JPH0124254B2 - - Google Patents
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- JPH0124254B2 JPH0124254B2 JP56081808A JP8180881A JPH0124254B2 JP H0124254 B2 JPH0124254 B2 JP H0124254B2 JP 56081808 A JP56081808 A JP 56081808A JP 8180881 A JP8180881 A JP 8180881A JP H0124254 B2 JPH0124254 B2 JP H0124254B2
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- 238000005260 corrosion Methods 0.000 claims description 33
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 claims description 33
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 15
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 6
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 20
- 239000012857 radioactive material Substances 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/56—Investigating resistance to wear or abrasion
- G01N3/562—Investigating resistance to wear or abrasion using radioactive tracers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
- Ecology (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Environmental Sciences (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は腐食の監視に係り、特に、孔食の検出
に係る。
に係る。
腐食性環境に曝される金属面は２つの形式の腐
食を受ける。第１の形式の腐食は表面全体に均一
に生じるが、第２の形式の腐食は局部的に生じ
る。この形式の腐食は孔食として知られている。
この孔食は均一腐食よりも重大である。なぜなら
ば、表面が１部を構成する物質本体の厚みが、均
一腐食によつて、その機械的強度が破壊される点
まで減少するには長期間を要するが、孔食は急速
に物質本体に細孔を生じ、これによつてどの様な
影響を受けることにもなりかねないからである。
食を受ける。第１の形式の腐食は表面全体に均一
に生じるが、第２の形式の腐食は局部的に生じ
る。この形式の腐食は孔食として知られている。
この孔食は均一腐食よりも重大である。なぜなら
ば、表面が１部を構成する物質本体の厚みが、均
一腐食によつて、その機械的強度が破壊される点
まで減少するには長期間を要するが、孔食は急速
に物質本体に細孔を生じ、これによつてどの様な
影響を受けることにもなりかねないからである。
均一腐食を検出及び測定するためにこれまでに
開発されている測定技術を、腐食の検出及び測定
に適用しようと試みたが、うまくいかないことが
分つた。例えば、腐食を測定する既知の技術は、
腐食性環境に曝された素子の抵抗値を、同じ状態
ではあるが腐食性環境から保護された同様の素子
の抵抗値と比較することである。２つの素子の抵
抗値の比が変化すると、腐食性環境に曝された素
子の腐食による断面変化の測定値が与えられる。
この技術では、断面変化が局部的であるか又は広
範囲に広がつているかを指示できず（目で見て検
査しない限り）、従つて孔食であるか均一腐食で
あるかを区別できない。
開発されている測定技術を、腐食の検出及び測定
に適用しようと試みたが、うまくいかないことが
分つた。例えば、腐食を測定する既知の技術は、
腐食性環境に曝された素子の抵抗値を、同じ状態
ではあるが腐食性環境から保護された同様の素子
の抵抗値と比較することである。２つの素子の抵
抗値の比が変化すると、腐食性環境に曝された素
子の腐食による断面変化の測定値が与えられる。
この技術では、断面変化が局部的であるか又は広
範囲に広がつているかを指示できず（目で見て検
査しない限り）、従つて孔食であるか均一腐食で
あるかを区別できない。
従つて、プラント故障の主な原因である現象
は、実際問題としては、測定器による検出及び測
定の範囲を越えるものである。
は、実際問題としては、測定器による検出及び測
定の範囲を越えるものである。
本発明によれば、腐食性環境中に置かれた物体
に孔食が生じるのを監視するための装置が提供さ
れるもので、本発明に係る孔食監視装置は、監視
される物体と同じ物質で形成され且つその表面領
域の一部分を放射性とされていて物体が置かれた
同じ腐食性環境中に支持される腐食性素子と、上
記腐食性素子の腐食による電気抵抗の変化を表わ
す第１の電気信号を与えるための第１信号発生手
段と、上記腐食性素子の表面領域における上記放
射性部分の腐食による放射性の変化を表わす第２
の電気信号を与えるための第２信号発生手段と、
上記第１信号発生手段からの第１の電気信号と第
