JP7403490B2

JP7403490B2 - ワイヤロープの検査方法及び検査システム

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Publication number: JP7403490B2
Application number: JP2021029769A
Authority: JP
Inventors: 俊昭松本
Original assignee: Hitachi Building Systems Co Ltd
Current assignee: Hitachi Building Systems Co Ltd
Priority date: 2021-02-26
Filing date: 2021-02-26
Publication date: 2023-12-22
Anticipated expiration: 2041-02-26
Also published as: JP2022131043A

Description

本発明は、ワイヤロープの検査方法及び検査システムに関する。

一般に、エレベーター、リフト、ケーブルカー、ホイスト、クレーン等に使用されているワイヤロープは、複数本の鋼線を撚って構成されたストランドを複数本撚って構成されているため、螺旋状に凹凸のある構造になっている。そのワイヤロープは、ストランド同士の接触やトラクションシーブとの接触により摩耗し、外径が減少していく。摩耗による外径の減少は、経年的に進行する。外径が基準値を下回った場合には、ワイヤロープは、寿命に至ったと判断され、交換される。

そのため、定期的な検査においては、ワイヤロープ断面方向の外径を確認するため、ロープ中心に対向するストランドをノギス等で挟んで計測する。そして、これにより、ワイヤロープが安全に使用できるか否かを評価する。

特許文献１には、１本又は２本以上のワイヤロープを異なる方向から撮影する２台のカメラを用い、画像データに対して、ステレオ方式による三角測量の原理を適用して、カメラに対するワイヤロープの座標を求め、ワイヤロープの座標に基づき、ワイヤロープの直径を算出する際に、ボリューム歪像の補正を行う、ワイヤロープ計測装置が開示されている。

特開２０１８－８７７３２号公報

特許文献１に記載のワイヤロープ計測装置は、２本以上のワイヤロープについても一方向からのワイヤロープの直径を算出することができる。しかしながら、表面に周期的な凹凸を有するワイヤロープの形状を計測するものではない。

本発明は、ワイヤロープの全長にわたる外径だけでなく、摩耗状態等の表面の異常についても正確かつ容易に検査することを目的とする。

本発明は、少なくとも一対の距離センサを有するワイヤロープ探傷装置と、ワイヤロープ探傷装置から得られたデータに基いてワイヤロープの検査をするワイヤロープ検査装置と、を用いる、ワイヤロープの検査方法において、ワイヤロープは、複数本のストランドが撚り合わされた構成を有し、ワイヤロープ探傷装置は、ワイヤロープを挟んで対向して配置された一対の距離センサを用いて、距離センサのそれぞれとストランドとの距離を計測し、ワイヤロープ検査装置は、距離センサの出力からワイヤロープの外径を算出し、ワイヤロープの外径に基いて判定をする。

本発明によれば、ワイヤロープの全長にわたる外径だけでなく、摩耗状態等の表面の異常についても正確かつ容易に検査することができる。

実施例に係るワイヤロープの検査システムを示す概略構成図である。図１のワイヤロープ検査装置７の構成を示すブロック図である。検査対象となるワイヤロープの一例を示す断面図である。図１のワイヤロープ探傷装置６に内蔵された距離センサの配置を示す断面図である。距離センサの配置を含むワイヤロープを示す側面図である。距離センサのデータからワイヤロープの外径を算出する例を示すグラフである。図６の曲線１７ａについて、ピッチごとに切り出し、ワイヤロープの外径の極大値及び極小値を算出する例を示すグラフである。ワイヤロープ間の摩耗によりワイヤロープ全体の外径が減少した場合の計測波形を示すグラフである。ワイヤロープの表面（凸部）が摩耗した状態におけるワイヤロープの外径を計測した波形を示すグラフである。ワイヤロープに変形、つぶれ、キンク、ストランドの破断等が発生した状態におけるワイヤロープの外径を計測した波形を示すグラフである。ワイヤロープ全長のそれぞれのピッチにおけるワイヤロープの外径の極大値Ｄ_ｘについての頻度を示すグラフである。ワイヤロープ全長のそれぞれのピッチにおけるワイヤロープの外径の極大値と極小値との差Ｄ_ｘ－Ｄ_ｎについての頻度を示すグラフである。ワイヤロープのピッチＰについての頻度を示すグラフである。実施例に係るワイヤロープの検査方法を示すフローチャートである。

