JPH01282750A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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Publication number
JPH01282750A
JPH01282750A JP11123588A JP11123588A JPH01282750A JP H01282750 A JPH01282750 A JP H01282750A JP 11123588 A JP11123588 A JP 11123588A JP 11123588 A JP11123588 A JP 11123588A JP H01282750 A JPH01282750 A JP H01282750A
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JP
Japan
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photodetector
angle
light
optical
tracking error
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Application number
JP11123588A
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English (en)
Inventor
Masahisa Shinoda
昌久 篠田
Hideaki Kobachi
小鉢 秀彰
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、スインアーム方式により光ヘッドを移動す
る光ディスク装置に関し、更に詳述すれば光ディスクか
ら回折された反射光速を検出し、プッシュプル法により
光ディスクのトラックのトラッキングを行う光ディスク
装置に関するものである。
〔従来の技術〕
光ディスクに光学的に情報の記録又は再生を行う光ディ
スク装置においては、高速アクセス性が装置における重
要な性能の一つである。そこで、アクセス時間を短縮さ
せるための一つの方式として、例えば特開昭58−53
035号公報に開示されたスインアーム方式と呼ばれる
ものがある。第5図は、従来のスイングアーム方式の光
ディスク装置の光ヘッド及びトラッキング装置の構成を
示す模式的斜視図である。図においてlは光ヘッドのフ
レームである光へラドベースであり、光へラドベース1
内に光ヘッドの光学系が構成されている。
即ち、光源である半導体レーザ2の出射方向に、半導体
レーザ2から所定の放射角で出射されたレーザビームを
平行ビームにするためのコリメータレンズ3及び光ディ
スク8への入射ビームと該光ディスク8からの反射ビー
ムとを分離する偏光ビームスプリッタ4が順次配設され
ている。偏光ビームスプリッタ4の反射方向にはレーザ
ビームを直線偏光及び円偏光に変換するA波長板5及び
レーザビームを90°方向に反射する反射ミラ6が順次
配設されており、また反射ミラ6の反射方向には光ディ
スク8上に入射させるレーザビームを直径数ミクロンの
スポットに絞るための対物レンズ7が配設されており、
光ディスク8上の全面に設けられた案内溝9(図示は一
部のみ)上にレーザビームが集光される。
一方偏光ビームスプリッタ4の透過方向とには、レンズ
10、反射ビームを反射及び透過させるハーフプリズム
11、該ハーフプリズム11で透過した光速の略半光束
を遮蔽するためのナイフェツジ12及び該ナイフェツジ
12を透過した略半光束を受光するための2つの受光面
を有するフォトダイオードからなる第1光検出器13が
設けられている。この第1光検出器13の分割線13a
はナイフェツジ12に対して平行となしである。またハ
ーフプリズム11の反射方向には反射した光束を2つの
受光面で受光するように配設されたフォトダイオードか
らなる第2光検出器14がその受光面の境界である分割
線14aを光学的にみて光ディスク8の案内溝9の接線
方向と略平行となるように光ヘツドベース1に固設され
ている。
