JPH01196539A - 赤外拡散反射スペクトル測定用板 - Google Patents
赤外拡散反射スペクトル測定用板Info
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- JPH01196539A JPH01196539A JP63019677A JP1967788A JPH01196539A JP H01196539 A JPH01196539 A JP H01196539A JP 63019677 A JP63019677 A JP 63019677A JP 1967788 A JP1967788 A JP 1967788A JP H01196539 A JPH01196539 A JP H01196539A
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Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、赤外吸収スペクトル測定法における拡散反射
法に用いられる測定用板に関する。特に、本発明は、試
料調製が容易であり、かつ正確な赤外吸収スペクトルが
得られる赤外拡散反射スペクトル測定用板に関する。
法に用いられる測定用板に関する。特に、本発明は、試
料調製が容易であり、かつ正確な赤外吸収スペクトルが
得られる赤外拡散反射スペクトル測定用板に関する。
(従来の技術)
赤外線(波長は通常25μm〜2.5μm)が物質に当
ると、分子中の原子又は原子団はそれぞれ特定の波長を
吸収する。この波長と強度(吸収量)の関係を表わした
のが赤外吸収スペクトルで、これを調べることにより、
化合物の部分構造を推定することができる。この赤外吸
収スペクトル測定法は主として有機化合物の構造決定の
ための分析に使用されている。この中でも拡散反射法に
よって測定する場合には従来測定すべき物質を削り取っ
て得た試料をそのまま、あるいはXBr扮末と良く混合
し、この混合物を拡散反射法で赤外スペクトルを測定し
ている(Christine M、 Conroy。
ると、分子中の原子又は原子団はそれぞれ特定の波長を
吸収する。この波長と強度(吸収量)の関係を表わした
のが赤外吸収スペクトルで、これを調べることにより、
化合物の部分構造を推定することができる。この赤外吸
収スペクトル測定法は主として有機化合物の構造決定の
ための分析に使用されている。この中でも拡散反射法に
よって測定する場合には従来測定すべき物質を削り取っ
て得た試料をそのまま、あるいはXBr扮末と良く混合
し、この混合物を拡散反射法で赤外スペクトルを測定し
ている(Christine M、 Conroy。
Analytical Chemistry S7+8
22 (1985) )。
22 (1985) )。
この拡散反射法により簡便に測定するために最近開発さ
れたシリコンカーバイドペーパーヲ、fll 用する拡
散反射法がある(R,A、 Spragg、 Appl
dSpectroscopy、 38(4) 60
4(1985) )。
れたシリコンカーバイドペーパーヲ、fll 用する拡
散反射法がある(R,A、 Spragg、 Appl
dSpectroscopy、 38(4) 60
4(1985) )。
この方法は、シリコンカーバイド(SiC)の微粉末を
表面に固着させたシリコンカーバイドペーパーで測定す
べき物質の表面をこすり、それにより該物質が削られて
シリコンカーバイドペーパーの表面の凹凸の凹部に詰ま
ってくる。これを試料として拡散反射法により赤外スペ
クトルを測定する。
表面に固着させたシリコンカーバイドペーパーで測定す
べき物質の表面をこすり、それにより該物質が削られて
シリコンカーバイドペーパーの表面の凹凸の凹部に詰ま
ってくる。これを試料として拡散反射法により赤外スペ
クトルを測定する。
この方法は簡便に赤外スペクトルを測定することができ
る。
る。
(発明が解決しようとする問題点)
試料をKBrと混ぜて測定する方法は、−度測定すると
特に水溶性のサンプルの回収が困難である。
特に水溶性のサンプルの回収が困難である。
また、特に表面付近の化合物を測定しようとする場合、
これを何らかの方法で抽出した後この測定を行う必要が
あり手間がかかるという欠点がある。
これを何らかの方法で抽出した後この測定を行う必要が
あり手間がかかるという欠点がある。
シリコンカーバイドペーパーを利用する拡散反射法は上
述の表面付近の化合物を測定しようとする場合、これを
表面にこすり付けてそのまま簡便に測定できるという利
点はあるが、試料の回収ができないし、感度が低いとい
