JP7356873B2 - Embossed pattern and absorbent article inspection method, and absorbent article manufacturing method - Google Patents

Embossed pattern and absorbent article inspection method, and absorbent article manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
JP7356873B2
JP7356873B2 JP2019206672A JP2019206672A JP7356873B2 JP 7356873 B2 JP7356873 B2 JP 7356873B2 JP 2019206672 A JP2019206672 A JP 2019206672A JP 2019206672 A JP2019206672 A JP 2019206672A JP 7356873 B2 JP7356873 B2 JP 7356873B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
embossed
embossed pattern
liquid
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019206672A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2021081228A (en
Inventor
啓資 古賀
哲平 古澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kao Corp
Original Assignee
Kao Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kao Corp filed Critical Kao Corp
Priority to JP2019206672A priority Critical patent/JP7356873B2/en
Publication of JP2021081228A publication Critical patent/JP2021081228A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7356873B2 publication Critical patent/JP7356873B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Absorbent Articles And Supports Therefor (AREA)

Description

本発明は、エンボスパターン及び吸収性物品の検査方法、並びに吸収性物品の製造方法に関する。 The present invention relates to an embossed pattern and a method for inspecting an absorbent article, and a method for manufacturing an absorbent article.

生理用ナプキン等の吸収性物品は、典型的には、親水性繊維や吸水性ポリマー等の吸収性材料を含有する吸収体と、該吸収体よりも着用者の肌から近い側に配された表面シートと、該吸収体よりも着用者の肌から遠い側に配された防漏シートとを備えている。外観や体液吸収性を向上させるために、着用者の肌側に配される表面シート、あるいは表面シート及び吸収体の双方には、これらが厚み方向に押圧されたエンボス部が形成されることがある。 Absorbent articles such as sanitary napkins typically include an absorbent body containing an absorbent material such as hydrophilic fibers or water-absorbing polymers, and an absorbent body placed on a side closer to the wearer's skin than the absorbent body. It includes a top sheet and a leak-proof sheet placed on a side farther from the wearer's skin than the absorbent body. In order to improve the appearance and absorbency of body fluids, embossed parts may be formed on the top sheet placed on the wearer's skin side, or on both the top sheet and the absorbent body, by pressing these in the thickness direction. be.

このようなエンボス部の形成の良否を検査する方法として、例えば特許文献1には、圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成し、この平面画像データを第1閾値と、第1閾値とは異なる第2閾値に基づいてそれぞれ二値化処理して、圧搾部における穴あき異常や接合異常の有無の判定を行うことが開示されている。 As a method for inspecting the quality of formation of such an embossed part, for example, Patent Document 1 discloses that an area in which a compressed part is formed is imaged, data of a planar image of the area is generated as planar image data, and data of a planar image of the area is generated as planar image data. It is disclosed that the image data is binarized based on a first threshold value and a second threshold value different from the first threshold value to determine the presence or absence of a perforation abnormality or a joint abnormality in the compressed portion.

また特許文献2には、吸収性物品に係る肌側シートに厚み方向に貫通形成された複数の開口部を検査する検査方法が開示されている。この検査方法は、肌側シートが吸収体に重ね合わせられるよりも前に、開口部が形成された領域を撮像して平面画像データを生成し、該平面画像データに基づいて二値化処理を行って二値化画像を生成し、二値化画像に基づいて開口部の異常の有無の判定を行うことが同文献に開示されている。 Further, Patent Document 2 discloses an inspection method for inspecting a plurality of openings formed through the skin-side sheet of an absorbent article in the thickness direction. In this inspection method, before the skin-side sheet is superimposed on the absorbent body, the area where the opening is formed is imaged to generate planar image data, and a binarization process is performed based on the planar image data. This document discloses that a binarized image is generated by performing a binarized image, and the presence or absence of an abnormality in the aperture is determined based on the binarized image.

特開2013-68537号公報Japanese Patent Application Publication No. 2013-68537 特開2013-85759号公報Japanese Patent Application Publication No. 2013-85759

しかし、特許文献1及び2に記載の検査方法では、形成されたエンボス部と、吸収性物品の構成部材に生じる坪量ムラとを区別することなく検査するので、検査工程において坪量ムラによる影響を排除することができず、エンボス部が正常に形成されている位置が形成不良と誤検知されたり、エンボス部が正常に形成されていない位置が形成良好と誤検知されたりする。その結果、吸収性物品の検査精度が悪く、ひいては吸収性物品の生産効率の低下が生じていた。 However, in the inspection methods described in Patent Documents 1 and 2, the formed embossed portions are inspected without distinguishing between the formed embossed portions and the basis weight unevenness that occurs in the constituent members of the absorbent article. cannot be excluded, and a position where an embossed portion is normally formed may be erroneously detected as being poorly formed, or a position where an embossed portion is not normally formed may be erroneously detected as being well formed. As a result, the inspection accuracy of absorbent articles has been poor, and the production efficiency of absorbent articles has been reduced.

したがって、本発明の課題は、従来技術の欠点を解決し得る吸収性物品の検査方法を提供することを目的とする。 Therefore, it is an object of the present invention to provide a method for inspecting absorbent articles that can overcome the drawbacks of the prior art.

本発明は、液保持性の吸収体と液透過性シートとが積層された状態で両者が圧搾されて形成された複数のエンボス部からなるエンボスパターンの良否を検査する方法であって、
前記エンボスパターンを含む領域に光を照射して透過光の画像を取得し、
前記画像をその明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させ、
前記多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させ、
前記二値化画像に基づき前記エンボスパターンの良否を判定する、エンボスパターンの検査方法を提供するものである。
The present invention is a method for inspecting the quality of an embossed pattern consisting of a plurality of embossed parts formed by compressing a liquid-retaining absorbent body and a liquid-permeable sheet in a stacked state, comprising:
irradiating a region including the embossed pattern with light to obtain a transmitted light image;
correcting the image by multi-gradation processing based on its brightness to generate a multi-gradation image;
Binarizing the multi-gradation image based on a preset threshold to generate a binary image;
The present invention provides an emboss pattern inspection method that determines the quality of the emboss pattern based on the binarized image.

また本発明は、液保持性の吸収体と液透過性の表面シートと液不透過性又は液難透過性の裏面シートとを備え、該吸収体と該表面シートとが積層された状態で圧搾されて形成された複数のエンボス部からなるエンボスパターンを有する吸収性物品における該エンボスパターンの良否を検査する方法であって、
前記エンボスパターンを含む領域に光を照射して透過光の画像を取得し、
前記画像をその明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させ、
前記多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させ、
前記二値化画像に基づき前記エンボスパターンの良否を判定する、吸収性物品の検査方法を提供するものである。
Further, the present invention comprises a liquid-retaining absorbent body, a liquid-permeable top sheet, and a liquid-impermeable or barely liquid-permeable back sheet, and the absorbent body and the top sheet are pressed in a laminated state. A method for inspecting the quality of an embossed pattern in an absorbent article having an embossed pattern consisting of a plurality of embossed parts formed by
irradiating a region including the embossed pattern with light to obtain a transmitted light image;
correcting the image by multi-gradation processing based on its brightness to generate a multi-gradation image;
Binarizing the multi-gradation image based on a preset threshold to generate a binary image;
The present invention provides an absorbent article inspection method that determines the quality of the embossed pattern based on the binarized image.

更に本発明は、液保持性の吸収体と液透過性の表面シートとを積層した状態下に両者を圧搾して複数のエンボス部からなるエンボスパターンを形成し、
前記エンボスパターンを含む領域に光を照射して透過光の画像を取得し、
前記画像をその明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させ、
前記多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させ、
前記二値化画像に基づき前記エンボスパターンの良否を判定する工程を有する、吸収性物品の製造方法を提供するものである。
Furthermore, the present invention provides an embossed pattern consisting of a plurality of embossed portions by compressing a liquid-retaining absorbent body and a liquid-permeable surface sheet in a laminated state,
irradiating a region including the embossed pattern with light to obtain a transmitted light image;
correcting the image by multi-gradation processing based on its brightness to generate a multi-gradation image;
Binarizing the multi-gradation image based on a preset threshold to generate a binary image;
The present invention provides a method for manufacturing an absorbent article, which includes a step of determining the quality of the embossed pattern based on the binarized image.

本発明によれば、構成部材の坪量ムラに依存することなく、エンボスパターンの形成状態を精度よく検査することができる。 According to the present invention, the formation state of the embossed pattern can be accurately inspected without depending on the uneven basis weight of the constituent members.

図1は、本発明の対象となる吸収性物品の一実施形態を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of an absorbent article to which the present invention is applied. 図2は、本発明に好適に用いられるエンボスパターン検査装置を備える吸収性物品の製造装置の一実施形態を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing an embodiment of an absorbent article manufacturing apparatus including an embossed pattern inspection apparatus suitably used in the present invention. 図3は、エンボスパターンの形成例における透過光画像、多階調画像及び二値化画像、並びに基準画像を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a transmitted light image, a multi-tone image, a binary image, and a reference image in an example of forming an emboss pattern. 図4(a)ないし(c)は、吸収体と、エンボスパターン及びその重心位置との配置を示す模式図である。FIGS. 4A to 4C are schematic diagrams showing the arrangement of the absorber, the embossed pattern, and its center of gravity.

以下、本発明を、その好ましい実施形態に基づき図面を参照しながら説明する。本発明の吸収性物品の製造方法は、吸収性物品を製造する工程のうちのいずれかの工程で、吸収性物品を構成する材料である液保持性の吸収体と、液透過性シートとが積層された状態で、両者が圧搾されて形成された複数のエンボス部からなるエンボスパターンの良否を判定する工程を備える。 Hereinafter, the present invention will be described based on preferred embodiments thereof with reference to the drawings. In the method for manufacturing an absorbent article of the present invention, a liquid-retaining absorbent body, which is a material constituting the absorbent article, and a liquid-permeable sheet are bonded in one of the steps of manufacturing the absorbent article. The method includes a step of determining the quality of an embossed pattern formed by compressing both layers in a stacked state and formed by a plurality of embossed portions.

本発明の適用対象となる吸収性物品は、身体に装着され、身体から排泄される排泄物を吸収保持する機能を有するものを広く包含する。そのような吸収性物品としては、例えば使い捨ておむつ、生理用ナプキン、失禁パッド、おむつと等と併用される補助パッド(尿取りパッド)、パンティライナ等が挙げられる。 Absorbent articles to which the present invention is applied broadly include those that are worn on the body and have the function of absorbing and retaining excrement excreted from the body. Examples of such absorbent articles include disposable diapers, sanitary napkins, incontinence pads, auxiliary pads (urinary pads) used in conjunction with diapers, panty liners, and the like.

図1には、本発明を適用可能な吸収性物品1の一例として、生理用ナプキンが示されている。同図に示す吸収性物品1は、着用者の腹側から股間部を介して背側に延びる方向に相当する長手方向Xとこれに直交する幅方向Yとを有する縦長の形状をしている。そして吸収性物品1は、着用者の股間部に配される股下部1M並びにその前後に延在する腹側部1F及び背側部1Rを有する。股下部は、吸収性物品の着用時に着用者の排泄部に対向配置される排泄部対向部(図示せず)を有しており、該排泄部対向部は通常、吸収性物品1の長手方向Xの中央部又はその近傍に位置している。 FIG. 1 shows a sanitary napkin as an example of an absorbent article 1 to which the present invention is applicable. The absorbent article 1 shown in the figure has a vertically elongated shape having a longitudinal direction X corresponding to a direction extending from the ventral side of the wearer to the back side via the crotch region and a width direction Y perpendicular to this direction. . The absorbent article 1 has a crotch region 1M disposed in the wearer's crotch region, and a ventral region 1F and a dorsal region 1R extending in front and behind the crotch region 1M. The crotch area has an excretory part facing part (not shown) that is arranged opposite to the wearer's excretory part when the absorbent article is worn, and the excretory part facing part usually extends in the longitudinal direction of the absorbent article 1. It is located at or near the center of X.

同図に示す吸収性物品1は、着用者の肌対向面側に位置する表面シートである液透過性シート2と、非肌対向面側に位置する液不透過性又は液難透過性の裏面シート3と、両シート2,3間に介在配置された液保持性の吸収体4とを備える。液透過性シート2としては、例えば不織布や穿孔フィルムなどを一枚で又は二枚以上を積層して用いることができる。裏面シート3としては、例えば液難透過性のフィルムやスパンボンド・メルトブローン・スパンボンド積層不織布などを用いることができる。液難透過性のフィルムに、複数の微細孔を設け、該フィルムに水蒸気透過性を付与してもよい。吸収性物品の肌触り等を一層良好にする目的で、裏面シートの外面に不織布等の風合いの良好なシートを積層してもよい。 The absorbent article 1 shown in the figure includes a liquid-permeable sheet 2 which is a top sheet located on the side facing the wearer's skin, and a liquid-impermeable or barely liquid-permeable back side located on the non-skin facing side. It includes a sheet 3 and a liquid-retaining absorbent body 4 interposed between the sheets 2 and 3. As the liquid permeable sheet 2, for example, a nonwoven fabric, a perforated film, or the like can be used alone or in a stack of two or more sheets. As the back sheet 3, for example, a liquid-impermeable film, spunbond, meltblown, spunbond laminated nonwoven fabric, etc. can be used. A film having low liquid permeability may be provided with a plurality of micropores to impart water vapor permeability to the film. In order to make the absorbent article even more comfortable to the touch, a sheet with a good texture, such as a nonwoven fabric, may be laminated on the outer surface of the backsheet.

吸収体4は、吸収性コア41を備えている。吸収性コア41は例えばパルプをはじめとするセルロース等の親水性繊維の積繊体、該親水性繊維と吸収性ポリマーとの混合積繊体、吸収性ポリマーの堆積体、2枚の吸収性シート間に吸収性ポリマーが担持された積層構造体などから構成される。吸収性コア41は、少なくともその肌対向面が液透過性のコアラップシート42で覆われていてもよく、肌対向面及び非肌対向面を含む表面の全域がコアラップシートで覆われていてもよい。コアラップシートとしては、例えば親水性繊維からなる薄葉紙や、液透過性を有する不織布などを用いることができる。体液の保持性向上や、着用者へのフィット性等の使用感を向上させる観点から、吸収体4は、低坪量部と、該低坪量部よりも坪量が高い高坪量部とを有することが好ましい。このような構造の吸収体は、例えば特開2013-255567号公報に記載のものを用いることができる。 The absorbent body 4 includes an absorbent core 41. The absorbent core 41 is, for example, a stack of hydrophilic fibers such as cellulose including pulp, a mixed stack of the hydrophilic fibers and an absorbent polymer, a pile of absorbent polymers, or two absorbent sheets. It is composed of a laminated structure with an absorbent polymer supported between them. The absorbent core 41 may have at least its skin-facing surface covered with a liquid-permeable core-wrap sheet 42, and the entire surface including the skin-facing surface and non-skin-facing surface may be covered with the core-wrap sheet. Good too. As the core wrap sheet, for example, thin paper made of hydrophilic fibers, nonwoven fabric having liquid permeability, etc. can be used. From the viewpoint of improving the usability such as improving the retention of body fluids and the fit to the wearer, the absorbent body 4 has a low basis weight part and a high basis weight part whose basis weight is higher than the low basis weight part. It is preferable to have. As an absorber having such a structure, for example, the one described in JP-A No. 2013-255567 can be used.

吸収性物品1は、液透過性シート2と吸収体4とが一体的に、吸収体4の液透過性シート2が配されていない面側に向けて凹陥するように圧搾された複数のエンボス部7を備える。同図に示すエンボス部7は円形状に複数形成されて、平面視において、略楕円状及び円弧状のエンボスパターンの組み合わせとなるように配置されている。 The absorbent article 1 has a plurality of embossments formed by pressing the liquid-permeable sheet 2 and the absorbent core 4 together so that the absorbent core 4 is depressed toward the side on which the liquid-permeable sheet 2 is not disposed. 7. A plurality of embossed portions 7 shown in the figure are formed in a circular shape, and are arranged so as to form a combination of approximately elliptical and arcuate embossed patterns when viewed from above.

上述した液透過性シート2、裏面シート3及び吸収体4に加え、吸収性物品1の具体的な用途に応じ、図1に示すように、防漏カフ8やウイング部9が配されていてもよい。図1に示す防漏カフ8は肌対向面側の長手方向Xに沿う両側部に、長手方向Xに沿って延びるように形成されている。防漏カフ8は、基端部と自由端とを備えている。防漏カフ8は、吸収性物品の肌対向面側に基端部を有し、肌対向面側から起立している。防漏カフは、液抵抗性ないし撥水性で且つ通気性の素材から構成されている。防漏カフの自由端又はその近傍には、糸ゴム等からなる弾性部材を伸長状態で配してもよい。吸収性物品の着用状態においてこの弾性部材が収縮することによって、防漏カフが着用者の身体に向けて起立するようになり、表面シート上に排泄された液が、表面シート上を伝い吸収性物品の幅方向外方へ漏れ出すことが効果的に阻止される。 In addition to the liquid-permeable sheet 2, back sheet 3, and absorbent body 4 described above, leak-proof cuffs 8 and wing portions 9 may be arranged as shown in FIG. 1 depending on the specific use of the absorbent article 1. Good too. The leak-proof cuff 8 shown in FIG. 1 is formed on both sides of the skin-facing surface along the longitudinal direction X so as to extend along the longitudinal direction. The leak-proof cuff 8 has a proximal end and a free end. The leak-proof cuff 8 has a base end on the skin-facing surface side of the absorbent article, and stands up from the skin-facing surface side. The leak-proof cuff is made of a liquid-resistant or water-repellent material that is breathable. An elastic member made of rubber thread or the like may be disposed in a stretched state at or near the free end of the leak-proof cuff. By contracting this elastic member when the absorbent article is worn, the leak-proof cuff stands up toward the wearer's body, and the liquid excreted onto the top sheet flows through the top sheet and absorbs the absorbent material. Leakage outward in the width direction of the article is effectively prevented.

ウイング部9は、吸収性物品の幅方向Yの両側縁から外方に延出する部位であり、例えば吸収性物品1をショーツに装着するときに折り返して、ショーツの股下部の外面に固定される部位である。吸収性物品は更に、非肌対向面の表面に粘着剤層を有していてもよい。粘着剤層は、吸収性物品の着用状態において、該吸収性物品を、下着や別の吸収性物品に固定するために用いられる。 The wing portion 9 is a portion that extends outward from both side edges in the width direction Y of the absorbent article, and is fixed to the outer surface of the crotch portion of the shorts by folding it back when the absorbent article 1 is worn on shorts, for example. This is the part where The absorbent article may further have an adhesive layer on the non-skin facing surface. The adhesive layer is used to fix the absorbent article to underwear or another absorbent article when the absorbent article is worn.

図2には、エンボスパターンの良否を判定する工程で好適に用いられる、エンボスパターンの検査装置を備える吸収性物品の製造装置10の一実施形態が示されている。同図に示す製造装置10は、一方向MDに搬送されている液透過性シート2と吸収体4との積層体1Aに対して複数のエンボス部からなるエンボスパターンを形成するためのエンボスロール部20と、エンボスパターンの形成状態を撮像して画像を取得するための撮像装置30と、所定の撮像領域を照らす光源40とを備えている。 FIG. 2 shows an embodiment of an absorbent article manufacturing apparatus 10 including an emboss pattern inspection device, which is suitably used in the process of determining the quality of an emboss pattern. The manufacturing apparatus 10 shown in the figure includes an embossing roll unit for forming an emboss pattern consisting of a plurality of embossed parts on a laminate 1A of a liquid-permeable sheet 2 and an absorbent body 4 that are being conveyed in one direction MD. 20, an imaging device 30 for capturing an image of the formed state of the embossed pattern, and a light source 40 for illuminating a predetermined imaging area.

エンボスロール部20は、積層体1Aに対してエンボス部を複数形成するためのものである。エンボスロール部20は、目的とするエンボスパターンに対応する形状の凸部が周面に形成されている凸ロール21と、周面が平滑となっているアンビルロール22とを備えており、積層体1Aを各ロール21,22間に導入することによって、積層体1Aを構成する液透過性シート2と吸収体4とが一体的に圧搾されて、エンボス加工が施される。これによって、積層体1Aの液透過性シート2側には、複数のエンボス部からなるエンボスパターンが形成された加工積層体1Bとなる。 The embossing roll part 20 is for forming a plurality of embossing parts on the laminate 1A. The embossing roll unit 20 includes a convex roll 21 having a convex portion formed on its circumferential surface in a shape corresponding to a desired embossing pattern, and an anvil roll 22 having a smooth circumferential surface, and is capable of forming a laminate. 1A between the rolls 21 and 22, the liquid-permeable sheet 2 and the absorbent body 4 constituting the laminate 1A are pressed together and embossed. This results in a processed laminate 1B in which an embossed pattern consisting of a plurality of embossed portions is formed on the liquid-permeable sheet 2 side of the laminate 1A.

撮像装置30は、一方向MDに搬送されている加工積層体1Bのエンボスパターンの形成状態を撮像して、画像を取得するものである。撮像装置30は、レンズ及び光電変化部を備えており、搬送されている加工積層体1Bを静止画像として撮像できる装置である。このような撮像装置としては、例えば光電変換素子を備えるエリアカメラやラインスキャンカメラなどが挙げられる。光電変換素子は、電荷結合素子(CCD)であってもよく、あるいはCMOSセンサであってもよい。光電変換素子は、RGBカラーでの階調表現ができる光電変換素子であってもよく、256階調のグレースケールでの階調表現ができる光電変換素子であってもよく、好ましくは更に高階調な階調表現ができる光電変換素子であってもよい。 The imaging device 30 captures an image of the formed state of the embossed pattern on the processed laminate 1B being conveyed in one direction MD. The imaging device 30 is equipped with a lens and a photoelectric conversion section, and is a device that can image the processed laminate 1B being transported as a still image. Examples of such an imaging device include an area camera and a line scan camera that include a photoelectric conversion element. The photoelectric conversion element may be a charge coupled device (CCD) or a CMOS sensor. The photoelectric conversion element may be a photoelectric conversion element capable of expressing gradations in RGB colors, or may be a photoelectric conversion element capable of expressing gradations in a gray scale of 256 gradations, preferably with even higher gradations. It may also be a photoelectric conversion element that can express various gradations.

光源40は、撮像装置30における撮像領域を照らすものであれば、その配置位置、光源の色及び光源の形に特に制限はない。配置位置としては、例えば図2に示すように、撮像装置30と光源40とを対向して配置し、これらの間を加工積層体1Bが移動できるように配置されて、透過光の画像を取得してもよく、これに代えて、光源40からの光の射出方向の前面又は背面に撮像装置30を配置して、反射光の画像を取得してもよい。いずれの場合であっても、撮像装置30及び光源40は、搬送される加工積層体1Bと距離を隔てた位置に配置されていることが好ましい。 As long as the light source 40 illuminates the imaging area of the imaging device 30, there are no particular limitations on its arrangement position, color, and shape of the light source. As for the arrangement position, for example, as shown in FIG. 2, the imaging device 30 and the light source 40 are arranged facing each other, and the processed laminate 1B is arranged so as to be able to move between them to obtain an image of transmitted light. Alternatively, the imaging device 30 may be placed on the front or back side in the direction in which light is emitted from the light source 40, and an image of reflected light may be obtained. In either case, it is preferable that the imaging device 30 and the light source 40 be placed at a position separated from the processed laminate 1B being transported.

撮像装置30におけるエンボスパターンの撮像をより鮮明なものとする観点から、光源40は、撮像装置30と対向して配置し、撮像装置30と光源との間を加工積層体1Bが移動できるように配置されていることが好ましい。また、吸収体4における液透過性シート2が配されている面側に撮像装置30を配置し、且つ液透過性シート2が配されていない面側に光源40を配置することも好ましい。撮像装置30と光源40とをこのように配置することによって、撮像された画像におけるエンボスパターンを明瞭に描出できるとともに、吸収性物品を構成する液透過性シートや吸収体等の部材に存在する意図しない坪量ムラや、該部材に意図的に形成した設計坪量差に起因するエンボスパターンの描出への悪影響を低減することができるという利点がある。撮像装置30及び光源40は、それぞれ後述する制御部50に電気的に接続されていてもよい。 From the viewpoint of making the imaging of the embossed pattern clearer in the imaging device 30, the light source 40 is arranged to face the imaging device 30, so that the processed laminate 1B can move between the imaging device 30 and the light source. It is preferable that the It is also preferable to arrange the imaging device 30 on the side of the absorber 4 on which the liquid-permeable sheet 2 is arranged, and to arrange the light source 40 on the side on which the liquid-permeable sheet 2 is not arranged. By arranging the imaging device 30 and the light source 40 in this way, it is possible to clearly depict the embossed pattern in the captured image, and also to clearly depict the embossed pattern in the absorbent article, such as the liquid-permeable sheet and the absorbent body. There is an advantage in that it is possible to reduce the adverse effects on the depiction of the embossed pattern caused by uneven basis weights caused by unevenness in basis weight or differences in designed basis weight intentionally formed in the member. The imaging device 30 and the light source 40 may be electrically connected to a control unit 50, which will be described later.

吸収性物品の製造過程における加工積層体1Bの撮像を経時的に行いつつ、撮像によって得られた画像から加工積層体1Bのエンボスパターンの形成状態をリアルタイムに判定可能とする観点から、製造装置10は、制御部50を備えていることが好ましい。図2に示す制御部50は、撮像装置30に接続されている。制御部50の内部には、例えば電気信号処理部、記憶部、画像処理部、濃淡処理部、二値化処理部、演算部、解析部、判定処理部及び電気信号発信部等の複数の構成部を有しており(図示せず)、撮像装置30から伝送された電気信号を画像化し、画像処理ができるようになっている。 The manufacturing apparatus 10 has been developed from the viewpoint of being able to determine in real time the formation state of the embossed pattern of the processed laminate 1B from the images obtained by imaging while taking images of the processed laminate 1B over time during the manufacturing process of an absorbent article. It is preferable that the control unit 50 is provided. The control unit 50 shown in FIG. 2 is connected to the imaging device 30. Inside the control unit 50, there are a plurality of components, such as an electrical signal processing unit, a storage unit, an image processing unit, a grayscale processing unit, a binarization processing unit, an arithmetic unit, an analysis unit, a determination processing unit, and an electrical signal transmission unit. It has a section (not shown) that can convert electrical signals transmitted from the imaging device 30 into images and perform image processing.

制御部50は、撮像装置30及び光源40と電気的にそれぞれ接続して、撮像装置30から制御部50に伝送された電気信号及びその解析結果に基づいて、積層体1A及び加工積層体1Bの搬送速度の調整、並びにエンボスロール部20のロール間隔の調整がそれぞれ自動的に行われるようになっていてもよい。また図2に示すように、制御部50とアンビルロール22との間にエンコーダ51を設けて、アンビルロール22の回転状態をエンコーダ51で検出して、その検出信号に基づいて、撮像装置30における撮像のタイミングを制御部50によって制御することができる。 The control unit 50 is electrically connected to the imaging device 30 and the light source 40, and controls the laminate 1A and the processed laminate 1B based on the electrical signals transmitted from the imaging device 30 to the control unit 50 and the analysis results thereof. The conveyance speed and the roll interval of the embossing roll section 20 may be adjusted automatically. Further, as shown in FIG. 2, an encoder 51 is provided between the control unit 50 and the anvil roll 22, the rotation state of the anvil roll 22 is detected by the encoder 51, and based on the detection signal, the rotation state of the anvil roll 22 is detected. The timing of imaging can be controlled by the control unit 50.

制御部50は、例えば、画像処理ソフトウェア等がインストールされたコンピュータや画像コントローラをもとに構築した装置などを用いることができる。また、制御部50にはインターフェース(図示せず)が接続されており、インターフェースを介して人手によって入力された電気信号に基づいて制御部50を制御可能としたり、制御部50から発信された電気信号に基づいて、加工積層体1Bに形成されたエンボスパターンに関する警告や不具合等をインターフェースに表示可能としたりすることができる。 The control unit 50 may be, for example, a computer installed with image processing software or the like, or a device constructed based on an image controller. In addition, an interface (not shown) is connected to the control unit 50, and the control unit 50 can be controlled based on electrical signals input manually via the interface, and electric signals transmitted from the control unit 50 can be controlled. Based on the signal, warnings, problems, etc. regarding the embossed pattern formed on the processed laminate 1B can be displayed on the interface.

吸収性物品1の製造工程においては、積層体1Aを圧搾してエンボスパターンを形成して加工積層体1Bとしたあと、更に裏面シート3を配する工程を行ってもよい。図2に示す製造装置10は、裏面シート3を供給する供給ロール60と、加工積層体1Bにおける液透過性シート2と裏面シート3とを所定の位置で切断するカッター部70とを、撮像装置30及び光源40の配置位置よりも下流側に備えている。供給ロール60から繰り出された裏面シート3は、加工積層体1Bの吸収体4における液透過性シート2が配されていない側の面に当接するように配され、加工積層体1Bとともに積層された状態で搬送される。カッター部70は、カッターロール71と、該ロール71と対向して配される平滑ロール72とを備え、これらのロール71、72の間に加工積層体1B及び裏面シート3を供給して、吸収体4の存在しない位置で液透過性シート2と裏面シート3とを切断して、吸収性物品1とする。 In the manufacturing process of the absorbent article 1, after the laminate 1A is compressed to form an embossed pattern to form the processed laminate 1B, a step of disposing the back sheet 3 may be further performed. The manufacturing apparatus 10 shown in FIG. 2 connects a supply roll 60 that supplies the backsheet 3 and a cutter section 70 that cuts the liquid-permeable sheet 2 and the backsheet 3 at predetermined positions in the processed laminate 1B to an imaging device. 30 and the light source 40 on the downstream side. The back sheet 3 fed out from the supply roll 60 was arranged so as to come into contact with the surface of the absorber 4 of the processed laminate 1B on the side where the liquid-permeable sheet 2 was not arranged, and was laminated together with the processed laminate 1B. transported in the same condition. The cutter section 70 includes a cutter roll 71 and a smooth roll 72 disposed opposite to the roll 71, and supplies the processed laminate 1B and the back sheet 3 between these rolls 71 and 72 to absorb the The liquid-permeable sheet 2 and the back sheet 3 are cut at a position where the body 4 is not present to obtain an absorbent article 1.

次に、上述の製造装置10を用いた場合において、エンボスパターンの良否を判定する方法について説明する。本方法は、エンボスパターンを含む領域に光を照射して透過光の画像を取得する工程と、該画像をその明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させる工程と、該多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させる工程と、該二値化画像に基づき前記エンボスパターンの良否を判定する工程とを備える。 Next, a method for determining the quality of an embossed pattern when using the above-described manufacturing apparatus 10 will be described. This method includes the steps of: irradiating a region including an embossed pattern with light to obtain a transmitted light image; correcting the image through multi-tone processing based on its brightness to generate a multi-tone image; The method includes the steps of generating a binarized image by performing binarization processing on the multi-gradation image based on a preset threshold value, and determining the quality of the embossed pattern based on the binarized image.

まず、エンボスパターンが形成された加工積層体1Bにおけるエンボスパターンを含む領域に対して、光源40から光を照射して、透過光画像を取得する。透過光画像の取得は、例えばエンボスパターンを形成する複数のエンボス部のうち一部の領域又は、エンボスパターン全体の領域を対象として、該領域を連続的に又は断続的に撮像することによって行うことができる。透過光画像の取得は、一方向MDに搬送されている状態の加工積層体1Bを対象として行ってもよく、静止している加工積層体1Bを対象として行ってもよい。また、撮像対象となるエンボスパターンを含む領域は、エンボスパターンを構成する全てのエンボス部を含む領域であってもよく、エンボスパターンのうち一部のエンボス部を含む領域であってもよい。これによって、エンボスパターンの形成状態に関する透過光画像を取得する。 First, a region including the embossed pattern in the processed laminate 1B on which the embossed pattern has been formed is irradiated with light from the light source 40 to obtain a transmitted light image. Acquisition of the transmitted light image may be performed, for example, by continuously or intermittently imaging a part of a plurality of embossed portions forming an embossed pattern or the entire embossed pattern. I can do it. The transmitted light image may be acquired for the processed laminate 1B that is being transported in one direction MD, or for the processed laminate 1B that is stationary. Further, the region including the embossed pattern to be imaged may be a region including all the embossed portions forming the embossed pattern, or may be a region including some embossed portions of the embossed pattern. As a result, a transmitted light image regarding the state of formation of the embossed pattern is obtained.

透過光画像の取得においては、加工積層体1Bにおける液透過性シート2が配されていない面側から光を照射し、その照射領域における透過光を液透過性シート2が配されている面側から撮像することが好ましい。このように透過光画像を取得することによって、エンボスパターンを明瞭に描出した画像を取得できるとともに、液透過性シートや吸収体等の吸収性物品を構成する部材の加工時のブレによる意図しない坪量ムラや、該部材に意図的に形成した設計坪量差に起因するエンボスパターンの描出への悪影響を低減することができる。このような方法で透過光画像を取得するためには、撮像装置30と光源40との配置位置を適宜変更すればよい。 In acquiring a transmitted light image, light is irradiated from the side of the processed laminate 1B where the liquid-permeable sheet 2 is not arranged, and the transmitted light in the irradiated area is transmitted from the side where the liquid-permeable sheet 2 is arranged. It is preferable to take an image from By acquiring a transmitted light image in this way, it is possible to acquire an image that clearly depicts the embossed pattern, and it is also possible to avoid unintended tsubo due to blurring during processing of components that constitute absorbent articles such as liquid-permeable sheets and absorbers. It is possible to reduce the adverse effects on the depiction of the embossed pattern due to unevenness in quantity and differences in design basis weight intentionally formed in the member. In order to obtain a transmitted light image using such a method, the arrangement positions of the imaging device 30 and the light source 40 may be changed as appropriate.

また、撮像対象となるエンボスパターンを含む領域は、単位面積当たりのエンボス部の数が最も多い領域であることが好ましい。エンボス部の形成は、上述したエンボスロール部20によって連続的に行われることが生産性向上の観点から好適であるところ、エンボス部の数が多く形成される部位は、エンボス形成の際に積層体1Aに対して付与される圧力が積層体1Aの面方向で不均一となって、エンボス部の開口面積及び深さが不十分である等のエンボス部の形成不良が生じる場合がある。この点に関して、単位面積当たりのエンボス部の数が最も多い領域を含む画像を良否判定に供することによって、エンボス部及びエンボスパターンの形成不良が生じる可能性がある部位を重点的に検査することができるので、エンボスパターンの良否をより正確に判定することができる。 Further, it is preferable that the region including the embossed pattern to be imaged is the region having the largest number of embossed portions per unit area. From the viewpoint of improving productivity, it is preferable that the embossed portions be formed continuously by the embossing roll unit 20 described above, but in areas where a large number of embossed portions are formed, the laminate is The pressure applied to the laminate 1A may become non-uniform in the surface direction of the laminate 1A, resulting in formation defects of the embossed portion, such as insufficient opening area and depth of the embossed portion. In this regard, by subjecting the image containing the area with the largest number of embossed areas per unit area to pass/fail determination, it is possible to focus on inspecting areas where embossed areas and embossed pattern formation defects may occur. Therefore, the quality of the embossed pattern can be determined more accurately.

次いで、得られた透過光画像を、その明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させる。多階調処理とは、複数の画素を含む領域におけるピクセル輝度を平滑化する処理を指し、例えば所定の範囲における透過光画像のピクセル輝度の平均値に基づく輝度を処理後画像の輝度として逐次出力する移動平均フィルタ処理や、メディアンフィルタ処理等の既知の処理方法が挙げられる。つまり、本工程における多階調処理は、ピクセル輝度を2階調とする処理、すなわち二値化処理は本工程に包含されない。本処理は、撮像装置30での撮像と並行して制御部50によって行ってもよく、撮像装置30の撮像後に制御部50又は他の画像処理装置を用いて行ってもよい。 Next, the obtained transmitted light image is corrected by multi-gradation processing based on its brightness to generate a multi-gradation image. Multi-gradation processing refers to the process of smoothing pixel brightness in an area containing multiple pixels. For example, the brightness based on the average value of pixel brightness of a transmitted light image in a predetermined range is sequentially output as the brightness of the processed image. Examples of known processing methods include moving average filter processing and median filter processing. In other words, the multi-gradation process in this step does not include the process of converting the pixel brightness into two gradations, that is, the binarization process. This process may be performed by the control unit 50 in parallel with the image capture by the image capture device 30, or may be performed by the control unit 50 or another image processing device after the image capture device 30 captures the image.

透過光画像では、エンボスパターンにおけるエンボス部が形成されている部位は、光の透過率が高いので、当該部位のピクセル輝度は高くなり、画像上では白色成分を多く含む色として表示される。一方で、エンボス部が形成されていない部位や、エンボス部が形成不良となっている部位は、光の透過率が低いので、これらの部位のピクセル輝度はエンボス部が形成されている部位と比較して低くなり、画像上では黒色成分を多く含む色として表示される。これらの他に、撮像対象の加工積層体1Bを構成する液透過性シート2や吸収体4の坪量ムラや設計坪量差に応じて光の透過率が変化するので、透過光画像では、坪量の違いが生じている部位に応じたピクセル輝度が描出される。 In the transmitted light image, the part where the embossed part of the embossed pattern is formed has a high light transmittance, so the pixel brightness of the part is high, and the part is displayed as a color containing a large amount of white component on the image. On the other hand, areas where embossed areas are not formed or areas where embossed areas are poorly formed have low light transmittance, so the pixel brightness of these areas is compared to areas where embossed areas are formed. The color becomes low, and the color is displayed as a color containing a large amount of black component on the image. In addition to these, the light transmittance changes depending on the uneven basis weight and design basis weight difference of the liquid-permeable sheet 2 and absorber 4 that constitute the processed laminate 1B to be imaged, so in a transmitted light image, Pixel brightness is depicted according to the area where the difference in basis weight occurs.

このような透過光画像を明度に基づく多階調処理に供すると、エンボス部の形成位置に依存して、明度に基づく階調値の変化が多階調のグレースケールとして補正されて描出された多階調画像が得られる。例えば、図3に示すような透過光画像を多階調処理に供した場合、エンボス部が形成されていない部位及びエンボス部が形成不良となっている部位(以下、これらの部位を総称して「エンボス部非形成部B1」ともいう)は、ピクセル輝度が低く、且つ隣接する画素の階調値変化が小さくなっているので、該階調値の変化を無くすようにピクセル輝度が平滑化されて、画像上で黒色等の黒色成分が多い部位となるようにピクセル輝度が補正されるようになる。同様に、エンボス部が形成されている部位W1(以下、この部位を「エンボス部形成部W1」ともいう。)は、ピクセル輝度が高く、且つ隣接する画素の階調値変化が小さいので、画像上で白色成分が多い部分となるようにピクセル輝度が補正される。一方、エンボス部非形成部B1とエンボス部形成部W1との境界では、隣接する画素の階調値変化が大きくなっているので、該境界ではピクセル輝度の平滑化は行われず、ピクセル輝度の差として残るように補正される。これによって、エンボス部非形成部B1とエンボス部形成部W1との境界は明瞭に描出され、且つ他の部位では隣接する画素の階調値に応じて平滑化された多階調画像を得ることができる。 When such a transmitted light image is subjected to multi-tone processing based on brightness, changes in tone values based on brightness are corrected and rendered as a multi-tone gray scale, depending on the position where the embossed part is formed. A multi-tone image can be obtained. For example, when a transmitted light image as shown in FIG. In the "non-embossed area B1"), the pixel brightness is low and the change in gradation value of adjacent pixels is small, so the pixel brightness is smoothed to eliminate the change in gradation value. As a result, pixel brightness is corrected so that the area on the image has a large amount of black components such as black. Similarly, in the region W1 where the embossed portion is formed (hereinafter, this region is also referred to as the "embossed portion forming region W1"), the pixel brightness is high and the change in gradation value of adjacent pixels is small, so the image The pixel brightness is corrected so that the upper part has more white components. On the other hand, at the boundary between the non-embossed part B1 and the embossed part W1, the change in the gradation value of adjacent pixels is large, so pixel brightness is not smoothed at this boundary, and the difference in pixel brightness is It is corrected so that it remains as . As a result, the boundary between the embossed part non-formed part B1 and the embossed part formed part W1 is clearly depicted, and other parts are smoothed according to the gradation values of adjacent pixels to obtain a multi-tone image. I can do it.

続いて、得られた多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させて、この二値化画像に基づきエンボスパターンの良否を判定する。二値化処理は、撮像装置30での撮像と並行して制御部50によって行ってもよく、撮像装置30の撮像後に制御部50又は他の画像処理装置を用いて行ってもよい。 Subsequently, the obtained multi-gradation image is subjected to a binarization process based on a preset threshold value to generate a binarized image, and the quality of the emboss pattern is determined based on this binarized image. The binarization process may be performed by the control unit 50 in parallel with imaging by the imaging device 30, or may be performed by the control unit 50 or another image processing device after imaging by the imaging device 30.

二値化処理における閾値は、多階調画像におけるエンボス部形成部W1と、エンボス部非形成部B1とのピクセル輝度境界に予め設定すればよい。このような閾値に基づいて白色と黒色とで二値化した場合、図3に示すように、二値化画像は、エンボス部形成部W1が白色として描出され、エンボス部非形成部B1が黒色として描出される。 The threshold value in the binarization process may be set in advance at the pixel luminance boundary between the embossed portion forming portion W1 and the embossed portion non-forming portion B1 in the multi-tone image. When white and black are binarized based on such a threshold value, as shown in FIG. 3, in the binarized image, the embossed part forming part W1 is depicted as white, and the embossed part non-forming part B1 is depicted as black. It is depicted as.

二値化画像に基づくエンボスパターンの良否の判定は、画像におけるエンボス部の個数、各エンボス部の形成面積及び各エンボス部の形成位置の少なくとも一つに基づいて行われる。エンボスパターンの良否の判定は、エンボス部の個数及び各エンボス部の形成面積、各エンボス部の形成面積及び形成位置、又はエンボス部の個数及び各エンボス部の形成位置の組み合わせで行われることが好ましく、エンボス部の個数、各エンボス部の形成面積及び各エンボス部の形成位置の全てに基づいて行われることが最も好ましい。 The quality of the embossed pattern based on the binarized image is determined based on at least one of the number of embossed parts in the image, the area where each embossed part is formed, and the position where each embossed part is formed. The quality of the embossed pattern is preferably determined based on the number of embossed parts, the area of each embossed part, the area and position of each embossed part, or a combination of the number of embossed parts and the position of each embossed part. , the number of embossed parts, the area where each embossed part is formed, and the position where each embossed part is formed.

エンボス部の個数に基づいて良否判定を行う場合には、例えば、二値化画像において、白色画素が所定面積以上存在する部位をエンボス部が形成された部位と判定するように予め設定しておき、エンボス部が形成された部位と判定された個数を計測する。計測された個数が、画像と同一面積内に存在するエンボス部の設計個数と一致している場合には、エンボスパターンの形成は良好であると判定され、計測された個数とエンボス部の設計個数とが一致していない場合には、エンボスパターンの形成は不良であると判定される。 When making a quality judgment based on the number of embossed parts, for example, in a binarized image, it is set in advance so that a part where white pixels exist over a predetermined area is determined to be a part where an embossed part is formed. , the number of parts determined to be embossed parts is counted. If the measured number matches the designed number of embossed parts existing in the same area as the image, it is determined that the embossed pattern is well formed, and the measured number and the designed number of embossed parts are determined to be good. If they do not match, it is determined that the formation of the embossed pattern is defective.

また、各エンボス部の形成面積に基づいて良否判定を行う場合には、例えば、目的とするエンボスパターンにおけるエンボス部の合計設計面積値に基づく所定の数値範囲を閾値として予め設定しておき、該閾値と、二値化画像における白色画素の総面積とを比較する。二値化画像における白色画素の総面積が閾値面積の範囲内であれば、エンボスパターンの形成は良好であると判定され、二値化画像における白色画素の総面積が閾値面積の範囲外であれば、エンボスパターンの形成は不良であると判定される。 In addition, when making a pass/fail judgment based on the formation area of each embossed part, for example, a predetermined numerical range based on the total design area value of the embossed parts in the target embossed pattern is set in advance as a threshold, and the The threshold value is compared with the total area of white pixels in the binarized image. If the total area of white pixels in the binarized image is within the range of the threshold area, it is determined that the emboss pattern is well formed, and even if the total area of the white pixels in the binarized image is outside the range of the threshold area. For example, it is determined that the formation of the embossed pattern is defective.

同様に、各エンボス部の形成位置に基づいて良否判定を行う場合には、例えば、目的とするエンボスパターンにおける各エンボス部の設計図心位置と、設計図心位置からの所定距離とを閾値として予め設定しておき、設計図心位置と、二値化画像における白色画素によって描出される図形の図心位置とを比較する。設計図心位置と、二値化画像における図心位置とが一致しているか、又は各図心位置のずれが所定距離内に収まっていれば、エンボスパターンの形成は良好であると判定され、各図心位置のずれが所定距離外であれば、エンボスパターンの形成は不良であると判定される。 Similarly, when making a pass/fail judgment based on the formation position of each embossed part, for example, the design centroid position of each embossed part in the target embossed pattern and a predetermined distance from the design centroid position are used as thresholds. The design centroid position is set in advance and the centroid position of the figure drawn by white pixels in the binarized image is compared. If the design centroid position and the centroid position in the binarized image match, or if the deviation of each centroid position is within a predetermined distance, it is determined that the embossed pattern is well formed; If the deviation of each centroid position is outside the predetermined distance, it is determined that the formation of the embossed pattern is defective.

上述のように行われた良否判定の判定過程及びその結果は、制御部50によって演算され、解析される。このとき、二値化画像に基づくエンボスパターンの形成状態が不良又は判定不能と判定されると、制御部50がその判定に基づく電気信号を出力し、撮像装置30の撮像視野や光源40の光量を調整したりする。あるいは、不良と判定された加工積層体1Bを製造ライン外へ排出する。これらの調整は、制御部50に接続されているインターフェースで手動で行ってもよく、制御部50内で自動で行うように制御されていてもよい。 The determination process and result of the pass/fail determination performed as described above are calculated and analyzed by the control unit 50. At this time, if the formation state of the emboss pattern based on the binarized image is determined to be poor or undeterminable, the control unit 50 outputs an electric signal based on the determination, and controls the imaging field of view of the imaging device 30 and the light intensity of the light source 40. or adjust it. Alternatively, the processed laminate 1B determined to be defective is discharged out of the production line. These adjustments may be performed manually using an interface connected to the control unit 50, or may be controlled to be performed automatically within the control unit 50.

これらの良否判定の判定過程及びその結果に関する情報は、制御部50から出力された電気信号を介してインターフェースに表示させることもできる。インターフェースに表示させる情報は、特に制限はなく、例えば加工積層体1Bのエンボスパターンの形成状態が良好である旨を表示したり、エンボスパターンの形成状態が不良となっている旨及びその箇所を表示したり、又はエンボスパターンの形成状態の良否判定が不能である旨を表示したりすることができる。これらの情報は、リアルタイムで表示及び更新されていてもよく、一定時間ごとに表示及び更新されるように設定してもよい。 Information regarding the determination process and results of these pass/fail determinations can also be displayed on the interface via electrical signals output from the control unit 50. The information displayed on the interface is not particularly limited, and for example, it may display that the embossed pattern formation state of the processed laminate 1B is good, or it may display that the embossed pattern formation state is poor and its location. Or, it is possible to display that it is impossible to determine the quality of the embossed pattern. This information may be displayed and updated in real time, or may be set to be displayed and updated at regular intervals.

本技術分野においては、体液の吸収性、肌触り及びフィット性等といった吸収性物品の使用感を向上させることを目的として、エンボスパターンの形成に加えて、液透過性シート及び吸収体等の吸収性物品の各構成部材に、坪量の差を設けるように意図的に設計することがある。また、吸収性物品の各構成部材には、該部材の加工時のブレが発生することがあり、このブレに起因して、意図しない坪量のムラが生じることがある。上述のような坪量差又は坪量ムラが存在する構成部材に対して形成されたエンボスパターンの良否判定を、透過光画像又は反射光画像を他の処理を経ることなく直接二値化処理した二値化画像に基づいて行う場合、エンボスパターンと、坪量差又は坪量ムラとが区別されることなく描出されるので、エンボスパターンの検査を精度よく行うことが困難である。その結果、本来不良品である加工積層体1B又は吸収性物品1を良品として誤判定したり、あるいは本来良品である加工積層体1B又は吸収性物品1を不良品として誤判定したりして、吸収性物品の検査精度が低下するおそれがある。 In this technical field, in addition to forming embossed patterns, in order to improve the usability of absorbent articles such as absorbency of body fluids, texture, fit, etc. Each component of an article may be intentionally designed to have a difference in basis weight. Further, in each component of the absorbent article, wobbling may occur during processing of the member, and this wobbling may cause unintended unevenness in basis weight. To determine the quality of an embossed pattern formed on a component with a difference in basis weight or uneven basis weight as described above, the transmitted light image or reflected light image was directly binarized without undergoing any other processing. When performing inspection based on a binarized image, the emboss pattern and the basis weight difference or basis weight unevenness are depicted without being distinguished, so it is difficult to accurately inspect the emboss pattern. As a result, the processed laminate 1B or absorbent article 1, which is originally a defective product, may be erroneously determined as a good product, or the processed laminate 1B or absorbent article 1, which is originally a good product, may be erroneously determined as a defective product. There is a risk that the inspection accuracy of the absorbent article will decrease.

この点に関して、本方法によれば、透過光画像を多階調処理及び二値化処理して得られた二値化画像を用いることによって、構成部材の坪量差又は坪量ムラの画像描出に起因するエンボスパターン検出の悪影響を低減することができるので、エンボスパターンの形成状態の良否判定を、エンボス部の個数、各エンボス部の形成面積及び各エンボス部の形成位置の少なくとも一つに基づいて精度よく且つ効率的に検査することができる。その結果、吸収性物品の生産効率の向上につながる。特に本発明の好適な態様として、吸収体4に低坪量部と高坪量部とを設けるように設計した場合であっても、エンボスパターン検出の悪影響を低減することができるので、エンボスパターンの形成状態の良否判定を精度よく且つ効率的に検査することができるとともに、製造された吸収性物品は、体液の吸収性、肌触り及びフィット性等の使用感を向上させたものとなる。 In this regard, according to the present method, by using a binarized image obtained by performing multi-gradation processing and binarization processing of a transmitted light image, images of basis weight differences or basis weight unevenness of constituent members can be drawn. Since it is possible to reduce the adverse effects of embossed pattern detection caused by This enables accurate and efficient inspection. As a result, production efficiency of absorbent articles can be improved. Particularly, as a preferred embodiment of the present invention, even if the absorber 4 is designed to have a low basis weight section and a high basis weight section, the adverse effects of embossed pattern detection can be reduced, so the embossed pattern The quality of the formed state of the absorbent article can be accurately and efficiently inspected, and the manufactured absorbent article has improved usability such as absorbency of body fluids, texture, and fit.

エンボスパターンの形成状態の良否を一層精度高く判定する観点から、二値化画像に含まれる情報と、予め設定された基準画像に含まれる情報とを比較して、両者の情報の差異から相関値を算出することが好ましい。相関値を算出するための二値化画像に含まれる情報とは、画像内における白色画素と黒色画素との分布に基づくものであり、これらの分布は二値化画像におけるエンボス部の個数、各エンボス部の形成面積、及び各エンボス部の形成位置と関連するものである。相関値の算出は、例えば、制御部50において、画像処理ソフトウェア等がインストールされたコンピュータや画像コントローラをもとに構築した装置を用いて、演算処理することで行うことができる。 From the perspective of determining the quality of the emboss pattern formation with higher accuracy, the information contained in the binarized image is compared with the information contained in a preset reference image, and a correlation value is calculated from the difference in the information between the two. It is preferable to calculate. The information included in the binarized image for calculating the correlation value is based on the distribution of white pixels and black pixels in the image, and these distributions are based on the number of embossed parts in the binarized image, each This is related to the area where the embossed portions are formed and the position where each embossed portion is formed. Calculation of the correlation value can be performed, for example, by performing arithmetic processing in the control unit 50 using a device constructed based on a computer or an image controller in which image processing software or the like is installed.

相関値の算出は、例えば、制御部50において、画像コントローラ(キーエンス社製、XG-X2900)を用いて行うことができる。この画像コントローラを用いた場合を例にとり、相関値の算出方法を以下に説明する。 Calculation of the correlation value can be performed, for example, in the control unit 50 using an image controller (manufactured by Keyence Corporation, XG-X2900). Taking the case of using this image controller as an example, a method of calculating a correlation value will be described below.

上述した画像コントローラを用いた相関値の算出は、例えば、パターンサーチ計測によって行うことができる。パターンサーチ計測は、検出したいエンボスパターンのモデル画像である基準画像に含まれる情報と、比較対象となる二値化画像に含まれる情報とを制御部50における画像コントローラ内の記憶部に記憶させておき、記憶させた二値化画像の情報の中から、基準画像のエンボスパターンに関する情報に類似する情報を検出し、各情報の差異に基づく相関値を算出するものである。エンボスパターンに関する情報は、画像内における画素の分布に基づくものである。 Calculation of the correlation value using the image controller described above can be performed, for example, by pattern search measurement. In pattern search measurement, information included in a reference image that is a model image of an embossed pattern to be detected and information included in a binarized image to be compared are stored in a storage unit in an image controller in the control unit 50. Then, information similar to information regarding the emboss pattern of the reference image is detected from among the information of the stored binarized image, and a correlation value is calculated based on the difference between each piece of information. Information regarding the emboss pattern is based on the distribution of pixels within the image.

まず、検出したいエンボスパターンのモデル画像である基準画像に含まれる情報を、制御部50における画像コントローラ内の記憶部(図示せず)に予め記憶させる。詳細には、基準画像をインターフェース上に表示させた状態で、該基準画像のエンボスパターンを含む領域をサーチ領域として設定する。その後、サーチ領域内に存在する基準画像のエンボスパターンを囲むパターン領域を設定し、パターン領域内に存在するエンボスパターンに関する情報を記憶部に記憶させる。またこれとは別に、比較対象となる二値化画像に含まれるエンボスパターンに関する情報を記憶部に記憶させる。 First, information included in a reference image, which is a model image of an embossed pattern to be detected, is stored in advance in a storage unit (not shown) in an image controller in the control unit 50. Specifically, with the reference image displayed on the interface, an area including the embossed pattern of the reference image is set as a search area. Thereafter, a pattern area surrounding the emboss pattern of the reference image existing within the search area is set, and information regarding the emboss pattern existing within the pattern area is stored in the storage unit. Separately from this, information regarding the emboss pattern included in the binarized image to be compared is stored in the storage unit.

基準画像は、例えば、エンボスパターンの設計寸法に基づく画像を用いてもよく、エンボスロール部20における凸ロール21の周面に形成された凸部形状に基づく画像を用いてもよく、エンボスパターンが良好に形成されたと判定された加工積層体1B又は吸収性物品1のエンボスパターンに基づく画像を用いてもよい。検査対象となるエンボスパターンの二値化画像と基準画像との比較時において意図しない誤検出を防ぐとともに、演算負荷の軽減を図る観点から、基準画像は、二値化処理された画像を用いることが好ましい。この場合、相関値を算出するための基準画像に含まれる情報とは、画像内における白色画素と黒色画素との分布に基づくものである。 The reference image may be, for example, an image based on the design dimensions of the embossed pattern, or an image based on the shape of the convex portion formed on the circumferential surface of the convex roll 21 in the embossing roll section 20. An image based on the embossed pattern of the processed laminate 1B or absorbent article 1 that has been determined to be well formed may be used. In order to prevent unintended false detections when comparing the binarized image of the embossed pattern to be inspected with the reference image, and to reduce the computational load, use a binarized image as the reference image. is preferred. In this case, the information included in the reference image for calculating the correlation value is based on the distribution of white pixels and black pixels within the image.

次いで、記憶させた二値化画像に含まれる情報の中から、基準画像のエンボスパターンに関する情報に類似する情報を検出させて、相関値を算出する。パターンサーチ計測においては、二値化画像に含まれるエンボスパターンに関する情報を、上述したサーチ領域内でサーチさせて、基準画像のエンボスパターンに関する情報と類似する情報を検出し、両者の情報の差異から、相関値を算出する。両者の情報の差異は、例えば、パターン領域内に存在する白色画素と黒色画素との分布に基づいて、パターン領域の位置座標や傾斜角度等から、特定、比較あるいは算出させることができる。 Next, information similar to information regarding the emboss pattern of the reference image is detected from among the information included in the stored binarized image, and a correlation value is calculated. In pattern search measurement, information about the embossed pattern included in the binarized image is searched within the above-mentioned search area, information similar to the information about the embossed pattern in the reference image is detected, and the information is calculated based on the difference between the two pieces of information. , calculate the correlation value. The difference between the two pieces of information can be specified, compared, or calculated from the position coordinates, inclination angle, etc. of the pattern area, based on the distribution of white pixels and black pixels existing in the pattern area, for example.

相関値は、基準画像におけるエンボスパターン形状に対して、二値化画像におけるエンボスパターン形状の類似性の程度を示す値である。一般的に、相関値は、比較する形状どうしが一致しているほど高い値が算出される。相関値の算出は、例えば、ピクセル輝度に基づく正規化相関や、幾何学形状等を用いた既知のパターンマッチング方法によって行うことができる。上述した画像コントローラを用いて相関値の算出を行う場合、相関値の算出は、例えば、上述した画像コントローラを用いて、パターンサーチ計測ツールによって行うことができる。この場合、相関値は、インターフェース上に表示される計測結果における相関値の数値を読み取ったものとすることができる。 The correlation value is a value indicating the degree of similarity of the emboss pattern shape in the binarized image to the emboss pattern shape in the reference image. Generally, the higher the correlation value is calculated, the more the shapes being compared match each other. The correlation value can be calculated by, for example, normalized correlation based on pixel brightness or a known pattern matching method using geometric shapes. When calculating a correlation value using the image controller described above, the calculation of the correlation value can be performed using, for example, a pattern search measurement tool using the image controller described above. In this case, the correlation value can be obtained by reading the numerical value of the correlation value in the measurement results displayed on the interface.

図3に示すエンボスパターンの形成例1及び形成例2では、基準画像として二値化画像を用いて相関値を算出している。形成例1では、基準画像に対する相関値は53.439と算出される。また、同図に示す形成例2では、基準画像に対する相関値は99.999と算出される。したがって、エンボスパターンの形成例2は、形成例1よりも基準画像との類似性が高いことが判る。 In the emboss pattern formation example 1 and formation example 2 shown in FIG. 3, the correlation value is calculated using a binarized image as the reference image. In Formation Example 1, the correlation value with respect to the reference image is calculated as 53.439. Further, in Formation Example 2 shown in the figure, the correlation value with respect to the reference image is calculated to be 99.999. Therefore, it can be seen that Formation Example 2 of the embossed pattern has higher similarity to the reference image than Formation Example 1.

続いて、上述の方法で得られた相関値と、予め設定された閾値とを比較して、エンボスパターンの良否を判定することが好ましい。本工程における閾値は、目的とするエンボスパターンに応じて適宜変更することができる。閾値の設定は、例えば、目視検査にて形成状態が良好と判定されたエンボスパターンと、基準画像との相関値を予め算出しておき、該相関値を閾値として設定することができる。相関値に基づいてエンボスパターンの良否を判定することによって、エンボス部の個数、形成面積又は形成位置のいずれか一つに基づいてエンボスパターンの良否判定を行った場合と比較して、エンボス部の個数、各エンボス部の形成面積及び各エンボス部の形成位置に基づく判定を一度の工程で行うことができるので、エンボスパターンの良否判定を少ない工程で且つ一層高精度に行うことができる。その結果、吸収性物品の生産効率の更なる向上につながる。 Subsequently, it is preferable to compare the correlation value obtained by the above-described method with a preset threshold value to determine whether the embossed pattern is good or bad. The threshold value in this step can be changed as appropriate depending on the desired embossing pattern. The threshold value can be set, for example, by calculating in advance a correlation value between an emboss pattern whose formation state is determined to be good through visual inspection and a reference image, and setting the correlation value as the threshold value. By determining the quality of the embossed pattern based on the correlation value, the quality of the embossed part can be improved compared to the case where the quality of the embossed pattern is determined based on either the number of embossed parts, the formation area, or the formation position. Since the determination based on the number of embossed parts, the area where each embossed part is formed, and the position where each embossed part is formed can be made in one process, the quality of the embossed pattern can be determined with fewer steps and with higher accuracy. As a result, the production efficiency of absorbent articles can be further improved.

具体例として、相関値の閾値を70.0として設定した場合には、図3に示すエンボスパターンの形成例1では、基準画像に対する相関値は53.439と算出されているので、該相関値は閾値を下回っていると判定され、その結果、形成例1におけるエンボスパターンの形成状態は不良と判定される。また、同図に示すエンボスパターンの形成例2では、基準画像に対する相関値は99.999と算出されているので、該相関値は閾値を上回っていると判定され、その結果、形成例2におけるエンボスパターンの形成状態は良好と判定される。閾値の設定及び良否判定は、例えば、制御部50において行うことができる。 As a specific example, when the threshold value of the correlation value is set as 70.0, the correlation value with respect to the reference image is calculated as 53.439 in the emboss pattern formation example 1 shown in FIG. is determined to be less than the threshold value, and as a result, the formation state of the embossed pattern in Formation Example 1 is determined to be poor. In addition, in Formation Example 2 of the embossed pattern shown in the figure, the correlation value with respect to the reference image is calculated to be 99.999, so it is determined that the correlation value exceeds the threshold value, and as a result, in Formation Example 2 The formation condition of the embossed pattern is determined to be good. The setting of the threshold value and the quality determination can be performed, for example, in the control unit 50.

これまでの説明では、説明の便宜上、エンボスパターンの形成状態の良否判定を、エンボスパターンのうちエンボス部が形成されている特定の領域に着目して行う場合を例にとり説明したが、これに代えて、又はこれに加えて、エンボスパターンの形成状態の良否判定を、エンボスパターン全体を対象として、吸収体4に対するエンボスパターンの重心位置に基づいて行うことも好ましい。エンボスパターンの重心位置に基づく良否判定を行うことによって、エンボス部の形成の良否に加えて、製造装置10におけるエンボスロール部20の回転の位相のズレの有無や、積層体1A及び加工積層体1Bの搬送時のズレの有無を確認することができるので、エンボスパターンが形成された吸収性物品の生産効率を一層高めることができる。 In the explanations so far, for convenience of explanation, we have taken as an example a case in which the quality of the formation state of the embossed pattern is determined by focusing on a specific area where the embossed part is formed in the embossed pattern. Alternatively, or in addition to this, it is also preferable to judge the quality of the formed state of the embossed pattern based on the position of the center of gravity of the embossed pattern with respect to the absorbent body 4 for the entire embossed pattern. By making a quality determination based on the position of the center of gravity of the embossed pattern, in addition to determining the quality of the formation of the embossed part, it is also possible to determine whether or not there is a shift in the rotational phase of the embossing roll part 20 in the manufacturing apparatus 10, and the laminate 1A and processed laminate 1B. Since it is possible to check the presence or absence of misalignment during conveyance, it is possible to further improve the production efficiency of absorbent articles on which embossed patterns are formed.

本工程では、まず、透過光画像における吸収体4の周縁と、背景とのエッジをエッジ検出処理によって検出する。エッジ検出処理とは、画像のピクセル輝度において階調値の変化が大きい部分を検出する処理を指し、例えば一方向における階調値を微分して得られた勾配に基づいて階調値の大きい箇所を抽出していく処理等の既知の検出処理方法が挙げられる。本処理は、撮像装置30の撮像と並行して制御部50によって行ってもよく、撮像装置30の撮像後に制御部50又は他の画像処理装置を用いて行ってもよい。本処理に供される透過光画像は、エンボスパターンを含む領域が撮像領域に含まれることを前提として、吸収体4の周縁と背景とを含む領域も対象として撮像されたものであることが好ましい。また、エッジ検出の精度を高めて、エンボスパターンの良否判定を精度良く行う観点から、透過光画像を多階調処理及び二値化処理して得られた二値化画像をエッジ検出処理に供することが好ましい。 In this step, first, edges between the periphery of the absorber 4 and the background in the transmitted light image are detected by edge detection processing. Edge detection processing refers to the process of detecting areas with large changes in gradation values in the pixel brightness of an image. For example, the edge detection processing refers to the process of detecting areas with large gradation values based on the gradient obtained by differentiating the gradation values in one direction. Examples of known detection processing methods include a process of extracting . This process may be performed by the control unit 50 in parallel with the imaging by the imaging device 30, or may be performed by the control unit 50 or another image processing device after the imaging device 30 takes an image. The transmitted light image to be subjected to this processing is preferably one that has been imaged with an area including the periphery of the absorber 4 and the background as well, on the premise that the area including the embossed pattern is included in the imaging area. . In addition, from the perspective of increasing the accuracy of edge detection and accurately determining the quality of the embossed pattern, the binarized image obtained by performing multi-gradation processing and binarization processing on the transmitted light image is subjected to edge detection processing. It is preferable.

エッジ検出処理は、図4(a)ないし(c)に示すように、吸収体4の周縁及びエンボスパターンを含む領域R1を処理対象として、吸収体4の長手方向Xに沿う両端縁で検出されるエッジE1,E2と、吸収体4の幅方向Yに沿う両端縁で検出されるエッジE3,E4とが少なくとも検出できるように設定しておくことが好ましく、吸収体4の周縁全域をエッジとして検出できるように設定しておくことが更に好ましい。 As shown in FIGS. 4(a) to 4(c), the edge detection process targets the peripheral edge of the absorbent body 4 and a region R1 including the embossed pattern, and detects the edges along the longitudinal direction It is preferable to set the setting so that at least the edges E1 and E2 detected along the width direction Y of the absorbent body 4 and the edges E3 and E4 detected at both ends along the width direction Y of the absorbent body 4 can be detected, and the entire peripheral edge of the absorbent body 4 is set as an edge. It is more preferable to set it so that it can be detected.

次に、エンボスパターンが形成されている領域の重心位置Gを検出する。重心位置の検出は、例えば、エンボスパターンが形成されている領域全体を検出対象とするパターン領域を予め設定しておき、該領域の透過光画像又は二値化画像を得る。そして、得られた透過光画像又は二値化画像におけるエンボスパターンと、基準画像におけるエンボスパターンとを比較して、エンボスパターンの類似性の高い場所を検出し、該基準画像におけるエンボスパターンの重心位置に基づいて、パターン領域の重心位置を検出する方法で行うことができる。エンボスパターンが形成されている領域の重心位置Gが検出不能であった場合、エンボスパターンの形成が不良であると判定させることもできる。重心位置Gの検出及び該検出に基づくエンボスパターンの良否判定は、例えば、制御部50でそれぞれ行うことができる。 Next, the center of gravity position G of the area where the embossed pattern is formed is detected. In detecting the center of gravity position, for example, a pattern area is set in advance to detect the entire area in which the embossed pattern is formed, and a transmitted light image or a binarized image of the area is obtained. Then, the emboss pattern in the obtained transmitted light image or binarized image is compared with the emboss pattern in the reference image, a location with high similarity of the emboss patterns is detected, and the center of gravity of the emboss pattern in the reference image is detected. This can be done by detecting the center of gravity position of the pattern area based on . If the center of gravity position G of the area where the embossed pattern is formed cannot be detected, it may be determined that the embossed pattern is poorly formed. Detection of the center of gravity position G and determination of the quality of the embossed pattern based on the detection can be performed by the control unit 50, for example.

続いて、検出された各エッジの位置と、エンボスパターンの重心位置Gとに基づいて、エンボスパターンの形成状態の良否を判定する。良否判定の方法としては、例えば以下のとおりである。まず、検出された長手方向一端部のエッジE1と重心位置Gとの距離D1、及び長手方向他端部のエッジE2と重心位置Gとの距離D2をそれぞれ画素の合計値に基づいて算出する。同様に、検出された幅方向一端部のエッジE3と重心位置Gとの距離D3、及び長手方向他端部のエッジE4と重心位置Gとの距離D4をそれぞれ画素の合計値に基づいて算出する。算出された各距離D1,D2,D3,D4と、予め設定されている閾値の範囲とを比較して、エンボスパターンの形成状態の良否を判定することができる。 Subsequently, based on the position of each detected edge and the position of the center of gravity G of the embossed pattern, it is determined whether the embossed pattern is in good condition or not. For example, the method for determining quality is as follows. First, a distance D1 between the detected edge E1 at one end in the longitudinal direction and the center of gravity G, and a distance D2 between the edge E2 at the other end in the longitudinal direction and the center of gravity G are calculated based on the total value of pixels. Similarly, the distance D3 between the detected edge E3 at one end in the width direction and the center of gravity position G, and the distance D4 between the detected edge E4 at the other end in the longitudinal direction and the center of gravity position G are calculated based on the total value of the pixels. . By comparing each of the calculated distances D1, D2, D3, and D4 with a preset threshold range, it is possible to determine the quality of the emboss pattern formation.

例えば図4(a)に示すように、距離D1と距離D2とが略一致し、且つ距離D3と距離D4とが略一致しているような場合には、エンボスパターンの形成が良好であると判定される。また、距離D1と距離D2との差の絶対値並びに距離D3と距離D4との差の絶対値をそれぞれ算出し、各絶対値がそれぞれ閾値の範囲内であれば、エンボスパターンの形成が良好であると判定することができる。 For example, as shown in FIG. 4(a), when the distance D1 and the distance D2 substantially match, and the distance D3 and the distance D4 substantially match, the formation of the embossed pattern is considered to be good. It will be judged. In addition, the absolute value of the difference between distance D1 and distance D2 and the absolute value of the difference between distance D3 and distance D4 are respectively calculated, and if each absolute value is within the respective threshold value, it is determined that the embossed pattern is well formed. It can be determined that there is.

一方、例えば図4(b)及び(c)に示すように、距離D1及び距離D2、又は距離D3及び距離D4が一致していないような場合には、エンボスパターンの形成が不良であると判定される。また、距離D1と距離D2との差の絶対値並びに距離D3と距離D4との差の絶対値の少なくとも一方が、閾値の範囲外であれば、エンボスパターンの形成が不良であると判定することができる。上述したエンボスパターンの良否判定は、例えば、制御部50でそれぞれ行うことができる。距離D1及び距離D2に基づく閾値は、例えば吸収体4の長手方向全長に基づいて設定することができる。また、距離D3及び距離D4に基づく閾値は、例えば吸収体4の幅方向全長に基づいて設定することができる。 On the other hand, as shown in FIGS. 4(b) and 4(c), if the distance D1 and the distance D2 or the distance D3 and the distance D4 do not match, it is determined that the formation of the embossed pattern is defective. be done. Further, if at least one of the absolute value of the difference between the distance D1 and the distance D2 and the absolute value of the difference between the distance D3 and the distance D4 is outside the range of the threshold value, it is determined that the formation of the embossed pattern is defective. I can do it. The above-described quality determination of the embossed pattern can be performed by the control unit 50, for example. The threshold value based on the distance D1 and the distance D2 can be set based on the total length of the absorber 4 in the longitudinal direction, for example. Moreover, the threshold value based on the distance D3 and the distance D4 can be set based on the total length of the absorber 4 in the width direction, for example.

以上のとおり、本発明によれば、上述の説明から明らかなとおり、エンボスパターンの検査工程を一工程として備える吸収性物品の製造方法だけでなく、エンボスパターンの検査方法及び吸収性物品の検査方法も提供される。 As described above, according to the present invention, as is clear from the above description, there is provided not only a method for manufacturing an absorbent article that includes an embossed pattern inspection step as one step, but also a method for inspecting an embossed pattern and a method for inspecting an absorbent article. is also provided.

以上、本発明をその好ましい実施形態に基づき説明したが、本発明は前記実施形態に制限されない。例えば、本発明の適用の対象となる吸収性物品として生理用ナプキンを例にとり説明したが、これに限られず、エンボスパターンが形成されている物品であれば、本発明に適用可能である。 Although the present invention has been described above based on its preferred embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments. For example, although a sanitary napkin has been described as an example of an absorbent article to which the present invention is applied, the present invention is not limited to this, and any article on which an embossed pattern is formed can be applied to the present invention.

また、上述したエンボスパターンの良否判定は、吸収性物品1の製造過程において製造される加工積層体1Bを対象として行う場合について説明したが、これに限られず、液透過性シート(表面シート)2と、裏面シート3と、両シート2,3間に介在配置された吸収体4とを備え、エンボスパターンが形成された積層体に対してエンボスパターンの良否判定を行ってもよい。詳細には、エンボスパターンが形成された吸収性物品1に対してエンボスパターンの良否判定を行ってもよい。 Further, although the above-described evaluation of the quality of the embossed pattern was performed on the processed laminate 1B manufactured in the manufacturing process of the absorbent article 1, the present invention is not limited to this. The quality of the embossed pattern may be determined for a laminate including a back sheet 3 and an absorbent body 4 interposed between both sheets 2 and 3, on which an embossed pattern is formed. Specifically, the quality of the embossed pattern may be determined for the absorbent article 1 on which the embossed pattern is formed.

また、エンボスパターンの形成状態の良否判定を、吸収体4に対するエンボスパターンの重心位置に基づいて行う場合には、吸収体の周縁のエッジを検出するように設定し、該エッジで画成される領域の重心位置を吸収体4の重心位置として検出し、その後、吸収体4の重心位置と、エンボスパターンの重心位置Gとの距離に基づいて判定してもよい。 In addition, when determining the quality of the formation state of the embossed pattern based on the position of the center of gravity of the embossed pattern with respect to the absorbent body 4, the edge of the periphery of the absorbent body is set to be detected, and the edge defined by the edge is set to be detected. The position of the center of gravity of the area may be detected as the position of the center of gravity of the absorbent body 4, and then the determination may be made based on the distance between the position of the center of gravity of the absorbent body 4 and the position of the center of gravity G of the embossed pattern.

また、制御部50において、上述した画像コントローラを用いる場合、撮像された透過光画像の多階調処理や二値化処理は、撮像装置30での透過光画像の撮像と並行して、又は透過光画像の撮像後に、制御部50における画像コントローラを用いて行ってもよい。更に、制御部50において、上述した画像コントローラを用いる場合、パターンサーチ計測におけるパターンサーチ方法は、例えば、基準画像と二値化画像のそれぞれについてエッジを検出し、エッジ強度に関する各画像の情報に基づいて、相関値を算出してもよい。 In addition, when the above-described image controller is used in the control unit 50, the multi-gradation processing and the binarization processing of the captured transmitted light image are performed in parallel with the imaging of the transmitted light image by the imaging device 30, or the transmitted light image is The image controller in the control unit 50 may be used after the optical image is captured. Furthermore, when the above-mentioned image controller is used in the control unit 50, the pattern search method in the pattern search measurement is, for example, detecting edges in each of the reference image and the binarized image, and detecting the edges based on the information of each image regarding the edge strength. The correlation value may also be calculated.

1 吸収性物品
1A 積層体
1B 加工積層体
2 液透過性シート(表面シート)
3 裏面シート
4 吸収体
7 エンボス部
10 製造装置
20 エンボスロール部
30 撮像装置
40 光源
W1 エンボス部形成部
B1 エンボス部非形成部
1 Absorbent article 1A Laminate 1B Processed laminate 2 Liquid permeable sheet (top sheet)
3 Back sheet 4 Absorber 7 Embossed part 10 Manufacturing device 20 Embossed roll part 30 Imaging device 40 Light source W1 Embossed part forming part B1 Embossed part non-formed part

Claims (9)

低坪量部と、該低坪量部よりも坪量が高い高坪量部とを有する液保持性の吸収体と液透過性シートとが積層された状態で両者が圧搾されて形成された複数のエンボス部からなるエンボスパターンの良否を検査する方法であって、
前記エンボスパターンを含む領域に光を照射して透過光の画像を取得し、前記画像をその明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させ、
前記多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させ、
前記二値化画像における前記エンボス部の個数、各前記エンボス部の形成面積及び各前記エンボス部の形成位置の少なくとも一つに基づき前記エンボスパターンの良否を判定するとともに、
前記画像における前記吸収体の周縁と、背景とのエッジをエッジ検出処理によって検出し、検出された前記エッジの位置と、前記画像又は前記二値化画像に基づいて検出された前記エンボスパターンの重心位置とに基づいて、エンボスパターンの良否を判定する、エンボスパターンの検査方法。
A liquid-retaining absorbent body having a low basis weight portion and a high basis weight portion having a higher basis weight than the low basis weight portion and a liquid permeable sheet are laminated and then pressed together. A method for inspecting the quality of an embossed pattern consisting of a plurality of embossed parts,
irradiating a region including the embossed pattern with light to obtain a transmitted light image, correcting the image by multi-gradation processing based on its brightness to generate a multi-gradation image;
Binarizing the multi-gradation image based on a preset threshold to generate a binary image;
Determining the quality of the embossed pattern based on at least one of the number of embossed portions in the binarized image, the formation area of each embossed portion, and the formation position of each embossed portion, and
The edge between the periphery of the absorber and the background in the image is detected by edge detection processing, and the position of the detected edge and the center of gravity of the embossed pattern detected based on the image or the binarized image. An emboss pattern inspection method that determines the quality of an emboss pattern based on its position .
前記二値化画像に含まれる情報と、予め設定された基準画像に含まれる情報とを比較して、両者の情報の差異から相関値を算出し、
前記相関値と予め設定された閾値とを比較して、エンボスパターンの良否を判定する、請求項1に記載のエンボスパターンの検査方法。
Comparing the information included in the binarized image and the information included in a preset reference image, calculating a correlation value from the difference in the information between the two,
2. The emboss pattern inspection method according to claim 1, wherein the correlation value is compared with a preset threshold value to determine whether the emboss pattern is good or bad.
前記吸収体における前記液透過性シートが配されていない面側から光を照射し、その照射領域における透過光を前記液透過性シートが配されている面側から撮像して前記画像を取得する、請求項1又は2に記載のエンボスパターンの検査方法。 Light is irradiated from the side of the absorber on which the liquid-permeable sheet is not arranged, and the transmitted light in the irradiated area is imaged from the side on which the liquid-permeable sheet is arranged to obtain the image. , The method for inspecting an embossed pattern according to claim 1 or 2. 前記照射領域のうち、単位面積当たりの前記エンボス部の数が最も多い領域を撮像して前記画像を取得する、請求項に記載のエンボスパターンの検査方法。 The method for inspecting an embossed pattern according to claim 3 , wherein the image is acquired by imaging a region having the largest number of embossed portions per unit area among the irradiation regions. 前記多階調処理において、In the multi-tone processing,
隣接する画素の階調値変化が小さくなっている画素については、該階調値変化を無くすようにピクセル輝度を補正し、For pixels where the change in gradation value of adjacent pixels is small, the pixel brightness is corrected so as to eliminate the change in gradation value,
隣接する画素の階調値変化が大きくなっている画素については、該階調値変化が該ピクセル輝度の差として残るように補正する、請求項1ないし4のいずれか一項に記載のエンボスパターンの検査方法。5. The embossed pattern according to claim 1, wherein for a pixel in which a change in gradation value between adjacent pixels is large, the emboss pattern is corrected so that the change in gradation value remains as a difference in luminance of the pixel. inspection method.
前記吸収体と、前記液透過性シートと、液不透過性又は液難透過性のシートとを備え、複数の前記エンボス部からなる前記エンボスパターンの良否を検査する、請求項1ないしのいずれか一項に記載のエンボスパターンの検査方法。 Any one of claims 1 to 5 , comprising the absorbent body, the liquid-permeable sheet, and a liquid-impermeable or barely liquid-permeable sheet, and the quality of the embossed pattern consisting of a plurality of embossed parts is inspected. The method for inspecting an embossed pattern according to item (1). 低坪量部と、該低坪量部よりも坪量が高い高坪量部とを有する液保持性の吸収体と液透過性の表面シートと液不透過性又は液難透過性の裏面シートとを備え、該吸収体と該表面シートとが積層された状態で圧搾されて形成された複数のエンボス部からなるエンボスパターンを有する吸収性物品における該エンボスパターンの良否を検査する方法であって、
前記エンボスパターンを含む領域に光を照射して透過光の画像を取得し、
前記画像をその明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させ、
前記多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させ、
前記二値化画像における前記エンボス部の個数、各前記エンボス部の形成面積及び各前記エンボス部の形成位置の少なくとも一つに基づき前記エンボスパターンの良否を判定するとともに、
前記画像における前記吸収体の周縁と、背景とのエッジをエッジ検出処理によって検出し、検出された前記エッジの位置と、前記画像又は前記二値化画像に基づいて検出された前記エンボスパターンの重心位置とに基づいて、エンボスパターンの良否を判定する、吸収性物品の検査方法。
A liquid-retentive absorbent body having a low basis weight part and a high basis weight part whose basis weight is higher than the low basis weight part, a liquid-permeable top sheet, and a liquid-impermeable or barely liquid-permeable back sheet. A method for inspecting the quality of an embossed pattern in an absorbent article having an embossed pattern consisting of a plurality of embossed parts formed by compressing the absorbent body and the top sheet in a laminated state, comprising: ,
irradiating a region including the embossed pattern with light to obtain a transmitted light image;
correcting the image by multi-gradation processing based on its brightness to generate a multi-gradation image;
Binarizing the multi-gradation image based on a preset threshold to generate a binary image;
Determining the quality of the embossed pattern based on at least one of the number of embossed portions in the binarized image, the formation area of each embossed portion, and the formation position of each embossed portion, and
The edge between the periphery of the absorber and the background in the image is detected by edge detection processing, and the position of the detected edge and the center of gravity of the embossed pattern detected based on the image or the binarized image. An absorbent article inspection method that determines the quality of an embossed pattern based on its position .
低坪量部と、該低坪量部よりも坪量が高い高坪量部とを有する液保持性の吸収体と液透過性の表面シートとを積層した状態下に両者を圧搾して複数のエンボス部からなるエンボスパターンを形成し、
前記エンボスパターンを含む領域に光を照射して透過光の画像を取得し、
前記画像をその明度に基づく多階調処理によって補正して多階調画像を生成させ、
前記多階調画像を、予め設定された閾値に基づき二値化処理して二値化画像を生成させ、
前記二値化画像における前記エンボス部の個数、各前記エンボス部の形成面積及び各前記エンボス部の形成位置の少なくとも一つに基づき前記エンボスパターンの良否を判定するとともに、
前記画像における前記吸収体の周縁と、背景とのエッジをエッジ検出処理によって検出し、検出された前記エッジの位置と、前記画像又は前記二値化画像に基づいて検出された前記エンボスパターンの重心位置とに基づいて、エンボスパターンの良否を判定する工程を有する、吸収性物品の製造方法。
A liquid-retentive absorbent body having a low basis weight part and a high basis weight part whose basis weight is higher than the low basis weight part and a liquid-permeable surface sheet are laminated and then compressed to produce a plurality of products. An embossed pattern consisting of embossed parts is formed,
irradiating a region including the embossed pattern with light to obtain a transmitted light image;
correcting the image by multi-gradation processing based on its brightness to generate a multi-gradation image;
Binarizing the multi-gradation image based on a preset threshold to generate a binary image;
Determining the quality of the embossed pattern based on at least one of the number of embossed portions in the binarized image, the formation area of each embossed portion, and the formation position of each embossed portion, and
The edge between the periphery of the absorber and the background in the image is detected by edge detection processing, and the position of the detected edge and the center of gravity of the embossed pattern detected based on the image or the binarized image. A method for manufacturing an absorbent article, comprising the step of determining the quality of an embossed pattern based on its position .
前記吸収体と、前記表面シートと、液不透過性又は液難透過性の裏面シートとを備え、複数の前記エンボス部からなるエンボスパターンが形成された吸収性物品を製造する、請求項に記載の吸収性物品の製造方法。 According to claim 8 , an absorbent article is manufactured, comprising the absorbent body, the top sheet, and a liquid-impermeable or barely liquid-permeable back sheet, and in which an embossed pattern consisting of a plurality of the embossed portions is formed. A method of manufacturing the absorbent article described.
JP2019206672A 2019-11-15 2019-11-15 Embossed pattern and absorbent article inspection method, and absorbent article manufacturing method Active JP7356873B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019206672A JP7356873B2 (en) 2019-11-15 2019-11-15 Embossed pattern and absorbent article inspection method, and absorbent article manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019206672A JP7356873B2 (en) 2019-11-15 2019-11-15 Embossed pattern and absorbent article inspection method, and absorbent article manufacturing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021081228A JP2021081228A (en) 2021-05-27
JP7356873B2 true JP7356873B2 (en) 2023-10-05

Family

ID=75964769

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019206672A Active JP7356873B2 (en) 2019-11-15 2019-11-15 Embossed pattern and absorbent article inspection method, and absorbent article manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7356873B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113514369B (en) * 2021-07-22 2024-03-19 福建恒安集团有限公司 Disposable sanitary article usability test method

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000137003A (en) 1998-10-30 2000-05-16 Fujitsu Ltd Pattern inspection method and its device
JP2002189001A (en) 2000-12-21 2002-07-05 Kao Corp Method of inspecting translucent mold surface
JP2003215048A (en) 2002-01-25 2003-07-30 Murata Mfg Co Ltd Defect-part detection method
JP2010026805A (en) 2008-07-18 2010-02-04 Denso Corp Character recognition device and character recognition method
JP2013068537A (en) 2011-09-22 2013-04-18 Uni Charm Corp Apparatus and method for inspecting compression unit of laminated body for absorbent article
JP2013085759A (en) 2011-10-19 2013-05-13 Unicharm Corp Inspection device and inspection method for opening in skin-side sheet of absorbent article
JP2013255567A (en) 2012-06-11 2013-12-26 Kao Corp Absorbent article
JP2014174553A (en) 2013-03-08 2014-09-22 Christie Digital Systems Inc Light shaping for imaging using holography
JP2019039782A (en) 2017-08-24 2019-03-14 花王株式会社 Inspection apparatus and method of powder particle support sheet

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000137003A (en) 1998-10-30 2000-05-16 Fujitsu Ltd Pattern inspection method and its device
JP2002189001A (en) 2000-12-21 2002-07-05 Kao Corp Method of inspecting translucent mold surface
JP2003215048A (en) 2002-01-25 2003-07-30 Murata Mfg Co Ltd Defect-part detection method
JP2010026805A (en) 2008-07-18 2010-02-04 Denso Corp Character recognition device and character recognition method
JP2013068537A (en) 2011-09-22 2013-04-18 Uni Charm Corp Apparatus and method for inspecting compression unit of laminated body for absorbent article
JP2013085759A (en) 2011-10-19 2013-05-13 Unicharm Corp Inspection device and inspection method for opening in skin-side sheet of absorbent article
JP2013255567A (en) 2012-06-11 2013-12-26 Kao Corp Absorbent article
JP2014174553A (en) 2013-03-08 2014-09-22 Christie Digital Systems Inc Light shaping for imaging using holography
JP2019039782A (en) 2017-08-24 2019-03-14 花王株式会社 Inspection apparatus and method of powder particle support sheet

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021081228A (en) 2021-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11813150B2 (en) Patterned apertured webs
JP6088732B2 (en) Inspection device and inspection method for opening of skin side sheet according to absorbent article
JP6063925B2 (en) Absorbent sheet-like member inspection apparatus and inspection method for absorbent articles
US7754940B2 (en) Thin sanitary napkin having protrusions
US20070058840A1 (en) Cascading inspection system and process
JP7356873B2 (en) Embossed pattern and absorbent article inspection method, and absorbent article manufacturing method
JP5836032B2 (en) Inspection device and method for compressing part of laminate of absorbent article
JP5753757B2 (en) Inspection device and inspection method for seal part of absorbent article
JP4859646B2 (en) Defective product detection method and apparatus
JP7245745B2 (en) Method for inspecting and manufacturing sheet-shaped article, and method for manufacturing absorbent article
JP7469001B2 (en) Composite sheet manufacturing method and manufacturing device, and composite sheet inspection method
JP5357496B2 (en) Method for inspecting deposit hardening
JP2021045255A (en) Absorbent article manufacturing method
JP7393903B2 (en) Method for manufacturing a perforated sheet and method for manufacturing an absorbent article containing the perforated sheet as a component
US20210330518A1 (en) Absorbent articles having nonwoven materials with natural fibers
WO2022165742A1 (en) Three dimensional nonwoven and absorbent articles having the same
JP7030914B1 (en) Manufacturing method of sheet-shaped member
JP5198244B2 (en) Method and apparatus for controlling member conveyance path
JP2017226116A (en) Method for inspecting seal edge part of sheet fused body
CN117456565A (en) Palm print palm vein biological recognition device and identity authentication method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220906

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230606

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20230801

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230825

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230919

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230925

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7356873

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151