JP7432567B2 - Signal generation device and signal generation method - Google Patents

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JP7432567B2 JP2021153332A JP2021153332A JP7432567B2 JP 7432567 B2 JP7432567 B2 JP 7432567B2 JP 2021153332 A JP2021153332 A JP 2021153332A JP 2021153332 A JP2021153332 A JP 2021153332A JP 7432567 B2 JP7432567 B2 JP 7432567B2
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本発明は、入力信号の遅延量を可変する可変遅延回路を用いた信号発生装置及び可変遅延方法を用いた信号発生方法に関する。 The present invention relates to a signal generation device using a variable delay circuit that varies the amount of delay of an input signal, and a signal generation method using a variable delay method.

入力信号の遅延量を可変する可変遅延回路として、例えば下記特許文献1に開示されるものが知られている。図14に示すように、特許文献1の可変遅延回路31は、入力端子と出力端子との間に並列に接続され、それぞれ単独動作させたときに入力端子の入力信号を遅延時間Ta,Tb(Ta>Tb)で出力端子に出力する遅延部Aおよび遅延部Bと、アナログ制御信号X,Yを入力し、その差分(X-Y)に応じて遅延部Aおよび遅延部Bに流れる電流を変化させ、遅延時間Ta,Tb間で差分(X-Y)に応じて連続的に変化する遅延時間を設定する電流制御部32と、を備えて構成される。 As a variable delay circuit that varies the amount of delay of an input signal, for example, one disclosed in Patent Document 1 listed below is known. As shown in FIG. 14, the variable delay circuit 31 of Patent Document 1 is connected in parallel between an input terminal and an output terminal, and when each is operated independently, the input signal of the input terminal is delayed by a delay time Ta, Tb ( Delay section A and delay section B output to the output terminal at Ta>Tb), and analog control signals X and Y are input, and the current flowing through delay section A and delay section B is controlled according to the difference (X-Y). and a current control section 32 that sets a delay time that changes continuously according to the difference (XY) between the delay times Ta and Tb.

また、特許文献1の可変遅延回路31では、遅延時間Ta,TbがTa>Tbとなるように、遅延部Aに負荷容量33を接続したり、遅延部Bにピーキング容量34やピーキングコイルを接続している。これにより、特許文献1の可変遅延回路31では、遅延部Aの遅延時間が負荷容量33により遅れ、遅延部Bの遅延時間がピーキング容量34やピーキングコイルにより進むことで遅延部Aと遅延部Bとの間に遅延差が生じ、遅延部Aと遅延部Bの回路の電流比率(合成比率)を制御することで可変遅延を行っている。 Further, in the variable delay circuit 31 of Patent Document 1, the load capacitor 33 is connected to the delay section A, and the peaking capacitor 34 and the peaking coil are connected to the delay section B so that the delay times Ta and Tb satisfy Ta>Tb. are doing. As a result, in the variable delay circuit 31 of Patent Document 1, the delay time of the delay section A is delayed by the load capacitance 33, and the delay time of the delay section B is advanced by the peaking capacitance 34 and the peaking coil. A delay difference occurs between the two, and a variable delay is achieved by controlling the current ratio (synthesis ratio) of the circuits of delay section A and delay section B.

特開2009-253366号公報JP2009-253366A

しかしながら、上述した特許文献1に開示される従来の可変遅延回路31は、遅延部Aと遅延部Bのアンプ回路の段数が同じであり、遅延部Aと遅延部Bとの間の遅延差をアンプ回路の段数差で作り出すものではなく、遅延部Aに接続される負荷容量33、遅延部Bに接続されるピーキング容量34やピーキングコイルによって遅延部Aと遅延部Bとの間の遅延差を作り出しており、この負荷容量33、ピーキング容量34やピーキングコイルの追加によって周波数特性が変化してしまい、遅延部A側と遅延部B側の周波数特性に差が生じ、回路の電流比率(合成比率)によって、合成後出力の振幅が変化してしまう問題があった。 However, in the conventional variable delay circuit 31 disclosed in Patent Document 1 mentioned above, the number of amplifier circuit stages in delay section A and delay section B is the same, and the delay difference between delay section A and delay section B is The delay difference between delay section A and delay section B is not created by the difference in the number of stages of the amplifier circuit, but is created by the load capacitance 33 connected to delay section A, the peaking capacitance 34 connected to delay section B, and the peaking coil. The addition of the load capacitance 33, peaking capacitance 34, and peaking coil changes the frequency characteristics, causing a difference in the frequency characteristics of the delay section A side and the delay section B side, and the current ratio of the circuit (synthesis ratio ), there was a problem in that the amplitude of the combined output changed.

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、高周波におけるバイアス電圧依存による出力振幅の変化を抑制することができる信号発生装置及び信号発生方法を提供することを目的としている。 Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a signal generation device and a signal generation method that can suppress changes in output amplitude due to bias voltage dependence at high frequencies. There is.

上記目的を達成するため、本発明の請求項1に記載された信号発生装置は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサCが接続され、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路Zが接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the signal generating device according to claim 1 of the present invention includes a branch combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit. Equipped with
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
A capacitor C is connected in parallel with the emitter-to-emitter resistance of at least one current mode logic circuit on the maximum delay side path,
A transmission line Z is connected between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes is input to the device under test. It is characterized in that it is used in a measuring device that receives signals returned from

本発明の請求項2に記載された信号発生装置は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイルLが接続され、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路Zが接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generating device according to claim 2 of the present invention includes a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
A coil L is connected in series with an output load resistance of at least one current mode logic circuit of the maximum delay side path,
A transmission line Z is connected between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes is input to the device under test. It is characterized in that it is used in a measuring device that receives signals returned from

本発明の請求項3に記載された信号発生装置は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサCが接続され、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路Zが接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generating device according to claim 3 of the present invention includes a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
A capacitor C is connected in parallel with the emitter-to-emitter resistance of at least one current mode logic circuit on the minimum delay side path,
A transmission line Z is connected to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes is input to the device under test. It is characterized in that it is used in a measuring device that receives signals returned from

本発明の請求項4に記載された信号発生装置は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイルLが接続され、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路Zが接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generating device according to claim 4 of the present invention includes a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
A coil L is connected in series with an output load resistance of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
A transmission line Z is connected to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes is input to the device under test. It is characterized in that it is used in a measuring device that receives signals returned from

本発明の請求項5に記載された信号発生装置は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最大遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源VCCとの間にコンデンサCが接続され、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路Zが接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generating device according to claim 5 of the present invention includes a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
A capacitor C is connected between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the maximum delay side path and the positive power supply VCC,
A transmission line Z is connected to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes is input to the device under test, and along with this input, the pattern signal is It is characterized in that it is used in a measuring device that receives signals returned from

本発明の請求項6に記載された信号発生装置は、アンプ段数が異なる複数段のカレントモードロジック回路を含む第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最小遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源VCCとの間にコンデンサCが接続され、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路Zが接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generating device according to claim 6 of the present invention includes a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 including a plurality of stages of current mode logic circuits having different numbers of amplifier stages,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
A capacitor C is connected between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the minimum delay side path and the positive power supply VCC,
A transmission line Z is connected between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes is input to the device under test. It is characterized in that it is used in a measuring device that receives signals returned from

本発明の請求項7に記載された信号発生方法は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサCを接続するステップと、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路Zを接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generation method according to claim 7 of the present invention uses a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
connecting a capacitor C in parallel with the emitter-to-emitter resistor of at least one current mode logic circuit of the maximum delay side path;
connecting a transmission line Z between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; The present invention is characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured .

本発明の請求項8に記載された信号発生方法は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイルLを接続するステップと、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路Zを接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generation method according to claim 8 of the present invention uses a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
connecting a coil L in series with a resistance of an output load of at least one current mode logic circuit of the maximum delay side path;
connecting a transmission line Z between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; The present invention is characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured .

本発明の請求項9に記載された信号発生方法は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサCを接続するステップと、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路Zを接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generation method according to claim 9 of the present invention uses a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
connecting a capacitor C in parallel with an emitter-to-emitter resistor of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
connecting a transmission line Z to an input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; The present invention is characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured .

本発明の請求項10に記載された信号発生方法は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイルLを接続するステップと、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路Zを接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generation method according to claim 10 of the present invention uses a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
connecting a coil L in series with a resistance of an output load of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
connecting a transmission line Z to an input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; The present invention is characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured .

本発明の請求項11に記載された信号発生方法は、カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最大遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源VCCとの間にコンデンサCを接続するステップと、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路Zを接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generation method according to claim 11 of the present invention uses a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
connecting a capacitor C between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the maximum delay side path and the positive power supply VCC;
connecting a transmission line Z to an input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; The present invention is characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured .

本発明の請求項12に記載された信号発生方法は、アンプ段数が異なる複数段のカレントモードロジック回路を含む第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を有する分岐合成部4を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路r1、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路r2とし、
前記最小遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源VCCとの間にコンデンサCを接続するステップと、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路Zを接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子A,Bの駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする。
The signal generation method according to claim 12 of the present invention uses a branching and combining section 4 having a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 including a plurality of stages of current mode logic circuits having different numbers of amplifier stages,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay path r1, and the path with the larger number of amplifier stages of the current mode logic circuit Let the route be the maximum delay route r2,
connecting a capacitor C between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the minimum delay side path and the positive power supply VCC;
connecting a transmission line Z between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals A and B provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay side path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; The present invention is characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured .

本発明によれば、可変遅延量を維持した状態で高周波におけるバイアス電圧依存による出力振幅の変化を抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to suppress changes in output amplitude due to bias voltage dependence at high frequencies while maintaining a variable delay amount.

本発明に係る可変遅延回路の分岐合成1段の基本構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing the basic configuration of one stage of branching and combining of the variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路の分岐合成2段の基本構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a basic configuration of two stages of branching and combining of a variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路における分岐合成部の第1実施の形態を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a first embodiment of a branching and combining section in a variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路における分岐合成部の第2実施の形態を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of a branching and combining section in a variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路における分岐合成部の第3実施の形態を示す回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram showing a third embodiment of a branching and combining section in a variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路における分岐合成部の第4実施の形態を示す回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram showing a fourth embodiment of a branching and combining section in a variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路における分岐合成部の第5実施の形態を示す回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram showing a fifth embodiment of a branching and combining section in a variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路における分岐合成部の第6実施の形態を示す回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram showing a sixth embodiment of a branching and combining section in a variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路において最終的な合成後出力(64GHz)のバイアス電圧に対する振幅の変化を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing changes in amplitude of the final post-synthesis output (64 GHz) with respect to bias voltage in the variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路の改良前後のバイアス電圧-出力振幅特性を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing bias voltage-output amplitude characteristics before and after improvement of the variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路の改良前後のバイアス電圧-可変遅延量特性を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing bias voltage-variable delay amount characteristics before and after improvement of the variable delay circuit according to the present invention. 本発明に係る可変遅延回路を採用した信号発生装置を含むビット誤り測定装置の概略構成を示す図である。1 is a diagram showing a schematic configuration of a bit error measuring device including a signal generating device employing a variable delay circuit according to the present invention. シミュレーション用の可変遅延回路において最終的な合成後出力(64GHz)のバイアス電圧に対する振幅の変化を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing changes in amplitude of the final post-synthesis output (64 GHz) with respect to bias voltage in a variable delay circuit for simulation. 従来の可変遅延回路の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an example of a conventional variable delay circuit.

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。 DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings.

[可変遅延回路の基本構成]
図1や図2に示すように、可変遅延回路1(1A,1B)は、トランジスタを用いた差動回路であり、プラス入力2aとマイナス入力2bからなる入力端子2、入力段アンプ部3、分岐合成部4、出力段アンプ部5、プラス出力6aとマイナス出力6bからなる出力端子6を備えて概略構成され、入力端子2に入力される信号の遅延量を可変して出力端子6から出力する。
[Basic configuration of variable delay circuit]
As shown in FIGS. 1 and 2, the variable delay circuit 1 (1A, 1B) is a differential circuit using transistors, and includes an input terminal 2 consisting of a positive input 2a and a negative input 2b, an input stage amplifier section 3, It is roughly configured with a branching and combining section 4, an output stage amplifier section 5, and an output terminal 6 consisting of a positive output 6a and a negative output 6b, and outputs the signal from the output terminal 6 by varying the amount of delay of the signal input to the input terminal 2. do.

入力段アンプ部3と出力段アンプ部5は、任意のアンプ段数のカレントモードロジック回路やCherry-Hooperアンプ回路で構成され、バッファの役割を持ち、出力信号の電位を規定するリミティングアンプとして動作する。 The input stage amplifier section 3 and the output stage amplifier section 5 are composed of a current mode logic circuit or a Cherry-Hooper amplifier circuit with an arbitrary number of amplifier stages, and have the role of a buffer and operate as a limiting amplifier that defines the potential of the output signal. do.

分岐合成部4は、任意の分岐・合成数で組まれ、入力段アンプ部3からの信号を分岐し、分岐した信号を合成して出力段アンプ部5に入力する。図1は分岐合成1段の場合、図2は分岐合成2段の場合の可変遅延回路1の基本構成を示している。 The branching and combining section 4 is configured with an arbitrary number of branches and combinations, and branches the signal from the input stage amplifier section 3, combines the branched signals, and inputs the signal to the output stage amplifier section 5. FIG. 1 shows the basic configuration of the variable delay circuit 1 in the case of one stage of branching and combining, and FIG. 2 shows the basic configuration of the variable delay circuit 1 in the case of two stages of branching and combining.

分岐合成部4は、アンプ段数の異なる第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12を備える。なお、本発明では、アンプ段数の少ない方(図1および図2では第1のアンプ回路11)の経路を最小遅延側経路r1と定義し、アンプ段数の多い方(図1および図2では第2のアンプ回路12)の経路を最大遅延側経路r2と定義する。 The branching and combining section 4 includes a first amplifier circuit 11 and a second amplifier circuit 12 having different numbers of amplifier stages. Note that in the present invention, the path with the smaller number of amplifier stages (the first amplifier circuit 11 in FIGS. 1 and 2) is defined as the minimum delay route r1, and the path with the larger number of amplifier stages (the first amplifier circuit 11 in FIGS. 1 and 2) is defined as the minimum delay route r1. The path of the second amplifier circuit 12) is defined as the maximum delay side path r2.

図1の可変遅延回路1Aにおける第1のアンプ回路11(最小遅延側経路r1)のアンプ11Aには、遅延制御用のバイアス端子Aを介して外部電源7が接続され、外部電源7によりバイアス端子Aの印加電圧が可変制御される。また、第2のアンプ回路12(最大遅延側経路r2)の出力側のアンプ12Aには、遅延制御用のバイアス端子Bを介して外部電源8が接続され、外部電源8によりバイアス端子Bの印加電圧が可変制御される。 An external power supply 7 is connected to the amplifier 11A of the first amplifier circuit 11 (minimum delay side path r1) in the variable delay circuit 1A in FIG. 1 via a bias terminal A for delay control. The applied voltage of A is variably controlled. Further, an external power supply 8 is connected to the output side amplifier 12A of the second amplifier circuit 12 (maximum delay side path r2) via a bias terminal B for delay control, and the external power supply 8 applies the bias terminal B. Voltage is variably controlled.

図2の可変遅延回路1Bにおける第1のアンプ回路4A(最小遅延側経路r1)の各段のアンプ11Aには、バイアス端子Aを介して外部電源7が接続され、外部電源7によりバイアス端子Aの印加電圧が可変制御される。また、第2のアンプ回路4B(最大遅延側経路r2)の各段の出力側のアンプ12Aには、バイアス端子Bを介して外部電源8が接続され、外部電源8によりバイアス端子Bの印加電圧が可変制御される。 An external power supply 7 is connected to each stage of the amplifier 11A of the first amplifier circuit 4A (minimum delay side path r1) in the variable delay circuit 1B in FIG. The applied voltage is variably controlled. Further, an external power supply 8 is connected to the output side amplifier 12A of each stage of the second amplifier circuit 4B (maximum delay side path r2) via a bias terminal B, and the external power supply 8 applies the voltage applied to the bias terminal B. is variably controlled.

上記構成による可変遅延回路1(1A,1B)では、入力端子2から入力段アンプ部3に信号が入力されると、分岐合成部4による分岐後、各経路r1,r2のアンプ回路11,12のアンプ11A,12Aに接続されたバイアス端子A,Bの印加電圧を変化させ、アンプ11A,12Aの駆動電流量を変化させ、第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12の出力振幅の比率を変える。最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2は、経路による遅延差があるため、第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12の出力振幅の比率が変わると、合成後出力の遅延時間が変わっているように見える。可変遅延回路1(1A,1B)は、この仕組みを利用して、入力に対する出力の遅延時間を可変する回路である。 In the variable delay circuit 1 (1A, 1B) with the above configuration, when a signal is input from the input terminal 2 to the input stage amplifier section 3, after branching by the branching and combining section 4, the amplifier circuits 11, 12 of each path r1, r2 By changing the voltage applied to the bias terminals A and B connected to the amplifiers 11A and 12A, and changing the drive current amount of the amplifiers 11A and 12A, the output amplitude of the first amplifier circuit 11 and the second amplifier circuit 12 can be changed. Change the ratio. Since there is a delay difference between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, if the ratio of the output amplitudes of the first amplifier circuit 11 and the second amplifier circuit 12 changes, the delay time of the combined output will change. Looks like it's changed. The variable delay circuit 1 (1A, 1B) is a circuit that uses this mechanism to vary the delay time of an output with respect to an input.

[可変遅延回路のシミュレーションデータ]
発明者等は、上記構成による可変遅延回路1の課題を見つけるため、図2の可変遅延回路1Bにおいてバイアス電圧を±2Vの範囲で可変してシミュレーションを行った。
[Simulation data of variable delay circuit]
In order to find problems with the variable delay circuit 1 having the above configuration, the inventors conducted a simulation by varying the bias voltage within the range of ±2 V in the variable delay circuit 1B of FIG.

