JP7389967B2 - Phosphorus-containing active ester, curable resin composition, cured product, prepreg, circuit board, build-up film, semiconductor encapsulant, and semiconductor device - Google Patents

Phosphorus-containing active ester, curable resin composition, cured product, prepreg, circuit board, build-up film, semiconductor encapsulant, and semiconductor device Download PDF

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本発明は、リン含有活性エステル、前記リン含有活性エステルを含む硬化性樹脂組成物、前記硬化性樹脂組成物より得られる硬化物、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、半導体封止材、及び、半導体装置に関する。 The present invention provides a phosphorus-containing active ester, a curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester, a cured product obtained from the curable resin composition, a prepreg, a circuit board, a build-up film, a semiconductor encapsulant, and Related to semiconductor devices.

エポキシ樹脂及びその硬化剤を必須成分とするエポキシ樹脂組成物は、その硬化物において優れた耐熱性と絶縁性を発現することから、半導体や多層プリント基板などの電子部品用途において広く用いられている。 Epoxy resin compositions containing epoxy resin and its curing agent as essential components exhibit excellent heat resistance and insulation properties in their cured products, and are therefore widely used in electronic component applications such as semiconductors and multilayer printed circuit boards. .

この電子部品用途のなかでも絶縁材料の技術分野では、近年、各種電子機器における信号の高速化、高周波数化が進んでいる。しかしながら、信号の高速化、高周波数化に伴って、十分に低い誘電率を維持しつつ、低い誘電正接を得ることが困難となりつつある。 Among these electronic component applications, in the technical field of insulating materials, in recent years, signals have been increasing in speed and frequency in various electronic devices. However, as the speed and frequency of signals become higher, it is becoming difficult to obtain a low dielectric loss tangent while maintaining a sufficiently low dielectric constant.

特許文献1には、低誘電率・低誘電正接(低誘電特性)を満足するために、硬化剤として多価フェノール類を用いたエポキシ樹脂組成物が開示されている。しかし、硬化剤として多価フェノール類を用いたエポキシ樹脂組成物から形成される硬化物をプリント基板(銅張積層板)などの用途に使用した際に、柔軟性に欠け、柔軟性に起因する銅箔への密着性が劣るなどの問題を有していたため、低誘電特性を維持しつつ、密着性をも兼備した硬化物が得られるエポキシ樹脂組成物の開発が望まれている。 Patent Document 1 discloses an epoxy resin composition using polyhydric phenols as a curing agent in order to satisfy low dielectric constant and low dielectric loss tangent (low dielectric properties). However, when a cured product formed from an epoxy resin composition that uses polyhydric phenols as a hardening agent is used for applications such as printed circuit boards (copper-clad laminates), it lacks flexibility and Because of problems such as poor adhesion to copper foil, there is a desire to develop an epoxy resin composition that can provide a cured product that maintains low dielectric properties and has good adhesion.

また、環境保護の観点から、ノンハロゲン難燃性のプリント基板(銅張積層板)の開発が求められており、エポキシ樹脂組成物に難燃剤として広く使用されるリン系難燃剤を添加したエポキシ樹脂組成物の開発が進められている。ただし、リン系難燃剤を添加したエポキシ樹脂組成物を用いた硬化物は、難燃効率が低く、多量に添加すると、硬化物表面に、難燃剤が移行するブリードアウト現象の発生や、銅箔への密着性が低下するなど、性能に影響を及ぼす問題を有しているため、硬化物中に化学結合で取り込まれる反応性リン系難燃剤が求められている(非特許文献1)。 In addition, from the perspective of environmental protection, there is a need to develop non-halogen flame-retardant printed circuit boards (copper-clad laminates). Development of the composition is underway. However, cured products using epoxy resin compositions containing phosphorus-based flame retardants have low flame retardant efficiency, and when added in large amounts, the flame retardant may migrate to the surface of the cured product, causing a bleed-out phenomenon or copper foil There is a need for a reactive phosphorus-based flame retardant that can be incorporated into the cured product through chemical bonds, as it has problems that affect performance, such as reduced adhesion to the cured product (Non-Patent Document 1).

特開2004-169021号公報Japanese Patent Application Publication No. 2004-169021

ネットワークポリマ― Vol.36 No.5(2015)第232-238頁Network Polymer Vol. 36 No. 5 (2015) pp. 232-238

そこで、本発明が解決しようとする課題は、得られる硬化物において、優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性を発現させることができるリン含有活性エステル、前記リン含有活性エステルを含む硬化性樹脂組成物、及び、前記硬化性樹脂組成物を用いて得られる硬化物、更には、前記硬化性樹脂組成物を用いたプリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、半導体封止材、及び、半導体装置などを提供することにある。 Therefore, the problem to be solved by the present invention is to provide a phosphorus-containing active ester that can exhibit excellent flame retardancy, low dielectric properties, and adhesion in the obtained cured product, and a phosphorus-containing active ester containing the phosphorus-containing active ester. A curable resin composition, a cured product obtained using the curable resin composition, and a prepreg, a circuit board, a build-up film, a semiconductor encapsulant, and a curable resin composition using the curable resin composition. Its purpose is to provide semiconductor devices and the like.

本発明者は、上記課題を解決すべく、鋭意検討を重ねた結果、硬化性樹脂組成物に特定のリン含有活性エステルを用いることで、得られる硬化物が、優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性を発現することを見出し、本発明を完成するに至った。 In order to solve the above problems, the present inventors have made extensive studies and found that by using a specific phosphorus-containing active ester in a curable resin composition, the resulting cured product has excellent flame retardancy and low dielectric properties. The present inventors have discovered that this material exhibits excellent properties and adhesion, and have completed the present invention.

即ち、本発明は、リン含有多価アルコール化合物の残基(A)と、芳香族多価カルボン酸の残基(Q)とが、エステル結合を介して結合された構造を有し、かつ、末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されていることを特徴とするリン含有活性エステルに関する。 That is, the present invention has a structure in which a residue (A) of a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound and a residue (Q) of an aromatic polyhydric carboxylic acid are bonded via an ester bond, and The present invention relates to a phosphorus-containing active ester whose terminal end is capped with a residue (C) of a monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound.

本発明のリン含有活性エステルは、下記一般式(1)で示されることが好ましい。

Figure 0007389967000001
[上記一般式(1)中、Aは、下記一般式(2)~(4)のいずれかで示される構造であり、Rは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であり、Qは、芳香族環であり、xは、0.1以上の平均繰り返し数であり、yは、1以上の平均繰り返し数であり、zは、1以上の平均繰り返し数であり、Arは、下記一般式(5)又は(6)で示される構造であり、
Figure 0007389967000002
Figure 0007389967000003
Figure 0007389967000004
Figure 0007389967000005
Figure 0007389967000006
上記一般式(2)~(4)中の♯は、上記一般式(1)中のAと結合する酸素原子との結合部位を表し、上記一般式(5)及び(6)中の*は、上記一般式(1)中のArと結合する酸素原子との結合部位を表し、RbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基であってもよく、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。Raは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであり、sは、0~7の整数であり、tは、0~5の整数である。] The phosphorus-containing active ester of the present invention is preferably represented by the following general formula (1).
Figure 0007389967000001
[In the above general formula (1), A is a structure represented by any of the following general formulas (2) to (4), and R is each independently a linear or branched alkylene group. , Q is an aromatic ring, x is an average repeating number of 0.1 or more, y is an average repeating number of 1 or more, z is an average repeating number of 1 or more, and Ar is , has a structure represented by the following general formula (5) or (6),
Figure 0007389967000002
Figure 0007389967000003
Figure 0007389967000004
Figure 0007389967000005
Figure 0007389967000006
# in the above general formulas (2) to (4) represents a bonding site with the oxygen atom bonded to A in the above general formula (1), and * in the above general formulas (5) and (6) , represents a bonding site between Ar and the oxygen atom in the above general formula (1), and Rb and Rc each independently represent an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, an aralkyl group. , or may be a naphthyl group, and Rb and Rc may form a cyclic structure. Ra is each independently a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group, s is an integer from 0 to 7, and t is It is an integer from 0 to 5. ]

本発明のリン含有活性エステルは、リン含有率が、1.8質量%以上であることが好ましい。 The phosphorus-containing active ester of the present invention preferably has a phosphorus content of 1.8% by mass or more.

本発明は、前記リン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂を含有する硬化性樹脂組成物に関する。 The present invention relates to a curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester and an epoxy resin.

本発明は、前記硬化性樹脂組成物を硬化反応させた硬化物に関する。 The present invention relates to a cured product obtained by subjecting the curable resin composition to a curing reaction.

本発明は、補強基材、及び、前記補強基材に含浸した前記硬化性樹脂組成物の半硬化物を有するプリプレグに関する。 The present invention relates to a reinforcing base material and a prepreg having a semi-cured product of the curable resin composition impregnated into the reinforcing base material.

本発明は、前記プリプレグ、及び、銅箔を積層し、加熱圧着成型して得られる回路基板に関する。 The present invention relates to a circuit board obtained by laminating the prepreg and copper foil and molding them under heat and pressure.

本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有するビルドアップフィルムに関する。 The present invention relates to a build-up film containing the curable resin composition.

本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有する半導体封止材に関する。 The present invention relates to a semiconductor encapsulant containing the curable resin composition.

本発明は、前記半導体封止材を加熱硬化した硬化物を含む半導体装置に関する。 The present invention relates to a semiconductor device including a cured product obtained by heating and curing the semiconductor encapsulant.

本発明によれば、得られる硬化物において優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性を発現させることのできるリン含有活性エステル、前記リン含有活性エステルを含む硬化性樹脂組成物、及び、前記硬化性樹脂組成物を用いて得られる硬化物、更には、前記硬化性樹脂組成物を用いた半導体封止材、半導体装置、プレプリグ、回路基板、及び、ビルドアップフィルムなどを提供することができ、有用である。 According to the present invention, a phosphorus-containing active ester that can exhibit excellent flame retardancy, low dielectric properties, and adhesion in a cured product obtained, a curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester, and , to provide a cured product obtained using the curable resin composition, and further to provide a semiconductor encapsulant, a semiconductor device, a prepreg, a circuit board, a build-up film, etc. using the curable resin composition. It is possible and useful.

合成例1で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of the diphenyl isophthalate derivative (A-1) obtained in Synthesis Example 1. 合成例1で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)のH-NMRチャートである。1 is a 1 H-NMR chart of diphenyl isophthalate derivative (A-1) obtained in Synthesis Example 1. 合成例1で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)のFD-MSスペクトルチャートである。1 is an FD-MS spectrum chart of diphenyl isophthalate derivative (A-1) obtained in Synthesis Example 1. 合成例2で得られたリン含有ジオール(PC-HCA-HQ)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 2. 合成例2で得られたリン含有ジオール(PC-HCA-HQ)の13C-NMRチャートである。13 is a 13 C-NMR chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 2. 合成例2で得られたリン含有ジオール(PC-HCA-HQ)のFD-MSスペクトルチャートである。1 is an FD-MS spectrum chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 2. 実施例1で得られたリン含有活性エステル(B-1)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-1) obtained in Example 1. 実施例1で得られたリン含有活性エステル(B-1)の13C-NMRチャートである。1 is a 13 C-NMR chart of the phosphorus-containing active ester (B-1) obtained in Example 1. 実施例1で得られたリン含有活性エステル(B-1)のFD-MSスペクトルチャートである。1 is an FD-MS spectrum chart of the phosphorus-containing active ester (B-1) obtained in Example 1. 合成例3で得られたリン含有ジオール(EC-HCA-HQ)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (EC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 3. 実施例2で得られたリン含有活性エステル(B-2)のGPCチャートである。2 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-2) obtained in Example 2. 合成例4で得られたリン含有ジオール(PC-HCA-NQ)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-NQ) obtained in Synthesis Example 4. 実施例3で得られたリン含有活性エステル(B-3)のGPCチャートである。3 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-3) obtained in Example 3. 合成例5で得られたリン含有ジオール(PC-PPQ)のGPCチャートである。2 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (PC-PPQ) obtained in Synthesis Example 5. 実施例4で得られたリン含有活性エステル(B-4)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-4) obtained in Example 4. 比較合成例1で得られた中間体(C-1)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of intermediate (C-1) obtained in Comparative Synthesis Example 1. 比較合成例2で得られたリン含有中間体(C-2)のGPCチャートである。2 is a GPC chart of the phosphorus-containing intermediate (C-2) obtained in Comparative Synthesis Example 2. 比較例1で得られたリン含有活性エステル(C-3)のGPCチャートである。1 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (C-3) obtained in Comparative Example 1.

<活性エステル(I)>
本発明のリン含有活性エステルは、リン含有多価アルコール化合物の残基(A)と、芳香族多価カルボン酸の残基(Q)とが、エステル結合を介して結合された構造を有し、かつ、末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されていることを特徴とする。
前記リン含有活性エステルは、エポキシ樹脂の硬化時に生じる水酸基を抑制するエステル結合を有し、柔軟セグメントになりうる前記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)を含み、更に構造中に難燃性に寄与するリン原子を含むため、このリン含有活性エステルを用いた硬化物は、難燃性、柔軟性、低誘電特性、及び、密着性に優れ、有用である。
<Active ester (I)>
The phosphorus-containing active ester of the present invention has a structure in which a residue (A) of a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound and a residue (Q) of an aromatic polyhydric carboxylic acid are bonded via an ester bond. , and the end thereof is capped with a residue (C) of a monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound.
The phosphorus-containing active ester has an ester bond that suppresses hydroxyl groups generated during curing of the epoxy resin, contains a residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound that can become a flexible segment, and further has flame retardant in its structure. Since it contains a phosphorus atom that contributes to properties, a cured product using this phosphorus-containing active ester is useful because it has excellent flame retardancy, flexibility, low dielectric properties, and adhesion.

本発明のリン含有活性エステルは、前記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)を含むが、その価数としては、好ましくは、2~5価であり、より好ましくは、2価である。前記価数が2価以上であると、生成する活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。また、前記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)としては、構造中に難燃性に寄与するリン原子を含み、かつ、少なくとも2以上の直鎖又は分岐鎖のアルキレン基又はアルキレンオキシ基と結合する芳香環を含むことが好ましい。 The phosphorus-containing active ester of the present invention contains the residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound, and its valence is preferably 2 to 5, more preferably divalent. . When the valence is two or more, the number of functional groups in the generated active ester is two or more, which is excellent from the viewpoint of curability. Furthermore, the residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound includes a phosphorus atom that contributes to flame retardancy in its structure, and at least two or more linear or branched alkylene groups or alkyleneoxy groups. It is preferable to include an aromatic ring bonded to.

本発明のリン含有活性エステルは、前記芳香族多価カルボン酸の残基(Q)を含むが、その価数としては、好ましくは、2~4価であり、より好ましくは、2価である。前記価数が2価以上であると、生成するリン含有活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。また、前記芳香族とは、カルボキシル基を有する芳香族環を有する化合物であれば、特に制限されない。 The phosphorus-containing active ester of the present invention contains a residue (Q) of the aromatic polycarboxylic acid, and its valence is preferably 2 to 4, more preferably 2. . When the valence is two or more, the number of functional groups in the phosphorus-containing active ester to be produced is two or more, which is excellent from the viewpoint of curability. Further, the aromatic compound is not particularly limited as long as it is a compound having an aromatic ring having a carboxyl group.

本発明のリン含有活性エステルは、前記末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されているリン含有活性エステルであるが、前記末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物とは、芳香族環を有し、芳香族環上に水酸基を1個(1価)有する化合物であれば、特に制限されない。 The phosphorus-containing active ester of the present invention is a phosphorus-containing active ester whose terminal end is capped with a residue (C) of a monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound; The hydroxyl group-containing compound is not particularly limited as long as it has an aromatic ring and one (monovalent) hydroxyl group on the aromatic ring.

本発明のリン含有活性エステルは、前記リン含有多価アルコール化合物のリン含有量が4~25質量%であることが好ましく、5~24質量%であることがより好ましく、6~23質量%であると更に好ましい。前記範囲であると硬化物の耐熱性と誘電特性の観点から優れるため好ましい。 In the phosphorus-containing active ester of the present invention, the phosphorus content of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound is preferably 4 to 25% by mass, more preferably 5 to 24% by mass, and more preferably 6 to 23% by mass. It is even more preferable. The above range is preferable because the cured product is excellent in terms of heat resistance and dielectric properties.

なお、本発明における前記「リン含有多価アルコール化合物の残基(A)」は、リン含有多価アルコール化合物から水酸基を除いた基を示すものであり、前記「芳香族多価カルボン酸の残基(Q)」は、芳香族多価カルボン酸からカルボキシル基を除いた基を示すものであり、「末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)」は、芳香族性水酸基含有化合物から水酸基を除いた基を示すものである。また、前記リン含有多価アルコール化合物とは、脂肪族アルコールだけでなく、芳香族環を含んだリン含有多価アルコール化合物を含んでもよい。 In addition, the above-mentioned "residue of a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound (A)" in the present invention indicates a group obtained by removing a hydroxyl group from a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound, and the above-mentioned "residue of an aromatic polyhydric carboxylic acid" "Group (Q)" refers to a group obtained by removing a carboxyl group from an aromatic polycarboxylic acid, and "Residue (C) of a compound containing a monovalent aromatic hydroxyl group at the terminal" refers to a group obtained by removing a carboxyl group from an aromatic polycarboxylic acid. This refers to a group obtained by removing a hydroxyl group from a hydroxyl group-containing compound. Further, the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound may include not only an aliphatic alcohol but also a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound containing an aromatic ring.

<活性エステル(II)>
本発明のリン含有活性エステルは、下記一般式(1)で示されることが好ましい。

Figure 0007389967000007
<Active ester (II)>
The phosphorus-containing active ester of the present invention is preferably represented by the following general formula (1).
Figure 0007389967000007

上記一般式(1)中、Aは、下記一般式(2)~(4)のいずれかで示される構造であり、Rは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であり、Qは、芳香族環であり、xは0.1以上の平均繰り返し数であり、yは1以上の平均繰り返し数であり、zは1以上の平均繰り返し数であり、Arは、下記一般式(5)又は(6)で示される構造である。

Figure 0007389967000008
Figure 0007389967000009
Figure 0007389967000010
Figure 0007389967000011
Figure 0007389967000012
In the above general formula (1), A is a structure represented by any of the following general formulas (2) to (4), and R is each independently a linear or branched alkylene group, Q is an aromatic ring, x is an average repeating number of 0.1 or more, y is an average repeating number of 1 or more, z is an average repeating number of 1 or more, and Ar represents the following general formula This is the structure shown in (5) or (6).
Figure 0007389967000008
Figure 0007389967000009
Figure 0007389967000010
Figure 0007389967000011
Figure 0007389967000012

上記一般式(2)~(4)中の♯は、上記一般式(1)中のAと結合する酸素原子との結合部位を表し、上記一般式(5)及び(6)中の*は、上記一般式(1)中のArと結合する酸素原子との結合部位を表し、RbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基であってもよく、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。Raは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであり、sは、0~7の整数であり、tは、0~5の整数であることが好ましい。
前記リン含有活性エステルは、複数のエステル結合を有し、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基などを含むため、この鎖構造は極性が低く、柔軟セグメントを構成するため、柔軟性や低誘電特性に優れた硬化物を得ることができ、有用である。
# in the above general formulas (2) to (4) represents a bonding site with the oxygen atom bonded to A in the above general formula (1), and * in the above general formulas (5) and (6) , represents a bonding site between Ar and the oxygen atom in the above general formula (1), and Rb and Rc each independently represent an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, an aralkyl group. , or may be a naphthyl group, and Rb and Rc may form a cyclic structure. Ra is each independently a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group, s is an integer from 0 to 7, and t is It is preferably an integer from 0 to 5.
The phosphorus-containing active ester has multiple ester bonds and contains linear or branched alkylene groups, so this chain structure has low polarity and forms flexible segments, resulting in flexibility and low dielectric properties. An excellent cured product can be obtained and it is useful.

