JPH01246149A - フェライト膜の形成方法 - Google Patents
フェライト膜の形成方法Info
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- JPH01246149A JPH01246149A JP7250788A JP7250788A JPH01246149A JP H01246149 A JPH01246149 A JP H01246149A JP 7250788 A JP7250788 A JP 7250788A JP 7250788 A JP7250788 A JP 7250788A JP H01246149 A JPH01246149 A JP H01246149A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G49/00—Compounds of iron
- C01G49/0018—Mixed oxides or hydroxides
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、磁気記録媒体、光磁気記録媒体、磁気ヘッド
、磁気光学素子、マイクロ波素子、磁歪素子、磁気音響
素子などに広く応用されているスピネル型フェライト膜
の作製におけるフェライトメノギ膜の形成方法に関する
ものである。
、磁気光学素子、マイクロ波素子、磁歪素子、磁気音響
素子などに広く応用されているスピネル型フェライト膜
の作製におけるフェライトメノギ膜の形成方法に関する
ものである。
従来の技術
フェライトメノギとは、例えば、特開昭59−1119
29号公報に示されているように、固体表面に、金属イ
オンとして少なくとも第1鉄イオンを含む水溶液を接触
させて、固体表面にFeOH″−またはこれと他の水酸
化金属イオンを吸着させ、次いで、吸着したF e O
H”−を酸化させることによりFeOH2+を得、これ
が水溶液中の水酸化金属イオンとの間でフェライト結晶
化反応を起こし、これによって固体表面にフェライト膜
を形成することをいう。
29号公報に示されているように、固体表面に、金属イ
オンとして少なくとも第1鉄イオンを含む水溶液を接触
させて、固体表面にFeOH″−またはこれと他の水酸
化金属イオンを吸着させ、次いで、吸着したF e O
H”−を酸化させることによりFeOH2+を得、これ
が水溶液中の水酸化金属イオンとの間でフェライト結晶
化反応を起こし、これによって固体表面にフェライト膜
を形成することをいう。
従来、この技術をもとにメツキ膜の均質化、反応速度の
向上環を計ったもの(特開昭60−140713号公報
)、固体表面に界面活性を付与して種々の固体にフェラ
イト膜を形成しようとするもの(特開昭61−3067
4号公報)、あるいはフェライト膜の形成速度の向上に
関するもの(特開昭61−179877号公報ないし特
開昭61−222924号公報)がある。
向上環を計ったもの(特開昭60−140713号公報
)、固体表面に界面活性を付与して種々の固体にフェラ
イト膜を形成しようとするもの(特開昭61−3067
4号公報)、あるいはフェライト膜の形成速度の向上に
関するもの(特開昭61−179877号公報ないし特
開昭61−222924号公報)がある。
フェライトメツキは、膜を形成しようとする固体が前述
した水溶液に対して耐性があれば、何でもよく、さらに
、水溶液を介した反応であるため、温度が比較的低温(
水溶液の沸点以下)でスピネル型フェライト膜を作製で
きるという特徴がある0そのだめ、他のフェライト膜作
製技術に比べて、固体の限定範囲が小さい。
した水溶液に対して耐性があれば、何でもよく、さらに
、水溶液を介した反応であるため、温度が比較的低温(
水溶液の沸点以下)でスピネル型フェライト膜を作製で
きるという特徴がある0そのだめ、他のフェライト膜作
製技術に比べて、固体の限定範囲が小さい。
ただし、固体の表面全域にわたって、FeOHの吸着に
対して十分な界面活性を有する必要がある。
対して十分な界面活性を有する必要がある。
発明が解決しようとする課題
しかし、前述したように、これまでに種々の改善が提案
されているが、まだまだ十分な生産性が得られるまでの
フェライト膜の作製方法が得られていない。
されているが、まだまだ十分な生産性が得られるまでの
