JPH01312485A - Electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer - Google Patents

Electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer

Info

Publication number
JPH01312485A
JPH01312485A JP14363288A JP14363288A JPH01312485A JP H01312485 A JPH01312485 A JP H01312485A JP 14363288 A JP14363288 A JP 14363288A JP 14363288 A JP14363288 A JP 14363288A JP H01312485 A JPH01312485 A JP H01312485A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
upper electrode
thin film
lower electrode
film
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14363288A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kohei Higuchi
行平 樋口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP14363288A priority Critical patent/JPH01312485A/en
Publication of JPH01312485A publication Critical patent/JPH01312485A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To increase the insulation breakdown strength of an interlayer insulating film and to form a highly sensitive element by forming a lower electrode, forming an upper electrode comprising a conductor thin film through an insulator thin film and a gas cell that is formed on a hole on said lower electrode, and providing a vibrating film for which the upper electrode is formed. CONSTITUTION:A hole 103 is provided in the surface of a semiconductor silicon substrate 101. A lower electrode 102 comprising a diffused layer is provided on the surface of the substrate 101. An insulator thin film 104 is formed on the lower electrode 102. A gas cell 107 is formed on the hole 3. An upper electrode 105 comprising a conductor thin film is formed through the thin film 104 and the gas cell 107. The upper electrode 105 is formed for a vibrating film 106. Thus, an electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer is formed. The upper electrode 105 and the substrate 101 are grounded. A signal source 301 to which a DC bias 303 is connected in parallel is connected to the n-type diffused layer 102 which is to become the lower electrode. As a result, insulation breakdown does not occur even if the DC bias voltage of 100V is applied, and the element can be obtained at the very excellent yield rate.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ロボットや各種産業機器に装備し、比較的近
い距離にある対象物体との間の距離を測定したり、ある
いはフェーズドアレイ処理による対象物の超音波距離信
号の映像化によりその太きさや形状を認識したりするた
めの新しい静電容量型超音波トランスデユー寸に関する
ものである。
Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention can be used to equip robots and various industrial equipment to measure the distance between objects that are relatively close to each other, or to use phased array processing to This invention relates to a new capacitive ultrasonic transducer for recognizing the thickness and shape of an object by visualizing its ultrasonic distance signal.

(従来の技術) 近年安価で高性能なマイクロコンピュータが普及し、そ
れらを用いることにより様々な産業分野で自動化あるい
はロボット化が進められつつある。しかし、現在実用化
されているロボット或は自動機器は、ある定まった形、
定まった大きさ、または定まった重さの物を持ち上げた
り運んだり、或は加工・組立等の作業を一定のプログラ
ムによってしか行うことができないのが現状である。
(Prior Art) In recent years, inexpensive and high-performance microcomputers have become widespread, and by using them, automation or robotization is progressing in various industrial fields. However, robots and automatic devices currently in practical use have a certain shape,
Currently, it is only possible to lift or carry objects of a certain size or weight, or to perform processing or assembly operations using a certain program.

