JP7420445B1 - information processing equipment - Google Patents

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Abstract

【課題】情報処理装置の耐タンパー性を向上する。【解決手段】この装置は、絶縁基板の少なくとも一の面に所定形状の第1の導体パターン1を備える第1の基板2と、該第1の基板2の前記一の面と対向して配置され、前記第1の導体パターン1に対し前記一の面に沿ってずれた位置に第2の導体パターン3を備える第2の基板4と、前記第1の導体パターン1と前記第2の導体パターン3とを電気的に接続する導電層5を備え、前記第1の基板2と第2の基板4との間に配置されてこれらを互いに機械的に接続する側壁部6と、これら第1の基板2と第2の基板4と側壁部6とに囲まれた領域に設けられた電気回路7とを具備する。【選択図】図1An object of the present invention is to improve tamper resistance of an information processing device. This device includes a first substrate 2 having a first conductor pattern 1 of a predetermined shape on at least one surface of an insulating substrate, and a first substrate 2 disposed opposite to the first surface of the first substrate 2. a second substrate 4 having a second conductor pattern 3 at a position shifted along the one surface with respect to the first conductor pattern 1; A side wall portion 6 includes a conductive layer 5 that electrically connects the pattern 3 and is disposed between the first substrate 2 and the second substrate 4 and mechanically connects them to each other; The electric circuit 7 is provided in a region surrounded by the substrate 2 , the second substrate 4 and the side wall portion 6 . [Selection diagram] Figure 1

Description

本発明は情報処理装置に関する。 The present invention relates to an information processing device.

電子機器の耐タンパー性を担保する技術に関連して、特許文献1が提案されている。この技術は、従来からある異方性導電ゴムコネクタを用いた側壁により上下の回路基板を囲んでこれらを互いに接続する構造にかかるものである。この構造によれば、異方性導電ゴム製の側壁に金属製(導電性)のピン等を貫通させて前記回路基板の導体パターンと導通させようとすると、該ピンによって、前記異方性導電ゴムに内蔵された複数の電極(導電体)が互いに導通され、この導通による電位の変化からタンパーの有無を判定することができる。 Patent Document 1 has been proposed in connection with a technique for ensuring tamper resistance of electronic devices. This technology involves a structure in which upper and lower circuit boards are surrounded by side walls using conventional anisotropic conductive rubber connectors and connected to each other. According to this structure, when a metal (conductive) pin or the like is passed through the side wall made of anisotropic conductive rubber to establish electrical connection with the conductor pattern of the circuit board, the anisotropic conductive A plurality of electrodes (conductors) built into the rubber are electrically connected to each other, and the presence or absence of a tamper can be determined from the change in potential caused by this electrical continuity.

特開2013-125510号公報Japanese Patent Application Publication No. 2013-125510 特開2009-181217号公報JP2009-181217A

しかしながら、特許文献1にあっては、単に異方性導電ゴム中の複数の電極の位置をずらした構成であることから、この電極の配置を容易に予測することができ、予測した配置に基づいて電極との接触を避けるようにピンを差し込むと、該ピンの挿入によるタンパーの発生を検出することができないという課題があった。
また電子機器の耐タンパー性を担保する技術に関連して提案された特許文献2は、電子機器を構成する回路パターンの破損の有無等に基づいてタンパーを検出するものであるから、前述のピンの挿入による回路へのアクセスを検出することができない。
However, in Patent Document 1, since the configuration is such that the positions of the plurality of electrodes in the anisotropic conductive rubber are simply shifted, the arrangement of the electrodes can be easily predicted, and based on the predicted arrangement. If the pin is inserted so as to avoid contact with the electrode, there is a problem in that it is not possible to detect the occurrence of tampering due to the insertion of the pin.
Furthermore, Patent Document 2, which was proposed in connection with a technology for ensuring tamper resistance of electronic devices, detects tampering based on the presence or absence of damage to circuit patterns that constitute electronic devices. It is not possible to detect access to the circuit due to the insertion of

この発明は、ピン等の挿入による電気回路へのアクセスを困難にすることを目的とする。 The purpose of this invention is to make it difficult to access an electric circuit by inserting a pin or the like.

