JPH0143397B2 - - Google Patents

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JPH0143397B2
JPH0143397B2 JP57119801A JP11980182A JPH0143397B2 JP H0143397 B2 JPH0143397 B2 JP H0143397B2 JP 57119801 A JP57119801 A JP 57119801A JP 11980182 A JP11980182 A JP 11980182A JP H0143397 B2 JPH0143397 B2 JP H0143397B2
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JP
Japan
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differential transistor
transistors
voltage
write
constant current
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JP57119801A
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Japanese (ja)
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Kenzo Matsumura
Yukio Kato
Masanori Odaka
Haruyuki Ikeo
Hideo Miwa
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Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
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Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
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    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

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  • Computer Hardware Design (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、バイポーラ型トランジスタで構成
されたスタテイツク型RAM(ランダム・アクセ
ス・メモリ)に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a static RAM (random access memory) composed of bipolar transistors.

この発明に先立つて、3値電圧によるバイポー
ラ型RAMの書込/読出方式が提案されている。
Prior to this invention, a bipolar RAM write/read method using three-value voltages was proposed.

この3値方式では、選択されたメモリセルのハ
イレベルVCH、ロウレベルVCLの記憶情報に対し
て、両者の中間電圧に設定された読出動作のため
の基準電位Vrefcと、書込動作のための上記ハイ
レベルVCHより高い電圧に設定された高レベル書
込電圧VWH及び上記ロウレベルVCLより低い電圧
に設定された低レベル書込電圧VWLとの3値電圧
が書込回路によつて形成されるものである。
In this three-value method, for the storage information of the high level V CH and low level V CL of the selected memory cell, a reference potential V refc for the read operation set to an intermediate voltage between the two and a reference potential V refc for the write operation are set to the intermediate voltage between the two. A ternary voltage with a high level write voltage V WH set to a voltage higher than the above high level V CH and a low level write voltage V WL set to a voltage lower than the above low level V CL is applied to the write circuit. This is how it is formed.

このような3値書込回路として、第1図に示す
ような回路が、この発明に先立つて考えられてい
る。
As such a three-value write circuit, a circuit as shown in FIG. 1 was considered prior to the present invention.

この回路では、共通エミツタに定電源I0がそれ
ぞれ設けられた2組の差動トランジスタQ1,Q2
及びQ3,Q4と、そのコレクタに設けられた抵抗
回路R1ないしR3とで3値電圧に形成し、エミツ
タフオロワ回路を通して、出力電圧V1,V2を得
るものである。
In this circuit, two sets of differential transistors Q 1 and Q 2 each have a constant power supply I 0 on their common emitters.
A three-value voltage is formed by Q 3 and Q 4 and resistor circuits R 1 to R 3 provided at their collectors, and output voltages V 1 and V 2 are obtained through an emitter follower circuit.

書込時には、基準電圧VBBに対して、一方の入
力信号DIN(又はIN)が書込データに従つてハイ
レベルとされるので、上記電圧VWH,VWLは、次
式(1)、(2)によつて求められる。
During writing, one input signal D IN (or IN ) is set to high level according to the write data with respect to the reference voltage V BB , so the voltages V WH and V WL are calculated by the following equation (1). , given by (2).

VWH=−2R1I0―VBE …(1) VWL=−2(R1+R2)I0―VBE …(2) また、読出時には、基準電圧VBBに対して、双
方の入力信号DININともロウレベルにされるの
で、上記電圧Vrefcは、次式(3)によつて求められ
る。
V WH = −2R 1 I 0 −V BE …(1) V WL =−2(R 1 +R 2 )I 0 −V BE …(2) Also, when reading , both Since both the input signals D IN and IN are set to low level, the voltage V refc is determined by the following equation (3).