一方、消費者層の多様化により、多品種少量生産の傾向
が強くなり、FMS(フレキシブルマニュフアクチアリ
ングシステム: Flexible Manufact
uringSystem)と呼ばれる自動化技術の開発
が叫ばれている。このような自動化の流れに於ては、ロ
ボット或は自動機械は、人間の感覚器に代わる様々なセ
ンサを装備し、それらの情報をもとに迅速で的確な行動
を行う必要がある。ロボットがある対象物を持ち上げる
ことを考えた場合、まず視覚センサにより対象物を見つ
け、次に近接覚センサにより対象物に近づき、最後に触
覚センサの情報をもとに対象物の硬さや握っている状態
を知り、対象物を落とさずに持ち上げる。これらのセン
サの中で近接覚センサは、視覚センサでは捕らえること
のできない近距離の距離情報を得るもので、超音波を利
用したものが測距精度から適していると考えられている
。従来、この種の超音波トランスデユーサとしてPZT
(チタン酸ジルコン酸鉛)等の圧電体の共振を利用した
ものが数多く市販されているが周波数特性が狭いという
欠点があった。また静電容量をの超音波トランスデユー
サとして例えば、特願昭60−289290号明細書或
は1986年に開催されたアイイーイーイー1986超
音波シンポジウム予稿集(IEEE 1986 Ult
rasonics SymposiumProceed
ing) 559頁から562頁、および1987年に
開催されたトランスデユーサ87ダイジエスト(Tra
nsducers ’87 Digest of Te
chnical Papers) 414頁から417
頁に記載された樋口、鈴木、谷用らの新しい提案がある
。第6図にその代表的な構造を示す。
On the other hand, due to the diversification of consumer groups, there is a strong tendency towards high-mix, low-volume production, and the FMS (Flexible Manufacturing System)
There is a call for the development of an automation technology called ``Uring System''. In this trend of automation, robots and automatic machines need to be equipped with various sensors to replace human sense organs, and to take quick and accurate actions based on the information. When a robot wants to pick up an object, it first finds the object using a visual sensor, then approaches the object using a proximity sensor, and finally uses information from a tactile sensor to determine the object's hardness and grip. Know where you are and pick up the object without dropping it. Among these sensors, proximity sensors obtain short-range distance information that cannot be captured by visual sensors, and those that use ultrasonic waves are considered suitable for distance measurement accuracy. Conventionally, PZT was used as this type of ultrasonic transducer.
There are many products on the market that utilize the resonance of piezoelectric materials such as lead zirconate titanate (lead zirconate titanate), but they have the drawback of narrow frequency characteristics. In addition, as an ultrasonic transducer using capacitance, for example, Japanese Patent Application No. 60-289290 or the proceedings of the IEEE 1986 Ultrasonic Symposium held in 1986 (IEEE 1986 Ult.
rasonics SymposiumProceed
ing) pages 559 to 562, and the Transducer 87 Digest held in 1987 (Tra
nsducers '87 Digest of Te
Chnical Papers) pages 414 to 417
There is a new proposal by Higuchi, Suzuki, Taniyo et al. described in the page. Figure 6 shows its typical structure.

図中101はシリコン基板、103はシリコンの異方性
エツチング法により形成する空気溜107を形成するた
めの穴であり、605がAI下部電極である。604は
CVDシリコン酸化膜、106はA1の蒸着膜で形成さ
れたAl上部電極105が設けられたポリエステル膜で
ある。その動作原理は、所謂コンデンサスピーカおよび
コンデンサマイクロフォンと類似の原理である。すなわ
ち、Al上部電極605とA1上部電極105の間に約
30Vの直流バイアスを与え、交流信号を加えるとポリ
エステル膜106が振動し、空気溜107に閉じ込めら
れた空気のバネ作用で空気中に超音波が送波され、一方
超音波が外部から入ってきたときはその圧力変化でポリ
エステル膜106が振動しAl上部電極105とAl上
部電極605で形成される一対のコンデンサの容量が変
化しその変化を電気信号に変えることで超音波信号の受
信が可能になるものである。
In the figure, 101 is a silicon substrate, 103 is a hole for forming an air pocket 107 formed by silicon anisotropic etching, and 605 is an AI lower electrode. 604 is a CVD silicon oxide film, and 106 is a polyester film provided with an Al upper electrode 105 formed of a vapor-deposited film of A1. Its operating principle is similar to that of so-called condenser speakers and condenser microphones. That is, when a DC bias of approximately 30V is applied between the Al upper electrode 605 and the A1 upper electrode 105 and an AC signal is applied, the polyester film 106 vibrates, and the spring action of the air trapped in the air reservoir 107 causes a superfluid to be released into the air. When a sound wave is transmitted and an ultrasonic wave enters from the outside, the polyester film 106 vibrates due to the pressure change, and the capacitance of the pair of capacitors formed by the Al upper electrode 105 and the Al upper electrode 605 changes. It is possible to receive ultrasonic signals by converting them into electrical signals.