う欠点を有している。
述の表面付近の化合物を測定しようとする場合、これを
表面にこすり付けてそのまま簡便に測定できるという利
点はあるが、試料の回収ができないし、感度が低いとい
う欠点を有している。
さらに、試料を溶剤に溶かして回収しようとすると、シ
リコンカーバイドペーパーのバインターカ不純物として
混入してしまうためと、この測定法では赤外光の反射率
が低いためであると考えられる。
リコンカーバイドペーパーのバインターカ不純物として
混入してしまうためと、この測定法では赤外光の反射率
が低いためであると考えられる。
このため、従来のKBrを用いる方法に比べ試料調製の
時間を短縮することが望ましい。また、従来のKBr粉
末を用いる方法、シリコンカーバイドペーパー法では困
難であった試料回収を可能にすることが望ましい。さら
に、迅速な測定のためにオン・ラインの液体クロマトグ
ラフ−赤外測定システムを可能にすることが望ましい。
時間を短縮することが望ましい。また、従来のKBr粉
末を用いる方法、シリコンカーバイドペーパー法では困
難であった試料回収を可能にすることが望ましい。さら
に、迅速な測定のためにオン・ラインの液体クロマトグ
ラフ−赤外測定システムを可能にすることが望ましい。
これはKBr粉末を用いる拡散反射法では水が、またシ
リコンカーバイドペーパーを用いる拡散反射法では有機
溶媒が使用できないため利用が制限されていたが、本発
明を利用することで可能である。
リコンカーバイドペーパーを用いる拡散反射法では有機
溶媒が使用できないため利用が制限されていたが、本発
明を利用することで可能である。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、表面に細かい凹凸を有する、金属板、酸化被
膜を有する金属板、又は金属の少なくとも1種を藁着し
た金属板からなる赤外拡散反射スペクトル測定用板によ
って、上記の目的を達成したものである。
膜を有する金属板、又は金属の少なくとも1種を藁着し
た金属板からなる赤外拡散反射スペクトル測定用板によ
って、上記の目的を達成したものである。
本発明において用いる、表面に細かい凹凸を有する金属
板としては、当社がPS版の支持体として用いている^
1板を利用するのが好適である。このPS板の支持体と
して用いているAl板は、表面に適度に細かい凹凸を有
するものであって、それをそのまま、あるいはさらに加
工することにより使用することができる。本発明におけ
る表面の細かい凹凸は、その高さが0.01μ〜10μ
の大きさのものであり、好ましくは0.1μ〜1.0μ
の大きさのものである。
板としては、当社がPS版の支持体として用いている^
1板を利用するのが好適である。このPS板の支持体と
して用いているAl板は、表面に適度に細かい凹凸を有
するものであって、それをそのまま、あるいはさらに加
工することにより使用することができる。本発明におけ
る表面の細かい凹凸は、その高さが0.01μ〜10μ
の大きさのものであり、好ましくは0.1μ〜1.0μ
の大きさのものである。
また、本発明では、表面に細かい凹凸を有する、酸化被
膜を有する金属板、叉は金属の少なくとも1種を蒸着し
た金属板をも使用することができる。
膜を有する金属板、叉は金属の少なくとも1種を蒸着し
た金属板をも使用することができる。
表面の細かい凹凸は、その高さが上記した大きさであり
、酸化被膜は5〜100μの厚さを有することが好まし
い。金属の藁着は1種だけでもよいが2種以上でもよい
。金属板としては、上記の金属板と同じであるが、種々
のものが使用しうるものの、耐食性があり、加工性の良
いものがよい。これらの点から鉄は好ましくなく、アル
ミニウムが好ましい。この金属板に蒸着金属層を有する
ものは反射率が向上して測定に便利である。前記の蒸着
金属のうち金が最も反射率が高い。また酸化被膜を有し
ているものは金属より耐食性が強(、腐食性のサンプル
を扱う時に有効である。
、酸化被膜は5〜100μの厚さを有することが好まし
い。金属の藁着は1種だけでもよいが2種以上でもよい
。金属板としては、上記の金属板と同じであるが、種々
のものが使用しうるものの、耐食性があり、加工性の良
いものがよい。これらの点から鉄は好ましくなく、アル
ミニウムが好ましい。この金属板に蒸着金属層を有する
ものは反射率が向上して測定に便利である。前記の蒸着
金属のうち金が最も反射率が高い。また酸化被膜を有し
ているものは金属より耐食性が強(、腐食性のサンプル
を扱う時に有効である。
金属板の表面の細かい凹凸は、通常ブラシグレイン法や
