at 31124. In an alternative configuration, trailing edge 332.33I+; 336 can be established by three through-plated holes offset from each other above shelf 270. Wear.
棚270を多くの異なる手法を用いて制御板2611に対して位置決めできる。Shelf 270 can be positioned relative to control plate 2611 using many different techniques.
例えば、棚270は、制御板2611のツーリングピン孔3116.3118の 下に伸びるフランジを備えていてもよく、そのフランジはツーリングビンを孔5 ″46.5ヰ8を通して受けるように孔5116.548と位置の合った孔を設 けている。代替案として、棚270は、制m@2611をまたいで棚を斜めの脚 3514.356に支えるブラケット350.352などのブラケットによって 支持できる。ブラケット350 a (第、 14図)は、突起358と360 との1聞および突起359ど361との間に棚を摺動可能に受けて棚270を適 所に締めつける。プラタン)350aは1弾性材料で形成され、ブラケットの下 側1を圧縮し合せて、長穴292を通り抜けさせ、突起358.360.359 ゜361を棚270に係合させるように解放される。For example, the shelf 270 may be installed in the tooling pin holes 3116, 3118 of the control plate 2611. It may also include a downwardly extending flange that connects the tooling bin to hole 5. A hole aligned with hole 5116.548 is provided to receive it through It's on. As an alternative, the shelf 270 can be mounted on diagonal legs across the control m@2611. By a bracket such as bracket 350.352 supporting 3514.356 I can support it. Bracket 350a (No. 14) has protrusions 358 and 360. and the protrusions 359 and 361 to accommodate the shelf 270 in a slidable manner. Tighten it in place. Platan) 350a is made of 1 elastic material and is attached under the bracket. Compress sides 1 together and pass through elongated hole 292, protrusion 358.360.359 361 is released to engage shelf 270.
切取シ試片266のような被研削物体は一簡単に棚270の上に含くことができ るし、警たは棚に接着剤を用いてつけることができる。代りの方法として、切取 シ試片266を第15図に示された予め形成されたボッティングカップの中に取 付けできる。Objects to be ground, such as coupons 266, can be easily contained on shelf 270. It can be attached to the alarm or shelf using adhesive. Alternatively, cut Place specimen 266 into the preformed botting cup shown in FIG. Can be attached.
制御板を取除いて示されている傾斜研削輪立体370は、制御板を受ける長穴3 7)↓が形成されているボッティングカップ372を備えている。ボッティン試 片378.380が置かれる棚376を備えている。長穴37+!および棚37 6は、6の斜面584および突起386を備えた工具582(第16図)によっ て一つの構成で決められる。ボッティング型が工具582のまわりに宜かれ、倒 立カップ372を形成するように硬化するボッティング材料が加えられる。The inclined grinding wheel body 370, shown with the control plate removed, has slotted holes 3 for receiving the control plate. 7) It is equipped with a botting cup 372 in which ↓ is formed. Bottin test A shelf 376 is provided on which pieces 378, 380 are placed. Long hole 37+! and shelf 37 6 is cut by a tool 582 (FIG. 16) with a slope 584 and a protrusion 386 of 6. can be determined in one configuration. The botting die is placed around the tool 582 and falls over. Botting material is added that hardens to form a vertical cup 372.
カップ372の棚376は、切取り試片378.380と制御板との間の関係を 確立する。長穴3711の深さは、切取シ試片37g、3gOを制御板上の制御 トラックと位Wt−合せるように予め選択される。The shelf 376 of the cup 372 controls the relationship between the coupon 378, 380 and the control plate. Establish. The depth of the elongated hole 3711 is determined by controlling the cutout specimens 37g and 3gO on the control board. It is selected in advance to be aligned with the track Wt-.
隆起部390.392.3つ11を備えたポツティングカップ372aのための 代シの棚構成が第17図に示されている。切取り試片580aが一端を隆起部3 90の側面にもたれかからせ、他端を隆起部392によって持ち上げられた状態 で示されている。For potting cup 372a with ridges 390.392.3 11 A replacement shelf configuration is shown in FIG. The cutting sample 580a has one end attached to the raised portion 3. 90 and the other end is lifted by the raised part 392 It is shown in
空間396が切取り試片380aの下に作られて、ボッティング材料がメッキ3 98と一様に接触するのを確実にするように切取シ試片3g0aのまわりと下に 流れることができるようにする。代シの方法としては、空洞を棚の甲に作ってボ ッティング材料を切取り試片の下に受入れる。A space 396 is created below the coupon 380a so that the botting material can be plated 3. 98 around and below specimen 3g0a to ensure uniform contact with specimen 3g0a. Allow it to flow. An alternative method is to make a cavity in the top of the shelf and The cutting material is received under the coupon.
