JP7323417B2 - Method for manufacturing secondary battery - Google Patents

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Description

本開示は、二次電池の製造方法に関し、より特定的には、短絡検査工程を含む二次電池の製造方法に関する。 TECHNICAL FIELD The present disclosure relates to a method for manufacturing a secondary battery, and more particularly to a method for manufacturing a secondary battery including a short-circuit inspection step.

二次電池の製造では、活物質を塗工・乾燥したり電極を積層したりすることで電極体を作製する際に、金属異物が電極体の内部に混入する可能性がある。このような異物は電極体に短絡を生じさせ得る。一般に、二次電池の製造施設では、外部からの異物の混入を防ぐための様々な対策(フィルタなど)が施されている。しかし、たとえば電極切断時など、製造工程の中で生じる異物もある。また、異物が混入しなくとも、電極体の端部カット時にカット刃に付着した活物質が垂れて対向する活物質に移る(活物質ダレ)ことで短絡が生じる可能性もある。したがって、短絡検査工程を含む二次電池の製造方法が提案されている。 In the manufacture of secondary batteries, there is a possibility that metallic foreign matter may enter the electrode body when the electrode body is produced by coating and drying the active material or by laminating the electrodes. Such foreign matter can cause a short circuit in the electrode assembly. In general, manufacturing facilities for secondary batteries take various measures (filters, etc.) to prevent foreign matter from entering from the outside. However, there are also foreign substances generated during the manufacturing process, such as when cutting the electrodes. Also, even if foreign matter does not enter, there is a possibility that the active material attached to the cutting blade drips and moves to the opposing active material (active material sag) when cutting the edge of the electrode body, causing a short circuit. Therefore, a method for manufacturing a secondary battery including a short-circuit inspection process has been proposed.

たとえば特開2019-075302号公報(特許文献1)は、リチウムイオン二次電池の製造方法を開示する。この製造方法では、未充電の二次電池の単位時間当たりのセル電圧の降下量に基づいて短絡を判定する。 For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2019-075302 (Patent Document 1) discloses a method for manufacturing a lithium ion secondary battery. In this manufacturing method, a short circuit is determined based on the amount of cell voltage drop per unit time of an uncharged secondary battery.

特開2019-075302号公報JP 2019-075302 A 特開2015-103437号公報JP 2015-103437 A 国際公開第2015/136930号WO2015/136930

特許文献1に開示されたリチウムイオン二次電池の製造方法では、二次電池の短絡の有無は判定できるものの、短絡箇所と特定できない。短絡箇所が特定できないと、短絡が生じた電極体を単に廃棄せざるを得ない。しかし、短絡箇所を特定することで、短絡箇所を除去した電極体を再利用できる。あるいは、短絡が生じやすい箇所を把握し、その理由を分析することで、短絡を防止するための改良も可能になる。したがって、短絡検査工程を含む二次電池の製造方法は、短絡箇所まで特定可能であることが望ましい。 In the method for manufacturing a lithium ion secondary battery disclosed in Patent Document 1, the presence or absence of a short circuit in the secondary battery can be determined, but the short circuit location cannot be specified. If the location of the short circuit cannot be identified, the electrode body in which the short circuit has occurred must simply be discarded. However, by specifying the short-circuited portion, the electrode body from which the short-circuited portion is removed can be reused. Alternatively, by grasping locations where short circuits are likely to occur and analyzing the reasons, it is possible to make improvements to prevent short circuits. Therefore, it is desirable that the manufacturing method of the secondary battery including the short-circuit inspection step can identify even the short-circuit location.

本開示は、かかる課題を解決するためになされたものであり、本開示の目的は、二次電池の電極体における短絡箇所を特定可能な技術を提供することである。 The present disclosure has been made to solve such problems, and an object of the present disclosure is to provide a technique capable of identifying a short-circuit location in an electrode body of a secondary battery.

(1)本開示のある局面に従う二次電池の製造方法は、第1~第3のステップを備える。第1のステップは、正極集電体、正極活物質層、セパレータ層、負極活物質層および負極集電体が積層された電極体を組み立てるステップである。第2のステップは、正極集電体と負極集電体との間に電流を流した状態で、正極集電体および負極集電体のうちの一方の表面に位置する複数の測定点の間の電圧を測定するステップである。複数の測定点は、第1~第3の測定点と、第1~第3の測定点により規定される円形領域の内部に位置する基準点とを含む。測定するステップは、第1の測定点と基準点との間の第1の電圧を測定するステップと、第2の測定点と基準点との間の第2の電圧を測定するステップと、第3の測定点と基準点との間の第3の電圧を測定するステップとを含む。第3のステップは、第1~第3の電圧に関する所定条件が成立する場合に、電極体における短絡箇所が円形領域の内部であると特定するステップである。 (1) A method for manufacturing a secondary battery according to an aspect of the present disclosure includes first to third steps. The first step is to assemble an electrode body in which a positive electrode current collector, a positive electrode active material layer, a separator layer, a negative electrode active material layer, and a negative electrode current collector are laminated. In the second step, while a current is flowing between the positive electrode current collector and the negative electrode current collector, is a step of measuring the voltage of The plurality of measurement points includes first to third measurement points and a reference point located inside a circular area defined by the first to third measurement points. The measuring step includes measuring a first voltage between the first measurement point and the reference point, measuring a second voltage between the second measurement point and the reference point, measuring a third voltage between the three measurement points and the reference point. A third step is a step of specifying that the short-circuit location in the electrode body is inside the circular region when predetermined conditions regarding the first to third voltages are satisfied.

(2)基準点は、第1~第3の測定点の各々から等距離に位置する。 (2) The reference point is equidistant from each of the first to third measurement points.

(3)第1~第3の電圧の各々の符号には、電極体の非短絡時における基準符号が対応するように定められる。所定条件は、第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の符号が対応する基準符号と異なる場合に成立する。 (3) Each sign of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference sign when the electrode body is not short-circuited. The predetermined condition is met when the sign of at least one of the first to third voltages is different from the corresponding reference sign.

(4)第1~第3の電圧の各々の大きさには、電極体の非短絡時における基準量が対応するように定められる。所定条件は、第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の大きさが対応する基準量よりも大きい場合に成立する。 (4) Each magnitude of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference amount when the electrode body is not short-circuited. The predetermined condition is met when the magnitude of at least one of the first to third voltages is greater than the corresponding reference amount.

正極集電体と負極集電体との間に電流を流すと、集電体面内の短絡箇所の近傍において大きな電流が流れる。短絡が生じると、短絡が請じていない場合と比べて、電圧の符号または大きさ(電圧降下の向きまたは大きさ)が変化する。この変化は、第1~第3の測定点により規定される円形領域の内部で起こる。上記(1)~(4)の方法において第1~第3の測定点と基準点との間の電圧を測定し、第1~第3の電圧に関する所定条件が成立するかどうかを判定することは、円形領域の内部における電流降下の様子を取得することを意味する。したがって、上記(1)~(4)の方法によれば、短絡箇所を円形領域の内部であると特定できる。 When a current is passed between the positive electrode current collector and the negative electrode current collector, a large current flows in the vicinity of the short-circuited portion in the current collector plane. When a short circuit occurs, the sign or magnitude of the voltage (the direction or magnitude of the voltage drop) changes compared to when the short circuit does not occur. This change occurs within a circular area defined by the first to third measurement points. Measuring the voltages between the first to third measurement points and the reference point in the above methods (1) to (4), and determining whether or not predetermined conditions regarding the first to third voltages are established. means to obtain the state of the current drop inside the circular area. Therefore, according to the above methods (1) to (4), the short circuit location can be specified as being inside the circular area.

(5)第1~第3の電圧の各々の符号には、電極体の非短絡時における基準符号が対応するように定められる。第1~第3の電圧の各々の大きさには、電極体の非短絡時における基準量が対応するように定められる。所定条件は、第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の符号が対応する基準符号と異なり、かつ、第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の大きさが対応する基準量よりも大きい場合に成立する。 (5) Each sign of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference sign when the electrode body is not short-circuited. Each magnitude of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference amount when the electrode body is not short-circuited. The predetermined condition is that the sign of at least one of the first to third voltages is different from the corresponding reference sign, and the magnitude of at least one of the first to third voltages corresponds. It is established when it is larger than the reference amount.

上記(5)の方法においては、電圧の符号および大きさ(電圧降下の向きおよび大きさ)の両方に基づいて、円形領域の内部で短絡が生じているかが判定される。このように、電圧の符号および大きさの両方を用いることで、実際には短絡が生じていないにも拘わらず短絡が生じていると誤判定する可能性を低減できる。 In method (5) above, it is determined whether a short circuit occurs inside the circular region based on both the sign and magnitude of the voltage (the direction and magnitude of the voltage drop). By using both the sign and the magnitude of the voltage in this way, it is possible to reduce the possibility of erroneously determining that a short circuit has occurred even though it has not actually occurred.

(6)複数の測定点は、円形領域を規定する第4の測定点をさらに含む。測定するステップは、第4の測定点と基準点との間の第4の電圧を測定するステップをさらに含む。第1~第4の測定点のうちの2点を結ぶ直線と残りの2点を結ぶ直線とは、互いに交差する。 (6) The plurality of measurement points further includes a fourth measurement point defining a circular area. The measuring step further includes measuring a fourth voltage between the fourth measurement point and the reference point. A straight line connecting two of the first to fourth measurement points and a straight line connecting the remaining two points intersect each other.