ボールグレイン法のごとき機械的な方法や電解ダレイン
法のごとき電気化学的方法あるいは両者を組合せた方法
などの粗面化加工法を用いて加工することにより得るこ
とができる。前記の粗面化処理によりその表面が梨地状
にされたものを、さらに酸又はアルカリ等の水溶液によ
りエツチングしてもよい。金属蒸着層を有する金属板の
場合には、表面の細かい凹凸を先に設けた後、金属蒸着
層を付着させるようにするのが好ましい。
ボールグレイン法のごとき機械的な方法や電解ダレイン
法のごとき電気化学的方法あるいは両者を組合せた方法
などの粗面化加工法を用いて加工することにより得るこ
とができる。前記の粗面化処理によりその表面が梨地状
にされたものを、さらに酸又はアルカリ等の水溶液によ
りエツチングしてもよい。金属蒸着層を有する金属板の
場合には、表面の細かい凹凸を先に設けた後、金属蒸着
層を付着させるようにするのが好ましい。
金属蒸着層の金属としては、例えば銀、金、銅、クロム
、白金、ニッケルである。金属蒸着層の厚さは10〜1
00人が好ましい。これ以上の膜厚であっても支障はな
いが、あまり厚いと表面凹凸を消してしまうため逆効果
である。
、白金、ニッケルである。金属蒸着層の厚さは10〜1
00人が好ましい。これ以上の膜厚であっても支障はな
いが、あまり厚いと表面凹凸を消してしまうため逆効果
である。
金属板のこの表面の細かい凹凸は、触針計(表面粗さ計
)又は2次元SEMで計かることができる。本発明では
、凹凸の測定に触針計としてスローン社製のDEKTA
Kを用い、また2次元SEMにより 計るさいにはエリ
オニクス社製のESA−3000を用いた。
)又は2次元SEMで計かることができる。本発明では
、凹凸の測定に触針計としてスローン社製のDEKTA
Kを用い、また2次元SEMにより 計るさいにはエリ
オニクス社製のESA−3000を用いた。
第1図は、表面に細かい凹凸を有する金属板の横断面の
模式図を示し、第2図は、表面に細かい凹凸を有し、か
つ金、銀などのM着層を有する金属板の横断面の模式図
を示す。
模式図を示し、第2図は、表面に細かい凹凸を有し、か
つ金、銀などのM着層を有する金属板の横断面の模式図
を示す。
(実施例)
以下、実施例により本発明を具体的に説明する。
本発明はこの実施例のみに限定されるものではない。
実施例1
JIS 1050アルミニウムシートをパミスー水懸濁
液を研磨剤として、回転ナイロンブラシで表面を砂目立
てした。この時の表面の凹凸(中心線平均粗さ)は0.
5μであった。このアルミニウム板を直径7mnの円型
に截断した。一方、スチレンーアクリルロニトリル(8
0/20コポリマー)をクロロホルムに溶かし、その溶
解量を変えることにより100mg/100 mlと1
0IIIg/ 100−の2種類のン容液を作成する。
液を研磨剤として、回転ナイロンブラシで表面を砂目立
てした。この時の表面の凹凸(中心線平均粗さ)は0.
5μであった。このアルミニウム板を直径7mnの円型
に截断した。一方、スチレンーアクリルロニトリル(8
0/20コポリマー)をクロロホルムに溶かし、その溶
解量を変えることにより100mg/100 mlと1
0IIIg/ 100−の2種類のン容液を作成する。
そして、前記の円型のアルミニウム板2枚の上にそれぞ
れ前記の2種類の試料溶液を別々に10μ2滴下して乾
燥する。
れ前記の2種類の試料溶液を別々に10μ2滴下して乾
燥する。
この試料を拡散反射法により赤外スペクトル分析した。
測定装置としては日本電子JIR−40型FT −IR
を使用した。測定条件は、サンプリングレートがλ、分
解能が4cm−’、積算回数400回であって、検出器
にはMCTを使用した。
を使用した。測定条件は、サンプリングレートがλ、分
解能が4cm−’、積算回数400回であって、検出器
にはMCTを使用した。
測定結果によれば得られた赤外スペクトルは、スチレン
−アクリロニトリル(80/20コポリマー)の特徴で
ある波長2237cm−’及び1454C!1−’のピ
ークが鋭く、感度が高かった。また、他に不純物と認め
られるようなピークは存在しなかった。そして、試料溶
液10μ!(試料量10μg)でも十分な強度のスペク
トルが得られる。さらにもう一つの試料溶液10μ!(
試料量1μg)でも強度の強いピーク(例えば1500
c+r’付近のヘンゼン環の骨格振動)が検出可能であ
る。
−アクリロニトリル(80/20コポリマー)の特徴で
ある波長2237cm−’及び1454C!1−’のピ
ークが鋭く、感度が高かった。また、他に不純物と認め
られるようなピークは存在しなかった。そして、試料溶
