JPH01276025A - 光学測定器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は光源からの光を被測定物に投光し、被測定物か
らの反射光を受けて被測定物の色彩や光沢、反射率と云
った光学特性を測定する光学測定装置に関するものであ
る。

（従来の技術） この種の測定器で、測定の高速化に対応するためキセノ
ン管と云った閃光光源が適用されるようになっている。

従来この光源は使用による劣化で使用不能になったとき
、機器と共に使い捨てられるか、新しいものと取り替え
られるようになっている。

（発明が解決しようとする課題） しかし従来光源の使用不能状態は、光源が発光しなくな
ったことでしか判断することができなかった。ところが
光源は使用によってスパンタリングに原因した電極の飛
散で光量が経時的に低下し、発光しなくなるかなり前の
段階で光量不足により測定精度を保証できなくなる。し
たがって実際の測定に当たって光源の劣化に気付かず測
定が不適正に継続されることが多い。

そこで本発明は、光源の所定の劣化状態を検知し、光源
が所定劣化状態になったときそれを表示することで前記
のような問題を解消し得る光学測定器を提供することを
目的とするものである。

（課題を解決するための手段） 本発明は前記のような目的を達成するために、光源から
の光を被測定物に投光し、被測定物からの反射光を受け
て被測定物の光学特性を測定する光学測定器において、
光源の所定劣化状態を検知する手段と、光源の劣化を表
示する手段と、前記検知手段が所定劣化状態を検知した
とき前記表示手段を働かせる制御手段とを備えたことを
特徴とするものである。

また検知手段は光源の光の質の変化をモニターし、その
変化量が所定レベルを越えることによって光源の劣化状
態を検知するものとすることができる。

（作　用） 光源は使用によって劣化する。この劣化は光源の累積動
作時間に比例して生じ、また光源の光量変化、光源の光
の特性例えば色温度や色度点の変化として現れる。そこ
で検知手段はそれら情報の１つまたは組合せから光源が
所定の劣化状態になるのを検知することができる。所定
の劣化状態が検出されると制御手段によって表示手段が
働く、これによって光源が所定の劣化状態になればそれ
を使用者に明確に表示することができる。したがって所
定の劣化状態が光源の使用限度に設定しておけば光源が
使用限度以上に使用されて測定精度が低下するようなこ
とを解消することができる。

また検知手段が光源の光の質をモニターして劣化状態を
判別するものであると、照度として出にくい劣化をも的
確に検出することができ、色彩を測定する上で有効であ
る。

（実施例） 第１図から第９図に示す本発明の第１実施例について説
明する。

本実施例は第１図のブロック図に示すように、パーソナ
ルコンピュータと云った外部機器Ａに接続して使用され
る色彩計Ｂの場合を示している。

色彩計Ｂは具体的には第２図から第５図に示すように、
光源ｌとその投光系２が横長機体３の前端部内に設けら
れ、機体３の他の部分と断熱壁４によって隔てられてい
る０機体３の他の部分には光源ｌのモニタ一部５と、投
光系２からの投光によって照明される被測定物４０のモ
ニタ一部７と、光源１の発光用電源回路８および発光回
路９とが配設されている。また各モニタ一部５．７の各
受光センサ１１．１２を通じて各モニタ一部５．７から
の光情報を受ける光電変換回路１３とそれを制御するＣ
ＰＵ回路１４も配置されている。

そして第３図に示すように発光用電源回路８および発光
回路９は機体３の断熱壁４側に寄った部分の両側に配し
ているのに対し、光電変換回路１３およびＣＰＵ回路１
４は機体３の後端部内に配してあり、光源１および投光
系２からの熱影響のほか、発光用電源回路８および発光
回路９で発生する熱の影響も受けにくいようになってい
る。またこれら各回路８．９．１３．１４に囲まれた部
分にモニタ一部５．７が配置されている。

機体３の後端面には第５図に示すように、電源入力コネ
クタ２１、外部機器Ａとの通信を行う外部通信用コネク
タ２２、外部トリガを受は付ける外部入力端子２３およ
び状態表示部２４がそれぞれ設けられている。状態表示
部２４は電源のオン、オフや光源ｌのランプ交換、セン
サ１１．１２の状態、外部からの入力可否、通信状態と
云った種々の表示を行うために、多数の表示灯２４ａ、
２４ｂ　−−−−−・・が設けられている。

