JPH01123110A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
- Publication number
- JPH01123110A JPH01123110A JP28190687A JP28190687A JPH01123110A JP H01123110 A JPH01123110 A JP H01123110A JP 28190687 A JP28190687 A JP 28190687A JP 28190687 A JP28190687 A JP 28190687A JP H01123110 A JPH01123110 A JP H01123110A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- threshold
- output
- warning
- photo detector
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- Pending
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 9
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Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、測距装置、詳しくは、像位相ずれ検出方式の
自動焦点調節（以下、ＡＰと略記する）カメラに使用さ
れる測距装置に関する。
自動焦点調節（以下、ＡＰと略記する）カメラに使用さ
れる測距装置に関する。
［従来の技術］
周知のように、像位相ずれ検出方式は、被写体距離の情
報を、所謂、三角測距法の原理を使って検出する方法で
ある。この種の測距装置は、特開昭５８−５８４１０号
公報記載の距離検出装置を始めとして、従来より数多く
知られている。その−例を示す第４図において、図示し
ない被写体からの反射光が異なる光路を通って平面ミラ
ー２１゜２２に投射されて得られる被写体像は、三角プ
リズム２３．複数枚のレンズ２４を経て、それぞれ光電
変換用受光素子列２５．２６に入射するようになってい
る。そして、平面ミラー２１の角度を変化させ、上記受
光素子列２５．２６の出力をそれぞれ電気的に演算処理
し、比較することによって被写体距離の測定、つまり合
焦検出が可能となる。このような二眼式の測距方法以外
にも、例えば、上記平面ミラーが配設されている箇所を
レンズで置換し、そのレンズの右側を通過する光束と、
左側を通過する光束とを分離して検出するという測距方
法もある。いずれにせよ、被写体の位置に対応して受光
素子列上の像の位置がずれることを利用して測距するも
ので、そのためには、異なった光路を通過してくる被写
体像を比較する必要がある。
報を、所謂、三角測距法の原理を使って検出する方法で
ある。この種の測距装置は、特開昭５８−５８４１０号
公報記載の距離検出装置を始めとして、従来より数多く
知られている。その−例を示す第４図において、図示し
ない被写体からの反射光が異なる光路を通って平面ミラ
ー２１゜２２に投射されて得られる被写体像は、三角プ
リズム２３．複数枚のレンズ２４を経て、それぞれ光電
変換用受光素子列２５．２６に入射するようになってい
る。そして、平面ミラー２１の角度を変化させ、上記受
光素子列２５．２６の出力をそれぞれ電気的に演算処理
し、比較することによって被写体距離の測定、つまり合
焦検出が可能となる。このような二眼式の測距方法以外
にも、例えば、上記平面ミラーが配設されている箇所を
レンズで置換し、そのレンズの右側を通過する光束と、
左側を通過する光束とを分離して検出するという測距方
法もある。いずれにせよ、被写体の位置に対応して受光
素子列上の像の位置がずれることを利用して測距するも
ので、そのためには、異なった光路を通過してくる被写
体像を比較する必要がある。
［発明が解決しようとする問題点］
この際、異なった光路のうちの一方の光路を通過する光
束が手などで遮ぎられたり、あるいは−方の光路上に塵
埃等が付着して入射光束が著しく弱まってしまうような
ことがあると、誤動作つまり、測距誤差の原因となる。
束が手などで遮ぎられたり、あるいは−方の光路上に塵
埃等が付着して入射光束が著しく弱まってしまうような
ことがあると、誤動作つまり、測距誤差の原因となる。
そこで、本発明の目的は、上述の問題点を解消し、異な
る光路を通過してきた被写体光をそれぞれ光電変換して
得た出力相互間のレベル差が、予じめ設定された閾値を
超えたときに警告が行なわれるようにした測距装置を提
供するにある。
る光路を通過してきた被写体光をそれぞれ光電変換して
得た出力相互間のレベル差が、予じめ設定された閾値を
超えたときに警告が行なわれるようにした測距装置を提
供するにある。
［問題点を解決するための手段および作用］本発明の測
距装置は、一対の結像光学系に各別に対応して光電変換
手段を設けられた像位相ずれ検出方式の測距装置であっ
て、上記両光電変換手段の各出力を比較手段で比較し、
この比較手段の出力レベル差が所定値以上のときに警報
のた吟の信号を発生する。
距装置は、一対の結像光学系に各別に対応して光電変換
手段を設けられた像位相ずれ検出方式の測距装置であっ
て、上記両光電変換手段の各出力を比較手段で比較し、
この比較手段の出力レベル差が所定値以上のときに警報
のた吟の信号を発生する。
［実 施 例］
