JPH01171316A - Clock signal fault detecting circuit - Google Patents
Clock signal fault detecting circuitInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はクロック信号異常検出回路に係り、特に論理L
SIに分配されるクロック信号の異常状態を検出するタ
ロツク信号異常検出回路に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to a clock signal abnormality detection circuit, and particularly to a clock signal abnormality detection circuit.
The present invention relates to a tarlock signal abnormality detection circuit that detects an abnormal state of a clock signal distributed to an SI.
本発明は論理装置に供給される、通常一定周期でハイレ
ベルとローレベルとの間で変化するクロック信号の周期
が長くなったり、あるいはクロックパルスが出力されな
かったりするようなりロック信号の異常状態を検出する
ものであるが、従来はこのようにクロック信号の異常状
態を検出していなかった。The present invention deals with abnormal states of the lock signal, such as the period of the clock signal supplied to the logic device, which usually changes between high and low levels at a constant period, or the clock pulse is not output. However, conventionally, abnormal states of clock signals have not been detected in this way.
一般に論理装置を構成する論理L S I (Larg
eScale Integration )には通常、
一定周期のクロック信号が供給されており、このクロッ
ク信号が一時的に出力されなかったり、あるいは周期が
長くなったりするといったクロック信号の異常状態が発
生すると論理装置は誤動作を生じる。In general, logic LSI (Larg
eScale Integration) typically includes
A clock signal with a constant cycle is supplied, and if an abnormal state of the clock signal occurs such that the clock signal is temporarily not output or the cycle becomes long, the logic device malfunctions.
従来はこのようなりロック信号の異常状態を検出する手
段がなかったために論理装置の誤動作がクロック信号の
異常に起因するものか、あるいはそれ以外の原因による
ものかを判定できないという問題があった。Conventionally, there was no means for detecting such an abnormal state of the lock signal, so there was a problem in that it was impossible to determine whether the malfunction of the logic device was caused by an abnormality in the clock signal or another cause.
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
簡単な構成でクロック信号の異常状態を検出することが
できるクロック信号異常検出回路を提供することを目的
とするものである。The present invention was made in view of these circumstances, and
It is an object of the present invention to provide a clock signal abnormality detection circuit that can detect an abnormal state of a clock signal with a simple configuration.
本発明に係るクロック信号異常検出回路は、−対のトラ
ンジスタのエミッタが共通接続されかつ定電流源に接続
されると共に、これら一対のトランジスタの一方のトラ
ンジスタのベース電位がスイッチングの基準となるスレ
ッシュホールドレベルに設定されかつ他のトランジスタ
のベースには一定周期のクロック信号が入力され相互に
逆相関係にある2つの信号を出力するカレントスイッチ
回路と、トランジスタと抵抗とからなりこのカレントス
イッチ回路から出力される2つの信号のうちそれぞれ、
一方の信号を受ける2つのエミッタフォロアと、これら
2つのエミッタフォロアの出力端と電源またはアースと
の間にそれぞれ接続されるコンデンサと、前記した2つ
のエミッタフォロアの出力電圧のうち一方がカレントス
イッチ回路のスイッチングのスレッシュホールドレベル
以下になった状態を検出する検出回路とを有する。In the clock signal abnormality detection circuit according to the present invention, the emitters of a pair of transistors are commonly connected and connected to a constant current source, and the base potential of one of the transistors in the pair is a threshold that serves as a reference for switching. This current switch circuit consists of a transistor and a resistor, and a current switch circuit that outputs two signals that are set at the same level and have a constant period and are in an antiphase relationship to each other by inputting a clock signal of a constant period to the base of another transistor, and a transistor and a resistor. Of the two signals that are
Two emitter followers that receive one of the signals, a capacitor connected between the output ends of these two emitter followers and the power supply or ground, and one of the output voltages of the two emitter followers described above is a current switch circuit. and a detection circuit that detects a state in which the switching threshold level has become lower than the switching threshold level.
