JPH01307287A - Variable-frequency light source - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、その出力光の周波数を可変出来る可変周波
数光源に関し、特に出力光の周波数を連続的に精度よく
可変する事が出来る可変周波数光源に関するものである
。[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a variable frequency light source that can vary the frequency of its output light, and particularly to a variable frequency light source that can continuously and precisely vary the frequency of its output light. It is related to.
く゛従来技術〉
半導体レーザは小型であり、かつ取扱が容易で信頼性が
高いので光源として広く用いられている。<Prior Art> Semiconductor lasers are widely used as light sources because they are small, easy to handle, and highly reliable.
しかしながら、半導体レーザはその出力光の周波数すな
わち波長を精度よく可変する事が困難であるという欠点
がある。この欠点を改良する為に出願人は、特願昭62
−25−6502号明細書において半導体レーザを用い
た可変波長光源を提案した。以下に第5図に基づいてこ
の可変波長光源を説明する。第5図において、杭長が安
定な半導体レーザ1の出力光は偏光ビームスプリッタ2
、ビームスプリッタ3を透過してファブリベロー干渉計
4に入射され、その透過光は偏光ビームスプリッタ5を
介して光検出器6に入射されてその光強度が検出される
。光検出器6の出力は発振器8の出力(周波数で、2)
を参照信号としてロックインアンプ7で同期整流され、
発振器8の出力と加算されて圧電素子9に印加され、フ
ァブリベロー干渉計4の半透鏡411.412の間隔が
制御される。一方、半導体レーザ10の出力光はレンズ
11で集束され、ビームスプリッタ12で2つに分岐さ
れてその反射光はこの可変波長光源の出力光として取り
出される。またその透過光は偏光ビームスプリッタ2で
反射されてファプリベロー干渉計4に入射され、偏光ビ
ームスプリッタ5により反射されて光検出器13に入射
される。半導体レーザ1の出力光は紙面方向に、半導体
レーザ10の出力光は紙面に垂直に偏光しているので、
偏光ビームスプリッタ2.5で合波、分離することが出
来る。光検出器13の出力はロックインアンプ14で発
振器8の出力Aを参照信号として同期整流されて半導体
レーザ10を制御する。また、カウンタ15にも入力さ
れてカウントされる。光検出器16には半導体レーザ1
と10の出力光の合波光が入射されてその強度が検出さ
れる。その出力はフィルタ17を介して検波回路18に
入力され、その出力はカウンタ15のリセット端子Rに
入力される。However, semiconductor lasers have a drawback in that it is difficult to vary the frequency, or wavelength, of their output light with high precision. In order to improve this drawback, the applicant filed a patent application in 1983.
In the specification of 25-6502, a variable wavelength light source using a semiconductor laser was proposed. This variable wavelength light source will be explained below based on FIG. In Fig. 5, the output light of the semiconductor laser 1 with a stable pile length is transmitted to the polarizing beam splitter 2.
The transmitted light passes through the beam splitter 3 and enters the Fabry-Bello interferometer 4, and the transmitted light passes through the polarizing beam splitter 5 and enters the photodetector 6, where its light intensity is detected. The output of the photodetector 6 is the output of the oscillator 8 (in frequency, 2)
is synchronously rectified by lock-in amplifier 7 as a reference signal,
It is added to the output of the oscillator 8 and applied to the piezoelectric element 9, and the interval between the semi-transparent mirrors 411 and 412 of the Fabry-Bero interferometer 4 is controlled. On the other hand, the output light of the semiconductor laser 10 is focused by a lens 11 and split into two by a beam splitter 12, and the reflected light is taken out as the output light of this variable wavelength light source. Further, the transmitted light is reflected by the polarizing beam splitter 2 and enters the Fabry Bellow interferometer 4, and is reflected by the polarizing beam splitter 5 and enters the photodetector 13. Since the output light of the semiconductor laser 1 is polarized in the direction of the page, and the output light of the semiconductor laser 10 is polarized perpendicular to the page,
Multiplexing and separation can be performed using a polarizing beam splitter 2.5. The output of the photodetector 13 is synchronously rectified by a lock-in amplifier 14 using the output A of the oscillator 8 as a reference signal to control the semiconductor laser 10. It is also input to the counter 15 and counted. The photodetector 16 includes a semiconductor laser 1
The combined light of the output lights of 1 and 10 is input, and its intensity is detected. The output is input to the detection circuit 18 via the filter 17, and the output is input to the reset terminal R of the counter 15.
