JPH0131750B2 - - Google Patents

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JPH0131750B2
JPH0131750B2 JP56028459A JP2845981A JPH0131750B2 JP H0131750 B2 JPH0131750 B2 JP H0131750B2 JP 56028459 A JP56028459 A JP 56028459A JP 2845981 A JP2845981 A JP 2845981A JP H0131750 B2 JPH0131750 B2 JP H0131750B2
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JP
Japan
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sensor
output
sensors
dimensional
image information
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JP56028459A
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Japanese (ja)
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JPS57143979A (en
Inventor
Hitoshi Komatsu
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication of JPS57143979A publication Critical patent/JPS57143979A/en
Publication of JPH0131750B2 publication Critical patent/JPH0131750B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
    • H04N1/19Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
    • H04N1/195Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays the array comprising a two-dimensional array or a combination of two-dimensional arrays
    • H04N1/19505Scanning picture elements spaced apart from one another in at least one direction

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、シート上の文字や図形等の情報を入
力する情報入力制御方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an information input control method for inputting information such as characters and figures on a sheet.

光学的文字読取装置(OCR)が文字画像を入
力したり、フアクシミリ装置が伝装すべき原稿画
像を入力する場合、対象となるシートのサイズが
大きくなるに従つて、これらの装置に通常用いら
れている1次元半導体センサ(以下、単に「セン
サ」という。)1個では画素数が不足し、複数の
センサを組合せて用いる必要が生じる。これは、
半導体センサ自体の集積度が製造上限界を持つて
いることが主要な原因であるが、複数のセンサ
を、組合せて用いる場合、次のような問題が生じ
る。
When an optical character reader (OCR) inputs a character image or a facsimile device inputs a document image to be transmitted, as the size of the target sheet increases, A single one-dimensional semiconductor sensor (hereinafter simply referred to as a "sensor") does not have enough pixels, and it becomes necessary to use a combination of multiple sensors. this is,
The main cause is that the degree of integration of the semiconductor sensor itself has a manufacturing limit, but when a plurality of sensors are used in combination, the following problems occur.

複数のセンサを組合せて画像を入力する場合、
それぞれのセンサが入力する画像の連続性が問題
となる。図を用いて説明すると、例えば第1図に
示す如き2個のセンサを用いる場合、シート1上
に直線ACなる画像があり、これをセンサ(1)2、
センサ(2)3により入力するものとすると、シート
1が置かれる基準板(図示してない)に対して上
記各センサの受光素子が正しく位置付けされてい
ないと、上記センサの出力は第2図に示す如く、
連続性を欠いたものとなる。第2図は上記センサ
(1)2、センサ(2)3から得られたビデオ信号を2値
化し、1走査ごとにメモリに書き込んだ状態を説
明するための図で、メモリ(1)4がセンサ(1)2の出
力内容を示し、メモリ(2)5がセンサ(2)3の出力内
容を示している。なお、第1図における直線AC
上の点Bが、センサ(1)2、センサ(2)3によりサン
プリングされて、それぞれ対応するメモリ上で
B1およびB2の隣接2画素に分解され、画素B1
センサ(1)2の端、また画素B2がセンサ(2)3の端
に対応すべきものとする。従つて、第2図は現実
にはセンサの取付位置には誤差が存するため、こ
の図の如く例えば画素B1が水平方向にn1画素分、
B2がn2画素分ずれており、また垂直方向には相
対的l走査線分ずれることを示している。
When inputting images by combining multiple sensors,
The problem is the continuity of images input by each sensor. To explain using a diagram, for example, when using two sensors as shown in FIG. 1, there is an image of a straight line AC on the sheet 1, which is
Assuming that input is made by sensors (2) 3, if the light receiving elements of each of the above sensors are not positioned correctly with respect to the reference plate (not shown) on which the sheet 1 is placed, the output of the above sensors will be as shown in Figure 2. As shown in
This results in a lack of continuity. Figure 2 shows the above sensor
(1)2, This is a diagram to explain the state in which the video signal obtained from sensor (2)3 is binarized and written to the memory for each scan, and memory (1)4 is the one for sensor (1)2. The memory (2) 5 shows the output contents of the sensor (2) 3. In addition, the straight line AC in Figure 1
Point B above is sampled by sensor (1) 2 and sensor (2) 3 and stored in the corresponding memory.
It is assumed that the image is decomposed into two adjacent pixels, B 1 and B 2 , with pixel B 1 corresponding to the edge of sensor (1) 2 and pixel B 2 corresponding to the edge of sensor (2) 3. Therefore, as shown in Fig. 2, there is actually an error in the mounting position of the sensor, so as shown in this figure, for example, pixel B 1 is spaced by n 1 pixels in the horizontal direction.
This indicates that B 2 is shifted by n 2 pixels, and is also shifted by a relative l scanning line in the vertical direction.

