JPH01195381A - Measuring program generating device - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電子回路の測定装置を制御するための測定
プログラムを自動的に作成する測定プログラム作成装置
に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a measurement program creation device that automatically creates a measurement program for controlling an electronic circuit measurement device.
半導体集積回路で代表される電子回路に対して、その特
性を測定するために各種の測定装置が用いられる。Various measuring devices are used to measure the characteristics of electronic circuits, typically semiconductor integrated circuits.
ここで言う測定装置とは、単なる計測器を意味するもの
ではなく、一般にＩＣテストシステムと呼ばれるもので
、複数の信号発生手段、計測手段を有するとともに、測
定制御用コントローラで制御されて種々の測定を実行で
きる装置をいう。The measurement device mentioned here does not mean a mere measuring instrument, but is generally called an IC test system, which has multiple signal generation means and measurement means, and is controlled by a measurement control controller to perform various measurements. A device that can perform
第４図は、半導体集積回路の試験を行うための装置全体
のブロック図を示す。図において、半導体集積回路５は
、実際の使用状態と試験状態との対応をとるための周辺
回路４と接続されて被測定回路３を構成している。この
被測定回路３は測定治具２を介して前記測定装置１と接
続され、測定装置１の制御の下で試験が実行される。FIG. 4 shows a block diagram of the entire apparatus for testing semiconductor integrated circuits. In the figure, a semiconductor integrated circuit 5 is connected to a peripheral circuit 4 for making correspondence between an actual usage state and a test state, thereby forming a circuit under test 3. The circuit under test 3 is connected to the measuring device 1 via the measuring jig 2, and a test is performed under the control of the measuring device 1.
通常、種々の試験において測定装置１を制御するための
測定プログラムや周辺回路４等は次のような手順で作成
される。Usually, measurement programs, peripheral circuits 4, etc. for controlling the measurement device 1 in various tests are created in the following procedure.
ステップ１：半導体集積回路５の測定仕様書の作成
ステップ２：測定方法の検討
ステップ３：測定装置１の選択及び測定実行に必要な周
辺回路４の回路図作成
ステップ４：半導体集積回路５と周辺回路４の構成に応
じたプローブ等の測定治
具２の製作
ステップ５：選択した測定装置１専用の言語形式に即し
た測定プログラムの作成
ステップ６：半導体集積回路５１周辺回路４゜測定治具
２及び測定装置１を接続
して、測定装置１を測定プログラ
ムに従って動作させ、所望の測定
が実施できるかどうかの動作確認
作業（通常、これを「デバッグ」
と称する）の実施
ステップ７：上記周辺回路４．測定治具２と測定プログ
ラムを使用して得られた
測定データと基準データとの相関
確認
ステップ８：周辺回路４．測定治具２．測定プログラム
等の最終仕様書の作成
以上が基本的な測定プログラムの作成過程であり、通常
は上記ステップ１を半導体集積回路５の設計者が、また
、°上記ステップ２〜８をテスト技術者が担当する。Step 1: Creating a measurement specification for the semiconductor integrated circuit 5 Step 2: Considering the measurement method Step 3: Creating a circuit diagram of the peripheral circuit 4 necessary for selecting the measurement device 1 and performing the measurement Step 4: Semiconductor integrated circuit 5 and its surroundings Step 5: Creating a measuring jig 2 such as a probe according to the configuration of the circuit 4: Creating a measuring program according to the language format exclusively for the selected measuring device 1 Step 6: Semiconductor integrated circuit 51 peripheral circuit 4° measuring jig 2 Step 7: Connect the measurement device 1 and the measurement device 1, operate the measurement device 1 according to the measurement program, and check whether the desired measurement can be performed (this is usually referred to as “debugging”). Step 7: The above-mentioned peripheral circuit 4. Confirming the correlation between the measurement data obtained using the measurement jig 2 and the measurement program and the reference data Step 8: Peripheral circuit 4. Measuring jig 2. The process of creating the final specifications of the measurement program, etc. is the basic process of creating a measurement program.Normally, step 1 is performed by the designer of the semiconductor integrated circuit 5, and steps 2 to 8 are performed by the test engineer. Handle.
