JPS6166958A - Absolute value type eddy current flaw detecting device - Google Patents

Absolute value type eddy current flaw detecting device

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JPS6166958A
JPS6166958A JP19025384A JP19025384A JPS6166958A JP S6166958 A JPS6166958 A JP S6166958A JP 19025384 A JP19025384 A JP 19025384A JP 19025384 A JP19025384 A JP 19025384A JP S6166958 A JPS6166958 A JP S6166958A
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JP
Japan
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eddy current
impedance
variable
flaw detection
tube
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Application number
JP19025384A
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Japanese (ja)
Inventor
Akira Takahashi
彰 高橋
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Sumitomo Light Metal Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Light Metal Industries Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals

Abstract

PURPOSE:To eliminate the need for a standard tube and to simplify the device by detecting a flaw of a metallic tube on the basis of the relative variation between reference impedance of a variable impedance circuit and the impedance of an eddy current flaw detection coil. CONSTITUTION:The oscillation frequency of a variable frequency oscillator 10 is set according to the specification of the metallic tube 30 as an object of flaw detection, and the inductance of a variable inductance coil 22 and the resistance value of a variable resistor 24 are adjusted to equalize their composite impedance to the standard impedance corresponding to the tube 30 of the specifi cation. A probe 28 equipped with the eddy current flaw detection coil 18 is inserted into the tube 30 in the state of those settings. If there is a flaw in the tube wall of the tube 30, the generation state of the eddy current in the tube wall varies with the size of the flaw and the impedance of the coil 18 also varies, so a potential difference corresponding to the size of the flaw is generated between terminals (c) and (d) of a bridge circuit 12. This potential difference is supplied as a signal to a signal processing circuit to detect the flaw in the tube 30.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は金属製チューブの探傷を行う絶対値式渦流探傷
装置に係り、特に構成が簡単で、取扱いが容易な絶対値
式渦流探傷装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to an absolute value type eddy current flaw detection device for flaw detection on metal tubes, and particularly relates to an absolute value type eddy current flaw detection device that has a simple configuration and is easy to handle.

従来技術 金属製チューブの探信を行う渦流探傷装置の一種に、絶
対値式渦流探傷装置と呼ばれるものがあり、金属製チュ
ーブの緩やかな減肉欠陥を検出する際に多く用いられて
いる。
BACKGROUND ART One type of eddy current flaw detection device for detecting metal tubes is called an absolute value eddy current flaw detection device, which is often used to detect gradual thinning defects in metal tubes.

ところで、かかる絶対値式渦流探傷装置は、従来、所定
の周波数の交流信号を出力する発振器と、予め定められ
たインダクタンスを有する2つの同じ渦流探傷コイルと
、探傷されるべき金属製チューブの標準となる標準チュ
ーブとを備えた構成とされていた。そして、金属製チュ
ーブの探傷を行うに際しては、一方の渦流探傷コイルを
探傷すべき金属製チヱーブ内に挿入し、他方の渦流探傷
コイルを標準チューブ内に固定して、それら各コイルに
対して発振器からの交流信号を流し、金属製チューブに
存在する倶によって変化するそれらコイルのインピーダ
ンスの相対変化から、金属製チューブの傷を検出するよ
うになっていた。
By the way, such an absolute value type eddy current flaw detection apparatus conventionally includes an oscillator that outputs an alternating current signal of a predetermined frequency, two identical eddy current test coils having a predetermined inductance, and a standard of the metal tube to be tested. It was configured with a standard tube. When testing metal tubes, one eddy current testing coil is inserted into the metal tube to be tested, the other eddy current testing coil is fixed inside the standard tube, and an oscillator is applied to each coil. flaws in the metal tube were detected from relative changes in the impedance of the coils, which varied depending on the presence of particles in the metal tube.

発明が解決しようとする問題点 ところが、このような従来の絶対値式渦流探イに装置で
は、金属製チューブの探傷に際して、上述のように、探
傷すべき金属製チューブの標準となる標準チューブが必
要であることから、測定ずべき金属製チューブの材質や
形状等の仕様が異なる毎にその仕様に応じた標準チュー
ブを用意しなければならないという不都合があった。ま
た、探傷現場での標準チューブの設置場所にも考慮しな
ければならないという問題があった。
Problems to be Solved by the Invention However, with such conventional absolute value type eddy current detection equipment, when testing metal tubes for flaws, as mentioned above, there is no standard tube that is the standard for the metal tube to be detected. Since this is necessary, there is an inconvenience that a standard tube must be prepared each time the specifications such as the material and shape of the metal tube to be measured differ. There is also the problem that the installation location of the standard tube at the flaw detection site must be considered.

問題点を解決するための手段 本発明は、上述のような不都合を解消するために為され
たものであって、その要旨とするところは、(a)所定
の周波数の交流信号を出力する発振器と、(b)予め定
められたインダクタンスを有し、探傷されるべき金属製
チューブ内に挿入された状態において前記発振器からの
交流信号が流される渦流探傷コイルと、fcl前記金属
製チューブの標準に対する該渦流探傷コイルのインピー
ダンスに相当する基準インピーダンスを保持するように
調節し得る可変インピーダンス回路とを備え、該可変イ
ンピーダンス回路の基準インピーダンスと、前記金属製
チューブに挿入せしめられて、前記発振器からの交流信
号が流された状態の渦流探傷コイルのインピーダンスと
の相対変化に基づいて、前記金属製チューブの探傷を行
うようにしたことにある。
Means for Solving the Problems The present invention has been made to solve the above-mentioned inconveniences, and its gist is as follows: (a) an oscillator that outputs an alternating current signal of a predetermined frequency; (b) an eddy current flaw detection coil having a predetermined inductance and through which an alternating current signal from the oscillator is passed when inserted into the metal tube to be flaw-detected; a variable impedance circuit that can be adjusted to maintain a reference impedance corresponding to the impedance of the eddy current flaw detection coil; The flaw detection of the metal tube is performed based on the relative change in impedance of the eddy current flaw detection coil when a signal is applied.

作用および効果 このように可変インピーダンス回路を設け、そのインピ
ーダンスを、探傷すべき金属製チューブの標準に対する
渦流探傷コイルのインピーダンスに相当する基準インピ
ーダンスに調節して保持するようにし、その基準インピ
ーダンスと金属製チューブに挿入した探傷コイルのイン
ピーダンスとの相対変化に基づいて金属製チューブの探
傷を行うようにすれば、探傷現場において標準チューブ
を用いることなく金属製チューブの探傷ができる。
Function and Effect As described above, a variable impedance circuit is provided, the impedance of which is adjusted and maintained at a reference impedance corresponding to the impedance of the eddy current test coil with respect to the standard of the metal tube to be tested, and the reference impedance and the metal If the metal tube is tested for flaws based on the relative change in impedance of the flaw detection coil inserted into the tube, the metal tube can be tested for flaws at the flaw detection site without using a standard tube.

つまり、金属製チューブの仕様に応じた標準チューブを
探傷現場に持ち込む必要が無くなったのであり、探傷現
場において標準チューブの設置位置を考慮しなければな
らない問題も解消されることとなったのである。
In other words, it is no longer necessary to bring a standard tube that meets the specifications of the metal tube to the flaw detection site, and the problem of having to consider the installation position of the standard tube at the flaw detection site is also resolved.

また、本発明では、渦流探傷コイルは探傷すべき金属製
チューブの仕様に応じて1個用意すればよく、これによ
って、上記標準チューブの不要化と合わせて、装置全体
の構成が簡単に、またその取扱いが容易になったのであ
る。
In addition, in the present invention, it is only necessary to prepare one eddy current flaw detection coil according to the specifications of the metal tube to be flawed, which not only eliminates the need for the standard tube described above, but also simplifies the configuration of the entire device. Its handling has become easier.

実施例 以下、本発明をより一層具体的に明らかにするために、
その一実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
Examples Below, in order to clarify the present invention more specifically,
One embodiment thereof will be described in detail based on the drawings.

