JPH01297746A - Memory diagnosing system - Google Patents

Memory diagnosing system

Info

Publication number
JPH01297746A
JPH01297746A JP63129118A JP12911888A JPH01297746A JP H01297746 A JPH01297746 A JP H01297746A JP 63129118 A JP63129118 A JP 63129118A JP 12911888 A JP12911888 A JP 12911888A JP H01297746 A JPH01297746 A JP H01297746A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
request
data
address
write
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63129118A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tadao Kondo
忠雄 近藤
Yasushi Hanezawa
羽澤 靖
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP63129118A priority Critical patent/JPH01297746A/en
Publication of JPH01297746A publication Critical patent/JPH01297746A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To find a mutual intervention error by which the specific bit of each memory cell is fixed by writing data shifted sequentially by a shift means, then, reading them out and comparing with each other afterward. CONSTITUTION:The write of the data to be diagnosed is started after a request 101 from a processor side is set at a request accepting FF12, a write memory diagnosing request at a request code register 13 from a request code 102, the initial value of an address from an address 103 to an acceptance register 14, and the data to be diagnosed at an acceptance data register 15 from the data 104. The initial address of the register 14 is stepped by a stepping counter 17 sequentially, then, becomes the write address of the memory 2, and the data to be diagnosed is shifted by a shifter 19 sequentially, then, becomes the write data. After the write being completed, the write data is read in a read register 23 sequentially from the memory 2, and is compared with the data in a write register 22 which stores the write data shifted by the shifter 19 by a comparator 24.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はメモリ診断方式に関し、特にメモリに対してデ
ータの書込み読出しの制御を行うシステム制御装置にお
けるメモリ診断方式に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a memory diagnostic method, and more particularly to a memory diagnostic method in a system control device that controls writing and reading of data to and from a memory.

従来技術 従来、この種のシステム制御装置においては、メモリア
ドレスをカウントアツプする回路から供給されるアドレ
スによりメモリの複数のロケーションに特定のライトデ
ータを書込み、このライトデータの書込みが終了した後
にそのデータをメモリから読出し、この読出したリード
データと書込まれたライトデータとの一致チェックを行
っている。このメモリのチエツク方式については特公昭
56−1720号の発明に詳細に記載されている。
Prior Art Conventionally, in this type of system control device, specific write data is written to multiple locations in memory using addresses supplied from a circuit that counts up memory addresses, and after writing of the write data is completed, the data is is read from the memory, and a match check is performed between the read data and the written write data. This memory checking system is described in detail in the invention published in Japanese Patent Publication No. 1720/1983.

メモリにおいてはそのメモリを構成するメモリセル間で
、各メモリセルのデータの特定ビットが“′0″または
” 1 ”に固定されてしまうような相互干渉エラーを
生ずることがある。
In a memory, a mutual interference error may occur between memory cells constituting the memory, such as a specific bit of data in each memory cell being fixed to "0" or "1".

相互干渉エラーを検出するなめに同一のデータパターン
をメモリに書込んでチエツクしても、この相互干渉エラ
ーを発見することは難しい。
Even if the same data pattern is written into memory and checked in order to detect mutual interference errors, it is difficult to detect mutual interference errors.

このような従来のシステム制御装置では、特定のライ1
〜データをメモリに書込み、このライ)−データとメモ
リからのり一ドデータとの一致をチエツクしているのて
、相互干渉エラーを発見することか難しいという欠点が
ある。
In such conventional system control devices, a specific line 1
This method has the disadvantage that it is difficult to detect mutual interference errors because the data is written into the memory and the write data is checked for coincidence with the data written from the memory.

また、このシステム制御装置により異なるデータパター
ンをメモリに書込んてチエツクを行おうとしても、その
異なるデータパターンの数だりリフニス1〜を出力せね
ばならず、リフニス1〜を出力する処理装置側の負担が
増大するという欠点がある。
Furthermore, even if this system control device writes different data patterns to the memory and attempts to check them, it is necessary to output the number of different data patterns and the riff varnishes 1 to 1, and the processing device that outputs the riff varnishes 1 to The disadvantage is that the burden increases.

発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、相互干渉エラーを容易に発見することが
てき、リフニスl−を出力する処理装置側の負担を軽減
することかてきるメモリ診断方式の提1ノ(を[1的と
する。
OBJECTS OF THE INVENTION The present invention has been made to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional method, and it is possible to easily discover mutual interference errors and reduce the burden on the processing device that outputs the rift varnish l-. Assume that Proposition 1 (of the proposed memory diagnostic method) is [1].

