JP7503915B2 - Cleaning Sheet - Google Patents

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本発明は、クリーニングシートに関する。 The present invention relates to a cleaning sheet.

精密機器等の表面における付着物を洗浄するための部材として、当該機器の用途や形状等に応じ、様々な洗浄用部材が開発されている。中でも、半導体ウェハ上に形成されたチップの導通検査用のプローブ(探針)を洗浄する用途では、特殊な洗浄用部材が提案されている。 A variety of cleaning materials have been developed to clean deposits on the surfaces of precision equipment, etc., depending on the use and shape of the equipment. In particular, special cleaning materials have been proposed for cleaning probes (needles) used to test the continuity of chips formed on semiconductor wafers.

上記用途については、例えば、特許文献1において、発泡体シートの少なくとも一方の面に形成され、旧モース硬度を7~9の範囲に設定したコーティング層を有するクリーニングパッドが開示されており、当該クリーニングパッドによれば、プローブピンを過度に摩耗等させることなくプローブピンに付着した付着物を除去できるとされている。また、例えば、特許文献2において、クリーニング層を有するクリーニングシートであって、該クリーニング層がガラス転移点Tgを有するポリマー成分を含み、該クリーニング層が、該Tg以上の温度領域において所定の引張貯蔵弾性率を有し、該Tg未満の温度領域において所定の引張貯蔵弾性率を有するクリーニングシートが開示されており、当該クリーニングシートによれば、プローブを摩耗させることなくプローブの付着物を除去できるとされている。 For the above-mentioned uses, for example, Patent Document 1 discloses a cleaning pad having a coating layer formed on at least one surface of a foam sheet and having a Mohs hardness set in the range of 7 to 9, and it is said that this cleaning pad can remove deposits attached to a probe pin without excessively wearing down the probe pin. Also, for example, Patent Document 2 discloses a cleaning sheet having a cleaning layer, which contains a polymer component having a glass transition point Tg, and which has a predetermined tensile storage modulus in a temperature range equal to or higher than the Tg and a predetermined tensile storage modulus in a temperature range below the Tg, and it is said that this cleaning sheet can remove deposits from a probe without wearing down the probe.

特開2005-091213号公報JP 2005-091213 A 特許第5675472号公報Patent No. 5675472

電力制御用の半導体素子(パワーデバイス)の分野においては、通常の半導体分野よりも高水準の耐熱性が要求されるため、高温条件下における導通検査も実施されるが、その際に使用されるプローブも検査の過程で高温となる。かかるプローブを繰り返し使用する場合、逐一プローブ表面を洗浄する必要があるが、検査工程上、当該プローブはin-situ洗浄に供されることが望ましい。すなわち、高温条件下でのプローブ洗浄を可能とする洗浄用部材が求められる。 In the field of semiconductor elements for power control (power devices), a higher level of heat resistance is required than in the field of ordinary semiconductors, so continuity tests are also carried out under high-temperature conditions, and the probes used in these tests also become hot during the test process. When such probes are used repeatedly, the probe surface needs to be cleaned each time, and for the sake of the test process, it is desirable to subject the probe to in-situ cleaning. In other words, there is a demand for cleaning materials that enable probe cleaning under high-temperature conditions.

ここで、特許文献1に記載のクリーニングパッドにおいては、コーティング層としてウレタン樹脂を用いることが好ましいとされている。しかしながら、ウレタン樹脂をコーティング層として適用する場合、例えば200℃を超えるような高温条件下では、樹脂成分由来の揮発分、いわゆるアウトガスが生ずる。このようにアウトガスが発生すると、半導体素子や半導体装置等の汚染につながる。微量のコンタミであっても問題となる半導体装置の製造プロセスにおいて、歩留まりの低下や品質低下を避ける観点から、アウトガス発生の防止は重要な課題となる。 Here, in the cleaning pad described in Patent Document 1, it is preferable to use a urethane resin as the coating layer. However, when a urethane resin is used as the coating layer, volatile matter derived from the resin components, known as outgassing, is generated under high temperature conditions, for example, above 200°C. Such outgassing leads to contamination of semiconductor elements, semiconductor devices, and the like. In the manufacturing process of semiconductor devices, where even a small amount of contamination is problematic, preventing outgassing is an important issue from the viewpoint of avoiding a decrease in yield and a decrease in quality.

次いで、特許文献2に記載のクリーニングパッドにおいては、クリーニング層として耐熱性樹脂を適用できるとされているが、一方で、当該クリーニング層に加えて含みうる粘着剤層については、アクリル系粘着剤やゴム系粘着剤など通常の粘着剤が用いられるとされている。当該クリーニングパッドは、定盤に固定して(貼り付けて)使用されるのが一般的であるところ、上記の粘着剤層を有するクリーニングパッドを200℃を超えるような高温条件下で使用すると、粘着剤成分が揮発するため、この場合もアウトガスの問題が生ずることになる。さらに、粘着剤層の劣化による層間剥離の問題も生ずる。 Next, in the cleaning pad described in Patent Document 2, it is said that a heat-resistant resin can be used as the cleaning layer, but on the other hand, the adhesive layer that can be included in addition to the cleaning layer is said to be made of a normal adhesive such as an acrylic adhesive or a rubber adhesive. The cleaning pad is generally used by fixing (attaching) it to a table, and when a cleaning pad having the above-mentioned adhesive layer is used under high-temperature conditions exceeding 200°C, the adhesive components volatilize, and in this case too, the problem of outgassing occurs. Furthermore, the problem of delamination due to deterioration of the adhesive layer also occurs.

上記のとおり、高温条件下で使用することを想定し、単にプローブを洗浄するだけでなく、アウトガスの発生を防止する観点から、従来技術には依然として改善の余地がある。 As mentioned above, there is still room for improvement in conventional technology in terms of preventing outgassing, rather than simply cleaning the probe, assuming use under high temperature conditions.

本発明は、上記の従来技術が有する課題に鑑みてなされたものであり、高温条件下で使用することを想定し、アウトガスの発生を防止しつつプローブを洗浄できるクリーニングシートを提供することを目的とする。 The present invention was made in consideration of the problems with the conventional technology described above, and aims to provide a cleaning sheet that is designed for use under high temperature conditions and can clean a probe while preventing outgassing.

