JPH01264154A - 放射線受像装置 - Google Patents
放射線受像装置Info
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- JPH01264154A JPH01264154A JP63092013A JP9201388A JPH01264154A JP H01264154 A JPH01264154 A JP H01264154A JP 63092013 A JP63092013 A JP 63092013A JP 9201388 A JP9201388 A JP 9201388A JP H01264154 A JPH01264154 A JP H01264154A
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- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 title abstract 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 18
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 6
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は医療分野及び工業分野におけるＸ線診断装置、
非破壊検査用Ｘ線検査装置等に利用する放射線受像装置
に関するものである。
非破壊検査用Ｘ線検査装置等に利用する放射線受像装置
に関するものである。
従来の技術
従来の放射線受像装置の一方式として、放射線に感応す
る素子をアレイ状に並べ、各素子より出力されるパルス
数を画素濃度に対応させ、このアレイを走査することに
より２次元画像を得るものがあった。このような方式と
して、例えば特開昭６０−８０７４６号公報に記載され
たがある。これは複数のパルス・カウンタを持ち、パル
ス波高を任意の複数のグループに分類しカウントするも
のであった。また、これに従来からの差分法の一種であ
るエネルギー・サブトラクシラン（以下。
る素子をアレイ状に並べ、各素子より出力されるパルス
数を画素濃度に対応させ、このアレイを走査することに
より２次元画像を得るものがあった。このような方式と
して、例えば特開昭６０−８０７４６号公報に記載され
たがある。これは複数のパルス・カウンタを持ち、パル
ス波高を任意の複数のグループに分類しカウントするも
のであった。また、これに従来からの差分法の一種であ
るエネルギー・サブトラクシラン（以下。
Ｅサブと略す）も応用されていた。
第６図は従来の放射線受像装置のブロック図である。第
６図において、１は放射線感応素子アレイ、２は増幅器
、３は比較器であり、この比較器３はｎ個存在する。４
はカウンタ、６は比較レベル設定回路、６はセレクト回
路、７はＣＰＵ、８はデータ信号、９はラッチ回路であ
る。上記構成について以下にその動作を説明する。放射
線感応素子アレイ１に放射線が入射し、発生した電荷が
微小パルスとして検出され、増幅器２で増幅された後、
比較器３に入力される。比較器３では、比較レベル設定
回路６出力と比較され、入力条件を満足した時に、２値
化されたパルスとして、カウンタ４でカウントされる。
６図において、１は放射線感応素子アレイ、２は増幅器
、３は比較器であり、この比較器３はｎ個存在する。４
はカウンタ、６は比較レベル設定回路、６はセレクト回
路、７はＣＰＵ、８はデータ信号、９はラッチ回路であ
る。上記構成について以下にその動作を説明する。放射
線感応素子アレイ１に放射線が入射し、発生した電荷が
微小パルスとして検出され、増幅器２で増幅された後、
比較器３に入力される。比較器３では、比較レベル設定
回路６出力と比較され、入力条件を満足した時に、２値
化されたパルスとして、カウンタ４でカウントされる。
その後一定期間カウントしてからラッチ回路９に一時的
に貯えられる。
に貯えられる。
なお、波高弁別を行うため、比較器３に供給される比較
レベル設定回路６出力は、それぞれの比較器で違ってお