Vrefc=−(2R1+R2)I0―VBE …(3) したがつて、第2図に実線によつて示すように
上記電圧Vrefcに対して、上記電圧VWL,VWLが上
下対称となつている。
V refc = - (2R 1 + R 2 ) I 0 - V BE (3) Therefore, as shown by the solid line in Fig. 2, the above voltages V WL and V WL are It is vertically symmetrical.

ここで、メモリセルへの高速書込みを実現する
ために、同図点線で示すように、低レベル書込電
圧VWLを大きくするために、抵抗R2,R3の抵抗
値を大きくし、抵抗R1の抵抗値を小さくすると、
高レベル書込電圧VWHも大きくなつてしまう。
Here, in order to realize high-speed writing to memory cells, the resistance values of resistors R 2 and R 3 are increased to increase the low-level write voltage V WL , as shown by the dotted line in the figure. When the resistance value of R 1 is decreased,
The high level write voltage V WH also increases.

上記高レベル書込電圧VWHが高くなると、出力
トランジスタQ8,Q9のベース電圧を上昇させて、
これらのトランジスタQ8,Q9及び、そのエミツ
タがデータ線D(又は)に結合され、上記出力
電圧V1(V2)を受けるメモリセル読出/書込トラ
ンジスタ(図示せず)を飽和させるため、メモリ
セルへのアクセスタイムの高速化を逆に遅くして
しまう。
When the high-level write voltage V WH increases, the base voltage of the output transistors Q 8 and Q 9 increases,
These transistors Q 8 , Q 9 and their emitters are coupled to data line D (or) to saturate a memory cell read/write transistor (not shown) receiving said output voltage V 1 (V 2 ). , it actually slows down the access time to the memory cells.

すなわち、書込から読出状態に移行するとき、
上記電圧VWHの立ち下りが大幅に遅れてしまうか
らである。
In other words, when transitioning from writing to reading state,
This is because the fall of the voltage VWH is significantly delayed.

この発明の目的は、高速動作化を図つたバイポ
ーラ型RAMを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a bipolar RAM that operates at high speed.

この発明の他の目的は、以下の説明及び図面か
ら明らかになるであろう。
Other objects of the invention will become apparent from the following description and drawings.

以下、この発明を実施例とともに詳細に説明す
る。
Hereinafter, this invention will be explained in detail together with examples.

第3図には、この発明の一実施例の回路図が示
されている。同図のRAMは、公知の半導体製造
方法によつて1つの半導体基板上において形成さ
れている。端子XA0ないしXAk,YA0ないし
YAl,DOUT,DIN,,及び−VEE,GNDは、
その外部端子とされる。
FIG. 3 shows a circuit diagram of an embodiment of the present invention. The RAM shown in the figure is formed on one semiconductor substrate by a known semiconductor manufacturing method. Terminals XA 0 to XA k , YA 0 to
YA l , D OUT , D IN , and −V EE , GND are
It is considered as its external terminal.

メモリセルは、その1つが具体的回路として示
されているように、特に制限されないが、そのベ
ース、コレクタ間が互に交差結線されたnpn駆動
トランジスタQ12,Q13と、そのコレクタにそれ
ぞれ設けられたpnp負荷トランジスタQ14,Q15
で構成されたフリツプフロツプが用いられる。上
記駆動トランジスタQ12,Q13は、特に制限され
ないが、マルチエミツタ構造とされ、一方のエミ
ツタが共通化されて保持電流Ioを形成する定電流
源(図示せず)に接続されている。上記トランジ
スタQ12,Q13の他方のエミツタは、それぞれ一
対のデータ(又はデイジツトと呼ばれる)線D0
D0に接続されている。
As one of the memory cells is shown as a specific circuit, the memory cell is composed of npn drive transistors Q 12 and Q 13 whose bases and collectors are cross-connected to each other, and each of which is connected to the collector, although it is not particularly limited. A flip-flop consisting of pnp load transistors Q 14 and Q 15 is used. The drive transistors Q 12 and Q 13 have a multi-emitter structure, although not particularly limited, and one emitter is shared and connected to a constant current source (not shown) that forms a holding current Io . The other emitters of the transistors Q 12 and Q 13 are connected to a pair of data (or called digit) lines D 0 and D 0 , respectively.
Connected to D 0 .

