JP7828199B2 - 表示装置、表示装置の速度制御方法およびコンピュータ読み取り可能媒体 - Google Patents

Description

本発明は表示装置、表示装置の速度制御方法およびコンピュータ読み取り可能媒体に関する。

本出願は２０２１年３月１７日付で米国特許庁に出願した米国特許出願第６３／１６２，４３９号の優先権を主張し、ここに引用することによってその出願の全体内容を本願に含む。

ＯＬＥＤ表示装置の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ：ｏｒｇａｎｉｃ ｌｉｇｈｔ－ｅｍｉｔｔｉｎｇ ｄｉｏｄｅｓ）のような発光素子は使用により時間とともに劣化して出力の低下が発生し得る。ＯＬＥＤ劣化は時間の経過とともにＯＬＥＤ表示装置が経験する輝度の段階的な減少であり、劣化の量は表示装置に表示された映像の内容に依存する（例：画素値が高いほど電流がより多く流れて劣化が大きくなる）。

ＯＬＥＤ劣化の一つの型として、明るさ損失が画素によって異なる差動劣化と呼ばれるものがあり、「残像（ｉｍａｇｅ ｓｔｉｃｋｉｎｇ）」または「ゴースティング（ｇｈｏｓｔｉｎｇ）」を起こし得る。表示装置の使用時間が長くなっても表示装置の出力低下を補正する補正方法を用いて映像品質を維持することによって、表示装置の老化を補正することができる。

速度制御は、表示装置のバッファにある利用可能なメモリ量に基づいて、映像に残っている圧縮される画素数によって量子化量を持続的に調整できる補正方法である。速度制御は量子化を調整することによって（例えば正確度を調整することによって）ストレスプロファイルを適切な大きさに圧縮できるようにする。

しかし、一部の速度制御方法［例：ログ検索速度制御（ｌｏｇ－ｓｅａｒｃｈ ｒａｔｅ ｃｏｎｔｒｏｌ）］は、圧縮データがバッファに収まるほどの十分な圧縮量を決定するまで６回以上の反復回数を必要とし得る。

したがって、より少ない反復回数で適正な圧縮量を決定できる速度制御方法を決定する必要がある。

背景技術に記載した情報は本発明の理解を深めるためのものであり、発明の概念に到達する過程で取得した技術情報を含み得る。したがって、従来技術に該当しない情報を含み得る。

本発明が解決しようとする課題は、より少ない反復回数で適正な圧縮量を決定できる速度制御方法を提示することである。

本発明の一実施形態による表示装置の速度制御方法は、表示装置の一スライスに対する圧縮ストレスデータ（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を受信する段階、前記圧縮ストレスデータを伸長して前記スライスに対する復元ストレスデータ（ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、追加ストレスデータ（ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、前記更新ストレスデータを第１正確度レベル（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｌｅｖｅｌ，ｐ_ｃ）で符号化して前記スライスに対する第１圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を生成する段階、前記スライスに対する前記第１圧縮更新ストレスデータのサイズ（ｂ_ｃ）がバッファのサイズ（ｂ_ｔ）より大きいことに応答して、第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階、および前記更新ストレスデータを前記第２正確度レベル（ｐ）で符号化して第２圧縮更新ストレスデータを生成する段階を含み、前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）、前記追加ストレスデータの第３正確度レベル（ｐ_ｓ）および前記バッファの第４正確度レベル（ｐ_ｂ）に基づく。

前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第２正確度レベル（ｐ）を［（ｐ_ｃ－ｐ_ｍ）ｂ_ｔ／ｂ_ｃ］＋ｐ_ｍ［ｐ_ｍは前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）と前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）のうち小さいもの］と同一に設定する段階を含み得る。

前記速度制御方法は、前記追加ストレスデータの最上位ビット（ＭＳＢ：ｍｏｓｔ ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔ）に基づいて前記追加ストレスデータの前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）を決定する段階、および前記バッファ内のデータの最上位ビットに基づいて前記バッファの前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）を決定する段階をさらに含み得る。

前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第２正確度レベル（ｐ）をｐ_ｃｂ_ｔ／ｂ_ｃと同一に設定する段階を含み得る。

前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）は、前記圧縮ストレスデータを生成するために使用される正確度レベルであり得る。

前記速度制御方法は、前記追加ストレスデータに加え、ディザを前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する前記更新ストレスデータを求める段階をさらに含み得る。

前記速度制御方法は、前記第２圧縮更新ストレスデータが前記バッファ内に収まることを判断する段階、および前記第２圧縮更新ストレスデータを前記バッファに保存する段階をさらに含み得る。

本発明の一実施形態による表示装置は、圧縮ストレスデータ（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を保存するバッファ、表示装置の一スライスに対する前記圧縮ストレスデータを受信し、前記圧縮ストレスデータを伸長して前記スライスに対する復元ストレスデータ（ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る復号化回路、追加ストレスデータ（ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る加算回路、前記更新ストレスデータを第１正確度レベル（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｌｅｖｅｌ，ｐ_ｃ）で符号化して前記スライスに対する第１圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を生成する符号化回路、および前記スライスに対する前記第１圧縮更新ストレスデータのサイズ（ｂ_ｃ）がバッファのサイズ（ｂ_ｔ）より大きいことに応答して、第２正確度レベル（ｐ）を決定するプロセッサを含み、前記プロセッサは、前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）、前記追加ストレスデータの第３正確度レベル（ｐ_ｓ）および前記バッファの第４正確度レベル（ｐ_ｂ）に基づいて前記第２正確度レベル（ｐ）を決定し、前記符号化回路は前記更新ストレスデータを前記第２正確度レベル（ｐ）で符号化して第２圧縮更新ストレスデータを生成する。

前記プロセッサは、前記第２正確度レベル（ｐ）を［（ｐ_ｃ－ｐ_ｍ）ｂ_ｔ／ｂ_ｃ］＋ｐ_ｍ［ｐ_ｍは前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）と前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）のうち小さいもの］と同一に設定することによって前記第２正確度レベル（ｐ）を決定し得る。

前記プロセッサは、前記追加ストレスデータの最上位ビット（ＭＳＢ：ｍｏｓｔ ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔ）に基づいて前記追加ストレスデータの前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）を決定し、前記バッファ内のデータの最上位ビットに基づいて前記バッファの前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）を決定し得る。

前記プロセッサは、前記第２正確度レベル（ｐ）をｐ_ｃｂ_ｔ／ｂ_ｃと同一に設定することによって前記第２正確度レベル（ｐ）を決定し得る。

前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）は、前記バッファに保存された前記圧縮ストレスデータを生成するために使用される正確度レベルであり得る。

前記表示装置は、前記追加ストレスデータに加え、ディザを前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する前記更新ストレスデータを求めるディザリング回路をさらに含み得る。

前記第２圧縮更新ストレスデータを前記バッファに保存するメモリ制御器をさらに含み得る。

本発明の一実施形態による媒体は、表示装置とともに備えられる非一時的コンピュータ読み取り可能媒体（ｎｏｎ－ｔｒａｎｓｉｔｏｒｙ ｃｏｍｐｕｔｅｒ ｒｅａｄａｂｌｅ ｍｅｄｉｕｍ）として、プロセッサで実行されると前記表示装置の速度制御方法で制御を行うコンピュータコードを含み、前記速度制御方法は、表示装置の一スライスに対する圧縮ストレスデータ（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を受信する段階、前記圧縮ストレスデータを伸長して前記スライスに対する復元ストレスデータ（ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、追加ストレスデータ（ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、前記更新ストレスデータを第１正確度レベル（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｌｅｖｅｌ，ｐ_ｃ）で符号化して前記スライスに対する第１圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を生成する段階、前記スライスに対する前記第１圧縮更新ストレスデータのサイズ（ｂ_ｃ）がバッファのサイズ（ｂ_ｔ）より大きいことに応答して、第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階、および前記更新ストレスデータを前記第２正確度レベル（ｐ）で符号化して第２圧縮更新ストレスデータを生成する段階を含み、前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）、前記追加ストレスデータの第３正確度レベル（ｐ_ｓ）および前記バッファの第４正確度レベル（ｐ_ｂ）に基づく。