上記ステップ７において測定したデータとして、所望の
基準データに相当するものが得られた場合には、ここで
作成した周辺回路４．測定治具２゜測定プログラム等を
用いて、量産される半導体集積回路５の試験を行なうた
めに、上記ステップ８においてこれらの最終仕様書を作
成する。If the measured data in step 7 corresponds to the desired reference data, the peripheral circuit 4 created here. In order to test the mass-produced semiconductor integrated circuits 5 using the measurement jig 2° measurement program, etc., final specifications are created in step 8 above.
ところが、上記ステップ７において所望のデータが得ら
れないときには上記ステップ２〜７を繰り返し、測定装
置１の変更や、周辺回路４．測定治具２．測定プログラ
ムの再作成が必要となる。However, if the desired data cannot be obtained in step 7, steps 2 to 7 are repeated, and the measuring device 1 or peripheral circuit 4. Measuring jig 2. It is necessary to recreate the measurement program.
従来は、以上のように測定プログラムを作成していたが
、測定装置１はそれぞれ独自の言語形式によるテスタ言
語を使用しているので、異なる測定装置１毎に異なるハ
ードウェア、ソフトウェアを理解しているテスト技術者
が、設計仕様占に基づいて人手による測定プログラムの
作成・編集を行ない、さらに必要に応じてそのコンパイ
ル操作を行なっていた。Conventionally, measurement programs were created as described above, but since each measurement device 1 uses a tester language with its own language format, it is difficult to understand the different hardware and software for each measurement device 1. The test engineer at the company manually created and edited the measurement program based on the design specifications, and also compiled the program as necessary.
このように、測定プログラムの作成は全面的に人手に依
存していたので、作成時に単純な人的ミスが混在しやす
く、また測定プログラムの良否がテスト技術者の知識レ
ベルに依存するなどの問題があり、従って、開発期間、
開発コストの低減が困難であるという問題があった。In this way, the creation of measurement programs was completely dependent on humans, which caused problems such as simple human errors easily occurring during creation, and the quality of the measurement program depending on the knowledge level of the test engineer. Therefore, the development period,
There was a problem in that it was difficult to reduce development costs.
この発明は、上２のような課題を解消するためになされ
たもので、測定装置毎に言語形式が異なる測定プログラ
ムを容易に作成することのできる測定プログラム作成装
置を得ることを目的とする。This invention has been made to solve the above problem, and aims to provide a measurement program creation device that can easily create measurement programs in different language formats for each measurement device.
この発明に係る測定プログラム作成装置は、所定の規則
に基いて与えられる測定仕様を入力として測定装置の言
語形式に依存しない中間言語へと変換する中間言語変換
手段と、前記中間言語に変換された前記測定仕様に基づ
いてデータベースを作成・編集するデータベース編集手
段と、前記データベースを前記測定装置の言語形式に即
した測定プログラムに変換する測定プログラム変換手段
とを備えている。The measurement program creation device according to the present invention includes an intermediate language conversion means for inputting measurement specifications given based on a predetermined rule and converting the measurement specifications into an intermediate language that does not depend on the language format of the measurement device; The apparatus includes a database editing means for creating and editing a database based on the measurement specifications, and a measurement program conversion means for converting the database into a measurement program conforming to the language format of the measurement apparatus.
（作用）
この発明における測定プログラム作成装置は、測定装置
の言語形式に依存しない中間言語に基づいてデータベー
スを作成し、このデータベースから実際の測定に使用す
る測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変換す
る。(Operation) The measurement program creation device of the present invention creates a database based on an intermediate language that does not depend on the language format of the measurement device, and creates a measurement program conforming to the language format of the measurement device used for actual measurement from this database. Convert.