なお、上記トランジスタQ12,Q13は、ベース
及びコレクタが共通化された2つのトランジスタ
によりそれぞれ構成するものとしてもよい。
Note that the transistors Q 12 and Q 13 may each be constituted by two transistors having a common base and collector.

また、負荷トランジスタQ14,Q15は、抵抗と
クランプダイオードに置き換えるものとしてもよ
い。
Further, the load transistors Q 14 and Q 15 may be replaced with resistors and clamp diodes.

上記負荷トランジスタQ14,Q15の共通化され
たエミツタは、ワード線W0に接続されている。
The common emitters of the load transistors Q 14 and Q 15 are connected to the word line W 0 .

上記代表として示されているメモリセルを中心
として、横の行には、2l個の同様なメモリセルが
上記ワード線W0を共通として構成されている。
Centering around the memory cell shown as a representative, 2l similar memory cells are arranged in a horizontal row, using the word line W0 in common.

また、縦の列には、2k個の同様なメモリセル
が、データ線D00を共通として構成されてい
る。このような列、行に、2l+k個のメモリセルが
マトリツクス状に配置され、メモリアレイM―
ARYが構成される。
Further, in a vertical column, 2 k similar memory cells are configured with data lines D 0 and 0 in common. In such columns and rows, 2l +k memory cells are arranged in a matrix, forming a memory array M-
ARY is configured.

代表として示された上記ワード線W0,W2k
Xアドレスデコード信号X0,X2kを受けるワード
線駆動トランジスタQ16,Q17により、その選
択/非選択が行なわれる。これらのXアドレスデ
コード信号X0〜X2kは、Xアドレスデコーダによ
つて形成される。
The representative word lines W 0 and W 2k are selected/unselected by word line drive transistors Q 16 and Q 17 which receive the X address decode signals X 0 and X 2k . These X address decode signals X 0 to X 2k are formed by an X address decoder.

図示しない適当な回路装置から供給されるアド
レス信号は、アドレス入力端子XA0ないしXAk
を介してアドレスバツフアXB0ないしXBkに入力
されらる。アドレスバツフアXB0ないしXBkは、
入力アドレス信号に応じた相補アドレス信号を形
成して上記Xアドレスデコーダに伝えるので、こ
こで1つのワード線選択信号が形成される。
Address signals supplied from a suitable circuit device (not shown) are connected to address input terminals XA 0 to XA k
The address buffers XB 0 to XB k are entered through the address buffers XB 0 to XB k . The address buffer XB 0 to XB k is
Since a complementary address signal corresponding to the input address signal is formed and transmitted to the X address decoder, one word line selection signal is formed here.

代表として示された一対のデータ線D00
カラムスイツチとしてのトランジスタQ18,Q20
を介して、他のデータ線に対しても共通に設けら
れた定電流源IRに接続される。これらのトランジ
スタQ18,Q20のベースには、Yデコーダで形成
されたYデコード信号Y0が印加されている。
A pair of representative data lines D 0 , 0 are transistors Q 18 , Q 20 as column switches.
It is connected to a constant current source I R provided in common to other data lines as well. A Y decode signal Y 0 formed by a Y decoder is applied to the bases of these transistors Q 18 and Q 20 .

図示しない適当な回路装置から供給されるアド
レス信号は、アドレス入力端子YA0ないしYAl
介してアドレスバツフアYB0ないしYBlに入力さ
れる。上記アドレスバツフアYB0ないしYBlは、
入力アドレス信号に応じた相補アドレス信号を形
成して上記Yアドレスデコーダに伝えるので、こ
こで一対のワード線選択信号か形成される。
Address signals supplied from suitable circuit devices (not shown) are input to address buffers YB 0 to YB 1 via address input terminals YA 0 to YA 1 . The above address buffer YB 0 to YB l is
Since a complementary address signal corresponding to the input address signal is formed and transmitted to the Y address decoder, a pair of word line selection signals are also formed here.

