JPH0119107Y2 - - Google Patents
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- JPH0119107Y2 JPH0119107Y2 JP20027582U JP20027582U JPH0119107Y2 JP H0119107 Y2 JPH0119107 Y2 JP H0119107Y2 JP 20027582 U JP20027582 U JP 20027582U JP 20027582 U JP20027582 U JP 20027582U JP H0119107 Y2 JPH0119107 Y2 JP H0119107Y2
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 22
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は多点電流計測装置のキヤリブレーシヨ
ンを行なう回路に関する。更に詳述すると、多チ
ヤンネルの信号電流をそれぞれ各コンデンサへ充
電することにより電圧へ変換し、これを択一的に
切換えて電圧測定することにより、各チヤンネル
の信号電流を求めるようにした多点電流計測装置
が従来から知られているが、本考案は、このよう
な多点電流計測装置をキヤリブレーシヨンする回
路に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a circuit for calibrating a multi-point current measuring device. More specifically, the multi-channel signal current is converted to voltage by charging each capacitor, and the signal current of each channel is determined by selectively switching the voltage and measuring the voltage. Current measuring devices have been known for a long time, and the present invention relates to a circuit for calibrating such a multi-point current measuring device.
上述のような多点電流計測装置は、各種の装置
や設備に組み込まれているが、ここでは、Ｘ線
CT装置に組み込まれた場合を例にあげて、以下
の説明を行なう。 The multipoint current measurement device described above is incorporated into various devices and equipment, but here,
The following explanation will be given by taking as an example the case where it is incorporated into a CT device.
Ｘ線CT装置（Computerized Tomography）
においては、患者にパルス状のＸ線を照射しその
透過Ｘ線を多数の電離箱からなるＸ線検出器で検
知し、その信号に基づき患者を輪切りにしたよう
な断層画像を得るように構成している。この場
合、多チヤンネルの電離箱からの各出力信号電流
を計測するために多点電流計測装置が用いられて
いる。 X-ray CT device (Computerized Tomography)
The system is configured to irradiate a patient with pulsed X-rays, detect the transmitted X-rays with an X-ray detector consisting of a number of ionization chambers, and obtain tomographic images that look like slices of the patient based on the signals. are doing. In this case, a multi-point current measuring device is used to measure each output signal current from the multi-channel ionization chamber.
以上のようなＸ線CT装置においては、分解能
の良好な断層画像を得るために電離箱を非常に高
密度に配列したＸ線検出器を用いている。従つ
て、このＸ線検出器から得られる透過Ｘ線パルス
に対応した信号電流（パルス状の電流）は、多チ
ヤンネルなものであり、具体例で述べると約500
チヤンネルに及ぶようなものである。 The X-ray CT apparatus described above uses an X-ray detector in which ionization chambers are arranged at a very high density in order to obtain tomographic images with good resolution. Therefore, the signal current (pulse-like current) corresponding to the transmitted X-ray pulse obtained from this X-ray detector is multi-channel, and to give a specific example, it is about 500
It's like a channel.
このような多数の入力チヤンネルからなる多点
電流計測装置の動作が正確か否かを判別するため
には、キヤリブレーシヨンを行なう検査回路が必
要である。しかし、500チヤンネルのそれぞれへ
模擬入力を印加しようとすると、通常の手段で
は、入力チヤンネル数と等しい数のスイツチを用
意しなければならず、しかも適宜入力を選択して
キヤリブレーシヨンを行なうことは多大な労力を
必要とする。また、模擬入力を各入力チヤンネル
へ印加するためのスイツチをオフにした時には、
スパイク電荷量（スイツチ素子部に存在する容量
等に基づく）が生じ、この電気量が入力チヤンネ
ルに残留するので従来手段では、精密なキヤリブ
レーシヨンを行なうことは困難であつた。 In order to determine whether or not the operation of a multi-point current measuring device including such a large number of input channels is accurate, a test circuit that performs calibration is required. However, if you try to apply a simulated input to each of the 500 channels, using normal means you would have to prepare a number of switches equal to the number of input channels, and it would be impossible to select the inputs appropriately and perform calibration. It requires a lot of effort. Also, when the switch for applying simulated input to each input channel is turned off,
Since a spike charge (based on the capacitance existing in the switch element, etc.) is generated and this charge remains in the input channel, it has been difficult to perform accurate calibration using conventional means.