このシミュレーションでバイアス電圧を±2Vの範囲で可変する際のバイアス電圧の振り方は、バイアス端子A,Bがバランスの関係にあり、バイアス電圧±0V時にバイアス端子Aとバイアス端子Bの駆動電流が等しくなるように設計した。そして、±0Vを基点として正負反転関係の電圧で振っていくと、バイアス端子Aとバイアス端子Bの駆動電流の和をほぼ一定に保ち、合成後出力振幅がほとんど変わらないまま、遅延量だけが可変できる。 In this simulation, when varying the bias voltage in the range of ±2V, bias terminals A and B are in a balanced relationship, and when the bias voltage is ±0V, the drive currents of bias terminal A and bias terminal B are designed to be equal. Then, by changing the voltage in a positive/negative relation with ±0V as the base point, the sum of the drive currents of bias terminal A and bias terminal B is kept almost constant, and the output amplitude after synthesis remains almost unchanged, only the delay amount changes. Can be changed.

なお、バイアス端子Aとバイアス端子Bの絶対値が異なった電圧で振ることもできる。その場合、バイアス端子Aとバイアス端子Bの駆動電流のバランスが崩れ、バイアス依存で合成後出力振幅が変化してしまう。そのため、バイアス端子Aとバイアス端子Bのバイアス電圧は、±0Vを基点として正負反転関係の電圧で振っていくことが、最良条件である。但し、バイアス電圧の振り方の定義は、正負反転関係の電圧で振っていくことに限定されるものではない。 Note that the bias terminal A and the bias terminal B can be operated at voltages having different absolute values. In that case, the balance between the drive currents of bias terminal A and bias terminal B will be lost, and the output amplitude after synthesis will change depending on the bias. Therefore, the best condition is for the bias voltages of the bias terminals A and B to be swung in a positive/negative relationship with ±0V as the base point. However, the definition of how to apply the bias voltage is not limited to applying a voltage with a positive/negative inversion relationship.

これにより、上記シミュレーション結果では、バイアス電圧±2Vの範囲で32GHz動作時にΔ6.6ps、64GHz動作時にΔ6.0psの可変遅延量が得られている事を確認した。 As a result, it was confirmed that in the above simulation results, a variable delay amount of Δ6.6 ps during 32 GHz operation and Δ6.0 ps during 64 GHz operation was obtained in the bias voltage range of ±2 V.

[可変遅延回路の課題点]
可変遅延回路1は、バイアス電圧を変えても、出力振幅が一定であることが理想であるが、上述したシミュレーションの結果によれば、バイアス端子A,Bへの印加電圧により、図13の波形に示すように、合成後出力の振幅(Voh,Vol)が変化してしまうという課題が見つかった。
[Issues with variable delay circuits]
Ideally, the variable delay circuit 1 should have a constant output amplitude even if the bias voltage is changed, but according to the simulation results described above, the waveform shown in FIG. As shown in FIG. 2, a problem was found in that the amplitude (Voh, Vol) of the output after synthesis changes.

なお、図13は最終的な合成後出力(64GHz)のバイアス電圧に対する振幅の変化を示す図であって、差動のうちPositive側の波形を示している。図13において、点線はバイアス端子Aに+2V、バイアス端子Bに-2V印加時(最小遅延時)の波形、実線はバイアス端子A,Bに±0V印加時(バランス時)の波形、一点鎖線はバイアス端子Aに-2V、バイアス端子Bに+2V印加時(最大遅延時)の波形を示す。 Note that FIG. 13 is a diagram showing the change in amplitude of the final post-synthesis output (64 GHz) with respect to the bias voltage, and shows the waveform on the positive side of the differential. In Figure 13, the dotted line is the waveform when +2V is applied to bias terminal A and -2V is applied to bias terminal B (at the minimum delay), the solid line is the waveform when ±0V is applied to bias terminals A and B (at the time of balance), and the dashed line is the waveform The waveform is shown when -2V is applied to bias terminal A and +2V is applied to bias terminal B (at maximum delay).

さらに、バイアス電圧によって合成後出力の振幅が変化してしまう課題の原因を調べた結果、分岐合成部4における最小遅延側経路r1と最大遅延側経路R2を比較すると、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2では周波数特性に差があることが分かった。 Furthermore, as a result of investigating the cause of the problem in which the amplitude of the output after synthesis changes due to the bias voltage, when comparing the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path R2 in the branch combining section 4, the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r1 and the maximum delay side path R2 are found to be It was found that there is a difference in frequency characteristics in the delay side path r2.

また、可変遅延回路1の適用先として、例えば信号発生装置にて発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って被測定物から折り返される信号をエラー検出器にて受信し、エラーを検出するビット誤り測定装置の外部から入力される基準クロック信号を、入力クロック処理部にて分配や分周/逓倍処理を行い、可変遅延回路にて基準クロック信号のタイミングを微調整し、この時間軸方向に微調整した基準クロック信号を、デジタル信号処理部にて例えば複数レーンの信号を生成する際に、レーン間に生じるスキューを取り除き、信号波形のアイが最も開くタイミングに調整するような場合に、動作周波数の全範囲で2つの経路r1,r2の周波数特性の差があると、安定的に遅延したクロック信号を出力する事ができず、デジタル信号処理部やD/A変換部からエラーを含んだデータ信号を被測定物に送信してしまい、被測定物の測定結果に誤差を生じる問題があった。 In addition, the variable delay circuit 1 can be applied, for example, by inputting a pattern signal generated by a signal generator to an object to be measured, and receiving a signal reflected from the object to be measured in response to this input by an error detector. The reference clock signal input from the outside of the bit error measuring device that detects errors is distributed, divided, and multiplied by the input clock processing section, and the timing of the reference clock signal is finely adjusted by the variable delay circuit 1 . When this reference clock signal, which has been finely adjusted in the time axis direction, is generated by a digital signal processing unit, for example, a signal for multiple lanes, the skew that occurs between lanes is removed, and the signal waveform eye is adjusted to the timing when the eye of the signal waveform is most open. In such a case, if there is a difference in the frequency characteristics of the two paths r1 and r2 over the entire operating frequency range, it will not be possible to stably output a delayed clock signal, and the digital signal processing unit or D/A converter will There is a problem in that a data signal containing an error is transmitted from the device to the device under test, resulting in an error in the measurement result of the device under test.

そこで、本発明では、分岐合成部4における最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮めることにより、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制している。 Therefore, in the present invention, by reducing the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2 in the branch/combiner 4, changes in the output amplitude with respect to the bias voltage are suppressed.

また、本発明は、測定器向けに使用することを想定しており、例えば1GHzから64GHzなど広帯域の動作周波数範囲に対応していることが求められる。そのため、任意の1周波数条件のみにおいて、出力振幅を調整するのでは不十分であり、動作周波数の全範囲において、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制している。 Further, the present invention is intended to be used for measuring instruments, and is required to be compatible with a wide operating frequency range, such as from 1 GHz to 64 GHz. Therefore, it is insufficient to adjust the output amplitude under only one arbitrary frequency condition, and changes in the output amplitude with respect to the bias voltage are suppressed over the entire operating frequency range.

以下、上述した課題を解決するための本発明の要部として図1や図2の入力段アンプ部3と出力段アンプ部5との間に設けられる分岐合成部4の各実施の形態の構成について図面を参照しながら説明する。 Hereinafter, the configuration of each embodiment of the branching/synthesizing section 4 provided between the input stage amplifier section 3 and the output stage amplifier section 5 in FIG. 1 or FIG. will be explained with reference to the drawings.

[第1実施の形態]
第1実施の形態の分岐合成部4(4A)の構成について図3を参照しながら説明する。なお、図3の第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12において、同一の構成要素には同一番号を付している。
[First embodiment]
The configuration of the branching and combining section 4 (4A) of the first embodiment will be described with reference to FIG. 3. Note that in the first amplifier circuit 11 and the second amplifier circuit 12 in FIG. 3, the same components are given the same numbers.

まず、分岐合成部4Aの基本構成について説明する。図3に示すように、分岐合成部4Aは、基本構成として、最小遅延側経路r1の第1のアンプ回路11が1段のカレントモードロジック回路11aで構成され、最大遅延側経路r2の第2のアンプ回路12が1段目のカレントモードロジック回路12a、エミッタフォロワ回路12b、2段目のカレントモードロジック回路12cで構成され、第2のアンプ回路12の方が第1のアンプ回路11よりもカレントモードロジック回路の段数が多い構成である。 First, the basic configuration of the branching and combining section 4A will be explained. As shown in FIG. 3, the basic configuration of the branch/combiner 4A is such that the first amplifier circuit 11 of the minimum delay side path r1 is composed of a one-stage current mode logic circuit 11a, and the second amplifier circuit of the maximum delay side path r2 is configured as follows. The amplifier circuit 12 is composed of a first stage current mode logic circuit 12a, an emitter follower circuit 12b, and a second stage current mode logic circuit 12c. This configuration has a large number of stages of current mode logic circuits.