液10μ!(試料量10μg)でも十分な強度のスペク
トルが得られる。さらにもう一つの試料溶液10μ!(
試料量1μg)でも強度の強いピーク(例えば1500
c+r’付近のヘンゼン環の骨格振動)が検出可能であ
る。
実施例2
JIS 1050アルミニウムシートをパミスー水懸濁
液を研磨剤として回転ナイロンブラシで表面を砂目立て
した後、硝酸水溶液を電解液として電解エツチングをし
て粗面化加工した。この粗面化加工したアルミニウム板
に真空蒸着法により銀を葎着した。tI莫着層の厚さは
平均約50人であった。得られた銀莫着アルミニウム板
の凹凸は、触針計によると平均0.8μであった。この
アルミニウム板を実施例1と同様に円型に截断し、その
円型アルミニウム板の上に実施例1と同じ試料溶液を滴
下して乾燥した。実施例1と同じ測定条件で測定した。
液を研磨剤として回転ナイロンブラシで表面を砂目立て
した後、硝酸水溶液を電解液として電解エツチングをし
て粗面化加工した。この粗面化加工したアルミニウム板
に真空蒸着法により銀を葎着した。tI莫着層の厚さは
平均約50人であった。得られた銀莫着アルミニウム板
の凹凸は、触針計によると平均0.8μであった。この
アルミニウム板を実施例1と同様に円型に截断し、その
円型アルミニウム板の上に実施例1と同じ試料溶液を滴
下して乾燥した。実施例1と同じ測定条件で測定した。
ともに強度の強いピークが得られた。
比較例1
200番のシリコンカーバイド粉末をバインダーにより
固着したシリコンカーバイドペーパーを用いてスチレン
−アクリロニトリル(80/20コポリマー)の表面を
こする。この操作により前記のスチレン−アクリロニト
リル(80/20コポリマー)は削られてシリコンカー
バイドペーパーの凹所につまる。このペーパーを実施例
1と同じ測定条件゛で赤外スペクトル分析をした。強度
のピークは低くかった。試料量を変えて実験を繰り返え
すと、所定の強度のピークを得るには試料量は20μg
を必要とした。また、測定したシリコンカーバイドペー
パーから試料を回収するために前記のスチレン−アクリ
ロニトリル(80/20コポリマー)のン容媒であるク
ロロホルムにより洗浄すると、洗浄後の溶媒にバインダ
ーが@量溶解してきた。
固着したシリコンカーバイドペーパーを用いてスチレン
−アクリロニトリル(80/20コポリマー)の表面を
こする。この操作により前記のスチレン−アクリロニト
リル(80/20コポリマー)は削られてシリコンカー
バイドペーパーの凹所につまる。このペーパーを実施例
1と同じ測定条件゛で赤外スペクトル分析をした。強度
のピークは低くかった。試料量を変えて実験を繰り返え
すと、所定の強度のピークを得るには試料量は20μg
を必要とした。また、測定したシリコンカーバイドペー
パーから試料を回収するために前記のスチレン−アクリ
ロニトリル(80/20コポリマー)のン容媒であるク
ロロホルムにより洗浄すると、洗浄後の溶媒にバインダ
ーが@量溶解してきた。
(発明の効果)
本発明によれば、表面に細かい凹凸を有する金属板を試
料にこすりつけるか、又は試料を溶かした溶液を前記の
金属板上に滴下し、乾燥させるだけで測定できるから、
短時間で試料調製ができる。
料にこすりつけるか、又は試料を溶かした溶液を前記の
金属板上に滴下し、乾燥させるだけで測定できるから、
短時間で試料調製ができる。
また、使用する測定用板は金属板であって、有機素材を
使用していないので、金属板表面の試料はそれを溶かす
溶媒で洗い流したさいに不純物が混入することがなく、
試料を回収することができる。
使用していないので、金属板表面の試料はそれを溶かす
溶媒で洗い流したさいに不純物が混入することがなく、
試料を回収することができる。
このため、これを用いるとLCCン夜体クロマトグラフ
ィー)−1R(赤外測定システム)との接続を 行う時
に特に便利である。また、本発明によれば得られる赤外
スペクトルは感度が高く、特に金、銀などの金属の草着
層を設けたものは一層感度が高い。
ィー)−1R(赤外測定システム)との接続を 行う時
に特に便利である。また、本発明によれば得られる赤外
スペクトルは感度が高く、特に金、銀などの金属の草着
層を設けたものは一層感度が高い。
第1図は、表面に細かい凹凸を有する金属板の横断面の
模式図を示し、第2図は、表面に細かい凹凸を有し、か
つ金、根などの蒸着層を有する金属板の横断面の模式図
を示す。 1;金属板 2;細かい凹凸 3:蒸着金属層 (ほか3名) 第1図 第20 手続補正書 1、 事件の表示 昭和63年特許願第19677号 2、 発明の名称 赤外拡散反射スペクトル測定用板 3、 補正をする者 事件との関係: 特許出願人 名 称: (520)富士写真フィルム株式会社4、代