(発明が解決しようとする課題) 以上、例を用いて従来の静電容量型超音波トランスデユ
ーサの説明を行った。この型の超音波トランスデユーサ
は増幅部や、信号処理部を同一シリコン基板上に形成で
き、かつシリコン表面上に精度よく形成された多数の穴
の大きさを変化させることにより周波数帯域を制御する
ことができるという優れた特徴を有している。
(Problems to be Solved by the Invention) The conventional capacitive ultrasonic transducer has been described above using an example. This type of ultrasonic transducer allows the amplification section and signal processing section to be formed on the same silicon substrate, and the frequency band can be controlled by changing the size of numerous holes precisely formed on the silicon surface. It has the excellent feature of being able to

しかしながら、第1に、この種のセンサは送波感度およ
び受波感度は直流バイアスに比例するが、第6図の60
4で示したCVDシリコン酸化膜の絶縁耐圧があまり良
くないため、大きな直流バイアスを印加することは不可
能であるという欠点を持つ。
However, first, the transmitting sensitivity and receiving sensitivity of this type of sensor are proportional to the DC bias, but
Since the dielectric strength of the CVD silicon oxide film shown in No. 4 is not very good, it has the disadvantage that it is impossible to apply a large DC bias.

第2にアレイ状にAl上部電極605を配置した場合、
A1下部電極605が存在する部分と存在しない部分と
で表面に段差が生じ図中の607で示すように隣接電極
間に小さな空気溜ができこの部分から発せられる超音波
が隣接電極間の影響を受けるため位相のクロストークを
生じる。従ってフェーズドアレイ処理を施して超音波に
よる対象物の距離画像再生を行おうとする場合、良質な
画像が得られないという欠点を持つ。ここでフェーズド
アレイ処理とはアレイを構成する各超音波トランスデユ
ーサから超音波を対象物に送波し、反射された超音波を
各トランスデユーサで受波して電気信号に変換しそれを
i尾延合成して距離画像を得ることである。
Second, when the Al upper electrodes 605 are arranged in an array,
There is a difference in the surface between the part where the A1 lower electrode 605 is present and the part where it is not present, and a small air pocket is created between the adjacent electrodes, as shown by 607 in the figure, and the ultrasonic waves emitted from this part are affected by the influence between the adjacent electrodes. phase crosstalk occurs. Therefore, when attempting to reproduce a distance image of an object using ultrasonic waves by performing phased array processing, there is a drawback that a high-quality image cannot be obtained. What is phased array processing? Ultrasonic waves are transmitted from each ultrasonic transducer that makes up the array to the target object, and each transducer receives the reflected ultrasonic waves and converts them into electrical signals. iOnobe synthesis to obtain a distance image.

本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除去し、高感度
でかつクロストークをおさえた超音波l・ランスデ、1
−サの新規な構造を提供することにある。
The object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the above-mentioned prior art and to provide an ultrasonic lancet with high sensitivity and suppressed crosstalk.
- To provide a new structure for the server.

(課題を解決するための手段) 本発明によれば、表面に穴を有する半導体基板の表面上
に設けられた拡散層からなる下部電極と、この下部電極
上に絶縁体薄膜及び前記の穴の上方に形成された気体溜
を介して、導電体薄膜よりなる上部電極が形成された振
動膜を備えたことを特徴とする静電容量型超音波トラン
スデユーサが得られる。
(Means for Solving the Problems) According to the present invention, there is provided a lower electrode consisting of a diffusion layer provided on the surface of a semiconductor substrate having a hole in the surface, an insulating thin film on the lower electrode, and an insulating layer formed on the hole. A capacitive ultrasonic transducer is obtained which is characterized in that it includes a vibrating membrane on which an upper electrode made of a conductive thin film is formed via a gas reservoir formed above.

更に本発明によれば、下部電極となる前記拡散層が複数
個アレイ状に設けられてアレイ電極となっている静電容
量型超音波トランスデユーサ、が得られる。
Further, according to the present invention, there is obtained a capacitive ultrasonic transducer in which a plurality of the diffusion layers serving as lower electrodes are provided in an array to serve as an array electrode.