第1のアンプ回路11のカレントモードロジック回路11aは、Port1:In(+)とPort3:In(-)を介してnpn型トランジスタTr1,Tr2のベースに入力段アンプ部3からの信号が入力し、トランジスタTr1,Tr2のコレクタからPort2:Out(+)とPort4:Out(-)を介して出力段アンプ部5に信号を出力する。 In the current mode logic circuit 11a of the first amplifier circuit 11, a signal from the input stage amplifier section 3 is input to the bases of the npn transistors Tr1 and Tr2 via Port1: In(+) and Port3: In(-). , a signal is output from the collectors of transistors Tr1 and Tr2 to the output stage amplifier section 5 via Port2:Out(+) and Port4:Out(-).

カレントモードロジック回路11aは、トランジスタTr1のコレクタが出力負荷としての抵抗R1を介してVCC(プラス電源)に接続される。同様に、トランジスタTr2のコレクタが出力負荷としての抵抗R2を介してVCCに接続される。また、トランジスタTr1,Tr2のエミッタ間には抵抗R3,R4が直列接続され、その中点とVEE(マイナス電源)との間にはnpn型トランジスタTr3が接続される。さらに、トランジスタTr3は、エミッタが抵抗R5を介してVEEに接続され、ベースが抵抗R6、バイアス回路13を介してバイアス端子Aに接続される。 In the current mode logic circuit 11a, the collector of the transistor Tr1 is connected to VCC (plus power supply) via a resistor R1 as an output load. Similarly, the collector of transistor Tr2 is connected to VCC via resistor R2 as an output load. Further, resistors R3 and R4 are connected in series between the emitters of the transistors Tr1 and Tr2, and an npn transistor Tr3 is connected between the midpoint thereof and VEE (negative power supply). Further, the transistor Tr3 has an emitter connected to VEE via a resistor R5, and a base connected to a bias terminal A via a resistor R6 and a bias circuit 13.

バイアス回路13は、カレントミラー回路で構成され、npn型トランジスタTr4のコレクタ-ベース間がショートしており、トランジスタTr4のコレクタが抵抗R7を介してバイアス端子Aに接続され、トランジスタTr4のエミッタが抵抗R8を介してVEEに接続され、コレクタ-ベース側をアノード、エミッタ側をカソードとしてダイオード的な接続となっている。バイアス回路13は、トランジスタTr4のベースとVEEとの間で、トランジスタTr4のスレッショルド(ON)電圧以上の電位差が生じると、トランジスタTr4がONとなり、電流が流れる。これに対し、トランジスタTr4のスレッショルド(ON)電圧未満の電位差の場合は、トランジスタTr4がOFFとなり、電流が流れない。また、トランジスタTr3とトランジスタTr4のベース間は、ダンピング抵抗R6を介してショートしている。そのため、トランジスタTr4に電流が流れると、トランジスタTr3にも電流が流れる。これに対し、トランジスタTr4に電流が流れない場合は、トランジスタTr3にも電流が流れない。 The bias circuit 13 is composed of a current mirror circuit, in which the collector and base of the npn transistor Tr4 are short-circuited, the collector of the transistor Tr4 is connected to the bias terminal A via the resistor R7, and the emitter of the transistor Tr4 is connected to the resistor. It is connected to VEE via R8, and has a diode-like connection with the collector-base side as an anode and the emitter side as a cathode. In the bias circuit 13, when a potential difference greater than or equal to the threshold (ON) voltage of the transistor Tr4 occurs between the base of the transistor Tr4 and VEE, the transistor Tr4 is turned on and current flows. On the other hand, if the potential difference is less than the threshold (ON) voltage of the transistor Tr4, the transistor Tr4 is turned off and no current flows. Furthermore, the bases of the transistors Tr3 and Tr4 are short-circuited via a damping resistor R6. Therefore, when a current flows through the transistor Tr4, a current also flows through the transistor Tr3. On the other hand, when no current flows through the transistor Tr4, no current also flows through the transistor Tr3.

第2のアンプ回路12の1段目のカレントモードロジック回路12aは、Port1:In(+)とPort3:In(-)を介してnpn型トランジスタTr1,Tr2のベースに入力段アンプ部3からの信号が入力し、エミッタフォロワ回路12bを介して2段目のカレントモードロジック回路12cのコレクタからPort2:Out(+)とPort4:Out(-)を介して出力段アンプ部5に信号を出力する。 The first stage current mode logic circuit 12a of the second amplifier circuit 12 connects the bases of the npn transistors Tr1 and Tr2 to the input stage amplifier section 3 via Port1: In(+) and Port3: In(-). A signal is input, and the signal is output from the collector of the second stage current mode logic circuit 12c via the emitter follower circuit 12b to the output stage amplifier section 5 via Port 2: Out (+) and Port 4: Out (-). .

1段目と2段目のカレントモードロジック回路12a,12cは、トランジスタTr1のコレクタが出力負荷としての抵抗R1を介してVCCに接続される。同様に、トランジスタTr2のコレクタが出力負荷としての抵抗R2を介してVCCに接続される。また、トランジスタTr1,Tr2のエミッタ間には抵抗R3,R4が直列接続され、その中点が抵抗R5を介してVEEに接続される。 In the first-stage and second-stage current mode logic circuits 12a and 12c, the collectors of transistors Tr1 are connected to VCC via a resistor R1 as an output load. Similarly, the collector of transistor Tr2 is connected to VCC via resistor R2 as an output load. Furthermore, resistors R3 and R4 are connected in series between the emitters of transistors Tr1 and Tr2, and the midpoint thereof is connected to VEE via resistor R5.

2段目のカレントモードロジック回路12cにおいて、抵抗R3,R4の中点と抵抗R5との間にはnpn型トランジスタTr3が接続される。トランジスタTr3は、エミッタが抵抗R5を介してVEEに接続され、ベースが抵抗R6、バイアス回路13を介してバイアス端子Bに接続される。 In the second-stage current mode logic circuit 12c, an npn transistor Tr3 is connected between the midpoint between the resistors R3 and R4 and the resistor R5. The transistor Tr3 has an emitter connected to VEE via a resistor R5, and a base connected to a bias terminal B via a resistor R6 and a bias circuit 13.

バイアス回路13は、カレントミラー回路で構成され、npn型トランジスタTr4のコレクタ-ベース間がショートしており、トランジスタTr4のコレクタが抵抗R7を介してバイアス端子Bに接続され、トランジスタTr4のエミッタが抵抗R8を介してVEEに接続され、コレクタ-ベース側をアノード、エミッタ側をカソードとしてダイオード的な接続となっている。バイアス回路13は、トランジスタTr4のベースとVEEとの間で、トランジスタTr4のスレッショルド(ON)電圧以上の電位差が生じると、トランジスタTr4がONとなり、電流が流れる。これに対し、トランジスタTr4のスレッショルド(ON)電圧未満の電位差の場合は、トランジスタTr4がOFFとなり、電流が流れない。また、トランジスタTr3とトランジスタTr4のベース間は、ダンピング抵抗R6を介してショートしている。そのため、トランジスタTr4に電流が流れると、トランジスタTr3にも電流が流れる。これに対し、トランジスタTr4に電流が流れない場合は、トランジスタTr3にも電流が流れない。 The bias circuit 13 is composed of a current mirror circuit, in which the collector and base of the npn transistor Tr4 are short-circuited, the collector of the transistor Tr4 is connected to the bias terminal B via the resistor R7, and the emitter of the transistor Tr4 is connected to the resistor. It is connected to VEE via R8, and has a diode-like connection with the collector-base side as an anode and the emitter side as a cathode. In the bias circuit 13, when a potential difference greater than or equal to the threshold (ON) voltage of the transistor Tr4 occurs between the base of the transistor Tr4 and VEE, the transistor Tr4 is turned on and current flows. On the other hand, if the potential difference is less than the threshold (ON) voltage of the transistor Tr4, the transistor Tr4 is turned off and no current flows. Furthermore, the bases of the transistors Tr3 and Tr4 are short-circuited via a damping resistor R6. Therefore, when a current flows through the transistor Tr4, a current also flows through the transistor Tr3. On the other hand, when no current flows through the transistor Tr4, no current also flows through the transistor Tr3.

第2のアンプ回路12のエミッタフォロワ回路12bは、1段目のカレントモードロジック回路12aのトランジスタTr1のコレクタにnpn型トランジスタTr5のベースが接続され、1段目のカレントモードロジック回路12aのトランジスタTr2のコレクタにnpn型トランジスタTr6のベースが接続される。 In the emitter follower circuit 12b of the second amplifier circuit 12, the base of an npn transistor Tr5 is connected to the collector of the transistor Tr1 of the first stage current mode logic circuit 12a, and the transistor Tr2 of the first stage current mode logic circuit 12a is connected to the base of the npn transistor Tr5. The base of an npn transistor Tr6 is connected to the collector of the transistor Tr6.