上記(6)の方法によれば、4点の電圧を測定し、交差する2方向の電圧降下を取得することで、短絡箇所の特定精度(後述する検出率)を向上できる。 According to the above method (6), by measuring voltages at four points and acquiring voltage drops in two intersecting directions, it is possible to improve the accuracy of specifying a short-circuit location (detection rate, which will be described later).

(7)二次電池の製造方法は、特定するステップにおいて特定された短絡箇所を除去し、電極体のうちの残りの部分を外装材に収納するステップをさらに備える。 (7) The method for manufacturing a secondary battery further includes the step of removing the short-circuited portion identified in the identifying step and housing the remaining portion of the electrode assembly in an exterior material.

上記(7)の方法によれば、短絡箇所だけ除去して電極体を再利用することで、二次電池の歩留まりを向上できる。 According to the method (7) above, the yield of the secondary battery can be improved by removing only the short-circuited portion and reusing the electrode assembly.

(8)複数の測定点は、予め位置決めされている。測定するステップは、複数の測定点のうちの任意の2点間の電圧を測定するステップである。二次電池の製造方法は、複数の測定点の中から所定条件が成立するような測定点を第1~第3の測定点および基準点として選択するステップをさらに備える。特定するステップは、選択された第1~第3の測定点により規定される円形領域を短絡箇所として特定するステップである。 (8) Multiple measurement points are pre-positioned. The step of measuring is a step of measuring a voltage between any two of the plurality of measurement points. The method for manufacturing a secondary battery further comprises a step of selecting measurement points that satisfy a predetermined condition from among the plurality of measurement points as the first to third measurement points and the reference point. The specifying step is a step of specifying a circular area defined by the selected first to third measurement points as a short-circuit location.

上記(8)の方法においては、集電体の面内で予め位置決めされた、すべての箇所の電圧を測定し、その中から所定条件が成立するような測定点の組合せを選択する。これにより、測定位置のばらつきに起因する誤差を低減できるとともに、短絡箇所を特定するのに要する時間も短縮できる。 In the method (8) above, the voltages are measured at all points previously positioned in the plane of the current collector, and a combination of measurement points that satisfies a predetermined condition is selected from among them. As a result, it is possible to reduce errors caused by variations in measurement positions, and to shorten the time required to identify the short-circuit location.

本開示によれば、二次電池の電極体における短絡箇所を特定できる。 According to the present disclosure, it is possible to identify a short circuit location in an electrode body of a secondary battery.

実施の形態1における二次電池の構成を示す図である。1 is a diagram showing a configuration of a secondary battery in Embodiment 1; FIG. 短絡検査工程において使用される検査システムの全体構成を概略的に示す図である。It is a figure showing roughly the whole inspection system composition used in a short-circuit inspection process. 実施の形態1に係る二次電池の製造方法を示すフロチャートである。4 is a flow chart showing a method for manufacturing a secondary battery according to Embodiment 1. FIG. 電極体における電圧の測定箇所を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining voltage measurement points in an electrode body; 電圧の測定箇所をより詳細に説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining in more detail voltage measurement points; 電極体の正常時における正極集電箔の電位分布を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining the potential distribution of the positive current collector foil when the electrode assembly is normal; 電極体に短絡が生じている場合の電位分布を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining a potential distribution when a short circuit occurs in an electrode body; 実施の形態2における検査治具の構成を示す分解斜視図である。FIG. 11 is an exploded perspective view showing the configuration of an inspection jig according to Embodiment 2; 実施の形態2における電極体の電圧測定箇所を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing voltage measurement points of an electrode body according to Embodiment 2; 測定点の配置および数の一例を示す第1の図である。FIG. 2 is a first diagram showing an example of the arrangement and number of measurement points; 測定点の配置および数の一例を示す第2の図である。FIG. 4 is a second diagram showing an example of the arrangement and number of measurement points; 測定点の配置および数の一例を示す第3の図である。FIG. 11 is a third diagram showing an example of the arrangement and number of measurement points; 電極体における電流経路を説明するための分解斜視図である。FIG. 4 is an exploded perspective view for explaining current paths in the electrode body; 電極体における電流経路を説明するための断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view for explaining a current path in an electrode body; 電極体に短絡が生じていない場合の各測定点の電圧測定結果の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of voltage measurement results at each measurement point when no short circuit occurs in the electrode body; 短絡が生じた電極体における電流の流れを説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining current flow in an electrode body in which a short circuit has occurred; 電極体に短絡が生じている場合の各測定点の電圧測定結果の一例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an example of voltage measurement results at each measurement point when a short circuit occurs in the electrode body; 実施の形態2に係る二次電池の製造方法を示すフロチャートである。6 is a flow chart showing a method for manufacturing a secondary battery according to Embodiment 2. FIG. 電極体の短絡箇所の特定精度を向上させる手法を説明するための図である。FIG. 10 is a diagram for explaining a technique for improving the accuracy of specifying a short-circuited portion of an electrode body; 短絡箇所の除去手法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the removal method of a short circuit location.

以下、本実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付して、その説明は繰り返さない。 Hereinafter, this embodiment will be described in detail with reference to the drawings. The same or corresponding parts in the drawings are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will not be repeated.

[実施の形態1]
<二次電池の構成>
以下で説明する実施の形態1において、本開示に係る製造方法によって製造される二次電池は、正極と負極との間の電荷の移動を固体電解質が担う全固体電池である。しかし、本開示に係る製造方法によって製造可能な二次電池は全固体電池に限定されず、いわゆる液系の二次電池であってもよい。また、液系の二次電池の種類も特に限定されるものではなく、たとえばリチウムイオン二次電池であってもよい。
[Embodiment 1]
<Configuration of secondary battery>
In Embodiment 1 described below, the secondary battery manufactured by the manufacturing method according to the present disclosure is an all-solid battery in which a solid electrolyte is responsible for charge transfer between the positive electrode and the negative electrode. However, secondary batteries that can be manufactured by the manufacturing method according to the present disclosure are not limited to all-solid-state batteries, and may be so-called liquid secondary batteries. Also, the type of the liquid secondary battery is not particularly limited, and may be, for example, a lithium ion secondary battery.

図1は、実施の形態1における二次電池の構成を示す図である。図1を参照して、二次電池10は電極体1を備える。電極体1は、正極層21と、負極層22と、セパレータ層3と、正極集電箔41と、負極集電箔42と、正極端子51と、負極端子52とを含む。 FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a secondary battery according to Embodiment 1. FIG. Referring to FIG. 1 , secondary battery 10 includes electrode body 1 . The electrode body 1 includes a positive electrode layer 21 , a negative electrode layer 22 , a separator layer 3 , a positive current collecting foil 41 , a negative current collecting foil 42 , a positive terminal 51 and a negative terminal 52 .

正極層21は、正極活物質および固体電解質を含む。正極活物質は、たとえば、リチウムニッケルコバルトマンガン複合酸化物を含んでもよい。正極層21は、導電材およびバインダ等をさらに含んでもよい。なお、正極層21は、本開示に係る「正極活物質層」に相当する。 The positive electrode layer 21 contains a positive electrode active material and a solid electrolyte. The positive electrode active material may contain, for example, a lithium-nickel-cobalt-manganese composite oxide. The positive electrode layer 21 may further contain a conductive material, a binder, and the like. In addition, the positive electrode layer 21 corresponds to the "positive electrode active material layer" according to the present disclosure.

負極層22は、負極活物質および固体電解質を含む。負極活物質は、たとえば、黒鉛、珪素、酸化珪素を含んでもよい。負極層22は、導電材およびバインダ等をさらに含んでもよい。なお、負極層22は、本開示に係る「負極活物質層」に相当する。 The negative electrode layer 22 contains a negative electrode active material and a solid electrolyte. The negative electrode active material may contain, for example, graphite, silicon, or silicon oxide. The negative electrode layer 22 may further contain a conductive material, a binder, and the like. The negative electrode layer 22 corresponds to the "negative electrode active material layer" according to the present disclosure.

セパレータ層(絶縁層)3は、正極層と負極層との間に配置されている。セパレータ層3は、固体電解質を含む固体電解質層である。固体電解質は、たとえば、硫化物ガラス(たとえば硫化リチウムと硫化リンとの混合物)を含んでもよい。固体電解質層は、たとえばバインダをさらに含んでもよい。正極層21、負極層22およびセパレータ層3の各層に含まれる固体電解質は、同一であってもよいし異なってもよい。 The separator layer (insulating layer) 3 is arranged between the positive electrode layer and the negative electrode layer. The separator layer 3 is a solid electrolyte layer containing a solid electrolyte. The solid electrolyte may include, for example, sulfide glass (eg, a mixture of lithium sulfide and phosphorus sulfide). The solid electrolyte layer may further contain a binder, for example. The solid electrolyte contained in each layer of the positive electrode layer 21, the negative electrode layer 22 and the separator layer 3 may be the same or different.