本考案は以上のような点に鑑みてなされたもの
であり、１個のスイツチとキヤリブレーシヨン電
源とを多点電流計測装置へ接続するだけで、上述
の問題点を解決するようにしたものである。 The present invention was created in view of the above points, and is designed to solve the above problems by simply connecting one switch and a calibration power source to a multipoint current measuring device. It is.
以下図面を用いて本考案を詳細に説明する。 The present invention will be explained in detail below using the drawings.
第１図はキヤリブレーシヨンが行なわれる多点
電流計測装置の要部と、これに接続した本考案に
係る検査回路の１例を描いた図である。第２図は
第１図装置の各スイツチの動作を示すタイムチヤ
ートである。 FIG. 1 is a diagram depicting the main parts of a multipoint current measuring device in which calibration is performed, and an example of an inspection circuit according to the present invention connected thereto. FIG. 2 is a time chart showing the operation of each switch in the device shown in FIG.
第１図において、１，〜ｎは入力点を表わし、
多点電流計測装置としては、この入力点１，〜ｎ
の各チヤンネルへ前述したような信号電流が加え
られる。しかし、ここでは、多点電流計測装置を
キヤリブレーシヨンする場合を説明するための図
であるから、第１図では、入力点１，〜ｎは開放
の状態であり、入力信号は加えられていない。
C1，〜Coは各入力チヤンネルと回路アース間に
接続されたコンデンサである。前述したように、
このコンデンサC1，〜Coへ各信号電流を充電さ
せて、電圧に変換している。S1，〜Soはサンプリ
ングスイツチである。このサンプリングスイツチ
S1，〜Soは外部からの制御信号により、S1，〜So
のうち任意のスイツチがオン・オフに駆動され
る。従つて、任意のｉチヤンネルが選択されると
スイツチSiを介してコンデンサCiの電圧が、後述
する増幅器Ｕへ導入される。もちろん、このコン
デンサCiの電圧値は、チヤンネルｉに入力した信
号電流の大きさに比例している。Srはリセツト
スイツチであり、計測の終了した各コンデンサ
C1，〜Coに蓄積されている電荷を放電させるも
のである。また、各コンデンサC1，〜Coには漏
れ電流が流れ込むが、この漏れ電流による電荷も
一定の周期で放電させる機能をも有している。Ｕ
は増幅器であり抵抗R1とR2により増幅度が定め
られる。この増幅器Ｕから先の構成は省略した
が、通常、増幅器Ｕの出力信号は、アナログ−デ
ジタル変換器によりデジタル信号へ変換され、そ
の後、メモリに格納される。 In FIG. 1, 1, to n represent input points,
As a multi-point current measuring device, these input points 1, ~n
A signal current as described above is applied to each channel. However, since this is a diagram for explaining the case of calibrating a multi-point current measuring device, in Figure 1, input points 1 to n are in an open state and no input signal is applied. do not have.
C 1 , ~C o are capacitors connected between each input channel and circuit ground. As previously mentioned,
These capacitors C 1 , ~C o are charged with each signal current and converted into voltage. S 1 , ~S o are sampling switches. This sampling switch
S 1 , ~S o is controlled by an external control signal .
Any switch among them is turned on and off. Therefore, when any i channel is selected, the voltage of the capacitor Ci is introduced to the amplifier U, which will be described later, via the switch Si. Of course, the voltage value of this capacitor Ci is proportional to the magnitude of the signal current input to channel i. Sr is a reset switch, and each capacitor after measurement is
This is to discharge the charges accumulated in C 1 and ~C o . In addition, leakage current flows into each of the capacitors C 1 , to Co , and the capacitors also have a function of discharging the charge caused by this leakage current at regular intervals. U
is an amplifier, and the amplification degree is determined by resistors R 1 and R 2 . Although the configuration beyond this amplifier U has been omitted, the output signal of the amplifier U is normally converted into a digital signal by an analog-to-digital converter, and then stored in a memory.
