JPH01101411A - Micro-device for level - Google Patents

Micro-device for level

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JPH01101411A
JPH01101411A JP25922187A JP25922187A JPH01101411A JP H01101411 A JPH01101411 A JP H01101411A JP 25922187 A JP25922187 A JP 25922187A JP 25922187 A JP25922187 A JP 25922187A JP H01101411 A JPH01101411 A JP H01101411A
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scale
parallel plane
plane glass
reading
amount
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裕 田中
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Sokkisha Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To eliminate an error in measured value by arranging parallel plane glass in front of an objective and reading the tilt quantity of this parallel plane glass by an encoder. CONSTITUTION:Parallel light from a light emitting element 122 which is passed through a collimator lens 123 passes through the slit between a scale member 3 and a mask scale 3a. Variation in the quantity of light generated by the superposition of the scale member 3 and mask member 3a is photodetected by a photodetecting element 131 and converted into a photocurrent, which is converted by an HV amplifier into a voltage. The photocurrent in the form of the voltage is inputted to a comparator 135 from a cos and a sin signal. The output of a rectangular wave which is waveform-shaped by the circuit 135 and has a phase difference is made into a signal and counted by an UP/ DOWN counter 134, which is projected on a display device 111 through a CPU 113.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は水準測量に用いる水準儀のマイクロ装置に係り
、特に水準儀に組付けて使用し、或いは一体に組込まれ
てなる、標尺目盛の端数読取りに用いられる水準儀のマ
イクロ装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a micro device for a leveling device used in leveling, and in particular, to a micro device for a leveling device used in a leveling device, or for reading fractions of a leveling scale, which is used or integrated into a leveling device. This article relates to a micro device for a leveling instrument used in

[従来の技術] 従来から標尺目盛の端数読取り用のマイクロ装置につい
ては、種々のものが用いられている。
[Prior Art] Various types of microdevices for reading fractions of a leveling rod scale have been used in the past.

第3図乃至第5図は従来例を示すものであり、第3A図
は水準儀にマイクロ装置を組付けた側面図、第3B図は
マイクロ装置の概略構成図、第3C図は水準儀テレスコ
ープ視野内の標尺目盛と平行平面ガラスとの関係を示す
説明図である。
Figures 3 to 5 show conventional examples; Figure 3A is a side view of the micro device assembled to the leveling instrument, Figure 3B is a schematic configuration diagram of the micro device, and Figure 3C is the field of view of the leveling telescope. FIG. 3 is an explanatory diagram showing the relationship between the leveling scale scale and the parallel plane glass.

第3A図で示すマイクロ装置Sは、水準儀4oの対物レ
ンズ前方に組付けて使用される例を示す。
The micro device S shown in FIG. 3A is used by being assembled in front of the objective lens of the leveling instrument 4o.