前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、前記第２正確度レベル（ｐ）を［（ｐ_ｃ－ｐ_ｍ）ｂ_ｔ／ｂ_ｃ］＋ｐ_ｍ［ｐ_ｍは前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）と前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）のうち小さいもの］と同一に設定することによって前記第２正確度レベル（ｐ）を決定し得る。

前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、前記追加ストレスデータの最上位ビット（ＭＳＢ：ｍｏｓｔ ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔ）に基づいて前記追加ストレスデータの前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）を決定し、前記バッファ内のデータの最上位ビットに基づいて前記バッファの前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）を決定することによって、前記速度制御方法を行い得る。

前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）は、前記圧縮ストレスデータを生成するために使用される正確度レベルであり得る。

前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、前記追加ストレスデータに加え、ディザを前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する前記更新ストレスデータを求めることによって、前記速度制御方法を遂行できる。

前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、前記第２圧縮更新ストレスデータが前記バッファ内に収まることを判断し、前記第２圧縮更新ストレスデータを前記バッファに保存することによって、前記速度制御方法を行い得る。

このようにすることにより、より少ない反復回数で適正な圧縮量を決定できる速度制御方法を得ることができる。

本発明の一実施形態による表示装置のブロック図である。 本発明の一実施形態による速度制御を用いてストレス補正を行う表示装置システムのブロック図を示す。 本発明の一実施形態による速度制御を用いてストレス補正を行う方法を示した概念図である。 本発明の一実施形態による正確度とバッファサイズの間の最悪の関係［例：完全なランダムネス（ｃｏｍｐｌｅｔｅ ｒａｎｄｏｍｎｅｓｓ）に対応するエントロピーまたは最大エントロピー］を示す。 本発明の一実施形態による正確度の決定方法のフロー図を示す。

本発明の概念とこれを達成する方法の要旨は詳細な説明と添付する図面により容易に理解することができる。添付する図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。本発明は様々な異なる形態で実現することができ、ここで説明する実施形態に限定されない。このような実施形態を提供することによって発明の詳細な説明が完全で豊富になり、発明の様々な側面と特徴を当業者に十分に伝える。したがって、当業者が本発明の多様な側面を完全に理解するために必要でない過程、装置、技術などは説明を省略する。特に説明がない限り、図面と明細書全体をわたって同じ図面符号は同じ構成要素を示し、そのため説明は繰り返さない。また、実施形態に対する説明と関連ない部分は明瞭な説明のために省略することができる。

図面に示した領域は事実上概略的なものであり、その形状は領域の実際の形を示すためでなく、限定しようとするものでもない。また、当業者であれば、本発明の主旨と範囲を逸脱することなくここで説明した実施形態を様々な他の方法に変更できることが分かる。

発明の詳細な説明で、多様な実施形態に係る十分な説明を提供するために多様な条件を特定する。しかし、このような特定条件またはこれと同等な条件がなくとも実施形態を実現できることは自明である。また、当業者であれば、本発明の主旨と範囲を逸脱することなく、ここで説明した二つ以上の実施形態の多様な特徴を適切に結合することができる。これとは異なり、すでに知られている構造および装置は多様な実施形態が不要に曖昧になることを避けるためにブロック図で示す。

「第１」、「第２」、「第３」などの用語を様々な元素、成分、領域、層、部分などに使用するが、これらはこのような修飾語によって限定されない。このような用語はある元素、成分、領域、層、部分を他の元素、成分、領域、層、部分と区別するために使用する。したがって、第１元素、成分、領域、層、部分は本発明の主旨と範囲を逸脱せず、第２元素、成分、領域、層、部分ともいえる。ある元素を「第１」元素と記載したからといって第２元素または他の元素が存在することを意味するものではなく、またこれを必要ともしない。「第１」、「第２」などの用語はまた互いに異なる範疇または元素の集合を区別するために使用することができる。簡潔にするため、「第１」、「第２」などの用語はそれぞれ「第１範疇（または第１集合）」、「第２範疇（または第２集合）」などを示すことができる。

ここで使用された用語は特定の実施形態を説明することのみを目的としており、本発明を限定することを意図するものではない。ここで数を特に言及しない限り単数または複数の場合をすべて含む。ある特徴、整数、段階、動作、部分、成分などを「含む」という表現は該当部分の他に異なる特徴、整数、段階、動作、部分、成分なども含み得ることを意味する。

ここで「実質的に」、「約」、「ほぼ」およびこれと類似の表現は近似を示す表現であり、「程度」を示すものではなく、当業者が分かる測定値または計算値の固有誤差を説明するために使用する。「約」や「ほぼ」という表現は言及した値とその値に対する許容可能な誤差範囲内の平均を含むものとして、該当測定値と特定量の測定に関連する誤差（例：測定システムの限界）を考慮して当業者が決定できる。例えば、「約」は一つ以上の標準偏差または該当値の±３０％、２０％、１０％、５％以内を意味する。本発明の実施形態を説明する時使用する「することができる」という表現は「本発明の一つ以上の実施形態」に適用できることを意味する。

特定の実施形態を異なる態様で実施する場合、特定のプロセス順序は説明した順序と異なる順序で実施され得る。例えば、連続して実行するものとして説明した二つのプロセスを同時にまたは説明した順序と逆に実行することもできる。

本発明の実施形態により説明した電子、電気装置および／または他の関連装置または部分は適切なハードウェア、ファームウェア［例：特定用途集積回路（ＡＳＩＣ：ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ－ｓｐｅｃｉｆｉｃ ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ）］、ソフトウェアまたはこれらの組み合わせを使用して実現することができる。例えば、これら装置の多様な構成要素を一つの集積回路チップに形成でき、互いに異なる集積回路チップに実現することもできる。また、これらの装置の多様な構成要素を可撓性印刷回路フィルム、テープキャリアパッケージ（ＴＣＰ：ｔａｐｅ ｃａｒｒｉｅｒ ｐａｃｋａｇｅ）、印刷回路基板などに実現される、又は一つの基板の上に形成することができる。回路ハードウェアは、例えば、特定用途集積回路（ＡＳＩＣ：ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ ｓｐｅｃｉｆｉｃ ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ）、非一時的保存媒体（ｎｏｎ－ｔｒａｎｓｉｔｏｒｙ ｓｔｏｒａｇｅ ｍｅｄｉｕｍ）に保存された命令（ｉｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）を実行する汎用（ｇｅｎｅｒａｌ ｐｕｒｐｏｓｅ）または専用（ｓｐｅｃｉａｌ ｐｕｒｐｏｓｅ）中央処理装置（ＣＰＵ：ｃｅｎｔｒａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ：ｄｉｇｉｔａｌ ｓｉｇｎａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、グラフィックス処理装置（ＧＰＵ：ｇｒａｐｈｉｃｓ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）、ＦＰＧＡ（ｆｉｅｌｄ ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ｇａｔｅ ａｒｒａｙ）などのプログラム可能な論理装置を含み得る。