本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意検討した。その結果、クリーニングシートを構成するコーティング層及び接着層として所定の材料を適用することにより、上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成するに至った。 The inventors conducted extensive research to solve the above problems. As a result, they discovered that the above problems could be solved by using specific materials for the coating layer and adhesive layer that make up the cleaning sheet, and thus completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の態様を包含する。
[1]
複数の気泡を有する基材層と、
前記基材層の一面上に配され、かつ、被洗浄物を洗浄するための洗浄面を有し、かつ、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含むコーティング層と、
前記基材層の他面上に配され、かつ、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含む接着層と、
を含み、
前記コーティング層を熱重量示差熱分析に供し、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R1が、0.10質量%以下である、クリーニングシート。
[2]
前記基材層を熱重量示差熱分析に供し、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R2が、0.10質量%以下である、[1]に記載のクリーニングシート。
[3]
前記接着層を熱重量示差熱分析に供し、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R3が、0.10質量%以下である、[1]又は[2]に記載のクリーニングシート。
[4]
前記基材層における前記複数の気泡の平均孔径が、10μm以上100μm以下である、[1]~[3]のいずれかにクリーニングシート。
[5]
前記コーティング層が、砥粒を含む、[1]~[4]のいずれかに記載のクリーニングシート。
[6]
前記砥粒の粒径が、0.5μm以上10μm以下である、[5]に記載のクリーニングシート。
[7]
前記基材層が、フッ素樹脂を含む、[1]~[6]のいずれかに記載のクリーニングシート。
[8]
プローブのクリーニング用である、[1]~[7]のいずれかに記載のクリーニングシート。
[9]
前記プローブのクリーニング装置に導入するための土台層を更に含む、[8]に記載のクリーニングシート。
That is, the present invention includes the following aspects.
[1]
A substrate layer having a plurality of bubbles;
a coating layer disposed on one surface of the base layer, having a cleaning surface for cleaning an object to be cleaned, and containing at least one of an imide resin and an epoxy resin;
an adhesive layer disposed on the other surface of the base layer and containing at least one of an imide resin and an epoxy resin;
Including,
The coating layer is subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis, and the weight loss rate R1 calculated from the weight when the coating layer is heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, maintained at 210° C. for 10 minutes, and cooled to 40° C. as a reference, and the weight when the coating layer is further heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, and maintained at 210° C. for 10 minutes, is 0.10 mass% or less.
[2]
The cleaning sheet according to [1], wherein the base layer is subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis, and the weight loss rate R2 calculated from the weight when the base layer is heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, held at 210° C. for 10 minutes, and cooled to 40° C. is taken as a reference, and the weight when the base layer is further heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, and held at 210° C. for 10 minutes is 0.10 mass% or less.
[3]
The cleaning sheet according to [1] or [2], wherein the adhesive layer is subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis, and the weight loss rate R3 calculated from the weight when the adhesive layer is heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, held at 210° C. for 10 minutes, and cooled to 40° C. is taken as a standard, and the weight when the adhesive layer is further heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, held at 210° C. for 10 minutes, is 0.10% by mass or less.
[4]
The cleaning sheet according to any one of [1] to [3], wherein an average pore size of the plurality of bubbles in the base layer is 10 μm or more and 100 μm or less.
[5]
The cleaning sheet according to any one of [1] to [4], wherein the coating layer contains abrasive grains.
[6]
The cleaning sheet according to [5], wherein the abrasive grains have a grain size of 0.5 μm or more and 10 μm or less.
[7]
The cleaning sheet according to any one of [1] to [6], wherein the base layer contains a fluororesin.
[8]
The cleaning sheet according to any one of [1] to [7], which is for cleaning a probe.
[9]
The cleaning sheet according to claim 8, further comprising a base layer for introduction into a cleaning device of the probe.

本発明によれば、高温条件下で使用した場合であっても、アウトガスの発生を防止しつつプローブを洗浄できる、クリーニングシートを提供することができる。 The present invention provides a cleaning sheet that can clean a probe while preventing outgassing, even when used under high temperature conditions.

本実施形態のクリーニングシートの一態様を例示する概略模式図である。1 is a schematic diagram illustrating one aspect of a cleaning sheet according to an embodiment of the present invention;

以下、本発明を実施するための形態(以下、単に「本実施形態」という。)について詳細に説明する。なお、本実施形態は、本発明を説明するための例示であり、本発明は以下の実施形態のみに限定されない。 The following describes in detail the embodiment of the present invention (hereinafter, simply referred to as the "present embodiment"). Note that the present embodiment is an example for explaining the present invention, and the present invention is not limited to the following embodiment.

〔クリーニングシート〕
本実施形態のクリーニングシートは、複数の気泡を有する基材層と、前記基材層の一面上に配され、かつ、被洗浄物を洗浄するための洗浄面を有し、かつ、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含むコーティング層と、前記基材層の他面上に配され、かつ、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含む接着層と、を含み、前記コーティング層を熱重量示差熱分析に供し、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R1が、0.10質量%以下である。なお、上記重量減少率R1は、上記熱重量示差熱分析に供する際(40℃からの昇温前)のコーティング層の質量を基準とする値である。このように構成されているため、本実施形態のクリーニングシートは、高温条件下で使用した場合であっても、アウトガスの発生を防止しつつプローブを洗浄できる。
[Cleaning sheet]
The cleaning sheet of this embodiment includes a base layer having a plurality of bubbles, a coating layer arranged on one side of the base layer, having a cleaning surface for cleaning an object to be cleaned, and containing at least one of an imide resin and an epoxy resin, and an adhesive layer arranged on the other side of the base layer and containing at least one of an imide resin and an epoxy resin, and the coating layer is subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis, heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, held at 210° C. for 10 minutes, and cooled to 40° C. as a reference, and a weight reduction rate R1 calculated from the mass when the coating layer is heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min and held at 210° C. for 10 minutes is 0.10% by mass or less. The weight reduction rate R1 is a value based on the mass of the coating layer when subjected to the thermogravimetric differential thermal analysis (before heating from 40° C.). Because of this configuration, the cleaning sheet of this embodiment can clean the probe while preventing the generation of outgassing, even when used under high temperature conditions.

本実施形態のクリーニングシートの一例を、図1に基づいて説明する。クリーニングシート10は、基材層1と、被洗浄物Wを洗浄するための洗浄面2aを有するコーティング層2と、基材層1のコーティング層2側の面と反対面側に形成された接着層3と、を備える。クリーニングシート10は、接着層3により、保持定盤に固定され、被洗浄物Wに対する相対位置も固定された状態となる。次いで、コーティング層2の洗浄面2aが被洗浄物Wに当接した状態とし、被洗浄物Wの表面上でクリーニングシート10を摺動させることにより、洗浄を行う。被洗浄物Wとしては、特に限定されないが、プローブを好ましく適用でき、中でも、高温の状態での洗浄が求められる、半導体ウェハ上のチップの導通検査用プローブをとりわけ好ましく適用できる。 An example of the cleaning sheet of this embodiment will be described with reference to FIG. 1. The cleaning sheet 10 comprises a base layer 1, a coating layer 2 having a cleaning surface 2a for cleaning the object W, and an adhesive layer 3 formed on the opposite side of the base layer 1 to the surface on which the coating layer 2 is located. The cleaning sheet 10 is fixed to a holding platen by the adhesive layer 3, and its relative position with respect to the object W is also fixed. Next, the cleaning surface 2a of the coating layer 2 is brought into contact with the object W, and the cleaning sheet 10 is slid over the surface of the object W to perform cleaning. The object W to be cleaned is not particularly limited, but a probe can be preferably used, and in particular, a probe for testing the continuity of chips on a semiconductor wafer, which requires cleaning at high temperatures, can be preferably used.

(コーティング層)
本実施形態におけるコーティング層は、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含むものであり、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R1が、0.10質量%以下である。ここで、熱重量示差熱分析における重量減少分は、コーティング層を同様の温度条件下に置いたときに、当該コーティング層に含まれる樹脂やその他の添加剤等に由来する揮発分(すなわち、アウトガス)の量に対応するものといえる。すなわち、上記重量減少率R1が、0.10質量%以下であることは、上記温度条件においてコーティング層由来のアウトガスの量が0.10質量%以下に低減されることを意味する。
上記のとおり、本実施形態のクリーニングシートは、被洗浄物を洗浄するための洗浄面を有するコーティング層において、上記温度条件下でもアウトガスの量が十分に低減されるため、高温条件下で使用した場合であっても、アウトガスの発生を防止しつつプローブ洗浄が可能となる。
(Coating Layer)
The coating layer in this embodiment contains at least one of an imide resin and an epoxy resin, and the weight reduction rate R1 calculated from the mass when the coating layer is heated from 40°C to 210°C at 15°C/min, held at 210°C for 10 minutes, and cooled to 40°C, at a rate of 0.10% by mass or less. Here, the weight reduction amount in the thermogravimetric differential thermal analysis corresponds to the amount of volatile matter (i.e., outgassing) derived from the resin and other additives contained in the coating layer when the coating layer is placed under the same temperature conditions. In other words, the weight reduction rate R1 being 0.10% by mass or less means that the amount of outgassing derived from the coating layer is reduced to 0.10% by mass or less under the above temperature conditions.
As described above, in the cleaning sheet of the present embodiment, the amount of outgassing is sufficiently reduced even under the above-mentioned temperature conditions in the coating layer having a cleaning surface for cleaning an object to be cleaned, so that even when used under high temperature conditions, it is possible to clean a probe while preventing the generation of outgassing.

