JP7302218B2 - electronic components - Google Patents
electronic components Download PDFInfo
- Publication number
- JP7302218B2 JP7302218B2 JP2019056110A JP2019056110A JP7302218B2 JP 7302218 B2 JP7302218 B2 JP 7302218B2 JP 2019056110 A JP2019056110 A JP 2019056110A JP 2019056110 A JP2019056110 A JP 2019056110A JP 7302218 B2 JP7302218 B2 JP 7302218B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- electrode layer
- electrode
- main surface
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
- H01G4/2325—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor characterised by the material of the terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/02—Mountings
- H01G2/06—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support
- H01G2/065—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support for surface mounting, e.g. chip capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
Description
本発明は、電子部品に関する。 The present invention relates to electronic components.
素体と、素体に配置されている外部電極と、を備えている電子部品が知られている(たとえば、特許文献1参照)。素体は、実装面を構成する主面と、前記主面と隣り合う端面と、を有している。外部電極は、主面の一部と端面の一部とを連続して覆うように設けられている導電性樹脂層と、導電性樹脂層を覆っているめっき層と、を有している。
2. Description of the Related Art An electronic component that includes a base body and external electrodes arranged on the base body is known (see
導電性樹脂層は、一般に、樹脂と、導電性を有する粒子とを含んでいる。樹脂は、水分を吸収する傾向にある。電子部品が電子機器にはんだ実装される場合、樹脂に吸収された水分がガス化して、体積膨張することがある。この場合、導電性樹脂層に応力が作用して、導電性樹脂層に亀裂が生じ、導電性樹脂層が剥離するおそれがある。導電性を有する粒子は、たとえば、金属からなる。電子機器は、たとえば、回路基板又は電子部品を含む。 The conductive resin layer generally contains resin and conductive particles. Resins tend to absorb moisture. When an electronic component is solder-mounted in an electronic device, moisture absorbed in the resin may gasify and expand in volume. In this case, stress acts on the conductive resin layer, which may crack and peel off. The conductive particles are made of metal, for example. Electronic devices include, for example, circuit boards or electronic components.
本発明の一つの態様は、導電性樹脂層の剥離を確実に抑制する電子部品を提供することを目的とする。 An object of one aspect of the present invention is to provide an electronic component that reliably suppresses peeling of a conductive resin layer.
一つの態様に係る電子部品は、素体と、素体に配置されている外部電極と、を備えている。素体は、実装面を構成する主面と、主面と隣り合う端面とを有している。外部電極は、主面の一部と端面の一部とを連続して覆うように設けられている導電性樹脂層と、導電性樹脂層を覆っているめっき層と、を有している。導電性樹脂層は、端面上に位置している第一領域と、主面上に位置している第二領域と、を含んでいる。第二領域の最大厚みは、第一領域の最大厚みより大きい。 An electronic component according to one aspect includes a base body and external electrodes arranged on the base body. The base body has a main surface forming a mounting surface and an end surface adjacent to the main surface. The external electrode has a conductive resin layer continuously covering a part of the principal surface and a part of the end face, and a plated layer covering the conductive resin layer. The conductive resin layer includes a first region located on the end surface and a second region located on the main surface. The maximum thickness of the second region is greater than the maximum thickness of the first region.
本発明者らの調査研究の結果、以下の事項が判明した。
導電性樹脂層を覆っているめっき層は、導電性樹脂層と密着しやすいものの、素体とは密着しがたい。したがって、めっき層の端縁と素体との間には、間隙が存在する。樹脂に吸収された水分がガス化した場合でも、水分から発生したガスが、めっき層の端縁と素体との間の間隙に至ると、ガスは、間隙を通して外部電極外に放出される。水分から発生したガスが外部電極外に放出されるので、導電性樹脂層に応力が作用しがたい。以下、めっき層の端縁と素体との間の間隙は、単に「間隙」と称される。
導電性樹脂層の第二領域は、間隙に近いので、第二領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、間隙に至りやすい。これに対し、第一領域は、間隙から離れているので、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、間隙に至りがたい。したがって、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスを外部電極外に放出するためには、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙に確実に至る構成の実現が望まれる。第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙に確実に至るのであれば、自ずと、第二領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスも、間隙に確実に至る。
As a result of investigation and research by the present inventors, the following matters were found.
The plated layer covering the conductive resin layer easily adheres to the conductive resin layer, but does not easily adhere to the base body. Therefore, a gap exists between the edge of the plating layer and the base body. Even if the moisture absorbed by the resin gasifies, the gas generated from the moisture reaches the gap between the edge of the plating layer and the base body, and the gas is released to the outside of the external electrode through the gap. Since the gas generated from the moisture is released outside the external electrode, stress is less likely to act on the conductive resin layer. Hereinafter, the gap between the edge of the plating layer and the base body is simply referred to as "gap".
Since the second region of the conductive resin layer is close to the gap, gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the second region easily reaches the gap. On the other hand, since the first region is away from the gap, gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the first region is less likely to reach the gap. Therefore, in order to release the gas generated from the moisture absorbed in the resin included in the first region to the outside of the external electrode, the gas generated from the moisture absorbed in the resin included in the first region must reach the gap without fail. realization is desired. If the gas generated from the moisture absorbed by the resin contained in the first region surely reaches the gap, naturally the gas generated from the moisture absorbed by the resin contained in the second region also reaches the gap reliably.
本発明者らは、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙に至るまでの経路に着目した。この結果、本発明者らは、第二領域の最大厚みが第一領域の最大厚みより大きい構成では、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙に確実に至ることを見出した。すなわち、第二領域の最大厚みが第一領域の最大厚みより大きい構成では、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが第二領域を移動しやすい。
したがって、上記一つの態様では、導電性樹脂層(第一領域)が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、間隙に確実に至る。間隙に至ったガスは、外部電極外に放出され、導電性樹脂層に応力が作用しがたい。この結果、上記一つの態様は、導電性樹脂層の剥離を確実に抑制する。
The present inventors paid attention to the path through which the gas generated from the moisture absorbed by the resin contained in the first region reaches the gap. As a result, the present inventors have found that in a configuration in which the maximum thickness of the second region is greater than the maximum thickness of the first region, gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the first region reliably reaches the gap. Found it. That is, in a structure in which the maximum thickness of the second region is larger than the maximum thickness of the first region, gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the first region tends to move through the second region.
Therefore, in the one aspect described above, the gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the conductive resin layer (first region) reliably reaches the gap. The gas that has reached the gap is released outside the external electrode, and it is difficult for stress to act on the conductive resin layer. As a result, the one aspect described above reliably suppresses peeling of the conductive resin layer.
上記一つの態様では、導電性樹脂層は、端面と主面との間の稜線部上に位置している第三領域を含んでいてもよい。第三領域の最小厚みが、第一領域の最大厚みより小さくてもよい。
本発明者らの調査研究の結果、以下の事項も判明した。
間隙は、導電性樹脂層が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスの出口であると共に、外部電極内への水分の入口である。第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙に至るまでの経路は、水分が第一領域に至る経路となるおそれがある。水分が第一領域に至ると、水分は第一領域に吸収される。この場合、ガスの発生量が増加するおそれがある。したがって、水分が第一領域に吸収されるのを抑制するためには、水分が第一領域に至りがたい構成の実現が望まれる。
本発明者らは、第三領域の最小厚みが第一領域の最大厚みより小さい構成では、水分が第一領域に至りがたいことを見出した。すなわち、第三領域の最小厚みが第一領域の最大厚みより小さい構成では、水分が第三領域を通りがたい。したがって、本構成は、導電性樹脂層(第一領域)に吸収される水分の増加、及び、水分から発生するガスの増加を抑制する。この結果、本構成は、導電性樹脂層の剥離をより一層確実に抑制する。
In the one aspect described above, the conductive resin layer may include a third region positioned on the ridge between the end surface and the main surface. The minimum thickness of the third region may be less than the maximum thickness of the first region.
As a result of research and investigation by the present inventors, the following matters were also found.
The gap is an outlet for gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the conductive resin layer, and an inlet for moisture into the external electrode. The gas generated from the moisture absorbed by the resin contained in the first region reaches the gap, and there is a possibility that the moisture reaches the first region. When moisture reaches the first area, the moisture is absorbed in the first area. In this case, the amount of gas generated may increase. Therefore, in order to prevent moisture from being absorbed into the first region, it is desired to implement a configuration that makes it difficult for moisture to reach the first region.