この実施例では、特に制限されないが、非選択
時のデータ線に所定のバイアス電圧を与えるため
に、次の回路が設けられている。
In this embodiment, although not particularly limited, the following circuit is provided in order to apply a predetermined bias voltage to the data line when not selected.

コレクタが接地されたトランジスタQ21のベー
ス・コレクタ間には、直列形態とされたダイオー
ドD4と抵抗が設けられる。そして、直列ダイオ
ードと抵抗は、上記カラムスイツチトランジスタ
と同様なトランジスタQ19を介して上記同様な定
電流源IRに接続されている。また、上記トランジ
スタQ21のエミツタは、それぞれ一対のデータ線
D00に接続されている。このため、トランジ
スタQ21は、マルチエミツタ構造又はベース及び
コレクタが共通化された2つのトランジスタで構
成されている。
A diode D4 connected in series and a resistor are provided between the base and collector of the transistor Q21 whose collector is grounded. The series diode and resistor are connected to a constant current source IR similar to the above through a transistor Q19 similar to the column switch transistor. In addition, the emitters of the transistor Q 21 are connected to a pair of data lines, respectively.
Connected to D 0 , 0 . Therefore, the transistor Q21 has a multi-emitter structure or is composed of two transistors having a common base and collector.

また、上記一対のデータ線D00には、微小
定電流源が設けられている。すなわち、定電圧
VBを受けるトランジスタQ22,Q23とそのエミツ
タ抵抗とにより、常時微小定電流の吸い込みを行
なつているので、非選択時のデータ線電位は、約
ダイオードD4の順方向電圧VFとトランジスタQ21
のベース、エミツタ電圧VBEとを加えた電圧でバ
イアスされる。
Furthermore, a minute constant current source is provided in the pair of data lines D 0 and 0 . That is, constant voltage
Since the transistors Q 22 and Q 23 receiving V B and their emitter resistances constantly sink a small constant current, the data line potential when not selected is approximately equal to the forward voltage V F of diode D 4 . transistor Q 21
It is biased by the base and emitter voltage VBE .

メモリセルへの書込/読出のために、上記一対
のデータ線D00には、そのエミツタが結合さ
れた書込/読出しトランジスタQ10,Q11が設け
られている。これらのトランジスタQ10,Q11
コレクタ出力信号はセンスアンプSAの入力に伝
えられる。
For writing/reading to/from memory cells, the pair of data lines D 0 , 0 are provided with write/read transistors Q 10 , Q 11 whose emitters are coupled. The collector output signals of these transistors Q 10 and Q 11 are transmitted to the input of the sense amplifier SA.

特に制限されないが、このセンスアンプSAは
次の各回路素子により構成されている。
Although not particularly limited, this sense amplifier SA is composed of the following circuit elements.

定電流源を直列形態とされた抵抗R6で形成さ
れた定電圧を受けるトランジスタQ24,Q25のエ
ミツタに、上記トランジスタQ10,Q11のコレク
タが接続される。これらのトランジスタQ24
Q25のエミツタには、それぞれ定電流源が設けら
れ、そのコレクタにはそれぞれ抵抗R4,R5が設
けられている。そして、上記トランジスタQ24
Q25のコレクタ出力は、トランジスタQ26,Q27
と、そのエミツタに設けられたレベルシフトダイ
オードD1,D2及び定電流源とで構成されたエミ
ツタフオロワ回路に伝えられる。上記ダイオード
D1,D2を通した出力信号は、ECL回路で構成さ
れたデータ出力バツフアDOBに伝えられる。
The collectors of the transistors Q 10 and Q 11 are connected to the emitters of transistors Q 24 and Q 25 that receive a constant voltage formed by a resistor R 6 connected in series with a constant current source. These transistors Q 24 ,
The emitters of Q25 are each provided with a constant current source, and the collectors thereof are provided with resistors R4 and R5 , respectively. And the above transistor Q 24 ,
The collector output of Q 25 is the transistor Q 26 , Q 27
The signal is transmitted to an emitter follower circuit composed of level shift diodes D 1 and D 2 provided at the emitter and a constant current source. Above diode
The output signal through D 1 and D 2 is transmitted to a data output buffer DOB composed of an ECL circuit.