理人 住所:〒100 東京都千代田区霞が関3丁目2番5
号 霞が関ビル29階君が関ビル内郵便局私書箱第49
号 栄光特許事務所 6、 補正により増加する請求項の数二 〇7、 補正
の対象:1)明1[1書の「発明の詳細な説明」の欄2
)明IB1の「図面の簡単な説明」の欄3)図 面 8、 補正の内容:1)「発明の詳細な説明」の欄にお
いて、以下のとおり補正する。 (1)喝4第4頁16行目「当社がPS版の」を「市販
の印刷版の」と補正する。 (2)副@第4頁17行目「用いているA1板」の後に
「や電屏コンデンサー用に用いられろA1板や電屏梨地
処理されたA1板」を挿入する。 (3)に)5第5頁2行目「その高さが0.01μ〜1
0μ」を「その中心線平均粗さが0.2μ〜10μ」と
補正する。 (L)1薗1第5頁3行目「0.1μ〜1.0μ」を「
0.3μ〜5.0μ」と補正する。 σン(5)I第5頁5行目「凹凸を有する」を「凹凸を
有した」と補正する。 )V4 第5頁6行目「酸化被膜を有する」を「酸化
被膜をもつ」と補正する。 (ワ)1船う第5頁9行目「5〜100μ」を「0.2
〜1°0μ」と補ルする。 0)(ホ)導第5頁14行目「鉄は好ましくな(」を削
除する。 ()Illll第5ノ17 を「金及び銀の反射率が高く、好適fある。」と補正す
る。 (to)lq−1第5頁20行目〜6頁1行目の「プラ
シングレイン法」の後に「サンPブラスト法、エンデス
法」を挿入する。 (lt) %’d冬第6頁2行目「電解グレイン法」を
「硝酸や塩酸水溶液中″′1%直流又は交R″fjL解
する電解エツチング法」を挿入する。 ((す(3)1第6頁4行目「得ることが1きる。」の
後に「またフッ酸や塩酸を用いた化学的な方法や、また
高濃度の硫酸水溶液中などフ電解梨地する方法も用いる
ことができる。」を挿入する。 G 3事i第6−頁7行目「してもよい。」の後に「こ
のように処理した表面は軟いので陽極酸化皮膜を設ける
ことが望ましい。」を挿入する。 θい―第6頁12行目「10〜100AJを「10〜1
00OAJと補正する。 σ月4第8頁1〜2行目「赤外スペクトル分析した。」
を「赤外スペクトル測定をした。」と補正する。 (Iも)4第8頁2〜6行目「サンプリングレートがλ
」を削除する。 ((り) +同書第8頁5行目rMCTを使用した。」
の後に「干渉計のミラーのスキャンスピードは4n/s
ec s 光源には水冷式のグローパを、検出器にはM
CTを使用した。拡散反射は日本電子IR−DRA10
型拡散反射測定装置を用いて測定した。測定範囲は40
00〜400 G!iである。」を挿入する。 (1g2(至)1第9頁1行目「アルミニウム板」を「
アルミニウム板の表面を301量%の硫酸水溶液中で洗
浄したのち、15重量%の硫酸水溶液中11μの陽極酸
化皮膜を設けた後、」と補正する。 (巾Hs第9頁17行目「スペクトル分析」を「スペク
トル測定」と補正する。 (20月ぽL第10頁4行目「微量」を「少量」と補正
する。 υI月司書第10頁4行目「溶解してきた。」の後に次
の文章を挿入する。 「実施例6 JISA1050アルミニウム板の表面を1.5重量%
の塩酸水溶液中1交流電解した後、10%苛性ソーダ水
溶液中1洗浄し、15重f%硫酸水溶液中10.5μの
陽極酸化皮膜を設けた本発明のアルミニウム板を用いて
液体クロマトグラフ−赤外測定システムの測定を実施し
た。 下記化合物A、B、Cの混合溶液を液体クロマトグラフ
(LC)で分離し、各ピークの溶出液を本発明のアルミ
ニウム板上に採取し、これを拡散反射法で赤外測定(工
R)し、各ピークの同定を行った。 LCの測定には島津製作所製、LC−6A 液体クロ
マトグラフシステムを用い、カラムは東ソー製のTSK
−gel ODS−80TMを使用した。溶離液にはメ
タノール7用い、検出はUV検出器を用いて254nt
r1%測定した。サンプルは化合物A。 B、Cを各々IIIずつ100m1のメタノールに溶解
した混合液を調製し、1回に20μmずつ注入した。 この条件f分離、溶出してきたものを第6図に示した1
自動スポツト装置”の上へ滴下していった。溶出液はL
C溶出ノぞイブ5からターンテーブル6上にセットした
本発明のアルミニウム板8上に滴下される。このLC浴
出パイプ5はアーム4に固定されており、アーム4はア
ームスタンド9に4秒間引き込まれた後、1秒間ターン
テーブル6上に伸び、再びアームスタンド側へ引き込ま
れる。この動作を5秒毎にくり返す。このターンテーブ
ル6上には本発明のアルミ;ラム板8が円周に沿って並