この様な構成において、ファブリペロ−干渉計4はその
間隔に関連する特定の波長の光のみ透過させるので、光
検出器6の出力が最大になるようにファブリベロー干渉
計4の半透鏡411.412の間隔を圧電素子9で制御
することによりファブリベロー干渉計4の間隔を半導体
レーザ1の出力光の波長で校正することが出来る。また
、半導体レーザ10の出力光はファブリペロ−干渉計4
を透過し、その出力光強度が一定になるように半導体レ
ーザ10が制御されるので、その出力光はファブリベロ
ー干渉計4の透過光のピークの1つの極大値或いはその
肩に固定され、その波長を一定にすることが出来る。さ
らに、半導体レーザ10の周囲温度を変化させ、半導体
レーザ1と10の出力光の波長が一致したことを光検出
器16等により検出してカウンタ15をリセットし、光
検出器13に入射する光の強度が変化する回数を数える
ことにより、出力光の波長をファプリへロー干渉計4の
F S R(Free 5pectral Range
、’透過光のピークの間隔)のステップで正確に変化さ
せることが出来る。すなわち、半導体レーザ1の出力光
の波長をλ。、カウンタ15のカウント値をNとすると
、この可変波長光源の波長λは、C/λ=C/λo+N
*FSR
C:光速
で求められる。In such a configuration, since the Fabry-Perot interferometer 4 transmits only light of a specific wavelength related to its spacing, the semitransparent mirrors 411 and 412 of the Fabry-Perot interferometer 4 are adjusted so that the output of the photodetector 6 is maximized. By controlling the spacing with the piezoelectric element 9, the spacing of the Fabry-Bello interferometer 4 can be calibrated using the wavelength of the output light of the semiconductor laser 1. Furthermore, the output light of the semiconductor laser 10 is transmitted to a Fabry-Perot interferometer 4.
Since the semiconductor laser 10 is controlled so that the intensity of the output light is constant, the output light is fixed at the maximum value or the shoulder of one of the peaks of the transmitted light of the Fabry-Bérot interferometer 4. It is possible to keep the wavelength constant. Furthermore, the ambient temperature of the semiconductor laser 10 is changed, and the photodetector 16 or the like detects that the wavelengths of the output lights of the semiconductor lasers 1 and 10 match, and the counter 15 is reset. By counting the number of times the intensity of
, 'the interval between the peaks of transmitted light)'. That is, the wavelength of the output light of the semiconductor laser 1 is λ. , when the count value of the counter 15 is N, the wavelength λ of this variable wavelength light source is C/λ=C/λo+N
*FSR C: Determined at the speed of light.
〈発明が解決すべき課題〉
しかしながら、この様な可変波長光源は半導体レーザが
2個必要であり、かつその内の1個は出力光の周波数が
安定なものでなければならないために、構成が複雑にな
りかつ高価になるという課題があった。<Problem to be solved by the invention> However, such a tunable wavelength light source requires two semiconductor lasers, and one of them must have a stable output light frequency, so the configuration is difficult. The problem was that it was complicated and expensive.
また、出力光の波長はファブリベロー干渉計のFSRの
間隔で変化させることが出来るが、連続して変化させる
ことが出来ないという課題もあった。Another problem is that although the wavelength of the output light can be changed at intervals of the FSR of the Fabry-Bello interferometer, it cannot be changed continuously.
〈発明の目的〉
この発明の目的は、出力光の周波数を精度よく連続して
変化させることが出来る可変周波数光源を提供すること
にある。<Object of the Invention> An object of the invention is to provide a variable frequency light source that can continuously and accurately change the frequency of output light.