また、上記トランジスタQ10,Q11のベースに
は、書込回路WAの出力電圧V1,V2が印加され
る。
Furthermore, the output voltages V 1 and V 2 of the write circuit WA are applied to the bases of the transistors Q 10 and Q 11 .

上記書込回路WAは、同図に示すように次の各
回路素子によつて構成されている。
The write circuit WA is constituted by the following circuit elements as shown in the figure.

この実施例の書込回路は、特に制限されない
が、3組の差動トランジスタ回路によつて、3値
電圧が形成される。差動トランジスタQ1,Q2
びQ3,Q4の共通エミツタには、定電流源I0がそ
れぞれ設けられている。トランジスタQ1,Q3
びQ2,Q4のコレクタは、それぞれ共通化されて
いる。また、差動トランジスタQ5ないしQ7の共
通エミツタには、定電流源I0′が設けられている。
そして、上記トランジスタQ5,Q6のコレクタは、
上記トランジスタQ1,Q3及びQ2,Q4のコレクタ
ともそれぞれ共通化され、トランジスタQ7のコ
レクタは接地されている。
Although the write circuit of this embodiment is not particularly limited, a three-value voltage is formed by three sets of differential transistor circuits. A constant current source I 0 is provided at the common emitters of the differential transistors Q 1 , Q 2 and Q 3 , Q 4 . The collectors of transistors Q 1 , Q 3 and Q 2 , Q 4 are each shared. Furthermore, a constant current source I 0 ' is provided at the common emitters of the differential transistors Q 5 to Q 7 .
The collectors of the transistors Q 5 and Q 6 are
The collectors of the transistors Q 1 , Q 3 and Q 2 , Q 4 are also shared, respectively, and the collector of the transistor Q 7 is grounded.

抵抗R1は、その一端が接地され、他端に抵抗
R2,R3の一端が共通に接続されている。これら
の抵抗R2,R3の他端は、上記3組の差動トラン
ジスタの共通化されているコレクタにそれぞれ接
続されている。これらの抵抗R2,R3の抵抗値は
等しく設定されている。
The resistor R 1 has one end grounded and the other end connected to the resistor
One ends of R 2 and R 3 are commonly connected. The other ends of these resistors R 2 and R 3 are respectively connected to the common collectors of the three sets of differential transistors. The resistance values of these resistors R 2 and R 3 are set equal.

上記トランジスタQ2,Q3及びQ7のベースには、
基準電圧VBBが印加される。また、トランジスタ
Q1,Q6及びQ4,Q5のベースにはデータ入力バツ
フアDIBからの信号DININが印加される。上記
データ入力バツフアDIBは、外部端子DINからの
書込データと、制御回路CONTからの書込制御
信号′を受けて、例えば、第4図に示すよう
に、書込時に一方の信号DIN(又はIN)を上記基
準電圧VBBよりハイレベルにする。また、読出時
には、両信号DININとも基準電圧VBBよりロ
ウレベルにされる。
At the bases of the transistors Q 2 , Q 3 and Q 7 ,
A reference voltage V BB is applied. Also, transistor
Signals D IN and IN from the data input buffer DIB are applied to the bases of Q 1 , Q 6 and Q 4 and Q 5 . The data input buffer DIB receives the write data from the external terminal D IN and the write control signal ' from the control circuit CONT, and for example, as shown in FIG . (or IN ) to a higher level than the reference voltage VBB . Furthermore, during reading, both signals D IN and IN are set to a lower level than the reference voltage VBB.

