JP7841377B2 - 発光装置、プロジェクター、ディスプレイ、およびヘッドマウントディスプレイ - Google Patents

発光装置、プロジェクター、ディスプレイ、およびヘッドマウントディスプレイ

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Description

本発明は、発光装置、プロジェクター、ディスプレイ、およびヘッドマウントディスプレイに関する。
半導体レーザーは、高輝度の次世代光源として期待されている。中でも、ナノコラムを適用した半導体レーザーは、ナノコラムによるフォトニック結晶の効果によって、狭放射角で高出力の発光が実現できると期待されている。
例えば特許文献1には、n型GaNバッファー層と、複数のGaNナノロッドと、GaNナノロッドの先端部に設けられた透明電極と、n型GaNバッファー層と透明電極との間に設けられた透明絶縁物層と、を備えた発光装置が記載されている。
特表2008-544567号公報
上記のような発光装置では、例えば透明絶縁物層を加工する際に、透明絶縁物層中に電荷が溜まる場合がある。透明絶縁物層中に溜まった電荷は、発光装置の特性に影響を及ぼす。
本発明に係る発光装置の一態様は、
第1半導体層、前記第1半導体層と導電型の異なる第2半導体層、および前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層を有する発光部と、
前記発光部を覆う絶縁層と、
前記絶縁層中に設けられて、前記発光部と電気的に分離され、かつ所定の電位が印加される導電層と、
を有する。
本発明に係るプロジェクターの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
本発明に係るディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
本発明に係るヘッドマウントディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
本実施形態に係る発光装置を模式的に示す断面図。 本実施形態に係る発光装置を模式的に示す平面図。 本実施形態に係る発光装置を模式的に示す平面図。 本実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。 本実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。 本実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。 本実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。 本実施形態に係るプロジェクターを模式的に示す図。 本実施形態に係るディスプレイを模式的に示す平面図。 本実施形態に係るディスプレイを模式的に示す断面図。 本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイを模式的に示す斜視図。 本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイの像形成装置および導光装置を模式的に示す図。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
1. 発光装置
1.1. 構成
まず、本実施形態に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る発光装置100を模式的に示す断面図である。図2は、本実施形態に係る発光装置100を模式的に示す平面図である。なお、図1は、図2のI-I線断面図である。
発光装置100は、図1および図2に示すように、例えば、基板10と、発光部20と、絶縁層40と、導電層50と、第1電極60と、第2電極62と、第1配線70と、第2配線72と、第3配線74と、を有している。発光装置100は、例えば、半導体レーザーである。なお、便宜上、図2では、導電層50および第1電極60以外の部材を省略し、第2配線72および第3配線74を透視して図示している。
基板10は、図1に示すように、例えば、支持基板12と、バッファー層14と、を有している。支持基板12は、例えば、Si基板、GaN基板、サファイア基板、SiC基板などである。
バッファー層14は、支持基板12上に設けられている。バッファー層14は、例えば、Siがドープされたn型のGaN層である。なお、図示はしないが、バッファー層14上には、発光部20の柱状部30を成長させるためのマスク層が設けられていてもよい。マスク層は、例えば、チタン層、酸化シリコン層、酸化チタン層、酸化アルミニウム層などである。
なお、本明細書では、柱状部30の第1半導体層32と発光層34との積層方向(以下、単に「積層方向」ともいう)において、柱状部30の発光層34を基準とした場合、発光層34から柱状部30の第2半導体層36に向かう方向を「上」とし、発光層34から第1半導体層32に向かう方向を「下」として説明する。また、積層方向と直交する方向を「面内方向」ともいう。
発光部20は、基板10上に設けられている。図示の例では、発光部20は、バッファー層14上に設けられている。発光部20は、例えば、複数の柱状部30を有している。
柱状部30は、基板10上に設けられている。柱状部30は、基板10から上方に突出している。柱状部30は、支持基板12に設けられたバッファー層14から上方に突出し
ている。柱状部30は、例えば、ナノコラム、ナノワイヤー、ナノロッド、ナノピラーとも呼ばれる。柱状部30の平面形状は、例えば、正六角形などの多角形、円である。
柱状部30の径は、例えば、50nm以上500nm以下である。柱状部30の径を500nm以下とすることによって、高品質な結晶の発光層34を得ることができ、かつ、発光層34に内在する歪を低減することができる。これにより、発光層34で発生する光を高い効率で増幅することができる。
なお、「柱状部30の径」とは、柱状部30の平面形状が円の場合は、直径であり、柱状部30の平面形状が円ではない形状の場合は、最小包含円の直径である。例えば、柱状部30の径は、柱状部30の平面形状が多角形の場合、該多角形を内部に含む最小の円の直径であり、柱状部30の平面形状が楕円の場合、該楕円を内部に含む最小の円の直径である。
