JP7477330B2 - Grinding device and method for grinding workpiece - Google Patents

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Description

本発明は、研削装置及び被加工物の研削方法に関する。 The present invention relates to a grinding device and a method for grinding a workpiece.

研削砥石が環状に配置された研削ホイールを回転させながら、保持テーブルに保持された半導体ウエーハ等の円板状の被加工物に、送り機構により押圧することによって、被加工物を研削する方法が知られている(特許文献1参照)。 A method is known in which a grinding wheel, which has grinding stones arranged in a ring, is rotated and pressed against a disk-shaped workpiece such as a semiconductor wafer held on a holding table using a feed mechanism to grind the workpiece (see Patent Document 1).

特許第5025200号公報Patent No. 5025200

例えば、シリコン基板の上に金属膜や樹脂膜が形成された被加工物を膜側から研削する必要が生じている。しかしながら、特許文献1の方法では、金属膜や樹脂膜が、粘性が高いので、研削砥石の研削面に一部が剥がれて付着してしまうため、安定して研削加工ができないという問題があった。 For example, there is a need to grind a workpiece having a metal or resin film formed on a silicon substrate from the film side. However, with the method of Patent Document 1, there is a problem that the metal or resin film has high viscosity, so some of it peels off and adheres to the grinding surface of the grinding wheel, making it impossible to perform stable grinding.

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、粘性の高い膜が形成された場合でも安定して膜側から研削できる研削装置及び被加工物の研削方法を提供することである。 The present invention was made in consideration of these problems, and its purpose is to provide a grinding device and a method for grinding a workpiece that can stably grind from the film side even when a highly viscous film is formed.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の研削装置は、研削装置であって、該研削装置は、基板の一方の面に膜が形成された被加工物を膜が形成された面が露出するように保持面を備えた保持テーブルと、該保持面に保持された被加工物を該膜が形成された面から研削する研削砥石を有する研削ホイールおよび該研削ホイールを回転させる駆動源を備えた研削ユニットと、該研削ユニットを該保持テーブルに対して垂直な方向に研削送りする研削送りユニットと、該保持面と該研削砥石の研削面とを平行状態と非平行状態に変化せしめる研削状態変更ユニットと、該研削状態変更ユニットを制御する制御ユニットと、を備え、該制御ユニットは、該保持テーブルを回転し、該研削ホイールを回転しつつ研削送りして該保持面に保持された被加工物を研削する際に、該研削状態変更ユニットを作動し該保持面と該研削砥石の研削面とを非平行状態にして、該研削面が該膜の一部に接触する状態で研削を開始し、該研削ホイールの研削送りに従い、該研削面と接触する被加工物の領域を増加させながら被加工物を研削し、該膜が所定量研削され、該被加工物が研削された厚みである研削量、または、該被加工物を研削する面側の全面積に対する該被加工物の母材が露出した面積の割合である母材露出割合を検出し、検出した該研削量または該母材露出割合が所定量以上であると判定することで、該保持面と研削砥石の研削面とを非平行状態から徐々に平行状態に変化するように該研削状態変更ユニットを制御しつつ研削送りするように研削送りユニットを制御するよう切り替えることを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, the grinding apparatus of the present invention is a grinding apparatus comprising: a holding table having a holding surface for holding a workpiece having a film formed on one surface of a substrate such that the surface on which the film is formed is exposed; a grinding unit having a grinding wheel having a grinding stone for grinding the workpiece held on the holding surface from the surface on which the film is formed and a drive source for rotating the grinding wheel; a grinding feed unit for feeding the grinding unit in a direction perpendicular to the holding table; a grinding state changing unit for changing the state between a parallel state and a grinding surface of the grinding stone and a non-parallel state; and a control unit for controlling the grinding state changing unit, the control unit rotating the holding table and feeding the grinding wheel while rotating it to grind the workpiece held on the holding surface. When grinding a workpiece, the grinding state change unit is operated to make the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel non-parallel, and grinding is started with the grinding surface in contact with a part of the film, and the workpiece is ground while increasing the area of the workpiece in contact with the grinding surface in accordance with the grinding feed of the grinding wheel, until a predetermined amount of the film is ground away , and a grinding amount, which is the thickness by which the workpiece has been ground, or a base material exposure ratio, which is the ratio of the area of the exposed base material of the workpiece to the total area of the surface side of the workpiece being ground, is detected, and by determining that the detected grinding amount or base material exposure ratio is equal to or greater than a predetermined amount, the grinding feed unit is switched to control so as to perform grinding feed while controlling the grinding state change unit so that the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel are gradually changed from the non-parallel state to a parallel state.

また、上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の被加工物の研削方法は、被加工物を保持する保持面を備えた保持テーブルと、該保持面に保持された被加工物を研削する研削砥石を有する研削ホイールおよび該研削ホイールを回転させる駆動源を備えた研削ユニットと、該研削ユニットを該保持テーブルに対して垂直な方向に研削送りする研削送りユニットと、該保持面と該研削砥石の研削面とを平行状態と非平行状態に変化せしめる研削状態変更ユニットと、該研削状態変更ユニットを制御する制御ユニットと、を含む研削装置によって、該保持テーブルを回転し該研削ホイールを回転しつつ研削送りして該保持面に保持された被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、該被加工物は基板の一方の面に膜が形成され、該膜が形成された面が露出するように被加工物を該保持面に保持する保持ステップと、該保持面と、該研削砥石の研削面と、を所定距離離れるように非平行状態にして、該研削面が該膜の一部に接触する状態で研削を開始し、該研削ホイールの研削送りに従い、該研削面と接触する被加工物の領域を段階的に増加させながら被加工物を研削する第1の研削ステップと、該第1の研削ステップにおいて該膜が所定量研削されると、該保持面と該研削砥石の研削面とを非平行状態から徐々に平行状態に変化させつつ研削送りして被加工物を研削する第2の研削ステップと、を備え、該制御ユニットは、該被加工物が研削された厚みである研削量、または、該被加工物を研削する面側の全面積に対する該被加工物の母材が露出した面積の割合である母材露出割合を検出し、検出した該研削量または該母材露出割合が所定量以上であると判定することで、該第1の研削ステップから該第2の研削ステップに切り替えることを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, the present invention provides a method for grinding a workpiece, comprising: a holding table having a holding surface for holding the workpiece; a grinding unit having a grinding wheel having a grinding stone for grinding the workpiece held on the holding surface and a drive source for rotating the grinding wheel; a grinding feed unit for feeding the grinding unit in a direction perpendicular to the holding table; a grinding state changing unit for changing the state between a parallel state and a non-parallel state between the holding surface and the grinding surface of the grinding stone; and a control unit for controlling the grinding state changing unit, the method comprising: a holding step of holding the workpiece on the holding surface so that the surface on which the film is formed is exposed, the holding step of holding the workpiece on the holding surface so that the surface on which the film is formed is exposed, and a holding step of holding the workpiece on the holding surface so that the film is formed. a first grinding step in which the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel are made non-parallel so as to be a predetermined distance apart, grinding is started in a state in which the grinding surface is in contact with a portion of the film, and the workpiece is ground while the area of the workpiece in contact with the grinding surface is gradually increased in accordance with the grinding feed of the grinding wheel; and a second grinding step in which, when a predetermined amount of the film has been ground off in the first grinding step, the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel are gradually changed from the non-parallel state to a parallel state while the grinding feed is performed, thereby grinding the workpiece, wherein the control unit detects a grinding amount, which is the thickness by which the workpiece has been ground, or a base material exposure ratio, which is the ratio of the area of the workpiece's base material exposed to the total area of the surface side of the workpiece that is ground, and switches from the first grinding step to the second grinding step by determining that the detected grinding amount or base material exposure ratio is equal to or greater than a predetermined amount .

本発明は、粘性の高い膜が形成された場合でも安定して膜側から研削できる。 The present invention allows stable grinding from the film side even when a highly viscous film is formed.

図1は、実施形態1に係る研削装置の構成例を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an example of the configuration of a grinding device according to a first embodiment. 図2は、図1の研削装置の要部の機能の一例を説明する断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining an example of the function of the main part of the grinding device of FIG. 図3は、図1の研削装置の要部の機能の別の一例を説明する断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view for explaining another example of the function of the main parts of the grinding device of FIG. 図4は、図2の機能を使用して研削中の被加工物の状態を示す上面図である。FIG. 4 is a top view showing the state of a workpiece during grinding using the function of FIG. 図5は、図3の機能を使用して研削中の被加工物の状態を示す上面図である。FIG. 5 is a top view showing the state of a workpiece during grinding using the function of FIG. 図6は、図1の研削装置の制御ユニットが記憶する処理順序データの一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of processing sequence data stored in the control unit of the grinding apparatus of FIG. 図7は、実施形態1に係る被加工物の研削方法の処理の手順の一例を示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart showing an example of a processing procedure of the method for grinding a workpiece according to the first embodiment. 図8は、図7の第1の研削ステップを説明する断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating the first grinding step of FIG. 図9は、図7の第2の研削ステップを説明する断面図である。FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating the second grinding step of FIG. 図10は、実施形態2に係る被加工物の研削方法の第1の研削ステップを説明する断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a first grinding step of the grinding method for a workpiece according to the second embodiment. 図11は、実施形態3に係る被加工物の研削方法の処理の手順の一例を示すフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart showing an example of a processing procedure of a method for grinding a workpiece according to the third embodiment. 図12は、実施形態4に係る研削装置の構成例を示す斜視図である。FIG. 12 is a perspective view illustrating an example of the configuration of a grinding device according to the fourth embodiment. 図13は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第1例を示すフローチャートである。FIG. 13 is a flowchart showing a first example of a processing procedure of the method for grinding a workpiece according to the fourth embodiment. 図14は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第2例を示すフローチャートである。FIG. 14 is a flowchart showing a second example of the processing procedure of the method for grinding a workpiece according to the fourth embodiment. 図15は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第3例を示すフローチャートである。FIG. 15 is a flowchart showing a third example of the processing procedure of the method for grinding a workpiece according to the fourth embodiment. 図16は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第4例を示すフローチャートである。FIG. 16 is a flowchart showing a fourth example of the processing procedure of the method for grinding a workpiece according to the fourth embodiment.

本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 The following describes in detail the form (embodiment) for carrying out the present invention with reference to the drawings. The present invention is not limited to the contents described in the following embodiment. The components described below include those that a person skilled in the art can easily imagine and those that are substantially the same. Furthermore, the configurations described below can be combined as appropriate. Various omissions, substitutions, or modifications of the configuration can be made without departing from the spirit of the present invention.

〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る研削装置1及び被加工物の研削方法を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る研削装置1の構成例を示す斜視図である。実施形態1に係る研削装置1は、図1に示すように、保持テーブル10と、研削ユニット20と、研削送りユニット30と、研削状態変更ユニット40と、研削量検出ユニット50と、制御ユニット60と、を備える。
[Embodiment 1]
A grinding device 1 and a method for grinding a workpiece according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Fig. 1 is a perspective view showing a configuration example of the grinding device 1 according to the first embodiment. As shown in Fig. 1, the grinding device 1 according to the first embodiment includes a holding table 10, a grinding unit 20, a grinding feed unit 30, a grinding state changing unit 40, a grinding amount detection unit 50, and a control unit 60.

実施形態1において、研削装置1が研削加工する加工対象である被加工物200は、図1に示すように、母材201と、母材201の一方の面に形成された膜202と、を有して構成される。母材201は、実施形態1では、例えば円板状のシリコンであり、円板状の半導体ウエーハや光デバイスウエーハなどのウエーハである。いずれかの面に格子状に形成される複数の分割予定ラインによって区画された領域にデバイスが形成されていてもよい。膜202は、実施形態1では、母材201より粘性が高い材料で構成され、例えばNi,Al,Ti,Pt,Cu等の金属膜やレジスト、ABF樹脂、PI(Poly-Imide)等の樹脂膜である。膜202は、金属膜の場合、実施形態1では、厚みが10μm以下である。膜202は、樹脂膜の場合、実施形態1では、厚みが3μm以上60μm以下である。被加工物200は、膜202が形成された側とは反対側の面に粘着テープ205が貼着されている。 In the first embodiment, the workpiece 200 to be ground by the grinding device 1 is configured to have a base material 201 and a film 202 formed on one side of the base material 201, as shown in FIG. 1. In the first embodiment, the base material 201 is, for example, a disk-shaped silicon, such as a disk-shaped semiconductor wafer or an optical device wafer. A device may be formed in an area partitioned by a plurality of planned division lines formed in a lattice shape on either side. In the first embodiment, the film 202 is made of a material having a higher viscosity than the base material 201, and is, for example, a metal film such as Ni, Al, Ti, Pt, or Cu, or a resin film such as resist, ABF resin, or PI (Poly-Imide). In the first embodiment, the film 202 has a thickness of 10 μm or less when it is a metal film. In the first embodiment, the film 202 has a thickness of 3 μm or more and 60 μm or less when it is a resin film. The workpiece 200 has an adhesive tape 205 attached to the side opposite the side on which the film 202 is formed.