く課題を解決する為の手段〉
前記課題を解決するために本発明は、半導体レーザの出
力光を位相変調手段または周波数変調手段で高安定な発
振器の出力に基づいて位相変調または周波数変調し、そ
の位相変調または周波数変調した光を7アブリベロー干
渉計に入射して、その透過光強度を光検出手段で検出す
る。また第1の制御手段で前記半導体レーザの出力光の
周波数が前記ファブリペロ−干渉計の透過光強度のピー
クの1つに一致するように制御し、かつ第2の制御手段
で前記ファブリベロー干渉計のFSRを前記発振器の出
力に関連して制御するようにしたものである。Means for Solving the Problems> In order to solve the above problems, the present invention phase modulates or frequency modulates the output light of a semiconductor laser using a phase modulation means or a frequency modulation means based on the output of a highly stable oscillator, The phase-modulated or frequency-modulated light is incident on a seven-abbreviation interferometer, and the intensity of the transmitted light is detected by a photodetector. Further, the first control means controls the frequency of the output light of the semiconductor laser to match one of the peaks of the transmitted light intensity of the Fabry-Perot interferometer, and the second control means controls the frequency of the output light of the semiconductor laser to match one of the peaks of the transmitted light intensity of the Fabry-Perot interferometer. The FSR of the oscillator is controlled in relation to the output of the oscillator.
また、前記光検出手段の出力の変化の回数をカウンタに
より測定することによって前記ファブリペロ−干渉計の
透過光のピークの次数を求め、これにより前記半導体レ
ーザの出力光の周波数の絶対値を求めるようにしたもの
である。Further, the order of the peak of the transmitted light of the Fabry-Perot interferometer is determined by measuring the number of changes in the output of the light detecting means with a counter, and thereby the absolute value of the frequency of the output light of the semiconductor laser is determined. This is what I did.
〈実施例〉
第1図に本発明に係る可変周波数光源の一実施例を示す
、第1図において、20は半導体レーザであり、その出
力光はハーフミラ−21で2つに分岐されてその反射光
はこの可変周波数光源の出力光として外部に出力される
。22は位相変調手段であり、ハーフミラ−21を透過
した半導体レーザ20の出力光が入射される。23は高
安定な周波数信号を発生し、かつその周波数を変化させ
ることが出来る発振器であり、その出力(周波数で1)
は位相変調手段22に入力される0位相変調手段22は
例えばニオブ酸リチウム(LiNO3)の結晶で構成さ
れ、入射される光を発振器23の出力に基づいて位相変
調する。24はファプリベロー干渉計であり、位相変調
手段22の出力光が入射される。このファプリベロー干
渉計24は2つの半透M241.242から構成され、
また真空チャンバ25内に配置されている。従って、フ
ァブリペロ−干渉計24の周囲の屈折率は1になる。真
空チャンバ25はファブリペロ−干渉計24を真空中に
置くことにより屈折率の揺らぎによる誤差を防止する為
に用いる。26は圧電素子であり、半透鏡241.24
2の間隔を微少変化させる。27は光検出手段であり、
ファブリペロ−干渉計24の透過光が入射され、その光
強度を電気信号に変換する。28は第1の制御手段であ
り、ダブルバランスドミキサ281及び制御部282か
ら構成される。ダブルバランスドミキサ281には光検
出手段27の出力及び参照信号として発振器29の出力
A(周波数f2)が入力され、光検出手段27の出力を
この参照信号で同期検波する。このダブルバランスドミ
キサ281の出力は制御部282に入力され、比例積分
演算等により制御信号が演算される。この制御部282
の出力は半導体レーザ20に入力され、その注入電流が
制御される。30は第2の制御手段であり、ダブルバラ
ンスドミキサ301及び制御部302から構成されてい
る。ダブルバランスドミキサ301には光検出手段27
及び参照信号として発振器23の出力が入力され、光検
出手段27の出力をこの参照信号で同期検波する。制御
部302はこのダブルバランスドミキサ301の出力か
ら比例積分演算等により制御信号を演算する。31は加
算器であり、第2の制御手段30及び発振器29の出力
が入力され、これらの出力を熱器する。この加算された
出力は圧電素子26に入力される。<Embodiment> FIG. 1 shows an embodiment of a variable frequency light source according to the present invention. In FIG. 1, 20 is a semiconductor laser, the output light of which is split into two by a half mirror 21 and reflected The light is output to the outside as output light from this variable frequency light source. 22 is a phase modulation means, into which the output light of the semiconductor laser 20 that has passed through the half mirror 21 is incident. 23 is an oscillator that generates a highly stable frequency signal and can change its frequency, and its output (1 in frequency)
is input to the phase modulation means 22 The phase modulation means 22 is made of, for example, a crystal of lithium niobate (LiNO3), and phase-modulates the incident light based on the output of the oscillator 23. Reference numeral 24 denotes a Fapry Bellows interferometer, into which the output light of the phase modulation means 22 is incident. This Fabry Bellows interferometer 24 is composed of two semi-transparent M241.242,