また、これらの装置の多様な構成要素はここで説明した多様な機能を遂行するためにコンピュータプログラム命令を実行し、他のシステム要素と相互作用する一つ以上のコンピュータ装置内にある一つ以上のプロセッサで実行できるプロセスまたはスレッド（ｔｈｒｅａｄ）であり得る。コンピュータプログラム命令はＲＡＭ（ＲＡＭ：ｒａｎｄｏｍ ａｃｃｅｓｓ ｍｅｍｏｒｙ）などの標準メモリ装置を使用するコンピュータ装置に実現されたメモリに保存され得る。それだけでなく、当業者は本発明の実施形態の概念と範囲を逸脱することなくとも多様なコンピュータ装置の機能を一つのコンピュータ装置に組み合わせたりまたは統合したり、特定のコンピュータ装置の機能を一つ以上の他のコンピュータ装置に分散したりすることもできる。

特に言及がない限りここで使用する（技術的、科学的用語を含む）すべての用語はこの発明が属する技術分野の当業者が一般に理解される用語と同じ意味を有する。一般的に用いられる辞書に定義されている用語などは関連技術分野および／または本明細書での意味と一致する意味を有すると解釈し、ここで明示しない限り理想的なまたは過度に厳格な意味に解釈するべきではない。

図１は本発明の一実施形態による表示装置のブロック図である。

図１を参照すると、一部の映像表示装置は使用に伴って変化する特性を有することができる。例えば、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ：ｏｒｇａｎｉｃ ｌｉｇｈｔ－ｅｍｉｔｔｉｎｇ ｄｉｏｄｅ）表示装置１００は、複数の画素を有している表示パネル１１０を含むことができ、各画素は複数の副画素（ｓｕｂｐｉｘｅｌ，例：赤色副画素、緑色副画素および青色副画素）を含み得る。副画素はそれぞれ該当する色相の光を発光する有機発光ダイオードを含み得る。ＯＬＥＤの光効率（ｏｐｔｉｃａｌ ｅｆｆｉｃｉｅｎｃｙ）は一般的に使用に伴って減少する。したがって、ＯＬＥＤを継続して動作させると、時間の経過とともに該当電流に対するＯＬＥＤの光学的出力が減少する。

ＯＬＥＤの光効率が減少することによって、表示パネル１１０の一部が他の部分に比べて暗くなる。例えば表示パネル１１０の一つの領域が平均的に他の領域に比べて映像の明るい部分を表示している場合、その領域のＯＬＥＤは他の領域のＯＬＥＤに比べてはるかに劣化すると考えられる。このような一部のＯＬＥＤの光効率の低下によって表示装置１００の映像再生の正確度が低下し得る。

表示装置１００のこのような光効率の不均一を減らすために、表示装置１００の使用に起因する一部のＯＬＥＤの光効率の減少を補正するための特徴を表示装置１００に備えることができる。このような特徴の例としては、メモリを使用して各画素の累積ストレス（ａｃｃｕｍｕｌａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ）を保存し、累積ストレスに対応するストレスデータを使用してそれに合わせて表示装置の動作を調整する方法がある。例えば、劣化（ｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎ）は劣化プロファイル（ｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎ ｐｒｏｆｉｌｅ）またはストレスプロファイル（ｓｔｒｅｓｓ ｐｒｏｆｉｌｅ）により決定され得る条件を有する縮小および変更された階調（ｒｅｄｕｃｅｄ ａｎｄ ｍｏｄｉｆｉｅｄ ｇｒａｙ ｓｃａｌｅ）を表すことができ、ストレスプロファイルは知られている駆動条件でＯＬＥＤ装置が経験する輝度低下（ｌｕｍｉｎａｎｃｅ ｌｏｓｓ）の加速度（ａｃｃｅｌｅｒａｔｉｏｎ）を規定することができる。このストレスプロファイルはメモリに保存され得る。しかし、ストレスデータ全体を保存するメモリを備えることはゲートカウント（ｇａｔｅ ｃｏｕｎｔ）と電力（ｐｏｗｅｒ）の側面から高いため、映像圧縮方法を用いてメモリの大きさを減らすことができる。

前述した通り、速度制御（ｒａｔｅ ｃｏｎｔｒｏｌ）を使用すると、バッファの利用可能なメモリに基づいて、およびフレームに残っている圧縮する画素数に基づいて正確度（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ，ｄｅｇｒｅｅ ｏｆ ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ）を継続して調整することができる。しかし、一部の速度制御方法の場合、圧縮データがバッファ［例：メモリ１２０］に収まるように、十分に正確度が低く決定されるまでに、相対的に多くの反復が実行される。ここで正確度は量子化因子（ｑｕａｎｔｉｚａｔｉｏｎ ｆａｃｔｏｒ）と類似した類型の量子化媒介変数を示す。

本発明の一実施形態は、追加反復圧縮システム（ａｄｄｉｔｉｖｅ ｉｔｅｒａｔｉｖｅ ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ ｓｙｓｔｅｍ）での圧縮速度制御に関するものであり、追加反復圧縮システムはデータにストレスプロファイルを実行し、相対的に少ない回数の反復により映像データに対する適正の正確度（ｓｕｉｔａｂｌｅ ｄｅｇｒｅｅ ｏｆ ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ）を決定（例：映像データの適正の量子化を決定）し、圧縮データがバッファに適切に収まるようにすることができる。例えば、本発明の一実施形態は単一圧縮だけでなく、以前に伸長された映像データとともにストレスプロファイルの現在のストレスデータ内の情報も使用して、数回の反復で許容可能な量子化を予測する追加反復圧縮システムのための効率的な速度制御方法を提示することができる。前述では表示装置１００をＯＬＥＤ表示装置として説明したが、ここで説明する実施形態は他の種類の表示装置にも適用できることに留意しなければならない。

本発明の一実施形態によれば、表示パネル１１０を含む表示装置１００はまた、プロセッサ（ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）／処理回路（ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔ，１１５）およびメモリ１２０をさらに含み得る。メモリ１２０はバッファを含むことができ、内部に表示パネル１１０用ストレスプロファイル（例：ストレステーブルデータ、ストレスデータまたはストレス値）を含み得る。ストレスデータを使用して、表示装置１００の寿命の間、各副画素が経験するストレスの量を決定し得る。ストレスに基づいて副画素の光効率を推定できる。すなわち、ＯＬＥＤは内部に流れる電流の量に応じて単調に低下し得る。副画素のストレス量は、表示装置１００の寿命の間、副画素に流れた電流の総量に対応（例：時間が経過する間その副画素にどれだけの過重な負荷がかかったかに対応）する。したがって、ストレスデータを使用して各副画素に対する補正水準を決定できる。

したがって、各副画素の駆動電流を、ストレスデータが指すストレスの量に対応する量だけ調整することによって、光効率の損失を補正することができる。すなわち、一つ以上の副画素の駆動電流を、各副画素に対してストレスデータにより推定した光効率の推定損失に従って、またはそれに比例して増加させる。したがって、光効率の推定損失をメモリ１２０に保存されたストレスプロファイル内に累積できる。駆動電流を増加させることによって、光出力がストレスによる光効率の低下を示さない副画素の光出力に近接し、そのため表示パネル１１０に表示される映像の均一性が向上する。このようなシステムの一例では、画素駆動のために使用する一つ以上の表示装置用デジタル－アナログ変換器（ｄｉｇｉｔａｌ－ｔｏ－ａｎａｌｏｇ ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）に伝送するデジタル値を高めることによって駆動電流を大きくすることができる。ここでデジタル値は駆動電流値を指す。したがって、（例えばアナログ駆動電流を直接調整することとは逆に）該当ストレスが累積するにつれて駆動電流値が増加し得る。

