JP7310725B2 - drive - Google Patents
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Description
この明細書における開示は、スイッチング素子の駆動装置に関する。 The disclosure in this specification relates to a device for driving a switching element.
特許文献1は、電力変換回路を構成するスイッチング素子の駆動装置を開示している。先行技術文献の記載内容は、この明細書における技術的要素の説明として、参照により援用される。
スイッチング素子には、還流のためにダイオードが逆並列に接続されている。たとえば、ダイオードを有する半導体素子の小型化は、低コスト化に対して有効である。しかしながら、半導体素子(ダイオード)を小さくするほど、逆回復時にアバランシェが生じやすくなる。特許文献1に記載のようにサージ電圧変動を抑制したとしても、逆回復時のアバランシェが発生する虞がある。上述の観点において、または言及されていない他の観点において、駆動装置にはさらなる改良が求められている。
A diode is connected in antiparallel to the switching element for freewheeling. For example, miniaturization of a semiconductor device having a diode is effective for cost reduction. However, the smaller the semiconductor element (diode), the more likely avalanche will occur during reverse recovery. Even if surge voltage fluctuations are suppressed as described in
本開示はこのような課題に鑑みてなされたものであり、逆回復時のアバランシェ発生を抑制できる駆動装置を提供することにある。 The present disclosure has been made in view of such problems, and an object thereof is to provide a driving device capable of suppressing occurrence of avalanche during reverse recovery.
ここに開示された駆動回路は、
逆並列に接続されたダイオード(D1、D2)とともに、少なくとも一相分の上下アーム回路(5HL、6HL)を構成する複数のスイッチング素子(Q1、Q2)の駆動装置であって、
逆回復時のダイオードについて、ダイオードを流れる電流に相関する電流相関値と、ダイオードの両端電圧に相関する電圧相関値を取得する相関値取得部(71)と、
取得した電流相関値および電圧相関値を用いて、逆回復時のダイオードの電力を算出する電力算出部(72)と、
複数のスイッチング素子のうち、逆回復時のダイオードの対向アームのスイッチング素子を含む対象スイッチング素子について、少なくともターンオン時のスイッチング速度を、算出した電力に応じて設定し、算出した電力が第1電力のときに、第1電力よりも小さい第2電力に較べてスイッチング速度が遅くなるように、スイッチング速度を切り替えて設定する速度設定部(73)と、
速度設定部が設定したスイッチング速度で、対象スイッチング素子を駆動する駆動部(8)と、
を備える。
The drive circuit disclosed herein is
A driving device for a plurality of switching elements (Q1, Q2) that constitute upper and lower arm circuits (5HL, 6HL) for at least one phase together with diodes (D1, D2) connected in anti-parallel,
a correlation value acquisition unit (71) for acquiring a current correlation value correlated to the current flowing through the diode and a voltage correlation value correlated to the voltage across the diode for the diode during reverse recovery;
a power calculator (72) that calculates the power of the diode during reverse recovery using the acquired current correlation value and voltage correlation value;
Among the plurality of switching elements, for the target switching element including the switching element of the opposing arm of the diode during reverse recovery, at least the switching speed at turn-on is set according to the calculated power, and the calculated power is the first power. a speed setting unit (73) that switches and sets the switching speed so that the switching speed is sometimes slower than the second power that is smaller than the first power;
a driving unit (8) for driving the target switching element at the switching speed set by the speed setting unit;
Prepare.
開示の駆動装置によると、逆回復時のダイオードに流れる電流の相関値、両端電圧の相関値を取得し、ダイオードの電力を算出する。そして、算出した電力に応じたスイッチング速度を設定し、設定したスイッチング速度で対象スイッチング素子を駆動する。算出した電力が大きいときには、遅いスイッチング速度に切り替えて設定する。よって、逆回復時のアバランシェ発生を抑制することができる。 According to the disclosed drive device, the correlation value of the current flowing through the diode during reverse recovery and the correlation value of the voltage across the diode are acquired, and the power of the diode is calculated. Then, a switching speed is set according to the calculated power, and the target switching element is driven at the set switching speed. When the calculated power is large, the switching speed is switched to a slow one and set. Therefore, occurrence of avalanche during reverse recovery can be suppressed.
この明細書における開示された複数の態様は、それぞれの目的を達成するために、互いに異なる技術的手段を採用する。請求の範囲およびこの項に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態の部分との対応関係を例示的に示すものであって、技術的範囲を限定することを意図するものではない。この明細書に開示される目的、特徴、および効果は、後続の詳細な説明、および添付の図面を参照することによってより明確になる。 The multiple aspects disclosed in this specification employ different technical means to achieve their respective objectives. Reference numerals in parentheses described in the claims and this section are intended to exemplify the correspondence with portions of the embodiments described later, and are not intended to limit the technical scope. Objects, features, and advantages disclosed in this specification will become clearer with reference to the following detailed description and accompanying drawings.
以下、図面に基づいて複数の実施形態を説明する。複数の実施形態において、機能的におよび/または構造的に対応する部分および/または関連付けられる部分には同一の参照符号が付される場合がある。対応する部分および/または関連付けられる部分については、他の実施形態の説明を参照することができる。 A plurality of embodiments will be described below based on the drawings. In several embodiments, functionally and/or structurally corresponding and/or related parts may be labeled with the same reference numerals. For corresponding and/or associated parts, reference can be made to the description of other embodiments.
(第1実施形態)
本実施形態に係る駆動装置は、電力変換装置に用いられる。電力変換装置は、回転電機を駆動源とする移動体に適用可能である。移動体は、たとえば電気自動車(EV)、ハイブリッド自動車(HV)、燃料電池車(FCV)などの電動車両、ドローンなどの飛行体、船舶、建設機械、農業機械である。以下では、移動体として車両(ハイブリッド自動車)の例を示す。
(First embodiment)
A drive device according to the present embodiment is used in a power conversion device. The power conversion device can be applied to a moving object that uses a rotating electrical machine as a drive source. Examples of mobile objects include electric vehicles such as electric vehicles (EV), hybrid vehicles (HV), and fuel cell vehicles (FCV), aircraft such as drones, ships, construction machinery, and agricultural machinery. In the following, an example of a vehicle (hybrid vehicle) is shown as the moving body.
