JPH01171347U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH01171347U JPH01171347U JP6753888U JP6753888U JPH01171347U JP H01171347 U JPH01171347 U JP H01171347U JP 6753888 U JP6753888 U JP 6753888U JP 6753888 U JP6753888 U JP 6753888U JP H01171347 U JPH01171347 U JP H01171347U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arm
- sample
- jig
- needle
- marking
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
第１図は本考案の表面分析用のけがき加工用治
具の全体を示す斜視図、第２図Ａは従来のけがき
加工方法を示す正面図、第２図Ｂは本考案のけが
き加工用治具を用いる方法を示す正面図、第３図
は本考案のけがき加工用治具を用いる方法を示す
斜視図である。 １…試料台、２…カバー、３…アーム、４…突
起部、５…針、６…針固定ねじ、７…真空フラン
ジ、８…ベローズ真空継手、９…ロツド、１０…
加工針、１１…分析試料、１２…試料移動ステー
ジ、１３…試料交換棒、１４…試料パーキング、
１５ａ，１５ｂ…Ｕ字型フオーク、１６…試料ホ
ルダー、１７…けがき加工用治具。
具の全体を示す斜視図、第２図Ａは従来のけがき
加工方法を示す正面図、第２図Ｂは本考案のけが
き加工用治具を用いる方法を示す正面図、第３図
は本考案のけがき加工用治具を用いる方法を示す
斜視図である。 １…試料台、２…カバー、３…アーム、４…突
起部、５…針、６…針固定ねじ、７…真空フラン
ジ、８…ベローズ真空継手、９…ロツド、１０…
加工針、１１…分析試料、１２…試料移動ステー
ジ、１３…試料交換棒、１４…試料パーキング、
１５ａ，１５ｂ…Ｕ字型フオーク、１６…試料ホ
ルダー、１７…けがき加工用治具。
Claims (1)
- 表面分析装置に付属する試料交換機構に適合す
る形状を有する試料台に、前後に摺動可能なアー
ムと、アームを保持、収納するカバーを設け、ア
ームの先端にけがき加工するための針を具備する
ことを特徴とする表面分析用のけがき加工用治具
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6753888U JPH01171347U (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6753888U JPH01171347U (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01171347U true JPH01171347U (ja) | 1989-12-05 |
Family
ID=31292910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6753888U Pending JPH01171347U (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01171347U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0552721A (ja) * | 1991-08-22 | 1993-03-02 | Hitachi Ltd | 試料の分離方法及びこの分離方法で得た分離試料の分析方法 |
-
1988
- 1988-05-24 JP JP6753888U patent/JPH01171347U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0552721A (ja) * | 1991-08-22 | 1993-03-02 | Hitachi Ltd | 試料の分離方法及びこの分離方法で得た分離試料の分析方法 |