JPH01178832A - Apparatus for measuring light spot - Google Patents

Apparatus for measuring light spot

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JPH01178832A
JPH01178832A JP63002296A JP229688A JPH01178832A JP H01178832 A JPH01178832 A JP H01178832A JP 63002296 A JP63002296 A JP 63002296A JP 229688 A JP229688 A JP 229688A JP H01178832 A JPH01178832 A JP H01178832A
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JP
Japan
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light spot
histogram
intensity distribution
axis
angle
Prior art date
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Pending
Application number
JP63002296A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideo Hiruma
日出男 晝馬
Hajime Yagi
八木 一
Iwayo Nakagawa
中川 岩代
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Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To quantitatively and rapidly measure the intensity distribution of a light spot by extremely simple operation, by projecting and cumulating the taken image of the light spot to form a histogram and detecting the intensity distribution characteristic of the light spot from the histogram. CONSTITUTION:The original image data stored in the original image memory region ORAR of an image memory 6 is subjected to sub-scanning in a longitudinal direction and images are projected and cumulated in an X-axis direction at every respective sub-scanning lines to obtain an X-axis histogram 10. The original image data is subjected to sub-scanning in a Y-axis direction and images are projected and cumulated in a Y-axis direction at every respective sub- scanning lines to obtain a Y-axis histogram. The histograms 10, 11 are ones wherein the light spot intensity distribution of semiconductor laser is projected in the respective X- and Y-axis directions. The half-value width W1(theta, i) and half-value width W2(theta, i) of a light spot 58 and the max. intensity MS(theta, i) of the light spot 58 are detected from the histograms 10, 11. By this method, the intensity distribution of the light spot 58 is measured quantitatively and rapidly.

Description

【発明の詳細な説明】 し産業上の利用分野〕 本発明は、半導体レーザの光強度分布などの測定に用い
られる光点測定装置に関し、特に半導体レーザなどの光
点の強度分布特性を工業用テレビカメラにより撮像し解
析する型式の光点測定装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Field of Use] The present invention relates to a light spot measuring device used to measure the light intensity distribution of a semiconductor laser, and in particular to a light spot measuring device used for measuring the light intensity distribution of a semiconductor laser etc. The present invention relates to a light spot measuring device that captures and analyzes images using a television camera.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に半導体レーザから出力されるレーザ光は、小さな
発振領域から大きな広がり角をもったレーザビームとし
て放出される。
Generally, laser light output from a semiconductor laser is emitted as a laser beam with a large divergence angle from a small oscillation region.

第7図は、−船釣なダブルへテロ接合の半導体レーザの
概略構成図、第8図(a) 、 (b)は第7図に示す
ような半導体レーザから放出されるレーザビームを説明
するための図である。
Figure 7 is a schematic configuration diagram of a double heterojunction semiconductor laser, and Figures 8 (a) and (b) explain the laser beam emitted from the semiconductor laser as shown in Figure 7. This is a diagram for

第7図において半導体レーザ60の発振領域56からの
レーザ光は、反射面57から回折されて外部の位置Pの
ところで光点58となる。この光点58は、第8図(a
)に示すように、最大強度MSをもちかつX軸方向、Y
軸方向にそれぞれ半値幅W、W2の広がりをもつ光強度
分布を有している。なおこれらの光強度分布はガウス分
布となっている。光点58のX軸方向の広がりは、水平
横モードの回折によるものであり、また光点58のY軸
方向の広がりは、垂直横モードの回折によるものである
In FIG. 7, laser light from the oscillation region 56 of the semiconductor laser 60 is diffracted from the reflective surface 57 and becomes a light spot 58 at an external position P. This light spot 58 is shown in FIG.
), the maximum strength MS is
The light intensity distribution has a width of half width W and W2 in the axial direction, respectively. Note that these light intensity distributions are Gaussian distributions. The spread of the light spot 58 in the X-axis direction is due to diffraction in the horizontal transverse mode, and the spread of the light spot 58 in the Y-axis direction is due to diffraction in the vertical transverse mode.

第8図(b)を用いて水平横モードの回折による広がり
を説明すると、発振頭載56内で水平横モードのレーザ
光が反射面57と平行な波面H1の状態で出力されると
、このレーザ光の波面H1は反射面57に進むにつれて
回折により徐々に弯曲して波面H2,H3のようになり
、反射面57から波面H4め状態で外部に出力される。
To explain the spread of the horizontal transverse mode due to diffraction with reference to FIG. The wavefront H1 of the laser beam gradually curves due to diffraction as it advances to the reflecting surface 57, becoming wavefronts H2 and H3, and is outputted from the reflecting surface 57 to the outside as a wavefront H4.

このレーザ光か照射される外部の位置Pのところでは、
波面H4はさらに回折され広げられて波面H5となる。
At the external position P where this laser light is irradiated,
The wavefront H4 is further diffracted and expanded to become a wavefront H5.

この波面H5は、実際には反射面57から出力されたも
のであるが、発振領域56内での回折による広がりによ
って見かけ1反射面57よりも1/[[Dだけ内側のと
ころに広がりの中心があるような形になっている。
This wavefront H5 is actually output from the reflecting surface 57, but due to spreading due to diffraction within the oscillation region 56, the center of the spreading appears to be 1/[[D inside of the 1 reflecting surface 57. It is shaped like there is.

一方、垂直横モードのレーザ光は、発振頻域56内にお
いてその波面が平面であり、従って反射面57からは平
面波として出力され、しかる後に回折されるので、外部
の位置Pにおける波面の広がりの原点は反射面57に一
致している。
On the other hand, the vertical transverse mode laser beam has a flat wavefront within the oscillation frequency region 56, and is therefore output as a plane wave from the reflecting surface 57 and is then diffracted. The origin coincides with the reflective surface 57.

このように一般に半導体レーザから出力されるレーザ光
には、水平横モード、垂直横モード間の見かけ上の光源
の位置か距離りだけ異なる所謂非点隔差が存在する。こ
の非点隔差は、外部の位置Pにおける光点の強度分布す
なわち、X軸方向の光点58の半値幅W1とY軸方向の
光点58の半値幅W2とに基づいて検出される。
As described above, laser light output from a semiconductor laser generally has a so-called astigmatism difference between the horizontal transverse mode and the vertical transverse mode, which differs by the apparent position or distance of the light source. This astigmatism difference is detected based on the intensity distribution of the light spot at the external position P, that is, the half-width W1 of the light spot 58 in the X-axis direction and the half-width W2 of the light spot 58 in the Y-axis direction.