The inventors have found that in a configuration in which the minimum thickness of the third region is smaller than the maximum thickness of the first region, it is difficult for moisture to reach the first region. That is, in a structure in which the minimum thickness of the third region is smaller than the maximum thickness of the first region, it is difficult for moisture to pass through the third region. Therefore, this configuration suppresses an increase in moisture absorbed by the conductive resin layer (first region) and an increase in gas generated from the moisture. As a result, this configuration more reliably suppresses peeling of the conductive resin layer.
上記一つの態様では、素体は、主面及び端面と隣り合う側面を有していてもよい。導電性樹脂層は、側面の一部も連続して覆うように設けられていると共に、側面上に位置している第四領域を含んでいてもよい。第四領域の最大厚みが、第一領域の最大厚みより小さくてもよい。
第四領域の最大厚みが第一領域の最大厚みより小さい構成では、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが第四領域を通りがたい。したがって、第一領域が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、第二領域を通して間隙により一層確実に至る。したがって、本構成は、ガスが出る位置を制御する。
第四領域は、第一領域よりも間隙に近いので、第四領域は、水分が第一領域に至る経路となるおそれがある。これに対し、第四領域の最大厚みが第一領域の最大厚みより小さい構成では、水分が第四領域に浸入する場合でも、水分が第四領域を通りがたい。したがって、本構成は、導電性樹脂層が第四領域を含んでいる場合でも、導電性樹脂層(第一領域)に吸収される水分の増加、及び、水分から発生するガスの増加を抑制する。この結果、本構成は、導電性樹脂層の剥離をより一層確実に抑制する。
In the one aspect described above, the base body may have a side surface adjacent to the main surface and the end surface. The conductive resin layer may be provided so as to continuously cover part of the side surface, and may include a fourth region located on the side surface. The maximum thickness of the fourth region may be smaller than the maximum thickness of the first region.
In a configuration in which the maximum thickness of the fourth region is smaller than the maximum thickness of the first region, it is difficult for gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the first region to pass through the fourth region. Therefore, the gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the first region more reliably reaches the gap through the second region. Thus, this arrangement controls the position at which the gas exits.
Since the fourth region is closer to the gap than the first region, the fourth region may provide a path for moisture to reach the first region. On the other hand, in a configuration in which the maximum thickness of the fourth region is smaller than the maximum thickness of the first region, even if moisture enters the fourth region, it is difficult for moisture to pass through the fourth region. Therefore, even when the conductive resin layer includes the fourth region, this configuration suppresses an increase in moisture absorbed by the conductive resin layer (first region) and an increase in gas generated from the moisture. . As a result, this configuration more reliably suppresses peeling of the conductive resin layer.
上記一つの態様では、主面及び端面に直交する断面において、第二領域の表面は、主面から離れる方向に凸状に湾曲していてもよい。
本構成では、第二領域の厚みが局所的に小さくなることはない。したがって、第二領域でのガスの移動経路が、当該移動経路の途中で狭まることはなく、本構成は、ガスが第二領域を移動するのを阻害しない。この結果、導電性樹脂層が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが、より一層確実に間隙に至るので、本構成は、導電性樹脂層の剥離をより一層確実に抑制する。
In the one aspect described above, the surface of the second region may be convexly curved in a direction away from the main surface in a cross section orthogonal to the main surface and the end surface.
In this configuration, the thickness of the second region is not locally reduced. Therefore, the movement path of the gas in the second area does not narrow in the middle of the movement path, and this configuration does not hinder the movement of the gas in the second area. As a result, the gas generated from the moisture absorbed by the resin contained in the conductive resin layer reaches the gap more reliably, so this configuration more reliably suppresses peeling of the conductive resin layer.
上記一つの態様では、主面に直交する方向から見て、第二領域の端縁は、湾曲していてもよい。
本構成では、第二領域の端縁が直線状である構成に比して、第二領域の端縁の長さが大きい。したがって、本構成では、ガスが出る領域が大きく、ガスが、外部電極からより一層放出されやすい。この結果、導電性樹脂層に応力がより一層作用しがたい。
In the one aspect described above, the edge of the second region may be curved when viewed from the direction perpendicular to the main surface.
In this configuration, the length of the edge of the second region is longer than in the configuration in which the edge of the second region is linear. Therefore, in this configuration, the area from which the gas is emitted is large, and the gas is more likely to be emitted from the external electrodes. As a result, stress is more difficult to act on the conductive resin layer.
本発明の一つの態様によれば、導電性樹脂層の剥離を確実に抑制する電子部品が提供される。 An aspect of the present invention provides an electronic component that reliably suppresses peeling of a conductive resin layer.
以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には、同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description, the same reference numerals are used for the same elements or elements having the same function, and overlapping descriptions are omitted.
図1~図10を参照して、本実施形態に係る積層コンデンサC1の構成を説明する。図1は、本実施形態に係る積層コンデンサの斜視図である。図2は、本実施形態に係る積層コンデンサの側面図である。図3、図4、及び図5は、本実施形態に係る積層コンデンサの断面構成を示す図である。図6は、素体、第一電極層、及び第二電極層を示す平面図である。図7は、素体、第一電極層、及び第二電極層を示す側面図である。図8は、素体、第一電極層、及び第二電極層を示す端面図である。図9及び図10は、外部電極の断面構成を示す図である。本実施形態では、電子部品は、たとえば、積層コンデンサC1である。 The configuration of a multilayer capacitor C1 according to this embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 10. FIG. FIG. 1 is a perspective view of a multilayer capacitor according to this embodiment. FIG. 2 is a side view of the multilayer capacitor according to this embodiment. 3, 4, and 5 are diagrams showing the cross-sectional structure of the multilayer capacitor according to this embodiment. FIG. 6 is a plan view showing the element body, the first electrode layer, and the second electrode layer. FIG. 7 is a side view showing the element body, the first electrode layer, and the second electrode layer. FIG. 8 is an end view showing the element body, the first electrode layer, and the second electrode layer. 9 and 10 are diagrams showing cross-sectional structures of external electrodes. In this embodiment, the electronic component is, for example, a multilayer capacitor C1.