従来、上述の如き画像のずれを解消するには、
センサの取付部に少くとも2次元的に微調整可能
な調整機構を設けて、センサの出力信号を観測し
ながら位置調整を行ない、調整完了後センサを固
定するという方法が採用されていた。しかし、こ
の方法には、第1に調整が困難で時間が長くかか
り、しかも精度に限界があるという欠点があり、
第2にはこのようにしてセンサの位置を調整し固
定しても、経年変化によりセンサを支承する基材
が変形する等の理由で、センサ位置に変化が生じ
複数のセンサ間の画像情報の連続性が失われてし
まうという欠点があつた。
Conventionally, in order to eliminate the image shift as described above,
A method has been adopted in which an adjustment mechanism that can be finely adjusted at least two-dimensionally is provided at the mounting part of the sensor, the position is adjusted while observing the output signal of the sensor, and the sensor is fixed after the adjustment is completed. However, this method has the following drawbacks: First, it is difficult to make adjustments, takes a long time, and has limited accuracy.
Second, even if the sensor position is adjusted and fixed in this way, the sensor position may change due to deformation of the base material that supports the sensor due to aging, etc., and the image information between multiple sensors may change. The drawback was that continuity was lost.

本発明の目的は、従来の画像情報入力装置の上
述の如き欠点を除去し、複数のセンサ間の画像情
報の連続性を高精度に維持し、経年変化等にも容
易に対応しうる画像情報入力装置を実現するため
の情報入力制御方法を提供することにある。
An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks of conventional image information input devices, maintain continuity of image information between multiple sensors with high precision, and provide image information that can easily cope with changes over time. An object of the present invention is to provide an information input control method for realizing an input device.

本発明の上記目的は、走査領域が部分的に重な
るように複数の一次元センサを配置し、一次元セ
ンサによりシート上の画像情報を走査して出力す
る画像情報入力方法において、一次元センサによ
つて重複して走査される重複部分に含まれるよう
に配置された所定のテストパターンを走査するこ
とによつて、一次元センサの走査線方向における
各一次元センサ間の重複して走査されるずれ幅、
及び、前記走査線方向と垂直な方向における前記
各一次元センサ間の走査線のずれ量をあらかじめ
算出して記憶する学習モードと、複数の一次元セ
ンサによつてシートを走査し、重複部分における
複数の一次元センサの出力から前記学習モードで
求めたずれ幅に応じて何れか1つの出力を選択
し、さらに、前記学習モードで求めたずれ量だけ
一次元センサの出力を遅延させることによつて一
次元センサの出力を補正する補正モードを設ける
ことによつて達成される。
The above object of the present invention is to provide an image information input method in which a plurality of one-dimensional sensors are arranged so that their scanning areas partially overlap, and the one-dimensional sensors scan and output image information on a sheet. By scanning a predetermined test pattern arranged so as to be included in the overlapped portion that is scanned in an overlapped manner, the overlap between each one-dimensional sensor in the scanning line direction of the one-dimensional sensor is scanned in an overlapping manner. deviation width,
and a learning mode in which the amount of deviation of the scanning line between the one-dimensional sensors in the direction perpendicular to the scanning line direction is calculated and stored in advance, and a learning mode in which the sheet is scanned by a plurality of one-dimensional sensors and the amount of deviation in the overlapping portion is calculated and stored in advance. By selecting one output from the outputs of the plurality of one-dimensional sensors according to the deviation width obtained in the learning mode, and further delaying the output of the one-dimensional sensor by the deviation amount obtained in the learning mode. This is achieved by providing a correction mode for correcting the output of the one-dimensional sensor.

