JPH01184441A - 粒子計数器 - Google Patents

粒子計数器

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JPH01184441A
JPH01184441A JP63009071A JP907188A JPH01184441A JP H01184441 A JPH01184441 A JP H01184441A JP 63009071 A JP63009071 A JP 63009071A JP 907188 A JP907188 A JP 907188A JP H01184441 A JPH01184441 A JP H01184441A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
tubular body
particle counter
fluid
impurity particles
Prior art date
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Pending
Application number
JP63009071A
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English (en)
Inventor
Shinichi Wakana
伸一 若菜
Mikio Suetake
末武 幹雄
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 流体中に浮遊する不純物粒子を計数する粒子計数器に関
し、 粒子検出精度と生産性の向上を目的とし、流体に収束光
を照射し該流体中を浮遊する不純物粒子からの反射散乱
光を計測して上記流体中の不純物粒子を計数する粒子計
数器において、流体排管の一部を透明な管状体で構成し
、該管状体の中心軸近傍を照射する少なくとも1個の投
光系と、該投光系からの直進光を受けない位置で該投光
系の上記管状体内の照射領域に焦点を持つコリメータレ
ンズと該コリメータレンズからの光を受ける計数ディテ
クタおよび該計数ディテクタからの信号で動作する表示
器からなる少なくとも1個の受光系を、上記管状体の外
側に配置して構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は気体、液体等の流体中に浮遊する不純物粒子を
計数する測定装置に係り、特に粒子検出精度の向上と生
産性の向上を図った粒子計数器に関する。
〔従来の技術〕
第2図は従来の吸引型粒子計数器の例を示した図である
。なお本図では気体中の不純物粒子を計数する場合を例
示している。
図で、(A)は真空室の構成例を示しくB)は吸引型粒
子計数器の概略を説明する図である。
図(A)で、lは真空室を示し2は吸引パイプ2aを備
えた従来の吸引型粒子計数器である。
すなわち従来は、吸引型粒子計数器2を真空室1内の一
隅に設置し、吸引パイプ2aによって作業場所近傍の気
体を該粒子計数器2内に吸引させる。
そこで該吸引型粒子計数器2に備えられた計数ディテク
タが該気体単位体積当たりの不純物粒子の浮遊数(以下
密度数とする)とその大きさを計数し表示部2fに表示
するので、該表示部2fの対応位置に設けた真空室1の
観測窓1aを通して該真空室外部から観測する構成にな
っている。
図(B)は上記吸引型粒子計数器の概略を示すための拡
大図である。
図で点線で示した吸引型粒子計数器2は、吸引パイプ2
aと光源2b、集光レンズ2C,コリメータレン°ズ2
d、計数ディテクタ2eおよび表示部2fよりなってい
る。なお2gは吸引された気体の排出口である。
作用的には、吸引パイプ2aから図示A方向に吸引され
る真空室内の気体は、P点近傍で0.1mm程度の径に
収束するように構成されている。
一方、光源2bから発し集光レンズ2Cによって上記P
点近傍に焦点を結ぶ図7EB方向に進む光ビームは、該
P点近傍の気体中に不純物粒子が存在しない場合は図示
B°の如くそのまま直進してコリメータレンズ2dに入
射しないため計数ディテクタ2eも動作しない。
しかしP点近傍の気体中に不純物粒子が存在する場合に
は、上記光ビームは不純物粒子で反射されるため各方向
に散る散乱光B1となる。従っでこの場合には上記散乱
光B+の一部はコリメータレンズ2dに入射し平行光と
なって計数ディテクタ2eを投射する。そこで該計数デ
ィテクタ2eが受光した散乱光から不純物粒子の数と大
きさを計数し、該気体中に浮遊する不純物粒子の密度数
と大きさに演算した結果を表示部2fに表示する。
かかる構成になる従来の吸引型粒子計数器では気体の吸
引能力に限界があるため、特に高い真空度を必要とする
真空装置に直接取り付けることは不可能である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の吸引型粒子計数器を使用した真空装置では、気体
を収束させた部分で得られた結果を演算して該気体中に
浮遊する不純物粒子の密度数と大きさを表示しているた
め実態にそぐわない場合があると云う問題があった。
更に該粒子計数器の構成上高い真空度を必要とする真空
装置等には設置することができず不純物粒子の計数がで
きないと云う問題があった。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点は、流体に収束光を照射し該流体中を浮遊す
る不純物粒子からの反射散乱光を計測して上記流体中の
不純物粒子を計数する粒子計数器において、 流体排管の一部を透明な管状体で構成し、該管状体の中
心軸近傍を照射する少なくともl個の投光系と、 該投光系からの直進光を受けない位置で該投光系の上記
管状体内の照射領域に焦点を持つコリメータレンズと該
コリメータレンズからの光を受ける計数ディテクタおよ
び該計数ディテクタからの信号で動作する表示器からな
る少なくとも1個の受光系を、 上記管状体の外側に配置してなる粒子計数器によって解
決される。
〔作 用〕
気体や液体等の流体中に浮遊する不純物粒子を精度よく
検出し計数するには、真空室または槽内の状態にできる
だけ近い状態で該流体が計測できることが望ましい。
本発明になる粒子計数器では、気体や液体等流体の排管
部分の一部を透明な管状体に置き換えた上で該管状体部
分に粒子計数部分を設置している。
この場合液管状体内部の流体の状態は真空室または槽内
と同等である。
従って上記管状体部分で不純物粒子を計測することによ
って、真空室または槽内と同じ状態で精度よく不純物粒
子を計測することができると共に、該管状体が汚染され
て見にくくなった場合も交換が容易であるため補修工数
が削減できる。
更に流体が高い真空度を必要とする気体の場合にも、全
く同様に計測することができる。。
〔実施例〕
第1図は、本発明になる粒子計数器の実施例を示した図
で、(A)は流体が通常の気体の場合の粒子計数器の構
成例を、また(B)は特に流体が薬液または腐食性ガス
等の場合を表わした図である。
図(A)で、10は例えば真空室1からの排管、11は
透明な強化ガラス等よりなり上記排管10の内径と同等
の内径を有する管状体、12は排管10と管状体11の
両端面にそれぞれ挟まれて管内物の外部への漏洩を防ぐ
ための密閉用の0−リングである。
なお排管10と管状体11の内径を合致させることは両
者の接合部分における気体の流れの乱れを避ける点から
大きい効果があることを確認している。
従って管状体11の内部は真空室1と同様の気体の状態
になっている。
また13は投光系を示し、レーザ光等の光源13a。
と、光源13aからの光を有効に使用するために管状体
11のほぼ中心軸上のP点近傍に該光を収束させる集光
レンズ13bとで構成されている。
また14は受光系を示し、P点近傍における不純物粒子
による散乱光の一部を受けて平行光とするコリメータレ
ンズ14aと、上記平行光を受けて不純物粒子の密度数
や大きさを演算する機能を備えた計数ディテクタ14b
および計数ディテクタ14bからの信号によって動作す
る表示部14cよりなっている。なお点線で示す15は
必要に応じて装着する暗箱である。
かかる構成になる粒子計数器では、例えば光源13aか
ら射出する図示C方向の光線は集光レンズ13bと管状
体11の側壁を透過して該管状体11内部のP点近傍に
収束するが、該P点近傍の光路中に不純物粒子等の異物
がない場合には該光線はそのまま図示C”方向に直進し
てコリメータレンズ14aには入射せず従って計数ディ
テクタ14bも動作しない。
逆にP点近傍の光路中に不純物粒子等があると照射光は
図示CIの如く該粒子で各方向に散乱させられるため、
該散乱光の一部をコリメータレンズ14aが受光し計数
ディテクタ14bに投射させることができる。そこで該
計数ディテクタ14bが入射光を計数して演算を行い、
上記気体中の不純物粒子の密度数とその大きさを表示部
14cに表示させている。
なお投光系13に使用される光源13aは、不純物粒子
が比較的大きく数μ+wn+程度であれば通常のハロゲ
ンランプが使用可能であるが、特に小さい不純物粒子を
検出する場合には波長の短いレーザ光が有効であり、こ
の場合には0.5μmm程度の大きさの不純物粒子まで
検出できることを実験的に確認している。
図(B)は、通常の強化ガラス等よりなる管状体を急激
に腐食する六弗化硫黄(SFs ’)の如き気体や弗酸
の如き液体の場合、または長期間の使用で徐々にガラス
質を腐食する純水や塩酸、硫酸の如き液体等を流体とし
て使用する場合を例示したものである。
この場合には排管10と接続する管状体に透光性塩化ビ
ニール管16を使用すると共に密閉用の0−リングに特
に腐食性のない例えば弗素ゴム等よりなるO−リング1
7を使用することによって腐食性に対応している。なお
投光系13、受光系14および必要に応じて使用する暗
箱15は図(A)の場合と同等である。
〔発明の効果〕
上述の如く本発明により、真空度に関係なく流体中に浮
遊する不純物粒子が精度よく計数できると共に管状体汚
染時の補修が容易な粒子計数器を提供することができる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明になる粒子計数器の実施例を示した図、 第2図は従来の吸引型粒子計数器の例を示した図、 である。図において、 lは真空室、 lOは排管、      11は管状体、12、17は
O−リング、 13は投光系、13aは光源、    
 13bは集光レンズ、14は受光系、 14aはコリメータレンズ、 14bは計数ディテクタ、14cは゛表示部、15は暗
箱、 16は透光性塩化ビニール管、 をそれぞれ表わす。 (Aン (F3)