りｎ個存在する。このようにして得られた値は、ＣＰＵ
７によりセレクト回路６で選択され、データ信号８とし
て取込まれる。その後ＣＰＵＴ上のメモリ（図示せず）
に貯えられ、エネルギー・サブトラクション（以後、Ｅ
サブと略す）が行われる。つまりＥサブは、比較レベル
設定回路６出力を変えてカウントした値Ｘ、ＹをＣＰＵ
Ｔ上のメモリ空間に貯えてから、（ｘ−ｙ）を計算しＹ
と比較することによりなされる。
レベル設定回路６出力は、それぞれの比較器で違ってお
りｎ個存在する。このようにして得られた値は、ＣＰＵ
７によりセレクト回路６で選択され、データ信号８とし
て取込まれる。その後ＣＰＵＴ上のメモリ（図示せず）
に貯えられ、エネルギー・サブトラクション（以後、Ｅ
サブと略す）が行われる。つまりＥサブは、比較レベル
設定回路６出力を変えてカウントした値Ｘ、ＹをＣＰＵ
Ｔ上のメモリ空間に貯えてから、（ｘ−ｙ）を計算しＹ
と比較することによりなされる。
発明が解決しようとする課題
このような従来の装置ではメモリに貯えた後にＣＰＵで
減算を行っているため、演算処理に時間がかかるという
欠点がある。つまり減算を行うには、基本的に次の４処
理が必要になる。
減算を行っているため、演算処理に時間がかかるという
欠点がある。つまり減算を行うには、基本的に次の４処
理が必要になる。
■ データＸのロード
■ データＹのロード
■ 減算
＠ 減算データのストア
通常画像処理で取扱うデータ（画素）数は１０６〜１０
程度になり、すべてについて前記４処理を適用すれば
、かなりの時間がかかることになる。
程度になり、すべてについて前記４処理を適用すれば
、かなりの時間がかかることになる。
しかしながら、画像データのリアルタイム処理を行うた
め、画像処理の高速化が強く要望され、処理時間の短縮
化が急務となっていた。
め、画像処理の高速化が強く要望され、処理時間の短縮
化が急務となっていた。
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、簡易な構成
でＥサブにおける減算処理をパルス・カウント時（２値
化直後）に行う放射線受像装置を提供することを目的と
する。
でＥサブにおける減算処理をパルス・カウント時（２値
化直後）に行う放射線受像装置を提供することを目的と
する。
課題を解決するための手段
本発明は上記課題を解決するため、放射線感応素子から
の出力信号を増幅する増幅手段と、この増幅手段の出力
を波高弁別する比較レベルをそれぞれ有する複数の比較
手段と、前記比較手段出力をカウントするカウンタ手段
とを備えるとともに、前記第１の比較レベルの比較手段
が前記増幅手段の出力パルス検出したときには前記第１
の比較レベルより小さい比較レベルを有する比較手段出
力パルスをカウント禁止にする判定手段を備えたもので
ある。
の出力信号を増幅する増幅手段と、この増幅手段の出力
を波高弁別する比較レベルをそれぞれ有する複数の比較
手段と、前記比較手段出力をカウントするカウンタ手段
とを備えるとともに、前記第１の比較レベルの比較手段
が前記増幅手段の出力パルス検出したときには前記第１
の比較レベルより小さい比較レベルを有する比較手段出
力パルスをカウント禁止にする判定手段を備えたもので
ある。
作 用
上記構成により、第１の比較レベルＬｍ＋１でパルスが
生じた場合、Ｌ、＜・・・〈Ｌｍくり。＋１の条件を満
たす比較レベルＬ１・・・Ｌｍで比較して得たパルス（
Ｌｍ＋１でパルスが生じれば必ずＬｍでも生じる）をカ
ウントしないため、パルス−カウントした時点で実質的
に減算処理を行ったことになり、画像処理時間を短縮で
きる。
生じた場合、Ｌ、＜・・・〈Ｌｍくり。＋１の条件を満
たす比較レベルＬ１・・・Ｌｍで比較して得たパルス（
Ｌｍ＋１でパルスが生じれば必ずＬｍでも生じる）をカ
ウントしないため、パルス−カウントした時点で実質的
に減算処理を行ったことになり、画像処理時間を短縮で
きる。
実施例
以下、本発明の一実施例の放射線受像装置について図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
第１図、第２図は本発明の第１の実施例における放射線