図２は本発明の一実施形態による速度制御を用いてストレス補正を行う表示装置システムのブロック図を示す。

図２を参照すると、速度制御を用いてストレス補正を行うシステム２００の全体または一部は図１に示す表示装置１００の処理回路１１５によって具現され得る。ここで「符号化（ｅｎｃｏｄｉｎｇ）」と「圧縮（ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｎｇ）」、「符号化された」と「圧縮された」、「復号化（ｄｅｃｏｄｉｎｇ）」と「伸長（ｄｅｃｏｍｐｒｅｓｓｉｎｇ）」、「復号化された」と「伸長された」は、それぞれ互換的に使用されること留意しなければならない。

表示装置の光効率の不均一性を減らすために、互いに異なる補正方法を用いて表示装置の寿命内で表示装置の各副画素が経験するストレスの量を取り込むことができ、ストレスは表示装置の寿命内で各副画素に流れた駆動電流全体［例：時間積分（ｔｉｍｅ－ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ）］として定義することができる。ストレスプロファイラシステム（ｓｔｒｅｓｓ ｐｒｏｆｉｌｅｒ ｓｙｓｔｅｍ）は新たな映像をＯＬＥＤ表示装置に表示するたびにメモリを使用してストレス水準を累積することによってその表示装置のストレスプロファイルを取り込むことができる。

システム２００で、補正回路２１０は［例えば図１に示す表示装置１００の表示パネル１１０に］表示する映像に対応する入力映像データ２５０を受信し得る。後述するが、表示装置に映像の連続ストリームを表示するとき、各映像の各画素の駆動電流を測定することができ、各画素の電流または明るさを表す数字をメモリ２０５に保存されたその画素に対するストレスに加えることができる。

補正回路２１０は、メモリ２０５［例：図１に示す表示装置１００のバッファまたはメモリ１２０］で受けた過去保存済ストレスデータ（ｐｒｅｖｉｏｕｓｌｙ ｓｔｏｒｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ，２５５，例：１６ビットストレス値）を使用して駆動電流調整値（ａｄｊｕｓｔｅｄ ｄｒｉｖｅ ｃｕｒｒｅｎｔ ｖａｌｕｅ）を計算して出力映像データ２６０を生成し得る。すなわち、補正回路２１０は、メモリ２０５にアクセスして、表示パネル１１０に表示した映像の各画素に対する調整値（ａｄｊｕｓｔｍｅｎｔ ｖａｌｕｅ）を計算する。各画素の補正因子（ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ ｆａｃｔｏｒ）は、その画素に対してこれまでメモリ２０５に保存された累積ストレス値に基づく。本発明の一実施形態によれば、入力映像データ２５０と出力映像データ２６０とは、１０ビット画素値に対応できるがこれに限定されない。

補正回路２１０は、入力映像データ２５０に示される駆動電流ロー値（ｒａｗ ｄｒｉｖｅ ｃｕｒｒｅｎｔ ｖａｌｕｅ）に基づいて、出力映像データ２６０の駆動電流調整値を計算できる。過去保存済ストレスデータ２５５に示される各ストレス値が示す累積ストレスに基づいて、出力映像データ２６０を用いて各副画素の光学的期待出力（ｄｅｓｉｒｅｄ ｏｐｔｉｃａｌ ｏｕｔｐｕｔ）を生成し得る。初期出力輝度（ｉｎｉｔｉａｌ ｏｕｔｐｕｔ ｌｕｍｉｎａｎｃｅ）、画素が５０％まで低下するのにかかる時間、および曲線を形成するα指数媒介変数（ａｌｐｈａ ｅｘｐｏｎｅｎｔ ｐａｒａｍｅｔｅｒ）など、実験で得た媒介変数に基づいて、画素が発光した時間を用いて劣化を予測する数学モデルを用いて光学的期待出力を生成し得る。その数学モデルに対応する方程式を逆にすることにより、およびストレスに応じて駆動電流値を変えることにより、出力映像を平準化（ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ）［例：「平坦（ｆｌａｔ）」化］することができる。

副画素の現在のストレス累積速度（ｃｕｒｒｅｎｔ ｒａｔｅ ｏｆ ａｃｃｕｍｕｌａｔｉｏｎ ｏｆ ｓｔｒｅｓｓ）を表す出力映像データ２６０の駆動電流調整値をストレス変換回路２４５が受信し得る。次に、ストレス変換回路２４５は駆動電流調整値を変換して、ストレスとして知られている駆動電流調整変換値（ｃｏｎｖｅｒｔｅｄ ａｄｊｕｓｔｅｄ ｄｒｉｖｅ ｃｕｒｒｅｎｔ ｖａｌｕｅｓ，２６５）を生成する。駆動電流調整値の大きさを認識し（ｎｏｔｅ）、システムのフレームレート（ｆｒａｍｅ ｒａｔｅ）、フレーム当たりサンプリング画素数（ｔｈｅ ｎｕｍｂｅｒ ｏｆ ｐｉｘｅｌｓ ｓａｍｐｌｅｄ ｐｅｒ ｆｒａｍｅ）および製品の寿命内で画素の最大ターンオン期待時間（ｍａｘｉｍｕｍ ｅｘｐｅｃｔｅｄ ｔｕｒｎ－ｏｎ ｔｉｍｅ）に基づいて駆動電流調整値を規格化（ｎｏｒｍａｌｉｚａｔｉｏｎ）し、本質的に画素がオンになっている時間の量に比例するカウンターを提供することによって、駆動電流調整変換値２６５を生成し得る。

次に、副画素ストレスサンプリング回路２１５が駆動電流調整変換値２６５を受信し得る。本発明の一実施形態によれば、サンプリング回路２１５は、映像フレームのそれぞれで駆動電流調整変換値２６５の部分集合のみをサンプリングし得る。

次に、過去保存済ストレスデータ［例：メモリ２０５に保存された過去保存済圧縮ストレスデータ（ｐｒｅｖｉｏｕｓｌｙ ｓｔｏｒｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ，２９５）の一つ以上の過去保存済ストレス値（ｐｒｅｖｉｏｕｓｌｙ ｓｔｏｒｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｖａｌｕｅ）に対応する復元ストレスデータ（ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ，２４０）］を加算回路２２０で現在のストレス累積速度だけ増加または増大させて調整ストレスデータ（ａｄｊｕｓｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ，２８０）を生成し得る。例えば、それぞれのストレス値が対応する駆動電流調整値に比例する量だけ増加して調整ストレスデータ２８０を生成し得る。すなわち、ストレス変換回路２４５と副画素ストレスサンプリング回路２１５とは、表示パネル１１０上に表示される調整画素値（ａｄｊｕｓｔｅｄ ｐｉｘｅｌ ｖａｌｕｅ）をサンプリングすることができ、各画素に対して過去に保存された累積ストレスに調整画素値を加えた後、再びメモリ２０５に保存し得る。

データはメモリ要求量（ｍｅｍｏｒｙ ｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｓ）による処理を経た後にメモリ２０５に再び保存され得る。例えば、過去保存済ストレスデータはメモリ２０５から間接的に受信され得る［例えば、後述するがメモリ２０５からメモリ制御器（ｍｅｍｏｒｙ ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ，２２５）、復号化回路（ｄｅｃｏｄｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔ，２３５）および取出し回路（ｆｅｔｃｈｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔ，２７５）を介して受信し得る］。したがって、各画素が経験するストレス総量は時間とともに累積してメモリ２０５に更新される。

次に、ディザリング回路（ｄｉｔｈｅｒｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔ，２８５）は調整ストレスデータ２８０にディザ（ｄｉｔｈｅｒ）を加えて量子化が行われるようにし得る。しかし、本発明の他の実施形態によれば、ディザリング回路２８５は省略できることに留意しなければならない。