このような半導体レーザの光点の強度分布特性すなわち
半値幅W1.W2 、最大強+HM S 、非点隔差を
測定する光点測定装置が従来知られている。
The intensity distribution characteristic of the light spot of such a semiconductor laser, that is, the half-width W1. A light spot measuring device that measures W2, maximum intensity + HMS, and astigmatism difference is conventionally known.

第9図は、昭和61年9月10日発行の文献1半導体レ
ーザと応用技術」 (工学社、米津宏雄著)第192頁
乃至第193頁にjm示されている従来の光点測定装置
の構成図である。従来の光点測定装置は、半導体レーザ
60からの光点58を撮像する工業用テレビカメラ61
と、ラインセレクタ62と、モニタテレビ63と、シン
クロスコープ64とから構成されている。
Figure 9 shows the conventional light point measuring device shown in the literature 1: Semiconductor lasers and applied technology'' published on September 10, 1986 (by Hiroo Yonezu, Kogakusha), pages 192 to 193. FIG. A conventional light spot measuring device includes an industrial television camera 61 that images a light spot 58 from a semiconductor laser 60.
, a line selector 62 , a monitor television 63 , and a synchroscope 64 .

このような構成の光点測定装置では、二[業用テレビカ
メラ61によって撮像された半導体レーザ60からの光
点58は、ラインセレクタ62によって順次に走査され
てモニタテレビ63の画面上に表示され、これにより光
点58の強度分布を観察することができる。
In the light spot measuring device having such a configuration, the light spot 58 from the semiconductor laser 60 that is imaged by the commercial television camera 61 is sequentially scanned by the line selector 62 and displayed on the screen of the monitor television 63. , This allows the intensity distribution of the light spot 58 to be observed.

またモニタテレビ63の画面の任意の走査線上の強度分
布は、ラインセレクタ62によってシンクロスコープ6
4上に表示される。従って、走査線方向をM、を方向す
れば、光点58のY軸方向の強度分布を得ることかでき
て、これから半値幅W2および最大強度MSを測定する
ことができる。−方、走査線方向を柳方向にすれば、光
点58のX軸方向の強度分布を得ることかできて、これ
から半値幅W1および最大強度MSを測定することがで
きる。
In addition, the intensity distribution on any scanning line on the screen of the monitor television 63 is determined by the line selector 62 on the synchroscope 6.
4 will be displayed on top. Therefore, by directing the scanning line direction M, it is possible to obtain the intensity distribution of the light spot 58 in the Y-axis direction, and from this it is possible to measure the half-width W2 and the maximum intensity MS. On the other hand, if the scanning line direction is set in the willow direction, the intensity distribution of the light spot 58 in the X-axis direction can be obtained, and the half-width W1 and the maximum intensity MS can be measured from this.

r発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、第9図に示すような従来の装置において
、モニタテレビ63の画面上には、撮像された光点58
が強度に比例した輝度で表示されるだけであるので、光
点58の概略的な強度分布を知ることはできるものの、
半値幅W  、 W2 。
Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional device as shown in FIG.
is only displayed with a brightness proportional to the intensity, so although it is possible to know the approximate intensity distribution of the light spot 58,
Half width W, W2.

最大強度MSを正確に測定することはできない。The maximum intensity MS cannot be measured accurately.

またラインセレクタ62を用いて所望の走査線上の強度
分布をシンクロスコープ64−Fに表示し、半値幅W、
W、、をJ測定する場合には、オペレータは先つ横方向
の走査線を;」択して半値幅W1を求め、しかる後に縦
方向の走査線を選択して半6r!幅W2を求めなければ
ならなかったので、操作に手間かかかりまた測定に相当
の時間を要するという問題かあった。
Further, the intensity distribution on a desired scanning line is displayed on the synchroscope 64-F using the line selector 62, and the half-width W,
When measuring W, . Since the width W2 had to be determined, there were problems in that the operation was troublesome and the measurement took a considerable amount of time.

また従来では、測定を開始する前に光点ゾ〕焦点合せ、
角度合せなど操作を行なわねばならなかった。
In addition, in the past, before starting measurement, the light spot was focused,
I had to perform operations such as adjusting the angle.

本発明は、光点の強度分布特性を極めて簡単な操作で定
量的にかつ迅速に測定することの用油な光点測定装置を
提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a light spot measuring device that can quantitatively and quickly measure the intensity distribution characteristics of a light spot with extremely simple operations.

し問題を解決するための手段〕 本発明は、光点を撮像する撮像手段と、撮f象手段で撮
像された光点の画像を所定の軸方向に射影し累積させて
ヒストグラムを作成するヒストクラム作成手段と、作成
されたヒストグラムから光点の強度分布特性を検出する
検出手段とをf+inえていることを特徴とする光点測
定装置によって、」、記従来技術の問題点を改善するも
のである。
Means for Solving the Problem] The present invention provides an imaging means for imaging a light spot, and a histogram for creating a histogram by projecting and accumulating images of the light spot taken by the imaging means in a predetermined axis direction. The problems of the prior art described in "" are improved by a light spot measuring device characterized in that a creating means and a detecting means for detecting the intensity distribution characteristics of the light spot from the created histogram are provided. .

〔作用〕[Effect]

本発明では、半導体レーザなどの光点を撮像手段で撮像
し、撮像手段で撮像された光点の画像をヒストグラム作
成手段により所定の軸方向、例えはX軸方向、Y軸方向
に射影し累積させて、ヒストグラム、例えばX軸ヒスト
ダラム、Y軸ヒストグラムを作成する。このX軸ヒスト
グラム、Y軸ヒストグラムは、それぞれ、X軸方向、Y
軸方向I\光点の強度分布を投にaしたものとなってい
るので、これらのヒストグラムから検出手段によって光
点の強度分布特性、例えば半値幅、最大強度、非点隔差
などを検出することができる。
In the present invention, a light spot of a semiconductor laser or the like is imaged by an imaging means, and an image of the light spot taken by the imaging means is projected in a predetermined axial direction, for example, an X-axis direction or a Y-axis direction, and accumulated. Then, a histogram such as an X-axis histogram and a Y-axis histogram is created. The X-axis histogram and Y-axis histogram are
Since the intensity distribution of the light spot in the axial direction I\ is a projection, it is possible to detect the intensity distribution characteristics of the light spot, such as half-width, maximum intensity, and astigmatism difference, from these histograms using a detection means. Can be done.

〔実線例〕[Solid line example]

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.

第1図は本発明の光点測定装置の概略構成図、第2図は
第1図に示す光点測定装置の処理流れを示すフローチャ
ートである。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a light spot measuring device of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart showing the processing flow of the light spot measuring device shown in FIG.

