JPH01176072A - イオンプレーティング装置 - Google Patents
イオンプレーティング装置Info
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- JPH01176072A JPH01176072A JP33222187A JP33222187A JPH01176072A JP H01176072 A JPH01176072 A JP H01176072A JP 33222187 A JP33222187 A JP 33222187A JP 33222187 A JP33222187 A JP 33222187A JP H01176072 A JPH01176072 A JP H01176072A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
被処理基板上に薄膜の形成を行うイオンプレーティング
装置に関し、 低真空度の状態でもイオンプレーティングを可能とする
ことを目的とし、 真空チャンバ内に低圧ガスを導入し、電界を印加してプ
ラズマを生じさせ、蒸発源から蒸発した粒子を該プラズ
マN域に通してイオン化せしめ、該イオン化した粒子が
反対極性をもつ被処理基板に加速衝突して膜形成を行う
イオンプレーティング装置において、前記蒸発源からの
蒸発をアーク放電を使用してイオンプレーディング装置
を構成する。
装置に関し、 低真空度の状態でもイオンプレーティングを可能とする
ことを目的とし、 真空チャンバ内に低圧ガスを導入し、電界を印加してプ
ラズマを生じさせ、蒸発源から蒸発した粒子を該プラズ
マN域に通してイオン化せしめ、該イオン化した粒子が
反対極性をもつ被処理基板に加速衝突して膜形成を行う
イオンプレーティング装置において、前記蒸発源からの
蒸発をアーク放電を使用してイオンプレーディング装置
を構成する。
本発明はイオンプレーティング装置の改良に関する。
大量の情報を高速に処理する必要から情報処理装置の発
達は著しく、この装置を構成する半導体部品および各種
部品は集積化による小形化が進んでいる。
達は著しく、この装置を構成する半導体部品および各種
部品は集積化による小形化が進んでいる。
こ\で、部品の小形化はパターンの微細化により行われ
ている場合が多く、これは薄膜形成技術と写真蝕刻技術
(フォトリソグラフィ或いは電子線リソグラフィ)によ
り行われている。
ている場合が多く、これは薄膜形成技術と写真蝕刻技術
(フォトリソグラフィ或いは電子線リソグラフィ)によ
り行われている。
さて、薄膜形成技術には真空蒸着法、スパッタリング法
、電子ビーム蒸着法などの物理的な膜形成法や化学気相
成長法(略称CVD法)など各種の方法があるが、電極
や配線などのパターンが微小になるに従って被処理基板
からの剥離によるパターン不良が増加していることから
、被処理基板との密着性の向上が重要であり、この点か
ら密着性の良いイオンプレーティングによる膜形成が着
目されている。
、電子ビーム蒸着法などの物理的な膜形成法や化学気相
成長法(略称CVD法)など各種の方法があるが、電極
や配線などのパターンが微小になるに従って被処理基板
からの剥離によるパターン不良が増加していることから
、被処理基板との密着性の向上が重要であり、この点か
ら密着性の良いイオンプレーティングによる膜形成が着
目されている。
イオンプレーティング法は真空蒸着装置内に低圧ガスを
導入し、これに電界を印加してプラズマを起こさせ、こ
のプラズマの中に蒸発源から蒸発した原子状の粒子を導
入してイオン化させ、これをイオンの極性と反対の極性
をもつ被処理基板に吸引して衝突させ、析出させる方法
である。
導入し、これに電界を印加してプラズマを起こさせ、こ
のプラズマの中に蒸発源から蒸発した原子状の粒子を導
入してイオン化させ、これをイオンの極性と反対の極性
をもつ被処理基板に吸引して衝突させ、析出させる方法
である。
そのため、真空蒸着法やスパッタリング法によるよりも
密着性のよい膜を得ることができる。
密着性のよい膜を得ることができる。
第1図は本発明に係るイオンプレーティング装置の構成
を示す断面図であるが、アーク放電を行うアークノズル
lの部分を除いて従来と変わらない。
を示す断面図であるが、アーク放電を行うアークノズル
lの部分を除いて従来と変わらない。
すなわち、イオンプレーティング装置2はプラズマを形
成する低圧ガスの導入口3と排気系に繋がる排気口4を
備えて構成されており、真空チャンバ5の中には蒸発源