受像装置のブロック図、およびその動作を説明するタイ
ミング図である。第１図において、１０はＤフリップ・
７０ツブ（以下Ｄ−ＦＦと略す）、１１．１２はカウン
タ、１３はインバ〜り（反転回路）である。なお、説明
を簡単にするため、比較器３．３ 、比較レベル、カウ
ンタは２ケで説明する。
受像装置のブロック図、およびその動作を説明するタイ
ミング図である。第１図において、１０はＤフリップ・
７０ツブ（以下Ｄ−ＦＦと略す）、１１．１２はカウン
タ、１３はインバ〜り（反転回路）である。なお、説明
を簡単にするため、比較器３．３ 、比較レベル、カウ
ンタは２ケで説明する。
以下に第１図に示した構成について動作を説明する。第
２図における信号に）は、増幅器出力であり、第６図に
おける増幅器２出力に相当する。比較器３１及び３２は
、第２図に示す如く増幅器出力と比較レベル設定回路５
により設定される各比較レベルＬ１．Ｌ２とを比較する
。増幅器出方が各比較レベルＬ１．Ｌ２より大きい場合
”Ｌ＃レベル出力となり、比較レベルの方が大きい場合
“Ｈ″レベル出力となる。今、パルス（イ）についテ考
よる。Ｌｌ〈Ｌ２ であるため、パルス幅（Ｌレベルの
部分）は（Ｂ）の方が広くなる。また、インバータ１３
を通るため（ロ）の立下りによってＤ−ＦＦ１゜が動作
し、出力りはＨレベル状態になる。ところがＤ−ＦＦ１
ｏのクリア端子に信号（ｑが供給されるだめ、信号（ｑ
がＬレベルになった瞬間に、出力ＤもＬレベルになる。
２図における信号に）は、増幅器出力であり、第６図に
おける増幅器２出力に相当する。比較器３１及び３２は
、第２図に示す如く増幅器出力と比較レベル設定回路５
により設定される各比較レベルＬ１．Ｌ２とを比較する
。増幅器出方が各比較レベルＬ１．Ｌ２より大きい場合
”Ｌ＃レベル出力となり、比較レベルの方が大きい場合
“Ｈ″レベル出力となる。今、パルス（イ）についテ考
よる。Ｌｌ〈Ｌ２ であるため、パルス幅（Ｌレベルの
部分）は（Ｂ）の方が広くなる。また、インバータ１３
を通るため（ロ）の立下りによってＤ−ＦＦ１゜が動作
し、出力りはＨレベル状態になる。ところがＤ−ＦＦ１
ｏのクリア端子に信号（ｑが供給されるだめ、信号（ｑ
がＬレベルになった瞬間に、出力ＤもＬレベルになる。
パルス（ロ）についても同様になる。しかしパルス（ハ
）では、信号（ｑがＬレベルとならないため、出力−は
Ｈレベルのままである。
）では、信号（ｑがＬレベルとならないため、出力−は
Ｈレベルのままである。
カウンタ１１においてＥはイネーブル信号であり、Ｅ端
子がＨレベルの時のみ、カウンタ１１が動作可能となる
。またカウンタ１１のクロック端子は立上りで動作する
ものとする。したがって信号０がＥ端子に供給されてい
るため、信号ｐがＨレベル区間のみ信号（Ｂ）の立上り
でカウンタ１１が動作する。したがって、パルス（イ）
、（ロ）はカウントされず、パルス（ハ）のみがカウン
トされる。また、カウンタ１２には信号（ｑが供給され
ているため、比較レベルＬ２以上の波高を持つパルスの
みカウントする。
子がＨレベルの時のみ、カウンタ１１が動作可能となる
。またカウンタ１１のクロック端子は立上りで動作する
ものとする。したがって信号０がＥ端子に供給されてい
るため、信号ｐがＨレベル区間のみ信号（Ｂ）の立上り
でカウンタ１１が動作する。したがって、パルス（イ）
、（ロ）はカウントされず、パルス（ハ）のみがカウン
トされる。また、カウンタ１２には信号（ｑが供給され
ているため、比較レベルＬ２以上の波高を持つパルスの
みカウントする。
以上の結果をまとめると、パルス波高Ｉが条件り、〈ｘ
くＬ２を満たせばカウンタ１１にカウントされ、Ｌ２〈
Ｉ を満たせばカウンタ１２にカウントされる。つまり
カウンタ１１には、従来例で示した（ｘ−ｙ）の減算処
理の結果が、カウンタ１２にはＹに相当する値が貯えら
れたことになる。
くＬ２を満たせばカウンタ１１にカウントされ、Ｌ２〈
Ｉ を満たせばカウンタ１２にカウントされる。つまり
カウンタ１１には、従来例で示した（ｘ−ｙ）の減算処
理の結果が、カウンタ１２にはＹに相当する値が貯えら
れたことになる。
さて、次に第３図、第４図は、本発明の第２の実施例に