第1図は本発明の一実施例である絶対値式渦流探傷装置
の要部を示す回路図である。この図において、10は可
変周波数発振器であって、図示しない設定器によって設
定された一定周波数の交流信号を出力し、ブリッジ回路
12の端子a、b間に供給するようになっている。ブリ
ッジ回路12は、端子a、b間に供給された発振器10
からの交流信号が端子Cを通る通路と端子dを通る通路
とに2分して流れるようになっており、端子C1b間と
端子d、b間とにそれぞれ可変抵抗器14゜16が挿入
されるとともに、端子a、c間に渦流探傷コイノ【川8
および固定抵抗器20が、また端子a、d間に可変イン
ダクタンスコイル22.可変抵抗器24および固定抵抗
器26がそれぞれ直列に挿入された構成とされている。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a main part of an absolute value type eddy current flaw detection device which is an embodiment of the present invention. In this figure, a variable frequency oscillator 10 outputs an alternating current signal of a constant frequency set by a setting device (not shown), and supplies the signal between terminals a and b of a bridge circuit 12. The bridge circuit 12 includes an oscillator 10 supplied between terminals a and b.
The alternating current signal is divided into two paths, one through terminal C and the other through terminal d, and variable resistors 14 and 16 are inserted between terminal C1b and between terminals d and b, respectively. At the same time, an eddy current flaw detector [river 8] is connected between terminals a and c.
and a fixed resistor 20, and a variable inductance coil 22. between terminals a and d. A variable resistor 24 and a fixed resistor 26 are each inserted in series.

渦流探傷コイル18は、第2図に示されているように、
円柱状プローブ28の中間部に巻回されて探傷すべき金
属製チューブ30内に挿入され、チューブ30の管壁に
渦流を発生させるようになっている。なお、この渦流探
傷コイル18を備えたプローブ28は探傷の対象とする
金属製チューブ30の仕様に応じた最適のものに容易に
交換できるようになっている。
The eddy current flaw detection coil 18, as shown in FIG.
It is wound around the middle part of the cylindrical probe 28 and inserted into the metal tube 30 to be flaw-detected, so as to generate a vortex on the wall of the tube 30. Note that the probe 28 equipped with this eddy current flaw detection coil 18 can be easily replaced with the most suitable one according to the specifications of the metal tube 30 to be flaw detected.

また、可変インダクタンスコイル22と可変抵抗器24
とは、第3図に示されているように、それぞれに対応し
て設けられた調節ツマミ32および34によってインダ
クタンスと抵抗値とが調節されるようになっており、こ
れら調節ツマミ32゜34によって、金属製チューブ3
0の標準に対応する渦流探傷コイル18のインピーダン
スに相当する基準インピーダンスに等しい合成インピー
ダンスを取り得るようにされている。なお、可変インダ
クタンスコイル22は、コイル22内に鉄心36が軸心
方向に移動可能に挿入された構成とされており、この鉄
心36の挿入量が調節ツマミ32によって調節されるこ
とにより、そのインダクタンスが調節されるようになっ
ている。
In addition, a variable inductance coil 22 and a variable resistor 24
As shown in FIG. 3, the inductance and resistance value are adjusted by the corresponding adjustment knobs 32 and 34. , metal tube 3
It is possible to obtain a composite impedance equal to a reference impedance corresponding to the impedance of the eddy current flaw detection coil 18 corresponding to the 0 standard. The variable inductance coil 22 has a structure in which an iron core 36 is inserted into the coil 22 so as to be movable in the axial direction, and by adjusting the insertion amount of the iron core 36 with the adjustment knob 32, its inductance can be adjusted. is being adjusted.

そして、このようなブリッジ回路12の端子C2d間の
電圧が探(IA倍信号して図示しない信号処理回路に供
給されるようになっている。なお、この信号処理回路は
良く知られたものであり、また本発明を理解する上で不
可欠なものではないので、その詳細な説明は省略する。
The voltage between the terminals C2d of the bridge circuit 12 is then multiplied by IA and supplied to a signal processing circuit (not shown). Note that this signal processing circuit is not well known. However, since it is not essential for understanding the present invention, a detailed explanation thereof will be omitted.

次に、このような装置を用いて金属製チューブ30の探
傷を行う場合について説明する。
Next, a case will be described in which flaw detection is performed on the metal tube 30 using such an apparatus.