積層コンデンサC1は、図1に示されるように、直方体形状を呈している素体3と、複数の外部電極5と、を備えている。本実施形態では、積層コンデンサC1は、一対の外部電極5を備えている。一対の外部電極5は、素体3に配置されている。一対の外部電極5は、互いに離間している。直方体形状は、角部及び稜線部が面取りされている直方体の形状、及び、角部及び稜線部が丸められている直方体の形状を含む。
The multilayer capacitor C1 includes, as shown in FIG. 1, a rectangular
素体3は、互いに対向している一対の主面3a,3bと、互いに対向している一対の側面3cと、互いに対向している一対の端面3eと、を有している。一対の主面3a,3b、一対の側面3c、及一対の端面3eは、長方形状を呈している。一対の主面3a,3bが対向している方向が、第一方向D1である。一対の側面3cが対向している方向が、第二方向D2である。一対の端面3eが対向している方向が、第三方向D3である。積層コンデンサC1は、電子機器にはんだ実装される。電子機器は、たとえば、回路基板又は電子部品を含む。積層コンデンサC1では、主面3aが、電子機器と対向する。主面3aは、実装面を構成するように配置される。主面3aは、実装面である。
The
第一方向D1は、各主面3a,3bに直交する方向であり、第二方向D2と直交している。第三方向D3は、各主面3a,3bと各側面3cとに平行な方向であり、第一方向D1と第二方向D2とに直交している。第二方向D2は、各側面3cに直交する方向であり、第三方向D3は、各端面3eに直交する方向である。本実施形態では、素体3の第二方向D2での長さは、素体3の第一方向D1での長さより大きい。素体3の第三方向D3での長さは、素体3の第一方向D1での長さより大きく、かつ、素体3の第二方向D2での長さより大きい。第三方向D3が、素体3の長手方向である。
The first direction D1 is a direction perpendicular to the
素体3の第一方向D1での長さは、素体3の高さである。素体3の第二方向D2での長さは、素体3の幅である。素体3の第三方向D3での長さは、素体3の長さである。本実施形態では、素体3の高さは、0.5~2.5mmであり、素体3の幅は、0.5~5.0mmであり、素体3の長さは、1.0~5.7mmである。たとえば、素体3の高さは、2.5mmであり、素体3の幅は、2.5mmであり、素体3の長さは、3.2mmである。
The length of the
一対の側面3cは、一対の主面3a,3bを連結するように第一方向D1に延在している。一対の側面3cは、第三方向D3にも延在している。一対の端面3eは、一対の主面3a,3bを連結するように第一方向D1に延在している。一対の端面3eは、第二方向D2にも延在している。
The pair of side surfaces 3c extend in the first direction D1 so as to connect the pair of
素体3は、一対の稜線部3gと、一対の稜線部3hと、四つの稜線部3iと、一対の稜線部3jと、一対の稜線部3kと、を有している。稜線部3gは、端面3eと主面3aとの間に位置している。稜線部3hは、端面3eと主面3bとの間に位置している。稜線部3iは、端面3eと側面3cとの間に位置している。稜線部3jは、主面3aと側面3cとの間に位置している。稜線部3kは、主面3bと側面3cとの間に位置している。本実施形態では、各稜線部3g,3h,3i,3j,3kは、湾曲するように丸められている。素体3には、いわゆるR面取り加工が施されている。
The
端面3eと主面3aとは、稜線部3gを介して、間接的に隣り合っている。端面3eと主面3bとは、稜線部3hを介して、間接的に隣り合っている。端面3eと側面3cとは、稜線部3iを介して、間接的に隣り合っている。主面3aと側面3cとは、稜線部3jを介して、間接的に隣り合っている。主面3bと側面3cとは、稜線部3kを介して、間接的に隣り合っている。
The
素体3は、第二方向D2に複数の誘電体層が積層されて構成されている。素体3は、積層されている複数の誘電体層を有している。素体3では、複数の誘電体層の積層方向が第二方向D2と一致する。各誘電体層は、たとえば、誘電体材料を含むセラミックグリーンシートの焼結体から構成されている。誘電体材料は、たとえば、BaTiO3系、Ba(Ti,Zr)O3系、又は(Ba,Ca)TiO3系などの誘電体セラミックを含む。実際の素体3では、各誘電体層は、各誘電体層の間の境界が視認できない程度に一体化されている。素体3では、複数の誘電体層の積層方向が第一方向D1と一致していてもよい。
The
積層コンデンサC1は、図3~図5に示されるように、複数の内部電極7と複数の内部電極9とを備えている。各内部電極7,9は、素体3内に配置されている内部導体である。各内部電極7,9は、積層型電子部品の内部電極として通常用いられる導電性材料からなる。導電性材料は、たとえば、卑金属を含む。導電性材料は、たとえば、Ni又はCuを含む。内部電極7,9は、上記導電性材料を含む導電性ペーストの焼結体として構成されている。本実施形態では、内部電極7,9は、Niからなる。
The multilayer capacitor C1 includes a plurality of
内部電極7と内部電極9とは、第二方向D2において異なる位置(層)に配置されている。内部電極7と内部電極9とは、素体3内において、第二方向D2に間隔を有して対向するように交互に配置されている。内部電極7と内部電極9とは、互いに極性が異なる。複数の誘電体層の積層方向が第一方向D1である場合、内部電極7と内部電極9とは、第一方向D1において異なる位置(層)に配置される。内部電極7,9の一端は、対応する端面3eに露出している。内部電極7,9は、対応する端面3eに露出している一端を有している。
The
複数の内部電極7と複数の内部電極9とは、第二方向D2で交互に並んでいる。各内部電極7,9は、側面3cと略平行な面内に位置している。内部電極7と内部電極9とは、第二方向D2で互いに対向している。内部電極7と内部電極9とが対向している方向(第二方向D2)は、側面3cと平行な方向(第一方向D1及び第三方向D3)と直交している。複数の誘電体層の積層方向が第一方向D1である場合、複数の内部電極7と複数の内部電極9とは、第一方向D1で交互に並ぶ。この場合、各内部電極7,9は、各主面3a,3bと略平行な面内に位置する。内部電極7と内部電極9とは、第一方向D1で互いに対向する。
The plurality of
外部電極5は、図1に示されるように、素体3の第三方向D3での両端部にそれぞれ配置されている。各外部電極5は、素体3における、対応する端面3e側に配置されている。外部電極5は、少なくとも、互いに隣り合う主面3aと端面3eとに配置されている。外部電極5は、図2~図5に示されるように、複数の電極部5a,5b,5c,5eを有している。電極部5aは、主面3a上及び稜線部3g上に配置されている。電極部5bは、稜線部3h上に配置されている。各電極部5cは、側面3c上及び稜線部3i上に配置されている。電極部5eは、端面3e上に配置されている。外部電極5は、稜線部3j上に配置されている電極部も有している。外部電極5は、少なくとも端面3eに配置されている。
The
外部電極5は、一つの主面3a、一つの端面3e、及び一対の側面3cの四つの面、並びに、稜線部3g,3h,3i,3jに形成されている。互いに隣り合う電極部5a,5b,5c,5eは、接続されており、電気的に接続されている。電極部5eは、対応する内部電極7,9の一端をすべて覆っている。電極部5eは、対応する内部電極7,9と直接的に接続されている。外部電極5は、対応する内部電極7,9と電気的に接続されている。外部電極5は、図3~図5に示されるように、第一電極層E1、第二電極層E2、第三電極層E3、及び第四電極層E4を有している。第四電極層E4は、外部電極5の最外層を構成している。各電極部5a,5c,5eは、第一電極層E1、第二電極層E2、第三電極層E3、及び第四電極層E4を有している。電極部5bは、第一電極層E1、第三電極層E3、及び第四電極層E4を有している。
The
電極部5aの第一電極層E1は、稜線部3g上に配置されており、主面3a上には配置されていない。電極部5aの第一電極層E1は、稜線部3gの全体を覆うように形成されている。第一電極層E1は、主面3aに形成されていない。電極部5aの第一電極層E1は、稜線部3gの全体と接している。主面3aは、第一電極層E1に覆われておらず、第一電極層E1から露出している。電極部5aの第一電極層E1は、主面3a上に配置されていてもよい。この場合、電極部5aの第一電極層E1は、主面3aの一部と稜線部3gの全体とを覆うように形成される。すなわち、電極部5aの第一電極層E1は、主面3aの一部とも接する。主面3aの一部は、たとえば、主面3aにおける端面3e寄りの一部領域である。
The first electrode layer E1 of the
電極部5aの第二電極層E2は、第一電極層E1上及び主面3a上に配置されている。電極部5aでは、第二電極層E2は、第一電極層E1の全体を覆っている。電極部5aでは、第二電極層E2は、第一電極層E1の全体と接している。第二電極層E2は、主面3aの一部と接している。主面3aの一部は、たとえば、主面3aにおける端面3e寄りの一部領域である。電極部5aの第二電極層E2は、主面3a上に位置している領域E2aを有する。電極部5aは、稜線部3g上では四層構造を有しており、主面3a上では三層構造を有している。電極部5aの第二電極層E2は、稜線部3gの全体と主面3aの一部とを覆うように形成されている。上述したように、主面3aの一部は、たとえば、主面3aにおける端面3e寄りの一部領域である。
The second electrode layer E2 of the
電極部5aの第二電極層E2は、第一電極層E1が第二電極層E2と素体3との間に位置するように、稜線部3gの全体と主面3aの一部とを間接的に覆っている。電極部5aの第二電極層E2は、主面3aの一部を直接覆っている。電極部5aの第二電極層E2は、稜線部3gに形成されている第一電極層E1の全体を直接覆っている。電極部5aの第一電極層E1が、主面3a上に配置されている場合、電極部5aは、主面3a及び稜線部3g上で四層構造を有する。電極部5aの第一電極層E1が、主面3a上に配置されている場合、第二電極層E2の領域E2aは、主面3aと接している部分と、第一電極層E1と接している部分と、を含む。
The second electrode layer E2 of the