発明の構成 本発明によるメモリ診断方式は、診断装置からメモリへ
のリフニス)へを保持するりクエスl〜保持手段と、前
記リクエスl〜保持手段に保持された前記リフニス1〜
により前記診断装置からの所定アIくレスを順次歩進し
て前記メモリに供給するアドレス供給手段と、前記リフ
ニス1〜保持手段に保持された前記リフニス1〜により
前記診断装置からの所定データを順次シフ1へするシフ
1〜手段とを有し、前記リフニス1へ保持手段に保持さ
れた前記診断装置からの書込み要求により前記アドレス
供給手段から供給されたアドレスに前記シフ1〜手段に
よりシフ1〜された前記所定データを書込んだ後に、前
記リフニス1へ保持手段に保持された前記診断装置から
の読出し要求により前記アドレス供給手段から供給され
たアドレスて前記メモリから読出されたデータと、前記
シフ1へ手段によりシフI−された前記所定データとを
比較して前記メモリの診断を行うようにしたことを特徴
とする。
Structure of the Invention The memory diagnostic method according to the present invention includes a request l~holding means for holding a ref varnish from a diagnostic device to a memory, and a ref varnish 1~ held by the request l~holding means.
address supplying means that sequentially advances predetermined addresses from the diagnostic device and supplies them to the memory, and predetermined data from the diagnostic device using Shift 1 to means for sequentially shifting to Shift 1, and the shift 1 to means perform shift 1 to the address supplied from the address supply means in response to a write request from the diagnostic device held in the holding means to the rift varnish 1. After writing the predetermined data stored in . The present invention is characterized in that the memory is diagnosed by comparing the predetermined data shifted by the shifting means to the predetermined data.

実維例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
EMBODIMENT OF THE INVENTION Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、本発明の一実施例によるシステム制御
装置1は、診断制御回路11と、リクエスト受付フリッ
プツーlコツプ(以下リフニス1〜受(=t F Fと
する)12と、リクエストコードレジスタ13と、受付
アドレスレジスタ14と、受付データレジスタ15と、
デコーダ16と、歩進カウンタ17と、セレクタ18と
、シフタ1つと、メモリリフニス1へフリップフロップ
(以下メモリリフニス1〜FFとする)20と、リフニ
ス1〜アドレスレジスタ21と、ライ1〜データレジス
タ22と、リードデータレジスタ23と、比較器24と
、アン゛トゲ−1〜25と、メモリ診断リフニス1〜フ
リツプフロツプ(以下メモリ診断リクエストFFとする
)26とを含んで構成されており、メモリ2と接続され
ている。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, a system control device 1 according to an embodiment of the present invention includes a diagnostic control circuit 11, a request reception flip tool tip (hereinafter referred to as tFF) 12, and a request code register 13. , a reception address register 14, a reception data register 15,
The decoder 16, the step counter 17, the selector 18, one shifter, the flip-flops (hereinafter referred to as memory rifnis 1 to FF) 20 to the memory rifnis 1, the rifniss 1 to address register 21, and the lie 1 to data register 22. , a read data register 23, a comparator 24, analogues 1 to 25, and memory diagnostic request FFs 1 to flip-flops (hereinafter referred to as memory diagnostic request FF) 26, which are connected to the memory 2. has been done.

= 5− メモリ2の診断が行われる場合には、図示せぬ処理装置
側からのリフニス1〜101と、ライ1へメモリ診断を
示ずリフニス1ヘコード102と、アドレスの初期値を
示すアドレス103と、ライ1〜データの初期値を示す
データ104とがシステム制御装置1に入力される。
= 5- When the diagnosis of the memory 2 is performed, rifnis 1 to 101 from the processing device side (not shown), a code 102 to the rifnis 1 without memory diagnosis to the rye 1, and an address 103 indicating the initial value of the address. and data 104 indicating the initial values of RIE 1 to data are input to the system control device 1.

システム制御装置1てはリフニスl〜101がリクエス
ト受付FF12に、リフニス1−コード102がリクエ
ストコードレジスタ13に、アドレス103がライ」ア
ドレスレジスタ14に、データ104が受付データレジ
スタ15に夫々格納される。
In the system control device 1, the refnis 1 to 101 are stored in the request reception FF 12, the refnis 1 code 102 is stored in the request code register 13, the address 103 is stored in the ``ready'' address register 14, and the data 104 is stored in the reception data register 15. .