6.低圧ガスを活性化させる基板支持台Iが設けられて
いる。
成する低圧ガスの導入口3と排気系に繋がる排気口4を
備えて構成されており、真空チャンバ5の中には蒸発源
6.低圧ガスを活性化させる基板支持台Iが設けられて
いる。
そしてイオンプレーティング法としては排気系を動作さ
せて真空チャンバ5を10−’ torr以上の真空度
に排気したる後、導入口3よりアルゴン(Ar)などの
ガスを微量ずつ導入し、真空チャンバ5の中を10−”
torr程度の定常状態に保った状態で蒸発源6より
膜形成材料を蒸発せしめ、RFコイル7などで構成され
るイオン化領域を通過させることにより、蒸発してきた
原子状の粒子をイオン化させる。
せて真空チャンバ5を10−’ torr以上の真空度
に排気したる後、導入口3よりアルゴン(Ar)などの
ガスを微量ずつ導入し、真空チャンバ5の中を10−”
torr程度の定常状態に保った状態で蒸発源6より
膜形成材料を蒸発せしめ、RFコイル7などで構成され
るイオン化領域を通過させることにより、蒸発してきた
原子状の粒子をイオン化させる。
こ\で、材料の蒸発法およびイオン化法には各種の方法
がある。
がある。
すなわち、蒸発法には、
■ 蒸発材料が充填されている坩堝に通電して加熱し、
蒸発させる抵抗加熱法、 ■ 電子ビームを照射して加熱する方法、などがある。
蒸発させる抵抗加熱法、 ■ 電子ビームを照射して加熱する方法、などがある。
またイオン化法としては、
■ 基板支持台を陰極に、蒸発源を陽極として直流電界
を加えてグロー放電を起こさせ、これによりイオン化す
る直流法。
を加えてグロー放電を起こさせ、これによりイオン化す
る直流法。
■ RFコイルに13.56 MllzO高周波電流を
通じて発振させて振動電界をつ(す、RFコイルの中の
ガスを励起させ、これにより蒸発してきた原子状の粒子
をイオン化する高周波法。
通じて発振させて振動電界をつ(す、RFコイルの中の
ガスを励起させ、これにより蒸発してきた原子状の粒子
をイオン化する高周波法。
などがある。
こ\で、商用化されているイオンプレーティング装置は
蒸発法として電子ビーム加熱法を用い、イオン化法とし
て第1図に示すような高周波法を用いるものが多い。
蒸発法として電子ビーム加熱法を用い、イオン化法とし
て第1図に示すような高周波法を用いるものが多い。
か−る構成のイオンプレーティング装置を用いてイオン
プレーティングを行う場合、膜形成速度を向上するには
蒸発源から蒸発してくる原子のイオン化を促進すればよ
く、そのためにはRFコイルの振動電界によって励起し
ているイオンの量を増せばよい。
プレーティングを行う場合、膜形成速度を向上するには
蒸発源から蒸発してくる原子のイオン化を促進すればよ
く、そのためにはRFコイルの振動電界によって励起し
ているイオンの量を増せばよい。
それには真空チャンバ内の真空度を低めることが必要で
ある。
ある。
然し、真空度を10−’ torr以下に低めると電子
ビーム蒸着部に異常放電が生じて目的とする材料の蒸発
が行われなくなる。
ビーム蒸着部に異常放電が生じて目的とする材料の蒸発
が行われなくなる。
すなわち、第3図は電子ビーム蒸着機を構成するE形電
子銃11の断面図であって、蒸発材料12が入っており
、冷却水19により冷却されている坩堝13と、低圧電
源によって加熱されるフィラメント14と、電子を放出
する電子銃15と、電子ビーム16を形成する高圧電源
17と、電子ビーム16を偏向させるマグネット18を
備えて構成されている。
子銃11の断面図であって、蒸発材料12が入っており
、冷却水19により冷却されている坩堝13と、低圧電
源によって加熱されるフィラメント14と、電子を放出
する電子銃15と、電子ビーム16を形成する高圧電源
17と、電子ビーム16を偏向させるマグネット18を
備えて構成されている。
然し、装置内の真空度が1O−3torr以下にまで低
下すると、電子ビーム16は従来のように偏向さ−こ− れて蒸発材料12を照射するこはなくなり、真空チャン
バへの直接放電が行われるようになる。
下すると、電子ビーム16は従来のように偏向さ−こ− れて蒸発材料12を照射するこはなくなり、真空チャン
バへの直接放電が行われるようになる。
このように従来の装置では真空度を下げてRFコイル7
によるガスのイオン化を増加させることができず、この
対策が必要であった。
によるガスのイオン化を増加させることができず、この
対策が必要であった。