電極部5bの第一電極層E1は、稜線部3h上に配置されており、主面3b上には配置されていない。電極部5bの第一電極層E1は、稜線部3hの全体を覆うように形成されている。第一電極層E1は、主面3bに形成されていない。電極部5bの第一電極層E1は、稜線部3hの全体と接している。主面3bは、第一電極層E1に覆われておらず、第一電極層E1から露出している。電極部5bの第一電極層E1は、主面3b上に配置されていてもよい。この場合、電極部5bの第一電極層E1は、主面3bの一部と稜線部3hの全体とを覆うように形成される。すなわち、電極部5bの第一電極層E1は、主面3bの一部とも接する。主面3bの一部は、たとえば、主面3bにおける端面3e寄りの一部領域である。電極部5bは、第二電極層E2を有していない。主面3bは、第二電極層E2に覆われておらず、第二電極層E2から露出している。第二電極層E2は、主面3bに形成されていない。電極部5bは、三層構造を有している。
The first electrode layer E1 of the
電極部5cの第一電極層E1は、稜線部3i上に配置されており、側面3c上には配置されていない。電極部5cの第一電極層E1は、稜線部3iの全体を覆うように形成されている。第一電極層E1は、側面3cに形成されていない。電極部5cの第一電極層E1は、稜線部3iの全体と接している。側面3cは、第一電極層E1に覆われておらず、第一電極層E1から露出している。電極部5cの第一電極層E1は、側面3c上に配置されていてもよい。この場合、電極部5cの第一電極層E1は、側面3cの一部と稜線部3gの全体とを覆うように形成される。すなわち、電極部5cの第一電極層E1は、側面3cの一部とも接する。側面3cの一部は、たとえば、側面3cにおける端面3e寄りの一部領域である。
The first electrode layer E1 of the
電極部5cの第二電極層E2は、第一電極層E1上及び側面3c上に配置されている。第一電極層E1の一部が、第二電極層E2で覆われている。電極部5cでは、第二電極層E2は、側面3cの一部と第一電極層E1の一部とに接している。電極部5cの第二電極層E2は、側面3c上に位置している領域E2cを有する。電極部5cの第二電極層E2は、稜線部3iの一部と側面3cの一部とを覆うように形成されている。稜線部3iの一部は、たとえば、稜線部3iにおける主面3a寄りの一部領域である。側面3cの一部は、たとえば、側面3cにおける主面3a及び端面3e寄りの角領域である。電極部5cの第二電極層E2は、第一電極層E1が第二電極層E2と素体3との間に位置するように、稜線部3iの一部を間接的に覆っている。電極部5cの第二電極層E2は、側面3cの一部を直接覆っている。電極部5cの第二電極層E2は、第一電極層E1における稜線部3iに形成されている部分の一部を直接覆っている。電極部5cの第一電極層E1が、側面3c上に配置されている場合、第二電極層E2の領域E2cは、側面3cと接している部分と、第一電極層E1に接している部分と、を含む。
The second electrode layer E2 of the
電極部5cは、複数の領域5c1,5c2を有している。本実施形態では、電極部5cは、二つの領域5c1,5c2のみを有している。領域5c2は、領域5c1よりも主面3a寄りに位置している。領域5c1は、第一電極層E1、第三電極層E3、及び第四電極層E4を有している。領域5c1は、第二電極層E2を有していない。領域5c1は、三層構造を有している。領域5c2は、第一電極層E1、第二電極層E2、第三電極層E3、及び第四電極層E4を有している。領域5c2は、稜線部3i上では四層構造を有しており、側面3c上では三層構造を有している。領域5c1は、第一電極層E1が第二電極層E2から露出している領域である。領域5c2は、第一電極層E1が第二電極層E2で覆われている領域である。領域5c2が、領域E2cを有している。
The
電極部5eの第一電極層E1は、端面3e上に配置されている。端面3eの全体が、第一電極層E1に覆われている。電極部5eの第一電極層E1は、端面3eの全体と接している。電極部5eの第二電極層E2は、第一電極層E1上に配置されている。第一電極層E1の一部が、第二電極層E2で覆われている。電極部5eでは、第二電極層E2は、第一電極層E1の一部と接している。電極部5eの第二電極層E2は、端面3e上に位置している領域E2eを有する。電極部5eの第二電極層E2は、端面3eの一部を覆うように形成されている。端面3eの一部は、たとえば、端面3eにおける主面3a寄りの一部領域である。電極部5eの第二電極層E2は、第一電極層E1が第二電極層E2と素体3との間に位置するように、端面3eの一部を間接的に覆っている。電極部5eの第二電極層E2は、第一電極層E1における端面3eに形成されている部分の一部を直接覆っている。電極部5eでは、第一電極層E1は、対応する内部電極7,9の一端と接続されるように端面3eに形成されている。
The first electrode layer E1 of the
電極部5eは、複数の領域5e1,5e2を有している。本実施形態では、電極部5eは、二つの領域5e1,5e2のみを有している。領域5e2は、領域5e1よりも主面3a寄りに位置している。領域5e1は、第一電極層E1、第三電極層E3、及び第四電極層E4を有している。領域5e1は、第二電極層E2を有していない。領域5e1は、三層構造を有している。領域5e2は、第一電極層E1、第二電極層E2、第三電極層E3、及び第四電極層E4を有している。電極部5eでは、第三電極層E3及び第四電極層E4は、第三方向D3から見て、端面3eの全体を覆うように形成されている。本実施形態では、第三電極層E3及び第四電極層E4は、端面3eの全体を間接的に覆っている。領域5e2は、四層構造を有している。領域5e1は、第一電極層E1が第二電極層E2から露出している領域である。領域5e2は、第一電極層E1が第二電極層E2で覆われている領域である。領域5e2が、領域E2eを有している。
The
第一電極層E1は、素体3の表面に付与された導電性ペーストを焼き付けることにより形成されている。第一電極層E1は、端面3e及び稜線部3g,3h,3iを覆うように形成されている。第一電極層E1は、導電性ペーストに含まれる金属成分(金属粉末)が焼結することにより形成されている。第一電極層E1は、焼結金属層である。第一電極層E1は、素体3に形成された焼結金属層である。第一電極層E1は、一対の主面3a,3b及び一対の側面3cに意図的に形成されていない。たとえば製造誤差などにより、第一電極層E1が意図せず主面3a,3b及び側面3cに形成されていてもよい。本実施形態では、第一電極層E1は、Cuからなる焼結金属層である。第一電極層E1は、Niからなる焼結金属層であってもよい。第一電極層E1は、卑金属を含んでいる。導電性ペーストは、たとえば、Cu又はNiからなる粉末、ガラス成分、有機バインダ、及び有機溶剤を含んでいる。各電極部5a,5b,5c,5eが有している第一電極層E1は、一体的に形成されている。
The first electrode layer E<b>1 is formed by baking a conductive paste applied to the surface of the
第二電極層E2は、第一電極層E1上、主面3a上、及び一対の側面3c上に付与された導電性樹脂を硬化させることにより形成されている。第二電極層E2は、第一電極層E1上と素体3上とにわたって形成されている。第一電極層E1は、第二電極層E2を形成するための下地金属層である。第二電極層E2は、第一電極層E1を覆う導電性樹脂層である。導電性樹脂は、たとえば、樹脂、導電性材料、及び有機溶媒を含んでいる。樹脂は、たとえば、熱硬化性樹脂である。導電性材料は、たとえば、金属粉末である。金属粉末は、たとえば、Ag粉末又はCu粉末である。熱硬化性樹脂は、たとえば、フェノール樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、又はポリイミド樹脂である。
The second electrode layer E2 is formed by curing a conductive resin applied on the first electrode layer E1, the
本実施形態では、第二電極層E2は、第一電極層E1の一部を覆っている。第一電極層E1の一部は、たとえば、第一電極層E1における、電極部5a、電極部5cの領域5c2、及び電極部5eの領域5e2に対応する領域である。第二電極層E2は、稜線部3jの一部を直接覆っている。稜線部3jの一部は、たとえば、稜線部3jにおける端面3e寄りの一部領域である。第二電極層E2は、稜線部3jの一部と接している。各電極部5a,5b,5c,5eが有している第二電極層E2は、一体的に形成されている。
In this embodiment, the second electrode layer E2 partially covers the first electrode layer E1. A part of the first electrode layer E1 is, for example, a region corresponding to the
第三電極層E3は、第二電極層E2上にめっき法により形成されている。本実施形態では、第三電極層E3は、第二電極層E2上にNiめっきにより形成されている。第三電極層E3は、Niめっき層である。第三電極層E3は、Snめっき層、Cuめっき層、又はAuめっき層であってもよい。第三電極層E3は、Ni、Sn、Cu、又はAuを含んでいる。Niめっき層は、第二電極層E2に含まれる金属よりも耐はんだ喰われ性に優れている。 The third electrode layer E3 is formed on the second electrode layer E2 by plating. In this embodiment, the third electrode layer E3 is formed by Ni plating on the second electrode layer E2. The third electrode layer E3 is a Ni plating layer. The third electrode layer E3 may be a Sn plating layer, a Cu plating layer, or an Au plating layer. The third electrode layer E3 contains Ni, Sn, Cu, or Au. The Ni plating layer is superior in solder erosion resistance to the metal contained in the second electrode layer E2.
