JPH01288969A - Layout verifying method - Google Patents

Layout verifying method

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JPH01288969A
JPH01288969A JP63118538A JP11853888A JPH01288969A JP H01288969 A JPH01288969 A JP H01288969A JP 63118538 A JP63118538 A JP 63118538A JP 11853888 A JP11853888 A JP 11853888A JP H01288969 A JPH01288969 A JP H01288969A
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JP
Japan
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logical
layout
logic
results
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP63118538A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masahiko Ueda
植田 雅彦
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH01288969A publication Critical patent/JPH01288969A/en
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Abstract

PURPOSE:To suppress occurrence of false errors so as to output real errors only by verifying that layout designing results are correctly realized in logic against logical designing results. CONSTITUTION:Transistor connecting information 3 extracted from layout designing results 1 is converted into cell connecting information 6 by the logical recognition of a rule base. The connecting information 6 and logical designing results 7 are respectively expressed by logical expressions using circuit outputs and register inputs as output variables and circuit inputs and register outputs as input variables. The designing results 1 and 7 are respectively converted into logical expressions expressing them and collation between both results is performed by a collating section 8 by verifying the identity between corresponding logical expressions. Therefore, even when the layout designing results give a circuit configuration which is different from the logical designing results, the layout designing results are not outputted as errors if they are logically equal. Thus only real errors having different logic are outputted.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体集積回路装置のレイアウト検証方法に関
するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a layout verification method for semiconductor integrated circuit devices.

従来の技術 従来のレイアウト検証方法としては、以下のものがあげ
られる。
BACKGROUND ART Conventional layout verification methods include the following.

(1)  レイアウトパターンから、トランジスタ等の
回路素子を抽出し、参照データとの間で接続照合を行な
う方法。
(1) A method in which circuit elements such as transistors are extracted from a layout pattern and connections are verified against reference data.

(2)  レイアウトから抽出した回路をシュミレーシ
ョンすることによって検証する方法。
(2) A method of verifying by simulating the circuit extracted from the layout.

(3)  レイアウトから抽出した回路から、さらに登
録されたセルを認識することにより、論理図を復元し、
目視検証する方法。
(3) Restore the logic diagram by recognizing the registered cells from the circuit extracted from the layout,
How to visually verify.

(1)は、参照データがある場合に、広く用いられ、実
用化されている。ただし、この手法は、レイアウト結果
が参照結果と厳密に一致していることを要求するので、
多(の疑似エラーを発生する傾向がある。
(1) is widely used and put into practical use when reference data is available. However, this technique requires that the layout results closely match the reference results;
It tends to generate many spurious errors.

■、(3)は、参照データがない場合にも有効である。(2) and (3) are also effective when there is no reference data.

ただし■では、回路シュミレーションの計算機負荷が大
きく、大規模な回路には適していない。(3)は、最終
的には人間による論理図の目視検証に頼っており、誤り
が入る可能性を排除できないこと、大規模な回路には有
効でない点が問題である。
However, in ■, the computer load of circuit simulation is large, and it is not suitable for large-scale circuits. The problem with method (3) is that it ultimately relies on human visual inspection of the logic diagram, which cannot eliminate the possibility of errors and is not effective for large-scale circuits.

以下に従来の代表的なレイアウト検証方法であるトラン
ジスタレベルの接続照合による方法について説明する。
A typical conventional layout verification method, which uses connection verification at the transistor level, will be described below.

第8図にこの方法の概念図を示す。FIG. 8 shows a conceptual diagram of this method.

ステップ21ではレイアウト設計結果25からトランジ
スタ等の回路素子を抽出してトランジスタレベルの接続
情報26に変換する。
In step 21, circuit elements such as transistors are extracted from the layout design result 25 and converted into transistor-level connection information 26.

一方、ステップ22では論理設計結果27の各セルを回
路に展開することによりトランジスタレベルの接続情報
28に変換する。
On the other hand, in step 22, each cell of the logic design result 27 is developed into a circuit, thereby converting it into transistor level connection information 28.