上記一般式(1)中のAは、上記一般式(2)~(4)のいずれかで示される構造であることが好ましく、上記一般式(2)~(4)中のRbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであることが好ましく、また、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。中でも、上記一般式(1)中のAは、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-9,10-ジヒドロ9-オキサ-10-フォスファフェナントレン-10-オキサイド構造や、10-[2-(ジヒドロキシナフチル)] -9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナントレン-10-オキサイド構造であることがより好ましい。前記構造は、リン原子を含有し、かつ、芳香環濃度の高い構造であることから、リン含有活性エステルに基づく難燃性を向上させる効果に寄与することができ、好ましい。従来知られている分子構造中に脂肪族環状炭化水素基を有する活性エステルは、得られる硬化物における誘電特性(低誘電特性)に優れる反面、燃焼し易く、耐熱性も十分ではないものであったところ、前記リン含有活性エステルは、分子構造中に芳香族環を複数導入することにより、誘電特性と難燃性とを兼備させることができ、有用となる。また、前記構造のように、嵩高い置換基構造を有する活性エステルは、嵩高い置換基構造を持たない活性エステルと比較して、硬化反応に関与する活性基濃度が低下することから、硬化物の耐熱性が劣る傾向にあるところ、前記リン含有活性エステルは誘電特性や難燃性のみならず、耐熱性にも優れる特徴を有しており、各種性能を兼備することができ、有用である。 A in the above general formula (1) is preferably a structure represented by any of the above general formulas (2) to (4), and Rb and Rc in the above general formulas (2) to (4) are , each independently is preferably an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, an aralkyl group, or a naphthyl group, and Rb and Rc form a cyclic structure. Good too. Among them, A in the above general formula (1) is 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-9,10-dihydro9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide structure, 10-[2- (dihydroxynaphthyl)]-9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide structure is more preferred. Since the structure contains a phosphorus atom and has a high concentration of aromatic rings, it can contribute to the effect of improving the flame retardance based on the phosphorus-containing active ester, and is therefore preferable. Conventionally known activated esters having an aliphatic cyclic hydrocarbon group in their molecular structures have excellent dielectric properties (low dielectric properties) in the resulting cured products, but they are easily combustible and do not have sufficient heat resistance. However, the phosphorus-containing active ester is useful because it can have both dielectric properties and flame retardancy by introducing a plurality of aromatic rings into its molecular structure. In addition, active esters having a bulky substituent structure, such as the above structure, have a lower concentration of active groups involved in the curing reaction than active esters that do not have a bulky substituent structure. While the heat resistance of phosphorus-containing active esters tends to be poor, the above-mentioned phosphorus-containing activated esters have excellent not only dielectric properties and flame retardance but also heat resistance, and are useful because they can have various performances. .

上記一般式(1)中のRは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であることが好ましく、前記直鎖又は分岐鎖に含まれる炭素原子数としては、2~16であることがより好ましく、2~10であることが更に好ましい。炭素原子数が、前記範囲内であると、相溶性に優れたリン含有活性エステルとなり、好ましい態様となる。 Each R in the above general formula (1) is preferably a linear or branched alkylene group, and the number of carbon atoms contained in the linear or branched chain is 2 to 16. It is more preferable that the number is 2 to 10. When the number of carbon atoms is within the above range, the phosphorus-containing active ester has excellent compatibility, which is a preferred embodiment.

上記一般式(1)中のxは、0.1以上の平均繰り返し数であることが好ましく、中でも、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、平均繰り返し数xは、0.5~3であることがより好ましく、0.7~2.8であることが更に好ましい。 It is preferable that x in the above general formula (1) has an average repetition number of 0.1 or more. Among these, from the viewpoint of workability and flexibility of the obtained cured product, the average repetition number x is 0.5. It is more preferably from 0.7 to 2.8, and even more preferably from 0.7 to 2.8.

上記一般式(1)中のyは、1以上の平均繰り返し数であることが好ましく、中でも、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、平均繰り返し数yは、1~5であることがより好ましい。 It is preferable that y in the above general formula (1) has an average repeating number of 1 or more, and especially from the viewpoint of workability and flexibility of the obtained cured product, the average repeating number y is 1 to 5. It is more preferable.

上記一般式(1)中のzは、1以上の平均繰り返し数であることが好ましく、中でも、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、平均繰り返し数zは、1~5であることがより好ましい。 It is preferable that z in the above general formula (1) has an average repeating number of 1 or more, and especially from the viewpoint of workability and flexibility of the obtained cured product, the average repeating number z is 1 to 5. It is more preferable.

上記一般式(1)中のQは、芳香族環であることが好ましく、ベンゼン環、ナフタレン環、又はアントラセン環のいずれかの芳香族環であることがより好ましく、中でも工業的原料の入手の容易さ、溶解性の観点から、ベンゼン環であることがより好ましい。 Q in the above general formula (1) is preferably an aromatic ring, more preferably any aromatic ring such as a benzene ring, a naphthalene ring, or an anthracene ring. From the viewpoint of ease and solubility, a benzene ring is more preferred.

上記一般式(2)~(4)中のRbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであることが好ましく、中でも、得られる硬化物の物性や工業的な入手の容易さの観点から、炭素原子数2~12の直鎖または環状アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、または、ナフチル基であることがより好ましい。
また、上記一般式(2)~(4)中のRbおよびRcが環状構造を形成してもよく、工業的原料の入手の容易さの観点から、アルコキシ基、アリール基、または、ナフチル基を有する環状構造であることがより好ましい。なお、ここでの、RbおよびRcが環状構造を形成するとは、Rb及びRcが結合することで環状構造を形成している場合を意味し、芳香族環を含む構造や、脂環式構造を形成していてもよい。
Rb and Rc in the above general formulas (2) to (4) are each independently an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, an aralkyl group, or a naphthyl group. Among them, from the viewpoint of physical properties of the obtained cured product and ease of industrial availability, straight chain or cyclic alkyl groups having 2 to 12 carbon atoms, alkoxy groups, allyl groups, aryl groups, or naphthyl groups are preferred. More preferably, it is a group.
In addition, Rb and Rc in the above general formulas (2) to (4) may form a cyclic structure, and from the viewpoint of ease of obtaining industrial raw materials, an alkoxy group, an aryl group, or a naphthyl group may be used. It is more preferable that it has a cyclic structure. Note that Rb and Rc form a cyclic structure here means that Rb and Rc combine to form a cyclic structure, and do not include a structure containing an aromatic ring or an alicyclic structure. It may be formed.

上記一般式(1)中のArは、上記一般式(5)又は(6)で示される構造であることが好ましく、上記一般式(5)又は(6)中のRaは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであることが好ましく、中でも、誘電特性(低誘電特性)、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、炭素原子数1~4のアルキル基、炭素原子数1~4のアルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基であることがより好ましい。 Ar in the above general formula (1) preferably has a structure represented by the above general formula (5) or (6), and Ra in the above general formula (5) or (6) each independently , a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group.Among them, it is preferable to use a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group. From the viewpoint of flexibility, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group is more preferable.

上記一般式(5)又は(6)中のsは、0~7の整数であり、tは、0~5の整数であることが好ましく、s及びtは、それぞれ独立して、0~5の整数であることがより好ましく、反応性や、得られる硬化物の柔軟性の観点から、s及びtは、それぞれ独立して、0~4の整数であることが更に好ましい。 In the above general formula (5) or (6), s is an integer of 0 to 7, t is preferably an integer of 0 to 5, and s and t are each independently an integer of 0 to 5. It is more preferable that s and t are each independently an integer of 0 to 4 from the viewpoint of reactivity and flexibility of the obtained cured product.

本発明のリン含有活性エステル(例えば、上記(I)及び(II))は、エポキシ樹脂等の硬化剤としての機能を有するものであり、その構造中に柔軟セグメントを有し、前記リン含有活性エステルを使用し得られる硬化物に柔軟性を付与することができ、好ましい態様となる。また、前記リン含有活性エステルとエポキシ樹脂との反応時において、水酸基の発生を防止または抑制することができ、低誘電特性に優れ、有用である。更に、前記リン含有活性エステルは、その構造中にリン原子が組み込まれているため、難燃性に優れるだけでなく、難燃剤として使用される添加型のリン系難燃剤に対して、ブリードアウトが抑制され、ガラス基材や銅箔などへの密着性に優れ有用となる。 The phosphorus-containing active ester of the present invention (for example, (I) and (II) above) has a function as a curing agent for epoxy resins, etc., has a flexible segment in its structure, and has the phosphorus-containing active ester. Flexibility can be imparted to the cured product obtained by using the ester, which is a preferred embodiment. Furthermore, it is possible to prevent or suppress the generation of hydroxyl groups during the reaction between the phosphorus-containing active ester and the epoxy resin, and is useful because it has excellent low dielectric properties. Furthermore, since the phosphorus-containing active ester has phosphorus atoms incorporated into its structure, it not only has excellent flame retardancy, but also has less bleed-out properties than additive-type phosphorus-based flame retardants used as flame retardants. is suppressed and has excellent adhesion to glass substrates, copper foil, etc., making it useful.

本発明のリン含有活性エステルは、例えば、上記リン含有活性エステル(I)及び(II)のいずれかに示す構造を有するエステル化合物であれば、特に制限されないが、例えば、2個以上のカルボキシル基を有する芳香族化合物および/またはその酸ハロゲン化物もしくはエステル化物(a)と、芳香族モノヒドロキシ化合物(b)との反応生成物(c)に、リン含有ポリオール化合物(d)を反応して得られる反応生成物(上記リン含有活性エステルに相当する化合物)であることが好ましい。前記リン含有活性エステルを用いることにより、低誘電正接であり、かつ、より難燃性、耐熱性、耐湿熱性、及び、密着性に優れる硬化物が得られ好ましい態様となる。その理由は、必ずしも明らかではないが、得られるリン含有活性エステルは、アリールオキシカルボニル基(活性エステル基)を末端に含有するため、後述するエポキシ樹脂が有するエポキシ基と高い反応性を示し、この高い反応性により、エポキシ基の開環により生じる水酸基の発生を防止または抑制することができ、好ましい態様となる。また、前記リン含有活性エステルは、分子中に水酸基を有さない、または、ほとんど有さないため、前記リン含有活性エステルが反応して得られる硬化物中についても、リン含有活性エステル由来の水酸基を有さない、または、ほとんど有さない。このような活性エステルによれば、硬化時における水酸基の発生を防止または抑制することができる。一般に、極性が高い水酸基は、誘電正接を上昇させることが知られているが、前記リン含有活性エステルを用いることで、硬化物における低誘電正接を実現することができ、特に有用である。 The phosphorus-containing active ester of the present invention is not particularly limited as long as it is an ester compound having the structure shown in either of the above-mentioned phosphorus-containing active esters (I) and (II), but for example, it has two or more carboxyl groups. and/or its acid halide or ester (a) and an aromatic monohydroxy compound (b), with a phosphorus-containing polyol compound (d). The reaction product (compound corresponding to the above-mentioned phosphorus-containing active ester) is preferable. By using the phosphorus-containing active ester, a cured product having a low dielectric loss tangent and excellent flame retardancy, heat resistance, moist heat resistance, and adhesion can be obtained, which is a preferred embodiment. The reason for this is not necessarily clear, but since the obtained phosphorus-containing active ester contains an aryloxycarbonyl group (active ester group) at the end, it exhibits high reactivity with the epoxy group of the epoxy resin described below. The high reactivity makes it possible to prevent or suppress the generation of hydroxyl groups caused by ring opening of epoxy groups, which is a preferred embodiment. In addition, since the phosphorus-containing active ester has no or almost no hydroxyl group in its molecule, hydroxyl groups derived from the phosphorus-containing active ester also exist in the cured product obtained by the reaction of the phosphorus-containing active ester. have no or almost no According to such an active ester, generation of hydroxyl groups during curing can be prevented or suppressed. Generally, it is known that highly polar hydroxyl groups increase the dielectric loss tangent, but the use of the phosphorus-containing active ester makes it possible to achieve a low dielectric loss tangent in the cured product, which is particularly useful.

また、前記リン含有活性エステルは、後述するエポキシ樹脂のエポキシ基と反応活性を有するエステル結合を2個以上有するため、硬化物の架橋密度が高くなり、耐熱性が向上しうる。 Moreover, since the phosphorus-containing active ester has two or more ester bonds that have a reactive activity with the epoxy group of the epoxy resin described below, the crosslinking density of the cured product can be increased and the heat resistance can be improved.

本発明のリン含有活性エステルは、アルキレン基やアルキレンオキシ基(アルキレンエーテル鎖)などの柔軟セグメントを有し、水酸基を有さない、または、ほとんど有さないため、極性の低い構造を有しており、得られる硬化物において優れた難燃性、柔軟性、耐吸湿性、柔軟性に起因する銅箔などへの密着性、及び、低誘電特性を発現させることのできる硬化性樹脂組成物(例えば、エポキシ樹脂を含有するエポキシ樹脂組成物)、さらには、上記硬化性樹脂組成物を用いた半導体封止材料、半導体装置、プレプリグ、回路基板、及び、ビルドアップフィルムなどを提供でき、好ましい態様となる。 The phosphorus-containing active ester of the present invention has a flexible segment such as an alkylene group or an alkyleneoxy group (alkylene ether chain), and has no or almost no hydroxyl group, so it has a low polar structure. A curable resin composition that can exhibit excellent flame retardancy, flexibility, moisture absorption resistance, adhesion to copper foil etc. due to flexibility, and low dielectric properties in the resulting cured product ( For example, an epoxy resin composition containing an epoxy resin), a semiconductor encapsulation material, a semiconductor device, a prepreg, a circuit board, a build-up film, etc. using the above-mentioned curable resin composition can be provided, and a preferred embodiment becomes.

前記リン含有活性エステルとしては、後述する硬化性樹脂組成物として調製する際のハンドリング性や、その硬化物の耐熱性、誘電特性とのバランスがより優れる観点から、前記リン含有活性エステルの軟化点が200℃以下であることが好ましく、180℃以下であることがより好ましい。 The phosphorus-containing active ester is selected from the softening point of the phosphorus-containing active ester, from the viewpoint of handling properties when preparing a curable resin composition, which will be described later, and a better balance between heat resistance and dielectric properties of the cured product. is preferably 200°C or less, more preferably 180°C or less.

[2個以上のカルボキシル基を有する芳香族化合物および/またはその酸ハロゲン化物もしくはエステル化物(a)]
前記2個以上のカルボキシル基を有する芳香族化合物および/またはその酸ハロゲン化物もしくはエステル化物(a)(上記芳香族多価カルボン酸の残基(Q)に由来する化合物)は、2個以上のカルボキシル基を有するカルボン酸、またはその誘導体であり、具体的にはカルボン酸、酸ハロゲン化物、エステル化物(以下、「芳香族化合物等(a)」と称することがある。)である。前記芳香族化合物等(a)は、2個以上のカルボキシル基等を有することにより、後述の芳香族モノヒドロキシ化合物(b)や、更に、リン含有ポリオール化合物(d)(以下、単に「化合物(d)」と称する場合がある。)(上記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)に由来する化合物)と反応することで、リン含有活性エステルの構造中において、前記化合物(d)由来の柔軟性を有する構造部位と、末端にエポキシ硬化性を有するアリールオキシカルボニル構造の両方を含有する構造を形成することができ、リン含有活性エステルの構造中において、高い反応活性を有するエステル構造(活性エステル基)を形成しうる。また、得られるリン含有活性エステルは、アリールオキシカルボニル末端を有することになり、誘電特性の観点から優れる。
[Aromatic compound having two or more carboxyl groups and/or acid halide or ester thereof (a)]
The aromatic compound having two or more carboxyl groups and/or its acid halide or ester (a) (a compound derived from the residue (Q) of the aromatic polyhydric carboxylic acid) has two or more carboxyl groups. A carboxylic acid having a carboxyl group or a derivative thereof, specifically a carboxylic acid, an acid halide, or an esterified product (hereinafter sometimes referred to as "aromatic compound etc. (a)"). The aromatic compound etc. (a) has two or more carboxyl groups, etc., so that the aromatic monohydroxy compound (b) described below, and the phosphorus-containing polyol compound (d) (hereinafter simply referred to as "compound ( d) (compound derived from the residue (A) of the above-mentioned phosphorus-containing polyhydric alcohol compound), in the structure of the phosphorus-containing active ester. It is possible to form a structure containing both a structural moiety with flexibility and an aryloxycarbonyl structure with epoxy curability at the terminal. active ester groups). Moreover, the obtained phosphorus-containing active ester has an aryloxycarbonyl terminal, and is excellent from the viewpoint of dielectric properties.

前記芳香族化合物等(a)中のカルボキシル基数としては、より好ましくは2~4個であり、さらに好ましくは、2個である。前記カルボキシル基数が少なくとも2個(2個以上)有することで、生成するリン含有活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。 The number of carboxyl groups in the aromatic compound (a) is more preferably 2 to 4, and even more preferably 2. By having at least two (two or more) carboxyl groups, the number of functional groups in the generated phosphorus-containing active ester is two or more, which is excellent from the viewpoint of curability.

前記芳香族化合物等(a)としては、特に制限されないが、置換または非置換の芳香族環に2個以上のカルボキシル基等を有する化合物が挙げられる。なお、「カルボキシル基等」とは、カルボキシル基;フッ化アシル基、塩化アシル基、臭化アシル基等のハロゲン化アシル基;メチルオキシカルボニル基、エチルオキシカルボニル基等のアルキルオキシカルボニル基;フェニルオキシカルボニル基、ナフチルオキシカルボニル基等のアリールオキシカルボニル基等が挙げられる。なお、ハロゲン化アシル基を有する場合、前記芳香族化合物は酸ハロゲン化物であり、アルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基を有する場合、前記芳香族化合物はエステル化物となりうる。これらのうち、前記芳香族化合物はカルボキシル基、ハロゲン化アシル基、アリールオキシカルボニル基を有することが好ましく、カルボキシル基、ハロゲン化アシル基を有することがさらに好ましく、カルボキシル基、塩化アシル基、臭化アシル基を有することがさらに好ましい。 The aromatic compounds (a) include, but are not particularly limited to, compounds having two or more carboxyl groups in a substituted or unsubstituted aromatic ring. In addition, "carboxyl group etc." refers to carboxyl group; halogenated acyl group such as acyl fluoride group, acyl chloride group, and acyl bromide group; alkyloxycarbonyl group such as methyloxycarbonyl group and ethyloxycarbonyl group; phenyl Examples include aryloxycarbonyl groups such as oxycarbonyl group and naphthyloxycarbonyl group. In addition, when it has a halogenated acyl group, the said aromatic compound is an acid halide, and when it has an alkyloxycarbonyl group or an aryloxycarbonyl group, the said aromatic compound can be an esterified product. Among these, the aromatic compound preferably has a carboxyl group, a halogenated acyl group, or an aryloxycarbonyl group, and more preferably has a carboxyl group, a halogenated acyl group, and a carboxyl group, an acyl chloride group, or an aryloxycarbonyl group. It is more preferable to have an acyl group.

前記芳香族環としては、特に制限されないが、単環芳香族環、縮環芳香族環、環集合芳香族環、アルキレン鎖により連結される芳香族環等が挙げられる。 Examples of the aromatic ring include, but are not particularly limited to, monocyclic aromatic rings, condensed aromatic rings, ring-assembled aromatic rings, aromatic rings connected by alkylene chains, and the like.

前記芳香族化合物等(a)としては、特に制限されないが、イソフタル酸、テレフタル酸、5-アリルイソフタル酸、2-アリルテレフタル酸等のベンゼンジカルボン酸;トリメリット酸、5-アリルトリメリット酸等のベンゼントリカルボン酸;ナフタレン-1,4-ジカルボン酸、ナフタレン-1,5-ジカルボン酸、ナフタレン-2,3-ジカルボン酸、ナフタレン-2,6-ジカルボン酸、ナフタレン-2,7-ジカルボン酸、3-アリルナフタレン-1,4-ジカルボン酸、3,7-ジアリルナフタレン-1,4-ジカルボン酸等のナフタレンジカルボン酸;2,4,5-ピリジントリカルボン酸等のピリジントリカルボン酸;1,3,5-トリアジン-2,4,6-トリカルボン酸等のトリアジンカルボン酸;これらの酸ハロゲン化物、エステル化物等が挙げられる。これらのうち、ベンゼンジカルボン酸、ベンゼントリカルボン酸であることが好ましく、イソフタル酸、テレフタル酸、イソフタル酸クロリド、テレフタル酸クロリド、1,3,5-ベンゼントリカルボン酸、1,3,5-ベンゼントリカルボニルトリクロリドであることがより好ましく、イソフタル酸クロリド、テレフタル酸クロリド、1,3,5-ベンゼントリカルボニルトリクロリドであることがさらに好ましい。 The aromatic compounds (a) include, but are not particularly limited to, benzenedicarboxylic acids such as isophthalic acid, terephthalic acid, 5-allylisophthalic acid, and 2-allyl terephthalic acid; trimellitic acid, 5-allyl trimellitic acid, etc. benzenetricarboxylic acid; naphthalene-1,4-dicarboxylic acid, naphthalene-1,5-dicarboxylic acid, naphthalene-2,3-dicarboxylic acid, naphthalene-2,6-dicarboxylic acid, naphthalene-2,7-dicarboxylic acid, Naphthalene dicarboxylic acids such as 3-allylnaphthalene-1,4-dicarboxylic acid and 3,7-diallylnaphthalene-1,4-dicarboxylic acid; pyridinetricarboxylic acids such as 2,4,5-pyridinetricarboxylic acid; 1,3, Examples include triazinecarboxylic acids such as 5-triazine-2,4,6-tricarboxylic acid; acid halides and esterified products thereof. Among these, benzenedicarboxylic acid and benzenetricarboxylic acid are preferred, and isophthalic acid, terephthalic acid, isophthalic acid chloride, terephthalic acid chloride, 1,3,5-benzenetricarboxylic acid, and 1,3,5-benzenetricarboxylic acid. Trichloride is more preferred, and isophthalic acid chloride, terephthalic acid chloride, and 1,3,5-benzenetricarbonyl trichloride are even more preferred.

上述のうち、得られる硬化物の柔軟性、原料の工業的な入手の容易さや作業性の観点から、芳香族環が単環芳香族環である芳香族化合物等、芳香族環が縮環芳香族環である芳香族化合物等であることが好ましく、ベンゼンジカルボン酸、ベンゼントリカルボン酸、ナフタレンジカルボン酸、これらの酸ハロゲン化物であることが好ましく、ベンゼンジカルボン酸、ナフタレンジカルボン酸、これらの酸ハロゲン化物であることがより好ましく、イソフタル酸、テレフタル酸、ナフタレン-1,5-ジカルボン酸、ナフタレン-2,3-ジカルボン酸、ナフタレン-2,6-ジカルボン酸、ナフタレン-2,7-ジカルボン酸、1,3,5-ベンゼンとリカルボン酸これらの酸ハロゲン化物であることがさらに好ましい。上述の芳香族化合物等(a)は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Among the above, from the viewpoint of flexibility of the resulting cured product, ease of industrial availability of raw materials, and workability, aromatic compounds in which the aromatic ring is a monocyclic aromatic ring, etc. Aromatic compounds having a group ring are preferable, and benzenedicarboxylic acid, benzenetricarboxylic acid, naphthalene dicarboxylic acid, and acid halides of these are preferable. More preferably, isophthalic acid, terephthalic acid, naphthalene-1,5-dicarboxylic acid, naphthalene-2,3-dicarboxylic acid, naphthalene-2,6-dicarboxylic acid, naphthalene-2,7-dicarboxylic acid, 1 , 3,5-benzene and dicarboxylic acid. More preferably, these are acid halides. The above-mentioned aromatic compounds (a) may be used alone or in combination of two or more.

[芳香族モノヒドロキシ化合物(b)]
本発明で用いる芳香族モノヒドロキシ化合物(b)(上記末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)に由来する化合物)は、例えば、フェノール、o-クレゾール、m-クレゾール、p-クレゾール、2,4-キシレノール、2,6-キシレノール、ターシャリーブチルフェノール、アミルフェノール等のアルキルフェノール;o-フェニルフェノール、p-フェニルフェノール、2-ベンジルフェノール、4-ベンジルフェノール、スチレン化フェノール、4-(α-クミル)フェノール等のアラルキルフェノール;1-ナフトール、2-ナフトール等のナフトール化合物が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。中でも、誘電特性(低誘電特性)に優れる硬化物が得られることから、o-クレゾールやナフトールであることが好ましい。
[Aromatic monohydroxy compound (b)]
The aromatic monohydroxy compound (b) used in the present invention (a compound whose terminal is derived from the residue (C) of the monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound) is, for example, phenol, o-cresol, m-cresol, Alkylphenols such as p-cresol, 2,4-xylenol, 2,6-xylenol, tert-butylphenol, amylphenol; o-phenylphenol, p-phenylphenol, 2-benzylphenol, 4-benzylphenol, styrenated phenol, Examples include aralkylphenols such as 4-(α-cumyl)phenol; and naphthol compounds such as 1-naphthol and 2-naphthol. Each of these may be used alone, or two or more types may be used in combination. Among these, o-cresol and naphthol are preferred because they yield a cured product with excellent dielectric properties (low dielectric properties).

前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)との反応としては、特に制限されないが、例えば、アルカリ触媒の存在下、60℃以下の温度条件下で、1~24時間の反応時間で行うことが出来る。ここで使用し得るアルカリ触媒は、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、炭酸セシウム、炭酸水素ナトリウム、炭酸水素カリウム、トリエチルアミン、ピリジン等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。これらのなかでも、反応効率が高いことから、水酸化ナトリウム又は水酸化カリウムが好ましい。また、これらの触媒は3~30%の水溶液として用いても良い。また、この際、反応効率を高めるため、層間移動触媒を使用しても良い。例えば、アルキルアンモニウム塩、クラウンエーテル等が挙げられる。これらは、それぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。 The reaction with the aromatic compound etc. (a) and the aromatic monohydroxy compound (b) is not particularly limited, but for example, in the presence of an alkali catalyst at a temperature of 60° C. or lower, 1 to It can be carried out with a reaction time of 24 hours. Examples of the alkali catalyst that can be used here include sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, cesium carbonate, sodium hydrogen carbonate, potassium hydrogen carbonate, triethylamine, and pyridine. Each of these may be used alone, or two or more types may be used in combination. Among these, sodium hydroxide or potassium hydroxide is preferred because of its high reaction efficiency. Further, these catalysts may be used as a 3 to 30% aqueous solution. Further, at this time, an interlayer transfer catalyst may be used in order to increase reaction efficiency. Examples include alkylammonium salts, crown ethers, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

上記反応は、反応制御が容易となることから、有機溶媒中で行うことが好ましい。ここで用いる有機溶媒は、例えば、ペンタン、ヘキサン等の炭化水素溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン溶媒、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル溶媒、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール溶媒、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素溶媒、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドン等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上の混合溶媒としても良い。 The above reaction is preferably carried out in an organic solvent because reaction control becomes easy. Examples of organic solvents used here include hydrocarbon solvents such as pentane and hexane, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, and cyclohexanone, ether solvents such as diethyl ether and tetrahydrofuran, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, and propylene glycol monomethyl ether. Examples include acetate ester solvents such as acetate and carbitol acetate, carbitol solvents such as cellosolve and butyl carbitol, aromatic hydrocarbon solvents such as toluene and xylene, dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. Each of these may be used alone or as a mixed solvent of two or more.

前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)の反応割合は、所望の分子設計に応じて適宜変更することが出来るが、中でも、未反応の末端を削減しつつ、余剰の反応原料を削減する観点から、前記芳香族化合物等(a)1モルに対し、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)が1.1~5.0モルの範囲が好ましく、1.5~4.0モルがより好ましく、2.0~3.0モルが更に好ましい。 The reaction ratio of the aromatic compound etc. (a) and the aromatic monohydroxy compound (b) can be changed as appropriate depending on the desired molecular design, but in particular, while reducing unreacted terminals, From the viewpoint of reducing surplus reaction raw materials, the aromatic monohydroxy compound (b) is preferably in the range of 1.1 to 5.0 mol per 1 mol of the aromatic compound etc. (a), and 1.5 4.0 mol is more preferable, and 2.0 to 3.0 mol is even more preferable.

反応終了後は、アルカリ触媒の存在下で水溶液を用いる場合には、反応液を静置分液して水層を取り除き、残った有機層を水で洗浄し、水層がほぼ中性(pH7程度)になるまで水洗を繰り返すことにより、絶縁性に悪影響のある無機塩含有量が低減された前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)との反応生成物である反応生成物(c)を得ることができる。 After the reaction is completed, when using an aqueous solution in the presence of an alkaline catalyst, the reaction solution is separated by standing to remove the aqueous layer, and the remaining organic layer is washed with water until the aqueous layer is almost neutral (pH 7). A reaction product between the aromatic compound, etc. (a) and the aromatic monohydroxy compound (b), in which the content of inorganic salts that have an adverse effect on insulation properties is reduced by repeating water washing until the inorganic salt content is reduced. A reaction product (c) can be obtained.

[リン含有ポリオール化合物(d)]
本発明のリン含有活性エステルは、前記反応生成物(c)と前記リン含有ポリオール化合物(d)を反応することにより製造することができる。前記化合物(d)を使用することで、得られるリン含有活性エステルの構造中に、柔軟セグメントとなる前記化合物(d)に由来するアルキレン基やアルキレンオキシ基(アルキレンエーテル鎖)などを導入することができ、前記リン含有活性エステルを使用し得られる硬化物に柔軟性を付与することができ、更に、極性の低い構造を導入することになるため、低誘電特性に優れ、好ましい態様となる。また、前記リン含有活性エステルは合成時に、水酸基の発生を防止または抑制することができ、低誘電特性に優れ、有用である。
[Phosphorus-containing polyol compound (d)]
The phosphorus-containing active ester of the present invention can be produced by reacting the reaction product (c) with the phosphorus-containing polyol compound (d). By using the compound (d), an alkylene group, alkyleneoxy group (alkylene ether chain), etc. derived from the compound (d), which becomes a flexible segment, can be introduced into the structure of the resulting phosphorus-containing active ester. It is possible to impart flexibility to the cured product obtained by using the phosphorus-containing active ester, and furthermore, since a structure with low polarity is introduced, it has excellent low dielectric properties, and is a preferred embodiment. In addition, the phosphorus-containing active ester can prevent or suppress the generation of hydroxyl groups during synthesis, and has excellent low dielectric properties, making it useful.

前記リン含有ポリオール化合物(d)中の水酸基数(価数)としては、好ましくは2~5個であり、より好ましくは、2個である。前記カルボキシル基数が少なくとも2個(2個以上)有することで、生成するリン含有活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。 The number of hydroxyl groups (valence) in the phosphorus-containing polyol compound (d) is preferably 2 to 5, more preferably 2. By having at least two (two or more) carboxyl groups, the number of functional groups in the generated phosphorus-containing active ester is two or more, which is excellent from the viewpoint of curability.

なお、前記化合物(d)としては、特に制限されないが、例えば、難燃性、耐熱性、及び、低誘電特性などの観点から、上記一般式(2)~(4)のいずれかで示される構造を含むジオール化合物(d-1)(以下、単に「化合物(d-1)」と称する場合がある。)、縮合リン酸エステル系ポリオール(d-2)(以下、単に「化合物(d-2)」と称する場合がある。)、および、リン含有ポリエステルポリオール(d-3)(以下、単に「化合物(d-3)」と称する場合がある。)などが好ましく用いられ、たとえば、下記一般式(7)のような構造の化合物を例示することができる。なお、下記一般式(7)中のA、R、y、及び、zは、上記一般式(1)中のそれぞれと同様である。

Figure 0007389967000013
The compound (d) is not particularly limited, but for example, from the viewpoint of flame retardancy, heat resistance, and low dielectric properties, it is represented by any one of the above general formulas (2) to (4). diol compound (d-1) containing the structure (hereinafter sometimes simply referred to as "compound (d-1)"), condensed phosphate ester polyol (d-2) (hereinafter simply referred to as "compound (d-1)"), 2)) and phosphorus-containing polyester polyol (d-3) (hereinafter sometimes simply referred to as "compound (d-3)") are preferably used, for example, the following: A compound having a structure as shown in general formula (7) can be exemplified. In addition, A, R, y, and z in the following general formula (7) are the same as each in the said general formula (1).
Figure 0007389967000013

前記化合物(d-1)としては、例えば、下記一般式(8)~(12)に示される化合物などが挙げられる。

Figure 0007389967000014
Figure 0007389967000015
Figure 0007389967000016
Figure 0007389967000017
Figure 0007389967000018
Examples of the compound (d-1) include compounds represented by the following general formulas (8) to (12).
Figure 0007389967000014
Figure 0007389967000015
Figure 0007389967000016
Figure 0007389967000017
Figure 0007389967000018

なお、下記一般式(8)~(12)中のRw、Rx、Ry、および、Rzは、それぞれ独立して水素、または、アルキル基であることが好ましく、工業的な入手の容易さの観点から、水素、または、炭素原子数が1~4のアルキル基がより好ましい。これらの化合物(d-1)は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 In addition, Rw, Rx, Ry, and Rz in the following general formulas (8) to (12) are each independently preferably hydrogen or an alkyl group, and from the viewpoint of industrial availability. From the above, hydrogen or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms is more preferable. These compounds (d-1) may be used alone or in combination of two or more.

前記化合物(d-1)の製造方法としては、エチレンオキシド、プロピレンオキシド、ブチレンオキシド等のエポキシ基を有する化合物や炭酸エチレン、炭酸プロピレン、炭酸ブチレン等のカーボネート類存在下、フェノール水酸基を2つ以上有するリン含有化合物(e)(以下、単に「化合物(e)」と称する場合がある。)と塩基触媒を加熱撹拌することで得られる。用いる塩基触媒としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、炭酸セシウム、炭酸水素ナトリウム、炭酸水素カリウム、トリエチルアミン、ピリジン、ジアザビシクロウンデセン、ジアザビシクロノネン、トリフェニルホスフィン等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても、2種類以上を併用しても良い。これらのなかでも、反応効率が高いことから、ジアザビシクロウンデセン、ジアザビシクロノネン、トリフェニルホスフィンが好ましい。上記反応は、特に制限はないが、有機溶剤が無くても良く、有機溶媒中で行っても良い。ここで用いる有機溶媒は、例えば、ペンタン、ヘキサン等の炭化水素系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン溶媒、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル系溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル系溶媒、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール溶媒、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドン等のアミド系溶剤が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上の混合溶媒としても良い。前記反応条件としては、特に限定されないが、例えば、50~250℃の温度条件下で、1~24時間の撹拌・反応させることにより、前記化合物(d-1)を得ることができる。 The method for producing the compound (d-1) includes preparing a compound having two or more phenol hydroxyl groups in the presence of a compound having an epoxy group such as ethylene oxide, propylene oxide, or butylene oxide, or a carbonate such as ethylene carbonate, propylene carbonate, or butylene carbonate. It is obtained by heating and stirring a phosphorus-containing compound (e) (hereinafter sometimes simply referred to as "compound (e)") and a base catalyst. Examples of the base catalyst used include sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, cesium carbonate, sodium hydrogen carbonate, potassium hydrogen carbonate, triethylamine, pyridine, diazabicycloundecene, diazabicyclononene, and triphenyl. Examples include phosphine. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, diazabicycloundecene, diazabicyclononene, and triphenylphosphine are preferred because of their high reaction efficiency. Although the above reaction is not particularly limited, it may be performed without an organic solvent or in an organic solvent. Examples of organic solvents used here include hydrocarbon solvents such as pentane and hexane, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, and cyclohexanone, ether solvents such as diethyl ether and tetrahydrofuran, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, and propylene glycol. Acetate ester solvents such as monomethyl ether acetate and carbitol acetate, carbitol solvents such as cellosolve and butyl carbitol, aromatic hydrocarbon solvents such as toluene and xylene, amides such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. Examples include solvents. Each of these may be used alone or as a mixed solvent of two or more. The reaction conditions are not particularly limited, but, for example, the compound (d-1) can be obtained by stirring and reacting for 1 to 24 hours at a temperature of 50 to 250°C.

前記化合物(e)は、市販されているものを用いてもよい。市販品は、例えば、三光株式会社製のHCA-HQ(10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-9,10-ジヒドロ9-オキサ-10-フォスファフェナントレン-10-オキサイド)や、HCA=NQ(10-[2-(ジヒドロキシナフチル)]-9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナントレン-10-オキサイド)、日本化学工業株式会社製のCPHO-HQ(1,4-シクロオクチレンホスホニル-1,4-ハイドロキノン及び1,5-シクロオクチレンホスホニル-1,4-ハイドロキノンの混合物)等が挙げられる。 As the compound (e), a commercially available compound may be used. Commercially available products include, for example, HCA-HQ (10-(2,5-dihydroxyphenyl)-9,10-dihydro9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide) manufactured by Sanko Co., Ltd., and HCA=NQ (10-[2-(dihydroxynaphthyl)]-9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide), CPHO-HQ (1,4-cyclooctyl) manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd. A mixture of lenephosphonyl-1,4-hydroquinone and 1,5-cyclooctylenephosphonyl-1,4-hydroquinone), and the like.

前記化合物(d-2)としては、リン酸・亜リン酸・リン酸エステル等とアルキレンポリオールとの縮合で得られる、ポリリン酸エステルポリオール等が挙げられる。 Examples of the compound (d-2) include polyphosphoric ester polyols obtained by condensing phosphoric acid, phosphorous acid, phosphoric esters, etc., and alkylene polyols.

前記化合物(d-3)としては、HCA-マレイン酸付加物・HCA-シトラコン酸付加物・HCA-イタコン酸付加物(商品名M-ACID、三光(株)製)などのリン含有ジカルボン酸モノマーと、アルキレンポリオール化合物を縮合して得られる、水酸基末端を有するリン含有ポリエステルポリオール縮合物(商品名M-ESTER、ME-P8、三光(株)製)などが挙げられる。 The compound (d-3) includes phosphorus-containing dicarboxylic acid monomers such as HCA-maleic acid adduct, HCA-citraconic acid adduct, and HCA-itaconic acid adduct (trade name M-ACID, manufactured by Sanko Co., Ltd.). and a phosphorus-containing polyester polyol condensate having a hydroxyl group end (product name: M-ESTER, ME-P8, manufactured by Sanko Co., Ltd.), which is obtained by condensing an alkylene polyol compound.

前記反応生成物(c)と前記化合物(d)とを反応させることにより、エステル交換反応が生じ、本発明のリン含有活性エステルを得ることができる。前記反応条件としては、例えば、50~250℃の温度条件下で、1~24時間の撹拌・反応させることにより、リン含有活性エステルを得ることができる。また、アルカリ触媒、中でもアミン系触媒(トリエチルアミン等のアルキルアミン、トリフェニルアミン等とアリールアミン、DBU、DBN等の縮環型アミン、イミダゾール、ピリジン等の複素管環アミン)を添加することで反応を促進することができる。なお、反応終了後は、余剰の前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)を除去するため、常圧蒸留、減圧(例えば、0.9~0.01気圧)蒸留することにより、高純度のリン含有活性エステルを得ることができる。 By reacting the reaction product (c) with the compound (d), a transesterification reaction occurs, and the phosphorus-containing active ester of the present invention can be obtained. As for the reaction conditions, for example, the phosphorus-containing active ester can be obtained by stirring and reacting for 1 to 24 hours at a temperature of 50 to 250°C. In addition, the reaction can be carried out by adding an alkali catalyst, especially an amine catalyst (alkyl amine such as triethylamine, triphenylamine, aryl amine, condensed ring amine such as DBU, DBN, heterocyclic amine such as imidazole, pyridine, etc.). can be promoted. After completion of the reaction, in order to remove the excess aromatic monohydroxy compound (b), high-purity phosphorus-containing Active esters can be obtained.