(作用) 本発明の超音波トランスデユーサは、拡散層からなる形
成された下部電極を利用するため上部電極との層間絶縁
膜として、CVDシリコン酸化膜より絶縁耐圧がはるか
に優れたシリコン熱酸化膜を利用することが可能となり
、簡単な製造工程の変更のみで送波感度および受波感度
に優れた超音波トランスデユーサをつくることが出来る
。またCVD法で堆積した絶縁膜を使う場合でも堆積し
たあと熱処理ができるため絶縁耐圧が向上する。
(Function) Since the ultrasonic transducer of the present invention utilizes a lower electrode formed of a diffusion layer, thermal silicon oxide, which has a much higher dielectric strength than a CVD silicon oxide film, is used as an interlayer insulating film with the upper electrode. By making it possible to use membranes, it is possible to create ultrasonic transducers with excellent transmitting and receiving sensitivities by simply changing the manufacturing process. Further, even when using an insulating film deposited by the CVD method, the dielectric strength can be improved because heat treatment can be performed after the film is deposited.

また、本発明の構造による超音波トランスデユーサはそ
の表面が平坦であるため隣接する電極間に不必要な気体
溜を作ることがなく、従ってフェーズドアレイ処理によ
る対象物の超音波像を再生する際の位相のクロストーク
を小さくすることが出来る。
Furthermore, since the ultrasonic transducer with the structure of the present invention has a flat surface, unnecessary gas pockets are not created between adjacent electrodes, and therefore an ultrasonic image of an object can be reproduced by phased array processing. It is possible to reduce phase crosstalk.

(実施例) 第1図は第1の実施例を説明するための超音波素子の模
式的断面図である。図中101はp型で(100)面方
位のシリコン基板、102は下部電極となるべきn型拡
散層である。103は空気溜107を形成するための穴
である。104は層間絶縁膜としてのシリコン熱酸化膜
であり、106は片方の面にAl上部電極105が蒸着
されたポリエステル膜である。このポリエステル膜10
6が振動膜となる。
(Example) FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of an ultrasonic element for explaining a first example. In the figure, 101 is a p-type silicon substrate with (100) plane orientation, and 102 is an n-type diffusion layer to be a lower electrode. 103 is a hole for forming an air reservoir 107. 104 is a silicon thermal oxide film as an interlayer insulating film, and 106 is a polyester film with an Al upper electrode 105 deposited on one surface. This polyester film 10
6 is a vibrating membrane.

第1図の超音波トランスデユーサを得るための製造工程
を第2図(a)〜(d)に示す。まずp型で(ioo)
面方位のシリコン基板101の表面にシリコン熱酸化膜
110を形成し空気溜107を形成するための穴103
となるべき部分を開孔し、ヒドラジン液によりシリコン
の異方性エツチングを行う(第2図(a))。次に表面
のシリコン熱酸化膜110を除去し、穴103を含む部
分の基板表面にリンを拡散し高濃度のn型拡散層102
を形成する。次にシリコン熱酸化膜104を形成し上部
電極との層間絶縁膜とする(第2図(C))。その後裏
面にA1上部電極105が蒸着されたポリエステル膜1
06を張る(第2図(d))。
The manufacturing process for obtaining the ultrasonic transducer shown in FIG. 1 is shown in FIGS. 2(a) to 2(d). First, p-type (ioo)
A hole 103 for forming an air pocket 107 by forming a silicon thermal oxide film 110 on the surface of a silicon substrate 101 with a plane orientation.
A hole is made in the area where it should become, and the silicon is anisotropically etched using a hydrazine solution (FIG. 2(a)). Next, the silicon thermal oxide film 110 on the surface is removed, and phosphorus is diffused into the substrate surface in the portion including the hole 103 to form a highly concentrated n-type diffusion layer 103.
form. Next, a silicon thermal oxide film 104 is formed to serve as an interlayer insulating film with the upper electrode (FIG. 2(C)). Thereafter, a polyester film 1 with an A1 upper electrode 105 deposited on the back surface.
06 (Fig. 2(d)).

以上のようにして得られた超音波トランスデユーサを第
3図に示す回路により駆動し送波時の音圧を測定した。
The ultrasonic transducer obtained as described above was driven by the circuit shown in FIG. 3, and the sound pressure during wave transmission was measured.