ステップ23では前記のようにして得られた2つの接続
情報27と28の接続照合を行い、照合結果29を出力
する。
In step 23, the two pieces of connection information 27 and 28 obtained as described above are checked for connection, and a check result 29 is output.

以上述べたような方法を用いれば、出力された照合結果
29を見ることによってレイアウト設計結果25が元の
論理設計結果27を正しく実現したものであるかどうか
を知ることができる。
By using the method described above, it is possible to know whether the layout design result 25 is a correct realization of the original logical design result 27 by looking at the output comparison result 29.

発明が解決しようとする課題 しかしながら上=己のようなトランジスタレベルの接続
照合に基づ(従来のレイアウト検証方法では解決が困難
なレイアウト検証における課題について以下に説明する
Problems to be Solved by the Invention However, problems in layout verification that are difficult to solve with conventional layout verification methods based on transistor-level connection verification will be described below.

(1)  レイアウト設計時の回路の変更レイアウト設
計は、必ずしも論理設計データに忠実に行うわけではな
(、面積の節約等、その場の状況に応じてフレキシブル
に回路構成を変形しながら進められる。その結果、レイ
アウトパターンは、機能は同じでありながら(従って正
しく設計されていながら)回路的には参照データと異な
ったものになったり、参照データ中に含まれる2つの同
一セルがレイアウトパターンの中ではそれぞれ異なった
回路に対応していたりする。
(1) Circuit changes during layout design Layout design is not necessarily performed faithfully to logical design data (i.e., circuit configuration can be flexibly modified according to the situation, such as saving area). As a result, the layout pattern may have the same functionality (and therefore be correctly designed) but differ from the reference data in circuit terms, or two identical cells contained in the reference data may appear in the layout pattern. Each one corresponds to a different circuit.

■ ゲート入力の置換 ゲートの入力が互いに等価で交換可能であるというよう
なことは、設計者にとって常識である。レイアウト設計
において、その場の状況により自由に、ゲートの入力が
交換されている。
■ Replacement of gate inputs It is common knowledge for designers that gate inputs are equivalent and interchangeable. In layout design, gate inputs are exchanged freely depending on the situation.

(3)冗長トランジスタの付加 ファンアウトの調整等の理由で、同一の機能を持つ複数
のトランジスタがレイアウトされることがよくある。
(3) Addition of redundant transistors For reasons such as fan-out adjustment, multiple transistors with the same function are often laid out.

このようなレイアウトパターンと参照データの間の不一
致は、従来のレイアウト検証システムにおいて、様々な
例外的な工夫により、その一部には対応されているが、
基本的には疑似エラーとしてシステムが検出すべき真の
エラーと一緒に出力され、その区別は困難である。
In conventional layout verification systems, some of these inconsistencies between layout patterns and reference data have been addressed through various exceptional measures.
Basically, pseudo errors are output together with true errors that the system should detect, and it is difficult to distinguish between them.

このような問題を避けるためには、レイアウトパターン
に基づいて論理設計結果を修正すればよいが、それでは
修正された論理設計の再検証も含めて設計工数の増大を
招(。
In order to avoid such problems, it is possible to modify the logic design results based on the layout pattern, but this would require an increase in design man-hours, including re-verification of the modified logic design.

以上述べた問題点は、従来のトランジスタ接続照合に基
づ(レイアウト検証方法の持つ根本的な欠点である。
The above-mentioned problems are fundamental shortcomings of the conventional layout verification method based on transistor connection verification.

本発明はかかる点に鑑み、上記のような疑似エラーの発
生を抑え、真のエラーのみを出力するレイアウト検証方
法を提案することを目的とする。
In view of this, it is an object of the present invention to propose a layout verification method that suppresses the occurrence of pseudo errors as described above and outputs only true errors.