つまみである目盛ドラム41には、ビニオン42が連設
されており、該ピニオン42にはラック43が噛み合っ
ている。ラック43の先端側にはラックピン44を介し
てレバー45が連結されており、、該レバー45には平
行平面ガラス46が連結されている。また平行平面ガラ
ス46は、軸47によってマイクロ装置sのケーシング
に枢着されて、矢印方向に揺動できるように構成されて
いる。このような構成では、つまみである目盛ドラム4
1を回転させるとビニオン42によって、ラック43が
摺動し、ラック43の先端側に配置されたラックピン4
4を介してレバー45が揺動し、平行平面ガラス46が
軸47を中心に回動するようになっている。そして第3
C図で示すように、像の平行移動量をe、平行平面ガラ
スの傾斜角をθ、厚さをd、ガラスの屈折率をnとすれ
ば、θ=±25°程度までは、 e = d x (−) t a nθとなる。目盛ド
ラム41を回転させると、レバー45が揺動し、平行平
面ガラス46にθなる回転量を与えることになる。この
左右の移動量は、像の平行移動量eに比例する。従って
、例えばテレスコープ内で、第3C図で示すように、標
尺目盛47と48の間のPIの位置にクロスペア位置が
あったとすると、この目盛47とクロスヘア位置との間
の端数を読取るときに、まず目盛ドラム41を回転させ
てクロスヘアが目盛47の位置となるようにし、このと
きの目盛ドラム41の目盛を読んで端数(例えば0.4
1)を求め、47.41 c mと読取る。つまり平面
ガラス46を0だけ傾斜させて光軸をeだけずらし、こ
のeなる長さが目盛ドラム41の目盛(0,41c、m
)としてあられれるようになっている。
A pinion 42 is connected to the scale drum 41, which is a knob, and a rack 43 is engaged with the pinion 42. A lever 45 is connected to the front end of the rack 43 via a rack pin 44, and a parallel plane glass 46 is connected to the lever 45. Further, the parallel plane glass 46 is pivotally connected to the casing of the micro device s by a shaft 47, and is configured to be able to swing in the direction of the arrow. In such a configuration, the scale drum 4, which is a knob,
1, the rack 43 slides by the pinion 42, and the rack pin 4 disposed on the tip side of the rack 43
A lever 45 swings via the lever 4, and the parallel plane glass 46 rotates around a shaft 47. and the third
As shown in Figure C, if the amount of parallel movement of the image is e, the inclination angle of the parallel plane glass is θ, the thickness is d, and the refractive index of the glass is n, then up to about θ = ±25°, e = d x (-) tanθ. When the scale drum 41 is rotated, the lever 45 swings and applies a rotation amount of θ to the parallel plane glass 46. The amount of horizontal movement is proportional to the amount e of parallel movement of the image. Therefore, for example, in a telescope, if there is a cross-pair position at the PI position between the staff marks 47 and 48, as shown in FIG. 3C, when reading the fraction between this mark 47 and the cross-hair position, , First, rotate the scale drum 41 so that the crosshair is at the position of the scale 47, read the scale on the scale drum 41 at this time, and find a fraction (for example, 0.4
Find 1) and read it as 47.41 cm. In other words, the flat glass 46 is tilted by 0 to shift the optical axis by e, and the length e is the scale of the scale drum 41 (0, 41c, m
).

また第4図は従来の他のマイクロ装置の構成図であり、
これは、上記第3B図で示すマイクロ装置のラック43
に、目盛ガラススケール51を連設し、平行平面ガラス
46の変位置を目盛ガラススケール51の変位置として
示し、目盛ガラススケール51の変位置(0,41cm
)をプリズム53を介してマイクロスコープ52て拡大
して読取るようにしたものである。
Moreover, FIG. 4 is a configuration diagram of another conventional micro device,
This is the rack 43 of the micro device shown in FIG. 3B above.
, a graduated glass scale 51 is arranged in series, and the displaced position of the parallel plane glass 46 is shown as the displaced position of the graduated glass scale 51, and the displaced position of the graduated glass scale 51 (0.41 cm
) is magnified and read using a microscope 52 through a prism 53.

さらに第5A図及び第5B図は他の従来例を示し、第5
A図は水準儀にマイクロ装置を組付けた斜視図、第5B
図はマイクロ装置の概略構成図である。第5A図及び第
5B図に示されるように平行平面ガラス66に回転レバ
ー65を一体化し、回転レバー65につまみ61と連結
されたとニオン62と噛合するラック63を形成してお
き、ピニオン62の回動により平行平面ガラス66が回
動するようにする。そして回転レバー65に目盛板64
を一体に連結したものもある。平行平面ガラス61の回
動量は目盛板64の回動量、即ち、目盛板64の目盛の
変位置としてあられれ、これをマイクロスコープ68で
読取名。この従来例は、平行平面ガラスの回動を目盛板
の回動変位置としているので、上記従来例の回動量な直
線の変位置にする場合に比し、誤差が小さいという特徴
がある。
Furthermore, FIGS. 5A and 5B show other conventional examples, and FIGS.
Figure A is a perspective view of the micro device installed on the leveling instrument, Figure 5B
The figure is a schematic configuration diagram of a micro device. As shown in FIGS. 5A and 5B, a rotating lever 65 is integrated with a parallel plane glass 66, and a rack 63 that is connected to a knob 61 and engages with a nion 62 is formed on the rotating lever 65. The rotation causes the parallel plane glass 66 to rotate. And the scale plate 64 is attached to the rotary lever 65.
Some are connected together. The amount of rotation of the parallel plane glass 61 is expressed as the amount of rotation of the scale plate 64, that is, the displacement position of the scale of the scale plate 64, and this is read with a microscope 68. In this conventional example, since the rotation of the parallel plane glass is used as the rotational change position of the scale plate, the error is smaller than that in the above-mentioned conventional example where the rotation amount is a linear change in position.

[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記第3A図乃至第3C図で示す技術で
は、読取り目盛が円筒の目盛ドラム41であるため、円
筒の径との関係で目盛の幅も小さくなるため、読み取り
精度に限界がある。さらに水準儀40の接眼部から離れ
た前方位置に目盛トラム41が配設されることとなり、
目盛が読みにくいという問題がある。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the technique shown in FIGS. 3A to 3C, the reading scale is a cylindrical scale drum 41, so the width of the scale is also small in relation to the diameter of the cylinder. Therefore, there is a limit to reading accuracy. Furthermore, a scale tram 41 is disposed at a forward position away from the eyepiece part of the leveling instrument 40,
There is a problem that the scale is difficult to read.

第4図及び第5図で示す技術ては、マイクロスコープの
視野の狭い所から読むため、読みすらいという問題かあ
る。またマイクロスコープで読み取るため、自然光の明
暗によって視野の明るさが左右されるという問題もある
The technique shown in FIGS. 4 and 5 has a problem in reading because it is read from a narrow field of view of the microscope. Another problem is that since the images are read using a microscope, the brightness of the field of view is affected by the brightness of natural light.

その上、上記いずれの従来技術においても、アナログ表
示目盛、すなわち目盛ドラムの目盛、マイクローータ観
測窓内に拡大された目盛ガラススケールの目盛等を、観
測者が直接読み取っていたので、長時間の読取り作業で
は疲れやすく、また誤読の可能性という問題もあった。
Furthermore, in any of the above conventional techniques, the observer directly reads the analog display scale, that is, the scale on the scale drum, the scale on the scale glass magnified in the micrometer observation window, etc., so it takes a long time to read. It was easy to get tired while working, and there was also the problem of the possibility of misreading.

[問題点を解決するための手段] 本発明は上記問題点を解決するためになされたものであ
り、本発明の水準儀のマイクロ装置は、水準儀の光軸で
あって対物レンズ前方の平行平面ガラスを配置し、前記
平行平面ガラスを傾ける手段と、該平行平面ガラスの傾
斜量をエンコーダによって読取らせる目盛読取手段と、
該目盛読取手段によって得た信号を処理する回路手段と
、該回路手段によって処理された結果を表示する表示手
段と、を備えてなる構成とする。
[Means for Solving the Problems] The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and the leveling micro device of the present invention has a parallel plane glass that is on the optical axis of the level and in front of the objective lens. a means for tilting the parallel plane glass; a scale reading means for reading the amount of inclination of the parallel plane glass with an encoder;
The configuration includes circuit means for processing the signal obtained by the scale reading means, and display means for displaying the results processed by the circuit means.

[作用] まず、平行平面ガラスを用いたマイクロ装置を第1B図
で説明する。一般に表尺の目盛間隔は、通常10mm又
はS m m間隔で形成されている。
[Function] First, a micro device using parallel plane glass will be explained with reference to FIG. 1B. Generally, the scale interval of a scale is usually 10 mm or S mm.

これを水準儀の望遠鏡の焦点板に形成された水平クロス
ヘアー線の示す位置で読みとる。このとき、鎖線で示す
ように、目盛線の間に位置する場合に、その位置を正確
に測定するために、平行平面ガラスを用いて、視軸を平
行移動する。
This is read at the position indicated by the horizontal crosshair line formed on the focus plate of the leveling telescope. At this time, as shown by the chain line, in order to accurately measure the position between the scale lines, the visual axis is translated in parallel using a plane-parallel glass.

一般に、平行平面ガラスの傾き角と視軸の平行移動量の
関係は、前記したように次の式(1)で表わされる。
Generally, the relationship between the inclination angle of parallel plane glass and the amount of parallel movement of the visual axis is expressed by the following equation (1) as described above.

e = d x (−) t a nθ −−−−−−
−−−(1)但し、e:像(視軸)の平行移動量 θ:平行平面ガラスの傾斜角 d:平行平面ガラスの厚さ n:平行平面ガラスの屈折率 ここて、平行平面ガラスの屈折率n及び平行平面ガラス
の厚さdは、設計的に決めればよいもので定数となるの
で。
e = d x (-) tanθ −−−−−−
---(1) However, e: Amount of parallel movement of the image (visual axis) θ: Inclination angle of the parallel plane glass d: Thickness of the parallel plane glass n: Refractive index of the parallel plane glass Here, the parallel plane glass The refractive index n and the thickness d of the parallel plane glass can be determined based on the design and are constants.

に;□・d とおけば、 上記(1)式は、 e=に−tanθ−−− −−−−−−(2”)となる
If we set □・d, the above equation (1) becomes e=−tanθ−−−−−−−−(2”).

よって角度0を検出すれば、視軸の移動量が測定できる
ことになる。
Therefore, if angle 0 is detected, the amount of movement of the visual axis can be measured.

つまり、本願発明は、前記のように構成されているので
、目盛端数は平行平面ガラスの光軸の変位量であり、こ
の光軸変位量は平行平面ガラスの回動量であり、この平
行平面ガラスの回動量は目盛部材の目盛変位量となる。
In other words, since the present invention is configured as described above, the fraction of the scale is the amount of displacement of the optical axis of the parallel plane glass, and this amount of optical axis displacement is the amount of rotation of the parallel plane glass. The rotation amount becomes the scale displacement amount of the scale member.

そして、この目盛部材の目盛の変位量を目盛読取手段に
よって読取り、この目盛読取手段によって得た信号を回
路手段によって処理し、回路手段によって処理された結
果を表示手段によって表示するものである。
The amount of displacement of the scale of this scale member is read by a scale reading means, the signal obtained by the scale reading means is processed by a circuit means, and the result processed by the circuit means is displayed by a display means.

したがって、表示手段(実施例で示すようにデジタル表
示)によるために、誤読がなく、読定価を大きく目視し
易くできる。そのうえ所定回路等を接続すれば、読定単
位を自由に変更することができる。
Therefore, since the display means (digital display as shown in the embodiment) is used, there is no misreading, and the reading price can be clearly seen. Furthermore, by connecting a predetermined circuit, etc., the reading unit can be changed freely.

[実施例] 以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。なお
以下に説明する部材、配置等は本発明を限定するもので
はなく、本発明の趣旨に反しない範囲で種々改変するこ
とができるものである。
[Example] An example of the present invention will be described below based on the drawings. Note that the members, arrangement, etc. described below do not limit the present invention, and can be variously modified without departing from the spirit of the present invention.

第1A図乃至第1D図は本発明の第1実施例を示すもの
であり、第1A図及び第1D図で示すように、本例のマ
イクロ装MSは、水準儀本体9の対物レンズ枠9aにマ
イクロ装置本体ケーシングlが組付けられるようになっ
ている。マイクロ装21sを対物レンズ枠9aに組付け
る手段としては、特に限定されるものではない。なお符
号9bは水準儀の対物レンズである。
1A to 1D show a first embodiment of the present invention, and as shown in FIGS. 1A and 1D, the micro mounting MS of this embodiment is attached to the objective lens frame 9a of the leveling body 9. The micro device main body casing l is now assembled. The means for assembling the micro-mounting 21s to the objective lens frame 9a is not particularly limited. Note that the reference numeral 9b is an objective lens of the leveling instrument.

そして本例のマイクロ装置sは、マイクロ装置本体ケー
シングlに枢着されて傾斜状態を変えることのできる平
行平面ガラス2と、該平行平面ガラス2の傾斜量をエン
コーダによって読取らせる目盛読取手段と、該目盛読取
手段によって得た信号を処理する回路手段と、該回路手
段によって処理された結果を表示する表示手段等とから
構成されている。
The micro device s of this example includes a parallel plane glass 2 which is pivotally attached to the micro device main body casing l and whose inclination state can be changed, and a scale reading means for reading the amount of inclination of the parallel plane glass 2 using an encoder. , circuit means for processing the signal obtained by the scale reading means, and display means for displaying the results processed by the circuit means.

すなわち1本例のマイクロ装置本体ケーシングlの側部
所定個所には、手動つまみである目盛トラム5が配設さ
れ、該目盛ドラム5には、ビニオン6が連設されており
、このビニオン6にはラック部材7が噛み合っている。
That is, a scale tram 5, which is a manual knob, is disposed at a predetermined position on the side of the micro device main body casing l in this example, and a binion 6 is connected to the scale drum 5. The rack members 7 are engaged with each other.

ラック部材7の後備(第1A図において右側)には、目
盛部材3が連続して設けられており、ラック部材7の先
端側にはラックピンフaを介してレバー8が連結されて
いる。このレバー8は平行平面ガラス2と一体に゛連結
されているが、このレバー8は下端部が二股となって、
この二股部にラックピン7a、ラック部材7を介して上
記目盛部材3が係合し、平行平面ガラス2の回動量(傾
爵量)に応じて目盛部材3が前後に摺動できるようにな
っている。
A scale member 3 is continuously provided at the rear of the rack member 7 (on the right side in FIG. 1A), and a lever 8 is connected to the tip side of the rack member 7 via a rack pin a. This lever 8 is integrally connected to the parallel plane glass 2, but the lower end of this lever 8 is bifurcated,
The scale member 3 is engaged with this bifurcated portion via the rack pin 7a and the rack member 7, and the scale member 3 can slide back and forth according to the amount of rotation (tilting amount) of the parallel plane glass 2. There is.

一方、平行平面ガラス2は、対物レンズの光軸上に配置
され、ピン軸2aによってマイクロ装置Sのケーシング
lに枢着されて、このピン軸2aを中心に矢印方向揺動
できるように構成されている。このように、手動つまみ
である目盛ドラム5を回転させるととニオン6によって
、ラック部材7が摺動し、ラック部材7の先端側に配置
されたラックピン7aを介してレバー8が揺動し、平行
平面ガラス2がピン軸2aを中心に回動するようになっ
ている。
On the other hand, the parallel plane glass 2 is arranged on the optical axis of the objective lens, is pivotally connected to the casing l of the micro device S by a pin shaft 2a, and is configured to be able to swing in the direction of the arrow around this pin shaft 2a. ing. In this way, when the scale drum 5, which is a manual knob, is rotated, the rack member 7 is slid by the tongion 6, and the lever 8 is swung through the rack pin 7a arranged on the tip side of the rack member 7. The parallel plane glass 2 is designed to rotate around a pin shaft 2a.

上記目盛部材3には平行平面ガラス2の回動量に応じた
目盛が形成されている。つまり本例の目盛部材3には、
所定間隔で長手方向にスリット3bが形成されており、
目盛部材3の上方(又は下方)には、マスク目盛3aが
配設されている。
A scale corresponding to the amount of rotation of the parallel plane glass 2 is formed on the scale member 3. In other words, the scale member 3 of this example has
Slits 3b are formed in the longitudinal direction at predetermined intervals,
Above (or below) the scale member 3, a mask scale 3a is arranged.

そしてマスク目盛3aには、位相のずれた受光素子co
s、sinの検出窓が設けられており、摺動方向を区別
する。この目盛部材3とマスク部材3aの重ね合せで生
じる光量変化を、受光素子131て検出する目盛読取手
段によって目盛部材3の目盛移動量が読取られるエンコ
ーダとなっている。
Then, on the mask scale 3a, a phase-shifted light-receiving element co
s and sin detection windows are provided to distinguish the sliding direction. The encoder serves as an encoder in which the amount of movement of the scale of the scale member 3 is read by a scale reading means that uses a light receiving element 131 to detect a change in the amount of light caused by overlapping the scale member 3 and the mask member 3a.

本例の目・盛読取手段は、第1C図で示すように、発光
部120.検出部130等から構成されている。
As shown in FIG. 1C, the scale/mark reading means of this example includes a light emitting section 120. It is composed of a detection section 130 and the like.

発光部120は、発光量調整回路121と、発光素子1
22と、コリメータレンズ123等とからなり、発光素
子(発光ダイオード)122は発光量3i整回路121
と接続されており、この発光量調整回路121は発光素
子122の温度特性等を補償する。発光素子122で発
光した光は、コリメータレンズ123で平行にされ、上
記目盛部材3に照射される。
The light emitting unit 120 includes a light emission amount adjustment circuit 121 and a light emitting element 1.
22, a collimator lens 123, etc., and the light emitting element (light emitting diode) 122 is a light emitting amount 3i adjustment circuit 121.
This light emission amount adjustment circuit 121 compensates for the temperature characteristics of the light emitting element 122, etc. The light emitted by the light emitting element 122 is made parallel by the collimator lens 123, and is irradiated onto the scale member 3.

検出部130は、目盛部材3及びマスク目盛3aを通過
した光を受ける受光素子131からなり、該受光素子1
31はcos−、’s in、REF用の各素子からな
る。
The detection unit 130 includes a light receiving element 131 that receives light that has passed through the scale member 3 and the mask scale 3a.
Reference numeral 31 includes elements for cos-, 's-in, and REF.