保持テーブル10は、保持面11で被加工物200を、膜202が形成された面を露出するように上側に向けて保持する。保持テーブル10は、被加工物200を保持する平坦な保持面11が上面に形成されかつ多数のポーラス孔を備えたポーラスセラミック等から構成された円盤形状の吸着部と、吸着部を上面中央部の窪み部に嵌め込んで固定する枠体とを備えた円盤形状である。保持面11は、水平面であるXY平面に概ね平行に形成されている。保持テーブル10は、不図示のX軸移動ユニットにより水平方向の一方向であるX軸方向に移動自在に、不図示の回転駆動源により概ねZ軸に沿った回転軸19(図2、図3等参照)回りに回転自在に設けられている。保持テーブル10は、吸着部が、図示しない真空吸引経路を介して図示しない真空吸引源と接続され、保持面11全体で、被加工物200を吸引保持する。 The holding table 10 holds the workpiece 200 on the holding surface 11 with the surface on which the film 202 is formed facing upward so as to expose it. The holding table 10 is disk-shaped, with a flat holding surface 11 formed on the upper surface thereof for holding the workpiece 200, a disk-shaped suction section made of porous ceramics or the like having a large number of porous holes, and a frame body for fixing the suction section by fitting it into a recess in the center of the upper surface. The holding surface 11 is formed approximately parallel to the XY plane, which is a horizontal plane. The holding table 10 is provided so as to be movable in the X-axis direction, which is one horizontal direction, by an X-axis moving unit (not shown), and to be rotatable around a rotation axis 19 (see Figures 2, 3, etc.) approximately along the Z axis by a rotary drive source (not shown). The suction section of the holding table 10 is connected to a vacuum suction source (not shown) via a vacuum suction path (not shown), and the entire holding surface 11 suctions and holds the workpiece 200.

研削ユニット20は、図1に示すように、環状に配された研削砥石21を有する研削ホイール22と、スピンドル23と、サーボモータ24と、を備える。研削砥石21は、研削ホイール22の下方に配されており、下方に研削面25を有する。研削砥石21は、実施形態1では、砥粒径が比較的大きいもの、例えば、粒度が#320(320番)や#600(600番)等のいわゆる母材201がシリコンの被加工物200に対する粗研磨用のものである。研削ホイール22は、スピンドル23の下端に装着されており、スピンドル23の回転に伴い回転する。スピンドル23は、研削ホイール22を鉛直方向と平行なZ軸方向に概ね平行な回転軸29(図2、図3等参照)回りに回転可能に支持する。サーボモータ24は、スピンドル23に回転動力を供給する回転駆動源として機能する。 As shown in FIG. 1, the grinding unit 20 includes a grinding wheel 22 having grinding stones 21 arranged in a ring shape, a spindle 23, and a servo motor 24. The grinding stone 21 is arranged below the grinding wheel 22 and has a grinding surface 25 on the lower side. In the first embodiment, the grinding stone 21 has a relatively large abrasive grain size, for example, a grain size of #320 (320th) or #600 (600th), and is used for rough grinding of a workpiece 200 having a silicon base material 201. The grinding wheel 22 is attached to the lower end of the spindle 23 and rotates with the rotation of the spindle 23. The spindle 23 supports the grinding wheel 22 rotatably around a rotation axis 29 (see FIG. 2, FIG. 3, etc.) that is approximately parallel to the Z-axis direction that is parallel to the vertical direction. The servo motor 24 functions as a rotation drive source that supplies rotational power to the spindle 23.

研削送りユニット30は、研削ユニット20に装着され、研削ユニット20を保持テーブル10の保持面11と概ね垂直な方向である鉛直方向(Z軸方向)に研削送りする。 The grinding feed unit 30 is attached to the grinding unit 20 and feeds the grinding unit 20 for grinding in the vertical direction (Z-axis direction), which is a direction roughly perpendicular to the holding surface 11 of the holding table 10.

保持テーブル10の保持面11の回転軸19と研削砥石21の研削面25の回転軸29とは、ともにXY平面に平行に保持された場合、互いにXY平面内の方向にずれて位置付けられている。 When both the rotation axis 19 of the holding surface 11 of the holding table 10 and the rotation axis 29 of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 are held parallel to the XY plane, they are positioned offset from each other in the XY plane.

研削ユニット20は、研削ホイール22を回転させながら、保持テーブル10に保持された被加工物200の膜202が形成された面側に、研削送りユニット30により鉛直方向と平行なZ軸方向に沿って押圧することによって、被加工物200を膜202が形成された面側から研削する。 While rotating the grinding wheel 22, the grinding unit 20 presses the workpiece 200 held on the holding table 10 against the surface on which the film 202 is formed, along the Z-axis direction, which is parallel to the vertical direction, with the grinding feed unit 30, thereby grinding the workpiece 200 from the surface on which the film 202 is formed.

研削状態変更ユニット40は、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25との関係を変更することで、研削砥石21での保持テーブル10上の被加工物200の研削状態を変更する。研削状態変更ユニット40は、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25とを、互いに平行な平行状態と、互いに平行でない非平行状態とに変化させることができる。 The grinding state change unit 40 changes the relationship between the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 to change the grinding state of the workpiece 200 on the holding table 10 with the grinding wheel 21. The grinding state change unit 40 can change the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 between a parallel state in which they are parallel to each other and a non-parallel state in which they are not parallel to each other.

研削状態変更ユニット40は、実施形態1では、図1に示すように、研削面傾斜ユニット40-1と、保持面傾斜ユニット40-2と、を備える。研削面傾斜ユニット40-1は、研削ユニット20に設けられており、研削ユニット20をX軸回りに回転させることで、研削砥石21の研削面25を傾斜させる。保持面傾斜ユニット40-2は、保持テーブル10に設けられており、保持テーブル10をX軸回りに回転させることで、保持テーブル10の保持面11を傾斜させる。 In the first embodiment, the grinding state change unit 40 includes a grinding surface tilting unit 40-1 and a holding surface tilting unit 40-2, as shown in FIG. 1. The grinding surface tilting unit 40-1 is provided in the grinding unit 20, and tilts the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 by rotating the grinding unit 20 about the X-axis. The holding surface tilting unit 40-2 is provided in the holding table 10, and tilts the holding surface 11 of the holding table 10 by rotating the holding table 10 about the X-axis.

図2は、図1の研削装置1の要部の機能の一例を説明する断面図である。図3は、図1の研削装置1の要部の機能の別の一例を説明する断面図である。図2は、保持テーブル10の保持面11に対し、研削砥石21の研削面25を、保持テーブル10の保持面11の外側と鉛直方向に対向する領域が保持面11の内側と鉛直方向に対向する領域よりも保持テーブル10の保持面11に近づく方向に、角度θ1だけ傾斜させた状態を示している。図3は、保持テーブル10の保持面11に対し、研削面傾斜ユニット40-1により研削砥石21の研削面25を、保持テーブル10の保持面11の内側と鉛直方向に対向する領域が保持面11の外側と鉛直方向に対向する領域よりも保持テーブル10の保持面11に近づく方向に、すなわち、図2に示す状態とは反対側の方向に、角度θ2だけ傾斜させた状態を示している。 Figure 2 is a cross-sectional view for explaining an example of the function of the main part of the grinding device 1 in Figure 1. Figure 3 is a cross-sectional view for explaining another example of the function of the main part of the grinding device 1 in Figure 1. Figure 2 shows a state in which the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 is inclined by an angle θ1 with respect to the holding surface 11 of the holding table 10 in a direction in which the area vertically facing the outside of the holding surface 11 of the holding table 10 is closer to the holding surface 11 of the holding table 10 than the area vertically facing the inside of the holding surface 11. Figure 3 shows a state in which the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 is inclined by an angle θ2 with respect to the holding surface 11 of the holding table 10 in a direction in which the area vertically facing the inside of the holding surface 11 of the holding table 10 is closer to the holding surface 11 of the holding table 10 than the area vertically facing the outside of the holding surface 11, that is, in a direction opposite to the state shown in Figure 2.

保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜角θ1,θ2は、実施形態1では、膜202の厚みに応じて決めることができる。この傾斜角θ1,θ2は、具体的には、研削砥石21の研削面25において、保持テーブル10の保持面11からの距離が最も近い位置と、保持テーブル10の保持面11からの距離が最も遠い位置との保持テーブル10の保持面11からの距離の差(傾斜高さ)が、膜202の厚みの2倍となるように決めることができる。また傾斜高さは、言い換えると保持テーブル10の中心と外縁との高さの差である。例えば、膜202が10μmである場合、この傾斜角θ1,θ2は、この傾斜高さが20μmとなるように決めることができる。 In the first embodiment, the inclination angles θ1 and θ2 of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10 can be determined according to the thickness of the film 202. Specifically, the inclination angles θ1 and θ2 can be determined so that the difference in distance (inclination height) between the closest position on the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 from the holding surface 11 of the holding table 10 and the furthest position from the holding surface 11 of the holding table 10 is twice the thickness of the film 202. In other words, the inclination height is the difference in height between the center and the outer edge of the holding table 10. For example, if the film 202 is 10 μm, the inclination angles θ1 and θ2 can be determined so that the inclination height is 20 μm.

なお、保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜は、研削面傾斜ユニット40-1により研削ユニット20を傾斜して形成してもよいし、保持面傾斜ユニット40-2により保持テーブル10の保持面11を傾斜して形成してもよいし、研削面傾斜ユニット40-1及び保持面傾斜ユニット40-2の両方を使用してもよい。 The inclination of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10 may be formed by inclining the grinding unit 20 using the grinding surface inclination unit 40-1, or by inclining the holding surface 11 of the holding table 10 using the holding surface inclination unit 40-2, or both the grinding surface inclination unit 40-1 and the holding surface inclination unit 40-2 may be used.

研削量検出ユニット50は、図1、図2及び図3に示すように、保持テーブル10の保持面11の外周付近に設けられている。研削量検出ユニット50は、実施形態1では、接触式の高さ検出装置であり、接触した位置の高さを検出する接触式のプローブ51,52を備える。 As shown in Figures 1, 2, and 3, the grinding amount detection unit 50 is provided near the outer periphery of the holding surface 11 of the holding table 10. In the first embodiment, the grinding amount detection unit 50 is a contact-type height detection device, and includes contact-type probes 51 and 52 that detect the height of the contact position.

プローブ51は、保持テーブル10の保持面11に被加工物200が保持されている際に、被加工物200の外縁より外側の領域において保持面11に上方から接触することで、保持面11の高さを検出する。プローブ52は、保持テーブル10の保持面11に被加工物200が保持されている際に、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域において被加工物200に上方から接触することで、被加工物200の上面の高さを検出する。研削量検出ユニット50は、プローブ51,52でそれぞれ検出した高さの情報に基づいて、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における被加工物200の厚みを検出し、この検出した被加工物200の厚みの情報を制御ユニット60に送信する。 When the workpiece 200 is held on the holding surface 11 of the holding table 10, the probe 51 detects the height of the holding surface 11 by contacting the holding surface 11 from above in an area outside the outer edge of the workpiece 200. When the workpiece 200 is held on the holding surface 11 of the holding table 10, the probe 52 detects the height of the upper surface of the workpiece 200 by contacting the workpiece 200 from above in an area slightly inside the outer edge of the workpiece 200. The grinding amount detection unit 50 detects the thickness of the workpiece 200 in an area slightly inside the outer edge of the workpiece 200 based on the height information detected by the probes 51 and 52, and transmits the detected thickness information of the workpiece 200 to the control unit 60.