本実施形態におけるコーティング層は、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含み、上記重量減少率R1が、0.10質量%以下となるものであれば特に限定されない。
コーティング層に含まれ得るイミド樹脂としては、特に限定されないが、例えば、芳香族系ポリイミド樹脂等が挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。上記については、市販品を用いることもでき、以下の例に限定されないが、例としてIMITEX株式会社製の商品名「IMIX-300」及び商品名「IMIX-100」等が挙げられる。
上記したイミド樹脂は、1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。
コーティング層に含まれ得るエポキシ樹脂としては、特に限定されないが、例えば、芳香族系エポキシ樹脂が挙げられ、その中でもフェノール系エポキシ樹脂が好ましい。エポキシ樹脂のプレポリマーとしてはビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂等のプレポリマーが挙げられ、硬化剤としてはポリアミン、ポリアミド、ノボラック型フェノール樹脂、酸無水物などが挙げられる。これらの中でも、耐熱性やアウトガス低減の観点から、硬化剤にノボラック型フェノール樹脂を採用したエポキシ樹脂が好ましい。これらは1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。上記については、市販品を用いることもでき、以下の例に限定されないが、プレポリマーとしては三菱化学社製のエポキシ樹脂プレポリマー(商品名「YX7105」)等が挙げられ、硬化剤としては群栄化学社製のノボラック型フェノール樹脂(商品名「PSM4261」)などが挙げられる。
上記したエポキシ樹脂は、1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。
The coating layer in the present embodiment is not particularly limited as long as it contains at least one of an imide resin and an epoxy resin and the weight reduction rate R1 is 0.10 mass % or less.
The imide resin that can be contained in the coating layer is not particularly limited, but examples thereof include aromatic polyimide resins. These can be used alone or in combination of two or more. Commercially available products can also be used for the above, and examples thereof include, but are not limited to, products manufactured by IMITEX Corporation under the trade names "IMIX-300" and "IMIX-100."
The above-mentioned imide resins can be used alone or in combination of two or more.
The epoxy resin that can be contained in the coating layer is not particularly limited, but examples thereof include aromatic epoxy resins, and among them, phenolic epoxy resins are preferred. Examples of epoxy resin prepolymers include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, and novolac type epoxy resins, and examples of curing agents include polyamines, polyamides, novolac type phenolic resins, and acid anhydrides. Among these, from the viewpoint of heat resistance and reducing outgassing, epoxy resins that use novolac type phenolic resins as curing agents are preferred. These can be used alone or in combination of two or more. Commercially available products can also be used for the above, and are not limited to the following examples, but examples of prepolymers include epoxy resin prepolymers manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (trade name "YX7105"), and examples of curing agents include novolac type phenolic resins manufactured by Gun-ei Chemical Co., Ltd. (trade name "PSM4261").
The above-mentioned epoxy resins can be used alone or in combination of two or more.

本実施形態におけるコーティング層の上記重量減少率R1を0.10質量%以下とするための方法としては、以下に限定されないが、例えば、比較的高分子量のイミド樹脂及び/又はエポキシ樹脂を用いる、芳香環構造等の化学構造を有するイミド樹脂及び/又はエポキシ樹脂を用いる、硬化剤にノボラック型フェノール樹脂を採用したエポキシ樹脂を用いる、または、前処理として、クリーニングシートを全体的に200℃を超える温度で2~4時間程度加熱して揮発性成分を除去する、前述した好ましいイミド樹脂及び/又はエポキシ樹脂等の高温条件下で分解したり揮発しにくい化合物の含有量をコーティング層の樹脂成分基準で80質量%以上とする等が挙げられる。一方、前述した前処理を実施したとしても、イミド樹脂及び/又はエポキシ樹脂以外の材料でコーティング層を形成すると、アウトガスの発生を抑制できたとしても耐熱性に劣り、短時間の使用で物性が変化するなどの問題が発生する恐れがある。 Methods for making the weight loss rate R1 of the coating layer in this embodiment 0.10% by mass or less include, but are not limited to, using a relatively high molecular weight imide resin and/or epoxy resin, using an imide resin and/or epoxy resin having a chemical structure such as an aromatic ring structure, using an epoxy resin using a novolac type phenolic resin as a curing agent, or, as a pretreatment, heating the cleaning sheet as a whole at a temperature exceeding 200°C for about 2 to 4 hours to remove volatile components, or setting the content of compounds that are difficult to decompose or volatilize under high temperature conditions, such as the above-mentioned preferred imide resin and/or epoxy resin, to 80% by mass or more based on the resin components of the coating layer. On the other hand, even if the above-mentioned pretreatment is performed, if the coating layer is formed from a material other than the imide resin and/or epoxy resin, problems such as poor heat resistance and changes in physical properties after short-term use may occur even if the generation of outgassing can be suppressed.

本実施形態におけるコーティング層は、より効果的な洗浄を行う観点から、砥粒を含むことが好ましい。本明細書において、砥粒とは被洗浄物に付着した異物を除去し得る粒子状成分を意味し、一般的に粒径0.1μm程度から1000μm程度のものが使用される。上記砥粒の粒径としては、例えば、レーザー回折式粒度分布測定装置(例えばマイクロトラック・ベル社製、MT3300)を用いて、レーザー回折法により平均粒径D50(メディアン径)を測定することができる。
砥粒としては、以下に限定されないが、例えば、ダイヤモンド、ホワイトアルミナ、炭化ケイ素、炭化ホウ素、酸化セリウム、酸化ジルコニウム、酸化クロム、酸化鉄、酸化チタン、二酸化ケイ素、二酸化マンガン、三酸化二マンガン、珪酸ジルコニウム、炭酸バリウム、ガラス、窒化ホウ素、窒化チタン等が挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。上記については、市販品を用いることもでき、以下の例に限定されないが、フジミインコーポレーテッド社製の商品名「WA4000」(微粉砕した溶融アルミナ)等が挙げられる。
本実施形態における砥粒の粒径は、特に限定されないが、洗浄性能や被洗浄物の破損防止の観点から、コーティング層の塗布厚みの70%以下であることが好ましく、より好ましくは60%以下である。より具体的には、0.5μm以上20μm以下であることが好ましく、より好ましくは1.0μm以上10μm以下である。
本実施形態における砥粒の含有量は、コーティング層全体に対して30~90質量%含まれることが好ましく、40~80質量%含まれることがより好ましい。この範囲であれば、洗浄性能と被洗浄物の破損抑制とが両立できる傾向にある。
In the present embodiment, the coating layer preferably contains abrasive grains in order to perform more effective cleaning. In this specification, the abrasive grains refer to particulate components capable of removing foreign matter adhering to the object to be cleaned, and generally have a particle size of about 0.1 μm to about 1000 μm. The particle size of the abrasive grains can be measured, for example, by a laser diffraction method using a laser diffraction type particle size distribution measuring device (e.g., MT3300 manufactured by Microtrack Bell).
Examples of the abrasive grains include, but are not limited to, diamond, white alumina, silicon carbide, boron carbide, cerium oxide, zirconium oxide, chromium oxide, iron oxide, titanium oxide, silicon dioxide, manganese dioxide, manganese trioxide, zirconium silicate, barium carbonate, glass, boron nitride, titanium nitride, etc. These can be used alone or in combination of two or more. Commercially available products can also be used for the above, and examples include, but are not limited to, Fujimi Incorporated's product name "WA4000" (finely ground fused alumina), etc.
The particle size of the abrasive grains in this embodiment is not particularly limited, but from the viewpoint of cleaning performance and prevention of damage to the object to be cleaned, it is preferably 70% or less of the coating thickness of the coating layer, more preferably 60% or less. More specifically, it is preferably 0.5 μm or more and 20 μm or less, more preferably 1.0 μm or more and 10 μm or less.
In this embodiment, the content of the abrasive grains is preferably 30 to 90 mass % of the entire coating layer, and more preferably 40 to 80 mass %. Within this range, there is a tendency for both cleaning performance and prevention of damage to the object to be cleaned to be achieved.