２信号発生手段からの第２の電気信号とを比較し
て第２の電気信号が第１の電気信号より小さい場
合に前記物体に孔食が発生している可能性を指示
するための比較手段とを備えている。
に孔食が生じるのを監視するための装置が提供さ
れるもので、本発明に係る孔食監視装置は、監視
される物体と同じ物質で形成され且つその表面領
域の一部分を放射性とされていて物体が置かれた
同じ腐食性環境中に支持される腐食性素子と、上
記腐食性素子の腐食による電気抵抗の変化を表わ
す第１の電気信号を与えるための第１信号発生手
段と、上記腐食性素子の表面領域における上記放
射性部分の腐食による放射性の変化を表わす第２
の電気信号を与えるための第２信号発生手段と、
上記第１信号発生手段からの第１の電気信号と第
２信号発生手段からの第２の電気信号とを比較し
て第２の電気信号が第１の電気信号より小さい場
合に前記物体に孔食が発生している可能性を指示
するための比較手段とを備えている。
上記素子の表面領域を放射性にする適当なやり
方は、上記素子の上記領域の表面内に核反応を生
じさせるに充分なエネルギを有した放射線を当て
ることである。
方は、上記素子の上記領域の表面内に核反応を生
じさせるに充分なエネルギを有した放射線を当て
ることである。
以下、添付図面を参照して本発明を一例として
説明する。
説明する。
第１図を参照すれば、腐食監視プローブ１は腐
食性の導電性物質で作られるＵ字型素子２を備
え、これは密封された非腐食性基部３に取り付け
られる。
食性の導電性物質で作られるＵ字型素子２を備
え、これは密封された非腐食性基部３に取り付け
られる。
基部３はカラー４及びロツクリング５を有し、
これらにより基部３は腐食性流れ媒体８を含むコ
ンジツト又は容器７の壁６に装着される。素子２
は、これに対する腐食性媒体８の作用を監視すべ
き物質で作られる。例えば、素子２は、容器又は
コンジツト７の状態を監視すべき場合には容器又
はコンジツトと同じ物質で作られ、或いは腐食性
媒体８に決められるポンプ又は他の装置の腐食性
部品（図示せず）と同じ物質で作られる。プロー
ブ１の基部３は中空であり、その中には１対のリ
ード９と、１対のリード１０と、リード１１とが
含まれ、リード９はプローブ１の素子２に電流を
通流できる様にし、リード１０は媒体８に曝され
た部分を含む素子２の１部分に沿つた電圧降下、
ひいてはその抵抗値を測定できる様にし、そして
リード１１は媒体から保護された素子２の部分１
２の抵抗値を測定できる様にする。基部３、特に
素子２が貫通する基部３の端１３は、素子２に電
解腐食が生じるおそれを少なくするため絶縁材で
作られるのが好ましい。コンジツト又は容器７の
壁６にプローブ１を挿入する前に陽子のビームを
当てることによつて素子２の領域１４が放射性に
される。この様な処理により、深さ数十ミクロン
の放射性の層が物質に形成される。素子２のこの
放射性領域１４は例えば３mm2又は500mm2の様ない
かなる便利なサイズに選択することもできる。
又、素子２はワイヤ、ストラツプ又は平らにされ
た管の様ないかなる便利な形態でもよい。
これらにより基部３は腐食性流れ媒体８を含むコ
ンジツト又は容器７の壁６に装着される。素子２
は、これに対する腐食性媒体８の作用を監視すべ
き物質で作られる。例えば、素子２は、容器又は
コンジツト７の状態を監視すべき場合には容器又
はコンジツトと同じ物質で作られ、或いは腐食性
媒体８に決められるポンプ又は他の装置の腐食性
部品（図示せず）と同じ物質で作られる。プロー
ブ１の基部３は中空であり、その中には１対のリ
ード９と、１対のリード１０と、リード１１とが
含まれ、リード９はプローブ１の素子２に電流を
通流できる様にし、リード１０は媒体８に曝され
た部分を含む素子２の１部分に沿つた電圧降下、
ひいてはその抵抗値を測定できる様にし、そして
リード１１は媒体から保護された素子２の部分１
２の抵抗値を測定できる様にする。基部３、特に
素子２が貫通する基部３の端１３は、素子２に電
解腐食が生じるおそれを少なくするため絶縁材で
作られるのが好ましい。コンジツト又は容器７の
壁６にプローブ１を挿入する前に陽子のビームを
当てることによつて素子２の領域１４が放射性に
される。この様な処理により、深さ数十ミクロン
の放射性の層が物質に形成される。素子２のこの
放射性領域１４は例えば３mm2又は500mm2の様ない
かなる便利なサイズに選択することもできる。
又、素子２はワイヤ、ストラツプ又は平らにされ
た管の様ないかなる便利な形態でもよい。
プローブ１の基部３の形状は、腐食性媒体８か
ら保護された素子２の部分１２がこの媒体８を含
む容器又はコンジツト６内にあつて媒体８に曝さ
れた素子２の部分と同じ温度条件を受ける様な形
状にされる。素子２のこれら２つの部分の抵抗値
の比を測定することにより、素子２のこれら両部
分に対する温度変化の影響が打ち消され、従つて
媒体８に曝された素子２の部分の抵抗値の変化を
測定することができ、ひいては媒体８に曝された
素子２の部分から除去される物質の量を測定する
ことができる。
ら保護された素子２の部分１２がこの媒体８を含
む容器又はコンジツト６内にあつて媒体８に曝さ
れた素子２の部分と同じ温度条件を受ける様な形
状にされる。素子２のこれら２つの部分の抵抗値
の比を測定することにより、素子２のこれら両部
分に対する温度変化の影響が打ち消され、従つて
媒体８に曝された素子２の部分の抵抗値の変化を
測定することができ、ひいては媒体８に曝された
素子２の部分から除去される物質の量を測定する
ことができる。
第２図は、素子２に孔食があることを検出及び
決定するためにプローブ１をいかに使用するかと