エミッタフォロワ回路12bにおけるトランジスタTr5は、コレクタがVCCに接続され、エミッタが抵抗R9を介してVEEに接続されるとともに2段目のカレントモードロジック回路12cのトランジスタTr2のベースに接続される。同様に、トランジスタTr6は、コレクタがVCCに接続され、エミッタが抵抗R10を介してVEEに接続されるとともに2段目のカレントモードロジック回路12cのトランジスタTr1のベースに接続される。 The transistor Tr5 in the emitter follower circuit 12b has a collector connected to VCC, an emitter connected to VEE via a resistor R9, and also connected to the base of the transistor Tr2 of the second stage current mode logic circuit 12c. Similarly, the transistor Tr6 has a collector connected to VCC, an emitter connected to VEE via a resistor R10, and also connected to the base of the transistor Tr1 of the second stage current mode logic circuit 12c.

そして、第1実施の形態の分岐合成部4Aでは、上述した基本構成において、最大遅延側経路r2の1段目のカレントモードロジック回路12aと2段目のカレントモードロジック回路12cそれぞれのトランジスタTr1,Tr2のエミッタ間の抵抗R3,R4と並列にコンデンサCを接続している。コンデンサCと抵抗R3,R4はハイパスフィルタを構成し、コンデンサCは低周波成分を通さずに高周波成分を通す。これにより、最大遅延側経路r2の周波数特性を補償し、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮め、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制することができる。 In the branching and combining unit 4A of the first embodiment, in the basic configuration described above, the transistors Tr1, A capacitor C is connected in parallel with resistors R3 and R4 between the emitters of Tr2. Capacitor C and resistors R3 and R4 constitute a high-pass filter, and capacitor C passes high frequency components without passing low frequency components. Thereby, it is possible to compensate for the frequency characteristics of the maximum delay side path r2, reduce the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, and suppress changes in the output amplitude with respect to the bias voltage.

なお、図3の例では、最大遅延側経路r2の1段目と2段目のカレントモードロジック回路12a,12c両方のトランジスタTr1,Tr2のエミッタ間の抵抗R3,R4と並列にコンデンサCを接続する構成としたが、1段目と2段目のカレントモードロジック回路12a,12cのどちらか一方のトランジスタTr1,Tr2のエミッタ間の抵抗R3,R4と並列にコンデンサCを接続する構成としてもよい。 In the example of FIG. 3, a capacitor C is connected in parallel with the resistors R3 and R4 between the emitters of the transistors Tr1 and Tr2 of both the first and second stage current mode logic circuits 12a and 12c of the maximum delay side path r2. However, the capacitor C may be connected in parallel with the resistors R3 and R4 between the emitters of the transistors Tr1 and Tr2 of either the first-stage or second-stage current mode logic circuits 12a and 12c. .

ところで、抵抗R3,R4と並列にコンデンサCを追加接続すると、最大遅延側経路r2の遅延量が小さくなり、最小遅延側経路r1との遅延差=可変遅延量が稼げなくなるという問題が生じる。 By the way, when the capacitor C is additionally connected in parallel with the resistors R3 and R4, the delay amount of the maximum delay side path r2 becomes small, and a problem arises in that the delay difference with the minimum delay side path r1 = variable delay amount cannot be obtained.

この問題を解決するため、第1実施の形態の分岐合成部4Aでは、上述した基本構成において、最大遅延側経路r2のエミッタフォロワ回路12bの出力と2段目のカレントモードロジック回路12cの入力間に伝送線路Zを接続している。これにより、遅延量を稼いで可変遅延量の減りを補うことができる。 In order to solve this problem, in the branching and combining section 4A of the first embodiment, in the basic configuration described above, the output of the emitter follower circuit 12b of the maximum delay side path r2 and the input of the second stage current mode logic circuit 12c are Transmission line Z is connected to. Thereby, the delay amount can be earned to compensate for the decrease in the variable delay amount.

具体的に、第1実施の形態の分岐合成部4Aを採用した可変遅延回路1において、バイアス電圧に対する振幅の変化を抑制できるように、コンデンサCと抵抗Rの定数の調整を行うことにより、改良後の最終的な合成後出力(64GHz)として、図9に示す波形をシミュレーション上で得ることができた。なお、図9の64GHz出力において、点線はバイアス端子Aに+2V、バイアス端子Bに-2V印加時(最小遅延時)の波形を示し、実線はバイアス端子A,Bに±0V印加時(バランス時)の波形を示し、一点鎖線はバイアス端子Aに-2V、バイアス端子Bに+2V印加時(最大遅延時)の波形を示す。 Specifically, in the variable delay circuit 1 that employs the branching and combining section 4A of the first embodiment, improvements are made by adjusting the constants of the capacitor C and the resistor R so as to suppress changes in amplitude with respect to the bias voltage. As the final post-synthesis output (64 GHz), the waveform shown in FIG. 9 could be obtained through simulation. In addition, for the 64 GHz output in Figure 9, the dotted line shows the waveform when +2V is applied to bias terminal A and -2V is applied to bias terminal B (at the minimum delay), and the solid line shows the waveform when ±0V is applied to bias terminals A and B (at the time of balance). ), and the dashed-dotted line shows the waveform when -2V is applied to bias terminal A and +2V is applied to bias terminal B (at maximum delay).

そして、図10に示すように、改良後(図9の64GHz出力の波形)では、改良前(図13の64GHz出力の波形)と比較して、バイアス電圧依存による振幅変化を62.5%程度抑制することができた。また、図11に示すように、改良前と比較して、改良後の可変遅延量を同程度に維持することができた。なお、バイアス端子Aのバイアス電圧は、バイアス端子Bのバイアス電圧の±(正負)を反転させた値に設定した。例えばバイアス端子Bのバイアス電圧が+1.5Vであれば、バイアス端子Aのバイアス電圧は-1.5Vとなる。 As shown in Figure 10, after the improvement (64GHz output waveform in Figure 9), the amplitude change due to bias voltage dependence is reduced by about 62.5% compared to before improvement (64GHz output waveform in Figure 13). I was able to suppress it. Furthermore, as shown in FIG. 11, the variable delay amount after the improvement was able to be maintained at the same level as compared to before the improvement. Note that the bias voltage of the bias terminal A was set to a value obtained by inverting the bias voltage of the bias terminal B ± (positive and negative). For example, if the bias voltage at bias terminal B is +1.5V, the bias voltage at bias terminal A is -1.5V.

[第2実施の形態]
第2実施の形態の分岐合成部4(4B)の構成について図4を参照しながら説明する。なお、図4において、上述した第1実施の形態の分岐合成部4Aと同一の基本構成については同一番号を付し、その説明を省略する。
[Second embodiment]
The configuration of the branching and combining section 4 (4B) of the second embodiment will be described with reference to FIG. 4. In addition, in FIG. 4, the same basic configuration as the branching and combining section 4A of the first embodiment described above is given the same number, and the explanation thereof will be omitted.

第2実施の形態の分岐合成部4Bでは、上述した基本構成において、最大遅延側経路r2の1段目のカレントモードロジック回路12aと2段目のカレントモードロジック回路12cそれぞれのトランジスタTr1,Tr2の出力負荷としての抵抗R1,R2と直列にコイルLを接続している。これにより、最大遅延側経路r2の周波数特性を補償し、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮め、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制することができる。 In the branch/combiner 4B of the second embodiment, in the basic configuration described above, the transistors Tr1 and Tr2 of the first stage current mode logic circuit 12a and the second stage current mode logic circuit 12c of the maximum delay side path r2 are A coil L is connected in series with resistors R1 and R2 as output loads. Thereby, it is possible to compensate for the frequency characteristics of the maximum delay side path r2, reduce the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, and suppress changes in the output amplitude with respect to the bias voltage.

なお、図4の例では、最大遅延側経路r2の1段目と2段目のカレントモードロジック回路12a,12c両方の出力負荷としての抵抗R1,R2と直列にコイルLを接続する構成としたが、1段目と2段目のカレントモードロジック回路12a,12cのどちらか一方の出力負荷としての抵抗R1,R2と直列にコイルLを接続する構成としてもよい。 In the example of FIG. 4, the coil L is connected in series with the resistors R1 and R2 as output loads of both the first and second stage current mode logic circuits 12a and 12c of the maximum delay side path r2. However, a configuration may also be adopted in which the coil L is connected in series with the resistors R1 and R2 as output loads of either the first-stage or second-stage current mode logic circuits 12a and 12c.

また、第2実施の形態の分岐合成部4Bでは、コイルLの追加接続によって最大遅延側経路r2の遅延量が小さくなる問題を解決するため、上述した基本構成において、最大遅延側経路r2のエミッタフォロワ回路12bの出力と2段目のカレントモードロジック回路12cの入力間に伝送線路Zを接続している。これにより、遅延量を稼いで可変遅延量の減りを補うことができる。 In addition, in the branching and combining section 4B of the second embodiment, in order to solve the problem that the delay amount of the maximum delay side path r2 becomes smaller due to the additional connection of the coil L, in the basic configuration described above, the emitter of the maximum delay side path r2 is A transmission line Z is connected between the output of the follower circuit 12b and the input of the second stage current mode logic circuit 12c. Thereby, the delay amount can be earned to compensate for the decrease in the variable delay amount.