柱状部30は、複数設けられている。複数の柱状部30は、互いに離隔している。図示の例では、隣り合う柱状部30の間は、空隙である。隣り合う柱状部30の間隔は、例えば、1nm以上500nm以下である。複数の柱状部30は、積層方向からみて、所定の方向に所定のピッチで配列されている。複数の柱状部30は、例えば、正三角格子状、正方格子状に配列されている。複数の柱状部30は、フォトニック結晶の効果を発現することができる。
なお、「柱状部30のピッチ」とは、所定の方向に隣り合う柱状部30の中心間の距離である。「柱状部30の中心」とは、柱状部30の平面形状が円の場合は、該円の中心であり、柱状部30の平面形状が円ではない形状の場合は、最小包含円の中心である。例えば、柱状部30の中心は、柱状部30の平面形状が多角形の場合、該多角形を内部に含む最小の円の中心であり、柱状部30の平面形状が楕円の場合、該楕円を内部に含む最小の円の中心である。
柱状部30は、第1半導体層32と、発光層34と、第2半導体層36と、を有している。第1半導体層32、発光層34、および第2半導体層36は、例えば、III族窒化物半導体であり、ウルツ鉱型結晶構造を有している。
第1半導体層32は、バッファー層14上に設けられている。第1半導体層32は、バッファー層14から上方に突出している。第1半導体層32は、基板10と発光層34との間に設けられている。第1半導体層32は、第1導電型の半導体層である。第1導電型は、例えば、n型である。第1半導体層32は、例えば、Siがドープされたn型のGaN層である。
発光層34は、第1半導体層32上に設けられている。発光層34は、第1半導体層32と第2半導体層36との間に設けられている。発光層34は、電流が注入されることで光を発生させる。発光層34は、例えば、ウェル層と、バリア層と、を有している。ウェル層およびバリア層は、不純物が意図的にドープされていないi型の半導体層である。ウェル層は、例えば、InGaN層である。バリア層は、例えば、GaN層である。発光層34は、ウェル層とバリア層とから構成されたMQW(Multiple Quantum Well)構造を有している。
なお、発光層34を構成するウェル層およびバリア層の数は、特に限定されない。例えば、ウェル層は、1層だけ設けられていてもよく、この場合、発光層34は、SQW(Single Quantum Well)構造を有している。
第2半導体層36は、発光層34上に設けられている。第2半導体層36は、発光層34と第2電極62との間に設けられている。第2半導体層36は、第1導電型と異なる第2導電型の半導体層である。第2導電型は、例えば、p型である。第2半導体層36は、例えば、Mgがドープされたp型のGaN層である。第1半導体層32および第2半導体層36は、発光層34に光を閉じ込める機能を有するクラッド層である。
なお、図示はしないが、第1半導体層32と発光層34との間、および発光層34と第2半導体層36との間の少なくとも一方に、i型のInGaN層およびGaN層からなるOCL(Optical Confinement Layer)が設けられていてもよい。また、第2半導体層36は、p型のAlGaN層からなるEBL(Electron Blocking Layer)を有してもよい。
発光装置100では、p型の第2半導体層36、不純物が意図的にドープされていないi型の発光層34、およびn型の第1半導体層32により、pinダイオードが構成される。発光装置100では、第1電極60と第2電極62との間に、pinダイオードの順バイアス電圧を印加すると、発光層34に電流が注入されて発光層34において電子と正孔との再結合が起こる。この再結合により発光が生じる。発光層34で発生した光は、面内方向に伝搬し、複数の柱状部30によるフォトニック結晶の効果により定在波を形成して、発光層34で利得を受けてレーザー発振する。そして、発光装置100は、+1次回折光および-1次回折光をレーザー光として、積層方向に出射する。
なお、図示はしないが、支持基板12とバッファー層14との間、または支持基板12の下に反射層が設けられていてもよい。該反射層は、例えば、DBR(Distributed Bragg Reflector)層である。該反射層によって、発光層34において発生した光を反射させることができ、発光装置100は、第2電極62側からのみ光を出射することができる。
絶縁層40は、基板10上および発光部20上に設けられている。絶縁層40は、基板10および発光部20を覆っている。絶縁層40には、第1コンタクトホール42および第2コンタクトホール44が設けられている。第1コンタクトホール42の底面は、第1電極60で構成されている。第2コンタクトホール44の底面は、第2電極62で構成されている。
絶縁層40は、図1に示すように、例えば、第1層46と、第2層48と、を有している。第1層46は、基板10上および発光部20上に設けられている。第1層46は、基板10と導電層50との間に設けられている。第1層46は、例えば、窒化物からなる層である。第1層46が窒化物からなる層であることにより、発光装置100の耐水性を向上させることができる。第1層46は、例えば、窒化シリコン(SiN)層、酸化窒化シリコン(SiON)層などである。なお、第1層46は、酸化シリコン(SiO)層であってもよい。
第2層48は、第1層46上および導電層50上に設けられている。第2層48は、導電層50と第2配線72との間に設けられている。第2層48の誘電率は、例えば、第1層46の誘電率よりも小さい。第2層48は、例えば、有機物からなる層である。第1層46が有機物からなる層であることにより、絶縁層40の上面の平坦性を向上させることができる。これにより、第2配線72の平坦性を向上させることができる。第2層48は、例えば、ポリイミド層などである。なお、第2層48は、酸化シリコン層であってもよい。すなわち、第1層46を構成する材料と、第2層48を構成する材料とは、異なっていてもよい。第1層46を構成する材料の誘電率と、第2層48を構成する材料の誘電率とは、異なっていてもよい。