いうことを示している。
決定するためにプローブ１をいかに使用するかと
いうことを示している。
プローブ１は、既に述べた様に腐食性媒体８を
含むコンジツト又は容器７の壁６に設置される。
プローブ１の下流に放射線検出器２１が配置さ
れ、これは腐食性媒体の流れにおける放射性の増
加を検出する。
含むコンジツト又は容器７の壁６に設置される。
プローブ１の下流に放射線検出器２１が配置さ
れ、これは腐食性媒体の流れにおける放射性の増
加を検出する。
プローブ１は素子２の抵抗値の変化に関連した
出力信号を発生する。この信号は第１の電子回路
２２へ送られ、この回路はプローブ１の抵抗値の
変化によつて示されるプローブ１からの物質除去
率の尺度である信号S1を発生する。放射性検出器
２１は、プローブ１の素子２の放射性領域12から
失なわれた物質量の直接的な尺度である出力信号
を発生する。この信号は第２の電子回路２３へ送
られ、この回路はプローブ１の素子２の放射性領
域12からの物質除去率の尺度である信号S2を発生
する。信号S1及びS2は比較器２４で比較される。
出力信号を発生する。この信号は第１の電子回路
２２へ送られ、この回路はプローブ１の抵抗値の
変化によつて示されるプローブ１からの物質除去
率の尺度である信号S1を発生する。放射性検出器
２１は、プローブ１の素子２の放射性領域12から
失なわれた物質量の直接的な尺度である出力信号
を発生する。この信号は第２の電子回路２３へ送
られ、この回路はプローブ１の素子２の放射性領
域12からの物質除去率の尺度である信号S2を発生
する。信号S1及びS2は比較器２４で比較される。
プローブ１の素子２が均一に腐食する場合に
は、プローブ１の素子２の抵抗値変化によつて測
定される物質除去率が、プローブ１の素子２から
失なわれた放射性物質によつて測定されたものに
等しくなる。というのは、これら両方法はプロー
ブ１の素子２から失なわれる物質を絶対的に測定
するからである。
は、プローブ１の素子２の抵抗値変化によつて測
定される物質除去率が、プローブ１の素子２から
失なわれた放射性物質によつて測定されたものに
等しくなる。というのは、これら両方法はプロー
ブ１の素子２から失なわれる物質を絶対的に測定
するからである。
然しながら、プローブ１の素子２に孔食が生じ
た場合には、孔の開口面積は極めて小さく、しか
も素子２の表面に形成された放射性層はその深さ
が数十ミクロン程度で極めて薄い層であるから、
素子２から除去される放射性物質の量は極めて僅
少であり、従つて放射性物質除去率を表わす信号
S2は、孔の開口部で素子２の表面から失なわれる
少量の放射性物質と孔の内部において孔の周側壁
から失なわれる多量の腐食性物質との和に基いて
測定される素子２の全体からの物質除去率を表わ
すS1よりも小さくなつて、２つの測定値が異なる
ことになるのであつて、信号S2が信号S1より小さ
いという測定結果は素子２に孔食が発生している
可能性を指示するものであり、信号S1と信号S2と
の差が孔食の発生量の尺度となる。比較器２４は
目盛付けされた読み出し装置をなす様に構成する
こともできるし、或いは警報器を作動するのに使
用されたりどこかで記録されたりする様な符号を
発生する様に構成することもできる。
た場合には、孔の開口面積は極めて小さく、しか
も素子２の表面に形成された放射性層はその深さ
が数十ミクロン程度で極めて薄い層であるから、
素子２から除去される放射性物質の量は極めて僅
少であり、従つて放射性物質除去率を表わす信号
S2は、孔の開口部で素子２の表面から失なわれる
少量の放射性物質と孔の内部において孔の周側壁
から失なわれる多量の腐食性物質との和に基いて
測定される素子２の全体からの物質除去率を表わ
すS1よりも小さくなつて、２つの測定値が異なる
ことになるのであつて、信号S2が信号S1より小さ
いという測定結果は素子２に孔食が発生している
可能性を指示するものであり、信号S1と信号S2と
の差が孔食の発生量の尺度となる。比較器２４は
目盛付けされた読み出し装置をなす様に構成する
こともできるし、或いは警報器を作動するのに使
用されたりどこかで記録されたりする様な符号を
発生する様に構成することもできる。
第１図は本発明を実施するのに用いられるプロ
ーブ装置の概略図、そして第２図は本発明による
装置を示す図である。 １……腐食監視プローブ、２……素子、３……
基部、４……カラー、５……ロツクリング、６…
…壁、７……コンジツト又は容器、８……腐食性
媒体、９，１０，１１……リード、１２……腐食
性媒体から保護された素子部分、１４……放射性
にされた領域、２１……放射線検出器、２２，２
３……電子回路、２４……比較器。
ーブ装置の概略図、そして第２図は本発明による
装置を示す図である。 １……腐食監視プローブ、２……素子、３……
基部、４……カラー、５……ロツクリング、６…
…壁、７……コンジツト又は容器、８……腐食性
媒体、９，１０，１１……リード、１２……腐食
性媒体から保護された素子部分、１４……放射性
にされた領域、２１……放射線検出器、２２，２
３……電子回路、２４……比較器。
Claims (1)
- １ 腐食性環境中に置かれた物体に孔食が生じる
のを監視するための孔食監視装置であつて、上記
物体と同じ物質で形成され且つその表面領域の一
部分が放射性とされていて上記腐食性環境中に支
持された腐食性素子と、上記腐食性素子の腐食に
よる電気抵抗の変化を表わす第１の電気信号を与
えるための第１信号発生手段と、上記腐食性素子
の表面領域における上記放射性部分の腐食による
放射性の変化を表わす第２の電気信号を与えるた
めの第２信号発生手段と、上記第１信号発生手段
からの第１の電気信号と上記第２信号発生手段か