[第3実施の形態]
第3実施の形態の分岐合成部4(4C)の構成について図5を参照しながら説明する。なお、図5において、上述した第1実施の形態の分岐合成部4Aと同一の基本構成については同一番号を付し、その説明を省略する。
[Third embodiment]
The configuration of the branching and combining section 4 (4C) of the third embodiment will be described with reference to FIG. 5. Note that in FIG. 5, the same basic configuration as the branching and combining section 4A of the first embodiment described above is given the same reference numeral, and the explanation thereof will be omitted.

第3実施の形態の分岐合成部4Cでは、上述した基本構成において、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aのトランジスタTr1,Tr2のエミッタ間の抵抗R3,R4と並列にコンデンサCを接続している。コンデンサCと抵抗R3,R4はハイパスフィルタを構成し、コンデンサCは低周波成分を通さずに高周波成分を通す。これにより、最小遅延側経路r1の周波数特性を補償し、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮め、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制することができる。 In the branch/combiner 4C of the third embodiment, in the basic configuration described above, a capacitor C is connected in parallel with the resistors R3, R4 between the emitters of the transistors Tr1, Tr2 of the current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1. ing. Capacitor C and resistors R3 and R4 constitute a high-pass filter, and capacitor C passes high frequency components without passing low frequency components. Thereby, it is possible to compensate for the frequency characteristics of the minimum delay side path r1, reduce the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, and suppress changes in the output amplitude with respect to the bias voltage.

また、第3実施の形態の分岐合成部4Cでは、コンデンサCの追加接続により波形の遅延差が開き過ぎてバランス(±0V印加)時の波形振幅が小さくなる問題が生じる。前記の問題を解決するため、上述した基本構成において、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aの入力に伝送線路Zを接続している。これにより、遅延量を稼いで可変遅延量の減りを補うことができる。 Furthermore, in the branching/synthesizing section 4C of the third embodiment, the additional connection of the capacitor C causes a problem in that the waveform delay difference becomes too large and the waveform amplitude becomes small when balanced (±0 V is applied). In order to solve the above problem, in the basic configuration described above, the transmission line Z is connected to the input of the current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1. Thereby, the delay amount can be earned to compensate for the decrease in the variable delay amount.

[第4実施の形態]
第4実施の形態の分岐合成部4(4D)の構成について図6を参照しながら説明する。なお、図6において、上述した第1実施の形態の分岐合成部4Aと同一の基本構成については同一番号を付し、その説明を省略する。
[Fourth embodiment]
The configuration of the branching and combining section 4 (4D) of the fourth embodiment will be described with reference to FIG. 6. In addition, in FIG. 6, the same basic configuration as the branching and combining section 4A of the first embodiment described above is given the same reference numeral, and the explanation thereof will be omitted.

第4実施の形態の分岐合成部4Dでは、上述した基本構成において、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aのトランジスタTr1,Tr2の出力負荷としての抵抗R1,R2と直列にコイルLを接続している。これにより、最小遅延側経路r1の周波数特性を補償し、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮め、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制することができる。 In the branching and combining unit 4D of the fourth embodiment, in the basic configuration described above, the coil L is connected in series with the resistors R1 and R2 as output loads of the transistors Tr1 and Tr2 of the current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1. are doing. Thereby, it is possible to compensate for the frequency characteristics of the minimum delay side path r1, reduce the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, and suppress changes in the output amplitude with respect to the bias voltage.

また、第4実施の形態の分岐合成部4Cでは、コイルLの追加接続により波形の遅延差が開き過ぎてバランス(±0V印加)時の波形振幅が小さくなる問題が生じる。前記の問題を解決するため、上述した基本構成において、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aの入力に伝送線路Zを接続している。これにより、遅延量を稼いで可変遅延量の減りを補うことができる。 Further, in the branching/synthesizing section 4C of the fourth embodiment, the additional connection of the coil L causes the waveform delay difference to become too large, resulting in a problem that the waveform amplitude becomes small when balanced (±0 V is applied). In order to solve the above problem, in the basic configuration described above, the transmission line Z is connected to the input of the current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1. Thereby, the delay amount can be earned to compensate for the decrease in the variable delay amount.

[第5実施の形態]
第5実施の形態の分岐合成部4(4E)の構成について図7を参照しながら説明する。なお、図7において、上述した第1実施の形態の分岐合成部4Aと同一の基本構成については同一番号を付し、その説明を省略する。
[Fifth embodiment]
The configuration of the branching and combining section 4 (4E) of the fifth embodiment will be described with reference to FIG. 7. In addition, in FIG. 7, the same basic configuration as the branching and combining section 4A of the first embodiment described above is given the same reference numeral, and the explanation thereof will be omitted.

第5実施の形態の分岐合成部4Eでは、上述した基本構成において、最大遅延側経路r2の1段目のカレントモードロジック回路12aのトランジスタTr1,Tr2の出力に対し、対VCCのコンデンサCを接続している。すなわち、1段目のカレントモードロジック回路12aのトランジスタTr1,Tr2のコレクタとVCCとの間にコンデンサCを接続している。これにより、最大遅延側経路r2の高周波における損失量を増やし、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮め、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制することができる。 In the branching/synthesizing unit 4E of the fifth embodiment, in the basic configuration described above, a capacitor C with respect to VCC is connected to the outputs of the transistors Tr1 and Tr2 of the first stage current mode logic circuit 12a of the maximum delay side path r2. are doing. That is, a capacitor C is connected between the collectors of the transistors Tr1 and Tr2 of the first stage current mode logic circuit 12a and VCC. Thereby, it is possible to increase the amount of loss at high frequencies in the maximum delay side path r2, reduce the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, and suppress changes in output amplitude with respect to bias voltage.

また、第5実施の形態の分岐合成部4Eでは、上述した基本構成において、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aの入力に伝送線路Zを接続している。これにより、遅延量を稼いで可変遅延量の減りを補うことができる。 Furthermore, in the branching and combining section 4E of the fifth embodiment, in the basic configuration described above, the transmission line Z is connected to the input of the current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1. Thereby, the delay amount can be earned to compensate for the decrease in the variable delay amount.

[第6実施の形態]
第6実施の形態の分岐合成部4(4F)の構成について図8を参照しながら説明する。なお、図8において、上述した第1実施の形態の分岐合成部4Aと同一の基本構成については同一番号を付し、その説明を省略する。
[Sixth embodiment]
The configuration of the branching and combining section 4 (4F) of the sixth embodiment will be described with reference to FIG. 8. In addition, in FIG. 8, the same basic configuration as the branching and combining section 4A of the first embodiment described above is given the same reference numeral, and the explanation thereof will be omitted.

分岐合成部4Fは、基本構成として、最小遅延側経路r1の第1のアンプ回路11が1段目のカレントモードロジック回路11a、エミッタフォロワ回路11b、2段目のカレントモードロジック回路11cで構成され、最大遅延側経路r2の第2のアンプ回路12が1段目のカレントモードロジック回路12a、1段目のエミッタフォロワ回路12b、2段目のカレントモードロジック回路12c、2段目のエミッタフォロワ回路12d、3段目のカレントモードロジック回路12eで構成される。 The basic configuration of the branching and combining section 4F is that the first amplifier circuit 11 of the minimum delay side path r1 is composed of a first stage current mode logic circuit 11a, an emitter follower circuit 11b, and a second stage current mode logic circuit 11c. , the second amplifier circuit 12 of the maximum delay side path r2 is the first stage current mode logic circuit 12a, the first stage emitter follower circuit 12b, the second stage current mode logic circuit 12c, and the second stage emitter follower circuit. 12d, and a third stage current mode logic circuit 12e.

第6実施の形態の分岐合成部4Fでは、上述した基本構成において、最小遅延側経路r1の1段目のカレントモードロジック回路11aの出力に対し、対VCCのコンデンサCを接続している。すなわち、1段目のカレントモードロジック回路11aのトランジスタTr1,Tr2のコレクタとVCCとの間にコンデンサCを接続している。この箇所は、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の分岐・合成箇所に直結していないため、最大遅延側経路r2のアンプ回路12に影響を及ぼさず、最大遅延側経路r2の高周波における損失量を増やすことができる。これにより、最小遅延側経路r1の周波数特性を補償し、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮め、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制することができる。 In the branching and combining section 4F of the sixth embodiment, in the basic configuration described above, a capacitor C with respect to VCC is connected to the output of the first stage current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1. That is, a capacitor C is connected between the collectors of the transistors Tr1 and Tr2 of the first stage current mode logic circuit 11a and VCC. Since this point is not directly connected to the branching/combining point of the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, it does not affect the amplifier circuit 12 of the maximum delay side path r2, and the high frequency of the maximum delay side path r2. The amount of loss can be increased. Thereby, it is possible to compensate for the frequency characteristics of the minimum delay side path r1, reduce the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, and suppress changes in the output amplitude with respect to the bias voltage.

