JP7318322B2 - Deterioration detection device - Google Patents
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Description
この発明は、劣化検知装置に関するものである。 The present invention relates to a deterioration detection device.
劣化検知に関する技術においては、風力発電装置等の構造物であるタワーに腐食センサを設置し、この腐食センサは、その基板が、構造物である例えば風力発電装置の各構成部材(例えば発電機等)の材料と同一の材料からなり、腐食センサの基板の表面に絶縁部を介して設けられる複数の導電部を覆い、構造物のタワーの外表面にわたって構成部材(例えば発電機等)に塗布した塗膜と同一の塗膜を塗布したものが知られている(例えば、特許文献1参照)。 In the technology related to deterioration detection, a corrosion sensor is installed in a tower, which is a structure such as a wind power generator. ), covered the plurality of conductive parts provided on the surface of the substrate of the corrosion sensor via the insulating part, and applied to the structural members (such as generators, etc.) over the outer surface of the tower of the structure It is known to apply the same coating film as the coating film (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、特許文献1に示されるような技術においては、製品に使われている複数種類の材料についての劣化を検知することについて考慮されていない。複数種類の材料からなる試料のそれぞれについて製品における設置箇所を選定する場合、製品におけるそれぞれの材料の使用箇所、製品における発熱部位等の特性、製品の設置環境等の様々な要因を考慮しなければならず煩雑である。また、製品の複数箇所に塗膜(試料)と腐食センサとを設置した場合、腐食センサの配線の取り回しが複雑になりやすい。このため、劣化検知装置を製品に適用する際の設計及び設置作業が容易でない。 However, in the technique disclosed in Patent Document 1, no consideration is given to detecting deterioration of multiple types of materials used in products. When selecting the installation location in the product for each sample made of multiple types of materials, various factors such as the location where each material is used in the product, the characteristics of the heat-generating part of the product, and the installation environment of the product must be considered. It is complicated. In addition, when coating films (specimens) and corrosion sensors are installed at multiple locations on a product, the wiring of the corrosion sensors tends to be complicated. Therefore, it is not easy to design and install the deterioration detection device when applying it to a product.
この発明は、このような課題を解決するためになされたものである。その目的は、製品に使われている複数種類の材料についての劣化を検知でき、かつ、劣化検知装置を製品に適用する際の設計及び設置作業が容易である劣化検知装置を提供することにある。 The present invention has been made to solve such problems. The object is to provide a deterioration detection device that can detect deterioration of multiple types of materials used in products and that facilitates design and installation work when applying the deterioration detection device to products. .
この発明に係る劣化検知装置は、製品における外気に曝露される箇所に設定された劣化検知用エリアに設けられ、前記製品の構成材料のうちの1つと同一の材料からなる第1の試料と、前記劣化検知用エリアに設けられ、前記製品の構成材料のうちの前記第1の試料とは異なる材料からなる第2の試料と、前記製品に設けられ、前記第1の試料の特定の物理量を検出する第1の検出部と、前記製品に設けられ、前記第2の試料の特定の物理量を検出する第2の検出部と、前記製品に設けられ、前記第1の検出部が検出した物理量を用いて前記第1の試料の劣化を検知するとともに、前記第2の検出部が検出した物理量を用いて前記第2の試料の劣化を検知する劣化検知部と、を備え、前記劣化検知用エリアは、前記製品の動作中に生じる気流の前記製品の発熱部よりも下流側に配置される。
A deterioration detection device according to the present invention is provided in a deterioration detection area set in a portion of a product exposed to the outside air, and is made of the same material as one of the constituent materials of the product; a second sample provided in the deterioration detection area and made of a material different from the first sample among constituent materials of the product; and a specific physical quantity of the first sample provided in the product. a first detection unit that detects; a second detection unit that is provided in the product and detects a specific physical quantity of the second sample; and a physical quantity that is provided in the product and detected by the first detection unit. and a deterioration detection unit that detects deterioration of the second sample using the physical quantity detected by the second detection unit, and a deterioration detection unit that detects deterioration of the first sample using The area is located downstream of a heat-generating portion of the product in the airflow generated during operation of the product .
この発明に係る劣化検知装置によれば、製品に使われている複数種類の材料についての劣化を検知でき、かつ、劣化検知装置を製品に適用する際の設計及び設置作業が容易であるという効果を奏する。 According to the deterioration detection device according to the present invention, it is possible to detect the deterioration of a plurality of types of materials used in the product, and the design and installation work when applying the deterioration detection device to the product are easy. play.