2つのエミッタフォロアを構成する抵抗および前記した
コンデンサの定数は、この2つのエミッタフォロアにカ
レントスイッチ回路からの相互に逆相関係にある2つの
信号が入力されている際にこれら2つのエミッタフォロ
アの出力電圧のうち一方が前記スレッシュホールドレベ
ル以下にならない値に選択される。The constants of the resistors and the above-mentioned capacitors that constitute the two emitter followers are such that when two signals having mutually opposite phases from the current switch circuit are input to the two emitter followers, One of the output voltages is selected to a value that does not fall below the threshold level.
また2つのエミッタフォロアを構成する抵抗の代りに定
電流源を用いてもよい。Further, a constant current source may be used instead of the resistors forming the two emitter followers.
以上のように構成することにより本発明によれば論理装
置の誤動作がクロック信号異常によるものか否かを判定
することができる。With the above configuration, according to the present invention, it is possible to determine whether a malfunction of a logic device is due to an abnormality in the clock signal.
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図には本発明に係るクロック信号異常検出回路の一
実施例の構成が示されている。同図において、クロック
信号異常検出回路はカレントスイッチ回路10と、2つ
のエミッタフォロア11.12と、これらのエミッタフ
ォロア11.12の出力端とアース間に接続されるコン
デンサC1、C2と、OR回路13とから構成されてい
る。FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of a clock signal abnormality detection circuit according to the present invention. In the figure, the clock signal abnormality detection circuit includes a current switch circuit 10, two emitter followers 11.12, capacitors C1 and C2 connected between the output ends of these emitter followers 11.12 and ground, and an OR circuit. It consists of 13.
カレントスイッチ回路10はトランジスタQ1 、Q2
、Qs および抵抗し、R2、R3からなりトランジ
スタQ、 、Q2 のエミッタは共通接続され、トラ
ンジスタQ3 、抵抗R3により定電流駆動されるよう
に構成されている。またトランジスタQ1 のベースに
はクロック信号が入力され、トランジスタQ2のベース
電位はカレントスイッチ回路10におけるスイッチング
の基準となるスレッシュホールドレベルに設定され、本
実施例では−1,2Vである。因みにトランジスタQ3
のベース電位により定電流回路の電流値が決定され、こ
のベース電位はカレントスイッチ回路10の出力信号1
03.104の電圧振幅(絶対値)が0.8■になるよ
うに設定される。The current switch circuit 10 includes transistors Q1 and Q2.
, Qs and resistors R2 and R3, the emitters of transistors Q, , Q2 are commonly connected, and are configured to be driven at a constant current by transistor Q3 and resistor R3. A clock signal is input to the base of the transistor Q1, and the base potential of the transistor Q2 is set to a threshold level serving as a reference for switching in the current switch circuit 10, which is -1.2V in this embodiment. By the way, transistor Q3
The current value of the constant current circuit is determined by the base potential of , and this base potential is the output signal 1 of the current switch circuit 10.
The voltage amplitude (absolute value) of 03.104 is set to 0.8■.
エミッタフォロア11はトランジスタQ4 および抵抗
R1より、またエミッタフォロア12はトランジスタQ
、および抵抗R5よりそれぞれなり、これらの出力信号
105.106はNΔNDゲート131.132.13
3からなるOR回路13に入力されるようになっている
。Emitter follower 11 is connected to transistor Q4 and resistor R1, and emitter follower 12 is connected to transistor Q4.
, and resistor R5, and their output signals 105, 106 are connected to NΔAND gates 131, 132, 13.
The signal is input to an OR circuit 13 consisting of 3.
またカレントスイッチ回路10とエミッタフォロア回路
11.12により一般的なECL(εm1tter C
oupIed Logic)回路が構成されている。In addition, the current switch circuit 10 and the emitter follower circuit 11.12 provide a general ECL (εm1tter C
ouupIed Logic) circuit is configured.
なお、カレントスイッチ回路10の出力端における論理
“0”を0■〜0.4■、論理“1”を−0,4V〜−
〇、8■に、またカレントスイッチ回路10の入力端、
エミッタフォロア11.12の出力端およびOR回路1
3の出力端における −論理“0”を−0,8V〜−1
,2■、論理“1”を−1,2v〜−1,6■と定義す
る。Note that the logic "0" at the output terminal of the current switch circuit 10 is 0■ to 0.4V, and the logic "1" is -0.4V to -.
〇, 8■, and the input terminal of the current switch circuit 10,
Output terminal of emitter follower 11.12 and OR circuit 1
-Logic "0" at the output terminal of 3 -0,8V to -1
, 2■, and logic "1" is defined as -1,2v to -1,6■.
上記構成からなるクロック信号異常検出回路の動作を第
2図および第3図のタイミングチャートを参照して説明
する。The operation of the clock signal abnormality detection circuit having the above configuration will be explained with reference to the timing charts of FIGS. 2 and 3.
第2図はクロック信号が正常である場合についての回路
動作が、また第3図にはクロック信号が異常である場合
についての回路動作がそれぞれ、示されている。FIG. 2 shows the circuit operation when the clock signal is normal, and FIG. 3 shows the circuit operation when the clock signal is abnormal.
まずカレントスイッチ回路10の入力4100にハイレ
ベルが一〇、8V、ローレベルが−1,6V周期Tなる
クロック信号(第2図(a))が入力されると、カレン
トスイッチ10の一方の出力端からはクロック信号と同
相でハイレベルが0■、ローレベルが−0,8vの信号
103が、また他方の出力端からはクロック信号とは逆
相でハイレベルが0■、ローレベルが Q、3V(7)
信号104がエミッタフォロアlL12におけるトラン
ジスタQ、 、Qsのベースに出力される(第2図(b
) 、(C) )。このときに信号103が論理“
1”から論理“0″に変化するとエミッタフォロア11
のトランジスタQ4 は導通状態となり、コンデンサC
3は充電される。First, when a clock signal with a high level of 10.8V and a low level of -1.6V with a cycle T is input to the input 4100 of the current switch circuit 10 (Fig. 2(a)), one output of the current switch 10 From one end, a signal 103 that is in phase with the clock signal has a high level of 0■ and a low level of -0.8V, and from the other output end, a signal 103 that is in phase with the clock signal has a high level of 0■ and a low level of Q. , 3V (7)
A signal 104 is output to the bases of transistors Q, , Qs in emitter follower IL12 (see Fig. 2(b)).
), (C)). At this time, the signal 103 is logic “
When the logic changes from “1” to “0”, the emitter follower 11
Transistor Q4 becomes conductive, and capacitor C
3 is charged.
また信号103が論理“0”から論理“1”に変化する
とトランジスタQ4 は非導通状態となり、コンデンサ
C4に蓄積された電荷は抵抗R4を介して放電される。Further, when the signal 103 changes from logic "0" to logic "1", transistor Q4 becomes non-conductive, and the charge accumulated in capacitor C4 is discharged via resistor R4.
しかし、信号103が論理“1”である期間T/2では
、エミッタフォロア11の出力信号105のレベルが−
1,2V(これはカレントスイッチ回路10のスイッチ
ングのスレッシュホールドレベルである)以下にならな
いように抵抗R4%コンデンサC1の定数が選択されて
いる。したがってカレントスイッチ回路10の入力端1
00に第2図(a)に示すごときパルス幅T/2、周期
Tのクロック信号ガイド入力されればエミッタフォロア
11の出力端における信号レベルは論理“O”になって
いる(第2図(d))。However, during period T/2 when the signal 103 is at logic "1", the level of the output signal 105 of the emitter follower 11 is -
The constants of the resistor R4% and the capacitor C1 are selected so that the voltage does not go below 1.2V (this is the switching threshold level of the current switch circuit 10). Therefore, the input terminal 1 of the current switch circuit 10
When a clock signal with a pulse width T/2 and a period T as shown in FIG. d)).
同様にエミッタフォロア12の出力端の信号レベルも論
理“0”の状態が保持されるように抵抗R5、コンデン
サC2の定数が選択されている。Similarly, the constants of the resistor R5 and capacitor C2 are selected so that the signal level at the output end of the emitter follower 12 is maintained at logic "0".
したがってこれら2つのエミッタフォロア11.12の
出力信号105.106(第2図(d) 、(e))
の論理和をとるOR回路13の出力端の信号レベルは論
理“0”となっている。(第2図(f))。Therefore, the output signals 105, 106 of these two emitter followers 11, 12 (Fig. 2(d), (e))
The signal level at the output end of the OR circuit 13 which calculates the logical sum of , is logic "0". (Figure 2(f)).
次にクロック信号が異常である場合の回路動作について
説明する。Next, the circuit operation when the clock signal is abnormal will be explained.
カレントスイッチ回路10の入力1100に第3図(a
)に示すようなりロックパルスが一つ分、抜けてクロッ
クパルスの周期が一時的に長くなったようなりロック信
号が入力されたとする。この場合にカレントスイッチ回
路10の出力信号104のレベルが論理“1”になって
いる期間が3T/2となり(第3図(C))、コンデン
サC2に蓄積された電荷が抵抗R5を介して放電される
時間が長くなる。このためにエミッタフォロア12の出
力信号が上記3T/2の期間内にカレントスイッチ回路
10のスイッチングのスレッシュホールドレベルである
−1.2 ■より低くなって論理“1″となり、それゆ
えOR回路13の出力端107における信号レベルは論
理“1”となる(第3図(e) 、(f) )。3 (a) at the input 1100 of the current switch circuit 10.
As shown in ), it is assumed that one lock pulse is missed and the clock pulse period becomes temporarily longer, and a lock signal is input. In this case, the period during which the level of the output signal 104 of the current switch circuit 10 is logic "1" is 3T/2 (FIG. 3(C)), and the charge accumulated in the capacitor C2 is transferred via the resistor R5. Discharging time becomes longer. For this reason, the output signal of the emitter follower 12 becomes lower than the switching threshold level of the current switch circuit 10 (-1.2) within the period of 3T/2 and becomes logic "1", and therefore the OR circuit 13 The signal level at the output terminal 107 becomes logic "1" (FIGS. 3(e) and 3(f)).
以上に説明したように本実施例によれば入力信号として
パルス幅T/2、周期Tの正常なりロック信号が入力端
に入力されているときには出力端の信号レベルは常に論
理”0”に保持され、クロック信号として一つでもクロ
ックパルスが一時的に出力されないと出力端の信号レベ
ルが論理“1”となり、クロック信号の異常状態を検出
することができる。As explained above, according to this embodiment, when a normal lock signal with pulse width T/2 and period T is input to the input terminal as an input signal, the signal level at the output terminal is always maintained at logic "0". If even one clock pulse is temporarily not output as a clock signal, the signal level at the output terminal becomes logic "1", and an abnormal state of the clock signal can be detected.
またクロック信号の周期が長くなった場合にも同様にク
ロック信号の異常として検出される。Furthermore, when the period of the clock signal becomes longer, it is similarly detected as an abnormality of the clock signal.
以上に説明したように本発明ではECL回路に簡単な回
路を付加し、これらの回路定数を入力信号であるクロッ
ク信号が正常でない場合にのみ出力信号のレベルが変化
するように選択したので、本発明によればクロック信号
の異常状態の検出が可能な簡単な構成のクロック信号異
常検出回路を実現できる。As explained above, in the present invention, a simple circuit is added to the ECL circuit, and these circuit constants are selected so that the level of the output signal changes only when the clock signal, which is the input signal, is not normal. According to the invention, it is possible to realize a clock signal abnormality detection circuit with a simple configuration capable of detecting an abnormal state of a clock signal.
したがって本発明に係るクロック信号異常検出回路を論
理装置に使用すれば論理装置が誤動作した際にその誤動
作がクロック信号の異常によるものか否かを判定するこ
とができる。Therefore, if the clock signal abnormality detection circuit according to the present invention is used in a logic device, when the logic device malfunctions, it can be determined whether the malfunction is due to an abnormality in the clock signal.
第1図は本発明に係るクロック信号異常検出回路の一実
施例の構成を示す回路図、第2図はクロック信号が正常
である場合におけるクロック信号異常検出回路の各部の
動作状態を示すタイミングチャート、第3図はクロック
信号が異常である場合におけるクロック信号異常検出回
路の各部の動作状態を示すタイミングチャートである。
10・・・・・・カレントスイッチ回路、11.12・
・・・・・エミッタフォロア、13・・・・・・OR回
路、
Ql 〜Q5・・・・・・トランジスタ、C+ 、C
2・・・・・・コンデンサ、R1〜R5・・・・・・抵
抗、
1 3 1〜1 33 ・・・ ・・・ NAND
ゲ − ト 。
出願人 日本電気株式会社
代理人 弁理士 山内侮雄FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of an embodiment of the clock signal abnormality detection circuit according to the present invention, and FIG. 2 is a timing chart showing the operating state of each part of the clock signal abnormality detection circuit when the clock signal is normal. , FIG. 3 is a timing chart showing the operating state of each part of the clock signal abnormality detection circuit when the clock signal is abnormal. 10...Current switch circuit, 11.12.
...Emitter follower, 13...OR circuit, Ql to Q5...Transistor, C+, C
2... Capacitor, R1-R5... Resistor, 1 3 1-1 33... NAND
Gate. Applicant NEC Corporation Agent Patent Attorney Masao Yamauchi
Claims (1)
定電流源に接続されると共に、前記一対のトランジスタ
の一方のトランジスタのベース電位がスイッチングの基
準となるスレッシュホールドレベルに設定され、かつ他
のトランジスタのベースには一定周期のクロック信号が
入力され相互に逆相関係にある2つの信号を出力するカ
レントスイッチ回路と、 トランジスタと抵抗とからなりこのカレントスイッチ回
路から出力される2つの信号のうちそれぞれ、一方の信
号を受ける2つのエミッタフォロアと、 これら2つのエミッタフォロアの出力端と電源またはア
ースとの間にそれぞれ接続されるコンデンサと、 前記2つのエミッタフォロアの出力電圧のうち一方がカ
レントスイッチ回路のスイッチングのスレッシュホール
ドレベル以下になった状態を検出する検出回路とを有し
、 前記2つのエミッタフォロアを構成する抵抗および前記
コンデンサの定数は、この2つのエミッタフォロアにカ
レントスイッチ回路からの相互に逆相関係にある2つの
信号が入力されている際にこれら2つのエミッタフォロ
アの出力電圧の一方が前記スレッシュホールドレベル以
下にならない値に選択されることを特徴とするクロック
信号異常検出回路。 2、前記2つのエミッタフォロアを構成する抵抗の代り
に定電流源を接続することを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載のクロック信号異常検出回路。[Claims] 1. The emitters of the pair of transistors are commonly connected and connected to a constant current source, and the base potential of one of the pair of transistors is set to a threshold level serving as a reference for switching. , and a current switch circuit that receives a clock signal of a fixed period and outputs two signals having a mutually antiphase relationship to the base of the other transistor, and a current switch circuit that is made up of a transistor and a resistor and outputs from this current switch circuit. two emitter followers each receiving one of the two signals; a capacitor connected between the output ends of these two emitter followers and a power supply or ground; and one of the output voltages of the two emitter followers. a detection circuit that detects a state in which one of the current switch circuits has become lower than the switching threshold level of the current switch circuit; A clock signal characterized in that when two signals having mutually opposite phases from a circuit are input, one of the output voltages of these two emitter followers is selected to a value that does not fall below the threshold level. Abnormality detection circuit. 2. The clock signal abnormality detection circuit according to claim 1, wherein a constant current source is connected in place of the resistors constituting the two emitter followers.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32829487A JPH01171316A (en) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | Clock signal fault detecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32829487A JPH01171316A (en) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | Clock signal fault detecting circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01171316A true JPH01171316A (en) | 1989-07-06 |
Family
ID=18208621
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32829487A Pending JPH01171316A (en) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | Clock signal fault detecting circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01171316A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6597204B2 (en) | 2000-11-10 | 2003-07-22 | Nec Corporation | Clock interruption detection circuit |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5123045A (en) * | 1974-08-20 | 1976-02-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd |
-
1987
- 1987-12-26 JP JP32829487A patent/JPH01171316A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5123045A (en) * | 1974-08-20 | 1976-02-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd |
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US6597204B2 (en) | 2000-11-10 | 2003-07-22 | Nec Corporation | Clock interruption detection circuit |
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