なお、図3の基本構成において、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aの入力または出力に対し、対VCCのコンデンサCを追加することで高周波における損失量を増やすことが可能である。しかしながら、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aは分岐または合成箇所を介して最大遅延側経路r2と直結されている。そのため、最小遅延側経路r1のカレントモードロジック回路11aの入力または出力にコンデンサを追加すると、最大遅延側経路r2の損失も増やすことになってしまう。その結果、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮めることはできず、前述した課題を解決することができない。 In the basic configuration of FIG. 3, it is possible to increase the amount of loss at high frequencies by adding a capacitor C with respect to VCC to the input or output of the current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1. However, the current mode logic circuit 11a of the minimum delay side path r1 is directly connected to the maximum delay side path r2 via a branch or combination point. Therefore, if a capacitor is added to the input or output of the current mode logic circuit 11a on the minimum delay side path r1, the loss on the maximum delay side path r2 will also increase. As a result, it is not possible to reduce the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2, and the above-mentioned problem cannot be solved.

また、第6実施の形態の分岐合成部4Fでは、上述した基本構成において、最大遅延側経路r2の1段目のエミッタフォロワ回路12bの出力と2段目のカレントモードロジック回路12cの入力間、2段目のエミッタフォロワ回路12dと3段目のカレントモードロジック回路12eの入力間に伝送線路Zを接続している。これにより、遅延量を稼いで可変遅延量の減りを補うことができる。 In addition, in the branching and combining section 4F of the sixth embodiment, in the basic configuration described above, between the output of the first stage emitter follower circuit 12b of the maximum delay side path r2 and the input of the second stage current mode logic circuit 12c, A transmission line Z is connected between the inputs of the second stage emitter follower circuit 12d and the third stage current mode logic circuit 12e. Thereby, the delay amount can be earned to compensate for the decrease in the variable delay amount.

なお、図8の例では、最大遅延側経路r2の1段目のエミッタフォロワ回路12bの出力と2段目のカレントモードロジック回路12cの入力間、2段目のエミッタフォロワ回路12dの出力と3段目のカレントモードロジック回路12eの入力間に伝送線路Zを接続する構成としたが、最大遅延側経路r2の1段目のエミッタフォロワ回路12bの出力と2段目のカレントモードロジック回路12cの入力間、2段目のエミッタフォロワ回路12dの出力と3段目のカレントモードロジック回路12eの入力間のどちらか一方に伝送線路Zを接続する構成としてもよい。 In the example of FIG. 8, between the output of the first stage emitter follower circuit 12b and the input of the second stage current mode logic circuit 12c of the maximum delay side path r2, and between the output of the second stage emitter follower circuit 12d and 3. Although the transmission line Z is connected between the inputs of the current mode logic circuit 12e in the second stage, the output of the emitter follower circuit 12b in the first stage of the maximum delay side path r2 and the current mode logic circuit 12c in the second stage are connected to each other. The transmission line Z may be connected either between the inputs or between the output of the second stage emitter follower circuit 12d and the input of the third stage current mode logic circuit 12e.

ところで、上述した各実施の形態の分岐合成部4A~4Fでは、第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12のアンプ段数差を1段としているが、これに限定されるものではなく、動作周波数に応じて設定することができる。具体的に、第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12のアンプ段数差および伝送線路Zの線路長は、動作周波数の逆数を1周期としたときに、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定される。 Incidentally, in the branching and combining sections 4A to 4F of each of the embodiments described above, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit 11 and the second amplifier circuit 12 is one stage, but the present invention is not limited to this. It can be set according to the operating frequency. Specifically, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit 11 and the second amplifier circuit 12 and the line length of the transmission line Z are the minimum delay side path r1 and the maximum delay when the reciprocal of the operating frequency is one period. The delay difference of the side route r2 is set to be smaller than 1/5 cycle.

[応用例]
上述した構成の分岐合成部4(4A~4Fの何れか)を備えた可変遅延回路1は、図12に示すように、信号発生装置21にて発生したパターン信号を被測定物Wに入力し、この入力に伴って被測定物Wから折り返される信号をエラー検出器22にて受信してエラーを検出するビット誤り測定装置23において、信号発生装置21の内部回路に使用することができる。本発明の可変遅延回路1を適用した図12の信号発生装置21は、例えば2Gbaudなどの低速から100Gbaud以上の高速NRZ・PAM信号の伝送に対応しており、外部から入力される基準クロック信号を入力クロック処理部21aにて分配や分周/逓倍処理を行い、可変遅延回路1にて基準クロック信号のタイミングを微調整し、この微調整された基準クロック信号を用いてデジタル信号処理部21bにてパターン信号を発生し、発生したパターン信号をD/A変換部21cにてアナログ信号に変換して被測定物Wに入力する。さらに説明すると、図12の信号発生装置21における可変遅延回路1は、入力クロック処理部21aから基準クロック信号が入力されると、時間軸方向に微調整した基準クロック信号をデジタル信号処理部21bに出力する。この時間軸方向に微調整した基準クロック信号は、デジタル信号処理部21bにて例えば複数レーンの信号を生成する際に、レーン間に生じるスキューを取り除き、信号波形のアイが最も開くタイミングに調整する。
[Application example]
The variable delay circuit 1 equipped with the branching/synthesizing section 4 (any one of 4A to 4F) configured as described above inputs the pattern signal generated by the signal generator 21 to the object under test W, as shown in FIG. , it can be used in the internal circuit of the signal generator 21 in the bit error measuring device 23 which detects errors by receiving the signal returned from the object under test W in response to this input in the error detector 22. The signal generating device 21 shown in FIG. 12 to which the variable delay circuit 1 of the present invention is applied is compatible with the transmission of NRZ/PAM signals from low speeds such as 2 Gbaud to high speeds of 100 Gbaud or more, and uses externally input reference clock signals. The input clock processing section 21a performs distribution and frequency division/multiplying processing, the variable delay circuit 1 finely adjusts the timing of the reference clock signal, and the finely adjusted reference clock signal is used to send the signal to the digital signal processing section 21b. The D/A converter 21c generates a pattern signal, and the D/A converter 21c converts the generated pattern signal into an analog signal and inputs it to the object W to be measured. To explain further, when the reference clock signal is input from the input clock processing section 21a, the variable delay circuit 1 in the signal generating device 21 of FIG. 12 sends the reference clock signal finely adjusted in the time axis direction to the digital signal processing section 21b. Output. This reference clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction is used to remove skews that occur between lanes when the digital signal processing unit 21b generates signals for multiple lanes, and adjusts the timing at which the eye of the signal waveform opens the most. .

なお、上述した構成の分岐合成部4は、図12の信号発生装置21の基準クロック信号の微調整だけでなく、データ信号の可変遅延回路及び可変遅延方法としても応用可能である。 Note that the branching and combining section 4 having the above-described configuration can be applied not only to fine adjustment of the reference clock signal of the signal generating device 21 of FIG. 12, but also as a variable delay circuit and variable delay method for data signals.

このように、本実施の形態によれば、第1のアンプ回路11のバイアス端子Aと第2のアンプ回路12のバイアス端子Bの印加電圧を変化させ、第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12の出力振幅の比率を変えて遅延量を可変する際に、分岐合成部4における物理的な遅延差を第1のアンプ回路11と第2のアンプ回路12のアンプ段数差によって作り出し、図3~図8の何れかの分岐合成部4(4A~4F)を採用し、コンデンサCやコイルLの追加により、最小遅延側経路r1と最大遅延側経路r2の周波数特性の差を縮め、バイアス電圧に対する出力振幅の変化を抑制することができる。 In this way, according to the present embodiment, the voltages applied to the bias terminal A of the first amplifier circuit 11 and the bias terminal B of the second amplifier circuit 12 are changed, and the voltages applied to the bias terminal A of the first amplifier circuit 11 and the bias terminal B of the second amplifier circuit 12 are changed. When varying the delay amount by changing the output amplitude ratio of the amplifier circuit 12, a physical delay difference in the branching and combining section 4 is created by the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit 11 and the second amplifier circuit 12, By adopting any of the branching and combining sections 4 (4A to 4F) shown in FIGS. 3 to 8, and adding a capacitor C and a coil L, the difference in frequency characteristics between the minimum delay side path r1 and the maximum delay side path r2 is reduced, Changes in output amplitude with respect to bias voltage can be suppressed.

また、採用した図3~図8の何れかの分岐合成部4(4A~4F)において、伝送線路Zを追加して調整することにより、上述したコンデンサCやコイルLの追加によって変わってしまった遅延差を補うことができる。その結果、例えば1から64GHzなどの広帯域による動作周波数の全範囲において、バイアス電圧の変化に対し、安定した出力振幅の可変遅延回路を実現することができる。 In addition, by adding and adjusting the transmission line Z in any of the adopted branch/combiner sections 4 (4A to 4F) in Figures 3 to 8, the above-mentioned addition of the capacitor C and coil L has changed. Delay differences can be compensated for. As a result, it is possible to realize a variable delay circuit with stable output amplitude against changes in bias voltage over the entire wide range of operating frequencies, such as from 1 to 64 GHz.

以上、本発明に係る可変遅延回路及び可変遅延方法と信号発生装置及び信号発生方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。 Although the best embodiments of the variable delay circuit, variable delay method, signal generation device, and signal generation method according to the present invention have been described above, the present invention is not limited to the description and drawings based on this embodiment. That is, it goes without saying that all other forms, embodiments, operational techniques, etc. made by those skilled in the art based on this form are included in the scope of the present invention.