正極層21、負極層22およびセパレータ層3の各層は、たとえば、粉体成形により形成されてもよいし、スラリーの塗布により形成されていてもよい。また、正極層21、負極層22およびセパレータ層3は、たとえば圧縮成形により、一体化されてもよい。 Each layer of the positive electrode layer 21, the negative electrode layer 22, and the separator layer 3 may be formed by, for example, powder molding, or may be formed by applying slurry. Moreover, the positive electrode layer 21, the negative electrode layer 22 and the separator layer 3 may be integrated by, for example, compression molding.

正極集電箔41は、正極層21に電気的に接続されている。正極集電箔41は、たとえばアルミニウム箔である。負極集電箔42は、負極層22に電気的に接続されている。負極集電箔42は、たとえば銅箔である。正極端子51は、正極集電箔41に電気的に接続されている。負極集電箔42は、負極層22に電気的に接続されている。 The positive collector foil 41 is electrically connected to the positive electrode layer 21 . Positive current collector foil 41 is, for example, aluminum foil. The negative current collector foil 42 is electrically connected to the negative electrode layer 22 . Negative collector foil 42 is, for example, copper foil. The positive terminal 51 is electrically connected to the positive collector foil 41 . The negative current collector foil 42 is electrically connected to the negative electrode layer 22 .

なお、電極体1は、後述する短絡検査工程の実施後に、アルミラミネートフィルム製のパウチ等の外装材(図示せず)に収納される。これにより、全固体電池である二次電池10が完成する。 The electrode body 1 is housed in an exterior material (not shown) such as a pouch made of an aluminum laminate film after the short-circuit inspection step described later. As a result, the secondary battery 10, which is an all-solid battery, is completed.

<検査システムの構成>
図2は、短絡検査工程において使用される検査システムの全体構成を概略的に示す図である。図2を参照して、検査システム9は、検査治具91と、電流発生器92と、電圧測定装置93と、制御装置94とを備える。
<Configuration of inspection system>
FIG. 2 is a diagram schematically showing the overall configuration of an inspection system used in the short-circuit inspection process. Referring to FIG. 2 , inspection system 9 includes inspection jig 91 , current generator 92 , voltage measuring device 93 , and control device 94 .

検査治具91は、検査対象となる電極体1が動かないように電極体1を固定するとともに、電流印可中に電極体1を環境から適切に電気的に絶縁する。検査治具91の材料としては、たとえば絶縁性の樹脂を用いることができる。 The inspection jig 91 fixes the electrode body 1 to be inspected so that it does not move, and properly electrically insulates the electrode body 1 from the environment during current application. As a material of the inspection jig 91, for example, an insulating resin can be used.

図2の吹き出し中には検査治具91の上面図が示されている。検査治具91には複数本(この例では5本)の測定用の導体(測定ピン)が設けられている。各測定ピンは、棒状の金属であり、たとえば直径2mmの銅棒である。 A top view of the inspection jig 91 is shown in the balloon in FIG. The inspection jig 91 is provided with a plurality of (five in this example) measurement conductors (measurement pins). Each measuring pin is a bar-shaped metal, for example a copper bar with a diameter of 2 mm.

また、検査治具91は、電極体1を上下から挟み込むことで電極体1に加圧するようにも構成されている。電極体1に加圧しない場合、電極体1の構成要素(正極層21、負極層22、セパレータ層3、正極集電箔41および負極集電箔42)間の接触状態が場所によって異なり得る。そうすると、構成要素が強固に接触している箇所では内部抵抗が低い一方で、構成要素間の接触が緩い箇所では内部抵抗が高い。その結果、測定箇所に応じて、電圧の測定結果にバラツキが生じる可能性がある。電極体1に所定の圧力が印可することで、電極体1の構成要素間の接触状態が箇所によらずに均一になるので、電圧の測定バラツキを低減できる。 The inspection jig 91 is also configured to apply pressure to the electrode body 1 by sandwiching the electrode body 1 from above and below. When the electrode body 1 is not pressurized, the contact state between the components of the electrode body 1 (the positive electrode layer 21, the negative electrode layer 22, the separator layer 3, the positive electrode current collector foil 41 and the negative electrode current collector foil 42) may differ depending on the location. Then, the internal resistance is low where the components are in firm contact, while the internal resistance is high where the contact between the components is loose. As a result, the voltage measurement results may vary depending on the measurement locations. By applying a predetermined pressure to the electrode body 1, the contact state between the components of the electrode body 1 becomes uniform irrespective of the location, so that variations in voltage measurement can be reduced.

電流発生器92は、電極体1に設けられた正極端子51と負極端子52との間に所定の大きさ(たとえば数十mA程度)の定電流を流す。 The current generator 92 applies a constant current of a predetermined magnitude (for example, about several tens of mA) between the positive electrode terminal 51 and the negative electrode terminal 52 provided on the electrode assembly 1 .

電圧測定装置93は、電流発生器92を用いた定電流の印可中に、電極体1に設定される2つの測定点(後述)の間の電圧を測定する。一般に、集電箔の抵抗は、正極活物質および負極活物質の抵抗と比べて非常に小さい。そのため、正極集電箔41および負極集電箔42における電圧降下量は微小である。したがって、電圧測定装置93には高い電圧分解能が求められる。電圧測定装置93には、たとえば、10nVの電圧分解能を有するHIOKI製の直流電圧計DM7276を用いることができる。 The voltage measuring device 93 measures the voltage between two measuring points (described later) set on the electrode body 1 while the constant current is applied using the current generator 92 . In general, the resistance of the current collector foil is much smaller than the resistance of the positive electrode active material and the negative electrode active material. Therefore, the amount of voltage drop in the positive current collector foil 41 and the negative current collector foil 42 is very small. Therefore, the voltage measuring device 93 is required to have high voltage resolution. For the voltage measuring device 93, for example, a DC voltmeter DM7276 manufactured by HIOKI having a voltage resolution of 10 nV can be used.

制御装置94は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)、メモリおよび入出力ポートを含むマイクロコンピュータである。制御装置94は、電流発生器92を制御する。制御装置94は、正極端子51と負極端子52との間の電圧を制御することが可能に構成されていてもよい。制御装置94は、電圧測定装置93による電圧測定結果を受け、電極体1における短絡の有無を判定したり短絡箇所を特定したりする。 The control device 94 is, for example, a microcomputer including a CPU (Central Processing Unit), memory and input/output ports. Controller 94 controls current generator 92 . The control device 94 may be configured to be able to control the voltage between the positive terminal 51 and the negative terminal 52 . The control device 94 receives the result of the voltage measurement by the voltage measuring device 93, determines whether or not there is a short circuit in the electrode body 1, and identifies the location of the short circuit.

なお、電極体1が全固体電池であり、硫化物ガラス等の硫化系の固体電解質を用いる場合、硫黄と空気中の水分とが反応することで有害ガス(硫化水素)が発生し得る。そのため、電極体1が大気に曝露しないように、少なくとも検査治具91はグローブボックス(図示せず)内に設置することが望ましい。 When the electrode body 1 is an all-solid battery and a sulfide-based solid electrolyte such as sulfide glass is used, a harmful gas (hydrogen sulfide) may be generated by reaction between sulfur and moisture in the air. Therefore, it is desirable to install at least the inspection jig 91 in a glove box (not shown) so that the electrode body 1 is not exposed to the atmosphere.

<二次電池の製造フロー>
図3は、実施の形態1に係る二次電池10の製造方法を示すフロチャートである。以下、フロチャート内の各ステップを「S」と略す場合がある。
<Manufacturing flow of secondary battery>
FIG. 3 is a flow chart showing a method for manufacturing secondary battery 10 according to the first embodiment. Hereinafter, each step in the flowchart may be abbreviated as "S".

図3を参照して、S11において、二次電池10の電極体1を組み立てる電極組立工程が実施される。電極体1の構成は図1にて説明した通りであり、電極体1の組み立てには公知の手法を採用できるので、ここでの説明は繰り返さない。続くS12~S14,S16,S17において、電極体1の短絡検査工程が実施される。短絡検査工程により電極体1における短絡の有無が判定され、さらに短絡箇所が特定される。 Referring to FIG. 3, in S11, an electrode assembling step of assembling electrode assembly 1 of secondary battery 10 is performed. The configuration of the electrode body 1 is as described with reference to FIG. 1, and a known method can be adopted for assembling the electrode body 1, so the description will not be repeated here. In subsequent S12 to S14, S16 and S17, the short-circuit inspection process of the electrode body 1 is performed. The presence or absence of a short circuit in the electrode body 1 is determined by the short circuit inspection step, and the short circuit location is specified.

まず、S12において、制御装置94は、電流発生器92を用いて定電流を印可しながら複数の測定ピンの電位を電圧測定装置93により測定することで、各測定点(測定ピンに対応する正極集電箔41上の位置)における電圧降下を測定する。さらに、S13において、制御装置94は、S12にて測定された電圧降下に基づいて、電極体1における短絡の有無を判定する。 First, in S12, the control device 94 measures the potential of a plurality of measurement pins with the voltage measurement device 93 while applying a constant current using the current generator 92, thereby measuring each measurement point (positive electrode corresponding to the measurement pin). position on the current collector foil 41) is measured. Further, in S13, the control device 94 determines whether or not there is a short circuit in the electrode body 1 based on the voltage drop measured in S12.