次に、調整ストレスデータ２８０および加えられたディザを符号化回路（ｅｎｃｏｄｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔ，２３０，例：圧縮回路）に送り得る。符号化回路２３０は調整ストレスデータ２８０および加えられたディザを圧縮して圧縮データ（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｄａｔａ，２９０）を生成し得る。次に、メモリ制御器２２５は圧縮データ２９０を受信し得る。

メモリ制御器２２５はメモリ２０５に対する読み取りおよび書き込み込み動作を制御する。したがって、メモリ制御器２２５は圧縮データ２９０（例：現在のストレス累積速度を加えて増加したストレス値）をメモリ２０５に保存し得る。また、メモリ制御器２２５は前述した過去保存済圧縮ストレスデータ２９５をメモリ２０５から受信する。メモリ制御器２２５はメモリ２０５からの過去保存済圧縮ストレスデータ２９５のストレス値を復号化回路２３５に供給し得る。

メモリ制御器２２５から過去保存済圧縮ストレスデータ２９５を受けた復号化回路２３５は、圧縮ストレスデータ２９５を伸長して復元ストレスデータ２４０を生成し得る。取出し回路２７５は、復元ストレスデータ２４０を受信し、これを過去保存済ストレスデータとして加算回路２２０に送って、過程が繰り返されるようにすることができる。

すなわち、加算回路２２０は、前述した駆動電流調整変換値２６５の形態でサンプリング回路２１５から受けた追加ストレスデータを復元ストレスデータ２４０に加えて、更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を調整ストレスデータ２８０として生成し得る。その後、符号化回路２３０は、更新ストレスデータ［例：追加ストレスデータとディザを有する復元ストレスデータ２４０］を第１正確度レベル（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｌｅｖｅｌ）［例：現在正確度（ｃｕｒｒｅｎｔ ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ，ｐ_ｃ）］で圧縮して第１圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）／圧縮データ２９０を生成することができ、これを用いてメモリ２０５にある前述した過去保存済圧縮ストレスデータ２９５を更新または置換し得る。

例えば、開始時に、圧縮ストレスデータ２９５をフラッシュメモリ（ｆｌａｓｈ ｍｅｍｏｒｙ，図２のＪブロック，２０５）からＳＲＡＭ「Ａ」（図２のＫブロック，２０５）に伝送する。その次に、復号化回路２３５はＳＲＡＭ「Ａ」のデータを復号化し、このデータのＭＳＢをＳＲＡＭ「Ｂ」（図２のＬブロック，２０５）に位置させる。ＭＳＢの正確な数は補正アルゴリズムにより変わることに注意しなければならない。ＳＲＡＭ「Ｂ」データは、補正回路２１０データに使用され、ＳＲＡＭ「Ａ」からの次の更新まで事実上変わらないが、累積はＳＲＡＭ「Ａ」で継続して行われる。ＳＲＡＭ「Ｂ」の更新間隔は補正アルゴリズムにより変わる。他の補正方法としては、圧縮ストレスデータ２９５をＳＲＡＭ「Ａ」から直接復号化し、復号化ストレスデータ（ｄｅｃｏｄｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を補正回路２１０が使用する。そのため、ＳＲＡＭ「Ａ」とＳＲＡＭ「Ｂ」との間の相互作用を許容し、開始時にフラッシュメモリからＳＲＡＭ「Ａ」を埋めて、復号化ＳＲＡＭ「Ａ」でＳＲＡＭ「Ｂ」を埋めることによってストレスプロファイルを補正回路２１０に伝達することができる。

また、本発明の一実施形態によれば、動作中に得た圧縮率（ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ ｒａｔｉｏ）が十分に高くないため［例えば正確度ｐが十分に低くないため］、圧縮スライス（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｌｉｃｅ）がそのスライスの圧縮表現（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｒｅｐｒｅｓｅｎｔａｔｉｏｎ）を保存するために割り当てられたメモリ２０５の部分内に収まる場合、補正回路２１０が圧縮を行う前に、トラケーション回路（ｔｒｕｎｃａｔｉｏｎ ｃｉｒｃｕｉｔ，２７０）が原本データを切断して［例：各データワードのＬＳＢ（ｌｅａｓｔ－ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔｓ）を除去して］、スライスの圧縮表現の大きさを十分に低くしてメモリに収まるようにすることができる。しかし、映像フレームのそれぞれ（例：表示される映像それぞれ）に対して、画素のそれぞれに対して、ストレス値のそれぞれを更新することは計算上の負担は相当である。

図３は本発明の一実施形態による速度制御を用いてストレス補正を行う方法を示した概念図である。

図３を参照すると、ストレスプロファイル圧縮と呼ばれる圧縮方法では、圧縮ストレスデータが［例：図２のメモリ２０５または図１のメモリ１２０内にある］メモリバッファに合わない場合は、正確度を一つずつ反復して低下させる。ストレスプロファイル圧縮は追加的な反復圧縮方法であり、ストリーミング圧縮（ｓｔｒｅａｍｉｎｇ ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ）とは区別されるメモリ圧縮ともいえる。ストリーミング圧縮とは異なり、メモリ圧縮は、圧縮データを保存する追加のバッファがないので、データを圧縮して利用可能なメモリ内に合わせようとする。

ストレスプロファイル圧縮では、ストレステーブルデータはブロックまたはスライスで圧縮および伸長され得る。本発明の一実施形態によれば、各スライスは４個の連続する画素行に対応し得る。すなわち、ストレスプロファイル圧縮は４行のスライスに基づく。表示パネル１１０の４画素行は表示装置１００のスライスということができ、ストレステーブルデータの対応スライスはそのスライスのストレスプロファイルという。本発明の他の実施形態によれば、４画素行のスライスの代わりにｎ×ｍ画素ブロックを使用できることに留意するべきであり、ここでｎ、ｍは整数である。

ストレスプロファイル圧縮は圧縮メモリ３０５［例：図２のメモリ２０５または図１のメモリ１２０にあるバッファ］で一つのスライス３１０（例：Ｓｌｉｃｅ １のような４画素行スライス）を取って、［例えば図２の復号化回路２３５を使用して］スライス３１０のストレスデータを伸長して３１５復元ストレスデータ［例：図２の復元ストレスデータ２４０］を求める。

次に、［例えば、図２のストレス変換回路２４５およびサンプリング回路２１５から受けた駆動電流調整変換値２６５に対応する］ストレスデータ３２０および選択的にディザを［例えば、図２の加算回路２２０および／またはディザリング回路２８５が］復元ストレスデータに加えて更新ストレスデータを提供（例：ストレス値を継続的に累積）することができる。

［例えば図２の符号化回路２３０は］予測正確度（ｐｒｅｄｉｃｔｅｄ ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ，ｐ）［例：適切に大きさが調節されて成功的に圧縮メモリ３０５に保存された過去のスライス、例えばＳｌｉｃｅ ０を圧縮するために使用した正確度レベル（ｐ）］を使用して更新ストレスデータを圧縮して３２５圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）［例：図２の第１圧縮更新ストレスデータ／圧縮データ２９０］を４行スライスに提供することができる。

次に、圧縮４行スライス（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｆｏｕｒ－ｌｉｎｅ ｓｌｉｃｅ，例：第１圧縮更新ストレスデータ）が４行スライスに割り当てられた圧縮メモリ３０５の部分に収まるかを判断する（３３０）。しかし、伸長スライス３１０に加えた追加ストレスデータ（ａｄｄｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ，３２０）は、後に圧縮更新データが過度に大きくなり、圧縮更新データが圧縮メモリ３０５の割当部分に合わないことがある。圧縮メモリ３０５内に完全に収まらないほどに圧縮更新メモリデータが大きいと判断されると、正確度ｐを１だけ減らし（３３５）、［例えば図２の符号化回路２３０は］スライス３１０を再圧縮して（３２５）第２圧縮更新メモリデータ［例：図２の圧縮データ２９０の再圧縮バージョン］を提供することができる。次に、第２圧縮更新メモリデータを再び測定して圧縮メモリデータが圧縮メモリ３０５に収まるかどうかを決定できる（３３０）。