なお、研削量検出ユニット50は、実施形態1では接触式のプローブ51,52を備えた形態であるが、本発明ではこれに限定されず、例えば、被加工物200の外縁の内側と外側とに保持面11及び被加工物200によって反射される波長のレーザー光を照射し、双方から反射されるレーザー光の干渉波を受光して、この干渉波を受光に基づいて、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における被加工物200の厚みを検出する形態でもよい。 In the first embodiment, the grinding amount detection unit 50 is provided with contact probes 51, 52, but the present invention is not limited to this. For example, the grinding amount detection unit 50 may be configured to irradiate the inside and outside of the outer edge of the workpiece 200 with laser light of a wavelength that is reflected by the holding surface 11 and the workpiece 200, receive interference waves of the laser light reflected from both, and detect the thickness of the workpiece 200 in a region slightly inside the outer edge of the workpiece 200 based on the received interference waves.

図4は、図2の機能を使用して研削中の被加工物200の状態を示す上面図である。図5は、図3の機能を使用して研削中の被加工物200の状態を示す上面図である。研削装置1が、図2に示す状態で、保持テーブル10に保持された被加工物200の膜202が形成された面側に、研削送りユニット30により鉛直方向と平行なZ軸方向に沿って押圧して、研削処理を実行すると、被加工物200は、図4に示すように、外周側から研削されて、外周側から膜202が除去されて母材201が露出する。研削装置1が図2に示す状態での研削処理を継続すると、膜202が除去されて母材201が露出する領域は、被加工物200の外周側から中央に向かって拡大していき、これに伴い、膜202が残存する領域は中央に向かって縮小していく。 Figure 4 is a top view showing the state of the workpiece 200 being ground using the function of Figure 2. Figure 5 is a top view showing the state of the workpiece 200 being ground using the function of Figure 3. When the grinding device 1 performs a grinding process by pressing the surface side of the workpiece 200 held on the holding table 10 on which the film 202 is formed with the grinding feed unit 30 along the Z-axis direction parallel to the vertical direction in the state shown in Figure 2, the workpiece 200 is ground from the outer periphery as shown in Figure 4, and the film 202 is removed from the outer periphery to expose the base material 201. When the grinding device 1 continues the grinding process in the state shown in Figure 2, the area where the film 202 is removed and the base material 201 is exposed expands from the outer periphery of the workpiece 200 toward the center, and the area where the film 202 remains shrinks toward the center.

研削装置1が、図3に示す状態で、保持テーブル10に保持された被加工物200の膜202が形成された面側に、研削送りユニット30により鉛直方向と平行なZ軸方向に沿って押圧して、研削処理を実行すると、被加工物200は、図5に示すように、内周側から研削されて、内周側から膜202が除去されて母材201が露出する。研削装置1が図3に示す状態での研削処理を継続すると、膜202が除去されて母材201が露出する領域は、被加工物200の中央領域から外周側に向かって拡大していき、これに伴い、膜202が残存する領域は外周側に向かって縮小していく。 When the grinding device 1 performs a grinding process by pressing the surface of the workpiece 200 held on the holding table 10 on which the film 202 is formed with the grinding feed unit 30 along the Z-axis direction parallel to the vertical direction, the workpiece 200 is ground from the inner circumference side as shown in FIG. 5, and the film 202 is removed from the inner circumference side to expose the base material 201. When the grinding device 1 continues the grinding process in the state shown in FIG. 3, the area where the film 202 is removed and the base material 201 is exposed expands from the central area of the workpiece 200 toward the outer circumference side, and accordingly the area where the film 202 remains shrinks toward the outer circumference side.

制御ユニット60は、研削装置1の各構成要素をそれぞれ制御して、被加工物200に対する実施形態1に係る被加工物の研削方法の各処理等に関する各動作を研削装置1に実施させるものである。制御ユニット60は、実施形態1では、コンピュータシステムを含む。制御ユニット60は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有する。演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施して、研削装置1を制御するための制御信号を、入出力インターフェース装置を介して研削装置1の各構成要素に出力する。 The control unit 60 controls each component of the grinding device 1 and causes the grinding device 1 to perform each operation related to each process of the grinding method for the workpiece 200 according to the first embodiment. In the first embodiment, the control unit 60 includes a computer system. The control unit 60 has an arithmetic processing device having a microprocessor such as a CPU (central processing unit), a storage device having a memory such as a ROM (read only memory) or a RAM (random access memory), and an input/output interface device. The arithmetic processing device performs arithmetic processing according to a computer program stored in the storage device, and outputs a control signal for controlling the grinding device 1 to each component of the grinding device 1 via the input/output interface device.

制御ユニット60は、研削送りユニット30を制御することで、保持テーブル10に対して研削ユニット20を離間したり、近接したりする。また、制御ユニット60は、研削送りユニット30を制御して、保持テーブル10に対して研削ユニット20を接近させることで、保持テーブル10上の被加工物200に対して研削ユニット20の研削ホイール22を研削送りする。また、制御ユニット60は、研削送りユニット30から研削送り量の情報を取得する。 The control unit 60 controls the grinding feed unit 30 to move the grinding unit 20 away from or close to the holding table 10. The control unit 60 also controls the grinding feed unit 30 to move the grinding unit 20 close to the holding table 10, thereby grinding and feeding the grinding wheel 22 of the grinding unit 20 to the workpiece 200 on the holding table 10. The control unit 60 also obtains information on the grinding feed amount from the grinding feed unit 30.

制御ユニット60は、研削状態変更ユニット40を制御することで、保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜角を制御し、この傾斜角の情報を取得する。制御ユニット60は、研削ユニット20による研削中に連続的にあるいは一定時間ごとに、研削量検出ユニット50を制御して被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における被加工物200の厚みを検出させ、研削量検出ユニット50が検出したこの被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における被加工物200の厚みの情報を取得する。 The control unit 60 controls the grinding state change unit 40 to control the inclination angle of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10, and acquires information on this inclination angle. The control unit 60 controls the grinding amount detection unit 50 continuously or at regular intervals during grinding by the grinding unit 20 to detect the thickness of the workpiece 200 in an area slightly inside the outer edge of the workpiece 200, and acquires information on the thickness of the workpiece 200 in an area slightly inside the outer edge of the workpiece 200 detected by the grinding amount detection unit 50.

制御ユニット60は、この被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における被加工物200の厚みに基づいて、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における研削量を算出する。ここで、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における研削量は、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域において、被加工物200(膜202及び母材201)が研削された厚みを示している。 The control unit 60 calculates the amount of grinding in the area slightly inside the outer edge of the workpiece 200 based on the thickness of the workpiece 200 in the area slightly inside the outer edge of the workpiece 200. Here, the amount of grinding in the area slightly inside the outer edge of the workpiece 200 indicates the thickness of the workpiece 200 (film 202 and base material 201) ground in the area slightly inside the outer edge of the workpiece 200.

制御ユニット60は、研削前の被加工物200における膜202の厚みと、上述のように算出した被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における研削量と、上述のように取得した保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜角とに基づいて、被加工物200の研削処理が実行される面側における母材露出割合を算出する。ここで、母材露出割合は、被加工物200の研削処理が実行される面側の全面積に対する母材201が露出した面積の割合を示している。 The control unit 60 calculates the base material exposure ratio on the side of the workpiece 200 where the grinding process is performed based on the thickness of the film 202 on the workpiece 200 before grinding, the amount of grinding in the area slightly inside the outer edge of the workpiece 200 calculated as described above, and the inclination angle of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10 obtained as described above. Here, the base material exposure ratio indicates the ratio of the area of the exposed base material 201 to the total area of the side of the workpiece 200 where the grinding process is performed.

図6は、図1の研削装置1の制御ユニット60が記憶する処理順序データ65の一例を示す図である。制御ユニット60の記憶装置は、被加工物200に対して実施形態1に係る被加工物の研削方法を実施する際に制御ユニット60の演算処理装置が実行する演算処理に使用する情報を、図6に示す処理順序データ65として格納する。処理順序データ65は、研削装置1が被加工物の研削方法を実施する前に、オペレータが不図示の入力ユニットに入力した情報に基づいて、予め制御ユニット60の記憶装置に記憶される。 Figure 6 is a diagram showing an example of processing sequence data 65 stored by the control unit 60 of the grinding device 1 of Figure 1. The storage device of the control unit 60 stores, as processing sequence data 65 shown in Figure 6, information used in the arithmetic processing executed by the arithmetic processing device of the control unit 60 when performing the workpiece grinding method of embodiment 1 on the workpiece 200. The processing sequence data 65 is stored in advance in the storage device of the control unit 60 based on information input by an operator to an input unit (not shown) before the grinding device 1 performs the workpiece grinding method.

制御ユニット60の記憶装置は、図6に示すように、研削装置1が被加工物の研削方法を実施する際の各処理の処理順序と、各処理における傾斜角と、各処理における研削時間と、各処理における研削量の目安と、各処理における母材露出割合の目安と、を1対1で対応付けて処理順序データ65として記憶している。 As shown in FIG. 6, the storage device of the control unit 60 stores the processing order data 65, which corresponds one-to-one to the processing order of each process when the grinding device 1 performs the grinding method for the workpiece, the tilt angle for each process, the grinding time for each process, the estimated grinding amount for each process, and the estimated base material exposure ratio for each process.

処理順序データ65は、実施形態1では、処理順序が1番目の処理では、傾斜角1を0でない値に設定することで、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25とを互いに平行でない非平行状態にすることを設定し、処理順序が2番目の処理では、傾斜角2を0に設定することで、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25とを互いに平行な平行状態にすることを設定している。 In the first embodiment, the processing sequence data 65 is configured such that in the first processing step, the tilt angle 1 is set to a non-zero value to bring the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 into a non-parallel state, and in the second processing step, the tilt angle 2 is set to 0 to bring the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 into a parallel state.

また、処理順序データ65は、実施形態1では、オペレータが予め実験等により調査しておくことで、処理順序が1番目の処理で、研削量または母材露出割合が所定量、例えば、研削量1や母材露出割合1に到達するまでの研削時間を研削時間1として設定している。また、処理順序データ65は、同様に、処理順序が2番目の処理で、研削量または母材露出割合が所定量、例えば、研削量2や母材露出割合2に到達するまでの研削時間を研削時間2として設定している。ここで、実施形態1では、母材露出割合1は、母材201の少なくとも一部が露出する所定の割合、例えば30%や50%等の100%未満に設定され、母材露出割合2は、母材201が完全に露出し、膜202が完全に除去されるときに相当する100%に設定される。また、実施形態1では、研削量1は、母材露出割合が設定された母材露出割合1となるときの研削量に設定され、研削量2は、母材露出割合が設定された母材露出割合2となるときの研削量以上に設定される。 In the first embodiment, the processing sequence data 65 is set as grinding time 1 for the first processing step, which is based on the operator's prior investigation through experiments, etc., and the grinding time until the grinding amount or base material exposure ratio reaches a predetermined amount, for example, grinding amount 1 or base material exposure ratio 1. Similarly, the processing sequence data 65 is set as grinding time 2 for the second processing step, which is based on the operator's prior investigation through experiments, and the grinding time until the grinding amount or base material exposure ratio reaches a predetermined amount, for example, grinding amount 2 or base material exposure ratio 2. Here, in the first embodiment, the base material exposure ratio 1 is set to a predetermined ratio at which at least a part of the base material 201 is exposed, for example, less than 100%, such as 30% or 50%, and the base material exposure ratio 2 is set to 100%, which corresponds to the time when the base material 201 is completely exposed and the film 202 is completely removed. Also, in embodiment 1, grinding amount 1 is set to the grinding amount when the base material exposure ratio becomes the set base material exposure ratio 1, and grinding amount 2 is set to be equal to or greater than the grinding amount when the base material exposure ratio becomes the set base material exposure ratio 2.