フェライト膜の作製方法が得られていない。
例えば、前述した特開昭69−.111929号公報で
は、ポリイミドフィルムへのメツキに対し。
は、ポリイミドフィルムへのメツキに対し。
ては、クロム酸混液で表面処理を行い、ステンレス板に
対してはマグネタイト形成後、所定のフェライト膜を作
製する。石英ガラスに対しては、パラジウム処理を行っ
てから所定のメツキする。
対してはマグネタイト形成後、所定のフェライト膜を作
製する。石英ガラスに対しては、パラジウム処理を行っ
てから所定のメツキする。
一方、特開昭61−30674号公報では、ポリイミド
フィルム、銅板、ステンレス板、ガラス、アルミナ等へ
のメツキに対しては、プラズマ処理後、メツキを行う。
フィルム、銅板、ステンレス板、ガラス、アルミナ等へ
のメツキに対しては、プラズマ処理後、メツキを行う。
このように、フェライトメツキ膜を作製するにあたり基
板の表面はなんらかの前処理を必要とする。
板の表面はなんらかの前処理を必要とする。
課題を解決するための手段
以上の課題を解決するために本発明は、フェライトメツ
キにお・いて、フェライト膜を形成する基体表面の表面
あらさが中心線平均粗さ(Ra )で0.01 l1m
以」二としたものである。
キにお・いて、フェライト膜を形成する基体表面の表面
あらさが中心線平均粗さ(Ra )で0.01 l1m
以」二としたものである。
作用
前述した限定した基板を用いることによって、これまで
はフェライト膜を形成しようとする基板表面に種々の前
処理(プラズマ処理、パラジウム処理等)が必要であっ
たが、前処理な1〜で基板表面に直接フェライト膜を形
成することができる。
はフェライト膜を形成しようとする基板表面に種々の前
処理(プラズマ処理、パラジウム処理等)が必要であっ
たが、前処理な1〜で基板表面に直接フェライト膜を形
成することができる。
実施例
以下、本発明の実施例について説明する。
本発明のフェライトメツキ膜の形成方法の基本的な部分
は、公知の方法と大部分同じである。
は、公知の方法と大部分同じである。
し7かし、フェライトメツキする固体、つまり基体ある
いは基体表面が前述し、たLつな条件を満足したものだ
けに、こバーニドでに認められでいない[)1■処理な
しに直接フェライト膜を形成できるという現象を見出す
ことができた。その原因については不明である。
いは基体表面が前述し、たLつな条件を満足したものだ
けに、こバーニドでに認められでいない[)1■処理な
しに直接フェライト膜を形成できるという現象を見出す
ことができた。その原因については不明である。
ある程度以上の表面粗さを有していることによって、F
eOHの吸着や酸化反応あるいはフェライト結晶化反応
に対して、特に吸着等に対してプラスに働き、水溶液中
で生成した微粒子が基体表面、つまりフェライト結晶化
反応をしている表面にとらえられたり、あるいは集まり
、さらには膜成長を促進・加担するのかもしれない。ま
た、ある程度以上の表面粗さを有していることによって
、実質的な基体の表面積が増加して吸着等の反応に携わ
る面積の増加も影響を与えているのかもしれない。結果
として、材質には無関係に前処理なしにフェライト膜を
形成することができる。
eOHの吸着や酸化反応あるいはフェライト結晶化反応
に対して、特に吸着等に対してプラスに働き、水溶液中
で生成した微粒子が基体表面、つまりフェライト結晶化
反応をしている表面にとらえられたり、あるいは集まり
、さらには膜成長を促進・加担するのかもしれない。ま
た、ある程度以上の表面粗さを有していることによって
、実質的な基体の表面積が増加して吸着等の反応に携わ
る面積の増加も影響を与えているのかもしれない。結果
として、材質には無関係に前処理なしにフェライト膜を
形成することができる。
この傾向は、フェライトメツキの方法でもスジ1ノーコ
ート法、スピンコード法、あるいはスプレー・スピンコ
ード法で、特にその傾向が著しかった。
ート法、スピンコード法、あるいはスプレー・スピンコ
ード法で、特にその傾向が著しかった。
本発明のフェラ・イトメツキ膜の形成方法の基本的な部
分は、一般に知られた方法と大部分同じであり、これま
でに種々の方法が提案されている。
分は、一般に知られた方法と大部分同じであり、これま
でに種々の方法が提案されている。
例えば、−例として、現時点で最もよいとされている種