本開示は、エレベーター（昇降機）を含む機械設備のワイヤロープの検査、特に、その移動に係わるワイヤロープにおける外径等の計測に関する。

以下、図面を用いて、一実施例について説明する。

本実施例は、エレベーターのワイヤロープの異常検査を行うものである。この検査では、異常として、ワイヤロープの外形および表面形状の検査を行う。

本実施例のワイヤロープの検査システムは、１：１ローピングのエレベーターを検査の対象とするものである。

図１は、本実施例に係るワイヤロープの検査システムを示す概略構成図である。

本図において、エレベーターは、乗かご１と、つり合い重り２と、ワイヤロープ３と、トラクションシーブ４と、そらせ５と、を備えている。ワイヤロープ３には、ワイヤロープ探傷装置６が設置されている。そして、ワイヤロープ探傷装置６には、ワイヤロープ検査装置７が接続されている。また、ワイヤロープ検査装置７には、信号処理データベース８が接続されている。ワイヤロープ検査装置７は、ワイヤロープ探傷装置６で計測された計測データを用いて、検査を行う。信号処理データベース８は、検査を行うための信号処理データテーブルを格納する。

なお、ワイヤロープ探傷装置６とワイヤロープ検査装置７とは、一体で構成してもよい。また、信号処理データベース８は、ワイヤロープ検査装置７の内部に設けてもよい。さらに、ワイヤロープ探傷装置６、ワイヤロープ検査装置７及び信号処理データベース８は、一体で構成してもよい。

ワイヤロープ３の探傷をする際は、エレベーターを稼働してワイヤロープ３を移動させることで、ワイヤロープ探傷装置６がワイヤロープ３の全長にわたって計測を行う。そして、ワイヤロープ検査装置７がこの計測結果である計測データを用いて、検査を行う。

また、ワイヤロープ探傷装置６及びワイヤロープ検査装置７は、ネットワーク１５を介してセンター装置１２と接続されている。ここで、センター装置１２は、いわゆるコンピュータであり、ワイヤロープ探傷装置６、ワイヤロープ検査装置７及び信号処理データベース８から各種の情報を受信する。そして、センター装置１２は、これらの情報を用いて、点検、交換等のためのメンテナンススケジュールを作成する。センター装置１２は、メンテナンススケジュール等を、ネットワーク１５を介して、作業用端末装置１３や管理者端末装置１４などに通知することが可能である。ここで、作業用端末装置１３及び管理者端末装置１４としては、ノートＰＣ、携帯端末等のコンピュータ等を用いることができる。

また、ネットワーク１５は、情報の通信ができればよく、インターネット等で実現できる。さらに、ネットワーク１５は、有線、無線などその通信形式は問わない。さらに、ワイヤロープ探傷装置６、ワイヤロープ検査装置７及び信号処理データベース８はそれぞれ、ネットワーク１５を介して接続されていてもよい。

なお、本実施例においては、１：１ローピングのエレベーターを例として説明しているが、本実施例は、これ以外の構成を有する各種のエレベーターにも適用可能である。

次に、図１のワイヤロープ検査装置７について更に説明する。

図２は、図１のワイヤロープ検査装置７の構成を示すブロック図である。

図２に示すように、ワイヤロープ検査装置７は、処理部７１、メモリ部７２、インターフェース部７３、データ入出力部７４、および通信部７５を有する。

処理部７１は、ＣＰＵのようなプログラムに従って演算する機能を有する。本実施例では、処理部７１は、メモリ部７２に展開されたワイヤロープ外径解析プログラム７１１、ワイヤロープ摩耗検出プログラム７１２およびワイヤロープ変形検出プログラム７１３に従った処理を実行する。ここで、これらの各プログラムの機能は、ハードウエアで実現してもよい。この場合、各プログラムの機能は、それぞれワイヤロープ外径解析部、ワイヤロープ摩耗検出部およびワイヤロープ変形検出部として実現できる。なお、これらの各プログラム、各部の機能については、追って説明する。また、これらの各プログラムは、１つのプログラムで実現してもよいし、更に細分化してもよい。さらに、これらの一部を組み合わせてもよく、一部を細分化したプログラムとして実現してもよい。

また、インターフェース部７３は、利用者からの入力の受け付け、出力の表示等をする。このため、インターフェース部７３は、例えばタッチパネルで実現できる。但し、インターフェース部７３は、入力部と出力部とを分けて構成してもよいし、インターフェース部７３自体を設けなくともよい。