なお、処理順序データ65は、実施形態1では、処理順序が1番目の処理と2番目の処理との2段階のみに分けて設定しているが、本発明ではこれに限定されず、例えば、3段階以上に分けて処理を設定して、研削処理を進めて研削量及び母材露出割合が大きくなるにしたがって、研削砥石21の研削面25に対する保持テーブル10の保持面11の傾斜角を徐々に小さくするように設定したり、研削ホイール22を保持テーブル10に近づける研削送りの速度を速めるように設定したりしてもよい。 In the first embodiment, the processing sequence data 65 is set so that the processing sequence is divided into only two stages, the first process and the second process, but the present invention is not limited to this. For example, the processing may be set to be divided into three or more stages, and the inclination angle of the holding surface 11 of the holding table 10 relative to the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 may be gradually decreased as the grinding process proceeds and the grinding amount and the exposed ratio of the base material increase, or the grinding feed speed for bringing the grinding wheel 22 closer to the holding table 10 may be increased.

制御ユニット60は、このように被加工物の研削方法を実施する際の各処理を予め設定した処理順序データ65を参照して、処理順序が1番目の処理と2番目の処理とを順次実行することで、本発明に係る、研削状態変更ユニット40を作動し保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態にして、研削面25が膜202の一部に接触する状態で研削を開始し、研削ホイール22の研削送りに従い、研削面25と接触する被加工物200の領域を増加させながら被加工物200を研削し、膜202が所定量研削されると保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態から徐々に平行状態に変化するように研削状態変更ユニット40を制御しつつ研削送りするように研削送りユニット30を制御することを、実現している。ここで、膜202が所定量研削されるとは、実施形態1では、研削量が所定量である研削量1に到達することや、母材露出割合が母材201の少なくとも一部が露出する所定の割合である母材露出割合1に到達することに対応している。 The control unit 60 thus refers to processing sequence data 65 in which each process when carrying out the grinding method for the workpiece is preset, and sequentially executes the first and second processes in the processing sequence, thereby realizing the present invention's process of activating the grinding state change unit 40 to make the holding surface 11 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 non-parallel, starting grinding with the grinding surface 25 in contact with a part of the film 202, grinding the workpiece 200 while increasing the area of the workpiece 200 in contact with the grinding surface 25 in accordance with the grinding feed of the grinding wheel 22, and controlling the grinding feed unit 30 to grind while controlling the grinding state change unit 40 so as to gradually change the holding surface 11 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 from the non-parallel state to a parallel state when a predetermined amount of the film 202 has been ground. Here, in embodiment 1, a predetermined amount of film 202 being ground away corresponds to the amount of grinding reaching a predetermined amount, grinding amount 1, or the base material exposure ratio reaching a base material exposure ratio 1, which is a predetermined ratio at which at least a portion of base material 201 is exposed.

研削装置1は、図1に示すように、さらに、カセット91,92と、位置合わせユニット93と、搬入ユニット94と、搬出ユニット95と、洗浄ユニット96と、搬出入ユニット98と、を備える。カセット91,92は、図1に示すように、複数の被加工物200を収容するための収容器である。また、位置合わせユニット93は、カセット91から取り出された被加工物200が仮置きされて、その中心位置合わせを行うためのテーブルである。 As shown in FIG. 1, the grinding device 1 further includes cassettes 91 and 92, an alignment unit 93, a carry-in unit 94, an unloading unit 95, a cleaning unit 96, and a carry-in/out unit 98. As shown in FIG. 1, the cassettes 91 and 92 are containers for storing multiple workpieces 200. The alignment unit 93 is a table on which the workpiece 200 removed from the cassette 91 is temporarily placed and on which the center of the workpiece 200 is aligned.

搬入ユニット94は、吸着パッドを有し、位置合わせユニット93で位置合わせされた研削前の被加工物200を吸着保持して搬入搬出位置に位置する保持テーブル10上に搬入する。搬出ユニット95は、搬入搬出位置に位置する保持テーブル10上に保持された研削後の被加工物200を吸着保持して洗浄ユニット96に搬出する。洗浄ユニット96は、研削後の被加工物200を洗浄し、研削された加工面に付着している研削屑等のコンタミネーションを除去する。 The carry-in unit 94 has a suction pad, and adsorbs and holds the workpiece 200 before grinding that has been aligned by the alignment unit 93, and carries it onto the holding table 10 located at the carry-in/carry-out position. The carry-out unit 95 adsorbs and holds the workpiece 200 after grinding that is held on the holding table 10 located at the carry-in/carry-out position, and carries it out to the cleaning unit 96. The cleaning unit 96 cleans the workpiece 200 after grinding, and removes contamination such as grinding debris adhering to the ground surface.

搬出入ユニット98は、例えば円形型ハンドを備えるロボットピックであり、円形型ハンドによって被加工物200を吸着保持して被加工物200を搬送する。具体的には、搬出入ユニット98は、研削前の被加工物200をカセット91から位置合わせユニット93へ搬出するとともに、研削後の被加工物200を洗浄ユニット96からカセット92へ搬入する。 The loading/unloading unit 98 is, for example, a robot pick equipped with a circular hand, and transports the workpiece 200 by suctioning and holding the workpiece 200 with the circular hand. Specifically, the loading/unloading unit 98 transports the workpiece 200 before grinding from the cassette 91 to the alignment unit 93, and transports the workpiece 200 after grinding from the cleaning unit 96 to the cassette 92.

次に、本明細書は、実施形態1に係る研削装置1の動作の一例である実施形態1に係る被加工物の研削方法の一例を図面に基づいて説明する。図7は、実施形態1に係る被加工物の研削方法の処理の手順の一例を示すフローチャートである。実施形態1に係る被加工物の研削方法は、図7に示すように、保持ステップ1001と、第1の研削ステップ1002と、第2の研削ステップ1003と、を備える。 Next, this specification describes an example of a grinding method for a workpiece according to embodiment 1, which is an example of the operation of the grinding device 1 according to embodiment 1, with reference to the drawings. FIG. 7 is a flowchart showing an example of a processing procedure of the grinding method for a workpiece according to embodiment 1. As shown in FIG. 7, the grinding method for a workpiece according to embodiment 1 includes a holding step 1001, a first grinding step 1002, and a second grinding step 1003.

保持ステップ1001は、保持テーブル10が、被加工物200の膜202が形成された面が露出するように被加工物200を保持面11に保持するステップである。保持ステップ1001では、保持テーブル10が、被加工物200の膜202が形成された面を、保持テーブル10に対して研削ユニット20が設けられている側である上方側に向けて、被加工物200の膜202が形成された面とは反対側に貼着された粘着テープ205の被粘着面側を保持面11で保持する。 In the holding step 1001, the holding table 10 holds the workpiece 200 on the holding surface 11 so that the surface of the workpiece 200 on which the film 202 is formed is exposed. In the holding step 1001, the holding table 10 holds the adhesive surface side of the adhesive tape 205 attached to the side of the workpiece 200 opposite the surface on which the film 202 is formed, on the holding surface 11, with the surface on which the film 202 is formed of the workpiece 200 facing upward relative to the holding table 10, which is the side on which the grinding unit 20 is provided.

図8は、図7の第1の研削ステップ1002を説明する断面図である。第1の研削ステップ1002は、保持ステップ1001の実施後に実施され、図8に示すように、保持面11と、研削砥石21の研削面25と、を所定距離離れるように非平行状態にして、研削面25が膜202の一部に接触する状態で研削を開始し、研削ホイール22の研削送りに従い、研削面25と接触する被加工物200の領域を段階的に増加させながら被加工物200を研削するステップである。 Figure 8 is a cross-sectional view explaining the first grinding step 1002 in Figure 7. The first grinding step 1002 is performed after the holding step 1001, and as shown in Figure 8, the holding surface 11 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 are made non-parallel so as to be separated by a predetermined distance, grinding is started with the grinding surface 25 in contact with a part of the film 202, and the workpiece 200 is ground while the area of the workpiece 200 in contact with the grinding surface 25 is gradually increased according to the grinding feed of the grinding wheel 22.

第1の研削ステップ1002では、まず、制御ユニット60が、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25とを所定距離以上離間させた状態で、研削状態変更ユニット40を制御することで、保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜角を制御して、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態にする。第1の研削ステップ1002では、実施形態1では、制御ユニット60が、図2に示すように、研削砥石21の研削面25が、保持テーブル10の保持面11の外側より保持面11の内側においての方が保持テーブル10の保持面11に近づく方向に、角度θ1だけ傾斜させた状態を形成する。 In the first grinding step 1002, first, the control unit 60 controls the grinding state change unit 40 while separating the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 by a predetermined distance or more, thereby controlling the inclination angle of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10, thereby making the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 non-parallel. In the first grinding step 1002, in the first embodiment, the control unit 60 forms a state in which the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 is inclined by an angle θ1 in a direction in which the inside of the holding surface 11 of the holding table 10 is closer to the holding surface 11 of the holding table 10 than the outside of the holding surface 11 of the holding table 10, as shown in FIG. 2.

第1の研削ステップ1002では、次に、制御ユニット60が、保持テーブル10を回転させるとともに、研削ユニット20の研削ホイール22を回転させる。第1の研削ステップ1002では、そして、制御ユニット60が、図8に示すように、保持テーブル10を回転し研削ホイール22を回転した状態で、研削送りユニット30を制御することで、保持テーブル10に対して研削ユニット20を近接させ、研削面25を膜202の外周部分(外縁)に接触させて、膜202が形成された面側から被加工物200の研削を開始する。 In the first grinding step 1002, the control unit 60 then rotates the holding table 10 and the grinding wheel 22 of the grinding unit 20. In the first grinding step 1002, the control unit 60 then controls the grinding feed unit 30 while rotating the holding table 10 and the grinding wheel 22, as shown in FIG. 8, to bring the grinding unit 20 closer to the holding table 10, bring the grinding surface 25 into contact with the outer peripheral portion (outer edge) of the film 202, and start grinding the workpiece 200 from the surface side on which the film 202 is formed.

第1の研削ステップ1002では、実施形態1では、研削砥石21の研削面25を保持テーブル10の保持面11に対して傾斜させてから接触させているが、本発明ではこれに限定されず、研削砥石21の研削面25を保持テーブル10の保持面11に対して接触させてから傾斜させてもよい。 In the first grinding step 1002, in the first embodiment, the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 is inclined relative to the holding surface 11 of the holding table 10 before it is brought into contact with the holding surface 11, but the present invention is not limited to this, and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 may be inclined after it is brought into contact with the holding surface 11 of the holding table 10.

第1の研削ステップ1002では、制御ユニット60が、さらに研削送りユニット30を制御することで、保持テーブル10に対して研削ユニット20を鉛直方向に沿って押圧することによって、保持テーブル10上の被加工物200に対して研削ホイール22を研削送りし、研削ホイール22の研削送りに従い、研削面25と接触する被加工物200の領域を段階的に増加させながら被加工物200を研削する。第1の研削ステップ1002では、実施形態1では、被加工物200を研削するに従って、図4に示すように、被加工物200は、外周側から研削され、外周側から膜202が除去されて母材201が露出し、膜202が除去されて母材201が露出する領域が外周側から中央に向かって拡大する。 In the first grinding step 1002, the control unit 60 further controls the grinding feed unit 30 to press the grinding unit 20 against the holding table 10 in the vertical direction, thereby feeding the grinding wheel 22 against the workpiece 200 on the holding table 10, and grinding the workpiece 200 while gradually increasing the area of the workpiece 200 in contact with the grinding surface 25 according to the grinding feed of the grinding wheel 22. In the first grinding step 1002, in the first embodiment, as the workpiece 200 is ground, as shown in FIG. 4, the workpiece 200 is ground from the outer periphery, the film 202 is removed from the outer periphery to expose the base material 201, and the area where the film 202 is removed and the base material 201 is exposed expands from the outer periphery toward the center.