Moreover, it is arranged within the vacuum chamber 25. Therefore, the refractive index around the Fabry-Perot interferometer 24 is 1. The vacuum chamber 25 is used to prevent errors due to fluctuations in the refractive index by placing the Fabry-Perot interferometer 24 in a vacuum. 26 is a piezoelectric element, and semi-transparent mirror 241.24
2. Change the interval slightly. 27 is a light detection means;
The transmitted light of the Fabry-Perot interferometer 24 is incident, and its light intensity is converted into an electrical signal. 28 is a first control means, which is composed of a double balanced mixer 281 and a control section 282. The output of the photodetector 27 and the output A (frequency f2) of the oscillator 29 are input as a reference signal to the double balanced mixer 281, and the output of the photodetector 27 is synchronously detected with this reference signal. The output of this double-balanced mixer 281 is input to a control section 282, and a control signal is calculated by proportional-integral calculation or the like. This control section 282
The output of is input to the semiconductor laser 20, and its injection current is controlled. 30 is a second control means, which is composed of a double balanced mixer 301 and a control section 302. The double balanced mixer 301 includes a light detection means 27.
The output of the oscillator 23 is inputted as a reference signal, and the output of the photodetector 27 is synchronously detected using this reference signal. The control unit 302 calculates a control signal from the output of the double-balanced mixer 301 by proportional-integral calculation or the like. Reference numeral 31 denotes an adder, into which the outputs of the second control means 30 and the oscillator 29 are input, and heats these outputs. This added output is input to the piezoelectric element 26.
32はカウンタであり、光検出手段27の出力が入力さ
れ、この出力の変化の回数を検出する。32 is a counter to which the output of the light detection means 27 is input, and detects the number of changes in this output.
次に、この実施例の動作を説明する。最初に位相変調手
段22を動作させないようにしておく。Next, the operation of this embodiment will be explained. First, the phase modulation means 22 is made not to operate.
加算器31には発振器29の出力が入力されているので
、半透鏡241.242の間隔は周波数f2で変化し、
ファブリペロ−干渉計24の透過光強度は周波数f2で
変調される0次に位相変調手段22を動作させる。第2
図(A)に示すように、第1の制御手段28により半導
体レーザ20の出力光の中心周波数f[はファプリベロ
ー干渉計24の透過光強度のピニクの1つにロックされ
るが、そのFMサイドバンドf、±f1はこのピークと
一致せず、±δだけずれる。サイドバンドをキャリヤの
両脇に1本ずつに限定し、かつ光検出手段27で2乗検
波するとすると、光検出手段27は光の周波数f、には
応答しないので、その信号出力l は、
I =a [−Jo 2(m) / 2+1G2(−
δ)+G (δ) ) J (m)/2+(G (
−δ)−G(δ) > Jo (m) Jl(m)
cos (2x f 12 (m)G(−δ)G(δ
)cos(4t ) J 1
πf1t)]
α :定数
m :変調指数
Jo:0次の第1種ベツ°セル関数
J1:1次の第1種ベッセル関数
で表わされる。Since the output of the oscillator 29 is input to the adder 31, the interval between the semi-transparent mirrors 241 and 242 changes with the frequency f2,
The transmitted light intensity of the Fabry-Perot interferometer 24 operates the zero-order phase modulation means 22 which is modulated at the frequency f2. Second
As shown in Figure (A), the first control means 28 locks the center frequency f of the output light of the semiconductor laser 20 to one of the peaks of the transmitted light intensity of the Fabry-Bello interferometer 24, but the FM side Bands f, ±f1 do not coincide with this peak and are shifted by ±δ. If the sidebands are limited to one on each side of the carrier and the photodetector 27 performs square-law detection, the photodetector 27 does not respond to the optical frequency f, so its signal output l is =a [-Jo 2(m) / 2+1G2(-
δ)+G (δ) ) J (m)/2+(G (
-δ)-G(δ) > Jo (m) Jl(m)
cos (2x f 12 (m)G(-δ)G(δ
) cos(4t ) J 1 πf1t)] α: Constant m: Modulation index Jo: 0th order Bessel function of the first kind J1: Represented by a first order Bessel function of the first kind.
