JP7343262B2 - metal detector - Google Patents
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Description
本発明は金属検出器に係り、特にノイズの影響を抑制する金属検出器に関する。 The present invention relates to a metal detector, and more particularly to a metal detector that suppresses the influence of noise.
食品等に金属異物が混入していないかを検査する装置として、金属検出器が知られている。金属検出器は、検査領域に磁界を発生させ、その検査領域に被検査物を通過させるとともに磁界の変動を検出することによって、被検査物中の異物を検査している。 2. Description of the Related Art A metal detector is known as a device for testing whether metal foreign matter is mixed into food or the like. A metal detector generates a magnetic field in an inspection area, causes the object to be inspected to pass through the inspection area, and detects changes in the magnetic field to detect foreign substances in the object.
このような金属検出器は、装置外の電磁ノイズ(以下、たんにノイズという)の影響を受けやすいことが知られている。たとえば、金属検出器の周囲にインバータ機器がある場合には、所定の周波数ごとにノイズの山が発生し、そのノイズに近い周波数で磁界の発生・検出を行うと、ノイズの影響が大きくなり、小さい異物を検出できなくなる。 It is known that such metal detectors are susceptible to electromagnetic noise (hereinafter simply referred to as noise) external to the device. For example, if there is an inverter device around a metal detector, a mountain of noise will be generated at each predetermined frequency, and if a magnetic field is generated and detected at a frequency close to that noise, the effect of the noise will become greater. Small foreign objects cannot be detected.
そこで、特許文献1の金属検出器は、「被検査物の物品影響に対応して予め定められた周波数範囲」(数kHz~数MHzの範囲)のなかから、所定の帯域幅(たとえば10kHz)で複数の検査周波数を設定し、その複数の検査周波数でノイズを測定し、ノイズレベルが所定値以下となる検査周波数を選択することによって自動的に設定を行っている。この金属検出器によれば、ノイズレベルが小さい検査周波数に設定できるので、検査開始当初は良好な検査を行うことができる。 Therefore, the metal detector of Patent Document 1 detects a predetermined bandwidth (for example, 10 kHz) from a "predetermined frequency range corresponding to the influence of the object to be inspected" (a range of several kHz to several MHz). The setting is automatically performed by setting a plurality of test frequencies, measuring noise at the plurality of test frequencies, and selecting a test frequency at which the noise level is equal to or less than a predetermined value. According to this metal detector, since the test frequency can be set to a low noise level, a good test can be performed at the beginning of the test.
しかしながら、特許文献1の金属検出器は、ノイズが時間的に変化すると、すぐにノイズの影響を受けてしまい、検査精度が大きく低下するという問題があった。すなわち、特許文献1における検査周波数の最適化は一時的なものであり、すぐにノイズの影響を受けてしまうという問題があった。このため、特許文献1の金属検出器は、検査周波数の自動設定を頻繁に行わなければならないという問題があった。 However, the metal detector of Patent Document 1 has a problem in that when the noise changes over time, it is immediately affected by the noise, and the inspection accuracy is greatly reduced. That is, the optimization of the test frequency in Patent Document 1 is temporary, and there is a problem in that it is immediately affected by noise. For this reason, the metal detector of Patent Document 1 has a problem in that the test frequency must be automatically set frequently.
また、特許文献1の金属検出器は、検査周波数の設定間隔によって不具合が生じるという問題もあった。たとえば、10kHzと非常に大きい設定間隔にすると、検査周波数を変更することによって、それまでの検出結果と大きな差異が現れるという問題や、変更後に別のノイズの山にぶつかるという問題が生じる。このため、検査途中に検査周波数を変更すると、検査精度が悪化してしまうおそれがあった。このような不具合を避けるためには、検査周波数の設定間隔をできるだけ小さくし、たとえば100Hz以下(好ましくは50Hz以下)として、検査周波数を微調整することが好ましい。しかし、検査周波数を微調整した場合には、発生したノイズを完全に避けられなかったり、避けるために微調整を繰り返し行わなければならないという問題があり、やはり検査途中での検査周波数を変更することが難しかった。 Furthermore, the metal detector disclosed in Patent Document 1 also has a problem in that problems occur depending on the interval at which the test frequency is set. For example, if the setting interval is very large, such as 10 kHz, there will be a problem that changing the test frequency will result in a large difference from the previous detection results, or that the test will encounter another pile of noise after the change. For this reason, if the test frequency is changed during the test, there is a risk that the test accuracy will deteriorate. In order to avoid such problems, it is preferable to finely adjust the test frequency by making the test frequency setting interval as small as possible, for example, 100 Hz or less (preferably 50 Hz or less). However, when the test frequency is fine-tuned, there is a problem that the generated noise cannot be completely avoided or that fine adjustments must be made repeatedly to avoid it, and it is still necessary to change the test frequency during the test. was difficult.
