JPH0147052B2 - - Google Patents

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JPH0147052B2
JPH0147052B2 JP16793483A JP16793483A JPH0147052B2 JP H0147052 B2 JPH0147052 B2 JP H0147052B2 JP 16793483 A JP16793483 A JP 16793483A JP 16793483 A JP16793483 A JP 16793483A JP H0147052 B2 JPH0147052 B2 JP H0147052B2
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JP
Japan
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pattern
signal
sensor array
information
code plate
Prior art date
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Application number
JP16793483A
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Japanese (ja)
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JPS6059824A (en
Inventor
Toshitsugu Ueda
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Publication of JPS6059824A publication Critical patent/JPS6059824A/en
Publication of JPH0147052B2 publication Critical patent/JPH0147052B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/22Analogue/digital converters pattern-reading type
    • H03M1/24Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、変位位置あるいは回転角度等の絶対
位置に関連した信号を出力するアブソリユート方
式のエンコーダに関するものである。更に詳しく
は、本発明は“1”,“0”の情報が周期的に配列
された2種の格子パターンを有したコード板と、
2種の格子パターンに対向設置された2組のセン
サとを備えたエンコーダに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical field to which the invention pertains] The present invention relates to an absolute type encoder that outputs a signal related to an absolute position such as a displacement position or a rotation angle. More specifically, the present invention provides a code board having two types of lattice patterns in which information of "1" and "0" is arranged periodically;
The present invention relates to an encoder equipped with two sets of sensors arranged oppositely in two types of lattice patterns.

〔従来技術の説明〕 従来より、“1”“0”の情報が周期的に配列し
た格子パターンで構成されるコードを有するコー
ド板と、格子パターンを検出する複数個のセンサ
とを備えたリニヤエンコーダあるいはロータリー
エンコーダは公知である。
[Description of Prior Art] Conventionally, a linear motor is equipped with a code plate having a code made up of a grid pattern in which information of "1" and "0" is arranged periodically, and a plurality of sensors for detecting the grid pattern. Encoders or rotary encoders are known.

しかしなが、従来公知のエンコーダにおいて
は、変位位置あるいは角度測定の最小測定限度が
格子パターンの細分化の限度によつて定められ、
高精度、高分解能化を図る上で限界があつた。
However, in conventionally known encoders, the minimum measurement limit for displacement position or angle measurement is determined by the subdivision limit of the grid pattern.
There were limits to achieving high precision and high resolution.

〔本発明の目的〕[Object of the present invention]

ここにおいて、本発明はアブソリユート方式で
あつて、高精度、高分解能のエンコーダを実現し
ようとするものである。
Here, the present invention is an absolute type encoder and aims to realize a high-precision, high-resolution encoder.

〔本発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明に係る装置は、“1”“0”の情報が周期
的に配列された第1の格子パターンと、この第1
の格子パターンの“1”,“0”の情報の配列ピツ
チとは僅かに異なつたピツチで“1”,“0”の情
報が周期的に配列する第2の格子パターンとを有
するコード板、第1の格子パターンを検出する第
1のセンサアレイ、第2の格子パターンを検出す
る第2のセンサアレイ、第1、第2のセンサアレ
イを駆動しこれらの各センサアレイから交番信号
を得る駆動手段、各センサアレイからの交番信号
及び駆動手段からの基準信号をそれぞれ入力し所
定の演算を行なつて絶対位置信号を出力する演算
回路で構成されている。
The device according to the present invention includes a first grid pattern in which information of “1” and “0” is arranged periodically;
a second lattice pattern in which "1" and "0" information are periodically arranged at a slightly different pitch from the arrangement pitch of "1" and "0" information in the lattice pattern; A first sensor array that detects the first lattice pattern, a second sensor array that detects the second lattice pattern, and a drive that drives the first and second sensor arrays to obtain alternating signals from each of these sensor arrays. and a calculation circuit that receives alternating signals from each sensor array and reference signals from the drive means, performs predetermined calculations, and outputs an absolute position signal.