この発明を実施するための形態について添付の図面を参照しながら説明する。各図において、同一又は相当する部分には同一の符号を付して、重複する説明は適宜に簡略化又は省略する。なお、本発明は以下の実施の形態に限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形することが可能である。 Embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In each figure, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and overlapping descriptions are appropriately simplified or omitted. The present invention is not limited to the following embodiments, and can be modified in various ways without departing from the scope of the present invention.
実施の形態1.
図1から図7を参照しながら、この発明の実施の形態1について説明する。図1は劣化検知装置の全体構成を示すブロック図である。図2は劣化検知装置の対象製品の一例である照明装置の構成を模式的に示す図である。図3は劣化検知装置の試料及び検出部の第1の例を模式的に示す図である。図4は劣化検知装置の試料及び検出部の第2の例を模式的に示す図である。図5は劣化検知装置の試料及び検出部の第3の例を模式的に示す図である。図6は劣化検知装置の試料及び検出部の第4の例を模式的に示す図である。そして、図7は劣化検知装置の試料及び検出部の第5の例を模式的に示す図である。
Embodiment 1.
Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 7. FIG. FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the deterioration detection device. FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of a lighting device, which is an example of a target product of the deterioration detection device. FIG. 3 is a diagram schematically showing a first example of the sample and detection unit of the deterioration detection device. FIG. 4 is a diagram schematically showing a second example of the sample and detection unit of the deterioration detection device. FIG. 5 is a diagram schematically showing a third example of the sample and detection unit of the deterioration detection device. FIG. 6 is a diagram schematically showing a fourth example of the sample and detection unit of the deterioration detection device. FIG. 7 is a diagram schematically showing a fifth example of the sample and detector of the deterioration detection device.
この実施の形態に係る劣化検知装置は、電気製品に使われている材料の劣化を検知するものである。図1に示すように、劣化検知装置が材料の劣化を検知する対象である製品1には、劣化検知用エリア10が設定されている。劣化検知用エリア10は、製品1における外気に曝露される箇所に設定される。
The deterioration detection device according to this embodiment detects deterioration of materials used in electrical products. As shown in FIG. 1, a
劣化検知用エリア10には、第1の試料11及び第2の試料12が設けられている。すなわち、第1の試料11及び第2の試料12が設けられるエリアは、実質的に同一の劣化検知用エリア10である。第1の試料11及び第2の試料12は、それぞれ、製品1の構成材料のいずれかと同一の材料からなる。ただし、第1の試料11と第2の試料12とは、互いに異なる材料である。すなわち、第1の試料11は、製品1の構成材料のうちの1つと同一の材料からなる。そして、第2の試料12は、製品1の構成材料のうちの第1の試料11とは異なる材料からなる。
A
次に、図2を参照しながら、製品1が照明装置100の場合の例について説明する。照明装置100は、例えば天井等の高所に設置されるLED投光器である。照明装置100は、光源部101及び電源部104を備えている。光源部101には、図示しない光源、この例ではLED(発光ダイオード)、反射板、光源カバー等が設けられる。光源部101の上側には、フレーム部102が設けられている。フレーム部102には、ヒートシンク103が設けられている。ヒートシンク103は、光源部101で生じた熱を効率的に冷却するためのものである。
Next, an example in which the product 1 is a
電源部104は、フレーム部102のさらに上側に配置されている。電源部104は、光源部101へと電力を供給するための図示しない電源回路を備えている。電源回路は、電源部104の筐体110の内部に収容されている。フレーム部102には、アーム部105が接続されている。アーム部105は、設置箇所において照明装置100を支持するためのものである。照明装置100は、アーム部105により天井等の設置箇所に固定される。
The