以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する。第１
図は、本発明の一実施例に係る測距装置のブロック図で
ある。第１図において、被写体１からの反射光は異なる
光路を通ってＡＦ用結像レンズ２Ａ、２Ｂに入射される
。同レンズ２Ａ。
図は、本発明の一実施例に係る測距装置のブロック図で
ある。第１図において、被写体１からの反射光は異なる
光路を通ってＡＦ用結像レンズ２Ａ、２Ｂに入射される
。同レンズ２Ａ。
２Ｂにより集束された被写体像は、平面ミラー３Ａ、３
Ｂおよび三角プリズム４を経て、受光素子列５上にそれ
ぞれの被写体像が結像される。受光素子列５は、第２図
に示すように、細かい単位受光素子５（１） ” （２
） ’ ・・・・・・’ ５（２ｎ）がセンサ基板１３
上にアレイ状に集合して配設されてなり、図のように第
１の受光部５Ａと第２の受光部５Ｂとに分けられている
。
Ｂおよび三角プリズム４を経て、受光素子列５上にそれ
ぞれの被写体像が結像される。受光素子列５は、第２図
に示すように、細かい単位受光素子５（１） ” （２
） ’ ・・・・・・’ ５（２ｎ）がセンサ基板１３
上にアレイ状に集合して配設されてなり、図のように第
１の受光部５Ａと第２の受光部５Ｂとに分けられている
。
受光素子列５上の信号電荷は、続出タイミング回路６か
ら各受光素子ごとの信号電荷が順次読出され、アナログ
スイッチ等からなるスイッチ回路７に供給される。また
、受光素子列５の出力は、ＡＦ動作を行なわせるための
ＡＦ倍信号して図示しない周知のＡＦ回路に送られるよ
うになっている。
ら各受光素子ごとの信号電荷が順次読出され、アナログ
スイッチ等からなるスイッチ回路７に供給される。また
、受光素子列５の出力は、ＡＦ動作を行なわせるための
ＡＦ倍信号して図示しない周知のＡＦ回路に送られるよ
うになっている。
上記受光素子列５からの信号電荷列はスイッチ回路７に
おいて読出タイミング回路６のタイミングパルスにより
切換えられ、第１の受光部５Ａの信号電荷は積分回路８
Ａとサンプルホールド回路９Ａを経て、第２の受光部５
Ｂ上の信号電荷は積分回路８Ｂとサンプルホールド回路
９Ｂを経て、それぞれ差動増幅回路１０に入力される。
おいて読出タイミング回路６のタイミングパルスにより
切換えられ、第１の受光部５Ａの信号電荷は積分回路８
Ａとサンプルホールド回路９Ａを経て、第２の受光部５
Ｂ上の信号電荷は積分回路８Ｂとサンプルホールド回路
９Ｂを経て、それぞれ差動増幅回路１０に入力される。
差動増幅回路１０の出力は閾値検出回路１１を介し警報
回路１２に供給される。
回路１２に供給される。
このように構成されている本実施例は次のように作動す
る。図示しない制御回路からの制御信号が読出しタイミ
ング回路６に供給されると、同タイミング回路６はまず
、スイッチ回路７のトランスファ接点を端子７Ａ側に接
続させるようにスイッチ回路７を切り換えるとともに、
読出しタイミングパルス列を受光素子列５に送って第１
の受光部５Ａの各受光素子の信号電荷を順次読み出す。
る。図示しない制御回路からの制御信号が読出しタイミ
ング回路６に供給されると、同タイミング回路６はまず
、スイッチ回路７のトランスファ接点を端子７Ａ側に接
続させるようにスイッチ回路７を切り換えるとともに、
読出しタイミングパルス列を受光素子列５に送って第１
の受光部５Ａの各受光素子の信号電荷を順次読み出す。
すなわち、第２図に示す受光素子列５において、読出し
タイミングパルス列の最初の読出しパルスで受光素子５
（１）上の信号電荷を、２番目の読出しパルスで受光素
子５（２）上の信号電荷を、以下同様にして第１の受光
部５Ａの各受光素子上の信号電荷を順次読み出していく
。受光素子列５を構成する単位受光素子の全個数を２ｎ
としたとき、読み出しタイミングパルスのｎ個目が出力
されて第１の受光部５Ａ上の受光素子５（ｎ）上の信号
電荷が読み出されると、次に読出タイミング回路６はス
イッチ回路７のトランスファ接点を端子７Ｂ側に切換え
るとともに、読出しタイミングパルスにより第２の受光
部５Ｂの各受光素子の信号電荷を同様にして順次読み出
していく。
タイミングパルス列の最初の読出しパルスで受光素子５
（１）上の信号電荷を、２番目の読出しパルスで受光素
子５（２）上の信号電荷を、以下同様にして第１の受光
部５Ａの各受光素子上の信号電荷を順次読み出していく
。受光素子列５を構成する単位受光素子の全個数を２ｎ
としたとき、読み出しタイミングパルスのｎ個目が出力
されて第１の受光部５Ａ上の受光素子５（ｎ）上の信号
電荷が読み出されると、次に読出タイミング回路６はス
イッチ回路７のトランスファ接点を端子７Ｂ側に切換え
るとともに、読出しタイミングパルスにより第２の受光
部５Ｂの各受光素子の信号電荷を同様にして順次読み出
していく。
第３図は、このようにして各受光素子から順次出力され
た信号電荷の量、つまり出力と、その包路線を示した線
図である。
た信号電荷の量、つまり出力と、その包路線を示した線
図である。
上記第１の受光部５Ａの受光素子５（１）〜５（ｎ）か
ら読出された信号電荷は積分回路８Ａにて積分され、積
分出力がサンプルホールド回路９Ａに保持される。また
、第２の受光部５Ｂの受光素子５ 〜５ から読出
された信号電荷（ｎ＋１） （２ｎ） は、積分回路８Ｂにて積分され、積分出力がサンプルホ
ールド回路９Ｂに保持される。
ら読出された信号電荷は積分回路８Ａにて積分され、積
分出力がサンプルホールド回路９Ａに保持される。また
、第２の受光部５Ｂの受光素子５ 〜５ から読出