上記差動回路のコレクタ出力は、トランジスタ
Q8,Q9と定電流源とで構成されたエミツタフオ
ロワ回路を介して、上記トランジスタQ10,Q11
のベースに伝えられる。
The collector output of the above differential circuit is a transistor
The above transistors Q 10 and Q 11 are connected to each other through an emitter follower circuit composed of Q 8 and Q 9 and a constant current source.
It is conveyed to the base of.

この実施例回路の書込回路WAでは、読出時に
おいて、新たに設けられた差動回路(Q5ないし
Q7)は、トランジスタQ7がオンするので定電流
I0′がこのトランジスタQ7に流れる。したがつて
読出し用の基準電圧Vrefcは、前記式(3)の通りに、
Vrefc=−(2R1+R2)I0―VBEとなる。
In the write circuit WA of this example circuit, a newly provided differential circuit (Q 5 or
Q 7 ) is a constant current because transistor Q 7 is turned on.
I 0 ′ flows through this transistor Q 7 . Therefore, the reference voltage V refc for reading is as shown in equation (3) above.
V refc = - (2R 1 + R 2 ) I 0 - V BE .

また、書込時には、基準電圧VBBに対して、一
方の入力信号DIN(又はIN)が書込データに従つ
てハイレベルとされるので、トランジスタQ5(又
はQ6)がオンして、定電流I0′を上記抵抗回路に
流すので、その書込電圧VWH,VWLは、次式(4)、
(5)によつて求められる。
Also, during writing, one input signal D IN (or IN ) is set to high level according to the write data with respect to the reference voltage V BB , so transistor Q 5 (or Q 6 ) is turned on. , a constant current I 0 ' is passed through the above resistance circuit, so the write voltages V WH , V WL are given by the following equation (4),
It is determined by (5).

例えば、DINがハイレベルならば、トランジス
タQ1,Q3及びQ6がオンするので、 VWH=−(2I0+I0′)R1―I0′R3―VBE …(4) VWL=−(2I0+I0′)R1―2I0R2―VBE …(5) のように求められる。
For example, if D IN is at a high level, transistors Q 1 , Q 3 and Q 6 are turned on, so V WH = - (2I 0 + I 0 ') R 1 - I 0 'R 3 - V BE ... (4) V WL = − (2I 0 + I 0 ′) R 1 −2I 0 R 2 − V BE …(5).

この実施例回路では、前記第1図の回路に比べ
て、上記定電流I0′を新たに加えたことによる抵
抗R1,R3の電圧降下分だけ、電圧VWHは、低く
抑えられ、上記抵抗R1の電圧降下分だけ電圧VWL
は低く(大きく)なるので、第4図に示すような
電圧Vrefcに対して非対称となる。
In this example circuit, compared to the circuit shown in FIG. 1, the voltage V WH is suppressed to a lower level by the voltage drop across the resistors R 1 and R 3 due to the new addition of the constant current I 0 '. The voltage V WL is equal to the voltage drop of the above resistor R 1 .
becomes low (large), so it becomes asymmetrical with respect to the voltage V refc as shown in FIG.

したがつて、上記低レベル書込電圧VWLにより
上記トランジスタQ10,Q11を強力にオフさせて
メモリセルへの高速書込が実現できる。一方、高
レベル書込電圧VWHは、必要最小に抑えられるの
で、トランジスタQ8,Q9及びQ10,Q11を飽和さ
せることがないから、書込後の読出し動作へ切り
換えが速くできる。これらにより、メモリアクセ
スの高速化を図ることができる。
Therefore, the transistors Q 10 and Q 11 are strongly turned off by the low-level write voltage V WL , thereby realizing high-speed writing to the memory cell. On the other hand, since the high-level write voltage V WH is suppressed to the necessary minimum, it does not saturate the transistors Q 8 , Q 9 and Q 10 , Q 11 , so that switching to the read operation after writing can be performed quickly. With these features, it is possible to speed up memory access.

上記書込回路WAにおいて、トランジスタQ5
Q6のコレクタを相互において逆に接続すれば、
上記書込電圧VWH,VWLは、次式(6)、(7)のように
設定することができる。
In the above write circuit WA, transistors Q 5 ,
If we connect the collectors of Q 6 inversely to each other, we get
The write voltages V WH and V WL can be set as shown in the following equations (6) and (7).

VWH=−(2I0+I0′)R1―VRE …(6) VWL=−(R1+R2)・(2I0+I0′)―VBE…(7) 上記いずれかの定電流I0′の加算方式を選ぶか
は、抵抗R1ないしR3の抵抗値、定電流値I0
I0′によつて、自由に決定できるものである。
V WH = −(2I 0 +I 0 ′)R 1 ―V RE …(6) V WL =−(R 1 +R 2 )・(2I 0 +I 0 ′)−V BE …(7) Any of the above The selection of the addition method for the current I 0 ' depends on the resistance values of the resistors R 1 to R 3 , the constant current value I 0 ,
It can be freely determined by I 0 ′.

第5A図には、上記書込回路WAの他の一実施
例が示されている。
FIG. 5A shows another embodiment of the write circuit WA.

この実施例では、差動トランジスタQ30ないし
Q32と、差動トランジスタQ33,Q34との組合せ
で、3値電圧が形成される。すなわち、第5B図
のように各電圧VR,,DININが設定されて
いるので、読出し時にはトランジスタQ30とQ33
がオンするので、電圧Vrefcは、−R1I0―R2I0/2
に設定される。一方、書込時には、トランジスタ
Q34がオンして、Q30,Q33がオフし、書込データ
に従つてトランジスタQ31又はQ32がオンするの
で、電圧VWH=−R1I0に設定され、電圧VWL=−
(R1+R2)I0に設定される。
In this example, the differential transistor Q 30 or
A three-value voltage is formed by the combination of Q 32 and differential transistors Q 33 and Q 34 . That is, since each voltage V R , D IN , IN is set as shown in FIG. 5B, the transistors Q 30 and Q 33 are
turns on, the voltage V refc is -R 1 I 0 - R 2 I 0 /2
is set to On the other hand, during writing, the transistor
Q 34 turns on, Q 30 and Q 33 turn off, and transistor Q 31 or Q 32 turns on according to the write data, so the voltage V WH = −R 1 I 0 is set, and the voltage V WL = −
(R 1 + R 2 ) I is set to 0 .

そして、前記同様に差動トランジスタQ5′ない
しQ7′により、書込時に選択的に定電流I0′が抵抗
回路に流れるので、その出力電圧V1,V2を前記
同様に読出し基準電圧Vrefcに対して非対称な電
圧を得ることができる。
Then, as described above, the constant current I 0 ' selectively flows through the resistor circuit during writing by the differential transistors Q 5 ' to Q 7 ', so the output voltages V 1 and V 2 are read out as the reference voltage as described above. It is possible to obtain a voltage asymmetric with respect to V refc .

このように、この発明の書込回路は読出し基準
電圧Vrefcに対して対称な3値電圧を形成する回
路に、上記選択的に定電流を加算する方式のもの
であれば、何んであつてもよい。
As described above, if the write circuit of the present invention is of the type that selectively adds a constant current as described above to a circuit that forms a symmetrical three-value voltage with respect to the read reference voltage V refc , then what is wrong with it? Good too.