本発明による研削組立体を、角度のついた表面をもっており−その表面に対して 異なる研削面が望まれる物体などの切取り試片以外の物体を研削するのに使用で きる。例えば、上側表面に対して6の傾斜のついた下@1表面を有する6の楔の ような物体が本発明による6の角度がついた棚に載せられると、その上倶11表 面は研削表面の平面に平行になる。The grinding assembly according to the invention has an angled surface - with respect to the surface. Can be used to grind objects other than coupons, such as objects where a different grinding surface is desired. Wear. For example, a wedge of 6 with a bottom @1 surface sloped 6 to the top surface. When an object like this is placed on the 6 angled shelf according to the present invention, the 11 table The plane will be parallel to the plane of the grinding surface.
なお、研削深さは、開路の発生以外の電気的パラメータを監視することによって 制御できる。制御トラックの把持は、予め足めた大きさ以上に増加するのを監視 できる。誘電体で分離された二つの平行なトラックについては、それらのトラッ クのキャパシタンスが予め定めた大きさ以下に下がるのを監視できる。これらの パラメータはまた、研削の迷度または圧力を制御するのに利用できる。The grinding depth can be determined by monitoring electrical parameters other than the occurrence of open circuits. Can be controlled. Monitor control track grip as it increases beyond a preset amount can. For two parallel tracks separated by a dielectric, their The capacitance of the circuit can be monitored to see if it falls below a predetermined value. these Parameters can also be used to control grinding strayness or pressure.
本発明の特定の特徴をある図面には示し、他の図面には示さなかったが、これは 便宜上だけのものであシ、それは各特徴を本発明による他のすべての特徴と組合 せることができるからである。Certain features of the invention may be shown in some drawings and not in others; For convenience only, it is intended that each feature be combined with all other features according to the invention. This is because it can be done.
その地の実@例1は当粟者に思いつくであろうし、以下の請求の範囲に含まれて いる。The fruits of the land@Example 1 may occur to the person concerned and are included within the scope of the following claims. There is.
F/θ2 F/64 F/θ5B 7G 6 FIG 9 Rθ10B FIG、 // FIG /2 手 続 補 正 書 昭和63年9 月29日 特許庁長官 吉 1)文 毅 殿 (審査官 殿) 1、事件の表示 2、発明に)ioの名称、指定商品台牙分傾斜研削組立体 3、補正する者 事件との関係 特許出願人 ラボラトリ−・インコーホレーテッド。F/θ2 F/64 F/θ5B 7G 6 FIG 9 Rθ10B FIG, // FIG/2 Handbook Supplementary Book September 29, 1988 Yoshi, Commissioner of the Patent Office 1) Takeshi Moon (Mr. Examiner) 1.Display of the incident 2. Invention) io name, designated product: slanted grinding assembly 3. Person who corrects Relationship to the case: Patent applicant Laboratory Incorporated.
61.補正により増加する発明の数 0 発明請求の範囲 L 物体を予め定めた角度で予め定めた研削深さまで研削するもので、 少なくとも2本の導電リードと前記導電リードを相互接続する導電性制御トラッ クとを有する研削案内を担持している制御板と、 前記物体を支持する上面を有するとともに、前記制御板に対して予め定めた角度 で傾斜した研削面を前言ピ物体について確立し、前記゛物体の前記予め定めた研 削深さを前記制御トラックの後縁の一部分と位f[ヲ合せて、前記物体を傾斜研 削面に沿って前記予め定めた研削深さ1で研削するとき前記トラックが完全に研 削されるようにするために前記制御板に対して位置決めされた棚とを備えてなる 研削組立体。61. Number of inventions increased by amendment 0 Scope of invention claims L: Grinds an object at a predetermined angle to a predetermined grinding depth, at least two conductive leads and a conductive control track interconnecting said conductive leads; a control plate carrying a grinding guide having a has an upper surface that supports the object and has a predetermined angle with respect to the control plate; Establish an inclined grinding surface on the predetermined grinding surface of the object, Align the depth of cut with a portion of the trailing edge of the control track, and then grind the object at an angle. When grinding at the predetermined grinding depth 1 along the cutting surface, the track is completely ground. a shelf positioned relative to the control plate to allow the control plate to be cut; Grinding assembly.
a 棚および制仰板を互いに対して位置決め−J゛る手段をさらに備える請求の 範囲第1項に記載の傾斜研削組立体。a. The claimed invention further comprises means for positioning the shelf and the restraining plate relative to each other. An inclined grinding assembly according to scope 1.
5、 前記位置決めする手段が棚全制御板と位置を合せるように棚に係合するツ ーリングビン手段を受ける少なくとも二つのツーリングピン孔を備える請求の範 囲第2項に記載の顔料研削組立体。5. A tool that engages the shelf so that the positioning means aligns with the shelf full control board. Claims comprising at least two tooling pin holes for receiving tooling pin means. Pigment grinding assembly according to paragraph 2.
4、 前記位置決めする手段が棚?制御板に対して固着するブラケット手段を備 える請求の範囲第2項に記載の傾斜研削組立体。4. Is the positioning means a shelf? Provided with bracket means for securing to the control board. An inclined grinding assembly according to claim 2.
5. 前記制御トラックが前記制御板を貫通する通しメッキ孔を備える請求の範 囲第1項に記載の傾斜研削組立体。5. Claim: the control track comprises a through-plated hole passing through the control plate. An inclined grinding assembly according to paragraph 1.
範囲第1項に記載の傾斜研削組立体。An inclined grinding assembly according to scope 1.
接続し、他方の制御トラックの後縁に対して精密に配置されている後縁の少なく とも一部分金有する第2の制御トラックを備える請求の範囲第1項に記載の傾斜 研削組立体。the trailing edge that connects and is precisely positioned relative to the trailing edge of the other control track. An incline as claimed in claim 1, comprising a second control track having a portion of the metal. Grinding assembly.
定めた研削深さまで研削するもので、 前記切取り試片を支持する上面を有する棚と、少なくとも2本の導電リードと前 記導電リードを相互接続する1本の導電性制御トラックを有する研削案内を担持 する制御板と、 前記予め定めた角度で傾いた研削面を切取り試片に対して確立し、切取り試片の 前記予め定めた研削深さを制御トラックの一つの後縁の一部分と位置を合せ、切 取り試片を傾斜した研削面に沿って前記予め定めた研削深さを露出するために切 取り試片を前記予め定めた研削深さまで研削するときトラックが研削し尽される ように棚を制御?KJ仮に対して位置決めする手段と を具備してなる研削組立体。Grinds to a specified grinding depth. a shelf having an upper surface for supporting the coupon, at least two conductive leads and a front surface; Carrying a grinding guide with one conductive control track interconnecting the conductive leads a control board to Establishing a grinding surface inclined at the predetermined angle to the coupon, Align the predetermined grinding depth with a portion of the trailing edge of one of the control tracks and make the cut. Cut the sample along the inclined grinding surface to expose the predetermined grinding depth. When the specimen is ground to the predetermined grinding depth, the track is completely ground. how to control the shelf? Means for positioning with respect to KJ temporary A grinding assembly comprising:
内部に形成されている請求の範囲第8項に記載の傾斜研削組立体。9. The bevel grinding assembly of claim 8 formed therein.
立体。Three-dimensional.