上記課題を解決するために、本発明にかかる情報処理装置は、絶縁基板の少なくとも一の面に所定形状の第1の導体パターンを備える第1の基板と、該第1の基板の前記一の面と対向して配置され、前記第1の導体パターンに対し前記一の面に沿ってずれた位置に第2の導体パターンを備える第2の基板と、前記第1の導体パターンと前記第2の導体パターンとを電気的に接続する導電層を備え、前記第1の基板と第2の基板との間に配置されてこれらを互いに機械的に接続する側壁部と、これら第1の基板と第2の基板と側壁部とに囲まれた領域に設けられた電気回路とを有する。 In order to solve the above problems, an information processing device according to the present invention includes a first substrate having a first conductor pattern of a predetermined shape on at least one surface of the insulating substrate; a second substrate disposed opposite to the first conductive pattern and provided with a second conductive pattern at a position shifted along the one surface with respect to the first conductive pattern; a side wall portion provided with a conductive layer that electrically connects the first substrate and the second substrate and mechanically connects the first substrate and the second substrate to each other; It has an electric circuit provided in a region surrounded by the second substrate and the side wall portion.

本発明によれば、ピン等の挿入による内部の電気回路へのアクセスを困難にすることができる。 According to the present invention, it is possible to make it difficult to access the internal electric circuit by inserting a pin or the like.

本発明にかかる情報処理装置の最小構成例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an example of the minimum configuration of an information processing device according to the present invention. 本発明の一実施形態にかかる情報処理装置の分解斜視図である。1 is an exploded perspective view of an information processing device according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態にかかる情報処理装置の側壁部を構成する異方性導電ゴムの斜視図である。1 is a perspective view of anisotropic conductive rubber forming a side wall portion of an information processing device according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態にかかる情報処理装置の平面視した側壁部と回路基板の断面視における回路パターンとの位置関係の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a positional relationship between a side wall portion of the information processing device according to an embodiment of the present invention when viewed from above and a circuit pattern when viewed from a cross section of a circuit board. 一実施形態にかかる情報処理装置の断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of an information processing device according to an embodiment. 一実施形態にかかる情報処理装置の断面と平面との位置関係の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of the positional relationship between a cross section and a plane of an information processing device according to an embodiment. 一実施形態にかかる情報処理装置の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of an information processing device according to an embodiment. 一実施形態にかかる情報処理装置のタンパー検出処理のフローチャートである。7 is a flowchart of tamper detection processing of the information processing device according to one embodiment.

本発明の最小構成に係る情報処理装置の構成について図1を参照して説明する。
この装置は、絶縁基板の少なくとも一の面に所定形状の第1の導体パターン1を備える第1の基板2と、該第1の基板2の前記一の面と対向して配置され、前記第1の導体パターン1に対し前記一の面に沿ってずれた位置に第2の導体パターン3を備える第2の基板4と、前記第1の導体パターン1と前記第2の導体パターン3とを電気的に接続する導電層5を備え、前記第1の基板2と第2の基板4との間に配置されてこれらを互いに機械的に接続する側壁部6と、これら第1の基板2と第2の基板4と側壁部6とに囲まれた領域に設けられた電気回路7とを有する。
The configuration of an information processing apparatus according to the minimum configuration of the present invention will be described with reference to FIG. 1.
This device includes a first substrate 2 having a first conductor pattern 1 of a predetermined shape on at least one surface of an insulating substrate, and a first substrate 2 disposed opposite to the first surface of the first substrate 2, a second substrate 4 having a second conductor pattern 3 at a position shifted along the one surface with respect to the first conductor pattern 1; and the first conductor pattern 1 and the second conductor pattern 3. a side wall portion 6 which includes a conductive layer 5 for electrical connection and is disposed between the first substrate 2 and the second substrate 4 and mechanically connects them to each other; It has an electric circuit 7 provided in a region surrounded by the second substrate 4 and the side wall portion 6.

上記の構成によれば、第1の導体パターン1と第2の導体パターン3との位置が面方向へずれているので、外部からこれらの位置を視認することが困難になり、例えば、側壁部6へ導体ピン等を挿入したタンパー行為に際し、第1の導体パターン1、第2の導体パターン3を避けて導体ピン等を挿入することが困難になる。 According to the above configuration, since the positions of the first conductive pattern 1 and the second conductive pattern 3 are shifted in the plane direction, it becomes difficult to visually recognize these positions from the outside, and for example, the positions of the first conductive pattern 1 and the second conductive pattern 3 are shifted in the plane direction. When performing a tampering operation in which a conductor pin or the like is inserted into the conductor pattern 6, it becomes difficult to insert the conductor pin or the like while avoiding the first conductor pattern 1 and the second conductor pattern 3.