正常の動作状況では、正確度ｐを１だけ減らすことによって（３３５，例：量子化段階の大きさを１だけ高めることによって）、エントロピーが十分に低下して圧縮更新データが圧縮メモリ３０５の対応スライスに合わせることができる。圧縮データが圧縮メモリ３０５に収まることができると、［例えば図２のメモリ制御器２２５は］圧縮データを圧縮メモリ３０５に保存し得る（３４０）。次に、次のスライス３１０（例：Ｓｌｉｃｅ２）に対してこの過程を反復し得る。

しかし、異常の動作状況では、例えば相対的に高いストレス値を扱うとき［例：追加ストレスデータ３２０が大きいとき］、または高いストレス状況（例：８ビット超過）では、圧縮データがメモリ３０５に収まるように正確度ｐが十分に低くなるまで、一度よりはるかに多くの回数の追加圧縮過程（３２５）を行い得る。したがって、メモリ３０５に収まるように圧縮データのサイズが十分に減るように、正確度ｐを低下させるために圧縮過程（３２５）を複数回繰り返すことを必要とする場合がある。例えば、画素当たり色相当たりストレスデータが３２ビットであり得る（例えば、各副画素のストレス値が３２ビット数として保存され得る）。そのため、ログ検索速度制御（ｌｏｇ－ｓｅａｒｃｈ ｒａｔｅ ｃｏｎｔｒｏｌ）は、圧縮メモリデータがメモリ３０５のバッファに収まることができるまで圧縮過程（３２５）を６回以上反復し得る。比較的多くの回数の圧縮過程（３２５）と関連して各映像フレーム（例：表示されたビデオ映像それぞれ）に対して各ストレス値を更新する計算上の負担は重要である。

許容可能な水準の性能［例：表示装置１００システムの許容可能な水準の遅延速度（ｌａｔｅｎｃｙ）］を保障するために、［例えば圧縮過程（３２５）の］適切な反復回数を制限し得る。例えば、本発明の実施形態によるハードウェアの具現では４回に制限し得る。また、比較的低い複雑度で正確度を推定することが有用であり得る。

図４は本発明の一実施形態による正確度とバッファサイズの間の最悪の関係［例：完全なランダムネス（ｃｏｍｐｌｅｔｅ ｒａｎｄｏｍｎｅｓｓ）に対応するエントロピーまたは最大エントロピー］を示す。

図４を参照すると、無作為ノイズ（ｒａｎｄｏｍ ｎｏｉｓｅ，例：最悪のシナリオ）は正確度（例：量子化の逆数）対バッファサイズ（例：メモリのバッファ内に位置する圧縮データのサイズ）のグラフに示された最低の傾きを有することに留意しなければならない。無作為ノイズに対応する傾きは本質的に線形であり得る（例えばそこでは各ビットプレーンが同じエントロピーを有する）。しかし、他のパターンは傾きがより大きくて線形ではない場合もあるが、その代わり単調に減少し得る。正確度を下げると（例えば量子化を高めると）バッファサイズが減る［例えば図３の圧縮メモリ３０５、図２のメモリ２０５、または図１のメモリ１２０に位置する圧縮データのサイズが減る］。本発明の一実施形態では図２の符号化回路２３０を使用して可能なすべての正確度に対してバッファサイズをプロットすることができる。

本発明の一実施形態によれば、システムの時間制限は圧縮データがバッファに収まる正確度ｐであると判断するまで許容可能な反復圧縮回数（例：４）を決定できる。しかし、本発明の一実施形態によれば、速度制御は３回の反復圧縮［例：図３の圧縮過程（３２５）３回］またはそれより少ない回数内で許容可能な正確度を収斂し得る。これとは逆に、ログ検索速度制御は平均６回またはそれより多くの回数も反復し得る。

通常の速度制御方法で行うように残りのバッファを画素数で割る代わりに、本発明の実施形態は現在のバッファサイズ（例：現在の正確度レベルに基づいた過去の圧縮データのサイズ）に対する目標バッファサイズ（例：圧縮メモリに収まることのできる圧縮データの最大サイズ）の比を使用するが、これは許容可能な正確度に対する減縮量に十分に近い。場合によっては、許容可能な正確度に対する減縮量を変更してストレスのサイズとバッファ内のデータの現在サイズを考慮することができる。

従来の速度制御方法とは異なり、本発明の実施形態はストレスデータおよびバッファデータのサイズを使用して正確度低下推定値をより良く改善できる速度制御アルゴリズムを提供する。例えば、本発明の一実施形態によれば、（例えば初期スライスの初期圧縮動作後に）次の数式１により予測正確度ｐを予測することができる。

ここで、ｐ_ｃは現在正確度（例：以前に使用された正確度）に対応し、ｐ_ｍは最小有効正確度（ｍｉｎｉｍｕｍ ｅｆｆｅｃｔｉｖｅ ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ）に対応し、ｂ_ｔは目標バッファサイズ（例：圧縮ストレスデータを保存するための利用可能なメモリサイズ）に対応し、ｂ_ｃは現在バッファサイズ（例：一スライスに対する第１圧縮更新ストレスデータのサイズ）に対応する。本発明の一実施形態によれば、予測正確度ｐは、表示装置のプロセッサ［例：図１に示す表示装置１００の処理回路１１５、または図２のシステム２００］が数式１により計算することができる。例えば、符号化回路２３０が予測正確度ｐを計算できるが、他の例ではメモリ制御器２２５が符号化回路２３０を計算することもできる。

場合によっては、正確度ｐを予測するアルゴリズムを変更してストレスのサイズとバッファにあるデータの現在サイズとを考慮することができる。初期圧縮動作後に、ストレスＭＳＢ（ｍｏｓｔ ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔ）およびメモリＭＳＢが分かる。入力ストレスデータのＭＳＢ（例：ストレスＭＳＢ）は、ストレスデータが圧縮更新データのサイズに影響を及ぼし得る最小正確度ｐ_ｓを設定する。伸長データのサイズに基づいてメモリ３０５に保存された圧縮データのＭＡＢ（例：メモリＭＳＢ）が分かり、圧縮データのＭＡＢは、メモリが圧縮更新データのサイズに影響を及ぼし得る最小バッファ正確度ｐ_ｂを設定する。ストレスＭＳＢを使用することによって、最小正確度ｐ_ｓを決定することができ（例：３２ビット信号に対して、ｐ_ｓ＝３２－ストレスＭＳＢ）、メモリＭＳＢを使用して、最小バッファ正確度ｐ_ｂを決定できる（例：３２ビット信号に対して、ｐ_ｂ＝３２－メモリＭＳＢ）。

したがって、最小有効正確度ｐ_ｍは数式１に基づいて最小正確度ｐ_ｓおよび最小バッファ正確度ｐ_ｂのうち小さい値に決定できる。また、映像データにストレスデータを加える効果はストレスＭＳＢ、メモリＭＳＢおよび現在正確度ｐ_ｃによって変わる。予測正確度ｐは、また、目標バッファサイズｂ_ｔと現在バッファサイズｂ_ｃとの比によって大きく変わる。