おけるブロック図とタイミング図である。
おけるブロック図とタイミング図である。
第４図を参照しながら第３図を説明する。第１の実施例
とほぼ同じであるが、クロック端子、クリア端子への入
力が逆になっている。１４．１５はインバータであり信
号Ｂがこのインバータ１６を介してＤ−ＦＦ１ｏのクリ
ア端子に供給されるため、信号ＢがＨレベルの間クリア
され、信号（ｑがＨレベルになる（Ｑ出力のため）。同
じく信号（ｑもインバータ１４を介してクロック端子に
供給されるため、信号（ｑの立下りでＤ−ＦＦ１ｏは動
作し、信号ｐがＬレベルになる。ところが厳密に考える
と、信号（至）の立上りからインバータ１５とＤ−ＦＦ
１０の伝搬遅延ＰＤが存在し、その後信号ｐがＬレベル
からＨレベルに変化する。カウンタ１１には伝搬遅延Ｐ
Ｄのない（Ｂ）が供給される。
とほぼ同じであるが、クロック端子、クリア端子への入
力が逆になっている。１４．１５はインバータであり信
号Ｂがこのインバータ１６を介してＤ−ＦＦ１ｏのクリ
ア端子に供給されるため、信号ＢがＨレベルの間クリア
され、信号（ｑがＨレベルになる（Ｑ出力のため）。同
じく信号（ｑもインバータ１４を介してクロック端子に
供給されるため、信号（ｑの立下りでＤ−ＦＦ１ｏは動
作し、信号ｐがＬレベルになる。ところが厳密に考える
と、信号（至）の立上りからインバータ１５とＤ−ＦＦ
１０の伝搬遅延ＰＤが存在し、その後信号ｐがＬレベル
からＨレベルに変化する。カウンタ１１には伝搬遅延Ｐ
Ｄのない（Ｂ）が供給される。
したがって、パルス（イ）、（ロ）ではカウンタ１１の
クロック端子が立上っても、Ｅ端子入力である信号（Ｃ
９がＬレベルのためカウントしない。一方パルス（ハ）
では、信号０はＨレベルのためカウントされる。
クロック端子が立上っても、Ｅ端子入力である信号（Ｃ
９がＬレベルのためカウントしない。一方パルス（ハ）
では、信号０はＨレベルのためカウントされる。
つまり、第１の実施例と同じ結果が得られる。
なお第１の実施例でも伝搬遅延を考慮に入れた構成もで
きる。例えば、第１図において信号中）とｐの論理積を
とれば、Ｅ端子のないカウンタでも使用できる。また、
第１ 、第２の実施例とも比較レベルが２ケの場合につ
いて説明したが、それ以上の場合も可能である。Ｌｌく
Ｌ２〈Ｌ３の場合、 ４Ｌ２がＬｌに、Ｌ３がＬ２に
相当する回路を追加すれば可能となる。同様にＬｌくＬ
２く・・・・・・Ｌｎも可能となる。
きる。例えば、第１図において信号中）とｐの論理積を
とれば、Ｅ端子のないカウンタでも使用できる。また、
第１ 、第２の実施例とも比較レベルが２ケの場合につ
いて説明したが、それ以上の場合も可能である。Ｌｌく
Ｌ２〈Ｌ３の場合、 ４Ｌ２がＬｌに、Ｌ３がＬ２に
相当する回路を追加すれば可能となる。同様にＬｌくＬ
２く・・・・・・Ｌｎも可能となる。
また比較レベルＬ４．Ｌ２で比較した結果得られたパル
ス幅をＷＬ １． ＷＬ ２ 、パルスの始まり時刻を
ＴＳＬｌ、ＴＳＬ２．パルスの終了時刻を計、置２とす
ると、以下の関係が成立つ。
ス幅をＷＬ １． ＷＬ ２ 、パルスの始まり時刻を
ＴＳＬｌ、ＴＳＬ２．パルスの終了時刻を計、置２とす
ると、以下の関係が成立つ。
ＷＬｌ＞ＷＬ２．’ｒｓＬ、（ＴＳＬ２（Ｌｌ で比較
して得られたパルスの方が早く始まる）、計＞ 置２（
Ｌ、で比較して得られたパルスの方が遅く終る）本発明
の特徴は上記関係を利用することである。
して得られたパルスの方が早く始まる）、計＞ 置２（
Ｌ、で比較して得られたパルスの方が遅く終る）本発明
の特徴は上記関係を利用することである。
本発明の第１．第２の実施例とも、上記関係である比較
出力パルス間の遅延時間を利用しカウント禁止状態をつ
くったものである。
出力パルス間の遅延時間を利用しカウント禁止状態をつ
くったものである。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明によれば、きわめて簡易
な回路構成で、パルス・カウント時にＥサブの減算処理
を行うため高速画像処理が可能になり、その実用的効果
は大きい。
な回路構成で、パルス・カウント時にＥサブの減算処理
を行うため高速画像処理が可能になり、その実用的効果
は大きい。
第１図、第２図はそれぞれ本発明の第１の実施例におけ
る放射線受像装置のブロック図、およびタイミング図、
第３図、第４図はそれぞれ本発明の第２の実施例におけ
る放射線受像装置のブロック図およびタイミング図、第
６図は従来の放射線受像装置のブロック図である。 １・・・・・・放射線感応素子アＬ／イ、２・・山・増
幅器、３・・・・・・比較器、４・・・・・・カウンタ
及びメモリ回路、５・・・・・・比較レベル設定回路、
６・・・・・・セレクト回路、７・・・・・・ＣＰＵ、
１０・・・・・・Ｄフリップフロップ、１１．１２・・
・・・カウンタ、１３，１４．ＩＦ５・・中・インバー
タ。
る放射線受像装置のブロック図、およびタイミング図、
第３図、第４図はそれぞれ本発明の第２の実施例におけ
る放射線受像装置のブロック図およびタイミング図、第
６図は従来の放射線受像装置のブロック図である。 １・・・・・・放射線感応素子アＬ／イ、２・・山・増
幅器、３・・・・・・比較器、４・・・・・・カウンタ
及びメモリ回路、５・・・・・・比較レベル設定回路、
６・・・・・・セレクト回路、７・・・・・・ＣＰＵ、
１０・・・・・・Ｄフリップフロップ、１１．１２・・
・・・カウンタ、１３，１４．ＩＦ５・・中・インバー
タ。
Claims (1)
- 放射線感応素子からの出力信号を増幅する増幅手段と、
この増幅手段の出力を波高弁別するそれぞれの比較レベ
ルを有する複数の比較手段と、これら比較手段の出力を
カウントするカウンタ手段とを備えるとともに、前記第
１の比較レベルを有する比較手段が前記増幅手段の出力
パルスを検出時には、前記第１の比較レベルより小さい
比較レベルを有する比較手段の出力パルスをカウント禁
止にする判定手段を備えたことを特徴とする放射線受像
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63092013A JPH01264154A (ja) | 1988-04-14 | 1988-04-14 | 放射線受像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63092013A JPH01264154A (ja) | 1988-04-14 | 1988-04-14 | 放射線受像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01264154A true JPH01264154A (ja) | 1989-10-20 |
Family
ID=14042621
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63092013A Pending JPH01264154A (ja) | 1988-04-14 | 1988-04-14 | 放射線受像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01264154A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001502424A (ja) * | 1996-10-15 | 2001-02-20 | シマゲ オユ | 放射線撮像のための撮像素子 |
| JP2011175811A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
-
1988
- 1988-04-14 JP JP63092013A patent/JPH01264154A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001502424A (ja) * | 1996-10-15 | 2001-02-20 | シマゲ オユ | 放射線撮像のための撮像素子 |
| JP2011175811A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
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