第1図において本発明の光点測定装置1は、プロセッサ
3によって制御されている。プロセッサ3は続出専用メ
モリ(ROM)2に格納されている制御プログラムに従
って動作するようになっている。プロセッサ3には、光
点58をtM像する工業用テレビカメラ5と、A/D変
換器4と、画像メモリ6と、結果メモリ7と、デイスプ
レィ装置8とが接続されている。
In FIG. 1, a light spot measuring device 1 of the present invention is controlled by a processor 3. As shown in FIG. The processor 3 operates according to a control program stored in a read only memory (ROM) 2. Connected to the processor 3 are an industrial television camera 5 that performs a TM image of the light spot 58, an A/D converter 4, an image memory 6, a result memory 7, and a display device 8.

工業用テレビカメラ5は、第3図に示すように、ステッ
ピングモータ(図示せず)によって光点58の入射方向
に沿い所定の位’Itiに移動することが可能でこれに
より自動焦点合せが可能となっている。また工業用テレ
ビカメラ5は、ステッピングモータにより角度θだけ回
転され、光点58を画面全体に対し正しい位置で撮像す
る自動角度合せが可能となっている。
As shown in FIG. 3, the industrial television camera 5 can be moved to a predetermined position along the incident direction of the light spot 58 by a stepping motor (not shown), thereby enabling automatic focusing. It becomes. Further, the industrial television camera 5 is rotated by an angle θ by a stepping motor, and automatic angle adjustment is possible to image the light spot 58 at the correct position with respect to the entire screen.

A/D変換器4は、例えば16ビツトのものであり工業
用テレビカメラ5で撮像したアナログ画像信号を216
の階調をもつデジタル画像信号に変換するものである。
The A/D converter 4 is, for example, a 16-bit one, and converts the analog image signal captured by the industrial television camera 5 into 216 bits.
This converts it into a digital image signal with gradations of .

画像メモリ6には、216の階調のデジタル[1lii
f象信号に変換された原画像情報を格納する原画像格納
域0RArtと、原画@情報を縦方向、横方向にそれぞ
れ副圭査して累積処理したX軸ヒストグラム、Y軸Lス
トグラムを格納するX軸ヒストグラム格納域XHAR,
Y軸ヒストグラム格納域Y HARとが設けられている
The image memory 6 contains 216 gradations of digital data [1lii
The original image storage area 0RAt stores the original image information converted to the f-image signal, and the X-axis histogram and Y-axis L stogram obtained by sub-examining the original image @ information in the vertical and horizontal directions and cumulatively processing them are stored. X-axis histogram storage area XHAR,
A Y-axis histogram storage area YHAR is provided.

また結果メモリ7には、画像メモリ6に作成されている
X軸ヒストグラム、Y軸ヒストグラムに基づいて検出さ
れた光点の半値幅W1 (θ、■、W2 (θ、i)、
光点の最大強度MS(θ、1)が記憶されるようになっ
ている。
The result memory 7 also stores the half width W1 (θ, ■, W2 (θ, i),
The maximum intensity MS (θ, 1) of the light spot is stored.

デイスプレィ装置8は、原画像情報のみならずX軸ヒス
トグラム、Y軸ヒストグラム、あるいは光点58の測定
された半値幅w、w2.i大強度MS、非点隔差をも表
示することができるようになっている。
The display device 8 displays not only the original image information but also the X-axis histogram, the Y-axis histogram, or the measured half-width w, w2 . i High intensity MS and astigmatic difference can also be displayed.

このような構成の光点測定装置1の動作を第2図のフロ
ーチャートを用いて説明する。
The operation of the light spot measuring device 1 having such a configuration will be explained using the flowchart shown in FIG. 2.

第2図においてステップS1では、位置i、角度θをそ
れぞれ初期flilNT1.INT2に初期設定し、工
業用テレビカメラ5の自動焦点合せ処理、自動角度合せ
処理に用いられるフラグFLG。
In FIG. 2, in step S1, the position i and the angle θ are set to the initial flilNT1. A flag FLG is initially set to INT2 and used for automatic focusing processing and automatic angle adjustment processing of the industrial television camera 5.

FLGI、PL、G2.GLG3.FLG4を“0″に
初期設定する。
FLGI, PL, G2. GLG3. Initialize FLG4 to "0".

次いでステップS2では、結果メモリ7の半値幅W (
θ、l)、W2(θ、1)の記憶領域、最大強度MS(
θ、i)の記憶領域をクリアする。
Next, in step S2, the half width W (
θ, l), storage area of W2(θ, 1), maximum strength MS(
Clear the storage area of θ,i).

なお、画像メモリ6の各格納域0RAR,XHAR,Y
)TARも同時にクリアする。
In addition, each storage area 0RAR, XHAR, Y of the image memory 6
) Clear TAR at the same time.

ステップSt、32において、光点測定装置1全体の初
期設定を行なった後、ステップS3では、工業用テレビ
カメラ5をステッピングモータ(図示せず)により位″
affii+角度θに設定し、ステップS4において半
導体レーザからの光点58を撮−像する。撮゛像された
アナログ画像信号は、A/D変換器4によ゛す216の
階調をもつデジタル画像信号に変換されて画像メモリ6
の原画像格納域ORARに原画像情報として第4図(a
)に示すように格納される。
After initializing the entire light spot measuring device 1 in step St, 32, in step S3, the industrial television camera 5 is positioned by a stepping motor (not shown).
affii+angle θ, and the light spot 58 from the semiconductor laser is imaged in step S4. The captured analog image signal is converted into a digital image signal with 216 gradations by the A/D converter 4 and stored in the image memory 6.
4 (a) as original image information in the original image storage area ORAR of
) is stored as shown.

なお、この際に工業用テレビカメラ5で撮イAされたア
ナログ画像信号に対して所定の閾値を設け、この閾値以
下の大きさの信号成分か°Il¥除かれたアナログ画像
信号をA/D変換器に送ることによってS/N比を向−
ヒさせるか、あるいはA/D変換器4から出力されたデ
ジタル画像信号に対して、所定のマトリックス演算処理
を施すことによってしみ除去などの前処理を施しS/N
比を向上させるのか良い。
At this time, a predetermined threshold value is set for the analog image signal captured by the industrial television camera 5, and the analog image signal from which signal components having a magnitude less than or equal to this threshold value is removed is converted to A/A. Improve the S/N ratio by sending it to the D converter.
The digital image signal output from the A/D converter 4 is subjected to pre-processing such as stain removal by performing predetermined matrix calculation processing on the digital image signal output from the A/D converter 4.
Good to improve the ratio.