コーティング層は、樹脂成分や砥粒成分以外にも、本発明の主旨を損なわない範囲で公知の添加剤を併用してもよい。添加剤としては例えば、硬化促進剤、触媒、染料、顔料、撥水剤、親水剤、帯電防止剤などが挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。 In addition to the resin component and the abrasive grain component, the coating layer may contain known additives in combination within the scope of the present invention. Examples of additives include curing accelerators, catalysts, dyes, pigments, water repellents, hydrophilic agents, and antistatic agents. These can be used alone or in combination of two or more.

(基材層)
本実施形態における基材層としては、その一面上にコーティング層を形成でき、かつ、他面上に接着層を形成できるものであれば特に限定されない。基材層に適用できる材料としては、例えば、低密度ポリエチレン、直鎖状ポリエチレン、中密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、超低密度ポリエチレン、ランダム共重合ポリプロピレン、ブロック共重合ポリプロピレン、ホモポリプロレン、ポリブテン、ポリメチルペンテン、エチレン-ブテン共重合体、エチレン-ヘキセン共重合体等のポリオレフィンが挙げられる。その他、基材層に適用できる材料としては、例えば、エチレン-酢酸ビニル共重合体、アイオノマー樹脂、エチレン-(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン-(メタ)アクリル酸エステル(ランダム、交互)共重合体、ポリウレタン、ポリエチレンテレフタレートやポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルイミド、ポリアミド、全芳香族ポリアミド、ポリフェニルスルフイド、アラミド(紙)、ガラス、ガラスクロス、フッ素樹脂、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、セルロース系樹脂、シリコーン樹脂、金属(箔)、紙などが挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。
上記した中で、基材層は、フッ素樹脂を含むことが好ましく、フッ素樹脂の発泡体を含むことがより好ましい。
フッ素樹脂の発泡体の見かけ密度(日本工業規格(JIS K 6505)に基づいて測定)としては、特に限定されないが、0.2~1.5g/cm3であることが好ましく、0.3~0.8g/cm3であることがより好ましい。
フッ素樹脂の発泡体のショアA硬度(日本工業規格(JIS-K-7311)に基づいて測定)としては、特に限定されないが、5~50度であることが好ましく、10~30度であることがより好ましい。 フッ素樹脂の発泡体の100%モジュラス(100%モジュラスは、その樹脂からなるシートを100%伸ばしたとき、すなわち元の長さの2倍に伸ばしたとき、に掛かる張力を単位面積で割った値。)としては、特に限定されないが、0.1~3.0MPaであることが好ましく、0.3~1.5MPaであることがより好ましい。
フッ素樹脂の発泡体としては、市販品を用いることもでき、以下の例に限定されないが、三福工業株式会社製の商品名「HS-DF700-37HS」が挙げられる。
(Base layer)
The substrate layer in this embodiment is not particularly limited as long as it can form a coating layer on one side and an adhesive layer on the other side. Examples of materials that can be used for the substrate layer include polyolefins such as low-density polyethylene, linear polyethylene, medium-density polyethylene, high-density polyethylene, very low-density polyethylene, random copolymer polypropylene, block copolymer polypropylene, homopolypropylene, polybutene, polymethylpentene, ethylene-butene copolymer, and ethylene-hexene copolymer. Other examples of materials that can be used for the substrate layer include ethylene-vinyl acetate copolymers, ionomer resins, ethylene-(meth)acrylic acid copolymers, ethylene-(meth)acrylic acid ester (random, alternating) copolymers, polyurethane, polyesters such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate, polycarbonates, polyimides, polyether ether ketones, polyetherimides, polyamides, wholly aromatic polyamides, polyphenylsulfides, aramids (paper), glass, glass cloths, fluororesins, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, cellulose-based resins, silicone resins, metals (foils), and paper. These can be used alone or in combination of two or more.
Of the above, the base layer preferably contains a fluororesin, and more preferably contains a fluororesin foam.
The apparent density of the fluororesin foam (measured according to Japanese Industrial Standards (JIS K 6505)) is not particularly limited, but is preferably 0.2 to 1.5 g/cm 3 , and more preferably 0.3 to 0.8 g/cm 3 .
The Shore A hardness (measured based on the Japanese Industrial Standard (JIS-K-7311)) of the fluororesin foam is not particularly limited, but is preferably 5 to 50 degrees, and more preferably 10 to 30 degrees. The 100% modulus (100% modulus is the value obtained by dividing the tension applied when a sheet made of the resin is stretched 100%, i.e., when stretched to twice its original length, by unit area) of the fluororesin foam is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 3.0 MPa, and more preferably 0.3 to 1.5 MPa.
As the fluororesin foam, commercially available products can be used, and examples thereof include, but are not limited to, the product name "HS-DF700-37HS" manufactured by Sanpuku Kogyo Co., Ltd.

本実施形態において、基材層を40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R2が、0.10質量%以下であることが好ましい。なお、上記重量減少率R2は、上記熱重量示差熱分析に供する際(40℃からの昇温前)の基材層の質量を基準とする値である。ここで、上記重量減少分は、基材層を同様の温度条件下に置いたときに、当該基材層に含まれる樹脂やその他の添加剤等に由来する揮発分(すなわち、アウトガス)の量に対応するものといえる。すなわち、上記重量減少率R2が、0.10質量%以下である場合、上記温度条件において基材層由来のアウトガスの量も十分に低減できる傾向にある。 In this embodiment, the weight reduction rate R2 calculated from the mass of the substrate layer when it is heated from 40°C to 210°C at 15°C/min, held at 210°C for 10 minutes, and cooled to 40°C, at 15°C/min from 40°C to 210°C and held at 210°C for 10 minutes is preferably 0.10% by mass or less. The weight reduction rate R2 is a value based on the mass of the substrate layer when it is subjected to the thermogravimetric differential thermal analysis (before heating from 40°C). Here, the weight reduction amount corresponds to the amount of volatile matter (i.e., outgassing) derived from the resin and other additives contained in the substrate layer when the substrate layer is placed under the same temperature conditions. In other words, when the weight reduction rate R2 is 0.10% by mass or less, the amount of outgassing derived from the substrate layer tends to be sufficiently reduced under the above temperature conditions.