上記反応においては、前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)の反応の際に使用される溶媒と同様の溶媒を使用することができる。 In the above reaction, the same solvent as used in the reaction of the aromatic compound etc. (a) and the aromatic monohydroxy compound (b) can be used.

前記反応生成物(c)、及び、前記化合物(d)の反応割合は、所望の分子設計に応じて適宜変更することが出来るが、中でも、より作業性や柔軟性に優れたリン含有活性エステルとなることから、前記反応生成物(c)の活性エステル当量1当量に対する前記化合物(d)の水酸基当量が0.1~0.9モルの範囲が好ましく、0.2~0.8モルがより好ましく、0.3~0.8モルが更に好ましい。 The reaction ratio of the reaction product (c) and the compound (d) can be changed as appropriate depending on the desired molecular design, but among them, phosphorus-containing active esters with better workability and flexibility are used. Therefore, the hydroxyl equivalent of the compound (d) is preferably in the range of 0.1 to 0.9 mol, and 0.2 to 0.8 mol per equivalent of the active ester equivalent of the reaction product (c). More preferably, 0.3 to 0.8 mol is even more preferable.

前記リン含有活性エステルにおけるリン含有率(リン含有量)は、得られる硬化物等の難燃性と低誘電正接の観点から1.8質量%以上であることが好ましく、1.8~25質量%であることがより好ましく、1.9~24質量%であることが更に好ましい。 The phosphorus content (phosphorus content) in the phosphorus-containing active ester is preferably 1.8% by mass or more, from the viewpoint of flame retardancy and low dielectric loss tangent of the obtained cured product, and 1.8 to 25% by mass. %, and even more preferably 1.9 to 24% by mass.

本発明のリン含有活性エステルの官能基当量は、リン含有活性エステル構造中に有する芳香族エステル基の合計をリン含有活性エステルの官能基数とした場合、硬化性に優れ、低い誘電率及び誘電正接(低誘電特性)の硬化物が得られることから、160~1500g/eqの範囲であることが好ましく、180~1200g/eqの範囲であることがより好ましく、200~1000g/eqの範囲であることが更により好ましい。 The functional group equivalent of the phosphorus-containing active ester of the present invention is, when the total number of aromatic ester groups in the phosphorus-containing active ester structure is taken as the number of functional groups of the phosphorus-containing active ester, the phosphorus-containing active ester has excellent curability, low dielectric constant, and dielectric loss tangent. (low dielectric properties), it is preferably in the range of 160 to 1,500 g/eq, more preferably in the range of 180 to 1,200 g/eq, and more preferably in the range of 200 to 1,000 g/eq. Even more preferred.

本発明のリン含有活性エステルの数平均分子量(Mn)は、320~3000であることが好ましく、360~2400であることがより好ましい。数平均分子量(Mn)が320以上であると、誘電正接に優れることから好ましい。一方、数平均分子量(Mn)が3000以下であると、成形性に優れることから好ましい。 The number average molecular weight (Mn) of the phosphorus-containing active ester of the present invention is preferably from 320 to 3,000, more preferably from 360 to 2,400. It is preferable that the number average molecular weight (Mn) is 320 or more because the dielectric loss tangent is excellent. On the other hand, it is preferable that the number average molecular weight (Mn) is 3000 or less because it has excellent moldability.

<硬化性樹脂組成物>
本発明の硬化性樹脂組成物は、前記リン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂を含有することが好ましい。
<Curable resin composition>
The curable resin composition of the present invention preferably contains the phosphorus-containing active ester and an epoxy resin.

[エポキシ樹脂]
前記エポキシ樹脂としては、特に制限されないが、例えば、分子中に2個以上のエポキシ基を含み、前記エポキシ基で架橋ネットワークを形成することで硬化させることができる硬化性樹脂であることが好ましい。
[Epoxy resin]
The epoxy resin is not particularly limited, but is preferably a curable resin that contains two or more epoxy groups in its molecule and can be cured by forming a crosslinked network with the epoxy groups.

前記エポキシ樹脂としては、特に制限されないが、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、α-ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、β-ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂;
フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、フェノールビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂等のアラルキル型エポキシ樹脂;
ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールAP型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ビスフェノールB型エポキシ樹脂、ビスフェノールBP型エポキシ樹脂、ビスフェノールC型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、テトラブロモビスフェノールA型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂;
ビフェニル型エポキシ樹脂、テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニル骨格およびジグリシジルオキシベンゼン骨格を有するエポキシ樹脂等のビフェニル型エポキシ樹脂;
ナフタレン型エポキシ樹脂;
ビナフトール型エポキシ樹脂;ビナフチル型エポキシ樹脂;
ジシクロペンタジエンフェノール型エポキシ樹脂等のジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂;
テトラグリシジルジアミノジフェニルメタン型エポキシ樹脂、トリグリシジル-p-アミノフェノール型エポキシ樹脂、ジアミノジフェニルスルホンのグリシジルアミン型エポキシ樹脂等のグリシジルアミン型エポキシ樹脂;
2,6-ナフタレンジカルボン酸ジグリシジルエステル型エポキシ樹脂、ヘキサヒドロ無水フタル酸のグリシジルエステル型エポキシ樹脂等のジグリシジルエステル型エポキシ樹脂;
ジベンゾピラン、ヘキサメチルジベンゾピラン、7-フェニルヘキサメチルジベンゾピラン等のベンゾピラン型エポキシ樹脂等が挙げられる。
これらのエポキシ樹脂のうち、フェノール化合物をエポキシ化して得られる、いわゆるグリシジルエーテル型エポキシ樹脂が好ましく、その中でもノボラック型エポキシ樹脂、アラルキル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂であることが、誘電特性の観点からより好ましい。
The epoxy resin is not particularly limited, but includes phenol novolak epoxy resin, cresol novolac epoxy resin, α-naphthol novolac epoxy resin, β-naphthol novolac epoxy resin, bisphenol A novolak epoxy resin, biphenyl novolac epoxy resin. Novolak type epoxy resin such as resin;
Aralkyl type epoxy resins such as phenol aralkyl type epoxy resins, naphthol aralkyl type epoxy resins, phenol biphenylaralkyl type epoxy resins;
Bisphenol A epoxy resin, bisphenol AP epoxy resin, bisphenol AF epoxy resin, bisphenol B epoxy resin, bisphenol BP epoxy resin, bisphenol C epoxy resin, bisphenol E epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, bisphenol S bisphenol type epoxy resin such as type epoxy resin, tetrabromobisphenol A type epoxy resin;
Biphenyl-type epoxy resins such as biphenyl-type epoxy resins, tetramethylbiphenyl-type epoxy resins, epoxy resins having a biphenyl skeleton and a diglycidyloxybenzene skeleton;
Naphthalene type epoxy resin;
Binaphthol type epoxy resin; Binaphthyl type epoxy resin;
Dicyclopentadiene type epoxy resin such as dicyclopentadiene phenol type epoxy resin;
Glycidylamine type epoxy resins such as tetraglycidyldiaminodiphenylmethane type epoxy resins, triglycidyl-p-aminophenol type epoxy resins, glycidylamine type epoxy resins of diaminodiphenylsulfone;
Diglycidyl ester type epoxy resins such as 2,6-naphthalene dicarboxylic acid diglycidyl ester type epoxy resins and hexahydrophthalic anhydride glycidyl ester type epoxy resins;
Examples include benzopyran type epoxy resins such as dibenzopyran, hexamethyldibenzopyran, and 7-phenylhexamethyldibenzopyran.
Among these epoxy resins, so-called glycidyl ether type epoxy resins obtained by epoxidizing a phenol compound are preferred, and among these, novolac type epoxy resins, aralkyl type epoxy resins, and dicyclopentadiene type epoxy resins are preferred because of their dielectric properties. It is more preferable from the viewpoint of

なお、上述のエポキシ樹脂は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 In addition, the above-mentioned epoxy resins may be used alone or in combination of two or more types.

前記エポキシ樹脂のエポキシ当量は、120~400g/eqであることが好ましく、150~300g/eqであることがより好ましい。前記エポキシ樹脂のエポキシ当量が120g/eq以上であると、得られる硬化物の誘電特性により優れることから好ましく、一方、エポキシ樹脂のエポキシ当量が400g/eq以下であると、得られる硬化物の耐熱性と誘電正接のバランスに優れることから好ましい。 The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 120 to 400 g/eq, more preferably 150 to 300 g/eq. When the epoxy equivalent of the epoxy resin is 120 g/eq or more, it is preferable because the dielectric properties of the resulting cured product are better. On the other hand, when the epoxy equivalent of the epoxy resin is 400 g/eq or less, the heat resistance of the resulting cured product improves. This is preferable because it has an excellent balance between properties and dielectric loss tangent.

前記エポキシ樹脂の軟化点は、20~200℃であることが好ましく、40~150℃であることがより好ましい。前記エポキシ樹脂の軟化点が20℃以上であると、速硬化性を兼備できることから好ましい。一方、エポキシ樹脂の軟化点が200℃以下であると、成形性に優れることから好ましい。 The softening point of the epoxy resin is preferably 20 to 200°C, more preferably 40 to 150°C. It is preferable that the softening point of the epoxy resin is 20° C. or higher, since it also has fast curing properties. On the other hand, it is preferable that the softening point of the epoxy resin is 200° C. or lower because it has excellent moldability.

前記エポキシ樹脂の使用量に対する前記リン含有活性エステルの使用量の官能基当量比(リン含有活性エステル/エポキシ樹脂)は、0.2~2であることが好ましく、0.4~1.5であることがより好ましい。前記官能基当量比が0.2以上であると、得られる硬化物が、より低誘電正接、高い柔軟性となりうることから好ましい。前記官能基当量比が2を超えると、耐熱性、硬化性が低下するため、前記範囲内で使用することが好ましい。 The functional group equivalent ratio (phosphorus-containing active ester/epoxy resin) of the usage amount of the phosphorus-containing active ester to the usage amount of the epoxy resin is preferably 0.2 to 2, and preferably 0.4 to 1.5. It is more preferable that there be. It is preferable that the functional group equivalent ratio is 0.2 or more because the resulting cured product can have a lower dielectric loss tangent and higher flexibility. If the functional group equivalent ratio exceeds 2, heat resistance and curability will decrease, so it is preferable to use within the above range.

本発明の硬化性樹脂組成物は、前記リン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂以外にも、本発明の効果を損なわない範囲において、他の硬化剤、他の樹脂、溶媒、添加剤等をさらに含んでいてもよい。 In addition to the phosphorus-containing active ester and epoxy resin, the curable resin composition of the present invention may further contain other curing agents, other resins, solvents, additives, etc., within a range that does not impair the effects of the present invention. May contain.

[他の硬化剤]
本発明の硬化性樹脂組成物は、前記リン含有活性エステルと共に、他の硬化剤を併用してもよい。
[Other hardening agents]
In the curable resin composition of the present invention, other curing agents may be used in combination with the phosphorus-containing active ester.

前記他の硬化剤としては、特に制限されないが、アミン硬化剤、酸無水物硬化剤、フェノール樹脂硬化剤等が挙げられる。 Examples of the other curing agents include, but are not particularly limited to, amine curing agents, acid anhydride curing agents, phenolic resin curing agents, and the like.

前記アミン硬化剤としては、特に制限されないが、ジエチレントリアミン(DTA)、トリエチレンテトラミン(TTA)、テトラエチレンペンタミン(TEPA)、ジプロプレンジアミン(DPDA)、ジエチルアミノプロピルアミン(DEAPA)、N-アミノエチルピペラジン、メンセンジアミン(MDA)、イソフオロンジアミン(IPDA)、1,3-ビスアミノメチルシクロヘキサン(1,3-BAC)、ピペリジン、N,N,-ジメチルピペラジン、トリエチレンジアミン等の脂肪族アミン;m-キシレンジアミン(XDA)、メタンフェニレンジアミン(MPDA)、ジアミノジフェニルメタン(DDM)、ジアミノジフェニルスルホン(DDS)、ベンジルメチルアミン、2-(ジメチルアミノメチル)フェノール、2,4,6-トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール等の芳香族アミン等が挙げられる。 The amine curing agent is not particularly limited, but includes diethylenetriamine (DTA), triethylenetetramine (TTA), tetraethylenepentamine (TEPA), dipropylene diamine (DPDA), diethylaminopropylamine (DEAPA), and N-aminoethyl. Aliphatic amines such as piperazine, menzendiamine (MDA), isophoronediamine (IPDA), 1,3-bisaminomethylcyclohexane (1,3-BAC), piperidine, N,N,-dimethylpiperazine, triethylenediamine; m-xylene diamine (XDA), methanephenylene diamine (MPDA), diaminodiphenylmethane (DDM), diaminodiphenylsulfone (DDS), benzylmethylamine, 2-(dimethylaminomethyl)phenol, 2,4,6-tris(dimethyl) Examples include aromatic amines such as (aminomethyl) phenol.

前記酸無水物硬化剤としては、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、無水ベンゾフェノンテトラカルボン酸、エチレングリコールビストリメリテート、グリセロールトリストリメリテート、無水マレイン酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、エンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチルエンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチルブテニルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、無水コハク酸、メチルシクロヘキセンジカルボン酸無水物等が挙げられる。 Examples of the acid anhydride curing agent include phthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, benzophenone tetracarboxylic anhydride, ethylene glycol bis trimellitate, glycerol tris trimellitate, maleic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, Methyltetrahydrophthalic anhydride, endomethylenetetrahydrophthalic anhydride, methylendomethylenetetrahydrophthalic anhydride, methylbutenyltetrahydrophthalic anhydride, dodecenylsuccinic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, succinic anhydride, Examples include methylcyclohexenedicarboxylic anhydride.

前記フェノール樹脂硬化剤としては、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ナフトールノボラック樹脂、ビスフェノールノボラック樹脂、ビフェニルノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン-フェノール付加型樹脂、フェノールアラルキル樹脂、ナフトールアラルキル樹脂、トリフェノールメタン型樹脂、テトラフェノールエタン型樹脂、アミノトリアジン変性フェノール樹脂等が挙げられる。 Examples of the phenolic resin curing agent include phenol novolak resin, cresol novolak resin, naphthol novolac resin, bisphenol novolak resin, biphenyl novolak resin, dicyclopentadiene-phenol addition type resin, phenol aralkyl resin, naphthol aralkyl resin, and triphenol methane type resin. , tetraphenolethane type resin, aminotriazine modified phenol resin, and the like.

上述の他の硬化剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The other curing agents mentioned above may be used alone or in combination of two or more.

[他の樹脂]
本発明の硬化性樹脂組成物は、前記エポキシ樹脂に加えて、他の樹脂を含んでいてもよい。なお、本明細書において、「他の樹脂」とは、エポキシ樹脂以外の樹脂を意味する。
[Other resins]
The curable resin composition of the present invention may contain other resins in addition to the epoxy resin. In addition, in this specification, "other resin" means resin other than epoxy resin.

前記他の樹脂の具体例としては、特に制限されないが、マレイミド樹脂、ビスマレイミド樹脂、ポリマレイミド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリイミド樹脂、シアネートエステル樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、トリアジン含有クレゾールノボラック樹脂、シアン酸エステル樹脂、スチレン-無水マレイン酸樹脂、ジアリルビスフェノールやトリアリルイソシアヌレート等のアリル基含有樹脂、ポリリン酸エステル、リン酸エステル-カーボネート共重合体等が挙げられる。これらの他の樹脂は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of the other resins include, but are not particularly limited to, maleimide resins, bismaleimide resins, polymaleimide resins, polyphenylene ether resins, polyimide resins, cyanate ester resins, benzoxazine resins, triazine-containing cresol novolac resins, and cyanate esters. Examples include resins, styrene-maleic anhydride resins, allyl group-containing resins such as diallylbisphenol and triallyl isocyanurate, polyphosphoric acid esters, and phosphoric acid ester-carbonate copolymers. These other resins may be used alone or in combination of two or more.

[溶媒]
本発明の硬化性樹脂組成物は、無溶剤で調製しても構わないし、溶媒を含んでいてもよい。前記溶媒は、硬化性樹脂組成物の粘度を調整する機能等を有する。
[solvent]
The curable resin composition of the present invention may be prepared without a solvent or may contain a solvent. The solvent has a function of adjusting the viscosity of the curable resin composition.

前記溶媒の具体例としては、特に制限されないが、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤;ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル系溶剤;酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等のエステル系溶剤;セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、メシチレン、1,2,3-トリメチルベンゼン、1,2,4-トリメチルベンゼン等の芳香族炭化水素、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドン等のアミド系溶剤等が挙げられる。これらの溶媒は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of the solvent include, but are not limited to, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; ether solvents such as diethyl ether and tetrahydrofuran; ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, and propylene glycol monomethyl. Ester solvents such as ether acetate and carbitol acetate; carbitols such as cellosolve and butyl carbitol; toluene, xylene, ethylbenzene, mesitylene, 1,2,3-trimethylbenzene, 1,2,4-trimethylbenzene, etc. Examples include aromatic hydrocarbons, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. These solvents may be used alone or in combination of two or more.

前記溶媒の使用量としては、硬化性樹脂組成物の全質量に対して、10~90質量%であることが好ましく、20~80質量%であることがより好ましい。溶媒の使用量が10質量%以上であると、ハンドリング性に優れることから好ましい。一方、溶媒の使用量が90質量%以下であると、経済性の観点から好ましい。 The amount of the solvent used is preferably 10 to 90% by mass, more preferably 20 to 80% by mass, based on the total mass of the curable resin composition. It is preferable that the amount of the solvent used is 10% by mass or more because the handling property is excellent. On the other hand, it is preferable from the economic point of view that the amount of solvent used is 90% by mass or less.

[添加剤]
本発明の硬化性樹脂組成物は、添加剤を含んでいてもよい。前記添加剤としては、硬化促進剤、難燃剤、充填剤等が挙げられる。
[Additive]
The curable resin composition of the present invention may contain additives. Examples of the additives include curing accelerators, flame retardants, fillers, and the like.

(硬化促進剤)
硬化促進剤(硬化触媒)としては、特に制限されないが、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、尿素系硬化促進剤等が挙げられる。
(hardening accelerator)
Examples of the curing accelerator (curing catalyst) include, but are not limited to, phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, urea-based curing accelerators, and the like.

前記リン系硬化促進剤としては、トリフェニルホスフィン、トリブチルホスフィン、トリパラトリルホスフィン、ジフェニルシクロヘキシルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン等の有機ホスフィン化合物;トリメチルホスファイト、トリエチルホスファイト等の有機ホスファイト化合物;エチルトリフェニルホスホニウムブロミド、ベンジルトリフェニルホスホニウムクロリド、ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラ-p-トリルボレート、トリフェニルホスフィントリフェニルボラン、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムジシアナミド、ブチルフェニルホスホニウムジシアナミド、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩等のホスホニウム塩等が挙げられる。 Examples of the phosphorus curing accelerator include organic phosphine compounds such as triphenylphosphine, tributylphosphine, triparatolylphosphine, diphenylcyclohexylphosphine, and tricyclohexylphosphine; organic phosphite compounds such as trimethylphosphite and triethylphosphite; ethyltriphenyl; Phosphonium bromide, benzyltriphenylphosphonium chloride, butylphosphonium tetraphenylborate, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, tetraphenylphosphonium tetra-p-tolylborate, triphenylphosphine triphenylborane, tetraphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium dicyanamide, Examples include phosphonium salts such as butylphenylphosphonium dicyanamide and tetrabutylphosphonium decanoate.

前記アミン系硬化促進剤としては、トリエチルアミン、トリブチルアミン、N,N-ジメチル-4-アミノピリジン(DMAP)、2,4,6-トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8-ジアザビシクロ[5,4,0]-ウンデセン-7(DBU)、1,5-ジアザビシクロ[4,3,0]-ノネン-5(DBN)等が挙げられる。 Examples of the amine curing accelerator include triethylamine, tributylamine, N,N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP), 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, 1,8-diazabicyclo[5, Examples thereof include 4,0]-undecene-7 (DBU) and 1,5-diazabicyclo[4,3,0]-nonene-5 (DBN).

前記イミダゾール系硬化促進剤としては、2-メチルイミダゾール、2-ウンデシルイミダゾール、2-ヘプタデシルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、2-フェニルイミダゾール、2-フェニル-4-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール、1-シアノエチル-2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾリウムトリメリテート、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾリウムトリメリテート、2-フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2-フェニル-4,5-ジヒドロキシメチルイミダゾール、2-フェニル-4-メチル-5ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3-ジヒドロ-1H-ピロロ[1,2-a]ベンズイミダゾール、1-ドデシル-2-メチル-3-ベンジルイミダゾリウムクロライド、2-メチルイミダゾリン等が挙げられる。 Examples of the imidazole curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecyl imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, and 2-phenyl. -4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl -4-Methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct , 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1,2-a]benzimidazole, 1-dodecyl-2 -Methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline and the like.

前記グアニジン系硬化促進剤としては、ジシアンジアミド、1-メチルグアニジン、1-エチルグアニジン、1-シクロヘキシルグアニジン、1-フェニルグアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、7-メチル-1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、1-メチルビグアニド、1-エチルビグアニド、1-ブチルビグアニド、1-シクロヘキシルビグアニド、1-アリルビグアニド、1-フェニルビグアニド等が挙げられる。 Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1, 5,7-triazabicyclo[4.4.0]dec-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]dec-5-ene, 1-methylbiguanide , 1-ethylbiguanide, 1-butylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, and the like.

前記尿素系硬化促進剤としては、3-フェニル-1,1-ジメチル尿素、3-(4-メチルフェニル)-1,1-ジメチル尿素、クロロフェニル尿素、3-(4-クロロフェニル)-1,1-ジメチル尿素、3-(3,4-ジクロルフェニル)-1,1-ジメチル尿素等が挙げられる。 Examples of the urea-based curing accelerator include 3-phenyl-1,1-dimethylurea, 3-(4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, chlorophenylurea, 3-(4-chlorophenyl)-1,1 -dimethylurea, 3-(3,4-dichlorophenyl)-1,1-dimethylurea, and the like.

上述の硬化促進剤のうち、2-エチル-4-メチルイミダゾール、N,N-ジメチル-4-アミノピリジン(DMAP)を用いることが好ましい。 Among the above-mentioned curing accelerators, it is preferable to use 2-ethyl-4-methylimidazole and N,N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP).

なお、上述の硬化促進剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 In addition, the above-mentioned curing accelerators may be used alone or in combination of two or more types.

前記硬化促進剤の使用量は、所望の硬化性を得るために適宜調製できるが、前記エポキシ樹脂と前記リン含有活性エステルの混合物の合計量100質量部に対して、0.01~5質量部であることが好ましく、0.1~3質量部であることがさらに好ましい。硬化促進剤の使用量が0.01質量部以上であると、硬化性に優れることから好ましい。一方、硬化促進剤の使用量が5質量部以下であると、絶縁信頼性に優れることから好ましい。 The amount of the curing accelerator used can be adjusted as appropriate to obtain the desired curability, but it is 0.01 to 5 parts by weight based on 100 parts by weight of the total mixture of the epoxy resin and the phosphorus-containing active ester. The amount is preferably 0.1 to 3 parts by mass, and more preferably 0.1 to 3 parts by mass. It is preferable that the amount of the curing accelerator used is 0.01 part by mass or more, since the curing properties are excellent. On the other hand, it is preferable that the amount of the curing accelerator used is 5 parts by mass or less because the insulation reliability is excellent.

(難燃剤)
本発明の硬化性樹脂組成物は、難燃性に寄与するリン含有活性エステルを使用するが、本発明の性能を損なわない範囲であれば、難燃剤を別途使用することができる。前記難燃剤としては、特に制限されないが、無機リン系難燃剤、有機リン系難燃剤、ハロゲン系難燃剤等が挙げられる。
(Flame retardants)
The curable resin composition of the present invention uses a phosphorus-containing active ester that contributes to flame retardancy, but a flame retardant can be used separately as long as it does not impair the performance of the present invention. Examples of the flame retardant include, but are not particularly limited to, inorganic phosphorus flame retardants, organic phosphorus flame retardants, halogen flame retardants, and the like.

前記無機リン系難燃剤としては、特に制限されないが、赤リン;リン酸一アンモニウム、リン酸二アンモニウム、リン酸三アンモニウム、ポリリン酸アンモニウム等のリン酸アンモニウム;リン酸アミド等が挙げられる。 Examples of the inorganic phosphorus flame retardant include, but are not limited to, red phosphorus; ammonium phosphates such as monoammonium phosphate, diammonium phosphate, triammonium phosphate, and ammonium polyphosphate; and phosphoric acid amides.

前記有機リン系難燃剤としては、特に制限されないが、メチルアシッドホスフェート、エチルアシッドホスフェート、イソプロピルアシッドホスフェート、ジブチルホスフェート、モノブチルホスフェート、ブトキシエチルアシッドホスフェート、2-エチルヘキシルアシッドホスフェート、ビス(2-エチルヘキシル)ホスフェート、モノイソデシルアシッドホスフェート、ラウリルアシッドホスフェート、トリデシルアシッドホスフェート、ステアリルアシッドホスフェート、イソステアリルアシッドホスフェート、オレイルアシッドホスフェート、ブチルピロホスフェート、テトラコシルアシッドホスフェート、エチレングリコールアシッドホスフェート、(2-ヒドロキシエチル)メタクリレートアシッドホスフェート等のリン酸エステル;9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド、ジフェニルホスフィンオキシド等ジフェニルホスフィン;10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10H-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド、10-(1,4-ジオキシナフタレン)-10H-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド、ジフェニルホスフィニルヒドロキノン、ジフェニルホスフェニル-1,4-ジオキシナフタリン、1,4-シクロオクチレンホスフィニル-1,4-フェニルジオール、1,5-シクロオクチレンホスフィニル-1,4-フェニルジオール等のリン含有フェノール;9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド、10-(2,5-ジヒドロオキシフェニル)-10H-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド、10-(2,7-ジヒドロオキシナフチル)-10H-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキシド等の環状リン化合物;前記リン酸エステル、前記ジフェニルホスフィン、前記リン含有フェノールと、エポキシ樹脂やアルデヒド化合物、フェノール化合物と反応させて得られる化合物等が挙げられる。 The organic phosphorus flame retardant is not particularly limited, but includes methyl acid phosphate, ethyl acid phosphate, isopropyl acid phosphate, dibutyl phosphate, monobutyl phosphate, butoxyethyl acid phosphate, 2-ethylhexyl acid phosphate, and bis(2-ethylhexyl). Phosphate, monoisodecyl acid phosphate, lauryl acid phosphate, tridecyl acid phosphate, stearyl acid phosphate, isostearyl acid phosphate, oleyl acid phosphate, butyl pyrophosphate, tetracosyl acid phosphate, ethylene glycol acid phosphate, (2-hydroxyethyl ) Phosphoric acid esters such as methacrylate acid phosphate; 9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, diphenylphosphine such as diphenylphosphine oxide; 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10H- 9-Oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10-(1,4-dioxynaphthalene)-10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, diphenylphosphinylhydroquinone, diphenylphos Phosphorus-containing phenols such as phenyl-1,4-dioxynaphthalene, 1,4-cyclooctylenephosphinyl-1,4-phenyldiol, and 1,5-cyclooctylenephosphinyl-1,4-phenyldiol ;9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10 -(2,7-dihydroxynaphthyl)-10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide and other cyclic phosphorus compounds; the phosphoric acid ester, the diphenylphosphine, the phosphorus-containing phenol, and an epoxy resin or Examples include compounds obtained by reacting with aldehyde compounds and phenol compounds.

前記ハロゲン系難燃剤としては、特に制限されないが、臭素化ポリスチレン、ビス(ペンタブロモフェニル)エタン、テトラブロモビスフェノールA、ビス(ジブロモプロピルエーテル)、1,2-ビス(テトラブロモフタルイミド)エタン、2,4,6-トリス(2,4,6-トリブロモフェノキシ)-1,3,5-トリアジン、テトラブロモフタル酸等が挙げられる。なお、ノンハロゲン難燃性のプリント基板(銅張積層板)等に使用する際には、前記ハロゲン系難燃剤を使用しないことが好ましい。 The halogen flame retardant is not particularly limited, but includes brominated polystyrene, bis(pentabromophenyl)ethane, tetrabromobisphenol A, bis(dibromopropyl ether), 1,2-bis(tetrabromophthalimide)ethane, 2 , 4,6-tris(2,4,6-tribromophenoxy)-1,3,5-triazine, and tetrabromophthalic acid. Note that when used in non-halogen flame retardant printed circuit boards (copper-clad laminates), etc., it is preferable not to use the halogen-based flame retardant.

上述の難燃剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The above flame retardants may be used alone or in combination of two or more.

前記難燃剤の使用量は、エポキシ樹脂100質量部に対して、0~50質量部であることが好ましく、0~30質量部であることがより好ましい。難燃剤の使用量が50質量部以下であると、誘電特性や密着性などを維持しながら、難燃性を付与できることから好ましい。 The amount of the flame retardant used is preferably 0 to 50 parts by weight, more preferably 0 to 30 parts by weight, based on 100 parts by weight of the epoxy resin. It is preferable that the amount of flame retardant used is 50 parts by mass or less because flame retardancy can be imparted while maintaining dielectric properties, adhesiveness, etc.

(充填剤)
充填剤としては、有機充填剤、無機充填剤が挙げられる。有機充填剤は、伸びを向上させる機能、機械的強度を向上させる機能等を有する。無機充填剤は、熱膨張率の低減や難燃性の付与といった機能を有する。
(filler)
Examples of fillers include organic fillers and inorganic fillers. The organic filler has a function of improving elongation, a function of improving mechanical strength, etc. Inorganic fillers have functions such as reducing the coefficient of thermal expansion and imparting flame retardancy.

前記有機充填剤としては、特に制限されないが、ポリアミド粒子等が挙げられる。 The organic filler is not particularly limited, but includes polyamide particles and the like.

前記無機充填剤としては、特に制限されないが、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、炭酸バリウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、炭酸ストロンチウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、酸化ジルコニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、リン酸タングステン酸ジルコニウム、タルク、クレー、雲母粉、酸化亜鉛、ハイドロタルサイト、ベーマイト、カーボンブラック等が挙げられる。これらのうち、シリカを用いることが好ましい。この際、シリカとしては、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等が用いられうる。 The inorganic filler is not particularly limited, but includes silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, and nitride. Boron, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, barium zirconate titanate, barium zirconate , calcium zirconate, zirconium phosphate, zirconium tungstate phosphate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, carbon black and the like. Among these, it is preferable to use silica. At this time, as the silica, amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, etc. can be used.

また、前記充填剤は、必要に応じて表面処理されていてもよい。この際、使用されうる表面処理剤としては、特に制限されないが、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、シラン系カップリング剤、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤等が使用されうる。表面処理剤の具体例としては、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3-アミノプロピルトリエトキシシラン、N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン、ヘキサメチルジシラザン等が挙げられる。 Further, the filler may be surface-treated if necessary. At this time, surface treatment agents that can be used include, but are not particularly limited to, aminosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, organosilazane compounds, titanate coupling agents, etc. A ring agent or the like may be used. Specific examples of surface treatment agents include 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, and hexamethyldimethoxysilane. Examples include silazane.

なお、上述の充填剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 In addition, the above-mentioned fillers may be used alone or in combination of two or more types.

前記充填剤の使用量は、前記エポキシ樹脂100質量部に対して、0.5~95質量部であることが好ましく、5~80質量部であることがより好ましい。充填剤の使用量が0.5質量部以上であると、充填剤の効果を十分に付与できることから好ましい。一方、配合物の粘度が高くなり成形性を損なわないように、充填剤の使用量が95質量部以下であることが好ましい。 The amount of the filler used is preferably 0.5 to 95 parts by weight, more preferably 5 to 80 parts by weight, based on 100 parts by weight of the epoxy resin. It is preferable that the amount of the filler used is 0.5 parts by mass or more because the effect of the filler can be sufficiently imparted. On the other hand, the amount of filler used is preferably 95 parts by mass or less so as not to increase the viscosity of the blend and impair moldability.

<硬化物>
本発明は、前記硬化性樹脂組成物を硬化反応させた硬化物に関する。前記リン含有活性エステル自体が、誘電正接が低いことから、前記リン含有活性エステルを含有する前記硬化性樹脂組成物から得られる硬化物もまた誘電正接が低くなり、また、得られる硬化物は、難燃性、柔軟性、柔軟性に起因する銅箔等の金属への密着性、及び、低誘電特性を発現させることのでき、好ましい態様となる。
<Cured product>
The present invention relates to a cured product obtained by subjecting the curable resin composition to a curing reaction. Since the phosphorus-containing active ester itself has a low dielectric loss tangent, the cured product obtained from the curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester also has a low dielectric loss tangent. This is a preferred embodiment because it can exhibit flame retardancy, flexibility, adhesion to metals such as copper foil, and low dielectric properties due to flexibility.

前記硬化性樹脂組成物を硬化反応させた硬化物を得る方法としては、例えば、加熱硬化する際の加熱温度は、特に制限されないが、100~300℃であり、加熱時間としては、1~24時間であることが好ましい。 As a method for obtaining a cured product obtained by subjecting the curable resin composition to a curing reaction, for example, the heating temperature during heating curing is not particularly limited, but is 100 to 300°C, and the heating time is 1 to 24°C. Preferably it is time.

<硬化性樹脂組成物の用途>
上記硬化性樹脂組成物が用いられる用途としては、プリント配線板材料、フレキシルブル配線基板用樹脂組成物、ビルドアップ基板用層間絶縁材料、ビルドアップ用接着フィルム等の回路基板用絶縁材料、樹脂注型材料、接着剤、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、導電ペースト、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、上記複合材料を硬化させてなる成形品等が挙げられる。これら各種用途のうち、プリント配線板材料、回路基板用絶縁材料、ビルドアップ用接着フィルム用途では、コンデンサ等の受動部品やICチップ等の能動部品を基板内に埋め込んだ所謂電子部品内蔵用基板用の絶縁材料として用いることができる。さらに、上記の中でも、硬化物が優れた難燃性、柔軟性、密着性、低誘電特性、及び、耐熱性等を有するといった特性を生かし、本発明の硬化性樹脂組成物は、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、フレキシルブル配線基板、回路基板、及び、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、多層プリント配線板、繊維強化複合材料、前記複合材料を硬化させてなる成形品に用いることが好ましい。以下に、硬化性樹脂組成物から、前記半導体封止材料などを製造する方法について説明する。
<Applications of curable resin composition>
Applications for which the above curable resin composition is used include printed wiring board materials, resin compositions for flexible wiring boards, interlayer insulation materials for build-up boards, insulating materials for circuit boards such as build-up adhesive films, and resin injection materials. Examples include mold materials, adhesives, semiconductor sealing materials, semiconductor devices, prepregs, conductive pastes, build-up films, build-up substrates, fiber-reinforced composite materials, and molded products obtained by curing the above-mentioned composite materials. Among these various applications, printed wiring board materials, insulating materials for circuit boards, and build-up adhesive films are used for so-called electronic component embedded substrates in which passive components such as capacitors and active components such as IC chips are embedded within the substrate. It can be used as an insulating material. Furthermore, among the above, the curable resin composition of the present invention is suitable for semiconductor encapsulation by taking advantage of the properties that the cured product has excellent flame retardancy, flexibility, adhesion, low dielectric properties, heat resistance, etc. Preferably used for materials, semiconductor devices, prepregs, flexible wiring boards, circuit boards, build-up films, build-up boards, multilayer printed wiring boards, fiber-reinforced composite materials, and molded products obtained by curing the composite materials. . Below, a method for producing the semiconductor encapsulating material and the like from a curable resin composition will be explained.

1.半導体封止材料
本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有する半導体封止材に関する。上記硬化性樹脂組成物から半導体封止材料を得る方法としては、上記硬化性樹脂組成物、及び硬化促進剤、及び無機充填剤等の配合剤とを必要に応じて押出機、ニ-ダ、ロ-ル等を用いて均一になるまで充分に溶融混合する方法が挙げられる。その際、無機充填剤としては、通常、溶融シリカが用いられるが、パワートランジスタ、パワーIC用高熱伝導半導体封止材として用いる場合は、溶融シリカよりも熱伝導率の高い結晶シリカ、アルミナ、窒化ケイ素などの高充填化、又は溶融シリカ、結晶性シリカ、アルミナ、窒化ケイ素などを用いるとよい。その充填率は硬化性樹脂組成物100質量部当たり、無機充填剤を30~95質量部の範囲で用いることが好ましく、中でも、難燃性や耐湿性や耐ハンダクラック性の向上、線膨張係数の低下を図るためには、70質量部以上がより好ましく、80質量部以上であることがさらに好ましい。
1. Semiconductor encapsulation material The present invention relates to a semiconductor encapsulation material containing the curable resin composition. As a method for obtaining a semiconductor encapsulating material from the above curable resin composition, the above curable resin composition and compounding agents such as a curing accelerator and an inorganic filler are mixed as necessary in an extruder, a kneader, Examples include a method of sufficiently melting and mixing using a roll or the like until the mixture becomes uniform. At that time, fused silica is usually used as the inorganic filler, but when used as a highly thermally conductive semiconductor encapsulant for power transistors and power ICs, crystalline silica, alumina, nitride, etc., which have higher thermal conductivity than fused silica, It is preferable to use highly filled silicon or the like, or use fused silica, crystalline silica, alumina, silicon nitride, or the like. It is preferable to use the inorganic filler in a range of 30 to 95 parts by mass per 100 parts by mass of the curable resin composition. In order to reduce the amount, the amount is more preferably 70 parts by mass or more, and even more preferably 80 parts by mass or more.

2.半導体装置
本発明は、前記半導体封止材を加熱硬化した硬化物を含む半導体装置に関する。上記硬化性樹脂組成物から半導体装置を得る方法としては、上記半導体封止材料を注型、或いはトランスファー成形機、射出成形機などを用いて成形し、さらに50~200℃で2~10時間の間、加熱する方法が挙げられる。
2. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor device including a cured product obtained by heating and curing the semiconductor sealing material. A method for obtaining a semiconductor device from the above-mentioned curable resin composition is to mold the above-mentioned semiconductor encapsulating material by casting, using a transfer molding machine, an injection molding machine, etc., and then molding the semiconductor device at 50 to 200°C for 2 to 10 hours. A method of heating for a while is mentioned.

3.プリプレグ
本発明は、補強基材、及び、前記補強基材に含浸した前記硬化性樹脂組成物の半硬化物を有するプリプレグに関する。上記硬化性樹脂組成物からプリプレグを得る方法としては、下記有機溶媒を配合してワニス化した硬化性樹脂組成物を、補強基材(紙、ガラス布、ガラス不織布、アラミド紙、アラミド布、ガラスマット、ガラスロービング布など)に含浸したのち、用いた溶媒種に応じた加熱温度、好ましくは50~170℃で加熱することによって、得る方法が挙げられる。この時用いる樹脂組成物と補強基材の質量割合としては、特に限定されないが、通常、プリプレグ中の樹脂分が20~60質量%となるように調製することが好ましい。
3. Prepreg The present invention relates to a reinforcing base material and a prepreg having a semi-cured product of the curable resin composition impregnated into the reinforcing base material. A method for obtaining a prepreg from the above curable resin composition is to apply a curable resin composition prepared as a varnish by blending the following organic solvent to a reinforcing base material (paper, glass cloth, glass nonwoven fabric, aramid paper, aramid cloth, glass Examples of methods include impregnating a mat, glass roving cloth, etc.) and then heating at a heating temperature depending on the type of solvent used, preferably 50 to 170°C. The mass ratio of the resin composition and the reinforcing base material used at this time is not particularly limited, but it is usually preferable to prepare the prepreg so that the resin content is 20 to 60 mass%.

ここで用いる有機溶媒としては、メチルエチルケトン、アセトン、ジメチルホルムアミド、メチルイソブチルケトン、メトキシプロパノール、シクロヘキサノン、メチルセロソルブ、エチルジグリコールアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等が挙げられ、その選択や適正な使用量は用途によって適宜選択し得るが、例えば、下記のようにプリプレグからプリント回路基板をさらに製造する場合には、メチルエチルケトン、アセトン、ジメチルホルムアミド等の沸点が160℃以下の極性溶媒を用いることが好ましく、また、不揮発分が40~80質量%となる割合で用いることが好ましい。 Examples of the organic solvent used here include methyl ethyl ketone, acetone, dimethyl formamide, methyl isobutyl ketone, methoxypropanol, cyclohexanone, methyl cellosolve, ethyl diglycol acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, etc., and their selection and appropriate usage amount are Although it can be selected as appropriate depending on the application, for example, when further manufacturing a printed circuit board from prepreg as described below, it is preferable to use a polar solvent with a boiling point of 160 ° C. or lower, such as methyl ethyl ketone, acetone, or dimethyl formamide. , it is preferable to use the non-volatile content in a proportion of 40 to 80% by mass.

4.回路基板
本発明は、前記プリプレグ、及び、銅箔を積層し、加熱圧着成型して得られる回路基板に関する。上記硬化性樹脂組成物からプリント回路基板を得る方法としては、上記プリプレグを、常法により積層し、適宜銅箔を重ねて、1~10MPaの加圧下に170~300℃で10分~3時間、加熱圧着させる方法が挙げられる。
4. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a circuit board obtained by laminating the prepreg and copper foil and molding them under heat and pressure. As a method for obtaining a printed circuit board from the above curable resin composition, the above prepregs are laminated by a conventional method, copper foil is layered as appropriate, and the mixture is heated at 170 to 300° C. for 10 minutes to 3 hours under a pressure of 1 to 10 MPa. , and heat compression bonding methods.

5.フレキシルブル配線基板
上記硬化性樹脂組成物からフレキシルブル配線基板を製造する方法としては、以下に示す3つの工程からなる方法で製造されるものが挙げられる。第1の工程は、活性エステル、エポキシ樹脂、及び有機溶媒を配合した硬化性樹脂組成物を、リバースロールコータ、コンマコータ等の塗布機を用いて、電気絶縁性フィルムに塗布する工程であり、第2の工程は、加熱機を用いて60~170℃で1~15分間の間、硬化性樹脂組成物が塗布された電気絶縁性フィルム加熱し、電気絶縁性フィルムから溶媒を揮発させて、硬化性樹脂組成物をB-ステージ化する工程であり、第3の工程は、硬化性樹脂組成物がB-ステージ化された電気絶縁性フィルムに、加熱ロール等を用いて、接着剤に金属箔を熱圧着(圧着圧力は2~200N/cm、圧着温度は40~200℃が好ましい)する工程である。なお、上記3つの工程を経ることで、十分な接着性能が得られれば、ここで終えても構わないが、完全接着性能が必要な場合は、さらに100~200℃で1~24時間の条件で後硬化させることが好ましい。最終的に硬化させた後の硬化性樹脂組成物膜の厚みは、5~100μmの範囲が好ましい。
5. Flexible Wiring Board As a method for manufacturing a flexible wiring board from the above-mentioned curable resin composition, a method comprising the following three steps may be used. The first step is to apply a curable resin composition containing an active ester, an epoxy resin, and an organic solvent to an electrically insulating film using a coating machine such as a reverse roll coater or a comma coater. Step 2 is to heat the electrically insulating film coated with the curable resin composition using a heating machine at 60 to 170°C for 1 to 15 minutes to volatilize the solvent from the electrically insulating film and cure it. The third step is to B-stage the curable resin composition, and the third step is to apply a metal foil to the adhesive using a heating roll or the like on the electrically insulating film in which the curable resin composition has been B-staged. This is a process of thermocompression bonding (compression pressure is preferably 2 to 200 N/cm, and compression temperature is preferably 40 to 200° C.). If sufficient adhesion performance is obtained by going through the above three steps, you can finish here, but if complete adhesion performance is required, an additional 1 to 24 hours at 100 to 200°C may be used. It is preferable to post-cure with. The thickness of the curable resin composition film after final curing is preferably in the range of 5 to 100 μm.

6.ビルドアップ基板
上記硬化性樹脂組成物からビルドアップ基板を製造する方法としては、以下に示す3つの工程からなる方法で製造されるものが挙げられる。第1の工程は、ゴム、フィラーなどを適宜配合した上記硬化性樹脂組成物を、回路を形成した回路基板にスプレーコーティング法、カーテンコーティング法等を用いて塗布した後、硬化させる工程であり、第2の工程は、その後、必要に応じて所定のスルーホール部等の穴あけを行った後、粗化剤により処理し、その表面を湯洗することによって、凹凸を形成させ、銅などの金属をめっき処理する工程であり、第3の工程は、このような操作を所望に応じて順次繰り返し、樹脂絶縁層及び所定の回路パターンの導体層を交互にビルドアップして形成する工程である。なお、スルーホール部の穴あけは、最外層の樹脂絶縁層の形成後に行うことが好ましい。第一の工程は、上述の溶液塗布によるもの以外にも、あらかじめ所望の厚みに塗工して乾燥したビルドアップフィルムのラミネートによる方法でも行うことができる。また、本発明のビルドアップ基板は、銅箔上で当該樹脂組成物を半硬化させた樹脂付き銅箔を、回路を形成した配線基板上に、170~250℃で加熱圧着することで、粗化面を形成、メッキ処理の工程を省き、ビルドアップ基板を製造することも可能である。
6. Build-up Board A method for manufacturing a build-up board from the above-mentioned curable resin composition includes a method comprising the following three steps. The first step is a step of applying the above-mentioned curable resin composition suitably blended with rubber, filler, etc. to the circuit board on which the circuit has been formed using a spray coating method, curtain coating method, etc., and then curing it. In the second step, after drilling predetermined through-holes as necessary, the surface is treated with a roughening agent, and the surface is washed with hot water to form unevenness, and then the surface is made of metal such as copper. The third step is a step of sequentially repeating such operations as desired to alternately build up and form a resin insulating layer and a conductor layer of a predetermined circuit pattern. Note that it is preferable that the through-hole portion be formed after the outermost resin insulating layer is formed. The first step can be carried out not only by solution coating as described above, but also by laminating a build-up film that has been coated to a desired thickness and dried. In addition, the build-up board of the present invention can be produced by heat-pressing a resin-coated copper foil obtained by semi-curing the resin composition on the copper foil at 170 to 250°C onto a wiring board on which a circuit has been formed. It is also possible to manufacture a build-up board by omitting the steps of forming a chemically coated surface and plating.

7.ビルドアップフィルム
本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有するビルドアップフィルムに関する。本発明のビルドアップフィルムを製造する方法としては、上記硬化性樹脂組成物を、支持フィルム上に塗布し、硬化性樹脂組成物層を形成させて多層プリント配線板用の接着フィルムとすることにより製造する方法が挙げられる。
7. Build-up film The present invention relates to a build-up film containing the curable resin composition. As a method for manufacturing the build-up film of the present invention, the above-mentioned curable resin composition is applied onto a support film to form a curable resin composition layer to form an adhesive film for a multilayer printed wiring board. Examples include methods of manufacturing.

硬化性樹脂組成物からビルドアップフィルムを製造する場合、該フィルムは、真空ラミネート法におけるラミネートの温度条件(通常70~140℃)で軟化し、回路基板のラミネートと同時に、回路基板に存在するビアホール、あるいは、スルーホール内の樹脂充填が可能な流動性(樹脂流れ)を示すことが肝要であり、このような特性を発現するよう上記各成分を配合することが好ましい。 When producing a build-up film from a curable resin composition, the film softens under the lamination temperature conditions (usually 70 to 140°C) in the vacuum lamination method, and simultaneously laminates the circuit board and fills the via holes present in the circuit board. Alternatively, it is important that the resin exhibits fluidity (resin flow) that allows resin filling in the through-hole, and it is preferable to mix the above-mentioned components so as to exhibit such characteristics.

ここで、多層プリント配線板のスルーホールの直径は、通常0.1~0.5mm、深さは通常0.1~1.2mmであり、通常この範囲で樹脂充填を可能とするのが好ましい。なお回路基板の両面をラミネートする場合はスルーホールの1/2程度充填されることが望ましい。 Here, the diameter of the through hole of the multilayer printed wiring board is usually 0.1 to 0.5 mm, and the depth is usually 0.1 to 1.2 mm, and it is usually preferable to allow resin filling within this range. . Note that when laminating both sides of the circuit board, it is desirable that about 1/2 of the through holes be filled.

上記した接着フィルムを製造する方法は、具体的には、ワニス状の上記硬化性樹脂組成物を調製した後、支持フィルム(Y)の表面に、このワニス状の組成物を塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶媒を乾燥させて硬化性樹脂組成物からなる組成物層(X)を形成させることにより製造することができる。 Specifically, the method for manufacturing the adhesive film described above includes preparing the varnish-like curable resin composition, applying this varnish-like composition to the surface of the support film (Y), and further heating. Alternatively, it can be produced by drying the organic solvent by blowing hot air or the like to form a composition layer (X) made of a curable resin composition.

形成される組成物層(X)の厚さは、通常、導体層の厚さ以上とすることが好ましい。回路基板が有する導体層の厚さは通常5~70μmの範囲であるので、樹脂組成物層の厚さは10~100μmの厚みを有するのが好ましい。 The thickness of the composition layer (X) to be formed is usually preferably greater than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of a conductor layer included in a circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the thickness of the resin composition layer is preferably in the range of 10 to 100 μm.

なお、本発明における組成物層(X)は、後述する保護フィルムで保護されていてもよい。保護フィルムで保護することにより、樹脂組成物層表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。 In addition, the composition layer (X) in this invention may be protected with the protective film mentioned later. By protecting with a protective film, it is possible to prevent dust and the like from adhering to the surface of the resin composition layer and from scratching it.

上記した支持フィルム及び保護フィルムは、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、更には離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを挙げることができる。なお、支持フィルム及び保護フィルムはマッド処理、コロナ処理の他、離型処理を施してあってもよい。 The support film and protective film described above are made of polyolefins such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride, polyesters such as polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET"), polyethylene naphthalate, polycarbonate, polyimide, and even release materials. Examples include paper patterns and metal foils such as copper foil and aluminum foil. Note that the support film and the protective film may be subjected to a release treatment in addition to mud treatment and corona treatment.

支持フィルムの厚さは特に限定されないが、通常10~150μmであり、好ましくは25~50μmの範囲で用いられる。また保護フィルムの厚さは1~40μmとするのが好ましい。 The thickness of the support film is not particularly limited, but is usually 10 to 150 μm, preferably 25 to 50 μm. Further, the thickness of the protective film is preferably 1 to 40 μm.

上記した支持フィルム(Y)は、回路基板にラミネートした後に、或いは加熱硬化することにより絶縁層を形成した後に、剥離される。接着フィルムを加熱硬化した後に支持フィルム(Y)を剥離すれば、硬化工程でのゴミ等の付着を防ぐことができる。硬化後に剥離する場合、通常、支持フィルムには予め離型処理が施される。 The support film (Y) described above is peeled off after being laminated onto the circuit board or after forming an insulating layer by heating and curing. If the support film (Y) is peeled off after the adhesive film is cured by heating, it is possible to prevent dust and the like from adhering to the adhesive film during the curing process. When peeling is performed after curing, the support film is usually subjected to a release treatment in advance.

8.多層プリント配線板
なお、上記のようして得られたフィルムを用いて多層プリント配線板を製造することもできる。そのような多層プリント配線板の製造方法は、例えば、組成物層(X)が保護フィルムで保護されている場合はこれらを剥離した後、組成物層(X)を回路基板に直接、回路基板の片面又は両面に、例えば真空ラミネート法によりラミネートする。ラミネートの方法はバッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。またラミネートを行う前に接着フィルム及び回路基板を必要により加熱(プレヒート)しておいてもよい。
8. Multilayer Printed Wiring Board A multilayer printed wiring board can also be manufactured using the film obtained as described above. A method for producing such a multilayer printed wiring board is, for example, when the composition layer (X) is protected with a protective film, after peeling off these, the composition layer (X) is directly attached to the circuit board. The substrate is laminated on one or both sides by, for example, a vacuum lamination method. The lamination method may be a batch method or a continuous method using rolls. Furthermore, the adhesive film and the circuit board may be heated (preheated) if necessary before laminating.

ラミネートの条件は、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70~140℃、圧着圧力を好ましくは1~11kgf/cm(9.8×10~107.9×10N/m)とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートすることが好ましい。 The lamination conditions are as follows: the pressure bonding temperature is preferably 70 to 140°C, and the pressure is preferably 1 to 11 kgf/cm 2 (9.8×10 4 to 107.9×10 4 N/m 2 ). It is preferable to laminate under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less.

9.繊維強化複合材料
上記硬化性樹脂組成物から繊維強化複合材料を製造する方法としては、硬化性樹脂組成物を構成する各成分を均一に混合してワニスを調製し、次いでこれを強化繊維からなる強化基材に含浸した後、重合反応させることにより製造することができる。
9. Fiber-reinforced composite material The method for producing a fiber-reinforced composite material from the above-mentioned curable resin composition involves uniformly mixing each component constituting the curable resin composition to prepare a varnish, which is then mixed with reinforcing fibers. It can be manufactured by impregnating a reinforcing base material and then subjecting it to a polymerization reaction.

かかる重合反応を行う際の硬化温度は、具体的には、50~250℃の温度範囲であることが好ましく、特に、50~100℃で硬化させ、タックフリー状の硬化物にした後、更に、120~200℃の温度条件で処理することが好ましい。 Specifically, the curing temperature when performing such a polymerization reaction is preferably in the temperature range of 50 to 250°C, and in particular, after curing at 50 to 100°C to obtain a tack-free cured product, further , preferably at a temperature of 120 to 200°C.

ここで、強化繊維は、有撚糸、解撚糸、又は無撚糸などいずれでも良いが、解撚糸や無撚糸が、繊維強化プラスチック製部材の成形性と機械強度を両立することから、好ましい。さらに、強化繊維の形態は、繊維方向が一方向に引き揃えたものや、織物が使用できる。織物では、平織り、朱子織りなどから、使用する部位や用途に応じて自由に選択することができる。具体的には、機械強度や耐久性に優れることから、炭素繊維、ガラス繊維、アラミド繊維、ボロン繊維、アルミナ繊維、炭化ケイ素繊維などが挙げられ、これらの2種以上を併用することもできる。これらの中でもとりわけ成形品の強度が良好なものとなる点から炭素繊維が好ましく、かかる、炭素繊維は、ポリアクリロニトリル系、ピッチ系、レーヨン系などの各種のものが使用できる。中でも、容易に高強度の炭素繊維が得られるポリアクリロニトリル系のものが好ましい。ここで、ワニスを強化繊維からなる強化基材に含浸して繊維強化複合材料とする際の強化繊維の使用量は、該繊維強化複合材料中の強化繊維の体積含有率が40~85%の範囲となる量であることが好ましい。 Here, the reinforcing fibers may be twisted yarns, untwisted yarns, untwisted yarns, or the like, but untwisted yarns and untwisted yarns are preferable because they achieve both moldability and mechanical strength of the fiber-reinforced plastic member. Furthermore, the reinforcing fibers can be in the form of one in which the fibers are aligned in one direction or a woven fabric. Fabrics can be freely selected from plain weave, satin weave, etc. depending on the part and purpose of use. Specifically, since they have excellent mechanical strength and durability, carbon fibers, glass fibers, aramid fibers, boron fibers, alumina fibers, silicon carbide fibers, etc. can be used, and two or more of these can also be used in combination. Among these, carbon fibers are particularly preferred since they provide good strength to the molded product, and various carbon fibers such as polyacrylonitrile-based, pitch-based, and rayon-based carbon fibers can be used. Among these, polyacrylonitrile-based materials are preferred because they can easily yield high-strength carbon fibers. Here, the amount of reinforcing fiber used when making a fiber-reinforced composite material by impregnating a reinforcing base material made of reinforcing fibers with varnish is such that the volume content of reinforcing fibers in the fiber-reinforced composite material is 40 to 85%. The amount is preferably within a range.

10.繊維強化樹脂成形品
上記硬化性樹脂組成物から繊維強化樹脂成形品を製造する方法としては、型に繊維骨材を敷き、上記ワニスを多重積層してゆくハンドレイアップ法やスプレーアップ法、オス型・メス型のいずれかを使用し、強化繊維からなる基材にワニスを含浸させながら積み重ねて成形、圧力を成形物に作用させることのできるフレキシブルな型をかぶせ、気密シールしたものを真空(減圧)成型する真空バッグ法、あらかじめ強化繊維を含有するワニスをシート状にしたものを金型で圧縮成型するSMCプレス法、繊維を敷き詰めた合わせ型に上記ワニスを注入するRTM法などにより、強化繊維に上記ワニスを含浸させたプリプレグを製造し、これを大型のオートクレーブで焼き固める方法などが挙げられる。なお、上記で得られた繊維強化樹脂成形品は、強化繊維と硬化性樹脂組成物の硬化物とを有する成形品であり、具体的には、繊維強化樹脂成形品中の強化繊維の量は、40~70質量%の範囲であることが好ましく、強度の点から50~70質量%の範囲であることが特に好ましい。
10. Fiber-reinforced resin molded products Methods for producing fiber-reinforced resin molded products from the above-mentioned curable resin composition include the hand lay-up method, the spray-up method in which fiber aggregate is laid in a mold, and the above-mentioned varnish is laminated in multiple layers. Using either a mold or a female mold, the base material made of reinforcing fibers is impregnated with varnish and stacked and molded, covered with a flexible mold that can apply pressure to the molded product, sealed airtight, and then vacuumed ( Reinforcement is achieved by the vacuum bag method, which involves molding (under reduced pressure), the SMC press method, which compresses and molds a sheet of varnish containing reinforcing fibers in a mold, and the RTM method, which injects the varnish into a mold lined with fibers. Examples include a method in which a prepreg is produced by impregnating fibers with the above varnish, and the prepreg is baked and hardened in a large autoclave. The fiber-reinforced resin molded product obtained above is a molded product containing reinforcing fibers and a cured product of the curable resin composition, and specifically, the amount of reinforcing fibers in the fiber-reinforced resin molded product is , preferably in the range of 40 to 70% by mass, and particularly preferably in the range of 50 to 70% by mass from the viewpoint of strength.

11.その他
上記で半導体封止材料等を製造する方法について説明したが、硬化性樹脂組成物からその他の硬化物を製造することもできる。その他の硬化物の製造方法としては、一般的な硬化性樹脂組成物の硬化方法に準拠することにより製造することができる。例えば加熱温度条件は、組み合わせる硬化剤の種類や用途等によって、適宜選択すればよい。
11. Others Although the method for producing semiconductor sealing materials and the like has been described above, other cured products can also be produced from the curable resin composition. Other methods for producing the cured product may be based on general curing methods for curable resin compositions. For example, the heating temperature conditions may be appropriately selected depending on the type of curing agent to be combined, the intended use, and the like.

次に本発明を実施例、及び、比較例により具体的に説明するが、以下において「部」及び「%」は特に断わりのない限り質量基準である。なお、GPC測定、H-NMR測定、13C-NMR測定、FD-MSスペクトル測定、軟化点、及び、リン含有率に関しては、以下に示す条件等や、以下に示す計算式に基づき、算出した。 Next, the present invention will be specifically explained with reference to Examples and Comparative Examples. In the following, "parts" and "%" are based on mass unless otherwise specified. In addition, GPC measurement, 1 H-NMR measurement, 13 C-NMR measurement, FD-MS spectrum measurement, softening point, and phosphorus content are calculated based on the conditions shown below and the calculation formula shown below. did.

<GPC測定>
以下の測定装置、測定条件を用いて測定し、以下に示す合成例・実施例等で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体、リン含有ジオール、リン含有活性エステル、及び、リン含有活性エステル合成時に使用する中間体、及び目的とする化合物のGPCチャートを得た。前記GPCチャートの結果より、原料ピークの減少及び消失から、目的生成物が生成していることを確認した。
測定装置:東ソー株式会社製「HLC-8320 GPC」
カラム:東ソー株式会社製ガードカラム「HXL-L」+東ソー株式会社製「TSK-GEL G2000HXL」+東ソー株式会社製「TSK-GEL G2000HXL」+東ソー株式会社製「TSK-GEL G3000HXL」+東ソー株式会社製「TSK-GEL G4000HXL」
検出器:RI(示差屈折計)
データ処理:東ソー株式会社製「GPCワークステーション EcoSEC-WorkStation」
測定条件:カラム温度 40℃
展開溶媒 テトラヒドロフラン
流速 1.0ml/分
標準:前記「GPCワークステーション EcoSEC-WorkStation」の測定マニュアルに準拠して、分子量が既知の下記の単分散ポリスチレンを用いた。
(使用ポリスチレン)
東ソー株式会社製「A-500」
東ソー株式会社製「A-1000」
東ソー株式会社製「A-2500」
東ソー株式会社製「A-5000」
東ソー株式会社製「F-1」
東ソー株式会社製「F-2」
東ソー株式会社製「F-4」
東ソー株式会社製「F-10」
東ソー株式会社製「F-20」
東ソー株式会社製「F-40」
東ソー株式会社製「F-80」
東ソー株式会社製「F-128」
試料:以下に示す合成例・実施例等で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体、リン含有ジオール、リン含有活性エステル、及び、リン含有活性エステル合成時に使用する中間体の固形分換算で1.0質量%のテトラヒドロフラン溶液をマイクロフィルターでろ過したもの(50μl)を使用した。
<GPC measurement>
Measured using the following measuring equipment and measurement conditions, and used in the synthesis of isophthalic acid diphenyl derivatives, phosphorus-containing diols, phosphorus-containing active esters, and phosphorus-containing active esters obtained in the synthesis examples and examples shown below. GPC charts of the intermediate and the target compound were obtained. From the results of the GPC chart, it was confirmed that the target product was produced from the decrease and disappearance of the raw material peak.
Measuring device: “HLC-8320 GPC” manufactured by Tosoh Corporation
Column: Guard column "HXL-L" manufactured by Tosoh Corporation + "TSK-GEL G2000HXL" manufactured by Tosoh Corporation + "TSK-GEL G2000HXL" manufactured by Tosoh Corporation + "TSK-GEL G3000HXL" manufactured by Tosoh Corporation + "TSK-GEL G3000HXL" manufactured by Tosoh Corporation "TSK-GEL G4000HXL"
Detector: RI (differential refractometer)
Data processing: “GPC Workstation EcoSEC-WorkStation” manufactured by Tosoh Corporation
Measurement conditions: Column temperature 40℃
Developing solvent Tetrahydrofuran
Flow rate: 1.0 ml/min Standard: The following monodisperse polystyrene with a known molecular weight was used in accordance with the measurement manual of the above-mentioned "GPC Workstation EcoSEC-WorkStation".
(Polystyrene used)
"A-500" manufactured by Tosoh Corporation
"A-1000" manufactured by Tosoh Corporation
"A-2500" manufactured by Tosoh Corporation
"A-5000" manufactured by Tosoh Corporation
"F-1" manufactured by Tosoh Corporation
"F-2" manufactured by Tosoh Corporation
"F-4" manufactured by Tosoh Corporation
"F-10" manufactured by Tosoh Corporation
"F-20" manufactured by Tosoh Corporation
"F-40" manufactured by Tosoh Corporation
"F-80" manufactured by Tosoh Corporation
"F-128" manufactured by Tosoh Corporation
Sample: 1.0 mass in terms of solid content of diphenyl isophthalate derivatives, phosphorus-containing diols, phosphorus-containing active esters, and intermediates used in the synthesis of phosphorus-containing active esters obtained in the synthesis examples and examples shown below. % tetrahydrofuran solution filtered through a microfilter (50 μl) was used.

H-NMR測定>
H-NMR:JEOL RESONANCE製「JNM-ECA600」
磁場強度:600MHz
積算回数:32回
溶媒:DMSO-d6
試料濃度:30質量%
前記H―NMRチャートの結果より、目的生成物由来のピークが確認でき、各反応における目的生成物が得られたことを確認した。
< 1H -NMR measurement>
1 H-NMR: “JNM-ECA600” manufactured by JEOL RESONANCE
Magnetic field strength: 600MHz
Total number of times: 32 times Solvent: DMSO-d6
Sample concentration: 30% by mass
From the results of the 1 H-NMR chart, a peak derived from the target product could be confirmed, and it was confirmed that the target product was obtained in each reaction.

13C-NMR測定>
13C-NMR:JEOL RESONANCE製「JNM-ECA600」
磁場強度:150MHz
積算回数:320回
溶媒:DMSO-d6
試料濃度:30質量%
前記13C―NMRチャートの結果より、目的生成物由来のピークが確認でき、各反応における目的生成物が得られたことを確認した。
< 13C -NMR measurement>
13C -NMR: “JNM-ECA600” manufactured by JEOL RESONANCE
Magnetic field strength: 150MHz
Total number of times: 320 times Solvent: DMSO-d6
Sample concentration: 30% by mass
From the results of the 13 C-NMR chart, a peak derived from the target product could be confirmed, and it was confirmed that the target product was obtained in each reaction.

<FD-MSスペクトル測定>
FD-MSスペクトルは、以下の測定装置、測定条件を用いて測定した。
測定装置:JMS-T100GC AccuTOF
測定条件
測定範囲:m/z=4.00~2000.00
変化率:51.2mA/min
最終電流値:45mA
カソード電圧:-10kV
記録間隔:0.07sec
前記FD-MSスペクトルの結果より、目的生成物由来のピークが確認でき、各反応における目的生成物が得られたことを確認した。
<FD-MS spectrum measurement>
The FD-MS spectrum was measured using the following measurement device and measurement conditions.
Measuring device: JMS-T100GC AccuTOF
Measurement conditions Measurement range: m/z = 4.00 to 2000.00
Rate of change: 51.2mA/min
Final current value: 45mA
Cathode voltage: -10kV
Recording interval: 0.07sec
From the results of the FD-MS spectrum, a peak derived from the target product could be confirmed, confirming that the target product was obtained in each reaction.

<軟化点>
JIS K7234に準拠して、測定した。
<Softening point>
Measured according to JIS K7234.

<理論リン含有率>
理論リン含有率(%)=100×[リン含有原料の仕込み量(質量部)×(リン含有原料のリン含有率(質量%)/100)]/(リン含有原料を用いて合成されるリン含有化合物の理論収量)
なお、前記リン含有原料のリン含有率は、商品を使用する場合は、商品カタログ値を使用した。
前記リン含有化合物とは、実施例及び比較例で使用するリン含有ジオール、リン含有活性エステル、及び、リン含有中間体を指す。
<Theoretical phosphorus content>
Theoretical phosphorus content (%) = 100 x [amount of phosphorus-containing raw material (mass parts) x (phosphorus content of phosphorus-containing raw material (mass %)/100)] / (phosphorus synthesized using phosphorus-containing raw materials Theoretical yield of contained compounds)
In addition, for the phosphorus content of the phosphorus-containing raw material, when a commercial product was used, the product catalog value was used.
The phosphorus-containing compound refers to a phosphorus-containing diol, a phosphorus-containing active ester, and a phosphorus-containing intermediate used in Examples and Comparative Examples.

合成例1:イソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、攪拌器を取り付けたフラスコに、o-クレゾール864.0g(8.0モル)とトルエン4140.0gを仕込み、系内を減圧窒素置換し、溶解させた。次いで、イソフタル酸クロリド808g(酸クロリド基のモル数:4.0モル)を仕込み、系内を減圧窒素置換し溶解させた。その後、テトラブチルアンモニウムブロマイド(以下、「TBAB」)2.07gを溶解させ、窒素ガスパージを施しながら、系内を60℃以下に制御して、20%水酸化ナトリウム水溶液1648.0gを3時間かけて滴下した。次いでこの条件下で1.0時間攪拌を続けた。反応終了後、静置分液し、水層を取り除いた。更に反応物が溶解しているトルエン層に水を投入して約15分間攪拌混合し、静置分液して水層を取り除いた。水層のpHが7になるまでこの操作を繰り返した。その後、デカンタ脱水、脱溶剤で水分とトルエンを除去し、結晶性化合物であるイソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)を得た。得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)の活性エステル当量は、仕込み比から173g/eqであった。図1に得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)のGPCチャートを、図2にH-NMRチャートを、図3にFD-MSスペクトルチャートを示す。
Synthesis Example 1: Synthesis of diphenyl isophthalate derivative (A-1) 864.0 g (8.0 mol) of o-cresol and toluene were placed in a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, cooling tube, fractionating tube, and stirrer. 4140.0 g was charged, and the system was replaced with nitrogen under reduced pressure to dissolve it. Next, 808 g of isophthalic acid chloride (number of moles of acid chloride group: 4.0 mol) was charged, and the system was replaced with nitrogen under reduced pressure to dissolve it. Thereafter, 2.07 g of tetrabutylammonium bromide (hereinafter referred to as "TBAB") was dissolved, the inside of the system was controlled at 60°C or less while purging with nitrogen gas, and 1648.0 g of a 20% aqueous sodium hydroxide solution was added over 3 hours. dripped. Stirring was then continued under these conditions for 1.0 hour. After the reaction was completed, the mixture was allowed to stand still for liquid separation, and the aqueous layer was removed. Furthermore, water was added to the toluene layer in which the reactants were dissolved, and the mixture was stirred and mixed for about 15 minutes, and the mixture was allowed to stand still for liquid separation to remove the aqueous layer. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Thereafter, water and toluene were removed by dehydration in a decanter and solvent removal to obtain a crystalline compound diphenyl isophthalate derivative (A-1). The active ester equivalent of the obtained diphenyl isophthalate derivative (A-1) was 173 g/eq based on the charging ratio. FIG. 1 shows the GPC chart of the obtained diphenyl isophthalate derivative (A-1), FIG. 2 shows the 1 H-NMR chart, and FIG. 3 shows the FD-MS spectrum chart.

合成例2:リン含有ジオールの合成:PC-HCA-HQ
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、攪拌器を取り付けたフラスコに、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナントレン-10-オキサイド(三光株式会社製、商品名:HCA-HQ)200.0g、炭酸プロピレン156.4gとトリフェニルホスフィン(以下TPP)1.07gを仕込み、190℃まで昇温し、反応が終了するまで反応させて、リン含有ジオール(PC-HCA-HQ)を得た。得られたリン含有ジオール(PC-HCA-HQ)の理論リン含有率(含有量)は7.06質量%であり、水酸基当量は253g/eqであった。図4に得られたPC-HCA-HQのGPCチャートを、図5に13C-NMRチャートを、図6にFD-MSスペクトルチャートを示す。
Synthesis Example 2: Synthesis of phosphorus-containing diol: PC-HCA-HQ
10-(2,5-dihydroxyphenyl)-9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10- was placed in a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, condenser tube, fractionator tube, and stirrer. 200.0 g of oxide (manufactured by Sanko Co., Ltd., product name: HCA-HQ), 156.4 g of propylene carbonate, and 1.07 g of triphenylphosphine (hereinafter referred to as TPP) were charged, the temperature was raised to 190°C, and the reaction was carried out until the reaction was completed. In this way, a phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) was obtained. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) was 7.06% by mass, and the hydroxyl equivalent was 253 g/eq. FIG. 4 shows the GPC chart of the obtained PC-HCA-HQ, FIG. 5 shows the 13 C-NMR chart, and FIG. 6 shows the FD-MS spectrum chart.

実施例1:リン含有活性エステル(B-1)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、攪拌器を取り付けたフラスコに、合成例1で得られたイロフタル酸ジフェニル誘導体A-1を137.0g、合成例2で得られたリン含有ジオールPC-HCA-HQを100.0gと触媒としてジアザビシクロウンデセン(以下、「DBU」と略記する。)0.24gを仕込み、190℃まで昇温し、3時間反応させた。その後、減圧蒸留にてo-クレゾールを除去しながら更に反応させることで、リン含有活性エステル(B-1)を得た。得られたリン含有活性エステル(B-1)の理論リン含有率(含有量)は3.63質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は486g/eqであり、軟化点は110℃であった。図7に得られた活性エステル(B-1)のGPCチャートを、図8に13C-NMRチャートを、図9にFD-MSスペクトルチャートを示す。
Example 1: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-1) The diphenyl ophthalate derivative A-1 obtained in Synthesis Example 1 was placed in a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, condenser tube, fractionator tube, and stirrer. 137.0 g of phosphorus-containing diol PC-HCA-HQ obtained in Synthesis Example 2, and 0.24 g of diazabicycloundecene (hereinafter abbreviated as "DBU") as a catalyst were charged. The temperature was raised to ℃ and allowed to react for 3 hours. Thereafter, the reaction was further carried out while o-cresol was removed by vacuum distillation to obtain phosphorus-containing active ester (B-1). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-1) is 3.63% by mass, the functional group equivalent calculated from the charging ratio is 486 g / eq, and the softening point is 110 ° C. Met. FIG. 7 shows the GPC chart of the obtained active ester (B-1), FIG. 8 shows the 13 C-NMR chart, and FIG. 9 shows the FD-MS spectrum chart.

合成例3:リン含有ジオールの合成:EC-HCA-HQ
撹拌器を取り付けたナスフラスコにHCA-HQ200g、炭酸エチレン199.5gとTPP0.96gを仕込み、温度計をつけたオイルバスで180℃にて反応終了まで撹拌させて、リン含有ジオール(EC-HCA-HQ)を得た。得られたリン含有ジオール(EC-HCA-HQ)の理論リン含有率(含有量)は7.34質量%であり、水酸基当量が227g/eqであった。図10に得られたリン含有ジオールのGPCチャートを示す。
Synthesis Example 3: Synthesis of phosphorus-containing diol: EC-HCA-HQ
200 g of HCA-HQ, 199.5 g of ethylene carbonate, and 0.96 g of TPP were placed in an eggplant flask equipped with a stirrer, and the mixture was stirred at 180°C until the reaction was completed in an oil bath equipped with a thermometer. -HQ) was obtained. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (EC-HCA-HQ) was 7.34% by mass, and the hydroxyl equivalent was 227 g/eq. FIG. 10 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing diol.

実施例2:リン含有活性エステル(B-2)の合成
実施例1に対して、PC-HCA-HQに代えて、EC-HCA-HQ60.0g、イソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)を91.7g、DBUを0.15gに変更した以外、実施例1と同様な操作を行い、リン含有活性エステル(B-2)を得た。得られたリン含有活性エステル(B-2)の理論リン含有率(含有量)は3.58質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は465g/eqであり、軟化点は99℃であった。図11に得られたリン含有活性エステル(B-2)のGPCチャートを示す。
Example 2: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-2) In Example 1, 60.0 g of EC-HCA-HQ and 91 g of diphenyl isophthalate derivative (A-1) were added in place of PC-HCA-HQ. A phosphorus-containing active ester (B-2) was obtained by carrying out the same operation as in Example 1 except that DBU was changed to 0.7g and 0.15g. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-2) is 3.58% by mass, the functional group equivalent calculated from the charging ratio is 465 g / eq, and the softening point is 99 ° C. Met. FIG. 11 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (B-2).

合成例4:リン含有ジオールの合成:PC-HCA-NQ
合成例3に対して、HCA-HQに代えて、10-[2-(ジヒドロキシナフチル)] -9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナントレン-10-オキサイド(三光株式会社製、商品名:HCA=NQ)と炭酸エチレン68.2g、DBUを0.50gに変更した以外、合成例3と同様な操作を行い、リン含有ジオール(PC-HCA-NQ)を得た。得られたリン含有ジオール(PC-HCA-NQ)の理論リン含有率(含有量)は5.95質量%であり、水酸基当量は245g/eqであり、軟化点は116℃であった。図12に得られたリン含有ジオールのGPCチャートを示す。
Synthesis Example 4: Synthesis of phosphorus-containing diol: PC-HCA-NQ
In Synthesis Example 3, 10-[2-(dihydroxynaphthyl)]-9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide (manufactured by Sanko Co., Ltd., A phosphorus-containing diol (PC-HCA-NQ) was obtained by carrying out the same operation as in Synthesis Example 3, except that the product name: HCA=NQ), 68.2 g of ethylene carbonate, and 0.50 g of DBU were changed. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (PC-HCA-NQ) was 5.95% by mass, the hydroxyl equivalent was 245 g/eq, and the softening point was 116°C. FIG. 12 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing diol.

実施例3:リン含有活性エステル(B-3)の合成
実施例1に対して、PC-HCA-HQに代えて、PC-HCA-NQ71.5g、イソフタル酸ジフェニル誘導体(A-1)を100.9g、DBUを0.34gに変更し、4-ジメチルアミノピリジン(以下DMAP)0.17gを加えた以外、実施例1と同様な操作を行い、リン含有活性エステル(B-3)を得た。得られたリン含有活性エステル(B-3)の理論リン含有率(含有量)は3.03質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は484g/eqであった。図13に得られたリン含有活性エステル(B-3)のGPCチャートを示す。
Example 3: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-3) In Example 1, 71.5 g of PC-HCA-NQ and 100 g of diphenyl isophthalate derivative (A-1) were added instead of PC-HCA-HQ. A phosphorus-containing active ester (B-3) was obtained by carrying out the same operation as in Example 1, except that 0.9 g and DBU were changed to 0.34 g, and 0.17 g of 4-dimethylaminopyridine (hereinafter referred to as DMAP) was added. Ta. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-3) was 3.03% by mass, and the functional group equivalent calculated from the charging ratio was 484 g/eq. FIG. 13 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (B-3).

合成例5:リン含有ジオール:PC-PPQ
合成例2に対して、HCA-HQに代えて、ジフェニルホスフィニルハイドロキノン(北興産業株式会社製、商品名:PPQ(商標登録)100.0g、炭酸プロピレン72.4g、TPP0.52gに変更した以外、合成例2と同様な操作を行い、リン含有ジオール(PC-PPQ)を得た。得られたリン含有ジオール(PC-PPQ)の理論リン含有率(含有量)は7.05質量%であり、水酸基当量は208g/eqであり、軟化点は99℃であった。図14に得られたリン含有ジオールのGPCチャートを示す。
Synthesis Example 5: Phosphorus-containing diol: PC-PPQ
In Synthesis Example 2, HCA-HQ was replaced with 100.0 g of diphenylphosphinylhydroquinone (manufactured by Hokuko Sangyo Co., Ltd., trade name: PPQ (registered trademark)), 72.4 g of propylene carbonate, and 0.52 g of TPP. Except for this, the same operation as in Synthesis Example 2 was performed to obtain a phosphorus-containing diol (PC-PPQ).The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (PC-PPQ) was 7.05% by mass. The hydroxyl equivalent was 208 g/eq, and the softening point was 99° C. FIG. 14 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing diol.

実施例4:リン含有活性エステル(B-4)の合成
実施例1に対して、PC-HCA-HQに代えて、PC-PPQ70.0g、イソフタル酸ジフェニル誘導体A-1を116.5g、DBUを1.86gに変更した以外、実施例1と同様な操作を行い、リン含有活性エステル(B-4)を得た。得られたリン含有活性エステル(B-4)の理論リン含有率(含有量)は3.28質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は447g/eqであった。図15に得られたリン含有活性エステル(B-4)のGPCチャートを示す。
Example 4: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-4) In Example 1, instead of PC-HCA-HQ, 70.0 g of PC-PPQ, 116.5 g of diphenyl isophthalate derivative A-1, and DBU A phosphorus-containing active ester (B-4) was obtained by carrying out the same operation as in Example 1, except that the amount was changed to 1.86 g. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-4) was 3.28% by mass, and the functional group equivalent calculated from the charging ratio was 447 g/eq. FIG. 15 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (B-4).

比較合成例1:中間体(C-1)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、撹拌器を取り付けたフラスコに、ジシクロペンタジエンとフェノールの重付加反応樹脂(水酸基当量:165g/eq、軟化点85℃)330gとトルエン1184gを仕込み、系内を減圧窒素置換し溶解させた。次いで、イソフタル酸クロライド101gを仕込みその後、TBABを0.59g仕込み、窒素ガスパージを施しながら、系内を60℃以下に制御して、20%水酸化ナトリウム水溶液206質量部を3時間かけて滴下した。次いでこの条件下で1.0時間撹拌を続けた。反応終了後、静置分液し、水層を取り除いた。更に反応物が溶解しているトルエン層に水を投入して約15分間撹拌混合し、静置分液して水層を取り除いた。水層のpHが7になるまでこの操作を繰り返した。その後、デカンタ脱水で水分を除去し、続いて減圧脱水でトルエンを除去し、中間体(C―1)を得た。図16に得られた中間体(C―1)のGPCチャートを示す。
Comparative Synthesis Example 1: Synthesis of Intermediate (C-1) A polyaddition reaction resin of dicyclopentadiene and phenol (hydroxyl group equivalent: 165 g) was placed in a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, cooling tube, fractionating tube, and stirrer. /eq, softening point: 85° C.) and 1,184 g of toluene were charged, and the system was replaced with nitrogen under reduced pressure to dissolve them. Next, 101 g of isophthalic acid chloride was charged, and then 0.59 g of TBAB was charged, and while purging with nitrogen gas, the inside of the system was controlled at 60° C. or lower, and 206 parts by mass of a 20% aqueous sodium hydroxide solution was added dropwise over 3 hours. . Stirring was then continued under these conditions for 1.0 hour. After the reaction was completed, the mixture was allowed to stand still for liquid separation, and the aqueous layer was removed. Furthermore, water was added to the toluene layer in which the reactants were dissolved, and the mixture was stirred and mixed for about 15 minutes, and the mixture was allowed to stand still for liquid separation to remove the aqueous layer. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Thereafter, water was removed by dehydration in a decanter, and then toluene was removed by dehydration under reduced pressure to obtain intermediate (C-1). FIG. 16 shows a GPC chart of the obtained intermediate (C-1).

比較合成例2:リン含有中間体(C-2)の合成
温度計、冷却管、分留管、撹拌器を取り付けたフラスコに、9,10-ジヒドロ-9-オキサ-10-ホスファフェナントレン-10-オキサイドを77.0g、p-アニスアルデヒド48.5g、中間体(C-1)197.5gを仕込み、90℃に昇温して窒素を吹き込みながら撹拌した。その後、180℃にまで昇温し5時間攪拌した後、更に190℃まで昇温して9時間撹拌した。反応混合物から水を加熱減圧下で除去し、リン含有中間体(C-2)を得た。得られたリン含有中間体の理論リン含有率(含有量)は3.49質量%であった。図17に得られたリン含有中間体(C-2)のGPCチャートを示す。
Comparative Synthesis Example 2: Synthesis of phosphorus-containing intermediate (C-2) 9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene- was placed in a flask equipped with a thermometer, cooling tube, fractionation tube, and stirrer. 77.0 g of 10-oxide, 48.5 g of p-anisaldehyde, and 197.5 g of intermediate (C-1) were charged, heated to 90° C., and stirred while blowing nitrogen. Thereafter, the temperature was raised to 180°C and stirred for 5 hours, and then the temperature was further raised to 190°C and stirred for 9 hours. Water was removed from the reaction mixture under heating and reduced pressure to obtain a phosphorus-containing intermediate (C-2). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing intermediate was 3.49% by mass. FIG. 17 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing intermediate (C-2).

比較例1:リン含有活性エステル(C-3)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、撹拌器を取り付けたフラスコに、リン含有中間体(C-2)193.8gとメチルイソブチルケトン678.0gを仕込み、系内を減圧窒素置換し溶解させた。次いで、安息香酸クロライド42.2gを仕込んだ後、TBAB 0.56gを仕込み、窒素ガスパージを施しながら系内を60℃以下に制御して、20%水酸化ナトリウム水溶液78gを3時間かけて滴下した。次いでこの条件下で1.0時間撹拌を続けた。反応終了後、静置分液して水層を取り除いた。更に反応物が溶解しているメチルイソブチルケトン層に水を投入して約15分間撹拌混合し、静置分液して水層を取り除いた。水層のpHが7になるまでこの操作を繰り返した。その後、デカンタ脱水で水分を除去し、続いて減圧脱水でメチルイソブチルケトンを除去し、リン含有活性エステル(C-3)を得た。得られたリン含有活性エステル(C-3)の理論リン含有率(含有量)は3.01質量%であった。得られたリン含有活性エステル(C-3)のGPCチャートを図18に示す。
Comparative Example 1: Synthesis of phosphorus-containing active ester (C-3) 193.8 g of phosphorus-containing intermediate (C-2) and methyl were placed in a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, cooling tube, fractionating tube, and stirrer. 678.0 g of isobutyl ketone was charged, and the system was replaced with nitrogen under reduced pressure to dissolve it. Next, after charging 42.2 g of benzoic acid chloride, 0.56 g of TBAB was charged, the inside of the system was controlled at 60°C or lower while performing nitrogen gas purging, and 78 g of a 20% aqueous sodium hydroxide solution was added dropwise over 3 hours. . Stirring was then continued under these conditions for 1.0 hour. After the reaction was completed, the mixture was left to separate and the aqueous layer was removed. Furthermore, water was added to the methyl isobutyl ketone layer in which the reactants were dissolved, and the mixture was stirred and mixed for about 15 minutes, and the mixture was allowed to stand still for liquid separation to remove the aqueous layer. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Thereafter, water was removed by dehydration in a decanter, and then methyl isobutyl ketone was removed by dehydration under reduced pressure to obtain a phosphorus-containing active ester (C-3). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (C-3) was 3.01% by mass. A GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (C-3) is shown in FIG.

実施例5~8、及び、比較例2
<硬化性樹脂組成物の調製>
エポキシ樹脂として、DIC株式会社製「EPICLON HP-7200H-75M」(ジシクロペンタジエンとフェノールの重付加反応物のエポキシ樹脂、エポキシ当量276g/eq)、硬化剤として、合成して得られた前記リン含有活性エステルを、下記表1に示す割合でそれぞれは配合し、硬化触媒(硬化促進剤)としてN,N-ジメチルアミノピリジン(DMAP)、もしくは硬化触媒なしで、最終的な不揮発分(N.V.)が58質量%になるようにメチルエチルケトンを配合して硬化性樹脂組成物を調製した。
Examples 5 to 8 and Comparative Example 2
<Preparation of curable resin composition>
As an epoxy resin, "EPICLON HP-7200H-75M" manufactured by DIC Corporation (epoxy resin of polyaddition reaction product of dicyclopentadiene and phenol, epoxy equivalent: 276 g/eq) was used, and as a curing agent, the above-mentioned phosphorus obtained by synthesis was used. The active esters contained were blended in the proportions shown in Table 1 below, and the final nonvolatile content (N. A curable resin composition was prepared by blending methyl ethyl ketone so that V.) was 58% by mass.

比較例3
<硬化性樹脂組成物の調製>
エポキシ樹脂として、DIC株式会社製「HP-7200H-75M」(ジシクロペンタジエンとフェノールの重付加反応物のエポキシ樹脂、エポキシ当量276g/eq)、硬化剤としてDIC社製「EPICLON HPC-8000-65T」、下記表1に示す割合でそれぞれは配合し、硬化触媒としてDMAPを加え、最終的な不揮発分(N.V.)が58質量%になるようにメチルエチルケトンを配合して硬化性樹脂組成物を調製した。
Comparative example 3
<Preparation of curable resin composition>
As the epoxy resin, "HP-7200H-75M" manufactured by DIC Corporation (epoxy resin of polyaddition reaction product of dicyclopentadiene and phenol, epoxy equivalent: 276 g/eq), as curing agent "EPICLON HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation. '', each was blended in the proportions shown in Table 1 below, DMAP was added as a curing catalyst, and methyl ethyl ketone was blended so that the final nonvolatile content (N.V.) was 58% by mass to form a curable resin composition. was prepared.

比較例4
<硬化性樹脂組成物の調製>
エポキシ樹脂として、DIC株式会社製「EPICLON EXA-9726」(リン含有エポキシ樹脂、エポキシ当量494g/eq)、硬化剤としてDIC株式会社製「EPICLON HPC-8000-65T」、下記の表1に示す割合でそれぞれは配合し、硬化触媒としてDMAPを加え、最終的な不揮発分(N.V.)が58質量%になるようにメチルエチルケトンを配合して硬化性樹脂組成物を調製した。
Comparative example 4
<Preparation of curable resin composition>
As the epoxy resin, "EPICLON EXA-9726" manufactured by DIC Corporation (phosphorus-containing epoxy resin, epoxy equivalent: 494 g/eq); as a curing agent, "EPICLON HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation; the proportions shown in Table 1 below. DMAP was added as a curing catalyst, and methyl ethyl ketone was added so that the final nonvolatile content (N.V.) was 58% by mass to prepare a curable resin composition.

<積層板作製条件>
上記得られた硬化性樹脂組成物を用いて、下記の条件で、積層板を作製し、後述する方法で各種評価試験を行った。
基材:日東紡績株式会社製、ガラスクロス「#2116」(210×280mm)
銅箔:JX金属株式会社製「JTCSLC箔」(18μm)
プライ数:6
硬化条件:200℃、29kg/cmで1.5時間
成型後板厚:0.8mm
<Laminated board production conditions>
Using the curable resin composition obtained above, a laminate was produced under the following conditions, and various evaluation tests were conducted using the methods described below.
Base material: Nittobo Co., Ltd., glass cloth "#2116" (210 x 280 mm)
Copper foil: JX Nippon Mining Co., Ltd. "JTCSLC foil" (18μm)
Number of plies: 6
Curing conditions: 200℃, 29kg/ cm2 for 1.5 hours Plate thickness after molding: 0.8mm

<誘電特性(誘電率及び誘電正接)の測定>
JIS-C-6481に準拠し、アジレント・テクノロジー株式会社製インピーダンス・マテリアル・アナライザ「HP4291B」により、絶乾後23℃、湿度50%の室内に24時間保管した後の試験片の1GHz、及び、10GHzでの誘電率(Dk)、及び、誘電正接(Df)を測定した。その結果を表2に示した。
<Measurement of dielectric properties (permittivity and dielectric loss tangent)>
In accordance with JIS-C-6481, the impedance material analyzer "HP4291B" manufactured by Agilent Technologies Co., Ltd. was used to measure the 1 GHz of the test piece after it was completely dried and stored in a room at 23 ° C. and 50% humidity for 24 hours, and The dielectric constant (Dk) and dielectric loss tangent (Df) at 10 GHz were measured. The results are shown in Table 2.

なお、前記誘電率(Dk)としては、1GHz、及び、10GHzいずれにおいても、好ましくは、4.80以下が好ましく、より好ましくは、4.50以下である。また、前記誘電正接(Df)としては、1GHz、及び、10GHzいずれにおいても、好ましくは、0.0100以下が好ましく、より好ましくは、0.0095以下である。前記誘電率及び誘電正接が低いことで、信号の高速化、高周波数化に対応することができ、好ましい。 The dielectric constant (Dk) is preferably 4.80 or less, more preferably 4.50 or less at both 1 GHz and 10 GHz. Further, the dielectric loss tangent (Df) is preferably 0.0100 or less, more preferably 0.0095 or less at both 1 GHz and 10 GHz. It is preferable that the dielectric constant and the dielectric loss tangent are low, since it is possible to cope with higher speed and higher frequency signals.

<銅箔密着性(ピール強度)>
JIS-6911に準拠し、先で得た積層板を幅10mm、長さ200mmのサイズに切り出し、これを試験片として銅箔のピール強度を測定し、密着性の評価をおこなった。その結果を表2に示した。
<Copper foil adhesion (peel strength)>
In accordance with JIS-6911, the laminate obtained above was cut into a size of 10 mm in width and 200 mm in length, and this was used as a test piece to measure the peel strength of the copper foil and evaluate the adhesion. The results are shown in Table 2.

なお、前記ピール強度としては、好ましくは、0.8kN/m以上であり、より好ましくは、0.90kN/mである。前記範囲内であると、基材と銅箔の密着性が十分担保でき、好ましい。 The peel strength is preferably 0.8 kN/m or more, more preferably 0.90 kN/m. If it is within the above range, the adhesion between the base material and the copper foil can be sufficiently ensured, which is preferable.

<層間密着性(層間剥離強度)>
JIS-6911に準拠し、上記得られた銅箔付き積層板を幅10mm、長さ200mmのサイズに切り出し、これを試験片として層間の密着性を測定した。その結果を表2に示した。
<Interlayer adhesion (interlayer peel strength)>
In accordance with JIS-6911, the copper foil-coated laminate obtained above was cut into a size of 10 mm in width and 200 mm in length, and this was used as a test piece to measure the adhesion between the layers. The results are shown in Table 2.

なお、前記層間剥離強度としては、好ましくは、1.00kN/m以上であり、より好ましくは、1.20kN/m以上である。 The interlayer peel strength is preferably 1.00 kN/m or more, more preferably 1.20 kN/m or more.

<難燃性評価>
UL-94試験法に準拠し、試験片5本を用いて燃焼試験を行った。その結果を表2に示した。
<Flame retardancy evaluation>
A combustion test was conducted using five test pieces in accordance with the UL-94 test method. The results are shown in Table 2.

Figure 0007389967000019
Figure 0007389967000019

Figure 0007389967000020
注)硬化性樹脂組成物(溶剤を含まない有効成分中)中のリン含有率(質量%)は、原料の仕込み量、及び、前記理論リン含有率に基づき、計算した。また、「測定不可」とは、強度が大きく、測定できなかったことを示し、実用上問題はなく、銅箔への密着性や、積層体間の密着性が高いことを意味する。
Figure 0007389967000020
Note) The phosphorus content (% by mass) in the curable resin composition (in the active ingredient not containing the solvent) was calculated based on the amount of raw materials charged and the theoretical phosphorus content. Moreover, "unmeasurable" indicates that the strength was too large to be measured, and it means that there is no practical problem and the adhesion to copper foil and the adhesion between the laminates are high.

上記表2の評価結果より、全ての実施例において、所望のリン含有活性エステルを使用したことで、難燃性、低誘電特性(特に、低誘電正接)、及び、密着性に優れることが確認できた。一方、比較例においては、所望のリン含有活性エステルを使用しなかったため、全ての特性を同時に満足することはできないことが確認された。 From the evaluation results in Table 2 above, it was confirmed that the use of the desired phosphorus-containing active ester provided excellent flame retardancy, low dielectric properties (especially low dielectric loss tangent), and adhesion in all Examples. did it. On the other hand, in the comparative example, since the desired phosphorus-containing active ester was not used, it was confirmed that all the characteristics could not be satisfied at the same time.

本発明のリン含有活性エステルを含有する硬化性樹脂組成物は、その硬化物が優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性に優れることから、電子部材等に好適に使用可能であり、特に、半導体封止材、半導体装置、プレプリグ、フレキシルブル配線基板、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び、成形品などに好適に使用可能である。

The curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester of the present invention has excellent flame retardancy, low dielectric properties, and adhesion, and therefore can be suitably used for electronic components, etc. In particular, it can be suitably used for semiconductor encapsulants, semiconductor devices, prepregs, flexible wiring boards, circuit boards, build-up films, build-up substrates, fiber-reinforced composite materials, molded products, and the like.

Claims (10)

リン含有多価アルコール化合物の残基(A)と、芳香族多価カルボン酸の残基(Q)とが、エステル結合を介して結合された構造を有し、かつ、末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されていることを特徴とするリン含有活性エステル。 An aromatic compound having a structure in which a residue of a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound (A) and a residue of an aromatic polyhydric carboxylic acid (Q) are bonded via an ester bond, and the terminal is monovalent. A phosphorus-containing active ester characterized by being capped with a residue (C) of a compound containing a hydroxyl group. 下記一般式(1)で示されることを特徴とする請求項1に記載のリン含有活性エステル。
Figure 0007389967000021
[上記一般式(1)中、Aは、下記一般式(2)~(4)のいずれかで示される構造であり、Rは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であり、Qは、芳香族環であり、xは、0.1以上の平均繰り返し数であり、yは、1以上の平均繰り返し数であり、zは、1以上の平均繰り返し数であり、Arは、下記一般式(5)又は(6)で示される構造であり、
Figure 0007389967000022
Figure 0007389967000023
Figure 0007389967000024
Figure 0007389967000025
Figure 0007389967000026
上記一般式(2)~(4)中の♯は、上記一般式(1)中のAと結合する酸素原子との結合部位を表し、上記一般式(5)及び(6)中の*は、上記一般式(1)中のArと結合する酸素原子との結合部位を表し、RbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基であってもよく、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。Raは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであり、sは、0~7の整数であり、tは、0~5の整数である。]
The phosphorus-containing active ester according to claim 1, which is represented by the following general formula (1).
Figure 0007389967000021
[In the above general formula (1), A is a structure represented by any of the following general formulas (2) to (4), and R is each independently a linear or branched alkylene group. , Q is an aromatic ring, x is an average repeating number of 0.1 or more, y is an average repeating number of 1 or more, z is an average repeating number of 1 or more, and Ar is , has a structure represented by the following general formula (5) or (6),
Figure 0007389967000022
Figure 0007389967000023
Figure 0007389967000024
Figure 0007389967000025
Figure 0007389967000026
# in the above general formulas (2) to (4) represents a bonding site with the oxygen atom bonded to A in the above general formula (1), and * in the above general formulas (5) and (6) , represents a bonding site between Ar and the oxygen atom in the above general formula (1), and Rb and Rc each independently represent an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, an aralkyl group. , or may be a naphthyl group, and Rb and Rc may form a cyclic structure. Ra is each independently a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group, s is an integer from 0 to 7, and t is It is an integer from 0 to 5. ]
リン含有率が、1.8質量%以上であることを特徴とする請求項1又は2に記載のリン含有活性エステル。 The phosphorus-containing active ester according to claim 1 or 2, wherein the phosphorus content is 1.8% by mass or more. 請求項1~3のいずれかに記載のリン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂を含有することを特徴とする硬化性樹脂組成物。 A curable resin composition comprising the phosphorus-containing active ester according to any one of claims 1 to 3 and an epoxy resin. 請求項4に記載の硬化性樹脂組成物を硬化反応させたことを特徴とする硬化物。 A cured product obtained by subjecting the curable resin composition according to claim 4 to a curing reaction. 補強基材、及び、前記補強基材に含浸した請求項4に記載の硬化性樹脂組成物の半硬化物を有することを特徴とするプリプレグ。 A prepreg comprising a reinforcing base material and a semi-cured product of the curable resin composition according to claim 4 impregnated into the reinforcing base material. 請求項6に記載のプリプレグ、及び、銅箔を積層し、加熱圧着成型して得られることを特徴とする回路基板。 A circuit board characterized in that it is obtained by laminating the prepreg according to claim 6 and copper foil and molding them under heat and pressure. 請求項4に記載の硬化性樹脂組成物を含有することを特徴とするビルドアップフィルム。 A build-up film comprising the curable resin composition according to claim 4. 請求項4に記載の硬化性樹脂組成物を含有することを特徴とする半導体封止材。 A semiconductor encapsulant comprising the curable resin composition according to claim 4. 請求項9に記載の半導体封止材を加熱硬化した硬化物を含むことを特徴とする半導体装置。

A semiconductor device comprising a cured product obtained by heating and curing the semiconductor sealing material according to claim 9.

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