らの第２の電気信号とを比較して第２の電気信号
が第１の電気信号より小さい場合に前記物体に孔
食が発生している可能性を指示するための比較手
段と、を備えていることを特徴とする孔食監視装
置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8017670 | 1980-05-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5722535A JPS5722535A (en) | 1982-02-05 |
| JPH0124254B2 true JPH0124254B2 (ja) | 1989-05-10 |
Family
ID=10513715
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8180881A Granted JPS5722535A (en) | 1980-05-30 | 1981-05-28 | Improvement in monitoring of corrosion |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4412174A (ja) |
| JP (1) | JPS5722535A (ja) |
| DE (1) | DE3121207A1 (ja) |
| FR (1) | FR2483618A1 (ja) |
| GB (1) | GB2079949B (ja) |
| IT (1) | IT1144719B (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| SE8504066L (sv) * | 1985-09-04 | 1987-03-03 | Corrocean As | Sond for overvakning av korrosionen hos stalarmeringselement i en betongkropp |
| US4755744A (en) * | 1986-01-21 | 1988-07-05 | Rohrback Corporation | Plated sensor for monitoring corrosion or electroplating |
| GB8822673D0 (en) * | 1988-09-27 | 1988-11-02 | Tate & Lyle Plc | Selective acylation of sugars |
| US5045775A (en) * | 1989-10-31 | 1991-09-03 | Lehigh University | Environmental corrosion monitor system incorporating deposited contaminants and corrosion products |
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| US6011263A (en) * | 1997-09-11 | 2000-01-04 | Bielski; Roman | Method and apparatus for measuring multi-phase flow |
| BE1013826A3 (fr) * | 2000-11-06 | 2002-09-03 | Magotteaux Int | Dispositif de determination de la corrosion des engins broyants dans un broyeur rotatif. |
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| DE10128607A1 (de) * | 2001-06-13 | 2003-01-09 | Abb Patent Gmbh | Meßstoffberührte Elektrode |
| US7609874B2 (en) * | 2005-12-21 | 2009-10-27 | Honeywell International Inc. | System and method for prediction of pitting corrosion growth |
| US8298390B2 (en) * | 2008-11-26 | 2012-10-30 | Xiaodong Sun Yang | Electrochemical probes for corrosion monitoring in hydrogen sulfide systems and methods of avoiding the effect of electron-conducting deposits |
| US8676543B2 (en) * | 2009-06-23 | 2014-03-18 | Exxonmobil Research And Engineering Company | Determining the resonance parameters for mechanical oscillators |
| CN108318549B (zh) * | 2018-03-08 | 2023-09-26 | 西南石油大学 | 一种电容式腐蚀在线监测装置及方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1981
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