第１図はこの発明に係る測定プログラム作成装置の一実
施例を示すブロック図である。図において、測定プログ
ラム作成装置Ｐ゛は、制御１１１１１０゜データベース
２０を記憶する記憶手段Ｍ、大入力段３１．出力手段３
２及びインターフェース３３から構成されている。制御
部１０はたとえばマイクロコンピユータなどによって構
成され、機能的には、中間言語変換手段１１とデータベ
ース編集手段１２と測定プログラム変換手段１３とを含
んでいる。中間言語変換手段１１は、キーボードやグラ
フィック端末などの入力手段３１から所定の規則に基づ
いて入力される測定仕様を、各種の測定装置の言語形式
に依存しない拡張性に富んだ中間言語に変換する機能を
有する。データベース編集手段１２は、中間言語変換手
段１１により中間言語に変換された測定仕様からデータ
ベース２０を作成するとともに、必要に応じてデータベ
ース２０に格納された測定仕様入力出して訂正する機能
を有する。また、測定プログラム変換手段１３は、デー
タベース２０に格納された測定仕様を、実際の測定に用
いる測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変換
する機能を有する。出力手段３２は、プリンタ、７０ツ
ビディスク、磁気テープ等であって、測定プログラム変
換手段１３で所望の言語形式（テスタ言語）に変換され
た測定プログラムや、データベース２０に格納された中
間言語による測定仕様等を出力するための装置である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a measurement program creation device according to the present invention. In the figure, the measurement program creation device P' includes a control 111110, a storage means M for storing a database 20, a large input stage 31. Output means 3
2 and an interface 33. The control section 10 is constituted by, for example, a microcomputer, and functionally includes an intermediate language conversion means 11, a database editing means 12, and a measurement program conversion means 13. The intermediate language conversion means 11 converts measurement specifications inputted from an input means 31 such as a keyboard or a graphic terminal based on predetermined rules into an intermediate language that is highly expandable and does not depend on the language format of various measuring devices. Has a function. The database editing means 12 has a function of creating a database 20 from the measurement specifications converted into an intermediate language by the intermediate language conversion means 11, and inputting and correcting the measurement specifications stored in the database 20 as necessary. Furthermore, the measurement program conversion means 13 has a function of converting the measurement specifications stored in the database 20 into a measurement program conforming to the language format of the measurement device used for actual measurement. The output means 32 is a printer, a 70-tube disk, a magnetic tape, etc., and outputs the measurement program converted into a desired language format (tester language) by the measurement program conversion means 13 or the measurement specification in an intermediate language stored in the database 20. This is a device for outputting the following information.
また、インターフェース３３は、通信回線により測定装
置等にデータを直接伝送するためのものである。Further, the interface 33 is for directly transmitting data to a measuring device or the like via a communication line.
第２図はこの実施例による測定プログラム作成装置Ｐを
用いた測定プログラムの作成方法を示すフローチャート
である。FIG. 2 is a flowchart showing a method for creating a measurement program using the measurement program creation device P according to this embodiment.
まず、ステップＳ１において、入力手段３１を用いて測
定仕様を会話形式などにより入力する。First, in step S1, measurement specifications are input in a conversational manner using the input means 31.
この測定仕様はテスト仕様入力と周辺回路図入力に大別
される。このうち、テスト仕様入力は、テストすべき評
価項目、入力条件０ｍ定条件１判定条件等のデータであ
る。単純なオーディオ帯域増幅器を例にとれば、テスト
仕様入力はリークＩ流測定、端子電圧測定、電圧利得測
定等の評価項目の名称、入力すべき端子と印加電圧、印
加電流の値、測定すべき端子と測定量の範囲、並びに合
否判定の条件等のデータから構成される。これらのテス
ト仕様入力は、入力のしやすさを考慮して通常の技術用
語を用いた自然言語に近い一定の規則を有するテスト記
述言語で入力される。The measurement specifications are broadly divided into test specification input and peripheral circuit diagram input. Among these, the test specification input is data such as evaluation items to be tested, input conditions 0m constant conditions 1 judgment conditions, etc. Taking a simple audio band amplifier as an example, the test specification input includes the name of the evaluation item such as leak I current measurement, terminal voltage measurement, voltage gain measurement, the terminal to be input, applied voltage, applied current value, and the value to be measured. It consists of data such as the range of terminals and measured quantities, and conditions for pass/fail judgment. These test specification inputs are input in a test description language that uses normal technical terminology and has certain rules similar to natural language in consideration of ease of input.