次いでステップS5では、原画像格納域0IjAF克に
格納されている第4図(a)のような原画像情報を縮方
向に副走査しそれぞれの副走査線ことに画像をX軸方向
に射影累積して第4し1(b)のようなX軸ヒストグラ
ム10を得る。同様にしてステップS6では、原画像情
報を横方向に副走査しそれぞれの副走査線ごとに画像を
Y軸方向に射影累積して第4図(C)のようなY軸ヒス
トグラム11を得る。このようなX軸ヒストグラム10
.Y軸ヒストグラム11は、前述したような半導体レー
ザの光点強度分布をX軸方向、Y11ilt1方向にそ
れぞれ投影したものとなっている。従ってステップS7
では、X軸ヒストグラム10.Y軸ヒストグラム11か
ら光点58のそれぞれ半値幅W1 (θ。
Next, in step S5, the original image information stored in the original image storage area 0IjAFK as shown in FIG. As a result, an X-axis histogram 10 as shown in the fourth section 1(b) is obtained. Similarly, in step S6, the original image information is sub-scanned in the horizontal direction and the image is projected and accumulated in the Y-axis direction for each sub-scanning line to obtain a Y-axis histogram 11 as shown in FIG. 4(C). Such an X-axis histogram 10
.. The Y-axis histogram 11 is a projection of the light spot intensity distribution of the semiconductor laser as described above in the X-axis direction and the Y11ilt1 direction, respectively. Therefore, step S7
Now, the X-axis histogram 10. From the Y-axis histogram 11, the half-width W1 (θ.

1)、半値幅W2  (θ、i>と、光点58の最大強
度MS(θ、i)とを検出することができる。
1), the half-width W2 (θ, i>) and the maximum intensity MS (θ, i) of the light spot 58 can be detected.

ずなわち最大強IMs(θ、i)は、XI由ヒフストグ
ラム10あるいはY軸ヒストグラム11の最も大きな高
さから求まり、これが光点の輝度ピークとなる。また半
値幅W1 (θ、t)、W2(θ。
That is, the maximum intensity IMs (θ, i) is determined from the maximum height of the XI-based histogram 10 or the Y-axis histogram 11, and this becomes the brightness peak of the light spot. Also, the half width W1 (θ, t), W2 (θ.

iンは、最大強度MS(θ、i>の1./2り)ところ
におけるX軸ヒストクラム10の屯囁、Y+Ii山ヒス
トグラム10の幅としてそれぞれ求まる。
In is determined as the width of the X-axis histogram 10 and the width of the Y+Ii histogram 10 at the maximum intensity MS (1./2 of θ, i>).

ところで、いまの場合ステップS1によって工業用テレ
ビカメラ5の位W 1 +角度θは初期位置[NT1.
初期角度INT2に設定されており、]−業用テレビカ
メラ5の焦点、原画像情報の画面に対する位置のWl+
出しは第4図(a)乃至(C)に示すように正確なもの
とはなっていない。
By the way, in this case, in step S1, the position W 1 + angle θ of the industrial television camera 5 is set to the initial position [NT1.
The initial angle is set to INT2, ] - Wl+ of the focal point of the industrial television camera 5 and the position relative to the original image information screen.
The placement is not accurate as shown in FIGS. 4(a) to 4(C).

従って、第5図(a)乃至(C)に示すように工業用テ
レビカメラ5の焦点か正確に合い(最大強度MSか鼓も
大きいとき)かつ画面に対する原画像・ti?報の位置
か正しい角度となるよう、工業用テレビカメラ5を位置
決めしなければならない。
Therefore, as shown in FIGS. 5(a) to 5(C), the focus of the industrial television camera 5 is accurately focused (when the maximum intensity MS or the drum is large) and the original image ti? The industrial television camera 5 must be positioned so that the information is at the correct angle.

ステップS8乃至S29は、このような自動焦点合せ、
自動角度合せを行なうための処理であり、特にステ・ツ
ブS9乃至S18は自動焦点合せの処理、ステップS2
0乃至S20は自動焦点Nせの処理である。
Steps S8 to S29 include such automatic focusing,
This is a process for performing automatic angle adjustment, and in particular steps S9 to S18 are automatic focusing processes, and step S2
0 to S20 are automatic focusing processing.

ステップS8では、自動焦点合せ処理を行なうのかある
いは自動角度合せ処理を行なうのかを判断するため、フ
ラグFLGが“1“か否かを調べる。フラグF L G
か1′のときにはステップS20に進んで自動角度合せ
処理を行なうか、いまの場合フラグFLGは″O″とな
っているので、先づステップS9乃至S18の自動焦点
合せ処理に進む。
In step S8, it is checked whether the flag FLG is "1" to determine whether automatic focusing processing or automatic angle adjustment processing is to be performed. Flag F L G
If it is 1', the process advances to step S20 to perform automatic angle adjustment processing. In this case, since the flag FLG is "O", the process first advances to automatic focus processing in steps S9 to S18.

自動焦点合せ処理では、焦点か最大強度MS(θ、i)
の最も大きくなる位置で合うことに着目して、工業用テ
レビカメラ5の(ff4iを順次に前進あるいは後退さ
せながらその都度x #i +=ストクラム10.Y軸
ヒストグラム11を作成して最大強度MS(θ、i)を
検出するようにしている。
In the automatic focusing process, the focus or maximum intensity MS (θ, i)
Focusing on matching at the position where the maximum intensity of (θ, i) is detected.

このような自動焦点合せ処理を行なうため、ステップS
10乃至314では、第6図(a)に示すように、位置
iを徐々に増加して工業用テレビカメラ5を前進させる
前進処理を行ない、ステップS15乃至S18では、第
6図(b)に示すように位Miを徐々に減少して工業用
テレビカメラ5を後退さぜる後退処理を行なうようにな
っている。
In order to perform such automatic focusing processing, step S
In steps S10 to 314, as shown in FIG. 6(a), the position i is gradually increased to move the industrial television camera 5 forward, and in steps S15 to S18, as shown in FIG. 6(b), As shown, a backward process is performed in which the industrial television camera 5 is moved backward by gradually decreasing the position Mi.

先づステップS9では、位置iで検出した最大強度MS
(θ、+)か1つ前の位置(i−1)で検出した最大強
度(θ、1−1)よりも大きいが否かを判断する。MS
(θ、i)がMS(θ、1−1)よりも大きいときには
ステップS10からの前進処理に進み、MS(θ、i>
かMS(θ。
First, in step S9, the maximum intensity MS detected at position i is
It is determined whether or not (θ, +) is greater than the maximum intensity (θ, 1-1) detected at the previous position (i-1). M.S.
When (θ, i) is larger than MS (θ, 1-1), the process advances from step S10, and MS (θ, i>
or MS(θ.