目盛読取手段によって得た信号を処理する回路手段は、
HVアンプボード及びCPUボードに配設されている。
The circuit means for processing the signal obtained by the scale reading means includes:
It is arranged on the HV amplifier board and CPU board.

HVアンプボードには受光素子131で変換された光電
流を電圧に変換する素子132と、発光量調整回路12
1とが配設されでいる。またCPUボードには、UP/
DOWNカウンタ134と、比較−路135と、A/D
コンバータ136等が配設されている。
The HV amplifier board includes an element 132 that converts the photocurrent converted by the light receiving element 131 into voltage, and a light emission amount adjustment circuit 12.
1 are arranged. Also, the CPU board has UP/
DOWN counter 134, comparison path 135, and A/D
A converter 136 and the like are provided.

表示手段は、CRTや液晶からなるデイスプレィ装gi
llであり、入力部であるキーボード等112と共に、
CPU (中央演算装置)113と接続されてなる。な
お本例のデイスプレィ装置111はマイクロ装置本体ケ
ーシングlの上部に固定している。
The display means is a display device consisting of CRT or liquid crystal.
ll, together with a keyboard etc. 112 which is an input section,
It is connected to a CPU (central processing unit) 113. Note that the display device 111 of this example is fixed to the upper part of the micro device main body casing l.

電源部140はバッテリー141と電源回路142等か
ら構成されており、所定のバッテリー141から所定電
圧電流を発光素子122及び各ボード、表示部等へ供給
するものである。
The power supply section 140 is composed of a battery 141, a power supply circuit 142, etc., and supplies a predetermined voltage and current from the predetermined battery 141 to the light emitting element 122, each board, the display section, etc.

上記構成からなる実施例においては、平行平面ガラスの
傾斜量を検出するため、発光素子122からコリメータ
レンズ123を通った平行光が、目盛部材3とマスク目
盛3aのスリットの間な通り、この目盛部材3とマスク
部材3aの重ね合せで生じる光量変化を、受光素子13
1で受光し、光電流に変換して、HVアンプで電圧に変
換する。電圧に変換された光電流は、cos、sin信
号から比較回路135へ導入される。比較回路135で
波形整形された位相差をもつ矩形波の出力は、UP/D
OWNカウンタ134によって信号化しカウントされ、
CPU113を介してデイスプレィ装置aillに投影
される。同様にA/D;ンバータ136jデジタル信号
に変換され、CPU113を介してデイスプレィ装gi
llに表示される。
In the embodiment having the above configuration, in order to detect the amount of inclination of the parallel plane glass, the parallel light passing from the light emitting element 122 and passing through the collimator lens 123 passes between the slits of the scale member 3 and the mask scale 3a. The light receiving element 13 detects the change in the amount of light caused by overlapping the member 3 and the mask member 3a.
1 receives light, converts it into photocurrent, and converts it into voltage using an HV amplifier. The photocurrent converted into voltage is introduced into the comparison circuit 135 from the cosine and sine signals. The output of the rectangular wave having a phase difference whose waveform has been shaped by the comparator circuit 135 is output from the UP/D
It is converted into a signal and counted by the OWN counter 134,
The image is projected onto the display device aill via the CPU 113. Similarly, the A/D;
ll will be displayed.

一方、受光素子REFは上記発光量調整回路121に導
かれ、発光素子の温度特性等を補償する基準信号にした
り、cos、sin信号を比較回路135で矩形波に整
形する基準信号等としたりする。
On the other hand, the light receiving element REF is guided to the light emission amount adjustment circuit 121, and is used as a reference signal to compensate for the temperature characteristics of the light emitting element, etc., or as a reference signal for shaping the cosine and sine signals into a rectangular wave in the comparator circuit 135. .

なお上記例では光学式のものを例示したが、磁気式のも
のであっても良い。
In the above example, an optical type was illustrated, but a magnetic type may also be used.

また本例では、つまみである目盛ドラム5にも目盛が形
成されており、この目盛ドラム5の目盛を読むことによ
っても、端数を読み取ることもできる。
Further, in this example, a scale is also formed on the scale drum 5, which is a knob, and fractions can also be read by reading the scale on this scale drum 5.

以上のように本例によれば、デジタル表示によっている
ため、周知・公知の単位変換回路等を接続することによ
って、読定単位を自由に変えられる。
As described above, since the present example uses a digital display, the reading unit can be changed freely by connecting a well-known unit conversion circuit or the like.