以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説
明する。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

本発明の実施例は、画像情報入力装置における
光電変換部を2個のセンサで構成したものとして
示される。すなわち第1図に示した如く、2個の
センサ、センサ(1)2、センサ(2)3の出力をそれぞ
れアンプ(1)6、アンプ(2)7により増幅し、2値化
回路8,9で基本的には白黒の2値に量子化し、
補正回路10によるセンサ間のずれの補正を行な
うものである。
An embodiment of the present invention is shown in which a photoelectric conversion section in an image information input device is configured with two sensors. That is, as shown in FIG. 1, the outputs of the two sensors, sensor (1) 2 and sensor (2) 3, are amplified by amplifier (1) 6 and amplifier (2) 7, respectively, and then converted to binarization circuit 8, 9 basically quantizes it into black and white binary values,
The correction circuit 10 corrects the deviation between the sensors.

まず、前記学習モードにおけるセンサ位置誤差
の検出を行なう手順を示す。学習用のテストパタ
ーンとして、テストシート12上の黒い直線状の
テストパターン11を、その端部が前記センサ(1)
2、センサ(2)3の重複部分に位置するようにセツ
トする。センサ(1)2により得られる画像は第4図
aに示す如くなり直線状パターン11の右上端部
Pの画素位置X1,Y1、すなわち第Y1走査目の第
X1画素を検出する。同様にして、センサ(2)3の
画素出力は第4図bに示す如く、直線状パターン
11の右上端部P′(前記第4図aの点Pに対応す
る。)の画素位置X2,Y2を検出する。
First, a procedure for detecting a sensor position error in the learning mode will be described. As a test pattern for learning, a black linear test pattern 11 on a test sheet 12 is used, the end of which is connected to the sensor (1).
2. Set the sensor (2) so that it is located in the overlapping area of 3. The image obtained by the sensor ( 1 ) 2 is as shown in FIG .
Detect X 1 pixel. Similarly, the pixel output of the sensor (2) 3, as shown in FIG. 4b, is at the pixel position , Y 2 is detected.

この結果から、例えば、 Y1−Y2=l0 ならばセンサ(2)3側にl走査分遅延させるバツフ
アを持ち、更にセンサ(1)2の第1〜第X1画素を
有効画素として処理した後、前記l走査分遅延さ
れたセンサ(2)3の第X2+1画素以降を有効画素
として連結すれば、完全になめらかに連続した走
査画像が得られる。
From this result, for example, if Y 1 - Y 2 = l0, the sensor (2) 3 side has a buffer that delays l scans, and furthermore, the 1st to X 1st pixels of sensor (1) 2 are processed as valid pixels. After that, if the X 2 +1 pixel and subsequent pixels of the sensor (2) 3 delayed by the l scanning amount are connected as effective pixels, a completely smoothly continuous scanned image can be obtained.

次に、センサの出力画像から前記直線状パター
ンの右上端部を検出する手順について、更に具体
的に説明する。センサの出力を拡大して示すと、
センサまたはテストシートの傾きにより、前記直
線上パターンは右下がり(第5図a参照)または
右上がり(第5図b参照)となる。右上端部を検
出するには、何れの場合にも、各走査において黒
検出後、黒→白の変化点を検出し、その最右位置
を求めればよい。例えば第5図aではA,B,
C,Dと順次検出されるので、Dが右上端部と認
識され、また第5図bではA,B,…と順次検出
されAが右上端部と認識される。他のセンサにつ
いても全く同様の手順により直線状パターンの右
上端部位置を求めることができる。
Next, the procedure for detecting the upper right end of the linear pattern from the output image of the sensor will be described in more detail. An enlarged view of the sensor output is shown below.
Depending on the inclination of the sensor or the test sheet, the linear pattern will be downward to the right (see FIG. 5a) or upward to the right (see FIG. 5b). In order to detect the upper right end, in any case, after detecting black in each scan, it is sufficient to detect the point of change from black to white and find its rightmost position. For example, in Figure 5a, A, B,
Since C and D are detected sequentially, D is recognized as the upper right edge, and in FIG. 5b, A, B, . . . are detected sequentially and A is recognized as the upper right edge. The position of the upper right end of the linear pattern can be determined for other sensors using exactly the same procedure.

第6図に上述の手順を実行する装置の具体例を
示す。センサ(1)2から得られる2値化信号(1)21
はフリツプフロツプ22のセツト側に入力し、走
査内に黒の画素が存在すると該フリツプフロツプ
22をセツトする。このフリツプフロツプ22
は、走査の先頭パルス23によつて各走査ごとに
リセツトされるものである。2値化信号(1)21
は、更に、インバータ24を通つてアンドゲート
25に入力し、前記フリツプフロツプ22がセツ
トされた状態(黒画素が出現した状態)で、白画
素が検出されるとフリツプフロツプ26をセツト
する。このセツト状態は、アンドゲート27を開
き、走査内に画素ごとに発生するXクロツク(1)2
8がカウンタ29をカウントアツプし、その出力
は各走査の終了時点で第4図aの1(X1の残り
の画素数)を示す。前記カウンタ29の出力は、
レジスタ30に記憶され、また比較回路31によ
り、今迄得られた最小の1と比較され、今回の
1の方が小さい場合には、上記比較回路31の
出力パルスがオアゲート32を通つてカウンタ2
9の出力、すなわち今回の1データをレジスタ
30に記憶する。こうして得られた最右点位置情
1データ33が後の補正処理においてパラメ
ータの1つとして使用される。
FIG. 6 shows a specific example of an apparatus for carrying out the above-described procedure. Binarized signal (1)21 obtained from sensor (1)2
is input to the set side of the flip-flop 22, and if a black pixel exists within the scan, the flip-flop 22 is set. This flip-flop 22
is reset for each scan by the first pulse 23 of the scan. Binarized signal (1) 21
is further input to an AND gate 25 through an inverter 24, and when a white pixel is detected with the flip-flop 22 set (a black pixel appears), a flip-flop 26 is set. This set state opens the AND gate 27 and generates the X clock (1) 2 for each pixel during scanning.
8 counts up the counter 29, and its output indicates 1 (remaining number of pixels of X 1 ) in FIG. 4a at the end of each scan. The output of the counter 29 is
It is stored in the register 30 and compared with the minimum 1 obtained so far by the comparator circuit 31. If the current X1 is smaller, the output pulse of the comparator circuit 31 passes through the OR gate 32 and is output to the counter. 2
The output of 9, that is, the current 1 data is stored in the register 30. The rightmost point position information 1 data 33 obtained in this way is used as one of the parameters in the subsequent correction process.

次に、第4図aのY1を求める手順につき説明
する。
Next, the procedure for determining Y1 in FIG. 4a will be explained.

各走査ごとに発生するYクロツク(1)34(前述
の走査の先頭パルス23と同一でもよい。)がカ
ウンタ35をカウントアツプする。一方、比較回
路31で1の新たな最小値が検出される度に、
比較回路31において発生する出力パルスはカウ
ンタ35をクリアし、Yクロツク(1)34によるカ
ウントをイニシヤライズさせることにより、第4
図aに示す1データがカウンタ35の出力とし
て残り、後の処理のため、減算回路36に入力さ
れる。
A Y clock (1) 34 (which may be the same as the first pulse 23 of the above-mentioned scan) generated for each scan causes a counter 35 to count up. On the other hand, each time the comparison circuit 31 detects a new minimum value of 1 ,
The output pulse generated in the comparison circuit 31 clears the counter 35 and initializes the count by the Y clock (1) 34.
One data shown in Figure a remains as the output of the counter 35 and is input to the subtraction circuit 36 for later processing.

上に述べた手順と全く同様にして、センサ(2)3
からの2値化信号(2)37についても処理が行なわ
れ、レジスタ46の出力として、第4図bに示す
2データが得られる。またカウンタ51の出力
として、2データが減算回路36に入力される。
こうして、減算回力36には、12データが
入力されるので、その出力52として符号つき
で、 21=l を出力することができる。
Using exactly the same procedure as described above, install sensor (2)3.
Processing is also performed on the binary signal (2) 37 from the register 46, and the X 2 data shown in FIG. 4b is obtained as the output of the register 46. Further, as the output of the counter 51, 2 data is input to the subtraction circuit 36.
In this way, since the 1 and 2 data are input to the subtraction circuit 36, it is possible to output 2-1 =l as the output 52 with a sign.

次に上で求めた12からX1,X2+1を演
算し、これとl(符号を含む)データより、セン
サ(1)2、センサ(2)3の出力である2値化信号を連
結する手順につき、第7図に基いて説明する。
Next , calculate X 1 , The procedure for connecting will be explained based on FIG.

前述の如くして求められたlデータ52は、デ
コーダ53によりデコードされ、センサ(1)2側、
センサ(2)3側に1つずつのデコード出力信号を発
生する。例えばl=+1であれば、Y1の方がY2
より1走査多いのでセンサ(2)3側を1走査遅らせ
るように、アンドゲート62の一方に前記デコー
ド出力を入力し、同時にセンサ(1)2側は遅延なし
を選択するようアンドゲート54の一方の入力と
して前記デコード出力を入力する。
The l data 52 obtained as described above is decoded by the decoder 53 and sent to the sensor (1) 2 side,
Generates one decoded output signal to each sensor (2) 3 side. For example, if l=+1, Y 1 is better than Y 2
Since the number of scans is one more, the decoded output is input to one of the AND gates 62 so as to delay the sensor (2) 3 side by one scan, and at the same time input the decoded output to one side of the AND gate 54 so that the sensor (1) 2 side selects no delay. The decoded output is input as an input.

センサ(1)2側の走査内の画素ごとに発生する前
記Xクロツク(1)28によりカウントアツプされる
カウンタ55の出力は、比較回路57により前記
X1データ56と比較され、前者が後者より大き
くない間、出力“1”が維持されるので、その間
アンドゲート58,59が開きXクロツク(1)28
がオアゲート60の、前記2値化信号(1)21がオ
アゲート68のそれぞれ一方の入力となり、Xク
ロツク61、2値化信号69の前半を構成する。
The output of the counter 55, which is counted up by the X clock (1) 28 generated for each pixel in the scan on the sensor (1) 2 side, is
It is compared with the X 1 data 56, and as long as the former is not greater than the latter, the output is maintained as "1", and during that time, the AND gates 58 and 59 are opened and the X clock (1) 28
is input to the OR gate 60, and the binary signal (1) 21 is input to one of the OR gates 68, forming the first half of the X clock 61 and the binary signal 69.

同様にして、センサ(2)3側では、前記Xクロツ
ク(2)44によりカウントアツプされるカウンタ6
4の出力と、前記X2データ64とが比較回路6
5により比較され、前者が後者より大きい間出力
“1”が維持される。これにより、アンドゲート
66,67が開きXクロツク(2)44がオアゲート
60の、前記2値化信号2がオアゲート68のそ
れぞれ一方に入力し、Xクロツク61、2値化信
号69の後半を構成する。
Similarly, on the sensor (2) 3 side, a counter 6 is incremented by the X clock (2) 44.
4 and the X 2 data 64 are sent to the comparison circuit 6.
5, and as long as the former is larger than the latter, the output "1" is maintained. As a result, the AND gates 66 and 67 are opened, and the X clock (2) 44 is input to one of the OR gates 60 and the binary signal 2 is input to one of the OR gates 68, forming the second half of the X clock 61 and the binary signal 69. do.

上述の如くして、学習モードにおいてセンサの
縦(Y)方向のずれの量l、センサの重複量のパ
ラメータX1,X2を検出し、次に補正処理におい
てこれらパラメータを用いて、2個のセンサの出
力をなめらかに連結することが可能となる。
As described above, in the learning mode, the amount of displacement l of the sensor in the vertical (Y) direction and the parameters X 1 and X 2 of the amount of sensor overlap are detected, and then in the correction process, these parameters are used to calculate the two This makes it possible to smoothly connect the outputs of two sensors.

上記実施例においては、学習モードにおけるパ
ラメータ検出を1回のパターン読取りで行なつて
いるが、これは複数回行なうことにより精度を上
げることができるのは明らかである。また、上記
実施例ではテストパターンとして直線状のものを
用いたが、他の形状のものを用いること、あるい
は特徴点の検出に他の検出論理を用いることが可
能なことも言うまでもない。
In the above embodiment, parameter detection in the learning mode is performed by reading the pattern once, but it is clear that the accuracy can be improved by performing this multiple times. Further, in the above embodiment, a linear test pattern was used, but it goes without saying that it is possible to use a test pattern of other shapes or to use other detection logic for detecting feature points.

更に、本実施例においては、センサ2個の連続
処理を例に挙げて説明したが、本発明は3個以上
のセンサの連続処理に適用できることも明らかで
ある。また、センサ出力の量子化も2値化に限ら
ず、更に多値レベルに量子化しても差支えないこ
とも申し添えておく。
Furthermore, although this embodiment has been described using an example of continuous processing of two sensors, it is clear that the present invention can also be applied to continuous processing of three or more sensors. It should also be noted that the quantization of the sensor output is not limited to binary quantization, and may be further quantized to a multilevel level.

以上述べた如く、本発明によれば、シート上の
文字、図形等の画像情報を入力する際に、1次元
の走査を複数の1次元センサによつて行なうよう
に構成された画像情報入力装置における情報入力
制御方法において、所定のテストパターンをその
特徴部が隣接するセンサの重複部分に含まれるよ
うに配置して、前記センサの画像情報出力の走査
線方向およびこれと垂直な方向におけるずれの量
を検出記憶する学習モードと、前記センサの画像
情報出力を所定走査数遅延させるバツフアと前記
センサの重複部分に対応する画像情報出力を除去
する手段とを用いて隣接する前記センサの画像情
報出力を補正する補正モードとから成る情報入力
制御方法により、前記複数のセンサ間の画像情報
の連続性を高精度に維持することができ、しかも
この機能は装置構成部材の経年変化にも容易に対
応しうるという顕著な効果を奏するものである。
As described above, according to the present invention, an image information input device configured to perform one-dimensional scanning using a plurality of one-dimensional sensors when inputting image information such as characters and figures on a sheet. In the information input control method, a predetermined test pattern is arranged so that its characteristic part is included in the overlapping part of adjacent sensors, and the deviation of the image information output of the sensor in the scanning line direction and in the direction perpendicular thereto is measured. Image information output of the adjacent sensor using a learning mode for detecting and storing the amount, a buffer for delaying the image information output of the sensor by a predetermined number of scans, and a means for removing image information output corresponding to the overlapping portion of the sensor. The information input control method, which consists of a correction mode that corrects This has the remarkable effect of making it possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は画像情報入力装置の基本的構成を示す
ブロツク図、第2図はその出力の1列を示す図、
第3図は本発明の一実施例の学習モードの説明
図、第4図a,bはその出力の詳細を示す図、第
5図a,bはテストパターンの右上端部を求める
手順を示す説明図、第6図、第7図はその具体的
装置を示すブロツク図である。 2,3:センサ、6,7:アンプ、8,9:2
値化回路、10:補正回路、11:テストパタ−
ン、21,37:2値化信号、22,38:フリ
ツプフロツプ、25,41:アンドゲート、2
6,42:フリツプフロツプ、27,43:アン
ドゲート、29,45:カウンタ、30,46:
レジスタ、31,47:比較回路、35,51:
カウンタ、36:減算回路、53:デコーダ、5
4,62:アンドゲート、55,63:カウン
タ、57,65:比較回路、58,59,66,
67:アンドゲート、60,68:オアゲート。
Fig. 1 is a block diagram showing the basic configuration of the image information input device, Fig. 2 is a diagram showing one row of its output,
FIG. 3 is an explanatory diagram of the learning mode according to an embodiment of the present invention, FIGS. 4 a and b are diagrams showing details of the output, and FIGS. 5 a and b are diagrams showing the procedure for determining the upper right end of the test pattern. The explanatory drawings, FIGS. 6 and 7, are block diagrams showing the specific apparatus. 2, 3: Sensor, 6, 7: Amplifier, 8, 9: 2
Value conversion circuit, 10: Correction circuit, 11: Test pattern
pin, 21, 37: binary signal, 22, 38: flip-flop, 25, 41: AND gate, 2
6, 42: Flip-flop, 27, 43: AND gate, 29, 45: Counter, 30, 46:
Register, 31, 47: Comparison circuit, 35, 51:
Counter, 36: Subtraction circuit, 53: Decoder, 5
4, 62: AND gate, 55, 63: Counter, 57, 65: Comparison circuit, 58, 59, 66,
67: AND gate, 60, 68: OR gate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 走査領域が部分的に重なるように複数の一次
元センサを配置し、該一次元センサによりシート
上の画像情報を走査して出力する画像情報入力方
法において、 前記一次元センサによつて重複して走査される
重複部分に含まれるように配置された所定のテス
トパターンを走査することによつて、前記一次元
センサの走査線方向における前記各一次元センサ
間の重複して走査されるずれ幅、及び、前記走査
線方向と垂直な方向における前記各一次元センサ
間の走査線のずれ量をあらかじめ算出するステツ
プと、 前記複数の一次元センサによつてシートを走査
し、前記重複部分における前記複数の一次元セン
サの出力から前記ずれ幅に応じて何れか1つの出
力を選択し、前記ずれ量だけ前記一次元センサの
出力を遅延させることによつて前記一次元センサ
の出力を補正するステツプと、を有することを特
徴とする情報入力制御方法。
[Scope of Claims] 1. An image information input method in which a plurality of one-dimensional sensors are arranged so that scanning areas partially overlap, and the one-dimensional sensors scan and output image information on a sheet, comprising: The overlap between the one-dimensional sensors in the scanning line direction of the one-dimensional sensors is determined by scanning a predetermined test pattern arranged so as to be included in the overlapping portion scanned by the sensors. scanning the sheet with the plurality of one-dimensional sensors; , selecting one output from the outputs of the plurality of one-dimensional sensors in the overlapping portion according to the deviation width, and delaying the output of the one-dimensional sensor by the deviation amount. An information input control method comprising: a step of correcting the output of the information input control method.
JP56028459A 1981-03-02 1981-03-02 Information input control system Granted JPS57143979A (en)

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