この信号を周波数f、で同期検波すると、その出力V0
は、
vo=に1Jo (m)Jl (m)(G (−δ)−
G(δ))
=K(g (−δ)十g2(−δ)gl(δ)−g2
(δ))
で表わされる。但し、
K1:定数、
K=に1Jo (m)、11 (m)
であり、gl (δ)は入射光と同相成分の光のファ
プリベロー干渉計4の透過光量で第3図(A)に示す特
性を有する偶関数あり、K2(δ)は入射光と±π/2
シフトした光のファブリベロー干渉計4の透過光量で第
3図(B)に示す特性を有する奇関数ある。従って、
Vo = 2Kg2 (δ)
になり、δが微少であるとK2 (δ)はδに比例す
るので、ダブルバランスドミキサ301により光検出手
段27の出力を発振器23の出力で同期検波した出力■
。はδに比例する。従って、制御部302によりこのV
がゼロになるように圧電素子26を制御してファブリ
ベロー干渉計24の半透鏡の間隔を調整すると、第2図
(B)に示すようにファブリペロ−干渉計24のPSR
を周波数で1にすることが出来も0発振器23の出力周
波数は高安定なので、これによりF S Rを正確に一
定にすることが出来る。半導体レーザ20はファブリベ
ロー干渉計24の同じ透過光のピークに固定されるので
、その次数をmとすると、半導体レーザ20の出力光の
周波数f1は、
f =mf1 ・・・・・・・・・(1)[
となり、発振器23の周波t&で1を可変することによ
りその周波数を可変することが出来る。発振器23の出
力周波数は比較的低くできるので、その周波数を高安定
で可変することは比較的簡単に出来る。また、ハーフミ
ラ−21により位相変調器22で位相変調する前の光を
出力光としてとり出しているので、高純度の光が得られ
る。なお、電源を投入したときに半透鏡241.242
の間隔をゼロにしておき、あらかじめ設定された所定の
間隔まで徐々に変化させ、その時のファブリベロー干渉
計24の透過光強度ずなわち光検出手段27の出力の変
化の回数をカウンタ32で計測すると、透過光の強度は
半透fi241.242の間隔がλ/2(λ:光の波長
)変化するごとに変化するので、透過光のピークの次数
mを求めることが出来る6発振器23の出力周波数f1
を別の手段により求めることにより、前記(1)式から
出力光の周波数ftの絶対値を求めることが出来る。When this signal is synchronously detected at frequency f, the output V0
is vo=to1Jo (m)Jl (m)(G (-δ)-
G (δ)) = K (g (-δ) + g2 (-δ) gl (δ) - g2
(δ)). However, K1 is a constant, K=1Jo (m), 11 (m), and gl (δ) is the amount of light transmitted through the Fabry-Bello interferometer 4 of the in-phase component of the incident light, as shown in Figure 3 (A). There is an even function with the characteristic, K2 (δ) is ±π/2 with the incident light
The amount of transmitted light of the shifted light through the Fabry-Bello interferometer 4 is an odd function having the characteristics shown in FIG. 3(B). Therefore, Vo = 2Kg2 (δ), and if δ is very small, K2 (δ) is proportional to δ. Therefore, the output of the optical detection means 27 is synchronously detected with the output of the oscillator 23 by the double balanced mixer 301. ■
. is proportional to δ. Therefore, the control unit 302
By controlling the piezoelectric element 26 and adjusting the interval between the semitransparent mirrors of the Fabry-Perot interferometer 24 so that the PSR of the Fabry-Perot interferometer 24 becomes zero, as shown in FIG.