つまりA1上部電極105とシリコン基板101を接地
し、直流バイアス303が並列に接続された信号源30
1を下部電極となるn型拡散層102に接続する。その
結果直流バイアス電圧を100V印加した時においても
絶縁破壊を起すことなく非常に歩留りよく素子を得るこ
とが出来た。
In other words, the signal source 30 has the A1 upper electrode 105 and the silicon substrate 101 grounded, and the DC bias 303 is connected in parallel.
1 is connected to the n-type diffusion layer 102 which becomes the lower electrode. As a result, even when a DC bias voltage of 100 V was applied, an element could be obtained with a very high yield without causing dielectric breakdown.

次に請求項2の発明の詳細な説明する。第4図にその模
式的断面図を示す。図中402がn型拡散層であり、こ
れがアレイ電極となる。製造方法は第1の実施例と同様
であるので省略する。なお本実施例で用いたn型拡散層
402によるアレイ電極は第5図に平面図で示すような
規則的に配置した矩形パターンである。このようにして
得られた素子を用いて対象物の超音波像を再生したとこ
ろ非常に良質な像が得られた。これはアレイ電極を拡散
層で形成したので第6図(従来例)の小さな空気溜60
7が生じるような段差がないことによる。
Next, the invention of claim 2 will be explained in detail. FIG. 4 shows a schematic sectional view thereof. In the figure, 402 is an n-type diffusion layer, which becomes an array electrode. The manufacturing method is the same as that of the first embodiment, so a description thereof will be omitted. The array electrode formed by the n-type diffusion layer 402 used in this embodiment has a regularly arranged rectangular pattern as shown in a plan view in FIG. When an ultrasonic image of an object was reproduced using the element thus obtained, an image of very good quality was obtained. This is because the array electrode is formed by a diffusion layer, so the small air pocket 60 in Fig. 6 (conventional example)
This is because there is no level difference that would cause 7.

なお前記2つの実施例では振動膜として裏面にAlが蒸
着されたポリエステル膜を用いたが他の高分子膜例えば
、ポリエチレン膜やポリイミツド膜等でも全く使用上の
問題はない。また単純に金属薄膜例えばチタンや金薄膜
あるいは他の金属がコートされたセラミックス薄膜例え
ば、アルミナあるいはシリコン窒化膜でもよい。更に前
記2つの実施例ではポリエステル膜106のAl上部電
極105が蒸着された側を基板側にして使用したが逆に
A1上部電極105が蒸着された側が表面側にくるよう
にしてもよい。また下部電極としてn型拡散層、基板と
してp型を利用したがこの導電型は反対でも良いのはい
うまでもない。また前記2つの実施例では107は空気
溜であるがこれはポリエステル膜106を空気中で張っ
たためであり、空気中に限らず窒素中、不活性ガス中等
で張ってもよいことは明白である。
In the above two embodiments, a polyester film with Al vapor-deposited on the back surface was used as the vibrating film, but other polymer films such as polyethylene film or polyimide film may be used without any problem. Alternatively, it may be simply a metal thin film, such as a titanium or gold thin film, or a ceramic thin film coated with another metal, such as an alumina or silicon nitride film. Further, in the above two embodiments, the side of the polyester film 106 on which the Al upper electrode 105 was deposited was used as the substrate side, but the side on which the Al upper electrode 105 was deposited may be placed on the front surface side. Further, although an n-type diffusion layer is used as the lower electrode and a p-type is used as the substrate, it goes without saying that the conductivity types may be opposite. Further, in the above two embodiments, 107 is an air pocket, but this is because the polyester membrane 106 is stretched in air, and it is clear that it can be stretched not only in air but also in nitrogen, inert gas, etc. .