本実施形態における基材層の上記重量減少率R2を0.10質量%以下とするための方法としては、以下に限定されないが、例えば、高耐熱性のフッ素樹脂を用いる、前処理として、クリーニングシートを全体的に200℃を超える温度で2~4時間程度加熱して揮発性成分を除去する等が挙げられる。 In this embodiment, methods for making the weight loss rate R2 of the base layer 0.10% by mass or less include, but are not limited to, using a highly heat-resistant fluororesin, and pre-treating the cleaning sheet by heating the entire sheet at a temperature exceeding 200°C for about 2 to 4 hours to remove volatile components.

前記基材層における前記複数の気泡の平均孔径は、特に限定されないが、小さすぎるとクッション性が低下し、大きすぎるとコーティング層表面に開孔による凹凸がクリーニング性能に悪影響を与える場合があるため、10μm以上100μm以下であることが好ましく、より好ましくは30μm以上70μm以下である。上記平均孔径は、例えば、マイクロスコープ(VH-6300、KEYENCE社製)で基材の断面又は開孔が確認できる表面を拡大して観察し、得られた画像を画像処理ソフト(ImageAnalyzerV20LABVer.1.3、ニコン製)により二値化処理し、各々の気泡の面積から円相当径を測定し、その平均値を算出することにより算出できる。その際、カットオフ値(下限)を10μmとし、ノイズ成分として除外する。上記平均孔径は、例えば、基材層の製造時に発泡剤や整泡剤を添加すること等により上記範囲に調整することができる。 The average pore size of the plurality of bubbles in the base layer is not particularly limited, but if it is too small, the cushioning property decreases, and if it is too large, the unevenness due to the openings on the surface of the coating layer may adversely affect the cleaning performance, so it is preferably 10 μm to 100 μm, more preferably 30 μm to 70 μm. The average pore size can be calculated, for example, by enlarging and observing the cross section of the base material or the surface on which the openings can be confirmed with a microscope (VH-6300, manufactured by KEYENCE), binarizing the obtained image with image processing software (ImageAnalyzer V20 LAB Ver. 1.3, manufactured by Nikon), measuring the circle equivalent diameter from the area of each bubble, and calculating the average value. In this case, the cutoff value (lower limit) is set to 10 μm, and it is excluded as a noise component. The average pore size can be adjusted to the above range, for example, by adding a foaming agent or a foam stabilizer during the production of the base layer.

基材層は、樹脂成分(プレポリマー及び硬化剤)以外にも、本発明の主旨を損なわない範囲で公知の添加剤を併用してもよい。添加剤としては例えば、発泡剤、整泡剤、砥粒、硬化促進剤、触媒、染料、顔料、撥水剤、親水剤、帯電防止剤などが挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。 In addition to the resin components (prepolymer and curing agent), the base layer may contain known additives in combination within the scope of the present invention. Examples of additives include foaming agents, foam stabilizers, abrasive grains, curing accelerators, catalysts, dyes, pigments, water repellents, hydrophilic agents, and antistatic agents. These can be used alone or in combination of two or more.

(接着層)
本実施形態における接着層は、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含むものであれば特に限定されない。
接着層に含まれ得るイミド樹脂としては、特に限定されないが、例えば、コーティング層で挙げた樹脂が使用できる。上記については、市販品を用いることもでき、以下の例に限定されないが、IMITEX株式会社製の商品名「IMIX-300」及び商品名「IMIX-100」等が挙げられる。
上記したイミド樹脂は、1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。
接着層に含まれ得るエポキシ樹脂としては、特に限定されないが、例えば、コーティング層で挙げた樹脂が使用できる。上記については、市販品を用いることもでき、以下の例に限定されないが、プレポリマーとしては三菱化学社製のエポキシ樹脂プレポリマー(商品名「YX7105」)等が挙げられ、硬化剤としては群栄化学社製のノボラック型フェノール樹脂(商品名「PSM4261」)などが挙げられる。
上記したエポキシ樹脂は、1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。
(Adhesive Layer)
The adhesive layer in this embodiment is not particularly limited as long as it contains at least one of an imide resin and an epoxy resin.
The imide resin that can be contained in the adhesive layer is not particularly limited, but for example, the resins listed for the coating layer can be used. Commercially available products can also be used, and examples include, but are not limited to, "IMIX-300" and "IMIX-100" manufactured by IMITEX Corporation.
The above-mentioned imide resins can be used alone or in combination of two or more.
The epoxy resin that can be contained in the adhesive layer is not particularly limited, but for example, the resins listed for the coating layer can be used. Commercially available products can also be used for the above, and although not limited to the following examples, examples of the prepolymer include Mitsubishi Chemical's epoxy resin prepolymer (product name "YX7105"), and examples of the curing agent include Gun-ei Chemical's novolac-type phenolic resin (product name "PSM4261").
The above-mentioned epoxy resins can be used alone or in combination of two or more.

本実施形態において、接着層を40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R3が、0.10質量%以下であることが好ましい。すなわち、コーティング層で挙げた樹脂を使用できる。この際、コーティング層で使用する樹脂と接着層で使用する樹脂は同じものであってもよく、異なっていてもよい。なお、上記重量減少率R3は、上記熱重量示差熱分析に供する際(40℃からの昇温前)の接着層の質量を基準とする値である。ここで、上記重量減少分は、接着層を同様の温度条件下に置いたときに、当該接着層に含まれる樹脂やその他の添加剤等に由来する揮発分(すなわち、アウトガス)の量に対応するものといえる。すなわち、上記重量減少率R3が、0.10質量%以下である場合、上記温度条件において接着層由来のアウトガスの量も十分に低減できる傾向にある。 In this embodiment, the weight reduction rate R3 calculated from the mass of the adhesive layer when it is heated from 40°C to 210°C at 15°C/min, held at 210°C for 10 minutes, and cooled to 40°C, at 15°C/min from 40°C to 210°C and held at 210°C for 10 minutes is preferably 0.10% by mass or less. That is, the resins listed in the coating layer can be used. In this case, the resin used in the coating layer and the resin used in the adhesive layer may be the same or different. The weight reduction rate R3 is a value based on the mass of the adhesive layer when it is subjected to the thermogravimetric differential thermal analysis (before heating from 40°C). Here, the weight reduction amount corresponds to the amount of volatile matter (i.e., outgassing) derived from the resin and other additives contained in the adhesive layer when the adhesive layer is placed under the same temperature conditions. That is, when the weight reduction rate R3 is 0.10% by mass or less, the amount of outgassing from the adhesive layer tends to be sufficiently reduced under the above temperature conditions.

本実施形態における接着層の上記重量減少率R3を0.10質量%以下とするための方法としては、以下に限定されないが、例えば、比較的高分子量のイミド樹脂及び/又はエポキシ樹脂を用いる、芳香環構造等の化学構造を有するイミド樹脂及び/又はエポキシ樹脂を用いる、硬化剤にノボラック型フェノール樹脂を採用したエポキシ樹脂を用いる、または、前処理として、クリーニングシートを全体的に200℃を超える温度で2~4時間程度加熱して揮発性成分を除去する、前述した好ましいイミド樹脂及び/又はエポキシ樹脂等の高温条件下で分解したり揮発しにくい化合物の含有量をコーティング層の樹脂成分基準で80質量%以上とする等が挙げられる。 Methods for making the weight loss rate R3 of the adhesive layer in this embodiment 0.10% by mass or less include, but are not limited to, using a relatively high molecular weight imide resin and/or epoxy resin, using an imide resin and/or epoxy resin having a chemical structure such as an aromatic ring structure, using an epoxy resin that employs a novolac-type phenolic resin as a curing agent, or, as a pretreatment, heating the cleaning sheet as a whole at a temperature exceeding 200°C for about 2 to 4 hours to remove volatile components, or setting the content of compounds that are difficult to decompose or volatilize under high temperature conditions, such as the above-mentioned preferred imide resins and/or epoxy resins, to 80% by mass or more based on the resin components of the coating layer.

