JP7437393B2 - 粒子分析器のための適応ソーティング - Google Patents
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Description
を含む測定値に基づいて、1つ以上のターゲット母集団を選択し得る。次いで、システムは、ターゲット母集団をソーティング戦略に変換し、それに応じてソートハードウェアを構成する。
Claims (16)
- コンピュータ実装方法であって、
1つ以上の処理デバイスの制御下で、
通信デバイスから、粒子分析器にかかる試料に対する参照ソーティング基準を受け取ることと、
前記参照ソーティング基準および前記試料に少なくとも部分的に基づいて、前記試料に対する候補イベント分類子を識別することと、
前記候補イベント分類子からの少なくとも1つのイベント分類子を含むソーティング戦略を生成することと、
前記ソーティング戦略の精度を示す評価基準を生成することと、
前記評価基準が前記試料の最小精度閾値を満たすかまたは超えることを判定することと、
前記試料に関して粒子を、前記粒子の多次元測定値とソーティング戦略とに少なくとも部分的に基づいて分類するように前記粒子分析器を構成することと
を含む、コンピュータ実装方法。 - 前記参照ソーティング基準は、前記粒子を分類するための測定値範囲を識別するゲート情報を含む、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 前記参照ソーティング基準は、前記試料から収集されるべき参照粒子を示す画像を含む、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 前記ソーティング戦略を表すソーター構成を前記粒子分析器に送信することと、
前記ソーター構成に少なくとも部分的に基づいて、ソーティング回路を調整することと
をさらに含む、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。 - 前記ソーティング回路は、フィールドプログラマブルゲートアレイを含む、請求項4に記載のコンピュータ実装方法。
- 前記粒子分析器から受け取られた前記多次元測定値は、前記粒子によって蛍光発光された光の測定値を含む、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 前記粒子によって蛍光発光された光は、前記粒子に結合した抗体によって蛍光発光された光を含む、請求項6に記載のコンピュータ実装方法。
- 前記評価基準は、前記ソーティング戦略のf値を含み、
前記f値の適合率成分は、前記ソーティング戦略による前記試料のソーティングの純度を表し、
前記f値の再現率成分は、前記ソーティング戦略による前記試料のソーティングの収率を表す、
請求項1に記載のコンピュータ実装方法。 - データ記憶装置内に、前記候補イベント分類子を記憶させることをさらに含み、
前記候補イベント分類子は、
(a)スコア化、および関連ターゲットまたはオフターゲットスコアを含む計算ソーティング分類子であって、粒子測定値のスコアは、ソーティングの前記関連ターゲットまたはオフターゲットスコアと比較される、計算ソーティング分類子、
(b)粒子の1つ以上の測定値を、前記粒子の近似測定値に変換するための変換、
(c)前記参照ソーティング基準によって表される母集団を、ソート可能でない第1のパラメータ空間から、ソートすることができる第2のパラメータ空間に変換するためのパラメータ投影、および
(d)画像または高次元測定値から特徴ベクトルを生成するための特徴抽出であって、特徴ベクトルは、粒子を分類するために使用される、特徴抽出
のうちの少なくとも2つを含む、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。 - 前記粒子分析器から、前記粒子分析器内に実装されたソーティング回路を示すハードウェア識別子を受け取ることをさらに含み、
前記候補イベント分類子を識別することは、前記ハードウェア識別子に少なくとも部分的にさらに基づく、
請求項1に記載のコンピュータ実装方法。 - システムであって、
1つ以上の処理デバイスと、
命令を含むコンピュータ可読記憶媒体と
を備えており、
前記命令は、前記1つ以上の処理デバイスによって実行されると、前記システムに、
通信デバイスから、粒子分析器にかかる試料に対する参照ソーティング基準を受け取ること、
前記参照ソーティング基準および前記試料に少なくとも部分的に基づいて、前記試料に対する候補イベント分類子を識別すること、
前記候補イベント分類子からの少なくとも1つのイベント分類子を含むソーティング戦略を生成すること、
前記ソーティング戦略の精度を示す評価基準を生成すること、
前記評価基準が前記試料に対する最小精度閾値を満たすかまたは超えることを判定すること、
前記粒子分析器内に含まれる分析手段のソーティング戦略を反映する動作状態を調整するための制御信号を生成すること、および
前記制御信号を前記分析手段に送信して、前記動作状態を達成すること
を行わせる、システム。 - 前記分析手段は、偏向板に通信可能に連結されたソーティングエレクトロニクスを備え、
前記粒子分析器は、粒子に対するターゲット容器を、前記ターゲット容器に対する前記ソーティング戦略に対応する測定値に少なくとも部分的に基づいて識別するようにさらに構成され、
前記動作状態を調整することは、偏向板を介して電荷を印加して前記粒子をターゲット容器内に導くことを含む、
請求項11に記載のシステム。 - 前記分析手段は、流体工学システムを有し、前記動作状態を調整することは、前記試料を分析するための実験中に印加される圧力を調節することを含む、請求項12に記載のシステム。
- パラメトリック機械学習変換を使用してイベントデータを動的に処理する、請求項1~10のいずれか一項に記載のコンピュータ実装方法。
- 実行されると、請求項1~10または14に記載の方法のうちのいずれかを実施する命令が記憶された、コンピュータ可読媒体。
- プロセッサを備える装置であって、前記プロセッサは、請求項1~10または14に記載の方法のうちのいずれかを実施するように構成されている、装置。
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