々の改善がなされたスプレースピンコード法について説
明する。装置の概略図を第1図に示す。3はフェライト
メツキ膜を形成しようとする基板(基体)であり、基板
表面の表面あらさが中心線平均粗さ(Ra)で0.01
11m以上である。
々の改善がなされたスプレースピンコード法について説
明する。装置の概略図を第1図に示す。3はフェライト
メツキ膜を形成しようとする基板(基体)であり、基板
表面の表面あらさが中心線平均粗さ(Ra)で0.01
11m以上である。
4は基板3を取り伺けて、回転することができる回転台
である。メツキに必要な液はいくつかに分割して供給す
るがこの図では2分割した場合を示す。1および2はメ
ツキ液を基板3に供給するためのノズルである。適当な
ノズル1まだは2を選択することによって、液を滴下あ
るいは噴霧状等で供給することができる。5および6は
、各メツキ液を貯蔵するタンクである。まだ、図に示す
ように基板3および回転台4等のフェライトメツキ反応
を行う部分はケースによって仕切られ、非酸化性(例え
ば窒素)ガスをケース内に送ることによ−〕で、非酸化
性雰囲気にする。タンク6には、例えば酸化剤として亜
硝酸ナトリウムNaN○2を用い、さらに緩衝剤として
酢酸アンモニウム0H3GOONH4をいれた水溶液(
酸化液)を入れ、タンク6に少なくとも第1鉄イオンを
含む水溶液(反応液)を入れて、ポンプ等で液を装置内
にノズル1および2を通して供給する。基板3には、[
1j]転台4により回転した状態で各液が供給される。
である。メツキに必要な液はいくつかに分割して供給す
るがこの図では2分割した場合を示す。1および2はメ
ツキ液を基板3に供給するためのノズルである。適当な
ノズル1まだは2を選択することによって、液を滴下あ
るいは噴霧状等で供給することができる。5および6は
、各メツキ液を貯蔵するタンクである。まだ、図に示す
ように基板3および回転台4等のフェライトメツキ反応
を行う部分はケースによって仕切られ、非酸化性(例え
ば窒素)ガスをケース内に送ることによ−〕で、非酸化
性雰囲気にする。タンク6には、例えば酸化剤として亜
硝酸ナトリウムNaN○2を用い、さらに緩衝剤として
酢酸アンモニウム0H3GOONH4をいれた水溶液(
酸化液)を入れ、タンク6に少なくとも第1鉄イオンを
含む水溶液(反応液)を入れて、ポンプ等で液を装置内
にノズル1および2を通して供給する。基板3には、[
1j]転台4により回転した状態で各液が供給される。
回転台4は、ヒーター等により50〜100℃に加熱す
る。このようにして、基板3上でフェライ!・結晶化反
応を行わせて、基板3にフェライ]・メツキ膜を形成す
る。
る。このようにして、基板3上でフェライ!・結晶化反
応を行わせて、基板3にフェライ]・メツキ膜を形成す
る。
基板3の材質としては、特に限定はないがいくつか例を
あげると、ポリイミドフィルム、ポリエチ1ノンテレフ
タレート(PET)などの各種プラスチック類、銅、ニ
ッケル、銀、金、タングステン、モリブデン、白金、パ
ラジウム、鉄、鉄合金などの金属類、各種の有機積層板
、つまり紙基材エポキシ、ガラス布基材エポキシ、ガラ
ス基材ポリエステノペガラス布基材テフロン等の積層板
など、各種ガラス類、セラミックスなどがある。実、験
的に特にフェライト膜形成に対して相性がよかったもの
が、酸素、窒素あるいは硫黄のいずれか1つ以上を含む
ものあるいは特に酸化物類である。
あげると、ポリイミドフィルム、ポリエチ1ノンテレフ
タレート(PET)などの各種プラスチック類、銅、ニ
ッケル、銀、金、タングステン、モリブデン、白金、パ
ラジウム、鉄、鉄合金などの金属類、各種の有機積層板
、つまり紙基材エポキシ、ガラス布基材エポキシ、ガラ
ス基材ポリエステノペガラス布基材テフロン等の積層板
など、各種ガラス類、セラミックスなどがある。実、験
的に特にフェライト膜形成に対して相性がよかったもの
が、酸素、窒素あるいは硫黄のいずれか1つ以上を含む
ものあるいは特に酸化物類である。
この酸化物としては、アルミナ(A7!zes)、ムラ
イト(3A/?205 # 2 Sin、 ) 、ベリ
リア(Boo)、ステアタイト(MgO・S工02)、
7オルステライト(2Mgo・5i02 )、マグネシ
ア(MgO)、チタニア(Ti02)、チタニア+ジル
コニア(ZrO2)、チタニア+マグネシア等の各種セ