された信号電荷（ｎ＋１） （２ｎ） は、積分回路８Ｂにて積分され、積分出力がサンプルホ
ールド回路９Ｂに保持される。
これら両ホールド信号は差動増幅回路１０に供給される
と、両積分出力の差に応じた電圧が検出され、この差動
増幅回路１０の出力電圧は閾値検出回路１１に供給され
、ここで予じめ設定されている閾値電圧と比較される。
と、両積分出力の差に応じた電圧が検出され、この差動
増幅回路１０の出力電圧は閾値検出回路１１に供給され
、ここで予じめ設定されている閾値電圧と比較される。
従って、例えば上記受光部５Ａ、５Ｂのうちの一方への
入射光路が手などで塞がれたり、塵埃などによって入射
光量が著しく低下した場合には、両積分回路８Ａ、 ８
Ｂの一方の出力が極度に低下することになるので、この
ときは、差動増幅回路１０の出力電圧が閾値電圧を超え
ることとなり、閾値検出回路１１から警報回路１２を作
動させる信号が出力される。この信号によって警報回路
１２が警報作動することにより操作者は上記検出光学系
の光路に異常を生じたことを知ることができる。
入射光路が手などで塞がれたり、塵埃などによって入射
光量が著しく低下した場合には、両積分回路８Ａ、 ８
Ｂの一方の出力が極度に低下することになるので、この
ときは、差動増幅回路１０の出力電圧が閾値電圧を超え
ることとなり、閾値検出回路１１から警報回路１２を作
動させる信号が出力される。この信号によって警報回路
１２が警報作動することにより操作者は上記検出光学系
の光路に異常を生じたことを知ることができる。
なお、警報としては、例えばブザーを鳴らすようにして
もよいし、あるいは、ファインダ内に発光ダイオードの
表示手段を設けて点滅させてもよく、周知の技術手段を
用いることができる。
もよいし、あるいは、ファインダ内に発光ダイオードの
表示手段を設けて点滅させてもよく、周知の技術手段を
用いることができる。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、ＡＦ左カメラおいて
正規の測距が行なわれ得ない場合、その状況を操作者が
認識し得るので、適切な対応をとることが可能となる効
果を有する。
正規の測距が行なわれ得ない場合、その状況を操作者が
認識し得るので、適切な対応をとることが可能となる効
果を有する。
第１図は、本発明の一実施例に係る測距装置のブロック
図、 第２図は、上記第１図中の受光素子列の平面図、第３図
は、上記第２図における受光素子列の出力電圧を示す線
図、 第４図は、従来の三角測距式光学系の一例を示す光路図
である。
図、 第２図は、上記第１図中の受光素子列の平面図、第３図
は、上記第２図における受光素子列の出力電圧を示す線
図、 第４図は、従来の三角測距式光学系の一例を示す光路図
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 像位相ずれ検出方式の測距装置の一対の結像光学系に各
別に対応して設けられた両光電変換手段と、 この両光電変換手段の各出力を比較する比較手段と、 この比較手段の出力レベルに基づいて警報信号を得る手
段と、 を具備してなることを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28190687A JPH01123110A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28190687A JPH01123110A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01123110A true JPH01123110A (ja) | 1989-05-16 |
Family
ID=17645605
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28190687A Pending JPH01123110A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01123110A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1132726A2 (de) * | 2000-03-02 | 2001-09-12 | Sick AG | Vorrichtung zur Ermittlung der Lichtlaufzeit |
| JP2005351711A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Topcon Corp | 測量機 |
-
1987
- 1987-11-06 JP JP28190687A patent/JPH01123110A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1132726A2 (de) * | 2000-03-02 | 2001-09-12 | Sick AG | Vorrichtung zur Ermittlung der Lichtlaufzeit |
| JP2005351711A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Topcon Corp | 測量機 |
| JP4630004B2 (ja) * | 2004-06-09 | 2011-02-09 | 株式会社トプコン | 測量機 |
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