この発明は、3値電圧により書込/読出しを行
なうバイポーラ型RAMに広く適用することがで
きる。
The present invention can be widely applied to bipolar RAMs that perform writing/reading using three-value voltages.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明に先立つて考えられている
書込回路の一例を示す回路図、第2図は、その動
作波形図、第3図は、この発明の一実施例を示す
バイポーラ型RAMの回路図、第4図は、その動
作を説明するための動作波形図、第5A図は、こ
の発明の他の一実施例を示す書込回路の回路図、
第5B図は、その入力タイミング図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a write circuit considered prior to the present invention, FIG. 2 is an operation waveform diagram thereof, and FIG. 3 is a bipolar type RAM showing an embodiment of the present invention. 4 is an operation waveform diagram for explaining its operation, and FIG. 5A is a circuit diagram of a write circuit showing another embodiment of the present invention.
FIG. 5B is an input timing diagram thereof.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 一端に基準電位が与えられる第1抵抗と、上
記第1抵抗の他端と第1出力点との間に設けられ
た第2抵抗と、上記第1抵抗の上記他端と第2出
力点との間に設けられた第3抵抗と、上記第1、
第2出力点に結合された電流切換手段とを備え、
上記電流切換手段は、読み出し動作において上記
第1、第2出力点の電位を上記第1ないし第3抵
抗の電圧降下によつて決まる基準電位にせしめる
ように上記第1、第2出力点にそれぞれ第1電流
を与え、書き込み動作時に上記第1、第2出力点
の一方を書き込みデータに対応したロウレベルに
せしめかつ他方をハイレベルにせしめるように上
記第1、第2出力点の一方に上記第1電流よりも
大きいレベルの第2電流を与えるようにされてな
ることを特徴とするバイポーラ型RAM。 2 上記電流切換手段は、読み出し動作時にその
一方がオンとされ書き込み動作時に相補入力信号
の一方によつて差動動作される第1差動トランジ
スタ対と、上記第1差動トランジスタ対の共通エ
ミツタに結合された定電流源と、読み出し動作時
にその一方がオンとされ書き込み動作時に上記相
補入力信号の他方によつて差動動作される第2差
動トランジスタ対と、上記第2差動トランジスタ
対の共通エミツタに結合された定電流源と、読み
出し動作時に両方ともオフとされ書き込み動作時
に相補入力信号によつて差動動作される第3差動
トランジスタ対と、上記第3差動トランジスタ対
の共通エミツタに結合された定電流源とを備えて
なり、上記第1、第2差動トランジスタ対によつ
て上記第1電流を決定するようになし、かつ上記
第2電流を決定するように成してなることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のバイポーラ型
RAM。
[Scope of Claims] 1. A first resistor to which a reference potential is applied to one end, a second resistor provided between the other end of the first resistor and a first output point, and the above other resistors of the first resistor. a third resistor provided between the end and the second output point;
current switching means coupled to the second output point;
The current switching means applies the electric potentials of the first and second output points respectively to the reference electric potential determined by the voltage drop of the first to third resistors in the read operation. A first current is applied to one of the first and second output points to make one of the first and second output points go to a low level corresponding to write data and the other to a high level during a write operation. A bipolar RAM, characterized in that it is adapted to provide a second current at a level greater than the first current. 2. The current switching means includes a first differential transistor pair, one of which is turned on during a read operation and differentially operated by one of the complementary input signals during a write operation, and a common emitter of the first differential transistor pair. a constant current source coupled to the constant current source; a second differential transistor pair, one of which is turned on during a read operation and differentially operated by the other of the complementary input signals during a write operation; and the second differential transistor pair. a constant current source coupled to a common emitter of the third differential transistor pair; a third differential transistor pair, both of which are turned off during a read operation and differentially operated by a complementary input signal during a write operation; a constant current source coupled to a common emitter, the first and second differential transistor pairs determining the first current and determining the second current. Bipolar type according to claim 1, characterized in that:
RAM.
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