ラミックス、Al2O3−8102・B2O5、Al2
O,−PbO・5102・B2O3、kl 203−M
gOe Sin 2 拳 B 20. 、 ’ 7!
20s (40−MgO−5i02・B2O5な
どのガラスセラミックス、CuO、NiOなどの金属酸
化物あるいはフェライト等の鉄を含んだ酸化物などがあ
る。
イト(3A/?205 # 2 Sin、 ) 、ベリ
リア(Boo)、ステアタイト(MgO・S工02)、
7オルステライト(2Mgo・5i02 )、マグネシ
ア(MgO)、チタニア(Ti02)、チタニア+ジル
コニア(ZrO2)、チタニア+マグネシア等の各種セ
ラミックス、Al2O3−8102・B2O5、Al2
O,−PbO・5102・B2O3、kl 203−M
gOe Sin 2 拳 B 20. 、 ’ 7!
20s (40−MgO−5i02・B2O5な
どのガラスセラミックス、CuO、NiOなどの金属酸
化物あるいはフェライト等の鉄を含んだ酸化物などがあ
る。
次に本発明の更に具体的な実施例について説明する。
(実施例1)
脱気した(あらかじめ窒素ガスを通じた)蒸留水2βに
塩化第1鉄4y、塩化ニッケル4yおよび塩化亜鉛50
m!i’をそれぞれ溶解した水溶液(反応液)を作製し
た。さらに別の溶液として、蒸留水21に亜硝酸すトリ
ウム1yと酢酸アンモニウム1(lを溶解した水溶液(
酸化液)を作製した。
塩化第1鉄4y、塩化ニッケル4yおよび塩化亜鉛50
m!i’をそれぞれ溶解した水溶液(反応液)を作製し
た。さらに別の溶液として、蒸留水21に亜硝酸すトリ
ウム1yと酢酸アンモニウム1(lを溶解した水溶液(
酸化液)を作製した。
これらの溶液を用いて、第1図に示すような装置でフェ
ライトメツキを行った。装置には窒素ガスを毎分1.5
1で送り込み非酸化性雰囲気を得、回転台をヒータによ
り80℃一定にした。回転台は毎分300回転の速度で
回転させた。各溶液は装置上部にある2つのスプレーノ
ズルによって、別々に基板表面にそれぞれ毎分95mβ
の流計で噴霧状にして、供給した。約20分間メツキを
行った。
ライトメツキを行った。装置には窒素ガスを毎分1.5
1で送り込み非酸化性雰囲気を得、回転台をヒータによ
り80℃一定にした。回転台は毎分300回転の速度で
回転させた。各溶液は装置上部にある2つのスプレーノ
ズルによって、別々に基板表面にそれぞれ毎分95mβ
の流計で噴霧状にして、供給した。約20分間メツキを
行った。
メツキに用いた基板はアルミナ基板であり、その表面粗
さは中心線平均粗さ(Ra、12m単位)で表1に示す
ような種々のものを用いた。
さは中心線平均粗さ(Ra、12m単位)で表1に示す
ような種々のものを用いた。
各基板のメツキ膜の厚みおよびフェライト膜の堆積速度
を表1に示す。基板NO,Aでは、フェライトメツキは
行えたが、非常に厚みムラが多く、実用に耐えるもので
はなかった。表1の値は、基板肉の14X21mmの部
分の平均膜厚である。
を表1に示す。基板NO,Aでは、フェライトメツキは
行えたが、非常に厚みムラが多く、実用に耐えるもので
はなかった。表1の値は、基板肉の14X21mmの部
分の平均膜厚である。
Ra −0,01μm以上の基板(基板NO,B以降)
では厚みムラのない膜厚の均一なフェライトメツキ膜を
得ることができた。しか・も、これまでにない速い堆積
速度である。
では厚みムラのない膜厚の均一なフェライトメツキ膜を
得ることができた。しか・も、これまでにない速い堆積
速度である。
表1 各基板の表面粗さと膜厚(μm)、堆積速度(μ
m/m1n)比較のだめに、基板を・ぐイレノクスガラ
ス(商標:コーニング社)、Ra(0,o○5μmにし
て同様にメツキを行ったが、得られたフェライトメツキ
膜の膜厚ば0.1〜0.3μm(堆積速度で0.005
〜0.015μm7分)であったが、非常に膜厚のムラ
が多く、均一なメツキ膜が得られなかった。
m/m1n)比較のだめに、基板を・ぐイレノクスガラ
ス(商標:コーニング社)、Ra(0,o○5μmにし
て同様にメツキを行ったが、得られたフェライトメツキ
膜の膜厚ば0.1〜0.3μm(堆積速度で0.005
〜0.015μm7分)であったが、非常に膜厚のムラ
が多く、均一なメツキ膜が得られなかった。
(実施例2)
脱気した(あらかじめ窒素ガスを通じた)蒸留水2gに