再び図1を参照しながら説明を続ける。製品1には、第1の検出部21及び第2の検出部22が設けられている。第1の検出部21は、第1の試料11の特定の物理量を検出する。第2の検出部22は、第2の試料12の特定の物理量を検出する。以下においては、第1の試料11及び第2の試料12を特に区別しない場合、単に「試料」と呼ぶ。また、第1の検出部21及び第2の検出部22を特に区別しない場合、単に「検出部」と呼ぶ。
The description will be continued with reference to FIG. 1 again. The product 1 is provided with a
それぞれの検出部が検出する前述した特定の物理量は、検出対象の試料の種類に応じて予め決められている。次に、試料と検出部の具体的な構成例について、図3から図7を参照しながら説明する。以下の説明では、製品1として前述した照明装置100を例に挙げる。
The aforementioned specific physical quantity detected by each detection unit is determined in advance according to the type of sample to be detected. Next, specific configuration examples of the sample and the detection unit will be described with reference to FIGS. 3 to 7. FIG. In the following description, the
まず、図3に示すのは、試料と検出部の第1の例である。この例では、試料として銀メッキ72が設けられている。銀メッキ72は、製品1である照明装置100が有する回路基板、光源部101のLED等で使われるものと同じ材料の例である。
First, FIG. 3 shows a first example of a sample and a detection section. In this example, silver plating 72 is provided as a sample. The silver plating 72 is an example of the same material as that used in the circuit board of the
また、この第1の例では、検出部として電気抵抗計81が設けられている。製品1である照明装置100の筐体110における劣化検知用エリア10には、貫通孔111が形成されている。貫通孔111が形成された筐体110の内側には、銀メッキ72が施されたメッキ基部71が配置されている。銀メッキ72は、メッキ基部71の貫通孔111側に設けられてる。このようにして、試料である銀メッキ72は、貫通孔111を介して外気に曝露されている。そして、検出部である電気抵抗計81は、試料の前述した特定の物理量として、試料である銀メッキ72の電気抵抗を検出する。
Moreover, in this first example, an electric resistance meter 81 is provided as a detection unit. A through
次に、図4に示すのは、試料と検出部の第2の例である。この例では、試料として樹脂73が設けられている。樹脂73は例えばゴム等である。樹脂73は、製品1である照明装置100が有するパッキン等で使われるものと同じ材料の例である。
Next, FIG. 4 shows a second example of the sample and detector. In this example, a resin 73 is provided as a sample. The resin 73 is, for example, rubber or the like. The resin 73 is an example of the same material as that used in the packing or the like of the
また、この第2の例では、検出部として硬度計82が設けられている。前述した第1の例と同様に、製品1である照明装置100の筐体110における劣化検知用エリア10には、貫通孔111が形成されている。この貫通孔111が形成された筐体110の内側に、樹脂73が配置されている。このようにして、試料である樹脂73は、貫通孔111を介して外気に曝露されている。検出部である硬度計82は、試料の前述した特定の物理量として、試料である樹脂73の硬度を検出する。硬度計82は、樹脂73を挟んで貫通孔111と反対側に配置されている。そして、硬度計82は、特に樹脂73における貫通孔111と対向する部分の硬度を検出する。
Moreover, in this second example, a hardness meter 82 is provided as a detection unit. As in the first example described above, a through
図5に示すのは、試料と検出部の第3の例である。この例では、試料として金属74が設けられている。金属74は例えばステンレス、鉄等である。金属74は、製品1である照明装置100が有する筐体110、フレーム部102、アーム部105、ネジ等で使われるものと同じ材料の例である。
FIG. 5 shows a third example of the sample and detector. In this example, a metal 74 is provided as a sample. The metal 74 is, for example, stainless steel, iron, or the like. The metal 74 is an example of the same material as that used for the
また、この第3の例では、検出部として超音波厚さ計83が設けられている。前述した第1の例等と同様に、製品1である照明装置100の筐体110における劣化検知用エリア10には、貫通孔111が形成されている。この貫通孔111が形成された筐体110の内側に、金属74が配置されている。このようにして、試料である金属74は、貫通孔111を介して外気に曝露されている。検出部である超音波厚さ計83は、試料の前述した特定の物理量として、試料である金属74の厚さを検出する。超音波厚さ計83は、金属74を挟んで貫通孔111と反対側に配置されている。そして、超音波厚さ計83は、特に金属74における貫通孔111と対向する部分の厚さを検出する。