図2~図8を参照して本発明の一実施形態を説明する。
図2は全体構成を示し、この装置は、電気絶縁性の第1の基板20、および、第2の基板40と、これらの間に配置された、異方導電性ゴムにより構成されたコネクタ60とを基本構成とする。
前記第1の基板20および第2の基板40には、タンパー検知用の回路パターンが実装されている。これら第1の基板20と第2の基板40との間の接続には、図3に示すような異方性導電ゴムにより構成されたコネクタ60が用いられている。このコネクタ60は、図3に示すように、枠状に組み合わせられた異方性導電ゴム壁61により構成されている。
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 8.
FIG. 2 shows the overall configuration, and this device includes an electrically insulating first substrate 20, a second substrate 40, and a connector 60 made of anisotropically conductive rubber disposed between them. The basic configuration is
A circuit pattern for tamper detection is mounted on the first substrate 20 and the second substrate 40. A connector 60 made of anisotropic conductive rubber as shown in FIG. 3 is used to connect the first substrate 20 and the second substrate 40. As shown in FIG. 3, this connector 60 is composed of anisotropic conductive rubber walls 61 combined in a frame shape.

また前記第1の基板20または第2の基板40は、これらに実装された電気回路に所定の電圧を印加する保持回路71、該保持回路71に印加された電圧を検出して所定の動作を行うCPU(Central Processing Unit)72、該CPU72により操作されるメモリ73、前記保持回路71(さらに必要に応じて前記CPU72、メモリ73)へ電源を供給するバッテリー(あるいはキャパシタ)74に接続されている。なお、これら電気回路を構成する保持回路71、CPU72、メモリ73、バッテリー74は、前記第1の基板20,第2の基板40とは別体の回路基板100に実装され、タンパー行為からの保護を目的として、前記第1の基板20、第2の基板40、コネクタ60に囲まれた領域に配置されている。
また第1の基板20、第2の基板40に形成された導体パターンは、必要に応じて、図6に示すように、第1の基板20、第2の基板40を直接接続するジャンパ線76により互いに接続されている。また前記バッテリー74は、この装置が装着された機器の電源のON、OFFにかかわらず装置の動作を担保すべく、常時ONに維持されている。
Further, the first substrate 20 or the second substrate 40 includes a holding circuit 71 that applies a predetermined voltage to an electric circuit mounted thereon, and a holding circuit 71 that detects the voltage applied to the holding circuit 71 and performs a predetermined operation. It is connected to a CPU (Central Processing Unit) 72 that performs the process, a memory 73 that is operated by the CPU 72, and a battery (or capacitor) 74 that supplies power to the holding circuit 71 (and the CPU 72 and memory 73 as necessary). . Note that the holding circuit 71, CPU 72, memory 73, and battery 74 that constitute these electric circuits are mounted on a circuit board 100 that is separate from the first board 20 and the second board 40, and are protected from tampering. For this purpose, it is arranged in an area surrounded by the first board 20, the second board 40, and the connector 60.
Further, the conductive patterns formed on the first substrate 20 and the second substrate 40 may be connected to jumper wires 76 that directly connect the first substrate 20 and the second substrate 40, as shown in FIG. are connected to each other by Further, the battery 74 is kept on at all times to ensure operation of the device regardless of whether the device to which the device is attached is powered on or off.

前記異方性導電ゴム壁61は、図3に示すように、一対の絶縁層62の間に導電層63を配置して構成されている。該導電層63は、図3の上下方向に傾斜して延在する導電部64と絶縁部65とを交互に配置した構造を有する。 The anisotropic conductive rubber wall 61 is constructed by disposing a conductive layer 63 between a pair of insulating layers 62, as shown in FIG. The conductive layer 63 has a structure in which conductive parts 64 and insulating parts 65, which extend obliquely in the vertical direction in FIG. 3, are alternately arranged.