接着層は、樹脂成分(プレポリマー及び硬化剤)以外にも、本発明の主旨を損なわない範囲で公知の添加剤を併用してもよい。添加剤としては例えば、硬化促進剤、触媒、染料、顔料、撥水剤、親水剤、帯電防止剤などが挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。 In addition to the resin components (prepolymer and curing agent), the adhesive layer may contain known additives in combination as long as the purpose of the present invention is not impaired. Examples of additives include curing accelerators, catalysts, dyes, pigments, water repellents, hydrophilic agents, and antistatic agents. These can be used alone or in combination of two or more.

(プローブ用途)
本実施形態のクリーニングシートは、上述した観点から、プローブのクリーニング用途に好ましく適用でき、中でも、高温の状態での洗浄が求められる、電力制御用の半導体素子(パワーデバイス)の導通検査用プローブのクリーニング用途にとりわけ好ましく適用できる。かかる用途に適用する場合、本実施形態のクリーニングシートは、プローブのクリーニング装置に導入するための土台層を更に含むことが好ましい。土台層は、接着層によって接着されていることが好ましく、以下に限定されないが、例えば、本実施形態のクリーニングシートを摺動させる等の駆動手段として土台層を適用することができる。
(For probe applications)
From the above viewpoint, the cleaning sheet of the present embodiment is preferably applicable to the cleaning of probes, and particularly preferably applicable to the cleaning of probes for continuity testing of semiconductor elements (power devices) for power control, which require cleaning at high temperatures. When applied to such applications, the cleaning sheet of the present embodiment preferably further includes a base layer for introduction into a probe cleaning device. The base layer is preferably bonded by an adhesive layer, and the base layer can be used as a driving means for sliding the cleaning sheet of the present embodiment, but is not limited thereto.

(任意部材)
本実施形態のクリーニングシートは、上述した基材層、コーティング層及び接着層以外の任意部材を含んでいてもよい。上記任意部材としては、特に限定されないが、例えば、接着層における接着面を覆う剥離基材や表面を保護する保護フィルム、導通検査装置用のステージ板部材等が挙げられる。
(Optional parts)
The cleaning sheet of the present embodiment may contain optional members other than the above-mentioned base layer, coating layer, and adhesive layer. The optional members are not particularly limited, but examples thereof include a release base material that covers the adhesive surface of the adhesive layer, a protective film that protects the surface, and a stage plate member for a continuity inspection device.

〔クリーニングシートの製造方法〕
本実施形態のクリーニングシートの製造方法は、上述した本実施形態のクリーニングシートの構成が得られる方法である限り、特に限定されるものではない。以下、本実施形態のクリーニングシートの好適な製造方法を例示する。
[Method of manufacturing cleaning sheet]
The method for producing the cleaning sheet of the present embodiment is not particularly limited as long as the method can provide the above-described configuration of the cleaning sheet of the present embodiment. Preferred examples of the method for producing the cleaning sheet of the present embodiment are described below.

本実施形態のクリーニングシートは、以下に限定されないが、例えば、基材層の片面にコーティング層を積層し、もう一方の片面に接着層を積層することで製造することができる。
コーティング層の積層は公知の方法を採用でき、以下に限定されないが、例えば、例えば、ナイフコータ-、ブレードコーター、バーコーター、ロールコーター、グラビアコーター、スクリーンコーター、カーテンコーター、スプレーコーター等のコーティング装置を用いる方法が挙げられる。
接着層の積層は公知の方法が採用でき、以下に限定されないが、例えば、例えば、ナイフコータ-、ブレードコーター、バーコーター、ロールコーター、グラビアコーター、スクリーンコーター、カーテンコーター、スプレーコーター等のコーティング装置を用いる方法や、接着剤を所望の厚みにシート状に形成した接着剤シートを加圧や加熱により基材層に積層する方法が挙げられる。
例えば、上述したコーティング装置を用いる場合は、コーティング装置によりスラリー状の塗料を基材層の片面に塗布して、塗布した塗料を乾燥したり、塗料中に含まれる樹脂成分を硬化させたりして基材層上にコーティング層及び接着層を各々形成し、本実施形態のクリーニングシートを製造することができる。
The cleaning sheet of the present embodiment can be produced, for example but not limited to, by laminating a coating layer on one side of a base layer and laminating an adhesive layer on the other side.
The coating layer can be laminated by a known method, and examples of the method include, but are not limited to, a method using a coating device such as a knife coater, a blade coater, a bar coater, a roll coater, a gravure coater, a screen coater, a curtain coater, or a spray coater.
The adhesive layer can be laminated by a known method, and examples of the method include, but are not limited to, a method using a coating device such as a knife coater, blade coater, bar coater, roll coater, gravure coater, screen coater, curtain coater, spray coater, etc., and a method in which an adhesive sheet formed into a sheet of a desired thickness is laminated on a base layer by pressurizing or heating.
For example, when using the coating device described above, a slurry-like paint is applied to one side of the base layer by the coating device, and the applied paint is dried or the resin component contained in the paint is hardened to form a coating layer and an adhesive layer on the base layer, respectively, thereby producing the cleaning sheet of this embodiment.

以下、実施例及び比較例に基づき、本実施形態をより具体的に説明するが、本実施形態はこれらに限定されるものではない。 The present embodiment will be described in more detail below based on examples and comparative examples, but the present embodiment is not limited to these.

(実施例1)
芳香族基を有する可撓性エポキシ樹脂(商品名「YX7105」;三菱化学社製、エポキシ当量485)89.9質量%と、硬化剤(商品名「PSM4261」;群栄化学社製ノボラック型フェノール樹脂、水酸基当量103)9.2質量%と反応促進剤(商品名「TPP-MK」;北興化学工業社製テトラフェニルホスホニウムテトラ-p-トリルボレート)0.9質量%との混合物に対して、砥粒としてホワイトアルミナ(商品名「WA4000」;平均粒径5μm;フジミインコーポレーテッド社製)を添加し、スラリーS1を調製した。スラリーS1における砥粒の含有量は70質量%であった。
次いで、フッ素樹脂発泡体(商品名「HS-DF700-37HS」;平均孔径50μm;三福工業株式会社製)を基材層(ショアA硬度22、密度0.39g/cm3、100%モジュラス1.28MPa、厚さ0.5mm)として準備し、その一方の面にスラリーS1を塗布し、150℃、30minで硬化させ、厚さ10μmのコーティング層を形成した。
次いで、コーティング層が形成された基材層における、当該コーティング層とは逆側の一面に、イミド樹脂(商品名「IMIX-300」;IMITEX株式会社製)を塗布し、175℃、30minで半硬化させ、厚さ10μmの接着層を形成し、クリーニングシートを得た。
得られたクリーニングシートを次のようにして評価した。
Example 1
A mixture of 89.9% by mass of a flexible epoxy resin having an aromatic group (trade name "YX7105"; manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent 485), 9.2% by mass of a curing agent (trade name "PSM4261"; manufactured by Gun-ei Chemical Co., Ltd., novolac-type phenolic resin, hydroxyl equivalent 103), and 0.9% by mass of a reaction accelerator (trade name "TPP-MK"; manufactured by Hokko Chemical Industry Co., Ltd., tetraphenylphosphonium tetra-p-tolylborate) was mixed with white alumina (trade name "WA4000"; average particle size 5 μm; manufactured by Fujimi Incorporated Co., Ltd.) as an abrasive grain to prepare slurry S1. The content of the abrasive grains in the slurry S1 was 70% by mass.
Next, a fluororesin foam (product name "HS-DF700-37HS"; average pore size 50 μm; manufactured by Sanfuku Kogyo Co., Ltd.) was prepared as a substrate layer (Shore A hardness 22, density 0.39 g/cm 3 , 100% modulus 1.28 MPa, thickness 0.5 mm), and slurry S1 was applied to one side of the substrate and cured at 150°C for 30 minutes to form a coating layer with a thickness of 10 μm.
Next, an imide resin (product name "IMIX-300"; manufactured by IMITEX Corporation) was applied to the surface of the base material layer on which the coating layer was formed, opposite the coating layer, and semi-cured at 175°C for 30 minutes to form an adhesive layer having a thickness of 10 µm, thereby obtaining a cleaning sheet.
The resulting cleaning sheets were evaluated as follows.