べである。ここf用いたアルミニウム板は実施例1のも
のを直径7顛に裁断したものを用いた。ターンテーブル
は、5秒毎に1コマずつ回転するため、5秒毎に1秒ず
つLC溶出液がサンプリングされる。このアルミニウム
板はこの後赤外線乾燥器7の下へ進んでゆき、ここで乾
燥される。 今回実施例tは、LC′11%1.6分、6.2分、5
.8分に3本のピークが現われた。各ピークの溶出時間
に対応する、上記1自動スポツト装置“上のアルミニウ
ム板を取り出し拡散反射法でIR測測定た。測定条件は
実施例1と同じである。1.3分のピークに対応するア
ルミニウム板からは、1730 。 1280信−1のそれぞれc=o、c−oに帰属される
吸収が検出され、化合物A−’?あることが判った。 また6、2分のピークに対応するアルミニウム板からは
、1190cm のS=0に帰属される吸収が検出さ
れ、化合物Bであることが判った。5,8分のピークに
対応するアルミニウム板からは970 cWL−’のP
−0に帰属される吸収が検出され、化合物Cであること
が判った。 本実施例マはLC測定とIR測測定オフライン1行った
が、オンラインマ実施丁れはさらにその作業能率は向上
する。」 Z)B%第11頁4行目「示す」を「示し、第3図は、
測定に用いる自動スポット装置を示す。」と補正する。
模式図を示し、第2図は、表面に細かい凹凸を有し、か
つ金、根などの蒸着層を有する金属板の横断面の模式図
を示す。 1;金属板 2;細かい凹凸 3:蒸着金属層 (ほか3名) 第1図 第20 手続補正書 1、 事件の表示 昭和63年特許願第19677号 2、 発明の名称 赤外拡散反射スペクトル測定用板 3、 補正をする者 事件との関係: 特許出願人 名 称: (520)富士写真フィルム株式会社4、代
理人 住所:〒100 東京都千代田区霞が関3丁目2番5
号 霞が関ビル29階君が関ビル内郵便局私書箱第49
号 栄光特許事務所 6、 補正により増加する請求項の数二 〇7、 補正
の対象:1)明1[1書の「発明の詳細な説明」の欄2
)明IB1の「図面の簡単な説明」の欄3)図 面 8、 補正の内容:1)「発明の詳細な説明」の欄にお
いて、以下のとおり補正する。 (1)喝4第4頁16行目「当社がPS版の」を「市販
の印刷版の」と補正する。 (2)副@第4頁17行目「用いているA1板」の後に
「や電屏コンデンサー用に用いられろA1板や電屏梨地
処理されたA1板」を挿入する。 (3)に)5第5頁2行目「その高さが0.01μ〜1
0μ」を「その中心線平均粗さが0.2μ〜10μ」と
補正する。 (L)1薗1第5頁3行目「0.1μ〜1.0μ」を「
0.3μ〜5.0μ」と補正する。 σン(5)I第5頁5行目「凹凸を有する」を「凹凸を
有した」と補正する。 )V4 第5頁6行目「酸化被膜を有する」を「酸化
被膜をもつ」と補正する。 (ワ)1船う第5頁9行目「5〜100μ」を「0.2
〜1°0μ」と補ルする。 0)(ホ)導第5頁14行目「鉄は好ましくな(」を削
除する。 ()Illll第5ノ17 を「金及び銀の反射率が高く、好適fある。」と補正す
る。 (to)lq−1第5頁20行目〜6頁1行目の「プラ
シングレイン法」の後に「サンPブラスト法、エンデス
法」を挿入する。 (lt) %’d冬第6頁2行目「電解グレイン法」を
「硝酸や塩酸水溶液中″′1%直流又は交R″fjL解
する電解エツチング法」を挿入する。 ((す(3)1第6頁4行目「得ることが1きる。」の
後に「またフッ酸や塩酸を用いた化学的な方法や、また
高濃度の硫酸水溶液中などフ電解梨地する方法も用いる
ことができる。」を挿入する。 G 3事i第6−頁7行目「してもよい。」の後に「こ
のように処理した表面は軟いので陽極酸化皮膜を設ける
ことが望ましい。」を挿入する。 θい―第6頁12行目「10〜100AJを「10〜1
00OAJと補正する。 σ月4第8頁1〜2行目「赤外スペクトル分析した。」
を「赤外スペクトル測定をした。」と補正する。 (Iも)4第8頁2〜6行目「サンプリングレートがλ
」を削除する。 ((り) +同書第8頁5行目rMCTを使用した。」
の後に「干渉計のミラーのスキャンスピードは4n/s
ec s 光源には水冷式のグローパを、検出器にはM
CTを使用した。拡散反射は日本電子IR−DRA10
型拡散反射測定装置を用いて測定した。測定範囲は40
00〜400 G!iである。」を挿入する。 (1g2(至)1第9頁1行目「アルミニウム板」を「
アルミニウム板の表面を301量%の硫酸水溶液中で洗
浄したのち、15重量%の硫酸水溶液中11μの陽極酸