以上記したように従来のイオンプレーティング装置は蒸
発材料を蒸発させるのに電子ビーム蒸着法が使用されて
いたが、この場合は真空度が10”’torr以下にま
で下がると異常放電を生ずるので使えないことが問題で
あった。
発材料を蒸発させるのに電子ビーム蒸着法が使用されて
いたが、この場合は真空度が10”’torr以下にま
で下がると異常放電を生ずるので使えないことが問題で
あった。
上記の問題は真空蒸着装置内に低圧ガスを導入し、電界
を印加してプラズマを生じさせ、蒸発源から蒸発した粒
子を該プラズマ領域に通してイオン化せしめ、該イオン
化した粒子が反対極性をもつ被処理基板に加速衝突して
膜形成を行うイオンプレーティング装置において、前記
蒸発源からの蒸発をアーク放電を用いて行うイオンプレ
ーディング装置の使用により解決することができる。
を印加してプラズマを生じさせ、蒸発源から蒸発した粒
子を該プラズマ領域に通してイオン化せしめ、該イオン
化した粒子が反対極性をもつ被処理基板に加速衝突して
膜形成を行うイオンプレーティング装置において、前記
蒸発源からの蒸発をアーク放電を用いて行うイオンプレ
ーディング装置の使用により解決することができる。
本発明は蒸発材料の蒸発を従来の電子ビーム蒸発法に代
えてアーク蒸着法を用いることにより低真空度において
も蒸発を可能にするものである。
えてアーク蒸着法を用いることにより低真空度において
も蒸発を可能にするものである。
こ\で、アーク蒸発法は坩堝に入れである蒸発材料と放
電電極との間に直接にアークを飛ばせて蒸発させてもよ
いが、蒸発材料が導電性とは限らぬのでアーク放電によ
りプラズマ化した高温ガスを蒸発源に吹き付け、この熱
により蒸発材料を蒸発させるのが好ましい。
電電極との間に直接にアークを飛ばせて蒸発させてもよ
いが、蒸発材料が導電性とは限らぬのでアーク放電によ
りプラズマ化した高温ガスを蒸発源に吹き付け、この熱
により蒸発材料を蒸発させるのが好ましい。
なお、今まで低真空で蒸発源を加熱して蒸発させる場合
は蒸発材料が酸化され、良質の蒸着膜が得られないため
、蒸発はなるべく高真空で行われているが、このアーク
蒸発の雰囲気はアルゴン(Ar)などの不活性雰囲気で
あり、そのため1O−3torr以下の真空度になって
も蒸発材料が酸化されることはない。
は蒸発材料が酸化され、良質の蒸着膜が得られないため
、蒸発はなるべく高真空で行われているが、このアーク
蒸発の雰囲気はアルゴン(Ar)などの不活性雰囲気で
あり、そのため1O−3torr以下の真空度になって
も蒸発材料が酸化されることはない。
第1図↓よ本発明に係るイオンプレーティング装置の断
面図であり、第2図はアークノズルの外観図(A)と断
面図(B)を示している。
面図であり、第2図はアークノズルの外観図(A)と断
面図(B)を示している。
こ\で、第2図に示すアークノズル1はダイヤモンドの
合成などに使用する薄膜形成用のアークノズルであって
、放電用の電極はグラファイトからなる円筒状の外極2
0と中央にありグラファイト製の棒状の内極21よりな
り、この間に電圧を印加すると共に両極の間に不活性ガ
ス(この場合Ar)を供給してアーク放電を起こさせて
10000℃以上噴出させて蒸発させるものである。
合成などに使用する薄膜形成用のアークノズルであって
、放電用の電極はグラファイトからなる円筒状の外極2
0と中央にありグラファイト製の棒状の内極21よりな
り、この間に電圧を印加すると共に両極の間に不活性ガ
ス(この場合Ar)を供給してアーク放電を起こさせて
10000℃以上噴出させて蒸発させるものである。
そのため、本発明に係るイオンプレーティング装置は充
分な排気能力を備えていることが必要である。
分な排気能力を備えていることが必要である。
実施例として、第1図に示す蒸発源6として鉄(Fe)
のベレットを用いて水冷されている坩堝に充填し、被処
理基板9としてガラスを使用した。
のベレットを用いて水冷されている坩堝に充填し、被処
理基板9としてガラスを使用した。
そして導入口3から窒素(N2)ガスを少量ずつ導入し
、排気口4から排気しつ\、RFコイル7に高周波電界
を加えて発振させ、RFコイル7の中のN2ガスをイオ
ン化させ、イオン化領域を形成した状態で、アークノズ
ル1から高温のArガスを蒸発源6のFeペレットに噴
射して蒸発せしめ、イオン化領域の中でイオン化させて
ガラスからなる被処理基板9に析出させた。
、排気口4から排気しつ\、RFコイル7に高周波電界
を加えて発振させ、RFコイル7の中のN2ガスをイオ
