JP2022001612A - Phosphorous-containing active ester, curable resin composition, cured material, prepreg, circuit board, build-up film, semiconductor sealant, and semiconductor device - Google Patents

Phosphorous-containing active ester, curable resin composition, cured material, prepreg, circuit board, build-up film, semiconductor sealant, and semiconductor device Download PDF

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Abstract

To provide a phosphorous-containing active ester capable of developing excellent fire retardancy, low dielectric property, and adhesiveness in an obtained cured material, a curable resin composition containing the phosphorous-containing active ester, and a cured material obtained by using the curable resin composition, furthermore, a semiconductor sealant using the curable resin composition, a semiconductor device, a prepreg, a circuit board, and a build-up film.SOLUTION: The present invention relates to a phosphorous-containing active ester characterized by having a structure in which a residue (A) of a phosphorous-containing polyvalent alcohol compound and a residual (Q) of aromatic polyvalent carboxylic acid are bonded via an ester bond, and a terminal is sealed by a residual (C) of a monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、リン含有活性エステル、前記リン含有活性エステルを含む硬化性樹脂組成物、前記硬化性樹脂組成物より得られる硬化物、プリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、半導体封止材、及び、半導体装置に関する。 The present invention relates to a phosphorus-containing active ester, a curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester, a cured product obtained from the curable resin composition, a prepreg, a circuit board, a build-up film, a semiconductor encapsulant, and the like. Regarding semiconductor devices.

エポキシ樹脂及びその硬化剤を必須成分とするエポキシ樹脂組成物は、その硬化物において優れた耐熱性と絶縁性を発現することから、半導体や多層プリント基板などの電子部品用途において広く用いられている。 Epoxy resin compositions containing epoxy resins and their curing agents as essential components are widely used in electronic component applications such as semiconductors and multilayer printed circuit boards because they exhibit excellent heat resistance and insulating properties in the cured products. ..

この電子部品用途のなかでも絶縁材料の技術分野では、近年、各種電子機器における信号の高速化、高周波数化が進んでいる。しかしながら、信号の高速化、高周波数化に伴って、十分に低い誘電率を維持しつつ、低い誘電正接を得ることが困難となりつつある。 Among these applications for electronic components, in the technical field of insulating materials, the speed and frequency of signals in various electronic devices have been increasing in recent years. However, as the speed and frequency of signals increase, it is becoming difficult to obtain a low dielectric loss tangent while maintaining a sufficiently low dielectric constant.

特許文献1には、低誘電率・低誘電正接(低誘電特性)を満足するために、硬化剤として多価フェノール類を用いたエポキシ樹脂組成物が開示されている。しかし、硬化剤として多価フェノール類を用いたエポキシ樹脂組成物から形成される硬化物をプリント基板(銅張積層板)などの用途に使用した際に、柔軟性に欠け、柔軟性に起因する銅箔への密着性が劣るなどの問題を有していたため、低誘電特性を維持しつつ、密着性をも兼備した硬化物が得られるエポキシ樹脂組成物の開発が望まれている。 Patent Document 1 discloses an epoxy resin composition using polyhydric phenols as a curing agent in order to satisfy low dielectric constant and low dielectric loss tangent (low dielectric property). However, when a cured product formed from an epoxy resin composition using polyhydric phenols as a curing agent is used for applications such as printed circuit boards (copper-clad laminates), it lacks flexibility and is caused by flexibility. Since it has problems such as inferior adhesion to copper foil, it is desired to develop an epoxy resin composition capable of obtaining a cured product having low dielectric properties and adhesion.

また、環境保護の観点から、ノンハロゲン難燃性のプリント基板(銅張積層板)の開発が求められており、エポキシ樹脂組成物に難燃剤として広く使用されるリン系難燃剤を添加したエポキシ樹脂組成物の開発が進められている。ただし、リン系難燃剤を添加したエポキシ樹脂組成物を用いた硬化物は、難燃効率が低く、多量に添加すると、硬化物表面に、難燃剤が移行するブリードアウト現象の発生や、銅箔への密着性が低下するなど、性能に影響を及ぼす問題を有しているため、硬化物中に化学結合で取り込まれる反応性リン系難燃剤が求められている(非特許文献1)。 Further, from the viewpoint of environmental protection, the development of a non-halogen flame retardant printed circuit board (copper-clad laminated board) is required, and an epoxy resin obtained by adding a phosphorus-based flame retardant widely used as a flame retardant to an epoxy resin composition. The development of the composition is in progress. However, the cured product using the epoxy resin composition to which the phosphorus-based flame retardant is added has a low flame retardant efficiency, and when a large amount is added, a bleed-out phenomenon occurs in which the flame retardant is transferred to the surface of the cured product, and the copper foil Since it has a problem of affecting the performance such as a decrease in adhesion to the cured product, a reactive phosphorus flame retardant incorporated into a cured product by a chemical bond is required (Non-Patent Document 1).

特開2004−169021号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-169821

ネットワークポリマ― Vol.36 No.5(2015)第232−238頁Network Polymer Vol. 36 No. 5 (2015) pp. 232-238

そこで、本発明が解決しようとする課題は、得られる硬化物において、優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性を発現させることができるリン含有活性エステル、前記リン含有活性エステルを含む硬化性樹脂組成物、及び、前記硬化性樹脂組成物を用いて得られる硬化物、更には、前記硬化性樹脂組成物を用いたプリプレグ、回路基板、ビルドアップフィルム、半導体封止材、及び、半導体装置などを提供することにある。 Therefore, the problem to be solved by the present invention includes a phosphorus-containing active ester and the phosphorus-containing active ester capable of exhibiting excellent flame retardancy, low dielectric property, and adhesion in the obtained cured product. A curable resin composition, a cured product obtained by using the curable resin composition, and a prepreg, a circuit board, a build-up film, a semiconductor encapsulant, and a semiconductor encapsulant using the curable resin composition. The purpose is to provide semiconductor devices and the like.

本発明者は、上記課題を解決すべく、鋭意検討を重ねた結果、硬化性樹脂組成物に特定のリン含有活性エステルを用いることで、得られる硬化物が、優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性を発現することを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of diligent studies to solve the above problems, the present inventor has obtained a cured product having excellent flame retardancy and low dielectric constant by using a specific phosphorus-containing active ester in the curable resin composition. We have found that the properties and adhesion are exhibited, and have completed the present invention.

即ち、本発明は、リン含有多価アルコール化合物の残基(A)と、芳香族多価カルボン酸の残基(Q)とが、エステル結合を介して結合された構造を有し、かつ、末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されていることを特徴とするリン含有活性エステルに関する。 That is, the present invention has a structure in which the residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound and the residue (Q) of the aromatic polyvalent carboxylic acid are bonded via an ester bond, and The present invention relates to a phosphorus-containing active ester characterized in that the terminal is sealed with a residue (C) of a monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound.

本発明のリン含有活性エステルは、下記一般式(1)で示されることが好ましい。

Figure 2022001612
[上記一般式(1)中、Aは、下記一般式(2)〜(4)のいずれかで示される構造であり、Rは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であり、Qは、芳香族環であり、xは、0.1以上の平均繰り返し数であり、yは、1以上の平均繰り返し数であり、zは、1以上の平均繰り返し数であり、Arは、下記一般式(5)又は(6)で示される構造であり、
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
上記一般式(2)〜(4)中の♯は、上記一般式(1)中のAと結合する酸素原子との結合部位を表し、上記一般式(5)及び(6)中の*は、上記一般式(1)中のArと結合する酸素原子との結合部位を表し、RbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基であってもよく、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。Raは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであり、sは、0〜7の整数であり、tは、0〜5の整数である。] The phosphorus-containing active ester of the present invention is preferably represented by the following general formula (1).
Figure 2022001612
[In the above general formula (1), A is a structure represented by any of the following general formulas (2) to (4), and R is an independently linear or branched alkylene group. , Q is an aromatic ring, x is an average number of repetitions of 0.1 or more, y is an average number of repetitions of 1 or more, z is an average number of repetitions of 1 or more, and Ar is an average number of repetitions. , The structure represented by the following general formula (5) or (6).
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
# In the general formulas (2) to (4) represents a bond site between A and an oxygen atom in the general formula (1), and * in the general formulas (5) and (6) is. Represents the bonding site between Ar and the oxygen atom bonded in the above general formula (1), and Rb and Rc independently represent an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, and an aralkyl group. , Or it may be a naphthyl group, and Rb and Rc may form a cyclic structure. Ra is independently any of a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group, s is an integer of 0 to 7, and t is. It is an integer from 0 to 5. ]

本発明のリン含有活性エステルは、リン含有率が、1.8質量%以上であることが好ましい。 The phosphorus-containing active ester of the present invention preferably has a phosphorus content of 1.8% by mass or more.

本発明は、前記リン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂を含有する硬化性樹脂組成物に関する。 The present invention relates to a curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester and an epoxy resin.

本発明は、前記硬化性樹脂組成物を硬化反応させた硬化物に関する。 The present invention relates to a cured product obtained by subjecting the curable resin composition to a curing reaction.

本発明は、補強基材、及び、前記補強基材に含浸した前記硬化性樹脂組成物の半硬化物を有するプリプレグに関する。 The present invention relates to a prepreg having a reinforcing base material and a semi-cured product of the curable resin composition impregnated in the reinforcing base material.

本発明は、前記プリプレグ、及び、銅箔を積層し、加熱圧着成型して得られる回路基板に関する。 The present invention relates to a circuit board obtained by laminating the prepreg and copper foil and heat-pressing molding.

本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有するビルドアップフィルムに関する。 The present invention relates to a build-up film containing the curable resin composition.

本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有する半導体封止材に関する。 The present invention relates to a semiconductor encapsulant containing the curable resin composition.

本発明は、前記半導体封止材を加熱硬化した硬化物を含む半導体装置に関する。 The present invention relates to a semiconductor device containing a cured product obtained by heating and curing the semiconductor encapsulant.

本発明によれば、得られる硬化物において優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性を発現させることのできるリン含有活性エステル、前記リン含有活性エステルを含む硬化性樹脂組成物、及び、前記硬化性樹脂組成物を用いて得られる硬化物、更には、前記硬化性樹脂組成物を用いた半導体封止材、半導体装置、プレプリグ、回路基板、及び、ビルドアップフィルムなどを提供することができ、有用である。 According to the present invention, a phosphorus-containing active ester capable of exhibiting excellent flame retardancy, low dielectric properties, and adhesion in the obtained cured product, a curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester, and a curable resin composition. Provided are a cured product obtained by using the curable resin composition, and further, a semiconductor encapsulant, a semiconductor device, a prepreg, a circuit board, a build-up film, and the like using the curable resin composition. Can be useful.

合成例1で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the isophthalic acid diphenyl derivative (A-1) obtained in Synthesis Example 1. 合成例1で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)のH−NMRチャートである。 6 is a 1 H-NMR chart of the isophthalic acid diphenyl derivative (A-1) obtained in Synthesis Example 1. 合成例1で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)のFD−MSスペクトルチャートである。6 is an FD-MS spectrum chart of the isophthalic acid diphenyl derivative (A-1) obtained in Synthesis Example 1. 合成例2で得られたリン含有ジオール(PC−HCA−HQ)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 2. 合成例2で得られたリン含有ジオール(PC−HCA−HQ)の13C−NMRチャートである。 13 is a 13 C-NMR chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 2. 合成例2で得られたリン含有ジオール(PC−HCA−HQ)のFD−MSスペクトルチャートである。6 is an FD-MS spectrum chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 2. 実施例1で得られたリン含有活性エステル(B−1)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-1) obtained in Example 1. 実施例1で得られたリン含有活性エステル(B−1)の13C−NMRチャートである。 13 is a 13 C-NMR chart of the phosphorus-containing active ester (B-1) obtained in Example 1. 実施例1で得られたリン含有活性エステル(B−1)のFD−MSスペクトルチャートである。6 is an FD-MS spectrum chart of the phosphorus-containing active ester (B-1) obtained in Example 1. 合成例3で得られたリン含有ジオール(EC−HCA−HQ)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (EC-HCA-HQ) obtained in Synthesis Example 3. 実施例2で得られたリン含有活性エステル(B−2)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-2) obtained in Example 2. 合成例4で得られたリン含有ジオール(PC−HCA−NQ)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (PC-HCA-NQ) obtained in Synthesis Example 4. 実施例3で得られたリン含有活性エステル(B−3)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-3) obtained in Example 3. 合成例5で得られたリン含有ジオール(PC−PPQ)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing diol (PC-PPQ) obtained in Synthesis Example 5. 実施例4で得られたリン含有活性エステル(B−4)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (B-4) obtained in Example 4. 比較合成例1で得られた中間体(C−1)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the intermediate (C-1) obtained in Comparative Synthesis Example 1. 比較合成例2で得られたリン含有中間体(C−2)のGPCチャートである。3 is a GPC chart of the phosphorus-containing intermediate (C-2) obtained in Comparative Synthesis Example 2. 比較例1で得られたリン含有活性エステル(C−3)のGPCチャートである。6 is a GPC chart of the phosphorus-containing active ester (C-3) obtained in Comparative Example 1.

<活性エステル(I)>
本発明のリン含有活性エステルは、リン含有多価アルコール化合物の残基(A)と、芳香族多価カルボン酸の残基(Q)とが、エステル結合を介して結合された構造を有し、かつ、末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されていることを特徴とする。
前記リン含有活性エステルは、エポキシ樹脂の硬化時に生じる水酸基を抑制するエステル結合を有し、柔軟セグメントになりうる前記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)を含み、更に構造中に難燃性に寄与するリン原子を含むため、このリン含有活性エステルを用いた硬化物は、難燃性、柔軟性、低誘電特性、及び、密着性に優れ、有用である。
<Active ester (I)>
The phosphorus-containing active ester of the present invention has a structure in which a residue (A) of a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound and a residue (Q) of an aromatic polyvalent carboxylic acid are bonded via an ester bond. Moreover, the terminal is sealed with the residue (C) of the monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound.
The phosphorus-containing active ester has an ester bond that suppresses hydroxyl groups generated during curing of the epoxy resin, contains the residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound that can be a flexible segment, and further has flame retardant properties in the structure. Since it contains a phosphorus atom that contributes to the property, a cured product using this phosphorus-containing active ester is excellent in flame retardancy, flexibility, low dielectric property, and adhesion, and is useful.

本発明のリン含有活性エステルは、前記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)を含むが、その価数としては、好ましくは、2〜5価であり、より好ましくは、2価である。前記価数が2価以上であると、生成する活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。また、前記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)としては、構造中に難燃性に寄与するリン原子を含み、かつ、少なくとも2以上の直鎖又は分岐鎖のアルキレン基又はアルキレンオキシ基と結合する芳香環を含むことが好ましい。 The phosphorus-containing active ester of the present invention contains the residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound, and its valence is preferably 2 to 5 valent, more preferably divalent. .. When the valence is divalent or more, the number of functional groups of the active ester produced is 2 or more, which is excellent from the viewpoint of curability. The residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound contains a phosphorus atom that contributes to flame retardancy in the structure, and has at least two linear or branched alkylene groups or alkyleneoxy groups. It preferably contains an aromatic ring that binds to.

本発明のリン含有活性エステルは、前記芳香族多価カルボン酸の残基(Q)を含むが、その価数としては、好ましくは、2〜4価であり、より好ましくは、2価である。前記価数が2価以上であると、生成するリン含有活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。また、前記芳香族とは、カルボキシル基を有する芳香族環を有する化合物であれば、特に制限されない。 The phosphorus-containing active ester of the present invention contains the residue (Q) of the aromatic polyvalent carboxylic acid, and its valence is preferably 2 to 4 valent, and more preferably divalent. .. When the valence is divalent or more, the number of functional groups of the phosphorus-containing active ester produced is 2 or more, which is excellent from the viewpoint of curability. Further, the aromatic is not particularly limited as long as it is a compound having an aromatic ring having a carboxyl group.

本発明のリン含有活性エステルは、前記末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されているリン含有活性エステルであるが、前記末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物とは、芳香族環を有し、芳香族環上に水酸基を1個(1価)有する化合物であれば、特に制限されない。 The phosphorus-containing active ester of the present invention is a phosphorus-containing active ester whose terminal is sealed with the residue (C) of the monovalent aromatic hydroxyl group-containing compound, but the terminal is monovalent aromatic. The hydroxyl group-containing compound is not particularly limited as long as it has an aromatic ring and has one hydroxyl group (monovalent) on the aromatic ring.

本発明のリン含有活性エステルは、前記リン含有多価アルコール化合物のリン含有量が4〜25質量%であることが好ましく、5〜24質量%であることがより好ましく、6〜23質量%であると更に好ましい。前記範囲であると硬化物の耐熱性と誘電特性の観点から優れるため好ましい。 In the phosphorus-containing active ester of the present invention, the phosphorus content of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound is preferably 4 to 25% by mass, more preferably 5 to 24% by mass, and 6 to 23% by mass. It is more preferable to have it. The above range is preferable because it is excellent in terms of heat resistance and dielectric properties of the cured product.

なお、本発明における前記「リン含有多価アルコール化合物の残基(A)」は、リン含有多価アルコール化合物から水酸基を除いた基を示すものであり、前記「芳香族多価カルボン酸の残基(Q)」は、芳香族多価カルボン酸からカルボキシル基を除いた基を示すものであり、「末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)」は、芳香族性水酸基含有化合物から水酸基を除いた基を示すものである。また、前記リン含有多価アルコール化合物とは、脂肪族アルコールだけでなく、芳香族環を含んだリン含有多価アルコール化合物を含んでもよい。 The "residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound" in the present invention indicates a group obtained by removing the hydroxyl group from the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound, and is the residue of the "aromatic polyvalent carboxylic acid". "Group (Q)" indicates a group obtained by removing a carboxyl group from an aromatic polyvalent carboxylic acid, and "residue (C) of an aromatic hydroxyl group-containing compound having a monovalent terminal" is aromatic. It shows a group obtained by removing a hydroxyl group from a hydroxyl group-containing compound. Further, the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound may include not only an aliphatic alcohol but also a phosphorus-containing polyhydric alcohol compound containing an aromatic ring.

<活性エステル(II)>
本発明のリン含有活性エステルは、下記一般式(1)で示されることが好ましい。

Figure 2022001612
<Active ester (II)>
The phosphorus-containing active ester of the present invention is preferably represented by the following general formula (1).
Figure 2022001612

上記一般式(1)中、Aは、下記一般式(2)〜(4)のいずれかで示される構造であり、Rは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であり、Qは、芳香族環であり、xは0.1以上の平均繰り返し数であり、yは1以上の平均繰り返し数であり、zは1以上の平均繰り返し数であり、Arは、下記一般式(5)又は(6)で示される構造である。

Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
In the above general formula (1), A is a structure represented by any of the following general formulas (2) to (4), and R is an independently linear or branched alkylene group. Q is an aromatic ring, x is an average number of repetitions of 0.1 or more, y is an average number of repetitions of 1 or more, z is an average number of repetitions of 1 or more, and Ar is the following general formula. It is the structure shown in (5) or (6).
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612

上記一般式(2)〜(4)中の♯は、上記一般式(1)中のAと結合する酸素原子との結合部位を表し、上記一般式(5)及び(6)中の*は、上記一般式(1)中のArと結合する酸素原子との結合部位を表し、RbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基であってもよく、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。Raは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであり、sは、0〜7の整数であり、tは、0〜5の整数であることが好ましい。
前記リン含有活性エステルは、複数のエステル結合を有し、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基などを含むため、この鎖構造は極性が低く、柔軟セグメントを構成するため、柔軟性や低誘電特性に優れた硬化物を得ることができ、有用である。
# In the general formulas (2) to (4) represents a bond site between A and an oxygen atom in the general formula (1), and * in the general formulas (5) and (6) is. Represents the bonding site between Ar and the oxygen atom bonded in the above general formula (1), and Rb and Rc independently represent an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, and an aralkyl group. , Or it may be a naphthyl group, and Rb and Rc may form a cyclic structure. Ra is independently any of a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group, s is an integer of 0 to 7, and t is. It is preferably an integer of 0-5.
Since the phosphorus-containing active ester has a plurality of ester bonds and contains a linear or branched alkylene group, this chain structure has low polarity and constitutes a flexible segment, so that it has flexibility and low dielectric properties. An excellent cured product can be obtained, which is useful.

上記一般式(1)中のAは、上記一般式(2)〜(4)のいずれかで示される構造であることが好ましく、上記一般式(2)〜(4)中のRbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであることが好ましく、また、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。中でも、上記一般式(1)中のAは、10−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−9,10−ジヒドロ9−オキサ−10−フォスファフェナントレン−10−オキサイド構造や、10−[2−(ジヒドロキシナフチル)] −9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−フォスファフェナントレン−10−オキサイド構造であることがより好ましい。前記構造は、リン原子を含有し、かつ、芳香環濃度の高い構造であることから、リン含有活性エステルに基づく難燃性を向上させる効果に寄与することができ、好ましい。従来知られている分子構造中に脂肪族環状炭化水素基を有する活性エステルは、得られる硬化物における誘電特性(低誘電特性)に優れる反面、燃焼し易く、耐熱性も十分ではないものであったところ、前記リン含有活性エステルは、分子構造中に芳香族環を複数導入することにより、誘電特性と難燃性とを兼備させることができ、有用となる。また、前記構造のように、嵩高い置換基構造を有する活性エステルは、嵩高い置換基構造を持たない活性エステルと比較して、硬化反応に関与する活性基濃度が低下することから、硬化物の耐熱性が劣る傾向にあるところ、前記リン含有活性エステルは誘電特性や難燃性のみならず、耐熱性にも優れる特徴を有しており、各種性能を兼備することができ、有用である。 It is preferable that A in the general formula (1) has a structure represented by any of the general formulas (2) to (4), and Rb and Rc in the general formulas (2) to (4) are , Independently, preferably one of an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, an aralkyl group, or a naphthyl group, and Rb and Rc form a cyclic structure. May be good. Among them, A in the above general formula (1) has a 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -9,10-dihydro 9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide structure and a 10- [2- [2- (Dihydroxynaphthyl)] It is more preferable to have a -9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide structure. Since the structure contains a phosphorus atom and has a high aromatic ring concentration, it can contribute to the effect of improving the flame retardancy based on the phosphorus-containing active ester, which is preferable. Active esters having an aliphatic cyclic hydrocarbon group in a conventionally known molecular structure are excellent in dielectric properties (low dielectric properties) in the obtained cured product, but are easy to burn and have insufficient heat resistance. Therefore, the phosphorus-containing active ester is useful because it can have both dielectric properties and flame retardancy by introducing a plurality of aromatic rings into the molecular structure. Further, since the active ester having a bulky substituent structure as described above has a lower concentration of active groups involved in the curing reaction than the active ester having no bulky substituent structure, it is a cured product. The phosphorus-containing active ester tends to be inferior in heat resistance, but the phosphorus-containing active ester has not only dielectric properties and flame retardancy but also excellent heat resistance, and is useful because it can have various performances. ..

上記一般式(1)中のRは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であることが好ましく、前記直鎖又は分岐鎖に含まれる炭素原子数としては、2〜16であることがより好ましく、2〜10であることが更に好ましい。炭素原子数が、前記範囲内であると、相溶性に優れたリン含有活性エステルとなり、好ましい態様となる。 It is preferable that R in the general formula (1) is independently a linear or branched alkylene group, and the number of carbon atoms contained in the linear or branched chain is 2 to 16. It is more preferably 2 to 10 and even more preferably 2 to 10. When the number of carbon atoms is within the above range, a phosphorus-containing active ester having excellent compatibility is obtained, which is a preferable embodiment.

上記一般式(1)中のxは、0.1以上の平均繰り返し数であることが好ましく、中でも、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、平均繰り返し数xは、0.5〜3であることがより好ましく、0.7〜2.8であることが更に好ましい。 In the general formula (1), x is preferably an average number of repetitions of 0.1 or more, and above all, from the viewpoint of workability and flexibility of the obtained cured product, the average number of repetitions x is 0.5. It is more preferably to 3 and even more preferably 0.7 to 2.8.

上記一般式(1)中のyは、1以上の平均繰り返し数であることが好ましく、中でも、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、平均繰り返し数yは、1〜5であることがより好ましい。 In the general formula (1), y is preferably an average number of repetitions of 1 or more, and above all, the average number of repetitions y is 1 to 5 from the viewpoint of workability and flexibility of the obtained cured product. Is more preferable.

上記一般式(1)中のzは、1以上の平均繰り返し数であることが好ましく、中でも、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、平均繰り返し数zは、1〜5であることがより好ましい。 The z in the general formula (1) is preferably an average number of repetitions of 1 or more, and above all, the average number of repetitions z is 1 to 5 from the viewpoint of workability and flexibility of the obtained cured product. Is more preferable.

上記一般式(1)中のQは、芳香族環であることが好ましく、ベンゼン環、ナフタレン環、又はアントラセン環のいずれかの芳香族環であることがより好ましく、中でも工業的原料の入手の容易さ、溶解性の観点から、ベンゼン環であることがより好ましい。 The Q in the general formula (1) is preferably an aromatic ring, more preferably an aromatic ring of any one of a benzene ring, a naphthalene ring, and an anthracene ring, and above all, an industrial raw material can be obtained. From the viewpoint of ease and solubility, a benzene ring is more preferable.

上記一般式(2)〜(4)中のRbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであることが好ましく、中でも、得られる硬化物の物性や工業的な入手の容易さの観点から、炭素原子数2〜12の直鎖または環状アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、または、ナフチル基であることがより好ましい。
また、上記一般式(2)〜(4)中のRbおよびRcが環状構造を形成してもよく、工業的原料の入手の容易さの観点から、アルコキシ基、アリール基、または、ナフチル基を有する環状構造であることがより好ましい。なお、ここでの、RbおよびRcが環状構造を形成するとは、Rb及びRcが結合することで環状構造を形成している場合を意味し、芳香族環を含む構造や、脂環式構造を形成していてもよい。
Rb and Rc in the above general formulas (2) to (4) are independently any of an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, an aralkyl group, or a naphthyl group. It is preferable, and above all, from the viewpoint of physical properties of the obtained cured product and industrial availability, a linear or cyclic alkyl group having 2 to 12 carbon atoms, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, or a naphthyl is preferable. It is more preferable that it is a group.
Further, Rb and Rc in the above general formulas (2) to (4) may form a cyclic structure, and an alkoxy group, an aryl group, or a naphthyl group may be used from the viewpoint of easy availability of industrial raw materials. It is more preferable to have an annular structure. Here, the fact that Rb and Rc form a cyclic structure means that a cyclic structure is formed by binding Rb and Rc, and a structure including an aromatic ring or an alicyclic structure can be used. It may be formed.

上記一般式(1)中のArは、上記一般式(5)又は(6)で示される構造であることが好ましく、上記一般式(5)又は(6)中のRaは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであることが好ましく、中でも、誘電特性(低誘電特性)、作業性や得られる硬化物の柔軟性の観点から、炭素原子数1〜4のアルキル基、炭素原子数1〜4のアルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基であることがより好ましい。 Ar in the general formula (1) preferably has a structure represented by the general formula (5) or (6), and Ra in the general formula (5) or (6) is independent of each other. , Halogen atom, alkyl group, allyl group, alkoxy group, aryl group, aralkyl group, or naphthyl group, among which dielectric properties (low dielectric properties), workability and the obtained cured product. From the viewpoint of flexibility, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group is more preferable.

上記一般式(5)又は(6)中のsは、0〜7の整数であり、tは、0〜5の整数であることが好ましく、s及びtは、それぞれ独立して、0〜5の整数であることがより好ましく、反応性や、得られる硬化物の柔軟性の観点から、s及びtは、それぞれ独立して、0〜4の整数であることが更に好ましい。 In the general formula (5) or (6), s is preferably an integer of 0 to 7, t is preferably an integer of 0 to 5, and s and t are independently 0 to 5, respectively. It is more preferable that s and t are integers of 0 to 4, respectively, from the viewpoint of reactivity and flexibility of the obtained cured product.

本発明のリン含有活性エステル(例えば、上記(I)及び(II))は、エポキシ樹脂等の硬化剤としての機能を有するものであり、その構造中に柔軟セグメントを有し、前記リン含有活性エステルを使用し得られる硬化物に柔軟性を付与することができ、好ましい態様となる。また、前記リン含有活性エステルとエポキシ樹脂との反応時において、水酸基の発生を防止または抑制することができ、低誘電特性に優れ、有用である。更に、前記リン含有活性エステルは、その構造中にリン原子が組み込まれているため、難燃性に優れるだけでなく、難燃剤として使用される添加型のリン系難燃剤に対して、ブリードアウトが抑制され、ガラス基材や銅箔などへの密着性に優れ有用となる。 The phosphorus-containing active ester of the present invention (for example, (I) and (II) above) has a function as a curing agent such as an epoxy resin, has a flexible segment in its structure, and has the phosphorus-containing activity. Flexibility can be imparted to the cured product obtained by using the ester, which is a preferable embodiment. Further, it is possible to prevent or suppress the generation of hydroxyl groups during the reaction between the phosphorus-containing active ester and the epoxy resin, and it is excellent in low dielectric property and is useful. Furthermore, since the phosphorus-containing active ester incorporates a phosphorus atom in its structure, it not only has excellent flame retardancy, but also bleeds out from the additive-type phosphorus-based flame retardant used as a flame retardant. Is suppressed, and it is useful because of its excellent adhesion to glass substrates and copper foil.

本発明のリン含有活性エステルは、例えば、上記リン含有活性エステル(I)及び(II)のいずれかに示す構造を有するエステル化合物であれば、特に制限されないが、例えば、2個以上のカルボキシル基を有する芳香族化合物および/またはその酸ハロゲン化物もしくはエステル化物(a)と、芳香族モノヒドロキシ化合物(b)との反応生成物(c)に、リン含有ポリオール化合物(d)を反応して得られる反応生成物(上記リン含有活性エステルに相当する化合物)であることが好ましい。前記リン含有活性エステルを用いることにより、低誘電正接であり、かつ、より難燃性、耐熱性、耐湿熱性、及び、密着性に優れる硬化物が得られ好ましい態様となる。その理由は、必ずしも明らかではないが、得られるリン含有活性エステルは、アリールオキシカルボニル基(活性エステル基)を末端に含有するため、後述するエポキシ樹脂が有するエポキシ基と高い反応性を示し、この高い反応性により、エポキシ基の開環により生じる水酸基の発生を防止または抑制することができ、好ましい態様となる。また、前記リン含有活性エステルは、分子中に水酸基を有さない、または、ほとんど有さないため、前記リン含有活性エステルが反応して得られる硬化物中についても、リン含有活性エステル由来の水酸基を有さない、または、ほとんど有さない。このような活性エステルによれば、硬化時における水酸基の発生を防止または抑制することができる。一般に、極性が高い水酸基は、誘電正接を上昇させることが知られているが、前記リン含有活性エステルを用いることで、硬化物における低誘電正接を実現することができ、特に有用である。 The phosphorus-containing active ester of the present invention is not particularly limited as long as it is an ester compound having the structure shown in any of the above-mentioned phosphorus-containing active esters (I) and (II), but for example, two or more carboxyl groups. A phosphorus-containing polyol compound (d) is obtained by reacting a reaction product (c) of an aromatic compound and / or an acid halide or esterified product (a) thereof with an aromatic monohydroxy compound (b). The reaction product (compound corresponding to the above phosphorus-containing active ester) is preferably used. By using the phosphorus-containing active ester, a cured product having a low dielectric loss tangent and more excellent flame retardancy, heat resistance, moisture heat resistance, and adhesion can be obtained, which is a preferable embodiment. The reason is not always clear, but the obtained phosphorus-containing active ester contains an aryloxycarbonyl group (active ester group) at the terminal, and therefore exhibits high reactivity with the epoxy group of the epoxy resin described later. Due to the high reactivity, the generation of hydroxyl groups generated by the ring opening of the epoxy group can be prevented or suppressed, which is a preferable embodiment. Further, since the phosphorus-containing active ester has no or almost no hydroxyl group in the molecule, the hydroxyl group derived from the phosphorus-containing active ester is also contained in the cured product obtained by the reaction of the phosphorus-containing active ester. Or almost none. According to such an active ester, it is possible to prevent or suppress the generation of hydroxyl groups during curing. Generally, it is known that a hydroxyl group having a high polarity increases the dielectric loss tangent, but by using the phosphorus-containing active ester, a low dielectric loss tangent can be realized in a cured product, which is particularly useful.

また、前記リン含有活性エステルは、後述するエポキシ樹脂のエポキシ基と反応活性を有するエステル結合を2個以上有するため、硬化物の架橋密度が高くなり、耐熱性が向上しうる。 Further, since the phosphorus-containing active ester has two or more ester bonds having a reaction activity with the epoxy group of the epoxy resin described later, the crosslink density of the cured product can be increased and the heat resistance can be improved.

本発明のリン含有活性エステルは、アルキレン基やアルキレンオキシ基(アルキレンエーテル鎖)などの柔軟セグメントを有し、水酸基を有さない、または、ほとんど有さないため、極性の低い構造を有しており、得られる硬化物において優れた難燃性、柔軟性、耐吸湿性、柔軟性に起因する銅箔などへの密着性、及び、低誘電特性を発現させることのできる硬化性樹脂組成物(例えば、エポキシ樹脂を含有するエポキシ樹脂組成物)、さらには、上記硬化性樹脂組成物を用いた半導体封止材料、半導体装置、プレプリグ、回路基板、及び、ビルドアップフィルムなどを提供でき、好ましい態様となる。 The phosphorus-containing active ester of the present invention has a flexible segment such as an alkylene group or an alkylene oxy group (alkylene ether chain), and has a structure having low polarity because it has no or almost no hydroxyl group. A curable resin composition capable of exhibiting excellent flame retardancy, flexibility, moisture absorption resistance, adhesion to copper foil, etc. due to flexibility, and low dielectric property in the obtained cured product ( For example, an epoxy resin composition containing an epoxy resin), and further, a semiconductor encapsulating material using the curable resin composition, a semiconductor device, a prepreg, a circuit board, a build-up film, and the like can be provided, which is a preferable embodiment. Will be.

前記リン含有活性エステルとしては、後述する硬化性樹脂組成物として調製する際のハンドリング性や、その硬化物の耐熱性、誘電特性とのバランスがより優れる観点から、前記リン含有活性エステルの軟化点が200℃以下であることが好ましく、180℃以下であることがより好ましい。 The phosphorus-containing active ester has a softening point from the viewpoint of excellent balance between handleability when prepared as a curable resin composition described later, heat resistance of the cured product, and dielectric properties. Is preferably 200 ° C. or lower, and more preferably 180 ° C. or lower.

[2個以上のカルボキシル基を有する芳香族化合物および/またはその酸ハロゲン化物もしくはエステル化物(a)]
前記2個以上のカルボキシル基を有する芳香族化合物および/またはその酸ハロゲン化物もしくはエステル化物(a)(上記芳香族多価カルボン酸の残基(Q)に由来する化合物)は、2個以上のカルボキシル基を有するカルボン酸、またはその誘導体であり、具体的にはカルボン酸、酸ハロゲン化物、エステル化物(以下、「芳香族化合物等(a)」と称することがある。)である。前記芳香族化合物等(a)は、2個以上のカルボキシル基等を有することにより、後述の芳香族モノヒドロキシ化合物(b)や、更に、リン含有ポリオール化合物(d)(以下、単に「化合物(d)」と称する場合がある。)(上記リン含有多価アルコール化合物の残基(A)に由来する化合物)と反応することで、リン含有活性エステルの構造中において、前記化合物(d)由来の柔軟性を有する構造部位と、末端にエポキシ硬化性を有するアリールオキシカルボニル構造の両方を含有する構造を形成することができ、リン含有活性エステルの構造中において、高い反応活性を有するエステル構造(活性エステル基)を形成しうる。また、得られるリン含有活性エステルは、アリールオキシカルボニル末端を有することになり、誘電特性の観点から優れる。
[Aromatic compounds having two or more carboxyl groups and / or their acid halides or esters (a)]
The aromatic compound having two or more carboxyl groups and / or an acid halide or esterified product (a) thereof (a compound derived from the residue (Q) of the aromatic polyvalent carboxylic acid) has two or more. A carboxylic acid having a carboxyl group or a derivative thereof, specifically, a carboxylic acid, an acid halide, or an esterified product (hereinafter, may be referred to as "aromatic compound or the like (a)"). The aromatic compound and the like (a) have two or more carboxyl groups and the like, so that the aromatic monohydroxy compound (b) described later and the phosphorus-containing polyol compound (d) (hereinafter, simply "compound (hereinafter, simply" compound (hereinafter, "compound") are used. It may be referred to as "d)".) Derived from the compound (d) in the structure of the phosphorus-containing active ester by reacting with (a compound derived from the residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound). A structure containing both a flexible structural moiety and an aryloxycarbonyl structure having epoxy curability at the terminal can be formed, and the ester structure having high reaction activity in the structure of the phosphorus-containing active ester ( Active ester group) can be formed. Further, the obtained phosphorus-containing active ester has an aryloxycarbonyl terminal and is excellent from the viewpoint of dielectric properties.

前記芳香族化合物等(a)中のカルボキシル基数としては、より好ましくは2〜4個であり、さらに好ましくは、2個である。前記カルボキシル基数が少なくとも2個(2個以上)有することで、生成するリン含有活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。 The number of carboxyl groups in the aromatic compound or the like (a) is more preferably 2 to 4, and even more preferably 2. When the number of carboxyl groups is at least 2 (2 or more), the number of functional groups of the phosphorus-containing active ester to be produced is 2 or more, which is excellent from the viewpoint of curability.

前記芳香族化合物等(a)としては、特に制限されないが、置換または非置換の芳香族環に2個以上のカルボキシル基等を有する化合物が挙げられる。なお、「カルボキシル基等」とは、カルボキシル基;フッ化アシル基、塩化アシル基、臭化アシル基等のハロゲン化アシル基;メチルオキシカルボニル基、エチルオキシカルボニル基等のアルキルオキシカルボニル基;フェニルオキシカルボニル基、ナフチルオキシカルボニル基等のアリールオキシカルボニル基等が挙げられる。なお、ハロゲン化アシル基を有する場合、前記芳香族化合物は酸ハロゲン化物であり、アルキルオキシカルボニル基、アリールオキシカルボニル基を有する場合、前記芳香族化合物はエステル化物となりうる。これらのうち、前記芳香族化合物はカルボキシル基、ハロゲン化アシル基、アリールオキシカルボニル基を有することが好ましく、カルボキシル基、ハロゲン化アシル基を有することがさらに好ましく、カルボキシル基、塩化アシル基、臭化アシル基を有することがさらに好ましい。 The aromatic compound or the like (a) is not particularly limited, and examples thereof include compounds having two or more carboxyl groups in a substituted or unsubstituted aromatic ring. The "carboxyl group, etc." refers to a carboxyl group; a halide acyl group such as a fluoride acyl group, a chloride acyl group, and a brominated acyl group; an alkyloxycarbonyl group such as a methyloxycarbonyl group and an ethyloxycarbonyl group; phenyl. Examples thereof include an aryloxycarbonyl group such as an oxycarbonyl group and a naphthyloxycarbonyl group. When the aromatic compound has an acyl halide group, the aromatic compound can be an acid halide, and when it has an alkyloxycarbonyl group or an aryloxycarbonyl group, the aromatic compound can be an esterified product. Of these, the aromatic compound preferably has a carboxyl group, a halide acyl group, and an aryloxycarbonyl group, more preferably has a carboxyl group and a halide acyl group, and has a carboxyl group, a chloride acyl group, and a bromide. It is more preferable to have an acyl group.

前記芳香族環としては、特に制限されないが、単環芳香族環、縮環芳香族環、環集合芳香族環、アルキレン鎖により連結される芳香族環等が挙げられる。 The aromatic ring is not particularly limited, and examples thereof include a monocyclic aromatic ring, a condensed aromatic ring, a ring-aggregated aromatic ring, and an aromatic ring linked by an alkylene chain.

前記芳香族化合物等(a)としては、特に制限されないが、イソフタル酸、テレフタル酸、5−アリルイソフタル酸、2−アリルテレフタル酸等のベンゼンジカルボン酸;トリメリット酸、5−アリルトリメリット酸等のベンゼントリカルボン酸;ナフタレン−1,4−ジカルボン酸、ナフタレン−1,5−ジカルボン酸、ナフタレン−2,3−ジカルボン酸、ナフタレン−2,6−ジカルボン酸、ナフタレン−2,7−ジカルボン酸、3−アリルナフタレン−1,4−ジカルボン酸、3,7−ジアリルナフタレン−1,4−ジカルボン酸等のナフタレンジカルボン酸;2,4,5−ピリジントリカルボン酸等のピリジントリカルボン酸;1,3,5−トリアジン−2,4,6−トリカルボン酸等のトリアジンカルボン酸;これらの酸ハロゲン化物、エステル化物等が挙げられる。これらのうち、ベンゼンジカルボン酸、ベンゼントリカルボン酸であることが好ましく、イソフタル酸、テレフタル酸、イソフタル酸クロリド、テレフタル酸クロリド、1,3,5−ベンゼントリカルボン酸、1,3,5−ベンゼントリカルボニルトリクロリドであることがより好ましく、イソフタル酸クロリド、テレフタル酸クロリド、1,3,5−ベンゼントリカルボニルトリクロリドであることがさらに好ましい。 The aromatic compound or the like (a) is not particularly limited, but is a benzenedicarboxylic acid such as isophthalic acid, terephthalic acid, 5-allylisophthalic acid, 2-allylterephthalic acid; trimellitic acid, 5-allyltrimellitic acid and the like. Benzintricarboxylic acid; naphthalene-1,4-dicarboxylic acid, naphthalene-1,5-dicarboxylic acid, naphthalene-2,3-dicarboxylic acid, naphthalene-2,6-dicarboxylic acid, naphthalene-2,7-dicarboxylic acid, Naphthalenedicarboxylic acids such as 3-allylnaphthalene-1,4-dicarboxylic acid and 3,7-diallylnaphthalene-1,4-dicarboxylic acid; pyridinetricarboxylic acids such as 2,4,5-pyridinetricarboxylic acid; 1,3. Triazine carboxylic acids such as 5-triazine-2,4,6-tricarboxylic acid; examples thereof include acid halides and esterified acids thereof. Of these, benzenedicarboxylic acid and benzenetricarboxylic acid are preferable, and isophthalic acid, terephthalic acid, isophthalic acid chloride, terephthalic acid chloride, 1,3,5-benzenetricarboxylic acid, and 1,3,5-benzenetricarbonyl. It is more preferably trichloride, more preferably isophthalic acid chloride, terephthalic acid chloride, and even more preferably 1,3,5-benzenetricarbonyltrichloride.

上述のうち、得られる硬化物の柔軟性、原料の工業的な入手の容易さや作業性の観点から、芳香族環が単環芳香族環である芳香族化合物等、芳香族環が縮環芳香族環である芳香族化合物等であることが好ましく、ベンゼンジカルボン酸、ベンゼントリカルボン酸、ナフタレンジカルボン酸、これらの酸ハロゲン化物であることが好ましく、ベンゼンジカルボン酸、ナフタレンジカルボン酸、これらの酸ハロゲン化物であることがより好ましく、イソフタル酸、テレフタル酸、ナフタレン−1,5−ジカルボン酸、ナフタレン−2,3−ジカルボン酸、ナフタレン−2,6−ジカルボン酸、ナフタレン−2,7−ジカルボン酸、1,3,5−ベンゼンとリカルボン酸これらの酸ハロゲン化物であることがさらに好ましい。上述の芳香族化合物等(a)は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Of the above, from the viewpoints of flexibility of the obtained cured product, industrial availability of raw materials, and workability, an aromatic ring such as an aromatic compound in which the aromatic ring is a monocyclic aromatic ring has a condensed ring fragrance. It is preferably an aromatic compound or the like which is a group ring, preferably a benzenedicarboxylic acid, a benzenetricarboxylic acid, a naphthalenedicarboxylic acid, or an acid halide thereof, and preferably a benzenedicarboxylic acid, a naphthalenedicarboxylic acid, or an acid halide thereof. More preferably, isophthalic acid, terephthalic acid, naphthalene-1,5-dicarboxylic acid, naphthalene-2,3-dicarboxylic acid, naphthalene-2,6-dicarboxylic acid, naphthalene-2,7-dicarboxylic acid, 1 , 3,5-benzene and dicarboxylic acids These acid halides are more preferred. The above-mentioned aromatic compound or the like (a) may be used alone or in combination of two or more.

[芳香族モノヒドロキシ化合物(b)]
本発明で用いる芳香族モノヒドロキシ化合物(b)(上記末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)に由来する化合物)は、例えば、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,4−キシレノール、2,6−キシレノール、ターシャリーブチルフェノール、アミルフェノール等のアルキルフェノール;o−フェニルフェノール、p−フェニルフェノール、2−ベンジルフェノール、4−ベンジルフェノール、スチレン化フェノール、4−(α−クミル)フェノール等のアラルキルフェノール;1−ナフトール、2−ナフトール等のナフトール化合物が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。中でも、誘電特性(低誘電特性)に優れる硬化物が得られることから、o−クレゾールやナフトールであることが好ましい。
[Aromatic monohydroxy compound (b)]
The aromatic monohydroxy compound (b) used in the present invention (a compound derived from the residue (C) of the aromatic hydroxyl group-containing compound having a monovalent terminal) is, for example, phenol, o-cresol, m-cresol, and the like. Alkylphenols such as p-cresol, 2,4-xylenol, 2,6-xylenol, tertiary butylphenol, amylphenol; o-phenylphenol, p-phenylphenol, 2-benzylphenol, 4-benzylphenol, styrenated phenol, Aralkylphenols such as 4- (α-cumyl) phenol; naphthol compounds such as 1-naphthol and 2-naphthol can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, o-cresol and naphthol are preferable because a cured product having excellent dielectric properties (low dielectric properties) can be obtained.

前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)との反応としては、特に制限されないが、例えば、アルカリ触媒の存在下、60℃以下の温度条件下で、1〜24時間の反応時間で行うことが出来る。ここで使用し得るアルカリ触媒は、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、炭酸セシウム、炭酸水素ナトリウム、炭酸水素カリウム、トリエチルアミン、ピリジン等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。これらのなかでも、反応効率が高いことから、水酸化ナトリウム又は水酸化カリウムが好ましい。また、これらの触媒は3〜30%の水溶液として用いても良い。また、この際、反応効率を高めるため、層間移動触媒を使用しても良い。例えば、アルキルアンモニウム塩、クラウンエーテル等が挙げられる。これらは、それぞれ単独で用いても良いし、2種類以上を併用しても良い。 The reaction with the aromatic compound or the like (a) and the aromatic monohydroxy compound (b) is not particularly limited, but is, for example, 1 to 1 in the presence of an alkaline catalyst under a temperature condition of 60 ° C. or lower. It can be carried out with a reaction time of 24 hours. Examples of the alkaline catalyst that can be used here include sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, cesium carbonate, sodium hydrogencarbonate, potassium hydrogencarbonate, triethylamine, pyridine and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, sodium hydroxide or potassium hydroxide is preferable because of its high reaction efficiency. Further, these catalysts may be used as a 3 to 30% aqueous solution. At this time, a phase transfer catalyst may be used in order to increase the reaction efficiency. For example, an alkylammonium salt, a crown ether and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

上記反応は、反応制御が容易となることから、有機溶媒中で行うことが好ましい。ここで用いる有機溶媒は、例えば、ペンタン、ヘキサン等の炭化水素溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン溶媒、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル溶媒、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール溶媒、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素溶媒、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上の混合溶媒としても良い。 The above reaction is preferably carried out in an organic solvent because the reaction can be easily controlled. The organic solvent used here is, for example, a hydrocarbon solvent such as pentane or hexane, a ketone solvent such as acetone, methyl ethyl ketone or cyclohexanone, an ether solvent such as diethyl ether or tetrahydrofuran, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate or propylene glycol monomethyl ether. Examples thereof include acetate solvents such as acetate and carbitol acetate, carbitol solvents such as cellosolve and butyl carbitol, aromatic hydrocarbon solvents such as toluene and xylene, dimethylformamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone. Each of these may be used alone or as a mixed solvent of two or more kinds.

前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)の反応割合は、所望の分子設計に応じて適宜変更することが出来るが、中でも、未反応の末端を削減しつつ、余剰の反応原料を削減する観点から、前記芳香族化合物等(a)1モルに対し、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)が1.1〜5.0モルの範囲が好ましく、1.5〜4.0モルがより好ましく、2.0〜3.0モルが更に好ましい。 The reaction ratios of the aromatic compound and the like (a) and the aromatic monohydroxy compound (b) can be appropriately changed according to the desired molecular design, but among them, while reducing the unreacted ends. From the viewpoint of reducing excess reaction raw materials, the aromatic monohydroxy compound (b) is preferably in the range of 1.1 to 5.0 mol, preferably 1.5 to 1 mol of the aromatic compound or the like (a). ~ 4.0 mol is more preferable, and 2.0 to 3.0 mol is even more preferable.

反応終了後は、アルカリ触媒の存在下で水溶液を用いる場合には、反応液を静置分液して水層を取り除き、残った有機層を水で洗浄し、水層がほぼ中性(pH7程度)になるまで水洗を繰り返すことにより、絶縁性に悪影響のある無機塩含有量が低減された前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)との反応生成物である反応生成物(c)を得ることができる。 After completion of the reaction, when using an aqueous solution in the presence of an alkaline catalyst, the reaction solution is statically separated to remove the aqueous layer, the remaining organic layer is washed with water, and the aqueous layer is almost neutral (pH 7). The reaction product with the aromatic compound and the like (a) and the aromatic monohydroxy compound (b) in which the content of the inorganic salt having an adverse effect on the insulating property is reduced by repeating washing with water until the degree becomes). The reaction product (c) is obtained.

[リン含有ポリオール化合物(d)]
本発明のリン含有活性エステルは、前記反応生成物(c)と前記リン含有ポリオール化合物(d)を反応することにより製造することができる。前記化合物(d)を使用することで、得られるリン含有活性エステルの構造中に、柔軟セグメントとなる前記化合物(d)に由来するアルキレン基やアルキレンオキシ基(アルキレンエーテル鎖)などを導入することができ、前記リン含有活性エステルを使用し得られる硬化物に柔軟性を付与することができ、更に、極性の低い構造を導入することになるため、低誘電特性に優れ、好ましい態様となる。また、前記リン含有活性エステルは合成時に、水酸基の発生を防止または抑制することができ、低誘電特性に優れ、有用である。
[Phosphorus-containing polyol compound (d)]
The phosphorus-containing active ester of the present invention can be produced by reacting the reaction product (c) with the phosphorus-containing polyol compound (d). By using the compound (d), an alkylene group, an alkyleneoxy group (alkylene ether chain) derived from the compound (d), which is a flexible segment, is introduced into the structure of the obtained phosphorus-containing active ester. It is possible to impart flexibility to the cured product obtained by using the phosphorus-containing active ester, and further, since a structure having a low polarity is introduced, the low dielectric property is excellent, which is a preferable embodiment. In addition, the phosphorus-containing active ester can prevent or suppress the generation of hydroxyl groups during synthesis, and is excellent in low dielectric properties and is useful.

前記リン含有ポリオール化合物(d)中の水酸基数(価数)としては、好ましくは2〜5個であり、より好ましくは、2個である。前記カルボキシル基数が少なくとも2個(2個以上)有することで、生成するリン含有活性エステルの官能基数が2個以上となり、硬化性の観点から優れる。 The number of hydroxyl groups (valence) in the phosphorus-containing polyol compound (d) is preferably 2 to 5, and more preferably 2. When the number of carboxyl groups is at least 2 (2 or more), the number of functional groups of the phosphorus-containing active ester to be produced is 2 or more, which is excellent from the viewpoint of curability.

なお、前記化合物(d)としては、特に制限されないが、例えば、難燃性、耐熱性、及び、低誘電特性などの観点から、上記一般式(2)〜(4)のいずれかで示される構造を含むジオール化合物(d−1)(以下、単に「化合物(d−1)」と称する場合がある。)、縮合リン酸エステル系ポリオール(d−2)(以下、単に「化合物(d−2)」と称する場合がある。)、および、リン含有ポリエステルポリオール(d−3)(以下、単に「化合物(d−3)」と称する場合がある。)などが好ましく用いられ、たとえば、下記一般式(7)のような構造の化合物を例示することができる。なお、下記一般式(7)中のA、R、y、及び、zは、上記一般式(1)中のそれぞれと同様である。

Figure 2022001612
The compound (d) is not particularly limited, but is represented by any of the above general formulas (2) to (4) from the viewpoints of flame retardancy, heat resistance, low dielectric property and the like. A diol compound (d-1) containing a structure (hereinafter, may be simply referred to as “compound (d-1)”), a condensed phosphoric acid ester-based polyol (d-2) (hereinafter, simply “compound (d−”). 2) ”), phosphorus-containing polyester polyol (d-3) (hereinafter, may be simply referred to as“ compound (d-3) ”) and the like are preferably used, for example, the following. A compound having a structure as shown in the general formula (7) can be exemplified. In addition, A, R, y, and z in the following general formula (7) are the same as each in the above general formula (1).
Figure 2022001612

前記化合物(d−1)としては、例えば、下記一般式(8)〜(12)に示される化合物などが挙げられる。

Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Examples of the compound (d-1) include compounds represented by the following general formulas (8) to (12).
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612

なお、下記一般式(8)〜(12)中のRw、Rx、Ry、および、Rzは、それぞれ独立して水素、または、アルキル基であることが好ましく、工業的な入手の容易さの観点から、水素、または、炭素原子数が1〜4のアルキル基がより好ましい。これらの化合物(d−1)は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 It is preferable that Rw, Rx, Ry, and Rz in the following general formulas (8) to (12) are independently hydrogen or alkyl groups, respectively, from the viewpoint of industrial availability. Therefore, hydrogen or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms is more preferable. These compounds (d-1) may be used alone or in combination of two or more.

前記化合物(d−1)の製造方法としては、エチレンオキシド、プロピレンオキシド、ブチレンオキシド等のエポキシ基を有する化合物や炭酸エチレン、炭酸プロピレン、炭酸ブチレン等のカーボネート類存在下、フェノール水酸基を2つ以上有するリン含有化合物(e)(以下、単に「化合物(e)」と称する場合がある。)と塩基触媒を加熱撹拌することで得られる。用いる塩基触媒としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、炭酸セシウム、炭酸水素ナトリウム、炭酸水素カリウム、トリエチルアミン、ピリジン、ジアザビシクロウンデセン、ジアザビシクロノネン、トリフェニルホスフィン等が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても、2種類以上を併用しても良い。これらのなかでも、反応効率が高いことから、ジアザビシクロウンデセン、ジアザビシクロノネン、トリフェニルホスフィンが好ましい。上記反応は、特に制限はないが、有機溶剤が無くても良く、有機溶媒中で行っても良い。ここで用いる有機溶媒は、例えば、ペンタン、ヘキサン等の炭化水素系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン溶媒、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル系溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル系溶媒、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール溶媒、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド系溶剤が挙げられる。これらはそれぞれ単独で用いても良いし、2種類以上の混合溶媒としても良い。前記反応条件としては、特に限定されないが、例えば、50〜250℃の温度条件下で、1〜24時間の撹拌・反応させることにより、前記化合物(d−1)を得ることができる。 As a method for producing the compound (d-1), it has two or more phenol hydroxyl groups in the presence of compounds having an epoxy group such as ethylene oxide, propylene oxide and butylene oxide and carbonates such as ethylene carbonate, propylene carbonate and butylene carbonate. It is obtained by heating and stirring a phosphorus-containing compound (e) (hereinafter, may be simply referred to as “compound (e)”) and a base catalyst. Examples of the base catalyst used include sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, cesium carbonate, sodium hydrogencarbonate, potassium hydrogencarbonate, triethylamine, pyridine, diazabicycloundecene, diazabicyclononen, and triphenyl. Hosphin and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, diazabicycloundecene, diazabicyclononene, and triphenylphosphine are preferable because of their high reaction efficiency. The above reaction is not particularly limited, but may be carried out without an organic solvent or may be carried out in an organic solvent. The organic solvent used here is, for example, a hydrocarbon solvent such as pentane or hexane, a ketone solvent such as acetone, methyl ethyl ketone or cyclohexanone, an ether solvent such as diethyl ether or tetrahydrofuran, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate or propylene glycol. Acetate ester solvents such as monomethyl ether acetate and carbitol acetate, carbitol solvents such as cellosolve and butyl carbitol, aromatic hydrocarbon solvents such as toluene and xylene, dimethylformamide, dimethylacetamide, amides such as N-methylpyrrolidone. Examples include system solvents. Each of these may be used alone or as a mixed solvent of two or more kinds. The reaction conditions are not particularly limited, but the compound (d-1) can be obtained, for example, by stirring and reacting for 1 to 24 hours under a temperature condition of 50 to 250 ° C.

前記化合物(e)は、市販されているものを用いてもよい。市販品は、例えば、三光株式会社製のHCA−HQ(10−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−9,10-ジヒドロ9−オキサ−10−フォスファフェナントレン−10−オキサイド)や、HCA=NQ(10−[2−(ジヒドロキシナフチル)]−9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−フォスファフェナントレン−10−オキサイド)、日本化学工業株式会社製のCPHO−HQ(1,4−シクロオクチレンホスホニル−1,4−ハイドロキノン及び1,5−シクロオクチレンホスホニル−1,4−ハイドロキノンの混合物)等が挙げられる。 As the compound (e), a commercially available compound may be used. Commercially available products include, for example, HCA-HQ (10- (2,5-dihydroxyphenyl) -9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphophenanthrene-10-oxide) manufactured by Sanko Co., Ltd. and HCA = NQ. (10- [2- (dihydroxynaphthyl)]-9,10-dihydro-9-oxa-10-phospphaphenanthrene-10-oxide), CPHO-HQ (1,4-cycloocty) manufactured by Nippon Kagaku Kogyo Co., Ltd. Examples thereof include a mixture of renphosphonyl-1,4-hydroquinone and 1,5-cyclooctylenephosphonyl-1,4-hydroquinone).

前記化合物(d−2)としては、リン酸・亜リン酸・リン酸エステル等とアルキレンポリオールとの縮合で得られる、ポリリン酸エステルポリオール等が挙げられる。 Examples of the compound (d-2) include polyphosphoric acid ester polyols obtained by condensing phosphoric acid, phosphite, phosphoric acid esters and the like with alkylene polyols.

前記化合物(d−3)としては、HCA−マレイン酸付加物・HCA−シトラコン酸付加物・HCA−イタコン酸付加物(商品名M−ACID、三光(株)製)などのリン含有ジカルボン酸モノマーと、アルキレンポリオール化合物を縮合して得られる、水酸基末端を有するリン含有ポリエステルポリオール縮合物(商品名M−ESTER、ME−P8、三光(株)製)などが挙げられる。 Examples of the compound (d-3) include phosphorus-containing dicarboxylic acid monomers such as HCA-maleic acid adduct, HCA-citraconic acid adduct, and HCA-itaconic acid adduct (trade name: M-ACID, manufactured by Sanko Co., Ltd.). Examples thereof include phosphorus-containing polyester polyol condensates having a hydroxyl group terminal (trade names: M-ESTER, ME-P8, manufactured by Sanko Co., Ltd.) obtained by condensing an alkylene polyol compound.

前記反応生成物(c)と前記化合物(d)とを反応させることにより、エステル交換反応が生じ、本発明のリン含有活性エステルを得ることができる。前記反応条件としては、例えば、50〜250℃の温度条件下で、1〜24時間の撹拌・反応させることにより、リン含有活性エステルを得ることができる。また、アルカリ触媒、中でもアミン系触媒(トリエチルアミン等のアルキルアミン、トリフェニルアミン等とアリールアミン、DBU、DBN等の縮環型アミン、イミダゾール、ピリジン等の複素管環アミン)を添加することで反応を促進することができる。なお、反応終了後は、余剰の前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)を除去するため、常圧蒸留、減圧(例えば、0.9〜0.01気圧)蒸留することにより、高純度のリン含有活性エステルを得ることができる。 By reacting the reaction product (c) with the compound (d), a transesterification reaction occurs, and the phosphorus-containing active ester of the present invention can be obtained. As the reaction conditions, for example, a phosphorus-containing active ester can be obtained by stirring and reacting for 1 to 24 hours under a temperature condition of 50 to 250 ° C. Further, an alkali catalyst, particularly an amine-based catalyst (alkylamine such as triethylamine, triphenylamine and the like, condensed ring amine such as arylamine, DBU, DBN, and heterocyclic amine such as imidazole and pyridine) is added to react. Can be promoted. After completion of the reaction, in order to remove the excess aromatic monohydroxy compound (b), high-purity phosphorus is contained by distillation under atmospheric pressure and reduced pressure (for example, 0.9 to 0.01 atm). An active ester can be obtained.

上記反応においては、前記芳香族化合物等(a)、及び、前記芳香族モノヒドロキシ化合物(b)の反応の際に使用される溶媒と同様の溶媒を使用することができる。 In the above reaction, the same solvent as the solvent used in the reaction of the aromatic compound and the like (a) and the aromatic monohydroxy compound (b) can be used.

前記反応生成物(c)、及び、前記化合物(d)の反応割合は、所望の分子設計に応じて適宜変更することが出来るが、中でも、より作業性や柔軟性に優れたリン含有活性エステルとなることから、前記反応生成物(c)の活性エステル当量1当量に対する前記化合物(d)の水酸基当量が0.1〜0.9モルの範囲が好ましく、0.2〜0.8モルがより好ましく、0.3〜0.8モルが更に好ましい。 The reaction ratios of the reaction product (c) and the compound (d) can be appropriately changed according to the desired molecular design, and among them, a phosphorus-containing active ester having more excellent workability and flexibility. Therefore, the hydroxyl equivalent of the compound (d) is preferably in the range of 0.1 to 0.9 mol, preferably 0.2 to 0.8 mol, with respect to 1 equivalent of the active ester equivalent of the reaction product (c). More preferably, 0.3 to 0.8 mol is even more preferable.

前記リン含有活性エステルにおけるリン含有率(リン含有量)は、得られる硬化物等の難燃性と低誘電正接の観点から1.8質量%以上であることが好ましく、1.8〜25質量%であることがより好ましく、1.9〜24質量%であることが更に好ましい。 The phosphorus content (phosphorus content) in the phosphorus-containing active ester is preferably 1.8 to 25% by mass, preferably 1.8% by mass or more, from the viewpoint of flame retardancy of the obtained cured product or the like and low dielectric loss tangent. %, More preferably 1.9 to 24% by mass.

本発明のリン含有活性エステルの官能基当量は、リン含有活性エステル構造中に有する芳香族エステル基の合計をリン含有活性エステルの官能基数とした場合、硬化性に優れ、低い誘電率及び誘電正接(低誘電特性)の硬化物が得られることから、160〜1500g/eqの範囲であることが好ましく、180〜1200g/eqの範囲であることがより好ましく、200〜1000g/eqの範囲であることが更により好ましい。 The functional group equivalent of the phosphorus-containing active ester of the present invention is excellent in curability, has a low dielectric constant, and has a dielectric constant tangent when the total number of aromatic ester groups contained in the phosphorus-containing active ester structure is taken as the number of functional groups of the phosphorus-containing active ester. Since a cured product having (low dielectric properties) can be obtained, the range is preferably 160 to 1500 g / eq, more preferably 180 to 1200 g / eq, and 200 to 1000 g / eq. Is even more preferable.

本発明のリン含有活性エステルの数平均分子量(Mn)は、320〜3000であることが好ましく、360〜2400であることがより好ましい。数平均分子量(Mn)が320以上であると、誘電正接に優れることから好ましい。一方、数平均分子量(Mn)が3000以下であると、成形性に優れることから好ましい。 The number average molecular weight (Mn) of the phosphorus-containing active ester of the present invention is preferably 320 to 3000, more preferably 360 to 2400. When the number average molecular weight (Mn) is 320 or more, it is preferable because the dielectric loss tangent is excellent. On the other hand, when the number average molecular weight (Mn) is 3000 or less, it is preferable because the moldability is excellent.

<硬化性樹脂組成物>
本発明の硬化性樹脂組成物は、前記リン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂を含有することが好ましい。
<Curable resin composition>
The curable resin composition of the present invention preferably contains the phosphorus-containing active ester and the epoxy resin.

[エポキシ樹脂]
前記エポキシ樹脂としては、特に制限されないが、例えば、分子中に2個以上のエポキシ基を含み、前記エポキシ基で架橋ネットワークを形成することで硬化させることができる硬化性樹脂であることが好ましい。
[Epoxy resin]
The epoxy resin is not particularly limited, but is preferably a curable resin that contains two or more epoxy groups in the molecule and can be cured by forming a crosslinked network with the epoxy groups.

前記エポキシ樹脂としては、特に制限されないが、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、α−ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、β−ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂;
フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、フェノールビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂等のアラルキル型エポキシ樹脂;
ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールAP型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ビスフェノールB型エポキシ樹脂、ビスフェノールBP型エポキシ樹脂、ビスフェノールC型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、テトラブロモビスフェノールA型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂;
ビフェニル型エポキシ樹脂、テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニル骨格およびジグリシジルオキシベンゼン骨格を有するエポキシ樹脂等のビフェニル型エポキシ樹脂;
ナフタレン型エポキシ樹脂;
ビナフトール型エポキシ樹脂;ビナフチル型エポキシ樹脂;
ジシクロペンタジエンフェノール型エポキシ樹脂等のジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂;
テトラグリシジルジアミノジフェニルメタン型エポキシ樹脂、トリグリシジル−p−アミノフェノール型エポキシ樹脂、ジアミノジフェニルスルホンのグリシジルアミン型エポキシ樹脂等のグリシジルアミン型エポキシ樹脂;
2,6−ナフタレンジカルボン酸ジグリシジルエステル型エポキシ樹脂、ヘキサヒドロ無水フタル酸のグリシジルエステル型エポキシ樹脂等のジグリシジルエステル型エポキシ樹脂;
ジベンゾピラン、ヘキサメチルジベンゾピラン、7−フェニルヘキサメチルジベンゾピラン等のベンゾピラン型エポキシ樹脂等が挙げられる。
これらのエポキシ樹脂のうち、フェノール化合物をエポキシ化して得られる、いわゆるグリシジルエーテル型エポキシ樹脂が好ましく、その中でもノボラック型エポキシ樹脂、アラルキル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂であることが、誘電特性の観点からより好ましい。
The epoxy resin is not particularly limited, but is not particularly limited, but is phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, α-naphthol novolac type epoxy resin, β-naphthol novolac type epoxy resin, bisphenol A novolak type epoxy resin, biphenyl novolac type epoxy. Novolac type epoxy resin such as resin;
Phenolic aralkyl type epoxy resin, naphthol aralkyl type epoxy resin, phenol biphenyl aralkyl type epoxy resin and other aralkyl type epoxy resins;
Bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AP type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, bisphenol B type epoxy resin, bisphenol BP type epoxy resin, bisphenol C type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S Bisphenol type epoxy resin such as type epoxy resin, tetrabromobisphenol A type epoxy resin;
Biphenyl type epoxy resin such as biphenyl type epoxy resin, tetramethyl biphenyl type epoxy resin, epoxy resin having biphenyl skeleton and diglycidyl oxybenzene skeleton;
Naphthalene type epoxy resin;
Vinaftor type epoxy resin; Vinaftil type epoxy resin;
Dicyclopentadiene type epoxy resin such as dicyclopentadiene phenol type epoxy resin;
Glycidylamine type epoxy resin such as tetraglycidyldiaminodiphenylmethane type epoxy resin, triglycidyl-p-aminophenol type epoxy resin, and diaminodiphenylsulfone glycidylamine type epoxy resin;
Diglycidyl ester type epoxy resin such as 2,6-naphthalenedicarboxylic acid diglycidyl ester type epoxy resin and glycidyl ester type epoxy resin of hexahydrophthalic anhydride;
Examples thereof include benzopyran type epoxy resins such as dibenzopyran, hexamethyldibenzopyran, and 7-phenylhexamethyldibenzopyran.
Among these epoxy resins, the so-called glycidyl ether type epoxy resin obtained by epoxidizing a phenol compound is preferable, and among them, the novolak type epoxy resin, the aralkyl type epoxy resin, and the dicyclopentadiene type epoxy resin have dielectric properties. It is more preferable from the viewpoint of.

なお、上述のエポキシ樹脂は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The above-mentioned epoxy resin may be used alone or in combination of two or more.

前記エポキシ樹脂のエポキシ当量は、120〜400g/eqであることが好ましく、150〜300g/eqであることがより好ましい。前記エポキシ樹脂のエポキシ当量が120g/eq以上であると、得られる硬化物の誘電特性により優れることから好ましく、一方、エポキシ樹脂のエポキシ当量が400g/eq以下であると、得られる硬化物の耐熱性と誘電正接のバランスに優れることから好ましい。 The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 120 to 400 g / eq, more preferably 150 to 300 g / eq. When the epoxy equivalent of the epoxy resin is 120 g / eq or more, it is preferable because it is excellent in the dielectric property of the obtained cured product. On the other hand, when the epoxy equivalent of the epoxy resin is 400 g / eq or less, the heat resistance of the obtained cured product is good. It is preferable because it has an excellent balance between properties and dielectric loss tangent.

前記エポキシ樹脂の軟化点は、20〜200℃であることが好ましく、40〜150℃であることがより好ましい。前記エポキシ樹脂の軟化点が20℃以上であると、速硬化性を兼備できることから好ましい。一方、エポキシ樹脂の軟化点が200℃以下であると、成形性に優れることから好ましい。 The softening point of the epoxy resin is preferably 20 to 200 ° C, more preferably 40 to 150 ° C. When the softening point of the epoxy resin is 20 ° C. or higher, it is preferable because it can also have quick curing property. On the other hand, when the softening point of the epoxy resin is 200 ° C. or lower, it is preferable because the moldability is excellent.

前記エポキシ樹脂の使用量に対する前記リン含有活性エステルの使用量の官能基当量比(リン含有活性エステル/エポキシ樹脂)は、0.2〜2であることが好ましく、0.4〜1.5であることがより好ましい。前記官能基当量比が0.2以上であると、得られる硬化物が、より低誘電正接、高い柔軟性となりうることから好ましい。前記官能基当量比が2を超えると、耐熱性、硬化性が低下するため、前記範囲内で使用することが好ましい。 The functional group equivalent ratio (phosphorus-containing active ester / epoxy resin) of the amount of the phosphorus-containing active ester used to the amount of the epoxy resin used is preferably 0.2 to 2, preferably 0.4 to 1.5. It is more preferable to have. When the functional group equivalent ratio is 0.2 or more, the obtained cured product can have lower dielectric loss tangent and higher flexibility, which is preferable. When the functional group equivalent ratio exceeds 2, heat resistance and curability are lowered, so that it is preferable to use within the above range.

本発明の硬化性樹脂組成物は、前記リン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂以外にも、本発明の効果を損なわない範囲において、他の硬化剤、他の樹脂、溶媒、添加剤等をさらに含んでいてもよい。 In addition to the phosphorus-containing active ester and epoxy resin, the curable resin composition of the present invention further contains other curing agents, other resins, solvents, additives and the like as long as the effects of the present invention are not impaired. It may be included.

[他の硬化剤]
本発明の硬化性樹脂組成物は、前記リン含有活性エステルと共に、他の硬化剤を併用してもよい。
[Other curing agents]
In the curable resin composition of the present invention, another curing agent may be used in combination with the phosphorus-containing active ester.

前記他の硬化剤としては、特に制限されないが、アミン硬化剤、酸無水物硬化剤、フェノール樹脂硬化剤等が挙げられる。 The other curing agent is not particularly limited, and examples thereof include an amine curing agent, an acid anhydride curing agent, and a phenol resin curing agent.

前記アミン硬化剤としては、特に制限されないが、ジエチレントリアミン(DTA)、トリエチレンテトラミン(TTA)、テトラエチレンペンタミン(TEPA)、ジプロプレンジアミン(DPDA)、ジエチルアミノプロピルアミン(DEAPA)、N−アミノエチルピペラジン、メンセンジアミン(MDA)、イソフオロンジアミン(IPDA)、1,3−ビスアミノメチルシクロヘキサン(1,3−BAC)、ピペリジン、N,N,−ジメチルピペラジン、トリエチレンジアミン等の脂肪族アミン;m−キシレンジアミン(XDA)、メタンフェニレンジアミン(MPDA)、ジアミノジフェニルメタン(DDM)、ジアミノジフェニルスルホン(DDS)、ベンジルメチルアミン、2−(ジメチルアミノメチル)フェノール、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール等の芳香族アミン等が挙げられる。 The amine curing agent is not particularly limited, but is diethylenetriamine (DTA), triethylenetetramine (TTA), tetraethylenepentamine (TEPA), diproprenzamine (DPDA), diethylaminopropylamine (DEAPA), N-aminoethyl. Aliper amines such as piperazine, mensendiamine (MDA), isopholonediamine (IPDA), 1,3-bisaminomethylcyclohexane (1,3-BAC), piperidine, N, N, -dimethylpiperazine, triethylenediamine; m-xylenediamine (XDA), methanephenylenediamine (MPDA), diaminodiphenylmethane (DDM), diaminodiphenylsulfone (DDS), benzylmethylamine, 2- (dimethylaminomethyl) phenol, 2,4,6-tris (dimethyl) Examples include aromatic amines such as aminomethyl) phenol.

前記酸無水物硬化剤としては、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、無水ベンゾフェノンテトラカルボン酸、エチレングリコールビストリメリテート、グリセロールトリストリメリテート、無水マレイン酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、エンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチルエンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチルブテニルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、無水コハク酸、メチルシクロヘキセンジカルボン酸無水物等が挙げられる。 Examples of the acid anhydride curing agent include phthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, benzophenone tetracarboxylic acid anhydride, ethylene glycol bistrimeritate, glycerol tristrimeritate, maleic anhydride, and tetrahydrophthalic anhydride. Methyltetrahydrochloride phthalic acid, endomethylenetetrahydrochloride phthalic acid, methylendomethylenetetrahydrochloride phthalic acid, methylbutenyltetrahydrochloride phthalic acid, dodecenyl succinic anhydride, hexahydrochloride phthalic acid, methylhexahydrohydride phthalic acid, succinic anhydride, Methylcyclohexene dicarboxylic acid anhydride and the like can be mentioned.

前記フェノール樹脂硬化剤としては、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ナフトールノボラック樹脂、ビスフェノールノボラック樹脂、ビフェニルノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン−フェノール付加型樹脂、フェノールアラルキル樹脂、ナフトールアラルキル樹脂、トリフェノールメタン型樹脂、テトラフェノールエタン型樹脂、アミノトリアジン変性フェノール樹脂等が挙げられる。 Examples of the phenol resin curing agent include phenol novolac resin, cresol novolak resin, naphthol novolak resin, bisphenol novolak resin, biphenyl novolak resin, dicyclopentadiene-phenol addition type resin, phenol aralkyl resin, naphthol aralkyl resin, and triphenol methane type resin. , Tetraphenol ethane type resin, aminotriazine modified phenol resin and the like.

上述の他の硬化剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The above-mentioned other curing agents may be used alone or in combination of two or more.

[他の樹脂]
本発明の硬化性樹脂組成物は、前記エポキシ樹脂に加えて、他の樹脂を含んでいてもよい。なお、本明細書において、「他の樹脂」とは、エポキシ樹脂以外の樹脂を意味する。
[Other resins]
The curable resin composition of the present invention may contain other resins in addition to the epoxy resin. In addition, in this specification, "other resin" means a resin other than an epoxy resin.

前記他の樹脂の具体例としては、特に制限されないが、マレイミド樹脂、ビスマレイミド樹脂、ポリマレイミド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリイミド樹脂、シアネートエステル樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、トリアジン含有クレゾールノボラック樹脂、シアン酸エステル樹脂、スチレン−無水マレイン酸樹脂、ジアリルビスフェノールやトリアリルイソシアヌレート等のアリル基含有樹脂、ポリリン酸エステル、リン酸エステル−カーボネート共重合体等が挙げられる。これらの他の樹脂は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of the other resins are not particularly limited, but are limited to maleimide resin, bismaleimide resin, polymaleimide resin, polyphenylene ether resin, polyimide resin, cyanate ester resin, benzoxazine resin, triazine-containing cresol novolak resin, and cyanate ester. Examples thereof include resins, styrene-maleic anhydride resins, allyl group-containing resins such as diallyl bisphenol and triallyl isocyanurate, polyphosphate esters, phosphate ester-carbonate copolymers and the like. These other resins may be used alone or in combination of two or more.

[溶媒]
本発明の硬化性樹脂組成物は、無溶剤で調製しても構わないし、溶媒を含んでいてもよい。前記溶媒は、硬化性樹脂組成物の粘度を調整する機能等を有する。
[solvent]
The curable resin composition of the present invention may be prepared without a solvent, or may contain a solvent. The solvent has a function of adjusting the viscosity of the curable resin composition and the like.

前記溶媒の具体例としては、特に制限されないが、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤;ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン等のエーテル系溶剤;酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等のエステル系溶剤;セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、メシチレン、1,2,3−トリメチルベンゼン、1,2,4−トリメチルベンゼン等の芳香族炭化水素、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド系溶剤等が挙げられる。これらの溶媒は単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of the solvent are not particularly limited, but are ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone; ether solvents such as diethyl ether and tetrahydrofuran; ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate and propylene glycol monomethyl. Ester-based solvents such as ether acetate and carbitol acetate; carbitols such as cellosolve and butyl carbitol, toluene, xylene, ethylbenzene, mecitylene, 1,2,3-trimethylbenzene, 1,2,4-trimethylbenzene and the like. Examples thereof include amide-based solvents such as aromatic hydrocarbons, dimethylformamides, dimethylacetamides, and N-methylpyrrolidone. These solvents may be used alone or in combination of two or more.

前記溶媒の使用量としては、硬化性樹脂組成物の全質量に対して、10〜90質量%であることが好ましく、20〜80質量%であることがより好ましい。溶媒の使用量が10質量%以上であると、ハンドリング性に優れることから好ましい。一方、溶媒の使用量が90質量%以下であると、経済性の観点から好ましい。 The amount of the solvent used is preferably 10 to 90% by mass, more preferably 20 to 80% by mass, based on the total mass of the curable resin composition. When the amount of the solvent used is 10% by mass or more, it is preferable because the handling property is excellent. On the other hand, when the amount of the solvent used is 90% by mass or less, it is preferable from the viewpoint of economy.

[添加剤]
本発明の硬化性樹脂組成物は、添加剤を含んでいてもよい。前記添加剤としては、硬化促進剤、難燃剤、充填剤等が挙げられる。
[Additive]
The curable resin composition of the present invention may contain an additive. Examples of the additive include a curing accelerator, a flame retardant, a filler and the like.

(硬化促進剤)
硬化促進剤(硬化触媒)としては、特に制限されないが、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、尿素系硬化促進剤等が挙げられる。
(Hardening accelerator)
The curing accelerator (curing catalyst) is not particularly limited, and examples thereof include a phosphorus-based curing accelerator, an amine-based curing accelerator, an imidazole-based curing accelerator, a guanidine-based curing accelerator, and a urea-based curing accelerator.

前記リン系硬化促進剤としては、トリフェニルホスフィン、トリブチルホスフィン、トリパラトリルホスフィン、ジフェニルシクロヘキシルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン等の有機ホスフィン化合物;トリメチルホスファイト、トリエチルホスファイト等の有機ホスファイト化合物;エチルトリフェニルホスホニウムブロミド、ベンジルトリフェニルホスホニウムクロリド、ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラフェニルホスホニウムテトラ−p−トリルボレート、トリフェニルホスフィントリフェニルボラン、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムジシアナミド、ブチルフェニルホスホニウムジシアナミド、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩等のホスホニウム塩等が挙げられる。 Examples of the phosphorus-based curing accelerator include organic phosphine compounds such as triphenylphosphine, tributylphosphine, triparatrilphosphine, diphenylcyclohexylphosphine and tricyclohexylphosphine; organic phosphine compounds such as trimethylphosphine and triethylphosphine; ethyltriphenyl. Phosphornium bromide, benzyltriphenylphosphonium chloride, butylphosphonium tetraphenylborate, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, tetraphenylphosphonium tetra-p-trilborate, triphenylphosphine triphenylboran, tetraphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium disianamide, Examples thereof include phosphonium salts such as butylphenylphosphonium dicyanamide and tetrabutylphosphonium decanoate.

前記アミン系硬化促進剤としては、トリエチルアミン、トリブチルアミン、N,N−ジメチル−4−アミノピリジン(DMAP)、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]−ウンデセン−7(DBU)、1,5−ジアザビシクロ[4,3,0]−ノネン−5(DBN)等が挙げられる。 Examples of the amine-based curing accelerator include triethylamine, tributylamine, N, N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP), 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) phenol, and 1,8-diazabicyclo [5, 4,0] -Undecene-7 (DBU), 1,5-diazabicyclo [4,3,0] -nonene-5 (DBN) and the like can be mentioned.

前記イミダゾール系硬化促進剤としては、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテート、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテート、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン等が挙げられる。 Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, and 2-phenyl. -4-Methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl -4-Methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct , 2-Phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5 hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2 -Methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline and the like can be mentioned.

前記グアニジン系硬化促進剤としては、ジシアンジアミド、1−メチルグアニジン、1−エチルグアニジン、1−シクロヘキシルグアニジン、1−フェニルグアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、7−メチル−1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、1−メチルビグアニド、1−エチルビグアニド、1−ブチルビグアニド、1−シクロヘキシルビグアニド、1−アリルビグアニド、1−フェニルビグアニド等が挙げられる。 Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1, 5,7-Triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 1-methylbiguanide , 1-ethylbiguanide, 1-butylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide and the like.

前記尿素系硬化促進剤としては、3−フェニル−1,1−ジメチル尿素、3−(4−メチルフェニル)−1,1−ジメチル尿素、クロロフェニル尿素、3−(4−クロロフェニル)−1,1−ジメチル尿素、3−(3,4−ジクロルフェニル)−1,1−ジメチル尿素等が挙げられる。 Examples of the urea-based curing accelerator include 3-phenyl-1,1-dimethylurea, 3- (4-methylphenyl) -1,1-dimethylurea, chlorophenylurea, and 3- (4-chlorophenyl) -1,1. -Dimethylurea, 3- (3,4-dichlorophenyl) -1,1-dimethylurea and the like can be mentioned.

上述の硬化促進剤のうち、2−エチル−4−メチルイミダゾール、N,N−ジメチル−4−アミノピリジン(DMAP)を用いることが好ましい。 Among the above-mentioned curing accelerators, it is preferable to use 2-ethyl-4-methylimidazole and N, N-dimethyl-4-aminopyridine (DMAP).

なお、上述の硬化促進剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The above-mentioned curing accelerator may be used alone or in combination of two or more.

前記硬化促進剤の使用量は、所望の硬化性を得るために適宜調製できるが、前記エポキシ樹脂と前記リン含有活性エステルの混合物の合計量100質量部に対して、0.01〜5質量部であることが好ましく、0.1〜3質量部であることがさらに好ましい。硬化促進剤の使用量が0.01質量部以上であると、硬化性に優れることから好ましい。一方、硬化促進剤の使用量が5質量部以下であると、絶縁信頼性に優れることから好ましい。 The amount of the curing accelerator used can be appropriately adjusted to obtain the desired curability, but is 0.01 to 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the mixture of the epoxy resin and the phosphorus-containing active ester. It is preferably 0.1 to 3 parts by mass, and more preferably 0.1 to 3 parts by mass. When the amount of the curing accelerator used is 0.01 parts by mass or more, it is preferable because the curing property is excellent. On the other hand, when the amount of the curing accelerator used is 5 parts by mass or less, it is preferable because the insulation reliability is excellent.

(難燃剤)
本発明の硬化性樹脂組成物は、難燃性に寄与するリン含有活性エステルを使用するが、本発明の性能を損なわない範囲であれば、難燃剤を別途使用することができる。前記難燃剤としては、特に制限されないが、無機リン系難燃剤、有機リン系難燃剤、ハロゲン系難燃剤等が挙げられる。
(Flame retardants)
The curable resin composition of the present invention uses a phosphorus-containing active ester that contributes to flame retardancy, but a flame retardant can be separately used as long as the performance of the present invention is not impaired. The flame retardant is not particularly limited, and examples thereof include an inorganic phosphorus flame retardant, an organic phosphorus flame retardant, and a halogen flame retardant.

前記無機リン系難燃剤としては、特に制限されないが、赤リン;リン酸一アンモニウム、リン酸二アンモニウム、リン酸三アンモニウム、ポリリン酸アンモニウム等のリン酸アンモニウム;リン酸アミド等が挙げられる。 The inorganic phosphorus-based flame retardant is not particularly limited, and examples thereof include red phosphorus; ammonium phosphate such as monoammonium phosphate, diammonium phosphate, triammonium phosphate, and ammonium polyphosphate; and phosphoric acid amide.

前記有機リン系難燃剤としては、特に制限されないが、メチルアシッドホスフェート、エチルアシッドホスフェート、イソプロピルアシッドホスフェート、ジブチルホスフェート、モノブチルホスフェート、ブトキシエチルアシッドホスフェート、2−エチルヘキシルアシッドホスフェート、ビス(2−エチルヘキシル)ホスフェート、モノイソデシルアシッドホスフェート、ラウリルアシッドホスフェート、トリデシルアシッドホスフェート、ステアリルアシッドホスフェート、イソステアリルアシッドホスフェート、オレイルアシッドホスフェート、ブチルピロホスフェート、テトラコシルアシッドホスフェート、エチレングリコールアシッドホスフェート、(2−ヒドロキシエチル)メタクリレートアシッドホスフェート等のリン酸エステル;9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシド、ジフェニルホスフィンオキシド等ジフェニルホスフィン;10−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−10H−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシド、10−(1,4−ジオキシナフタレン)−10H−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシド、ジフェニルホスフィニルヒドロキノン、ジフェニルホスフェニル−1,4−ジオキシナフタリン、1,4−シクロオクチレンホスフィニル−1,4−フェニルジオール、1,5−シクロオクチレンホスフィニル−1,4−フェニルジオール等のリン含有フェノール;9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシド、10−(2,5−ジヒドロオキシフェニル)−10H−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシド、10−(2,7−ジヒドロオキシナフチル)−10H−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキシド等の環状リン化合物;前記リン酸エステル、前記ジフェニルホスフィン、前記リン含有フェノールと、エポキシ樹脂やアルデヒド化合物、フェノール化合物と反応させて得られる化合物等が挙げられる。 The organophosphorus flame retardant is not particularly limited, but is limited to methyl acid phosphate, ethyl acid phosphate, isopropyl acid phosphate, dibutyl phosphate, monobutyl phosphate, butoxyethyl acid phosphate, 2-ethylhexyl acid phosphate, and bis (2-ethylhexyl). Phosphates, Monoisodecyl Acid Phosphates, Lauryl Acid Phosphates, Tridecyl Acid Phosphates, Stearyl Acid Phosphates, Isostearyl Acid Phosphates, Oleyl Acid Phosphates, Butyl Pyrophosphates, Tetracosyl Acid Phosphates, Ethylene Glycol Acid Phosphates, (2-Hydroxyethyl) ) Phosphoric acid esters such as methacrylate acid phosphate; 9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, diphenylphosphine oxide and the like diphenylphosphine; 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10H- 9-Oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10- (1,4-dioxynaphthalene) -10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, diphenylphosphinylhydroquinone, diphenylphos Phosphorus-containing compounds such as phenyl-1,4-dioxynaphthalin, 1,4-cyclooctylenephosphinyl-1,4-phenyldiol, 1,5-cyclooctylenephosphinyl-1,4-phenyldiol 9,10-Dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10- (2,5-dihydrooxyphenyl) -10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, 10 -Cyclic phosphorus compounds such as (2,7-dihydrooxynaphthyl) -10H-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide; the phosphoric acid ester, the diphenylphosphine, the phosphorus-containing phenol, and epoxy resins. Examples thereof include aldehyde compounds and compounds obtained by reacting with phenol compounds.

前記ハロゲン系難燃剤としては、特に制限されないが、臭素化ポリスチレン、ビス(ペンタブロモフェニル)エタン、テトラブロモビスフェノールA、ビス(ジブロモプロピルエーテル)、1,2−ビス(テトラブロモフタルイミド)エタン、2,4,6−トリス(2,4,6−トリブロモフェノキシ)−1,3,5−トリアジン、テトラブロモフタル酸等が挙げられる。なお、ノンハロゲン難燃性のプリント基板(銅張積層板)等に使用する際には、前記ハロゲン系難燃剤を使用しないことが好ましい。 The halogen-based flame retardant is not particularly limited, but is limited to brominated polystyrene, bis (pentabromophenyl) ethane, tetrabromobisphenol A, bis (dibromopropyl ether), 1,2-bis (tetrabromophthalimide) ethane, 2 , 4,6-Tris (2,4,6-tribromophenoxy) -1,3,5-triazine, tetrabromophthalic acid and the like. When used for a non-halogen flame retardant printed circuit board (copper-clad laminated board) or the like, it is preferable not to use the halogen-based flame retardant.

上述の難燃剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The above-mentioned flame retardants may be used alone or in combination of two or more.

前記難燃剤の使用量は、エポキシ樹脂100質量部に対して、0〜50質量部であることが好ましく、0〜30質量部であることがより好ましい。難燃剤の使用量が50質量部以下であると、誘電特性や密着性などを維持しながら、難燃性を付与できることから好ましい。 The amount of the flame retardant used is preferably 0 to 50 parts by mass, more preferably 0 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the epoxy resin. When the amount of the flame retardant used is 50 parts by mass or less, flame retardancy can be imparted while maintaining the dielectric properties and adhesion, which is preferable.

(充填剤)
充填剤としては、有機充填剤、無機充填剤が挙げられる。有機充填剤は、伸びを向上させる機能、機械的強度を向上させる機能等を有する。無機充填剤は、熱膨張率の低減や難燃性の付与といった機能を有する。
(filler)
Examples of the filler include an organic filler and an inorganic filler. The organic filler has a function of improving elongation, a function of improving mechanical strength, and the like. The inorganic filler has functions such as reduction of the coefficient of thermal expansion and imparting flame retardancy.

前記有機充填剤としては、特に制限されないが、ポリアミド粒子等が挙げられる。 The organic filler is not particularly limited, and examples thereof include polyamide particles.

前記無機充填剤としては、特に制限されないが、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、炭酸バリウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、炭酸ストロンチウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、酸化ジルコニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、リン酸タングステン酸ジルコニウム、タルク、クレー、雲母粉、酸化亜鉛、ハイドロタルサイト、ベーマイト、カーボンブラック等が挙げられる。これらのうち、シリカを用いることが好ましい。この際、シリカとしては、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等が用いられうる。 The inorganic filler is not particularly limited, but is silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, and nitride. Boron, aluminum hydroxide, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, barium zirconate, barium zirconate , Calcium dilconate, zirconium phosphate, zirconium tungstate phosphate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, carbon black and the like. Of these, it is preferable to use silica. At this time, as the silica, amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica and the like can be used.

また、前記充填剤は、必要に応じて表面処理されていてもよい。この際、使用されうる表面処理剤としては、特に制限されないが、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、シラン系カップリング剤、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤等が使用されうる。表面処理剤の具体例としては、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、ヘキサメチルジシラザン等が挙げられる。 Further, the filler may be surface-treated if necessary. At this time, the surface treatment agent that can be used is not particularly limited, but is an aminosilane-based coupling agent, an epoxysilane-based coupling agent, a mercaptosilane-based coupling agent, a silane-based coupling agent, an organosilazane compound, and a titanate-based cup. Ring agents and the like can be used. Specific examples of the surface treatment agent include 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, and hexamethyldi. Silazan and the like can be mentioned.

なお、上述の充填剤は、単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The above-mentioned filler may be used alone or in combination of two or more.

前記充填剤の使用量は、前記エポキシ樹脂100質量部に対して、0.5〜95質量部であることが好ましく、5〜80質量部であることがより好ましい。充填剤の使用量が0.5質量部以上であると、充填剤の効果を十分に付与できることから好ましい。一方、配合物の粘度が高くなり成形性を損なわないように、充填剤の使用量が95質量部以下であることが好ましい。 The amount of the filler used is preferably 0.5 to 95 parts by mass, more preferably 5 to 80 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the epoxy resin. When the amount of the filler used is 0.5 parts by mass or more, the effect of the filler can be sufficiently imparted, which is preferable. On the other hand, the amount of the filler used is preferably 95 parts by mass or less so that the viscosity of the formulation becomes high and the moldability is not impaired.

<硬化物>
本発明は、前記硬化性樹脂組成物を硬化反応させた硬化物に関する。前記リン含有活性エステル自体が、誘電正接が低いことから、前記リン含有活性エステルを含有する前記硬化性樹脂組成物から得られる硬化物もまた誘電正接が低くなり、また、得られる硬化物は、難燃性、柔軟性、柔軟性に起因する銅箔等の金属への密着性、及び、低誘電特性を発現させることのでき、好ましい態様となる。
<Curing product>
The present invention relates to a cured product obtained by subjecting the curable resin composition to a curing reaction. Since the phosphorus-containing active ester itself has a low dielectric loss tangent, the cured product obtained from the curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester also has a low dielectric loss tangent, and the obtained cured product has a low dielectric loss tangent. It is a preferable embodiment because it can exhibit flame retardancy, flexibility, adhesion to a metal such as copper foil due to flexibility, and low dielectric property.

前記硬化性樹脂組成物を硬化反応させた硬化物を得る方法としては、例えば、加熱硬化する際の加熱温度は、特に制限されないが、100〜300℃であり、加熱時間としては、1〜24時間であることが好ましい。 As a method for obtaining a cured product obtained by subjecting the curable resin composition to a curing reaction, for example, the heating temperature at the time of heat curing is not particularly limited, but is 100 to 300 ° C., and the heating time is 1 to 24. It is preferably time.

<硬化性樹脂組成物の用途>
上記硬化性樹脂組成物が用いられる用途としては、プリント配線板材料、フレキシルブル配線基板用樹脂組成物、ビルドアップ基板用層間絶縁材料、ビルドアップ用接着フィルム等の回路基板用絶縁材料、樹脂注型材料、接着剤、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、導電ペースト、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、上記複合材料を硬化させてなる成形品等が挙げられる。これら各種用途のうち、プリント配線板材料、回路基板用絶縁材料、ビルドアップ用接着フィルム用途では、コンデンサ等の受動部品やICチップ等の能動部品を基板内に埋め込んだ所謂電子部品内蔵用基板用の絶縁材料として用いることができる。さらに、上記の中でも、硬化物が優れた難燃性、柔軟性、密着性、低誘電特性、及び、耐熱性等を有するといった特性を生かし、本発明の硬化性樹脂組成物は、半導体封止材料、半導体装置、プリプレグ、フレキシルブル配線基板、回路基板、及び、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、多層プリント配線板、繊維強化複合材料、前記複合材料を硬化させてなる成形品に用いることが好ましい。以下に、硬化性樹脂組成物から、前記半導体封止材料などを製造する方法について説明する。
<Use of curable resin composition>
Applications in which the above curable resin composition is used include printed wiring board materials, resin compositions for flexible wiring boards, interlayer insulating materials for build-up boards, insulating materials for circuit boards such as adhesive films for build-up, and resin injection. Examples thereof include mold materials, adhesives, semiconductor encapsulant materials, semiconductor devices, prepregs, conductive pastes, build-up films, build-up substrates, fiber-reinforced composite materials, and molded products obtained by curing the composite materials. Among these various applications, printed wiring board materials, insulating materials for circuit boards, and adhesive films for build-up are for so-called electronic component built-in boards in which passive components such as capacitors and active components such as IC chips are embedded in the substrate. Can be used as an insulating material. Further, among the above, the curable resin composition of the present invention is semiconductor-sealed by taking advantage of the characteristics that the cured product has excellent flame retardancy, flexibility, adhesion, low dielectric property, heat resistance, and the like. It is preferably used for materials, semiconductor devices, prepregs, flexible wiring boards, circuit boards, and build-up films, build-up boards, multilayer printed wiring boards, fiber-reinforced composite materials, and molded products obtained by curing the composite materials. .. Hereinafter, a method for producing the semiconductor encapsulating material or the like from the curable resin composition will be described.

1.半導体封止材料
本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有する半導体封止材に関する。上記硬化性樹脂組成物から半導体封止材料を得る方法としては、上記硬化性樹脂組成物、及び硬化促進剤、及び無機充填剤等の配合剤とを必要に応じて押出機、ニ−ダ、ロ−ル等を用いて均一になるまで充分に溶融混合する方法が挙げられる。その際、無機充填剤としては、通常、溶融シリカが用いられるが、パワートランジスタ、パワーIC用高熱伝導半導体封止材として用いる場合は、溶融シリカよりも熱伝導率の高い結晶シリカ、アルミナ、窒化ケイ素などの高充填化、又は溶融シリカ、結晶性シリカ、アルミナ、窒化ケイ素などを用いるとよい。その充填率は硬化性樹脂組成物100質量部当たり、無機充填剤を30〜95質量部の範囲で用いることが好ましく、中でも、難燃性や耐湿性や耐ハンダクラック性の向上、線膨張係数の低下を図るためには、70質量部以上がより好ましく、80質量部以上であることがさらに好ましい。
1. 1. Semiconductor encapsulation material The present invention relates to a semiconductor encapsulation material containing the curable resin composition. As a method for obtaining a semiconductor encapsulating material from the curable resin composition, an extruder, a feeder, or a compounding agent such as the curable resin composition, a curing accelerator, and an inorganic filler is used as necessary. Examples thereof include a method of sufficiently melting and mixing until the mixture becomes uniform using a roll or the like. At that time, fused silica is usually used as the inorganic filler, but when used as a high thermal conductivity semiconductor encapsulant for power transistors and power ICs, crystalline silica, alumina, and silicon nitride having higher thermal conductivity than fused silica are used. It is preferable to increase the filling of silicon or the like, or to use fused silica, crystalline silica, alumina, silicon nitride or the like. It is preferable to use an inorganic filler in the range of 30 to 95 parts by mass per 100 parts by mass of the curable resin composition, and above all, improvement of flame retardancy, moisture resistance and solder crack resistance, and a coefficient of linear expansion. 70 parts by mass or more is more preferable, and 80 parts by mass or more is further preferable.

2.半導体装置
本発明は、前記半導体封止材を加熱硬化した硬化物を含む半導体装置に関する。上記硬化性樹脂組成物から半導体装置を得る方法としては、上記半導体封止材料を注型、或いはトランスファー成形機、射出成形機などを用いて成形し、さらに50〜200℃で2〜10時間の間、加熱する方法が挙げられる。
2. 2. Semiconductor device The present invention relates to a semiconductor device containing a cured product obtained by heating and curing the semiconductor encapsulant. As a method for obtaining a semiconductor device from the curable resin composition, the semiconductor encapsulant material is cast or molded using a transfer molding machine, an injection molding machine, or the like, and further at 50 to 200 ° C. for 2 to 10 hours. In the meantime, there is a method of heating.

3.プリプレグ
本発明は、補強基材、及び、前記補強基材に含浸した前記硬化性樹脂組成物の半硬化物を有するプリプレグに関する。上記硬化性樹脂組成物からプリプレグを得る方法としては、下記有機溶媒を配合してワニス化した硬化性樹脂組成物を、補強基材(紙、ガラス布、ガラス不織布、アラミド紙、アラミド布、ガラスマット、ガラスロービング布など)に含浸したのち、用いた溶媒種に応じた加熱温度、好ましくは50〜170℃で加熱することによって、得る方法が挙げられる。この時用いる樹脂組成物と補強基材の質量割合としては、特に限定されないが、通常、プリプレグ中の樹脂分が20〜60質量%となるように調製することが好ましい。
3. 3. Prepreg The present invention relates to a prepreg having a reinforcing base material and a semi-cured product of the curable resin composition impregnated in the reinforcing base material. As a method for obtaining a prepreg from the curable resin composition, a curable resin composition varnished by blending the following organic solvent is used as a reinforcing base material (paper, glass cloth, glass non-woven fabric, aramid paper, aramid cloth, glass). A method obtained by impregnating a mat, a glass roving cloth, etc.) and then heating at a heating temperature according to the solvent type used, preferably 50 to 170 ° C. can be mentioned. The mass ratio of the resin composition and the reinforcing base material used at this time is not particularly limited, but it is usually preferable to prepare the resin composition in the prepreg so as to have a mass ratio of 20 to 60% by mass.

ここで用いる有機溶媒としては、メチルエチルケトン、アセトン、ジメチルホルムアミド、メチルイソブチルケトン、メトキシプロパノール、シクロヘキサノン、メチルセロソルブ、エチルジグリコールアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等が挙げられ、その選択や適正な使用量は用途によって適宜選択し得るが、例えば、下記のようにプリプレグからプリント回路基板をさらに製造する場合には、メチルエチルケトン、アセトン、ジメチルホルムアミド等の沸点が160℃以下の極性溶媒を用いることが好ましく、また、不揮発分が40〜80質量%となる割合で用いることが好ましい。 Examples of the organic solvent used here include methyl ethyl ketone, acetone, dimethylformamide, methyl isobutyl ketone, methoxypropanol, cyclohexanone, methyl cellosolve, ethyl diglycol acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and the like. It can be appropriately selected depending on the application, but for example, when further producing a printed circuit board from prepylene as described below, it is preferable to use a polar solvent having a boiling point of 160 ° C. or lower, such as methyl ethyl ketone, acetone, or dimethylformamide. , It is preferable to use the non-volatile content at a ratio of 40 to 80% by mass.

4.回路基板
本発明は、前記プリプレグ、及び、銅箔を積層し、加熱圧着成型して得られる回路基板に関する。上記硬化性樹脂組成物からプリント回路基板を得る方法としては、上記プリプレグを、常法により積層し、適宜銅箔を重ねて、1〜10MPaの加圧下に170〜300℃で10分〜3時間、加熱圧着させる方法が挙げられる。
4. Circuit board The present invention relates to a circuit board obtained by laminating the prepreg and copper foil and heat-pressing molding. As a method for obtaining a printed circuit board from the curable resin composition, the prepregs are laminated by a conventional method, copper foils are appropriately laminated, and the pressure is 170 to 300 ° C. for 10 minutes to 3 hours under a pressure of 1 to 10 MPa. , A method of heat-bonding can be mentioned.

5.フレキシルブル配線基板
上記硬化性樹脂組成物からフレキシルブル配線基板を製造する方法としては、以下に示す3つの工程からなる方法で製造されるものが挙げられる。第1の工程は、活性エステル、エポキシ樹脂、及び有機溶媒を配合した硬化性樹脂組成物を、リバースロールコータ、コンマコータ等の塗布機を用いて、電気絶縁性フィルムに塗布する工程であり、第2の工程は、加熱機を用いて60〜170℃で1〜15分間の間、硬化性樹脂組成物が塗布された電気絶縁性フィルム加熱し、電気絶縁性フィルムから溶媒を揮発させて、硬化性樹脂組成物をB−ステージ化する工程であり、第3の工程は、硬化性樹脂組成物がB−ステージ化された電気絶縁性フィルムに、加熱ロール等を用いて、接着剤に金属箔を熱圧着(圧着圧力は2〜200N/cm、圧着温度は40〜200℃が好ましい)する工程である。なお、上記3つの工程を経ることで、十分な接着性能が得られれば、ここで終えても構わないが、完全接着性能が必要な場合は、さらに100〜200℃で1〜24時間の条件で後硬化させることが好ましい。最終的に硬化させた後の硬化性樹脂組成物膜の厚みは、5〜100μmの範囲が好ましい。
5. Flexible wiring board As a method for manufacturing a flexible wiring board from the curable resin composition, there is a method manufactured by a method consisting of the following three steps. The first step is a step of applying a curable resin composition containing an active ester, an epoxy resin, and an organic solvent to an electrically insulating film using a coating machine such as a reverse roll coater or a comma coater. In the second step, the electrically insulating film coated with the curable resin composition is heated at 60 to 170 ° C. for 1 to 15 minutes using a heater, and the solvent is volatilized from the electrically insulating film to cure the film. The third step is to B-stage the sex resin composition, and the third step is to use a heating roll or the like on an electrically insulating film in which the curable resin composition is B-staged, and to use a metal foil as an adhesive. Is a step of thermal crimping (preferably a crimping pressure of 2 to 200 N / cm and a crimping temperature of 40 to 200 ° C.). If sufficient adhesive performance can be obtained by going through the above three steps, it may be finished here, but if complete adhesive performance is required, the condition is further at 100 to 200 ° C. for 1 to 24 hours. It is preferable to post-cure with. The thickness of the curable resin composition film after the final curing is preferably in the range of 5 to 100 μm.

6.ビルドアップ基板
上記硬化性樹脂組成物からビルドアップ基板を製造する方法としては、以下に示す3つの工程からなる方法で製造されるものが挙げられる。第1の工程は、ゴム、フィラーなどを適宜配合した上記硬化性樹脂組成物を、回路を形成した回路基板にスプレーコーティング法、カーテンコーティング法等を用いて塗布した後、硬化させる工程であり、第2の工程は、その後、必要に応じて所定のスルーホール部等の穴あけを行った後、粗化剤により処理し、その表面を湯洗することによって、凹凸を形成させ、銅などの金属をめっき処理する工程であり、第3の工程は、このような操作を所望に応じて順次繰り返し、樹脂絶縁層及び所定の回路パターンの導体層を交互にビルドアップして形成する工程である。なお、スルーホール部の穴あけは、最外層の樹脂絶縁層の形成後に行うことが好ましい。第一の工程は、上述の溶液塗布によるもの以外にも、あらかじめ所望の厚みに塗工して乾燥したビルドアップフィルムのラミネートによる方法でも行うことができる。また、本発明のビルドアップ基板は、銅箔上で当該樹脂組成物を半硬化させた樹脂付き銅箔を、回路を形成した配線基板上に、170〜250℃で加熱圧着することで、粗化面を形成、メッキ処理の工程を省き、ビルドアップ基板を製造することも可能である。
6. Build-up substrate As a method for producing a build-up substrate from the above-mentioned curable resin composition, a method comprising the following three steps can be mentioned. The first step is a step of applying the above-mentioned curable resin composition appropriately containing rubber, filler and the like to a circuit substrate on which a circuit is formed by using a spray coating method, a curtain coating method, or the like, and then curing the curable resin composition. In the second step, after that, if necessary, a predetermined through hole portion or the like is drilled, treated with a roughening agent, and the surface thereof is washed with hot water to form irregularities, and a metal such as copper is formed. The third step is a step of sequentially repeating such an operation as desired to alternately build up and form a resin insulating layer and a conductor layer having a predetermined circuit pattern. It is preferable that the through-hole portion is drilled after the resin insulating layer of the outermost layer is formed. In addition to the above-mentioned solution coating, the first step can also be performed by laminating a build-up film that has been previously coated to a desired thickness and dried. Further, the build-up substrate of the present invention is coarsely formed by heat-pressing a copper foil with a resin, which is a semi-cured resin composition on a copper foil, onto a wiring board on which a circuit is formed at 170 to 250 ° C. It is also possible to manufacture a build-up substrate by forming a chemical surface and omitting the plating process.

7.ビルドアップフィルム
本発明は、前記硬化性樹脂組成物を含有するビルドアップフィルムに関する。本発明のビルドアップフィルムを製造する方法としては、上記硬化性樹脂組成物を、支持フィルム上に塗布し、硬化性樹脂組成物層を形成させて多層プリント配線板用の接着フィルムとすることにより製造する方法が挙げられる。
7. Build-up film The present invention relates to a build-up film containing the curable resin composition. As a method for producing the build-up film of the present invention, the curable resin composition is applied onto a support film to form a curable resin composition layer to form an adhesive film for a multilayer printed wiring board. The manufacturing method can be mentioned.

硬化性樹脂組成物からビルドアップフィルムを製造する場合、該フィルムは、真空ラミネート法におけるラミネートの温度条件(通常70〜140℃)で軟化し、回路基板のラミネートと同時に、回路基板に存在するビアホール、あるいは、スルーホール内の樹脂充填が可能な流動性(樹脂流れ)を示すことが肝要であり、このような特性を発現するよう上記各成分を配合することが好ましい。 When a build-up film is produced from a curable resin composition, the film is softened under the temperature conditions of laminating (usually 70 to 140 ° C.) in the vacuum laminating method, and the via holes existing in the circuit board are present at the same time as laminating the circuit board. Alternatively, it is important to show fluidity (resin flow) capable of filling the through hole with the resin, and it is preferable to add each of the above components so as to exhibit such characteristics.

ここで、多層プリント配線板のスルーホールの直径は、通常0.1〜0.5mm、深さは通常0.1〜1.2mmであり、通常この範囲で樹脂充填を可能とするのが好ましい。なお回路基板の両面をラミネートする場合はスルーホールの1/2程度充填されることが望ましい。 Here, the diameter of the through hole of the multilayer printed wiring board is usually 0.1 to 0.5 mm, and the depth is usually 0.1 to 1.2 mm, and it is usually preferable to enable resin filling in this range. .. When laminating both sides of a circuit board, it is desirable to fill about 1/2 of the through holes.

上記した接着フィルムを製造する方法は、具体的には、ワニス状の上記硬化性樹脂組成物を調製した後、支持フィルム(Y)の表面に、このワニス状の組成物を塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶媒を乾燥させて硬化性樹脂組成物からなる組成物層(X)を形成させることにより製造することができる。 Specifically, in the method for producing the above-mentioned adhesive film, after preparing the above-mentioned curable resin composition in the form of a varnish, the varnish-like composition is applied to the surface of the support film (Y) and further heated. Alternatively, it can be produced by drying an organic solvent by blowing hot air or the like to form a composition layer (X) made of a curable resin composition.

形成される組成物層(X)の厚さは、通常、導体層の厚さ以上とすることが好ましい。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層の厚さは10〜100μmの厚みを有するのが好ましい。 The thickness of the composition layer (X) to be formed is usually preferably equal to or greater than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the thickness of the resin composition layer is preferably 10 to 100 μm.

なお、本発明における組成物層(X)は、後述する保護フィルムで保護されていてもよい。保護フィルムで保護することにより、樹脂組成物層表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。 The composition layer (X) in the present invention may be protected by a protective film described later. By protecting with a protective film, it is possible to prevent dust and the like from adhering to the surface of the resin composition layer and scratches.

上記した支持フィルム及び保護フィルムは、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、更には離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを挙げることができる。なお、支持フィルム及び保護フィルムはマッド処理、コロナ処理の他、離型処理を施してあってもよい。 The above-mentioned support film and protective film include polyolefins such as polyethylene, polypropylene and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter, may be abbreviated as "PET"), polyesters such as polyethylene naphthalate, polycarbonate, polyimide, and further. Examples include metal foils such as patterns, copper foils, and aluminum foils. The support film and the protective film may be subjected to a mold release treatment in addition to the mud treatment and the corona treatment.

支持フィルムの厚さは特に限定されないが、通常10〜150μmであり、好ましくは25〜50μmの範囲で用いられる。また保護フィルムの厚さは1〜40μmとするのが好ましい。 The thickness of the support film is not particularly limited, but is usually 10 to 150 μm, and is preferably used in the range of 25 to 50 μm. The thickness of the protective film is preferably 1 to 40 μm.

上記した支持フィルム(Y)は、回路基板にラミネートした後に、或いは加熱硬化することにより絶縁層を形成した後に、剥離される。接着フィルムを加熱硬化した後に支持フィルム(Y)を剥離すれば、硬化工程でのゴミ等の付着を防ぐことができる。硬化後に剥離する場合、通常、支持フィルムには予め離型処理が施される。 The above-mentioned support film (Y) is peeled off after being laminated on a circuit board or after forming an insulating layer by heat curing. If the support film (Y) is peeled off after the adhesive film is heat-cured, it is possible to prevent dust and the like from adhering in the curing step. When peeling after curing, the support film is usually subjected to a mold release treatment in advance.

8.多層プリント配線板
なお、上記のようして得られたフィルムを用いて多層プリント配線板を製造することもできる。そのような多層プリント配線板の製造方法は、例えば、組成物層(X)が保護フィルムで保護されている場合はこれらを剥離した後、組成物層(X)を回路基板に直接、回路基板の片面又は両面に、例えば真空ラミネート法によりラミネートする。ラミネートの方法はバッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。またラミネートを行う前に接着フィルム及び回路基板を必要により加熱(プレヒート)しておいてもよい。
8. Multi-layer printed wiring board It is also possible to manufacture a multi-layer printed wiring board using the film obtained as described above. In the method of manufacturing such a multilayer printed wiring board, for example, when the composition layer (X) is protected by a protective film, the composition layer (X) is directly attached to the circuit board after peeling off the protective film. It is laminated on one side or both sides of the above, for example, by a vacuum laminating method. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll. Further, the adhesive film and the circuit board may be preheated if necessary before laminating.

ラミネートの条件は、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力を好ましくは1〜11kgf/cm(9.8×10〜107.9×10N/m)とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートすることが好ましい。 The laminating conditions were preferably a crimping temperature (laminating temperature) of 70 to 140 ° C. and a crimping pressure of 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107.9 × 10 4 N / m 2 ). , It is preferable to laminate under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less.

9.繊維強化複合材料
上記硬化性樹脂組成物から繊維強化複合材料を製造する方法としては、硬化性樹脂組成物を構成する各成分を均一に混合してワニスを調製し、次いでこれを強化繊維からなる強化基材に含浸した後、重合反応させることにより製造することができる。
9. Fiber-reinforced composite material As a method for producing a fiber-reinforced composite material from the curable resin composition, a varnish is prepared by uniformly mixing each component constituting the curable resin composition, and then the varnish is composed of reinforced fibers. It can be produced by impregnating a reinforced base material and then reacting with a polymerization reaction.

かかる重合反応を行う際の硬化温度は、具体的には、50〜250℃の温度範囲であることが好ましく、特に、50〜100℃で硬化させ、タックフリー状の硬化物にした後、更に、120〜200℃の温度条件で処理することが好ましい。 Specifically, the curing temperature at the time of carrying out such a polymerization reaction is preferably in the temperature range of 50 to 250 ° C., and in particular, after curing at 50 to 100 ° C. to form a tack-free cured product, further , It is preferable to treat at a temperature condition of 120 to 200 ° C.

ここで、強化繊維は、有撚糸、解撚糸、又は無撚糸などいずれでも良いが、解撚糸や無撚糸が、繊維強化プラスチック製部材の成形性と機械強度を両立することから、好ましい。さらに、強化繊維の形態は、繊維方向が一方向に引き揃えたものや、織物が使用できる。織物では、平織り、朱子織りなどから、使用する部位や用途に応じて自由に選択することができる。具体的には、機械強度や耐久性に優れることから、炭素繊維、ガラス繊維、アラミド繊維、ボロン繊維、アルミナ繊維、炭化ケイ素繊維などが挙げられ、これらの2種以上を併用することもできる。これらの中でもとりわけ成形品の強度が良好なものとなる点から炭素繊維が好ましく、かかる、炭素繊維は、ポリアクリロニトリル系、ピッチ系、レーヨン系などの各種のものが使用できる。中でも、容易に高強度の炭素繊維が得られるポリアクリロニトリル系のものが好ましい。ここで、ワニスを強化繊維からなる強化基材に含浸して繊維強化複合材料とする際の強化繊維の使用量は、該繊維強化複合材料中の強化繊維の体積含有率が40〜85%の範囲となる量であることが好ましい。 Here, the reinforcing fiber may be twisted yarn, untwisted yarn, untwisted yarn, or the like, but untwisted yarn or untwisted yarn is preferable because it has both formability and mechanical strength of the fiber-reinforced plastic member. Further, as the form of the reinforcing fiber, a fiber whose fiber direction is aligned in one direction or a woven fabric can be used. For woven fabrics, plain weaves, satin weaves, and the like can be freely selected according to the part to be used and the intended use. Specific examples thereof include carbon fiber, glass fiber, aramid fiber, boron fiber, alumina fiber, silicon carbide fiber and the like because of their excellent mechanical strength and durability, and two or more of these can be used in combination. Among these, carbon fiber is particularly preferable from the viewpoint of improving the strength of the molded product, and various carbon fibers such as polyacrylonitrile-based, pitch-based, and rayon-based can be used. Of these, polyacrylonitrile-based ones, which can easily obtain high-strength carbon fibers, are preferable. Here, the amount of the reinforcing fiber used when the varnish is impregnated into the reinforcing base material made of the reinforcing fiber to form a fiber-reinforced composite material is such that the volume content of the reinforcing fiber in the fiber-reinforced composite material is 40 to 85%. The amount is preferably in the range.

10.繊維強化樹脂成形品
上記硬化性樹脂組成物から繊維強化樹脂成形品を製造する方法としては、型に繊維骨材を敷き、上記ワニスを多重積層してゆくハンドレイアップ法やスプレーアップ法、オス型・メス型のいずれかを使用し、強化繊維からなる基材にワニスを含浸させながら積み重ねて成形、圧力を成形物に作用させることのできるフレキシブルな型をかぶせ、気密シールしたものを真空(減圧)成型する真空バッグ法、あらかじめ強化繊維を含有するワニスをシート状にしたものを金型で圧縮成型するSMCプレス法、繊維を敷き詰めた合わせ型に上記ワニスを注入するRTM法などにより、強化繊維に上記ワニスを含浸させたプリプレグを製造し、これを大型のオートクレーブで焼き固める方法などが挙げられる。なお、上記で得られた繊維強化樹脂成形品は、強化繊維と硬化性樹脂組成物の硬化物とを有する成形品であり、具体的には、繊維強化樹脂成形品中の強化繊維の量は、40〜70質量%の範囲であることが好ましく、強度の点から50〜70質量%の範囲であることが特に好ましい。
10. Fiber-reinforced resin molded product As a method for producing a fiber-reinforced resin molded product from the curable resin composition, a hand lay-up method, a spray-up method, or a male method in which a fiber aggregate is laid on a mold and the varnish is laminated in multiple layers. Using either a mold or a female mold, the base material made of reinforced fibers is impregnated with varnish and molded, and a flexible mold that can apply pressure to the molded product is put on and the airtightly sealed one is vacuumed. (Reduced pressure) Reinforced by the vacuum bag method for molding, the SMC press method in which a varnish containing reinforcing fibers is preliminarily made into a sheet and compression molded with a mold, and the RTM method in which the varnish is injected into a combined mold in which fibers are spread. Examples thereof include a method of producing a prepreg in which fibers are impregnated with the above varnish and baking the prepreg with a large autoclave. The fiber-reinforced resin molded product obtained above is a molded product having a reinforcing fiber and a cured product of a curable resin composition. Specifically, the amount of the reinforcing fiber in the fiber-reinforced resin molded product is , 40 to 70% by mass, and particularly preferably 50 to 70% by mass from the viewpoint of strength.

11.その他
上記で半導体封止材料等を製造する方法について説明したが、硬化性樹脂組成物からその他の硬化物を製造することもできる。その他の硬化物の製造方法としては、一般的な硬化性樹脂組成物の硬化方法に準拠することにより製造することができる。例えば加熱温度条件は、組み合わせる硬化剤の種類や用途等によって、適宜選択すればよい。
11. Others Although the method for producing a semiconductor encapsulating material or the like has been described above, other cured products can also be produced from the curable resin composition. As another method for producing a cured product, it can be produced by complying with a general curing method for a curable resin composition. For example, the heating temperature conditions may be appropriately selected depending on the type and application of the curing agent to be combined.

次に本発明を実施例、及び、比較例により具体的に説明するが、以下において「部」及び「%」は特に断わりのない限り質量基準である。なお、GPC測定、H−NMR測定、13C−NMR測定、FD−MSスペクトル測定、軟化点、及び、リン含有率に関しては、以下に示す条件等や、以下に示す計算式に基づき、算出した。 Next, the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples, but in the following, "part" and "%" are based on mass unless otherwise specified. The GPC measurement, 1 H-NMR measurement, 13 C-NMR measurement, FD-MS spectrum measurement, softening point, and phosphorus content are calculated based on the conditions shown below and the formula shown below. did.

<GPC測定>
以下の測定装置、測定条件を用いて測定し、以下に示す合成例・実施例等で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体、リン含有ジオール、リン含有活性エステル、及び、リン含有活性エステル合成時に使用する中間体、及び目的とする化合物のGPCチャートを得た。前記GPCチャートの結果より、原料ピークの減少及び消失から、目的生成物が生成していることを確認した。
測定装置:東ソー株式会社製「HLC−8320 GPC」
カラム:東ソー株式会社製ガードカラム「HXL−L」+東ソー株式会社製「TSK−GEL G2000HXL」+東ソー株式会社製「TSK−GEL G2000HXL」+東ソー株式会社製「TSK−GEL G3000HXL」+東ソー株式会社製「TSK−GEL G4000HXL」
検出器:RI(示差屈折計)
データ処理:東ソー株式会社製「GPCワークステーション EcoSEC−WorkStation」
測定条件:カラム温度 40℃
展開溶媒 テトラヒドロフラン
流速 1.0ml/分
標準:前記「GPCワークステーション EcoSEC−WorkStation」の測定マニュアルに準拠して、分子量が既知の下記の単分散ポリスチレンを用いた。
(使用ポリスチレン)
東ソー株式会社製「A−500」
東ソー株式会社製「A−1000」
東ソー株式会社製「A−2500」
東ソー株式会社製「A−5000」
東ソー株式会社製「F−1」
東ソー株式会社製「F−2」
東ソー株式会社製「F−4」
東ソー株式会社製「F−10」
東ソー株式会社製「F−20」
東ソー株式会社製「F−40」
東ソー株式会社製「F−80」
東ソー株式会社製「F−128」
試料:以下に示す合成例・実施例等で得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体、リン含有ジオール、リン含有活性エステル、及び、リン含有活性エステル合成時に使用する中間体の固形分換算で1.0質量%のテトラヒドロフラン溶液をマイクロフィルターでろ過したもの(50μl)を使用した。
<GPC measurement>
Measured using the following measuring device and measurement conditions, and used during the synthesis of the isophthalate diphenyl derivative, phosphorus-containing diol, phosphorus-containing active ester, and phosphorus-containing active ester obtained in the following synthesis examples and examples. GPC charts of intermediates and compounds of interest were obtained. From the results of the GPC chart, it was confirmed that the target product was produced from the decrease and disappearance of the raw material peak.
Measuring device: "HLC-8320 GPC" manufactured by Tosoh Corporation
Column: Guard column "HXL-L" manufactured by Tosoh Corporation + "TSK-GEL G2000HXL" manufactured by Tosoh Corporation + "TSK-GEL G2000HXL" manufactured by Tosoh Corporation + "TSK-GEL G3000HXL" manufactured by Tosoh Corporation + Tosoh Corporation Made by "TSK-GEL G4000HXL"
Detector: RI (Differential Refractometer)
Data processing: "GPC Workstation EcoSEC-WorkStation" manufactured by Tosoh Corporation
Measurement conditions: Column temperature 40 ° C
Developing solvent Tetrahydrofuran
Flow rate 1.0 ml / min Standard: The following monodisperse polystyrene with a known molecular weight was used in accordance with the measurement manual of the above-mentioned "GPC workstation EcoSEC-WorkStation".
(Polystyrene used)
"A-500" manufactured by Tosoh Corporation
"A-1000" manufactured by Tosoh Corporation
"A-2500" manufactured by Tosoh Corporation
"A-5000" manufactured by Tosoh Corporation
"F-1" manufactured by Tosoh Corporation
"F-2" manufactured by Tosoh Corporation
"F-4" manufactured by Tosoh Corporation
"F-10" manufactured by Tosoh Corporation
"F-20" manufactured by Tosoh Corporation
"F-40" manufactured by Tosoh Corporation
"F-80" manufactured by Tosoh Corporation
"F-128" manufactured by Tosoh Corporation
Sample: 1.0 mass in terms of solid content of the isophthalic acid diphenyl derivative, phosphorus-containing diol, phosphorus-containing active ester, and intermediate used in the synthesis of the phosphorus-containing active ester obtained in the synthesis examples and examples shown below. A solution obtained by filtering the% tetrahydrofuran solution with a microfilter (50 μl) was used.

H−NMR測定>
H−NMR:JEOL RESONANCE製「JNM−ECA600」
磁場強度:600MHz
積算回数:32回
溶媒:DMSO−d6
試料濃度:30質量%
前記H―NMRチャートの結果より、目的生成物由来のピークが確認でき、各反応における目的生成物が得られたことを確認した。
< 1 1 H-NMR measurement>
1 1 H-NMR: "JNM-ECA600" manufactured by JEOL RESONANCE
Magnetic field strength: 600MHz
Number of integrations: 32 times Solvent: DMSO-d6
Sample concentration: 30% by mass
From the results of the 1 H-NMR chart, it was confirmed that the peak derived from the target product was confirmed, and that the target product was obtained in each reaction.

13C−NMR測定>
13C−NMR:JEOL RESONANCE製「JNM−ECA600」
磁場強度:150MHz
積算回数:320回
溶媒:DMSO−d6
試料濃度:30質量%
前記13C―NMRチャートの結果より、目的生成物由来のピークが確認でき、各反応における目的生成物が得られたことを確認した。
< 13 C-NMR measurement>
13 C-NMR: "JNM-ECA600" manufactured by JEOL RESONANCE
Magnetic field strength: 150MHz
Number of integrations: 320 times Solvent: DMSO-d6
Sample concentration: 30% by mass
From the results of the 13 C-NMR chart, it was confirmed that the peak derived from the target product was confirmed, and that the target product was obtained in each reaction.

<FD−MSスペクトル測定>
FD−MSスペクトルは、以下の測定装置、測定条件を用いて測定した。
測定装置:JMS−T100GC AccuTOF
測定条件
測定範囲:m/z=4.00〜2000.00
変化率:51.2mA/min
最終電流値:45mA
カソード電圧:−10kV
記録間隔:0.07sec
前記FD−MSスペクトルの結果より、目的生成物由来のピークが確認でき、各反応における目的生成物が得られたことを確認した。
<FD-MS spectrum measurement>
The FD-MS spectrum was measured using the following measuring device and measuring conditions.
Measuring device: JMS-T100GC AccuTOF
Measurement conditions Measurement range: m / z = 4.00 to 2000.0
Rate of change: 51.2mA / min
Final current value: 45mA
Cathode voltage: -10kV
Recording interval: 0.07 sec
From the results of the FD-MS spectrum, it was confirmed that the peak derived from the target product was confirmed, and that the target product was obtained in each reaction.

<軟化点>
JIS K7234に準拠して、測定した。
<Softening point>
Measured according to JIS K7234.

<理論リン含有率>
理論リン含有率(%)=100×[リン含有原料の仕込み量(質量部)×(リン含有原料のリン含有率(質量%)/100)]/(リン含有原料を用いて合成されるリン含有化合物の理論収量)
なお、前記リン含有原料のリン含有率は、商品を使用する場合は、商品カタログ値を使用した。
前記リン含有化合物とは、実施例及び比較例で使用するリン含有ジオール、リン含有活性エステル、及び、リン含有中間体を指す。
<Theoretical phosphorus content>
Theoretical phosphorus content (%) = 100 x [Phosphorus-containing raw material charged (parts by mass) x (Phosphorus content of phosphorus-containing raw material (mass%) / 100)] / (Phosphorus synthesized using phosphorus-containing raw material Theoretical yield of contained compound)
For the phosphorus content of the phosphorus-containing raw material, the product catalog value was used when the product was used.
The phosphorus-containing compound refers to a phosphorus-containing diol, a phosphorus-containing active ester, and a phosphorus-containing intermediate used in Examples and Comparative Examples.

合成例1:イソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、攪拌器を取り付けたフラスコに、o−クレゾール864.0g(8.0モル)とトルエン4140.0gを仕込み、系内を減圧窒素置換し、溶解させた。次いで、イソフタル酸クロリド808g(酸クロリド基のモル数:4.0モル)を仕込み、系内を減圧窒素置換し溶解させた。その後、テトラブチルアンモニウムブロマイド(以下、「TBAB」)2.07gを溶解させ、窒素ガスパージを施しながら、系内を60℃以下に制御して、20%水酸化ナトリウム水溶液1648.0gを3時間かけて滴下した。次いでこの条件下で1.0時間攪拌を続けた。反応終了後、静置分液し、水層を取り除いた。更に反応物が溶解しているトルエン層に水を投入して約15分間攪拌混合し、静置分液して水層を取り除いた。水層のpHが7になるまでこの操作を繰り返した。その後、デカンタ脱水、脱溶剤で水分とトルエンを除去し、結晶性化合物であるイソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)を得た。得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)の活性エステル当量は、仕込み比から173g/eqであった。図1に得られたイソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)のGPCチャートを、図2にH−NMRチャートを、図3にFD−MSスペクトルチャートを示す。
Synthesis Example 1: Synthesis of diphenyl isophthalate derivative (A-1) o-cresol 864.0 g (8.0 mol) and toluene were placed in a flask equipped with a thermometer, a dropping funnel, a cooling tube, a fractionation tube, and a stirrer. 4140.0 g was charged, and the inside of the system was replaced with reduced pressure toluene to dissolve it. Next, 808 g of isophthalic acid chloride (number of moles of acid chloride group: 4.0 mol) was charged, and the inside of the system was replaced with nitrogen under reduced pressure to dissolve it. Then, 2.07 g of tetrabutylammonium bromide (hereinafter referred to as "TBAB") was dissolved, and the inside of the system was controlled to 60 ° C. or lower while purging with nitrogen gas, and 1648.0 g of a 20% sodium hydroxide aqueous solution was applied over 3 hours. And dropped. Then, stirring was continued for 1.0 hour under this condition. After completion of the reaction, the solution was statically separated and the aqueous layer was removed. Further, water was added to the toluene layer in which the reaction product was dissolved, and the mixture was stirred and mixed for about 15 minutes, and the solution was allowed to stand and separated to remove the aqueous layer. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Then, water and toluene were removed by decanter dehydration and solvent removal to obtain a diphenyl isophthalate derivative (A-1) which is a crystalline compound. The active ester equivalent of the obtained isophthalic acid diphenyl derivative (A-1) was 173 g / eq from the charging ratio. The GPC chart of the diphenyl derivative (A-1) obtained in FIG. 1 is shown in FIG. 2, the 1 H-NMR chart is shown in FIG. 2, and the FD-MS spectrum chart is shown in FIG.

合成例2:リン含有ジオールの合成:PC−HCA−HQ
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、攪拌器を取り付けたフラスコに、10−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−フォスファフェナントレン−10−オキサイド(三光株式会社製、商品名:HCA−HQ)200.0g、炭酸プロピレン156.4gとトリフェニルホスフィン(以下TPP)1.07gを仕込み、190℃まで昇温し、反応が終了するまで反応させて、リン含有ジオール(PC−HCA−HQ)を得た。得られたリン含有ジオール(PC−HCA−HQ)の理論リン含有率(含有量)は7.06質量%であり、水酸基当量は253g/eqであった。図4に得られたPC−HCA−HQのGPCチャートを、図5に13C−NMRチャートを、図6にFD−MSスペクトルチャートを示す。
Synthesis Example 2: Synthesis of phosphorus-containing diol: PC-HCA-HQ
In a flask equipped with a thermometer, a dropping funnel, a cooling tube, a fractionation tube, and a stirrer, 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10- Add 200.0 g of oxide (manufactured by Sanko Co., Ltd., trade name: HCA-HQ), 156.4 g of propylene carbonate and 1.07 g of triphenylphosphine (hereinafter TPP), heat the temperature to 190 ° C., and react until the reaction is completed. To obtain a phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (PC-HCA-HQ) was 7.06% by mass, and the hydroxyl group equivalent was 253 g / eq. The GPC chart of the obtained PC-HCA-HQ is shown in FIG. 4, the 13 C-NMR chart is shown in FIG. 5, and the FD-MS spectrum chart is shown in FIG.

実施例1:リン含有活性エステル(B−1)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、攪拌器を取り付けたフラスコに、合成例1で得られたイロフタル酸ジフェニル誘導体A−1を137.0g、合成例2で得られたリン含有ジオールPC−HCA−HQを100.0gと触媒としてジアザビシクロウンデセン(以下、「DBU」と略記する。)0.24gを仕込み、190℃まで昇温し、3時間反応させた。その後、減圧蒸留にてo−クレゾールを除去しながら更に反応させることで、リン含有活性エステル(B−1)を得た。得られたリン含有活性エステル(B−1)の理論リン含有率(含有量)は3.63質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は486g/eqであり、軟化点は110℃であった。図7に得られた活性エステル(B−1)のGPCチャートを、図8に13C−NMRチャートを、図9にFD−MSスペクトルチャートを示す。
Example 1: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-1) The diphenyl derivative A-1 irophthalate obtained in Synthesis Example 1 was placed in a flask equipped with a thermometer, a dropping funnel, a cooling tube, a fractionation tube, and a stirrer. 137.0 g, 100.0 g of the phosphorus-containing diol PC-HCA-HQ obtained in Synthesis Example 2, and 0.24 g of diazabicycloundecene (hereinafter abbreviated as "DBU") as a catalyst were charged, and 190. The temperature was raised to ° C. and the reaction was carried out for 3 hours. Then, the phosphorus-containing active ester (B-1) was obtained by further reacting while removing o-cresol by vacuum distillation. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-1) is 3.63% by mass, the functional group equivalent calculated from the charging ratio is 486 g / eq, and the softening point is 110 ° C. Met. The GPC chart of the active ester (B-1) obtained in FIG. 7 is shown, the 13 C-NMR chart is shown in FIG. 8, and the FD-MS spectrum chart is shown in FIG.

合成例3:リン含有ジオールの合成:EC−HCA−HQ
撹拌器を取り付けたナスフラスコにHCA−HQ200g、炭酸エチレン199.5gとTPP0.96gを仕込み、温度計をつけたオイルバスで180℃にて反応終了まで撹拌させて、リン含有ジオール(EC−HCA−HQ)を得た。得られたリン含有ジオール(EC−HCA−HQ)の理論リン含有率(含有量)は7.34質量%であり、水酸基当量が227g/eqであった。図10に得られたリン含有ジオールのGPCチャートを示す。
Synthesis Example 3: Synthesis of phosphorus-containing diol: EC-HCA-HQ
200 g of HCA-HQ, 199.5 g of ethylene carbonate and 0.96 g of TPP were charged in an eggplant flask equipped with a stirrer, and the mixture was stirred at 180 ° C. in an oil bath equipped with a thermometer until the reaction was completed, and a phosphorus-containing diol (EC-HCA) was added. -HQ) was obtained. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (EC-HCA-HQ) was 7.34% by mass, and the hydroxyl group equivalent was 227 g / eq. FIG. 10 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing diol.

実施例2:リン含有活性エステル(B−2)の合成
実施例1に対して、PC−HCA−HQに代えて、EC−HCA−HQ60.0g、イソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)を91.7g、DBUを0.15gに変更した以外、実施例1と同様な操作を行い、リン含有活性エステル(B−2)を得た。得られたリン含有活性エステル(B−2)の理論リン含有率(含有量)は3.58質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は465g/eqであり、軟化点は99℃であった。図11に得られたリン含有活性エステル(B−2)のGPCチャートを示す。
Example 2: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-2) For Example 1, instead of PC-HCA-HQ, EC-HCA-HQ 60.0 g and isophthalic acid diphenyl derivative (A-1) were 91. The same operation as in Example 1 was carried out except that the amount was changed to 0.7 g and DBU was changed to 0.15 g, to obtain a phosphorus-containing active ester (B-2). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-2) is 3.58% by mass, the functional group equivalent calculated from the charging ratio is 465 g / eq, and the softening point is 99 ° C. Met. FIG. 11 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (B-2).

合成例4:リン含有ジオールの合成:PC−HCA−NQ
合成例3に対して、HCA−HQに代えて、10−[2−(ジヒドロキシナフチル)] −9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−フォスファフェナントレン−10−オキサイド(三光株式会社製、商品名:HCA=NQ)と炭酸エチレン68.2g、DBUを0.50gに変更した以外、合成例3と同様な操作を行い、リン含有ジオール(PC−HCA−NQ)を得た。得られたリン含有ジオール(PC−HCA−NQ)の理論リン含有率(含有量)は5.95質量%であり、水酸基当量は245g/eqであり、軟化点は116℃であった。図12に得られたリン含有ジオールのGPCチャートを示す。
Synthesis Example 4: Synthesis of phosphorus-containing diol: PC-HCA-NQ
For Synthesis Example 3, instead of HCA-HQ, 10- [2- (dihydroxynaphthyl)] -9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide (manufactured by Sanko Co., Ltd., A phosphorus-containing diol (PC-HCA-NQ) was obtained by performing the same operation as in Synthesis Example 3 except that the trade name: HCA = NQ), ethylene carbonate 68.2 g, and DBU were changed to 0.50 g. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (PC-HCA-NQ) was 5.95% by mass, the hydroxyl group equivalent was 245 g / eq, and the softening point was 116 ° C. FIG. 12 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing diol.

実施例3:リン含有活性エステル(B−3)の合成
実施例1に対して、PC−HCA−HQに代えて、PC−HCA−NQ71.5g、イソフタル酸ジフェニル誘導体(A−1)を100.9g、DBUを0.34gに変更し、4−ジメチルアミノピリジン(以下DMAP)0.17gを加えた以外、実施例1と同様な操作を行い、リン含有活性エステル(B−3)を得た。得られたリン含有活性エステル(B−3)の理論リン含有率(含有量)は3.03質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は484g/eqであった。図13に得られたリン含有活性エステル(B−3)のGPCチャートを示す。
Example 3: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-3) In place of PC-HCA-HQ, 71.5 g of PC-HCA-NQ and 100 isophthalic acid diphenyl derivative (A-1) were added to Example 1. The same operation as in Example 1 was carried out except that 0.9 g and DBU were changed to 0.34 g and 0.17 g of 4-dimethylaminopyridine (hereinafter DMAP) was added to obtain a phosphorus-containing active ester (B-3). rice field. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-3) was 3.03% by mass, and the functional group equivalent calculated from the charging ratio was 484 g / eq. FIG. 13 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (B-3).

合成例5:リン含有ジオール:PC−PPQ
合成例2に対して、HCA−HQに代えて、ジフェニルホスフィニルハイドロキノン(北興産業株式会社製、商品名:PPQ(商標登録)100.0g、炭酸プロピレン72.4g、TPP0.52gに変更した以外、合成例2と同様な操作を行い、リン含有ジオール(PC−PPQ)を得た。得られたリン含有ジオール(PC−PPQ)の理論リン含有率(含有量)は7.05質量%であり、水酸基当量は208g/eqであり、軟化点は99℃であった。図14に得られたリン含有ジオールのGPCチャートを示す。
Synthesis Example 5: Phosphorus-containing diol: PC-PPQ
Diphenylphosphinyl hydroquinone (manufactured by Hokuko Sangyo Co., Ltd., trade name: PPQ (trademark registration) 100.0 g, propylene carbonate 72.4 g, TPP 0.52 g) was changed to Synthesis Example 2 in place of HCA-HQ. A phosphorus-containing diol (PC-PPQ) was obtained by performing the same operation as in Synthesis Example 2. The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing diol (PC-PPQ) was 7.05% by mass. The hydroxyl group equivalent was 208 g / eq, and the softening point was 99 ° C.. FIG. 14 shows the GPC chart of the obtained phosphorus-containing diol.

実施例4:リン含有活性エステル(B−4)の合成
実施例1に対して、PC−HCA−HQに代えて、PC−PPQ70.0g、イソフタル酸ジフェニル誘導体A−1を116.5g、DBUを1.86gに変更した以外、実施例1と同様な操作を行い、リン含有活性エステル(B−4)を得た。得られたリン含有活性エステル(B−4)の理論リン含有率(含有量)は3.28質量%であり、仕込み比より計算した官能基当量は447g/eqであった。図15に得られたリン含有活性エステル(B−4)のGPCチャートを示す。
Example 4: Synthesis of phosphorus-containing active ester (B-4) For Example 1, instead of PC-HCA-HQ, 70.0 g of PC-PPQ, 116.5 g of isophthalic acid diphenyl derivative A-1, and DBU. Was changed to 1.86 g, and the same operation as in Example 1 was carried out to obtain a phosphorus-containing active ester (B-4). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (B-4) was 3.28% by mass, and the functional group equivalent calculated from the charging ratio was 447 g / eq. FIG. 15 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (B-4).

比較合成例1:中間体(C−1)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、撹拌器を取り付けたフラスコに、ジシクロペンタジエンとフェノールの重付加反応樹脂(水酸基当量:165g/eq、軟化点85℃)330gとトルエン1184gを仕込み、系内を減圧窒素置換し溶解させた。次いで、イソフタル酸クロライド101gを仕込みその後、TBABを0.59g仕込み、窒素ガスパージを施しながら、系内を60℃以下に制御して、20%水酸化ナトリウム水溶液206質量部を3時間かけて滴下した。次いでこの条件下で1.0時間撹拌を続けた。反応終了後、静置分液し、水層を取り除いた。更に反応物が溶解しているトルエン層に水を投入して約15分間撹拌混合し、静置分液して水層を取り除いた。水層のpHが7になるまでこの操作を繰り返した。その後、デカンタ脱水で水分を除去し、続いて減圧脱水でトルエンを除去し、中間体(C―1)を得た。図16に得られた中間体(C―1)のGPCチャートを示す。
Comparative Synthesis Example 1: Synthesis of Intermediate (C-1) A double addition reaction resin of dicyclopentadiene and phenol (hydroxyl equivalent: 165 g) was placed in a flask equipped with a thermometer, a dropping funnel, a cooling tube, a fractionation tube, and a stirrer. (/ Eq, softening point 85 ° C.) 330 g and 1184 g of toluene were charged, and the inside of the system was replaced with reduced pressure nitrogen to dissolve it. Next, 101 g of isophthalic acid chloride was charged, then 0.59 g of TBAB was charged, and the inside of the system was controlled to 60 ° C. or lower while performing nitrogen gas purging, and 206 parts by mass of a 20% sodium hydroxide aqueous solution was added dropwise over 3 hours. .. Then, stirring was continued for 1.0 hour under this condition. After completion of the reaction, the solution was statically separated and the aqueous layer was removed. Further, water was added to the toluene layer in which the reaction product was dissolved, and the mixture was stirred and mixed for about 15 minutes, and the solution was allowed to stand and separated to remove the aqueous layer. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Then, water was removed by decanter dehydration, and then toluene was removed by vacuum dehydration to obtain an intermediate (C-1). FIG. 16 shows a GPC chart of the obtained intermediate (C-1).

比較合成例2:リン含有中間体(C−2)の合成
温度計、冷却管、分留管、撹拌器を取り付けたフラスコに、9,10−ジヒドロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10−オキサイドを77.0g、p−アニスアルデヒド48.5g、中間体(C−1)197.5gを仕込み、90℃に昇温して窒素を吹き込みながら撹拌した。その後、180℃にまで昇温し5時間攪拌した後、更に190℃まで昇温して9時間撹拌した。反応混合物から水を加熱減圧下で除去し、リン含有中間体(C−2)を得た。得られたリン含有中間体の理論リン含有率(含有量)は3.49質量%であった。図17に得られたリン含有中間体(C−2)のGPCチャートを示す。
Comparative Synthesis Example 2: Synthesis of Phosphorus-Containing Intermediate (C-2) In a flask equipped with a thermometer, a cooling tube, a fractionation tube, and a stirrer, 9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene- 77.0 g of 10-oxide, 48.5 g of p-anisaldehyde, and 197.5 g of the intermediate (C-1) were charged, the temperature was raised to 90 ° C., and the mixture was stirred while blowing nitrogen. Then, the temperature was raised to 180 ° C. and stirred for 5 hours, then further raised to 190 ° C. and stirred for 9 hours. Water was removed from the reaction mixture under heating and reduced pressure to obtain a phosphorus-containing intermediate (C-2). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing intermediate was 3.49% by mass. FIG. 17 shows a GPC chart of the obtained phosphorus-containing intermediate (C-2).

比較例1:リン含有活性エステル(C−3)の合成
温度計、滴下ロート、冷却管、分留管、撹拌器を取り付けたフラスコに、リン含有中間体(C−2)193.8gとメチルイソブチルケトン678.0gを仕込み、系内を減圧窒素置換し溶解させた。次いで、安息香酸クロライド42.2gを仕込んだ後、TBAB 0.56gを仕込み、窒素ガスパージを施しながら系内を60℃以下に制御して、20%水酸化ナトリウム水溶液78gを3時間かけて滴下した。次いでこの条件下で1.0時間撹拌を続けた。反応終了後、静置分液して水層を取り除いた。更に反応物が溶解しているメチルイソブチルケトン層に水を投入して約15分間撹拌混合し、静置分液して水層を取り除いた。水層のpHが7になるまでこの操作を繰り返した。その後、デカンタ脱水で水分を除去し、続いて減圧脱水でメチルイソブチルケトンを除去し、リン含有活性エステル(C−3)を得た。得られたリン含有活性エステル(C−3)の理論リン含有率(含有量)は3.01質量%であった。得られたリン含有活性エステル(C−3)のGPCチャートを図18に示す。
Comparative Example 1: Synthesis of phosphorus-containing active ester (C-3) 193.8 g of phosphorus-containing intermediate (C-2) and methyl were placed in a flask equipped with a thermometer, a dropping funnel, a cooling tube, a fractionation tube, and a stirrer. 678.0 g of isobutyl ketone was charged, and the inside of the system was replaced with nitrogen under reduced pressure to dissolve it. Next, after charging 42.2 g of benzoic acid chloride, 0.56 g of TBAB was charged, the inside of the system was controlled to 60 ° C. or lower while performing nitrogen gas purging, and 78 g of a 20% sodium hydroxide aqueous solution was added dropwise over 3 hours. .. Then, stirring was continued for 1.0 hour under this condition. After completion of the reaction, the aqueous layer was removed by static separation. Further, water was added to the methyl isobutyl ketone layer in which the reaction product was dissolved, and the mixture was stirred and mixed for about 15 minutes, and the solution was allowed to stand and separated to remove the aqueous layer. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Then, water was removed by decanter dehydration, and then methyl isobutyl ketone was removed by vacuum dehydration to obtain a phosphorus-containing active ester (C-3). The theoretical phosphorus content (content) of the obtained phosphorus-containing active ester (C-3) was 3.01% by mass. The GPC chart of the obtained phosphorus-containing active ester (C-3) is shown in FIG.

実施例5〜8、及び、比較例2
<硬化性樹脂組成物の調製>
エポキシ樹脂として、DIC株式会社製「EPICLON HP−7200H−75M」(ジシクロペンタジエンとフェノールの重付加反応物のエポキシ樹脂、エポキシ当量276g/eq)、硬化剤として、合成して得られた前記リン含有活性エステルを、下記表1に示す割合でそれぞれは配合し、硬化触媒(硬化促進剤)としてN,N−ジメチルアミノピリジン(DMAP)、もしくは硬化触媒なしで、最終的な不揮発分(N.V.)が58質量%になるようにメチルエチルケトンを配合して硬化性樹脂組成物を調製した。
Examples 5 to 8 and Comparative Example 2
<Preparation of curable resin composition>
As an epoxy resin, "EPICLON HP-7200H-75M" manufactured by DIC Co., Ltd. (epoxy resin of a heavy addition reaction product of dicyclopentadiene and phenol, epoxy equivalent 276 g / eq), and the phosphorus obtained by synthesizing as a curing agent. The contained active esters were blended in the proportions shown in Table 1 below, and N, N-dimethylaminopyridine (DMAP) was used as the curing catalyst (curing accelerator), or the final non-volatile component (N. A curable resin composition was prepared by blending a methyl ethyl ketone so that V.) was 58% by mass.

比較例3
<硬化性樹脂組成物の調製>
エポキシ樹脂として、DIC株式会社製「HP−7200H−75M」(ジシクロペンタジエンとフェノールの重付加反応物のエポキシ樹脂、エポキシ当量276g/eq)、硬化剤としてDIC社製「EPICLON HPC−8000−65T」、下記表1に示す割合でそれぞれは配合し、硬化触媒としてDMAPを加え、最終的な不揮発分(N.V.)が58質量%になるようにメチルエチルケトンを配合して硬化性樹脂組成物を調製した。
Comparative Example 3
<Preparation of curable resin composition>
As an epoxy resin, "HP-7200H-75M" manufactured by DIC Corporation (epoxy resin of a heavy addition reaction product of dicyclopentadiene and phenol, epoxy equivalent 276 g / eq), and as a curing agent, "EPICLON HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation. , Each of which is blended in the proportions shown in Table 1 below, DMAP is added as a curing catalyst, and methyl ethyl ketone is blended so that the final non-volatile content (NV) is 58% by mass to form a curable resin composition. Was prepared.

比較例4
<硬化性樹脂組成物の調製>
エポキシ樹脂として、DIC株式会社製「EPICLON EXA−9726」(リン含有エポキシ樹脂、エポキシ当量494g/eq)、硬化剤としてDIC株式会社製「EPICLON HPC−8000−65T」、下記の表1に示す割合でそれぞれは配合し、硬化触媒としてDMAPを加え、最終的な不揮発分(N.V.)が58質量%になるようにメチルエチルケトンを配合して硬化性樹脂組成物を調製した。
Comparative Example 4
<Preparation of curable resin composition>
As an epoxy resin, "EPICLON EXA-9726" manufactured by DIC Corporation (phosphorus-containing epoxy resin, epoxy equivalent 494 g / eq), as a curing agent, "EPICLON HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation, the ratio shown in Table 1 below. DMAP was added as a curing catalyst, and methyl ethyl ketone was added so that the final non-volatile content (NV) was 58% by mass to prepare a curable resin composition.

<積層板作製条件>
上記得られた硬化性樹脂組成物を用いて、下記の条件で、積層板を作製し、後述する方法で各種評価試験を行った。
基材:日東紡績株式会社製、ガラスクロス「#2116」(210×280mm)
銅箔:JX金属株式会社製「JTCSLC箔」(18μm)
プライ数:6
硬化条件:200℃、29kg/cmで1.5時間
成型後板厚:0.8mm
<Conditions for manufacturing laminated boards>
Using the obtained curable resin composition, a laminated board was prepared under the following conditions, and various evaluation tests were performed by the method described later.
Base material: Glass cloth "# 2116" (210 x 280 mm) manufactured by Nitto Boseki Co., Ltd.
Copper foil: "JTC SLC foil" manufactured by JX Nippon Mining & Metals Co., Ltd. (18 μm)
Number of plies: 6
Curing conditions: 200 ° C, 29 kg / cm 2 for 1.5 hours After molding Plate thickness: 0.8 mm

<誘電特性(誘電率及び誘電正接)の測定>
JIS−C−6481に準拠し、アジレント・テクノロジー株式会社製インピーダンス・マテリアル・アナライザ「HP4291B」により、絶乾後23℃、湿度50%の室内に24時間保管した後の試験片の1GHz、及び、10GHzでの誘電率(Dk)、及び、誘電正接(Df)を測定した。その結果を表2に示した。
<Measurement of dielectric properties (dielectric constant and dielectric loss tangent)>
1 GHz of the test piece after being stored in a room at 23 ° C and 50% humidity after absolute drying by the impedance material analyzer "HP4291B" manufactured by Agilent Technologies Co., Ltd. for 24 hours in accordance with JIS-C-6481, and The permittivity (Dk) and the dielectric loss tangent (Df) at 10 GHz were measured. The results are shown in Table 2.

なお、前記誘電率(Dk)としては、1GHz、及び、10GHzいずれにおいても、好ましくは、4.80以下が好ましく、より好ましくは、4.50以下である。また、前記誘電正接(Df)としては、1GHz、及び、10GHzいずれにおいても、好ましくは、0.0100以下が好ましく、より好ましくは、0.0095以下である。前記誘電率及び誘電正接が低いことで、信号の高速化、高周波数化に対応することができ、好ましい。 The dielectric constant (Dk) is preferably 4.80 or less, more preferably 4.50 or less, at either 1 GHz or 10 GHz. The dielectric loss tangent (Df) is preferably 0.0100 or less, more preferably 0.0095 or less, at either 1 GHz or 10 GHz. Since the dielectric constant and the dielectric loss tangent are low, it is possible to cope with high speed and high frequency of the signal, which is preferable.

<銅箔密着性(ピール強度)>
JIS−6911に準拠し、先で得た積層板を幅10mm、長さ200mmのサイズに切り出し、これを試験片として銅箔のピール強度を測定し、密着性の評価をおこなった。その結果を表2に示した。
<Copper foil adhesion (peel strength)>
According to JIS-6911, the laminated board obtained above was cut into a size of 10 mm in width and 200 mm in length, and the peel strength of the copper foil was measured using this as a test piece to evaluate the adhesion. The results are shown in Table 2.

なお、前記ピール強度としては、好ましくは、0.8kN/m以上であり、より好ましくは、0.90kN/mである。前記範囲内であると、基材と銅箔の密着性が十分担保でき、好ましい。 The peel strength is preferably 0.8 kN / m or more, and more preferably 0.90 kN / m. Within the above range, the adhesion between the base material and the copper foil can be sufficiently ensured, which is preferable.

<層間密着性(層間剥離強度)>
JIS−6911に準拠し、上記得られた銅箔付き積層板を幅10mm、長さ200mmのサイズに切り出し、これを試験片として層間の密着性を測定した。その結果を表2に示した。
<Interlayer adhesion (delamination strength)>
According to JIS-6911, the obtained laminated board with copper foil was cut into a size of 10 mm in width and 200 mm in length, and the adhesion between layers was measured using this as a test piece. The results are shown in Table 2.

なお、前記層間剥離強度としては、好ましくは、1.00kN/m以上であり、より好ましくは、1.20kN/m以上である。 The delamination strength is preferably 1.00 kN / m or more, and more preferably 1.20 kN / m or more.

<難燃性評価>
UL−94試験法に準拠し、試験片5本を用いて燃焼試験を行った。その結果を表2に示した。
<Flame retardance evaluation>
A combustion test was conducted using five test pieces in accordance with the UL-94 test method. The results are shown in Table 2.

Figure 2022001612
Figure 2022001612

Figure 2022001612
注)硬化性樹脂組成物(溶剤を含まない有効成分中)中のリン含有率(質量%)は、原料の仕込み量、及び、前記理論リン含有率に基づき、計算した。また、「測定不可」とは、強度が大きく、測定できなかったことを示し、実用上問題はなく、銅箔への密着性や、積層体間の密着性が高いことを意味する。
Figure 2022001612
Note) The phosphorus content (% by mass) in the curable resin composition (in the active ingredient containing no solvent) was calculated based on the amount of the raw material charged and the theoretical phosphorus content. Further, "unmeasurable" means that the strength is high and the measurement cannot be performed, there is no problem in practical use, and the adhesion to the copper foil and the adhesion between the laminated bodies are high.

上記表2の評価結果より、全ての実施例において、所望のリン含有活性エステルを使用したことで、難燃性、低誘電特性(特に、低誘電正接)、及び、密着性に優れることが確認できた。一方、比較例においては、所望のリン含有活性エステルを使用しなかったため、全ての特性を同時に満足することはできないことが確認された。 From the evaluation results in Table 2 above, it was confirmed that the use of the desired phosphorus-containing active ester in all the examples was excellent in flame retardancy, low dielectric property (particularly, low dielectric loss tangent), and adhesion. did it. On the other hand, in the comparative example, it was confirmed that all the characteristics could not be satisfied at the same time because the desired phosphorus-containing active ester was not used.

本発明のリン含有活性エステルを含有する硬化性樹脂組成物は、その硬化物が優れた難燃性、低誘電特性、及び、密着性に優れることから、電子部材等に好適に使用可能であり、特に、半導体封止材、半導体装置、プレプリグ、フレキシルブル配線基板、回路基板、ビルドアップフィルム、ビルドアップ基板、繊維強化複合材料、及び、成形品などに好適に使用可能である。

The curable resin composition containing the phosphorus-containing active ester of the present invention can be suitably used for electronic members and the like because the cured product has excellent flame retardancy, low dielectric property, and adhesiveness. In particular, it can be suitably used for semiconductor encapsulants, semiconductor devices, prepregs, flexible wiring boards, circuit boards, build-up films, build-up boards, fiber-reinforced composite materials, and molded products.

Claims (10)

リン含有多価アルコール化合物の残基(A)と、芳香族多価カルボン酸の残基(Q)とが、エステル結合を介して結合された構造を有し、かつ、末端が1価の芳香族性水酸基含有化合物の残基(C)で封止されていることを特徴とするリン含有活性エステル。 The residue (A) of the phosphorus-containing polyhydric alcohol compound and the residue (Q) of the aromatic polyvalent carboxylic acid have a structure in which they are bonded via an ester bond, and the terminal is a monovalent fragrance. A phosphorus-containing active ester characterized by being sealed with the residue (C) of the group hydroxyl group-containing compound. 下記一般式(1)で示されることを特徴とする請求項1に記載のリン含有活性エステル。
Figure 2022001612
[上記一般式(1)中、Aは、下記一般式(2)〜(4)のいずれかで示される構造であり、Rは、それぞれ独立して、直鎖又は分岐鎖のアルキレン基であり、Qは、芳香族環であり、xは、0.1以上の平均繰り返し数であり、yは、1以上の平均繰り返し数であり、zは、1以上の平均繰り返し数であり、Arは、下記一般式(5)又は(6)で示される構造であり、
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
上記一般式(2)〜(4)中の♯は、上記一般式(1)中のAと結合する酸素原子との結合部位を表し、上記一般式(5)及び(6)中の*は、上記一般式(1)中のArと結合する酸素原子との結合部位を表し、RbおよびRcは、それぞれ独立して、アルキル基、アルコキシ基、アリル基、アリール基、アリールオキシ基、アラルキル基、又は、ナフチル基であってもよく、RbおよびRcが環状構造を形成してもよい。Raは、それぞれ独立して、ハロゲン原子、アルキル基、アリル基、アルコキシ基、アリール基、アラルキル基、又は、ナフチル基のいずれかであり、sは、0〜7の整数であり、tは、0〜5の整数である。]
The phosphorus-containing active ester according to claim 1, which is represented by the following general formula (1).
Figure 2022001612
[In the above general formula (1), A is a structure represented by any of the following general formulas (2) to (4), and R is an independently linear or branched alkylene group. , Q is an aromatic ring, x is an average number of repetitions of 0.1 or more, y is an average number of repetitions of 1 or more, z is an average number of repetitions of 1 or more, and Ar is an average number of repetitions. , The structure represented by the following general formula (5) or (6).
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
Figure 2022001612
# In the general formulas (2) to (4) represents a bond site between A and an oxygen atom in the general formula (1), and * in the general formulas (5) and (6) is. Represents the bonding site between Ar and the oxygen atom bonded in the above general formula (1), and Rb and Rc independently represent an alkyl group, an alkoxy group, an allyl group, an aryl group, an aryloxy group, and an aralkyl group. , Or it may be a naphthyl group, and Rb and Rc may form a cyclic structure. Ra is independently any of a halogen atom, an alkyl group, an allyl group, an alkoxy group, an aryl group, an aralkyl group, or a naphthyl group, s is an integer of 0 to 7, and t is. It is an integer from 0 to 5. ]
リン含有率が、1.8質量%以上であることを特徴とする請求項1又は2に記載のリン含有活性エステル。 The phosphorus-containing active ester according to claim 1 or 2, wherein the phosphorus content is 1.8% by mass or more. 請求項1〜3のいずれかに記載のリン含有活性エステル、及び、エポキシ樹脂を含有することを特徴とする硬化性樹脂組成物。 A curable resin composition comprising the phosphorus-containing active ester according to any one of claims 1 to 3 and an epoxy resin. 請求項4に記載の硬化性樹脂組成物を硬化反応させたことを特徴とする硬化物。 A cured product obtained by subjecting the curable resin composition according to claim 4 to a curing reaction. 補強基材、及び、前記補強基材に含浸した請求項4に記載の硬化性樹脂組成物の半硬化物を有することを特徴とするプリプレグ。 A prepreg comprising a reinforcing base material and a semi-cured product of the curable resin composition according to claim 4, which is impregnated with the reinforcing base material. 請求項6に記載のプリプレグ、及び、銅箔を積層し、加熱圧着成型して得られることを特徴とする回路基板。 A circuit board obtained by laminating the prepreg and the copper foil according to claim 6 and heat-pressing molding. 請求項4に記載の硬化性樹脂組成物を含有することを特徴とするビルドアップフィルム。 A build-up film comprising the curable resin composition according to claim 4. 請求項4に記載の硬化性樹脂組成物を含有することを特徴とする半導体封止材。 A semiconductor encapsulant comprising the curable resin composition according to claim 4. 請求項9に記載の半導体封止材を加熱硬化した硬化物を含むことを特徴とする半導体装置。

A semiconductor device comprising a cured product obtained by heat-curing the semiconductor encapsulant according to claim 9.

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