1−1)よりも小さいときにはステップ81.5からの
後退処理に進む。なお最初はMS(θ、1−1)は”0
゛であるので、ステップS10に進み前進処理となる。
1-1), the process proceeds to step 81.5. Note that initially, MS (θ, 1-1) is “0”
Therefore, the process advances to step S10 to perform forward processing.

ステップS10では、現在のMS(θ、i)がいまの時
点で妓も大きな最大強度となっているので、これを結果
メモリ7に記憶する。
In step S10, the current MS (θ, i) is stored in the result memory 7, since it has a large maximum intensity at this point.

次いでステップSllでは位置iが初期位glNTIで
あるか否かを判断する。初期位置lNT1であるときに
は、最も大きな最大強度であるとの判断をまだすること
ができないので、工業用テレビカメラ5の位置iを1つ
前進させてそのときのM(θ、i)とM(θ、1−1)
とを比較するためにステップS14に進み、位置iを°
゛1′′だけ増加させる。一方、ステップSllにおい
て位置iか初期位I I NT 1でないと判断される
と、第6図(b)に示すように、いままでMS(θ+’
)かMS(θ、1−1)よりも小さく矢印B、Wの方向
に後退し、初めてLPIで示すような状態に到達したも
のであるか否かを判断するためにステップSL2に進む
Next, in step Sll, it is determined whether the position i is the initial position glNTI. At the initial position lNT1, it cannot yet be determined that the maximum intensity is the highest, so move the position i of the industrial television camera 5 forward by one position and calculate M(θ, i) and M( θ, 1-1)
Proceed to step S14 to compare the position i with
Increase by ゛1''. On the other hand, if it is determined in step Sll that the position i is not the initial position I I NT 1, as shown in FIG.
) or MS (θ, 1-1) in the directions of arrows B and W, and the process proceeds to step SL2 to determine whether or not the state shown by LPI has been reached for the first time.

ステップ312では、上記判断を行なうために後述のフ
ラグFLG2が“0”であるか否かを調べる。フラグF
 1.、 G 2が0″でないときには、第6図(b)
のようにいままで矢印BWの方向に後退処理が続けられ
LPIの状態の位ytiに到達したことを意味するので
、現在、結果メモリ7に記憶されたMS(θ、i)が最
も大きな最大強度MSであり、この位置iで焦点があっ
たと判断し、ステップ319からの自動角度合せ処理に
進む。
In step 312, in order to make the above judgment, it is checked whether a flag FLG2, which will be described later, is "0". Flag F
1. , when G2 is not 0'', Fig. 6(b)
This means that the backward processing has continued in the direction of the arrow BW and the LPI state position yti has been reached, so that the MS (θ, i) currently stored in the result memory 7 has the highest maximum intensity. It is determined that the MS is in focus at this position i, and the process proceeds to automatic angle adjustment processing from step 319.

一方、ステップ312においてフラグFLG2が“0”
であるときには、第6図(a)に示すように矢印PRの
方向に前進処理が続けられ、位ytがLP4の状態のと
ころにあり、最も大きな最大強度がまだ検出されていな
いことを意味するのでさらに前進処理を続けるためにス
テップS13に進む。ステップ313では、前進処理を
行なっていることを識別するためフラグFLGIに“1
″。
On the other hand, in step 312, flag FLG2 is “0”.
When , the forward processing continues in the direction of arrow PR as shown in FIG. 6(a), and position yt is in the state of LP4, which means that the largest maximum intensity has not been detected yet. Therefore, the process advances to step S13 to continue the forward processing. In step 313, the flag FLGI is set to "1" to identify that forward processing is being performed.
″.

を設定する0次いでステップS14では工業用テレビカ
メラ5を次の前進位置にするため位111を1″だけ増
加し、再びステップS3に戻る。
Then, in step S14, the position 111 is increased by 1'' to bring the industrial television camera 5 to the next forward position, and the process returns to step S3.

また、ステップS9において、MS(θ、1)がMS(
θ、1−1)よりも小さいと判断されたときにはステッ
プ315に進み、ステップ315において現在結果メモ
リ7に記憶されている最大強度MS(θ、i)を1つ前
の位置(i−1)における舷大強度MS(θ、i−1>
で置換える。
Further, in step S9, MS(θ, 1) is changed to MS(
θ, 1-1), the process proceeds to step 315, and in step 315, the maximum intensity MS (θ, i) currently stored in the result memory 7 is moved to the previous position (i-1). The broadside strength MS (θ, i-1>
Replace with

しかる後に、ステップ316では、現在の位置iか、第
6図(a)にLP2で示すような状態の位置であるのか
、あるいは第6図(11)にLP3で示すような状態の
位置であるのかを判別するため、フラグF L、 G 
1が“0”か否かを調べる。フラグF L G 1が“
0′°のときには、ステヅプSIO乃至S1’4の前進
処理かなされていないことを意味するので、第6図(b
)にLP3で示すような状態の位置にあると判断されて
、さらに後退処理を続けるためステップS17に進む、
ステップ317では後退処理を行なっていることを識別
させるためフラグF L G 2に1”を設定し、しか
る後ステップ318において位置iを“1”だけ減少さ
せて再びステップS3に戻る。
Thereafter, in step 316, it is determined whether it is the current position i, the position in the state shown by LP2 in FIG. 6(a), or the position in the state shown by LP3 in FIG. 6(11). In order to determine whether
Check whether 1 is "0" or not. Flag F L G 1 is “
When it is 0'°, it means that the forward processing of steps SIO to S1'4 has not been performed, so as shown in Fig. 6 (b).
), it is determined that the vehicle is in the position shown by LP3, and the process proceeds to step S17 to continue the backward process.
In step 317, the flag FLG2 is set to 1'' to identify that the backward process is being performed, and then in step 318, the position i is decreased by 1, and the process returns to step S3.

一方、ステップS16においてフラグFLGIか“0”
ではないと判断されると、すでに前進処理かなされたこ
とを意味するので現在の位置iは第6図(a)にLP2
で示す状態の位置にあり、結果メモリ7に記憶されてい
るMS(θ+1)が餞も大きな最大強度MSとなってい
るので、次の自動角度合せ処理を行なうなめステップS
19に進む。
On the other hand, in step S16, flag FLGI is set to "0".
If it is determined that this is not the case, it means that the forward processing has already been performed, and the current position i is shown in FIG. 6(a) as LP2.
Since the MS (θ+1) stored in the result memory 7 has a large maximum strength MS, the next automatic angle adjustment process is performed in step S.
Proceed to step 19.