化皮膜を設けた後、」と補正する。 (巾Hs第9頁17行目「スペクトル分析」を「スペク
トル測定」と補正する。 (20月ぽL第10頁4行目「微量」を「少量」と補正
する。 υI月司書第10頁4行目「溶解してきた。」の後に次
の文章を挿入する。 「実施例6 JISA1050アルミニウム板の表面を1.5重量%
の塩酸水溶液中1交流電解した後、10%苛性ソーダ水
溶液中1洗浄し、15重f%硫酸水溶液中10.5μの
陽極酸化皮膜を設けた本発明のアルミニウム板を用いて
液体クロマトグラフ−赤外測定システムの測定を実施し
た。 下記化合物A、B、Cの混合溶液を液体クロマトグラフ
(LC)で分離し、各ピークの溶出液を本発明のアルミ
ニウム板上に採取し、これを拡散反射法で赤外測定(工
R)し、各ピークの同定を行った。 LCの測定には島津製作所製、LC−6A 液体クロ
マトグラフシステムを用い、カラムは東ソー製のTSK
−gel ODS−80TMを使用した。溶離液にはメ
タノール7用い、検出はUV検出器を用いて254nt
r1%測定した。サンプルは化合物A。 B、Cを各々IIIずつ100m1のメタノールに溶解
した混合液を調製し、1回に20μmずつ注入した。 この条件f分離、溶出してきたものを第6図に示した1
自動スポツト装置”の上へ滴下していった。溶出液はL
C溶出ノぞイブ5からターンテーブル6上にセットした
本発明のアルミニウム板8上に滴下される。このLC浴
出パイプ5はアーム4に固定されており、アーム4はア
ームスタンド9に4秒間引き込まれた後、1秒間ターン
テーブル6上に伸び、再びアームスタンド側へ引き込ま
れる。この動作を5秒毎にくり返す。このターンテーブ
ル6上には本発明のアルミ;ラム板8が円周に沿って並
べである。ここf用いたアルミニウム板は実施例1のも
のを直径7顛に裁断したものを用いた。ターンテーブル
は、5秒毎に1コマずつ回転するため、5秒毎に1秒ず
つLC溶出液がサンプリングされる。このアルミニウム
板はこの後赤外線乾燥器7の下へ進んでゆき、ここで乾
燥される。 今回実施例tは、LC′11%1.6分、6.2分、5
.8分に3本のピークが現われた。各ピークの溶出時間
に対応する、上記1自動スポツト装置“上のアルミニウ
ム板を取り出し拡散反射法でIR測測定た。測定条件は
実施例1と同じである。1.3分のピークに対応するア
ルミニウム板からは、1730 。 1280信−1のそれぞれc=o、c−oに帰属される
吸収が検出され、化合物A−’?あることが判った。 また6、2分のピークに対応するアルミニウム板からは
、1190cm のS=0に帰属される吸収が検出さ
れ、化合物Bであることが判った。5,8分のピークに
対応するアルミニウム板からは970 cWL−’のP
−0に帰属される吸収が検出され、化合物Cであること
が判った。 本実施例マはLC測定とIR測測定オフライン1行った
が、オンラインマ実施丁れはさらにその作業能率は向上
する。」 Z)B%第11頁4行目「示す」を「示し、第3図は、
測定に用いる自動スポット装置を示す。」と補正する。
Claims (1)
- 表面に細かい凹凸を有する、金属板、酸化皮膜を有する
金属板、又は金属の少なくとも1種を蒸着した金属板か
らなる赤外拡散反射スペクトル測定用板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63019677A JPH01196539A (ja) | 1988-02-01 | 1988-02-01 | 赤外拡散反射スペクトル測定用板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63019677A JPH01196539A (ja) | 1988-02-01 | 1988-02-01 | 赤外拡散反射スペクトル測定用板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01196539A true JPH01196539A (ja) | 1989-08-08 |
Family
ID=12005860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63019677A Pending JPH01196539A (ja) | 1988-02-01 | 1988-02-01 | 赤外拡散反射スペクトル測定用板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01196539A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0644412A2 (de) * | 1993-09-17 | 1995-03-22 | Roche Diagnostics GmbH | Verfahren zur Analyse klinisch relevanter Flüssigkeiten und Suspensionen |
