JP7341925B2 - 複合体系積層造形(cbam)画像品質(iq)の検証及び拒絶処理 - Google Patents
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Description
Claims (15)
- 積層造形(AM)システムにおける基材の画像品質の検証方法であって、
物体の三次元(3D)モデルから前記基材上の前記物体の層を印刷することであって、前記印刷が湿潤材料及び粉末材料を適用することを有する、ことと、
前記基材が部品積層体上に位置づけされる前に、前記物体の前記印刷された層の画像を捕捉することと、
前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像を、既定のパターンと比較することと、
前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンと一致する場合、次いで、前記物体の前記印刷された層を、前記部品積層体上に位置付けることと、を含み、
前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンと一致しない場合、
前記AMシステムにより開始される是正処置の数をインクリメントさせ、
前記是正処置の数が所定の数を超えた場合、前記AMシステムをエラー状態にし、
欠陥のある印刷された層を廃棄物ロールに転送し、前記物体の前記層を再印刷することによって、
是正処置を取ることと、を含む、方法。 - 前記物体の再印刷された層の前記是正処置が、前記AMシステムの構成設定に基づいて、再処理の限界に達したかどうかを判定することであり、
前記再処理の限界に達していない場合、前記再印刷された層を、再処理のために、前記基材が部品積層体上に位置づけされる前の位置である初期位置に戻し、次いで、前記既定のパターンと比較し、
印刷が、基材から層を切断することを含む、請求項1に記載の方法。 - 前記エラー状態が、復旧するためのメンテナンスを必要とする、請求項2に記載の方法。
- 前記比較が、
前記印刷された層の前記捕捉された画像のハーフトーン値と、前記既定のパターンの前記ハーフトーン値との差異を計算することと、
各画素の前記差異を閾値レベルと比較して、前記画素に欠陥があるかどうかを判定することと、を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記方法が、
前記閾値レベルとの前記比較から特定された欠陥のある画素の数を数えることと、
前記特定された欠陥のある画素の数が閾値数未満である場合、前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンに一致すると判定することと、を更に含む、請求項4に記載の方法。 - 前記既定のパターンが、物体の前記層の意図された画像である、請求項5に記載の方法。
- 前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンに一致しない場合、前記物体の前記印刷された層を、再処理のために、前記基材が部品積層体上に位置づけされる前の位置である初期位置に戻し、次いで、前記既定のパターンと比較することと、を更に含む、請求項6に記載の方法。
- 積層造形(AM)システムであって、
プロセッサと、
前記プロセッサに連結された記憶デバイスと、を備え、前記記憶デバイスが、前記プロセッサで作動する命令を含有して、
物体の三次元(3D)モデルから基材上の前記物体の層を印刷することであって、前記印刷が湿潤材料及び粉末材料を適用することを有する、ことと、
前記基材が部品積層体上に位置づけされる前に、前記物体の前記印刷された層の画像を捕捉することと、
前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像を、既定のパターンと比較することと、
前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンと一致する場合、次いで、前記物体の前記印刷された層を、前記部品積層体上に位置付けることと、
前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンと一致しない場合、
前記AMシステムにより開始される是正処置の数をインクリメントさせ、
前記是正処置の数が所定の数を超えた場合、前記AMシステムをエラー状態にし、
欠陥のある印刷された層を廃棄物ロールに転送し、前記物体の前記層を再印刷することによって、
是正処置を取ることと、によって画像品質を検証する、システム。 - 前記プロセッサは、さらに、是正処置モジュールを備え、
前記是正処置モジュール、前記AMシステムの構成設定に基づいて、再処理の限界に達したかどうかを判定し、
再処理の前記限界に到達した場合、次いで、前記AMシステムをエラー状態にし、
再処理の前記限界に到達しない場合、前記再印刷された層を、再処理のために、前記基材が部品積層体上に位置づけされる前の位置である初期位置に戻し、次いで、前記既定のパターンと比較するように構成されている、請求項8に記載のシステム。 - 前記プロセッサが、さらに、比較モジュールを備え、
前記比較モジュールが、前記印刷された層の前記捕捉された画像のハーフトーン値と、前記既定のパターンの前記ハーフトーン値との差異を計算し、
各画素の前記差異を閾値レベルと比較して、前記画素に欠陥があるかどうかを判定するように構成されている、請求項8に記載のシステム。 - 前記プロセッサが、さらに、画像検証モジュールを備え、
前記画像検証モジュールが、前記閾値レベルとの前記比較から特定された欠陥のある画素の数を数え、
前記特定された欠陥のある画素の数が閾値数未満である場合、前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンに一致すると判定するように構成されている、請求項10に記載のシステム。 - 前記既定のパターンが、前記物体の前記層のための画像である、請求項11に記載のシステム。
- 前記プロセッサが、
前記物体の前記印刷された層の前記捕捉された画像が、前記既定のパターンに一致しない場合、前記物体の前記印刷された層を、再処理のために、前記基材が部品積層体上に位置づけされる前の位置である初期位置に戻し、次いで、前記既定のパターンと比較することと、を更に実行することによって、画像品質を検証する、請求項12に記載のシステム。 - コンピュータ実行可能命令を記憶した非一時的コンピュータ可読媒体であって、前記コンピュータ実行可能命令が、処理デバイス上で実行されると、前記処理デバイスに、請求項1に記載の方法を実行させる、コンピュータ実行可能命令を記憶した非一時的コンピュータ可読媒体。
- 前記是正処置が、前記物体の前記印刷された層を、再処理のために、前記基材が部品積層体上に位置づけされる前の位置である初期位置に戻し、次いで、前記既定のパターンと比較することであり、
前記物体の再印刷された層の前記是正処置が、積層造形(AM)システムの構成設定に基づいて、再処理の限界に達したかどうかを判定することであり、
再処理の前記限界に到達した場合、次いで、前記AMシステムをエラー状態にし、
再処理の前記限界に到達していない場合、前記再印刷された層を、再処理のために、前記初期位置に戻し、次いで、前記既定のパターンと比較し、
前記エラー状態が、復旧するためのメンテナンスを必要とする、請求項14に記載のコンピュータ実行可能命令を記憶した非一時的コンピュータ可読媒体。
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