〔実施例の説明〕 第1図は本発明に係る装置に用いられるコード
板の一例を示す構成説明図で、イは斜視図、ロは
側面図である。ここでは格子パターンを光学式と
したリニアエンコーダ用のものについて例示す
る。
[Description of Embodiments] FIG. 1 is a configuration explanatory diagram showing an example of a code plate used in an apparatus according to the present invention, in which A is a perspective view and B is a side view. Here, a linear encoder with an optical grating pattern will be exemplified.

これらの図において、コード板1には、透明、
不透明の“1”,“0”の情報がピツチP1で周期
的に配列する第1の格子パターン11と、同じく
透明、不透明の“1”,“0”の情報がピツチP1
とは僅かに異なるピツチP2で周期的に配列する
第2の格子パターン12とが設けられている。こ
の例では、長さLの範囲に、第1の格子パターン
は“1”,“0”の情報がピツチP1でN個、第2
の格子パターンは、“1”,“0”の情報がピツチ
P2(P1>P2)でN+1個配列するものについて示
す。21は第1のセンサアレイで、第1の格子パ
ターン11に近接して設置され、第1の格子パタ
ーンを検出する。22は第2のセンサアレイで、
第2の格子パターン12に近接して設置され、第
2の格子パターンを検出する。これら第1、第2
のセンサアレイ21,22は、それぞれピツチ
P3,P4で配列する複数個(この例では5個)の
ホトダイオードで構成されている。
In these figures, the code plate 1 includes transparent,
A first grid pattern 11 in which opaque "1" and "0" information is arranged periodically at pitch P 1 , and transparent and opaque "1" and "0" information is arranged periodically at pitch P 1.
A second grating pattern 12 is provided which is arranged periodically with a pitch P2 slightly different from that of the second grating pattern 12. In this example, in the range of length L, the first lattice pattern has N information of "1" and "0" with pitch P 1 , and the second
The lattice pattern is such that the information of “1” and “0” is pitched.
The case where N+1 pieces are arranged with P 2 (P 1 > P 2 ) is shown. A first sensor array 21 is installed close to the first grating pattern 11 and detects the first grating pattern. 22 is a second sensor array;
It is installed close to the second grating pattern 12 and detects the second grating pattern. These first and second
The sensor arrays 21 and 22 each have a pitch
It is composed of a plurality of photodiodes (five in this example) arranged in P 3 and P 4 .

コード板1には、前面から平行光が照射され、
格子パターンの透明部分を通つた光(縞模様の光
パターン)が各センサアレイ21,22の受光面
に照射される。ここで、例えばコード板1は、測
定すべき変位が与えられ、各センサアレイ21,
22に対して矢印a又は矢印b方向に相対的に移
動するもので、この移動に伴つて、各センサアレ
イ21,22上に照射される縞模様の光パターン
が移動する。
The code plate 1 is irradiated with parallel light from the front.
Light (striped light pattern) passing through the transparent portion of the lattice pattern is irradiated onto the light receiving surface of each sensor array 21, 22. Here, for example, the code plate 1 is given a displacement to be measured, and each sensor array 21,
22 in the direction of arrow a or arrow b, and along with this movement, the striped light pattern irradiated onto each sensor array 21, 22 moves.