国際調査報告international search report
Claims (21)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/023,821 US4748773A (en) | 1985-09-03 | 1987-03-09 | Biased grinding assembly |
US23821 | 1987-03-09 | ||
PCT/US1987/003421 WO1988006952A1 (en) | 1987-03-09 | 1987-12-24 | Biased grinding assembly |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01500255A true JPH01500255A (en) | 1989-02-02 |
JPH0649269B2 JPH0649269B2 (en) | 1994-06-29 |
Family
ID=21817392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63502711A Expired - Lifetime JPH0649269B2 (en) | 1987-03-09 | 1987-12-24 | Tilt grinding control device |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4748773A (en) |
EP (1) | EP0304472A4 (en) |
JP (1) | JPH0649269B2 (en) |
KR (1) | KR930004542B1 (en) |
CA (1) | CA1300889C (en) |
WO (1) | WO1988006952A1 (en) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE459484B (en) * | 1987-08-10 | 1989-07-10 | Tore Hesselgren | REGISTRATION OF HALL CENTER FOR CUTTING OF MOUNTER CARDS |
US4858479A (en) * | 1987-12-21 | 1989-08-22 | Struers A/S | Methods and means for use in examining the quality of plated-through holes in circuit boards |
US4895033A (en) * | 1987-12-21 | 1990-01-23 | Voss Jorgen T | Sample holder for use in the grinding or polishing of samples |
JP2613981B2 (en) * | 1991-03-11 | 1997-05-28 | 富山日本電気株式会社 | Inspection method of printed wiring board |
KR100392320B1 (en) * | 1996-06-24 | 2003-11-17 | 삼성전자주식회사 | Device for cleaning gold-plated terminal |
EP3982132A1 (en) * | 2020-10-12 | 2022-04-13 | AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft | Coupon for testing quality of related component carriers by automated quality test apparatus |
CN113079642B (en) * | 2021-03-10 | 2022-06-17 | 奥士康科技股份有限公司 | Manufacturing method for eliminating burrs of thick copper plate PTH half-hole |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5224404B1 (en) * | 1971-04-29 | 1977-07-01 | ||
JPS5229607B2 (en) * | 1972-01-01 | 1977-08-03 | ||
DE2812976C2 (en) * | 1978-03-23 | 1980-03-06 | Erich Ing.(Grad.) 3003 Ronnenberg Luther | Method for determining the offset between conductor tracks and contact holes in a circuit board and a circuit board for use in this method |
US4511942A (en) * | 1982-05-07 | 1985-04-16 | Computer & Communications Technology Corp. | Automatic throat height control for film heads |
US4477968A (en) * | 1982-09-30 | 1984-10-23 | Magnetic Peripherals Inc. | Method for using a machining sensor |
JPS60108267A (en) * | 1983-11-17 | 1985-06-13 | Sanyo Electric Co Ltd | Grinding device for film magnetic head |
US4648211A (en) * | 1985-09-03 | 1987-03-10 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Grinding guide and method for controlling the automatic grinding of objects |
-
1987
- 1987-03-09 US US07/023,821 patent/US4748773A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-18 CA CA000554781A patent/CA1300889C/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-24 KR KR1019880701422A patent/KR930004542B1/en not_active IP Right Cessation
- 1987-12-24 EP EP19880902760 patent/EP0304472A4/en not_active Withdrawn
- 1987-12-24 JP JP63502711A patent/JPH0649269B2/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-24 WO PCT/US1987/003421 patent/WO1988006952A1/en not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0649269B2 (en) | 1994-06-29 |
KR890700429A (en) | 1989-04-24 |
CA1300889C (en) | 1992-05-19 |
EP0304472A1 (en) | 1989-03-01 |
WO1988006952A1 (en) | 1988-09-22 |
KR930004542B1 (en) | 1993-06-01 |
EP0304472A4 (en) | 1991-12-18 |
US4748773A (en) | 1988-06-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH01500255A (en) | Inclined grinding control device | |
EP0662614A2 (en) | Printed circuit board test fixture and method | |
JPH01500982A (en) | Double-sided through-hole grinding guide for precision grinding of object surfaces | |
JPS62502526A (en) | automatic grinding machine | |
CN107356358A (en) | A kind of workpiece residual stress detection method that drilling is driven using ultrasonic wave | |
JPS62502527A (en) | Grinding guide and method to control automatic grinding of objects | |
EP3982133A1 (en) | Progress control of material removal from component carrier structure during quality test | |
CN107378022A (en) | A kind of drilling equipment for Blind Hole Method detection residual stress | |
JP2000218416A (en) | Boring method and device for printed circuit board | |
Raiser et al. | Solder joint reliability improvement using the cold ball pull metrology | |
KR102528957B1 (en) | The Repairing Method of Multilayer Test Board for Semiconductor Device | |
Nelson et al. | Meeting the Challenges of High Volume PCB Cross‐section Sample Preparation | |
CN113495122A (en) | Open circuit analysis method for flip product | |
JPH0149039B2 (en) | ||
KR101097156B1 (en) | A Method For Bonding Metal Rod To Sub PCB For Probe Card | |
JPH04506256A (en) | How to cut printed circuit boards | |
DE202006005237U1 (en) | Device for breaking of semiconductor disks or wafers has breaking wedge, tilted and aligned opposite to section of semiconductor disk for single semiconductor disk that is pre scratched in initial area of reference break line | |
Reiter et al. | Automatic target preparation of electronic and microelectronic components with the new TargetSystem | |
Nelson | Revealing the microstructure of materials | |
JP2004245686A (en) | Probe card and method for manufacturing the same | |
JPH07218572A (en) | Printed wiring board inspection apparatus |