Moreover, in this third example, an ultrasonic thickness gauge 83 is provided as a detection unit. A through
図6に示すのは、試料と検出部の第4の例である。この例では、試料が筐体110の壁部そのものである。また、この例では、検出部として前述した第3の例と同様に超音波厚さ計83が設けられている。この第4の例では、これまでに説明した例とは異なり、筐体110に貫通孔111が形成されていない。ただし、劣化検知用エリア10の筐体110自体が外気に曝露されている。そして、検出部である超音波厚さ計83は、試料の前述した特定の物理量として、劣化検知用エリア10における筐体110の壁部の厚さを検出する。
FIG. 6 shows a fourth example of the sample and detector. In this example, the sample is the wall portion of the
図7に示すのは、試料と検出部の第5の例である。この例では、試料として透明材料75が設けられている。透明材料75は例えばガラス、ポリカーボネイト等である。透明材料75は、可視光等の特定の波長の光を透過させる性質を有する材料である。透明材料75は、製品1である照明装置100が有する光源部101の光源カバー等で使われるものと同じ材料の例である。
FIG. 7 shows a fifth example of the sample and detector. In this example, a transparent material 75 is provided as a sample. The transparent material 75 is, for example, glass, polycarbonate, or the like. The transparent material 75 is a material having a property of transmitting light of a specific wavelength such as visible light. The transparent material 75 is an example of the same material as that used for the light source cover of the
また、この第5の例では、検出部として発光部84及び受光部85が設けられている。前述した第1の例等と同様に、製品1である照明装置100の筐体110における劣化検知用エリア10には、貫通孔111が形成されている。この貫通孔111が形成された筐体110の内側に、透明材料75が配置されている。このようにして、試料である透明材料75は、貫通孔111を介して外気に曝露されている。
In addition, in this fifth example, a light-emitting portion 84 and a light-receiving portion 85 are provided as the detection portion. A through
検出部である発光部84及び受光部85は、透明材料75の貫通孔111と対向する部分を挟むようにして配置される。この際、透明材料75から見て、発光部84は貫通孔111とは反対側、受光部85は貫通孔111と同じ側にそれぞれ配置される。発光部84は、透明材料75に向けて前述の特定の波長を含む光を照射する。受光部85は、透明材料75を透過した前述の特定の波長の光を受光する。以上のようにして構成された検出部である発光部84及び受光部85は、試料の前述した特定の物理量として、試料である透明材料75の光透過率を検出する。発光部84及び受光部85は、特に透明材料75における貫通孔111と対向する部分の光透過率を検出する。
The light-emitting portion 84 and the light-receiving portion 85, which are the detection portions, are arranged so as to sandwich a portion of the transparent material 75 facing the through-
再び図1を参照しながら説明を続ける。製品1には、さらに劣化検知部30が設けられている。劣化検知部30は、第1の検出部21が検出した物理量を用いて第1の試料11の劣化を検知する。また、劣化検知部30は、第2の検出部22が検出した物理量を用いて第2の試料12の劣化も検知する。
The description will be continued with reference to FIG. 1 again. The product 1 is further provided with a
図3に示す試料と検出部の第1の例であれば、劣化検知部30は、検出部である電気抵抗計81が検出した物理量である銀メッキ72の電気抵抗を用いて、試料である銀メッキ72の劣化を検知する。例えば、劣化検知部30は、電気抵抗計81が検出した銀メッキ72の電気抵抗が予め設定された基準値以上となった場合に、銀メッキ72の劣化を検知する。このようにすることで、銀メッキ72が酸化等により劣化して、電気抵抗が増加したことを検知できる。
In the first example of the sample and the detection unit shown in FIG. Deterioration of the silver plating 72 is detected. For example, the
また、図4に示す試料と検出部の第2の例であれば、劣化検知部30は、検出部である硬度計82が検出した物理量である樹脂73の硬度を用いて、試料である樹脂73の劣化を検知する。例えば、劣化検知部30は、硬度計82が検出した樹脂73の硬度が予め設定された基準値以上となった場合に、樹脂73の劣化を検知する。このようにすることで、樹脂73が劣化により必要な柔軟性を喪失したことを検知できる。
Further, in the second example of the sample and the detection unit shown in FIG. 73 deterioration is detected. For example, the
図5に示す試料と検出部の第3の例であれば、劣化検知部30は、検出部である超音波厚さ計83が検出した物理量である金属74の厚さを用いて、試料である金属74の劣化を検知する。例えば、劣化検知部30は、超音波厚さ計83が検出した金属74の厚さが予め設定された基準値以下となった場合に、金属74の劣化を検知する。このようにすることで、金属74が腐食劣化して減肉したことを検知できる。
In the third example of the sample and the detection unit shown in FIG. Deterioration of a certain metal 74 is detected. For example, the
図6に示す試料と検出部の第4の例であれば、劣化検知部30は、検出部である超音波厚さ計83が検出した物理量である筐体110の壁部の厚さを用いて、試料である筐体110の劣化を検知する。例えば、劣化検知部30は、超音波厚さ計83が検出した筐体110の壁部の厚さが予め設定された基準値以下となった場合に、筐体110の劣化を検知する。このようにすることで、筐体110が腐食劣化して減肉したことを検知できる。
In the fourth example of the sample and the detection unit shown in FIG. 6, the
そして、図7に示す試料と検出部の第5の例であれば、劣化検知部30は、検出部である発光部84及び受光部85が検出した物理量である透明材料75の光透過率を用いて、試料である透明材料75の劣化を検知する。例えば、劣化検知部30は、発光部84及び受光部85が検出した透明材料75の光透過率が予め設定された基準値以下となった場合に、透明材料75の劣化を検知する。このようにすることで、劣化により透明材料75が不透明化してしまったことを検知できる。
In the fifth example of the sample and the detection unit shown in FIG. 7, the
以上のように構成された製品1の劣化検知装置によれば、第1の試料11、第2の試料12、第1の検出部21、第2の検出部22及び劣化検知部30を備えることで、製品1に使われている複数種類の材料についての劣化を検知できる。その際に、複数種類の材料からなる第1の試料11及び第2の試料12を、実質的に同一の劣化検知用エリア10に配置することで、劣化検知用の試料のそれぞれについて製品1における設置箇所を選定する必要がなく、1つの劣化検知用エリア10だけを選定すればよいため、劣化検知用の試料を設置する箇所の選定が容易である。よって、特に劣化検知用エリア10を、製品1において最も材料の劣化が促進されやすい過酷な環境(高温多湿等)となる箇所にして、劣化の見逃しを抑制することも容易である。また、複数種類の材料からなる第1の試料11及び第2の試料12を、実質的に同一の劣化検知用エリア10に配置する第1の検出部21及び第2の検出部22とを劣化検知部30接続する配線の取り回し等が容易になる。以上のことから、製品1に使われている複数種類の材料についての劣化を検知でき、かつ、劣化検知装置を製品1に適用する際の設計及び設置作業が容易である。
According to the deterioration detection device for the product 1 configured as described above, the
なお、劣化検知用エリア10を、製品1の動作中に生じる気流の製品1の発熱部よりも下流側に配置するとよい。例えば、製品1が前述した照明装置100の場合、ヒートシンク103は、製品1の動作中すなわち光源部101の点灯中に発熱する発熱部である。そして、光源部101の点灯中には、図2中の矢印で示すように、ヒートシンク103から上昇気流が生じる。
The
そこで、同図に示すように、劣化検知用エリア10を電源部104の下側に配置する。このようにすることで、光源部101の点灯中にヒートシンク103で生じる上昇気流の下流側に劣化検知用エリア10を配置できる。そして、劣化検知用エリア10を、外部に曝され、かつ、製品1の動作中すなわち光源部101の点灯中において高温になるという劣化が促進されやすい環境下に置くことができる。このため、製品1の劣化の見逃しを抑制できる。
Therefore, as shown in the figure, the
また、劣化検知用エリア10は、同一種類の製品1について当該製品1における同一箇所に配置するとよい。このようにすることで、同一種類の製品1について、第1の試料11及び第2の試料12の劣化検知を行う設置環境以外の条件を同じに揃えることができる。したがって、製品1の故障発生時等に、後述する記憶部40に記憶されているデータを参照することで、同一種類の製品1に対する設置環境の影響の適切な評価を支援でき、製品1の故障の要因が、当該製品1の設置環境によるものなのか、設置環境ではなく当該製品1と同種の製品1に共通するものなのかの判断を支援可能である。
Further, the
図1に示すように、ここで説明する構成例では、製品1には、記憶部40、報知部50及び送信部60がさらに設けられている。報知部50は、劣化検知部30の検知結果を報知するものである。劣化検知部30は、第1の試料11の劣化を検知した場合、第1の劣化検知信号を出力する。また、劣化検知部30は、第2の試料12の劣化を検知した場合、第2の劣化検知信号を出力する。劣化検知部30から第1の劣化検知信号及び第2の劣化検知信号の少なくとも一方が出力されると、報知部50は、製品1を構成する材料の劣化が検知されたことを周囲の者等に報知する。この報知部50は、製品1を構成する材料の劣化が検知された旨を、音で報知するためのスピーカ又は光で報知するためのLED等を備えている。
As shown in FIG. 1 , in the configuration example described here, the product 1 is further provided with a
なお、報知部50は、劣化検知部30から出力された信号が第1の劣化検知信号であるか第2の劣化検知信号であるかに応じて、報知の態様を異ならせるようにしてもよい。例えば、第1の試料11の劣化が検知された場合と第2の試料12の劣化が検知された場合とで、スピーカで鳴動させる音声を変えたり、点灯させるLEDを変えたりしてもよい。
Note that the
送信部60は、劣化検知部30の検知結果を製品1の外部に送信するものである。劣化検知部30から第1の劣化検知信号及び第2の劣化検知信号の少なくとも一方が出力されると、送信部60は、劣化検知部30から出力された第1の劣化検知信号及び第2の劣化検知信号の一方又は両方を、製品1外部の例えば端末装置2に送信する。端末装置2は、送信部60と通信可能に設けられている。端末装置2と送信部60との通信方式は特に限られず、有線方式、無線方式のいずれであってもよい。端末装置2は、具体的に例えば、製品1が設置される施設の管理室等に設置されたPC、タブレット端末、当該施設の管理者が所持するスマートフォン等である。
The
このような送信部60を備えることで、劣化検知部30から第1の劣化検知信号及び第2の劣化検知信号が出力された場合に、これらの信号を製品1の外部に送信できる。このため、製品1から離れた管理室等から製品1に使われている材料の劣化を監視することが可能である。
By providing such a
記憶部40は、第1の検出部21が検出した物理量及び第2の検出部22が検出した物理量を記憶する。記憶部40は、さらに、劣化検知部30から出力された第1の劣化検知信号及び第2の劣化検知信号の出力日時等を記憶してもよい。このような記憶部40を備えることで、製品1の故障発生時等に、製品1を構成する材料の劣化の進行度合いに関する情報を当該製品1の記憶部40から得ることができる。このため、製品1の故障等の原因特定を支援可能である。
The
以上で説明した第1の検出部21、第2の検出部22、劣化検知部30、記憶部40、報知部50及び送信部60は、製品1に設けられた例えば回路基板等に設けられる。この回路基板は、マイクロコンピュータすなわちプロセッサ及びメモリを備えてもよい。そして、これらの各部それぞれの一部又は全部の機能を、メモリに記憶されたプログラムに従った処理をプロセッサで実行することで実現してもよい。
The
なお、以上においては、劣化検知用エリア10に設ける試料と検出部の数が2つである場合について説明した。しかし、この数は2つに限られない。すなわち、劣化検知用エリア10に設ける試料と検出部の数は、3つ以上であってもよい。
In the above description, the case where two samples and two detection units are provided in the
また、製品1は、ここで説明した照明装置100に限られない。他に例えば、劣化検知の対象となる製品1として、空気調和装置の室外機、換気装置、冷蔵庫、制御盤等の各種の電気製品も挙げられる。
Moreover, the product 1 is not limited to the
1 製品
2 端末装置
10 劣化検知用エリア
11 第1の試料
12 第2の試料
21 第1の検出部
22 第2の検出部
30 劣化検知部
40 記憶部
50 報知部
60 送信部
71 メッキ基部
72 銀メッキ
73 樹脂
74 金属
75 透明材料
81 電気抵抗計
82 硬度計
83 超音波厚さ計
84 発光部
85 受光部
100 照明装置
101 光源部
102 フレーム部
103 ヒートシンク
104 電源部
105 アーム部
110 筐体
111 貫通孔
REFERENCE SIGNS LIST 1
Claims (4)
前記劣化検知用エリアに設けられ、前記製品の構成材料のうちの前記第1の試料とは異なる材料からなる第2の試料と、
前記製品に設けられ、前記第1の試料の特定の物理量を検出する第1の検出部と、
前記製品に設けられ、前記第2の試料の特定の物理量を検出する第2の検出部と、
前記製品に設けられ、前記第1の検出部が検出した物理量を用いて前記第1の試料の劣化を検知するとともに、前記第2の検出部が検出した物理量を用いて前記第2の試料の劣化を検知する劣化検知部と、を備え、
前記劣化検知用エリアは、前記製品の動作中に生じる気流の前記製品の発熱部よりも下流側に配置される劣化検知装置。 A first sample provided in a deterioration detection area set in a portion of the product exposed to the outside air and made of the same material as one of the constituent materials of the product;
a second sample provided in the deterioration detection area and made of a material different from the first sample among constituent materials of the product;
a first detection unit provided in the product for detecting a specific physical quantity of the first sample;
a second detection unit provided in the product for detecting a specific physical quantity of the second sample;
The physical quantity detected by the first detection unit provided in the product is used to detect deterioration of the first sample, and the physical quantity detected by the second detection unit is used to detect deterioration of the second sample. and a deterioration detection unit that detects deterioration ,
The deterioration detection device, wherein the deterioration detection area is arranged downstream of a heat-generating portion of the product in an air current generated during operation of the product .
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