(発明の効果) 以上説明してきたように、本発明による静電容景型超音
波トランスデユーサでは、従来技術の課題であった層間
絶縁膜の絶縁耐圧を上げ、高感度な素子を作ることが出
来しかも簡単な工程で作成できる。また、表面を平坦に
できるのでアレイ状に素子を形成した場合においてもク
ロスト−クラ小さくすることが出来た。
(Effects of the Invention) As explained above, in the electrostatic capacitive ultrasonic transducer according to the present invention, it is possible to increase the dielectric strength voltage of the interlayer insulating film and create a highly sensitive element, which was a problem in the conventional technology. It is possible to make it with a simple process. Furthermore, since the surface can be made flat, crosstalk can be reduced even when elements are formed in an array.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図、第2図は本発明の第1の実施例を示す図である
。第2図(a)から(d)がその製造工程の模式図であ
る。第3図は、このようにして得られた超音波トランス
デユーサを送波器として利用する場合の駆動回路図であ
る。第4図は本発明の第2の実施例を示す図である。第
5図は第4図における拡散層のアレイ電極パターンを示
す平面図である。第6図は従来の静電容量型超音波トラ
ンスデユーサの断面図である。 図中 101・・・シリコン基板   102.402・・・
n型拡散層104・・・シリコン熱酸化膜 105・・
・Al上部電極106・・・ポリエステル膜  107
・・・空気溜604・・・CVDシリコン酸化膜 605・・・AI下部電極    607・・・小さな
空気溜である。 特許出願人工業技術院長 飯塚幸三 享  1   図 1θ4.−、/I月ン與ル和彼<PJM102、72型
狐敬層 亭  Z  図 (b) (C) (d) * 3  図 3θ3.d匡ゴ茂バ°イア又 卆  4   図 402.72を瓜做冶 半   5   m 102.72型瓢致層 キ  b  図 107、  り;ごミ↓戸(う留 乙θ5.AI丁優ItF農叙
1 and 2 are diagrams showing a first embodiment of the present invention. FIGS. 2(a) to 2(d) are schematic diagrams of the manufacturing process. FIG. 3 is a driving circuit diagram when the ultrasonic transducer thus obtained is used as a transmitter. FIG. 4 is a diagram showing a second embodiment of the present invention. FIG. 5 is a plan view showing the array electrode pattern of the diffusion layer in FIG. 4. FIG. 6 is a sectional view of a conventional capacitive ultrasonic transducer. 101 in the figure...Silicon substrate 102.402...
N-type diffusion layer 104...Silicon thermal oxide film 105...
・Al upper electrode 106...polyester film 107
...Air reservoir 604...CVD silicon oxide film 605...AI lower electrode 607...Small air reservoir. Patent applicant: Director of the Agency of Industrial Science and Technology Kozo Iizuka 1 Figure 1θ4. -, /I month 與る和he <PJM102, 72 type fox Kei layer Z Figure (b) (C) (d) * 3 Figure 3θ3. d 匡GOMO BA°IA MATA 卆 4 Figure 402.72 as a 5 meter 102.72 type 瓢恚卆ki b Figure 107, ri; narrative

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)表面に穴を有する半導体基板の表面上に設けられ
た拡散層からなる下部電極と、この下部電極上に絶縁体
薄膜及び前記の穴の上方に形成された気体溜を介して、
導電体薄膜よりなる上部電極が形成された振動膜を備え
たことを特徴とする静電容量型超音波トランスデューサ
(1) Through a lower electrode consisting of a diffusion layer provided on the surface of a semiconductor substrate having a hole on the surface, an insulating thin film on the lower electrode, and a gas reservoir formed above the hole,
A capacitive ultrasonic transducer comprising a vibrating membrane on which an upper electrode made of a conductive thin film is formed.
(2)下部電極となる前記拡散層が複数個アレイ状に設
けられてアレイ電極となっている請求項1の静電容量型
超音波トランスデューサ。
(2) The capacitive ultrasonic transducer according to claim 1, wherein a plurality of said diffusion layers serving as lower electrodes are provided in an array to form an array electrode.
JP14363288A 1988-06-13 1988-06-13 Electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer Pending JPH01312485A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14363288A JPH01312485A (en) 1988-06-13 1988-06-13 Electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14363288A JPH01312485A (en) 1988-06-13 1988-06-13 Electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01312485A true JPH01312485A (en) 1989-12-18