第2図は、本発明に係る装置の電気的な接続図
である。この図において、21は第1のセンサア
レイ、22は第2のセンサアレイで、いずれも複
数個のシリコンフオトダイオード1,2,3…が
配列されて構成されている。31,32は第1、
第2のセンサアレイ21,22の各フオトダイオ
ードに接続された第1、第2のスイツチ回路、4
1,42は各スイツチ回路31,32の各スイツ
チを一定周期で順次オンとする第1、第2のスイ
ツチ駆動回路である。40は各種タイミング信号
を発生するタイミング回路、51は第1のスイツ
チ回路31を介して得られる信号を入力し、これ
を増幅、フイルタリングし、方形波に波形整形す
る第1の信号処理回路、52は第2のスイツチ回
路32を介して得られる信号を入力し、これを増
幅、フイルタリングし、方形波に波形整形する第
2の信号処理回路で、これらの各出力端からは、
各スイツチ回路31,32のスキヤン周期に対応
した周期を有する交番信号V1,V2がられる。す
なわち、格子パターンの透明部分を通つた光パタ
ーンが、例えばセンサアレイ内のフオトダイオー
ド1,2,3,4上に照射され(フオトダイオー
ド5〜8は暗くなつている)ているものとすれ
ば、これらに接続されるスイツチをオンに駆動し
ている間は、ハイレベルの信号が出力され、フオ
トダイオード5,6,7,8に接続されているス
イツチをオンに駆動する期間は、ローレベルの信
号が出力され、以後ハイレベルとローレベルの信
号がスイツチのスキヤン周期に応じて繰り返され
る交番信号となる。ここで、第1の格子パターン
と第2の格子パターンとは、あらかじめその配列
ピツチが僅かに異なつているので、各交番信号V
1,V2は僅かに位相差がある。そして、これら
の各交番信号は、光パターンの照射位置が移動す
れば、これと共にハイレベルになるタイミングが
共に変化することとなる。6は各信号処理回路5
1,52からの交番信号V1,V2及びタイミング
回路40からの基準交番信号VSを入力し、交番
信号V1とV2の位相角の差a、基準交番信号VS
交番信号V1又はV2との位相差iとを測定する位
相測定回路、7は位相測定回路6からの信号を入
力し、所定の演算を行なつて絶対変位位置に関連
した信号を得る演算回路、8は演算結果を表示す
る表示手段である。
FIG. 2 is an electrical connection diagram of the device according to the invention. In this figure, 21 is a first sensor array, and 22 is a second sensor array, both of which are constructed by arranging a plurality of silicon photodiodes 1, 2, 3, . . . . 31 and 32 are the first,
first and second switch circuits connected to each photodiode of the second sensor arrays 21 and 22;
Reference numerals 1 and 42 designate first and second switch drive circuits that sequentially turn on the switches of the switch circuits 31 and 32 at regular intervals. 40 is a timing circuit that generates various timing signals; 51 is a first signal processing circuit that inputs the signal obtained through the first switch circuit 31, amplifies and filters the signal, and shapes the waveform into a square wave; 52 is a second signal processing circuit which inputs the signal obtained through the second switch circuit 32, amplifies and filters the signal, and shapes the signal into a square wave; from each of these output terminals,
Alternating signals V 1 and V 2 having a period corresponding to the scan period of each switch circuit 31 and 32 are generated. In other words, suppose that a light pattern passing through the transparent part of the grid pattern is illuminated, for example, on photodiodes 1, 2, 3, and 4 in the sensor array (photodiodes 5 to 8 are dark). , while the switches connected to these photodiodes are turned on, a high level signal is output, and during the period when the switches connected to the photodiodes 5, 6, 7, and 8 are turned on, a low level signal is output. A signal is output, and thereafter becomes an alternating signal in which high-level and low-level signals are repeated in accordance with the scan period of the switch. Here, since the first lattice pattern and the second lattice pattern have slightly different arrangement pitches in advance, each alternating signal V
1 and V2 have a slight phase difference. If the irradiation position of the light pattern moves, the timing at which each of these alternating signals becomes high level changes together with this. 6 is each signal processing circuit 5
1 and 52 and the reference alternating signal V S from the timing circuit 40, the phase angle difference a between the alternating signals V 1 and V 2 , the reference alternating signal V S and the alternating signal V are input. 1 or V2 , and 7 is an arithmetic circuit that receives the signal from the phase measurement circuit 6 and performs a predetermined calculation to obtain a signal related to the absolute displacement position. is a display means for displaying the calculation results.

この様に構成した装置の動作を、次に第3図及
び第4図の波形図を参照しながら説明する。
The operation of the apparatus constructed in this manner will now be described with reference to the waveform diagrams of FIGS. 3 and 4.

はじめに、コード板1に設けられている第1の
格子パターン11の透明スリツトの数をna、第
2の格子パターン12の透明スリツトの数をnb
(na≠nb)とし、コード板1が変位位置を測定し
ようとする例えばテーブルに固定され、テーブル
とともに移動するものとする。いま、コード板1
の変位位置をXとし、各スイツチ回路31,32
を基準波信号VS=sinωtでスキヤンさせると、第
1、第2の信号処理回路51,52からは、(1)
式、(2)式に示すような信号Va,Vbを方形波とし
た信号V1,V2が得られる。
First, the number of transparent slits in the first lattice pattern 11 provided on the code plate 1 is na, and the number of transparent slits in the second lattice pattern 12 is nb.
(na≠nb), and assume that the code plate 1 is fixed to, for example, a table whose displacement position is to be measured, and moves together with the table. Now, code board 1
Let the displacement position of each switch circuit 31, 32 be X.
When scanned with the reference wave signal V S =sinωt, from the first and second signal processing circuits 51 and 52, (1)
Signals V 1 and V 2 are obtained by using the signals V a and V b as square waves as shown in equation (2).

Va=Va0sin(ωt+na2πX/L) (1) Vb=Vb0sin(ωt+nb2πX/L) (2) なお、(1)式、(2)式の様な信号が得られる点につ
いては、例えば「自動化技術」第13巻第7号P49
〜P54によつて公知の技術である。
V a = V a0 sin (ωt + na2πX/L) (1) V b = V b0 sin (ωt + nb2πX/L) (2) Regarding the points where signals like equations (1) and (2) are obtained, For example, “Automation Technology” Vol. 13 No. 7 P49
This is a technique known by P54.

第3図は、方形波整形した信号V1,V2,V3
信号波形を示す。
FIG. 3 shows the signal waveforms of the square wave shaped signals V 1 , V 2 and V 3 .

位相測定回路6は、交番信号V1(Va),V2(Vb
のそれぞれの位相角12を測定するとともに、
V1とV2の位相角の差aを測定する。ここで、1
2及びaは(3)式、(4)式及び(5)式で表わすことが
できる。
The phase measurement circuit 6 receives alternating signals V 1 (V a ), V 2 (V b )
In addition to measuring the phase angles 1 and 2 of
Measure the difference a between the phase angles of V 1 and V 2 . Here, 1 ,
2 and a can be expressed by formulas (3), (4), and (5).

1=na2πX/L (3) 2=nb2πX/L (4) a=(na−nb)・2πX/L (5) 第4図は、変位位置と12aの関係を示
す波形図である。なお、ここでは、na−nb=1
とする。
1 = na2πX/L (3) 2 = nb2πX/L (4) a = (na-nb)・2πX/L (5) Figure 4 is a waveform diagram showing the relationship between displacement position and 1 , 2 , and a . be. Note that here, na−nb=1
shall be.

これから明らかなように、V1とV2の位相相角
の差aは、絶対位置Xを代表しており、また、
1又は2は透明スリツト間での位置を代表して
いる。
As is clear from this, the difference a between the phase angles of V 1 and V 2 represents the absolute position X, and
1 or 2 represents the position between the transparent slits.

すなわち、位相角の差aを、2π/na(又は2π/
nb)で割算したものは、(6)式に示すようにある
整数jと透明スリツトのピツチP1(又はP2内での
位置Δを加えたものと等しくなる。
In other words, the phase angle difference a is 2π/na (or 2π/
nb) is equal to the sum of a certain integer j and the pitch Δ of the transparent slit within P 1 (or P 2 ) , as shown in equation (6).

a/2π/na=j+Δ (6) 従つて、変位位置Xは、(7)式で表すことがで
き、演算回路7は、(7)式の演算を行なうことによ
つて、絶対位置Xを表わす信号を求めることがで
きる。この演算結果は、表示器8に表示される。
a /2π/na=j+Δ (6) Therefore, the displacement position X can be expressed by equation (7), and the calculation circuit 7 calculates the absolute position The signal representing the signal can be determined. This calculation result is displayed on the display 8.

X=(j・2π/na+1)L/2π (7) ここで、(6)式において、Δが零付近の場合、整
数jの値が+1だけ変動する可能性がある。この
場合、1>πのときは、j−1を真値とし、1
<πのときはjを真値とするような演算を行なえ
ばよい。
X=(j·2π/na+ 1 )L/2π (7) Here, in equation (6), if Δ is around zero, the value of the integer j may vary by +1. In this case, when 1 > π, let j−1 be the true value, and 1
When <π, an operation that takes j as the true value may be performed.

第5図〜第8図は本発明に係る装置に用いられ
るコード板に形成する第1、第2の格子パターン
とセンサアレイの他の構成例を示す説明図であ
る。
FIGS. 5 to 8 are explanatory diagrams showing other configuration examples of the first and second lattice patterns formed on the code plate and the sensor array used in the apparatus according to the present invention.