ステップ319では、自動焦点合せ処理が終了した旨識
別させるためフラグFLGに“l”を設定する。
In step 319, the flag FLG is set to "l" to identify that the automatic focusing process has ended.

次いでステップS20乃至S29の自動角度合せ処理に
進む。
Next, the process proceeds to automatic angle adjustment processing in steps S20 to S29.

自動角度合せ処理では第4図(a)に示すように画面上
での光点の原画像情報の角度が正しくなっていない場合
に、これを第5図(a)に示すような正しい角度となる
よう、工業用テレビカメラ5を時計回りにあるいは反時
計回りに回転させるようにしている。すなわちこの自動
角度合せ処理では、第5図(a)に示すような正しい角
度のときには、X軸ヒストグラム10かち得られる半値
幅W1(θ+  i)が餞も大きいものとなっているこ
とに着目して、半値幅W1 (θ、i)か最も大きくな
るように工業用テレビカメラ5の回転を制御するもので
ある。
In the automatic angle adjustment process, if the angle of the original image information of the light spot on the screen is not correct as shown in Figure 4(a), it is adjusted to the correct angle as shown in Figure 5(a). The industrial television camera 5 is rotated clockwise or counterclockwise so that In other words, in this automatic angle adjustment process, we focused on the fact that when the angle is correct as shown in FIG. 5(a), the half-width W1(θ+i) obtained from the The rotation of the industrial television camera 5 is controlled so that the half width W1 (θ, i) is maximized.

このような自動角度合せ処理を行なうため、ステップ3
21乃至S25では、自動焦点合ぜのステップ310乃
至314と同様にして角度θを徐々に増加して工業用テ
レビカメラ5を時計回りに回転させる右回転処理を行な
い、ステップ326乃至329では、自動焦点合せ処理
のステップS15乃至S18と同様にして角度θを徐々
に減少して工業用テレビカメラ5を反時計方向に回転さ
せる左回転処理を行なうようになっている。
In order to perform such automatic angle adjustment processing, step 3
In steps 21 to S25, the industrial television camera 5 is rotated clockwise by gradually increasing the angle θ in the same manner as steps 310 to 314 of automatic focusing. In steps 326 to 329, automatic focusing is performed. Similarly to steps S15 to S18 of the focusing process, a counterclockwise rotation process is performed in which the industrial television camera 5 is rotated counterclockwise by gradually decreasing the angle θ.

先づステップS20では、角度θで検出した半値幅w1
 <θ、i)が1つ曲の角度(θ−1)で検出した半値
幅W1 (θ−1.i)よりも大きいか否かを判断する
。Wi  (θ、i)がWl (θ−1、i)よりも大
きいときにはステップS21がらの右回転処理に進み、
Wl(θ、■)がWl(θ−1.i)よりも小さいとき
にはステップS26からの左回転処理に進む。なお最初
はWl(θ−1.i)は“0”であるので、ステップS
21に進み右回転処理となる。
First, in step S20, the half width w1 detected at the angle θ
<θ, i) is larger than the half-width W1 (θ-1.i) detected at the angle (θ-1) of one song. When Wi (θ, i) is larger than Wl (θ−1, i), the process proceeds to right rotation processing from step S21,
When Wl (θ, ■) is smaller than Wl (θ-1.i), the process proceeds to the left rotation process from step S26. Note that since Wl(θ-1.i) is “0” at first, step S
The process proceeds to step 21, where a clockwise rotation process is performed.

ステップS21では現在のWi  (θ、i)かいまの
時点で最も大きな半値幅となっているのでWl (θ、
1)およびW2(θ、1)を結果メモリ7に記憶する。
In step S21, since the current Wi (θ, i) has the largest half-width at the moment, Wl (θ,
1) and W2(θ, 1) are stored in the result memory 7.

次いでステップS22では角度か初期角度INT2であ
るか否かを判断する。初期角度I N T 2であると
きには、最も大きな半g3幅であるかの判断をまだする
ことができないので、工業用テレビカメラ5の角度θを
1つ時計方向に回転させてそのときのWl (θ+1)
とWl (θ−1,1)とを比較するために、ステップ
S25に進み角度θを1”だけ増加させる。一方、ステ
ップS22において角度θが初期角度INT2ではない
と判断されると、いままでWl (θ、i)がWl (
θ−1.i)よ“りも小さくて反時計方向に回転してお
り、いよ初めてWl (θ、i)がWl (θ−1゜i
)よりも大きくなったものであるか否がを判断するため
にステップ323に進む。
Next, in step S22, it is determined whether the angle is the initial angle INT2. When the initial angle I N T is 2, it cannot yet be determined whether it is the largest half g3 width, so the angle θ of the industrial television camera 5 is rotated one step clockwise and the current Wl ( θ+1)
In order to compare Wl (θ-1, 1), the process proceeds to step S25 and the angle θ is increased by 1". On the other hand, if it is determined in step S22 that the angle θ is not the initial angle INT2, then Wl (θ, i) is Wl (
θ-1. It is smaller than i) and rotates counterclockwise, and for the first time Wl (θ, i) becomes Wl (θ−1゜i
), the process advances to step 323 to determine whether or not it is larger than .

ステップ323では、上記判断を行なうために後述のフ
ラグFLG4が“0”であるか否かを調べる。フラグF
LG4か“0″でないときには、いままで左回転処理が
続けられていたこと含意味するので、現在結県メモリ7
に記憶されたWl(θ+1)が最も大きな半値幅W1で
あり、この角度θのときに、原画像情報が画面に対し正
しい角度にあると判断し、自動角度合せ処理を終了し、
ステップ330の非点隔差検出処理に進む。
In step 323, in order to make the above judgment, it is checked whether a flag FLG4, which will be described later, is "0". Flag F
If LG4 is not "0", it means that the left rotation process has continued until now, so the current memory 7 is
Wl(θ+1) stored in is the largest half width W1, and when this angle θ, it is determined that the original image information is at the correct angle with respect to the screen, and the automatic angle adjustment process is terminated.
The process proceeds to step 330, which is an astigmatism difference detection process.