なお、上記実施例では光学式リニアエンコーダによって
目盛読取り機構を構成したが、光学式ロータリーエンコ
ーダを用いて構成することもてきる。この場合には、例
えば、従来例て示した第6A図及び第6B図で示すよう
な回転レバーに、目盛板に相当する目盛部材を設け、こ
の目盛部材の目盛を、光学式又は磁気式によって読取る
ようにして構成することができる。
In the above embodiment, the scale reading mechanism was constructed using an optical linear encoder, but it may also be constructed using an optical rotary encoder. In this case, for example, a scale member corresponding to a scale plate is provided on the rotary lever as shown in FIGS. 6A and 6B, which are conventional examples, and the scale of this scale member is set by an optical or magnetic method. It can be configured to read.

また第2図は本願発明の表示装置部に関する第2の実施
例を示すものである。
Further, FIG. 2 shows a second embodiment of the display unit of the present invention.

上記実施例そは、マイクロ装置゛本体ケーシング1にデ
イスプレィ装置111を固定しているか、第2図で示さ
れるように、デイスプレィ装置211をフレキレプルコ
ード212を介して接続すれば、目の位置が固定されず
に済む。
In the above embodiment, the display device 111 is fixed to the main body casing 1 of the micro device, or if the display device 211 is connected via a flexible pull cord 212 as shown in FIG. No need to be fixed.

さらに例えばデイスプレィ装置を磁力て、水準儀本体の
テレスコープ近傍に配置するようにすることもできる。
Furthermore, for example, the display device can be placed magnetically in the vicinity of the telescope of the leveling body.

[発明の効果] 本願発明は上述のように構成されており、測定値を読取
る機構によって読み取り、デジタル表示されるため測定
値の誤読がない。また表示装置部が別に形成されるので
、読定値を大きく見やすい大きさにすることができる。
[Effects of the Invention] The present invention is configured as described above, and since the measured values are read by the mechanism that reads them and displayed digitally, there is no misreading of the measured values. Further, since the display unit is formed separately, the reading value can be made large and easy to see.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1実施例を示し、第1A図はブロッ
クダイヤグラム、第1B図は水準儀テレスコープ視野内
の標尺目盛と平行平面ガラスとの関係を示す説明図、第
1C図は検出部の要部説明図、第1D図は水準儀にマイ
クロ装置を組付けた側面図、第2図は本願発明の表示部
に関する第2の実施例を示す概略斜視図であり、第3図
乃至第5図は従来例を示す。 l・・・マイクロ装置本体ケーシング。 2・・・平行平面ガラス、 3−・・目盛部材、5・・
・手動つまみ、   9・・・水準儀、9a・・・対物
レンズ、   10−・・目盛読取機構、130−・・
検出部、   S・・・マイクロ装置。
Fig. 1 shows a first embodiment of the present invention, Fig. 1A is a block diagram, Fig. 1B is an explanatory diagram showing the relationship between the leveling scale scale and the parallel plane glass within the visual field of the leveling telescope, and Fig. 1C is a detection diagram. FIG. 1D is a side view of a leveling instrument with a micro device assembled thereto, FIG. 2 is a schematic perspective view showing a second embodiment of the display section of the present invention, and FIGS. FIG. 5 shows a conventional example. l...Micro device main body casing. 2...Parallel plane glass, 3-...Scale member, 5...
・Manual knob, 9...Level, 9a...Objective lens, 10-...Scale reading mechanism, 130-...
Detection unit, S...micro device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、水準儀の光軸であって対物レンズ前方の平行平面ガ
ラスを配置し、前記平行平面ガラスを傾ける手段と、該
平行平面ガラスの傾斜量をエンコーダによって読取らせ
る目盛読取手段と、該目盛読取手段によって得た信号を
処理する回路手段と、該回路手段によって処理された結
果を表示する表示手段と、を備えてなることを特徴とす
る水準儀のマイクロ装置。
1. A parallel plane glass is arranged on the optical axis of the level and in front of the objective lens, a means for tilting the parallel plane glass, a scale reading means for reading the amount of inclination of the parallel plane glass by an encoder, and a scale reading means. 1. A micro-equipment for a leveling instrument, comprising circuit means for processing a signal obtained by the means, and display means for displaying a result processed by the circuit means.
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