Family

ID=15343273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14363288A Pending JPH01312485A (en) 1988-06-13 1988-06-13 Electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01312485A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004503312A (en) * 2000-06-15 2004-02-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Capacitive micromachined ultrasonic transducer
US7382688B2 (en) * 2004-06-18 2008-06-03 Seiko Epson Corporation Ultrasonic transducer, ultrasonic speaker, and method of controlling the driving of ultrasonic transducer
JP4987201B2 (en) * 1999-09-13 2012-07-25 カーネギー−メロン ユニバーシティ MEMS digital-acoustic transducer with error cancellation
JP2012521704A (en) * 2009-03-26 2012-09-13 ノルウェージャン ユニバーシティ オブ サイエンス アンド テクノロジー CMUT array
CN105158415A (en) * 2015-08-12 2015-12-16 浙江工商大学 Device and method for detecting concentration of toluene diisocyanate in laboratory
CN114379260A (en) * 2021-09-02 2022-04-22 苏州清听声学科技有限公司 Directional sound-emitting screen insulation bump silk-screen manufacturing method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61220600A (en) * 1985-03-26 1986-09-30 Nec Corp Ultrasonic wave sensor

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61220600A (en) * 1985-03-26 1986-09-30 Nec Corp Ultrasonic wave sensor

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4987201B2 (en) * 1999-09-13 2012-07-25 カーネギー−メロン ユニバーシティ MEMS digital-acoustic transducer with error cancellation
JP2004503312A (en) * 2000-06-15 2004-02-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Capacitive micromachined ultrasonic transducer
US7382688B2 (en) * 2004-06-18 2008-06-03 Seiko Epson Corporation Ultrasonic transducer, ultrasonic speaker, and method of controlling the driving of ultrasonic transducer
JP2012521704A (en) * 2009-03-26 2012-09-13 ノルウェージャン ユニバーシティ オブ サイエンス アンド テクノロジー CMUT array
CN105158415A (en) * 2015-08-12 2015-12-16 浙江工商大学 Device and method for detecting concentration of toluene diisocyanate in laboratory
CN114379260A (en) * 2021-09-02 2022-04-22 苏州清听声学科技有限公司 Directional sound-emitting screen insulation bump silk-screen manufacturing method
CN114379260B (en) * 2021-09-02 2023-09-26 苏州清听声学科技有限公司 Directional sound production screen insulation bump silk-screen printing method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Suzuki et al. A silicon electrostatic ultrasonic transducer
JP2557796B2 (en) Piezoelectric surface pressure input panel
US4885781A (en) Frequency-selective sound transducer
US11301077B2 (en) Piezoelectric sensing apparatus and applications thereof
JP4708671B2 (en) Sensor chip especially for fingerprint sensor
US7449821B2 (en) Piezoelectric micromachined ultrasonic transducer with air-backed cavities
US8014231B2 (en) Digital capacitive membrane transducer
US6323580B1 (en) Ferroic transducer
US20070041274A1 (en) Acoustic sensor
US10926999B2 (en) Microelectromechanical transducer
JPH0466828A (en) Surface pressure distribution detecting element
WO2009136196A2 (en) Mems transducers
CN106163410A (en) There is the probe of multiple sensor
US11331075B2 (en) Ultrasonic sensor and ultrasonic sensor device
EP0231596B1 (en) Electrostatic type atmospheric ultrasonic transducer
JPH01312485A (en) Electrostatic capacitor type ultrasonic wave transducer
CN107773271A (en) Ultrasonic device, ultrasonic module and ultrasonic measurement device
GB2459863A (en) MEMS ultrasonic transducer array
JPS63307326A (en) Pressure sensor and production thereof
JPS61253873A (en) Piezoelectric ceramic material
JPH0252599A (en) Ultrasonic transducer and its manufacture
JPH01312486A (en) Ultrasonic wave array transducer
JPH07121159B2 (en) Ultrasonic transducer
GB2459866A (en) MEMS transducers
WO2021217439A1 (en) Ultrasonic transducer, information acquisition element and electronic device