一方ステップ323においてフラグFLG4か“0”で
あるときには、いままで右回転処理が続けられ、まだ最
も大きな半値幅か検出されていないことを意味するので
さらに右回転処理を続けるためにステップS24に進む
。ステップ324では、右回転処理を行なっていること
を識別するためフラグFLG3に1′°を設定する。次
いでステップ325では工業用テレビカメラ5を次ジ〕
時計方向の角度にするため角度θを“1′′だけ増加し
、再びステップS3に戻る。
On the other hand, if the flag FLG4 is "0" in step 323, it means that the clockwise rotation process has been continued and the largest half width has not yet been detected, so the process advances to step S24 to further continue the clockwise rotation process. . At step 324, the flag FLG3 is set to 1'° to identify that the clockwise rotation process is being performed. Next, in step 325, the industrial television camera 5 is
The angle θ is increased by "1'' to make it a clockwise angle, and the process returns to step S3 again.

また、ステップ320において、Wl (θ、i)がW
l (θ−1.i)よりも小さいと判別されたときには
左回転処理のステップ326に進み、ステップS26に
おいて現在、結果メモリ7に記憶されている半値幅W1
 (θ、1)、W2(θ、i)を1つ前の角度(θ−1
)における半値幅W1(θ−i、1)、W2  (θ−
1.i)で置換える。
Also, in step 320, Wl (θ, i) is W
l (θ-1.i), the process proceeds to step 326 of left rotation processing, and in step S26, the half-width W1 currently stored in the result memory 7
(θ, 1), W2 (θ, i) is the previous angle (θ-1
) at half-value width W1 (θ-i, 1), W2 (θ-
1. Replace with i).

しかる後にステップ327では、現在の角度θとなるま
で、右回転処理がなされたか否かを判別するためフラグ
FLG3が“0”か否かを調べる。
Thereafter, in step 327, it is checked whether the flag FLG3 is "0" in order to determine whether the clockwise rotation process has been performed until the current angle θ is reached.

フラグF L G 3が“0パのときには、ステップS
22乃至325の右回転処理かなされていないことを意
味するので、まだ最も大きな半値幅は検出されずさらに
左回転処理を続けるためステップS28に進む。ステッ
プS28では左回転処理を行なっていることを識別させ
るためフラグF L G 4に“1パを設定し、しかる
後角庇θを“1”たけ減少させて再びステップS3に戻
る。
When the flag FLG3 is “0”, step S
This means that the clockwise rotation processing of 22 to 325 has not been performed, so the largest half-width has not yet been detected and the process advances to step S28 to continue the counterclockwise rotation processing. In step S28, the flag FLG4 is set to ``1'' to identify that the counterclockwise rotation process is being performed, and then the corner eave θ is decreased by 1, and the process returns to step S3.

一方、ステップS27においてフラグFLG3が“0′
″ではないと判断されると、すでに右回転処理がなされ
たことを意味するので、現在の角度θは最も大きな半値
幅W1を与える角度となり、画面に対して原画像情報が
正しい角度にあると判断される。従って、自動角度会せ
処理を終了し、ステップS30の非点隔差検出処理に進
む。
On the other hand, in step S27, the flag FLG3 is “0”.
'', it means that the right rotation process has already been performed, so the current angle θ is the angle that gives the largest half width W1, and the original image information is at the correct angle with respect to the screen. Therefore, the automatic angle matching process is ended and the process proceeds to astigmatism difference detection process in step S30.

このようにして自動焦点きせ処理、自動角度会ぜ処理か
行なわれると、画像メモリ6の原画像格納域OI’b 
A Rには、第5図(a)のように原画像情報が格納さ
れ、またこのときには第5図fb)、。
When automatic focus sharpening processing and automatic angle alignment processing are performed in this way, the original image storage area OI'b of the image memory 6 is
Original image information is stored in AR as shown in FIG. 5(a), and in this case, as shown in FIG. 5(fb).

(C)に示すようなX軸ヒストグラムto′、y軸ヒス
トグラム11′となり、これらを第4図(b)1(C)
におけるX軸ヒストグラム10.Y軸ヒストグラム11
と比べればわかるように、工業用テレビカメラ5か正確
に焦点合せ、角度合せされたときには最大強度MS、半
値幅W1は最も大きくなり、半値幅W2は最も小さくな
る。
The X-axis histogram to' and the y-axis histogram 11' as shown in (C) are obtained, and these are shown in Fig.
X-axis histogram in 10. Y-axis histogram 11
As can be seen from the comparison, when the industrial television camera 5 is accurately focused and angularly adjusted, the maximum intensity MS and the half-width W1 are the largest, and the half-width W2 is the smallest.

ステップS30では、この状態の半値幅W1゜W2から
非点隔差を求める。そしてステップS31では、ステッ
プS30で求めた非点隔差および結果メモリ7に記憶さ
れている最終的な最大強度MS、半値幅W  、W2を
ティスフ Ly イ’jA ”+?18の画面上に表示
する。なおデイスプレィ装置8にはステップS4で得ら
れる原画像情報、ステップS5,36で得られるX軸ヒ
ストグラム10.Y軸ヒストグラム11などがこれらの
処理の都度表示されるものとする。
In step S30, the astigmatism difference is determined from the half-width W1°W2 in this state. Then, in step S31, the astigmatism difference obtained in step S30 and the final maximum intensity MS, half-width W, and W2 stored in the result memory 7 are displayed on the screen of the display. It is assumed that the original image information obtained in step S4, the X-axis histogram 10 and the Y-axis histogram 11 obtained in steps S5 and S36, etc. are displayed on the display device 8 each time these processes are performed.

上述のように、本実施例によれば、原画像格納V40 
RA Rに格納された原画像情報からX軸ヒストグラム
10′、Y軸ヒストグラム11′を作成し、X軸ヒスト
グラムio′、y軸ヒストグラム11′に基づいて最大
強度MS、半値幅W1゜W2.非点隔差を同時に検出し
てその結果をデイスプレィ装置8に表示するようにして
いるので、オペレータにとって炉温な走査線;X択操作
などを何ら必要とすることなく、短時間で定駄的な光点
の強度分布特性を測定することかできる。
As described above, according to this embodiment, the original image storage V40
An X-axis histogram 10' and a Y-axis histogram 11' are created from the original image information stored in RA R, and the maximum intensity MS, half-width W1°W2. Since the astigmatism difference is detected at the same time and the result is displayed on the display device 8, the operator can easily scan the furnace temperature in a short time and without any need for X selection operations. It is also possible to measure the intensity distribution characteristics of a light spot.

さらにX軸ヒストグラム10.Y軸ヒストグラム11か
らその都度検出される最大強度MS(θ。
Furthermore, the X-axis histogram 10. The maximum intensity MS (θ) detected each time from the Y-axis histogram 11.