第1の研削ステップ1002では、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態にして研削するので、研削中の研削砥石21と被加工物200の膜202との接触面積を平行状態で研削する場合と比較すると少なく抑制することができる。このため、第1の研削ステップ1002では、研削中に粘性が高い膜202が研削砥石21に付着する恐れを低減することができる。また、第1の研削ステップ1002では、母材201の少なくとも一部が露出すると、研削中に研削砥石21と母材201とが接触するので、これによって生じる母材201の研削砥石21に対するドレッシング効果により、研削砥石21に付着した膜202を好適に除去されるため、研削砥石21にかかる研削抵抗をさらに低減し、安定した研削処理を実施することができる。なお、このドレッシング効果は、母材201がシリコンである場合、特に顕著に発揮される。 In the first grinding step 1002, the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 are ground in a non-parallel state, so that the contact area between the grinding wheel 21 and the film 202 of the workpiece 200 during grinding can be suppressed to be smaller than when grinding in a parallel state. Therefore, in the first grinding step 1002, the risk of the highly viscous film 202 adhering to the grinding wheel 21 during grinding can be reduced. In addition, in the first grinding step 1002, when at least a part of the base material 201 is exposed, the grinding wheel 21 and the base material 201 come into contact during grinding, so that the dressing effect of the base material 201 on the grinding wheel 21 caused by this allows the film 202 adhering to the grinding wheel 21 to be suitably removed, thereby further reducing the grinding resistance applied to the grinding wheel 21 and enabling stable grinding processing to be performed. This dressing effect is particularly pronounced when the base material 201 is silicon.

第1の研削ステップ1002では、制御ユニット60が、実施形態1では、処理順序データ65を参照して、処理順序が1番目の処理に対照付けられた研削時間1だけ研削処理を継続することで、被加工物200の研削量及び母材露出割合を、処理順序が1番目の処理に対照付けられた研削量1及び母材露出割合1に概ね到達させる。これにより、第1の研削ステップ1002では、制御ユニット60が、第1の研削ステップ1002において膜202が所定量研削される、という状態を実現する。 In the first grinding step 1002, in the first embodiment, the control unit 60 refers to the processing sequence data 65 and continues the grinding process for the grinding time 1 associated with the first process in the processing sequence, thereby causing the grinding amount and base material exposure ratio of the workpiece 200 to approximately reach the grinding amount 1 and base material exposure ratio 1 associated with the first process in the processing sequence. As a result, in the first grinding step 1002, the control unit 60 realizes a state in which a predetermined amount of the film 202 is ground in the first grinding step 1002.

図9は、図7の第2の研削ステップ1003を説明する断面図である。第2の研削ステップ1003は、図9に示すように、第1の研削ステップ1002の実施後に実施され、第1の研削ステップ1002において膜202が所定量研削されると、保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態から徐々に平行状態に変化させつつ研削送りして被加工物200を研削するステップである。 Figure 9 is a cross-sectional view explaining the second grinding step 1003 in Figure 7. As shown in Figure 9, the second grinding step 1003 is performed after the first grinding step 1002. When a predetermined amount of the film 202 is ground in the first grinding step 1002, the workpiece 200 is ground by gradually changing the holding surface 11 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 from a non-parallel state to a parallel state while being fed for grinding.

第2の研削ステップ1003では、制御ユニット60が、研削状態変更ユニット40を制御することで、保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜角を制御して、保持テーブル10の保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態から徐々に平行状態に変化させる。また、第2の研削ステップ1003では、制御ユニット60が、第1の研削ステップ1002に引き続き、研削送りユニット30を制御することで研削ホイール22を研削送りする。 In the second grinding step 1003, the control unit 60 controls the grinding state change unit 40 to control the inclination angle of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10, gradually changing the holding surface 11 of the holding table 10 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 from a non-parallel state to a parallel state. In the second grinding step 1003, the control unit 60 controls the grinding feed unit 30 to grind and feed the grinding wheel 22, following the first grinding step 1002.

第2の研削ステップ1003では、当該処理の開始時点で、母材201の少なくとも一部が露出している。第2の研削ステップ1003では、実施形態1では、当該処理の開始時点で、母材露出割合が所定量に到達している。このため、第2の研削ステップ1003では、研削中の研削砥石21と被加工物200の膜202との接触面積を平行状態にして研削する従来と比較すると少なく抑制することができる。また、第2の研削ステップ1003では、研削中に研削砥石21と母材201とが接触するので、これによって生じる母材201の研削砥石21に対するドレッシング効果が得られる。このため、第2の研削ステップ1003では、膜202が一定量残っていたとしても、第1の研削ステップ1002と同様の研削抵抗の抑制効果が得られ、安定した研削処理を実施することができる。 In the second grinding step 1003, at least a part of the base material 201 is exposed at the start of the process. In the second grinding step 1003, in the first embodiment, the base material exposure ratio reaches a predetermined amount at the start of the process. Therefore, in the second grinding step 1003, the contact area between the grinding wheel 21 and the film 202 of the workpiece 200 during grinding can be suppressed to a small area compared to the conventional method of grinding in a parallel state. In addition, in the second grinding step 1003, the grinding wheel 21 and the base material 201 come into contact during grinding, and a dressing effect of the base material 201 against the grinding wheel 21 caused by this can be obtained. Therefore, in the second grinding step 1003, even if a certain amount of the film 202 remains, the same grinding resistance suppression effect as in the first grinding step 1002 can be obtained, and a stable grinding process can be performed.

このような第2の研削ステップ1003を経ると、研削処理された被加工物200は、膜202が完全に除去され、母材201の研削砥石21によって研削処理された側の面(被研削面)が保持テーブル10の保持面11と平行に形成される。 After this second grinding step 1003, the ground workpiece 200 has the film 202 completely removed, and the surface of the base material 201 that has been ground by the grinding wheel 21 (the surface to be ground) is formed parallel to the holding surface 11 of the holding table 10.

以上のような構成を有する実施形態1に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態にして、研削面25が膜202の一部(外周部分)に接触する状態で研削を開始し、研削面25と接触する被加工物200の領域を外周部分から中央に向かって増加させながら被加工物200を研削し、膜202が所定量研削されると保持面11と研削砥石21の研削面25とを非平行状態から徐々に平行状態に変化させて、研削送りすることで、被加工物200を膜202側から研削する。このため、実施形態1に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、粘性が高い膜202が研削砥石21に付着する恐れを低減できるので、粘性の高い膜202が形成された場合でも安定して膜202側から研削できるという作用効果を奏する。 The grinding device 1 and the grinding method of the workpiece according to the first embodiment having the above-mentioned configuration make the holding surface 11 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 in a non-parallel state, start grinding in a state where the grinding surface 25 is in contact with a part (peripheral part) of the film 202, grind the workpiece 200 while increasing the area of the workpiece 200 in contact with the grinding surface 25 from the peripheral part toward the center, and when a predetermined amount of the film 202 is ground, the holding surface 11 and the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 are gradually changed from the non-parallel state to a parallel state, and the grinding feed is performed, thereby grinding the workpiece 200 from the film 202 side. Therefore, the grinding device 1 and the grinding method of the workpiece according to the first embodiment can reduce the risk of the highly viscous film 202 adhering to the grinding wheel 21, so that even if a highly viscous film 202 is formed, it is possible to stably grind from the film 202 side.

〔実施形態2〕
本発明の実施形態2に係る研削装置1及び被加工物の研削方法を説明する。図10は、実施形態2に係る被加工物の研削方法の第1の研削ステップ1002を説明する断面図である。図10は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
[Embodiment 2]
A grinding device 1 and a grinding method for a workpiece according to a second embodiment of the present invention will be described. Fig. 10 is a cross-sectional view illustrating a first grinding step 1002 of the grinding method for a workpiece according to the second embodiment. In Fig. 10, the same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

実施形態2に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、実施形態1において、図10に示すように、第1の研削ステップ1002で保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜方向を反対にしたこと以外、同じである。 The grinding device 1 and the method for grinding a workpiece according to the second embodiment are the same as those according to the first embodiment, except that in the first grinding step 1002, the inclination direction of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10 is reversed, as shown in FIG. 10.

具体的には、実施形態2に係る第1の研削ステップ1002では、制御ユニット60が、図3に示すように、保持テーブル10の保持面11に対し、研削砥石21の研削面25を、保持テーブル10の保持面11の内側と鉛直方向に対向する領域が保持面11の外側と鉛直方向に対向する領域よりも保持テーブル10の保持面11に近づく方向に、角度θ2だけ傾斜させた状態を形成する。実施形態2に係る第1の研削ステップ1002では、そして、制御ユニット60が、図10に示すように、保持テーブル10を回転し研削ホイール22を回転した状態で、研削送りユニット30を制御することで、保持テーブル10に対して研削ユニット20を近接させ、研削面25を膜202の中央部分に接触させて、膜202が形成された面側から被加工物200の研削を開始する。 Specifically, in the first grinding step 1002 according to the second embodiment, the control unit 60 forms a state in which the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 is inclined by an angle θ2 with respect to the holding surface 11 of the holding table 10, as shown in FIG. 3, in a direction in which the area vertically facing the inside of the holding surface 11 of the holding table 10 is closer to the holding surface 11 of the holding table 10 than the area vertically facing the outside of the holding surface 11. In the first grinding step 1002 according to the second embodiment, the control unit 60 controls the grinding feed unit 30 while rotating the holding table 10 and rotating the grinding wheel 22, as shown in FIG. 10, to bring the grinding unit 20 closer to the holding table 10, bring the grinding surface 25 into contact with the center part of the film 202, and start grinding the workpiece 200 from the surface side on which the film 202 is formed.

実施形態2に係る第1の研削ステップ1002では、被加工物200を研削するに従って、図5に示すように、被加工物200は、中央側から研削され、中央側から膜202が除去されて母材201が露出し、膜202が除去されて母材201が露出する領域が中央領域から外周側に向かって拡大する。 In the first grinding step 1002 according to the second embodiment, as the workpiece 200 is ground, as shown in FIG. 5, the workpiece 200 is ground from the center, the film 202 is removed from the center to expose the base material 201, and the area where the film 202 is removed to expose the base material 201 expands from the center toward the outer periphery.

以上のような構成を有する実施形態2に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、実施形態1において、第1の研削ステップ1002で保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜方向を反対にしたものである。このため、実施形態2に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、実施形態1と同様の作用効果を奏するものとなる。 The grinding device 1 and the grinding method for the workpiece according to the second embodiment having the above-mentioned configuration are the same as those of the first embodiment except that in the first grinding step 1002, the inclination direction of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10 is reversed. Therefore, the grinding device 1 and the grinding method for the workpiece according to the second embodiment have the same effect as those of the first embodiment.

〔実施形態3〕
本発明の実施形態3に係る研削装置1及び被加工物の研削方法を説明する。図11は、実施形態3に係る被加工物の研削方法の処理の手順の一例を示すフローチャートである。図11は、実施形態1及び実施形態2と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
[Embodiment 3]
A grinding device 1 and a grinding method for a workpiece according to a third embodiment of the present invention will be described. Fig. 11 is a flowchart showing an example of a processing procedure of the grinding method for a workpiece according to the third embodiment. In Fig. 11, the same parts as those in the first and second embodiments are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

実施形態3に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、実施形態1及び実施形態2において、図11に示すように、研削量測定ステップ1004と、研削量判定ステップ1005とをさらに備える。実施形態3に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、実施形態1及び実施形態2において、第1の研削ステップ1002において制御ユニット60が処理順序データ65を参照して処理順序が1番目の処理に対照付けられた研削時間1だけ研削処理を継続することに代えて、研削量測定ステップ1004及び研削量判定ステップ1005を実施することで、第1の研削ステップ1002における研削時間を制御する。 The grinding device 1 and the grinding method of the workpiece according to the third embodiment further includes a grinding amount measuring step 1004 and a grinding amount determining step 1005 as shown in FIG. 11 in the first and second embodiments. The grinding device 1 and the grinding method of the workpiece according to the third embodiment controls the grinding time in the first grinding step 1002 by performing a grinding amount measuring step 1004 and a grinding amount determining step 1005, instead of the control unit 60 referring to the processing order data 65 in the first grinding step 1002 and continuing the grinding process for the grinding time 1 associated with the first process in the processing order in the first grinding step 1002 in the first and second embodiments.

研削量測定ステップ1004は、第1の研削ステップ1002での研削中に、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における研削量を測定するステップである。 The grinding amount measurement step 1004 is a step for measuring the amount of grinding in an area slightly inside the outer edge of the workpiece 200 during grinding in the first grinding step 1002.