<車両の駆動システム>
先ず、図1に基づき、電力変換装置が適用される車両の駆動システムの概略構成について説明する。図1に示すように、車両の駆動システム1は、直流電源2と、モータジェネレータ3と、直流電源2とモータジェネレータ3との間で電力変換を行う電力変換装置4を備えている。
<Vehicle drive system>
First, based on FIG. 1, a schematic configuration of a vehicle drive system to which a power converter is applied will be described. As shown in FIG. 1 , a
直流電源2は、充放電可能な二次電池で構成された直流電圧源である。二次電池は、たとえばリチウムイオン電池、ニッケル水素電池である。モータジェネレータ3は、三相交流方式の回転電機である。
The
モータジェネレータ3は、車両の走行駆動源、すなわち電動機として機能する。モータジェネレータ3は、回生時に発電機として機能する。電力変換装置4は、直流電源2とモータジェネレータ3との間で電力変換を行う。
The
<電力変換装置の回路構成>
次に、図1に基づき、電力変換装置の回路構成について説明する。図1に示すように、電力変換装置4は、フィルタコンデンサC1と、平滑コンデンサC2と、コンバータ5と、インバータ6と、制御回路部7と、駆動回路部8などを備えている。
<Circuit Configuration of Power Converter>
Next, based on FIG. 1, the circuit configuration of the power converter will be described. As shown in FIG. 1, the
高電位側の電力ラインであるPライン9は、VLライン9LおよびVHライン9Hを有している。VLライン9Lは、直流電源2の正極端子に接続される。VLライン9LとVHライン9Hとの間に、コンバータ5が設けられている。VHライン9Hの電位は、VLライン9Lの電位以上とされる。Nライン10は、直流電源2の負極端子に接続される低電位側の電力ラインである。Nライン10は、接地ラインと称されることがある。
A P
フィルタコンデンサC1は、VLライン9LとNライン10との間に接続されている。フィルタコンデンサC1は、直流電源2に対して並列に接続されている。フィルタコンデンサC1は、たとえば直流電源2からの電源ノイズを除去する。フィルタコンデンサC1は、平滑コンデンサC2よりも低電圧側に配置されるため、低圧側コンデンサと称されることがある。VLライン9LおよびNライン10の少なくとも一方には、直流電源2とフィルタコンデンサC1との間に、図示しないシステムメインリレー(SMR)が設けられている。
Filter capacitor C1 is connected between
平滑コンデンサC2は、VHライン9HとNライン10との間に接続されている。平滑コンデンサC2は、コンバータ5とインバータ6との間に設けられており、コンバータ5およびインバータ6に対して並列に接続されている。平滑コンデンサC2は、たとえばコンバータ5で昇圧された直流電圧を平滑化し、その直流電圧の電荷を蓄積する。平滑コンデンサC2の両端間の電圧が、モータジェネレータ3を駆動するための直流の高電圧となる。平滑コンデンサC2の両端間の電圧は、フィルタコンデンサC1の両端間の電圧以上とされる。平滑コンデンサC2は、フィルタコンデンサC1よりも高電圧側に配置されるため高圧側コンデンサと称されることがある。
Smoothing capacitor C2 is connected between
電力変換回路であるコンバータ5およびインバータ6は、上下アーム回路5HL、6HLを有している。上下アーム回路5HL、6HLは、VHライン9HとNライン10との間に接続されている。コンバータ5の上下アーム回路5HLは、上アーム5HをVHライン9H側にして、上アーム5Hおよび下アーム5Lを直列に接続して構成されている。同様に、インバータ6の上下アーム回路6HLは、上アーム6Hおよび下アーム6Lを直列に接続して構成されている。以下では、単にアーム5H、5L、6H、6Lと示すことがある。
The
各アーム5H、5Lは、スイッチング素子Q1と、スイッチング素子Q1に逆並列に接続された還流用のダイオードD1を有している。各アーム6H、6Lは、スイッチング素子Q2と、スイッチング素子Q2に逆並列に接続された還流用のダイオードD2を有している。本実施形態では、スイッチング素子Q1、Q2として、nチャネル型のIGBTを採用している。なお、スイッチング素子Q1、Q2は、IGBTに限定されない。たとえばMOSFETを採用することもできる。ダイオードD1、D2としては、寄生ダイオードを用いることもできる。
Each
アーム5H、5Lのひとつを構成するスイッチング素子Q1およびダイオードD1は、共通の半導体基板に形成されてひとつの半導体素子として提供されてもよいし、互いに異なる半導体素子として提供されてもよい。同様に、アーム6H、6Lのひとつを構成するスイッチング素子Q2およびダイオードD2は、共通の半導体基板に形成されてひとつの半導体素子として提供されてもよいし、互いに異なる半導体素子として提供されてもよい。半導体素子は、半導体チップと称されることがある。本実施形態では、各アーム5H、5L、6H、6Lが、ひとつの半導体素子により構成されている。各半導体素子は、IGBTとダイオード、すなわちRC(Reverse Conducting)-IGBTを有している。
The switching element Q1 and the diode D1 forming one of the
コンバータ5は、DC-DC変換回路である。コンバータ5は、制御回路部7によるスイッチング制御にしたがって、直流電圧を異なる値の直流電圧に変換する。コンバータ5は、直流電源2から供給される直流電圧を昇圧する機能を有している。コンバータ5は、平滑コンデンサC2の電荷を用いて直流電源2を充電する降圧機能も有している。コンバータ5は、上下アーム回路5HLと、リアクトルR1を有している。
上下アーム回路5HLにおいて、上アーム5H側のスイッチング素子Q1のコレクタがVHライン9Hに接続され、下アーム5L側のスイッチング素子Q1のエミッタがNライン10に接続されている。上アーム5H側のスイッチング素子Q1のエミッタと、下アーム5L側のスイッチング素子Q1のコレクタが互いに接続されている。リアクトルR1の一端はVLライン9Lに接続され、他端は、昇圧配線11を介して、上アーム5Hおよび下アーム5Lの接続点に接続されている。
In the upper arm circuit 5HL, the collector of the switching element Q1 on the
なお、コンバータ5は、単相に限定されない。多相コンバータを採用してもよい。たとえば二相コンバータは、二相分の上下アーム回路5HLと、上下アーム回路5HLごとに設けられたリアクトルR1を有する。
Note that the
インバータ6は、DC-AC変換回路である。インバータ6は、平滑コンデンサC2を介してコンバータ5に接続されている。インバータ6は、制御回路部7によるスイッチング制御にしたがって、直流電圧を三相交流電圧に変換し、モータジェネレータ3へ出力する。これにより、モータジェネレータ3は、所定のトルクを発生するように駆動する。インバータ6は、車両の回生制動時、駆動輪からの回転力を受けてモータジェネレータ3が発電した三相交流電圧を、制御回路部7によるスイッチング制御にしたがって直流電圧に変換し、VHライン9Hへ出力することもできる。このように、インバータ6は、コンバータ5とモータジェネレータ3との間で双方向の電力変換を行なう。インバータ6は、三相(U相、V相、W相)の上下アーム回路6HLを有している。
The
上下アーム回路6HLにおいて、上アーム6H側のスイッチング素子Q2のコレクタがVHライン9Hに接続され、下アーム6L側のスイッチング素子Q2のエミッタがNライン10に接続されている。上アーム6H側のスイッチング素子Q2のエミッタと、下アーム6L側のスイッチング素子Q2のコレクタが互いに接続されている。各相の上下アーム回路6HLの接続点は、相ごとに設けられた出力配線12を介して、対応する相の固定子巻線に接続されている。
In the upper arm circuit 6HL, the collector of the switching element Q2 on the
制御回路部7は、スイッチング素子Q1、Q2を動作させるための指令信号を生成し、駆動回路部8に出力する。制御回路部7は、図示しない上位ECUから入力される指令値、各種センサにて検出された信号などに基づいて、指令信号を生成する。指令値は、たとえばトルク指令値、電流指令値、電圧指令値である。制御回路部7は、指令信号として、たとえばPWM信号を出力する。制御回路部7は、たとえばマイコン(マイクロコンピュータ)を備えて構成されている。ECUは、Electronic Control Unitの略称である。PWMは、Pulse Width Modulationの略称である。
The
各種センサとしては、電流センサ、回転角センサ、電圧センサ、温度センサなどがある。電流センサのひとつは、モータジェネレータ3の各相の巻線に流れる相電流を検出する。電流センサの他のひとつは、リアクトルR1を流れる電流を検出する。回転角センサは、モータジェネレータ3の回転子の回転角を検出する。電圧センサのひとつは、平滑コンデンサC2の両端電圧、すなわちVHライン9Hの電圧を検出する。電圧センサの他のひとつは、フィルタコンデンサC1の両端電圧、すなわちVLライン9Lの電圧を検出する。温度センサは、リアクトルR1の温度を検出する。電力変換装置4は、これらの図示しないセンサを有している。
Various sensors include a current sensor, a rotation angle sensor, a voltage sensor, a temperature sensor, and the like. One of the current sensors detects a phase current flowing through each phase winding of the
駆動回路部8は、制御回路部7の指令信号に基づいて、対応するアーム5H、5L、6H、6Lのスイッチング素子Q1、Q2のゲートに、駆動電圧を供給する。駆動回路部8は、駆動電圧の印加により、対応するスイッチング素子Q1、Q2を駆動、すなわちオン駆動、オフ駆動させる。駆動回路部8は、ドライバと称されることがある。本実施形態では、ひとつのアームに対してひとつの駆動回路部8が設けられている。駆動回路部8の配置は、これに限定されない。たとえば一相分の上下アーム回路5HL、6HLごとに駆動回路部8を設けてもよい。
The
<逆回復動作>
次に、図2に基づき、ダイオードの逆回復動作について説明する。逆回復は、リカバリと称されることがある。図2において、実線の矢印は還流電流を示し、破線矢印は逆回復電流を示している。分かり易くするために、上アーム6Hを構成する要素の末尾にH、下アーム6Lを構成する要素の末尾にLを付与することがある。図2では、便宜上、インバータ6を構成する上下アーム回路6HLのひとつについて例示しているが、他の上下アーム回路についても同様である。
<Reverse recovery operation>
Next, the reverse recovery operation of the diode will be described with reference to FIG. Reverse recovery is sometimes referred to as recovery. In FIG. 2, the solid line arrow indicates the return current, and the dashed line arrow indicates the reverse recovery current. For the sake of clarity, H may be added to the end of the elements forming the
モータジェネレータ3の巻線(L負荷)に蓄積されたエネルギーにより、下アーム6L側のダイオードD2Lに、図2に実線矢印で示す順方向の電流が流れる。この順方向の電流が、還流電流である。
Due to the energy stored in the winding (L load) of the
還流電流が流れているときに、対向アームである上アーム6Hのスイッチング素子Q2Hをターンオンさせると、図2に破線矢印で示すように、ダイオードD2Lの逆回復電流が発生する。逆回復電流は、対向アームのスイッチング素子がターンオンするときに過渡的に流れる。対向アームとは、上下アーム回路を構成すべく互いに直列接続されたアームのひとつから見て、他のひとつである。
When the switching element Q2H of the
具体的には、ターンオンによりスイッチング素子Q2Hに電流が流れると、ダイオードD2Lに逆電圧がかかり、ダイオードD2Lに流れる電流が時間変化をもって減少してやがてゼロになる。ダイオードD2Lは、順方向時に蓄積された過剰キャリアを掃出するため、所定期間、順方向とは反対の方向(逆方向)に電流が流れる。この逆方向の電流が、逆回復電流である(後述の図12参照)。 Specifically, when a current flows through the switching element Q2H due to turn-on, a reverse voltage is applied to the diode D2L, and the current flowing through the diode D2L decreases with time and eventually becomes zero. Since the diode D2L sweeps out excess carriers accumulated in the forward direction, current flows in the direction opposite to the forward direction (reverse direction) for a predetermined period. This reverse current is the reverse recovery current (see FIG. 12 described later).
<サージ電圧と電力>
次に、図3および図4に基づき、逆回復時において、ダイオードの両端に生じるサージ電圧と、ダイオードの電力について説明する。図3は、逆回復時のサージ電圧と素子耐量を説明するための図である。図4は、ダイオードの電力と電力耐量を示す図である。
<Surge voltage and power>
Next, the surge voltage generated across the diode and the power of the diode during reverse recovery will be described with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. FIG. 3 is a diagram for explaining the surge voltage and element withstand capability during reverse recovery. FIG. 4 is a diagram showing diode power and power tolerance.
上記したように、ダイオードの還流時に対向アームのスイッチング素子がターンオンすることで、逆回復電流が流れる。電流が減少するときのダイオードに流れる電流の傾きは、対向アームのスイッチング素子のターンオン時のスイッチング速度が速いほど、大きくなる。 As described above, the reverse recovery current flows by turning on the switching element of the opposing arm during freewheeling of the diode. The slope of the current flowing through the diode when the current decreases increases as the switching speed at which the switching element of the opposing arm turns on increases.
ダイオードを有する半導体素子を小型化することで、製造コストを低減、すなわち低コスト化を図ることができる。しかしながら、図4に白抜き矢印で示すように、ダイオードの電力耐量は、たとえば素子の小型化にともなって小さくなる。 By miniaturizing the semiconductor element having the diode, the manufacturing cost can be reduced, that is, the cost can be reduced. However, as indicated by the white arrow in FIG. 4, the power capability of the diode decreases as the device becomes smaller, for example.
よって、図3に示すように、逆回復時に生じるサージ電圧がダイオードの素子耐圧以下となるように、対向アームのスイッチング素子のターンオン時のスイッチング速度を設定した場合でも、図4に示すように、ダイオードの電力が電力耐量を超える虞がある。電力が電力耐量を超えると、ダイオードにアバランシェ降伏が発生し、半導体素子が劣化、たとえばスイッチング素子のゲート酸化膜が劣化する虞がある。逆回復時のアバランシェは、リカバリアバランシェと称されることがある。以下に示す駆動装置は、逆回復時のアバランシェ発生を抑制するよう構成されている。 Therefore, as shown in FIG. 3, even when the switching speed at which the switching element of the opposing arm is turned on is set so that the surge voltage generated during reverse recovery is equal to or less than the withstand voltage of the diode, as shown in FIG. The power of the diode may exceed the power tolerance. When the power exceeds the power tolerance, an avalanche breakdown occurs in the diode, which may deteriorate the semiconductor element, for example, the gate oxide film of the switching element. Avalanche during reverse recovery is sometimes referred to as recovery avalanche. The drive device described below is configured to suppress the occurrence of avalanche during reverse recovery.
<駆動装置>
次に、図5~図11に基づき、駆動装置について説明する。図5は、駆動装置の機能ブロックを示す図である。図5では、便宜上、スイッチング素子をSWと示している。図6は、速度設定のためのマップを示している。図7は、速度設定を説明するための図である。図8は、駆動回路部の一例を示している。図9は、駆動回路部の別例を示している。図10は、駆動回路部の別例を示している。図11は、駆動装置が実行する処理を示すフローチャートである。
<Driving device>
Next, the driving device will be described with reference to FIGS. 5 to 11. FIG. FIG. 5 is a diagram showing functional blocks of the driving device. In FIG. 5, the switching element is shown as SW for convenience. FIG. 6 shows a map for speed setting. FIG. 7 is a diagram for explaining speed setting. FIG. 8 shows an example of the drive circuit section. FIG. 9 shows another example of the drive circuit section. FIG. 10 shows another example of the drive circuit section. FIG. 11 is a flow chart showing the processing executed by the driving device.
図5に示すように、駆動装置13は、上記した制御回路部7と、駆動回路部8を備えている。駆動装置13は、ダイオードが逆並列に接続され、少なくとも一相分の上下アーム回路を構成する複数のスイッチング素子を駆動する。すなわち、駆動装置13は、電力変換回路を構成するスイッチング素子を駆動する。本実施形態の駆動装置13は、コンバータ5を構成するすべてのスイッチング素子Q1と、インバータ6を構成するすべてのスイッチング素子Q2を駆動する。電力変換装置4は、駆動装置13を備えている。
As shown in FIG. 5, the
制御回路部7は、指令信号生成部70と、相関値取得部71と、電力算出部72と、速度設定部73を有している。
The
指令信号生成部70は、上記したように、スイッチング素子Q1、Q2を動作させるための指令信号を、上位ECUから入力される指令値、各種センサにて検出された信号などに基づいて生成する。そして、生成した指令信号を、駆動回路部8に出力する。
As described above, the
相関値取得部71は、上記した逆回復時のダイオードに流れる電流(逆回復電流)の相関値、および、逆回復時のダイオードの両端、すなわちアノード-カソード間に印加される電圧の相関値を取得する。
The correlation
たとえば、ダイオードに流れる電流、両端電圧を検出し、逆回復時の電流相関値および電圧相関値としてもよい。この場合、ダイオードが形成された半導体素子にダイオードのセンス素子を設けてもよい。シャント抵抗、電圧計等を用いてもよい。 For example, the current flowing through the diode and the voltage across the diode may be detected and used as the current correlation value and the voltage correlation value during reverse recovery. In this case, the diode sense element may be provided in the semiconductor element in which the diode is formed. A shunt resistor, a voltmeter, or the like may be used.
また、ダイオードの電流、両端電圧に代えて、電力変換回路の入力電圧、出力電流を、電流相関値および電圧相関値としてもよい。たとえば、インバータ6の入力電圧、すなわち平滑コンデンサC2の両端電圧と、インバータ6から出力配線12を介してモータジェネレータ3に出力される出力電流を用いてもよい。コンバータ5の上下アーム回路5HLの両端電圧と、昇圧配線11に流れる電流を用いてもよい。この場合、電力変換装置4が備える上記したセンサの検出信号を取得すればよい。
Also, the input voltage and the output current of the power conversion circuit may be used as the current correlation value and the voltage correlation value instead of the diode current and the voltage across the diode. For example, the input voltage of
また、上位ECUが指令値として電流指令値および電圧指令値を出力する場合、電流指令値および電圧指令値を、電流相関値および電圧相関値としてもよい。 Further, when the host ECU outputs a current command value and a voltage command value as command values, the current command value and the voltage command value may be used as the current correlation value and the voltage correlation value.
電力算出部72は、相関値取得部71が取得した電流相関値および電圧相関値を用いて、逆回復時のダイオードの電力を算出する。電力算出部72は、電流相関値と電圧相関値とを乗算することで、電力を算出する。
The
電流相関値、電圧相関値として、ダイオードに流れる電流、両端電圧を検出する場合、特に補正しなくてもよい。同タイミングで取得した電流、電圧の検出値を乗算することで、電力を算出する。電力変換回路の入力電圧、出力電流を用いる場合、または、電流指令値、電圧指令値を用いる場合には、電流相関値および電圧相関値を補正した上で、補正した電流相関値と電圧相関値とを乗算し、電力を算出(推定)する。 When the current flowing through the diode and the voltage across the diode are detected as the current correlation value and the voltage correlation value, no particular correction is required. Power is calculated by multiplying the current and voltage detection values obtained at the same timing. When using the input voltage and output current of the power conversion circuit, or when using the current command value and voltage command value, the current correlation value and voltage correlation value are corrected, and then the corrected current correlation value and voltage correlation value are obtained. and to calculate (estimate) the power.
具体的には、試作時の試験、シミュレーション等によって、ダイオードの電流、両端電圧との関係性を求めておく。たとえばダイオードの電流、両端電圧とインバータ6の出力電流、入力電圧との関係性を予め求めておく。ダイオードの電流、両端電圧と電流指令値、電圧指令値との関係性を予め求めておく。この関係性については、たとえば制御回路部7が有するメモリに、マップ、関数等として予め格納される。
Specifically, the relationship between the current of the diode and the voltage across the diode is determined in advance by tests, simulations, etc. during the prototyping. For example, the relationship between the current of the diode, the voltage across the diode, the output current of the
速度設定部73は、駆動装置13が駆動する複数のスイッチング素子のうち、対象となるスイッチング素子(以下、対象スイッチング素子と示す)のスイッチング速度を、電力算出部72の算出結果に応じて設定する。
The
対象スイッチング素子は、少なくとも、逆回復時のダイオードの対向アームのスイッチング素子を含む。速度設定部73は、対象スイッチング素子について、少なくともターンオン時のスイッチング速度を設定する。速度設定部73は、対向アームのスイッチング素子のみを対象スイッチング素子としてもよいし、逆回復時のダイオードを含む上下アーム回路のスイッチング素子のすべてを対象スイッチング素子としてもよい。また、逆回復時のダイオードを含む電力変換回路のすべてのスイッチング素子を、対象スイッチング素子としてもよい。
The target switching element includes at least the switching element of the opposite arm of the diode during reverse recovery. The
速度設定部73は、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を、電力算出部72が算出した電力が第1電力のときに、第1電力よりも小さい第2電力よりもスイッチング速度が遅くなるように、スイッチング速度を切り替えて設定する。速度設定部73は、駆動回路部8に速度設定信号を出力する。速度設定信号は、速度切替信号と称されることがある。
The
制御回路部7のメモリには、試作時の試験、シミュレーション等により求められた、スイッチング速度を切り替えて設定可能なマップ、関数等が予め格納されている。速度設定部73は、図6に例示するマップを用いて、スイッチング速を設定してもよい。マップは、電流相関値、電圧相関値、および少なくともターンオン時のスイッチング速度との関係を示している。
The memory of the
図6において、スイッチング速度A~Pは、電流相関値が大きいほど遅く、電流相関値が小さいほど速い。スイッチング速度A~Pは、電圧相関値が大きいほど遅く、電圧相関値が小さいほど速い。よって、スイッチング速度Dがもっとも遅く、スイッチング速度Mがもっとも速い。たとえば、A、E、I、Mの列において、スイッチング速度Aがもっとも遅く、スイッチング速度Mがもっとも速い。M、N、O、Pの行において、スイッチング速度Pがもっとも遅く、スイッチング速度Mがもっとも速い。D、G、J、Mにおいて、スイッチング速度Dがもっとも遅く、スイッチング速度Mがもっとも速い。 In FIG. 6, the switching speeds A to P are slower as the current correlation value is larger, and faster as the current correlation value is smaller. The switching speeds A to P are slower as the voltage correlation value is larger, and faster as the voltage correlation value is smaller. Therefore, the switching speed D is the slowest and the switching speed M is the fastest. For example, in the columns A, E, I, M, switching speed A is the slowest and switching speed M is the fastest. In the M, N, O, P rows, the switching speed P is the slowest and the switching speed M is the fastest. Among D, G, J, and M, the switching speed D is the slowest and the switching speed M is the fastest.
速度設定部73は、図6に示したマップを用い、算出した電力に応じたスイッチング速度を設定する。速度設定部73は、算出した電力とともに取得した相関値の少なくともひとつを用いてスイッチング速度を設定してもよい。たとえば、算出した電力と電流相関値を用いて、スイッチング速度A~Pのいずれかを設定する。
The
速度設定部73は、予め設定された関数を用いて、スイッチング速度を切り替えてもよい。たとえば、ゲート抵抗を切り替えることで、スイッチング速度を切り替えてもよい。この場合、試験等によって、図7に示すような、ダイオードの電力、対象スイッチング素子のゲート抵抗、スイッチング速度の関係性を取得する。図7において、電力Pnは、n数が大きくなるほど電力が大きい。ゲート抵抗Rgnは、n数が大きくなるほど抵抗値が大きい。スイッチング速度Snは、n数が大きくなるほど遅い。
The
そして、図7に示す関係性から近似式(関数)を求め、メモリ等に予め格納しておく。たとえば、2次の多項式近似の場合、以下に示す式の変数xに算出した電力を入力することで、設定するゲート抵抗Rg(x)、すなわちスイッチング速度を求めることができる。
Rg(x)=αx2+βx+c
Then, an approximation formula (function) is obtained from the relationship shown in FIG. 7 and stored in advance in a memory or the like. For example, in the case of second-order polynomial approximation, the gate resistance Rg(x) to be set, that is, the switching speed can be obtained by inputting the calculated power to the variable x in the following equation.
Rg(x)=αx 2 +βx+c
速度設定部73がスイッチング速度を設定すると、駆動回路部8は、速度設定部73が設定したスイッチング速度で対象スイッチング素子をターンオンさせる。速度設定部73は、ターンオン速度とともに、ターンオフ速度を設定してもよい。駆動回路部8が、駆動部に相当する。
When the
駆動回路部8は、速度設定信号に基づいて、スイッチング速度のうち、少なくともターンオン速度を切り替え可能に構成されている。たとえば、図8に示す駆動回路部8は、オン用スイッチ80と、オフ用スイッチ81と、駆動制御部82と、抵抗83を有している。オン用スイッチ80およびオフ用スイッチ81は、オン用スイッチ80を電源側にして直列接続されている。以下では、単にスイッチ80、81と称することがある。
The
図8において、オン用スイッチ80は、pチャネル型のMOSFETである。オフ用スイッチ81は、nチャネル型のMOSFETである。オン用スイッチ80のソースは、電源に接続されている。オフ用スイッチ81のソースは、グランドに接続されている。スイッチ80、81のドレイン同士が接続されている。オン用スイッチ80は、充電用スイッチと称されることがある。オフ用スイッチ81は、放電用スイッチと称されることがある。
In FIG. 8, the
駆動回路部8には、フォトカプラ等の図示しない絶縁素子を介して、制御回路部7から信号が入力される。駆動制御部82は、指令信号に基づいて、スイッチ80、81の駆動を制御する。スイッチング素子のターンオン時には、駆動制御部82により、オン用スイッチ80がオン、オフ用スイッチ81がオフされる。これにより、ゲートが充電される。ターンオフ時には、駆動制御部82により、オン用スイッチ80がオフ、オフ用スイッチ81がオンされる。これにより、ゲートの電荷が引き抜かれる。
A signal is input from the
抵抗83は、スイッチ80、81の接続点と、スイッチング素子(IGBT)のゲートとの間に設けられている。抵抗83は、ゲート抵抗と称されることがある。抵抗83は、抵抗値を切り替え可能な可変抵抗である。抵抗83の値は、速度設定信号に応じて切り替えられる。抵抗値が大きくなるほど、時定数が大きくなり、スイッチング速度が遅くなる。
A
抵抗83として可変抵抗の例を示したが、これに限定されない。複数の抵抗の接続状態を切り替えることで、抵抗値を切り替え可能としてもよい。また、図9に示すように、ターンオン用とターンオフ用とで抵抗(ゲート抵抗)を別々に設けてもよい。図9に示す例では、オン用スイッチ80のドレインとゲートとの間に抵抗84が設けられ、オフ用スイッチ81のドレインとゲートとの間に抵抗85が設けられている。そして、抵抗84として可変抵抗を採用し、速度設定信号に応じて抵抗84の値、すなわちターンオン速度が切替可能に構成されている。
Although an example of a variable resistor is shown as the
ゲート抵抗値に代えて、ゲートの駆動電圧を切り替え可能に構成してもよい。図10に示す駆動回路部8は、上記したスイッチ80、81および駆動制御部82に加えて、電源86と、抵抗87を有している。電源86は、出力電圧を可変とする電圧源である。電源86の正極にオン用スイッチ80のソースが接続され、負極にオフ用スイッチ81のソースが接続されている。抵抗87は、スイッチ80、81の接続点とゲートとの間に設けられた固定抵抗である。このように、速度設定信号に応じて電源86の出力電圧、すなわちゲートの駆動電圧が切替可能に構成されている。
Instead of the gate resistance value, the gate driving voltage may be switchable. The
図11は、逆回復時に駆動装置13が実行する処理を示すフローチャートである。センス素子等により逆回復電流を検出すると、駆動装置13は、以下に示す処理を実行する。
FIG. 11 is a flow chart showing the process executed by the driving
先ず、駆動装置13は、相関値を取得する(ステップS10)。制御回路部7は、相関値として、電流相関値と電圧相関値を取得する。
First, the driving
次いで、駆動装置13は、取得した相関値を用いて、逆回復が生じているダイオードの電力を算出する(ステップS20)。制御回路部7は、電流相関値と電圧相関値との乗算により、電力を算出する。制御回路部7は、必要に応じて相関値を補正し、電力を算出する。
Next, the driving
次いで、駆動装置13は、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を、ステップS20で算出した電力に応じて設定する(ステップS30)。制御回路部7は、マップ、関数等により算出した電力に応じてスイッチング速度を設定し、速度設定信号を駆動回路部8に出力する。
Next, the driving
制御回路部7は、前回のステップS30の処理を行ったときの算出電力(第2電力)よりも今回の算出電力(第1電力)が大きい場合、前回よりもスイッチング速度が遅くなるように設定する。たとえば図6に示したマップにおいて、スイッチング速度をJ→Gに切り替えて設定する。
When the current calculated power (first power) is greater than the calculated power (second power) when the process of step S30 was performed last time, the
次いで、駆動装置13は、ステップS30で設定したスイッチング速度で、対象スイッチング素子を駆動する(ステップS40)。そして一連の処理を終了する。駆動回路部8は、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を、速度設定信号に応じて値にする。制御回路部7がスイッチング速度を切り替えて設定した場合、駆動回路部8は、スイッチング速度を切り替えて対象スイッチング素子を駆動する。
Next, the driving
駆動装置13は、上記した処理を所定周期で繰り返し実行する。すなわち、逆回復電流が流れている間に、上記した処理を繰り返し実行する。このように、本実施形態では、逆回復時において、ダイオードの電力に応じて少なくともターンオン時のスイッチング速度を設定する。すなわち、アクティブゲートコントロールを実行する。
The driving
<第1実施形態のまとめ>
図12は、対向アームのスイッチング素子のターンオンに伴ってダイオードに流れる電流、ダイオードの両端電圧、および電力の変化を示している。図12では、電力耐量を示している。対向アームのターンオン時のスイッチング速度が速いほど、逆回復電流のピークが複数生じやすくなる。ピークが複数生じると、両端電圧が高いときにピークの少なくともひとつが生じることとなり、ダイオードの電力が電力耐量を超えやすい。逆回復時にダイオードの電力が電力耐量を超えると、ダイオードにリカバリアバランシェ(逆回復時のアバランシェ降伏)が生じる虞がある。リカバリアバランシェは、半導体素子の劣化につながる。
<Summary of the first embodiment>
FIG. 12 shows changes in the current flowing through the diode, the voltage across the diode, and the power as the switching element of the opposing arm is turned on. FIG. 12 shows the power tolerance. The faster the switching speed when the opposing arm is turned on, the more likely multiple peaks of the reverse recovery current will occur. When multiple peaks occur, at least one of the peaks occurs when the voltage across the diode is high, and the power of the diode tends to exceed the power tolerance. If the power of the diode exceeds the power handling capacity during reverse recovery, recovery avalanche (avalanche breakdown during reverse recovery) may occur in the diode. Recovery avalanche leads to degradation of the semiconductor device.
これに対し、本実施形態の駆動装置13は、逆回復時のダイオードの電流相関値、電圧相関値を取得し、取得した相関値を用いてダイオードの電力を算出する。そして、算出した電力に応じて、対向アームのスイッチング素子を含む対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を設定する。よって、スイッチング速度は、算出した電力の値に応じた値となる。算出した電力が大きいときには、遅いスイッチング速度に切り替えて設定する。
On the other hand, the driving
そして、算出した電力値が、直ちにスイッチング速度に反映される。よって、ダイオードの電力が電力耐量を超えるのを抑制することができる。図13は、図6に示したマップに電力耐量を重ねて示している。電力耐量を超える領域のスイッチング速度A、B、C、D、G、H、L、Pには、特に遅い値が設定されている。よって、仮に算出した電力が電力耐量を超えたとしても、スイッチング速度を直ちに切り替えることで、電力耐量超えを短時間にとどめることができる。以上により、リカバリアバランシェが生じるのを抑制することができる。 Then, the calculated power value is immediately reflected in the switching speed. Therefore, it is possible to suppress the power of the diode from exceeding the power tolerance. FIG. 13 shows the power tolerance superimposed on the map shown in FIG. Particularly slow values are set for the switching speeds A, B, C, D, G, H, L, and P in the region exceeding the power tolerance. Therefore, even if the calculated electric power exceeds the power tolerance, by immediately switching the switching speed, the power tolerance exceeding can be kept to a short period of time. As described above, the occurrence of recovery avalanche can be suppressed.
アクティブゲートコントロールを行う電力域を限定してもよい。たとえば駆動装置13が電力判定部を備え、電力算出部72が算出した電力が閾値電力を超えている場合にのみ、アクティブゲートコントロールを行うようにしてもよい。電力が閾値電力を超えていない場合には、スイッチング速度は所定の基準値となる。この場合、閾値電力を電力耐量に一致させてもよいが、閾値電力を電力耐量よりも小さい値とするのが好ましい。
A power range in which active gate control is performed may be limited. For example, the
制御回路部7は、逆回復時に設定できるスイッチング速度をすくなくとも2つ有し、駆動回路部8は設定可能数に応じて切り替え可能な構成であればよい。たとえば、電力耐量および/または電力閾値を超えたら第1速度を設定し、超えない場合に第2速度を設定してもよい。電力閾値は、電力耐量以下の値が設定される。
The
(第2実施形態)
この実施形態は、先行する実施形態を基礎的形態とする変形例であり、先行実施形態の記載を援用できる。先行実施形態では、算出した電力に応じてスイッチング速度を設定した。これに代えて、算出した電力とダイオードの素子温度の相関値とに応じて、スイッチング速度を設定してもよい。
(Second embodiment)
This embodiment is a modification based on the preceding embodiment, and the description of the preceding embodiment can be used. In the previous embodiment, the switching speed was set according to the calculated power. Alternatively, the switching speed may be set according to the correlation value between the calculated power and the element temperature of the diode.
図14は、本実施形態に係る駆動装置13を示している。駆動装置13は、温度取得部74をさらに備えている。温度取得部74は、逆回復時のダイオードが形成された半導体素子の温度(素子温度)の相関値を取得する。
FIG. 14 shows the driving
たとえば、素子温度を検出し、温度相関値としてもよい。この場合、半導体素子に形成された感温ダイオード等の温度検出素子より、温度相関値を取得する。また、半導体素子を備える半導体パッケージの温度を温度相関値としてもよい。この場合、パッケージに設けられたサーミスタ等の温度センサより、温度相関値を取得する。温度の精度の観点から、素子温度を用いるのが好ましい。 For example, an element temperature may be detected and used as a temperature correlation value. In this case, a temperature correlation value is obtained from a temperature detecting element such as a temperature sensitive diode formed on a semiconductor element. Also, the temperature of a semiconductor package including a semiconductor element may be used as the temperature correlation value. In this case, a temperature correlation value is obtained from a temperature sensor such as a thermistor provided in the package. From the viewpoint of temperature accuracy, it is preferable to use the element temperature.
速度設定部73は、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を、電力算出部72が算出した電力と、温度取得部74が取得した温度相関値とに応じて設定する。
The
図15は、素子温度と電力耐量との関係を示している。図15では、素子温度が-40℃、150℃のときのそれぞれの電力耐量を示している。素子温度の温度が低いと電力耐量が大きくなり、素子温度が高いと電力耐量が小さくなる。よって、素子温度が高いほど、逆回復時のダイオードの電力が電力耐量を超えやすく、ひいてはリカバリアバランシェが生じやすい。よって、速度設定部73は、電力が同じでも温度相関値が第1温度のときに、第1温度よりも低い第2温度に較べてスイッチング速度が遅くなるように、取得した温度相関値に応じて対象スイッチング素子のスイッチング速度を設定する。
FIG. 15 shows the relationship between element temperature and power tolerance. FIG. 15 shows the power tolerance when the element temperature is -40.degree. C. and 150.degree. When the element temperature is low, the power tolerance increases, and when the element temperature is high, the power tolerance decreases. Therefore, the higher the element temperature, the more likely the power of the diode during reverse recovery will exceed the power tolerance, and the more likely recovery avalanche will occur. Therefore, the
図16は、マップを用いてスイッチング速度を設定する場合の一例を示している。図16では、温度相関値を単に温度と示している。温度T2が温度T1よりも高いため、電力耐量2は電力耐量1よりも小さい。温度T1に対応するマップ1は、先行実施形態に示した図6と同じである。温度T2に対応するマップ2は、スイッチング速度イ~リが設定可能である。マップ1(図6のマップ)同様、スイッチング速度イ~リは、電流相関値が大きいほど遅く、電流相関値が小さいほど速い。電圧相関値が大きいほど遅く、電圧相関値が小さいほど速い。電力耐量を超える領域のスイッチング速度イ、ロ、ハ、ホ、ヘ、リには、特に遅い値が設定されている。
FIG. 16 shows an example of setting the switching speed using a map. In FIG. 16, the temperature correlation value is simply indicated as temperature. Since the temperature T2 is higher than the temperature T1, the
スイッチング速度イ~リの設定された電力領域は、マップ1のスイッチング速度E~G、I~K、M~Oが設定された領域と同じである。互いに同じ電力領域に設定されたスイッチング速度は、温度の高いマップ2のほうが温度の低いマップ1よりも遅い。たとえば、スイッチング速度イは、スイッチング速度Eよりも遅い。スイッチング速度ホは、スイッチング速度Jよりも遅い。
The power region in which the switching speeds 1 to 3 are set is the same as the region in which the switching speeds E to G, I to K, M to O of
速度設定部73は、温度相関値に応じたマップを用いて、算出した電力に応じたスイッチング速度を設定する。なお、所定の温度域ごとにマップを用意してもよい。
The
速度設定部73は、予め設定された関数を用いて、スイッチング速度を設定してもよい。たとえば、先行実施形態同様、試験等によって、温度相関値(素子温度)、ダイオードの電力、対象スイッチング素子のゲート抵抗、スイッチング速度の関係性を取得し、近似等によって関数を求めてもよい。
The
図17は、逆回復時に駆動装置13が実行する処理を示すフローチャートである。まず、駆動装置13は、温度を取得する(ステップS5)。制御回路部7は、温度として、温度相関値を取得する。次いで、駆動装置13は、ステップS10、S20の処理を実行する。なお、温度取得処理の順序は、上記例に限定されない。ステップS10の後であって、ステップS20の前に実行してもよいし、ステップS20の後であって、ステップS30の前に実行してもよい。
FIG. 17 is a flow chart showing the process executed by the driving
温度相関値の取得と電力の算出が終了すると、駆動装置13は、ステップ30の処理を実行する。本実施形態では、制御回路部7が、上記したように、算出した電力と取得した温度相関値とに応じて、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を設定する。
After obtaining the temperature correlation value and calculating the electric power, the driving
ステップS30の処理が終了すると、先行実施形態同様、駆動装置13はステップS40の処理を実行する。そして一連の処理を終了する。駆動装置13は、上記した処理を所定周期で繰り返し実行する。すなわち、逆回復電流が流れている間に、上記した処理を繰り返し実行する。
When the process of step S30 ends, the driving
<第2実施形態のまとめ>
本実施形態の駆動装置13は、先行実施形態同様、逆回復時のダイオードの電流相関値、電圧相関値を取得し、取得した相関値を用いてダイオードの電力を算出する。また、素子温度の相関値を取得する。そして、算出した電力と取得した温度相関値に応じて、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を設定する。上記したように、電力耐量の温度依存性を考慮し、スイッチング速度の設定に、温度相関値も用いる。よって、スイッチング速度を最適化し、リカバリアバランシェが生じるのをより効果的に抑制することができる。
<Summary of Second Embodiment>
The driving
(第3実施形態)
この実施形態は、先行する実施形態を基礎的形態とする変形例であり、先行実施形態の記載を援用できる。先行実施形態では、算出した電力に応じてスイッチング速度を設定した。これに代えて、算出した電力とダイオードの素子温度の相関値とに応じて、スイッチング速度を設定してもよい。
(Third embodiment)
This embodiment is a modification based on the preceding embodiment, and the description of the preceding embodiment can be used. In the previous embodiment, the switching speed was set according to the calculated power. Alternatively, the switching speed may be set according to the correlation value between the calculated power and the element temperature of the diode.
図18は、本実施形態に係る駆動装置13を示している。駆動装置13は、温度判定部75をさらに備えている。温度判定部75は、温度取得部74が取得した温度相関値と温度閾値とを比較し、温度相関値が温度閾値を超えているか否かを判定する。そして、その判定結果を、速度設定部73に出力する。
FIG. 18 shows the driving
速度設定部73は、温度相関値が閾値温度を超えている場合に、先行実施形態同様、対象スイッチング素子のスイッチング速度を、電力算出部72が算出した電力に応じて設定する。
When the temperature correlation value exceeds the threshold temperature, the
図19は、逆回復時に駆動装置13が実行する処理を示すフローチャートである。ステップS20までの処理については、第2実施形態と同様である。
FIG. 19 is a flow chart showing the process executed by the driving
温度相関値の取得と電力の算出が終了すると、駆動装置13は、ステップ30の処理を実行する前に、判定処理を実行する(ステップS25)。ステップS25において、制御回路部7は、温度相関値が予め設定された閾値温度を超えているか否かを判定する。
After obtaining the temperature correlation value and calculating the electric power, the driving
ステップS25において温度相関値が閾値温度を超えていると判定した場合、駆動装置13はステップS30の処理を実行する。すなわち、制御回路部7が、上記したように、算出した電力に応じて、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を設定する。制御回路部7は、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を、電力算出部72が算出した電力が第1電力のときに、第1電力よりも小さい第2電力よりもスイッチング速度が遅くなるように、スイッチング速度を切り替えて設定する。このように、温度相関値が閾値温度を超えている場合には、アクティブゲートコントロールを行う。
When it is determined in step S25 that the temperature correlation value exceeds the threshold temperature, the driving
ステップS25において温度相関値が閾値温度を超えていないと判定した場合、駆動装置13はステップS35の処理を実行する。ステップS35において、制御回路部7は、スイッチング速度として所定の基準値を設定する。このように、温度相関値が閾値温度を超えていない場合には、アクティブゲートコントロールを行わない。スイッチング速度の設定に算出した電力を用いず、所定の基準値を設定する。
If it is determined in step S25 that the temperature correlation value does not exceed the threshold temperature, the driving
ステップS30またはステップS35の処理が終了すると、駆動装置13はステップS40の処理を実行する。そして一連の処理を終了する。駆動装置13は、上記した処理を所定周期で繰り返し実行する。すなわち、逆回復電流が流れている間に、上記した処理を繰り返し実行する。
When the process of step S30 or step S35 is finished, the driving
<第3実施形態のまとめ>
図15に示したように、素子温度が高いほど、電力耐量が小さくなる。すなわち、素子温度が高いほど、リカバリアバランシェが生じやすい。本実施形態の駆動装置13は、先行実施形態同様、逆回復時のダイオードの電流相関値、電圧相関値を取得し、取得した相関値を用いてダイオードの電力を算出する。そして、温度相関値が閾値温度を超える場合にのみ、算出した電力に応じて、対象スイッチング素子の少なくともターンオン時のスイッチング速度を設定する。よって、このように、リカバリアバランシェが生じやすい温度条件において、アクティブゲートコントロールを行う。よって、リカバリアバランシェが生じるのをより効果的に抑制することができる。
<Summary of Third Embodiment>
As shown in FIG. 15, the higher the element temperature, the smaller the power tolerance. That is, the higher the element temperature, the more likely recovery avalanche occurs. The driving
図20に示すように、リカバリアバランシェは、損失、サージとは異なり、素子高温時、且つ、短時間動作で発生する。スイッチング速度の低下は、本来、熱や損失の悪化につながるため好ましくない。しかしながら、リカバリアバランシェは短時間動作のため、上記したように逆回復時においてスイッチング速度を低下させても、熱が問題にならない。 As shown in FIG. 20, unlike losses and surges, recovery avalanche occurs at high device temperatures and during short-time operation. A decrease in switching speed is inherently undesirable because it leads to increased heat and loss. However, since the recovery avalanche operates for a short period of time, even if the switching speed is reduced during reverse recovery as described above, heat does not become a problem.
(他の実施形態)
この明細書および図面等における開示は、例示された実施形態に制限されない。開示は、例示された実施形態と、それらに基づく当業者による変形態様を包含する。たとえば、開示は、実施形態において示された部品および/または要素の組み合わせに限定されない。開示は、多様な組み合わせによって実施可能である。開示は、実施形態に追加可能な追加的な部分をもつことができる。開示は、実施形態の部品および/または要素が省略されたものを包含する。開示は、ひとつの実施形態と他の実施形態との間における部品および/または要素の置き換え、または組み合わせを包含する。開示される技術的範囲は、実施形態の記載に限定されない。開示されるいくつかの技術的範囲は、請求の範囲の記載によって示され、さらに請求の範囲の記載と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものと解されるべきである。
(Other embodiments)
The disclosure in this specification, drawings, etc. is not limited to the illustrated embodiments. The disclosure encompasses the illustrated embodiments and variations thereon by those skilled in the art. For example, the disclosure is not limited to the combinations of parts and/or elements shown in the embodiments. The disclosure can be implemented in various combinations. The disclosure can have additional parts that can be added to the embodiments. The disclosure encompasses omitting parts and/or elements of the embodiments. The disclosure encompasses permutations or combinations of parts and/or elements between one embodiment and another. The disclosed technical scope is not limited to the description of the embodiments. The disclosed technical scope is indicated by the statements in the claims, and should be understood to include all changes within the meaning and range of equivalents to the statements in the claims.
明細書および図面等における開示は、請求の範囲の記載によって限定されない。明細書および図面等における開示は、請求の範囲に記載された技術的思想を包含し、さらに請求の範囲に記載された技術的思想より多様で広範な技術的思想に及んでいる。よって、請求の範囲の記載に拘束されることなく、明細書および図面等の開示から、多様な技術的思想を抽出することができる。 The disclosure in the specification, drawings, etc. is not limited by the description in the claims. The disclosure in the specification, drawings, etc. encompasses the technical ideas described in the claims, and extends to more diverse and broader technical ideas than the technical ideas described in the claims. Therefore, various technical ideas can be extracted from the disclosure of the specification, drawings, etc., without being bound by the scope of claims.
駆動装置13、すなわち制御回路部7および駆動回路部8は、少なくともひとつのコンピュータを含む制御システムによって提供される。制御システムは、ハードウェアである少なくともひとつのプロセッサ(ハードウェアプロセッサ)を含む。ハードウェアプロセッサは、下記(i)、(ii)、又は(iii)により提供することができる。
The
(i)ハードウェアプロセッサは、ハードウェア論理回路である場合がある。この場合、コンピュータは、プログラムされた多数の論理ユニット(ゲート回路)を含むデジタル回路によって提供される。デジタル回路は、プログラムおよび/またはデータを格納したメモリを備える場合がある。コンピュータは、アナログ回路によって提供される場合がある。コンピュータは、デジタル回路とアナログ回路との組み合わせによって提供される場合がある。 (i) a hardware processor may be a hardware logic circuit; In this case, the computer is provided by digital circuits containing a large number of programmed logic units (gate circuits). A digital circuit may include a memory that stores programs and/or data. Computers may be provided by analog circuits. Computers may be provided by a combination of digital and analog circuits.
(ii)ハードウェアプロセッサは、少なくともひとつのメモリに格納されたプログラムを実行する少なくともひとつのプロセッサコアである場合がある。この場合、コンピュータは、少なくともひとつのメモリと、少なくともひとつのプロセッサコアとによって提供される。プロセッサコアは、たとえばCPUと称される。メモリは、記憶媒体とも称される。メモリは、プロセッサによって読み取り可能な「プログラムおよび/またはデータ」を非一時的に格納する非遷移的かつ実体的な記憶媒体である。 (ii) the hardware processor may be at least one processor core executing a program stored in at least one memory; In this case, the computer is provided by at least one memory and at least one processor core. A processor core is called a CPU, for example. Memory is also referred to as storage medium. A memory is a non-transitory and tangible storage medium that non-temporarily stores "programs and/or data" readable by a processor.
(iii)ハードウェアプロセッサは、上記(i)と上記(ii)との組み合わせである場合がある。(i)と(ii)とは、異なるチップの上、又は共通のチップの上に配置される。 (iii) The hardware processor may be a combination of (i) above and (ii) above. (i) and (ii) are located on different chips or on a common chip.
すなわち、制御回路部7および駆動回路部8が提供する手段および/または機能は、ハードウェアのみ、ソフトウェアのみ、又はそれらの組み合わせにより提供することができる。
That is, the means and/or functions provided by the
車両の駆動システム1は、上記した構成に限定されない。たとえば、モータジェネレータ3をひとつ備える例を示したが、これに限定されない。複数のモータジェネレータを備えてもよい。電力変換装置4が、電力変換回路としてコンバータ5およびインバータ6を備える例を示したが、これに限定されない。たとえば、インバータのみを備える構成や、コンバータのみを備える構成としてもよい。複数のインバータを備える構成としてもよい。
The
1…駆動システム、2…直流電源、3…モータジェネレータ、4…電力変換装置、5…コンバータ、5HL…上下アーム回路、5H…上アーム、5L…下アーム、6…インバータ、6HL…上下アーム回路、6H…上アーム、6L…下アーム、7…制御回路部、70…指令信号生成部、71…相関値取得部、72…電力算出部、73…速度設定部73…温度取得部、8…駆動回路部、80…オン用スイッチ、81…オフ用スイッチ、82…駆動制御部、83、84、85、87…抵抗、86…電源、9…Pライン、9H…VHライン、9L…VLライン、10…Nライン、11…昇圧配線、12…出力配線、13…駆動装置、C1…フィルタコンデンサ、C2…平滑コンデンサ、D1、D2…ダイオード、Q1、Q2…スイッチング素子
DESCRIPTION OF
Claims (4)
逆回復時の前記ダイオードについて、前記ダイオードを流れる電流に相関する電流相関値と、前記ダイオードの両端電圧に相関する電圧相関値を取得する相関値取得部(71)と、
取得した前記電流相関値および前記電圧相関値を用いて、逆回復時の前記ダイオードの電力を算出する電力算出部(72)と、
前記複数のスイッチング素子のうち、逆回復時の前記ダイオードの対向アームの前記スイッチング素子を含む対象スイッチング素子について、少なくともターンオン時のスイッチング速度を、算出した前記電力に応じて設定し、算出した前記電力が第1電力のときに、前記第1電力よりも小さい第2電力に較べて前記スイッチング速度が遅くなるように、前記スイッチング速度を切り替えて設定する速度設定部(73)と、
前記速度設定部が設定した前記スイッチング速度で、前記対象スイッチング素子を駆動する駆動部(8)と、
を備える駆動装置。 A driving device for a plurality of switching elements (Q1, Q2) that constitute upper and lower arm circuits (5HL, 6HL) for at least one phase together with diodes (D1, D2) connected in anti-parallel,
a correlation value acquisition unit (71) for acquiring a current correlation value correlated to the current flowing through the diode and a voltage correlation value correlated to the voltage across the diode for the diode during reverse recovery;
a power calculation unit (72) for calculating the power of the diode during reverse recovery using the acquired current correlation value and voltage correlation value;
Among the plurality of switching elements, for a target switching element including the switching element on the opposite arm of the diode during reverse recovery, at least a switching speed at the time of turn-on is set according to the calculated power, and the calculated power a speed setting unit (73) for switching and setting the switching speed so that when is the first power, the switching speed is slower than when the second power is lower than the first power;
a drive unit (8) for driving the target switching element at the switching speed set by the speed setting unit;
A drive device comprising:
前記速度設定部は、取得した前記温度相関値と算出した前記電力に応じて前記対象スイッチング素子の前記スイッチング速度を設定する請求項1に記載の駆動装置。 Further comprising a temperature acquisition unit (74) that acquires a temperature correlation value that correlates with the temperature of the diode during reverse recovery,
The driving device according to claim 1, wherein the speed setting unit sets the switching speed of the target switching element according to the obtained temperature correlation value and the calculated power.
前記速度設定部は、前記温度相関値が前記閾値温度を超えている場合に、前記対象スイッチング素子の前記スイッチング速度を、算出した前記電力に応じて設定する請求項2または請求項3に記載の駆動装置。 Further comprising a temperature determination unit (75) for determining whether the temperature correlation value exceeds a predetermined threshold temperature,
4. The speed setting unit according to claim 2 or 3, wherein, when the temperature correlation value exceeds the threshold temperature, the switching speed of the target switching element is set according to the calculated power. drive.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2020099565A JP7310725B2 (en) | 2020-06-08 | 2020-06-08 | drive |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2021193867A JP2021193867A (en) | 2021-12-23 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7310725B2 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002153043A (en) | 2000-11-14 | 2002-05-24 | Fuji Electric Co Ltd | Gate-driving device for voltage-driving semiconductor element |
JP2009183017A (en) | 2008-01-29 | 2009-08-13 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | Active gate circuit |
JP2019146374A (en) | 2018-02-21 | 2019-08-29 | 株式会社日立産機システム | Electric power conversion device |
-
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2002153043A (en) | 2000-11-14 | 2002-05-24 | Fuji Electric Co Ltd | Gate-driving device for voltage-driving semiconductor element |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021193867A (en) | 2021-12-23 |
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