電極体1に短絡が生じていない場合(S13においてNO)、制御装置94は、電極体1が良品であると判定する(S14)。この場合には、その後、電極体1が外装材に収納される(S15)。一方、電極体1に短絡が生じている場合(S13においてYES)、制御装置94は、電極体1は不良品であると判定する(S15)。そして、制御装置94は、短絡箇所を特定される(S17)。以下、S13において短絡を判定する原理およびS17において短絡箇所を特定する原理について説明する。 If no short circuit occurs in electrode body 1 (NO in S13), control device 94 determines that electrode body 1 is non-defective (S14). In this case, the electrode assembly 1 is then housed in the exterior material (S15). On the other hand, if there is a short circuit in electrode body 1 (YES in S13), control device 94 determines that electrode body 1 is defective (S15). Then, the controller 94 identifies the location of the short circuit (S17). The principle of determining a short circuit in S13 and the principle of identifying a short circuit location in S17 will be described below.

<短絡の検出メカニズム>
図4は、電極体1における電圧の測定箇所を説明するための図である。図4を参照して、本実施の形態では、正極集電箔41および負極集電箔42のうちの一方に5つの測定点が設けられる。以下では、各測定点は正極集電箔41上に設けられるものとするが、正極集電箔41を負極集電箔42と適宜読み替えてもよい。
<Short circuit detection mechanism>
FIG. 4 is a diagram for explaining voltage measurement points in the electrode body 1. FIG. Referring to FIG. 4, in the present embodiment, one of positive current collector foil 41 and negative current collector foil 42 is provided with five measurement points. Although each measurement point is assumed to be provided on the positive current collector foil 41 below, the positive current collector foil 41 may be read as the negative current collector foil 42 as appropriate.

図5は、電圧の測定箇所をより詳細に説明するための図である。図5を参照して、測定点P0~P4の位置は、正極集電箔41上に仮想的に描かれる2つの円Cに基づいて定められる。測定点P0は円Cの中心に位置する。以下、測定点P0を基準点P0とも記載し、基準点P0の電位を基準電位φとも記載する。なお、円Cにより規定される領域が本開示に係る「円形領域」に相当する。 FIG. 5 is a diagram for explaining the voltage measurement points in more detail. Referring to FIG. 5, the positions of measurement points P0 to P4 are determined based on two circles C virtually drawn on positive electrode current collector foil 41. As shown in FIG. The measurement point P0 is located at the center of the circle C. Hereinafter, the measurement point P0 is also referred to as the reference point P0, and the potential of the reference point P0 is also referred to as the reference potential φ0 . Note that the area defined by the circle C corresponds to the "circular area" according to the present disclosure.

残りの測定点P1~P4は、円Cの円周上に位置する。この場合、基準点P0は、測定点P1~P4の各々から等距離に位置することになる。測定点P1~P4の位置は、測定点P1と測定点P3とを結ぶ直線(円Cの直径)と、測定点P2と測定点P4とを結ぶ直線とが互いに交差(より好ましくは直交)する位置とすることが望ましい。 The remaining measurement points P1-P4 are located on the circumference of the circle C. FIG. In this case, the reference point P0 is equidistant from each of the measurement points P1 to P4. The positions of the measurement points P1 to P4 are such that a straight line connecting the measurement points P1 and P3 (the diameter of the circle C) and a straight line connecting the measurement points P2 and P4 intersect each other (more preferably orthogonally). Position is preferred.

図5に示す例では、測定点P3が正極端子51側に位置し、測定点P1が負極端子52側に位置する。電極体1に電圧を印可する場合、正極端子51から負極端子52へと向かう方向(図中左側から右側へと向かう方向)に電流が流れるので、測定点P3が電流の流通方向の上流側に位置し、測定点P1が下流側に位置するとも言える。測定点P2,P4は、電流の流通方向に直交する方向に位置する。 In the example shown in FIG. 5, the measurement point P3 is positioned on the positive terminal 51 side, and the measurement point P1 is positioned on the negative terminal 52 side. When a voltage is applied to the electrode body 1, the current flows in the direction from the positive electrode terminal 51 to the negative electrode terminal 52 (the direction from the left side to the right side in the drawing), so the measurement point P3 is upstream in the current flow direction. It can also be said that the measuring point P1 is located downstream. The measurement points P2 and P4 are positioned in a direction perpendicular to the direction of current flow.

このような5つの測定点において、基準点P0の電位(基準電位φ)を基準とした測定点P1~P4の電位が測定される。以下では、測定点P1の電位φと基準電位φとの間の電圧(電位差)をVと記載する(下記式(1)参照)。
=φ-φ ・・・(1)
At these five measurement points, the potentials of the measurement points P1 to P4 are measured with the potential of the reference point P0 (reference potential φ 0 ) as a reference. Hereinafter, the voltage (potential difference) between the potential φ1 at the measurement point P1 and the reference potential φ0 is referred to as V1 (see formula (1) below).
V 1 = φ 1 - φ 0 (1)

同様に、下記式(2)~(4)に示すように、測定点P2の電位φと基準電位φとの間の電圧をVと記載する。測定点P3の電位φと基準電位φとの間の電圧をVと記載する。測定点P4の電位φと基準電位φとの間の電圧をVと記載する。
=φ-φ ・・・(2)
=φ-φ ・・・(3)
=φ-φ ・・・(4)
Similarly, as shown in the following equations (2) to (4), the voltage between the potential φ2 at the measurement point P2 and the reference potential φ0 is denoted as V2 . The voltage between the potential φ3 at the measuring point P3 and the reference potential φ0 is denoted as V3 . The voltage between the potential φ4 at the measuring point P4 and the reference potential φ0 is denoted as V4 .
V 2 = φ 2 - φ 0 (2)
V 330 (3)
V 4 = φ 4 - φ 0 (4)

図6は、電極体1の正常時(短絡の非発生時)における正極集電箔41の電位分布を説明するための図である。図6および後述する図7では、高電位から低電位へと向かう矢印(すなわち、電流の流通方向を示す矢印)により正極集電箔41の電位分布を表している。 FIG. 6 is a diagram for explaining the potential distribution of the positive current collecting foil 41 when the electrode body 1 is normal (when no short circuit occurs). 6 and FIG. 7, which will be described later, the potential distribution of the positive current collecting foil 41 is represented by an arrow pointing from a high potential to a low potential (that is, an arrow indicating the direction of current flow).

図6を参照して、電極体1に短絡が生じていない場合、図中左側の正極端子51から図中右側の負極端子52へと電流が流れる。これは、正極端子51に近い測定点P3の電位が高く、次に中央の基準点P0の電位が次に高く、負極端子52に近い測定点P1の電位が最も低いためである。したがって、測定点P3の電圧Vは正であり、測定点P1の電圧Vは負である。また、電圧V,Vは、いずれも負である。なお、電極体1の非短絡時における電圧V~Vの符号は、本開示に係る「基準符号」に相当する。 Referring to FIG. 6, when no short circuit occurs in electrode body 1, current flows from positive electrode terminal 51 on the left side of the drawing to negative electrode terminal 52 on the right side of the drawing. This is because the potential at the measuring point P3 near the positive terminal 51 is the highest, the potential at the central reference point P0 is the next highest, and the potential at the measuring point P1 near the negative terminal 52 is the lowest. Therefore, the voltage V3 at the measuring point P3 is positive and the voltage V1 at the measuring point P1 is negative. Also, the voltages V 2 and V 4 are both negative. The signs of the voltages V 1 to V 4 when the electrode body 1 is not short-circuited correspond to the “reference signs” according to the present disclosure.

電流が上流から下流へと流れるに従って電流の一部が電流の主な流通方向(図中の左右方向)に交差する方向(上下方向など)に分岐していくので、電流の大きさは下流側ほど小さくなる。そのため、上流側の測定点P3を流れる電流の方が、下流側の測定点P1を流れる電流よりも大きい。したがって、電圧Vの大きさ(測定点P3と基準点P0との間の電圧降下)は、電圧Vの大きさ(測定点P1と基準点P0との間の電圧降下)よりも大きい。また、電圧Vの大きさは、電圧V,Vの大きさよりも大きい。図6では、電圧V~Vの大きさ(絶対値)の大小関係を矢印の太さにより表現している。なお、電極体1の非短絡時における電圧V~Vの大きさは、本開示に係る「基準量」に相当する。 As the current flows from upstream to downstream, part of the current branches off in a direction (vertical direction, etc.) that intersects the main flow direction of the current (horizontal direction in the figure), so the magnitude of the current is the downstream direction. becomes smaller. Therefore, the current flowing through the measurement point P3 on the upstream side is larger than the current flowing through the measurement point P1 on the downstream side. Therefore, the magnitude of voltage V3 (voltage drop between measurement point P3 and reference point P0) is greater than the magnitude of voltage V1 (voltage drop between measurement point P1 and reference point P0). Also, the magnitude of the voltage V3 is greater than the magnitudes of the voltages V2 and V4 . In FIG. 6, the size relationship of the voltages V 1 to V 4 (absolute values) is expressed by the thickness of the arrows. The magnitude of the voltages V 1 to V 4 when the electrode body 1 is not short-circuited corresponds to the "reference amount" according to the present disclosure.