研削量測定ステップ1004では、まず、制御ユニット60が、研削量検出ユニット50を制御して、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における被加工物200の厚みを検出させて、当該厚みの情報を取得する。研削量測定ステップ1004では、次に、制御ユニット60が、取得した当該厚みの情報に基づいて、被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における研削量を算出する。 In the grinding amount measurement step 1004, the control unit 60 first controls the grinding amount detection unit 50 to detect the thickness of the workpiece 200 in a region slightly inside the outer edge of the workpiece 200, and acquires information on the thickness. In the grinding amount measurement step 1004, the control unit 60 then calculates the grinding amount in the region slightly inside the outer edge of the workpiece 200 based on the acquired thickness information.

研削量判定ステップ1005は、研削量測定ステップ1004で測定した被加工物200の外縁よりわずかに内側の領域における研削量が、所定量以上であるか否かを判定するステップである。 Grinding amount determination step 1005 is a step for determining whether the grinding amount in the area slightly inside the outer edge of the workpiece 200 measured in grinding amount measurement step 1004 is equal to or greater than a predetermined amount.

研削量判定ステップ1005では、制御ユニット60が、研削量測定ステップ1004で測定した当該研削量が、所定量以上であると判定した場合(研削量判定ステップ1005でYes)、第1の研削ステップ1002で十分な面積割合分の膜202を除去し、十分な面積割合分の母材201を露出させたと判定して、第1の研削ステップ1002を終了して、実施形態3に係る被加工物の研削方法の処理を第2の研削ステップ1003に進める。研削量判定ステップ1005では、制御ユニット60は、例えば、処理順序データ65を参照して、処理順序が1番目の処理に対照付けられた研削量1を、上記した研削量の所定量に設定する。 In the grinding amount determination step 1005, if the control unit 60 determines that the grinding amount measured in the grinding amount measurement step 1004 is equal to or greater than the predetermined amount (Yes in the grinding amount determination step 1005), it determines that a sufficient area percentage of the film 202 has been removed in the first grinding step 1002 and that a sufficient area percentage of the base material 201 has been exposed, and ends the first grinding step 1002, and advances the processing of the grinding method for the workpiece according to the third embodiment to the second grinding step 1003. In the grinding amount determination step 1005, the control unit 60, for example, refers to the processing order data 65 and sets the grinding amount 1 associated with the first processing in the processing order to the predetermined amount of grinding amount described above.

研削量判定ステップ1005では、制御ユニット60が、研削量測定ステップ1004で測定した当該研削量が、所定量未満であると判定した場合(研削量判定ステップ1005でNo)、第1の研削ステップ1002で十分な面積割合分の膜202を除去しておらず、十分な面積割合分の母材201を露出させていないと判定して、第1の研削ステップ1002を引き続き行い、実施形態3に係る被加工物の研削方法の処理を再び研削量測定ステップ1004に戻す。実施形態3に係る被加工物の研削方法では、制御ユニット60は、研削量判定ステップ1005で研削量が所定量以上であると判定するまで、第1の研削ステップ1002を継続し、研削量測定ステップ1004と研削量判定ステップ1005とを繰り返す。 In the grinding amount determination step 1005, if the control unit 60 determines that the grinding amount measured in the grinding amount measurement step 1004 is less than the predetermined amount (No in the grinding amount determination step 1005), it determines that a sufficient area ratio of the film 202 has not been removed in the first grinding step 1002 and that a sufficient area ratio of the base material 201 has not been exposed, and continues the first grinding step 1002, and returns the processing of the grinding method of the workpiece according to the third embodiment to the grinding amount measurement step 1004 again. In the grinding method of the workpiece according to the third embodiment, the control unit 60 continues the first grinding step 1002 and repeats the grinding amount measurement step 1004 and the grinding amount determination step 1005 until it determines that the grinding amount is equal to or greater than the predetermined amount in the grinding amount determination step 1005.

実施形態3に係る被加工物の研削方法では、このように、制御ユニット60が、研削量が所定量に到達するまで、第1の研削ステップ1002を継続し、研削量測定ステップ1004と研削量判定ステップ1005とを繰り返すことにより、第1の研削ステップ1002において膜202が所定量研削される、という状態を実現する。 In the method for grinding a workpiece according to the third embodiment, the control unit 60 continues the first grinding step 1002 until the grinding amount reaches a predetermined amount, and repeats the grinding amount measurement step 1004 and the grinding amount determination step 1005, thereby realizing a state in which the film 202 is ground off by a predetermined amount in the first grinding step 1002.

なお、実施形態3に係る被加工物の研削方法では、研削量測定ステップ1004で研削量を測定し、研削量判定ステップ1005で研削量が所定量以上であるか否かを判定したが、本発明ではこれに限定されず、研削量に代えて母材露出割合を検出し、研削量が所定量以上であるか否かを判定することに代えて母材露出割合が所定量以上であるか否かを判定してもよい。なお、母材露出割合が所定量以上であるか否かを判定する場合には、制御ユニット60は、例えば、処理順序データ65を参照して、処理順序が1番目の処理に対照付けられた母材露出割合1を、上記した母材露出割合の所定量に設定する。 In the grinding method of the workpiece according to the third embodiment, the grinding amount is measured in the grinding amount measurement step 1004, and it is determined whether the grinding amount is equal to or greater than a predetermined amount in the grinding amount determination step 1005. However, the present invention is not limited to this, and the base material exposure ratio may be detected instead of the grinding amount, and instead of determining whether the grinding amount is equal to or greater than a predetermined amount, it may be determined whether the base material exposure ratio is equal to or greater than a predetermined amount. When determining whether the base material exposure ratio is equal to or greater than a predetermined amount, the control unit 60, for example, refers to the processing sequence data 65 and sets the base material exposure ratio 1 associated with the first processing in the processing sequence to the above-mentioned predetermined amount of the base material exposure ratio.

また、実施形態3に係る被加工物の研削方法では、研削量に代えて研削送りユニット30の研削送り量を検出し、研削量が所定量以上であるか否かを判定することに代えて研削送り量が所定量以上であるか否かを判定してもよい。なお、研削送り量が所定量以上であるか否かを判定する場合には、制御ユニット60は、処理順序データ65を参照して得られる処理順序が1番目の処理に対照付けられた研削量1と、保持テーブル10の保持面11に対する研削砥石21の研削面25の傾斜角とに基づいて算出される研削送り量を、上記した所定量に設定する。また、実施形態3に係る被加工物の研削方法では、研削砥石21の摩耗を考慮して、上記した所定量にさらに研削砥石21の摩耗量に相当する補正値を加えてもよい。 In addition, in the grinding method of the workpiece according to the third embodiment, the grinding feed amount of the grinding feed unit 30 may be detected instead of the grinding amount, and instead of determining whether the grinding amount is equal to or greater than the predetermined amount, it may be determined whether the grinding feed amount is equal to or greater than the predetermined amount. When determining whether the grinding feed amount is equal to or greater than the predetermined amount, the control unit 60 sets the grinding feed amount calculated based on the grinding amount 1 associated with the first process in the process order obtained by referring to the process order data 65 and the inclination angle of the grinding surface 25 of the grinding wheel 21 relative to the holding surface 11 of the holding table 10 to the above-mentioned predetermined amount. In addition, in the grinding method of the workpiece according to the third embodiment, a correction value equivalent to the wear amount of the grinding wheel 21 may be added to the above-mentioned predetermined amount in consideration of the wear of the grinding wheel 21.

以上のような構成を有する実施形態3に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、研削量や母材露出割合を検出し、これらが所定量以上であるか否かを判定することで、第1の研削ステップ1002から第2の研削ステップ1003に切り替える。このため、実施形態3に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、実施形態1及び実施形態2と同様の作用効果を奏するものとなる。また、実施形態3に係る研削装置1及び被加工物の研削方法は、実施形態1及び実施形態2に加えて、さらに、より確実に、第1の研削ステップ1002での研削量や母材露出割合が所定量以上になったタイミングで第2の研削ステップ1003に切り替えることができるので、より安定して膜202側から研削できるという作用効果を奏する。 The grinding device 1 and the grinding method of the workpiece according to the third embodiment having the above configuration detect the amount of grinding and the ratio of exposed base material, and determine whether or not these are equal to or greater than a predetermined amount, thereby switching from the first grinding step 1002 to the second grinding step 1003. Therefore, the grinding device 1 and the grinding method of the workpiece according to the third embodiment have the same effect as the first and second embodiments. In addition to the first and second embodiments, the grinding device 1 and the grinding method of the workpiece according to the third embodiment can more reliably switch to the second grinding step 1003 when the amount of grinding or the ratio of exposed base material in the first grinding step 1002 becomes equal to or greater than a predetermined amount, and therefore have the effect of being able to grind from the film 202 side more stably.

〔実施形態4〕
本発明の実施形態4に係る研削装置1-2及び被加工物の研削方法を説明する。図12は、実施形態4に係る研削装置1-2の構成例を示す斜視図である。図13は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第1例を示すフローチャートである。図14は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第2例を示すフローチャートである。図15は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第3例を示すフローチャートである。図16は、実施形態4に係る被加工物の研削方法の処理の手順の第4例を示すフローチャートである。図13から図16は、実施形態1、実施形態2及び実施形態3と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
[Embodiment 4]
A grinding device 1-2 and a grinding method for a workpiece according to a fourth embodiment of the present invention will be described. FIG. 12 is a perspective view showing a configuration example of a grinding device 1-2 according to the fourth embodiment. FIG. 13 is a flowchart showing a first example of a processing procedure of the grinding method for a workpiece according to the fourth embodiment. FIG. 14 is a flowchart showing a second example of a processing procedure of the grinding method for a workpiece according to the fourth embodiment. FIG. 15 is a flowchart showing a third example of a processing procedure of the grinding method for a workpiece according to the fourth embodiment. FIG. 16 is a flowchart showing a fourth example of a processing procedure of the grinding method for a workpiece according to the fourth embodiment. In FIGS. 13 to 16, the same reference numerals are assigned to the same parts as those in the first, second and third embodiments, and the description thereof will be omitted.

実施形態4に係る研削装置1-2は、図12に示すように、保持テーブル10と、ターンテーブル15と、研削送りユニット30-1,30-2と、研削状態変更ユニット40と、研削量検出ユニット50と、制御ユニット60と、粗研削ユニット70と、仕上げ研削ユニット80と、を備える。なお、実施形態4に係る粗研削ユニット70と仕上げ研削ユニット80とは、共に本発明に係る研削ユニットである。 As shown in FIG. 12, the grinding device 1-2 according to the fourth embodiment includes a holding table 10, a turntable 15, grinding feed units 30-1 and 30-2, a grinding state change unit 40, a grinding amount detection unit 50, a control unit 60, a rough grinding unit 70, and a finish grinding unit 80. The rough grinding unit 70 and the finish grinding unit 80 according to the fourth embodiment are both grinding units according to the present invention.

保持テーブル10は、図12に示すように、ターンテーブル15上に3つ設置されている。これら3つの保持テーブル10は、ターンテーブル15上において、ターンテーブル15とは独立して概ね水平面(XY平面)内で回転可能に設けられている。ターンテーブル15は、図12に示すように、円盤状のテーブルであり、水平面内で回転可能に設けられ、所定のタイミングで回転駆動される。3つの保持テーブル10は、ターンテーブル15上には、例えば120°の位相角で等間隔に配設されている。これらの3つの保持テーブル10は、ターンテーブル15の回転によって、搬入搬出位置101、粗研削位置102、仕上げ研削位置103、搬入搬出位置101に順次移動される。 As shown in FIG. 12, three holding tables 10 are installed on the turntable 15. These three holding tables 10 are arranged on the turntable 15 so as to be rotatable in a generally horizontal plane (XY plane) independently of the turntable 15. As shown in FIG. 12, the turntable 15 is a disk-shaped table that is arranged so as to be rotatable in a horizontal plane and is rotated at a predetermined timing. The three holding tables 10 are arranged on the turntable 15 at equal intervals, for example, at a phase angle of 120°. These three holding tables 10 are moved sequentially to the loading/unloading position 101, the rough grinding position 102, the finish grinding position 103, and the loading/unloading position 101 by the rotation of the turntable 15.