1)+半値幅W1 (θ、i)に基づいて工業用テレビ
カメラ5の光点に対する自動焦点合せ、自動角度合せを
も行なうようにすれば、オペレータの操作を必要とする
ことなく、非点隔差、半値幅W  、 W2 、最大強
度MSが正確に検出されるので、操作性および光点の強
度分布特性の測定精度を著しく向りさせることが可能と
なる。
1) If automatic focusing and automatic angle adjustment of the light spot of the industrial television camera 5 are performed based on + half width W1 (θ, i), the astigmatism can be achieved without requiring operator operation. Since the distance difference, the half width W2, W2, and the maximum intensity MS are accurately detected, it becomes possible to significantly improve the operability and the measurement accuracy of the intensity distribution characteristics of the light spot.

なお、工業用テレビカメラ5が測定されるべき光点に対
して予め正確に位置決めされているような場合には、ス
テラピンクモータによる自動焦点なぜ処理、自動角度合
せ処理を行なう必要はない。
Note that if the industrial television camera 5 is accurately positioned in advance with respect to the light spot to be measured, it is not necessary to perform the automatic focus processing and automatic angle adjustment processing by the Stellar Pink motor.

また自動角度合せ処理を工業用テレビカメラ5を回転さ
せることにより行なわすとも、第4図(a)に示ずよう
な正しくない角度の原画像情報に対して回転演算子を作
用させてアフィン変換によりソフトウェア処理で第5図
(a)に示すような正しい角度の原画1象情報を得るよ
うにしても良い。
Furthermore, even if automatic angle adjustment processing is performed by rotating the industrial television camera 5, affine transformation is performed by applying a rotation operator to the original image information at an incorrect angle as shown in FIG. 4(a). Information on the original image at the correct angle as shown in FIG. 5(a) may be obtained through software processing.

[発明の効果〕 以1−に説明したように、本発明によれば、撮像した光
点の画像を所定の軸方向に射影累積させてヒストグラム
を作り、このヒストグラムから光点の強度分布特性を検
出するようにしているので、光点の強度分布を極めて簡
単な操作で定置的にかつ迅速に測定することができる。
[Effects of the Invention] As explained in 1- below, according to the present invention, a histogram is created by projecting and accumulating captured images of a light spot in a predetermined axis direction, and the intensity distribution characteristics of the light spot are determined from this histogram. Since the light spot is detected, the intensity distribution of the light spot can be measured stationarily and quickly with extremely simple operations.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の光点測定装置の構成図、第2図は第1
図に示ず光点測定装置の処理流れを示すフローチャート
、第3図は工業用テレビカメラの移動、回転を説明する
ための図、第4図は工業用テレビカメラの焦点、合せお
よび角度合せかなされていない状態の光点強度分布特性
を説明するための図であり、第4図(a)は原画像情報
を示す図、第4図(b) 、 (C)はそれぞれX軸ヒ
ストグラム、Y軸ヒストグラムを示す図、第5図は工業
用テレビカメラの焦点合せおよび角度合せかなされた状
態の光点強度分布特性を説明するための図であり、し 第5図(a)は原画(@情報を示す図、第5図(#) 
。 (C)はそれぞれX軸ヒストグラム、Y軸ヒストグラム
を示す図、第6図は工業用テレビカメラの焦点合せを説
明するための図であり、第6図(a)は前進処理を説明
するための図、第6図(b)は後退処理を説明するため
の図、第7図は一般的な半導体レーザを示す図、第8図
(a)は第7図に示す半導体レーザから出力される光点
の強度分布特性を説明するだめの図、第8図(kl)は
第7図に示す半導体レーザから出力される水平横モード
の光の波面を示す図、第9図は従来の光点測定装置の構
成図である。 特許用1傾人   浜松ポトニクス株式会社代理人  
弁理士  植  本  雅  泊第3図 第4図 1二 第5図 第6図 第7図 第8図 (a) (b)
Fig. 1 is a configuration diagram of the light spot measuring device of the present invention, and Fig. 2 is a block diagram of the light spot measuring device of the present invention.
A flowchart (not shown) showing the processing flow of the light point measuring device, Figure 3 is a diagram to explain the movement and rotation of an industrial television camera, and Figure 4 is a diagram for explaining the focus, alignment, and angle adjustment of an industrial television camera. FIG. 4(a) is a diagram showing original image information, and FIG. 4(b) and (C) are X-axis histograms and Y-axis histograms, respectively. FIG. 5 is a diagram showing an axial histogram, and is a diagram for explaining the light spot intensity distribution characteristics of an industrial television camera when the focus and angle are adjusted. Diagram showing information, Figure 5 (#)
. (C) is a diagram showing an X-axis histogram and a Y-axis histogram, respectively, FIG. 6 is a diagram for explaining focusing of an industrial television camera, and FIG. 6(a) is a diagram for explaining forward processing. Figure 6(b) is a diagram for explaining the retreat process, Figure 7 is a diagram showing a general semiconductor laser, and Figure 8(a) is the light output from the semiconductor laser shown in Figure 7. Figure 8 (kl) is a diagram showing the wavefront of the horizontal transverse mode light output from the semiconductor laser shown in Figure 7. Figure 9 is a diagram showing the conventional light spot measurement. It is a block diagram of a device. Agent for patent use Hamamatsu Potonics Co., Ltd.
Patent Attorney Masa Tomari Uemoto Figure 3 Figure 4 Figure 12 Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8 (a) (b)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 光点を撮像する撮像手段と、撮像手段で撮像された光点
の画像を所定の軸方向に射影し累積させてヒストグラム
を作成するヒストグラム作成手段と、作成されたヒスト
グラムから光点の強度分布特性を検出する検出手段とを
備えていることを特徴とする光点測定装置。
an imaging means for imaging a light spot; a histogram creation means for creating a histogram by projecting and accumulating images of the light spot taken by the imaging means in a predetermined axis direction; and an intensity distribution characteristic of the light spot based on the created histogram. A light spot measuring device comprising: a detection means for detecting.
JP63002296A 1988-01-08 1988-01-08 Apparatus for measuring light spot Pending JPH01178832A (en)

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JP63002296A JPH01178832A (en) 1988-01-08 1988-01-08 Apparatus for measuring light spot

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63002296A JPH01178832A (en) 1988-01-08 1988-01-08 Apparatus for measuring light spot

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JP63002296A Pending JPH01178832A (en) 1988-01-08 1988-01-08 Apparatus for measuring light spot

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JP (1) JPH01178832A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6154252A (en) * 1996-11-13 2000-11-28 Nec Corporation Imaging device for use as radiation detector

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