第1光検出器13の2つの受光面の出力は第1差動増幅
器15に与えられ、フォーカスエラ信号FEを生成する
。なおナイフェツジ12、第1光検出器13及び第1差
動増幅器15はナイフェツジ法と呼ばれる公知のフォー
カスエラ検出系を構成している。
また第2光検出器14の2つの受光面の出力は第2差動
増幅器16と加算器17とに各別に与えられ、第2差動
増幅器16はトラッキングエラ信号TEを生成し、加算
器17は再生信号RFを生成する。なお第2光検出器1
4及び第2差動増幅器16はプッシュプル法と呼ばれる
公知のトラッキングエラ検出系を構成している。
一方光へラドベース1の一端近傍には、この光へラドベ
ース1の旋回中心軸である回転軸18がその軸方向を光
ディスク8と直交方向となし適宜の係合手段により取付
けられ、光へッドベ7ス1は図示しない駆動機構により
回転軸18を中心に揺動する。
次に以上の如く構成された従来の光ディスク装置の動作
について説明する。光へラドベース1は回転軸18を中
心に揺動し、光ディスク8上の所定の半径位置の案内溝
9に位置決めされる。このときアクセスの方式としては
、上記の揺動のみによるものを揺動で概略的な粗アクセ
スを行い、対物レンズ7を光ディスク8の半径線19に
沿って微少に変位させ、いわゆる密アクセスを行う2段
方式%式% 光へラドベース1が所定の案内溝9位置にアクセスされ
たのちはこの案内溝9をトラッキングし、情報の記録又
は再生が行なわれる。この案内溝9をトラッキングさせ
るための動作は前述したプッシュプル法によるトラッキ
ングエラ検出系によって行なわれる。
次にプッシュプル法によるトラッキングエラ検出原理を
説明する。
第6図はプッシュプル法によるトラッキングエラ検出原
理を説明する図であり、第5図のうち原理説明に必要な
部分を模式的に示している。また第6図(a)、 (b
)、 (C)は光学系の模式的断面図であり、第6図(
d)、 (e)、 (f)は第2光検知器14の2つの
受光面での光束の分布を示す模式図である。さらに第6
図(a)、 (d)は案内溝9と集光されたレーザビー
ムの中心とのずれが無い場合を示し、案内溝9の両縁に
よって回折された1次回折光分布21.22は均等とな
る。従って第2光検出器14の夫々の受光面にあられれ
る1次回折光分布23.24は分割線14aに対して対
称となるので、第2差動増幅器16のトラッキングエラ
信号TEは零となる。
第6図(b)、 (e)は案内溝9がレーザビームの中
心に対して+X方向(第6図上方向)にずれた場合を示
し、1次回折光分布21.22及び同23.24はずれ
によりレーザビームの中心及び分割線14aに対して夫
々非対称となり、この結果第2光検出器14のトラッキ
ングエラ信号TEは例えば正となる。
また第6図(C)、 (f)は第6図(b)、 (e)
と逆方向に案内溝9がずれた場合であり、この結果第2
光検出器14のトラッキングエラ信号TEは例えば負と
なる。
以上説明した如く、第2光検出器14の出力の極性と大
きさとから、案内溝9とレーザビームの中心とのずれの
方向と大きさとが検出でき、第2光検出器14の出力で
あるトラッキングエラ信号TEが常に零となるように光
へラドベース1又は対物レンズ7を駆動することによっ
て案内溝9の追従を行なうことができる。
[発明が解決しようとする課題] 従来のスイングアーム方式によってアクセス動作を行う
光ディスク装置は以上のようにしてトラッキングを行う
ので、光ヘッドの揺動動作によって光ヘツドベース1に
固設された第2光検出器14の分割線14aと案内溝9
との平行関係が(ずれ、トラッキングエラ信号THの振
幅の劣化及びオフセットが発生するという問題点があっ
た。
上記問題点を第7図〜第9図を用いて説明する。
第7図は光ディスク8と揺動動作をするレーザビームの
照射位置との関係を示す模式的平面図であり、20は回
転軸18を中心に光へラドベース1を揺動動作させたと
きに、光ディスク8上に照射れたレーザビームの軌跡を
示している。また9a+9b、 9cは夫々最内周、最
外周、中心円における案内溝を、またA、B、Cは夫々
案内溝9a、 9b、 9cにおけるレーザビームの照
射点を示し、照射点Cは半径線19上にある。また第7