課題を解決するための手段 本発明は論理設計結果に基づいてレイアウト設計した結
果が元の論理設計を正しく実現しているかどうかを検証
するレイアウト検証方法において、前記レイアウト設計
結果からそれが実現している論理を表現する論理式を導
き出すステップと、前記論理設計結果からそれが実現し
ている論理を表現する論理式を導き出すステップと、前
記両論理式が論理的に等しいかどうかを判定するステッ
プとを備え、前記レイアウト設計結果が前記論理設計結
果に対して論理的に正しく実現されていることを検証す
ることを特徴とするレイアウト検証方法である。
Means for Solving the Problems The present invention provides a layout verification method for verifying whether a layout design result based on a logic design result correctly realizes the original logic design. a step of deriving a logical formula expressing the logic realized by the logical design result, a step of deriving a logical formula expressing the logic realized by the logical design result, and a step of determining whether the two logical formulas are logically equivalent. A layout verification method comprising: verifying that the layout design result is logically correctly realized with respect to the logical design result.

作用 本発明ではレイアウト設計結果と論理設計結果は共にそ
れらを表現する論理式に変換され、両者の照合は対応す
る論理式間の恒等性を証明することによって行われる。
Operation In the present invention, both the layout design result and the logical design result are converted into logical formulas expressing them, and the comparison between the two is performed by proving the identity between the corresponding logical formulas.

従ってレイアウト設計結果が様々な事情によって、論理
設計結果と異なった回路構成になっていても、それらが
論理的に等しければエラーとして出力されず、論理的に
異なってしまう真のエラーのみを出力することができる
Therefore, even if the layout design result has a circuit configuration that differs from the logic design result due to various circumstances, if they are logically equal, it will not be output as an error, but only true errors that are logically different will be output. be able to.

実施例 第1図は本発明にかかるレイアウト検証方法の一実施例
のシステム概念図を示すものである。
Embodiment FIG. 1 shows a system conceptual diagram of an embodiment of the layout verification method according to the present invention.

第1図において、1は図形データから構成されるレイア
ウト設計結果、2は回路抽出部、3は抽出されたトラン
ジスタの接続情報、4はルールベースの論理認識部、5
は論理認識ルールを収めた知識源、6は認識されたセル
の接続情報、7は参照データである論理設計結果、8は
論理式の恒等性の証明に基づく照合部、9はセルの接続
情報から論理図を作成する論理図作成部である。
In FIG. 1, 1 is a layout design result composed of graphic data, 2 is a circuit extraction section, 3 is extracted transistor connection information, 4 is a rule-based logic recognition section, and 5 is a circuit extraction section.
is a knowledge source containing logical recognition rules, 6 is connection information of recognized cells, 7 is a logic design result which is reference data, 8 is a verification unit based on proof of identity of logical formulas, 9 is cell connection This is a logic diagram creation unit that creates a logic diagram from information.

以下、順をおって処理の詳細な説明を行なう。A detailed explanation of the processing will be given below in order.

(1)  論理認識 レイアウト設計結果1から抽出されたトランジスタの接
続情報3は、ルールベースの論理認識によってセルの接
続情報6に変換される。ユーザは知識源5に収められた
ルールを変更することにより、CMO8,NMO3,E
CL等の様々なテクノロジー、また、スタティック、ダ
イナミック等、様々な回路スタイルでのレイアウト設計
に対応することができる。
(1) Logic Recognition The transistor connection information 3 extracted from the layout design result 1 is converted into cell connection information 6 by rule-based logic recognition. By changing the rules stored in the knowledge source 5, the user can
It can support layout designs using various technologies such as CL, and various circuit styles such as static and dynamic.

本実施例ではルールベースの手法を用いることによって
、従来のセル認識手法に比べて、柔軟な論理認識が可能
である。
By using a rule-based method in this embodiment, more flexible logical recognition is possible than with conventional cell recognition methods.

ルールの例を第2図に示す。このルールは、「もしもP
MO8の直列接続とNMO3の並列接続が図のように接
続されており、しかもそれぞれのゲートの集合であるリ
ストL1とL2が順序に依らず同じ要素を持つならば、
それを対応するNORゲートに置き換える」ことを表現
している。
An example of the rules is shown in FIG. This rule is
If the series connection of MO8 and the parallel connection of NMO3 are connected as shown in the figure, and the lists L1 and L2, which are sets of gates, have the same elements regardless of the order, then
"replace it with the corresponding NOR gate."