まず、探傷すべき金属製チューブ30の仕様に応じた基
準インピーダンスを測定する。
First, a reference impedance is measured according to the specifications of the metal tube 30 to be tested.

この基準インピーダンスの測定には、金属製チューブ3
0の各仕様に応じた渦流探傷コイル18を有するプロー
ブ28と、それら各金属製チューブ30の標準となる標
準チューブとを用意する。
To measure this reference impedance, a metal tube 3
A probe 28 having an eddy current flaw detection coil 18 according to each specification of 0 and a standard tube that is a standard for each of these metal tubes 30 are prepared.

そして、各仕様の金属製チューブ30に対応したプロー
ブ28と標準デユープとを用いて、各仕様の金属製チュ
ーブ30毎の基準インピーダンスを測定する。
Then, the reference impedance of each metal tube 30 of each specification is measured using the probe 28 and standard duplex corresponding to the metal tube 30 of each specification.

まず、ブリッジ回路12に第一の仕様の金属製チューブ
30に対応した渦流探傷コイル18を取り付け、この渦
流探傷コイル18を備えたプローブ28を第一の仕様の
金属製チューブ30に対応した標準チューブ内に固定す
る。また、前記可変周波数発振器10の周波数を金属製
チューブ30の仕様に応じた最適の周波数に設定する。
First, the eddy current flaw detection coil 18 that is compatible with the metal tube 30 of the first specification is attached to the bridge circuit 12, and the probe 28 equipped with this eddy current flaw detection coil 18 is connected to the standard tube that is compatible with the metal tube 30 of the first specification. Fixed inside. Further, the frequency of the variable frequency oscillator 10 is set to an optimal frequency according to the specifications of the metal tube 30.

そして、この状態で前記ブリッジ回路12の端子c、d
間における電圧がO■となるように可変インダクタンス
コイル22のインダクタンスと可変抵抗器24の抵抗値
とを調節ツマミ32.34によって調節し、それらの調
節位置を求める。つまり、ブリッジ回路12の平衡時に
おける調節ツマミ32゜34の位置を求めるのである。
In this state, terminals c and d of the bridge circuit 12
The inductance of the variable inductance coil 22 and the resistance value of the variable resistor 24 are adjusted by the adjustment knobs 32 and 34 so that the voltage between them becomes O■, and their adjustment positions are determined. In other words, the positions of the adjustment knobs 32 and 34 when the bridge circuit 12 is in equilibrium are determined.

このときの可変インダクタンスコイル22と可変抵抗器
24との合成インピーダンスが第一の仕様の金属製チュ
ーブ30に対応した基準インピーダンスであり、上述の
ようにして求められた調節位置に各調節ツマミ32.3
4が調節されることによって、その2E、?P。
The composite impedance of the variable inductance coil 22 and the variable resistor 24 at this time is the reference impedance corresponding to the metal tube 30 of the first specification, and each adjustment knob 32. 3
By adjusting 4, the 2E, ? P.

インピーダンスが必要に応じて設定されることとなる。Impedance will be set as necessary.

このことから明らかなように、本実施例では、直列接続
された可変インダクタンスコイル22と可変抵抗器24
とから可変インピーダンス回路が構成されている。なお
、可変抵抗器14.16の抵抗値は予め固定しておく。
As is clear from this, in this embodiment, the variable inductance coil 22 and the variable resistor 24 are connected in series.
A variable impedance circuit is constructed from these. Note that the resistance values of the variable resistors 14 and 16 are fixed in advance.

第一の仕様の金属製チューブ30に対応する基準インピ
ーダンスを求めたならば、次に第二の仕様の金属製チュ
ーブ30に対応する渦流探傷コイル18と標準チューブ
を用いて、同様に、その第二の仕様の金属製チューブ3
0に対応する基準インピーダンス(正確には調節ツマミ
32.34の調節位置)を求め、以下同様に各仕様の金
属製チューブ30に対応する基準インピーダンスを求め
る。なお、渦流探傷コイル18を備えたプローブ28や
可変周波数発振器10の周波数としては、前述のように
、金属製チューブ30の各仕様に応じたものが用いられ
ることとなるが、これらは一般に従来の絶対値式渦流探
傷装置の各仕様の金属製チューブ30に対するものと同
様のものが用いられることとなる。
Once the reference impedance corresponding to the metal tube 30 of the first specification has been determined, similarly, using the eddy current flaw detection coil 18 and standard tube corresponding to the metal tube 30 of the second specification, Metal tube 3 with second specification
The reference impedance corresponding to 0 (more precisely, the adjustment position of the adjustment knobs 32 and 34) is determined, and the reference impedance corresponding to the metal tube 30 of each specification is determined in the same manner. As mentioned above, the frequencies of the probe 28 equipped with the eddy current testing coil 18 and the variable frequency oscillator 10 are determined according to the specifications of the metal tube 30, but these are generally different from the conventional ones. The same one as for the metal tube 30 of each specification of the absolute value type eddy current flaw detector will be used.

各仕様の金属製チューブ30に対する基準インピーダン
スの測定は以上のようにして行われるが、実際の探傷現
場においては、基準インピーダンスが予め求められてい
る装置を用いて探傷が行われることとなる。すなわち、
実際の探傷現場では、探傷ずべき金属製チ、−ブ30の
仕様に応じて発振器10の発振周波数が設定されるとと
もに、調節ツマミ32.34によって可変インダクタン
スコイル22のインダクタンスと可変抵抗器24の抵抗
値とが調節されて、それらの合成インピーダンスがその
仕様の金属製チューブ30に対応したX準インピーダン
スと一致するように設定され、それらの設定状態下にお
いて渦流探傷コイル18を備えたプローブ28が金属製
チューブ30内に挿入される。したがって、その金属製
チューブ30の管壁に傷がなければブリッジ回路12の
端子c、d間からは電圧が検出されないが、傷がある場
合には、その傷の大きさによって管壁の渦電流の発生状
態が変化して、渦流探傷コイル18のインピーダンスが
変化するため、ブリッジ回路12のバランスがずれて端
子c、d間に傷の大きさに応じた電位差が生ずる。この
電位差が図示しない信号処理回路に探傷信号として供給
される結果、金属製チューブ30の傷の有無、さらには
その大きさが検出され、所定の表示形態で表示されるこ
ととなる。
The reference impedance of the metal tube 30 of each specification is measured as described above, but in an actual flaw detection site, flaw detection is performed using a device whose reference impedance is determined in advance. That is,
At the actual flaw detection site, the oscillation frequency of the oscillator 10 is set according to the specifications of the metal tube 30 to be flaw-detected, and the inductance of the variable inductance coil 22 and the variable resistor 24 are adjusted using the adjustment knobs 32 and 34. The resistance values are adjusted so that their combined impedance matches the X quasi-impedance corresponding to the metal tube 30 of the specification, and under these settings, the probe 28 equipped with the eddy current flaw detection coil 18 It is inserted into a metal tube 30. Therefore, if there is no scratch on the tube wall of the metal tube 30, no voltage will be detected between terminals c and d of the bridge circuit 12, but if there is a scratch, eddy current in the tube wall will depend on the size of the scratch. Since the occurrence state of the flaw changes and the impedance of the eddy current flaw detection coil 18 changes, the balance of the bridge circuit 12 shifts, and a potential difference depending on the size of the flaw occurs between terminals c and d. As a result of this potential difference being supplied as a flaw detection signal to a signal processing circuit (not shown), the presence or absence of flaws in the metal tube 30 and their size are detected and displayed in a predetermined display format.

また、上述とは異なる仕様の金属製チューブ30の探傷
を行う場合には、渦流探傷コイル18を備えたプローブ
28.可変周波数発振器10の発振周波数、および基準
インピーダンスをそれぞれその仕様に対応したものに交
換、あるいは設定し直して、上述と同様の操作を行えば
よい。
In addition, when testing a metal tube 30 with specifications different from those described above, a probe 28. The oscillation frequency and reference impedance of the variable frequency oscillator 10 may be replaced or reset to those corresponding to the specifications, respectively, and operations similar to those described above may be performed.

このように、本実施例によれば、実際の探傷現場におい
て、標準チューブを用いることなく種々の仕様の金属製
チューブ30の探傷を行うことができるのであり、探傷
現場に標準チューブを持ち込んだり、その標準チューブ
の設置場所を考慮したり、あるいは同一のプローブ28
 (渦流探傷コイル18)を2個用意する等のことが不
要となるのである。
As described above, according to this embodiment, it is possible to perform flaw detection on metal tubes 30 of various specifications at an actual flaw detection site without using a standard tube, and it is possible to carry out flaw detection by bringing a standard tube to the flaw detection site, Consider the installation location of the standard tube or use the same probe 28
This eliminates the need to prepare two (eddy current flaw detection coils 18).

なお、上述のような絶対値式渦流探傷装置は、主に、発
電所や各種プラント等において熱交換管として用いられ
る伝熱管等の探傷、特に緩やかな減肉欠陥を検出する場
合に用いられることとなるが、かかる伝熱管の探傷に用
いられる場合には、それら伝熱管の各仕様に対して基準
インピーダンスの実数成分がほぼ5〜20Ω程度、また
虚数成分が5〜100Ω程度の範囲内で変化することか
ら、前記可変インダクタンスコイル22および可変抵抗
器24のインダクタンスおよび抵抗値もそれらインピー
ダンスの可変範囲をカバーできる程度の可変範囲を有す
ることが望ましい。勿論、それ以下の可変範囲のもので
あっても、本発明の効果を享受することができる。
The absolute value type eddy current flaw detection device as described above is mainly used for flaw detection of heat transfer tubes used as heat exchange tubes in power plants and various plants, especially for detecting gradual thinning defects. However, when used for flaw detection of such heat exchanger tubes, the real component of the reference impedance changes within the range of approximately 5 to 20 Ω and the imaginary component changes within the range of approximately 5 to 100 Ω for each specification of the heat exchanger tube. Therefore, it is desirable that the inductance and resistance values of the variable inductance coil 22 and the variable resistor 24 have a variable range that can cover the variable range of these impedances. Of course, even if the variable range is less than that, the effects of the present invention can be enjoyed.

また、前記実施例では、複数種類の金属製チューブ30
の探傷が可能とされていたが、特定の仕様の金属製チュ
ーブ30の探傷だけを行い得るような構成を採用するこ
とも可能である。この場合には、前記可変インダクタン
スコイル22および可変抵抗器24の各インピーダンス
の可変範囲は極めて狭いものでもよく、また発振器も特
定の周波数の交流信号だけを出力し得るものでよい。
Further, in the embodiment, a plurality of types of metal tubes 30
However, it is also possible to adopt a configuration in which only the metal tube 30 having a specific specification can be tested. In this case, the variable range of each impedance of the variable inductance coil 22 and the variable resistor 24 may be extremely narrow, and the oscillator may also be capable of outputting only an alternating current signal of a specific frequency.

その他、−々列挙はしないが、本発明が、かがる具体例
に限定して解釈されるべきものではなく、その趣旨を逸
脱しない範囲内において種々なる変形、改良等を施した
態様で実施し得ることは言うまでもないところである。
Although not listed, the present invention should not be construed as being limited to these specific examples, and may be implemented in various forms with various modifications and improvements within the scope of the spirit thereof. It goes without saying that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の要部を示す電気回路図であ
り、第2図は第1図の渦流探傷コイルを備えたプローブ
によって金属製チューブの探傷を行う様子を示す断面説
明図であり、第3図は第1図の可変インピーダンス回路
の一例を示す説明図である。 10:可変周波数発振器 12;ブリッジ回路 18;渦流探偵コイル (可変インピーダンス回路) 28ニブローブ    30:金属製チューブ32.3
4−調節ツマミ 出願人 住友軽金属工業株式会社 第1図
FIG. 1 is an electric circuit diagram showing a main part of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional explanatory diagram showing how a metal tube is tested for flaws by the probe equipped with the eddy current test coil shown in FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of the variable impedance circuit of FIG. 1. 10: Variable frequency oscillator 12; Bridge circuit 18; Eddy current detective coil (variable impedance circuit) 28 Nilobes 30: Metal tube 32.3
4-Adjustment knob Applicant: Sumitomo Light Metal Industries, Ltd. Figure 1

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)所定の周波数の交流信号を出力する発振器と、予
め定められたインダクタンスを有し、探傷されるべき金
属製チューブ内に挿入された状態において前記発振器か
らの交流信号が流される渦流探傷コイルと、 前記金属製チューブの標準に対する該渦流探傷コイルの
インピーダンスに相当する基準インピーダンスを保持す
るように調節し得る可変インピーダンス回路と を備え、該可変インピーダンス回路の基準インピーダン
スと、前記金属製チューブに挿入せしめられて、前記発
振器からの交流信号が流された状態の渦流探傷コイルの
インピーダンスとの相対変化に基づいて、前記金属製チ
ューブの探傷を行うようにしたことを特徴とする絶対値
式渦流探傷装置。
(1) An oscillator that outputs an alternating current signal of a predetermined frequency, and an eddy current flaw detection coil that has a predetermined inductance and through which the alternating current signal from the oscillator is passed when inserted into the metal tube to be tested. and a variable impedance circuit adjustable to maintain a reference impedance corresponding to the impedance of the eddy current flaw detection coil with respect to a standard of the metal tube, the reference impedance of the variable impedance circuit and the variable impedance circuit being inserted into the metal tube. Absolute value type eddy current flaw detection, characterized in that the metal tube is tested for flaws based on a relative change in impedance of the eddy current flaw detection coil when an alternating current signal from the oscillator is applied. Device.
(2)前記発振器が可変周波数発振器である特許請求の
範囲第1項記載の渦流探傷装置。
(2) The eddy current flaw detection apparatus according to claim 1, wherein the oscillator is a variable frequency oscillator.
(3)前記渦流探傷コイルと前記可変インピーダンス回
路とがブリッジ回路の一部として設けられ、前記インピ
ーダンスの相対変化が該ブリッジ回路のブリッジバラン
スのずれとして検出される特許請求の範囲第1項または
第2項に記載の渦流探傷装置。
(3) The eddy current flaw detection coil and the variable impedance circuit are provided as part of a bridge circuit, and a relative change in the impedance is detected as a shift in bridge balance of the bridge circuit. The eddy current flaw detection device according to item 2.
(4)前記可変インピーダンス回路が、可変抵抗器と可
変インダクタンスコイルとの直列接続回路である特許請
求の範囲第1項乃至第3項の何れかに記載の渦流探傷装
置。
(4) The eddy current flaw detection apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the variable impedance circuit is a series connection circuit of a variable resistor and a variable inductance coil.
(5)前記可変抵抗器の抵抗値の可変範囲が5〜20Ω
であり、前記可変インダクタンスコイルのインピーダン
スの可変範囲が5〜100Ωである特許請求の範囲第4
項記載の渦流探傷装置。
(5) The variable resistance value of the variable resistor has a variable range of 5 to 20Ω.
and the variable range of the impedance of the variable inductance coil is 5 to 100Ω.
The eddy current flaw detection device described in section.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5548214A (en) * 1991-11-21 1996-08-20 Kaisei Engineer Co., Ltd. Electromagnetic induction inspection apparatus and method employing frequency sweep of excitation current
WO1999027358A1 (en) * 1997-11-21 1999-06-03 Volvo Aero Corporation A testing method for machined workpieces
WO2004005912A3 (en) * 2002-07-02 2004-05-13 Rinas Geraetetechnik Gmbh Method for recognizing and locating material flaws with adjustment of measuring and exciter coils
JP2017003382A (en) * 2015-06-09 2017-01-05 近藤 信一 Coil sensor for non-destructive inspection and non-destructive inspection device having the same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5548214A (en) * 1991-11-21 1996-08-20 Kaisei Engineer Co., Ltd. Electromagnetic induction inspection apparatus and method employing frequency sweep of excitation current
WO1999027358A1 (en) * 1997-11-21 1999-06-03 Volvo Aero Corporation A testing method for machined workpieces
WO2004005912A3 (en) * 2002-07-02 2004-05-13 Rinas Geraetetechnik Gmbh Method for recognizing and locating material flaws with adjustment of measuring and exciter coils
JP2017003382A (en) * 2015-06-09 2017-01-05 近藤 信一 Coil sensor for non-destructive inspection and non-destructive inspection device having the same

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