図の如く、中心円における案内溝90をトラッキングす
る場合の光へラドベース1の揺動角を零とすると、最内
周の照射点Aをトラッキングするためにはθaの揺動角
゛が、また最外周の照射点Bをトラッキングするために
はθbの揺動角が夫々必要となる。また照射点A及び同
Bは半径線19上から離れているため、そこにおける室
内溝9a、 9bの接線は半径線19上の照射点Cの接
線に対して夫々傾きθA 、同θ6だけ傾いている。ト
ラッキングエラを検出する第2光検出器14は光へラド
ベース1に固定されている。
分割線14aと案内溝9の接線とが広角的に見て平行で
あるのは照射点Cにおいてのみであり、その他の照射点
においては揺動角によって照射点での案内溝の接線と分
割線14aとの平行関係はくずれる。
第8図は、第2光検出器14の2つの受光面上での光強
度分布を示した図であり、第8図(a)、■)。
(C)は夫々第7図の照射点A、B、Cに対応している
。第8図(a)に示す照射点Aにおいては、第2光検出
器14の分割線14aに対して、光強度分布の対称軸1
4bは、揺動角θaと傾きθbとの和(θa+θb)だ
け傾(。逆に第8図(b)に示す照射点Bにおいては、
分割線14aに対して対称軸14bは揺動角θbと傾き
θbとの差(θb−θ6)だけ第8図(a)・と逆方向
に傾く。
第9図は光へラドベース1を光ディスク8の最内周から
最外周まで連続的に揺動動作させて得られるトラッキン
グエラ信号THの波形を示すグラフであり、縦軸にトラ
ッキングエラ信号THの振幅を、また横軸に光ディスク
の径方向の距離をとって示している。
第9図から明らかな如く照射点Cから光へラドベース1
が離隔するに従い、トラッキングエラ信号TEが振幅が
減衰し劣化する。即ちスイングアーム方式により光へラ
ドベース1を移動する光ディスク装置において、トラッ
キングエラ信号T[をプッシュプル法にて生成させた場
合、光へラドベース1の揺動角と案内溝9の接線の傾き
とによって、第2光検出器14の受光面における分割線
14bに対して光強度分布の対称軸が傾き、これがトラ
ッキングエラ信号TEの振幅を劣化させ、結果として検
出感度が低下するという問題点が発生する。
また、第2光検出器14の調整が完全に行なわれず、基
準となる照射点Cにおいてトラッキングエラ信号TEに
オフセットがある場合には照射点A及びBにおいてさら
に増大させたオフセットが発生するという問題点がある
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たものであり、スイングアーム方式を用いた光ディスク
装置において、第2光検出器を光へラドベースの揺動角
に基づき回動することにより、プッシュプル法によりト
ラッキング制御を行う場合であっても、揺動角によらず
トラッキングエラ信号の品質を一定に保ことができる光
ディスク装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る光ディスク装置は、光ヘッドの揺動角を
検出し、その揺動角に基づきトラッキングエラ信号生成
用の光検出器の回動角度を算出するとともに、算出され
た回動角度に基づく信号により光検出器を回動手段によ
り受光面内で回動できにようにしたものである。
〔作用〕
この発明における光ディスク装置は、角度検出手段によ
り検出された光ヘッドの揺動角に基づき、トラッキング
エラ信号生成用の光検出器を受光面内で回動させ、光検
出器の複数の受光面の境界と光ビームの照射位置での案
内溝の接線とが常に所定の角度となり、トラッキングエ
ラ信号の振幅の変化を少なくする。
〔実施例〕
以下本発明に係る光ディスク装置をその一実施例を示す
図面に基づき詳述する。
第1図は本発明の光ディスク装置の光ヘッド及びトラッ
キング装置の構成を示す模式的斜視図である。第1図に
おいて符号1〜13.15〜20は第5図に示す従来例
のものと同−又は同等のものである。図において1は光
ヘッドのフレームである光へラドベースであり、光ベン
ドベース1内に光ヘッドの光学系が構成されている。即
ち光源である半導体レーザ2の出射方向に、半導体レー
ザ2から所定の放射角で出射されたレーザビームを平行
ビームにするためのコリメータレンズ3及びCD等の円