一方、周辺回路図入力は、テストすべき評価項目を実際
に測定可能とするために必要な周辺回路４の回路図を作
成するため、周辺回路４の基本要素（電源、抵抗、増幅
器等）と、各基本要素の相互接続関係とをデータとして
与えるものであり、回路接続を表現するのに適した回路
接続言語で入力される。On the other hand, peripheral circuit diagram input is performed to create a circuit diagram of the peripheral circuit 4 necessary to actually measure the evaluation items to be tested. , the interconnection relationship of each basic element is given as data, and is input in a circuit connection language suitable for expressing circuit connections.
これらの測定仕様入力のうち、測定プログラムに変換さ
れるのは主にテスト仕様入力であり、周辺回路図入力は
後述するように測定条件と密接な関係を有するので、テ
スト仕様入力とともにデータベース２０を形成するため
のものである。Among these measurement specification inputs, it is mainly the test specification input that is converted into the measurement program, and the peripheral circuit diagram input has a close relationship with the measurement conditions as described later, so the database 20 is used together with the test specification input. It is for forming.
次に、ステップＳ２ではテスト記述言語で与えられたテ
スト仕様入力を中間言語変換手段１１により中間言語に
変換する。この中間言語は、測定装置１の言語形式（テ
スタ言語）によらないが、テスト技術者が読解可能な程
度に標準化された拡張性に富む中間言語であり、測定装
置１の言語形式に即した測定プログラム（テスタ言語）
に変換しやすい形式を有している。このような中間言語
で記述されたテスト仕様入力からデータベース２０を作
成することにより、テストに使用する測定装置１を変更
した場合にもその測定装置１に応じた測定プログラムが
直ちに作成できる。また、測定プログラム作成の途中段
階において測定仕様の修正・変更があった場合にもテス
ト技術者が中間言語によるデータベースを直接修正でき
る。Next, in step S2, the test specification input given in the test description language is converted into an intermediate language by the intermediate language conversion means 11. This intermediate language is not based on the language format of the measurement device 1 (tester language), but is a highly extensible intermediate language that is standardized to the extent that it can be read by test engineers, and is compatible with the language format of the measurement device 1. Measurement program (tester language)
It has a format that is easy to convert. By creating the database 20 from test specification input written in such an intermediate language, even if the measuring device 1 used for the test is changed, a measuring program suitable for the measuring device 1 can be immediately created. Furthermore, even if measurement specifications are modified or changed during the creation of a measurement program, test engineers can directly modify the intermediate language database.
ステップＳ３では中間言語に変換されたテスト仕様入力
と周辺回路入力とからデータベース編集手段１２により
データベース２０を作成する。このデータベース２０に
基づいて、測定仕様書、製品検査規格をまとめたテスト
規格衣および周辺回路図が必要に応じて出力される（ス
テップ９３１〜５３３）。In step S3, a database 20 is created by the database editing means 12 from the test specification input converted into the intermediate language and the peripheral circuit input. Based on this database 20, measurement specifications, test standards that summarize product inspection standards, and peripheral circuit diagrams are output as necessary (steps 931 to 533).
次に、ステップＳ４でデータベース２０に基づいて中間
言語から測定プログラムへの変換を行なう。この変換に
先立って、測定に使用する測定装置１を選択するととも
に、測定に使用する周辺回路図を作成する（ステップ５
３３）。周辺回路図を作成するのは、同一の測定装置１
を使用して同一の被測定物（半導体集積回路５等）を測
定しても、周辺回路４が異なれば測定プログラムが異な
る場合があるからである。この例として、前記オーディ
オ帯域増幅器（以下単に「増幅器」という）の入力条件
を設定する場合の例を第３図に示す。Next, in step S4, the intermediate language is converted into a measurement program based on the database 20. Prior to this conversion, the measuring device 1 to be used for measurement is selected and a peripheral circuit diagram to be used for measurement is created (step 5).
33). The peripheral circuit diagram is created using the same measuring device 1.
This is because even if the same device under test (semiconductor integrated circuit 5, etc.) is measured using the same device, the measurement program may be different if the peripheral circuit 4 is different. As an example of this, FIG. 3 shows an example of setting input conditions for the audio band amplifier (hereinafter simply referred to as "amplifier").
図において、増幅器４１の入力端子４１ａに１ｍＶの電
圧を入力し、出力端子４４の出力電圧を測定して電圧利
得を測定するテストを行なうものとする。第３図（ａ）
では周辺回路として、外部入力端子４２と増幅器４１の
入力端子４１ａとの間に介挿した９にΩの抵抗４３を設
けるとともに、増幅器４１の入力端子４１ａを１ＫＯの
抵抗を介して接地レベルＧＮＤと接続している。一方、
第３図（ｂ）では、周辺回路として外部入力端子４２と
増幅器４１の入力端子４１ａとの間に９にΩの抵抗４３
を介挿させただけのものである。第３図（ａ）の回路に
おいて増幅器４１の入力端子４１ａに１ｍＶの電圧を入
力するとすれば、入力端子４２には１０ｍＶを印加する
必要がある。このときの測定プログラム文は、例えば次
のようになる。In the figure, it is assumed that a test is performed in which a voltage of 1 mV is input to the input terminal 41a of the amplifier 41, and the output voltage of the output terminal 44 is measured to measure the voltage gain. Figure 3(a)
Now, as a peripheral circuit, a resistor 43 of Ω is provided at 9 inserted between the external input terminal 42 and the input terminal 41a of the amplifier 41, and the input terminal 41a of the amplifier 41 is connected to the ground level GND via a 1KO resistor. Connected. on the other hand,
In FIG. 3(b), a resistor 43 of 9Ω is connected between the external input terminal 42 and the input terminal 41a of the amplifier 41 as a peripheral circuit.
It is just a matter of intervening. If a voltage of 1 mV is input to the input terminal 41a of the amplifier 41 in the circuit of FIG. 3(a), it is necessary to apply 10 mV to the input terminal 42. The measurement program statement at this time is, for example, as follows.
ＳＥＴ ＡＵＤＩＯＡＭＰＬＩＴＵＤＥ ＝ １０
Ｍ Ｖ ・（ａ）一方、第３図（ｂ）の回路において
、増幅器４１に１ｍＶを入力するとすれば、入力端子４
２には１ｍｖ印加すれば良い。このときの測定プログラ
ム文は、例えば次のようになる。SET AUDIO AMP LITUDE = 10
M V ・(a) On the other hand, in the circuit of FIG. 3(b), if 1 mV is input to the amplifier 41, the input terminal 4
1 mV may be applied to voltage 2. The measurement program statement at this time is, for example, as follows.
ＳＥＴ ＡＵＤＩＯＡＭＰＬＩＴＵＤＥ ＝
Ｉ Ｍ Ｖ −（ｂ）測定プログラムの変
換においては、このような周辺回路図に基づいて外部入
力端子４２と被測定物（第３図の例では増幅器４１）の
入力端子４１ａとの信号の関係を自動的に求め、前述の
測定プログラム文（ａ）又は（ｂ）に変換する。このよ
うに周辺回路図とテスト仕様を同一のデータベース２０
に格納しているので、測定方法と周辺回路とを常に整合
性のとれたものとすることができる。SET AUDIO AMPLITUDE =
In converting the IMV-(b) measurement program, the signal relationship between the external input terminal 42 and the input terminal 41a of the device under test (amplifier 41 in the example of FIG. 3) is determined based on such a peripheral circuit diagram. is automatically determined and converted into the aforementioned measurement program statement (a) or (b). In this way, peripheral circuit diagrams and test specifications can be stored in the same database 20.
Therefore, the measurement method and the peripheral circuit can always be consistent.
ステップＳ４においてはデータベース２０のテスト仕様
から測定プログラムを自動変換するが、自動変換できな
いデータベース２０上の記述に対しては、変換できない
旨の警告を出力する。In step S4, the measurement program is automatically converted from the test specifications in the database 20, but for descriptions on the database 20 that cannot be automatically converted, a warning is output to the effect that the conversion is not possible.
次に、ステップＳ５では、変換された測定プログラムに
ついて、ステップＳ４で出力された警告に基づく修正・
編集を行なう。Next, in step S5, the converted measurement program is modified based on the warning output in step S4.
Edit.
変換・編集が終了した測定プログラムは、ステップＳ６
において、測定装置１にローディングするために出力手
段３２又はインターフェース３３に出力される。The measurement program that has been converted and edited is processed in step S6.
At this point, it is outputted to the output means 32 or the interface 33 for loading into the measuring device 1.
ステップＳ７においては、第４図に示すように、測定装
置１．測定治具２．および周辺回路４と半導体集積回路
５とから構成される被測定回路３を実際に接続し、測定
装置ｉ１１に測定プログラムをローディングしてその動
作を確認する作業（いわゆる「デバッグ」）を実施する
。この場合において、測定されたデータとして所望の基
準データに相当するも“のが得られない場合には、測定
プログラムの修正・変更や、場合によっては周辺回路４
．測定治具２の修正・変更、さらには測定装置１の変更
が行なわれる。このような修正・変更があった場合には
、ステップＳ８からステップＳ９に至り、データベース
２０を修正して、再びステップＳ３に戻って、以上のス
テップ８３〜Ｓ８を繰り返す。In step S7, as shown in FIG. Measuring jig 2. Then, the circuit under test 3 made up of the peripheral circuit 4 and the semiconductor integrated circuit 5 is actually connected, and the measurement program is loaded into the measurement device i11 to confirm its operation (so-called "debugging"). In this case, if measured data that corresponds to the desired reference data cannot be obtained, the measurement program may need to be corrected or changed, or if the peripheral circuit
．． The measuring jig 2 is modified or changed, and the measuring device 1 is also changed. If there is such a correction or change, the process proceeds from step S8 to step S9, the database 20 is corrected, and the process returns to step S3 again to repeat steps 83 to S8.
このように、測定プログラム作成の各ステップ８１〜Ｓ
８において、テスト技術者は常に中間言語で記述された
データベース２０を修正・変更するので、各ステップに
おける修正・変更が常に整合性のとれたものとなる。従
って、使用すべき測定装置１を変更する必要が生じた場
合にも、その測定装置１の言語形式に即した測定プログ
ラムを容易に作成できる。In this way, each step 81 to S of creating a measurement program
In step 8, the test engineer always modifies and changes the database 20 written in the intermediate language, so that the modifications and changes in each step are always consistent. Therefore, even if it becomes necessary to change the measuring device 1 to be used, a measuring program that conforms to the language format of the measuring device 1 can be easily created.
また、このようにして最終的に測定プログラムが完成し
た後に最終的な測定仕様書、テスト規格衣１周辺回路図
等を出力すれば各々の整合性もとれているので、テスト
品質の向上を図ることができる。In addition, after the measurement program is finally completed in this way, if the final measurement specifications, test standard 1 peripheral circuit diagram, etc. are output, the consistency of each is ensured, improving test quality. be able to.
なお、完成した測定プログラム、周辺回路３゜測定治具
２等を用いて半導体集積回路５の量産品に対してテスト
を実行することになるが、初期のテスト実行時にこれら
の修正・変更が必要になった場合でも、上述と同様にデ
ータベース２０を修正することにより簡単に整合性のと
れた修正が可能であり、測定プログラムも容易に作成で
きる。Note that tests will be performed on mass-produced semiconductor integrated circuits 5 using the completed measurement program, peripheral circuit 3° measurement jig 2, etc., but these corrections and changes are required during initial test execution. Even if this happens, it is possible to easily and consistently modify the database 20 in the same manner as described above, and the measurement program can also be easily created.
また、上記実施例では、ステップＳ４において、入力さ
れた周辺回路図に応じて測定プログラムを自動的に変換
するものとしたが、周辺回路図と測定プログラムをテス
ト技術者が参照し、整合性の無い場合には、データベー
ス２０に格納されている周辺回路図かテスト仕様の一方
を修正するようにしてもよい。Further, in the above embodiment, the measurement program is automatically converted in step S4 according to the input peripheral circuit diagram, but the test engineer refers to the peripheral circuit diagram and the measurement program to check the consistency. If it does not exist, either the peripheral circuit diagram or the test specification stored in the database 20 may be modified.
以上のように、この発明によれば、測定装置の言語形式
に依存しない拡張性に富んだ中間言語に基づいてデータ
ベースを作成し、このデータベースから実際の測定に使
用する測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変
換するので、測定装置毎に言語形式が異なる測定プログ
ラムを容易に作成することができる効果がある。As described above, according to the present invention, a database is created based on a highly extensible intermediate language that does not depend on the language format of the measuring device, and from this database, the database is immediately adapted to the language format of the measuring device used for actual measurement. Since the measurement program is converted into a measurement program written in the above language, it is possible to easily create a measurement program with a different language format for each measurement device.
第１図はこの発明に係る一実施例を示すブロック図、第
２図はこの発明の一実施例を用いた測定プログラムの作
成方法を示すフローチャート、第３図は被測定物として
の増幅器と周辺回路を示す回路図、第４図は試験装置の
構成を示すブロック図である。
図において、１１は中間言語変換手段、１２はデータベ
ース編集手段、１３は測定プログラム変換手段、２０は
データベースである。
なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。Fig. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a flowchart showing a method of creating a measurement program using an embodiment of the invention, and Fig. 3 shows an amplifier as an object to be measured and its surroundings. A circuit diagram showing the circuit, and FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the test device. In the figure, 11 is intermediate language conversion means, 12 is database editing means, 13 is measurement program conversion means, and 20 is a database. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.
Claims (1)
グラムを自動的に作成する測定プログラム作成装置であ
つて、 （ａ）所定の規則に基いて与えられる測定仕様を入力と
して、前記測定装置の言語形式に依存しない中間言語へ
と変換する中間言語変換手段と、 （ｂ）前記中間言語に変換された前記測定仕様に基づい
てデータベースを作成・編集するデータベース編集手段
と、 （ｃ）前記データベースを、前記測定装置の言語形式に
即した測定プログラムに変換する測定プログラム変換手
段とを備えたことを特徴とする測定プログラム作成装置
。(1) A measurement program creation device that automatically creates a measurement program for operating an electronic circuit measurement device, which (a) uses measurement specifications given based on predetermined rules as input, and intermediate language conversion means for converting into an intermediate language independent of language format; (b) database editing means for creating and editing a database based on the measurement specifications converted into the intermediate language; and (c) database editing means for converting the database into an intermediate language. A measurement program creation device comprising: a measurement program conversion means for converting the measurement program into a measurement program conforming to the language format of the measurement device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63020722A JPH01195381A (en) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | Measuring program generating device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63020722A JPH01195381A (en) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | Measuring program generating device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01195381A true JPH01195381A (en) | 1989-08-07 |
Family
ID=12035062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63020722A Pending JPH01195381A (en) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | Measuring program generating device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01195381A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03262005A (en) * | 1990-03-13 | 1991-11-21 | Fuji Electric Co Ltd | Program transfer device |
| JPH0572278A (en) * | 1991-09-12 | 1993-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic programing apparatus for test timing |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5734249A (en) * | 1980-08-04 | 1982-02-24 | Fujitsu Ltd | Program alteration controlling system in program processing device |
| JPS6076100A (en) * | 1983-09-28 | 1985-04-30 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | Memory array tester system |
-
1988
- 1988-01-29 JP JP63020722A patent/JPH01195381A/en active Pending
Patent Citations (2)
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| JPS5734249A (en) * | 1980-08-04 | 1982-02-24 | Fujitsu Ltd | Program alteration controlling system in program processing device |
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