ここで注意すべきことは、このルール1つて任意入力数
NORゲートの、しかも入力に関するあらゆる置換に対
応しているということである。これによって本手法は、
ゲートの入力置換に関する問題点を解決している。
What should be noted here is that this one rule corresponds to any permutation of the inputs of a NOR gate with any number of inputs. As a result, this method
This solves the problem regarding gate input replacement.

論理認識部の処理フローを第3図に示す。FIG. 3 shows the processing flow of the logic recognition section.

1、冗長トランジスタの除去 認識に先立って、第4図に示すような冗長なトランジス
タがあれば、これをワーキングメモリから除去する。
1. Removal of redundant transistors Prior to recognition, if there is a redundant transistor as shown in FIG. 4, it is removed from the working memory.

2、並列・直列接続の認識 まずトランジスタの並列接続、直列接続を認識する。第
5図に示すように互いに直列に接続された同極性のトラ
ンジスタは、トランジスタの直列接続を意味する仮想的
な回路素子に変換される。各トランジスタのゲートは、
1つのリストにまとめられている。ここで各トランジス
タの代わりに並列接続もしくは直列接続であってもよい
2. Recognizing parallel and series connections First, recognize parallel and series connections of transistors. As shown in FIG. 5, transistors of the same polarity connected in series are converted into a virtual circuit element meaning a series connection of transistors. The gate of each transistor is
are combined into one list. Here, each transistor may be connected in parallel or in series instead.

3、冗長な並列・直列接続の除去 第6図に示すように冗長な並列接続や直列接続があれば
、これをワーキングメモリから除去する。ここでは、ト
ランジスタの順序が入れ替わっていても同じもの゛とみ
なしている。
3. Removal of redundant parallel/series connections If there are redundant parallel/series connections as shown in Figure 6, they are removed from the working memory. Here, even if the order of the transistors is changed, they are considered to be the same.

4、ゲート認識 次にトランジスタもしくは直列接続と並列接続が相補的
に接続されている場合、それらをインバータもしくはN
OR,NANDゲートで置き換える。第2図にNORの
例を示しているが、この中の任意のトランジスタは直列
接続、あるいは並列接続であってもよいから、このルー
ルは単純なNORだけではな(、AND−NOR型の複
合ゲートをも認識することが可能である。
4. Gate recognition Next, if transistors or series connections and parallel connections are connected complementary, connect them to an inverter or N
Replace with OR and NAND gates. Figure 2 shows an example of NOR, but since any transistors in this can be connected in series or in parallel, this rule applies not only to simple NOR (and AND-NOR type complex It is also possible to recognize gates.

5、冗長ゲートの除去 ゲートレベルでも、直列インバータ等の論理的冗長性の
除去を行なう。
5. Removal of redundant gates Also at the gate level, logical redundancies such as serial inverters are removed.

6、セル認識 ゲート認識された回路は引き続いて、それらのゲートに
よって構成されるセルへと交換される。ここでも認識は
階層的に進められる。セル認識の最大の目的は、この後
に続(論理照合のために回路の中からレジスターを認識
することである。
6. Cell Recognition Gates Recognized circuits are subsequently exchanged into the cells configured by those gates. Here too, recognition proceeds hierarchically. The main purpose of cell recognition is to recognize registers in the circuit for subsequent logic verification.

Q)論理式の恒等性の証明 レイアウト設計結果1から変換されたセルの接続情報6
と参照データである論理設計結果7はそれぞれ、回路出
力およびレジスタ入力を出力変数とし、回路入力および
レジスタ出力を入力変数とする論理式で表現される。
Q) Proof of identity of logical formula Cell connection information 6 converted from layout design result 1
and the logic design result 7, which is reference data, are each expressed by a logical formula in which the circuit output and register input are output variables, and the circuit input and register output are input variables.

論理式で表現された2つの回路は、入出力間の対応をと
った後、2分決定木への変換に基づいた恒等性の証明に
より、論理的に等しいことが検証される。従って、レイ
アウト設計での回路変更があっても、それが論理的に等
価なものであれば、本手法ではエラーにならず、論理が
変わってしまうような真のエラーだけを出力することが
できる。
Two circuits expressed by logical formulas are verified to be logically equivalent by proof of identity based on conversion to a binary decision tree after correspondence is established between inputs and outputs. Therefore, even if there is a circuit change in the layout design, if the change is logically equivalent, this method will not cause an error, and only true errors that change the logic can be output. .

2分決定木への変換は論理式のS hannon展開に
基づいて行われる。
Conversion to a binary decision tree is performed based on Shannon expansion of a logical formula.

S hannon展開とは論理式Fの1つの入力変数X
を1またはOに固定した時の論理式をそれぞれFlおよ
びFOとするとFはFlとF2を使って次のように展開
されることを言う。
What is S hannon expansion? One input variable X of logical formula F
Let Fl and FO be the logical expressions when fixed to 1 or O, respectively, and F can be expanded as follows using Fl and F2.

F = x”F 1 +−x*F O 3hannon展開を論理式が1もしくはOになるまで
再帰的に適用することによって対応する2分決定木を得
ることができる。
By recursively applying the 3hannon expansion until the logical expression becomes 1 or O, a corresponding binary decision tree can be obtained.

第7図に論理式とそれに対応する2分決定木の例を示す
。2分決定木の各頂点はそれぞれ論理式に対応しており
、展開のもとになる入力変数と展開によって得られる2
つの論理式に対応する頂点へのノードを持つ。一番上の
頂点が元の論理式に対応している。
FIG. 7 shows an example of a logical formula and a corresponding binary decision tree. Each vertex of the binary decision tree corresponds to a logical formula, and the input variables that are the basis of expansion and the 2
It has nodes to vertices corresponding to two logical expressions. The top vertex corresponds to the original logical formula.

このようにして作られた2分決定木は論理関数の正準表
現になっていることが知られ、グラフの同形判定によっ
て2つの論理の恒等性を判定できる。
It is known that a binary decision tree created in this way is a canonical representation of a logical function, and it is possible to determine the identity of two logics by determining isomorphism of the graph.

本実施例では論理式の恒等性を証明するのに2分決定木
への変換に基づいた手法を用いているが、他の方法とし
て例えば積和標準形への展開に基づいた手法を用いるこ
とも可能である。
In this example, a method based on conversion to a binary decision tree is used to prove the identity of a logical formula, but as another method, for example, a method based on expansion to a sum-of-products standard form is used. It is also possible.

(3)論理図作成 論理認識された結果をもとに自動的に論理図を作成する
ことができ、その結果をもとに設計者が目視検証を行う
ことが可能である。人手によりレイアウトされる回路の
中には、メモリーのように論理設計を通さないで直接レ
イアウトされるものも少なくない。目視検証は、このよ
うな参照データがない場合に有効である。
(3) Logic diagram creation A logic diagram can be automatically created based on the results of logic recognition, and the designer can perform visual verification based on the results. Among the circuits that are laid out manually, there are many, such as memories, that are laid out directly without going through logic design. Visual verification is effective in the absence of such reference data.

発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、レイアウト設計結
果が論理設計結果と論理的に異なってしまう真のエラー
のみを出力することができ、半導体集積回路装置のレイ
アウト設計における検証を効率化するとともに、レイア
ウト設計の自由度を増すことにもつながり、その効率化
をもたらす。
As described in detail, according to the present invention, only true errors in which the layout design result is logically different from the logic design result can be output, and verification in the layout design of semiconductor integrated circuit devices can be performed. In addition to improving efficiency, it also increases the degree of freedom in layout design, leading to increased efficiency.