粗研削ユニット70は、図12に示すように、環状に配された研削砥石71を有する研削ホイール72と、スピンドル73と、サーボモータ74と、を備える。研削砥石71は、下方に研削面75を有する。粗研削ユニット70は、粗研削位置102に位置付けられた保持テーブル10上の被加工物200を加工すること以外は、実施形態1から実施形態3における研削ユニット20と同じである。また、研削砥石71、研削ホイール72、スピンドル73、サーボモータ74及び研削面75は、実施形態1から実施形態3における研削砥石21、研削ホイール22、スピンドル23、サーボモータ24及び研削面25と同じである。 As shown in FIG. 12, the rough grinding unit 70 includes a grinding wheel 72 having grinding stones 71 arranged in an annular shape, a spindle 73, and a servo motor 74. The grinding stone 71 has a grinding surface 75 on the lower side. The rough grinding unit 70 is the same as the grinding unit 20 in the first to third embodiments, except that the rough grinding unit 70 processes the workpiece 200 on the holding table 10 positioned at the rough grinding position 102. In addition, the grinding stone 71, the grinding wheel 72, the spindle 73, the servo motor 74, and the grinding surface 75 are the same as the grinding stone 21, the grinding wheel 22, the spindle 23, the servo motor 24, and the grinding surface 25 in the first to third embodiments.

仕上げ研削ユニット80は、図12に示すように、環状に配された研削砥石81を有する研削ホイール82と、スピンドル83と、サーボモータ84と、を備える。研削砥石81は、下方に研削面85を有する。仕上げ研削ユニット80は、仕上げ研削位置103に位置付けられた保持テーブル10上の被加工物200を加工することと、研削砥石81の砥粒径及び粒度以外は、実施形態1から実施形態3における研削ユニット20と同じである。また、研削ホイール82、スピンドル83、サーボモータ84及び研削面85は、実施形態1から実施形態3における研削ホイール22、スピンドル23、サーボモータ24及び研削面25と同じである。研削砥石81は、実施形態4では、砥粒径が比較的小さいもの、例えば、粒度が#1400(1400番)以上のいわゆる母材201がシリコンの被加工物200に対する仕上げ研磨用のものである。研削砥石81は、砥粒径及び粒度以外は、実施形態1から実施形態3における研削砥石21と同じである。 As shown in FIG. 12, the finish grinding unit 80 includes a grinding wheel 82 having grinding stones 81 arranged in a ring shape, a spindle 83, and a servo motor 84. The grinding stone 81 has a grinding surface 85 on the lower side. The finish grinding unit 80 is the same as the grinding unit 20 in the first to third embodiments except for processing the workpiece 200 on the holding table 10 positioned at the finish grinding position 103 and the abrasive grain size and granularity of the grinding stone 81. The grinding wheel 82, spindle 83, servo motor 84, and grinding surface 85 are the same as the grinding wheel 22, spindle 23, servo motor 24, and grinding surface 25 in the first to third embodiments. In the fourth embodiment, the grinding stone 81 has a relatively small abrasive grain size, for example, a grain size of #1400 (1400th number) or more, so-called base material 201 is for finishing polishing the workpiece 200 made of silicon. The grinding wheel 81 is the same as the grinding wheel 21 in embodiments 1 to 3, except for the abrasive grain size and particle size.

研削送りユニット30-1は、粗研削ユニット70に装着され、粗研削ユニット70を粗研削位置102に位置付けられた保持テーブル10の保持面11と概ね垂直な方向である鉛直方向(Z軸方向)に研削送りする。研削送りユニット30-2は、仕上げ研削ユニット80に装着され、仕上げ研削ユニット80を仕上げ研削位置103に位置付けられた保持テーブル10の保持面11と概ね垂直な方向である鉛直方向(Z軸方向)に研削送りする。研削送りユニット30-1,30-2は、上記以外は、実施形態1から実施形態3における研削送りユニット30と同じである。 The grinding feed unit 30-1 is attached to the rough grinding unit 70, and feeds the rough grinding unit 70 for grinding in a vertical direction (Z-axis direction) that is generally perpendicular to the holding surface 11 of the holding table 10 positioned at the rough grinding position 102. The grinding feed unit 30-2 is attached to the finish grinding unit 80, and feeds the finish grinding unit 80 for grinding in a vertical direction (Z-axis direction) that is generally perpendicular to the holding surface 11 of the holding table 10 positioned at the finish grinding position 103. Other than the above, the grinding feed units 30-1 and 30-2 are the same as the grinding feed unit 30 in the first to third embodiments.

粗研削位置102に位置付けられた保持テーブル10の保持面11の回転軸19と研削砥石71の研削面75の回転軸とは、ともにXY平面に平行に保持された場合、互いにXY平面内の方向にずれて位置付けられている。仕上げ研削位置103に位置付けられた保持テーブル10の保持面11の回転軸19と研削砥石81の研削面85の回転軸とは、ともにXY平面に平行に保持された場合、互いにXY平面内の方向にずれて位置付けられている。 When both the rotation axis 19 of the holding surface 11 of the holding table 10 positioned at the rough grinding position 102 and the rotation axis of the grinding surface 75 of the grinding wheel 71 are held parallel to the XY plane, they are positioned offset from each other in a direction within the XY plane. When both the rotation axis 19 of the holding surface 11 of the holding table 10 positioned at the finish grinding position 103 and the rotation axis of the grinding surface 85 of the grinding wheel 81 are held parallel to the XY plane, they are positioned offset from each other in a direction within the XY plane.

粗研削ユニット70は、研削ホイール72を回転させながら、粗研削位置102に位置付けられた保持テーブル10に保持された被加工物200の膜202が形成された面側に、研削送りユニット30-1により鉛直方向と平行なZ軸方向に沿って押圧することによって、被加工物200を膜202が形成された面側から粗研削する。仕上げ研削ユニット80は、研削ホイール82を回転させながら、仕上げ研削位置103に位置付けられた保持テーブル10に保持された被加工物200の膜202が形成された面側に、研削送りユニット30-2により鉛直方向と平行なZ軸方向に沿って押圧することによって、被加工物200を膜202が形成された面側から仕上げ研削する。 The rough grinding unit 70 rotates the grinding wheel 72 and presses the workpiece 200 held on the holding table 10 positioned at the rough grinding position 102 along the Z-axis direction parallel to the vertical direction with the grinding feed unit 30-1 against the surface on which the film 202 is formed of the workpiece 200. The finish grinding unit 80 rotates the grinding wheel 82 and presses the workpiece 200 held on the holding table 10 positioned at the finish grinding position 103 along the Z-axis direction parallel to the vertical direction with the grinding feed unit 30-2, thereby finish grinding the workpiece 200 from the surface on which the film 202 is formed.

研削状態変更ユニット40の研削面傾斜ユニット40-1は、実施形態4では、粗研削ユニット70に設けられており、粗研削ユニット70をX軸回りに回転させることで、研削砥石71の研削面75を傾斜させる。研削状態変更ユニット40の保持面傾斜ユニット40-2は、実施形態4では、全ての保持テーブル10にそれぞれ設けられており、それぞれ独立して保持テーブル10をX軸回りに回転させることで、保持テーブル10の保持面11を傾斜させる。 In the fourth embodiment, the grinding surface tilting unit 40-1 of the grinding state change unit 40 is provided in the rough grinding unit 70, and tilts the grinding surface 75 of the grinding wheel 71 by rotating the rough grinding unit 70 around the X-axis. In the fourth embodiment, the holding surface tilting unit 40-2 of the grinding state change unit 40 is provided in each of the holding tables 10, and tilts the holding surface 11 of the holding table 10 by independently rotating each holding table 10 around the X-axis.

研削量検出ユニット50は、実施形態4では、粗研削位置102に位置付けられた保持テーブル10の保持面11の外周付近に設けられている。研削量検出ユニット50は、設けられている位置以外は、実施形態1から実施形態3における研削量検出ユニット50と同じである。 In the fourth embodiment, the grinding amount detection unit 50 is provided near the outer periphery of the holding surface 11 of the holding table 10 positioned at the rough grinding position 102. The grinding amount detection unit 50 is the same as the grinding amount detection unit 50 in the first to third embodiments, except for the position where it is provided.

次に、本明細書は、実施形態4に係る研削装置1-2の動作の一例である実施形態4に係る被加工物の研削方法の例を図面に基づいて説明する。実施形態4に係る被加工物の研削方法は、図13から図16に示すように、粗研削ステップ2001と、仕上げ研削ステップ2002と、を備える。 Next, this specification describes an example of a grinding method for a workpiece according to embodiment 4, which is an example of the operation of the grinding device 1-2 according to embodiment 4, with reference to the drawings. As shown in Figs. 13 to 16, the grinding method for a workpiece according to embodiment 4 includes a rough grinding step 2001 and a finish grinding step 2002.

実施形態4に係る保持ステップ1001は、搬入搬出位置101に位置付けられた保持テーブル10が、当該保持テーブル10上に搬入された被加工物200を、被加工物200の膜202が形成された面が露出するように、保持面11に保持するステップである。 The holding step 1001 in embodiment 4 is a step in which the holding table 10 positioned at the loading/unloading position 101 holds the workpiece 200 loaded onto the holding table 10 on the holding surface 11 so that the surface of the workpiece 200 on which the film 202 is formed is exposed.

粗研削ステップ2001は、制御ユニット60が、ターンテーブル15を回転させて、保持ステップ1001で被加工物200を保持した保持テーブル10を、搬入搬出位置101から粗研削位置102に移動させた後、粗研削ユニット70で、粗研削位置102に位置付けられた保持テーブル10に保持された被加工物200を膜202が形成された面側から粗研削加工するステップである。 In the rough grinding step 2001, the control unit 60 rotates the turntable 15 to move the holding table 10, which holds the workpiece 200 in the holding step 1001, from the loading/unloading position 101 to the rough grinding position 102, and then the rough grinding unit 70 roughly grinds the workpiece 200 held on the holding table 10 positioned at the rough grinding position 102 from the side on which the film 202 is formed.

仕上げ研削ステップ2002は、制御ユニット60が、ターンテーブル15を回転させて、粗研削ステップ2001で粗研削加工された被加工物200を保持した保持テーブル10を、粗研削位置102から仕上げ研削位置103に移動させた後、仕上げ研削ユニット80で、仕上げ研削位置103に位置付けられた保持テーブル10に保持された被加工物200を膜202が形成された面側から仕上げ研削加工するステップである。 In the finish grinding step 2002, the control unit 60 rotates the turntable 15 to move the holding table 10 holding the workpiece 200 roughly ground in the rough grinding step 2001 from the rough grinding position 102 to the finish grinding position 103, and then the finish grinding unit 80 finish-grinds the workpiece 200 held on the holding table 10 positioned at the finish grinding position 103 from the side on which the film 202 is formed.

実施形態4に係る被加工物の研削方法の第1例は、図13に示すように、粗研削ステップ2001で粗研削ユニット70により、実施形態1及び実施形態2に係る第1の研削ステップ1002で研削ユニット20により実施する処理と同様の処理を実施して、被加工物200の膜202を完全に除去し、仕上げ研削ステップ2002で仕上げ研削ユニット80により、実施形態1及び実施形態2に係る第2の研削ステップ1003で研削ユニット20により実施する処理と同様の処理を実施するものである。 As shown in FIG. 13, the first example of the grinding method for the workpiece according to the fourth embodiment involves performing a process similar to that performed by the grinding unit 20 in the first grinding step 1002 according to the first and second embodiments using the rough grinding unit 70 in the rough grinding step 2001 to completely remove the film 202 from the workpiece 200, and performing a process similar to that performed by the grinding unit 20 in the second grinding step 1003 according to the first and second embodiments using the finish grinding unit 80 in the finish grinding step 2002.