導電層50は、絶縁層40中に設けられている。図示の例では、導電層50の上面、下面、および側面は、絶縁層40と接している。導電層50は、絶縁層40の第1層46と第2層48との間に設けられている。導電層50は、基板10と第2配線72との間に設けられている。導電層50は、基板10と第3配線74との間に設けられている。導電層50は、発光部20と電気的に分離されている。導電層50は、発光部20と離隔されている。
導電層50の厚さは、例えば、10nm以上100nm以下であり、好ましくは30nm以上70nm以下である。導電層50と第2配線72との間の積層方向における距離D1は、例えば、導電層50と基板10との間の積層方向における距離D2よりも小さい。積層方向において、導電層50は、発光層34よりも基板10とは反対側に設けられている。図示の例では、導電層50は、発光層34よりも上方に設けられている。
導電層50は、積層方向からみて、発光部20を囲んでいる。導電層50は、積層方向からみて、発光部20と重なっていない。導電層50は、図2に示すように、例えば、リング状の第1部分52と、第1部分52に接続された棒状の第2部分54と、を有している。
導電層50のシート抵抗は、バッファー層14のシート抵抗よりも低い。導電層50のシート抵抗は、例えば、電極60,62および配線70,72,74のシート抵抗よりも低い。導電層50は、導電性を有している。導電層50は、金属層である。導電層50は、例えば、チタン(Ti)層、チタンタングステン(TiW)層である。
導電層50には、所定の電位が印加される。導電層50は、図示せぬ外部端子に接続されている。導電層50は、フローティングになっていない。導電層50に印加される電位は、例えば、第1電極60に印加される電位と異なる電位である。導電層50に印加される電位は、例えば、第2電極62に印加される電位と異なる電位である。
導電層50に印加される電位は、例えば、第1電極60に印加される電位と、第2配線72に印加される電位と、の間の電位である。または、導電層50に印加される電位は、第1電極60に印加される電位と同電位である。または、導電層50に印加される電位は、第2配線72に印加される電位と同電位である。第1電極60がカソードで第2電極62がアノードである場合、導電層50に印加される電位は、例えば、第1電極60に印加される電位よりも大きく、第2配線72に印加される電位よりも小さい。導電層50に印加される電位は、例えば、第1配線70に印加される電位と、第3配線74に印加される電位と、の間の電位である。導電層50に印加される電位は、グランド電位であってもよい。導電層50に印加される所定の電位は、発光装置100の動作中に変化されてもよい。
第1電極60は、図1に示すように、基板10上に設けられている。図示の例では、バッファー層14の一部が掘り込まれ、バッファー層14の掘り込まれた部分に第1電極60が設けられている。バッファー層14は、第1電極60とオーミックコンタクトしていてもよい。第1電極60は、バッファー層14と第1配線70との間に設けられている。第1電極60は、第1半導体層32と電気的に接続されている。図示の例では、第1電極60は、バッファー層14を介して、第1半導体層32と電気的に接続されている。
第1電極60としては、例えば、バッファー層14側から、Cr層、Ni層、Au層の順序で積層されたものなどを用いる。第1電極60は、発光層34に電流を注入するための一方の電極である。第1電極60は、例えば、カソードである。
第2電極62は、発光部20の基板10とは反対側に設けられている。第2電極62は、発光部20上に設けられている。第2電極62は、発光部20と第2配線72との間に設けられている。図示の例では、第2電極62は、第2半導体層36上に設けられている。第2半導体層36は、第2電極62とオーミックコンタクトしていてもよい。図2に示す例では、第2電極62の形状は、円である。
第2電極62は、例えば、第2半導体層36側から、Pd層、Pt層、Ni層、Au層の順序で積層されたものや、金属層の単層である。第2電極62の電気抵抗率は、第2配線72の電気抵抗率よりも小さい。第2電極62の厚さは、第2配線72の厚さよりも小さい。第2電極62は、発光層34に電流を注入するための他方の電極である。第2電極62は、例えば、アノードである。
第1配線70は、図1に示すように、第1電極60上および絶縁層40上に設けられている。第1配線70は、第1コンタクトホール42に位置している。第1配線70は、第1電極60に接続されている。第1配線70の材質は、例えば、第1電極60側から、Cr層、Au層の順序で積層されたものや、金属層の単層である。
第2配線72は、第2電極62上および絶縁層40上に設けられている。第2配線72は、第2コンタクトホール44に位置している。第2配線72は、第2電極62に接続されている。第2配線72は、積層方向からみて、発光部20および第2電極62と重なっている。第2配線72の材質は、発光層34で発生した光を透過させる材料である。第2配線72の材質は、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)、ZnOなどである。
第3配線74は、第2配線72上および絶縁層40上に設けられている。第3配線74は、第2コンタクトホール44に位置していない。第3配線74は、積層方向からみて、例えば、第2電極62と重なっていない。第3配線74は、第2配線72を介して、第2電極62と電気的に接続されている。第3配線74の材質は、例えば、第1配線70と同じである。
なお、上記では、InGaN系の発光層34について説明したが、発光層34としては、出射される光の波長に応じて、電流が注入されることで発光可能な様々な材料系を用いることができる。例えば、AlGaN系、AlGaAs系、InGaAs系、InGaAsP系、InP系、GaP系、AlGaP系などの半導体材料を用いることができる。
また、発光装置100は、レーザーに限らず、LED(Light Emitting Diode)であってもよい。
また、発光部20の数は、特に限定されない。例えば、図3に示すように、発光部20は、複数設けられていてもよい。この場合、導電層50は、隣接する発光部20の間に配置される。第1電極60および第2電極62は、複数の発光部20の各々に対して独立に電流を供給できるように構成されていてもよい。図示の例では、積層方向からみて、複数の発光部20は、正三角格子状に配列されている。なお、便宜上、図3では、発光部20以外の部材の図示を省略している。
1.2. 作用効果
発光装置100では、基板10と、第1半導体層32、第1半導体層32と導電型の異なる第2半導体層36、および第1半導体層32と第2半導体層36との間に設けられた発光層34を有する発光部20と、発光部20を覆う絶縁層40と、絶縁層40中に設けられて、発光部20と電気的に分離され、かつ所定の電位が印加される導電層50と、を有する。
そのため、発光装置100では、導電層50によって、絶縁層40中に溜まった電荷を外部に放出することができる。これにより、絶縁層40中に溜まった電荷を低減することができる。その結果、絶縁層40中に溜まった電荷が発光装置100の特性に及ぼす影響を低減することができる。
例えば絶縁層中に大量の電荷が溜まっていると、発光部の応答が低下し、素早い切り替え動作、すなわちオン/オフ動作が不可能となる。そのため、例えば、複数の発光部を有する場合に、全ての発光部を消灯したいのに遅れ消える発光部が存在したり、全ての発光部を点灯したいのに遅れて点灯したりする発光部が存在したりする。また、赤色光を出射する発光部、緑色光を出射する発光部、および青色光を出射する発光部を有する場合には、全ての発光部を消灯したいのに青色光がわずかに残り、黒色になるはずが白浮きしてしまったり、全ての発光部を点灯したいのに青色光が遅れて点灯し、色のバランスが崩れてカラーシフトが起こったりする。
上記のように、発光装置100では、導電層50によって、絶縁層40中に溜まった電荷を低減することができるため、このような問題を回避することができる。
発光装置100では、基板10と、基板10に設けられ、第1半導体層32と電気的に接続された第1電極60と、発光部20の基板10の反対側に設けられ、第2半導体層36と電気的に接続された第2電極62と、絶縁層40に設けられ、第2電極62に接続された第2配線72と、を有する。第1半導体層32は、基板10と発光層34との間に設けられ、導電層50は、基板10と第2配線72との間に設けられ、導電層50に印加される所定の電位は、第1電極60に印加される電位と、第2配線72に印加される電位と、の間の電位、第1電極60に印加される電位と同電位、または、第2配線72に印加される電位と同電位である。そのため、発光装置100では、導電層50によって、基板10と第2配線72との間の電界を遮断することができ、基板10、第2配線72、および絶縁層40に起因する静電容量、すなわち寄生容量を低減することができる。
発光装置100では、発光部20は、複数の柱状部30を有し、複数の柱状部30の各々は、第1半導体層32、第2半導体層36、および発光層34を有する。そのため、発光装置100では、発光層34に生じる転位を低減することができ、高品質な結晶の発光層34を得ることができる。
発光装置100では、導電層50と第2配線72との間の距離D1は、導電層50と基板10との間の距離D2よりも小さい。第2配線72は、基板10に比べて、ノイズに曝される位置に設けられている。そのため、距離D1を距離D2よりも小さくすることにより、第2配線72から侵入したノイズが絶縁層40の深くにまで到達する前に、導電層50によってノイズを遮断することができる。これにより、発光装置100の特性を安定化させることができる。
発光装置100では、積層方向において、導電層50は、発光層34よりも基板10とは反対側に設けられている。そのため、発光装置100では、第2配線72から侵入したノイズが発光層34の深さにまで到達する前に、導電層50によってノイズを遮断することができる。これにより、発光装置100の特性を安定化させることができる。
発光装置100では、積層方向からみて、導電層50は、発光部20を囲んでいる。そのため、発光装置100では、導電層50によって、発光部20の周囲に溜まった電荷を低減することができる。
発光装置100では、絶縁層40は、基板10と導電層50との間に設けられた第1層46と、導電層50と第2配線72との間に設けられた第2層48と、を有し、第2層48の誘電率は、第1層46の誘電率よりも小さい。そのため、発光装置100では、ノイズが侵入し易い第2配線72側の寄生容量を小さくすることができる。これにより、発光装置100の特性を安定化させることができる。
2. 発光装置の製造方法
次に、本実施形態に係る発光装置100の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図4~図7は、本実施形態に係る発光装置100の製造工程を模式的に示す断面図である。
図4に示すように、支持基板12上に、バッファー層14をエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法、MBE(Molecular Beam Epitaxy)法などが挙げられる。本工程により、基板10を形成することができる。
次に、バッファー層14上に、図示しないマスク層を形成する。マスク層は、例えば、電子ビーム蒸着法やスパッタ法などによって形成される。
次に、マスク層をマスクとしてバッファー層14上に、第1半導体層32、発光層34、および第2半導体層36を、この順でエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD法、MBE法などが挙げられる。本工程により、複数の柱状部30を形成することができる。図示の例では、複数の柱状部30を形成した後に、エッチングによって、バッファー層14の一部を掘り込んでもよい。
図5に示すように、柱状部30上に第2電極62を形成する。次に、バッファー層14上に、第1電極60を形成する。第1電極60および第2電極62は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。なお、第1電極60を形成する工程と、第2電極62を形成する工程と、の順序は、特に限定されない。
次に、バッファー層14、第1電極60、および第2電極62を覆うように、第1層46を形成する。第1層46は、例えば、スピンコート法、CVD(Chemical Vapor Deposition)法により形成される。
図6に示すように、第1層46上に、導電層50を形成する。導電層50は、例えば、スパッタ法、CVD法、真空蒸着法によって形成される。
次に、第1層46および導電層50を覆うように、第2層48を形成する。第2層48は、例えば、スピンコート法、CVD法により形成される。第2層48の形成方法は、第1層46の形成方法と同じであってもよいし、異なっていてもよい。本工程により、絶縁層40を形成することができる。
図7に示すように、絶縁層40をパターニングして、第1電極60を露出する第1コンタクトホール42と、第2電極62を露出する第2コンタクトホール44と、を形成する。パターニングは、例えば、フォトリソグラィーおよびエッチングによって行われる。エッチングは、ウェットエッチングであってもよいし、ドライエッチングであってもよい。本工程において、絶縁層40に電荷がトラップされて溜まる場合があるが、発光装置100では、導電層50によって、絶縁層40に溜まった電荷を低減することができる。
図1に示すように、第2電極62上に第2配線72を形成する。次に、第1電極60上
に第1配線70を形成し、第2配線72上に第3配線74を形成する。第1配線70および第3配線74は、例えば、同じ工程で形成される。配線70,72,74は、例えば、スパッタ法、CVD法、真空蒸着法によって形成される。
以上の工程により、発光装置100を製造することができる。
3. プロジェクター
次に、本実施形態に係るプロジェクターについて、図面を参照しながら説明する。図8は、本実施形態に係るプロジェクター700を模式的に示す図である。
プロジェクター700は、例えば、光源として、発光装置100を有している。
プロジェクター700は、図示しない筐体と、筐体内に設けられている赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ出射する赤色光源100R、緑色光源100G、青色光源100Bと、を有している。なお、便宜上、図8では、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bを簡略化している。
プロジェクター700は、さらに、筐体内に設けられた、第1光学素子702Rと、第2光学素子702Gと、第3光学素子702Bと、第1光変調装置704Rと、第2光変調装置704Gと、第3光変調装置704Bと、投射装置708と、を有している。第1光変調装置704R、第2光変調装置704G、および第3光変調装置704Bは、例えば、透過型の液晶ライトバルブである。投射装置708は、例えば、投射レンズである。
赤色光源100Rから出射された光は、第1光学素子702Rに入射する。赤色光源100Rから出射された光は、第1光学素子702Rによって集光される。なお、第1光学素子702Rは、集光以外の機能を有していてもよい。後述する第2光学素子702Gおよび第3光学素子702Bについても同様である。
第1光学素子702Rによって集光された光は、第1光変調装置704Rに入射する。第1光変調装置704Rは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置708は、第1光変調装置704Rによって形成された像を拡大してスクリーン710に投射する。
緑色光源100Gから出射された光は、第2光学素子702Gに入射する。緑色光源100Gから出射された光は、第2光学素子702Gによって集光される。
第2光学素子702Gによって集光された光は、第2光変調装置704Gに入射する。第2光変調装置704Gは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置708は、第2光変調装置704Gによって形成された像を拡大してスクリーン710に投射する。
青色光源100Bから出射された光は、第3光学素子702Bに入射する。青色光源100Bから出射された光は、第3光学素子702Bによって集光される。
第3光学素子702Bによって集光された光は、第3光変調装置704Bに入射する。第3光変調装置704Bは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置708は、第3光変調装置704Bによって形成された像を拡大してスクリーン710に投射する。
プロジェクター700は、さらに、第1光変調装置704R、第2光変調装置704G
、および第3光変調装置704Bから出射された光を合成して投射装置708に導くクロスダイクロイックプリズム706を有している。
第1光変調装置704R、第2光変調装置704G、および第3光変調装置704Bによって変調された3つの色光は、クロスダイクロイックプリズム706に入射する。クロスダイクロイックプリズム706は、4つの直角プリズムを貼り合わせて形成され、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜とが配置されている。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成され、カラー画像を表す光が形成される。そして、合成された光は、投射装置708によりスクリーン710上に投射され、拡大された画像が表示される。
なお、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bは、発光装置100を映像の画素として画像情報に応じて制御することで、第1光変調装置704R、第2光変調装置704G、および第3光変調装置704Bを用いずに、直接的に映像を形成してもよい。そして、投射装置708は、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bによって形成された映像を、拡大してスクリーン710に投射してもよい。
また、上記の例では、光変調装置として透過型の液晶ライトバルブを用いたが、液晶以外のライトバルブを用いてもよいし、反射型のライトバルブを用いてもよい。このようなライトバルブとしては、例えば、反射型の液晶ライトバルブや、デジタルマイクロミラーデバイス(Digital Micro Mirror Device)が挙げられる。また、投射装置の構成は、使用されるライトバルブの種類によって適宜変更される。
また、光源を、光源からの光をスクリーン上で走査させることにより、表示面に所望の大きさの画像を表示させる画像形成装置である走査手段を有するような走査型の画像表示装置の光源装置にも適用することが可能である。
4. ディスプレイ
次に、本実施形態に係るディスプレイについて、図面を参照しながら説明する。図9は、本実施形態に係るディスプレイ800を模式的に示す平面図である。図10は、本実施形態に係るディスプレイ800を模式的に示す断面図である。なお、図9では、互いに直交する2つの軸として、X軸およびY軸を図示している。
ディスプレイ800は、例えば、光源として、複数の発光部20を有する発光装置100を有している。
ディスプレイ800は、画像を表示する表示装置である。画像には、文字情報のみを表示するものが含まれる。ディスプレイ800は、自発光型のディスプレイである。ディスプレイ800は、図9および図10に示すように、例えば、回路基板810と、レンズアレイ820と、ヒートシンク830と、を有している。
回路基板810には、発光部20を駆動させるための駆動回路が搭載されている。駆動回路は、例えば、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などを含む回路である。駆動回路は、例えば、入力された画像情報に基づいて、発光部20を駆動させる。図示はしないが、回路基板810上には、回路基板810を保護するための透光性の基板が配置されている。
回路基板810は、例えば、表示領域812と、データ線駆動回路814と、走査線駆動回路816と、制御回路818と、を有している。
表示領域812は、複数の画素Pで構成されている。画素Pは、図示の例では、X軸およびY軸に沿って配列されている。表示領域812において、発光装置100が配置されている。換言すると、表示領域812において、複数の発光部20が配置されている。なお、便宜上、図10では、発光装置100の構成のうち、発光部20、導電層50を図示し、他の発光装置100の構成を省略している。また、図10では、発光部20および導電層50を簡略化して図示している。
図示はしないが、回路基板810には、複数の走査線と複数のデータ線が設けられている。例えば、走査線はX軸に沿って延び、データ線はY軸に沿って延びている。走査線は、走査線駆動回路816に接続されている。データ線は、データ線駆動回路814に接続されている。走査線とデータ線の交点に対応して画素Pが設けられている。
1つの画素Pは、例えば、1つの発光装置100と、1つのレンズ822と、図示しない画素回路と、を有している。換言すると、1つの画素Pは、例えば、1つの発光部20と、1つのレンズ822と、図示しない画素回路と、を有している。画素回路は、画素Pのスイッチとして機能するスイッチング用トランジスターを有し、スイッチング用トランジスターのゲートが走査線に接続され、ソースまたはドレインの一方がデータ線に接続されている。
データ線駆動回路814および走査線駆動回路816は、画素Pを構成する発光装置100の駆動を制御する回路である。制御回路818は、画像の表示を制御する。
制御回路818には、上位回路から画像データが供給される。制御回路818は、当該画像データに基づく各種信号をデータ線駆動回路814および走査線駆動回路816に供給する。
走査線駆動回路816が走査信号をアクティブにすることで走査線が選択されると、選択された画素Pのスイッチング用トランジスターがオンになる。このとき、データ線駆動回路814が、選択された画素Pにデータ線からデータ信号を供給することで、選択された画素Pの発光装置100がデータ信号に応じて発光する。
レンズアレイ820は、複数のレンズ822を有している。レンズ822は、例えば、1つの発光部20に対して、1つ設けられている。発光部20から出射された光は、1つのレンズ822に入射する。
導電層50は、隣接する発光部20の間に配置されている。積層方向に直交する方向に沿う断面視において、導電層50は、レンズ822の外縁と積層方向で重なって配置されている。すなわち、積層方向に直交する方向に沿う断面視において、導電層50は、隣接するレンズ822の両方と積層方向で重なって配置される。また、図示はしないが、積層方向からみた平面視において、導電層50は、レンズ822の外縁と重なって配置されている。すなわち、積層方向からみた平面視において、導電層50は、隣接するレンズ822の両方に重なって配置される。レンズ822の外縁は、隣接するレンズ822の境界である。
ヒートシンク830は、回路基板810に接触している。ヒートシンク830の材質は、例えば、銅、アルミニウムなどの金属である。ヒートシンク830は、発光装置100で発生した熱を、放熱する。
5. ヘッドマウントディスプレイ
5.1. 全体の構成
次に、本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイについて、図面を参照しながら説明する。図11は、本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイ900を模式的に示す斜視図である。なお、図11では、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を図示している。
ヘッドマウントディスプレイ900は、図11に示すように、眼鏡のような外見を有する頭部装着型の表示装置である。ヘッドマウントディスプレイ900は、観察者の頭部に装着される。観察者とは、ヘッドマウントディスプレイ900を使用する使用者のことである。ヘッドマウントディスプレイ900は、観察者に対して虚像による映像光を視認させることができるとともに、外界像をシースルーで視認させることができる。ヘッドマウントディスプレイ900は、虚像表示装置ともいえる。
ヘッドマウントディスプレイ900は、例えば、第1表示部910aと、第2表示部910bと、フレーム920と、第1テンプル930aと、第2テンプル930bと、を有している。
第1表示部910aおよび第2表示部910bは、画像を表示する。具体的には、第1表示部910aは、観察者の右眼用の虚像を表示する。第2表示部910bは、観察者の左眼用の虚像を表示する。図示の例では、第1表示部910aは、第2表示部910bの-X軸方向に設けられている。表示部910a,910b、例えば、像形成装置911と、導光装置915と、を有している。
像形成装置911は、画像光を形成する。像形成装置911は、例えば、光源や投射装置などの光学系と、外部部材912と、を有している。外部部材912は、光源および投射装置を収容している。
導光装置915は、観察者の眼前を覆う。導光装置915は、像形成装置911で形成された映像光を導光させるとともに、外界光と映像光とを重複して観察者に視認させる。なお、像形成装置911および導光装置915の詳細については、後述する。
フレーム920は、第1表示部910aおよび第2表示部910bを支持している。フレーム920は、例えば、Y軸方向からみて、表示部910a,910bを囲んでいる。図示の例では、第1表示部910aの像形成装置911は、フレーム920の-X軸方向の端部に取り付けられている。第2表示部910bの像形成装置911は、フレーム920の+X軸方向の端部に取り付けられている。
第1テンプル930aおよび第2テンプル930bは、フレーム920から延出している。図示の例では、第1テンプル930aは、フレーム920の-X軸方向の端部から+Y軸方向に延出している。第2テンプル930bは、フレーム920の+X軸方向の端部から+Y軸方向に延出している。
第1テンプル930aおよび第2テンプル930bは、ヘッドマウントディスプレイ900が観察者に装着された場合に、観察者の耳に懸架される。テンプル930a,930b間に、観察者の頭部が位置する。
5.2. 像形成装置および導光装置
図12は、本実施形態に係るヘッドマウントディスプレイ900の第1表示部910aの像形成装置911および導光装置915を模式的に示す図である。なお、第1表示部910aと第2表示部910bとは、基本的に同じ構成を有している。したがって、以下の
第1表示部910aの説明は、第2表示部910bに適用することができる。
像形成装置911は、図12に示すように、例えば、光源としての発光装置100と、光変調装置913と、結像用の投射装置914と、を有している。
光変調装置913は、発光装置100から入射した光を、画像情報に応じて変調して、映像光を出射する。光変調装置913は、透過型の液晶ライトバルブである。なお、発光装置100は、入力された画像情報に応じて発光する自発光型の発光装置であってもよい。この場合、光変調装置913は、設けられない。
投射装置914は、光変調装置913から出射された映像光を、導光装置915に向けて投射する。投射装置914は、例えば、投射レンズである。投射装置914を構成するレンズとして、軸対称面をレンズ面とするものを用いてもよい。
導光装置915は、例えば、投射装置914の鏡筒にねじ止めされることにより、投射装置914に対して精度よく位置決めされている。導光装置915は、例えば、映像光を導光する映像光導光部材916と、透視用の透視部材918と、を有している。
映像光導光部材916には、投射装置914から出射された映像光が入射する。映像光導光部材916は、映像光を、観察者の眼に向けて導光するプリズムである。映像光導光部材916に入射した映像光は、映像光導光部材916の内面において反射を繰り返した後、反射層917で反射されて映像光導光部材916から出射される。映像光導光部材916から出射された映像光は、観察者の眼に至る。図示の例では、反射層917は、映像光を+Y軸方向に反射させる。反射層917は、例えば、金属や、誘電体多層膜で構成されている。反射層917は、ハーフミラーであってもよい。
透視部材918は、映像光導光部材916に隣接している。透視部材918は、映像光導光部材916に固定されている。透視部材918の外表面は、例えば、映像光導光部材916の外表面と連続している。透視部材918は、観察者に、外界光を透視させる。なお、映像光導光部材916についても、映像光を導光する機能の他に、観察者に外界光を透視させる機能を有している。
上述した実施形態に係る発光装置は、プロジェクター、ディスプレイ、およびヘッドマウントディスプレイ以外にも用いられることが可能である。上述した実施形態に係る発光装置は、例えば、屋内外の照明、レーザープリンター、スキャナー、車載用ライト、光を用いるセンシング機器、通信機器等の光源に用いられる。
上述した実施形態および変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば、各実施形態および各変形例を適宜組み合わせることも可能である。
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成、例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的および効果が同一の構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
上述した実施形態および変形例から以下の内容が導き出される。
発光装置の一態様は、
第1半導体層、前記第1半導体層と導電型の異なる第2半導体層、および前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層を有する発光部と、
前記発光部を覆う絶縁層と、
前記絶縁層中に設けられて、前記発光部と電気的に分離され、かつ所定の電位が印加される導電層と、
を有する。
この発光装置によれば、絶縁層中に溜まった電荷を低減することができる。
前記発光装置の一態様において、
基板と、
前記基板に設けられ、前記第1半導体層と電気的に接続された第1電極と、
前記発光部の前記基板と反対側に設けられ、前記第2半導体層と電気的に接続された第2電極と、
前記絶縁層に設けられ、前記第2電極に接続された配線と、
を有し、
前記第1半導体層は、前記基板と前記発光層との間に設けられ、
前記導電層は、前記基板と前記配線との間に設けられ、
前記所定の電位は、
前記第1電極に印加される電位と、前記配線に印加される電位と、の間の電位、
前記第1電極に印加される電位と同電位、
または、前記配線に印加される電位と同電位であってもよい。
この発光装置によれば、基板、配線、および絶縁層に起因する寄生容量を低減することができる。
前記発光装置の一態様において、
前記発光部は、複数の柱状部を有し、
前記複数の柱状部の各々は、前記第1半導体層、前記第2半導体層、および前記発光層を有してもよい。
この発光装置によれば、発光層に生じる転位を低減することができる。
前記発光装置の一態様において、
前記導電層と前記配線との間の距離は、前記導電層と前記基板との間の距離よりも小さくてもよい。
この発光装置によれば、配線から侵入したノイズが絶縁層の深くにまで到達する前に、導電層によってノイズを遮断することができる。
前記発光装置の一態様において、
前記第1半導体層と前記発光層との積層方向において、前記導電層は、前記発光層よりも前記基板とは反対側に設けられていてもよい。
この発光装置によれば、配線から侵入したノイズが発光層の深さにまで到達する前に、導電層によってノイズを遮断することができる。
前記発光装置の一態様において、
前記第1半導体層と前記発光層との積層方向からみて、前記導電層は、前記発光部を囲んでいてもよい。
この発光装置によれば、導電層によって、発光部の周囲に溜まった電荷を低減することができる。
前記発光装置の一態様において、
前記絶縁層は、
前記基板と前記導電層との間に設けられた第1層と、
前記導電層と前記配線との間に設けられた第2層と、
を有し、
前記第2層の誘電率は、前記第1層の誘電率よりも小さくてもよい。
この発光装置によれば、ノイズが侵入し易い配線側の寄生容量を小さくすることができる。
プロジェクターの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
ディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
ヘッドマウントディスプレイの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
10…基板、12…支持基板、14…バッファー層、20…発光部、30…柱状部、32…第1半導体層、34…発光層、36…第2半導体層、40…絶縁層、42…第1コンタクトホール、44…第2コンタクトホール、46…第1層、48…第2層、50…導電層、52…第1部分、54…第2部分、60…第1電極、62…第2電極、70…第1配線、72…第2配線、74…第3配線、100…発光装置、100R…赤色光源、100G…緑色光源、100B…青色光源、700…プロジェクター、702R…第1光学素子、702G…第2光学素子、702B…第3光学素子、704R…第1光変調装置、704G…第2光変調装置、704B…第3光変調装置、706…クロスダイクロイックプリズム、708…投射装置、710…スクリーン、800…ディスプレイ、810…回路基板、812…表示領域、814…データ線駆動回路、816…走査線駆動回路、818…制御回路、820…レンズアレイ、822…レンズ、830…ヒートシンク、900…ヘッドマウントディスプレイ、910a…第1表示部、910b…第2表示部、911…像形成装置、912…外部部材、913…光変調装置、914…投射装置、915…導光装置、916…映像光導光部材、917…反射層、918…透視部材、920…フレーム、930a…第1テンプル、930b…第2テンプル

Claims (10)

  1. 第1半導体層、前記第1半導体層と導電型の異なる第2半導体層、および前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層を有する発光部と、
    前記発光部を覆う絶縁層と、
    前記絶縁層中に設けられて、前記発光部と電気的に分離され、かつ所定の電位が印加される導電層と、
    を有する、発光装置。
  2. 請求項1において、
    基板と、
    前記基板に設けられ、前記第1半導体層と電気的に接続された第1電極と、
    前記発光部の前記基板と反対側に設けられ、前記第2半導体層と電気的に接続された第2電極と、
    前記絶縁層に設けられ、前記第2電極に接続された配線と、
    を有し、
    前記第1半導体層は、前記基板と前記発光層との間に設けられ、
    前記導電層は、前記基板と前記配線との間に設けられ、
    前記所定の電位は、
    前記第1電極に印加される電位と、前記配線に印加される電位と、の間の電位、
    前記第1電極に印加される電位と同電位、
    または、前記配線に印加される電位と同電位である、発光装置。
  3. 請求項2において、
    前記発光部は、複数の柱状部を有し、
    前記複数の柱状部の各々は、前記第1半導体層、前記第2半導体層、および前記発光層を有する、発光装置。
  4. 請求項2において、
    前記導電層と前記配線との間の距離は、前記導電層と前記基板との間の距離よりも小さい、発光装置。
  5. 請求項2において、
    前記第1半導体層と前記発光層との積層方向において、前記導電層は、前記発光層よりも前記基板とは反対側に設けられている、発光装置。
  6. 請求項2において、
    前記第1半導体層と前記発光層との積層方向からみて、前記導電層は、前記発光部を囲んでいる、発光装置。
  7. 請求項2において、
    前記絶縁層は、
    前記基板と前記導電層との間に設けられた第1層と、
    前記導電層と前記配線との間に設けられた第2層と、
    を有し、
    前記第2層の誘電率は、前記第1層の誘電率よりも小さい、発光装置。
  8. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の発光装置を有する、プロジェクター。
  9. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の発光装置を有する、ディスプレイ。
  10. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の発光装置を有する、ヘッドマウントディスプレイ。
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