また、論理認識部をルールベース手法を用いて実現する
ことによって、設計者は様々なテクノロジーや回路スタ
イルに対してルールを変更するだけで容易に本手法を適
用することが可能になり、その実用的効果は大きい。
In addition, by realizing the logic recognition part using a rule-based method, designers can easily apply this method to various technologies and circuit styles by simply changing the rules. The effect is significant.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の一実施例のシステム概念図、第2図
は、同実施例における論理認識部のルールの説明図、第
3図は、同論理認識部の処理フロー図、第4図は、同論
理認識部の冗長トランジスタ除去処理の説明図、第5図
は、同論理認識部の並列・直列接続認識処理の説明図、
第6図は、同論理認識部の冗長な並列・直列接続の除去
処理の説明図、第7図は、同実施例の論理式照合部にお
ける論理式から2分決定木への変換の説明図、第8図は
、従来の回路接続照合に基づくレイアウト検証方法の概
念図である。 1・・・・・・レイアウト設計結果、2・・・・・・回
路抽出部3・・・・・・トランジスタ接続情報、4・・
・・・・論理認識部5・・・・・・知識源、6・・・・
・・セル接続情報、7・・・・・・論理設計結果、8・
・・・・・論理式照合部、9・・・・・・論理図作成部
。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第1図 第2図 第3図 第4図 第 6 図 第7図 第8図
Fig. 1 is a system conceptual diagram of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of the rules of the logic recognition unit in the same embodiment, Fig. 3 is a processing flow diagram of the logic recognition unit, and Fig. 4 FIG. 5 is an explanatory diagram of the redundant transistor removal process of the logic recognition unit, and FIG. 5 is an explanatory diagram of the parallel/series connection recognition process of the logic recognition unit.
FIG. 6 is an explanatory diagram of the process of removing redundant parallel/serial connections in the logic recognition unit, and FIG. 7 is an explanatory diagram of the conversion from a logical formula to a binary decision tree in the logical formula matching unit of the same embodiment. , FIG. 8 is a conceptual diagram of a conventional layout verification method based on circuit connection verification. 1...Layout design result, 2...Circuit extraction section 3...Transistor connection information, 4...
...Logic recognition unit 5...Knowledge source, 6...
...Cell connection information, 7...Logic design results, 8.
...Logical formula matching section, 9...Logic diagram creation section. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and one other person Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 6 Figure 7 Figure 8

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)論理設計結果に基づいてレイアウト設計した結果
が元の論理設計を正しく実現しているかどうかを検証す
るレイアウト検証方法において、前記レイアウト設計結
果からそれが実現している論理を表現する論理式を導き
出すステップと、前記論理設計結果からそれが実現して
いる論理を表現する論理式を導き出すステップと、前記
両論理式が論理的に等しいかどうかを判定するステップ
とを備え、前記レイアウト設計結果が前記論理設計結果
に対して論理的に正しく実現されていることを検証する
ことを特徴とするレイアウト検証方法。
(1) In a layout verification method that verifies whether the result of layout design based on the logical design result correctly realizes the original logical design, a logical expression expressing the logic realized from the layout design result a step of deriving a logical formula expressing the logic realized by the logical design result from the logical design result, and a step of determining whether the two logical formulas are logically equivalent, A layout verification method, comprising verifying that the logical design result is logically correctly realized.
(2)レイアウト設計結果から論理式を導き出すステッ
プにおいて、ルールに基づいて論理を認識する手法を用
いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のレイ
アウト検証方法。
(2) The layout verification method according to claim 1, wherein in the step of deriving a logical formula from the layout design result, a method of recognizing logic based on rules is used.
JP63118538A 1988-05-16 1988-05-16 Layout verifying method Pending JPH01288969A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7086016B2 (en) 2002-06-20 2006-08-01 Fujitsu Limited Method and apparatus for verifying logical equivalency between logic circuits

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7086016B2 (en) 2002-06-20 2006-08-01 Fujitsu Limited Method and apparatus for verifying logical equivalency between logic circuits

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