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)流体に収束光を照射し該流体中を浮遊する不純物
    粒子からの反射散乱光を計測して上記流体中の不純物粒
    子を計数する粒子計数器において、流体排管(10)の
    一部を透明な管状体(11)で構成し、 該管状体(11)の中心軸近傍を照射する少なくとも1
    個の投光系(13)と、 該投光系(13)からの直進光を受けない位置で該投光
    系(13)の上記管状体(11)内の照射領域に焦点を
    持つコリメータレンズ(14a)と該コリメータレンズ
    (14a)からの光を受ける計数ディテクタ(14b)
    および該計数ディテクタ(14b)からの信号で動作す
    る表示器(14c)からなる少なくとも1個の受光系(
    14)を、 上記管状体の外側に配置してなることを特徴とする粒子
    計数器。
  2. (2)前記管状体の内径を、流体排管の内径と同一に形
    成することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の粒
    子計数器。
  3. (3)前記管状体をガラス管で形成することを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の粒子計数器。
  4. (4)前記管状体を透光性プラスチック管で形成するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の粒子計数器
  5. (5)前記投光系の光源にレーザ光を用いることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の粒子計数器。
JP63009071A 1988-01-19 1988-01-19 粒子計数器 Pending JPH01184441A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH044262U (ja) * 1990-04-27 1992-01-16
JP2009524018A (ja) * 2006-01-13 2009-06-25 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド 金属材料の液体−粒子分析

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009524018A (ja) * 2006-01-13 2009-06-25 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド 金属材料の液体−粒子分析
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