第5図に示すものは、格子パターン11,12
において、“1”,“0”の情報をN,S,S,N
の着磁部を配列して形成し、また、センサアレイ
21,22として、着磁部からの磁束を検出する
ホール素子アレイを用いたものである。
What is shown in FIG. 5 is the grid pattern 11, 12.
, the information of “1” and “0” is N, S, S, N
It is formed by arranging magnetized parts, and uses Hall element arrays as the sensor arrays 21 and 22 to detect magnetic flux from the magnetized parts.

第6図に示すものは、格子パターン11,12
を、導体パターンの有無で“1”,“0”を表わす
ようにし、センサアレイ21,22を磁気誘導に
よる電圧信号を検出するようにしたコイルパター
ンとしたものである。
What is shown in FIG. 6 is the grid pattern 11, 12.
The sensor arrays 21 and 22 are coil patterns that are arranged to represent "1" and "0" depending on the presence or absence of the conductor pattern, and the sensor arrays 21 and 22 are designed to detect voltage signals caused by magnetic induction.

なお、第6図の例において、導体パターンを磁
性体材料とし、コイルパターンアレイによつてイ
ンダクタンス変化を検出するようにしてもよい。
In the example shown in FIG. 6, the conductor pattern may be made of a magnetic material, and the inductance change may be detected by a coil pattern array.

第7図に示すものは、格子パターン11,12
を導電性の平板にスリツトを形成したものとし、
センサアレイ21,22としては平板に対向する
電極アレイとしたもので、電極アレイの静電容量
変化を検出するようにしている。
What is shown in FIG. 7 is the grid pattern 11, 12.
Assume that slits are formed in a conductive flat plate,
The sensor arrays 21 and 22 are electrode arrays facing a flat plate, and are designed to detect changes in capacitance of the electrode arrays.

第8図に示すものは、格子パターン11,12
を導電性電極の有無で形成し、センサアレイ2
1,22としてはこの導電性電極に接触する接点
アレイとしたものである。
What is shown in FIG. 8 is the grid pattern 11, 12.
is formed with or without conductive electrodes, and the sensor array 2
1 and 22 are contact arrays that come into contact with this conductive electrode.

なお、上記の実施例では、第1、第2のスイツ
チ回路31,32を同一の周波数の基準信号でス
キヤンする場合について説明したが、第1、第2
のスイツチ回路31,32を異なる周波数信号
sin ωat,sinωbtでスキヤンさせるようにしても
よい。この場合、(1)式、(2)式及び(5)式は、それぞ
れ(8)式、(9)式、(10)式で表わすことができる。
In addition, in the above embodiment, the case where the first and second switch circuits 31 and 32 are scanned with the reference signal of the same frequency was explained, but the first and second switch circuits
The switch circuits 31 and 32 are connected to different frequency signals.
It is also possible to scan using sin ωat and sinωbt. In this case, equations (1), (2), and (5) can be represented by equations (8), (9), and (10), respectively.

Va=Va0sin(ωa・t+na2πX/L) (8) Vb=Vb0sin(ωb・t+nb2πX/L) (9) a=|ωa−ωb|t+(na−nb)2πX/L) (10) また、上記の実施例では格子パターンが直線状
に配列するリニアエンコーダ用のものについて示
したが、コード板を円板状とし、第1、第2の格
子パターンを円周に沿つて形成させ、ロータリエ
ンコーダ用としてもよい。この場合、絶対角度位
置を測定することができる。
V a = V a0 sin (ωa・t+na2πX/L) (8) V b =V b0 sin (ωb・t+nb2πX/L) (9) a = |ωa−ωb|t+(na−nb)2πX/L) ( 10) Furthermore, in the above embodiment, a linear encoder in which the grating pattern is arranged in a straight line is shown, but it is also possible to make the code plate disk-shaped and form the first and second grating patterns along the circumference. It may also be used for rotary encoders. In this case, absolute angular position can be measured.