Since the output frequency of the 0 oscillator 23 is highly stable, FSR can be kept accurately constant. Since the semiconductor laser 20 is fixed at the same peak of the transmitted light of the Fabry-Bello interferometer 24, if its order is m, the frequency f1 of the output light of the semiconductor laser 20 is f = mf1... -(1) [The frequency can be varied by varying 1 with the frequency t& of the oscillator 23. Since the output frequency of the oscillator 23 can be made relatively low, it is relatively easy to vary the frequency with high stability. Furthermore, since the half mirror 21 extracts the light before being phase modulated by the phase modulator 22 as output light, highly pure light can be obtained. In addition, when the power is turned on, the semi-transparent mirror 241.242
The interval is set to zero and is gradually changed to a predetermined interval, and the number of changes in the transmitted light intensity of the Fabry-Bello interferometer 24, that is, the output of the light detection means 27 at that time, is measured by the counter 32. Then, the intensity of the transmitted light changes every time the interval between the semi-transparent fi 241 and 242 changes by λ/2 (λ: wavelength of light), so the order m of the peak of the transmitted light can be obtained from the output of the 6 oscillator 23. frequency f1
By determining by another means, the absolute value of the frequency ft of the output light can be determined from the above equation (1).
第3図に本発明の他の実施例を示す、この実施例はダブ
ルバランスドミキサ281に発振器23の出力を、ダブ
ルバランスドミキサ301に発振器29の出力を入力す
るようにしたものである。FIG. 3 shows another embodiment of the present invention. In this embodiment, the output of the oscillator 23 is input to a double-balanced mixer 281, and the output of the oscillator 29 is input to a double-balanced mixer 301.
このようにしても同様に構成できる。Even in this case, the same configuration can be achieved.
なお、これらの実施例では半導体レーザ20の出力光の
周波数のFMサイドバンドを隣接する透過光のピークに
固定するようにしたが、1つ或いは2つ以上能れたピー
クに固定するようにしてもよい、n個Hpたピークに固
定したときは、ファブリベロー干渉計24のFSRは
FSR=f1/n
になる。Note that in these embodiments, the FM sideband of the frequency of the output light of the semiconductor laser 20 was fixed to the peak of adjacent transmitted light, but it was fixed to the peak of one or more peaks. When the peak is fixed at n peaks, the FSR of the Fabry-Bello interferometer 24 becomes FSR=f1/n.
また、発振器23として外部からセシウムビーム周波数
標準等の発振器の出力をリファレンスとする発振器を用
いるようにしてもよい。Further, as the oscillator 23, an oscillator whose reference is the output of an external oscillator such as a cesium beam frequency standard may be used.
さらに、位相変調手段22の代わりに周波数変態手段を
用いてもよい。Furthermore, frequency transformation means may be used instead of the phase modulation means 22.
〈発明の効果〉
以上、実施例に基づいて具体的に説明したように、この
発明では半導体レーザの出力光を高安定な発振器の出力
で位相変調してファブリペロ−干渉計に入射し、その出
力のFMサイドバンドがその透過光のピークの1つに一
致するようにファブリベロー干渉計を制御するようにし
、前記発振器の出力周波数を可変することにより前記半
導体レーザの出力光の周波数を可変するようにしたもの
である。その為、長期的にその出力光の周波数を高安定
にすることができ、かつ連続して可変することができる
。<Effects of the Invention> As explained above in detail based on the embodiments, in this invention, the output light of a semiconductor laser is phase-modulated by the output of a highly stable oscillator, and enters the Fabry-Perot interferometer, and the output light is The Fabry-Bero interferometer is controlled so that the FM sideband of the FM sideband coincides with one of the peaks of the transmitted light, and the frequency of the output light of the semiconductor laser is varied by varying the output frequency of the oscillator. This is what I did. Therefore, the frequency of the output light can be made highly stable over a long period of time and can be varied continuously.