本発明はこのような事情に鑑みて成されたものであり、長時間にわたってノイズの影響を受けにくく、高い検査精度を維持できる金属検出器を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a metal detector that is not easily affected by noise and can maintain high inspection accuracy over a long period of time.
請求項1の発明は前記目的を達成するために、検査領域に所定の検査周波数で磁界を発生させるとともに、前記検査領域に被検査物を通過させて磁界の変動を検出することによって、前記被検査物の異物検査を行う金属検出器において、前記検査周波数を所定の周波数範囲内で微調整する微調整手段と、前記微調整を行う周波数範囲を変更する範囲変更手段と、前記周波数範囲を変更するとともに前記検査周波数の微調整を行うことによって、複数の検査周波数におけるノイズの大きさを測定し、前記周波数範囲ごとにノイズの大きさを比較する画面を表示する比較表示手段と、を備え、前記測定したノイズの大きさについて前記周波数範囲ごとに平均値を求め、該平均値を表示するようにしたことを特徴とする。
請求項2の発明は前記目的を達成するために、検査領域に検査周波数で磁界を発生させるとともに、前記検査領域の磁界の変化を前記検査周波数で検出することによって、前記検査領域を通過する被検査物中の異物を検出する金属検出器において、前記検査周波数を所定の周波数範囲内で微調整する微調整手段と、前記周波数範囲を変更する範囲変更手段と、前記周波数範囲を変更するとともに前記検査周波数の微調整を行うことによって、複数の検査周波数におけるノイズの大きさを測定し、前記周波数範囲ごとにノイズの大きさを比較する画面を表示する比較表示手段と、を備え、前記測定したノイズの大きさについて前記周波数範囲ごとに最大値を求め、該最大値を表示するようにしたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the invention of claim 1 generates a magnetic field in an inspection area at a predetermined inspection frequency, and also detects fluctuations in the magnetic field by passing an object to be inspected through the inspection area. In a metal detector that performs a foreign substance inspection of an object to be inspected, a fine adjustment means for finely adjusting the inspection frequency within a predetermined frequency range, a range changing means for changing the frequency range in which the fine adjustment is performed, and a range changing means for changing the frequency range. and a comparison display means for measuring the magnitude of noise at a plurality of test frequencies by finely adjusting the test frequency and displaying a screen that compares the magnitude of noise for each frequency range , The present invention is characterized in that an average value of the measured noise magnitude is determined for each of the frequency ranges, and the average value is displayed.
In order to achieve the above-mentioned object, the invention of claim 2 generates a magnetic field in an inspection area at an inspection frequency and detects a change in the magnetic field in the inspection area at the inspection frequency. A metal detector for detecting foreign matter in an object to be inspected, comprising: fine adjustment means for finely adjusting the inspection frequency within a predetermined frequency range; range changing means for changing the frequency range; a comparison display means for measuring the magnitude of noise at a plurality of test frequencies by finely adjusting the test frequency, and displaying a screen for comparing the magnitude of the noise for each frequency range; The present invention is characterized in that the maximum value of the noise magnitude is determined for each of the frequency ranges and the maximum value is displayed.