一方、目標バッファサイズｂ_ｔと現在バッファサイズｂ_ｃとの比が１に近いと、従来の速度制御方法のように最小正確度の低下を１にすることが適正である。しかし、その比が１よりはるかに小さいと［例えば現在バッファサイズｂ_ｃが目標バッファサイズｂ_ｔよりはるかに大きいと］、ストレスデータにノイズおよび／または高いストレス値の形態でエントロピーが多く「注入（ｉｎｊｅｃｔｉｏｎ）」または導入（ｉｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎ）されたと仮定することができる。その結果、数式１を用いて正確度ｐを予測すると、潜在的に過大評価される正確度の低下が示される（例：メモリで圧縮メモリデータを合わせるのに必要な分より大きくデータを量子化し、正確度ｐが不要に低下し得る）。しかし、反復圧縮が非常に多く必要なほどに、調整正確度（ａｄｊｕｓｔｅｄ ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ，ｐ）が以前の推定正確度から低下する水準を過小評価しない。また、数式１の結果として、これ以上の正確度低下は何のメリットもないと判断した場合、最小正確度ｐ_ｓおよび最小バッファ正確度ｐ_ｂを使用して正確度対バッファサイズの傾きを大きくし得る（例：図４に示した正確度減少推定を下落させる）。

数式１を用いることにより、本発明の一実施形態によるシステムは、ストレスデータのＭＳＢを知る場合、固有圧縮アルゴリズムを用いて正確度ｐの下限を設定することができる。本発明の一実施形態による圧縮アルゴリズムは、メモリのＭＳＢが継続的に大きくなる（例：累積ストレスは一般に負ではない）点で圧縮アルゴリズムの中で特別である。また、他の速度制御アルゴリズムとは異なり、本発明の実施形態は初期圧縮ｐ_ｃ、追加ストレスｐ_ｓのサイズおよびバッファｐ_ｂ内のサイズを考慮する。したがって、システムは、互いに異なる種類のストレスデータの下で動作することができ、正確度ｐを効率的かつ迅速に見つけて平均反復回数を減らすことができ、複雑度が低い。

本発明の他の実施形態では、最小有効正確度ｐ_ｍ＝０に設定することによって正確度は低いが収斂性が非常に良い単純化バージョンを提示できることを留意しなければならない。また、本発明の一実施形態はログ検索（ｌｏｇ－ｓｅａｒｃｈ）またはＮｅｗｔｏｎ－Ｒａｐｈｓｏｎ補間法を使用できるが、正確度のためのログ検索は６回が最大反復回数であり、Ｎｅｗｔｏｎ－Ｒａｐｈｓｏｎ補間法は数式１に対応するアルゴリズムよりも複雑で除算が多いことに留意しなければならない。

図５は本発明の一実施形態による正確度の決定方法の流れ図を示す。

図５を参照すると、このような動作は図１に示す表示装置１００の処理回路１１５または図２のシステム２００により行われる。

段階（Ｓ５１０）で、（例えば過去のスライスに対する初期圧縮から）ストレスデータのＭＳＢ（例：ストレスＭＳＢ）を決定し、これを用いて最小正確度ｐ_ｓを決定できる。

段階（Ｓ５２０）で、［例：図２の復号化回路２３５が］ストレスデータを伸長して目標バッファサイズｂ_ｔと現在正確度ｐ_ｃとを決定することができ、これらを用いてメモリのＭＳＢ（例：メモリＭＳＢ）を決定し得る。

段階（Ｓ５３０）で、最小正確度ｐ_ｓと最小バッファ正確度ｐ_ｂとのうち小さい値で最小有効正確度ｐ_ｍを決定し得る。本発明の他の実施形態によれば、最小有効正確度ｐ_ｍを０に設定して、正確度は低いが収斂性が良い単純化バージョンを提供できることに留意しなければならない。

段階（Ｓ５４０）で、ストレスとディザとを現在メモリバッファ［例：現在バッファサイズｂ_ｃ］に加えることができ、予測正確度ｐを現在正確度ｐ_ｃに設定し得る。

段階（Ｓ５５０）で、予測正確度ｐを使用してストレスデータを圧縮して現在バッファサイズｂ_ｃを見つける。

段階（Ｓ５６０）で、現在バッファサイズｂ_ｃが目標バッファサイズｂ_ｔ以下であるかどうかを判断する。もし現在バッファサイズｂ_ｃが目標バッファサイズｂ_ｔ以下なら、段階（Ｓ５９０）で正確度ｐが許容可能であるため圧縮データがメモリに収まるようにすると決定し得る。

現在バッファサイズｂ_ｃが目標バッファサイズｂ_ｔより大きいと、段階（Ｓ５７０）で、現在正確度ｐ_ｃを予測正確度ｐと同一に設定することができる。

次に、段階（Ｓ５８０）で、数式１（ｐ＝［（ｐ_ｃ－ｐ_ｍ）ｂ_ｔ／ｂ_ｃ］＋ｐ_ｍ）を用いて予測正確度ｐを決定することができ、過程は段階（Ｓ５５０）に戻って再び予測正確度ｐを使用して現在バッファサイズｂ_ｃを圧縮して見つける。

したがって、先立って説明した通り、（例えば、通常の速度制御方法で行うように）残りのバッファを画素数で割る代わりに、本発明の実施形態は、現在バッファサイズに対する目標バッファサイズの比を使用することができる。現在バッファサイズに対する目標バッファサイズの比は、許容可能な正確度に対して適切な減縮量に十分に近く、圧縮データがバッファに収まるようにすることができる。

したがって、本発明の実施形態が提示する利点は、圧縮品質を大幅に犠牲にすることなく（例えば必要な正確度の減少量より大きく目標バッファサイズにすることなく）３回またはそれより少ない回数（例：２回）内で反復して速度制御を適切な正確度に収斂させる能力である。

すなわち、本発明の実施形態は一度の圧縮後に利用可能な情報を効率的に使用し、迅速に収斂し、複雑度が低く（例：一度の除算）、（例えばノイズによる）最悪のシナリオに対してもよく適用され、すべての可能な場合に対してはわずかに過大評価する低複雑度（ｌｏｗ－ｃｏｍｐｌｅｘｉｔｙ）の速度制御アルゴリズムを提示することによって速度制御を向上することができる。また、本発明の実施形態は高い水準のノイズに対してもよく適用されるより簡単な方法も提示する。

以上、本発明の実施形態について説明したが、当業者であれば後述する特許請求の範囲に記載した本発明の概念と技術的な範囲から逸脱することなく本発明の範囲内で本発明を多様に変更および変化させ得ることを理解することができる。

したがって、本発明の技術的範囲は明細書の詳細な説明に記載した内容に限定されず請求範囲とその等価物によって決定されるべきである。

１００ 表示装置
１１０ 表示パネル
１１５ 処理回路
１２０，２０５，３０５ メモリ
２００ システム
２１０ 補正回路
２１５ サンプリング回路
２２０ 加算回路
２２５ メモリ制御器
２３０ 符号化回路
２３５ 復号化回路
２４０ 復元ストレスデータ
２４５ ストレス変換回路
２５０ 入力映像データ
２５５ 過去保存済ストレスデータ
２６０ 出力映像データ
２６５ 駆動電流調整変換値
２７５ 取出し回路
２８０ 調整ストレスデータ
２８５ ディザリング回路
２９０ 圧縮データ
２９５ 過去保存済圧縮ストレスデータ
３１０ スライス
３２０ 追加ストレスデータ

Claims (20)