実施形態4に係る被加工物の研削方法の第2例は、図14に示すように、粗研削ステップ2001で粗研削ユニット70により、実施形態3に係る第1の研削ステップ1002、研削量測定ステップ1004及び研削量判定ステップ1005で研削ユニット20により実施する処理と同様の処理を実施して、被加工物200の膜202を完全に除去し、仕上げ研削ステップ2002で仕上げ研削ユニット80により、実施形態3に係る第2の研削ステップ1003で研削ユニット20により実施する処理と同様の処理を実施するものである。 As shown in FIG. 14, the second example of the grinding method for the workpiece according to the fourth embodiment involves performing processes similar to those performed by the grinding unit 20 in the first grinding step 1002, the grinding amount measurement step 1004, and the grinding amount determination step 1005 according to the third embodiment using the rough grinding unit 70 in the rough grinding step 2001 to completely remove the film 202 from the workpiece 200, and performing processes similar to those performed by the grinding unit 20 in the second grinding step 1003 according to the third embodiment using the finish grinding unit 80 in the finish grinding step 2002.

実施形態4に係る被加工物の研削方法の第3例は、図15に示すように、粗研削ステップ2001で粗研削ユニット70により、実施形態1及び実施形態2に係る第1の研削ステップ1002及び第2の研削ステップ1003で研削ユニット20により実施する処理と同様の処理を実施して、被加工物200の膜202を完全に除去し、さらに追加で、仕上げ研削ステップ2002を仕上げ研削ユニット80により実施するものである。 As shown in FIG. 15, the third example of the grinding method for the workpiece according to the fourth embodiment involves performing a process similar to that performed by the grinding unit 20 in the first grinding step 1002 and the second grinding step 1003 according to the first and second embodiments by the rough grinding unit 70 in the rough grinding step 2001 to completely remove the film 202 of the workpiece 200, and additionally performing a finish grinding step 2002 by the finish grinding unit 80.

実施形態4に係る被加工物の研削方法の第4例は、図16に示すように、粗研削ステップ2001で粗研削ユニット70により、実施形態3に係る第1の研削ステップ1002、研削量測定ステップ1004、研削量判定ステップ1005及び第2の研削ステップ1003で研削ユニット20により実施する処理と同様の処理を実施して、被加工物200の膜202を完全に除去し、さらに追加で、仕上げ研削ステップ2002を仕上げ研削ユニット80により実施するものである。 As shown in FIG. 16, in a fourth example of the grinding method for the workpiece according to the fourth embodiment, in a rough grinding step 2001, the rough grinding unit 70 performs processes similar to those performed by the grinding unit 20 in the first grinding step 1002, the grinding amount measurement step 1004, the grinding amount determination step 1005, and the second grinding step 1003 according to the third embodiment, to completely remove the film 202 of the workpiece 200, and additionally, a finish grinding step 2002 is performed by the finish grinding unit 80.

以上のような構成を有する実施形態4に係る研削装置1-2及び被加工物の研削方法は、粗研削ステップ2001で被加工物200の膜202を完全に除去し、その後に母材201が全面に露出した被加工物200に対して仕上げ研削ステップ2002を実施する。このため、実施形態4に係る研削装置1-2及び被加工物の研削方法は、実施形態1及び実施形態2に加えて、さらに、砥粒径が比較的小さく、粒度の番号が大きいために粘性の高い膜202が付着しやすい仕上げ研削用の研削砥石81に粘性の高い膜202が付着することを確実に抑制できるので、安定して膜202側から粗研削及び仕上げ研削ができるという作用効果を奏する。また、実施形態4に係る研削装置1-2及び被加工物の研削方法は、仕上げ研削を平行状態のみで実施できるので、素早く仕上げ研削ができるという作用効果を奏する。 The grinding device 1-2 and the grinding method of the workpiece according to the fourth embodiment having the above configuration completely remove the film 202 of the workpiece 200 in the rough grinding step 2001, and then perform the finish grinding step 2002 on the workpiece 200 with the base material 201 exposed on the entire surface. Therefore, in addition to the features of the first and second embodiments, the grinding device 1-2 and the grinding method of the workpiece according to the fourth embodiment further have the effect of reliably preventing the highly viscous film 202 from adhering to the grinding wheel 81 for finish grinding, which has a relatively small abrasive grain size and a large grain number, and therefore is prone to adhering to the highly viscous film 202, thereby enabling the rough grinding and the finish grinding to be performed stably from the film 202 side. In addition, the grinding device 1-2 and the grinding method of the workpiece according to the fourth embodiment have the effect of quickly performing the finish grinding, since the finish grinding can be performed only in a parallel state.

なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。 The present invention is not limited to the above embodiment. In other words, the present invention can be implemented in various modifications without departing from the gist of the invention.

1,1-2 研削装置
10 保持テーブル
11 保持面
20 研削ユニット
21 研削砥石
22 研削ホイール
24 サーボモータ(駆動源)
25 研削面
30 研削送りユニット
40 研削状態変更ユニット
50 研削量検出ユニット
60 制御ユニット
70 粗研削ユニット(研削ユニット)
80 仕上げ研削ユニット(研削ユニット)
200 被加工物
201 母材
202 膜
1, 1-2 Grinding device 10 Holding table 11 Holding surface 20 Grinding unit 21 Grinding stone 22 Grinding wheel 24 Servo motor (driving source)
25 Grinding surface 30 Grinding feed unit 40 Grinding state change unit 50 Grinding amount detection unit 60 Control unit 70 Rough grinding unit (grinding unit)
80 Finish grinding unit (grinding unit)
200 Workpiece 201 Base material 202 Film

Claims (2)

研削装置であって、
該研削装置は、
基板の一方の面に膜が形成された被加工物を膜が形成された面が露出するように保持面を備えた保持テーブルと、
該保持面に保持された被加工物を該膜が形成された面から研削する研削砥石を有する研削ホイールおよび該研削ホイールを回転させる駆動源を備えた研削ユニットと、
該研削ユニットを該保持テーブルに対して垂直な方向に研削送りする研削送りユニットと、
該保持面と該研削砥石の研削面とを平行状態と非平行状態に変化せしめる研削状態変更ユニットと、
該研削状態変更ユニットを制御する制御ユニットと、
を備え、
該制御ユニットは、
該保持テーブルを回転し、該研削ホイールを回転しつつ研削送りして該保持面に保持された被加工物を研削する際に、
該研削状態変更ユニットを作動し該保持面と該研削砥石の研削面とを非平行状態にして、該研削面が該膜の一部に接触する状態で研削を開始し、該研削ホイールの研削送りに従い、該研削面と接触する被加工物の領域を増加させながら被加工物を研削し、
該膜が所定量研削され、該被加工物が研削された厚みである研削量、または、該被加工物を研削する面側の全面積に対する該被加工物の母材が露出した面積の割合である母材露出割合を検出し、検出した該研削量または該母材露出割合が所定量以上であると判定することで、該保持面と研削砥石の研削面とを非平行状態から徐々に平行状態に変化するように該研削状態変更ユニットを制御しつつ研削送りするように研削送りユニットを制御するよう切り替えることを特徴とする研削装置。
1. A grinding apparatus comprising:
The grinding device comprises:
a holding table having a holding surface for holding a workpiece having a film formed on one surface of a substrate such that the surface on which the film is formed is exposed;
a grinding unit including a grinding wheel having a grinding stone for grinding the workpiece held on the holding surface from the surface on which the film is formed, and a drive source for rotating the grinding wheel;
a grinding feed unit for feeding the grinding unit in a direction perpendicular to the holding table;
a grinding state changing unit for changing the state between a parallel state and a non-parallel state between the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel;
A control unit for controlling the grinding state changing unit;
Equipped with
The control unit
When the holding table is rotated and the grinding wheel is rotated while being fed for grinding to grind the workpiece held on the holding surface,
activating the grinding state changing unit to make the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel non-parallel to start grinding in a state where the grinding surface is in contact with a part of the film, and grinding the workpiece while increasing the area of the workpiece in contact with the grinding surface according to the grinding feed of the grinding wheel;
The grinding device detects a grinding amount, which is the thickness by which the workpiece has been ground, or a base material exposure ratio, which is the ratio of the area of the exposed base material of the workpiece to the total area of the surface side of the workpiece being ground, when the film is ground off by a predetermined amount, and determines that the detected grinding amount or base material exposure ratio is equal to or greater than a predetermined amount, switches to control the grinding feed unit so as to grind while controlling the grinding state change unit so as to gradually change the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel from a non-parallel state to a parallel state.
被加工物を保持する保持面を備えた保持テーブルと、
該保持面に保持された被加工物を研削する研削砥石を有する研削ホイールおよび該研削ホイールを回転させる駆動源を備えた研削ユニットと、
該研削ユニットを該保持テーブルに対して垂直な方向に研削送りする研削送りユニットと、
該保持面と該研削砥石の研削面とを平行状態と非平行状態に変化せしめる研削状態変更ユニットと、
該研削状態変更ユニットを制御する制御ユニットと、
を含む研削装置によって、
該保持テーブルを回転し該研削ホイールを回転しつつ研削送りして該保持面に保持された被加工物を研削する被加工物の研削方法であって、
該被加工物は基板の一方の面に膜が形成され、該膜が形成された面が露出するように被加工物を該保持面に保持する保持ステップと、
該保持面と、該研削砥石の研削面と、を所定距離離れるように非平行状態にして、該研削面が該膜の一部に接触する状態で研削を開始し、該研削ホイールの研削送りに従い、該研削面と接触する被加工物の領域を段階的に増加させながら被加工物を研削する第1の研削ステップと、
該第1の研削ステップにおいて該膜が所定量研削されると、該保持面と該研削砥石の研削面とを非平行状態から徐々に平行状態に変化させつつ研削送りして被加工物を研削する第2の研削ステップと、
を備え
該制御ユニットは、該被加工物が研削された厚みである研削量、または、該被加工物を研削する面側の全面積に対する該被加工物の母材が露出した面積の割合である母材露出割合を検出し、検出した該研削量または該母材露出割合が所定量以上であると判定することで、該第1の研削ステップから該第2の研削ステップに切り替えることを特徴とする被加工物の研削方法。
A holding table having a holding surface for holding a workpiece;
a grinding unit including a grinding wheel having a grinding stone for grinding the workpiece held on the holding surface and a drive source for rotating the grinding wheel;
a grinding feed unit for feeding the grinding unit in a direction perpendicular to the holding table;
a grinding state changing unit for changing the state between a parallel state and a non-parallel state between the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel;
A control unit for controlling the grinding state changing unit;
By a grinding device including
a grinding method for a workpiece, the grinding wheel being rotated while being fed for grinding to grind the workpiece held on the holding surface, the method comprising:
a holding step of holding the workpiece on the holding surface such that a film is formed on one surface of the substrate of the workpiece and the surface on which the film is formed is exposed;
a first grinding step in which the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel are in a non-parallel state with a predetermined distance between them, grinding is started in a state in which the grinding surface is in contact with a part of the film, and the workpiece is ground while the area of the workpiece in contact with the grinding surface is gradually increased according to the grinding feed of the grinding wheel;
a second grinding step in which, when a predetermined amount of the film is ground away in the first grinding step, the holding surface and the grinding surface of the grinding wheel are gradually changed from a non-parallel state to a parallel state while being fed for grinding to grind the workpiece;
Equipped with
The control unit detects a grinding amount, which is the thickness of the workpiece ground, or a base material exposure ratio, which is the ratio of the area of the exposed base material of the workpiece to the total area of the surface side of the workpiece being ground, and switches from the first grinding step to the second grinding step when it determines that the detected grinding amount or base material exposure ratio is equal to or greater than a predetermined amount .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2001246551A (en) 2000-03-03 2001-09-11 Sony Corp Polishing device and polishing method
JP2008264913A (en) 2007-04-18 2008-11-06 Disco Abrasive Syst Ltd Grinding device
JP2011206867A (en) 2010-03-29 2011-10-20 Disco Corp Method and device of grinding hard substrate
JP2014028425A (en) 2012-06-27 2014-02-13 Okamoto Machine Tool Works Ltd Method for grinding substrate of semiconductor device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001246551A (en) 2000-03-03 2001-09-11 Sony Corp Polishing device and polishing method
JP2008264913A (en) 2007-04-18 2008-11-06 Disco Abrasive Syst Ltd Grinding device
JP2011206867A (en) 2010-03-29 2011-10-20 Disco Corp Method and device of grinding hard substrate
JP2014028425A (en) 2012-06-27 2014-02-13 Okamoto Machine Tool Works Ltd Method for grinding substrate of semiconductor device

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