また、上記の説明では第1、第2のセンサアレ
イにおいて、センサの配列ピツチP3,P4と、格
子パターンの“1”“0”の配列ピツチP1,P2
の関係については特に説明してないが、これら
は、P1=P3,P2=P4なる関係を含めて、3個以
上のセンサが配列して構成されるものであればど
のような関係でもよい。また、この第1、第2の
センサアレイとしては、本願発明者らが先に実願
昭58―31445号で提案したようなセンサアレイを
使用することもできる。
In addition, in the above explanation, in the first and second sensor arrays, the relationship between the sensor arrangement pitches P 3 and P 4 and the "1" and "0" arrangement pitches P 1 and P 2 of the grid pattern is particularly described. Although not explained, any relationship may be used as long as three or more sensors are arranged, including the relationship P 1 =P 3 and P 2 =P 4 . Furthermore, as the first and second sensor arrays, sensor arrays such as those previously proposed by the inventors of the present application in Utility Model Application No. 58-31445 can also be used.

〔本発明の効果〕[Effects of the present invention]

以上説明したように、本発明は、コード板とセ
ンサアレイとの間の相対的移動がない状態でも位
相角の差aが絶対位置を代表し、また、(7)式の
演算を行なうことによつて“1”“0”の配列ピ
ツチ内を内挿するものである。従つて、本発明に
よれば、アブソリユート方式であつて高精度、高
分解能のエンコーダを実現することができる。
As explained above, the present invention allows the phase angle difference a to represent the absolute position even when there is no relative movement between the code plate and the sensor array, and to perform the calculation of equation (7). Therefore, the inside of the array pitch of "1" and "0" is interpolated. Therefore, according to the present invention, it is possible to realize an absolute type encoder with high precision and high resolution.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る装置に用いられるコード
板の一例を示す構成説明図で、イは斜視図、ロは
側面図、第2図は本発明に係る装置の電気的接続
図、第3図及び第4図は動作を説明するための波
形図、第5図〜第8図は格子パターンとセンサア
レイの他の構成例を示す説明図である。 1…コード板、11,12…格子パターン、2
1,22…センサアレイ、31,32…スイツチ
回路、41,42…スイツチ駆動回路、6…位相
測定回路、7…演算回路。
1 is a configuration explanatory diagram showing an example of a code plate used in the device according to the present invention, A is a perspective view, B is a side view, FIG. 2 is an electrical connection diagram of the device according to the present invention, and FIG. 5 and 4 are waveform diagrams for explaining the operation, and FIGS. 5 to 8 are explanatory diagrams showing other configuration examples of the grating pattern and the sensor array. 1... Code board, 11, 12... Lattice pattern, 2
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 22... Sensor array, 31, 32... Switch circuit, 41, 42... Switch drive circuit, 6... Phase measuring circuit, 7... Arithmetic circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 “1”,“0”の情報が周期的に配列する第1
の格子パターンとこの第1の格子パターンの
“1”,“0”の情報の配列ピツチとは僅かに異な
つたピツチで“1”,“0”の情報が周期的に配列
する第2の格子パターンとを有するコード板、こ
のコード板と相対的に移動し前記第1の格子パタ
ーン及び前記第2の格子パターンをそれぞれ検出
する第1及び第2のセンサアレイ、これら第1、
第2のセンサアレイを駆動し各センサアレイから
交番信号を得る駆動回路手段、前記第1、第2の
センサアレイから得られる交番信号(V1,V2
及び前記駆動回路手段からの基準交番信号(VS
を入力しV1又はV2の位相角1又は2及びV1とV2
の位相角の差aを測定するとともにこれらを利
用して所定の演算を行ないアブソリユート方式の
位置信号を出力する回路手段を備えたエンコー
ダ。
1 The first one in which “1” and “0” information is arranged periodically
A second grid in which "1" and "0" information is periodically arranged at a pitch slightly different from that of the first grid pattern. a code plate having a pattern, first and second sensor arrays that move relative to the code plate and detect the first grating pattern and the second grating pattern, respectively;
drive circuit means for driving a second sensor array and obtaining alternating signals from each sensor array; alternating signals (V 1 , V 2 ) obtained from the first and second sensor arrays;
and a reference alternating signal (V S ) from said drive circuit means.
Enter the phase angle 1 or 2 of V 1 or V 2 and V 1 and V 2
An encoder equipped with circuit means that measures the phase angle difference a , performs predetermined calculations using these, and outputs an absolute position signal.
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