JPH07167779A (ja) * | 1993-09-17 | 1995-07-04 | Boehringer Mannheim Gmbh | サンプル液の定量分析方法 |
JPH0843303A (ja) * | 1994-06-15 | 1996-02-16 | Modern Controls Inc | 濃度測定装置 |
JP2007114159A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Victor Co Of Japan Ltd | 赤外線分光分析用試料採取器具 |
JP2010164539A (ja) * | 2009-01-19 | 2010-07-29 | Ulvac Japan Ltd | 表面修飾基板の解析方法及び製造方法 |
US10790403B1 (en) * | 2013-03-14 | 2020-09-29 | nVizix LLC | Microfabricated vacuum photodiode arrays for solar power |
-
1988
- 1988-02-01 JP JP63019677A patent/JPH01196539A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0644412A2 (de) * | 1993-09-17 | 1995-03-22 | Roche Diagnostics GmbH | Verfahren zur Analyse klinisch relevanter Flüssigkeiten und Suspensionen |
JPH07167779A (ja) * | 1993-09-17 | 1995-07-04 | Boehringer Mannheim Gmbh | サンプル液の定量分析方法 |
JPH07167782A (ja) * | 1993-09-17 | 1995-07-04 | Boehringer Mannheim Gmbh | 臨床関連の液体および懸濁液の分析法 |
EP0644413A3 (de) * | 1993-09-17 | 1995-08-02 | Boehringer Mannheim Gmbh | Verfahren zur quantitativen Analyse von Probeflüssigkeit. |
EP0644412A3 (de) * | 1993-09-17 | 1995-08-09 | Boehringer Mannheim Gmbh | Verfahren zur Analyse klinisch relevanter Flüssigkeiten und Suspensionen. |
US5734587A (en) * | 1993-09-17 | 1998-03-31 | Boehringer Mannheim Gmbh | Method of analyzing clinically relevant liquids and suspensions |
JPH0843303A (ja) * | 1994-06-15 | 1996-02-16 | Modern Controls Inc | 濃度測定装置 |
JP2007114159A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Victor Co Of Japan Ltd | 赤外線分光分析用試料採取器具 |
JP4517366B2 (ja) * | 2005-10-24 | 2010-08-04 | 日本ビクター株式会社 | 試料採取器具 |
JP2010164539A (ja) * | 2009-01-19 | 2010-07-29 | Ulvac Japan Ltd | 表面修飾基板の解析方法及び製造方法 |
US10790403B1 (en) * | 2013-03-14 | 2020-09-29 | nVizix LLC | Microfabricated vacuum photodiode arrays for solar power |
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