第四電極層E4は、第三電極層E3上にめっき法により形成されている。第四電極層E4は、はんだめっき層である。本実施形態では、第四電極層E4は、第三電極層E3上にSnめっきにより形成されている。第四電極層E4は、Snめっき層である。第四電極層E4は、Sn-Ag合金めっき層、Sn-Bi合金めっき層、又はSn-Cu合金めっき層であってもよい。第四電極層E4は、Sn、Sn-Ag合金、Sn-Bi合金、又はSn-Cu合金を含んでいる。 The fourth electrode layer E4 is formed on the third electrode layer E3 by plating. The fourth electrode layer E4 is a solder plated layer. In this embodiment, the fourth electrode layer E4 is formed on the third electrode layer E3 by Sn plating. The fourth electrode layer E4 is a Sn plating layer. The fourth electrode layer E4 may be a Sn--Ag alloy plated layer, a Sn--Bi alloy plated layer, or a Sn--Cu alloy plated layer. The fourth electrode layer E4 contains Sn, Sn--Ag alloy, Sn--Bi alloy, or Sn--Cu alloy.
第三電極層E3と第四電極層E4とは、第二電極層E2に形成されるめっき層PLを構成している。本実施形態では、第二電極層E2に形成されるめっき層PLは、二層構造を有している。第三電極層E3は、最外層を構成する第四電極層E4と、第二電極層E2との間に位置している中間めっき層である。各電極部5a,5b,5c,5eが有している第三電極層E3は、一体的に形成されている。各電極部5a,5b,5c,5eが有している第四電極層E4は、一体的に形成されている。
The third electrode layer E3 and the fourth electrode layer E4 constitute a plated layer PL formed on the second electrode layer E2. In this embodiment, the plated layer PL formed on the second electrode layer E2 has a two-layer structure. The third electrode layer E3 is an intermediate plated layer located between the fourth electrode layer E4 constituting the outermost layer and the second electrode layer E2. The third electrode layer E3 of each of the
第一電極層E1(電極部5eの第一電極層E1)は、対応する内部電極7,9と接続されるように、端面3eに形成されている。第一電極層E1は、端面3eの全体、稜線部3gの全体、稜線部3hの全体、及び稜線部3iの全体を覆っている。第二電極層E2(電極部5a,5c,5eの第二電極層E2)は、主面3aの一部、端面3eの一部、及び一対の側面3cの各一部を連続して覆っている。第二電極層E2(電極部5a,5c,5eの第二電極層E2)は、稜線部3gの全体、稜線部3iの一部、及び稜線部3jの一部を覆っている。第二電極層E2は、主面3aの一部、端面3eの一部、一対の側面3cの各一部、稜線部3gの全体、稜線部3iの一部、及び稜線部3jの一部にそれぞれ対応する複数の部分を有している。第一電極層E1(電極部5eの第一電極層E1)は、対応する内部電極7,9と直接的に接続されている。
The first electrode layer E1 (the first electrode layer E1 of the
第一電極層E1(電極部5a,5b,5c,5eの第一電極層E1)は、第二電極層E2(電極部5a,5c,5eの第二電極層E2)で覆われている領域と、第二電極層E2(電極部5a,5c,5eの第二電極層E2)で覆われていない領域とを有している。第二電極層E2で覆われていない領域は、第二電極層E2から露出している領域である。第三電極層E3及び第四電極層E4は、第一電極層E1の第二電極層E2で覆われていない領域と、第二電極層E2とを覆っている。
The first electrode layer E1 (the first electrode layer E1 of the
図6に示されるように、第一方向D1から見たとき、第一電極層E1(電極部5aの第一電極層E1)の全体が第二電極層E2で覆われている。第一方向D1から見たとき、第一電極層E1(電極部5aの第一電極層E1)は、第二電極層E2から露出していない。
As shown in FIG. 6, when viewed from the first direction D1, the entire first electrode layer E1 (the first electrode layer E1 of the
図7に示されているように、第二方向D2から見たとき、第一電極層E1の主面3a寄りの端領域が、第二電極層E2で覆われている。第一電極層E1の主面3a寄りの端領域は、領域5c2が有する第一電極層E1を含んでいる。第二方向D2から見たとき、第二電極層E2の端縁Ee2が、第一電極層E1の端縁Ee1と交差している。第二方向D2から見たとき、第一電極層E1の主面3b寄りの端領域は、第二電極層E2から露出している。第一電極層E1の主面3b寄りの端領域は、領域5c1が有する第一電極層E1を含んでいる。
As shown in FIG. 7, when viewed from the second direction D2, the end region of the first electrode layer E1 near the
図8に示されるように、第三方向D3から見たとき、第一電極層E1の主面3a寄りの端領域が、第二電極層E2で覆われている。第一電極層E1の主面3a寄りの端領域は、領域5e2が有する第一電極層E1を含んでいる。第三方向D3から見たとき、第二電極層E2の端縁Ee2が、第一電極層E1上に位置している。第三方向D3から見たとき、第一電極層E1の主面3b寄りの端領域は、第二電極層E2から露出している。第一電極層E1の主面3b寄りの端領域は、領域5e1が有する第一電極層E1を含んでいる。
As shown in FIG. 8, when viewed from the third direction D3, the end region of the first electrode layer E1 near the
積層コンデンサC1では、第二電極層E2は、主面3aの一部のみ、端面3eの一部のみ、及び一対の側面3cの各一部のみを連続して覆っている。第二電極層E2は、稜線部3gの全体、稜線部3iの一部のみ、及び稜線部3jの一部のみを覆っている。第一電極層E1の、稜線部3iを覆っている部分の一部は、第二電極層E2から露出している。たとえば、領域5c1が有する第一電極層E1は、第二電極層E2から露出している。
In the multilayer capacitor C1, the second electrode layer E2 continuously covers only a portion of the
図9に示されるように、第二電極層E2は、主面3aの一部と端面3eの一部とを連続して覆うように設けられている。第二電極層E2は、端面3e上に位置している領域E2eと、主面3a上に位置している領域E2aと、稜線部3g上に位置している領域E2gと、を含んでいる。領域E2eは、電極部5eの領域5e2が有している第二電極層E2である。領域E2a及び領域E2gは、電極部5aが有している第二電極層E2である。領域E2aの最大厚みT2aは、領域E2eの最大厚みT2eより大きい。領域E2gの最小厚みT2gは、最大厚みT2eより小さい。たとえば、領域E2eが第一領域を構成する場合、領域E2aが第二領域を構成すると共に、領域E2gが第三領域を構成する。
As shown in FIG. 9, the second electrode layer E2 is provided so as to continuously cover a portion of the
最大厚みT2a、最大厚みT2e、及び最小厚みT2gは、たとえば、以下のようにして求めることができる。
電極部5a,5eの第二電極層E2を含む積層コンデンサC1の断面写真を取得する。断面写真は、たとえば、一対の側面3cに平行であり、かつ、一対の側面3cから等距離に位置している平面で積層コンデンサC1を切断したときの断面を撮影することにより得られる。取得した断面写真上での、第二電極層E2の各厚みT2a,T2e,T2gを算出する。最大厚みT2eは、第三方向D3での領域E2eの厚みの最大値である。最大厚みT2aは、第一方向D1での領域E2aの厚みの最大値である。最小厚みT2gは、領域E2gの厚みの最小値である。領域E2gの厚みは、たとえば、稜線部3gの法線方向での厚みである。
本実施形態では、最大厚みT2aは、10~200μmであり、最大厚みT2eは、5~150μmであり、最小厚みT2gは、5~100μmである。たとえば、最大厚みT2aは、86μmであり、最大厚みT2eは、80μmであり、最小厚みT2gは、32μmである。
Maximum thickness T 2a , maximum thickness T 2e , and minimum thickness T 2g can be obtained, for example, as follows.
A cross-sectional photograph of the multilayer capacitor C1 including the second electrode layers E2 of the
In this embodiment, the maximum thickness T 2a is 10-200 μm, the maximum thickness T 2e is 5-150 μm, and the minimum thickness T 2g is 5-100 μm. For example, the maximum thickness T2a is 86 μm, the maximum thickness T2e is 80 μm and the minimum thickness T2g is 32 μm.
図9に示されるように、主面3a及び端面3eに直交する断面において、領域E2aの表面は、主面3aから離れる方向に凸状に湾曲している。領域E2aの厚みは、領域E2aの最大厚み位置から領域E2aの端縁に向けて徐々に小さくなっている。本実施形態では、領域E2aの厚みの変化に起因して、領域E2aの表面は湾曲している。
As shown in FIG. 9, in a cross section perpendicular to the
図6に示されるように、第一方向D1から見て、領域E2a(第二電極層E2)の端縁Ee2は、湾曲している。本実施形態では、第一方向D1から見て、第三方向D3での領域E2aの長さは、第二方向D2での端より第二方向D2での中央で大きくなっている。第三方向D3での領域E2aの長さは、第二方向D2での中央で最も大きく、第二方向D2で端に向かうに従って徐々に小さくなっている。 As shown in FIG. 6, the edge Ee2 of the region E2a (second electrode layer E2) is curved when viewed from the first direction D1. In the present embodiment, when viewed from the first direction D1, the length of the region E2a in the third direction D3 is longer at the center in the second direction D2 than at the ends in the second direction D2. The length of the region E2a in the third direction D3 is the largest at the center in the second direction D2, and gradually decreases toward the ends in the second direction D2.
図10に示されるように、第二電極層E2は、側面3cの一部も連続して覆うように設けられている。第二電極層E2は、主面3aの一部と端面3eの一部と側面3cの一部とを連続して覆うように設けられている。第二電極層E2は、上述したように、主面3a、端面3e、及び側面3cの各一部のみを連続して覆うように設けられている。したがって、第二電極層E2は、稜線部3gの全体と、稜線部3j,3iの各一部を覆っている。第二電極層E2は、側面3c上に位置している領域E2cと、稜線部3i上に位置している領域E2iと、を含んでいる。領域E2c及び領域E2iは、電極部5cの領域5c2が有している第二電極層E2である。領域E2cの最大厚みT2cは、最大厚みT2eより小さい。領域E2iの最小厚みT2iは、最大厚みT2eより小さい。最大厚みT2cと最小厚みT2iとは、略同等であってもよい。たとえば、領域E2cが第四領域を構成する。
As shown in FIG. 10, the second electrode layer E2 is provided so as to continuously cover a portion of the
最大厚みT2c及び最小厚みT2iは、たとえば、以下のようにして求めることができる。
電極部5cの第二電極層E2を含む積層コンデンサC1の断面写真を取得する。断面写真は、たとえば、一対の主面3aに平行であり、かつ、電極部5cを通る平面で積層コンデンサC1を切断したときの断面を撮影することにより得られる。上記平面は、たとえば、側面3cと稜線部3jとの境界とを通る。取得した断面写真上での、第二電極層E2の各厚みT2c,T2iを算出する。最大厚みT2cは、第二方向D2での領域E2cの厚みの最大値である。最小厚みT2iは、領域E2iの厚みの最小値である。領域E2iの厚みは、たとえば、稜線部3iの法線方向での厚みである。
本実施形態では、最大厚みT2cは、10~70μmであり、最小厚みT2iは、5~40μmである。たとえば、最大厚みT2cは、40μmであり、最小厚みT2iは、20μmである。
The maximum thickness T2c and minimum thickness T2i can be obtained, for example, as follows.
A cross-sectional photograph of the multilayer capacitor C1 including the second electrode layer E2 of the
In this embodiment, the maximum thickness T 2c is 10-70 μm and the minimum thickness T 2i is 5-40 μm. For example, the maximum thickness T2c is 40 μm and the minimum thickness T2i is 20 μm.
めっき層PLは、上述したように、第三電極層E3及び第四電極層E4を含んでいる。めっき層PLは、領域E2a上に位置している部分PL1と、領域E2e上に位置している部分PL2と、領域E2c上に位置している部分PL3と、を有している。部分PL1は、端縁PL1eを有している。部分PL3は、端縁PL3eを有している。めっき層PL(第三電極層E3及び第四電極層E4)は、素体3から離れている。図9に示されるように、端縁PL1eと素体3(主面3a)との間には、間隙17が存在している。図10に示されるように、端縁PL3eと素体3(側面3c)との間には、間隙19が存在している。間隙17,19の幅は、たとえば、0より大きく3μm以下である。間隙17の幅と、間隙19の幅とは、同じでもよい。間隙17の幅と、間隙19の幅とは、異なっていてもよい。本実施形態では、端面3eの全体が外部電極5で覆われているので、部分PL2は、端縁を有していない。部分PL2と素体3との間には、第一電極層E1及び第二電極層E2が位置している。したがって、部分PL2と素体3との間には、間隙が存在しない。
The plated layer PL includes the third electrode layer E3 and the fourth electrode layer E4 as described above. The plating layer PL has a portion PL1 located on the region E2a, a portion PL2 located on the region E2e, and a portion PL3 located on the region E2c. Part PL1 has an edge PL1e. Part PL3 has an edge PL3e. The plating layer PL (the third electrode layer E3 and the fourth electrode layer E4) is separated from the
めっき層PLの部分PL1は、第二電極層E2の領域E2aと密着しやすいものの、主面3aとは密着しがたい。したがって、部分PL1の端縁PL1eと主面3aとの間には、間隙17が存在する。樹脂に吸収された水分がガス化した場合でも、水分から発生したガスが、間隙17に至ると、ガスは、間隙17を通して外部電極5外に放出される。水分から発生したガスが外部電極5外に放出されるので、第二電極層E2に応力が作用しがたい。
領域E2aは、間隙17に近いので、領域E2aが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、間隙17に至りやすい。しかしながら、領域E2eは、間隙17から離れているので、領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、間隙17に至りがたい。
これに対し、領域E2aの最大厚みT2aが領域E2eの最大厚みT2eより大きい構成では、領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙17に確実に至る。すなわち、最大厚みT2aが最大厚みT2eより大きい構成では、領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが領域E2aを移動しやすい。
The portion PL1 of the plated layer PL easily adheres to the region E2a of the second electrode layer E2, but hardly adheres to the
Since the region E2a is close to the
On the other hand, in the configuration in which the maximum thickness T2a of the region E2a is larger than the maximum thickness T2e of the region E2e, the gas generated from the moisture absorbed by the resin contained in the region E2e reaches the
積層コンデンサC1では、最大厚みT2aが最大厚みT2eより大きいので、領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、間隙17に確実に至る。領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙17に確実に至るのであれば、自ずと、領域E2aが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスも、間隙17に確実に至る。間隙17に至ったガスは、外部電極5外に放出され、第二電極層E2に応力が作用しがたい。この結果、積層コンデンサC1は、第二電極層E2の剥離を確実に抑制する。
In the multilayer capacitor C1, since the maximum thickness T2a is larger than the maximum thickness T2e , the gas generated from the moisture absorbed by the resin included in the region E2e reaches the
積層コンデンサC1では、領域E2gの最小厚みT2gが、最大厚みT2eより小さい。
間隙17は、第二電極層E2が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスの出口であると共に、外部電極5内への水分の入口である。領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが間隙17に至るまでの経路は、水分が領域E2eに至る経路となるおそれがある。水分が領域E2eに至ると、水分は領域E2eに吸収される。この場合、ガスの発生量が増加するおそれがある。
領域E2gの最小厚みT2gが最大厚みT2eより小さい構成では、水分が領域E2eに至りがたい。すなわち、最小厚みT2gが最大厚みT2eより小さい構成では、水分が領域E2gを通りがたい。したがって、積層コンデンサC1では、領域E2eに吸収される水分の増加、及び、水分から発生するガスの増加を抑制する。この結果、積層コンデンサC1は、第二電極層E2の剥離をより一層確実に抑制する。
In the multilayer capacitor C1, the minimum thickness T2g of the region E2g is smaller than the maximum thickness T2e .
The
In a configuration in which the minimum thickness T2g of the region E2g is smaller than the maximum thickness T2e , it is difficult for moisture to reach the region E2e. That is, in a configuration in which the minimum thickness T2g is smaller than the maximum thickness T2e , it is difficult for moisture to pass through the region E2g. Therefore, in the multilayer capacitor C1, an increase in moisture absorbed in the region E2e and an increase in gas generated from the moisture are suppressed. As a result, the multilayer capacitor C1 more reliably suppresses the peeling of the second electrode layer E2.