また、データ入出力部７４は、ワイヤロープ探傷装置６及び信号処理データベース８と接続し、これらと情報を送受信する。ここで、信号処理データベース８には、外径の基準、摩耗状態、変形、キンク等を判定するための判定処理データテーブル８１が格納されている。

さらに、通信部７５は、ネットワーク１５と接続する機能を有し、センター装置１２などにワイヤロープの外径などの検査結果を送信する。また、通信部７５は、センター装置１２、作業用端末装置１３や管理者端末装置１４などからの情報を受信する。

次に、ワイヤロープ３の構造について説明する。

図３は、検査対象となるワイヤロープの一例を示す断面図である。

本図においては、ワイヤロープ３は、心綱１０の周りに８本のストランド９が撚り合わされた構成を有する。

従来は、ワイヤロープ３の検査を行う際においては、ワイヤロープ３の中心軸に対向する２本のストランド９の凸部間の距離を、ノギス等を用いて計測することにより、ワイヤロープ３の外径を求めていた。

図４は、図１のワイヤロープ探傷装置６に内蔵された距離センサの配置を示す断面図である。

本図においては、８本のストランド９のそれぞれに対応する距離センサ１１ａ～１１ｈが配置されている。

距離センサ１１ａ～１１ｈは、その内部に光源と受光素子とを有し、光源から照射された光が測定対象物であるストランド９の表面で反射され、受光素子で受光される構成を有する。反射光を評価・演算することにより、距離センサ１１ａ～１１ｈのそれぞれからストランド９の表面までの距離のデータを得ることができる。照射する光は、所定の波長を有する赤外線又は可視光であり、これ以外に、電波、超音波等であってもよい。光源は、ＬＥＤ、レーザダイオード等が好適である。測定原理としては、反射角を検出する三角測距方式や、光の照射から受光までの短い時間を測定し、その時間差を距離に換算するタイム・オブ・フライト方式（位相差測距方式又はパルス伝播方式）等がある。

なお、エレベーター等の機械設備に用いられるワイヤロープ３の表面には、通常、潤滑油が塗布されている。このため、例えば、ワイヤロープ３の凹部に潤滑油が厚く付着している場合、潤滑油を透過しにくい可視光等を照射する光として用いると、光がワイヤロープ３の表面まで達しにくく、正確な距離の計測が困難となる場合がある。この場合には、赤外線や電波等、潤滑油を透過してワイヤロープ３の表面まで達するものを照射波として用いることが望ましい。

距離センサ１１ａ、１１ｅは、ワイヤロープ３を挟んで対向して配置されている。言い換えると、距離センサ１１ｅは、ワイヤロープ３の中心軸の周りに距離センサ１１ａを１８０度回転した位置に配置されている。

同様に、距離センサ１１ｂ、１１ｆ、距離センサ１１ｃ、１１ｇ、及び距離センサ１１ｄ、１１ｈがそれぞれ対になって、ワイヤロープ３を挟んで対向して配置されている。

よって、本図においては、四対の距離センサを有する構成となっている。なお、距離センサは、少なくとも一対がワイヤロープ３を挟んで対向して配置されていれば、所望の検査が可能である。

ワイヤロープ３の検査においては、距離センサ１１ａ～１１ｈが８本のストランドのそれぞれまでの距離を計測するため、四対の距離センサにより、ワイヤロープ３の断面における４つの方向についてのワイヤロープの外径を計測することができる。

なお、距離センサの個数は、ストランドの本数と同じとすることが望ましい。すべてのストランドの状態を検査できるからである。

図５は、距離センサの配置を含むワイヤロープを示す側面図である。

本図に示すように、ワイヤロープ３は、ストランド９を撚り合わせて構成されているため、ワイヤロープ３の表面には、螺旋状の凹凸があり、凹凸の間隔は周期的である。距離センサ１１ａ～１１ｈは、所定の位置に固定されたワイヤロープ探傷装置に内蔵されている。検査の際は、固定された距離センサ１１ａ～１１ｈに対してワイヤロープ３を長手方向に移動させながら計測を行う。このため、距離センサ１１ａ～１１ｈの出力は、ワイヤロープ３の表面の凹凸の形状変化に従う信号出力となる。

ここで、隣り合う２つの凹部の間隔を１ピッチと定義する。ワイヤロープ３の外径を判定する際には、各ピッチの凸部の外径が規定値を下回ったことを交換基準とする。このため、ワイヤロープ３の外径を表す波形を１ピッチごとに切り分けて判定する。

図６は、距離センサのデータからワイヤロープの外径を算出する例を示すグラフである。横軸に時間、縦軸に距離又は外径をとっている。

曲線１６ａ、１６ｅはそれぞれ、ワイヤロープを挟んで対向して配置された図４の距離センサ１１ａ、１１ｅ（一対の距離センサ）の信号出力の変化を示したものである。ここで、信号出力は、それぞれの距離センサとストランドとの距離の変化が波形として出力されたものである。当該距離は、ワイヤロープ３の長手方向への移動に伴って変化する。

曲線１６ａの信号出力をｄ_ａ、曲線１６ｅの信号出力をｄ_ｅ、距離センサ１１ａと距離センサ１１ｅとの間の距離（定数）をｄ_ｓとすると、ワイヤロープ３の外径ｄ_ｐは、次の式で算出される。

ｄ_ｐ＝ｄ_ｓ－（ｄ_ａ＋ｄ_ｅ）
曲線１７ａは、ワイヤロープ３の長手方向への移動に伴って変化するワイヤロープ３の外径ｄ_ｐ（ワイヤロープ外径波形）である。

図７は、図６の曲線１７ａについて、ピッチＰ_ａ、ワイヤロープの外径の極大値Ｄ_ｘａ、及びワイヤロープの外径の極小値Ｄ_ｎａを示したものである。

本図に示すように、ワイヤロープの外径の分布曲線が減少から増加に変わる点（極小値）を抽出することにより、分布曲線を１ピッチごとに切り分ける。そして、計測データの始まりから１つ目の凹部までを１ピッチ目とし、１つ目の凹部の直後から２つ目の凹部までを２ピッチ目とする。そして、以降の全長にわたるデータを同様に切り分ける。このようにして、隣り合う極小値の間隔をピッチＰ_ａ１、Ｐ_ａ２、Ｐ_ａ３、Ｐ_ａ４、…とする。そして、ピッチＰ_ａ１、Ｐ_ａ２、Ｐ_ａ３、Ｐ_ａ４、…のそれぞれに対応するワイヤロープの外径の極大値をＤ_ｘａ１、Ｄ_ｘａ２、Ｄ_ｘａ３、Ｄ_ｘａ４、…、極小値をＤ_ｎａ１、Ｄ_ｎａ２、Ｄ_ｎａ３、Ｄ_ｎａ４、…として算出する。

ワイヤロープの劣化は、ストランド同士の接触やトラクションシーブとの接触により摩耗による外径が減少の他に、ワイヤロープとトラクションシーブとの接触面の摩擦異常によるワイヤロープ表面の偏摩耗や、ワイヤロープの一部に局所的に発生する変形、つぶれ、キンク、ストランドの破断などがある。

以下、計測信号からの劣化判定方法について説明する。

図８は、ワイヤロープ間の摩耗によりワイヤロープ全体の外径が減少した場合の計測波形を示すグラフである。破線で表されている曲線１７は、ワイヤロープが摩耗する前に計測したワイヤロープ外径波形である。実線で表されている曲線１８は、摩耗して外径が減少したワイヤロープ外径波形である。

本図に示すように、ワイヤロープの摩耗は、ストランド同士の接触やトラクションシーブとの接触により発生するため、ワイヤロープの一部に局所的に発生するのではなく、ワイヤロープが全体的に摩耗する。このため、曲線１８は、全範囲で曲線１７に比べて低くなっている。

図９は、ワイヤロープの表面（凸部）が摩耗した状態におけるワイヤロープの外径を計測した波形を示すグラフである。

本図に示す曲線１９は、摩耗により凸部が平らになった状態を示している。

通常、ワイヤロープ３（図１）は、トラクションシーブ４との接触により徐々に摩耗するが、接触面に異常があった場合には、急激に摩耗が進行する。曲線１９は、これを計測した結果を示したものである。

図８に示す曲線１８では全体的に外径が減少しているのに対し、図９に示す曲線１９では、ワイヤロープの凸部のみが摩耗し、凸部が平らになっている。結果として、ワイヤロープの外径の極大値Ｄ_ｘ（凸部）と極小値Ｄ_ｎ（凹部）の差が小さくなっている。

図１０は、ワイヤロープに変形、つぶれ、キンク、ストランドの破断等が発生した状態におけるワイヤロープの外径を計測した波形を示すグラフである。

本図に示す曲線２０は、通常のワイヤロープに発生する周期的な凹凸の一部が無くなり、通常では無い状態（凸部の一部が凹部に変化）を示している。

ワイヤロープの変形、つぶれ、キンク、ストランドの破断等は、ワイヤロープに局所的に発生する。曲線２０は、そのような変形、つぶれ、キンク、ストランドの破断等を示している。

つぎに、ワイヤロープの劣化状態を判定する方法について説明する。

図１１は、ワイヤロープ全長のそれぞれのピッチにおけるワイヤロープの外径の極大値Ｄ_ｘについての頻度を示すグラフである。横軸にＤ_ｘ、縦軸にその頻度をとっている。

本図に示す曲線２１は、Ｄ_ｘの頻度分布（度数分布）が正常な範囲であることを示している。ストランド同士の接触やトラクションシーブとの接触により摩耗による外径が減少した場合は、曲線２１が全体的に左へ移動する。点２２、２３は、曲線２１の正常値を外れた異常値である。これについては後述する。

図１２は、ワイヤロープ全長のそれぞれのピッチにおけるワイヤロープの外径の極大値と極小値との差Ｄ_ｘ－Ｄ_ｎについての頻度を示すグラフである。このグラフは、ワイヤロープとトラクションシーブとの接触面の摩擦異常によるワイヤロープ表面の偏摩耗を判定するためのものである。横軸にＤ_ｘ－Ｄ_ｎ、縦軸にその頻度をとっている。

本図に示す破線の曲線２４は、摩耗前のＤ_ｘ－Ｄ_ｎの頻度分布（度数分布）である。これに対して、実線の曲線２５は、摩耗してＤ_ｘ－Ｄ_ｎが減少した状態を示している。これは、図９の曲線１９のように、ワイヤロープとトラクションシーブとの接触面の摩擦異常による、ワイヤロープ表面が偏摩耗して凸部Ｄ_ｘと凹部Ｄ_ｎの差が減少している状態に対応している。曲線２５で示す分布の中央値が規定値を下回った場合に偏摩耗発生と判定する。点２６は、曲線２５の正常値を外れた異常値である。これについては後述する。

図１３は、ワイヤロープのピッチＰについての頻度を示すグラフである。横軸にＰ、縦軸にその頻度をとっている。

本図に示す曲線２７は、Ｐの頻度分布（度数分布）が正常な範囲であることを示している。

つぎに、ワイヤロープの一部に局所的に発生する変形、つぶれ、キンク、ストランドの破断等が発生した場合の判定方法について説明する。

上述のワイヤロープの摩耗は、連続的な変化であり、図１１、図１２及び図１３に示す分布の中に全体がずれる場合や、分布の広がりが変化する場合があるが、分布から外れた値となることはない。

一方、ワイヤロープに発生する変形、つぶれ、キンク、ストランドの破断等は、局所的に発生する。このため、図１１の点２２、２３、図１２の点２６、図１３の点２８は、正常値を外れた異常値となる。これを判定するためには、外れ値が分布からの外れ度合いを算出し、一定以上外れた場合に異常と判定する。

図１４は、実施例に係るワイヤロープの検査方法を示すフローチャートである。

本図に示すように、ワイヤロープ検査装置７（図１）の距離センサにより、ワイヤロープ３の全長にわたって、距離センサからワイヤロープまでの距離を計測する（Ｓ１００）。

一対の距離センサの距離データからワイヤロープの外径ｄ_ｐを算出する（Ｓ１０１）。

算出したワイヤロープの外径ｄ_ｐからその分布曲線であるワイヤロープ外径波形を求め、ワイヤロープ外径波形が減少から増加に変わる点（極小値）を抽出する（Ｓ１０２）。これにより、分布曲線を１ピッチごとに切り分けることができる。

隣り合う極小値の間隔をピッチＰ_１～Ｐ_ｉとし、ピッチＰ_１～Ｐ_ｉのそれぞれに対応するワイヤロープの外径の極大値をＤ_ｘ，１～Ｄ_ｘ，ｉ、極小値をＤ_ｎ，１～Ｄ_ｎ，ｉとして算出する（Ｓ１０３）。以下、Ｐ_１～Ｐ_ｉ、Ｄ_ｘ，１～Ｄ_ｘ，ｉ、及びＤ_ｎ，１～Ｄ_ｎ，ｉをそれぞれまとめてＰ、Ｄ_ｘ、Ｄ_ｎと表す。

Ｄ_ｘの最小値がワイヤロープの外径の規定値以下である場合は、交換が必要であると判定する（Ｓ１０４）。

つぎに、Ｐ、Ｄ_ｘ及びＤ_ｘ－Ｄ_ｎの頻度分布を求める（Ｓ１０５）。

つぎに、Ｄ_ｘ－Ｄ_ｎの頻度分布から摩耗状態を判定する（Ｓ１０６）。

Ｐ、Ｄ_ｘ及びＤ_ｘ－Ｄ_ｎのいずれかの頻度分布において外れ値がある場合は、変形の可能性があると判定する（Ｓ１０７）。

さらに、必要に応じて、外径、変形、摩耗状態等についての判定の結果を出力する（Ｓ１０８）。

１：乗りかご、２：つり合い重り、３：ワイヤロープ、４：トラクションシーブ、５：そらせ、６：ワイヤロープ探傷装置、７：ワイヤロープ検査装置、８：信号処理データベース、９：ストランド、１０：心綱、１１：距離センサ、１２：センター装置、１３：作業用端末装置、１４：管理者端末装置、１５：ネットワーク、７１：処理部、７２：メモリ部、７３：インターフェース部、７４：データ入出力部、７５：通信部。

Claims

少なくとも一対の距離センサを有するワイヤロープ探傷装置と、
前記ワイヤロープ探傷装置から得られたデータに基いてワイヤロープの検査をするワイヤロープ検査装置と、を用いる、前記ワイヤロープの検査方法において、
前記ワイヤロープは、複数本のストランドが撚り合わされた構成を有し、
前記ワイヤロープ探傷装置は、前記ワイヤロープを挟んで対向して配置された前記一対の距離センサを用いて、前記距離センサのそれぞれと前記ストランドとの距離を計測し、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記距離センサの出力から前記ワイヤロープの外径を算出し、前記ワイヤロープの前記外径を表す波形を１ピッチごとに切り分け、前記外径の極大値の頻度分布を用いて判定をする、ワイヤロープの検査方法。
少なくとも一対の距離センサを有するワイヤロープ探傷装置と、
前記ワイヤロープ探傷装置から得られたデータに基いてワイヤロープの検査をするワイヤロープ検査装置と、を用いる、前記ワイヤロープの検査方法において、
前記ワイヤロープは、複数本のストランドが撚り合わされた構成を有し、
前記ワイヤロープ探傷装置は、前記ワイヤロープを挟んで対向して配置された前記一対の距離センサを用いて、前記距離センサのそれぞれと前記ストランドとの距離を計測し、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記距離センサの出力から前記ワイヤロープの外径を算出し、前記ワイヤロープの前記外径を表す波形を１ピッチごとに切り分け、前記外径の極大値と極小値との差の頻度分布を用いて判定をする、ワイヤロープの検査方法。
少なくとも一対の距離センサを有するワイヤロープ探傷装置と、
前記ワイヤロープ探傷装置から得られたデータに基いてワイヤロープの検査をするワイヤロープ検査装置と、を用いる、前記ワイヤロープの検査方法において、
前記ワイヤロープは、複数本のストランドが撚り合わされた構成を有し、
前記ワイヤロープ探傷装置は、前記ワイヤロープを挟んで対向して配置された前記一対の距離センサを用いて、前記距離センサのそれぞれと前記ストランドとの距離を計測し、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記距離センサの出力から前記ワイヤロープの外径を算出し、前記ワイヤロープの前記外径を表す波形を１ピッチごとに切り分け、前記ワイヤロープの前記ピッチの頻度分布を用いて判定をする、ワイヤロープの検査方法。
少なくとも一対の距離センサを有するワイヤロープ探傷装置と、
前記ワイヤロープ探傷装置から得られたデータに基いてワイヤロープの検査をするワイヤロープ検査装置と、を備えた、ワイヤロープの検査システムにおいて、
前記ワイヤロープは、複数本のストランドが撚り合わされた構成を有し、
前記一対の距離センサは、前記ワイヤロープを挟んで対向して配置され、前記距離センサのそれぞれと前記ストランドとの距離を計測し、
前記ワイヤロープ検査装置は、前記距離センサの出力から前記ワイヤロープの外径を算出し、前記ワイヤロープの前記外径を表す波形を１ピッチごとに切り分け、前記外径の極大値の頻度分布、前記外径の極大値と極小値との差の頻度分布又は前記ワイヤロープの前記ピッチの頻度分布を用いて判定をする、ワイヤロープの検査システム。