盤状の光ディスク8への入射ビームと該光ディスク8か
らの反射ビームとを分離する偏光ビームスプリッタ4が
順次配設されている。偏光ビームスプリッタ4の反射方
向にはレーザビームを直線偏光及び円偏光に変換する2
波長板5及びレーザビームを90°方向に反射する反射
ミラ6が順次配設されており、また反射ミラ6の反射方
向には光ディスク8上に入射させるレーザビームを直径
数ミクロンのスポットに絞るための対物レンズ7が配設
されており、光ディスク8上の全面に円環状に設けられ
たトラックである案内溝9(図示は一部のみ)上にレー
ザビームが集光される。
一方偏光ビームスプリッタ4の透過方向には、レンズ1
0、反射ビームと反射及び透過させるハーフプリズム1
1、該ハーフプリズム11で透過した光束の路上光束を
遮蔽するためのナイフェツジ12及び該ナイフェツジ1
2を透過した路上光束を受光するための2つの受光面を
有するフォトダイオードからなる第1光検出器13が設
けられている。この第1光検出器13の分割線13aは
ナイフェツジに対して平行となっている。またハーフプ
リズム11の反射方向には反射した光束と2つの受光面
で受光するように配設されたフォトダイオードからなる
第2光検出器14(第2図参照)の回動手段である光検
出器アクチュエータ29の固定軸29d(第2図参照)
が光へラドベース1に固設されている。
第1光検出器13の2つの受光面の出力は第1差動増幅
器15に与えられ、フォーカスエラ信号FIIEを生成
する。なおナイフェツジ12、第1光検出器13及び第
1差動増幅器15はナイフェツジ法と呼ばれる公知のフ
ォーカスエラ検出系を構成している。
また第2光検出器14の2つの受光面の出力は第2差動
増幅器16と加算器17とに各別に与えられ、第2差動
増幅器16はトラッキングエラ信号TEを生成し、加算
器17は再生信号RFを生成する。なお第2光検出器1
4及び第2差動増幅器16はプッシュプル法と呼ばれる
公知のトラッキングエラ検出系を構成している。
一方光へラドベース1の一端近傍には、この光へラドベ
ース1の旋回中心軸である回転軸18がその軸方向を光
ディスク8と直交方向となし適宜の保合手段により取付
けられ、光へラドベース1は図示しない駆動機構により
回転軸18を中心に揺動する。
また回転軸18に近接して光へラドベース1には光ヘッ
ドの揺動角を検出するための発光ダイオード25が配設
され、光へラドベース1に相隣した図示しない固定部に
は発光ダイオード25の出射光を受光すべ(なした半導
体装置検出素子26が配設されている。該半導体装置検
出素子26の出力端子は揺動角検出回路27に接続され
、ここで光へラドベース1の揺動角が検出される。また
揺動角検出回路27の出力端子は光検出器アクチュエー
タ29の回動制御を行う回動制御回路28に接続され、
その出力端子は光検出器アクチュエータ29に接続され
ている。
第2図は光アクチュエータの構成を示す斜視図であり、
円筒状をなした縮径部と拡径部とを有し、ハーフプリズ
ム11の反射例の光軸とその中心を同軸とした固定軸2
9dが光へラドベース1に固設されている。固定軸29
dの縮径部には、その長さを縮径部と略同寸となし、ま
たその径を拡径部と略同寸となした円筒状のターンテー
ブル29bが外嵌され、固定軸29dと回動自在となし
である。またターンテーブル29bの一側にはトラッキ
ングエラ検出用の第2光検出器14がその受光面をハー
フプリズム11に向けて取付けられている。第2光検出
器14はフォトダイオードからなりその受光面を分割線
14aにより2つに分割されており、夫々の受光面から
の出力線が固定軸の貫通孔を通って第2差動増幅器16
及び加算器17に接続されている。またターンテーブル
29bの外周上の対向する位置には2つのコイル29c
、 29cが固定されている。さらにコイル29c、 
29cと対向する位置には、円筒の区を切取った如き形
状の2極着磁された2つの磁石29e、 29eが光へ
ラドベースlに取付けられている。
次に本発明の詳細な説明する。光へラドベース1のアク
セス動作による揺動運動によって、光へラドベース1に
固定された発光ダイオード25の出射光方向が変化する
ため、これを半導体装置検出素子26で受光し、その出
力信号を揺動角検出回路27に入力することにより、光
へラドベース1の揺動角が検出される。検出された揺動
角が回動制御回路28に人力されると、回動制御回路2
8に記憶された数表又は数式に基づき、揺動角に対応す
る案内溝9の接線の傾きを算出する。そしてその傾きに
より上記揺動角と上記傾きとの和又は差で表わされる第
2光検出器14の回動角度を求める。求められた回動角
度を示す回動信号は光検出器アクチュエータ29に入力
され、その回動角度だけ第2光検出器14を回動する。
この回動により、第2光検出器14の2つの受光面の分
割線14aはその受光面での光強度分布の対称軸と略一
致する。換言すれば分割線14aと案内溝9の接線とが
光学的に見て略平行となる。
第3図は光検出器アクチュエータの底面図であり、2つ
のコイル29c、 29cのP部(紙面と垂直方向のコ
イル線部分)に紙面と垂直方向に下方から上方に向う電
流(O印で図示)を流し、またP部と対向するコイル線
部分であるB部に紙面と垂直方向に上方から下方に向う
電流(■印で図示)を流すことによって、上記電流と2
つの磁石29e、 29eにょうで発生する磁界間に電
磁力が発生し、第2光検出器14及びターンテーブル2
9bは時計方向に回転する。またコイル29c、 29
cに流す電流を逆にすることによって反時計方向に回転
する。従って回動制御回路28の回動信号をコイル29
c、 29cに入力することによって、第2光検出器1
4を回動させることができ、光へラドベース1の揺動に
よって発生する第2光検出器14の2つの受光面での光
強度分布の対称軸の分割線14aに対する傾きだけ、第
2光検出器14を回動させて、常に分割線14aと対称
軸とが平行となるよう保持させられる。この結果光へラ
ドベース1の揺動角によらずプッシュプル法にて信号品
質が一定なトラッキングエラ信号を得ることができる。
次に本発明の他の実施例について説明する。上記実施例
では光へラドベース1全体を揺動運動させてアクセス動
作を行う構成としたが、本実施例ではアクセス動作を行
うに必要な対物レンズ7を含む光学系のみ揺動運動させ
る。第4図は他の実施例の構成を示す模式的斜視図であ
り、第1図と同−又は同等の部品は同一符号が付されて
いる。
30は固定光へラドベースであり、この中に配設されて
いる符号(2)〜(6)、00)〜04)、(29)の
部品は第1の実施例と同−又は同等のものであり説明を
略す。
固定光ヘッドベース30の一端に配設された反射ミラ6
の反射ビーム方向には、その反射ビームをさらに反射さ
せる反射ミラ32.33及び対物レンズ7を備えた可動
光へラドベース31が設けられており、反射ミラ6の反
射ビーム軸と同軸に配された回転軸18をその旋回中心
として固定光ヘッドベース30に対して回動自在となっ
ている。また可動光ビームヘッド31の回転軸18に近
接した位置には可動光へラドベース31の揺動角を検出
するための発光ダイオード25が配設されている。また
可動光ヘッドベース31に相隣した図示しない固定部に
は発光ダイオード25の出射光を受光すべくなした半導
体装置検出素子26が配設されている。該半導体装置検
出素子の出力端子は揺動角検出回路27に接続され、こ
こで可動光へラドベース31の揺動角が検出される。ま
た揺動角検出回路27の出力端子は光検出器アクチュエ
ータ29の回動制御を行う回動制御回路28に接続され
、その出力端子は光検出器アクチュエータ29に接続さ
れている。その他符号8,9゜15〜17の部品又は部
位は第1図と同−又は同等のものである。
以上の如く構成された第2の実施例では可動光へラドベ
ース31がアクセス動作によって第7図における照射点
A又は同Bでトラッキングを行う場合、第2光検出器I
4の受光面における光強度分布の解消軸の傾きはと、案
内溝9の接線の傾きθd又はθ6となる。即ち、トラッ
キングエラ信号Tnの振幅の劣化の原因である光強度分
布の対称軸の傾きは、可動光へラドベース31の揺動角
には影響を受けず、案内溝9のトラッキング時の照射点
が半径線19上に無いことによる照射点での接線の傾き
の影響だけを受けることが第1の実施例と第2の実施例
との相違点である。
次に第2の実施例の動作について説明する。