前記導電部64は、図4に示すように、GND(接地用)接続部64Aと、検知用接続部64Bとを4本ずつ交互に配置した構成を有する。
前記GND接続部64Aは、第1の基板20(または第2の基板40)に形成された回路パターンのうち、GNDに接続されたGNDパターン10の幅に対応して複数(図示例では4本ずつ)配置された領域に配置され、検知用接続部64Bは、前記保持回路71に接続されたタンパー検知用信号が流れる検知用パターン11の幅に対応して複数(図示例では4本)配置された領域に配置されている。
すなわち前記GND接続部64Aは、第1の基板20(または第2の基板40)に形成された回路パターンのうち、GNDに接続されたGNDパターン10の幅(図4に示す第1の基板20(または第2の基板40)と交差する面における左右方向への幅)に対応して、絶縁部65により相互間を絶縁して4本ずつ配置されている。また検知用接続部64Bは検知用信号が流れる検知用パターン11の幅(図4に示す第1の基板20(または第2の基板40)と交差する面における左右方向への幅)に対応して、絶縁部65により相互間を絶縁して4本ずつ配置されている。なお図4には、第1の基板20のGNDパターン10、検知用パターン11と導電層63との配置を示したが、図5に示す第2の基板40のGNDパターン30、検知用パターン31についても、導電層63に対して上記第1の基板20のGNDパターン10、検知用パターン11と同様に配置されている。
As shown in FIG. 4, the conductive portion 64 has a configuration in which four GND (grounding) connection portions 64A and four detection connection portions 64B are alternately arranged.
Among the circuit patterns formed on the first substrate 20 (or the second substrate 40), the GND connection portions 64A are arranged in plurality (four in the illustrated example) corresponding to the width of the GND pattern 10 connected to GND. A plurality of detection connection parts 64B (four in the illustrated example) are arranged in a region corresponding to the width of the detection pattern 11 through which the tamper detection signal connected to the holding circuit 71 flows. It is located in the designated area.
In other words, the GND connection portion 64A has the width of the GND pattern 10 connected to GND (the width of the first substrate 20 shown in FIG. 4) among the circuit patterns formed on the first substrate 20 (or the second substrate 40). (or the width in the left-right direction in the plane intersecting with the second substrate 40), and are insulated from each other by insulating portions 65, and are arranged in groups of four. Furthermore, the detection connection portion 64B corresponds to the width of the detection pattern 11 through which the detection signal flows (width in the left-right direction on the plane intersecting the first substrate 20 (or second substrate 40) shown in FIG. 4). Four of them are arranged with each other being insulated from each other by an insulating part 65. Although FIG. 4 shows the arrangement of the GND pattern 10, the detection pattern 11 and the conductive layer 63 on the first substrate 20, the GND pattern 30 and the detection pattern 31 on the second substrate 40 shown in FIG. are also arranged in the same way as the GND pattern 10 and the detection pattern 11 of the first substrate 20 with respect to the conductive layer 63.

前記コネクタ60は、前記GND接続部64A、検知用接続部64Bが厚さ方向に対して傾斜していることから、前記第1の基板20と第2の基板40との間への挿入方向によって、GNDパターン10、30と検知用パターン11、31の接続の組み合わせを変更することができる。
すなわち、図5(a)と(b)とに示すように、コネクタ60の挿入方向を逆に(GND接続部64A、検知用接続部64Bの傾斜方向が反対になるように)することによって、前記第1の基板20と第2の基板40とのGNDパターン10、30と検知用パターン11、31との内、互いに接続されるものの組み合わせを変更することができる。
Since the GND connection part 64A and the detection connection part 64B are inclined with respect to the thickness direction, the connector 60 can be inserted into the space between the first board 20 and the second board 40 depending on the direction , the combination of connections between the GND patterns 10, 30 and the detection patterns 11, 31 can be changed.
That is, as shown in FIGS. 5(a) and 5(b), by reversing the insertion direction of the connector 60 (so that the inclination directions of the GND connection part 64A and the detection connection part 64B are opposite), The combination of the GND patterns 10, 30 and the detection patterns 11, 31 of the first substrate 20 and the second substrate 40 that are connected to each other can be changed.

前記第1の基板20および第2の基板40は、これらに導体ピン等を差し込んで接触させようとするタンパー行為を検知するためのタンパー検出回路を備える。
このタンパー検出回路は、図2に示す回路基板100上の保持回路71とバッテリー74とによって実現されるもので、図6に示すように、第1の基板20の下面(第1の基板20、第2の基板40とコネクタ60とによって囲まれた面)に複数の(図示例では二つの)検出用導体パターン75を備える。これらの検出用導体パターン75は、前記第1の基板20の検知用パターン11のうち複数のものを互いに接続するように配置されている。なお前記検出用導体パターン75は、第2の基板40に設けても、あるいは、第1の基板20と第2の基板40との両方に設けても良い。また前記検知用パターン11は、前記回路基板100に形成された接続用の導体パターンあるいはジャンパ導体線によって、図2に示す前記保持回路71に接続されている。
前記検出用導体パターン75は、図示例では渦巻き状をなすが、タンパー行為により差し込まれた導体ピン等との接触の確率を高めるべく、できるだけ隙間なく(差し込まれる可能性のある導体ピン等の外形より小さい間隔で)配置されていれば、他の形状であっても良い。
The first substrate 20 and the second substrate 40 are equipped with a tamper detection circuit for detecting a tampering action in which a conductive pin or the like is inserted into them to bring them into contact.
This tamper detection circuit is realized by the holding circuit 71 and battery 74 on the circuit board 100 shown in FIG. 2, and as shown in FIG. A plurality of (two in the illustrated example) detection conductor patterns 75 are provided on the surface surrounded by the second substrate 40 and the connector 60. These detection conductor patterns 75 are arranged so as to connect a plurality of detection patterns 11 of the first substrate 20 to each other. Note that the detection conductor pattern 75 may be provided on the second substrate 40 or on both the first substrate 20 and the second substrate 40. Further, the detection pattern 11 is connected to the holding circuit 71 shown in FIG. 2 by a connection conductor pattern or jumper conductor wire formed on the circuit board 100.
The detection conductor pattern 75 has a spiral shape in the illustrated example, but in order to increase the probability of contact with a conductor pin etc. inserted by tampering, the detection conductor pattern 75 has as few gaps as possible (the outer shape of the conductor pin etc. that may be inserted). Other shapes may be used as long as they are arranged (with smaller spacing).

一の検出用導体パターン75の一端は、図7に示すように、回路基板100に実装されたバッテリー74から供給される電源VBATに保持回路71中のプルアップ抵抗R1を介して接続され、他端は、保持回路71の接地点GNDにプルダウン抵抗R4を介して接続されている。同様に、他の検出用導体パターン75の一端は、回路基板100に実装されたバッテリー74から供給される電源VBATにプルアップ抵抗R3を介して接続され、他端は、保持回路71の接地点GNDにプルダウン抵抗R6を介して接続されている。この接続により、プルアップ抵抗R1、R3、プルダウン抵抗R4、R6の抵抗値に応じた分圧比の電圧が前記検出用導体パターン75に印加される。 As shown in FIG. 7, one end of the first detection conductor pattern 75 is connected to the power supply VBAT supplied from the battery 74 mounted on the circuit board 100 via a pull-up resistor R1 in the holding circuit 71, and the other The end is connected to the ground point GND of the holding circuit 71 via a pull-down resistor R4. Similarly, one end of the other detection conductor pattern 75 is connected to the power supply VBAT supplied from the battery 74 mounted on the circuit board 100 via a pull-up resistor R3, and the other end is connected to the ground point of the holding circuit 71. It is connected to GND via a pull-down resistor R6. With this connection, a voltage having a division ratio corresponding to the resistance values of the pull-up resistors R1 and R3 and the pull-down resistors R4 and R6 is applied to the detection conductor pattern 75.

プルアップ抵抗はプルダウン抵抗の10分の1の値になっているため、検出用導体パターン75のタンパー検知信号は、導通している状態ではHレベルになる。
導通している通常の状態では、検出用導体パターン75のタンパー検知信号はHレベルであり、図7の論理素子77の論理積出力はHレベルになる。
タンパー行為があり、検出用導体パターン75が切断、或いはGNDパターンとショートした場合、該検出用導体パターン75のタンパー検知信号はLレベルとなり、論理素子77の論理積出力はLレベルになる。
検出用導体パターン75に上記のようにタンパー検知用の電圧を印加することにより、第1の基板20、第2の基板40や異方性導電ゴムにより構成されたコネクタ60を外したり破壊する行為や、異方性導電ゴムにより構成されたコネクタ60の絶縁部を狙って細い針状のものを突き刺したりする行為を防ぐことを可能としている。コネクタ60のフットパターンやタンパー検知用パターンをショートさせて基板を外す行為に対しても、前記絶縁層62と導電層63とを斜めに配置していることで、ショートさせるべき導体パターンを特定しづらくしている。
また万が一成功したとしても、異方性導電ゴムにより構成されたコネクタ60の挿入方向が一定でないことから、2台目以降は異方性導電ゴムコネクタの挿入方向が同一でない場合には、ショートすべきパターンが変わるため同様のタンパー行為を行った場合に論理積の値が変わりタンパー行為を検知することできる。
Since the pull-up resistor has a value that is one-tenth of the pull-down resistor, the tamper detection signal of the detection conductor pattern 75 is at H level in a conductive state.
In the normal conductive state, the tamper detection signal of the detection conductor pattern 75 is at H level, and the AND output of the logic element 77 in FIG. 7 is at H level.
If there is a tampering action and the detection conductor pattern 75 is cut or short-circuited with the GND pattern, the tamper detection signal of the detection conductor pattern 75 becomes L level, and the AND output of the logic element 77 becomes L level.
The act of removing or destroying the first substrate 20, the second substrate 40, and the connector 60 made of anisotropic conductive rubber by applying a voltage for tamper detection to the detection conductor pattern 75 as described above. Also, it is possible to prevent the act of piercing a thin needle-like object aiming at the insulating part of the connector 60 made of anisotropic conductive rubber. Even when the foot pattern or tamper detection pattern of the connector 60 is short-circuited and the board is removed, the insulating layer 62 and the conductive layer 63 are arranged diagonally, so that the conductor pattern to be short-circuited can be identified. It's making it difficult.
In addition, even if it is successful, the insertion direction of the connector 60 made of anisotropic conductive rubber is not constant, so if the insertion direction of the anisotropic conductive rubber connector is not the same for the second and subsequent units, a short circuit will occur. Since the exponent pattern changes, if a similar tampering action is performed, the value of the logical product will change and the tampering action can be detected.

次に、図8を参照して、上記のように構成された情報処理装置における耐タンパー制御の動作について説明する。
ステップSP1
タンパー行為を行われる、すなわち、前記第1の基板20、第2の基板40、コネクタ60により保護された個所に対して、ピン等を挿入する等の行為が行われ、前記第1の基板20、第2の基板40に設けられた検出用導体パターン75やコネクタ60を構成する異方性導電ゴム壁61の導電層63が切断され、あるいは、前記検出用導体パターン75、導電層63等の所定の電圧が印加された導体が前記ピン等と接触することによってグランドGNDにショートした状態となると、一実施形態にかかる情報処理装置が耐タンパー処理を開始する。
ステップSP2
前記バッテリー74によって所定の電圧が印加されている検知用パターン11、31の信号レベルが変化する。
ステップSP3
情報処理装置に電源が入っているか否かを判定し、電源が入っていなければステップSP4へ進み、電源が入っていればステップSP5へ進む。
ステップSP4
電源が入っていない場合には、バッテリー74によって保持回路71による検知が保持される。
ステップSP5
保持回路71が保持している信号が、当初の出力HからLに切り替わったか否かを判断し、切り替わった場合にタンパーが行われたと判断して、所定の処理、例えば、メモリ73に記憶された情報の消去や無効化、あるいは、タンパーがあった旨の音、光等の出力による表示、上位階層の情報機器への通知等の処理を行う。
Next, with reference to FIG. 8, the operation of tamper-resistant control in the information processing apparatus configured as described above will be described.
Step SP1
A tampering action is performed, that is, an action such as inserting a pin or the like into a portion protected by the first board 20, the second board 40, and the connector 60, and the first board 20 is tampered with. , the detection conductor pattern 75 provided on the second substrate 40 and the conductive layer 63 of the anisotropic conductive rubber wall 61 constituting the connector 60 are cut, or the detection conductor pattern 75, the conductive layer 63, etc. When a conductor to which a predetermined voltage is applied comes into contact with the pin or the like and is short-circuited to the ground GND, the information processing device according to one embodiment starts tamper-proofing processing.
Step SP2
The signal level of the detection patterns 11 and 31 to which a predetermined voltage is applied by the battery 74 changes.
Step SP3
It is determined whether or not the information processing device is powered on. If the information processing device is not powered on, the process proceeds to step SP4; if the information processing device is powered on, the process proceeds to step SP5.
Step SP4
When the power is not turned on, the detection by the holding circuit 71 is held by the battery 74.
Step SP5
It is determined whether the signal held by the holding circuit 71 has switched from the initial output H to L, and if the signal has been switched, it is determined that tampering has been performed, and a predetermined process, for example, is stored in the memory 73. It performs processing such as erasing or invalidating information that has been tampered with, displaying the presence of a tamper by outputting sound or light, and notifying higher-level information devices.

一実施形態にあっては、何者かが本構成の電子機器に対してタンパー行為を働くと、第1の基板20、第2の基板40の検出用導体パターン75がショート、もしくは断線する。また、第1の基板20、第2の基板40の間のコネクタ60に対してタンパー行為を働いた際にも、該コネクタ60を構成する異方性導電ゴムの導電層63にショート、もしくは断線が発生する。そして、上記ショートあるいは断線によって、検知用パターン11、31に接続された、保持回路71の一部となる論理素子77の出力信号レベルがハイからローレベルに変化することによりタンパーの発生を検出し、機密情報を消去する等、情報の改ざんや漏洩を防止することができる。 In one embodiment, when someone tampers the electronic device with this configuration, the detection conductor patterns 75 on the first substrate 20 and the second substrate 40 are short-circuited or disconnected. Furthermore, when a tampering action is performed on the connector 60 between the first substrate 20 and the second substrate 40, the conductive layer 63 of the anisotropic conductive rubber constituting the connector 60 may be short-circuited or disconnected. occurs. Then, due to the short circuit or disconnection, the output signal level of the logic element 77, which is connected to the detection patterns 11 and 31 and which is part of the holding circuit 71, changes from high to low level, thereby detecting the occurrence of tampering. It is possible to prevent information from being tampered with or leaked by, for example, deleting confidential information.

以上説明したように、一実施形態の情報処理装置は、以下に記載する効果を有する。
第一の効果は、基板とコネクタに囲まれた空間に対してのタンパー行為を検出することが出来ることである。
第二の効果は、異方性導電ゴムコネクタにより、タンパー行為から保護したい箇所を囲い、基板中にタンパー検知用の導体パターンを設けることによって、基板間を狙ったタンパー行為も防げることである。
第三の効果は、異方性導電ゴムコネクタの導電パターンの導電方向を斜めにすることで、絶縁部を狙って側面から細い針状のものを突き刺したりする行為やフットパターンのショートの難易度を上げ、耐タンパー性を更に向上させることである。
As explained above, the information processing device of one embodiment has the effects described below.
The first effect is that tampering of the space surrounded by the board and connector can be detected.
The second effect is that by enclosing the area to be protected from tampering using an anisotropic conductive rubber connector and providing a conductor pattern for tamper detection on the board, tampering between boards can be prevented.
The third effect is that the direction of conduction of the conductive pattern of the anisotropic conductive rubber connector is diagonal, which makes it more difficult to puncture the insulation with a thin needle-like object from the side or short the foot pattern. The goal is to further improve tamper resistance.

第1の基板、第2の基板、およびこれらに実装された導体パターンの形状、異方性導線ゴムの導電方向、各層の厚さ、配置等の構成は一実施形態に限定されるものではない。
また、本発明の一実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
The configurations of the first substrate, the second substrate, the shapes of the conductor patterns mounted thereon, the conductive direction of the anisotropic conductor rubber, the thickness of each layer, arrangement, etc. are not limited to the one embodiment. .
Furthermore, although one embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings, the specific configuration is not limited to this embodiment, and may include design changes within the scope of the gist of the present invention.

本発明は、情報処理装置のタンパー対策に利用することができる。 INDUSTRIAL APPLICATION This invention can be utilized as a countermeasure against tampering of an information processing device.

1 第1の導体パターン
2 第1の基板
3 第2の導体パターン
4 第2の基板
5 導電層
6 側壁部
7 電気回路
20 (第1の)基板
40 (第2の)基板
10、30 (GND)パターン
11、31 (検知用)パターン
60 コネクタ
61 異方性導電ゴム壁
62 絶縁層
63 導電層
64 導電部
64A GND用接続部
64B 検知用接続部
65 絶縁部
71 保持回路
72 CPU
73 メモリ
74 バッテリー
75 検出用導体パターン
76 ジャンパ線
77 論理素子
1 First conductor pattern 2 First substrate 3 Second conductor pattern 4 Second substrate 5 Conductive layer 6 Side wall portion 7 Electric circuit 20 (First) substrate 40 (Second) substrates 10, 30 (GND ) Patterns 11, 31 (For detection) Pattern 60 Connector 61 Anisotropic conductive rubber wall 62 Insulating layer 63 Conductive layer 64 Conductive part 64A GND connection part 64B Detection connection part 65 Insulation part 71 Holding circuit 72 CPU
73 Memory 74 Battery 75 Detection conductor pattern 76 Jumper wire 77 Logic element

Claims (3)

絶縁基板の少なくとも一の面に所定形状の第1の導体パターンを備える第1の基板と、
該第1の基板の前記一の面と対向して配置され、前記第1の導体パターンに対し前記一の面に沿ってずれた位置に第2の導体パターンを備える第2の基板と、
前記第1の導体パターンと前記第2の導体パターンとを電気的に接続する導電層と、
前記第1の基板と第2の基板との間に配置されてこれらを互いに機械的に接続する側壁部と、
これら第1の基板と第2の基板と側壁部とに囲まれた領域に設けられた電気回路と、
有し、
前記導電層の前記第1の導体パターンの側の端部と、前記導電層の前記第2の導体パターンの側の端部との位置は、前記一の面に沿ってずらされており、
前記側壁部が備える導電層は、前記第1の基板の一の面に沿う方向視において、斜めに傾いて配置され、
前記第1の基板は、前記第1の導体パターンに対して絶縁された第3の導体パターンを備え、
前記第2の基板は、前記第2の導体パターンに対して絶縁され、前記第1の導体パターンおよび第3の導体パターンに対し、前記一の面に沿ってずれて配置された第4の導体パターンを備え、
前記導電層は、前記第1の導体パターンと第2の導体パターンとを接続する第1の導電層と、前記第3の導体パターンと第4の導体パターンとを接続する第2の導電層と、これら第1の導電層と第2の導電層との間に介在する絶縁層とにより構成され、
前記第1の基板、第2の基板の少なくともいずれかは、前記第3の導体パターン、第4の導体パターンの少なくともいずれかに接続された検出用導体パターンを備え、
前記検出用導体パターンは、前記第1の基板、第2の基板の少なくともいずれかを含む平面内で複数回屈曲した形状であって、該検出用導体パターンへ差し込まれる可能性がある導体の外形より小さい間隔で配置されている、
情報処理装置。
a first substrate having a first conductor pattern of a predetermined shape on at least one surface of the insulating substrate;
a second substrate disposed opposite to the one surface of the first substrate and comprising a second conductor pattern at a position shifted along the one surface with respect to the first conductor pattern;
a conductive layer that electrically connects the first conductor pattern and the second conductor pattern ;
a side wall portion disposed between the first substrate and the second substrate to mechanically connect them to each other;
An electric circuit provided in a region surrounded by the first substrate, the second substrate, and the side wall portion;
has
The positions of the end of the conductive layer on the first conductor pattern side and the end of the conductive layer on the second conductor pattern side are shifted along the one surface,
The conductive layer included in the side wall portion is arranged obliquely when viewed in a direction along one surface of the first substrate,
The first substrate includes a third conductor pattern insulated with respect to the first conductor pattern,
The second substrate is insulated from the second conductor pattern, and has a fourth conductor disposed offset from the first conductor pattern and the third conductor pattern along the one surface. with a pattern,
The conductive layer includes a first conductive layer connecting the first conductive pattern and the second conductive pattern, and a second conductive layer connecting the third conductive pattern and the fourth conductive pattern. , an insulating layer interposed between the first conductive layer and the second conductive layer,
At least one of the first substrate and the second substrate includes a detection conductor pattern connected to at least one of the third conductor pattern and the fourth conductor pattern,
The detection conductor pattern has a shape that is bent multiple times within a plane including at least one of the first substrate and the second substrate, and has an outer shape of a conductor that may be inserted into the detection conductor pattern. placed at smaller intervals,
Information processing device.
前記第1の導電層と第2の導電層と絶縁層とは、前記第1の基板の一の面に沿う方向視において、斜めに傾いて配置された、
請求項1に記載の情報処理装置。
The first conductive layer, the second conductive layer, and the insulating layer are arranged obliquely when viewed in a direction along one surface of the first substrate.
The information processing device according to claim 1 .
前記電気回路は、前記第1の導電層と第2の導電層との導通の有無を検出する論理回路である、
請求項1または2に記載の情報処理装置。
The electric circuit is a logic circuit that detects the presence or absence of conduction between the first conductive layer and the second conductive layer.
The information processing device according to claim 1 or 2 .
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