ン化させ、イオン化領域を形成した状態で、アークノズ
ル1から高温のArガスを蒸発源6のFeペレットに噴
射して蒸発せしめ、イオン化領域の中でイオン化させて
ガラスからなる被処理基板9に析出させた。
このような方法を用いるとFeイオンとNイオンとが同
時に被処理基板9に衝突して放電するので、両者の化合
物である窒化鉄(FeJ)の薄膜を従来の電子ビーム加
熱によるイオンプレーティング法に較べ、遥かに早く作
ることができる。
時に被処理基板9に衝突して放電するので、両者の化合
物である窒化鉄(FeJ)の薄膜を従来の電子ビーム加
熱によるイオンプレーティング法に較べ、遥かに早く作
ることができる。
本発明に係るイオンプレーティング装置の使用により、
従来の電子ビーム加熱を使用するイオンプレーティング
法に較べ、皇かに早い膜形成を行うことができる。
従来の電子ビーム加熱を使用するイオンプレーティング
法に較べ、皇かに早い膜形成を行うことができる。
第1図は本発明に係るイオンプレーティング装置の断面
図、 第2図はアークノズルの外観(A)と断面図CB)。 第3図は電子ビーム蒸着機を構成するE形電子銃の断面
図、 である。 図において、 1はアークノズル、 2はイオンプレーティング装置、 3は導入口、 4は排気口、5は真空チャ
ンバ、 6は薫発源、7はRFコイル、
9は被処理基板、20は外極、 2
1は内極、22はノズル、 である。
図、 第2図はアークノズルの外観(A)と断面図CB)。 第3図は電子ビーム蒸着機を構成するE形電子銃の断面
図、 である。 図において、 1はアークノズル、 2はイオンプレーティング装置、 3は導入口、 4は排気口、5は真空チャ
ンバ、 6は薫発源、7はRFコイル、
9は被処理基板、20は外極、 2
1は内極、22はノズル、 である。
Claims (1)
- 真空チャンバ(5)内に低圧ガスを導入し、電界を印加
してプラズマを生じさせ、蒸発源(6)から蒸発した粒
子を該プラズマ領域に通してイオン化せしめ、該イオン
化した粒子が反対極性をもつ被処理基板(9)に加速衝
突して膜形成を行うイオンプレーティング装置において
、前記蒸発源(6)からの蒸発をアーク放電を用いて行
うことを特徴とするイオンプレーティング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33222187A JPH01176072A (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | イオンプレーティング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33222187A JPH01176072A (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | イオンプレーティング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01176072A true JPH01176072A (ja) | 1989-07-12 |
Family
ID=18252526
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33222187A Pending JPH01176072A (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | イオンプレーティング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01176072A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008247486A (ja) * | 2008-07-11 | 2008-10-16 | Takahisa Watanabe | エアコン室外機の包装装置 |
-
1987
- 1987-12-29 JP JP33222187A patent/JPH01176072A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008247486A (ja) * | 2008-07-11 | 2008-10-16 | Takahisa Watanabe | エアコン室外機の包装装置 |
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