リクエスト受付F F 1.2にリクエスト101か格
納されると、デコーダ16てはリフニス1−受付FF1
2からの出力信号によりリクエストコードレジスタ13
に格納されたリフニス1〜コード102の内容をデコー
ドし、書込み要求であることを示すメモリリフニス1〜
105をメモリリフニスl−F’ F 20に出力する
とともに、メモリ診断リフニスl−FF26をセットす
る。
When the request 101 is stored in the request reception FF 1.2, the decoder 16 sends the request 101 to the reception FF 1.
Request code register 13 by the output signal from 2
Decodes the contents of the memory rifnis 1 to code 102 stored in the memory rifnis 1 to 102 to indicate that it is a write request.
105 is output to the memory rifice l-F'F 20, and the memory diagnostic rifice l-FF26 is set.

メモリ診断リフニス1〜FF26かセン1−されると、
メモリ診断リフニス1〜FF26からはメモリ診断リク
エスト106がセレクタ18とシフタ1つとアンドゲー
ト25とに夫々出力される。このメモリ診断リクエスト
106はリフニス1〜アドレスレジスタ21にアドレス
の初期値がセラ1〜され、ライトデータレジスタ22に
データの初期値がセットされた後にメモリ診断リクエス
トPF26から出力される。
When memory diagnosis Rifnis1~FF26 or Sen1- is done,
A memory diagnosis request 106 is outputted from the memory diagnosis filters 1 to FF 26 to the selector 18, one shifter, and the AND gate 25, respectively. This memory diagnosis request 106 is outputted from the memory diagnosis request PF 26 after the initial values of addresses are set in the address register 21 and the initial values of data are set in the write data register 22.

セレクタ18ではメモリ診断リクエストFF26からの
メモリ診断リフニスh106が入力されると、歩進カウ
ンタ17からの出力信号を選択してリフニス1〜アドレ
スレジスタ21に出力する。また、シフタ19ではメモ
リ診断リクエストFF26からのメモリ診断リクエスト
106が入力されると、ライトデータレジスタ22から
入力したデータをシフトしてライトデータレジスタ22
に出力する。
When the selector 18 receives the memory diagnosis refresh h106 from the memory diagnosis request FF 26, it selects the output signal from the step counter 17 and outputs it to the refresh change 1 to the address register 21. Further, when the memory diagnosis request 106 from the memory diagnosis request FF 26 is input, the shifter 19 shifts the data input from the write data register 22 and transfers the data to the write data register 22.
Output to.

リクエスト受付FF12にリクエスト101か格納され
てリクエスト受付FF12の出力信号が“1″となり、
デコーダ16からのデコード信号によりメモリ診断リフ
ニス1〜FF26からの出力信号が′1″になると、ア
ンドゲート25からの出力信号が゛1′″となるので、
診断制御回路11により規定されるメモリ診断を行うと
きのメモリアドレスの範囲の間、すなわち一定期間リク
エスト受付FF12からの出力信号が′1′°となり、
これによりデコーダ16は出力可となる。
Request 101 is stored in the request reception FF 12, and the output signal of the request reception FF 12 becomes "1".
When the output signals from the memory diagnostic refnis 1 to FF 26 become '1' due to the decoded signal from the decoder 16, the output signal from the AND gate 25 becomes '1'.
During the memory address range defined by the diagnostic control circuit 11 when performing memory diagnosis, that is, for a certain period of time, the output signal from the request reception FF 12 becomes '1'°,
This enables the decoder 16 to output.

セレクタ18からはリクエストアドレスレジスタ21か
らのメモリアドレス108が歩進カウンタ17で歩進さ
れたアドレスがリフニス1−アドレスレジスタ21に出
力されるのて、診断制御回路11がリクエスト受(−I
 F F 12に0°′を出力するまで、リフニス1〜
アドレスレジスタ21からメモリ2へのメモリアドレス
108の値は順次歩進されていく。
From the selector 18, the address obtained by incrementing the memory address 108 from the request address register 21 by the increment counter 17 is output to the rifnis 1-address register 21, and the diagnostic control circuit 11 receives the request (-I).
Riff varnish 1~until outputting 0°' to F F 12
The value of memory address 108 from address register 21 to memory 2 is sequentially incremented.

また、シフタ19からはライトデータレジスタ22から
のデータがシフ1へされた値がライトデータレジスタ2
2に出力されるので、診断制御回路11がリクエスト受
付FF12に°゛0′″を出力するまて、ライトデータ
レジスタ22からメモリ2へのライ1−データ109の
内容が順次シフトされていく。
Also, from the shifter 19, the value obtained by shifting the data from the write data register 22 to the shift 1 is transferred to the write data register 2.
2, the contents of the write 1 data 109 from the write data register 22 to the memory 2 are sequentially shifted until the diagnostic control circuit 11 outputs 0'' to the request reception FF 12.

メモリリクエストFF20は書込み要求であることを示
し、メモリ2に対して書込み要求を示すメモリリクエス
ト107を出力するので、メモリ2では各サイクル毎に
異なるメモリアドレスに対して異なるライトデータが書
込まれることとなる。
Since the memory request FF20 indicates a write request and outputs a memory request 107 indicating a write request to the memory 2, different write data is written to a different memory address in each cycle in the memory 2. becomes.

このメモリ2に対するライトデータの書込みが終了する
と、処理装置側では読出し要求を示すリクエスト101
 と、リードメモリ診断を示すリクエストコード102
と、メモリ2への書込み時に設定されたアドレスの初期
値と同一のアドレスを示すアドレス103と、ライトデ
ータすなわち比較データの初期値を示すデータ104と
をシステム制御装置1に出力する。
When writing of the write data to the memory 2 is completed, the processing device sends a request 101 indicating a read request.
and request code 102 indicating read memory diagnosis.
Then, an address 103 indicating the same address as the initial value of the address set at the time of writing to the memory 2, and data 104 indicating the initial value of the write data, that is, the comparison data are output to the system control device 1.

システム制御装置1ではリクエスト101がリクエスト
受付FF12に、リクエストコード102がリクエスト
コードレジスタ13に、アドレス103が受付アドレス
レジスタ14に、データ104が受付データレジスタ1
5に夫々格納される。
In the system control device 1, the request 101 is stored in the request reception FF 12, the request code 102 is stored in the request code register 13, the address 103 is stored in the reception address register 14, and the data 104 is stored in the reception data register 1.
5 respectively.

リフニス1〜受付FF12にリフニスl−101が格納
されると、デコーダ16はリフニス1へ受付FF12か
らの出力によりリクエストコードレジスタ13に格納さ
れたリクエストコード102の内容をデコードし、読出
し要求であることを示すメモリリクエスト105をメモ
リリクエストFF20に出力するとともに、メモリ診断
リクエストFF26をセットする。
When the riff varnish 1-101 is stored in the rif varnish 1 to the reception FF 12, the decoder 16 decodes the contents of the request code 102 stored in the request code register 13 to the rif varnish 1 based on the output from the reception FF 12, and determines that it is a read request. A memory request 105 indicating the above is output to the memory request FF 20, and a memory diagnosis request FF 26 is set.

これ以後、上述のメモリ2への書込み動作と同様にして
、リクエストアドレスレジスタ21からメモリ2へのメ
モリアドレス108が順次歩進され、ライ1〜データレ
ジスタ22から出力されるライトデータ109が順次シ
フトされる。
After this, in the same manner as the write operation to the memory 2 described above, the memory address 108 from the request address register 21 to the memory 2 is sequentially incremented, and the write data 109 output from the write 1 to data registers 22 is sequentially shifted. be done.

この間、メモリ2には読出し要求であることを示すメモ
リリクエスト107が入力されるので、リクエストアド
レスレジスタ21からのメモリアドレス108で示され
る番地からリードデータ110かシステム制御装置1に
出力される。
During this time, since a memory request 107 indicating a read request is input to the memory 2, the read data 110 is output to the system control device 1 from the address indicated by the memory address 108 from the request address register 21.

メモリ2からのリードデータ110はリードデータレジ
スタ23に格納され、比較器24でライトデータレジス
タ22からのライトデータ109と比較される。ライト
データレジスタ22からは先の書込み時にメモリ2に書
込まれたデータと同一のデータがl1ll’f次シフ1
〜されながら出力されるので゛、書込み要求の診断リク
エストによりメモリ2に書込まれたデータがNu<書込
まれたがどうかをヂエックすることができる。
Read data 110 from memory 2 is stored in read data register 23 and compared with write data 109 from write data register 22 in comparator 24 . From the write data register 22, the same data as the data written to the memory 2 during the previous write is l1ll'f next shift 1.
. . . . Therefore, it is possible to check whether the data written to the memory 2 by the diagnostic request of the write request has been written.

第2図は第1図のシステム制御装置1によりメモリ2に
書込まれた内容を示す図である。図においては、シフタ
19が1ビツトずつシフ1ル動作を行う1ビツトシフタ
である場合に、ライl−データの初期値“’ oooo
・・・・・01′°が順次シフ1−されてメモリ2に書
込まノ1なときのメモリ2の内容を示している。
FIG. 2 is a diagram showing the contents written in the memory 2 by the system control device 1 of FIG. In the figure, when the shifter 19 is a 1-bit shifter that performs a shift operation one bit at a time, the initial value of the line data is "' oooo
. . . shows the contents of the memory 2 when 01'° is sequentially shifted by 1 and written to the memory 2.

これら第1図および第2図を用いて本発明の一実施例の
動作について説明する。
The operation of an embodiment of the present invention will be explained using FIG. 1 and FIG. 2.

メモリ2の診断が行われる場合に、処理装置側からのリ
クエスト101 と、ライトメモリ診断を示ずリフニス
1〜コード102と、アドレスの初期値「アドレスAO
Jを示すアドレス103と、ライ1〜= 11 = データの初期値“” oooo・・・・01″を示すデ
ータ104とがシステム制御装置1に入力されると、リ
クエスト101がリクエストコードF F 1−2に、
リフニス1〜コード1()2がリフニス1〜コードレジ
スタ13に、アドレス103が受付アドレスレジスタ1
4に、データ104かライ・1データレジスタ15に夫
々格納される。
When diagnosing memory 2, a request 101 from the processing device side, a request 101 indicating no write memory diagnosis, a code 102, and an initial value of the address ``address AO'' are sent.
When the address 103 indicating ``J'' and the data 104 indicating the initial value of data ``''oooo...01'' are input to the system control device 1, the request 101 becomes the request code FF1. -2,
Riffnis1~Code1()2 is stored in Riffnis1~Code register 13, and address 103 is stored in reception address register 1.
4, the data 104 is stored in the lie 1 data register 15, respectively.

リフニス1〜受((JFI” 12にリフニス1〜10
1か格納されると、デコーダ16ではリフニス1〜受付
FF12からの出力によりリフニス1〜コードレジスタ
13に格納されたリクエストコード102の内容をデコ
ードし、書込み要求であることを示すメモリリフニス1
〜105をメモリリフニスl−F F 20に出力する
とともに、メモリ診断リフニスl−F F 26をセラ
1〜する。
Riff varnish 1 to 1 ((JFI” 12 to ref varnish 1 to 10)
1 is stored, the decoder 16 decodes the contents of the request code 102 stored in the code register 13 from the request code 1 to the code register 13 based on the output from the request code 1 to the reception FF 12, and writes the memory request code 102 indicating that it is a write request.
~105 is output to the memory rifice l-F F 20, and the memory diagnostic rift varnish l-F F 26 is output to the cell 1~.

このとき、リフニス1〜アドレスレジスタ21にはアド
レスの初期値「アドレスAO,が格納され、ライトデー
タレジスタ22にはデータの初期値”oooo・・・・
・01パが格納される。
At this time, the initial address value "address AO," is stored in the refnis 1 to address register 21, and the initial data value "oooo..." is stored in the write data register 22.
-01pa is stored.

これにより、メモリ2にはメモリリクエストFF20か
らのメモリリフニス1〜107によりアドレスAOに’
 oooo・・・・・01′″が書込まれる。
As a result, memory 2 is set to address AO by memory requests 1 to 107 from memory request FF20.
oooo...01''' is written.

続いて、歩進カウンタ17で歩進されたアドレスA1が
メモリアドレス108としてメモリ2に出力され、シフ
タ19てシフトされたデータ”ooo。
Subsequently, the address A1 incremented by the step counter 17 is output to the memory 2 as the memory address 108, and the shifter 19 shifts the data "ooo".

・・・・・・10′°がライトデータ夕109としてメ
モリ2に出力されるので、メモリ2にはメモリリフニス
l−FF20からのメモリリクエスト107によりアド
レスA1に“’ 0000・・・・・10′″が書込ま
れる。
......10'° is output to the memory 2 as the write data 109, so in the memory 2, "'0000...10' is written to the address A1 by the memory request 107 from the memory refinis l-FF20. ” is written.

同様にして、メモリ2には歩進カウンタ17で順次(J
進されたアドレスA2〜Anに、シフタ19て順次シフ
1〜されたデータ゛’ 0000・・・・・・0100
”〜”1000・・・・・・00″が書込まれていく。
Similarly, the step counter 17 sequentially stores (J
The data sequentially shifted from 1 to 1 by the shifter 19 to the advanced addresses A2 to An are 0000...0100.
"~"1000...00" are written.

メモリ2のアドレスAllに’ 1000・・・・・・
00″が書込まれることによりメモリ2への書込み動作
が終了すると、処理装置側では読出し要求を示ずリフニ
スl−101と、リードメモリ診断を示すリフニス)・
コード102と、メモリ2への書込み時に設定されたア
ドレスの初期値と同一のアドレスAOを示すアドレス1
03と、ライトデータずなわち比較デ一夕の初期値”0
000・・−・・・01′”を示ずデータ104とをシ
ステム制御装置1に出力する。
'1000...' to memory 2 address All
When the write operation to the memory 2 is completed by writing 00'', the processing device does not issue a read request and sends rifnis l-101 and riffnis indicating read memory diagnosis).
Code 102 and address 1 indicating address AO, which is the same as the initial value of the address set when writing to memory 2.
03, and the initial value of the write data, that is, the comparison data, is “0”.
000...01''' and data 104 are output to the system control device 1.

システム制御装置1てはリクエスト101がリフニス1
へ受付FF12に、リフニス1ヘコード102かリフニ
ス1〜コートレジスタ13に、アドレス103か受付ア
ドレスレジスタ14に、データ104が受付データレジ
スタ15に夫々格納される。
In the system control device 1, the request 101 is the request 101
to the reception FF 12, to the rifice 1 code 102 or the rifice 1 to coat register 13, the address 103 or the reception address register 14, and the data 104 to the reception data register 15, respectively.

リフニス1−受(−IFF 1.2にリフニス1〜10
1が格納されると、デコーダ16はリクエスト受付FF
12からの出力によりリフニス1−コードレジスタ13
に格納されたリクエストコード102の内容をデコード
し、読出し要求であることを示すメモリリフニス1〜1
05をメモリリフニス1〜FF20に出力するとともに
、メモリ診断リフニス1〜FF26をセラ1〜する。
Riff varnish 1-1 (-IFF 1.2 to Riff varnish 1-10
When 1 is stored, the decoder 16 uses the request reception FF
Riffnis 1-code register 13 by the output from 12
Memory refnis 1 to 1 decodes the contents of the request code 102 stored in the memory request code 102 and indicates that it is a read request.
05 is output to the memory rifice 1 to FF20, and the memory diagnosis rifice 1 to FF26 are output to the memory revise 1 to FF26.

これ以後、」二連のメモリ2への書込み動作と同様にし
て、リクエストアドレスレジスタ21からメモリ2への
メモリアドレス108が順次歩進され、ライトデータレ
ジスタ22から出力されるライ1〜データ109が順次
シフI−される。
After this, in the same manner as the two series of write operations to the memory 2, the memory address 108 from the request address register 21 to the memory 2 is sequentially incremented, and the write 1 to data 109 output from the write data register 22 are Sequential shift I- is performed.

−1,4−− この間、メモリ2には読出し要求であることを示すメモ
リリクエスト107が入力されるのて、リフニス1〜ア
ドレスレジスタ21からのメモリアドレスiQ8で示さ
れるアドレスAO〜Anからデータ゛’ oooo・・
・・・・01′″〜”1ooo・・・・・・00′″が
順次読出されてリードデータ110としてシステム制御
装置1に出力される。
-1, 4-- During this time, a memory request 107 indicating a read request is input to the memory 2, and data is sent from addresses AO to An indicated by memory address iQ8 from the refnis 1 to address register 21. ooooo...
. . 01'" to "1ooo . . . 00'' are sequentially read out and output as read data 110 to the system control device 1.

メモリ2からのリードデータ110はリードデータレジ
スタ23に格納され、比較器24でライI−データレジ
スタ22からのライ1へデータ109と比較される。す
なわち、まずメモリ2のアドレスAOから読出されてリ
ードデータレジスタ23に格納されたデータ“’ oo
oo・・・・・・01″と、ライ1へデータレジスタ2
2に格納された初期値”oooo・・・・・・01″と
が比較器24で比較される。
Read data 110 from memory 2 is stored in read data register 23 and compared with data 109 from lie I-data register 22 to lie 1 in comparator 24 . That is, first, data "'oo" read from address AO of memory 2 and stored in read data register 23
oo...01'' and data register 2 to lie 1
The comparator 24 compares the initial value "oooo...01" stored in the memory 2.

以後、メモリ2のアドレスA1〜Anから読出されてリ
ードデータレジスタ23に格納されたデータ“’ oo
oo・・・・・・10″〜’MOOO・・・・・・00
′″と、シフタ1っで順次シフトされてライトデータレ
ジスタ22に格納されたデータ”oooo・・・・・1
0パヘー“’1000・・−・・・00′″とが比較器
24で順次比較されることにより、書込み要求の診断リ
フニス1〜によりメモリ2に書込まれたデータが正しく
書込まれたかどうかをチエツクすることかできる。
Thereafter, the data "'oo" read from addresses A1 to An of the memory 2 and stored in the read data register 23
oo...10''~'MOOO...00
''', and the data "oooo...1" which was sequentially shifted by shifter 1 and stored in the write data register 22.
The comparator 24 sequentially compares the 0 parameters with "'1000...00'" to determine whether the data written to the memory 2 by the write request diagnosis request 1~ was written correctly. You can check.

このように、メモリ診断リフニスl−F F 26に保
持されたメモリ2へのメモリ診断リフニス1へによりセ
レクタ18て選択された歩進カウンタ17で順次歩進さ
れたメモリアドレス108をメモリ2にfノ(給して、
メモリ診断リクエストFF26に保持されたメモリ診断
リクエストによりシフタ1っで順次シフトされたデータ
をメモリ2に書込み、この後にメモリ2に歩進カウンタ
17で順次歩進されたメモリアドレス108を供給する
ことによりメモリ2から読出されたデータと、シック1
つにより順次シフトされたデータとを比較してメモリ2
の診断を行うようにすることによって、処理装置側から
の1度のライトメモリ診断のリクエストでメモリ2の異
なるアドレスAO−Anに異なるデータ゛’ oooo
・・・・・01″〜”1000・・・・・・00パを書
込むことがてきるので、相互干渉エラーを容易に発見す
ることができる。
In this way, the memory address 108 sequentially incremented by the step counter 17 selected by the selector 18 is transferred to the memory 2 held in the memory diagnosis rifice 1-F F26.ノ(Give me,
By writing the data sequentially shifted by the shifter 1 according to the memory diagnosis request held in the memory diagnosis request FF 26 to the memory 2, and then supplying the memory address 108 sequentially incremented by the step counter 17 to the memory 2. Data read from memory 2 and thick 1
Memory 2
By performing this diagnosis, different data ``'oooo'' can be sent to different addresses AO-An of memory 2 with a single write memory diagnosis request from the processing device side.
...01'' to "1000...00" can be written, so mutual interference errors can be easily discovered.

また、異なるデータパターンをメモリ2に書込んでチエ
ツクを行おうとする場合にも、その異なるデータパター
ンの数たけリクエストを出力することなく、処理装置側
からはライ1−メモリ診断のリクエストとリードメモリ
診断のリクエストとを出力するだけでよくなるので、リ
フニス1−を出力する処理装置側の負担を軽減すること
ができる。
In addition, even when trying to write different data patterns to memory 2 and check them, the processing device side can send requests for write 1-memory diagnosis and read memory without outputting requests for the different data patterns. Since it is only necessary to output the request for diagnosis, the burden on the processing device that outputs the request for diagnosis 1- can be reduced.

尚、本発明の一実施例では1ビツトずつシフト動作を行
うシフタ19を用いた場合について説明しなが、これは
種々のデータを出力できる回路であればよく、これに限
定されない。
In one embodiment of the present invention, a case will be described in which a shifter 19 that performs a shift operation one bit at a time is used, but this is not limited to this as long as it is a circuit that can output various data.

九匪座皇1 以上説明したように本発明によれは、リクエスト保持手
段に保持された診断装置からのりクエス1〜により順次
歩進される診断装置からの所定アドレスをメモリに供給
し、このリクエストにより順次シフトされる診断装置か
らの所定データをメモリに書込んだ後に、順次歩進され
る所定アドレスによりメモリから読出されたデータと、
順次シフトされる所定データとを比較してメモリの診断
を行うようにすることによって、相互干渉エラーを容易
に発見することができ、リフニス1〜を出力する処理装
置側の負担を軽減することができるという効果がある。
As explained above, according to the present invention, a predetermined address from the diagnostic device that is sequentially incremented according to the questions 1 to 1 from the diagnostic device held in the request holding means is supplied to the memory, and the request After writing predetermined data from the diagnostic device to the memory, which is sequentially shifted by, data is read from the memory by a predetermined address, which is sequentially incremented;
By comparing the sequentially shifted predetermined data and diagnosing the memory, mutual interference errors can be easily discovered, and the burden on the processing device that outputs Riffnis 1~ can be reduced. There is an effect that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は本発明の一実施例によるメモリ診断時に書込まれ
たメモリの内容を示す図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・システム制御装置 2・・・・・・メモリ 11・・・・・・診断制御回路 12・・・・・・リクエスト受付 フリップフロップ 17・・・・・・歩進カウンタ 18・・・・・セレクタ 19・・・・・・シフタ 20・・・・・・メモリリフニス1〜 フリツプフロツプ = 18− 21・・・・・リクエストアドレスレジスタ22・・・
・・・ライl−データレジスタ23・・・・・・リード
データレジスタ24・・・・・・比較器 26・・・・・メモリ診断リフニス1〜フリツプフロツ
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing the contents of the memory written during memory diagnosis according to the embodiment of the present invention. Explanation of symbols of main parts 1...System control device 2...Memory 11...Diagnostic control circuit 12...Request reception flip-flop 17... ...Step counter 18...Selector 19...Shifter 20...Memory refresh 1~Flip-flop = 18-21...Request address register 22...
. . . Read data register 24 . . . Comparator 26 . . . Memory diagnostic refinish 1 to flip-flop

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)診断装置からメモリへのリクエストを保持するリ
クエスト保持手段と、前記リクエスト保持手段に保持さ
れた前記リクエストにより前記診断装置からの所定アド
レスを順次歩進して前記メモリに供給するアドレス供給
手段と、前記リクエスト保持手段に保持された前記リク
エストにより前記診断装置からの所定データを順次シフ
トするシフト手段とを有し、前記リクエスト保持手段に
保持された前記診断装置からの書込み要求により前記ア
ドレス供給手段から供給されたアドレスに前記シフト手
段によりシフトされた前記所定データを書込んだ後に、
前記リクエスト保持手段に保持された前記診断装置から
の読出し要求により前記アドレス供給手段から供給され
たアドレスで前記メモリから読出されたデータと、前記
シフト手段によりシフトされた前記所定データとを比較
して前記メモリの診断を行うようにしたことを特徴とす
るメモリ診断方式。
(1) A request holding means for holding a request from a diagnostic device to a memory, and an address supplying device that sequentially increments a predetermined address from the diagnostic device and supplies it to the memory according to the request held in the request holding device. and a shift means for sequentially shifting predetermined data from the diagnostic device according to the request held in the request holding means, and supplying the address in response to a write request from the diagnostic device held in the request holding means. After writing the predetermined data shifted by the shifting means to the address supplied from the means,
Comparing data read from the memory at an address supplied from the address supply means in response to a read request from the diagnostic device held in the request holding means and the predetermined data shifted by the shift means. A memory diagnostic method characterized in that the memory is diagnosed.
JP63129118A 1988-05-26 1988-05-26 Memory diagnosing system Pending JPH01297746A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63129118A JPH01297746A (en) 1988-05-26 1988-05-26 Memory diagnosing system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63129118A JPH01297746A (en) 1988-05-26 1988-05-26 Memory diagnosing system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01297746A true JPH01297746A (en) 1989-11-30

Family

ID=15001518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63129118A Pending JPH01297746A (en) 1988-05-26 1988-05-26 Memory diagnosing system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01297746A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03177947A (en) * 1989-12-07 1991-08-01 Koufu Nippon Denki Kk Diagnosing circuit for memory device
JP2009245553A (en) * 2008-03-31 2009-10-22 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03177947A (en) * 1989-12-07 1991-08-01 Koufu Nippon Denki Kk Diagnosing circuit for memory device
JP2009245553A (en) * 2008-03-31 2009-10-22 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit
US8176372B2 (en) 2008-03-31 2012-05-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20080016415A1 (en) Evaluation system and method
JPH10133965A (en) Parallel serial interface and method for testing memory within interface system
US7254657B1 (en) Dual mode capability for system bus
JPH04220744A (en) Function testing method of cache tag ram in limited access processor system
US7149944B2 (en) Semiconductor integrated circuit device equipped with read sequencer and write sequencer
JP2002323993A (en) Single chip microcomputer, testing method therefor and test program
JPH07294605A (en) Apparatus and method for transferring calibration data for semiconductor testing apparatus
US20100146224A1 (en) Request processing device, request processing system, and access testing method
JPH01297746A (en) Memory diagnosing system
US7526691B1 (en) System and method for using TAP controllers
JPH11232211A (en) Dma control device and its method
CN113672260A (en) CPU initialization method for processor
CN114444423B (en) Data processing method and system based on verification platform and electronic equipment
JP3630350B2 (en) Memory data comparison method
US7673121B2 (en) Circuit for monitoring a microprocessor and analysis tool and inputs/outputs thereof
US5748909A (en) Interface board and instruction processing device without a local CPU
US20040107388A1 (en) Microcomputer
JPH0474254A (en) Microprocessor diagnostic system
CN116976404A (en) FPGA multichannel design system and device based on convolutional neural network hardware accelerator
CN117667216A (en) Instruction verification method, device, system, storage medium and chip
JPH0652013A (en) Tracing circuit
CN117667554A (en) Method and system for intelligently switching same physical serial port of communication module
CN117316249A (en) Register testing method, device, computing equipment and storage medium
JP2000181900A (en) Single chip microcomputer
JPH01187660A (en) Interface diagnosing system for peripheral equipment