1(1A,1B) 可変遅延回路
2 入力端子
2a プラス入力
2b マイナス入力
3 入力段アンプ部
4(4A~4F) 分岐合成部
5 出力段アンプ部
6 出力端子
6a プラス出力
6b マイナス出力
7,8 外部電源
A,B バイアス端子
r1 最小遅延側経路
r2 最大遅延側経路
11 第1のアンプ回路
11A アンプ
11a,11c カレントモードロジック回路
11b エミッタフォロワ回路
12 第2のアンプ回路
12A アンプ
12a,12c,12e カレントモードロジック回路
12b,12d エミッタフォロワ回路
13 バイアス回路
21 信号発生装置
21a 入力クロック処理部
21b デジタル信号処理部
21c D/A変換部
22 エラー検出器
23 ビット誤り測定装置
Tr1~Tr6 トランジスタ
R1~R10 抵抗
C コンデンサ
L コイル
Z 伝送線路
1 (1A, 1B) Variable delay circuit 2 Input terminal 2a Plus input 2b Minus input 3 Input stage amplifier section 4 (4A to 4F) Branch synthesis section 5 Output stage amplifier section 6 Output terminal 6a Plus output 6b Minus output 7, 8 External Power supply A, B Bias terminal r1 Minimum delay side path r2 Maximum delay side path 11 First amplifier circuit 11A Amplifier 11a, 11c Current mode logic circuit 11b Emitter follower circuit 12 Second amplifier circuit 12A Amplifier 12a, 12c, 12e Logic circuit 12b, 12d Emitter follower circuit 13 Bias circuit 21 Signal generator 21a Input clock processing unit 21b Digital signal processing unit 21c D/A converter 22 Error detector 23 Bit error measuring device Tr1 to Tr6 Transistor R1 to R10 Resistor C Capacitor L coil Z transmission line

Claims (12)

カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサ(C)が接続され、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路(Z)が接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生装置
A branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages of the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
A capacitor (C) is connected in parallel with a resistor between emitters of at least one current mode logic circuit of the maximum delay side path,
A transmission line (Z) is connected between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes of the side paths is input to the device under test. A signal generating device characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from an object to be measured .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイル(L)が接続され、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路(Z)が接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生装置
A branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages of the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
A coil (L) is connected in series with a resistance of an output load of at least one current mode logic circuit of the maximum delay side path,
A transmission line (Z) is connected between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes of the side paths is input to the device under test. A signal generating device characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from an object to be measured .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサ(C)が接続され、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路(Z)が接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生装置
A branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages of the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
A capacitor (C) is connected in parallel with a resistor between emitters of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
A transmission line (Z) is connected to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes of the side paths is input to the device under test. A signal generating device characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from an object to be measured .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイル(L)が接続され、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路(Z)が接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生装置
A branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages of the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
A coil (L) is connected in series with an output load resistance of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
A transmission line (Z) is connected to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes of the side paths is input to the device under test. A signal generating device characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from an object to be measured .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最大遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源(VCC)との間にコンデンサ(C)が接続され、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路(Z)が接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生装置
A branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages of the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
A capacitor (C) is connected between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the maximum delay side path and a positive power supply (VCC),
A transmission line (Z) is connected to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes of the side paths is input to the device under test. A signal generating device characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from an object to be measured .
アンプ段数が異なる複数段のカレントモードロジック回路を含む第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を備え、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最小遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源(VCC)との間にコンデンサ(C)が接続され、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路(Z)が接続され、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定され、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力する可変遅延回路により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生装置
A branching/synthesizing section (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) including a plurality of stages of current mode logic circuits having different numbers of amplifier stages,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
A capacitor (C) is connected between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the minimum delay side path and a positive power supply (VCC),
A transmission line (Z) is connected between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit,
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. The delay difference is set to be smaller than 1/5 period,
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are A pattern signal generated based on a clock signal that has been finely adjusted in the time axis direction by a variable delay circuit that synthesizes and outputs signals by changing the ratio of output amplitudes of the side paths is input to the device under test. A signal generating device characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from an object to be measured .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサ(C)を接続するステップと、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路(Z)を接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生方法
Using a branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
connecting a capacitor (C) in parallel with the emitter-to-emitter resistor of at least one current mode logic circuit of the maximum delay side path;
connecting a transmission line (Z) between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal finely adjusted in the time axis direction by a variable delay method to the device under test; A signal generation method characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured as a result of the above .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最大遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイル(L)を接続するステップと、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路(Z)を接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生方法
Using a branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
connecting a coil (L) in series with a resistance of an output load of at least one current mode logic circuit of the maximum delay side path;
connecting a transmission line (Z) between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal finely adjusted in the time axis direction by a variable delay method to the device under test; A signal generation method characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured as a result of the above .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路のエミッタ間の抵抗と並列にコンデンサ(C)を接続するステップと、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路(Z)を接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生方法
Using a branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
connecting a capacitor (C) in parallel with the emitter-to-emitter resistor of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
connecting a transmission line (Z) to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal finely adjusted in the time axis direction by a variable delay method to the device under test; A signal generation method characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured as a result of the above .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の出力負荷の抵抗と直列にコイル(L)を接続するステップと、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路(Z)を接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生方法
Using a branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
connecting a coil (L) in series with a resistance of an output load of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
connecting a transmission line (Z) to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 cycle;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay path and the maximum delay path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; A signal generation method characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured as a result of the above .
カレントモードロジック回路のアンプ段数が異なる第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最大遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源(VCC)との間にコンデンサ(C)を接続するステップと、
前記最小遅延側経路の少なくとも一つのカレントモードロジック回路の入力に伝送線路(Z)を接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生方法
Using a branch synthesis unit (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) with different numbers of amplifier stages in the current mode logic circuit,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
connecting a capacitor (C) between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the maximum delay side path and a positive power supply (VCC);
connecting a transmission line (Z) to the input of at least one current mode logic circuit of the minimum delay side path;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal finely adjusted in the time axis direction by a variable delay method to the device under test; A signal generation method characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured as a result of the above .
アンプ段数が異なる複数段のカレントモードロジック回路を含む第1のアンプ回路(11)と第2のアンプ回路(12)を有する分岐合成部(4)を用い、
信号が分岐して入力される前記分岐合成部の2つの経路のうち、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の少ない方の経路を最小遅延側経路(r1)、前記カレントモードロジック回路のアンプ段数の多い方の経路を最大遅延側経路(r2)とし、
前記最小遅延側経路の入力段のカレントモードロジック回路の出力とプラス電源(VCC)との間にコンデンサ(C)を接続するステップと、
前記最大遅延側経路のカレントモードロジック回路間に接続されるエミッタフォロワ回路の少なくとも一つの出力と、その後段のカレントモードロジック回路の入力との間に伝送線路(Z)を接続するステップと、
動作周波数の逆数を1周期としたときに、前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路のアンプ段数差と前記伝送線路の線路長を、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の遅延差が1/5周期よりも小さくなるように設定するステップと、
前記第1のアンプ回路と前記第2のアンプ回路それぞれに設けられるバイアス端子(A,B)の駆動電流の和が一定となるように印加電圧を変化させ、前記最小遅延側経路と前記最大遅延側経路の出力振幅の比率を変えて信号を合成出力するステップと、を含む可変遅延方法により時間軸方向に微調整したクロック信号を基準として発生したパターン信号を被測定物に入力し、この入力に伴って前記被測定物から折り返される信号を受信する測定装置に用いることを特徴とする信号発生方法
Using a branching and combining section (4) having a first amplifier circuit (11) and a second amplifier circuit (12) including multiple stages of current mode logic circuits having different numbers of amplifier stages,
Of the two paths of the branching and combining section to which the signal is branched and inputted, the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit is designated as the minimum delay side path (r1), which is the path with the smaller number of amplifier stages of the current mode logic circuit. Let the route with the largest delay be the route with the largest delay (r2),
connecting a capacitor (C) between the output of the current mode logic circuit of the input stage of the minimum delay side path and a positive power supply (VCC);
connecting a transmission line (Z) between at least one output of an emitter follower circuit connected between the current mode logic circuits of the maximum delay side path and an input of a subsequent current mode logic circuit;
When the reciprocal of the operating frequency is one period, the difference in the number of amplifier stages between the first amplifier circuit and the second amplifier circuit and the line length of the transmission line are defined as the minimum delay side path and the maximum delay side path. setting the delay difference to be smaller than 1/5 period;
The applied voltage is changed so that the sum of drive currents of bias terminals (A, B) provided in each of the first amplifier circuit and the second amplifier circuit is constant, and the minimum delay side path and the maximum delay path are inputting a pattern signal generated based on a clock signal finely adjusted in the time axis direction using a variable delay method to the device under test; A signal generation method characterized in that it is used in a measuring device that receives a signal reflected from the object to be measured as a result of the above .
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