図7は、電極体1に短絡が生じている場合の電位分布を説明するための図である。短絡が生じている場合、電流は、短絡箇所に向かう方向へ流れる。そのため、短絡箇所が円Cの内部領域(特に中心付近)に位置する図7(A)に示す例では、電圧Vの符号が正である一方で、電圧V,V,Vの符号は負となる。つまり、電極体1に短絡が生じた場合には、電極体1が正常な場合と比べて、測定点P1,P2,P4における電圧降下の向きが逆になる。また、電圧V,V,Vの大きさも、電極体1が正常な場合の電圧V,V,Vの大きさよりもそれぞれ大きくなる。 FIG. 7 is a diagram for explaining the potential distribution when the electrode body 1 is short-circuited. If there is a short circuit, the current will flow in the direction towards the short circuit. Therefore, in the example shown in FIG. 7A in which the short-circuit location is located in the inner region of the circle C (especially near the center), the voltage V3 has a positive sign, while the voltages V1 , V2 , and V4 have a positive sign. The sign is negative. In other words, when the electrode body 1 is short-circuited, the directions of the voltage drops at the measurement points P1, P2, and P4 are reversed compared to when the electrode body 1 is normal. The voltages V 1 , V 2 and V 4 also become larger than the voltages V 1 , V 2 and V 4 when the electrode body 1 is normal.

短絡の態様によっては比較的大きな電流が短絡箇所に流れる場合もある。図7(B)に示す別の例では、電圧V,Vの符号は正である一方で、電圧V,Vの符号は負である。つまり、短絡が生じているにも拘わらず、電圧Vの符号は、電極体1が正常な場合の電圧Vの符号と同じである。しかし、この例では、電圧V,Vの大きさが、電極体1が正常な場合の電圧V,Vの大きさよりもそれぞれ大きくなる。言い換えると、電極体1に短絡が生じることで、電極体1が正常な場合と比べて、測定点P2,P4における電圧降下が大きくなる。 Depending on the mode of the short circuit, a relatively large current may flow through the short circuit. In another example shown in FIG. 7B, the signs of voltages V 1 and V 3 are positive, while the signs of voltages V 2 and V 4 are negative. In other words, the sign of the voltage V1 is the same as the sign of the voltage V1 when the electrode body 1 is normal despite the short circuit. However, in this example, the voltages V 2 and V 4 are larger than the voltages V 2 and V 4 when the electrode body 1 is normal. In other words, when the electrode body 1 is short-circuited, the voltage drop at the measurement points P2 and P4 becomes greater than when the electrode body 1 is normal.

このように、電圧V~Vの符号および大きさと、正常時における電圧V~Vの符号および大きさとを比較することで、短絡が円Cの内部に生じているかどうかを判定することができる。具体的には、この例では、電圧V~Vの符号がすべて正である場合に、円Cの内部に短絡が生じていると判定できる(図7(A)参照)。また、電圧V~Vのうちの2つまたは3つの電圧が基準量よりも大きい場合にも、円Cの内部に短絡が生じていると判定できる(図7(B)参照)。 By comparing the signs and magnitudes of the voltages V 1 to V 4 with the signs and magnitudes of the voltages V 1 to V 4 in the normal state, it is determined whether or not a short circuit occurs inside the circle C. be able to. Specifically, in this example, when the signs of the voltages V 1 to V 4 are all positive, it can be determined that a short circuit has occurred inside the circle C (see FIG. 7A). Also, when two or three of the voltages V 1 to V 4 are larger than the reference amount, it can be determined that a short circuit has occurred inside the circle C (see FIG. 7B).

この例では、測定点P1,P2,P4のすべてにおいて電圧降下の向き(電圧の符号)が変わり、測定点P2,P4の両方における電圧降下が大きくなると説明した。しかし、短絡箇所の位置または短絡の態様によっては、測定点P1,P2,P4のうちのいずれか1つまたは2つの電圧降下の向きのみが変わったり、測定点P2,P4のうちの一方における電圧降下のみが大きくなったりする場合もある。このように、本実施の形態においては、測定点P1~P4のうちの少なくとも1つの測定点において電圧降下の向きの変化を検出できればよい。また、測定点P1~P4のうちの少なくとも1つの測定点において電圧降下の大きさの増加を検出できればよい。 In this example, it was explained that the direction of voltage drop (sign of voltage) changes at all of the measurement points P1, P2, and P4, and the voltage drop at both of the measurement points P2 and P4 increases. However, depending on the location of the short circuit or the mode of the short circuit, only one or two of the measurement points P1, P2, and P4 may change the direction of the voltage drop, or the voltage at one of the measurement points P2 and P4 may change. In some cases, only the descent becomes large. As described above, in the present embodiment, it is sufficient to detect a change in the direction of the voltage drop at at least one of the measurement points P1 to P4. Also, it is sufficient if an increase in the magnitude of the voltage drop can be detected at at least one of the measurement points P1 to P4.

<検証結果>
発明者らは、セパレータ層3を貫通する異物を組み込んだ二次電池10のサンプルを複数準備し、各サンプルの短絡箇所を特定できるかどうかを検証した。具体的には、異物の位置が異なる10種類のサンプルを準備し、サンプル毎に数回の測定を繰り返した。
<Verification result>
The inventors prepared a plurality of samples of the secondary battery 10 in which a foreign substance penetrating the separator layer 3 was incorporated, and verified whether or not the short-circuit location of each sample could be identified. Specifically, 10 types of samples with different foreign matter positions were prepared, and measurements were repeated several times for each sample.

各サンプルには、液系のリチウムイオン二次電池を採用した。リチウムイオン二次電池の容量は90mAhであった。正極層21および負極層22の各々の形状は正方形とした。正極層21の各辺の長さは45mmであった。正極層21の各辺の長さは47mmであった。異物にはアルミニウムワイヤを用いた。アルミニウムワイヤの直径φを200μmとし、アルミニウムワイヤの長さを1mmとした。サンプルの電圧を3.7Vに調整し、その状態から20mAの定電流での充電中に測定点間の電圧を測定した。 A liquid-type lithium ion secondary battery was used for each sample. The capacity of the lithium ion secondary battery was 90mAh. The shape of each of the positive electrode layer 21 and the negative electrode layer 22 was square. The length of each side of the positive electrode layer 21 was 45 mm. The length of each side of the positive electrode layer 21 was 47 mm. An aluminum wire was used as the foreign object. The aluminum wire had a diameter φ of 200 μm and a length of 1 mm. The voltage of the sample was adjusted to 3.7 V, and the voltage between measurement points was measured during charging with a constant current of 20 mA from that state.

基準点P0に加えて1方向に並ぶ2つの測定点P1,P3の電圧V,Vのみを測定した場合、短絡箇所を正確に特定できた比率(検出率)は50%であった。これに対し、基準点P0に加えて2方向の4つの測定点P1~P4の電圧V~Vを測定した場合、検出率が90%に向上した。なお、具体的な測定結果の一例として、電極体1に短絡が生じていない場合、V=-5μVであり、V=-1μVであり、V=7μVであり、V=-1μVであった。一方、電極体1に短絡が生じている場合、V=8μVであり、V=1.1μVであり、V=11μVであり、V=1.3μVであった。また、本実施の形態によれば、短絡を高精度に検出できることで何度も測定を繰り返さなくてよくなるので、短絡箇所の特定に要する時間も大幅に短縮できた。 When only the voltages V 1 and V 3 at the reference point P 0 and the two measurement points P 1 and P 3 aligned in one direction were measured, the ratio (detection rate) of accurately specifying the short circuit location was 50%. On the other hand, when measuring the voltages V 1 to V 4 at four measurement points P1 to P4 in two directions in addition to the reference point P0, the detection rate improved to 90%. As an example of specific measurement results, V 1 =−5 μV, V 2 =−1 μV, V 3 =7 μV, and V 4 =−1 μV when there is no short circuit in the electrode body 1. Met. On the other hand, when the electrode body 1 was short-circuited, V 1 =8 μV, V 2 =1.1 μV, V 3 =11 μV, and V 4 =1.3 μV. In addition, according to the present embodiment, the short circuit can be detected with high accuracy, which eliminates the need to repeat the measurement many times.

以上のように、実施の形態1においては、正極集電箔41または負極集電箔42に設けられる円Cの中心の電位(基準電位φ)に対する4つの測定点P1~P4の電位φ~φを測定することで、測定点P1~P4における電圧降下(電圧V~V)を求める。電極体1に短絡が生じている場合には、短絡箇所に向けて電流が流れることで、短絡箇所に応じた特有の電位分布が形成される。そのような電位分布が形成されているかどうかを各測定点P1~P4における電圧降下の向きおよび/または大きさから判断できる。したがって、実施の形態1によれば、二次電池10の電極体1における短絡箇所を特定できる。 As described above, in Embodiment 1 , the potential φ 1 By measuring ∼φ4 , the voltage drop (voltages V 1 to V 4 ) at the measurement points P1 to P4 is obtained. When the electrode body 1 is short-circuited, current flows toward the short-circuited portion, thereby forming a unique potential distribution corresponding to the short-circuited portion. Whether or not such a potential distribution is formed can be determined from the direction and/or magnitude of the voltage drop at each measurement point P1-P4. Therefore, according to Embodiment 1, it is possible to identify the short-circuit location in the electrode assembly 1 of the secondary battery 10 .