1. 表示装置の一スライスに対する圧縮ストレスデータ（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を受信する段階、
   前記圧縮ストレスデータを伸長して前記スライスに対する復元ストレスデータ（ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、
   追加ストレスデータ（ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、
   前記更新ストレスデータを第１正確度レベル（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｌｅｖｅｌ，ｐ_ｃ）で符号化して前記スライスに対する第１圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を生成する段階、
   前記スライスに対する前記第１圧縮更新ストレスデータのサイズ（ｂ_ｃ）がバッファのサイズ（ｂ_ｔ）より大きいことに応答して、第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階、および
   前記更新ストレスデータを前記第２正確度レベル（ｐ）で符号化して第２圧縮更新ストレスデータを生成する段階
   を含み、
   前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）、前記追加ストレスデータの第３正確度レベル（ｐ_ｓ）および前記バッファの第４正確度レベル（ｐ_ｂ）に基づく、
   表示装置の制御方法。
2. 前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第２正確度レベル（ｐ）を［（ｐ_ｃ－ｐ_ｍ）ｂ_ｔ／ｂ_ｃ］＋ｐ_ｍと同一に設定する段階を含み、
   ｐ_ｍは、前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）及び前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）のうち小さい方である、請求項１に記載の表示装置の制御方法。
3. 前記追加ストレスデータの最上位ビット（ＭＳＢ：ｍｏｓｔ ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔ）に基づいて前記追加ストレスデータの前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）を決定する段階、および
   前記バッファ内のデータの最上位ビットに基づいて前記バッファの前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）を決定する段階
   をさらに含む、請求項２に記載の表示装置の制御方法。
4. 前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第２正確度レベル（ｐ）をｐ_ｃｂ_ｔ／ｂ_ｃと同一に設定する段階を含む、請求項１に記載の表示装置の制御方法。
5. 前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）は、前記圧縮ストレスデータを生成するために使用される正確度レベルである、請求項１に記載の表示装置の制御方法。
6. 前記追加ストレスデータに加え、ディザを前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する前記更新ストレスデータを求める段階をさらに含む、請求項１に記載の表示装置の制御方法。
7. 前記第２圧縮更新ストレスデータが前記バッファ内に収まることを判断する段階、および
   前記第２圧縮更新ストレスデータを前記バッファに保存する段階
   をさらに含む、請求項１に記載の表示装置の制御方法。
8. 圧縮ストレスデータ（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を保存するバッファ、
   表示装置の一スライスに対する前記圧縮ストレスデータを受信し、前記圧縮ストレスデータを伸長して前記スライスに対する復元ストレスデータ（ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る復号化回路、
   追加ストレスデータ（ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る加算回路、
   前記更新ストレスデータを第１正確度レベル（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｌｅｖｅｌ，ｐ_ｃ）で符号化して前記スライスに対する第１圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を生成する符号化回路、および
   前記スライスに対する前記第１圧縮更新ストレスデータのサイズ（ｂ_ｃ）がバッファのサイズ（ｂ_ｔ）より大きいことに応答して、第２正確度レベル（ｐ）を決定するプロセッサ
   を含み、
   前記プロセッサは、前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）、前記追加ストレスデータの第３正確度レベル（ｐ_ｓ）および前記バッファの第４正確度レベル（ｐ_ｂ）に基づいて前記第２正確度レベル（ｐ）を決定し、
   前記符号化回路は、前記更新ストレスデータを前記第２正確度レベル（ｐ）で符号化して第２圧縮更新ストレスデータを生成する、
   表示装置。
9. 前記プロセッサは、前記第２正確度レベル（ｐ）を［（ｐ_ｃ－ｐ_ｍ）ｂ_ｔ／ｂ_ｃ］＋ｐ_ｍと同一に設定することによって前記第２正確度レベル（ｐ）を決定し、
   ｐ_ｍは、前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）及び前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）のうち小さい方である、請求項８に記載の表示装置。
10. 前記プロセッサは、
    前記追加ストレスデータの最上位ビット（ＭＳＢ：ｍｏｓｔ ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔ）に基づいて前記追加ストレスデータの前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）を決定し、
    前記バッファ内のデータの最上位ビットに基づいて前記バッファの前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）を決定する、請求項９に記載の表示装置。
11. 前記プロセッサは、前記第２正確度レベル（ｐ）をｐ_ｃｂ_ｔ／ｂ_ｃと同一に設定することによって前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する、請求項８に記載の表示装置。
12. 前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）は、前記バッファに保存された前記圧縮ストレスデータを生成するために使用される正確度レベルである、請求項８に記載の表示装置。
13. 前記追加ストレスデータに加え、ディザを前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する前記更新ストレスデータを求めるディザリング回路をさらに含む、請求項８に記載の表示装置。
14. 前記第２圧縮更新ストレスデータを前記バッファに保存するメモリ制御器をさらに含む、請求項８に記載の表示装置。
15. 表示装置とともに備えられる非一時的コンピュータ読み取り可能媒体（ｎｏｎ－ｔｒａｎｓｉｔｏｒｙ ｃｏｍｐｕｔｅｒ ｒｅａｄａｂｌｅ ｍｅｄｉｕｍ）であって、
    プロセッサで実行されると前記表示装置の制御方法で制御を行うコンピュータコードを含み、
    前記制御方法は、
    表示装置の一スライスに対する圧縮ストレスデータ（ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を受信する段階、
    前記圧縮ストレスデータを伸長して前記スライスに対する復元ストレスデータ（ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、
    追加ストレスデータ（ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を得る段階、
    前記更新ストレスデータを第１正確度レベル（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ ｌｅｖｅｌ，ｐ_ｃ）で符号化して前記スライスに対する第１圧縮更新ストレスデータ（ｕｐｄａｔｅｄ ｃｏｍｐｒｅｓｓｅｄ ｓｔｒｅｓｓ ｄａｔａ）を生成する段階、
    前記スライスに対する前記第１圧縮更新ストレスデータのサイズ（ｂ_ｃ）がバッファのサイズ（ｂ_ｔ）より大きいことに応答して、第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階、および
    前記更新ストレスデータを前記第２正確度レベル（ｐ）で符号化して第２圧縮更新ストレスデータを生成する段階
    を含み、
    前記第２正確度レベル（ｐ）を決定する段階は、前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）、前記追加ストレスデータの第３正確度レベル（ｐ_ｓ）および前記バッファの第４正確度レベル（ｐ_ｂ）に基づく、
    非一時的コンピュータ読み取り可能媒体。
16. 前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、前記第２正確度レベル（ｐ）を［（ｐ_ｃ－ｐ_ｍ）ｂ_ｔ／ｂ_ｃ］＋ｐ_ｍと同一に設定することによって前記第２正確度レベル（ｐ）を決定し、
    ｐ_ｍは、前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）及び前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）のうち小さい方である、請求項１５に記載の非一時的コンピュータ読み取り可能媒体。
17. 前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、
    前記追加ストレスデータの最上位ビット（ＭＳＢ：ｍｏｓｔ ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｂｉｔ）に基づいて前記追加ストレスデータの前記第３正確度レベル（ｐ_ｓ）を決定し、
    前記バッファ内のデータの最上位ビットに基づいて前記バッファの前記第４正確度レベル（ｐ_ｂ）を決定することによって、
    前記制御方法を行う、請求項１６に記載の非一時的コンピュータ読み取り可能媒体。
18. 前記第１正確度レベル（ｐ_ｃ）は、前記圧縮ストレスデータを生成するために使用される正確度レベルである、請求項１５に記載の非一時的コンピュータ読み取り可能媒体。
19. 前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、前記追加ストレスデータに加え、ディザを前記復元ストレスデータに加えて前記スライスに対する前記更新ストレスデータを求めることによって前記制御方法を行う、請求項１５に記載の非一時的コンピュータ読み取り可能媒体。
20. 前記コンピュータコードは、前記プロセッサで実行されると、
    前記第２圧縮更新ストレスデータが前記バッファ内に収まることを判断し、
    前記第２圧縮更新ストレスデータを前記バッファに保存することによって、
    前記制御方法を行う、請求項１５に記載の非一時的コンピュータ読み取り可能媒体。