塩化第1鉄2gと塩化マンガン4yおよび塩化亜鉛50
mgをそれぞれ溶解し、反応液を作製した。さらに、蒸
留水2βに亜硝酸ナトリウム1gと酢酸アンモニウム1
017を溶解して酸化液を作製した。
塩化第1鉄2gと塩化マンガン4yおよび塩化亜鉛50
mgをそれぞれ溶解し、反応液を作製した。さらに、蒸
留水2βに亜硝酸ナトリウム1gと酢酸アンモニウム1
017を溶解して酸化液を作製した。
これらの溶液を用いて、実施例1と同様にフェライトメ
ツキを行った。用いた基板は主としてMgO−5i02
、MgO,Booからなる3種類である。
ツキを行った。用いた基板は主としてMgO−5i02
、MgO,Booからなる3種類である。
表面粗さはRaでそれぞれ0.2 、 (Jl 、 0
13μmであった。得られたフェライトメツキ膜の膜厚
は3(iF類の基板ともほぼ同じで約1.2μm(堆積
速度で0.06μm/分)であり、膜厚が均一で、十分
な付着強度を有した膜が得られた。
13μmであった。得られたフェライトメツキ膜の膜厚
は3(iF類の基板ともほぼ同じで約1.2μm(堆積
速度で0.06μm/分)であり、膜厚が均一で、十分
な付着強度を有した膜が得られた。
(実施例3)
脱気した(あらかじめ窒素ガスを通じた)蒸留水2βに
塩化第1鉄4yと塩化ニッケル4yおよび塩化亜鉛so
mダをそれぞれ溶解し、反応液を作製した。さらに、蒸
留水21に亜硝酸ナトリウム1gと酢酸アンモニウム1
oyを溶解して酸化液を作製した。
塩化第1鉄4yと塩化ニッケル4yおよび塩化亜鉛so
mダをそれぞれ溶解し、反応液を作製した。さらに、蒸
留水21に亜硝酸ナトリウム1gと酢酸アンモニウム1
oyを溶解して酸化液を作製した。
これらの溶液を用いて、実施例1と同様にフェライトメ
ツキを行った。用いた基板はAl2O2−3iO2・B
2O3ガラスセラミックス基板である。表面粗さはRa
=o、1μm であった。得られたフェライトメツキ膜
の膜厚は約1.1μm(堆積速度で06056μm/分
)であり、膜厚が均一で、十分な付着強度を有した膜が
得られた。
ツキを行った。用いた基板はAl2O2−3iO2・B
2O3ガラスセラミックス基板である。表面粗さはRa
=o、1μm であった。得られたフェライトメツキ膜
の膜厚は約1.1μm(堆積速度で06056μm/分
)であり、膜厚が均一で、十分な付着強度を有した膜が
得られた。
(実施例4)
実施例1と同様に反応液および酸化液を各21作製した
。
。
この溶液をそれぞれ17回(合計各液:34β)作製し
、これらの溶液を用いて、実施例1と同様にフェライト
メツキを行った。メツキ時間は7時間であった。基板は
アルミナ基板と前述したガラス基板の2種類である。ア
ルiす基板の表面粗さはRa−0,2μmであった。得
られたフェライトメツキ膜の膜厚はアルiす基板では、
25μmであったが、ガラス基板では、フェライト膜が
一部剥離していた。
、これらの溶液を用いて、実施例1と同様にフェライト
メツキを行った。メツキ時間は7時間であった。基板は
アルミナ基板と前述したガラス基板の2種類である。ア
ルiす基板の表面粗さはRa−0,2μmであった。得
られたフェライトメツキ膜の膜厚はアルiす基板では、
25μmであったが、ガラス基板では、フェライト膜が
一部剥離していた。
本実施例では、これまでにない大きな膜厚(25μm)
のフェライトメツキ膜を得ることができ、しかも堆積速
度が速いため比較的短時間で得られる。
のフェライトメツキ膜を得ることができ、しかも堆積速
度が速いため比較的短時間で得られる。
(実施例5)
脱気した(あらかじめ窒素ガスを通じた)蒸留水21に
塩化第1鉄6yと塩化ニッケル4yおよび塩化亜鉛50
myをそれぞれm解し、反応液を作製した。さらに、蒸
留水21に亜硝酸ナトリウム1ダと酢酸アンモニウム1
0/を溶解して酸化液を作製した。
塩化第1鉄6yと塩化ニッケル4yおよび塩化亜鉛50
myをそれぞれm解し、反応液を作製した。さらに、蒸
留水21に亜硝酸ナトリウム1ダと酢酸アンモニウム1
0/を溶解して酸化液を作製した。
これらの溶液を用いて、実施例1と同様にフェライトメ
ツキを行った。用いた基板は石英ガラス板、ポリイミド
フィルム、ステンレス板、銅板、銅張りガラス布基材エ
ポキシの6種類である。表面粗さは全てRa =0.1
71mであった。得られたフェライトメツキ膜の膜厚は
6種類の基板で大きな差がなく約1.1μm(堆積速度
で0.066μm、、’G)であり、膜厚が均一で十分
な付着強度を有した膜が得られた4つ 発明の効果 本発明によって、実施例で述べたように、これまで必要
としていた基板表面の前処理を省略して、直接フェライ
トメツキ膜を基板上に作製することができる。しかも、
十分速い堆積速度で均一なフェライト膜を形成すること
ができ、しかも、各種電子部品等への適用に十分な高膜
厚の単層のフェライト膜を得ることができる。さらに、
十分な付着強度を有するフェライト膜が得られる。
ツキを行った。用いた基板は石英ガラス板、ポリイミド
フィルム、ステンレス板、銅板、銅張りガラス布基材エ
ポキシの6種類である。表面粗さは全てRa =0.1
71mであった。得られたフェライトメツキ膜の膜厚は
6種類の基板で大きな差がなく約1.1μm(堆積速度
で0.066μm、、’G)であり、膜厚が均一で十分
な付着強度を有した膜が得られた4つ 発明の効果 本発明によって、実施例で述べたように、これまで必要
としていた基板表面の前処理を省略して、直接フェライ
トメツキ膜を基板上に作製することができる。しかも、
十分速い堆積速度で均一なフェライト膜を形成すること
ができ、しかも、各種電子部品等への適用に十分な高膜
厚の単層のフェライト膜を得ることができる。さらに、
十分な付着強度を有するフェライト膜が得られる。
第1図は、本発明の実施例に用いたフェライトメツキ膜
の形成装置の概略図である。 1.2・・・・・ノズル、3・・・・・・基板、4・・
・・・・回転台、6.6・・・・・・タンク。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図
の形成装置の概略図である。 1.2・・・・・ノズル、3・・・・・・基板、4・・
・・・・回転台、6.6・・・・・・タンク。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図
Claims (8)
- (1)金属イオンとして少なくとも第1鉄イオン、第1
鉄イオンを酸化するための酸化剤を少なくとも含んだ液
を非酸化性雰囲気で、基体表面の表面あらさが中心線平
均粗さ(Ra)で0.01μm以上である基体の表面上
にフェライト膜を堆積させることを特徴とするフェライ
ト膜の形成方法。 - (2)基体あるいは基体表面が主として酸素,窒素,あ
るいは硫黄の少なくとも1元素を含む物で構成される請
求項1記載のフェライト膜の形成方法。 - (3)基体あるいは基体表面が主として酸化物で構成さ
れる請求項1記載のフェライト膜の形成方法。 - (4)酸化物が主としてAl_2_O3である請求項3
記載のフェライト膜の形成方法。 - (5)酸化物が主としてMgO・SiO_2である請求
項3記載のフェライト膜の形成方法。 - (6)酸化物が主としてMgOである請求項3記載のフ
ェライト膜の形成方法。 - (7)酸化物が主としてBeOである請求項3記載のフ
ェライト膜の形成方法。 - (8)基体あるいは基体表面が酸化物のセラミックスで
ある請求項3記載のフェライト膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7250788A JPH01246149A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | フェライト膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7250788A JPH01246149A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | フェライト膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01246149A true JPH01246149A (ja) | 1989-10-02 |
Family
ID=13491324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7250788A Pending JPH01246149A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | フェライト膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01246149A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1403886A2 (en) * | 2002-09-13 | 2004-03-31 | Nec Tokin Corporation | Ferrite thin film, method of manufacturing the same and electromagnetic noise suppressor using the same |
US20180127892A1 (en) * | 2015-07-03 | 2018-05-10 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | CdTe-BASED COMPOUND SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6342378A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Nippon Paint Co Ltd | フエライト膜の形成方法 |
-
1988
- 1988-03-25 JP JP7250788A patent/JPH01246149A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6342378A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Nippon Paint Co Ltd | フエライト膜の形成方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1403886A2 (en) * | 2002-09-13 | 2004-03-31 | Nec Tokin Corporation | Ferrite thin film, method of manufacturing the same and electromagnetic noise suppressor using the same |
EP1403886A3 (en) * | 2002-09-13 | 2004-06-09 | Nec Tokin Corporation | Ferrite thin film, method of manufacturing the same and electromagnetic noise suppressor using the same |
US7160636B2 (en) | 2002-09-13 | 2007-01-09 | Nec Tokin Corporation | Ferrite thin film, method of manufacturing the same and electromagnetic noise suppressor using the same |
US7438946B2 (en) | 2002-09-13 | 2008-10-21 | Nec Tokin Corporation | Ferrite thin film, method of manufacturing the same and electromagnetic noise suppressor using the same |
US7648774B2 (en) | 2002-09-13 | 2010-01-19 | Nec Tokin Corporation | Ferrite thin film, method of manufacturing the same and electromagnetic noise suppressor using the same |
US20180127892A1 (en) * | 2015-07-03 | 2018-05-10 | Jx Nippon Mining & Metals Corporation | CdTe-BASED COMPOUND SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME |
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