本発明によれば、ノイズの大きさを周波数範囲ごとに比較表示するので、どの周波数範囲が検査に好ましいか(たとえばどの周波数範囲であればノイズの山が無いか等)を判断することができる。したがって、検査に好ましい周波数範囲(すなわちノイズの影響の小さい周波数範囲)に検査周波数を設定することができ、高い精度で検査を行うことができる。このように設定した検査周波数は、ノイズの影響が小さい周波数範囲内で設定されるので(すなわち近い周波数にノイズの山が無いので)、ノイズの周波数が経時的に変化してもノイズの影響を受けにくく、高い検査精度を維持することができる。 According to the present invention, since the magnitude of noise is displayed in comparison for each frequency range, it is possible to judge which frequency range is preferable for inspection (for example, in which frequency range there are no noise peaks). . Therefore, the test frequency can be set in a frequency range preferable for testing (ie, a frequency range where the influence of noise is small), and the test can be performed with high accuracy. The test frequency set in this way is set within a frequency range where the influence of noise is small (that is, there are no noise peaks at nearby frequencies), so even if the frequency of the noise changes over time, the influence of noise can be suppressed. This makes it possible to maintain high inspection accuracy.
また、本発明によれば、ノイズの周波数が経時的に変化した場合に、検査周波数を微調整すればよく、簡単にノイズの影響を避けることができる。その際、検査周波数は大きく変化しないので、調整の前後で検査結果の差が生じにくく、検査精度の低下を抑制することができる。
さらに請求項1の発明によれば、周波数範囲ごとの平均値が表示されるので、どの周波数範囲が最適かを容易に判断することができる。請求項2の発明によれば、周波数範囲ごとの最大値が表示されるので、どの周波数範囲が最適かを判断することができる。
Further, according to the present invention, when the frequency of noise changes over time, it is only necessary to finely adjust the test frequency, and the influence of noise can be easily avoided. At this time, since the test frequency does not change significantly, a difference in test results before and after adjustment is unlikely to occur, and a decrease in test accuracy can be suppressed.
Furthermore, according to the first aspect of the invention, since the average value for each frequency range is displayed, it is possible to easily determine which frequency range is optimal. According to the second aspect of the invention, since the maximum value for each frequency range is displayed, it is possible to determine which frequency range is optimal.
請求項3の発明は請求項1または2の発明において、前記範囲変更手段は、変更前後の周波数範囲が隣接するように変更することを特徴とする。本発明によれば、周波数範囲が隣接しているので、連続する周波数範囲で検査周波数を設定することができる。したがって、検査周波数が大きく変わることを抑制でき、それに伴う不具合を抑制することができる。 The invention according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2, characterized in that the range changing means changes the frequency ranges before and after the change so that they are adjacent to each other. According to the present invention, since the frequency ranges are adjacent, test frequencies can be set in continuous frequency ranges. Therefore, it is possible to suppress a large change in the inspection frequency, and to suppress the problems associated with it.
請求項4の発明は請求項1または2の発明において、前記範囲変更手段は、前記周波数範囲を周波数のプラス側とマイナス側にそれぞれ変更可能であることを特徴とする。本発明によれば、検査周波数の周波数範囲をプラス側とマイナス側に変更することができる。 The invention according to claim 4 is the invention according to claim 1 or 2, characterized in that the range changing means can change the frequency range to a plus side and a minus side of the frequency, respectively. According to the present invention, the frequency range of the test frequency can be changed to the plus side and the minus side.
請求項5の発明は請求項1または2の発明において、前記微調整手段は、前記検査周波数を連続的に変化させ、前記比較表示手段は、前記周波数範囲内で前記検査周波数を変化させて周波数解析して得られた周波数分布図を、前記周波数範囲ごとに並べて比較する画面を表示することを特徴とする。本発明によれば、周波数分布図を並べて比較するようにしたので、どの周波数範囲にノイズが存在するかを一目で把握することができる。 The invention according to claim 5 is the invention according to claim 1 or 2, wherein the fine adjustment means continuously changes the test frequency, and the comparison display means changes the test frequency within the frequency range to adjust the frequency. The present invention is characterized by displaying a screen in which frequency distribution maps obtained by analysis are arranged and compared for each frequency range. According to the present invention, since the frequency distribution charts are compared side by side, it is possible to understand at a glance in which frequency range the noise is present.
本発明によれば、ノイズを周波数範囲ごとに比較表示するようにしたので、適切な周波数範囲に検査周波数を設定することができ、長時間にわたって高い検査精度を保つことができる。 According to the present invention, noise is comparatively displayed for each frequency range, so the test frequency can be set in an appropriate frequency range, and high test accuracy can be maintained over a long period of time.
以下添付図面に従って、本発明に係る金属検出器の好ましい実施形態について説明する。図1は本発明の金属検出器10の構成を模式的に示している。
Preferred embodiments of the metal detector according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 schematically shows the configuration of a
同図に示す金属検出器10は、被検査物12を検査領域14に通過させて金属異物を検出する装置であり、検査領域14に磁界を発生させる磁界発生部16と、検査領域14の磁界変動を検出する磁界検出部18を備えている。磁界発生部16には送信コイル17(図2参照)が設けられ、この送信コイル17に交流電流が流れることによって検査領域14に磁界が発生する。磁界発生部16の送信コイル17と同軸上に(或いは上下に対向する位置に)磁界検出部18の受信コイル(不図示)が設けられており、検査領域14の磁界が変動したことを、受信コイルに流れる電流の変動として検出することができる。なお、被検査物12を検査領域14に通過させる機構は省略するが、通常はベルトコンベア等が用いられる。
The
金属検出器10の制御部20には、送信信号設定部22、受信信号処理部24、ノイズ検出部26、コンデンサ設定部28が設けられている。送信信号設定部22は、磁界発生部16への送信信号の検査周波数や受信信号処理部24における検波側の検査周波数を調節する機能を備えており、検査周波数を所定範囲内で微調整したり、その範囲を大きく変更させたりすることができる。たとえば、ある周波数範囲に対して変更点の数を設定することによって、検査周波数を微小間隔で設定することができ、検査周波数を所定の範囲内で微調整することができる。微調整の間隔は、調整前後で検査結果に差異が現れることを抑制するため、100Hz以下が好ましく、50Hz以下がより好ましく、たとえば38Hzに設定される。また、間隔が狭すぎると、調整前後でノイズの影響を変わらなくなるため、10Hz以上、好ましくは30Hz以上が好ましい。
The
送信信号設定部22で周波数を設定した信号は、D/A変換器32でD/A変換された後、ドライブ回路34とトランス回路36で出力が増幅され、後述するコンデンサ調整部38を介して磁界発生部16の送信コイル17に送信される。これにより、送信コイル17に交流電流が流れ、検査領域14に交番磁界が発生する。
The signal whose frequency has been set by the transmission
一方、磁界検出部18の受信コイルは、トランス回路46、アンプ44、A/D変換器42を介して制御部20の受信信号処理部24に接続されている。受信信号処理部24は、周波数発生部22で発生した検査周波数に応じて検波処理やフィルタ処理を行う。これにより、被検査物12に金属異物が存在する場合には、検査領域14の磁界変動を検出することによって金属異物を検出することができる。
On the other hand, the receiving coil of the magnetic
制御部20のノイズ検出部26は、受信信号処理部24の結果を用いてノイズの影響を数値として算出する。具体的には、検査領域14に被検査物12を通さずに磁界の発生・検出を行い、その結果から、装置外を要因とするノイズを数値化して求める。ノイズの数値は、たとえば受信信号の最大振幅(ピークトゥピーク)を求めることによって算出する。さらにノイズ検出部26は、算出したノイズを用いて、周波数範囲ごとに比較可能な画面を生成し、表示部50に出力して表示させる。
The
一方、制御部20のコンデンサ設定部28は、コンデンサ調整部38に接続されており、コンデンサ設定部28でコンデンサ調整部38を制御することによって、検査周波数の範囲を大きく変更した際の送信側の共振を図っている。
On the other hand, the
図2はコンデンサ調整部38の回路図を示している。同図に示すようにコンデンサ調整部38は、主要コンデンサ62、マイナス用コンデンサ64、プラス用コンデンサ66を備えており、これらのコンデンサ62、64、66が、トランス回路36のコイル37と磁界発生部16の送信コイル17の間に並列に接続されている。これらのうち主要コンデンサ62は常に接続されており、この主要コンデンサ62によって通常時の共振周波数が設定される。一方、マイナス用コンデンサ64とプラス用コンデンサ66はそれぞれ、スイッチ65、67を介して接続されており、このスイッチ65、67が前述のコンデンサ設定28によって制御される。たとえば、プラス用コンデンサ66のスイッチ67は通常時に接続されており、周波数範囲をプラス側に移動する際に接続が解除される。逆にマイナス用コンデンサ64のスイッチ65は通常時に接続が解除されており、周波数範囲をマイナス側に移動する際に接続される。
FIG. 2 shows a circuit diagram of the
ここで、通常時(スイッチ65がオフ、スイッチ67がオン)の周波数範囲を通常範囲とし、プラス側に移動した際(スイッチ65がオフ、スイッチ67がオフ)の周波数範囲をプラス範囲とし、マイナス側に移動した際(スイッチ65がオン、スイッチ67がオン)の周波数範囲をマイナス範囲とする。各コンデンサ62、64、66の容量は、調節後の周波数範囲が隣接するように設定されている。すなわち、プラス範囲は通常範囲に対してプラス側に隣接するように設定され、マイナス範囲は通常範囲に対してマイナス側に隣接するように設定される。たとえば、通常範囲が500Hzの間隔の場合には、その通常範囲の間隔500Hzと同じ分だけ、プラス側またはマイナス側に移動するように設定されている。
Here, the frequency range during normal times (switch 65 is off, switch 67 is on) is defined as the normal range, the frequency range when moving to the plus side (switch 65 is off, switch 67 is off) is defined as the plus range, and The frequency range when the switch is moved to the side (switch 65 is on,
次に上記の如く構成された金属検出器10の操作方法について説明する。本発明の金属検出器10は、ノイズ検出表示処理に特徴があり、このノイズ検出表示処理は、装置の初期設定時や駆動開始時、さらにはノイズの影響が大きくなって再設定する際などに行われる。
Next, a method of operating the
図3は、ノイズ検出表示処理のフローを示している。同図に示すように、まず、周波数範囲を設定する(ステップS1)。周波数範囲の設定は、上述したコンデンサ設定部28がコンデンサ調整部38のスイッチ65、67を切り替えることによって行い、3つの周波数範囲(通常範囲、プラス範囲、マイナス範囲)のいずれかに設定される。なお、周波数範囲は全てが順番に行われるようになっており、たとえば最初にスイッチ65をオフ、スイッチ67をオンにすることによって通常範囲が設定される。
FIG. 3 shows the flow of noise detection and display processing. As shown in the figure, first, a frequency range is set (step S1). The frequency range is set by the
次に検査周波数の微調整を行う(ステップS2)。検査周波数の微調整は、上述した送信信号設定部22によって行われ、数十Hzずつ検査周波数が変更される。
Next, the inspection frequency is finely adjusted (step S2). Fine adjustment of the test frequency is performed by the above-mentioned transmission
次に電磁ノイズの算出が行われる(ステップS3)。すなわち、磁界発生部16によって検査周波数の磁界を検査領域14に発生させ、磁界検出部18によって検査領域14の磁界変動を検出し、ノイズ検出部26によってノイズを数値化して求める。このようにして求めたノイズとその際の検査周波数が不図示のメモリに記憶される。
Next, electromagnetic noise is calculated (step S3). That is, the
次に微調整が全て終了したか、すなわち周波数範囲内の全ての検査周波数が終了したか否かを判断し(ステップS4)、微調整が全て終わっていない場合には、ステップS2に戻り、検査周波数の微調整を行って、再度、ノイズの算出を行う(ステップS3)。これを繰り返し行うことによって、周波数範囲内の全ての検査周波数でのノイズの測定が終了する。 Next, it is determined whether all fine adjustments have been completed, that is, whether all test frequencies within the frequency range have been completed (step S4). If all fine adjustments have not been completed, the process returns to step S2 and the test is performed. The frequency is finely adjusted and the noise is calculated again (step S3). By repeating this process, noise measurements at all test frequencies within the frequency range are completed.
ステップS4で周波数範囲内の微調整が全て終わったと判断した場合には、ステップS5に進み、周波数範囲の変更が終了したか否か、すなわち全ての周波数範囲を検査したかを判断する。そして、周波数範囲の変更が終わっていない場合(未測定の周波数範囲がある場合)には、ステップS1に戻り、周波数範囲の変更を行って、以下の操作を繰り返す。たとえば、スイッチ65とスイッチ67をオフとすることによって周波数範囲をプラス範囲に変更して、ステップS2~ステップS4を行う。その後、スイッチ65とスイッチ67をオンとすることによって周波数範囲をマイナス範囲に変更して、ステップS2~ステップS4を行う。これにより、全ての周波数範囲でのノイズ測定を行うことができる。
If it is determined in step S4 that all the fine adjustments within the frequency range have been completed, the process proceeds to step S5, where it is determined whether or not the change in the frequency range has been completed, that is, whether all frequency ranges have been inspected. If the change of the frequency range is not completed (if there is an unmeasured frequency range), the process returns to step S1, the frequency range is changed, and the following operations are repeated. For example, the frequency range is changed to a plus range by turning off the
全ての周波数範囲においてノイズ測定を行った後、ノイズの検出結果を表示する(ステップS6)。ノイズの検出結果は、たとえば、図4に示すように周波数範囲ごとの平均値を表示する。すなわち、通常範囲内の全ての検査周波数におけるノイズの平均値と、プラス範囲内の全ての検査周波数におけるノイズの平均値と、マイナス範囲内の全ての検査周波数におけるノイズの平均値を表示する。これにより、作業者は画面を見て、どの範囲が検査に適しているかを判断することができる。たとえば図4の場合には、マイナス範囲の平均値だけが非常に大きくなっており、このマイナス範囲にノイズの山があることが想定される。したがって、マイナス範囲は検査に不適切であり、通常範囲かプラス範囲が検査に適切な範囲であると判断できる。 After measuring noise in all frequency ranges, the noise detection results are displayed (step S6). The noise detection results are displayed as average values for each frequency range, for example, as shown in FIG. That is, the average value of noise at all test frequencies within the normal range, the average value of noise at all test frequencies within the plus range, and the average value of noise at all test frequencies within the minus range are displayed. This allows the operator to look at the screen and determine which range is suitable for inspection. For example, in the case of FIG. 4, only the average value in the negative range is extremely large, and it is assumed that there is a peak of noise in this negative range. Therefore, it can be determined that the negative range is inappropriate for testing, and that the normal range or the positive range is appropriate for testing.
作業者は、検査に適していると判断した周波数範囲のなかから検査周波数を設定する(ステップS7)。たとえば、プラス範囲を選択し、そのプラス範囲のなかで検査周波数を設定する。このように設定した検査周波数は、ノイズの少ない周波数範囲内であり、ノイズの山が無いので、ノイズが経時的に変化した場合であっても、ノイズが検査周波数に影響しにくい。したがって、長時間にわたって、高い検査精度を維持することができる。また、たとえノイズが経時的に変化して検査周波数に少し影響したとしても、検査周波数の微調整を行うことによって、ノイズの影響を下げることができる。その際、調整の前後で検査結果の差が生じにくいので、検査精度の低下を抑制することができる。 The operator sets a test frequency from the frequency range determined to be suitable for the test (step S7). For example, select a plus range and set the test frequency within the plus range. The test frequency set in this way is within a frequency range with little noise and has no noise peaks, so even if the noise changes over time, the noise is unlikely to affect the test frequency. Therefore, high inspection accuracy can be maintained over a long period of time. Further, even if noise changes over time and slightly affects the test frequency, the influence of the noise can be reduced by finely adjusting the test frequency. At this time, since a difference in test results before and after adjustment is unlikely to occur, it is possible to suppress a decrease in test accuracy.
このように本実施の形態によれば、周波数範囲ごとにノイズの影響を比較可能な形態で表示するようにしたので、ノイズの影響の小さい周波数範囲に検査周波数を設定することができ、ノイズの影響を受けにくい異物検査を行うことができる。 In this way, according to the present embodiment, the influence of noise is displayed in a form that can be compared for each frequency range, so the test frequency can be set in a frequency range where the influence of noise is small, and the influence of noise can be It is possible to perform foreign body inspections that are not easily affected.
また、本実施の形態によれば、設定後は、検査周波数を微調整することによって、ノイズの影響が少し出てきた場合であっても微調整して影響を減らすことができる。その場合、検査周波数を大きく変更しないので、検査結果に大きな差異が生じることを抑制することができる。 Further, according to the present embodiment, by finely adjusting the test frequency after setting, even if the influence of noise appears a little, the influence can be reduced by fine adjustment. In that case, since the test frequency is not changed significantly, it is possible to suppress the occurrence of large differences in test results.
なお、上述した実施の形態では、ノイズの検出結果として、ノイズの平均値を比較する画面を表示するようにしたが、これに限定するものでは無く、周波数範囲ごとにノイズの影響を比較可能な画面を表示するのであればよい。たとえば、周波数範囲ごとにノイズの最大値を求め、それを表示するようにしてもよい。また、図5に示すようにノイズの最大値と平均値を同時に表示するようにしてもよい。さらに、図6に示すように、各検査周波数ごとの値をグラフ表示するようにしても良い。この場合、周波数範囲が分かるように、周波数範囲の境界に線を引くとよい。また、平均値や最大値を表示したり、最もノイズの影響の小さい周波数範囲を別の色で表示したりしてもよい。 In the above-described embodiment, a screen for comparing the average value of noise is displayed as the noise detection result, but the screen is not limited to this, and it is possible to compare the influence of noise for each frequency range. It is fine as long as the screen is displayed. For example, the maximum value of noise may be determined for each frequency range and displayed. Furthermore, as shown in FIG. 5, the maximum value and average value of noise may be displayed simultaneously. Furthermore, as shown in FIG. 6, the values for each test frequency may be displayed graphically. In this case, it is a good idea to draw a line at the boundary of the frequency range so that you can see the frequency range. Furthermore, the average value or maximum value may be displayed, or the frequency range where the influence of noise is least may be displayed in a different color.
なお、上述した実施の形態では、周波数範囲の数を3としたが、これに限定するものではなく、周波数範囲の数を2あるいは4以上としてもよい。いずれの場合にも、周波数範囲ごとに比較可能な形態でノイズの影響を表示することで、本発明の効果を得ることができる。 In addition, in the embodiment described above, the number of frequency ranges is three, but the number is not limited to this, and the number of frequency ranges may be two or four or more. In either case, the effects of the present invention can be obtained by displaying the influence of noise in a form that can be compared for each frequency range.
また、上述した実施の形態では、周波数範囲が隣接するように設定したが、これに限定するものでは無く、周波数範囲の一部が重なったり、離れたりするように設定してもよい。 さらに、比較表示画面に周波数範囲の選択ボタンを表示して、周波数範囲を簡単に設定したりしてもよい。 Further, in the embodiment described above, the frequency ranges are set to be adjacent to each other, but the invention is not limited to this, and the frequency ranges may be set to partially overlap or be separated. Furthermore, a frequency range selection button may be displayed on the comparison display screen to easily set the frequency range.
次に第2の実施形態の金属検出器について説明する。第2の実施形態の金属検出器は、上述した実施形態の金属検出器と略同様に構成されるが、次の点で異なっている。すなわち、第2の実施形態では、送信信号設定部22は、検査周波数を所定の周波数範囲内で連続的に変化させるとともに、その周波数範囲を大きく変更できるようになっている。また、ノイズ検出部26は、検査周波数を所定の周波数範囲内で連続的に変化させながら得られた受信信号を周波数解析することによって、ノイズの診断を実施するように構成される。なお、ズームFFTを実施することにより、診断処理の高速化を行うとよい。
Next, a metal detector according to a second embodiment will be explained. The metal detector of the second embodiment is configured in substantially the same manner as the metal detector of the above-described embodiment, but differs in the following points. That is, in the second embodiment, the transmission
上記の如く構成された第2の実施形態によれば、ノイズの比較表示として、周波数範囲ごとに周波数解析して周波数分布図を作成し、その周波数範囲ごとの周波数分布図を並べて表示する。図7は、第2の実施形態における表示例を示している。同図に示すように、マイナス側の周波数分布図70A、通常(センター)の周波数分布図70B、プラス側の周波数分布図70Cが並んで表示されている。周波数分布図70A~70Cは、横軸に周波数が表示され、縦軸に信号レベル(ノイズの大きさ)が表示されるので、どの周波数にどの程度のノイズが発生しているかを一目で把握することができる。また、複数の周波数分布図70A~70Cが並べて表示されるので、どの周波数範囲が異物検査に適しているかを一目で把握することができる。たとえば、図7の表示例では、通常(センター)のノイズが大きく、マイナスかプラスの範囲に設定することが好ましいことが分かる。
According to the second embodiment configured as described above, as a comparative display of noise, frequency analysis is performed for each frequency range to create a frequency distribution map, and the frequency distribution charts for each frequency range are displayed side by side. FIG. 7 shows a display example in the second embodiment. As shown in the figure, a minus side frequency distribution diagram 70A, a normal (center) frequency distribution diagram 70B, and a plus side frequency distribution diagram 70C are displayed side by side. In the
なお、図7の符号72A~72Cは、それぞれの周波数分布図70A~70Cにおける中心の周波数であり、符号74A~74Cと符号76A~76Cは、対象異物ごとの目安ラインである。目安ライン74A~74Cは、検出対象の異物が鉄で直径0.5mmの大きさの場合に検出される信号レベルを示しており、この線より大きいノイズが発生するとノイズを異物と誤認するおそれがある。また、目安ライン76A~76Cは、検出対象の異物の材質がステンレスで直径1.0mmの大きさの場合に検出される信号レベルを示しており、この線より大きいノイズが発生するとノイズを異物と誤認するおそれがある。図7の符号78は、目安ラインの異物の説明の表示であり、目安ラインと異物の説明が同じ色で表示される。
Note that
10…金属検出器、12…被検査物、14…検査領域、16…磁界発生部、17…送信コイル、18…磁界検出部、19…受信コイル、20…制御部、22…送信信号設定部、24…受信信号処理部、26…ノイズ検出部、28…コンデンサ設定部、32…D/A変換器、34…ドライブ回路、36…トランス回路、38…コンデンサ調整部、42…A/D変換器、44…増幅回路、46…トランス回路、50…表示部、62…コンデンサ、64…マイナス用コンデンサ、65…スイッチ、66…プラス用コンデンサ、67…スイッチ、70A~70C…周波数分布図、72A~72C…設定周波数ライン、74A~74C…目安ライン、76A~76C…目安ライン、78…異物の説明の表示
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記検査周波数を所定の周波数範囲内で微調整する微調整手段と、
前記周波数範囲を変更する範囲変更手段と、
前記周波数範囲を変更するとともに前記検査周波数の微調整を行うことによって、複数の検査周波数におけるノイズの大きさを測定し、前記周波数範囲ごとにノイズの大きさを比較する画面を表示する比較表示手段と、
を備え、前記測定したノイズの大きさについて前記周波数範囲ごとに平均値を求め、該平均値を表示するようにしたことを特徴とする金属検出器。 In a metal detector that detects a foreign object in an object to be inspected passing through the inspection area by generating a magnetic field in the inspection area at the inspection frequency and detecting a change in the magnetic field in the inspection area at the inspection frequency,
Fine adjustment means for finely adjusting the test frequency within a predetermined frequency range;
Range changing means for changing the frequency range;
Comparison display means for measuring the magnitude of noise at a plurality of test frequencies by changing the frequency range and finely adjusting the test frequency, and displaying a screen that compares the magnitude of noise for each of the frequency ranges. and,
A metal detector comprising: an average value of the measured noise magnitude for each of the frequency ranges, and the average value is displayed.
前記検査周波数を所定の周波数範囲内で微調整する微調整手段と、Fine adjustment means for finely adjusting the test frequency within a predetermined frequency range;
前記周波数範囲を変更する範囲変更手段と、Range changing means for changing the frequency range;
前記周波数範囲を変更するとともに前記検査周波数の微調整を行うことによって、複数の検査周波数におけるノイズの大きさを測定し、前記周波数範囲ごとにノイズの大きさを比較する画面を表示する比較表示手段と、Comparison display means for measuring the magnitude of noise at a plurality of test frequencies by changing the frequency range and finely adjusting the test frequency, and displaying a screen that compares the magnitude of noise for each of the frequency ranges. and,
を備え、前記測定したノイズの大きさについて前記周波数範囲ごとに最大値を求め、該最大値を表示するようにしたことを特徴とする金属検出器。A metal detector characterized in that the maximum value of the measured noise magnitude is determined for each of the frequency ranges and the maximum value is displayed.
前記比較表示手段は、前記周波数範囲内で前記検査周波数を変化させて周波数解析して得られた周波数分布図を、前記周波数範囲ごとに並べて比較する画面を表示することを特徴とする請求項1または2の金属検出器。 The fine adjustment means continuously changes the test frequency,
1 . The comparison display means displays a screen in which frequency distribution maps obtained by frequency analysis while changing the test frequency within the frequency range are arranged and compared for each frequency range. Or 2 metal detectors.
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