(熱重量示差熱分析)
クリーニングシートから、コーティング層(砥粒を含む)、基材層及び接着層を各々50mg試料として採取し、前処理として150℃で2時間加熱し、水分等を除去した。その後、エスアイアイ・ナノテクノロジー社製の熱分析装置「TG/DTA EXTER2000」を用いた熱重量示差熱分析に供した。すなわち、各試料を40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率を測定した。なお、上記重量減少率は、残存水分等の影響を排するため、上記熱重量示差熱分析に2回目に供する際(40℃からの昇温前)のコーティング層、基材層及び接着層の質量を基準とし、2回目の昇温及び保持後の重量の割合から算出する値である。
また、コーティング層の形成に用いたホワイトアルミナについても、上記と同様に重量減少率を測定した。
(Thermogravimetric Differential Thermal Analysis)
From the cleaning sheet, the coating layer (including abrasive grains), the base layer and the adhesive layer were each collected as a 50 mg sample, and pre-treated at 150°C for 2 hours to remove moisture and the like. Then, the samples were subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis using a thermal analysis device "TG/DTA EXTER2000" manufactured by SII Nanotechnology Co., Ltd. That is, the weight loss rate calculated from the mass when each sample was heated from 40°C to 210°C at 15°C/min, held at 210°C for 10 minutes, and cooled to 40°C was used as a reference, and the weight loss rate was measured when the sample was heated from 40°C to 210°C at 15°C/min and held at 210°C for 10 minutes. In addition, the weight loss rate is a value calculated from the weight ratio after the second heating and holding, based on the mass of the coating layer, base layer and adhesive layer when the sample was subjected to the thermogravimetric differential thermal analysis for the second time (before heating from 40°C) in order to eliminate the influence of residual moisture and the like.
The weight loss rate of the white alumina used in forming the coating layer was also measured in the same manner as above.

(剥離有無の確認)
次いで、クリーニングシートを接着層を介してシリコンウェハーに固定し、250℃で1時間加熱後の接着層の剥離有無を目視にて確認した。
(Check for peeling)
Next, the cleaning sheet was fixed to a silicon wafer via the adhesive layer, and after heating at 250° C. for 1 hour, the presence or absence of peeling of the adhesive layer was visually confirmed.

実施例1のクリーニングシートの組成及び評価結果を表1に併せて示す。 The composition and evaluation results of the cleaning sheet of Example 1 are shown in Table 1.

(実施例2)
イミド樹脂(商品名「IMIX-300」;IMITEX株式会社製)に対して、砥粒として上述のホワイトアルミナを添加し、スラリーS2を調製した。スラリーS2における砥粒の含有量は70質量%であった。
コーティング層の形成に使用するスラリーを、スラリーS1からスラリーS2に変更し、175℃、30minで硬化させたことを除き、実施例1と同じ条件でクリーニングシートを作製及び評価した。結果を表1に併せて示す。
Example 2
The above-mentioned white alumina was added as abrasive grains to an imide resin (product name "IMIX-300" manufactured by IMITEX Corporation) to prepare slurry S2. The content of the abrasive grains in slurry S2 was 70 mass %.
A cleaning sheet was produced and evaluated under the same conditions as in Example 1, except that the slurry used to form the coating layer was changed from slurry S1 to slurry S2 and cured at 175° C. for 30 minutes. The results are also shown in Table 1.

(実施例3)
イミド樹脂(商品名「IMIX-100」;IMITEX株式会社製)に対して、砥粒として上述のホワイトアルミナを添加し、スラリーS3を調製した。スラリーS3における砥粒の含有量は70質量%であった。
コーティング層の形成に使用するスラリーを、スラリーS1からスラリーS3に変更し、175℃、30minで硬化させたことを除き、実施例1と同じ条件でクリーニングシートを作製及び評価した。結果を表1に併せて示す。
Example 3
The above-mentioned white alumina was added as abrasive grains to an imide resin (product name "IMIX-100" manufactured by IMITEX Corporation) to prepare slurry S3. The content of the abrasive grains in slurry S3 was 70 mass %.
A cleaning sheet was produced and evaluated under the same conditions as in Example 1, except that the slurry used to form the coating layer was changed from slurry S1 to slurry S3 and cured at 175° C. for 30 minutes. The results are also shown in Table 1.

(比較例1)
ビニル化合物(商品名「SP-700」;十条ケミカル株式会社製)に対して、砥粒として上述のホワイトアルミナを添加し、スラリーS4を調製した。スラリーS4における砥粒の含有量は70質量%であった。
コーティング層の形成に使用するスラリーを、スラリーS1からスラリーS4に変更し、120℃、30minで硬化させたことを除き、実施例1と同じ条件でクリーニングシートを作製及び評価した。結果を表1に併せて示す。
(Comparative Example 1)
The above-mentioned white alumina was added as abrasive grains to a vinyl compound (trade name "SP-700"; manufactured by Jujo Chemical Co., Ltd.) to prepare slurry S4. The content of the abrasive grains in slurry S4 was 70 mass %.
A cleaning sheet was produced and evaluated under the same conditions as in Example 1, except that the slurry used to form the coating layer was changed from slurry S1 to slurry S4 and cured at 120° C. for 30 minutes. The results are also shown in Table 1.

(比較例2)
不飽和ポリエステル化合物(商品名「SIM3200」;十条ケミカル株式会社製)に対して、砥粒として上述のホワイトアルミナを添加し、スラリーS5を調製した。スラリーS5における砥粒の含有量は70質量%であった。
コーティング層の形成に使用するスラリーを、スラリーS1からスラリーS5に変更したことを除き、実施例1と同じ条件でクリーニングシートを作製及び評価した。結果を表1に併せて示す。
(Comparative Example 2)
The above-mentioned white alumina was added as abrasive grains to an unsaturated polyester compound (product name "SIM3200"; manufactured by Jujo Chemical Co., Ltd.) to prepare slurry S5. The content of the abrasive grains in slurry S5 was 70 mass %.
Except for changing the slurry used to form the coating layer from slurry S1 to slurry S5, a cleaning sheet was produced and evaluated under the same conditions as in Example 1. The results are shown in Table 1.

(比較例3)
エポキシ樹脂(商品名「エピライト」;十条ケミカル株式会社製)83.3質量%と、付属のアミン系硬化剤であるエピライト硬化剤16.7質量%の混合物に対して、砥粒として上述のホワイトアルミナを添加し、スラリーS6を調製した。スラリーS6における砥粒の含有量は70質量%であった。
コーティング層の形成に使用するスラリーを、スラリーS1からスラリーS7に変更したことを除き、実施例1と同じ条件でクリーニングシートを作製及び評価した。結果を表1に併せて示す。
(Comparative Example 3)
The above-mentioned white alumina was added as abrasive grains to a mixture of 83.3 mass% of epoxy resin (trade name "Epilite"; manufactured by Jujo Chemical Co., Ltd.) and 16.7 mass% of the attached amine-based curing agent, Epilite curing agent, to prepare slurry S6. The content of abrasive grains in slurry S6 was 70 mass%.
Except for changing the slurry used to form the coating layer from slurry S1 to slurry S7, a cleaning sheet was produced and evaluated under the same conditions as in Example 1. The results are also shown in Table 1.

Figure 0007503915000001
Figure 0007503915000001

実施例1~3はいずれもクリーニングシート、特にプローブのクリーニング用途として好適であったが、その中でも洗浄面をエポキシ樹脂とした実施例1のクリーニングシートは、イミド樹脂とした実施例2~3と比較して低温でも柔軟性が高く追従性が期待できる点において好ましいものであった。また、アミン系硬化剤を使用したエポキシ樹脂をコーティング層として採用した比較例3では、ノボラック型フェノール系硬化剤を使用したエポキシ樹脂を採用した実施例1と比較してアウトガスの発生量が多く、不適格であった。 All of Examples 1 to 3 were suitable for use as cleaning sheets, particularly for cleaning probes. Among them, the cleaning sheet of Example 1, which used an epoxy resin for the cleaning surface, was preferable in that it had high flexibility and was expected to have good conformability even at low temperatures compared to Examples 2 and 3, which used imide resin. Also, Comparative Example 3, which used an epoxy resin using an amine-based hardener as the coating layer, generated more outgassing than Example 1, which used an epoxy resin using a novolac-type phenol-based hardener, and was therefore unsuitable.

1…基材層、2…コーティング層、2a…洗浄面、3…接着層、10…クリーニングシート、W…被洗浄物。 1...base material layer, 2...coating layer, 2a...cleaning surface, 3...adhesive layer, 10...cleaning sheet, W...item to be cleaned.

Claims (9)

複数の気泡を有する基材層と、
前記基材層の一面上に配され、かつ、被洗浄物を洗浄するための洗浄面を有し、かつ、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含むコーティング層と、
前記基材層の他面上に配され、かつ、イミド樹脂及びエポキシ樹脂の少なくとも一方を含む接着層と、
を含み、
前記コーティング層を熱重量示差熱分析に供し、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R1が、0.10質量%以下である、クリーニングシート。
A substrate layer having a plurality of bubbles;
a coating layer disposed on one surface of the base layer, having a cleaning surface for cleaning an object to be cleaned, and containing at least one of an imide resin and an epoxy resin;
an adhesive layer disposed on the other surface of the base layer and containing at least one of an imide resin and an epoxy resin;
Including,
The coating layer is subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis, and the weight loss rate R1 calculated from the weight when the coating layer is heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, maintained at 210° C. for 10 minutes, and cooled to 40° C. as a reference, and the weight when the coating layer is further heated from 40° C. to 210° C. at a rate of 15° C./min, and maintained at 210° C. for 10 minutes, is 0.10 mass% or less.
前記基材層を熱重量示差熱分析に供し、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R2が、0.10質量%以下である、請求項1に記載のクリーニングシート。 The cleaning sheet according to claim 1, wherein the base layer is subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis, and the weight loss rate R2 calculated from the mass when the base layer is heated from 40°C to 210°C at 15°C/min, held at 210°C for 10 minutes, and cooled to 40°C is used as a reference, and the mass when the base layer is further heated from 40°C to 210°C at 15°C/min and held at 210°C for 10 minutes is 0.10% by mass or less. 前記接着層を熱重量示差熱分析に供し、40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持し、40℃に降温した際の質量を基準とし、さらに40℃から210℃へ15℃/minで昇温して210℃で10分保持した際の質量より算出される重量減少率R3が、0.10質量%以下である、請求項1又は2に記載のクリーニングシート。 The cleaning sheet according to claim 1 or 2, wherein the adhesive layer is subjected to a thermogravimetric differential thermal analysis, and the weight loss rate R3 calculated from the mass when the adhesive layer is heated from 40°C to 210°C at 15°C/min, held at 210°C for 10 minutes, and cooled to 40°C is used as a reference, and the mass when the adhesive layer is further heated from 40°C to 210°C at 15°C/min and held at 210°C for 10 minutes is 0.10% by mass or less. 前記基材層における前記複数の気泡の平均孔径が、10μm以上100μm以下である、請求項1~3のいずれか1項にクリーニングシート。 A cleaning sheet according to any one of claims 1 to 3, wherein the average pore size of the bubbles in the base layer is 10 μm or more and 100 μm or less. 前記コーティング層が、砥粒を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載のクリーニングシート。 The cleaning sheet according to any one of claims 1 to 4, wherein the coating layer contains abrasive grains. 前記砥粒の粒径が、0.5μm以上10μm以下である、請求項5に記載のクリーニングシート。 The cleaning sheet according to claim 5, wherein the grain size of the abrasive grains is 0.5 μm or more and 10 μm or less. 前記基材層が、フッ素樹脂を含む、請求項1~6のいずれか1項に記載のクリーニングシート。 The cleaning sheet according to any one of claims 1 to 6, wherein the base layer contains a fluororesin. プローブのクリーニング用である、請求項1~7のいずれか1項に記載のクリーニングシート。 The cleaning sheet according to any one of claims 1 to 7, which is for cleaning a probe. 前記プローブのクリーニング装置に導入するための土台層を更に含む、請求項8に記載のクリーニングシート。 The cleaning sheet of claim 8, further comprising a base layer for introduction into a cleaning device of the probe.
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005091213A (en) 2003-09-18 2005-04-07 Inoac Corp Cleaning pad and manufacturing method therefor
JP2005515645A (en) 2002-01-18 2005-05-26 フォームファクター,インコーポレイテッド Test probe cleaning apparatus and method
JP2005326250A (en) 2004-05-14 2005-11-24 Sumitomo Electric Ind Ltd Cleaning sheet and method for probe
JP2008051547A (en) 2006-08-22 2008-03-06 Hitachi High-Technologies Corp Prober device equipped with scanning electron microscope, and probe cleaning method of prober device
JP2012220369A (en) 2011-04-11 2012-11-12 Nitto Denko Corp Cleaning sheet, cleaning member, cleaning method, and continuity inspection device
JP2012233811A (en) 2011-05-06 2012-11-29 Nitto Denko Corp Cleaning sheet, cleaning member, cleaning method, and conduction test device
JP2020017701A (en) 2018-07-27 2020-01-30 キオクシア株式会社 Test device

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005515645A (en) 2002-01-18 2005-05-26 フォームファクター,インコーポレイテッド Test probe cleaning apparatus and method
JP2005091213A (en) 2003-09-18 2005-04-07 Inoac Corp Cleaning pad and manufacturing method therefor
JP2005326250A (en) 2004-05-14 2005-11-24 Sumitomo Electric Ind Ltd Cleaning sheet and method for probe
JP2008051547A (en) 2006-08-22 2008-03-06 Hitachi High-Technologies Corp Prober device equipped with scanning electron microscope, and probe cleaning method of prober device
JP2012220369A (en) 2011-04-11 2012-11-12 Nitto Denko Corp Cleaning sheet, cleaning member, cleaning method, and continuity inspection device
JP2012233811A (en) 2011-05-06 2012-11-29 Nitto Denko Corp Cleaning sheet, cleaning member, cleaning method, and conduction test device
JP2020017701A (en) 2018-07-27 2020-01-30 キオクシア株式会社 Test device

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