また、測定点P1~P4における電圧測定は、測定ピンを集電箔(正極集電箔41または負極集電箔42)に接触させることで実現される。このような測定手法は、外乱の影響を受けにくい。さらに、電流が電圧測定装置93には流れないので、集電箔面内の電流分布を乱すこともない。したがって、本実施の形態によれば、短絡箇所を高精度に特定できる。 Further, the voltage measurement at the measurement points P1 to P4 is realized by bringing the measuring pins into contact with the collector foil (the positive collector foil 41 or the negative collector foil 42). Such measurement techniques are less susceptible to disturbances. Furthermore, since current does not flow to the voltage measuring device 93, the current distribution in the plane of the current collecting foil is not disturbed. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to identify the short-circuit location with high accuracy.

[実施の形態2]
実施の形態1では、4点の電圧降下を測定する比較的簡易な構成を例に説明した。実施の形態2においては、測定ピンがより多く設けられており、より多くの箇所の電圧を測定する構成について説明する。なお、実施の形態2における検査システムの全体構成は、実施の形態1における検査システム9の全体構成(図2参照)と基本的には同様である。
[Embodiment 2]
In the first embodiment, a relatively simple configuration for measuring voltage drops at four points has been described as an example. In the second embodiment, a configuration in which more measurement pins are provided and voltages at more locations are measured will be described. The overall configuration of the inspection system according to the second embodiment is basically the same as the overall configuration of the inspection system 9 according to the first embodiment (see FIG. 2).

<検査治具の構成>
図8は、実施の形態2における検査治具の構成を示す分解斜視図である。図8を参照して、検査治具91Aは、絶縁プレート911と、絶縁台912と、固定ネジ913と、複数の測定ピン914とを含む。絶縁プレート911と絶縁台912とは、その間に電極体1を挟み込んだ状態で、固定ネジ913により固定される。これにより、電極体1を外部から電気的に絶縁できるとともに電極体1に必要な圧力を加圧できる。
<Configuration of inspection jig>
FIG. 8 is an exploded perspective view showing the configuration of the inspection jig according to Embodiment 2. FIG. Referring to FIG. 8 , inspection jig 91A includes insulating plate 911 , insulating base 912 , fixing screw 913 and a plurality of measuring pins 914 . The insulating plate 911 and the insulating base 912 are fixed by a fixing screw 913 with the electrode assembly 1 sandwiched therebetween. As a result, the electrode body 1 can be electrically insulated from the outside and a necessary pressure can be applied to the electrode body 1 .

複数の測定ピン914は、絶縁プレート911上に格子状に配置されている。複数の測定ピン914の中からいずれか5つの測定ピンを選択することで、実施の形態1と同様に電極体1の短絡箇所を特定することも可能である。しかし、実施の形態2においては、電極体1の全面が短絡の判定の有無の判定対象となる。 A plurality of measuring pins 914 are arranged in a grid pattern on the insulating plate 911 . By selecting any five measurement pins from a plurality of measurement pins 914, it is possible to identify the short-circuited portion of electrode body 1 as in the first embodiment. However, in the second embodiment, the entire surface of the electrode body 1 is subject to the determination of whether or not there is a short circuit.

図9は、実施の形態2における電極体1の電圧測定箇所を示す図である。図9を参照して、この例では、5行×5列の格子上に合計25個の測定点が設けられている。 FIG. 9 is a diagram showing voltage measurement points of the electrode body 1 in the second embodiment. Referring to FIG. 9, in this example, a total of 25 measurement points are provided on a grid of 5 rows×5 columns.

検査システム9は、すべての隣接する2つの測定点の間の電圧を測定する。以下では、座標(i,j)(i,jは5以下の自然数)を用いて測定点をP(i,j)と記載する。図9において左上の測定点がP(1,1)であり、右下の測定点がP(5,5)である。測定点P(i,j)の電位をφijと記載すると、横方向に隣接する2つの測定点の間の電圧VXijは、下記式(5)のように表される。同様に、縦方向に隣接する2つの測定点の間の電圧VYijは、下記式(6)のように表される。
Xij=φi(j+1)-φij ・・・(5)
Yij=φ(i+1)j-φij ・・・(6)
The test system 9 measures the voltage between every two adjacent measuring points. Below, the measurement point is described as P(i, j) using coordinates (i, j) (i, j is a natural number of 5 or less). In FIG. 9, the upper left measurement point is P(1,1), and the lower right measurement point is P(5,5). If the potential of the measurement point P(i, j) is denoted by φ ij , the voltage V Xij between two laterally adjacent measurement points is represented by the following equation (5). Similarly, the voltage V Yij between two vertically adjacent measurement points is represented by the following equation (6).
V Xiji(j+1) −φ ij (5)
V Yij = φ (i+1)j - φ ij (6)

なお、図9に示す測定点の配置および数は例示に過ぎない。図10~図12の各々は、測定点の配置および数の一例を示す図である。図10~図12に示すように、測定点の配置および数は、電極体1の形状に応じて適宜定めることができる。 Note that the arrangement and number of measurement points shown in FIG. 9 are merely examples. Each of FIGS. 10 to 12 is a diagram showing an example of the arrangement and number of measurement points. As shown in FIGS. 10 to 12, the arrangement and number of measurement points can be appropriately determined according to the shape of the electrode body 1. FIG.

また、図8と図10~図12の上段とでは、正極端子51および負極端子52が電極体1の同一側面に設けられている。しかし、電極体1における正極端子51および負極端子52の位置は特に限定されない。たとえば図10~図12の下段に示すように、正極端子51および負極端子52は、電極体1の向かい合う側面に設けられていてもよい。 8 and the upper stages of FIGS. 10 to 12, the positive electrode terminal 51 and the negative electrode terminal 52 are provided on the same side surface of the electrode body 1. As shown in FIG. However, the positions of the positive electrode terminal 51 and the negative electrode terminal 52 in the electrode body 1 are not particularly limited. For example, as shown in the lower part of FIGS. 10 to 12, the positive terminal 51 and the negative terminal 52 may be provided on opposite sides of the electrode body 1. FIG.

<電流経路>
図13は、電極体1における電流経路を説明するための分解斜視図である。図14は、電極体1における電流経路を説明するための断面図である。図13および図14では、正極端子51から負極端子52へと流れる電流の流通方向が矢印により模式的に示されている。
<Current path>
FIG. 13 is an exploded perspective view for explaining current paths in the electrode body 1. FIG. FIG. 14 is a cross-sectional view for explaining current paths in the electrode assembly 1. FIG. In FIGS. 13 and 14, arrows schematically indicate the direction of current flowing from the positive terminal 51 to the negative terminal 52 .

図13および図14を参照して、正極集電箔41が長方形形状を有し、その長方形の対角線の一方端に正極端子51が設けられている場合、電流は、正極端子51から対角線の他方端に向けて正極集電箔41の表面上を流れる。この際に電流は、正極層21へと分岐する。分岐した電流は、セパレータ層3および負極層22を通って負極集電箔42へと流れる。そして、電流は、負極集電箔42に設けられた負極端子52に至る。 13 and 14, when positive electrode current collector foil 41 has a rectangular shape and positive electrode terminal 51 is provided at one end of the diagonal line of the rectangle, current flows from positive electrode terminal 51 to the other diagonal line. It flows on the surface of the positive current collector foil 41 toward the edge. At this time, the current branches to the positive electrode layer 21 . The branched current flows through the separator layer 3 and the negative electrode layer 22 to the negative current collector foil 42 . The current then reaches the negative electrode terminal 52 provided on the negative electrode current collector foil 42 .

図15は、電極体1に短絡が生じていない場合の各測定点P(i,j)の電圧測定結果の一例を示す図である。図15を参照して、電極体1に短絡が生じていない場合、正極集電箔41を流れる電流は正極端子51に近いほど(右上に近いほど)大きい。そのため、隣接する2つの測定点の間の電圧降下も正極端子51に近いほど大きい。 FIG. 15 is a diagram showing an example of voltage measurement results at each measurement point P(i, j) when no short circuit occurs in the electrode body 1. In FIG. Referring to FIG. 15 , when electrode body 1 is not short-circuited, the current flowing through positive electrode current collector foil 41 increases as it approaches positive electrode terminal 51 (closer to the upper right). Therefore, the closer the voltage drop between two adjacent measurement points is to the positive terminal 51, the greater the voltage drop.

図16は、短絡が生じた電極体1における電流の流れを説明するための図である。図16を参照して、この例でも、図7(A)での説明と同様に、短絡箇所の付近の測定点における電圧降下の向きが正常時の向きと比べて逆になる。図示しないが、短絡箇所の付近の測定点における電圧降下の大きさが正常時の大きさと比べて大きくなる場合もある(図7(B)参照)。 FIG. 16 is a diagram for explaining current flow in the electrode assembly 1 in which a short circuit has occurred. Referring to FIG. 16, also in this example, the direction of the voltage drop at the measurement point near the short-circuited portion is reversed compared to the normal direction, similarly to the description of FIG. 7A. Although not shown, the magnitude of the voltage drop at the measurement point near the short-circuited portion may be greater than the normal magnitude (see FIG. 7B).

図17は、電極体1に短絡が生じている場合の各測定点P(i,j)の電圧測定結果の一例を示す図である。図17を参照して、電極体1に短絡が生じ、図16に示したような電流が流れることで、電圧VY22が負になっている。その結果、電極体1に短絡が生じていない場合の電圧降下のパターン(図15参照)とは異なるパターンが形成されている。この電圧降下のパターンから、短絡箇所に向かう電流が流れていることが分かる。このように、実施の形態2においても実施の形態1と同様に、電圧降下の向きおよび大きさに基づいて短絡箇所を特定できる。 FIG. 17 is a diagram showing an example of voltage measurement results at each measurement point P(i, j) when the electrode body 1 is short-circuited. Referring to FIG. 17, a short circuit occurs in electrode body 1 and a current flows as shown in FIG. 16, causing voltage VY22 to become negative. As a result, a pattern different from the voltage drop pattern (see FIG. 15) is formed when the electrode body 1 is not short-circuited. From this voltage drop pattern, it can be seen that a current is flowing toward the short circuit. As described above, in the second embodiment, as in the first embodiment, the short-circuit location can be identified based on the direction and magnitude of the voltage drop.

<二次電池の製造フロー>
図18は、実施の形態2に係る二次電池10の製造方法を示すフロチャートである。図18を参照して、S21の電極組立工程は、実施の形態1におけるS11の電極組立工程(図3参照)と同様である。
<Manufacturing flow of secondary battery>
FIG. 18 is a flow chart showing a method for manufacturing secondary battery 10 according to the second embodiment. Referring to FIG. 18, the electrode assembling step of S21 is the same as the electrode assembling step of S11 (see FIG. 3) in the first embodiment.

S22において、図9にて説明したように、制御装置94は、すべての隣接する2つの測定点の間の電圧VXij,VYijを上記式(5),(6)に従って測定する。 At S22, as explained in FIG. 9, the controller 94 measures the voltages V Xij and V Yij between every two adjacent measurement points according to the above equations (5) and (6).

S23において、制御装置94は、S22にて測定された電圧VXij,VYijに基づいて、電極体1における短絡の有無を判定する。具体的には、各測定点を基準点と考え、その基準点の周りの上下左右4つの測定点における電圧降下の向きおよび大きさを求める。図7(A)での説明と同様に、4つの測定点における電圧降下の向きが正常時と比べて逆になったり(図7(A)参照)、4つの測定点における電圧降下の大きさが正常時と比べて大きくなったり(図7(B)参照)した場合に、その4つの測定点により規定される円Cの内部に短絡が生じていると判定される。電圧降下の向きおよび大きさが正常時と同様であれば、円Cの内部に短絡は生じていないと判定される。 In S23, the control device 94 determines whether or not there is a short circuit in the electrode body 1 based on the voltages V Xij and V Yij measured in S22. Specifically, each measurement point is regarded as a reference point, and the direction and magnitude of the voltage drop at the four measurement points above, below, to the left, and to the right around the reference point are determined. Similar to the explanation in FIG. 7(A), the direction of the voltage drop at the four measurement points is reversed compared to normal (see FIG. 7(A)), or the magnitude of the voltage drop at the four measurement points becomes larger than normal (see FIG. 7B), it is determined that a short circuit has occurred inside the circle C defined by the four measurement points. If the direction and magnitude of the voltage drop are the same as normal, it is determined that there is no short circuit inside the circle C.

電極体1のいずれの箇所においても短絡が生じていない場合(S23においてNO)、制御装置94は、電極体1を良品と判定する(S24)。そして、電極体1は外装材に収納される(S25)。 If there is no short circuit at any point on electrode body 1 (NO in S23), control device 94 determines electrode body 1 to be non-defective (S24). Then, the electrode body 1 is housed in the exterior material (S25).

一方、少なくとも1つの箇所で短絡が生じている場合(S23においてYES)、制御装置94は、電極体1を不良品と判定し(S26)、短絡箇所を特定する(S27)。S27にて、おおよその短絡箇所を特定した後に、より詳細に短絡箇所を特定したい場合もある。そのような場合には、制御装置94は、必要に応じて、短絡箇所をより詳細に特定してもよい(S28)。 On the other hand, if there is a short circuit in at least one location (YES in S23), control device 94 determines electrode body 1 to be defective (S26), and identifies the short circuit location (S27). In S27, it may be desired to specify the short circuit location in more detail after roughly specifying the short circuit location. In such a case, the control device 94 may specify the short-circuit location in more detail as necessary (S28).

図19は、電極体1の短絡箇所の特定精度を向上させる手法を説明するための図である。図19に示すように、短絡箇所をより詳細に特定する場合には、S26にて用いた検査治具との比較において、隣接する測定点の間の間隔が狭い検査治具を用いることができる。S26にて特定された短絡箇所を含む領域において、再度、S22~S27の処理を実行する。これにより、短絡箇所をより狭い領域に絞り込むことができる。なお、この絞り込み(S28においてNO)を2回以上(つまり、短絡箇所の特定を合計3回以上)行ってもよい。 19A and 19B are diagrams for explaining a technique for improving the accuracy of specifying the short-circuited portion of the electrode body 1. FIG. As shown in FIG. 19, when specifying the short-circuit location in more detail, it is possible to use an inspection jig with a narrower interval between adjacent measurement points than the inspection jig used in S26. . The processes of S22 to S27 are executed again in the area including the short-circuited portion specified in S26. As a result, the short circuit location can be narrowed down to a narrower area. Note that this narrowing down (NO in S28) may be performed twice or more (that is, the short-circuit location may be identified three times or more in total).

図18に戻り、実施の形態2では、短絡箇所を特定した上で、さらに、短絡箇所が取り除かれる(S29)。除去されずに残った正常な箇所は再利用できる。たとえば、短絡箇所を除去した後の電極体1は外装材に収納することで再利用される。 Returning to FIG. 18, in the second embodiment, after specifying the short circuit location, the short circuit location is further removed (S29). The remaining normal portions that have not been removed can be reused. For example, the electrode body 1 after removing the short-circuited portion is reused by being housed in an exterior material.

図20は、短絡箇所の除去手法を説明するための図である。図20(A)に示すように、正極端子51および負極端子52を残した上で、短絡箇所を含む領域が取り除かれる。複数の短絡箇所がある場合には、すべての短絡箇所が取り除かれる(図20(B)参照)。 20A and 20B are diagrams for explaining a method of removing short-circuited portions. FIG. As shown in FIG. 20A, the region including the short circuit is removed while leaving the positive electrode terminal 51 and the negative electrode terminal 52 . If there are multiple short-circuit locations, all short-circuit locations are removed (see FIG. 20(B)).

図20(C)に示すように、正極端子51および負極端子52の両方が電極体1の片側に設けられており、かつ、電極体1の縦横比(アスペクト比)が1よりも十分に小さい場合は、短絡箇所が電極体1の中央に比較的近くても、短絡箇所を含む広い領域を除去できる。なお、短絡箇所を除去する際には、正極層21の正極活物質が負極層22側に移動(なだれ込み)しないように留意する。 As shown in FIG. 20C, both the positive terminal 51 and the negative terminal 52 are provided on one side of the electrode assembly 1, and the aspect ratio of the electrode assembly 1 is sufficiently smaller than 1. In this case, even if the short-circuited portion is relatively close to the center of the electrode body 1, a wide area including the short-circuited portion can be removed. When removing the short-circuited portion, attention should be paid so that the positive electrode active material of the positive electrode layer 21 does not move (avalanche) toward the negative electrode layer 22 side.

以上のように、実施の形態2においては、正極集電箔41の全面に測定点を設けることで、正極集電箔41の全面に亘って短絡の有無を判定する。そして、大体の短絡箇所を特定した後に、測定点の間隔が狭い検査治具を用いて、短絡箇所をより詳細に特定する(図19参照)。これにより、実施の形態2によれば、二次電池10の電極体1における短絡箇所を高精度に特定できる。また、高精度に特定された短絡箇所を除去して電極体1を再利用することも可能になる。 As described above, in Embodiment 2, the presence or absence of a short circuit is determined over the entire surface of the positive electrode current collector foil 41 by providing measurement points over the entire surface of the positive electrode current collector foil 41 . Then, after roughly identifying the short-circuited location, the short-circuited location is identified in more detail using an inspection jig with narrow intervals between measurement points (see FIG. 19). Thus, according to the second embodiment, the short-circuited portion in the electrode body 1 of the secondary battery 10 can be identified with high accuracy. Moreover, it is also possible to reuse the electrode body 1 by removing the short-circuited portion specified with high accuracy.

今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本開示の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 The embodiments disclosed this time should be considered as examples and not restrictive in all respects. The scope of the present disclosure is indicated by the scope of claims rather than the description of the above-described embodiments, and is intended to include all modifications within the scope and meaning equivalent to the scope of the claims.

1 電極体、21 正極層、22 負極層、3 セパレータ層、41 正極集電箔、42 負極集電箔、51 正極端子、52 負極端子、10 二次電池、9 検査システム、91,91A 検査治具、92 電流発生器、93 電圧測定装置、94 制御装置、911 絶縁プレート、912 絶縁台、913 固定ネジ、914 測定ピン。 1 Electrode body 21 Positive electrode layer 22 Negative electrode layer 3 Separator layer 41 Positive electrode current collector foil 42 Negative electrode current collector foil 51 Positive electrode terminal 52 Negative electrode terminal 10 Secondary battery 9 Inspection system 91, 91A Inspection and treatment Tool, 92 current generator, 93 voltage measuring device, 94 control device, 911 insulating plate, 912 insulating base, 913 fixing screw, 914 measuring pin.

Claims (7)

正極集電体、正極活物質層、セパレータ層、負極活物質層および負極集電体が積層された電極体を組み立てるステップと、
前記正極集電体と前記負極集電体との間に電流を流した状態で、前記正極集電体および前記負極集電体のうちの一方の表面に位置する複数の測定点の間の電圧を測定するステップとを備え、
前記複数の測定点は、
第1~第3の測定点と、
前記第1~第3の測定点により規定される円形領域の内部に位置する基準点とを含み、
前記測定するステップは、
前記第1の測定点と前記基準点との間の第1の電圧を測定するステップと、
前記第2の測定点と前記基準点との間の第2の電圧を測定するステップと、
前記第3の測定点と前記基準点との間の第3の電圧を測定するステップとを含み、
前記第1~第3の電圧の各々の符号には、前記電極体の非短絡時における基準符号が対応するように定められ、
前記第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の符号が対応する基準符号と異なる場合に所定条件が成立し、
前記所定条件が成立する場合に、前記電極体における短絡箇所が前記円形領域の内部であると特定するステップをさらに備える、二次電池の製造方法。
assembling an electrode body in which a positive electrode current collector, a positive electrode active material layer, a separator layer, a negative electrode active material layer and a negative electrode current collector are laminated;
voltage between a plurality of measurement points located on the surface of one of the positive electrode current collector and the negative electrode current collector while current is flowing between the positive electrode current collector and the negative electrode current collector; and measuring
The plurality of measurement points are
first to third measurement points;
and a reference point located inside a circular area defined by the first to third measurement points,
The measuring step includes:
measuring a first voltage between the first measurement point and the reference point;
measuring a second voltage between the second measurement point and the reference point;
measuring a third voltage between the third measurement point and the reference point;
Each sign of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference sign when the electrode body is not short-circuited,
a predetermined condition is established when the sign of at least one of the first to third voltages is different from the corresponding reference sign;
A method of manufacturing a secondary battery, further comprising the step of specifying that a short circuit location in the electrode body is inside the circular region when the predetermined condition is satisfied.
正極集電体、正極活物質層、セパレータ層、負極活物質層および負極集電体が積層された電極体を組み立てるステップと、
前記正極集電体と前記負極集電体との間に電流を流した状態で、前記正極集電体および前記負極集電体のうちの一方の表面に位置する複数の測定点の間の電圧を測定するステップとを備え、
前記複数の測定点は、
第1~第3の測定点と、
前記第1~第3の測定点により規定される円形領域の内部に位置する基準点とを含み、
前記測定するステップは、
前記第1の測定点と前記基準点との間の第1の電圧を測定するステップと、
前記第2の測定点と前記基準点との間の第2の電圧を測定するステップと、
前記第3の測定点と前記基準点との間の第3の電圧を測定するステップとを含み、
前記第1~第3の電圧の各々の大きさには、前記電極体の非短絡時における基準量が対応するように定められ、
前記第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の大きさが対応する基準量よりも大きい場合に所定条件が成立し、
前記所定条件が成立する場合に、前記電極体における短絡箇所が前記円形領域の内部であると特定するステップをさらに備える、二次電池の製造方法。
assembling an electrode body in which a positive electrode current collector, a positive electrode active material layer, a separator layer, a negative electrode active material layer and a negative electrode current collector are laminated;
voltage between a plurality of measurement points located on the surface of one of the positive electrode current collector and the negative electrode current collector while current is flowing between the positive electrode current collector and the negative electrode current collector; and measuring
The plurality of measurement points are
first to third measurement points;
and a reference point located inside a circular area defined by the first to third measurement points,
The measuring step includes:
measuring a first voltage between the first measurement point and the reference point;
measuring a second voltage between the second measurement point and the reference point;
measuring a third voltage between the third measurement point and the reference point;
each magnitude of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference amount when the electrode body is not short-circuited;
a predetermined condition is satisfied when the magnitude of at least one of the first to third voltages is greater than the corresponding reference amount;
A method of manufacturing a secondary battery, further comprising the step of specifying that a short circuit location in the electrode body is inside the circular region when the predetermined condition is satisfied.
正極集電体、正極活物質層、セパレータ層、負極活物質層および負極集電体が積層された電極体を組み立てるステップと、
前記正極集電体と前記負極集電体との間に電流を流した状態で、前記正極集電体および前記負極集電体のうちの一方の表面に位置する複数の測定点の間の電圧を測定するステップとを備え、
前記複数の測定点は、
第1~第3の測定点と、
前記第1~第3の測定点により規定される円形領域の内部に位置する基準点とを含み、
前記測定するステップは、
前記第1の測定点と前記基準点との間の第1の電圧を測定するステップと、
前記第2の測定点と前記基準点との間の第2の電圧を測定するステップと、
前記第3の測定点と前記基準点との間の第3の電圧を測定するステップとを含み、
前記第1~第3の電圧の各々の符号には、前記電極体の非短絡時における基準符号が対応するように定められ、
前記第1~第3の電圧の各々の大きさには、前記電極体の非短絡時における基準量が対応するように定められ、
前記第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の符号が対応する基準符号と異なり、かつ、前記第1~第3の電圧のうちの少なくとも1つの電圧の大きさが対応する基準量よりも大きい場合に所定条件が成立し、
前記所定条件が成立する場合に、前記電極体における短絡箇所が前記円形領域の内部であると特定するステップをさらに備える、二次電池の製造方法。
assembling an electrode body in which a positive electrode current collector, a positive electrode active material layer, a separator layer, a negative electrode active material layer and a negative electrode current collector are laminated;
voltage between a plurality of measurement points located on the surface of one of the positive electrode current collector and the negative electrode current collector while current is flowing between the positive electrode current collector and the negative electrode current collector; and measuring
The plurality of measurement points are
first to third measurement points;
and a reference point located inside a circular area defined by the first to third measurement points,
The measuring step includes:
measuring a first voltage between the first measurement point and the reference point;
measuring a second voltage between the second measurement point and the reference point;
measuring a third voltage between the third measurement point and the reference point;
Each sign of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference sign when the electrode body is not short-circuited,
each magnitude of the first to third voltages is determined so as to correspond to a reference amount when the electrode body is not short-circuited;
A reference quantity to which the sign of at least one of the first to third voltages is different from the corresponding reference sign and to which the magnitude of at least one of the first to third voltages corresponds A predetermined condition is satisfied when the value is greater than
A method of manufacturing a secondary battery, further comprising the step of specifying that a short circuit location in the electrode body is inside the circular region when the predetermined condition is satisfied.
前記基準点は、前記第1~第3の測定点の各々から等距離に位置する、請求項1~3のいずれか1項に記載の二次電池の製造方法。 4. The method of manufacturing a secondary battery according to claim 1, wherein said reference point is equidistant from each of said first to third measurement points. 前記複数の測定点は、前記円形領域を規定する第4の測定点をさらに含み、
前記測定するステップは、前記第4の測定点と前記基準点との間の第4の電圧を測定するステップをさらに含み、
前記第1~第4の測定点のうちの2点を結ぶ直線と残りの2点を結ぶ直線とは、互いに交差する、請求項1~のいずれか1項に記載の二次電池の製造方法。
The plurality of measurement points further includes a fourth measurement point that defines the circular area;
the measuring step further includes measuring a fourth voltage between the fourth measurement point and the reference point;
The manufacturing of the secondary battery according to any one of claims 1 to 4, wherein a straight line connecting two of the first to fourth measurement points and a straight line connecting the remaining two points intersect each other. Method.
前記特定するステップにおいて特定された前記短絡箇所を除去し、前記電極体のうちの残りの部分を外装材に収納するステップをさらに備える、請求項1~のいずれか1項に記載の二次電池の製造方法。 The secondary according to any one of claims 1 to 5 , further comprising the step of removing the short-circuited portion identified in the identifying step and housing the remaining portion of the electrode assembly in an exterior material. Battery manufacturing method. 前記複数の測定点は、予め位置決めされており、
前記測定するステップは、前記複数の測定点のうちの任意の2点間の電圧を測定するステップであり、
前記複数の測定点の中から前記所定条件が成立するような測定点を前記第1~第3の測定点および前記基準点として選択するステップをさらに備え、
前記特定するステップは、選択された前記第1~第3の測定点により規定される前記円形領域を前記短絡箇所として特定するステップである、請求項1~のいずれか1項に記載の二次電池の製造方法。
The plurality of measurement points are pre-positioned,
The step of measuring is a step of measuring a voltage between any two of the plurality of measurement points,
further comprising the step of selecting measurement points that satisfy the predetermined condition from among the plurality of measurement points as the first to third measurement points and the reference point;
7. The second step according to any one of claims 1 to 6 , wherein the identifying step is a step of identifying the circular area defined by the selected first to third measurement points as the short circuit location. A method for manufacturing a secondary battery.
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