第1実施例と同様にして発光ダイオード25、半導体装
置検出素子26及び揺動角検出回路27により可動光へ
ラドベース31の揺動角を検出し、この揺動角に対応す
る案内溝9の接線の傾きを、回動制御回路28に記憶さ
れた数表又は数式に基づき算出する。算出された傾きを
光検出器アクチュエータ29の回動角度とし、これに基
づ(信号を光検出器アクチュエータ29に入力し、第2
光検出器14を回動させ、その光強度分布の対称軸と分
割、91!14aとを平行にする。結果として第1実施
例と同様にトラッキングエラ信号TEの品質を一定とす
ることができる。
なお前述した2つの実施例では光へラドベース又は可動
光ヘッドベースの揺動角を検出するために発光ダイオー
ドの受光素子として半導体装置検出素子を用いたが、本
発明はこれに限るものではなく少なくとも2つの受光面
を有する多分割型光検出器でもよい。またロータリエン
コーダ等の他の回転角検出手段を用いてもよい。
また本発明はライトワンス型、光磁気型、相変化型等の
案内溝を有する光ディスクに適用できるのは言うまでも
ないが案内溝を有していなくても、すでにビットとして
情報が記録されていて、ブツシュプル法によるトラッキ
ングエラ信号が抽出できるものについてはすべて適用で
きる。
さらに本実施例では光検出器アクチュエータとしてコイ
ルと電磁石とを用いたが、本発明はこれに限るものでは
なく、光検出器を回転できる手段であればよい。
〔発明の効果〕
以上詳述した如くこの発明に係る光ディスク装置によれ
ば、光ヘッドの揺動角の検出を行う角度検出手段を設け
、検出された揺動角に基づいて、光検出器を回転させる
ので、トラッキングエラ信号の振幅劣化がなくなり、 信転性の高いトラッキングを行える効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による光ディスク装置を示
す模式的斜視図、第2図はこの発明の光検出器アクチュ
エータの構成を示す斜視図、第3図はこの発明の光検出
器アクチュエータの動作を説明する底面図、第4図はこ
の発明の他の実施例による光ディスク装置を示す模式的
斜視図、第5図は従来の光ディスク装置を示す模式的斜
視図、第6図はプッシュプル法の原理を説明する光学系
の模式的断面図、第7図は光ディスクとレーザビームの
照射位置との関係を示す模式的平面図、第8図は第2光
検出器における光強度分布を示す同、第9図はトラッキ
ング信号波形グラフである。 1・・・光へラドベース 2・・・半導体レーザ 7・
・・対物レンズ 8・・・光ディスク 9・・・案内溝
14・・・第2光検出器 16・・・第2差動増幅器 
18・・・回転軸 25・・・発光ダイオード 26・
・・半導体装置検出素子 27・・・揺動角検出回路 
28・・・回動制御回路29・・・光検出器アクチュエ
ータ 29c・・・コイル29e・・・磁石 31・・
・可動光へラドベースなお、図中、同一符号は同一、又
は相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、情報を記録する光ディスク上に設けられた円環状の
    案内溝に光ビームを照射し、前記案内溝をトラッキング
    するために前記光ディスクに平行な面で揺動する光ヘッ
    ドを備え、前記光ディスクで回折された反射光ビームを
    検出する複数の受光面を有する光検出器の検出結果によ
    り前記情報を読取り、またトラッキングを補正する光デ
    ィスク装置において、前記スイングアームの揺動角を検
    出する揺動角検出手段と、 前記光検出器を前記複数の受光面の中心回りに、この受
    光面内で回動させる回動手段と、前記揺動角検出手段で
    検出された揺動角に基づき、前記光検出器の複数の受光
    面の境界と前記光ディスク上の光ビームの照射位置にお
    ける前記案内溝の接線とが所定の角度となる回動角度を
    算出し、それに基づく信号を前記回動手段に与え、前記
    光検出器を前記回動角度に基づく信号により回動させる
    回動制御手段と を具備することを特徴とする光ディスク装置。
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