積層コンデンサC1では、領域E2cの最大厚みT2cが、最大厚みT2eより小さい。
領域E2cの最大厚みT2cが最大厚みT2eより小さい構成では、領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが領域E2cを通りがたい。したがって、領域E2eが含む樹脂に吸収された水分から発生したガスは、領域E2aを通して間隙17により一層確実に至る。したがって、積層コンデンサC1は、ガスが出る位置を制御する。
領域E2cは、領域E2eよりも間隙19に近いので、領域E2cは、水分が領域E2eに至る経路となるおそれがある。これに対し、最大厚みT2cが最大厚みT2eより小さい構成では、水分が領域E2cに浸入する場合でも、水分が領域E2cを通りがたい。したがって、積層コンデンサC1は、第二電極層E2が領域E2cを含んでいる場合でも、領域E2eに吸収される水分の増加、及び、水分から発生するガスの増加を抑制する。この結果、積層コンデンサC1は、第二電極層E2の剥離をより一層確実に抑制する。
In the multilayer capacitor C1, the maximum thickness T2c of the region E2c is smaller than the maximum thickness T2e .
In a configuration in which the maximum thickness T2c of the region E2c is smaller than the maximum thickness T2e , it is difficult for gas generated from moisture absorbed by the resin contained in the region E2e to pass through the region E2c. Therefore, the gas generated from the moisture absorbed by the resin contained in the region E2e more reliably reaches the
Since the region E2c is closer to the
積層コンデンサC1では、主面3a及び端面3eに直交する断面において、領域E2aの表面は、主面3aから離れる方向に凸状に湾曲している。
主面3aから離れる方向に凸状に湾曲している構成では、領域E2aの厚みが局所的に小さくなることはない。したがって、領域E2aでのガスの移動経路が、当該移動経路の途中で狭まることはなく、上記構成は、ガスが領域E2aを移動するのを阻害しない。この結果、第二電極層E2が含む樹脂に吸収された水分から発生したガスが、より一層確実に間隙17に至るので、積層コンデンサC1は、第二電極層E2の剥離をより一層確実に抑制する。
In the multilayer capacitor C1, in a cross section orthogonal to the
With the configuration that is convexly curved in the direction away from the
積層コンデンサC1では、第一方向D1から見て、領域E2a(第二電極層E2)の端縁Ee2は、湾曲している。
領域E2aの端縁Ee2が湾曲している構成では、領域E2aの端縁Ee2が直線状である構成に比して、領域E2aの端縁Ee2の長さが大きい。したがって、積層コンデンサC1では、ガスが出る領域が大きく、ガスが、外部電極5からより一層放出されやすい。この結果、第二電極層E2に応力がより一層作用しがたい。
In the multilayer capacitor C1, the edge Ee2 of the region E2a (second electrode layer E2) is curved when viewed from the first direction D1.
In a configuration in which the edge Ee2 of the region E2a is curved, the length of the edge Ee2 of the region E2a is greater than in a configuration in which the edge Ee2 of the region E2a is straight. Therefore, in the multilayer capacitor C1, the area from which the gas is released is large, and the gas is more likely to be released from the
本明細書では、ある要素が他の要素上に配置されていると記述されている場合、ある要素は、他の要素上に直接配置されていてもよく、他の要素上に間接的に配置されていてもよい。ある要素が他の要素上に間接的に配置されている場合、介在要素が、ある要素と他の要素との間に存在している。ある要素が他の要素上に直接配置されている場合、介在要素は、ある要素と他の要素との間に存在しない。
本明細書では、ある要素が他の要素上に位置していると記述されている場合、ある要素は、他の要素上に直接位置していてもよく、他の要素上に間接的に位置していてもよい。ある要素が他の要素上に間接的に位置している場合、介在要素が、ある要素と他の要素との間に存在している。ある要素が他の要素上に直接位置している場合、介在要素は、ある要素と他の要素との間に存在しない。
本明細書では、ある要素が他の要素を覆うと記述されている場合、ある要素は、他の要素を直接覆っていてもよく、他の要素を間接的に覆っていてもよい。ある要素が他の要素を間接的に覆っている場合、介在要素が、ある要素と他の要素との間に存在している。ある要素が他の要素を直接覆っている場合、介在要素は、ある要素と他の要素との間に存在しない。
In this specification, when an element is described as being located on another element, the element may be located directly on the other element or indirectly on the other element. may have been When an element is located indirectly over another element, an intervening element is present between the element and the other element. When an element is located directly on another element, there are no intervening elements between the element and the other element.
In this specification, when an element is referred to as being located on another element, the element may be located directly on the other element or indirectly on the other element. You may have When an element is located indirectly over another element, an intervening element is present between the element and the other element. When an element is located directly on another element, there are no intervening elements between the element and the other element.
In this specification, when an element is described as covering another element, the element may cover the other element directly or indirectly. When an element indirectly covers another element, an intervening element is present between the element and the other element. When an element directly covers another element, there are no intervening elements between the element and the other element.
以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明は必ずしも上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not necessarily limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.
最小厚みT2gは、最大厚みT2e以上でもよい。最小厚みT2gが最大厚みT2eより小さい場合、上述したように、積層コンデンサC1は、第二電極層E2の剥離をより一層確実に抑制する。
最大厚みT2cは、最大厚みT2e以上でもよい。最大厚みT2cが最大厚みT2eより小さい場合、上述したように、積層コンデンサC1は、ガスが出る位置を制御すると共に、第二電極層E2の剥離をより一層確実に抑制する。
主面3a及び端面3eに直交する断面において、領域E2aの表面は、主面3aから離れる方向に凸状に湾曲していなくてもよい。主面3a及び端面3eに直交する断面において、領域E2aの表面が、主面3aから離れる方向に凸状に湾曲している場合、上述したように、積層コンデンサC1は、第二電極層E2の剥離をより一層確実に抑制する。
第一方向D1から見て、領域E2aの端縁Ee2は、湾曲していなくてもよい。第一方向D1から見て、領域E2aの端縁Ee2は、湾曲している場合、上述したように、第二電極層E2に応力がより一層作用しがたい。
The minimum thickness T2g may be greater than or equal to the maximum thickness T2e . When the minimum thickness T2g is smaller than the maximum thickness T2e , the multilayer capacitor C1 more reliably suppresses the peeling of the second electrode layer E2, as described above.
The maximum thickness T2c may be greater than or equal to the maximum thickness T2e . When the maximum thickness T2c is smaller than the maximum thickness T2e , as described above, the multilayer capacitor C1 controls the position at which the gas is emitted, and more reliably suppresses the peeling of the second electrode layer E2.
In a cross section orthogonal to the
When viewed from the first direction D1, the edge Ee2 of the region E2a may not be curved. When the edge Ee2 of the region E2a is curved when viewed from the first direction D1, it is even more difficult for stress to act on the second electrode layer E2, as described above.
第一電極層E1は、端面3eから稜線部3gの全体又は一部を越えるように、主面3a上に形成されていてもよい。第一電極層E1は、端面3eから稜線部3hの全体又は一部を越えるように、主面3b上に形成されていてもよい。第一電極層E1は、端面3eから稜線部3iの全体又は一部を越えるように、側面3c上に形成されていてもよい。
The first electrode layer E1 may be formed on the
本実施形態では、電子部品として積層コンデンサC1を例に説明したが、適用可能な電子部品は、積層コンデンサに限られない。適用可能な電子部品は、たとえば、積層インダクタ、積層バリスタ、積層圧電アクチュエータ、積層サーミスタ、もしくは積層複合部品などの積層電子部品、又は、積層電子部品以外の電子部品である。 In this embodiment, the multilayer capacitor C1 has been described as an example of an electronic component, but applicable electronic components are not limited to multilayer capacitors. Applicable electronic components are, for example, multilayer electronic components such as multilayer inductors, multilayer varistors, multilayer piezoelectric actuators, multilayer thermistors, or multilayer composite components, or electronic components other than multilayer electronic components.
3…素体、3a…主面、3c…側面、3e…端面、3g…稜線部、5…外部電極、C1…積層コンデンサ、E2…第二電極層、E2a…主面上に位置している領域、E2c…側面上に位置している領域、E2e…端面上に位置している領域、E2g…主面と端面との間の稜線部上に位置している領域、Ee2…第二電極層の端縁、PL…めっき層。
3
Claims (4)
前記素体に配置されている外部電極と、を備えており、
前記外部電極は、前記主面の一部と前記端面の一部とを連続して覆うように設けられている導電性樹脂層と、前記導電性樹脂層を覆っているめっき層と、前記導電性樹脂層と前記素体との間に設けられている焼結金属層と、を有し、
前記導電性樹脂層は、前記端面上に位置している第一領域と、前記主面上に位置している第二領域と、を含み、
前記焼結金属層は、前記端面上において、前記導電性樹脂層から露出している領域と、前記導電性樹脂層に覆われている領域と、含み、
前記主面及び前記端面に直交する断面において、前記第二領域の表面は、前記主面から離れる方向に凸状に湾曲しており、
前記第二領域の最大厚みは、前記第一領域の最大厚みより大きい、電子部品。 a body having a main surface forming a mounting surface and an end surface adjacent to the main surface;
and an external electrode arranged on the element body,
The external electrode comprises: a conductive resin layer continuously covering a portion of the main surface and a portion of the end surface; a plating layer covering the conductive resin layer; a sintered metal layer provided between the flexible resin layer and the base body,
The conductive resin layer includes a first region located on the end surface and a second region located on the main surface,
The sintered metal layer includes a region exposed from the conductive resin layer and a region covered with the conductive resin layer on the end face,
In a cross section orthogonal to the main surface and the end surface, the surface of the second region is convexly curved in a direction away from the main surface,
The electronic component, wherein the maximum thickness of the second region is greater than the maximum thickness of the first region.
前記第三領域の最小厚みは、前記第一領域の前記最大厚みより小さい、請求項1に記載の電子部品。 The conductive resin layer further includes a third region located on a ridge between the end surface and the main surface,
2. The electronic component according to claim 1, wherein the minimum thickness of said third region is smaller than said maximum thickness of said first region.
前記導電性樹脂層は、前記側面の一部も連続して覆うように設けられていると共に、前記側面上に位置している第四領域を更に含んでおり、
前記第四領域の最大厚みは、前記第一領域の前記最大厚みより小さい、請求項1又は2に記載の電子部品。 The base body further has a side surface adjacent to the main surface and the end surface,
The conductive resin layer is provided so as to continuously cover a part of the side surface, and further includes a fourth region located on the side surface,
3. The electronic component according to claim 1, wherein the maximum thickness of said fourth region is smaller than said maximum thickness of said first region.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019056110A JP7302218B2 (en) | 2019-03-25 | 2019-03-25 | electronic components |
US16/819,779 US11217391B2 (en) | 2019-03-25 | 2020-03-16 | Electronic component |
KR1020200034228A KR102374102B1 (en) | 2019-03-25 | 2020-03-20 | Electronic component |
CN202010211917.1A CN111739733B (en) | 2019-03-25 | 2020-03-24 | Electronic component |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019056110A JP7302218B2 (en) | 2019-03-25 | 2019-03-25 | electronic components |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020161517A JP2020161517A (en) | 2020-10-01 |
JP7302218B2 true JP7302218B2 (en) | 2023-07-04 |
Family
ID=72604441
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019056110A Active JP7302218B2 (en) | 2019-03-25 | 2019-03-25 | electronic components |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11217391B2 (en) |
JP (1) | JP7302218B2 (en) |
KR (1) | KR102374102B1 (en) |
CN (1) | CN111739733B (en) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114899007B (en) | 2016-09-23 | 2023-09-01 | Tdk株式会社 | Electronic component and electronic component device |
JP7302217B2 (en) * | 2019-03-25 | 2023-07-04 | Tdk株式会社 | electronic components |
JP2021027202A (en) * | 2019-08-06 | 2021-02-22 | 株式会社村田製作所 | Inductor |
JP7408975B2 (en) * | 2019-09-19 | 2024-01-09 | Tdk株式会社 | ceramic electronic components |
KR20220059824A (en) * | 2020-11-03 | 2022-05-10 | 삼성전기주식회사 | Mutilayer electronic component |
KR20220071499A (en) * | 2020-11-24 | 2022-05-31 | 삼성전기주식회사 | Mutilayer electronic component |
WO2023248590A1 (en) * | 2022-06-21 | 2023-12-28 | 株式会社村田製作所 | Multilayer ceramic capacitor and mounting structure for multilayer ceramic capacitor |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001076957A (en) | 1999-09-08 | 2001-03-23 | Murata Mfg Co Ltd | Ceramic electronic component |
JP2009295602A (en) | 2006-08-22 | 2009-12-17 | Murata Mfg Co Ltd | Laminated electronic component, and method for manufacturing laminated electronic component |
CN102610387A (en) | 2011-01-21 | 2012-07-25 | 株式会社村田制作所 | Multilayer ceramic electronic component |
JP2012169334A (en) | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Koa Corp | Chip component and method of manufacturing the same |
JP2017073434A (en) | 2015-10-06 | 2017-04-13 | Tdk株式会社 | Electronic component |
JP2017120819A (en) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | Tdk株式会社 | Electronic component |
JP2018088451A (en) | 2016-11-28 | 2018-06-07 | 株式会社村田製作所 | Multilayer ceramic capacitor |
JP2019047092A (en) | 2017-09-07 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | Electronic component |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5459487B2 (en) * | 2010-02-05 | 2014-04-02 | 株式会社村田製作所 | Multilayer electronic component and manufacturing method thereof |
JP2016146469A (en) * | 2015-01-31 | 2016-08-12 | 株式会社村田製作所 | Multilayer ceramic capacitor, mounting structure of multilayer ceramic capacitor, and taping electronic component series |
JP6592923B2 (en) * | 2015-03-20 | 2019-10-23 | 株式会社村田製作所 | Electronic component and manufacturing method thereof |
JP6932906B2 (en) * | 2016-09-23 | 2021-09-08 | Tdk株式会社 | Electronic components and electronic component equipment |
JP6958168B2 (en) * | 2017-03-16 | 2021-11-02 | Tdk株式会社 | Electronic components and electronic component equipment |
JP6972592B2 (en) | 2017-03-16 | 2021-11-24 | Tdk株式会社 | Electronic components and electronic component equipment |
JP7040061B2 (en) | 2018-01-31 | 2022-03-23 | Tdk株式会社 | Electronic components |
-
2019
- 2019-03-25 JP JP2019056110A patent/JP7302218B2/en active Active
-
2020
- 2020-03-16 US US16/819,779 patent/US11217391B2/en active Active
- 2020-03-20 KR KR1020200034228A patent/KR102374102B1/en active IP Right Grant
- 2020-03-24 CN CN202010211917.1A patent/CN111739733B/en active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001076957A (en) | 1999-09-08 | 2001-03-23 | Murata Mfg Co Ltd | Ceramic electronic component |
JP2009295602A (en) | 2006-08-22 | 2009-12-17 | Murata Mfg Co Ltd | Laminated electronic component, and method for manufacturing laminated electronic component |
CN102610387A (en) | 2011-01-21 | 2012-07-25 | 株式会社村田制作所 | Multilayer ceramic electronic component |
JP2012169334A (en) | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Koa Corp | Chip component and method of manufacturing the same |
JP2017073434A (en) | 2015-10-06 | 2017-04-13 | Tdk株式会社 | Electronic component |
JP2017120819A (en) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | Tdk株式会社 | Electronic component |
JP2018088451A (en) | 2016-11-28 | 2018-06-07 | 株式会社村田製作所 | Multilayer ceramic capacitor |
JP2019047092A (en) | 2017-09-07 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | Electronic component |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111739733A (en) | 2020-10-02 |
US11217391B2 (en) | 2022-01-04 |
CN111739733B (en) | 2022-04-12 |
KR20200115204A (en) | 2020-10-07 |
US20200312551A1 (en) | 2020-10-01 |
JP2020161517A (en) | 2020-10-01 |
KR102374102B1 (en) | 2022-03-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7302218B2 (en) | electronic components | |
US10964479B2 (en) | Electronic component | |
JP7302217B2 (en) | electronic components | |
JP7040062B2 (en) | Electronic components | |
US10937596B2 (en) | Electronic component | |
JP7351094B2 (en) | electronic components | |
JP2017073434A (en) | Electronic component | |
JP7040063B2 (en) | Electronic components | |
US11335505B2 (en) | Electronic component | |
JP6943142B2 (en) | Electronic components and electronic component equipment | |
JP7358828B2 (en) | electronic components | |
CN112349517B (en) | Electronic component | |
JP2021129007A (en) | Electronic component | |
JP7028292B2 (en) | Electronic components | |
JP2023086994A (en) | Electronic component | |
JP7095662B2 (en) | Electronic component equipment | |
JP2023086993A (en) | Electronic component |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20211021 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220920 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220927 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221005 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230217 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230523 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230605 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7302218 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |