JP7425428B2 - 光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器 - Google Patents
光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7425428B2 JP7425428B2 JP2022108407A JP2022108407A JP7425428B2 JP 7425428 B2 JP7425428 B2 JP 7425428B2 JP 2022108407 A JP2022108407 A JP 2022108407A JP 2022108407 A JP2022108407 A JP 2022108407A JP 7425428 B2 JP7425428 B2 JP 7425428B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical measuring
- measuring instrument
- cylindrical container
- sample holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 149
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 24
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 16
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 description 16
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 16
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 7
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 6
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 4
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 4
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 2
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 2
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 2
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 238000010146 3D printing Methods 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000003093 cationic surfactant Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
この場合、前記筒状容器よりも出口側に前記一対の遮光壁が設けられているから、筒状容器およびサンプルを通過した検査光のうち、前記光路の光軸から所定の程度以上に偏向した不要な検査光を前記遮光壁が遮り、前記光軸に沿う検査光のみを選択的に通過させ、前記受光部による測定精度を高めることができる。
この場合、前記筒状容器よりも入口側および出口側のそれぞれに各一対の遮光壁が設けられているから、筒状容器に到達する前の検査光、およびサンプルを通過した検査光のうち前記光路の光軸から所定の程度以上に偏向した不要な検査光を前記各遮光壁が遮り、前記光軸に沿う検査光のみを選択的に通過させ、前記受光部による測定精度を高めることができる。
この場合、前記遮光壁の尖端部が前記筒状容器の外周面に当接するから、前記遮光壁と前記筒状容器の当接面積を小さくすることができ、前記遮光壁の当接面での検査光の不要な反射を防ぎ、前記受光部による測定精度を高めることができる。
この場合には、反射防止膜によって容器本体との前記尖端部との接触箇所における散乱光の反射を低減することができ、散乱光によるノイズをさらに減らすことができる。反射防止膜としては、膜の表面に微細な凹凸が形成される粒子を含む材料や、容器本体の材料よりも低屈折率の材料、およびマイナス電荷を細くする効果が高いカチオン系の帯電防止剤が好適に使用できる。
この場合、前記ホルダ本体に前記筒状容器を支える支持壁が形成されているから、前記筒状容器の支持箇所を増やして前記筒状容器の支持位置の精度を高めることができるとともに、他の支持構造に比べて前記筒状容器を支持するための立体形状を簡略化することができ、支持壁を遮光壁と同様に形成することも可能となる。したがって、測定精度の向上および光学測定器用サンプルホルダの製造コストを抑えることが可能となる。前記支持壁は、前記光路から見て前記遮光壁よりも外側に形成されていることが好ましい。
この場合、光学測定器用サンプルホルダの内部に発光素子を収容しているから、光学測定器の小型化が容易になる。また、光学測定器用サンプルホルダのコネクタを制御ユニットに着脱可能に接続できるから、光学測定器用サンプルホルダの着脱を容易に行える。光学測定器用サンプルホルダを交換することにより、検査光の波長や光強度の異なる発光素子へ交換することも可能となる。
この光学測定器によれば、前記光学測定器用サンプルホルダの前記効果を得ることができ、装置全体の小型化を図ることができる。
この場合、光学測定器用サンプルホルダの内部に発光素子を収容するから、装置全体の小型化が容易になる。また、光学測定器用サンプルホルダのコネクタを制御ユニットに接続することにより、光学測定器用サンプルホルダの着脱を容易に行える。
また、本発明の光学測定器によれば、前記光学測定器用サンプルホルダの前記効果を得ることができ、装置全体の小型化を図ることができる。
さらに、前記遮光壁の端部に断面が前記容器収容部へ向けて窄まる尖端部がそれぞれ形成され、前記容器収容部へ前記筒状容器が挿入された場合に、前記尖端部は前記筒状容器の外周面に沿って前記筒状容器の軸線方向に延びるように配置され、前記遮光壁同士の間隙幅は、前記容器本体の内径の5~95%であるから、前記遮光壁の端部での乱反射によるノイズを減らして測定の精度を上げることが可能である。
以下、本発明の実施形態を図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明の第1実施形態の光学測定器を示す平面図、図2はその光学測定器の縦断面図である。
光学測定器1は、底板部とその四辺から起立した側板部を有する箱状のケース本体2と、ケース本体2の上端を塞ぐ矩形状の上蓋4を有する。ケース本体2の内部には、直方体状をなすサンプルホルダ6が収容され、四隅の位置決め台8によって定位置に着脱可能に保持されている。サンプルホルダ6は一方の側壁部の略中央から他方の側壁部の略中央へ貫通する光路Lを有し、光路Lの一端には発光部10が配置され、光路Lの他端には導光ユニット12を介して受光センサ18が配置されている。
発光部10は発光素子を有し、この発光素子の発する検査光が光路Lに沿って同軸にサンプルホルダ6の光入口32から入射される。発光部10と光入口32の間には光路Lに対する偏向角が大きい検査光および外乱光を遮蔽するための筒状のシールドが設けられている。シールドはホルダ本体44に対して離脱可能であり、ホルダ本体44の取り外しが可能とされている。
図6は、第2実施形態のサンプルホルダ6を示す側面図であり、第2実施形態の特徴は、ホルダ本体44の内側に発光部10を設けたことにある。発光部10は、第1実施形態において光入口32が形成されていた位置において発光側の平行な遮光壁36の間に配置され、一対の遮光壁36の間隙の中央に形成された光路Lに沿って検査光を発する。
発光部10へ電力を供給するためのコネクタ48がホルダ本体44に形成されており、このコネクタ48をケース本体2の内底面に設けられたコネクタと接続することにより、制御ユニット24の電源部から発光部10が電力供給を受けて発光する。
図8は、第3実施形態のサンプルホルダ6を示す平面図であり、第3実施形態の特徴は、ホルダ本体44の内部に支持壁38を形成していないことにある。この第3実施形態では、遮光壁36の尖端部36Aが容器本体30の外周面の4箇所に線接触し、容器本体30を支えているから、支持壁38が無くても、容器本体30を高精度に位置決めすることが可能である。また、第1実施形態よりも、ホルダ本体44の構造の単純化が図れる。
図9は、第4実施形態のサンプルホルダ6を示す平面図であり、第4実施形態の特徴は、光出口34側の一対の遮光壁36を無くし、支持壁38を容器本体30の中心よりも光出口34側に位置を変更したことにある。この第4実施形態では、一対の遮光壁36の尖端部36Aと、二つの支持壁38が容器本体30の外周面の4箇所に接触し、容器本体30を支えているから、遮光壁36が一対のみになっても、容器本体30を高精度に位置決めすることが可能である。また、第1実施形態よりも、ホルダ本体44の構造の単純化が図れる。
図10は、第5実施形態のサンプルホルダ6を示す平面図であり、第5実施形態の特徴は、光出口34側の一対の遮光壁36を無くし、支持壁38をホルダ本体44の光出口34に近い側の一対の隅部に形成し、支持壁38の先端を光入口32側へ向けて傾斜させ、容器本体30の中心よりも光出口34に近い位置に当接させたことにある。この第5実施形態では、一対の遮光壁36の尖端部36Aと、二つの支持壁38の先端が容器本体30の外周面の4箇所に接触し、容器本体30を支えているから、遮光壁36が一対のみになっても、容器本体30を高精度に位置決めすることが可能である。また、第1実施形態よりも、ホルダ本体44の構造の単純化が図れる。
図11は、第6実施形態のサンプルホルダ6を示す平面図であり、第6実施形態の特徴は、有底円筒状のバイアル瓶の代わりに、下部が円錐形状に窄まったテーパー部30Aを有する筒状容器26を用いたことにある。この筒状容器26は弾性変形するブリッジで繋がったキャップ28を有する。光入口32および光出口34並びに光路Lの位置は、容器本体30のテーパー部30Aではなく、円筒形部分に対応して設けられている。このように、下端にテーパー部30Aを有する筒状容器26を用いた場合にも、本発明は適用可能である。
図12は、第7実施形態のサンプルホルダ6を示す平面図であり、第7実施形態の特徴は、遮光壁36の先端に両刃状(断面V字状)に切りかかれた尖端部36Bを形成したことにある。この場合にも、遮光壁36の尖端部36Bと容器本体30は線接触するので、第1実施形態と同様の効果が得られる。
図13は、第8実施形態のサンプルホルダ6を示す平面図であり、第8実施形態の特徴は、遮光壁36の先端に断面半円状または半楕円状の尖端部36Cを形成したことにある。この場合にも、遮光壁36の尖端部36Cと容器本体30は線接触するので、第1実施形態と同様の効果が得られる。
第9実施形態のサンプルホルダは、前記いずれかの実施形態におけるサンプルホルダ6において、遮光壁36の尖端部36A,36B,または36Cに、容器本体30との接触部における散乱光の反射を低減する反射防止膜を形成したことを特徴とする。反射防止膜は、尖端部を有しない遮光壁36にも適用は可能であるが、尖端部を有する場合に特に反射防止効果を発揮する。反射防止膜としては、(1)膜の表面に微細な凹凸が形成される粒子を含む材料や、(2)容器本体30の材料よりも低屈折率の材料、および(3)マイナス電荷を細くする効果が高いカチオン系の帯電防止剤が挙げられる。具体的に、(1)としては例えばシリカ微粒子を含有するポリシロキサン樹脂などの樹脂膜、(2)としては非晶質フッ素樹脂等の低屈折率樹脂膜、(3)としては陽イオン界面活性剤、第四級アンモニウムカチオンなどを含有する各種塗膜が例示できる。反射防止膜の厚さは、それぞれの機能に応じて適切な厚さを選択すればよい。
図14は、第10実施形態のサンプルホルダ6を示す斜視図であり、第10実施形態の特徴は、サンプルホルダ6に発光部10および受光センサ18を一体化したことにある。発光部10は発光基板50に固定され、発光基板50がホルダ本体44の外周面に固定されている。受光センサ18および導光ユニット12もホルダ本体44の光出口34側に固定されている。この実施形態では、ケース本体2からサンプルホルダ6を取り出して交換することにより、発光部10および受光センサ18も一緒に交換することができ、異なる検査光での検査が容易に行える利点を有する。
図15は、第11実施形態の光学測定器を示す平面図であり、第11実施形態の特徴は、導光ユニット12がコイル52を有することにある。このコイル52は、銅、銀、アルミニウムなどの電線を巻回するか、基板上に金属箔からなるコイルパターンを形成したものであり、図16に示すように、導光路20および受光センサ18の受光面と同軸に配置されている。コイル52は、制御ユニット24に接続され、制御ユニット24の電源部から直流電流を供給され、磁場を形成する。
図17は、第12実施形態の光学測定器60を示す平面図であり、第12実施形態の特徴は、複数のサンプルホルダ6を一定間隔で一列に並べて保持するスライダ62(駆動部)を有し、スライダ62を長手方向であるスライド方向D1に移動させて、選択したサンプルホルダ6を、発光部10と導光ユニット12および受光センサ18との間の光路L内に挿入できるようにしたことにある。制御ユニット24がスライダ62の動作も制御する。第12実施形態によれば、サンプルホルダ6の数のサンプルを連続的に測定することができ、測定効率を高めることが可能である。
図18は、第13実施形態の光学測定器66を示す平面図であり、第13実施形態の特徴は、複数のサンプルホルダ6を円環状に一定間隔で一列に並べて保持するターンテーブル64(駆動部)を有し、ターンテーブル64を回転方向D2に中心回りに回動させたうえ、選択したサンプルホルダ6を押出方向D3に移動させることにより、発光部10と導光ユニット12および受光センサ18との間の光路L内に挿入できるようにしたことにある。制御ユニット24がターンテーブル64の動作も制御する。第13実施形態によれば、サンプルホルダ6の数のサンプルを連続的に測定することができ、測定効率を高めることが可能である。
4: 上蓋 6: サンプルホルダ
8: 位置決め台 10: 発光部
12: 導光ユニット 14: 光遮断部
16: 導光部 18: 受光センサ
18A: 受光面 20: 導光路
22: 光吸収部 24: 制御ユニット
25: 容器収容部 26: 筒状容器
28: キャップ 30: 容器本体
30A: テーパー部 32: 光入口
34: 光出口 36: 遮光壁
36B: 尖端部 36C: 尖端部
36A: 尖端部 37: 空間
38: 支持壁 40: ねじ穴
42: ホルダ上蓋 44: ホルダ本体
46: ネジ 48: コネクタ
50: 発光基板 52: コイル
60: 光学測定器 62: スライダ
64: ターンテーブル 66: 光学測定器
L: 光路 A1: 中央光
B1: 周辺光 D1: スライド方向
D2: 回転方向 D3: 押出方向
Claims (9)
- 発光部と受光部を有する光学測定器に装着可能な光学測定器用サンプルホルダであって、前記発光部から前記受光部に到る光路内に、サンプルを収容する透明な筒状容器を保持する容器収容部を有するホルダ本体と、前記ホルダ本体の内部に設けられ、前記光路を挟んで互いに間隔を開けて配置された少なくとも一対の遮光壁とを有し、
前記遮光壁の前記容器収容部側の端部には、断面が前記容器収容部へ向けて窄まる尖端部がそれぞれ形成され、
前記尖端部は、前記容器収容部へ前記筒状容器が挿入された場合に、前記筒状容器の外周面に沿って前記筒状容器の軸線方向に延びるように配置され、
前記遮光壁同士の間隙幅は、前記容器本体の内径の5~95%である光学測定器用サンプルホルダ。 - 前記ホルダ本体は、前記発光部からの光が入る入口と、前記筒状容器およびサンプルを通過した光が出るための出口を有し、前記筒状容器よりも前記出口側に前記一対の前記遮光壁が設けられていることを特徴とする請求項1記載の光学測定器用サンプルホルダ。
- 前記ホルダ本体は、前記発光部からの光が入る入口と、筒状容器およびサンプルを通過した光が出るための出口を有し、筒状容器の入口側および出口側に、それぞれ前記一対の遮光壁が設けられていることを特徴とする請求項1記載の光学測定器用サンプルホルダ。
- 前記遮光壁の一端は前記ホルダ本体の内壁面に固定され、前記遮光壁の前記尖端部は、前記容器収容部へ前記筒状容器が挿入された場合に、前記筒状容器の外周面に前記筒状容器の軸線方向に沿って線接触することを特徴とする請求項1~3のいずれか一項に記載の光学測定器用サンプルホルダ。
- 前記ホルダ本体には前記筒状容器の外周面を支える1以上の支持壁が、前記光路から見て前記遮光壁よりも外側に形成されていることを特徴とする請求項1~3のいずれか一項に記載の光学測定器用サンプルホルダ。
- 前記遮光壁の少なくとも前記尖端部には、容器本体との前記尖端部との接触箇所における散乱光の反射を低減する反射防止膜が形成されていることを特徴とする請求項4に記載の光学測定器用サンプルホルダ。
- 前記ホルダ本体の内部には、前記発光部として、前記筒状容器に検査光を照射する発光素子が設けられ、前記発光素子に電力を供給するためのコネクタを有することを特徴とする請求項1~3のいずれか一項に記載の光学測定器用サンプルホルダ。
- 請求項1~3のいずれか一項に記載の光学測定器用サンプルホルダと、前記光学測定器用サンプルホルダを所定位置に固定する支持部と、前記光学測定器用サンプルホルダ内の前記筒状容器に検査光を照射する発光部と、前記筒状容器およびサンプルを通過した検査光を受光する受光部と、前記受光部が出力する電気信号を受けて前記サンプルの成分に対応した情報を出力する制御ユニットとを具備する光学測定器。
- 請求項7に記載の光学測定器用サンプルホルダと、前記光学測定器用サンプルホルダを所定位置に固定する支持部と、前記筒状容器およびサンプルを通過した検査光を受光する受光部と、前記受光部が出力する電気信号を受けて前記サンプルの成分に対応した情報を出力するとともに、前記光学測定器用サンプルホルダの前記コネクタに接続され前記発光素子に電力を供給する制御ユニットとを具備する光学測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022108407A JP7425428B2 (ja) | 2022-07-05 | 2022-07-05 | 光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022108407A JP7425428B2 (ja) | 2022-07-05 | 2022-07-05 | 光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2024007144A JP2024007144A (ja) | 2024-01-18 |
JP7425428B2 true JP7425428B2 (ja) | 2024-01-31 |
Family
ID=89543294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022108407A Active JP7425428B2 (ja) | 2022-07-05 | 2022-07-05 | 光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7425428B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014240758A (ja) | 2013-06-11 | 2014-12-25 | Necソリューションイノベータ株式会社 | 光学ユニット及び光学分析装置 |
WO2017163771A1 (ja) | 2016-03-23 | 2017-09-28 | Ntn株式会社 | 振動測定ユニット、振動測定システム、および振動測定方法 |
WO2021100298A1 (ja) | 2019-11-21 | 2021-05-27 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像装置 |
-
2022
- 2022-07-05 JP JP2022108407A patent/JP7425428B2/ja active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014240758A (ja) | 2013-06-11 | 2014-12-25 | Necソリューションイノベータ株式会社 | 光学ユニット及び光学分析装置 |
WO2017163771A1 (ja) | 2016-03-23 | 2017-09-28 | Ntn株式会社 | 振動測定ユニット、振動測定システム、および振動測定方法 |
WO2021100298A1 (ja) | 2019-11-21 | 2021-05-27 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2024007144A (ja) | 2024-01-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4097085B2 (ja) | 蛍光光度計 | |
US8976353B2 (en) | Multiwell plate lid for improved optical measurements | |
JP6630947B2 (ja) | マイクロプレートリーダー | |
US20220205925A1 (en) | Flow Cell System for Optical Fluid Analysis and Bioreactor System | |
JP4491277B2 (ja) | 試料分析装置 | |
AU2002310007B2 (en) | Optical turbidimeter with a lens tube | |
JP7425428B2 (ja) | 光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器 | |
JPH058975B2 (ja) | ||
CN102128809B (zh) | 表面等离子共振传感器芯片组件及柱面棱镜芯片 | |
JP2007502997A (ja) | 物質の連続決定のための装置 | |
JP2012063328A (ja) | 液体センサ | |
JP2012063329A (ja) | 液体センサ | |
ES2956109T3 (es) | Analizador | |
JPH0829345A (ja) | 液状媒体を介して光束を導く測定装置 | |
JP2024010369A (ja) | 導光ユニットおよび光学測定器 | |
CN210690395U (zh) | 光学测定装置 | |
JP6924439B2 (ja) | 光測定装置、導光部材及び光測定方法 | |
JP4742166B2 (ja) | 試料分析装置 | |
JPH05332835A (ja) | 分光光度分析のための装置及びその方法 | |
WO2019009209A1 (ja) | 光測定装置、導光部材及び光測定方法 | |
CN217542857U (zh) | 一种滑盖式水质检测仪 | |
US3545869A (en) | Device for the colorimetric analysis of liquids | |
CN220419152U (zh) | 光谱仪 | |
CN220188344U (zh) | 一种光谱检测辅助支架 | |
CN218512253U (zh) | 一种密度折光一体仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20221228 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230829 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20231011 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20231026 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20231011 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231219 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240109 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7425428 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |