JP7407889B2 - 単一エッジデバイスにおける複数の機械学習モデルの実行の最適化 - Google Patents

単一エッジデバイスにおける複数の機械学習モデルの実行の最適化 Download PDF

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Description

本発明は、一般に製造システムに関し、より詳細にはエッジデバイスにおける機械学習モデルの実行の最適化に関する。
製造された製品の良品質を確実にすることは、工場における重要な要件の1つである。品質検査プロセスは、製造の種類によって決定される。分散した製造の場合、製造対象の部品は、組み立てラインを通って、またはライン間を移動する。部品がラインを通って移動する場合、部品は様々なプロセスを通過し、各プロセスは、特定の製造タスクを実行する。各プロセスは、機械によって、または人間による手作業の動作によって実施されることが可能であり、各プロセスの出力時に品質問題(たとえば、不良またはエラー)が存在し得る。多くの種類の分散製造の場合、光学的検査、または何らかの類似の種類の画像分析ベースの品質検査によって、エラーが判断される。これは、通常、最終プロセス、または固定のいくつかの中間プロセスにおいて行われる。
このエラー検査の方法論は導入および動作が容易であるが、明らかな欠点を有する。プロセスにおいてエラーが発生した場合、そのエラーは、画像ベースの品質検査を有する後続のプロセス後にのみ検出される。しかしながら、エラーの早期の検出はより迅速な診断を実現する上で助けとなり、また、それ以降のラインでの欠陥部品の不必要な伝搬を防止し得る。
関連技術の品質検査システムにおける問題に対処するいくつかの直接的な手法が存在する。一方法は、各プロセス後にセンサ(カメラを含むがそれに限定されない)を導入することを含み、発生次第エラーを捕捉するようにデータの全てを分析するために、いくつかのエッジゲートウェイ(GW)またはクラウドソリューションを使用する場合がある。ただし、そのような実施は費用がかさむ。また、そのような実施は、エラーにつながるプロセスの事前確率などの詳細を考慮しない力任せのアプローチである。そのような情報は、オペレーショナルテクノロジー(OT)のドメイン知識の一部であり、入手されると、よりインテリジェントなソリューションにつながり得る。本明細書に記載の実施例は、そのようなプロセスの事前確率を考慮に入れたアプローチに関する。
本明細書に記載の実施例において、複数の製造プロセスを通過する部品を観察し、センサのサブセットによって監視された部品中にエラーが存在するが観察するためにそのセンサのサブセットをインテリジェントに選択する、センサを用いたシステムおよび方法が存在する。1つのプロセスでエラーを観察した場合、エラーが各プロセスで発生している確率を推定する。最終的に、特定のプロセスの異常の推定確率が所定の判断基準を上回ったとき、代わりとしてそのプロセスの観察を開始する。
本開示の態様は、複数のセンサを含むシステムのための方法を含み、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、方法は、観察のための複数のセンサのサブセットを選択することと、複数のセンサのサブセットから提供されたデータからの異常検出を実行することと、センサのサブセットからのセンサからの異常の検出に対して、検出された異常に基づいて複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することと、複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップに対する異常発生の確率を推定することと、所定の判断基準を満たす異常発生の推定された確率に対して、観察のための複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップと関連した複数のセンサのうちのセンサを選択することとを含む。
本開示の態様は、複数のセンサを含むシステムのための命令を有するコンピュータプログラムを含み、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、命令は、観察のための複数のセンサのサブセットを選択することと、複数のセンサのサブセットから提供されたデータからの異常検出を実行することと、センサのサブセットからのセンサからの異常の検出に対して、検出された異常に基づいて複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することと、複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップに対する異常発生の確率を推定することと、所定の判断基準を満たす異常発生の推定された確率に対して、観察のための複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップと関連した複数のセンサのうちのセンサを選択することとを含む。
本開示の態様は、複数のセンサを含むシステムを含み、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、システムは、観察のための複数のセンサのサブセットを選択する手段と、複数のセンサのサブセットから提供されたデータからの異常検出を実行する手段と、センサのサブセットからのセンサからの異常の検出に対して、検出された異常に基づいて複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択し、複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップに対する異常発生の確率を推定する手段と、所定の判断基準を満たす異常発生の推定された確率に対して、観察のための複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップと関連した複数のセンサのうちのセンサを選択する手段とを含む。
本開示の態様は、複数のセンサを含むシステムを管理する装置を含み、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、装置は、メモリから命令をロードしてプロセスを実行するように構成されたプロセッサを含み、プロセスは、観察のための複数のセンサのサブセットを選択することと、複数のセンサのサブセットから提供されたデータからの異常検出を実行することと、センサのサブセットからのセンサからの異常の検出に対して、検出された異常に基づいて複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することと、複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップに対する異常発生の確率を推定することと、所定の判断基準を満たす異常発生の推定された確率に対して、観察のための複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップと関連した複数のセンサのうちのセンサを選択することとを含む。
一実施例による、提案されたシステムの配備概要を示す図である。 一実施例による、時間の経過にともなう様々なプロセスにおける部品の例示的な到着を示す図である。 一実施例による、提案されたシステムアーキテクチャの例示的なブロック図である。 一実施例による、MLモデルリポジトリの一例を示す図である。 一実施例による、開始T0後のnTsに開始する時間間隔におけるセンサデータベースのデータの一例を示す図である。 一実施例による、開始T0後の(n+1)Tsに開始する時間間隔における例示的なセンサデータベースを示す図である。 一実施例による、初期化モジュールの詳細を示す図である。 一実施例による、プロセスエラー推定モジュールを示す図である。 一実施例による、プロセス選択モジュールのための例示的なフローを示す図である。 一実施例による、センサモジュールのフローを示す図である。 一実施例による、初期システムの例を示す図である。 一実施例による、初期システムの例を示す図である。 一実施例による、初期システムの例を示す図である。 一実施例による、プロセスエラー推定モジュールによる確率に対する例示的な更新を示す図である。 一実施例による、プロセス選択モジュールによる例示的な選択を示す図である。 一実施例による、管理装置にネットワーク接続された複数のアセットを含むシステムを示す図である。 いくつかの実施例での使用に適した例示的なコンピュータデバイスを有する例示的なコンピューティング環境を示す図である。
以下の詳細な説明は、本願の図および実施例の詳細を提供するものである。図間で重複している要素の参照番号および説明は、明確性のために省略される。説明全体で使用される語は例として提供されたものであり、限定することは意図されない。たとえば、「自動」という語の使用は、本願の実施を実践する当業者の所望の実施に応じて、実施の特定の態様に対するユーザまたは管理者の制御を含む、全自動または半自動の実施を含み得る。選択は、ユーザインターフェースまたは他の入力手段を介してユーザによって実行可能であり、または所望のアルゴリズムを介して実施され得る。本明細書に記載するような実施例は、単独で、または組み合わせによってのいずれかで利用可能であり、その実施例の機能は、所望の実施による任意の手段を介して実施され得る。
本明細書に記載の実施例において、複数のステップの結果のそれぞれを観察するセンサを有するシステムおよび方法が存在し、いくつかのセンサは、異常を観察するために選択される。選択されたセンサのうちの1つから異常が検出されると、システムおよび方法は、複数のプロセスステップのそれぞれの異常の確率を推定し、特定のステップの異常の推定確率が所定の判断基準を上回った場合に、システムおよび方法は、代わりとして、そのステップの観察を開始する。
図1は、一実施例による、提案されたシステムの配備概要を示す図である。製品11のサンプル部品は、一連のプロセスX1101、X2102、X3103などを通過する。各プロセス後、対応する監視複合センサ(すなわち、プロセスX1101を監視するセンサ121、プロセスX2102を監視するセンサ122、プロセスX3103を監視するセンサ123)が存在する。なお、ここで、「センサ」という用語は、カメラを含むがこれに限定されない複数のセンサからの集約値を示すために使用されることに留意されたい。各プ
ロセスステップにおいて、製品11の新しい部品が初期プロセスX1にTS秒毎に到着し、プロセスに既に存在する部品が次のプロセスに移動するものとする。
一例が図2に示され、図2は、一実施例による、時間の経過にともなう様々なプロセスにおける部品の例示的な到着を示す。任意の時間間隔TS(プロセスステップ)において、全センサからのデータがエッジGW13で収集される。エッジGW13は、品質問題またはエラーを検出するために機械学習/人工知能(ML/AI)ベースの推論を実行し、これは、間隔TS中に完了される必要がある。たとえば、図2の時間3TSに、エッジGWは、X1での部品004からのセンサデータ、X2での部品003からのセンサデータ、およびX3での部品002からのセンサデータを有する。目標としては、費用有効な解決策を提供することであるため、この単一のエッジGWに多数のセンサが接続されることが仮定される。これは、さらに、エッジGWが同一の時間間隔において全センサからのデータを分析できないことを意味する。
この実施例によれば、エッジGW13は、全センサ121、122、123などからデータを受信し、エラー検査/異常検出を実行するなどのために、観察のためのセンサのサブセットを動的に選択する。たとえば、センサ122が選択された場合、これは、部品がプロセスX2にある時、センサ122から提供されたデータは、異常検出の実行によって、品質問題のために点検され得ることを意味する。いずれのプロセスがエラーを有する可能性が最も高いかの推定に基づいて、センサ(および対応するプロセス)が選択される。時間の経過にともなって、提案されるシステムおよび方法は、エラーの発生後の遅延を最小限としながらエラーが捕捉されることを確実にする。
本明細書に記載するような実施例では、センサのサブセットのうちの1つまたは複数のセンサから異常またはエラーが検出された場合、その異常と関連するプロセスステップが選択されるとすぐに、選択されたプロセスステップに対する異常発生の確率が推定される。そのような発生の推定確率が所定の判断基準を満たす場合、そのような選択されたプロセスステップ(たとえば、別のサブセット)と関連したセンサは、次の繰り返しにおいて観察のために使用される。本明細書に記載されるように、所望の実施により、所定の判断基準は、閾値に基づくことが可能であり、最も高い確率を有することに基づいて選択されることが可能である、等である。エッジGW121が、所望の実施に応じて、限定されたコンピューティングリソースを有する傾向にあるため、エッジGW121は、複数のセンサの前のサブセットからのデータの観察も停止することもでき、観察のためにセンサの他のサブセットを使用できる。
それによって、1つの処理エンティティ(エッジGW)でも、エラーを有する可能性が最も高いプロセスではない場合がある固定プロセスにおいて点検をネイティブに実行する関連技術のシステムと比較して、より良好な性能が実現可能である。エラーを有する可能性が最も高いプロセスは静的ではなく、むしろ、そのようなプロセスは、単純に選択され得る。本明細書に記載の実施例は、ドメイン知識からの静的アプリオリ情報と、動的な製造管理条件(たとえば、機械不具合、シフトの変更、新人の未経験の作業者など)との組み合わせを利用して、エラーを有するプロセスを動的に評価する。
エッジGW13は、いずれのプロセスをエラー検査のために選択するかなど、重要な管理およびオーケストレーション命令を取得するために、リモート管理サーバ14と定期的に通信する。高帯域幅センサデータは、ローカルとするためにエッジGW13に存在し、リモートサーバ14への送信の必要性をなくし、それによって費用を節約する。
さらに、そのような実施例によって、センサの数を、観察のためにデータが処理されるセンサのサブセットに限定することによって、センサデータを処理するための必要なコンピューティングリソースが節約される。非選択センサは、所望の実施にしたがってアクティブ状態に維持されることが可能であり、または所望の実施にしたがってリソースを節約するために、アクティブなセンサの数を削減するようにオフ状態にされることが可能である。そのようにして、観察のためにエッジGWによって管理されるセンサの効率的なサブセットを利用しながら、エッジGWの限定されたリソースは適切に管理され得る。
図3は、一実施例による、提案されたシステムアーキテクチャの例示的なブロック図である。提案されたシステムのブロック図は図3に示され、管理サーバ14とエッジGW13との間の相互作用をとらえたものである。管理サーバ14は、以下のモジュールを含み得る。
初期化モジュール20は、本明細書に説明される重要なシステムパラメータを初期化する。初期化モジュール20は、ML/AIベースのエラー検査がそれらのセンサデータに対して実行されるように、いずれのプロセスが選択されるべきかなど、起動時のシステムの挙動を定義する。
プロセスエラー推定モジュール21は、時間間隔TS毎に、現在選択されている各プロセスに対する(エッジGWのMLモデル推論モジュール27からの)推論結果を観察する。エラーが観察された場合、いずれのプロセス(エラーが観察されたプロセス以前のプロセス)においてエラーが発生した可能性が最も高いかを推定する。推論を実行するためのさらなるリソースがそのエッジGWに存在する場合、さらなるプロセスからのセンサ値が分析され得る。
プロセス選択モジュール22は、ピックされるべき新規プロセスを選択し、それによって、それらのセンサデータに対してML/AIモデルベースのエラー/異常検査が実行される。これは、プロセスエラー推定モジュール21からの、いずれのプロセスがエラーを有する可能性が最も高いかについての推定に基づく。
サーバにおけるMLモデル更新モジュール23は、対応モジュールであるエッジにおけるMLモデル更新モジュール25に更新済みMLモデルを送信する。MLモデルは、部品における品質エラーまたは異常を判断する推論を実行する。この動作を実現するアプローチは複数存在し得る。最も一般的なのは、KubernetesによるMLモデルオーケストレーションであり、MLモデルは、ドッカーコンテナとしてパッケージングされ、サーバにおけるMLモデル更新モジュール23からエッジにおけるMLモデル更新モジュール25へ出荷される。
MLモデルリポジトリ24は、全ての可能なセンサ121、122、123などからのセンサデータに関して訓練されたいくつかの異なるMLモデルを格納する。この訓練は、本発明が属する分野で知られるように、任意の所望の実施にしたがって前もって行われると想定される。図4は、一実施例による、MLモデルリポジトリの一例を示す図である。所望の実施に応じて、MLモデルリポジトリは、各行が異なるMLモデルの識別子(ID)301であり各列がそのモデルの詳細を含む表形式を有し得る。そのような詳細は、データが訓練のために使用されているセンサを識別するそれぞれのデータソース302、生成プロセス中に割り当てられるコンテナのID303(なお、厳密に言えば、モデルリポジトリに格納されているものはコンテナ画像であり、実際に実行されているコンテナではないことに留意されたい)、監視しているデータソースまたはプロセスを識別するように説明的で有り得るコンテナの名称304、作成日305、コンテナが配備された時のサイズ306、および実際のコンテナ画像(MLモデル)307である。
エッジGW13は、定期的な間隔でサーバにおけるMLモデル更新モジュール23から1つまたは複数のMLモデル情報を受信し、302で識別されるデータソースのためにモデル307を実行する、エッジにおけるMLモデル更新モジュール25を含む。
エッジGW13は、さらに、センサの切り換えを制御しセンサ121、122、123などからデータを取得するセンサモジュール26を含む。このモジュールは、センサからのアナログデータへ接続し、そのデータをウィルス駆除し、機械学習のために後で分析され得る形式に変換するライブラリおよびデバイスドライバを有するものとする。
データベース29は、図5および図6に示されるデータの形態で、時間間隔TS毎にセンサ値を一時的に格納するために使用される。図5は、一実施例による、開始T0後のnTsに開始する時間間隔におけるセンサデータベース29のデータの一例を示す図である。図5の例は、T0+nTsからT0+(n+1)TSへの所与の時間間隔中にこのデータベース29のデータがどのように見えるかに関するものであり、T0は、何らかの開始時点(たとえば、システムが動作を開始した時点)であり、TSは、上述したように、その後に新規部品が組み立てラインに到着する時刻である。この表は、部品のID403および時間間隔404を含むキーフィールド401によってインデックスされる。表402のデータ部分は、部品403のデータを記録するデータソース405と、実際のセンサデータ406とを含む。なお、このデータベースは、TS毎に更新されることに留意されたい。
図6は、一実施例による、開始T0後の(n+1)TSに開始する時間間隔における例示的なセンサデータベースを示す図である。特に、図6は、データベースが次の間隔でどのように進化するかを示す。
図6に示すように、それぞれの新しい時点において、現在のエントリを格納するために、古いエントリのうちのいくつかは削除され得る。これは、エッジGWにおけるリソースによって決まる。本明細書に記載の実施例は、リソースが制約を受けているエッジGWを対象としたものであり、したがって、エッジGWで大格納容量を有するデータベースを管理することは可能ではない場合があるものとする。また、データベースのためのリソースが全くない場合もあるが、本明細書に記載されるような実施例は、状況に応じて修正可能である。
MLモデル推論モジュール27は、入力としてデータベース29からセンサデータ、およびエッジにおけるMLモデル更新モジュール25から対応MLモデルを取得し、推論を実行する。この推論の結果(すなわち、品質エラーの存否)は、管理サーバからプロセスエラー推定モジュール21へ渡される。
部品決定モジュール28は、MLモデル推論モジュール27に基づいて部品をどのように扱うかを決定する。品質問題が存在する場合、工場の方針にしたがって、又は所望の実施にしたがって、その部品は破棄されるか、または二次点検に進められる。問題がない場合、TSの時間後に次のプロセスに進められる。
図7は、一実施例による、初期化モジュールの詳細を示す図である。初期化モジュール20は、以下のフローを含む。
601で、製品情報を製造実行システム(MES)から取得する。これによって、いずれの間隔TSで、その製品の部品が到着するかがわかる。これによって、その製品の品質問題を検出することに関連するMLモデルをどのように選択するかがわかる。また、602で説明するように、製品が通過しなければならないプロセスに関する情報を与える。
602で、601で識別された部品が通過するプロセスのセットが取得され、X1からXNまでインデックスされ、ここで、Nはその製品に対するプロセスの総数を示す。これらのプロセスは、製品によって異なり得る。
603で、フローは、1からNまでの全てのKに対する測度P(0)(XK)を初期化し、これによって、品質エラーが発生した場合はプロセスXKに起因する、という信条が取り込まれる。これは、工場のオペレータから取得されたドメイン知識に基づいて割り当てられ得る。ドメイン知識が存在しない場合、可能な一実施例は、その値を1/Nに設定する
。特別な場合において、P(0)(XK)が確率測度であると考えられる場合、0≦P(0)(XK)≦1であり、以下であることをさらに確実とする必要がある。
Figure 0007407889000001
604で、フローは、プロセス選択モジュール22で後に使用され得る基準分布Q(K)を定義し、その詳細は本明細書において後述される。
605で、フローは、最初に監視され得るN個のプロセスからプロセスの数Mを決定する。これは、それらのセンサからの値がMLモデル推論モジュールに渡されることを意味する。前述した通り、本実施例は、時間間隔において全N個のセンサからのデータを分析できない、リソースが制約されたエッジGWを対象とするものである。また、プロセスの数Mの選択は、利用可能なコンピューティングリソースに基づいて規制され得る。
所望の実施に応じて、プロセスステップの数の選択は、利用可能なコンピューティングリソースに基づいて規制され得る。たとえば、そのエッジGWが利用可能なコンピューティングリソースに基づいて設定数のプロセスまでしか観察できない場合、プロセスの数Mは、所望の実施にしたがった数に設定され得る。同様に、そのエッジGWが、所定数のセンサまで観察するのに利用可能なコンピューティングリソースしか有さない場合、それらのM個のプロセスからのセンサは、所望の実施にしたがって特定の数まで規制され得る。
606で、それらのM個のプロセスの識別が決定され、ここで、Mは605で選択されたものである。エラーがこのプロセスで発生している場合は他の方法で検出されることができないため、最後のプロセスNが選択される。さらに、大部分のベースラインの現在のシステムにおいて、これは選択されているプロセスであり、したがって、システムがどの程度良好に動作するかを評価するのがより単純である。残りのM-1個のプロセスは、測度P(0)(XK)のM-1個の上位エントリとして選択される。P(0)(XK)のM-1個の一意の値が存在しない場合(全てが1/Nに初期化された場合など)、M-1個のプロセスを無作為に選択する。
607で、フローは、601で識別された製品および606で識別されたM個のデータソースに対する適切なMLモデルを選択する。なお、606のフローは、データソースと直接対応関係を有する監視対象のプロセスを識別することに留意されたい。
図8は、一実施例による、プロセスエラー推定モジュール21を示す図である。図8に示すようなプロセスエラー推定モジュール21の詳細は以下の通りである。
701で、フローは、時刻tにおいて、プロセスXK中の部品にエラーが発生したかを観察する。このフローは、MLモデル推論モジュール27からの推論結果を読み出すことによって、1からNの全プロセスKに対して(すなわち、それらの異なるプロセス中にある全ての異なる部品に対して)実行される。なお、ここで、tは、TSの不連続のプロセスステップにおいて増加することに留意されたい。
エラーが存在しない場合、702で、フローは、前の間隔、すなわち、P(t+1)(XK)=P(t)(XK)における確率を単純に保持する。
時刻tにおいてプロセスXK中における部品にエラーが観察された場合、時刻tにおいてプロセスXKでその部品にエラーが発生したことを意味しない。部品が前に何らかの他のプロセスにあった時にエラーが発生したが、全センサからのデータが分析されなかったために検出されなかった可能性がある。リソースが制約されたエッジGWの基本的な前提として、監視されているプロセスの数「M」は、605のフローで説明したように、プロセスの総数N未満である。
703で、フローは、まず、追加プロセスの数Lを決定し、そのデータは、新しい部品の到着前に、TSの時間内にエラーの原因を求めて検査され得る。これは、エッジGWにおいて利用可能なリソースによって決まる。なお、リソースが追加処理をサポートしないエッジGWに対して、所望の実施を容易にするために、このフローは必要に応じて省略され得ることに留意されたい。
704で、フローは、データの分析が必要なL個のプロセスを選択する。最初に、フローは、全ての分析済みセンサ値にわたる可能性を連結することによって、エラーが発生した可能性のある全ての可能性のあるプロセスを検討する。フローは、エラーを有する部品のIDと、エラーが発生した可能性のある時刻とを決定する。フローは、さらに、センサデータベース29に格納されたその時間間隔中のその部品IDと対応するデータが存在するかをチェックする。その後、フローは、発見的方法に基づいて、L個の部品IDおよび時間間隔を選択する。さらに、703で説明したように、リソースが追加処理をサポートしないエッジGWに対して、このフローは、所望の実施により残りの部分の動作に影響せずに省略され得ることができる。
705で、フローは、エラーが発生した可能性があるプロセスのセットS1を決定する。706で、フローは、エラーが発生した可能性がないプロセスのセットS2を決定する。707で、フローは、セットS1およびS2に対して個別に測度P(t+1)(XK)を更新する。このフローを実行する手法は複数存在し得る。第1の例では、測度P(t+1)(XK)は、セットS1におけるXKの値毎に増加される。たとえば、XKがS1に属する場合P(t+1)(XK)=P(t)(XK)+Dであり、またはXKがS1に属する場合P(t+1)(XK)=ρ*P(t)(XK)であり、ここで、Dおよびρは、初期化段階20において定義され得るシステム定数である。
第2の例では、P(t)(XK)は、各時刻tにおける確率測度であると考えられる。この場合、本実施例は、0≦P(t)(XK)≦1と、全tに対して以下を確実にする。
Figure 0007407889000002
なお、603のフローは、最初の時間ステップに対しても同様であることを確実にすることに留意されたい。したがって、時刻t+1では、セットS1で確率P(t)(XK)を増加するのに十分ではないが、その確率は、セットS2において同様に減少する必要もある。これを行うために、フローは、まず、セットS1からセットS2へ移動され得る適した確率塊Δを決定する。Δを決定するための判断基準は、移動後も、全確率が依然として0と1との間になければならないことである。以下の式によって実現され得ることがわかり、ただし、|S|は、セットSにおける濃度(エントリの個数)である。
Figure 0007407889000003
この後、フローは、新しい確率を以下の通り計算する。 セットS1の全XKに対して、P(t+1)(Xk)=P(t)(Xk)+Δ/|S1| セットS2の全XKに対して、P(t+1)(Xk)=P(t)(Xk)-Δ/|S2|
上記で説明したように、検出された異常に基づくプロセスステップの選択は、異常が検出されたセンサと関連するプロセスラインとともに、プロセスがどのように配備されたかに基づくプロセス順序に基づいて実行される。そのような関係は、工場のオペレータから提供されることが可能であり、または図2に示すような到着情報から導出されることが可能である。そのような要素のそれぞれの関連性は、統計的距離などの距離の形態で表される。次に、図9のプロセス選択モジュール22の詳細は以下の通りである。
801で、時刻tにおいて、フローは、測度Q(k)と測度P(t+1)(XK)との間の距離を比較する。先行技術で言及される距離の計算方法は、数多く存在し得る。たとえば、そのような計算は、ベクトルQ(k)とベクトルP(t)(XK)との間の平均二乗差を含み得るが、それに限定されない。確率測度に対する他の例は、カルバックライブラー距離の適用を含み得る。他の例は、距離計算の他の手法は、P(t)(XK)の個々の値を参照し、「k」の1つまたは複数の値を確認し、それらの全ての値「k」の値|Q(k)~P(t)(XK)|の関数として距離を計算することでもよい。これは、分布全体をともに参照することを含む他の例とは異なる。
802で、フローは、この距離が初期化モジュール20で定義されたような所定の閾値を上回っているかを決定する。802に対する回答が「いいえ」の場合、フローは、803に示すように何もしない。802に対する回答が「はい」の場合、804で、フローは、基準分布をQ(k)=P(t+1)(XK)に更新する。
805、806および807のフローは、初期化中に実行された605、606および607のフローと類似しているが、今回は時刻tで実行される。
805で、フローは、監視され得るN個のプロセスからプロセスの数Mを決定する。これは、それらのセンサからの値がMLモデル推論モジュールに渡されることを意味する。
806で、フローは、それらのM個のプロセスの識別を決定し、ここで、Mは805で選択されたものである。606のフローのように、最後または最終のプロセスNが常に選択される。残りのM-1個のプロセスは、測度P(t+1)(XK)のM-1個の上位エントリとして選択される。P(t+1)(XK)のM-1個の一意の値が存在しない場合、フローは、M-1個のプロセスを無作為に選ぶ。
807で、フローは、601のフローで識別された製品と、806のフローで識別されたM個のデータソースとに対する適切なMLモデルを選択する。
図10は、一実施例による、センサモジュールのフローを示す図である。図10に示すようなセンサモジュール26の例において、以下のフローが実行される。
信号901は、エッジにおけるMLモデル更新モジュール25から来る。信号901は、いずれのセンサがアクティブあるかに関する情報を含む。センサは、そのセンサのデータに対して実行される、エッジにおけるMLモデル更新モジュール25によって取得されたMLモデルが存在する場合に、アクティブであると判断される。センサのデータに対して実行される、エッジにおけるMLモデル更新モジュール25にMLモデルが存在しない場合、そのセンサは、非アクティブであると判断される。
任意の時間において、フローに902で示されるセンサ切換モジュールは、その時間において非アクティブであるが前の時間にアクティブであったセンサのいくつか(または全部)をオフ状態に切り換え得る。同様に、その時間においてアクティブであるがその前の時間に非アクティブであったいくつかのセンサをオン状態に切り換え得る。
データ取得モジュール903は、その後、オン状態に切り換えられた全センサからのデータ取得を実行する。このモジュールは、センサからのアナログデータへ接続し、そのデータをウィルス駆除し、機械学習のために後で分析され得る形式に変換するライブラリおよびデバイスドライバを有するものとする。
図11、図12、および図13は、一実施例による、初期システムの例を示す図である。提案されたシステムの動作を示すために、監視対象のプロセスが5個存在する図11に示した単純な例を考える。様々なモジュールの動作は以下の通りに示され得る。
初期化モジュール20はP(0)(XK)を初期化し、確率測度が仮定される。その後、図12に示すように、全てのKに対してP(0)(XK)=0.2となる。M=2と判断したとする。X5を選択し、その後、最初の監視のために残りのM-1=1個のプロセスを選択する。全てのP(0)(XK)が同じであるため、この選択は無作為に行われる。X3が選択されたとする。これが、図13の例において示される。本実施例は、プロセスX3およびX5で品質エラーを検出するために、X3およびX5におけるセンサからのデータに関して訓練されたMLモデルを選ぶ。サーバにおけるMLモデル更新モジュール2
3は、それらのモデルを、エッジにおけるMLモデル更新モジュール25へ更新する。
エッジGW13は、データ取得および推論をTS秒毎に定期的に実行する。推論の結果は、管理サーバのプロセスエラー推定モジュール21に渡され、プロセスエラー推定モジュール21は、どこでエラーが発生した可能性があるかの推定を試みる。たとえば、部品がX3にある時にその部品でエラーが観察されると、そのエラーは、部品がX1またはX2またはX3にあった時に発生した可能性がある。部品がX5にあった時に部品でエラーが観察された場合、そのエラーは、部品がX4またはX5にあった時に発生した可能性があるが、部品がX3にあった場合に部品がエラー検査を通過したため、X1からX3にあった時に発生した可能性はない。したがって、後者の例では、検出された異常またはエラーに基づいてプロセスステップを選択する際に、前に観察されたプロセスステップ(X3)まで、観察が行われなかった各非観察先行プロセスステップ(たとえば、そのプロセスの対応センサを監視しないため)(X4)とともに、エラーまたは異常が検出されたプロセスステップが選択される(X5)。
エッジGW13は、データ取得および推論をTS秒毎に定期的に実行する。推論の結果は、管理サーバのプロセスエラー推定モジュール21に渡され、プロセスエラー推定モジュール21は、どこでエラーが発生した可能性があるかの推定を試みる。たとえば、部品がX3にある時にその部品でエラーが観察されると、そのエラーは、部品がX1またはX2またはX3にあった時に発生した可能性がある。部品がX5にあった時にその部品でエラーが観察された場合、そのエラーは、部品がX4またはX5にあった時に発生した可能性があるが、部品がX3にあった場合に部品がエラー検査を通過したため、X1からX3にあった時に発生した可能性はない。
追加処理の影響を理解するために、部品に対してエラーがX3で観察された場合を考えるとともに、L=1がエッジGWにおける追加リソースであると考える。この場合、部品がX1またはX2にあった時に同一の部品の画像が格納されているかを確認するために、データベースに対する検査が行われる。格納されている場合、プロセスエラー推定モジュール21は、存在する1つの画像を選択し(または両方が存在する時にそれらのうちの1つを無作為に選択し)、推論を実行する。それに応じて、メモリまたはデータベースの格納センサデータに対する異常検出に基づいてプロセスステップを選択することが可能である。そのような実施例は、たとえば、エッジGWにおいてディスクドライブへデステージされたデータ、低優先度のセンサデータ、キャッシュ中に格納されている未処理センサデータなど、所望の実施に応じて実行され得る。
プロセスエラー推定モジュール21は時間の経過にともなって動作するため、確率P(t)(XK)を更新する。時刻「t」後に、その形態は、図14に示す通りとなるものとする。図14は、一実施例による、プロセスエラー推定モジュールによる確率に対する例示的な更新を示す図である。
プロセス選択モジュールは、その後、KLダイバージェンスなどの距離測度を使用して、現在のP(t)(XK)を、図12に示すような基準分布Q(k)と比較する。時刻「t」で距離が長いとみなされた場合、基準分布をQ(k)=P(t)(XK)に更新して新しいQ(k)に基づいて監視する新しいプロセスを選択することを決定する。この場合、実行される選択が図15に示される。P(t)(X2)が最も高い確率測度を有するためにプロセスX2が選択され、最後の確率測度であるためにプロセスX5が選択される。それに応じて、次の観察のためのプロセスステップの選択は、最後に観察されたプロセスステップとともに、異常またはエラー発生の最も高い推定確率を有するプロセスステップのうちのプロセスステップを含み得る。所望の実施に応じて、最も高いプロセスステップが選択されることが可能であり、または特定の閾値を上回るプロセスステップの全てが選択されることが可能である。
それによって、本明細書に記載の実施例は、時刻毎に各プロセスを分析する必要なく、複数の製造プロセスにおいてセンサデータ分析ベースの品質検査を同時に実行するためのインテリジェントな方法を容易にし得る。これは、工場に配備され得るリソースが制約されたIoTエッジGWで上記ソリューションを実施できるようにし、それによってそのデジタル変換を容易にする。
図16は、一実施例による、管理装置にネットワーク接続された複数のアセットを含むシステムを示す図である。1つまたは複数のアセットシステム1601は、管理装置1602に接続されたアセットシステム1601の対応オンボードコンピュータまたはモノのインターネット(IoT)デバイスを介して、ネットワーク1600(たとえばローカルエリアネットワーク(LAN)、ワイドエリアネットワーク(WAN))に通信可能に結合される。管理装置1602は、アセット1601から収集された履歴データを含むデータベース1603を管理し、さらに、アセットシステム1601中のアセットのそれぞれに対するリモート制御を容易にする。代替的な実施例では、アセットからのデータは、データを取り込む独自データベースなどの中央リポジトリまたは中央データベース、またはエンタープライズリソースプランニングシステムなどのシステムに格納されることが可能であり、管理装置1602は、中央リポジトリまたは中央データベースからのデータにアクセスしたり、データを取り出したりすることが可能である。アセットシステム1601は、所望の実施によるエアコンプレッサー、旋盤、ロボットアームなどであるが、それに限定されない、所望の実施にしたがって、組み立てラインまたは製造ラインなどの物理的プロセスで使用される物理的システムを含むことが可能であり、さらに、アセットシステム1601の基本アセットを管理するように構成されたエッジゲートウェイを含むことが可能である。そのようなアセット1601のセンサから提供されたデータは、分析が実行され得る、本明細書に記載するようなデータフローの役割を果たすことが可能であり、そのデータは、アセットシステム1601においてアセットのセンサからエッジゲートウェイへ送信されるとすぐに、そのようなデータは、管理装置1602による管理前に、本明細書の実施例に記載されるように、エッジ分析または異常検出で処理され得る。
図17は、アセットシステム1601でアセットを管理するエッジゲートウェイおよび図16に示すようなプロセスステップを監視する対応センサ、アセットシステム1601のアセットのオンボードコンピュータ、または管理装置1602など、いくつかの実施例での使用に適した例示的なコンピュータデバイスを有する例示的なコンピューティング環境を示す図である。コンピューティング環境1700におけるコンピュータデバイス1705は、1つまたは複数の処理ユニット、コア、またはプロセッサ1710、メモリ1715(たとえばRAM、ROM、および/または同様のもの)、内部ストレージ1720(たとえば磁気、光学、ソリッドステートのストレージ、および/または有機)、および/またはI/Oインターフェース1725を含むことが可能であり、そのいずれかは、情報を通信するための通信機構またはバス1730上で結合されることが可能であり、またはコンピュータデバイス1705に組み込まれ得る。I/Oインターフェース1725は、所望の実施に応じて、カメラから画像を受信する、またはプロジェクターまたはディスプレイに対して画像を提供するようにさらに構成される。
コンピュータデバイス1705は、入力/ユーザインターフェース1735および出力デバイス/インターフェース1740に通信可能に結合され得る。入力/ユーザインターフェース1735および出力デバイス/インターフェース1740の一方または両方のいずれかは、有線または無線インターフェースであることが可能であり、取り外し可能であることが可能である。入力/ユーザインターフェース1735は、入力を提供するために使用可能である、物理的または仮想的な任意のデバイス、コンポーネント、センサまたはインターフェース(たとえば、ボタン、タッチスクリーンインターフェース、キーボード、ポインティング/カーソルコントロール、マイクロフォン、カメラ、ブライユ、動きセンサ、光学読取装置、および/または同様のもの)を含み得る。出力デバイス/インターフェース1740は、ディスプレイ、テレビ、モニタ、プリンタ、スピーカー、ブライユ、または同様のものを含み得る。いくつかの実施例では、入力/ユーザインターフェース1735および出力デバイス/インターフェース1740は、コンピュータデバイス1705とともに組み込まれることが可能であり、またはそれと物理的に結合されることが可能である。他の実施例では、他のコンピュータデバイスが、コンピュータデバイス1705のための入力/ユーザインターフェース1735および出力デバイス/インターフェース1740として機能し得る、またはその機能を提供し得る。
コンピュータデバイス1705の例は、高移動性デバイス(たとえばスマートフォン、車両および他の機械に搭載されたデバイス、人または動物によって保持されるデバイス、および同様のもの)、モバイルデバイス(たとえばタブレット、ノートブック、ラップトップ、パーソナルコンピュータ、携帯型テレビ、ラジオ、および同様のもの)、および移動性のために設計されていないデバイス(たとえば、デスクトップコンピュータ、他のコンピュータ、情報キオスク、1つまたは複数のプロセッサが組み込まれたテレビおよび/または1つまたは複数のプロセッサが結合されたテレビ、ラジオ、および同様のもの)を含み得るが、それに限定されない。
コンピュータデバイス1705は、同一または異なる構成の1つまたは複数のコンピュータデバイスを含む、任意の数のネットワーク接続されたコンポーネント、デバイス、およびシステムとの通信のために、(たとえば、I/Oインターフェース1725を介して)外部ストレージ1745およびネットワーク1750へ通信可能に結合され得る。コンピュータデバイス1705または他の任意の接続済みコンピュータデバイスは、サーバ、クライアント、シンサーバ、汎用機械、専用機械、またはその他として機能し、そのサービスを提供し、またはそれらの名称で呼ばれることが可能である。
I/Oインターフェース1725は、コンピューティング環境1700における少なくとも全ての接続済みコンポーネント、デバイス、およびネットワークへ、および/またはそこからの情報通信のために、任意の通信またはI/Oプロトコルまたは規約(たとえばEthernet、802.11x、ユニバーサルシステムバス、WiMax、モデム、セルラーネットワークプロトコル、および同様のもの)を使用する有線および/または無線インターフェースを含み得るが、それに限定されない。ネットワーク1750は、(たとえばインターネット、ローカルエリアネットワーク、ワイドエリアネットワーク、電話網、セルラーネットワーク、衛星ネットワーク、および同様のものなどの)任意のネットワークまたはネットワークの組み合わせであり得る。
コンピュータデバイス1705は、一時的媒体および非一時的媒体を含むコンピュータ使用可能媒体またはコンピュータ可読媒体を使用すること、および/またはそれを使用して通信することが可能である。一時的媒体は、伝送媒体(たとえば金属ケーブル、光ファイバー)、信号、搬送波、および同様のものを含む。非一時的媒体は、磁気媒体(たとえば、ディスクおよびテープ)、光学媒体(たとえばCD ROM、デジタルビデオディスク、Blu-ray(登録商標)ディスク)、ソリッドステート媒体(たとえばRAM、ROM、フラッシュメモリ、ソリッドス
テートストレージ)、および他の不揮発性ストレージまたはメモリを含む。
コンピュータデバイス1705は、いくつかの例示的なコンピューティング環境において技法、方法、アプリケーション、プロセス、またはコンピュータ実行可能命令を実施するために使用され得る。コンピュータ実行可能命令は、一時的媒体から取り出され、非一時的媒体に格納され、そこから取り出されることが可能である。実行可能命令は、任意のプログラミング言語、スクリプト言語、および機械言語(たとえばC、C++、C#、Java、Visual Basic、Python、Perl、JavaScript、その他)のうちの1つまたは複数に由来し得る。
プロセッサ1710は、ネイティブな環境または仮想環境において、任意のオペレーティングシステム(OS)(不図示)の下で実行できる。論理ユニット1760と、アプリケーションプログラミングインターフェース(API)ユニット1765と、入力ユニット1770と、出力ユニット1775と、異なるユニットが、相互、OS、および他のアプリケーション(不図示)と通信するためのユニット間通信機構1795とを含む1つまたは複数のアプリケーションが配備され得る。上述したユニットおよび要素は、設計、機能、構成、または実施において異なることが可能であり、上記説明に限定されない。プロセッサ1710は、中央演算処理装置(CPU)などのハードウェアプロセッサの形態を有することができ、またはハードウェアユニットおよびソフトウェアユニットの組み合わせであり得る。
いくつかの実施例では、APIユニット1765によって情報または実行命令が受信されると、それは、1つまたは複数の他のユニット(たとえば、論理ユニット1760、入力ユニット1770、出力ユニット1775)に伝えられ得る。いくつかの例において、論理ユニット1760は、ユニット間の情報フローを制御し、上述したいくつかの実施例において、APIユニット1765、入力ユニット1770、出力ユニット1775によって提供されたサービスを指示するように構成され得る。たとえば、1つまたは複数のプロセスまたは実施のフローは、単独で、またはAPIユニット1765と併せて、論理ユニット1760によって制御され得る。入力ユニット1770は、実施例で説明した計算に対する入力を取得するように構成されてもよく、出力ユニット1775は、実施例で説明した計算に基づく出力を提供するように構成されてもよい。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行する命令をメモリ1715からロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、複数のプロセスステップは、図1から図3に示すように、観察のための複数のセンサのサブセットを選択することと、複数のセンサのサブセットから提供されたデータからの異常検出を実行することと、センサのサブセットからのセンサからの異常の検出に対して、検出された異常に基づいて複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することと、複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップに対する異常発生の確率を推定することと、所定の判断基準を満たす異常発生の推定された確率に対して、観察のための複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップと関連した複数のセンサのうちのセンサを選択することとを含む。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行する命令をメモリ1715からロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、検出された異常に基づいて複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、図11から図15に示すように、異常が検出された複数のプロセスステップのうちのそれぞれのプロセスステップと、異常が検出された複数のプロセスステップのうちのそれぞれのプロセスステップと前に観察されたプロセスステップとの間の複数のプロセスステップのうちの全ての観察されていない前のプロセスステップとを選択することを含む。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行するために、メモリ1715から命令をロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、観察のための複数のセンサのサブセットを選択することは、図9の806に示すように、複数のプロセスステップのうちの最終ステップと関連した複数のセンサのうちのセンサを選択することを含む。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行するために、メモリ1715から命令をロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、異常検出を実行することは、図4および図6に示すように、複数のセンサのサブセットから提供されたデータに対して1つまたは複数の機械学習モデルを実行することを含む。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行するために、メモリ1715から命令をロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、所定の判断基準は、図9および図12に示すように、複数のプロセスステップのそれぞれに対する異常発生の確率を示す、基準確率分布からの距離の比較に基づく。所望の実施に応じて、この距離は、本明細書に記載するような統計的距離であり得る。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行するために、メモリ1715から命令をロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、観察のための複数のプロセスステップのうちの選択されたプロセスステップと関連する複数のセンサのうちのセンサを選択することは、図15に示すように、異常発生の最も高い推定確率を有する複数のプロセスステップのうちのプロセスステップと関連する複数のセンサのうちのセンサを選択することを含む。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行するために、メモリ1715から命令をロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、観察のための複数のセンサのうちのセンサを選択すること、または複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、本明細書に記載するようなコンピューティングリソースに基づき得る。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行するために、メモリ1715から命令をロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、検出された異常に基づいて複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、図11から図15に関して説明したように、メモリ1715の格納済みセンサデータにおける異常検出に基づく。
プロセッサ1710は、複数のセンサを含むシステムのための命令または方法を実行するために、メモリ1715から命令をロードするように構成されてもよく、複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、所定の判断基準を満たす異常発生の推定確率に対して、図1から図3に示すように、複数のセンサのサブセットからのデータの観察を停止する。
詳細な説明のいくつかの部分は、コンピュータ内の動作のアルゴリズムおよび記号的表現によって提示される。それらのアルゴリズムの記載および記号的表現は、それらの革新の本質を他の当業者に伝えるために、データ処理分野の当業者によって使用される手段である。アルゴリズムは、所望の最終状態または結果につながる一連の定義されたステップである。実施例では、実行されたステップは、有形の結果を実現するために有形の量の物理的な操作を必要とする。
特記しない限り、説明から明らかなように、本明細書全体を通して、「処理する」、「算出する」、「計算する」、「決定する」、「表示する」、または同様のものなどの語を利用する説明は、コンピュータシステムのレジスタおよびメモリ内で物理的(電気的)量として表されるデータを操作して、コンピュータシステムのメモリもしくはレジスタまたは他の情報ストレージ、伝送デバイスもしくは表示デバイス内の物理的量として同様に表される他のデータに変換するコンピュータシステムまたは他の情報処理デバイスのアクションおよびプロセスを含み得ることが理解される。
実施例は、本明細書において動作を実行するための装置にさらに関係してもよい。この装置は、求められた目的のために特別に構築されてもよく、あるいは1つまたは複数のコンピュータプログラムによって選択的にアクティブ化または再構成される1つまたは複数の汎用コンピュータを含んでもよい。そのようなコンピュータプログラムは、コンピュータ可読格納媒体またはコンピュータ可読信号媒体などのコンピュータ可読媒体に格納されてもよい。コンピュータ可読格納媒体は、光学ディスク、磁気ディスク、読出し専用メモリ、ランダムアクセスメモリ、ソリッドステートデバイスおよびドライブ、または電子情報を格納するのに適した任意の種類の有形または非一時的媒体などの有形の媒体を含み得るが、それに限定されない。コンピュータ可読信号媒体は、搬送波などの媒体を含み得る。本明細書で提示されたアルゴリズムおよび表示は、いずれかの特定のコンピュータまたは他の装置に本質的に関係しない。コンピュータプログラムは、所望の実施の動作を実行する命令を含む純粋なソフトウェアによる実施を含み得る。
様々な汎用システムは、本明細書の例によるプログラムおよびモジュールとともに使用されてもよく、または所望の方法のステップを実行することにより特化した装置を構築することが結果として都合がよいことがわかる場合がある。さらに、いずれかの特定のプログラミング言語を参照して実施例は説明されていない。本明細書に記載するような実施例の技法を実施するために、様々なプログラミング言語が使用され得ることが理解されるであろう。プログラミング言語の命令は、たとえば、中央演算装置(CPU)、プロセッサ、またはコントローラなど、1つまたは複数の処理デバイスによって実行され得る。
本発明が属する分野で知られるように、上述された動作は、ハードウェア、ソフトウェア、またはソフトウェアとハードウェアとの何らかの組み合わせによって実行され得る。実施例の様々な態様は、回路および論理デバイス(ハードウェア)を使用して実施されてもよい一方、他の態様は、プロセッサによって実行されるとプロセッサに本願の実施を実行する方法を実行させる、機械可読媒体(ソフトウェア)上に格納された命令を使用して実施されてもよい。さらに、本願のいくつかの実施例はハードウェアのみで実行されてもよい一方、他の実施例はソフトウェアのみで実行されてもよい。さらに、説明された様々な機能は単体のユニットで実行されることが可能であり、または任意の数の手法で多数のコンポーネントにわたって分散され得る。ソフトウェアによって実行されると、方法は、コンピュータ可読媒体に格納された命令に基づいて、汎用コンピュータなどのプロセッサによって実行されてもよい。必要に応じて、命令は、圧縮形式および/または暗号化形式で媒体に格納され得る。
さらに、本願の他の実施は、本明細書の考慮および本願の技術の実践から、当業者とって明らかであろう。説明された実施例の様々な態様および/または構成要素は、単体または何らかの組み合わせで使用されてもよい。本明細書および実施例は例としてのみ考慮されることが意図され、本願の真の範囲および趣旨は、以下の特許請求の範囲によって示される。
13 エッジGW 14 管理サーバ 20 初期化モジュール 21 プロセスエラー推定モジュール 22
プロセス選択モジュール 23 サーバにおけるMLモデル更新モジュール 24 MLモデルリポジトリ 25 エッジにおけるMLモデル更新モジュール 26 センサモジュール 27 MLモデル推論モジュール 28 部品決定モジュール 29 データベース

Claims (18)

  1. 複数のセンサを備えるシステムが実行する方法であって、前記複数のセンサは、複数のプロセスステップを観察し、前記方法は、
    観察のための前記複数のセンサのサブセットを選択することと、
    前記複数のセンサの前記サブセットから提供されたデータからの異常検出を実行することと、
    前記センサの前記サブセットからのセンサからの異常の検出に対して、
    検出された前記異常に基づいて前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することと、
    前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップに対する異常発生の確率を推定することと、
    所定の判断基準を満たす異常発生の推定された前記確率に対して、観察のための前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することと
    を有し、
    観察のための前記複数のセンサのサブセットを選択することは、前記複数のプロセスステップのうちの最終ステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することを含む方法。
  2. 検出された前記異常に基づいて前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、
    前記異常が検出された前記複数のプロセスステップのうちのそれぞれのプロセスステップと、前記異常が検出された前記複数のプロセスステップのうちの前記それぞれのプロセスステップと前に観察されたプロセスステップとの間の前記複数のプロセスステップのうちの全ての観察されていない前のプロセスステップとを選択することを含む、
    請求項1に記載の方法。
  3. 前記異常検出を実行することは、前記複数のセンサの前記サブセットから提供されたデータに対して1つまたは複数の機械学習モデルを実行することを含む、請求項1に記載の方法。
  4. 前記所定の判断基準は、前記複数のプロセスステップ毎の前記異常発生の前記確率を示す基準確率分布からの距離の比較に基づく、請求項1に記載の方法。
  5. 観察のための前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することは、前記異常発生の最も高い推定確率を有する前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することを含む、請求項1に記載の方法。
  6. 観察のための前記複数のセンサのうちのセンサを選択することは、コンピューティングリソースに基づく、請求項1に記載の方法。
  7. 前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、コンピューティングリソースに基づく、請求項1に記載の方法。
  8. 検出された前記異常に基づいて前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、メモリの格納センサデータにおける異常検出に基づく、請求項1に記載の方法。
  9. 所定の判断基準を満たす前記異常発生の推定された前記確率に対して、前記複数のセンサの前記サブセットからのデータの前記観察を停止することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  10. 複数のセンサを備えるシステムのためにプロセスを実行するための命令を格納する非一時的コンピュータ可読媒体であって、前記複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、前記命令は、
    観察のための前記複数のセンサのサブセットを選択することと、
    前記複数のセンサの前記サブセットから提供されたデータからの異常検出を実行することと、
    前記センサの前記サブセットからのセンサからの異常の検出に対して、
    検出された前記異常に基づいて前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することと、
    前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップに対する異常発生の確率を推定することと、
    所定の判断基準を満たす異常発生の推定された前記確率に対して、観察のための前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することと
    を含み、
    観察のための前記複数のセンサのサブセットを選択することは、前記複数のプロセスステップのうちの最終ステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することを含む、非一時的コンピュータ可読媒体。
  11. 検出された前記異常に基づいて前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、
    前記異常が検出された前記複数のプロセスステップのうちのそれぞれのプロセスステップと、前記異常が検出された前記複数のプロセスステップのうちの前記それぞれのプロセスステップと前に観察されたプロセスステップとの間の前記複数のプロセスステップの全ての観察されていない前のプロセスステップとを選択することを含む、
    請求項1に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
  12. 前記異常検出を実行することは、前記複数のセンサの前記サブセットから提供されたデータに対して1つまたは複数の機械学習モデルを実行することを含む、請求項1に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
  13. 前記所定の判断基準は、前記複数のプロセスステップのそれぞれに対する前記異常発生の前記確率を示す基準確率分布からの距離の比較に基づく、請求項1に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
  14. 観察のための前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することは、前記異常発生の最も高い推定確率を有する前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することを含む、請求項1に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
  15. 観察のための前記複数のセンサのうちのセンサを選択することは、コンピューティングリソースに基づく、請求項1に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
  16. 前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、コンピューティングリソースに基づく、請求項1に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
  17. 検出された前記異常に基づいて前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することは、メモリの格納センサデータにおける異常検出に基づく、請求項1に記載の非一時的コンピュータ可読媒体。
  18. 複数のセンサを備えるシステムを管理するための装置であって、前記複数のセンサは複数のプロセスステップを観察し、前記装置は、
    命令を格納するように構成されたメモリと、
    メモリから前記命令をロードしてプロセスを実行するように構成された1つまたは複数のプロセッサとを備え、前記プロセスは、
    観察のための前記複数のセンサのサブセットを選択することと、
    前記複数のセンサの前記サブセットから提供されたデータからの異常検出を実行することと、
    前記センサの前記サブセットからのセンサからの異常の検出に対して、
    検出された前記異常に基づいて前記複数のプロセスステップのうちのプロセスステップを選択することと、
    前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップに対する異常発生の確率を推定することと、
    所定の判断基準を満たす異常発生の推定された前記確率に対して、観察のための前記複数のプロセスステップのうちの選択された前記プロセスステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することと
    を含み、
    観察のための前記複数のセンサのサブセットを選択することは、前記複数のプロセスステップのうちの最終ステップと関連した前記複数のセンサのうちのセンサを選択することを含む、装置。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019028515A (ja) 2017-07-25 2019-02-21 ファナック株式会社 情報処理装置
US20200175380A1 (en) 2018-12-04 2020-06-04 The Boeing Company Automated feature generation for sensor subset selection
US20200379454A1 (en) 2019-05-31 2020-12-03 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Machine learning based predictive maintenance of equipment
JP2021089661A (ja) 2019-12-05 2021-06-10 オムロン株式会社 センサシステム、マスタユニット、予測装置、及び予測方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4677679B2 (ja) * 2001-03-27 2011-04-27 株式会社デンソー 製品の製造プロセスにおける特性調整方法
US20110054806A1 (en) * 2009-06-05 2011-03-03 Jentek Sensors, Inc. Component Adaptive Life Management
JP5562629B2 (ja) * 2009-12-22 2014-07-30 三菱重工業株式会社 探傷装置及び探傷方法
US20120215450A1 (en) * 2011-02-23 2012-08-23 Board Of Regents, The University Of Texas System Distinguishing between sensor and process faults in a sensor network with minimal false alarms using a bayesian network based methodology
US20140058705A1 (en) * 2011-04-27 2014-02-27 Decision Makers Ltd. System and Method for Detecting Abnormal Occurrences
US11054815B2 (en) * 2016-03-11 2021-07-06 Applied Materials, Inc. Apparatus for cost-effective conversion of unsupervised fault detection (FD) system to supervised FD system
US11029359B2 (en) * 2018-03-09 2021-06-08 Pdf Solutions, Inc. Failure detection and classsification using sensor data and/or measurement data

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019028515A (ja) 2017-07-25 2019-02-21 ファナック株式会社 情報処理装置
US20200175380A1 (en) 2018-12-04 2020-06-04 The Boeing Company Automated feature generation for sensor subset selection
US20200379454A1 (en) 2019-05-31 2020-12-03 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Machine learning based predictive maintenance of equipment
JP2021089661A (ja) 2019-12-05 2021-06-10 オムロン株式会社 センサシステム、マスタユニット、予測装置、及び予測方法

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