そして機体３は開口部のない密封構造とされ、図示しな
いが外面での接合部分にはシールバッキングを介装して
防塵、防水を図っている。

投光系２は投光側鏡筒３１と光源側拡散室３２とが上下
に続いたものとして機体３の全高よりも少し低い状態で
設けられ、その上端部に光源取付台３３が設けられてい
る。この光源取付台３３の上に光源１が着脱可能に取付
けられ、光源取付台３３にその全体を光源１と共に覆う
蓋体３４がヒンジ３５によって開閉可能に取付けられて
いる。

光源ｌは本実施例の場合パルスキセノン管Ｘｅを用いて
おり、光源取付台３３の拡散室３２が開口している部分
の直上部に、その開口の直径線に沿うような向きで設け
られている。光源１の背部は蓋体３４の内面に設けた反
射鏡３６で覆い、光源１からの光を拡散室３２側に向け
て有効利用するようにしである。反射鏡３６は均一照明
のために拡散性の高い色、つまり白色とされるのが好適
であり、また光源１が高熱部となるのでセラミックスや
フッソ系樹脂等の耐熱性に優れたものが適している。特
にフッソ系樹脂としてはポリテトラフルオルエチレンが
優れた拡散性を発揮するので有効である。

同じような理由で拡散室３２も反射鏡３６と同じ材料で
作られる。拡散室３２と投光側鏡筒３１との間には拡散
板３７が設けられ、投光側鏡筒３１へは充分に拡散され
た均一光が入るようにしである。

拡散板３７は白色ガラス板やスリガラス板が適当である
。また拡散板３７かその近くに拡散板３７を経た光が投
光レンズ３Ｂに入射するための光学的な開口３９が設け
られている。この間口３９は投光レンズ３８の焦点位置
に位置することで、投光レンズ３８を経た光が平行光と
なって被測定物４ｏに投光されるようにする。このため
開口３９は小さいほどよいが照明効率が著しく低下する
ため適当な大きさに設定される。開口の形は円形のほか
光源１の形状に合ったスリット状等とされる。

光源１のモニタ一部５は一端が投光側鏡筒３１内に臨ん
で開口３９に向けられたモニター用光ファイバ４１を持
っている。これにより光ファイバ４１は光源ｌからの光
の特に拡散後被測定物４ｏに投光される光そのものを受
は入れることができる。光ファイバ４１はその他端がモ
ニター側の拡散室４２に接続され、前記受は入れた光を
拡散室４２を介し前記受光センサ１１に導くようになっ
ている。

被測定物４０のモニタ一部７は、光源１からの投光光路
４３上に設定される投光レンズ３８から所定路ＭＬ離れ
た測定位置Ｓに向けられた受光側鏡筒５１を有している
。受光側鏡筒５１は測定位置Ｓに焦点を合わされた受光
レンズ５２を持ち、被測定物４０の測定値ｒ？（Ｓにお
ける特定部分からの反射光を受光するようになっている
。受光側鏡筒５１は受光側光ファイバ５３でモニター側
の今１つの拡散室５４に接続され、前記受光した光を拡
散室５４を介しセンサ１２に導くようになっている。

光源１から被測定物４０への投光は平行光であるため、
投光レンズ３８からの投光距離が変化しても均一照度の
照明面積は変わらない。しかし実際上は所定路ＭＬをあ
る範囲内に設定しないと照度変化の影響で測定を正確に
行えない。

そこでこのような距離設定を行うのに本実施例では投光
系２の両側に距離合わせ用の補助投光器６１．６２が設
けられている。各補助投光器６１．６２は発光ダイオー
ドや平行光を発する光源６３と、この光源６３からの光
を投光する投光レンズ６４とからなっている。各補助投
光器６１．６２は投光系２からの投光光路４３上の所定
路ＭＬとなる測定位置Ｓで交叉する距離合わせ用の補助
投光光路６５．６６を持つように投光系２を境にした対
称の状態で配置されている。実際には前記位置で３つの
光路４３．６５．６６の光軸が一致するようになってい
る。

さらに各補助投光器６１．６２は投光レンズ６４によっ
て光源６３の光が前記位置Ｓで結像するようになってい
る。

これによって第４図に示すように被測定物４０上の一点
で前記各光路４３．６５．６６の光が重なるように機体
３と被測定物４０との相対距離を決めれば、機体３と被
測定物４０とは測定に適した位置関係となる。この位置
がずれるとそのずれ量に応じて、各投光光路６５．６６
の被測定物４０上での投光位置が次第に離れる。したが
って使用者は各投光光路６５．６６の投光位置が離れて
いると測定距離が適切でない旨知ることができ、各投光
位置が近付く側に機体３と被測定物４０との相対距離を
調節することによって、各投光位置が被測定物４０上で
一致する適正な測定距離に設定することができる。

このような距離設定は機体３および被測定物４０の一方
または双方を動かして行うことができる。しかし測定が
第２図、第４図、第６図に示すようにコンベア７１上を
流れる被測定物４０を対象とするような場合、被測定物
４０側を高さ調節するのは適していない。そこで機体３
を昇降式スタンド７２の昇降台７３上に載せ、スタンド
７２の側の高さ調節によって距離設定を行うのが便利で
ある。

また正確な測定のためには機体３を被測定物４０に対し
正しい姿勢で対向させるのが望ましい。

このため機体３の天板部に水平設置の基準として水準器
７４が設けられ、上方から観察できるようになっている
。

受光側鏡筒５１は測定位置に向けられているが、投光系
２を避けた後方から斜めに向けられている。しかし被測
定物４０によってはそのような角度では輝度が高く色測
定が行えないと云ったこともある。このためそのような
影響のない角度を選べるように受光側鏡筒５１は角度調
節可能にしである。

この角度調節のために、機体３の受光側鏡筒５１が外部
に臨む部分で、測定位置Ｓを中心とした湾曲ガイド８１
によって保持案内し、このガイド８１に沿って受光側鏡
筒５１が移動することによって受光側鏡筒５１は測定位
置を向いたまま傾斜角が変化し、測定位置Ｓへの投光角
度が調節される。

また受光側鏡筒５１の角度が調節されるとき、その設定
角度を検出して電気回路、光源１の発光量に自動的な補
正、調整を行うことができる。

受光側鏡筒５１の角度を調節する代わりに、被測定物４
０からの反射光に方向性があってたまたま強い光を受光
したような場合電気回路的に補正することもできる。

光源１は使用によって電極がスパッタリング等のため次
第に飛散していき光量が低下していく。このため所定光
量以下になるような場合取替えることが望まれる。そこ
で光源１は蓋体３４を開いて取替えできるようにしであ
るが、この取替えのために光源１はその両端に設けた途
中に屈曲部を持つ弾性端子板８１．８２を光源取付台３
３上の固定電極８３．８４にそのねじ部８３ａ　、８４
ａに嵌め合わせてナツト８５で確固に締結しである。

これによって電極８３．８４と端子板８１．８２を介し
た光源１との電気的な接続が確実になされる。

その反面端子板８１．８２の弾性変形によって光源１の
発熱時の伸びやねじりを吸収し、光源１が変形したり損
傷したりするのを防止することができる。

なお機体３内には補助回路基板８６も設けられている。

さらに蓋体３４の天板上面には放熱用のフィン３４ａが
多数形成されている。この放熱用フィン３４ａを固定電
極８３．８４に熱的に接触させることにより、光源ｌの
放熱性を向上させ寿命を延ばすことができる。

次に電気まわりについて詳述する。第１図に示すように
センサ１１は光源モニタ一部５側に導かれる光を基本色
成分に分解するフィルターＦ。

、Ｆ２−・−・−Ｆｎを有し、その分解した各基本色成
分が光電変換回路１３の各基本色成分検出素子り。

〜Ｄｎによって電気信号に光電変換される。

またセンサ１２は被測定物モニタ一部７側に導かれる光
をセンサ１１の場合と同じ基本色成分に分解するフィル
ターＦｌ’、ｐｚ′　・・−・−・−ｐｆｉｌ　を有し
、その分解した各基本色成分が光電変換回路１３の基本
色成分検出素子り、ｌ〜Ｄ７”によって電気信号に光電
変換される。

各基本色成分検出素子Ｄ１−Ｄ、　、０．１〜Ｄ７゜は
、フォトダイオードや光電管のような受光素子からなる
。検出素子と口、と０．ｌ　、０２とり、ｌ、−−−−
−−・０７とり、　ｌ　とは、夫々、同じ基本色成分を
検出するようになっている。実施例においては、ｎ＝３
と設定されており、Ｘ７２表色系における三刺激値Ｘ、
Ｙ、Ｚを検出するようになっている。各検出素子り、〜
Ｄｉ　、ＤＩ゛　〜Ｄ、　＋の検出出力は、増幅回路Ａ
、〜Ａｎ　、Ａｌ°〜Ａｎ１により所定のレベルに増幅
され、ゲート回路Ｇｌｌ〜ＧＩｎ、ＧＩＩ゛〜Ｇ１７゛
　を介して、サンプルホールド回路Ｈ５〜Ｉ１．　、Ｈ
＋’　〜ｌｎｌ　に入力される。

サンプルホールド回路Ｈ１〜Ｈ，，、Ｈｌ”〜Ｈ７゜に
て蓄積された信号は、ゲート回路Ｇ２１〜Ｇ２Ｒ１Ｇ２
．′〜Ｇ２．．”を介して、Ａ／Ｄ変換回路ＡＤ、〜へ
ｏｎ　、八〇、゛〜　ＡＤ、ｌ’　に入力される。Ａ／
Ｄ変換回路　ＡＤ、〜ＡＤ、　、ＡＤＤ’〜　ＡＤ、　
’　にてデジタル信号に変換された各基本色成分につい
ての測光値は、ＣＰｔ１ｌｌＯに入力される。ＣＰＵＩ
　１０には、表示部１１１と、システムプログラム１１
２、色情報等格納部１１３、クロック１１４、遅延回路
１１５、リアルタイムクロック１１６、及び、Ｉ１０ボ
ート１２０が接続されている。表示部１１１は、測定デ
ータを出力したり、色彩の目標値を表示したりするもの
であり、ＬＣＤデイスプレィやプリンタ等よりなる。シ
ステムプログラム１１２は、ＣＰＵ１１０が実行すべき
プログラムを記憶している。

色情報等格納部１１３は、基本色成分の測光データや校
正係数等を記憶するものであり、ＲＡＭ内のワークエリ
アを用いて構成される。クロック１１４は、ＣＰＵｌｌ
０を動作させるためのシステムクロックである。遅延回
路１１５は、測定要求が発生ずると、所定の遅延時間の
経過後にＣＰＵｌｌ０に割り込みをかけて、測定動作を
開始させるための回路であり、遅延時間はゼロでも構わ
ない。

リアルタイムクロック１１６は時計用のＩＣ等よりなり
、ＣＰｔ１ｌｌＯに測定時刻のデータ等を与えるもので
ある。さらにｃｐｕｌｉｏにはシリアルデータ通信部１
２２が接続されており、これを介して外部機器Ａとデー
タ通信が行われる。Ｉ１０ポート１２０は、ＣＰＵｌｌ
０と周辺回路との間でデータの入出力の制御を行うため
の回路である。Ｉ１０ボート１２０には、キーマトリク
ス１２１が接続されており、キーボード上のテンキーか
ら各種のデータを入力できるようにしている。また、Ｉ
１０ポート１２０には警告部１２２が接続されており、
測定動作等に異常があるときに、警告を行い得るように
している。Ｉ１０ボート１２０からは、サンプルホール
ド回路）１１””’　Ｎｎ　、Ｈｌ　　〜ＩＩ、ｌ’　
及びＡＩＤ変換回路八〇へ〜ＡＤｌｌ、　ＡＤ、’〜　
ＡＤ、　’　のリセット信号ＣＩと、発光回路９を付勢
・消勢するための発光回路信号Ｃ２と、ゲート回路Ｇｌ
ｌ〜Ｇｌｎ、Ｇ１１′〜ＧＩｎ’　の開閉コントロール
信号Ｃ３と、ゲート回路Ｇｚ＋　−Ｇｚｎ　、ＧｔＩ’
〜ＧＺｎ’　　の開閉コントロール信号Ｃ４とが出力さ
れている。Ｉ１０ボー）１２０には前記状態表示部２４
も接続されている。

ここで発光回路９はキセノン管Ｘｅである光源ｌを発光
させるための昇圧充電回路を含み、光源取り替えのため
に蓋を開けて作業する際の手順や要領が悪いと、電極接
続部に触れて充電状態の高電圧に感電しあるいは光源１
の発光を招いて目が（らむと云った危険がある。

そこでこれを解消するために蓋体３４の開閉に応動する
スイッチＳ１、Ｓ２を設けである。スイッチＳ、は蓋体
３４の開き状態に応動して昇圧回路と充電部との接続を
断って新たな充電を阻止し、スイッチＳ２は蓋体３４の
開き状態に応動して充電部をそれに並列に設けられた単
独放電回路を接続して単独放電させるものである。これ
によって蓋体３４が開かれたとき充電部が充電状態を保
ち、あるいは新たに充電されるようなことをなくすので
、感電や閃光によって目がくらむと云った問題を回避す
る。

次に試料を測定して基本色成分のデータを読み込むまで
の動作を第７図のタイミングチャートと、第８図のフロ
ーチャートとに基づいて説明する。まず、測定要求が起
きると、ＣＰＵｌｌ０は、サンプルホールド回路とＡ／
Ｄ変換回路のリセット信号Ｃ１をオフし、次に、コント
ロール信号Ｃ３をオンしてゲート回路Ｇｌｌ〜ＧＩＲ、
Ｃ＋＋’〜ＧＩ□゛を開き、光源モニター側、及び、試
料モニター側の各検出素子Ｄ１〜Ｄ、　、ＤＩ”〜Ｑ、
　ｌ　からの情報を、サンプルホールド回路Ｈ１〜Ｈ，
，、Ｈ，ｌ　〜Ｈ，＋　に伝達できるようにする。次に
発光回路信号Ｃ２をオンして光源１を発光させる。

一定時間待った後、発光回路信号Ｃ２をオフして光源１
を消光し、シントロール信号Ｃ３をオフしてゲート回路
Ｇｚ　−Ｇｌｌｌ　、Ｇ＋＋”〜Ｇ１、°　を閉じる。

次にコントロール信号Ｃ４をオンしてゲート回路６２１
〜Ｇａ１ｌ　、ｃｚ＋°〜Ｇ２．゛　を開き、サンプル
ホールド回路Ｈ，〜Ｈ＋ｘ　、Ｈｌ゛　〜ｌｌｌ＋　に
蓄積された情報をＡ／Ｄ変換回路ＡＤ、〜ＡＤ、　、Ａ
ＤＩ’〜ＡＤ、　’　に伝達する。Ａ／Ｄ変換回路ＡＤ
、〜ＡＤ、、＾Ｄ、Ｉ〜ＡＤ、　’　は、例えば、前記
サンプルホールドされた情報をパルス幅情報に変換し、
このパルス幅の期間中にゲートされたクロックをデジタ
ルカウンタによりカウントして、デジタル信号に変換す
る。全ての＾／Ｄ変換回路ＡＤ、〜ＡＤ。

、ＡＤＩ’〜ＡＤ、°のＡ／Ｄ変換動作が終了した時点
で、ＣＰＵｌｌ０は順次そのカウント値を読み込み、記
憶領域に格納する。ここで、光源モニター側の測光デー
タについては、配列変数ＰＲ（１）〜ＦＲ（ｎ）の記憶
領域に順次そのカウント値を記憶し、試料モニター側の
測光データについては、配列変数ＦＳ（１）〜ＦＳ　（
ｎ）の記憶領域にそれぞれのカウント値を記憶する。以
上が照明有りの場合の測光動作である。

次に、照明無しの条件で測光をする。まず、サンプルホ
ールド回路と＾／Ｄ変換回路のリセット信号Ｃ１を一定
時間オンし、サンプルホールド回路Ｈ１〜Ｈ１ｌ　、Ｈ
１゛　〜Ｈ７”に蓄えられていた情報をキャンセルし、
また、Ａ／Ｄ変換回路ＡＤｌ〜ＡＤイ、ＡＤＩ’〜ＡＤ
、　’　のカウンタをリセットする。次に、コントロー
ル信号Ｃ３をオンしてゲート回路Ｇ＋＋　−Ｇｌｙｉ　
％　Ｇｌｌ’〜Ｇ１″を一定時間開き、各検出素子ＤＩ
−Ｄｎ　、ＤＩ゛〜Ｄ、　＋　の情報をサンプルホール
ド回路Ｈ３〜ＨＩ％　、Ｈ１゛〜■７゜に伝達する。次
に、コントロール信号Ｃ４をオンしてゲート回路Ｃｔ＋
〜Ｇ！２１　％　ｃｚ＋゛〜Ｇ２７゛　を開き、サンプ
ルホールド回路Ｈ１〜Ｈｎ　、Ｈ１゛　〜Ｈ７゛に蓄積
された情報を＾／Ｄ変換回路ＡＤ、−ＡＤ、、＾Ｄｌ′
〜ＡＤ、　’　に伝達し、デジタル信号としてカウント
する。全てのＡ／Ｄ変換回路ＡＤ、〜＾口７、ＡＤ、’
〜Ａ０７′　のＡ／Ｄ変換動作が終了した時点で、コン
トロール信号Ｃ４をオフしてゲート回路Ｇｚｌ〜ｈ＋＋
　、ＧｔＩ’〜Ｇｔ、、’　を閉じる。ＣＰＩＩＩＩＯ
は、前記カウント値を順次読み込み、記憶領域に格納す
る。ここで、光源モニター側のデータは配列変数ＤＲ（
１）〜ＤＲ（ｎ）の記憶領域に、被測定物モニター側の
データは配列変数口５（１）〜ＤＳ　（ｎ）の記憶領域
にそれぞれ記憶する。最後にサンプルホールド回路とＡ
／Ｄ変換回路のリセット信号Ｃ１をオンして、それぞれ
のデータの演算処理に移る。

上記例では最初に照明有りの測定を行い次に照明無しの
測定を行っているが、最初に照明無しの測定を行い、次
に照明有りの測定を行ってもよい。

次にデータの演算処理の内容について、説明する。まず
、照明有りの時の測定データと、照明無しの時の測光デ
ータとの差を取り、外来光の影響を除去したデータを得
る。得られた結果光源モニター側のデータについては配
列変数ＭＲ（ｉ）に、試料モニター側のデータについて
は配列変数ＭＳ（ｉ）に夫々記憶する。すなわち、ＭＲ
（ｉ）冨ＦＲ（ｉ）　−ＤＲ（ｉ）ＭＳ（ｉ）　＝ＦＳ
（ｉ）　−ＤＳ（ｉ）ｉ＝１，２、−・−・−・・−１
ｎ とする。次に、試料モニター側のデータを光源モニター
側のデータで割ることにより、光源自身の発光量の変化
等の影響をキャンセルし、得られた結果を配列変数ＡＮ
Ｓ（ｉ）に記憶する。すなわち、 ＡＮＳ（ｉ）　＝ＭＳ（ｉ）／ＭＲ（ｉ）ｉ＝１．２、
・−・・・・、ｎ とする。このＡＮＳ（ｉ）を用いて、三刺激値Ｘ１Ｙ、
Ｚを算出し、所定の色空間に変換を行い、色彩値の表示
あるいは印字等を行う。

この色彩計にあっては、使用する前に校正を行う必要が
ある。まず、キーボードより校正基準試料の三刺激値（
ｘｏ、ｙｏ　、Ｚ、）を入力する。

次に、校正基準試料を測定し、前記の過程により三刺激
値（Ｘ、Ｙ、Ｚ）を算出する。次に以下の弐でそれぞれ
の刺激値に対する校正係数（α、β、γ）を算出する。

ｒｘ　＝　Ｘ　６　／　Ｘ　、β＝Ｙｏ／　ｙ％ｒ　＝
Ｚｏ／　Ｚ上述の校正を行った後、被測定物４０の色彩
測定を行う。まず、第８図に示される測光サブルーチン
を実行して、試料の測定を行い、得られた結果ＡＮＳ（
ｉ）より三刺激値（ｘ、ｙ、ｚ）を算出し、校正係数（
α、β、γ）を掛けて、Ｌｏａ”　ｂ“表色系の色空間
変換し、その結果得られた色彩値（Ｌ“ａ＊ｂ＊）を外
部に出力する。

この準備段階の後、色彩計Ｂによって第６図に示すよう
にコンベア７１上を流れる製品を被測定物４０とした色
管理等を行う。この色管理は各測定物４０について試料
の場合と同様に測定した色彩値が試料のそれと比較して
許容範囲内かどうかを判定することで行われる。

この判定は色彩計Ｂに接続された被測定物４０を検知す
るセンサ１３１が被測定物４０を検知しているときにな
される。

色彩計Ｂが前記色管理等のために外部機器Ａとデータ通
信を行う場合、最初にその通信を行う外部機器Ａから色
彩計Ｂにデータを送る必要がある。この際、色彩計Ｂに
外部機器Ａから入力されたデータからデリミタコードを
読み取り、色彩計Ｂにおけるデリミタコードをそのボー
ドに合わせるようになっている。これによってデータ通
信が正しく行われる。

さらに前記光源１を取り替えるために光源１の劣化を判
断する手法の一例を示す。本実施例の場合光源１からの
光量をモニターしその光量があるレベル以下になった時
を所定の劣化状態、つまり光源ｌを取り替える時期に対
応する劣化状態と判断するようにしである。

これを第９図に示す光源の寿命判断処理サブルーチンの
フローチャートに基き説明する。

先ずステップ＃１で試料の測定を行う。ステップ＃２で
その測定時に得られるセンサ１１での各素子貼〜Ｄ７の
＾／Ｄ変換カウント値の値をチエツクする。このセンサ
１１でのＡ／Ｄ変換カウント値は各素子り、　−Ｄ、が
受光する光量に比例する。

従って光源自身の光量を受光するセンサ１１でのＡ／Ｄ
変換カウント値を調べることによりその光源の光量チエ
ツクをすることが可能である。

あらかじめ本測定器の性能保障ができる最低光量レベル
を調べておき、その時の光源の光量を受光するセンサ１
１での各素子ＤＩ−Ｄ、ｌのＡ／Ｄ変換カウント値をメ
モリしておく。

次にステップ＃３において、ステップ＃２で調べるセン
サ１１での各素子り、〜Ｄ７のＡ／Ｄ変換カウント値が
あらかじめメモリしておいた規定光量のＡ／Ｄ変換カウ
ント値より大きいか否かを判定する。

そして各素子り、〜Ｄ、、のどれか１つでも規定カウン
ト値以下であればステップ＃４に進み光源１の要変更の
表示を行う。この表示は前記表示部２４の１つの表示灯
２４ａを点灯させることで行う。

前記光源１のようなパルス点灯の場合光源ｌの劣化以外
に光＃ｌのリード線（例えばトリガ線）の断線等による
発光抜けの時も当然光量はほとんどなくなるため上記方
法でチエツクは可能である。

第１０図は光源１を交換した時のその光の質もしくは光
量をメモリしておき毎回の測定時の光の質もしくは光量
とメモリしている光源ｌを交換した時のそれとを比較す
る別の方法を採用した場合の光源の寿命判断処理サブル
ーチンのフローチャートを示している。

これについて説明すると、ステップ＃１１で試料の測定
を行う。次にステップ＃１２へ進み光源１を交換したか
否かを判定する。

この光源ｌを交換したか否かの判定の手法として、ここ
では前回の測定時の光源１のモニター用センサ１１での
光ｉｔ（具体的には素子口、〜ロアのＡ／Ｄ変換カウン
ト値）と今回の測定の光量とを比較し光量が大幅に増大
したとき（例えば２０％増）を光源１が交換されたと判
断する手法をとる。

ステップ＃１２で光源１が交換されたと判断された時は
、ステップ＃１３へ進みステップ＃１１の測定時に得ら
れた光源モニター用のセンサ１１でのＡ／Ｄ変換カウン
ト値を基準値としてメモリする。

ステップ＃１２で光源の交換はされてないと判断された
時はステップ＃１４に進み、ステップ＃１１で得られる
センサ１１でのＡ／Ｄ変換カウント値をメモリする。こ
のデータは上記で説明した光源が変換されたか否かを判
定する時に用いる。

次にステップ＃１５に進みステップ＃１３でメモリした
Ａ／Ｄ変換値と今回の光源１のＡ／Ｄ変換値とを比較し
、光源ｌが劣化したか否かを判定する。

光源ｌが劣化したか否かの判定方法としてここではステ
ップ＃１３でメモリした光源１の４７口変換値に対して
今回の測定のＡ／Ｄ変換値が例えば７０％以下になった
時を劣化したと判定する方法をとる。光源１が劣化して
いる場合のみステップ＃１６に移行して光源要変更の表
示を行う。

なお光源１が劣化したと判別する他の手法としては、光
源の質を調べる手法がある。その１つとして光源１のモ
ニターの各センサ１１での各素子り、　−Ｄ、により測
定される３刺激値Ｘ、Ｙ、ＺにおいてＸ／ＹとＺ／Ｙの
比の変化を調べる。つまり、ステップ＃１３でメモリし
ているセンサ１１でのＡ／Ｄ変換値をそれぞれＸ　ｎｃ
ｓ　Ｙ　ｎｃ　Ｚ　ａｃとし、今回の測定のそれをＸ　
＠Ｃ％　Ｙ　ｍｃｓ　Ｚ　＠Ｃとした時に 一扉μ上、ムー。

Ｙｌｌｃ　Ｙ、ｃ　　　Ｙｌｌｃ　Ｙ、ｃの計算を行い
それぞれの比の変化率が例えば２０％以上変化した時を
光源の劣化として判定する。

ステップ＃１５において上記のような判定手法により光
源の劣化したか否かを判定し光源が劣化したと判定した
場合には、ステップ＃１６へ進み光源要変更の表示を行
う。

なお光源が交換されると交換前の光源の場合よりも照度
が格段に向上することになるので、この変化により光源
が交換されたことを検知することもできる。したがって
この検知の有無を以後の測定可否の条件にする等すれば
便利である。

（発明の効果） 本発明によれば、光源が所定の劣化状態になったときそ
れが検知手段によって自動的に検知され、この検知を基
に制御手段によって表示手段が働かされるので、光源が
劣化しているのを知らないで使用が続けられ測定の精度
が低下するというようなことを防止することができる。

特に光源の劣化状態を光源の光の質の変化によって検知
するようにすることで、照度として出にくい劣化をも的
確に検出することができ、色彩を測定する上で有効であ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の色彩計の場合で示す一実施例のブロッ
ク回路図、第２図から第５図は色彩計の縦断側面図、横
断平面図、縦断正面図、背面図、第６図は使用状態を示
す斜視図、第７図は色彩計の主な測光動作タイムチャー
ト、第８図は測光サブルーチンのフローチャート、第９
図は第１実施例での光源の寿命判断処理のサブルーチン
のフローチャート、第１０図は本発明の第２実施例の光
源の寿命判断処理のサブルーチンのフローチャートであ
る。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光源からの光を被測定物に投光し、被測定物から
   の反射光を受けて被測定物の光学特性を測定する光学測
   定器において、 光源の所定劣化状態を検知する手段と、光源の劣化を表
   示する手段と、前記検知手段が所定劣化状態を検知した
   とき前記表示手段を働かせる制御手段とを備えたことを
   特徴とする光学測定器。
2. （２）検知手段は光源の光の質の変化をモニターし、そ
   の変化量が所定レベルを越えることによって光源の劣化
   状態を検知する請求項（１）記載の光学測定器。