Vcは本考案により設けたキヤリブレーシヨン
電源、Scも本考案により設けたキヤリブレーシ
ヨンスイツチである。このキヤリブレーシヨン電
源Vcは、１端が回路アースに接続され、他端は
キヤリブレーシヨンスイツチScを介して増幅器
Ｕの入力段に接続される。 Vc is a calibration power supply provided according to the present invention, and Sc is also a calibration switch provided according to the present invention. One end of this calibration power supply Vc is connected to circuit ground, and the other end is connected to the input stage of the amplifier U via a calibration switch Sc.
以上のように構成接続された第１図装置の動作
を第２図を参照しながら説明する。なお、第２図
において、各スイツチの動作波形が“ハイ”レベ
ルの区間は、スイツチがオン（閉）であり、“ロ
ー”レベルの区間は、スイツチがオフ（開）とな
つているものとする。 The operation of the apparatus shown in FIG. 1 configured and connected as described above will be explained with reference to FIG. In Figure 2, when the operating waveform of each switch is at a "high" level, the switch is on (closed), and when the operating waveform is at a "low" level, the switch is off (open). do.
まず始めに第２図のイの区間においては、キヤ
リブレーシヨンスイツチScがオンとなつており、
各サンプリングスイツチS1，〜Soが順にオン動作
をして、キヤリブレーシヨン電圧Vcが各コンデ
ンサC1，〜Coに蓄電ホールドされる。もちろん、
各サンプリングスイツチS1，〜Soは、第２図に示
す如く、キヤリブレーシヨン電圧Vcを読み込ん
だ後は、オフに復帰している。 First of all, in section A in Figure 2, the calibration switch Sc is on.
Each sampling switch S 1 , ~S o is turned on in turn, and the calibration voltage Vc is stored and held in each capacitor C 1 , ~C o . of course,
As shown in FIG. 2, each sampling switch S 1 , -S o is turned off after reading the calibration voltage Vc.
次に第２図のロの区間においては、各コンデン
サC1，〜Coへ漏れ電流（図示せず）が流入して
いる。すなわち、各コンデンサC1，〜Coの両電
極間には、プリント板等を介して漏れ電流が必ず
流入出している。第１図の多点電流計測装置にお
いては、この僅かに生じる漏れ電流の影響をも除
去しようとする精密電流計測回路である。そし
て、Ｘ線CT装置に組み込んだ本来の使用状態で
は、第２図に点線で示したように、このロの区間
において、Ｘ線検出器に入射したＸ線パルスの強
さに応じた信号電流がコンデンサC1，〜Coへ流
入するわけである。しかし、ここでは、多点電流
計測装置をキヤリブレーシヨンしている場合であ
るため、このロの区間においては、漏れ電流のみ
が各コンデンサC1，〜Coへ流入している。 Next, in the section (b) of FIG. 2, leakage current (not shown) flows into each of the capacitors C 1 , -C o . That is, leakage current always flows in and out between the two electrodes of each capacitor C 1 to Co through the printed board or the like. The multi-point current measuring device shown in FIG. 1 is a precision current measuring circuit that attempts to eliminate even the influence of this slight leakage current. When the X-ray CT device is installed in its original operating condition, as shown by the dotted line in Figure 2, in this section B, a signal current is generated according to the intensity of the X-ray pulse incident on the X-ray detector. flows into the capacitors C 1 and ~C o . However, since this is a case where the multi-point current measuring device is being calibrated, only the leakage current flows into each of the capacitors C 1 to Co in this section B.
次に第２図のハの区間においては、コンデンサ
C1，〜Coの電圧をサンプリングスイツチS1，〜
Soを介して増幅器Ｕへ次々と導入し、チヤンネル
１〜ｎまでの信号電流（ここでは、キヤリブレー
シヨン電圧）を計測する。もつとも、このハの区
間で計測したデータは、キヤリブレーシヨン電圧
と漏れ電流に基づく誤差分とを重畳したデータで
ある。そして、前述したように、この増幅器Ｕの
出力信号はデジタル信号に変換され、メモリに格
納される。 Next, in section C in Figure 2, the capacitor
Sampling switch S 1 , ~ the voltage of C 1 , ~C o
The signal currents (here, calibration voltages) of channels 1 to n are successively introduced into the amplifier U via S o and measured. However, the data measured in this section C is data in which the calibration voltage and the error based on the leakage current are superimposed. Then, as described above, the output signal of this amplifier U is converted into a digital signal and stored in the memory.
次に第２図のニの区間においては、リセツトス
イツチSrがオンとなり、更にサンプリングスイ
ツチS1，〜So順々にオンとなつて、各コンデンサ
C1，〜Coに充電されていた電荷は次々と放電さ
れる。このニの期間に要する時間はイと同じであ
る。もつとも、このニとイにおいては、各サンプ
リングスイツチS1，〜Soを皆同時にオン・オフし
てもよい。 Next, in the section 2 in Fig. 2, the reset switch Sr is turned on, and the sampling switches S 1 , ~S o are turned on in sequence, and each capacitor is turned on.
The charges stored in C 1 and ~C o are discharged one after another. The time required for this period (d) is the same as period (a). However, in cases 2 and 2, the sampling switches S 1 , . . . , S o may all be turned on and off at the same time.
次に第２図のホの区間においては、上述のロの
区間と同様であるが、このホの区間は、本来の使
用状態では、ロの区間と異なり信号電流は流入し
ない。すなわち、このホの区間では漏れ電流のみ
を計測している。この場合、ロとホの区間におい
て各コンデンサC1，〜Coに流入する漏れ電流の
積算値は等しくなつている。 Next, the section E in FIG. 2 is similar to the section B described above, but unlike the section B, no signal current flows into the section E under the original usage condition. That is, in this section E, only the leakage current is measured. In this case, the integrated values of the leakage currents flowing into each of the capacitors C 1 and C o in the sections B and E are equal.
次に第２図のヘの区間においては、上述のハの
区間と同様であり、チヤンネル１〜ｎの漏れ電流
（オフセツト）の計測を行なつている。 Next, in section F in FIG. 2, it is similar to section C above, and leakage currents (offsets) of channels 1 to n are measured.
そして、前記ハで得られたデータから、このヘ
で得られたオフセツト値のデータを減算すれば、
キヤリブレーシヨン電圧に対応するデータが得ら
れることになる。従つて、このデータから多点電
流計測装置が、正確に動作しているか否かを判断
することができる。 Then, by subtracting the offset value data obtained in step F from the data obtained in step C, we get
Data corresponding to the calibration voltage will be obtained. Therefore, it can be determined from this data whether the multipoint current measuring device is operating accurately.
以上のように本考案によれば、キヤリブレーシ
ヨン電源とキヤリブレーシヨンスイツチを接続す
るだけで、多点電流計測装置の検査を簡単に行な
うことができる。 As described above, according to the present invention, a multi-point current measuring device can be easily tested by simply connecting a calibration power source and a calibration switch.
また、本考案の回路によればスイツチのOFF
によるスパイク電荷量の影響を除去することがで
きる。その理由は、次の通りである。模擬入力の
充電はサンプリングスイツチを介して行なわれ
る。このため、充電後サンプリングスイツチを
OFFにした影響はコンデンサC1，〜Coに与えら
れるが、読み出し時にサンプリングスイツチがオ
ンとなつた時に、逆極性の影響が生じ、オフ時の
影響をキヤンセルする方向に働く。このため、サ
ンプリングスイツチのオン・オフの影響は取り除
かれる。 Also, according to the circuit of the present invention, the switch can be turned OFF.
It is possible to eliminate the influence of spike charge amount caused by The reason is as follows. Charging of the simulated input is done via the sampling switch. For this reason, the sampling switch must be turned off after charging.
The effect of turning off is given to the capacitors C 1 and ~C o , but when the sampling switch is turned on during reading, an effect of the opposite polarity occurs, working to cancel the effect of turning off. Therefore, the influence of on/off of the sampling switch is removed.
第１図はキヤリブレーシヨンが行なわれる多点
電流計測装置の要部と、これに接続したた本考案
に係る検査回路の一例を描いた図、第２図は第１
図装置の各スイツチの動作を示すタイムチヤート
である。
１，…ｎ……入力点、C1，…Co……コンデン
サ、S1，…So……サンプリングスイツチ、Sr…
…リセツトスイツチ、Sc……キヤリブレーシヨ
ンスイツチ、Vc……キヤリブレーシヨン電源、
Ｕ……増幅器、R1，R2……抵抗。
Figure 1 is a diagram depicting the main parts of a multi-point current measuring device that performs calibration and an example of a test circuit according to the present invention connected to this.
3 is a time chart showing the operation of each switch in the device shown in FIG. 1,...n...Input point, C1 ,...C o ...Capacitor, S1 ,...S o ...Sampling switch, Sr...
... Reset switch, Sc... Calibration switch, Vc... Calibration power supply,
U...Amplifier, R1 , R2 ...Resistance.
Claims (1)
られ、信号電流を電圧に変換する複数個のコンデ
ンサと、 前記各コンデンサと後述する増幅器の入力端子
の間にそれぞれ接続され、択一的にオン動作でき
るサンプリングスイツチと、 このサンプリングスイツチを介して導入した前
記各コンデンサの電圧を増幅する増幅器と、 を備えた多点電流計測装置のキヤリブレーシヨン
を行なう回路において、 前記増幅器の入力端子に一端が接続され、他端
が後述するキヤリブレーシヨン電源に接続された
１個のキヤリブレーシヨンスイツチと、 前記キヤリブレーシヨンスイツチの他端と共通
電位の間に設けられた１個のキヤリブレーシヨン
電源と、 を備えた多点電流計測装置の検査回路。[Claims for Utility Model Registration] A plurality of capacitors that are provided between the input terminal of each channel and a common potential and convert signal current into voltage, and each of the capacitors is connected between each of the capacitors and the input terminal of an amplifier to be described later. A circuit for calibrating a multi-point current measuring device, comprising: a sampling switch which can be selectively turned on; and an amplifier which amplifies the voltage of each of the capacitors introduced via the sampling switch; one calibration switch, one end of which is connected to the input terminal of the amplifier and the other end connected to a calibration power supply, which will be described later; and one calibration switch that is connected between the other end of the calibration switch and a common potential. A test circuit for a multi-point current measuring device, equipped with a calibration power supply and a.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20027582U JPS59104084U (en) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Test circuit for multi-point current measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20027582U JPS59104084U (en) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Test circuit for multi-point current measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59104084U JPS59104084U (en) | 1984-07-13 |
| JPH0119107Y2 true JPH0119107Y2 (en) | 1989-06-02 |
Family
ID=30425809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20027582U Granted JPS59104084U (en) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Test circuit for multi-point current measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59104084U (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994005044A1 (en) * | 1992-08-21 | 1994-03-03 | Nippondenso Co., Ltd. | Optical sensor and method of its manufacture |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4588675B2 (en) * | 2005-08-09 | 2010-12-01 | プライムアースＥｖエナジー株式会社 | Voltage detection device and electric vehicle |
| JP5612782B1 (en) * | 2013-07-29 | 2014-10-22 | 株式会社ユビテック | Magnetic detection device, magnetic sensor, and bill discrimination device |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP20027582U patent/JPS59104084U/en active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994005044A1 (en) * | 1992-08-21 | 1994-03-03 | Nippondenso Co., Ltd. | Optical sensor and method of its manufacture |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59104084U (en) | 1984-07-13 |
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