また、半導体レーザ1個で構成することが出来るので、
小型にすることが出来る。In addition, since it can be configured with one semiconductor laser,
It can be made small.
さらに、ファブリペロ−干渉計のコーティングを変える
等してその特性を変えるだけで、半導体レーザの特性に
かかわらず任意の周波数の可変周波数光源として使用す
ることができる。Furthermore, by simply changing the characteristics of the Fabry-Perot interferometer, such as by changing its coating, it can be used as a variable frequency light source for any frequency regardless of the characteristics of the semiconductor laser.
第1図は本発明に係る可変周波数光源の一実施例を示す
構成図、第2図及び第3図はファブリペロ−干渉計の特
性を示す特性曲線図、第4図は本発明の他の実施例を示
す構成図、第5図は従来の可変波長光源の構成を示す構
成図である。
20・・・半導体レーザ、22・・・位相変調手段、2
3.29・・・発振器、24・・・ファブリベロー干渉
計、26・・・圧電素子、27・・・光検出手段、28
・・・第1の制御手段、30・・・第2の制御手段、3
2・・・カウンタ。
第3図
(A)
(B)FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of a variable frequency light source according to the present invention, FIGS. 2 and 3 are characteristic curve diagrams showing the characteristics of a Fabry-Perot interferometer, and FIG. 4 is a diagram showing another embodiment of the present invention. FIG. 5 is a block diagram showing the structure of a conventional variable wavelength light source. 20... Semiconductor laser, 22... Phase modulation means, 2
3.29... Oscillator, 24... Fabry-Bello interferometer, 26... Piezoelectric element, 27... Photodetection means, 28
... first control means, 30 ... second control means, 3
2...Counter. Figure 3 (A) (B)
Claims (2)
出力光が入射されその光を前記発振器の出力で位相変調
または周波数変調する位相変調手段または周波数変調手
段と、この位相変調手段または周波数変調手段の出力光
が入射されるファブリペロー干渉計と、このフアブリペ
ロー干渉計の透過光が入射されその光強度を検出する光
検出手段と、この光検出手段の出力が入射され前記半導
体レーザの出力光の周波数を前記フアブリペロー干渉計
の透過光強度のピークの1つに制御する第1の制御手段
と、前記光検出手段の出力が入力され前記ファブリペロ
ー干渉計の特性を制御する第2の制御手段とを有する事
を特徴とする可変周波数光源。(1) A semiconductor laser, an oscillator, a phase modulation means or frequency modulation means that receives the output light of the semiconductor laser and modulates the phase or frequency of the light with the output of the oscillator, and the phase modulation means or frequency modulation means A Fabry-Perot interferometer receives the output light of the Fabry-Perot interferometer, a photodetection means receives the transmitted light of the Fabry-Perot interferometer and detects the light intensity, and an output of the photodetection means enters the output light of the semiconductor laser. a first control means for controlling the frequency to one of the peaks of transmitted light intensity of the Fabry-Perot interferometer; and a second control means for controlling the characteristics of the Fabry-Perot interferometer to which the output of the light detection means is input. A variable frequency light source characterized by having.
の回数を計数するカウンタを有する事を特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の可変周波数光源。(2) The variable frequency light source according to claim 1, further comprising a counter that receives the output of the light detection means and counts the number of changes in the output.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13889088A JPH01307287A (en) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | Variable-frequency light source |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13889088A JPH01307287A (en) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | Variable-frequency light source |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01307287A true JPH01307287A (en) | 1989-12-12 |
Family
ID=15232511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13889088A Pending JPH01307287A (en) | 1988-06-06 | 1988-06-06 | Variable-frequency light source |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01307287A (en) |
-
1988
- 1988-06-06 JP JP13889088A patent/JPH01307287A/en active Pending
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